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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024174199
(43)【公開日】2024-12-13
(54)【発明の名称】プローブカード
(51)【国際特許分類】
   G01R 1/073 20060101AFI20241206BHJP
   G01R 31/26 20200101ALI20241206BHJP
   H01L 21/66 20060101ALI20241206BHJP
【FI】
G01R1/073 E
G01R31/26 J
H01L21/66 B
【審査請求】有
【請求項の数】3
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2024173484
(22)【出願日】2024-10-02
(62)【分割の表示】P 2022550072の分割
【原出願日】2020-09-15
(71)【出願人】
【識別番号】000232405
【氏名又は名称】日本電子材料株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110004196
【氏名又は名称】弁理士法人ナビジョン国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】森 親臣
(57)【要約】
【課題】 ガイド板のガイド孔に挿通されたプローブを脱落しないようにガイド板に係止しつつ、より狭ピッチで配置することができるプローブカードを提供することを目的とする。
【解決手段】 2以上のプローブ200と、プローブ200がそれぞれ挿通される2以上の第1ガイド孔14hを有する第1ガイド板14と、を備え、プローブ200は、第1ガイド板14に対し傾斜するように配置され、第1ガイド板14よりも上方の側面であって、第1ガイド板14に対する角度が鋭角となる第1方向d1側の側面210を突出させた係止部21と、第1ガイド板14よりも上方の側面であって、第1ガイド板14に対する角度が鈍角となる第2方向d2側の側面220を係止部側21へオフセットさせたオフセット部22と、を有し、隣接する2つのプローブ220は、一方の係止部21が他方のオフセット部22と対向するように配置される。
【選択図】 図11
【特許請求の範囲】
【請求項1】
2以上のプローブと、
前記プローブがそれぞれ挿通される2以上の第1ガイド孔を有する第1ガイド板と、を備え、
前記プローブは、前記第1ガイド板に対し傾斜するように配置され、前記第1ガイド板よりも上方の側面であって、前記第1ガイド板に対する角度が鋭角となる第1方向側の側面を突出させた係止部と、前記第1ガイド板に対する角度が鈍角となる第2方向側の側面を前記係止部側へオフセットさせた凹部とを有し、
一方の前記プローブの前記係止部は、隣接する他方の前記プローブの前記凹部と対向しており、前記プローブの中心軸上において、前記凹部の下面は、前記係止部の下面よりも下方に形成されるとともに、前記凹部の上面の最外縁は、前記係止部の上面の最外縁よりも上方に形成され、前記凹部の下面の最外縁は、前記第2方向側の側面上に位置することを特徴とするプローブカード。
【請求項2】
前記第1ガイド板の下方に配置され、前記プローブがそれぞれ挿通される2以上の第2ガイド孔を有する第2ガイド板をさらに備え、
前記第1ガイド孔及び前記第2ガイド孔は、前記プローブが傾斜する方向に相対的にオフセットさせた位置に配置され、
前記プローブは、前記第1ガイド板及び前記第2ガイド板間で湾曲変形しており、
前記プローブの前記係止部は、前記第1ガイド板及び前記第2ガイド板に対して、オーバードライブ時に前記プローブが座屈変形する方向に傾斜していることを特徴とする請求項1に記載のプローブカード。
【請求項3】
前記プローブは、厚み方向に複数の層が重なる多層構造を有しており、
前記プローブの上端面に前記複数の層の各端面に接触する接触層が形成されていることを特徴とする請求項2に記載のプローブカード。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、プローブカードに係り、更に詳しくは、2以上のプローブがガイド板により支持されるプローブカードの改良に関する。
【背景技術】
【0002】
プローブカードは、半導体ウエハに形成された半導体デバイスの電気的特性の検査に用いられる検査装置であり、半導体デバイス上の電極パッドにそれぞれ接触させる多数のプローブが配線基板に設けられている。半導体デバイスの特性検査は、テスト信号の入出力を行うテスター装置をプローブカードに接続した上で、プローブカードに半導体ウエハを近づけてプローブの先端を半導体デバイス上の電極パッドに接触させ、プローブ及び配線基板を介してテスター装置と半導体デバイスとを導通させて行われる。
【0003】
図17は、従来のプローブカードの一例を示した図である(例えば、特許文献1)。このプローブカードでは、係止部31を有するプローブ300が、ガイド板14によって支持されている。プローブカードは、配線基板10,11の下方にガイド板14,15が設けられ、プローブ300は、両ガイド板14,15のガイド孔14h,15hに挿通され、上端が配線基板11の下面に形成されたプローブ用電極11tに接触し、下端が半導体ウエハの上面に形成された電極パッドと接触する。
