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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024174611
(43)【公開日】2024-12-17
(54)【発明の名称】記録装置、記録方法、およびプログラム
(51)【国際特許分類】
B41J 2/01 20060101AFI20241210BHJP
【ＦＩ】
B41J2/01 203
B41J2/01 209
B41J2/01 451
【審査請求】有
【請求項の数】14
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023092523
(22)【出願日】2023-06-05
(71)【出願人】
【識別番号】000001007
【氏名又は名称】キヤノン株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001243
【氏名又は名称】弁理士法人谷・阿部特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】田中 達也
(72)【発明者】
【氏名】安谷 純
【テーマコード（参考）】
2C056
【Ｆターム（参考）】
2C056EA07
2C056EB27
2C056EB36
2C056EC37
2C056EC77
2C056FA13
(57)【要約】
【課題】記録媒体上に記録されたテストチャートが分割して読み取られた場合であっても、適切に記録位置調整を行うこと。
【解決手段】プリントコントローラは、第１の読み取り画像と第２の読み取り画像の各記録素子基板に対応するパッチの代表位置を、各読み取り画像の重複領域に位置する原点からの差分位置情報に変換する。プリントコントローラは、第２の読み取り画像の差分位置情報と伸縮率Ｋとに基づき、第２の読み取り画像の差分位置情報を伸縮率が１となるように変換する。伸縮率が１となるように変換するとは、第２の読み取り画像における特定のパターン間の距離を第１の読み取り画像の対応する同じ特定のパターン間の距離と等しくなるように変換することを意味する。プリントコントローラは、第１の読み取り画像について、記録素子基板間のずれ量を算出するための基準線の傾きを算出する。
【選択図】図１８
【解決手段】プリントコントローラは、第１の読み取り画像と第２の読み取り画像の各記録素子基板に対応するパッチの代表位置を、各読み取り画像の重複領域に位置する原点からの差分位置情報に変換する。プリントコントローラは、第２の読み取り画像の差分位置情報と伸縮率Ｋとに基づき、第２の読み取り画像の差分位置情報を伸縮率が１となるように変換する。伸縮率が１となるように変換するとは、第２の読み取り画像における特定のパターン間の距離を第１の読み取り画像の対応する同じ特定のパターン間の距離と等しくなるように変換することを意味する。プリントコントローラは、第１の読み取り画像について、記録素子基板間のずれ量を算出するための基準線の傾きを算出する。
【選択図】図１８
【特許請求の範囲】
【請求項1】
記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有する記録装置であって、
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせる読み取り制御手段と、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する調整手段と、
を備えることを特徴とする記録装置。
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせる読み取り制御手段と、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する調整手段と、
を備えることを特徴とする記録装置。
【請求項2】
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、前記読み取り画像対において前記テストチャートの同じ部分を重複して読み取った重複領域に含まれる、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項3】
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、同じ記録手段に含まれる同じ記録素子基板に対応するパッチである、
ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
【請求項4】
前記調整手段は、前記読み取り画像対の一方における前記パッチの位置情報を前記伸縮率が１になるよう変換し、前記重複領域における前記パッチの位置情報に基づき、前記読み取り画像対の前記パッチの位置情報を結合する、
ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