【0004】
プローブ300は、上側のガイド板14よりも上方において側面を突出させた一対の係止部31を有する。一対の係止部31は、プローブの対向する側面をそれぞれ突出させて形成され、プローブ300は、第1ガイド板14から脱落しないように支持されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開2018-44912号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
近年の微細加工技術の進歩により、半導体デバイスの電極パッドが狭ピッチ化され、それに伴ってプローブにも狭ピッチ化が求められている。プローブ配置を狭ピッチ化しようとすれば、プローブ幅又はプローブ間隔を短くする必要がある。しかし、プローブに求められる電気的特性や機械的強度を考慮すれば、プローブの断面積の低減には限界がある。そこで、さらなる狭ピッチ化を実現するには、プローブ間隔を短くする必要があり、それに伴って係止部31の突出量も短くする必要がある。
【0007】
このような狭ピッチ化の進展により、係止部31の突出量がプローブ300とガイド孔14hのギャップに近づきつつあり、突出量をこれ以上短くすれば、ガイド孔14hから係止部31が脱落するおそれがある。
【0008】
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、ガイド板のガイド孔に挿通されたプローブを脱落しないようにガイド板に係止しつつ、より狭ピッチで配置することができるプローブカードを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明の第1の実施態様によるプローブカードは、2以上のプローブと、前記プローブがそれぞれ挿通される2以上の第1ガイド孔を有する第1ガイド板と、を備え、前記プローブは、前記第1ガイド板に対し傾斜するように配置され、前記第1ガイド板よりも上方の側面であって、前記第1ガイド板に対する角度が鋭角となる第1方向側の側面を突出させた係止部を有し、前記プローブの前記第1ガイド板よりも上方の側面であって、前記第1ガイド板に対する角度が鈍角となる第2方向側の側面は、前記係止部の突出面よりも前記プローブの中心軸からの距離が短くなるように構成される。
【0010】
第1ガイド孔に挿通するプローブを第1ガイド板に対し傾斜させ、第1ガイド板よりも上方の側面であって、第1ガイド板に対する角度が鋭角となる第1方向側の側面を突出させて係止部を形成することにより、係止部が第1ガイド孔周辺の第1ガイド板の上面と対向し、プローブが第1ガイド板に係止される。このため、プローブ幅と第1ガイド孔のギャップの大きさにかかわらず、係止部の突出量を小さくすることができ、プローブを狭ピッチで配置することができる。さらに、第1方向側とは反対側、つまり、第1ガイド板よりも上方の側面であって、第1ガイド板に対する角度が鈍角となる第2方向側の側面が、係止部の突出面よりも中心軸に近い距離にあるため、プローブをさらに狭ピッチで配置することができる。
【0011】
本発明の第2の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記プローブが、前記第2方向側の側面を前記係止部側へオフセットさせたオフセット部をさらに有し、隣接する2つの前記プローブは、一方の前記係止部が他方の前記オフセット部と対向するように配置される。
【0012】
このような構成を採用することにより、一方の係止部が他方のオフセット部と対向するように2以上のプローブを隣接して配置し、係止部の突出方向と、オフセット部のオフセット方向とを一致させることにより、プローブをさらに狭ピッチで配置することができる。また、オフセット部を第2方向側の側面に形成することにより、プローブ幅と第1ガイド孔のギャップの大きさにかかわらず、オフセット量を大きくすることができ、プローブをさらに狭ピッチで配置することができる。
【0013】
本発明の第3の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記オフセット部の下面が、前記プローブの中心軸上において、前記係止部の下面よりも下方に形成されるように構成される。
【0014】
このような構成を採用することにより、係止部の下端が、オフセット部よりも下方の側面に接触するのを抑制し、プローブを狭ピッチで配置することができる。
【0015】
本発明の第4の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記オフセット部の下面の最外縁が、前記第1ガイド板の上面よりも下方に配置されるように構成される。
【0016】
このような構成を採用することにより、係止部の下端が、オフセット部よりも下方の側面と接触するのを防止し、プローブを狭ピッチで配置することができる。
【0017】
本発明の第5の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記オフセット部の下面が、下方に行くほどオフセット量が減少するように前記プローブの中心軸に対し傾斜するように構成される。
【0018】
このような構成を採用することにより、係止部がオフセット部よりも下側の側面と接触するのを抑制することができる。また、オフセット部を設けることによりプローブの電気的特性や機械的強度に与える影響を抑制することができる。
【0019】
本発明の第6の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記第1ガイド板の上方に配置され、前記プローブの上端がそれぞれ当接する2以上のプローブ用電極を有する配線基板をさらに備え、前記オフセット部は、前記係止部と対向する側面に形成された凹部として構成される。
【0020】
このような構成を採用することにより、プローブの上端の幅を広げることができ、プローブの上端をプローブ用電極に接触させることができるプローブの傾斜角の範囲を広げることができ、プローブとプローブ用電極をより確実に導通させることができる。
【0021】
本発明の第7の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記オフセット部の上面の最外縁が、前記プローブの中心軸上において、前記係止部の上面の最外縁よりも上方に形成されているように構成される。
【0022】
このような構成を採用することにより、係止部の上端が、オフセット部よりも上方の側面に接触するのを抑制し、プローブを狭ピッチで配置することができる。
【0023】
本発明の第8の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記オフセット部の上面が、上方に行くほどオフセット量が減少するように前記プローブの中心軸に対し傾斜するように構成される。
【0024】
このような構成を採用することにより、係止部がオフセット部よりも上側の側面と接触するのを抑制することができる。また、オフセット部を設けることによりプローブの電気的特性や機械的強度に与える影響を抑制することができる。
【0025】
本発明の第9の実施態様によるプローブカードは、上記構成に加えて、前記第1ガイド板の下方に配置され、前記プローブがそれぞれ挿通される2以上の第2ガイド孔を有する第2ガイド板をさらに備え、前記第1ガイド孔及び前記第2ガイド孔は、前記プローブが傾斜する方向に相対的にオフセットさせた位置に配置されるように構成される。
【0026】
このような構成を採用することにより、第1ガイド孔に挿通するプローブを第1ガイド板に対し傾斜させることができる。
【発明の効果】
【0027】
本発明によれば、ガイド板のガイド孔に挿通されたプローブを脱落しないようにガイド板に係止しつつ、より狭ピッチで配置することができるプローブカードを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0028】
図1】本発明の実施の形態1によるプローブカード100の一構成例を示した断面図である。
図2図1の第1ガイド板14の一構成例を示した平面図である。
図3】プローブ200及びガイド板14,15の組み立て時の様子を示した概略図である。
図4】プローブ200の一構成例を示した外観図である。
図5】プローブ200の一部を拡大して示した部分拡大図である。
図6図5のA-A切断線による断面を示した断面図である。
図7図1の第1ガイド板14及びプローブ200の一部を拡大して示した拡大断面図である。
図8】本発明の実施の形態1と比較すべき比較例の要部を示した図である。
図9】本発明の実施の形態2によるプローブ201の要部の一例を示した図である。
図10図9のB-B切断線による断面を示した断面図である。
図11】第1ガイド板14及びプローブ201の一部を拡大して示した拡大断面図である。
図12】本発明の実施の形態2と比較すべき比較例の要部を示した図である。
図13】本発明の実施の形態3によるプローブ202の要部の一例を示した図である。
図14】第1ガイド板14及びプローブ202の一部を拡大して示した拡大断面図である。
図15】本発明の実施の形態4によるプローブ203の要部の一例を示した図である。
図16】第1ガイド板14及びプローブ203の一部を拡大して示した拡大断面図である。
図17】従来のプローブカードの一例を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【0029】
実施の形態1.
<プローブカード100>
図1は、本発明の実施の形態1によるプローブカード100の一構成例を示した断面図であり、水平に配置したプローブカード100を鉛直面により切断した場合の断面が示されている。プローブカード100は、半導体ウエハなどの検査対象物(不図示)に対する電気的接続を行う検査装置であり、検査対象物上の多数の電極パッドにそれぞれ接触させる多数のプローブ200が当該電極パッドに対応するように配設されている。図示したプローブカード100は、メイン基板10、ST(スペーストランスフォーマ)基板11、補強板12、スペーサ13、第1ガイド板14、第2ガイド板15及び2以上のプローブ200により構成される。
【0030】
メイン基板10は、プローバー(不図示)に着脱可能に取り付けられる配線基板であり、例えば、円板状のプリント回路基板を用いることができる。メイン基板10は、略水平に配置され、その上面には、補強板12が取り付けられている。補強板12は、メイン基板10の歪みを抑制するための補強部材であり、例えば、金属ブロックを用いることができる。また、メイン基板10上の補強板12よりも外側、つまり、メイン基板10の上面の外周縁部には、テスター(不図示)の信号端子が接続される2以上の外部電極10tが設けられている。