【請求項5】
前記調整手段は、前記結合されたパッチの位置情報に基づき前記記録材の付着位置のずれ量を算出し、当該ずれ量に基づき前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する、
ことを特徴とする請求項４に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項４に記載の記録装置。
【請求項6】
前記ずれ量は、前記結合されたパッチの位置情報における２つの所定の記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ基準線に基づき算出するずれ量を含む、
ことを特徴とする請求項５に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項５に記載の記録装置。
【請求項7】
前記基準線は、同じ記録手段に含まれる異なる２つの記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ線である、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
【請求項8】
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、共通する１つの座標系の座標点で表される、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
【請求項9】
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、前記重複領域における所定のパッチの位置からの距離を示す差分として表される、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
【請求項10】
前記調整手段は、前記記録手段を複数有する場合、前記基準線の傾きが当該複数の記録手段の傾きの平均と同じになるよう前記基準線を補正する、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
【請求項11】
前記記録素子基板は、インクを吐出するノズルが配列された記録素子基板である、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項12】
前記読み取り画像対は、前記読み取り装置において隣接する２つの前記光学センサにより得られた２つの読み取り画像からなる、
ことを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の記録装置。
ことを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の記録装置。
【請求項13】
記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有する記録方法であって、
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせるステップと、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出するステップと、
前記算出するステップにより算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整するステップと、
を備えることを特徴とする記録方法。
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせるステップと、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出するステップと、
前記算出するステップにより算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整するステップと、
を備えることを特徴とする記録方法。
【請求項14】
コンピュータに、請求項１３に記載の記録方法の各ステップを実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、記録装置における記録位置を調整するための制御技術に関する。
【背景技術】
【0002】
記録媒体の幅に相当する記録幅を持つ、いわゆるフルライン型の記録ヘッドを用いる記録装置が知られており、このような記録装置の１つにインクジェット記録装置がある。フルライン型のインクジェット記録装置における記録ヘッドは、複数のノズル列を含む記録素子基板が複数配置され、記録媒体に対して１回相対移動させることにより、記録媒体のほぼ全面に画像を記録できる。フルライン型の記録ヘッドが設けられた記録装置においては、記録ヘッドの取り付け位置や、複数の記録ヘッド間における相対的な取り付け位置に誤差が生じることがある。この誤差は、記録媒体上での記録材の付着位置（インクジェット記録装置ではインク着弾位置）にずれを生じさせ、記録品位の低下要因となる。以下、このような、記録材の付着位置のずれを補正する処理を「記録位置調整」と呼称する。