【0031】
ST基板11は、電極ピッチを変換する配線基板であり、メイン基板10の下面に取り付けられる。ST基板11の下面には、2以上のプローブ用電極11tが形成されている。プローブ用電極11tは、プローブ200を接触させる電極端子であり、プローブ200に対応するピッチで配設されるとともに、メイン基板10及びST基板11の配線パターン及びスルーホールを介して、より広ピッチで配設された外部電極10tと導通する。
【0032】
ガイド板14及び15は、いずれもプローブ200を支持する支持基板であり、例えば、平板状のシリコン基板を用いることができる。ガイド板14及び15は、スペーサ13を介してメイン基板10又はST基板11に固定され、ST基板11から距離を隔てて略水平に配置される。
【0033】
第1ガイド板14は、2以上の第1ガイド孔14hを有する。第1ガイド孔14hは、第1ガイド板14を上下方向に貫通する貫通孔であり、プローブ200が挿通される。第1ガイド板14は、ST基板11の下方に離間して配置され、脱落しないようにプローブ200を支持するとともに、プローブ200のST基板11に対する水平方向の位置決めを行っている。
【0034】
第2ガイド板15は、2以上の第2ガイド孔15hを有する。第2ガイド孔15hは、第2ガイド板15を上下方向に貫通する貫通孔であり、プローブ200が挿通される。第2ガイド板15は、第1ガイド板14の下方に離間して配置され、プローブ200を上下方向に移動可能に支持し、プローブ200の検査対象物に対する水平方向の位置決めを行っている。
【0035】
同じプローブ200が挿通されるガイド孔14h及び15hは、水平方向に一定距離だけオフセットするように配置されている。対応するガイド孔14h及び15hの位置を相対的にオフセットさせることにより、プローブ200は、ガイド板14,15間において湾曲変形するとともに、プローブ200の両端近傍がガイド板14及び15に対し傾斜する。傾斜方向Dは、プローブ200の傾斜を示す水平面上の方向である。
【0036】
プローブ200は、細長い形状を有する垂直型プローブであり、導電性材料からなる。プローブ200の上端は、ST基板11のプローブ用電極11tに接触し、下端は検査対象物の電極パッドに接触する。
【0037】
プローブ200に検査対象物を接触させた後に両者をさらに近づけるオーバードライブ処理を行うことにより、プローブ200が弾性変形し、下端が上下動する。このため、ガイド孔14h,15hのオフセット配置により非検査時のプローブ200を湾曲変形させておくことにより、オーバードライブ時にプローブ200の湾曲部を座屈変形させ、検査対象物に対し適度な圧力を付与しつつ、上下動のストローク長を確保することができる。また、各プローブ200が略同一形状となるように非検査時に湾曲変形させておくことにより、ガイド板14,15間において座屈変形したプローブが接触するのを防止することができる。
【0038】
<ガイド板14,15>
図2は、図1の第1ガイド板14の一構成例を示した平面図であり、第1ガイド板14の上面が示されている。
【0039】
図示した第1ガイド板14は、略矩形の平板であり、多数の第1ガイド孔14hが傾斜方向D及びその直交方向にそれぞれ整列するように2次元配置されている。第1ガイド孔14hは、主面と直交する貫通孔であり、その断面は一対の辺が傾斜方向Dと直交する矩形からなる。
【0040】
傾斜方向Dに着目すれば、第1ガイド孔14hは、幅Hwの貫通孔であり、間隔Hiを隔てて配置されている。つまり、ピッチHp=Hw+Hiで整列配置されている。プローブ200の断面形状は、プローブ200に求められる電気的特性、機械的強度などで定められる。このため、プローブ200をより狭ピッチで配置しようすれば、間隔Hiを短くする必要が生じる。最近では、第1ガイド孔14hの間隔Hiが幅Hwの1/2以下、例えば1/3以下であることが求められるようになっている。その結果、隣接するプローブ200間の短絡が生じ易くなっている。
【0041】
第2ガイド板15は、第2ガイド孔15hの位置が、第1ガイド孔14hの位置に対しオフセットされている点を除き、第1ガイド板14と全く同様の構成を有する。
【0042】
図3は、プローブ200及びガイド板14,15の組み立て時の様子を示した概略図である。図中の(a)には、プローブ200をガイド孔14h,15hに挿通した状態が示され、図中の(b)には、ガイド孔14h,15hをオフセットさせ、プローブ200を湾曲変形させた状態が示されている。
【0043】
図中の(a)は、対応するガイド孔14h,15hの位置が一致するように、ガイド板14,15が配置され、直線形状のプローブ200をガイド孔14h,15hに挿通した状態が示されている。その後、ガイド板14,15を傾斜方向Dに相対的に平行移動させると、対応するガイド孔14h及び15hの位置をオフセットさせることができる。図中の(b)は、ガイド孔14h及び15hをオフセットさせた後の状態が示されている。その後、プローブ200の上端がプローブ用電極11tに接触するように、ST基板11が取り付けられる。
【0044】
<プローブ200>
図4は、プローブ200の一構成例を示した外観図である。図中の(a)は、プローブ200の正面図、(b)はプローブ200の右側面図である。
【0045】