【0003】
記録位置調整では、記録媒体上に記録されたテストチャートを、イメージセンサを備えたスキャナ装置を用いて読み取り、読み取った画像からテストチャートに含まれるノズル列、記録素子基板に対応するパッチの位置をまず検出する。そして、それらパターン間の相対的な位置を求め、この相対位置に基づいて記録位置の調整を行う。パッチの位置検出精度を高める方法として、特許文献１には、記録ヘッドの両端部に近い２つの記録素子基板の推定位置を結んだ基準線と各記録素子基板との距離から求めた記録素子基板間のずれ量に基づき記録位置調整を行う方法が開示されている。
【0004】
フルライン型の記録ヘッドを用いるインクジェット記録装置で大判印刷を行う場合、記録ヘッドは記録媒体に合せて大きくすることになる。記録ヘッドが大きくなると記録位置調整用のテストチャートも大きくなるため、スキャナ装置はテストチャートの大きさに対応した読み取りサイズが必要になる。読み取りサイズの大きいスキャナ装置には、複数のイメージセンサを組み合わせたものもある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開２０２０－１７２０８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかし、特許文献１に記載の技術において複数のイメージセンサを組み合わせたスキャナ装置を用いると、基準線を求めるための記録ヘッドの両端部に近い２つの記録素子基板の位置は、読み取り条件が異なる２つの読み取り画像に基づき推定することになる。その結果、基準線を求めるための２つ記録素子基板の相対的な位置の推定精度が低下して基準線の精度も低下するため、適切に記録位置調整ができなくなる。
【0007】
そこで本発明は、記録媒体上に記録されたテストチャートが分割して読み取られた場合であっても、適切に記録位置調整を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明は、記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有する記録装置であって、前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせる読み取り制御手段と、前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する調整手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、記録媒体上に記録されたテストチャートが分割して読み取られた場合であっても、適切に記録位置調整を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】インクジェット記録装置の概要図。
【図2】スキャナ装置がテストチャートを読み取る際の、スキャナ装置上方側からの俯瞰図。
【図3】インクジェット記録装置を制御するためのハードウェア構成を示すブロック図。
【図4】ノズル列位置ずれ補正用のパッチを説明するための図。
【図5】パターンマッチング用パターンの例を示す図。
【図6】スキャナ装置とテストチャートと記録ヘッドとの位置関係を示す図。
【図7】ヘッド位置ずれ補正用のテストチャートを説明するための図。
【図8】ノズル列間のずれ量を算出する方法を説明するための図。
【図9】記録素子基板間のずれ量を算出する方法を説明するための図。
【図10】記録ヘッドの傾き量を算出する方法を説明するための図。
【図11】記録ヘッド間のずれ量を算出する方法を説明するための図。
【図12】記録素子基板に対応したパッチの検知マークの検出を説明するための図。
【図13】スキャナ装置の２つのセンサから取得した２つの読み取り画像例を示す図。
【図14】本実施形態に係るずれ量算出処理を説明するためのフローチャート。
【図15】本実施形態に係るずれ量算出処理１を説明するためのフローチャート。
【図16】読み取り画像間の伸縮率を算出するための手順を説明するための図。
【図17】本実施形態に係るずれ量算出処理２を説明するためのフローチャート。
【図18】本実施形態に係る一方の読み取り画像の各記録素子基板の差分位置情報を対応する伸縮率で補正する手順を説明するための図。
【図19】本実施形態に係る基準線を得る手順を説明するための図。
【図20】本実施形態に係る基準線の傾きを補正し、第１の読み取り画像上での第２の読み取り画像の各記録素子基板の座標を算出する手順を説明するための図。
【発明を実施するための形態】
【0011】
図面を参照して本実施形態について説明する。尚、この実施の形態に記載されている構成要素は、本発明の例としての形態を示すものであり、この発明の範囲をそれらのみに限定するものではない。
【0012】