プローブ200は、略同一の矩形断面を有する柱状体として形成され、プローブ200の上端及び下端は、プローブ200の中心軸Jが突出するようにそれぞれ尖鋭化されている。また、プローブ200の上端近傍には、側面の一部を突出させた係止部21が設けられている。
【0046】
プローブ200は、プローブ上部251、プローブ本体252及びプローブ下部253に区分される。プローブ本体252は、ガイド板14,15間に配置される弾性変形部であり、プローブ本体252よりも上側がプローブ上部251、下側がプローブ下部253であり、係止部21はプローブ上部251に設けられる。
【0047】
プローブ200は、例えば、1つの中間層302を2つの外層301,303で挟んだ3層構造を有し、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術を利用して作製される。中間層302は、導電性の良好な金属材料を用いた導電層であり、外層301,303は、機械的強度の良好な金属材料を用いた応力層である。また、プローブ200の上端面には、導電性の良好な金属材料を用いた接触層304が3つの主層301~303の各端面に接するように形成されている。3つの主層301~303は、中心軸J及び傾斜方向Dに平行な層として積層形成され、係止部21は、各層301~303の平面形状における略矩形の凸部として形成される。
【0048】
図5及び図6は、図4のプローブ200の詳細構成を示した図である。図5は、プローブ200の一部を拡大して示した部分拡大図であり、図6は、図5のA-A切断線による断面を示した断面図である。
【0049】
係止部21は、傾斜方向Dの一方の側面210を中心軸Jに垂直な方向に突出させて形成され、中心軸Jと直交する下面211及び上面213と、中心軸Jと平行な突出面212とを有する。一方、傾斜方向Dの他方の側面220には、係止部が形成されていない。
【0050】
図中のLwはプローブ幅、L21は係止部21の突出量である。プローブ200の中心軸Jからの距離は、突出面212がL31=Lw/2+L21であるのに対し、係止部21と対向する側面220がL32=Lw/2であり、側面220の中心軸Jからの距離は、突出面212に比べて突出量L21だけ短くなっている。
【0051】
図7は、図1の第1ガイド板14及びプローブ200の一部を拡大して示した拡大断面図である。プローブ200の上端は、ST基板11のプローブ用電極11tに当接し、係止部21の下面211は、第1ガイド基板14の上面に当接する。このため、プローブ200をプローブ用電極11tと導通させるとともに、第1ガイド孔14hから脱落しないようにプローブ200を支持することができる。
【0052】
プローブ上部251は、第1ガイド板14に対し、傾斜方向Dに傾斜して配置される。傾斜方向Dのうち、第1ガイド板14よりも上方においてプローブ200の中心軸J及び第1ガイド板14のなす角度が鋭角となる方向を第1方向d1とし、第1方向d1とは逆の方向、つまり、第1ガイド板14よりも上方においてプローブ200の中心軸J及び第1ガイド板14のなす角度が鈍角となる方向を第2方向d2とする。
【0053】
係止部21は、プローブ上部251の第1方向d1側の側面210に形成される。つまり、第1ガイド板14よりも上方の側面であって、傾斜により第1ガイド板14に対する角度が鋭角となる側面210を突出させることにより係止部21が形成される。このため、係止部21及び第1ガイド孔14hの形状や大きさにかかわらず、係止部21の下面211は、第1ガイド孔14h周辺のガイド板14の上面と対向し、係止部21が第1ガイド板14に係止され、第1ガイド孔14hから脱落しないようにプローブ200を支持することができる。
【0054】
例えば、プローブ上部251が第1ガイド孔14hを通過可能な形状として予め設計されている場合や、摩耗又は損傷により事後的に通過可能になった場合でも、プローブ200を支持することができる。
【0055】
また、第2方向d2側の側面220、つまり、第1ガイド板14よりも上方の側面であって、傾斜により第1ガイド板14に対する角度が鈍角となる側面220に係止部21を形成する場合に比べ、係止部21の突出量L21を小さくすることができるので、所定のプローブ間隔Liを確保しながら、プローブピッチLpを減少させることができる。
【0056】
プローブ間隔Liは、隣接する2つのプローブ200の一方の係止部21の突出面212から他方の第2方向d2側の側面220までの距離であり、プローブピッチはLp=Lw+L21+Liとなる。例えば、プローブ幅Lwが20μm、係止部21の突出量L21が7μm、プローブ間隔Liが13μmであれば、プローブピッチLpは40μmとなる。狭ピッチ配置を実現するには、係止部21の突出量L21が、プローブ幅Lw以下であることが望ましく、プローブ幅Lwの1/2以下であることがより望ましい。また、プローブ間隔Liはプローブ幅Lw以下であることが望ましい。
【0057】
図8は、本発明の実施の形態1と比較すべき比較例の要部を示した図である。比較例としてのプローブ200'は、第1ガイド板14に対し傾斜して配置され、第1方向d1側及び第1方向d1とは反対の第2方向d2側の2つの側面210,220をそれぞれ突出させた一対の係止部21を有する。このプローブ200'は、図7のプローブ200と比較すれば、同じプローブ間隔Liを確保しようとしたときのプローブピッチLpが突出量L21だけ長くなるという欠点がある。