図１は、本実施形態に係るインクジェット記録装置１００を概略的に示した正面図である。インクジェット記録装置１００は、本実施形態で使用する連続した印刷が可能な連続紙（以下ロール紙）１１０に印刷する装置である。本実施例では、インクジェット記録装置１００は、ロール紙１１０を搬送する給紙装置１０３、印刷を行うメインユニット１１１、ロール紙１１０の巻き取りを行う排紙装置１０４、操作パネル１０１で構成される。
【0013】
給紙装置１０３は、ロール紙１１０をメインユニット１１１に供給する装置である。給紙装置１０３は、回転軸１１２を中心にロール紙１１０の紙管を回転させてその紙管に巻かれているロール紙１１０を、複数ローラ（搬送ローラ、給紙ローラなど）を経由して、一定の速度でインクジェット記録装置１００に向けて搬送する。
【0014】
排紙装置１０４は、メインユニット１１１から搬送されてきたロール紙１１０を、紙管を中心としてロール状に巻き取る装置である。排紙装置１０４は、例えば、図に示すように、ロール紙１１０が回転軸１１３の紙管に巻かれてロール状に保持される。排紙装置１０４は、回転軸１１３を中心に回転させて紙管に搬送されてきたロール紙１１０を、複数のローラー（例えば、搬送ローラー、排紙ローラー）を経由して、一定の速度で回転軸１１３にロール紙の成果物として巻き取る装置である。印刷開始前に、給紙装置１０３から、排紙装置１０４にロール紙１１０を通す。給紙装置１０３にロール紙１１０をセットして、ロール紙１１０の先端を斜行補正装置１０９の上に通す。次に、メインユニット１１１のインクジェット記録方式の記録ヘッド１０２の下を通して、乾燥装置１０５の下を通して、冷却装置１０７、１０８の上を通す。スキャナ装置１０６を通して、排紙装置１０４で巻き取る。
【0015】
スキャナ装置１０６では、光学センサを利用してロール紙上に印刷された印刷パターン等を光学的に読み取る。ロール紙１１０をインクジェット記録装置１００内に通したあと、インクジェット記録装置１００の制御用ＰＣ１１４に印刷ジョブを投入する。印刷ジョブ投入後、操作パネル１０１で印刷スタートボタンを押下して印刷を開始する。
【0016】
図２は、スキャナ装置１０６がテストチャートを読み取る際の、スキャナ装置上方側からの俯瞰図である。ロール紙１１０である記録媒体Ｐは、搬送方向２０１へ搬送され、スキャナ装置１０６の近傍で搬送速度を調整し、光学センサであるセンサ２０２Ａ及び２０２Ｂを利用して撮像領域２０３の撮像を行う。センサ２０２Ａ及びセンサ２０２Ｂは、スキャナ装置１０６の記録媒体Ｐと対面する側面に一部の撮像領域が重なるように千鳥構成で配置されている。こうした千鳥配置のため、センサ２０２Ａとセンサ２０２Ｂは、搬送方向２０１に沿って互いに離間して配置されている。また、センサ２０２Ａ及びセンサ２０２Ｂは、例えば、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の撮像素子（不図示）を含む。スキャナ装置１０６により得られた撮像領域２０３の読み取り画像は、各種の補正値の算出に利用される。補正値の算出方法については後述する。尚、スキャナ装置１０６は、メインユニット１１１内に予め設置されている構成でも、オプション装着可能な構成であってもよい。
【0017】
図３は、インクジェット記録装置１００を制御するためのハードウェア構成を示すブロック図である。制御構成は、主にプリントエンジンを統括するプリントエンジンユニット４００と、インクジェット記録装置全体を統括するコントローラユニット３００によって構成されている。プリントコントローラ４０２は、コントローラユニット３００のメインコントローラ３０１の指示に従ってプリントエンジンユニット４００の各種機構を制御する。以下に制御構成の詳細について説明する。
【0018】
コントローラユニット３００において、ＣＰＵにより構成されるメインコントローラ３０１は、ＲＯＭ３０６に記憶されているプログラムや各種パラメータに従って、ＲＡＭ３０５をワークエリアとしながらインクジェット記録装置１００全体を制御する。例えば、ホストＩ／Ｆ３０２を介してホスト装置５００から印刷ジョブが入力されると、メインコントローラ３０１の指示に従って、画像処理部３０７が受信した画像データに対して所定の画像処理を施す。そして、メインコントローラ３０１はプリントエンジンＩ／Ｆ３０４を介して、画像処理を施した画像データをプリントエンジンユニット４００へ送信する。
【0019】
尚、インクジェット記録装置１００は、プリントエンジンユニット４００へ送信する画像データを、インクジェット記録装置１００に接続された外部記憶装置（ＵＳＢメモリ等）から取得しても良い。操作パネル３０３は、ユーザが記録装置に対して入出力を行うための機構である。ユーザは、操作パネル３０３を介してプリントや紙送りの動作を指示したり、印刷モードを設定したり、記録装置の情報を認識したりすることができる。操作パネル３０３はタッチパネルとなっており、マウスやキーボードを接続して入力することも可能である。
【0020】