【0058】
本実施の形態によるプローブカードは、プローブ200が、第1ガイド板14に対し傾斜して配置され、第1ガイド板14よりも上方においてプローブ200及び第1ガイド板14のなす角度が鋭角となる第1方向d1側の側面210を突出させた係止部21を有する。このため、係止部21を第1ガイド板14の上面に係止させ、脱落しないようにプローブ200を支持することができる。また、プローブ200と第1ガイド孔14hとのギャップの大きさにかかわらず、係止部21の突出量L21を短くすることができ、プローブピッチLpを短くすることができる。
【0059】
また、プローブ200は、係止部21と対向する側面220に係止部が形成されておらず、隣接する2つのプローブ200は、一方の係止部21が他方の側面220と対向し、係止部21同士が対向することはない。このため、対向する両側面210,220に係止部21を設けたプローブを用いる場合に比べて、同じプローブ間隔Liを確保し、プローブピッチLpを短くすることができる。
【0060】
上記実施の形態では、係止部21と対向する側面220が平坦である場合の例について説明したが本発明は、このような場合のみに限定されない。すなわち、係止部21と対向する側面は、中心軸Jから距離L32が、中心軸Jから突出面212までの距離L31よりも短ければよく、凹部や凸部を有し、あるいは、曲面であってもよい。つまり、係止部21を含む断面において、中心軸Jが第2方向d2側に偏心していればよい。
【0061】
実施の形態2.
実施の形態1では、第1ガイド板14に対し傾斜して配置され、第1ガイド板14よりも上方においてプローブ200及び第1ガイド板14のなす角度が鋭角となる第1方向d1側の側面210を突出させた係止部21を有するプローブ200を用いる場合について説明した。本実施の形態では、これに加えて、第1方向d1とは反対の第2方向d2側の側面220を中心軸J側へオフセットさせたオフセット部22を有するプローブ201を用いる場合について説明する。
【0062】
図9及び図10は、本発明の実施の形態2によるプローブカードを構成するプローブ201の要部の一例を示した図である。図9は、プローブ201の一部を拡大して示した部分拡大図であり、図10は、図9のB-B切断線による断面を示した断面図である。
【0063】
プローブ201は、係止部21と対向する側面220を内側へオフセットさせたオフセット部22を有する点で図5のプローブ200(実施の形態1)と相違する。その他の構成については、プローブ200と同様であるため、重複する説明を省略する。
【0064】
オフセット部22は、プローブ上部251の第2方向d2側の側面220を係止部21の突出方向へオフセットさせて形成され、中心軸Jと直交する下面221と、中心軸Jと平行なオフセット面222とを有する。また、オフセット部22は、中心軸J上において係止部21と対応する位置に設けられ、オフセット面222は、突出面212と対向するとともに、プローブ上端まで延びる。下面221は、側面220及びオフセット面222の境界に形成される段差部を構成し、係止部21の下面211よりも下方に設けられている。つまり、オフセット部22の下端は、中心軸J上において、係止部21の下端よりもさらに下方に位置する。
【0065】
図中のL22は、オフセット部22のオフセット量である。プローブ201の中心軸Jからの距離は、突出面212がL31=Lw/2+L21であるのに対し、オフセット面222がL32=Lw/2-L22であり、オフセット面222の中心軸Jからの距離は、突出面212に比べて、突出量L21とオフセット量L22の和だけ短くなっている。
【0066】
図11は、第1ガイド板14及びプローブ201の一部を拡大して示した拡大断面図である。隣接する2つのプローブ201の一方の係止部21は、他方のオフセット部22と対向する。また、隣接して配置される2つのプローブ201の一方の係止部21の下端が他方のオフセット部22より下方の側面220に接触しないようにオフセット部22が形成されている。このため、図7のプローブ200(実施の形態1)と比べて、同じプローブ間隔Liを確保しようとしたときのプローブピッチLpをオフセット量L22だけ短くすることができる。
【0067】
プローブ201が傾斜している状態において、オフセット部22の下面221の最外縁225は、係止部21の下面211の最外縁215よりも下方に配置される。つまり、オフセット部22の下面221の最外縁225は、第1ガイド板14の上面よりも下方、例えば、第1ガイド孔14h内に配置される。この様な構成を採用することにより、係止部21の下面211の最外縁215が、オフセット部22よりも下側の側面220に接触するのを防止することができる。なお、最外縁215,225は、中心軸Jから最も遠い下面211,221の縁部である。
【0068】
プローブ間隔Liは、隣接するプローブ201の一方の突出面212から他方のオフセット面222までの距離であり、プローブピッチはLp=Lw+L21-L22+Liとなる。例えば、プローブ幅Lwが20μm、係止部21の突出量L21が7μm、オフセット量L22が5μm、プローブ間隔Liが13μmであれば、プローブピッチLpは35μmとなる。
【0069】
図12は、本発明の実施の形態2と比較すべき比較例の要部を示した図である。比較例としてのプローブ201'は、オフセット部22の下端が、係止部21の下端に対応する位置に設けられている。つまり、オフセット部22の下面221と係止部21の下面211は、プローブ201'の中心軸J上の同じ位置に形成される。このため、プローブ201'を傾斜して配置すれば、オフセット部22の下面221の最外縁225は、第1ガイド板14の上面よりも上方に位置し、係止部21の下面211の最外縁215は、オフセット部22よりも下側の側面220と同じ高さになる。その結果、隣接して配置される2つのプローブ201'の一方の係止部21が、他方のオフセットしていない側面220と接触するおそれがあり、オフセット部22を設けたとしても、プローブピッチLpを短くすることができない。
【0070】
本実施の形態によるプローブカードを構成するプローブ201は、係止部21と対向する側面220を係止部21の突出方向にオフセットさせたオフセット部22を有する。このため、オフセット部22を有しない場合に比べて、同じプローブ間隔Liを確保しつつ、プローブピッチLpをさらに短くすることができる。
【0071】
また、本実施の形態によるプローブカードを構成するプローブ201は、傾斜した状態において、オフセット部22の下端が、第1ガイド板14の上面よりも下方、例えば、第1ガイド孔14h内に位置する。このため、隣接して配置される2つのプローブ201間において、一方の係止部21が他方のオフセット部22よりも下側の側面220と接触するのを防止することができ、プローブピッチLpを短くすることができる。
【0072】
実施の形態3.
実施の形態2では、プローブ上端まで延びるオフセット部22を有するプローブ201を用いる場合について説明した。これに対し、本実施の形態では、プローブ上端に達しない凹部として形成されるオフセット部22を有するプローブ202を用いる場合について説明する。
【0073】
図13は、本発明の実施の形態3によるプローブカードを構成するプローブ202の要部の一例を示した図であり、プローブ202の一部を拡大して示した部分拡大図である。プローブ202は、オフセット部22が、プローブ上端に達しない凹部として形成される点で図9のプローブ201(実施の形態2)と相違する。その他の構成については、プローブ201と同様であるため、重複する説明を省略する。
【0074】
オフセット部22は、プローブ上部251の第2方向側の側面220を係止部21の突出方向にオフセットさせて形成され、中心軸Jと直交する下面221及び上面223と、中心軸Jと平行なオフセット面222とを有する。また、オフセット部22は、中心軸J上において係止部21と対応する位置に設けられ、オフセット面222は、係止部21の突出面212と対向する。
【0075】
オフセット部22は、プローブ上端に達しない凹部として形成され、オフセットされない側面220が、オフセット部22の下方だけでなく、上方にも設けられている。上面223は、オフセット面222と上側の側面220との境界に形成される段差部を構成する面である。上面223は、係止部21の上面213よりも上方に設けられている。つまり、オフセット部22の上端は、中心軸Jに関し、係止部21の上端よりもさらに上方となる位置に形成される。下面221は、オフセット面222と下方の側面220との境界に形成される段差部を構成する面である。下面221は、係止部21の下面211よりも下方に設けられている。つまり、オフセット部22の下端は、中心軸Jに関し、係止部21の下端よりもさらに下方となる位置に形成される。
【0076】
図14は、第1ガイド板14及びプローブ202の一部を拡大して示した拡大断面図である。隣接する2つのプローブ202の一方の係止部21は、他方のオフセット部22と対向する。また、隣接して配置される2つのプローブ202の一方の係止部21の下端及び上端は、他方のオフセット部22より下方又は上方の側面220のいずれにも接触しないようにオフセット部22が形成されている。このため、図11のプローブ201と同様、プローブピッチLpを短くすることができる。また、図11のプローブ201とは異なり、オフセット部22を凹部として形成することにより、プローブ上端の幅がオフセットにより狭小化されない。このため、プローブ上端をプローブ用電極11tに接触させることができるプローブの傾斜角の範囲を広げることができ、例えば、プローブ202の傾斜角が過大になった場合であっても、プローブ用電極11tに接触させることができる。
【0077】
プローブ202が傾斜している状態において、オフセット部22の下面221の最外縁225は、係止部21の下面211の最外縁215よりも下方に配置される。つまり、オフセット部22の下面221の最外縁225は、第1ガイド板14の上面よりも下方、例えば、第1ガイド孔14h内に配置される。この様な構成を採用することにより、係止部21の下面211の最外縁215が、オフセット部22よりも下側の側面220に接触するのを防止することができる。
【0078】
また、プローブ202が傾斜している状態において、オフセット部22の上面223の最外縁227は、係止部21の上面213の最外縁217よりも上方に配置される。この様な構成を採用することにより、係止部21の上面213の最外縁217が、オフセット部22よりも上側の側面220に接触するのを防止することができる。なお、最外縁217,227は、中心軸Jから最も遠い上面213,223の縁部である。
【0079】
実施の形態4.
実施の形態3では、係止部21の上面213と、オフセット部22の下面221及び上面223が中心軸Jと直交するプローブ202を用いる場合について説明した。これに対し、本実施の形態では、これらが中心軸Jに対し傾斜するプローブ203を用いる場合について説明する。
【0080】
図15は、本発明の実施の形態4によるプローブカードを構成するプローブ203の要部の一例を示した図であり、プローブ203の一部を拡大して示した部分拡大図である。プローブ203は、係止部21の上面213と、オフセット部22の下面221及び上面223とが、中心軸Jに対し傾斜している点で図13のプローブ202(実施の形態3)と相違する。その他の構成については、プローブ202と同様であるため、重複する説明を省略する。
【0081】
係止部21は、プローブ上部251の第1方向側の側面210を突出させて形成され、中心軸Jと直交する下面211と、中心軸Jと平行な突出面212と、中心軸Jに対し傾斜する上面213とを有する。上面213は、上方に行くほど突出量が減少し、中心軸Jに近づくように傾斜する平面又は曲面である。
【0082】
オフセット部22は、プローブ上部251の第2方向側の側面220を係止部21の突出方向へオフセットさせて形成され、中心軸Jに対し傾斜する下面221及び上面223と、中心軸Jと平行なオフセット面222とを有する。オフセット部22は、中心軸J上において係止部21と対応する位置に設けられ、オフセット面222は、係止部21の突出面212と対向する。オフセット面222よりも下方に形成される下面221は、係止部21の下面211よりも下方に設けられ、下方に行くほどオフセット量が減少し、中心軸Jから離れるように傾斜する平面又は曲面である。オフセット面222よりも上方に形成される上面223は、上方に行くほどオフセット量が減少し、中心軸Jから離れるように傾斜する平面又は曲面である。
【0083】
図16は、第1ガイド板14及びプローブ203の一部を拡大して示した拡大断面図である。隣接する2つのプローブ203の一方の係止部21は、他方のオフセット部22と対向するため、図14のプローブ202(実施の形態3)と同様、プローブピッチLpを短くすることができる。一方、図11のプローブ201とは異なり、係止部21の上面213、オフセット部22の下面221及びオフセット部22の上面223を中心軸Jに対し傾斜させることにより、隣接して配置される2つのプローブ203間において、一方の係止部21が他方と接触するのを抑制することができる。また、オフセット部22を設けることがプローブ203の電気的特性や機械的強度に与える影響を抑制することができる。
【0084】
また、プローブ202が傾斜している状態において、オフセット部22の下面221の最外縁225は、係止部21の下面211の最外縁215よりも下方に配置され、オフセット部22の上面223の最外縁227は、係止部21の上面213の最外縁217よりも上方に配置される。この様な構成を採用することにより、係止部21が、オフセット部22近傍の側面220に接触するのを防止することができる。
【0085】
なお、図9に示したプローブ201(実施の形態2)についても、同様にして、係止部21の上面213又はオフセット部22の下面221を中心軸Jに対し傾斜させることにより、隣接して配置される2つのプローブ201間において、一方の係止部21の上端又は下端が他方と接触するのを抑制することができる。
【符号の説明】
【0086】
100 プローブカード
10 メイン基板(配線基板)
10t 外部電極
11 ST基板(配線基板)
11t プローブ用電極
12 補強板
13 スペーサ
14 第1ガイド板
14h 第1ガイド孔
15 第2ガイド板
15h 第2ガイド孔
200~203 プローブ
21 係止部
210 第1方向側の側面
211 係止部の下面
212 係止部の突出面
213 係止部の上面
215 係止部の下面の最外縁
217 係止部の上面の最外縁
22 オフセット部
220 第2方向側の側面
221 オフセット部の下面
222 オフセット部のオフセット面
223 オフセット部の上面
225 オフセット部の下面の最外縁
227 オフセット部の上面の最外縁
251 プローブ上部
252 プローブ本体
253 プローブ下部
301~303 主層
304 接触層
D 傾斜方向
d1 第1方向
d2 第2方向
Hi 第1ガイド孔の間隔
Hp 第1ガイド孔のピッチ
Hw 第1ガイド孔の幅
J 中心軸
L21 突出量
L22 オフセット量
L31 中心軸から突出面までの距離
L32 中心軸からオフセット面までの距離
Li プローブ間隔
Lp プローブピッチ
Lw プローブ幅
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11
図12
図13
図14
図15
図16
図17