プリントエンジンユニット４００において、ＣＰＵにより構成されるプリントコントローラ４０２は、ＲＯＭ４０３に記憶されているプログラムや各種パラメータに従って、インクジェット記録装置１００が備える各種機構を制御する。このときプリントコントローラ４０２は、ＲＡＭ４０４をワークエリアとして用いる。コントローラＩ／Ｆ４０１を介して各種コマンドや画像データが受信されると、プリントコントローラ４０２は、これを一旦ＲＡＭ４０４に保存する。記録ヘッド１０２が記録動作に利用できるように、プリントコントローラ４０２は画像処理コントローラ４０５に対してＲＡＭ４０４に保存した画像データを記録データへ変換させる。記録データが生成されると、プリントコントローラ４０２は、ヘッドＩ／Ｆ４０６を介して記録ヘッド１０２に記録データに基づく記録動作を実行させる。この際、プリントコントローラ４０２は、搬送制御部４０７を介して図１に示す給紙装置１０３、排紙装置１０４を駆動して、記録媒体であるロール紙１１０を搬送させる。また、プリントコントローラ４０２は、搬送制御部４０７を介して乾燥装置１０５及び、冷却装置１０７、１０８のヒータとファンを駆動して搬送した用紙を乾燥、冷却させる。さらに、搬送制御部４０７は搬送ローラに備えられたエンコーダから、搬送量を検出できる。プリントコントローラ４０２の指示に従って、ロール紙の搬送動作に連動して記録ヘッド１０２による記録動作が実行され、印刷処理が行われる。
【0021】
記録ヘッド１０２は上下（ロール紙１１０の記録面に対して垂直方向）に動作できる構成としており、印刷する場合には下降しているが、メンテナンス時などは上に上昇させる。ヘッドキャリッジ制御部４０８は、インクジェット記録装置１００のメンテナンス状態や記録状態といった動作状態に応じて記録ヘッド１０２の上下位置を変更させる。インク供給制御部４０９は、記録ヘッド１０２へ供給されるインクの圧力が適切な範囲に収まるように、インク供給ユニットを制御する。メンテナンス制御部４１０は、記録ヘッド１０２に対するメンテナンス動作を行う際に、メンテナンスユニットを上昇させたヘッド下に移動させ、キャップやワイピング等のヘッドのメンテナンスの動作を制御する。
【0022】
スキャナ制御部４１１は、スキャナ装置１０６の制御を行う。記録動作が実行される画像データが各種補正値算出用のパターンであるテストチャートの場合、プリントコントローラ４０２は、搬送速度の調整を搬送制御部４０７に指示する。さらに、ロール紙に記録されたテストチャートの読み取りタイミングをプリントコントローラ４０２から指示されたスキャナ制御部４１１は、スキャナ装置１０６で撮像を実施して得られた読み取り画像をＲＡＭ４０４に保存させる。保存された読み取り画像を用いた各種補正値算出処理は、プリントコントローラ４０２で実行される。得られた補正値は、プリントコントローラ４０２から画像処理コントローラ４０５に渡すことで、記録動作に反映される。尚、保存された読み取り画像はコントローラユニット３００を経由してホスト装置５００に転送し、各種補正値算出処理を実施して、得られた補正値をプリントコントローラ４０２に出力する構成であってもよい。
【0023】
ここからは、各種補正値のひとつである、記録ヘッドの位置ずれ補正方法についての詳細を記述する。
【0024】
（記録ヘッドの位置ずれ補正方法）
図４は、記録ヘッド１０２を構成する記録素子基板１００２の１つに対応したパッチ１００７、１０１６とノズルの対応について示す図である。記録ヘッド１０２は複数の記録素子基板１００２で構成されている。記録素子基板１００２は、複数のノズルから構成されており、各ノズルは記録素子を駆動することでインクを吐出できるように構成されている。インクを吐出するための記録素子は、ヒータであっても、ピエゾ素子であってもよい。本実施形態において、記録素子基板は、平行四辺形の形状にて複数のノズル列が配置された例を示す。複数のノズルが配列する方向であるノズル配列方向１００１は、搬送方向２０１と交差し、記録媒体の幅方向に対応する。記録素子基板１００２の拡大図である１００６において、記録素子基板１００２は複数のノズル列１００５を備え、１つのノズル列１００５は、複数のノズルから構成される。１つの記録素子基板１００２に対するテストチャートは、記録素子基板１００２が有する各ノズル列１００５の破線１００３、１００４で挟まれる範囲内のノズルを使用して記録される。この範囲は、記録素子基板１００２の構成によって変化してよい。
図４は、記録ヘッド１０２を構成する記録素子基板１００２の１つに対応したパッチ１００７、１０１６とノズルの対応について示す図である。記録ヘッド１０２は複数の記録素子基板１００２で構成されている。記録素子基板１００２は、複数のノズルから構成されており、各ノズルは記録素子を駆動することでインクを吐出できるように構成されている。インクを吐出するための記録素子は、ヒータであっても、ピエゾ素子であってもよい。本実施形態において、記録素子基板は、平行四辺形の形状にて複数のノズル列が配置された例を示す。複数のノズルが配列する方向であるノズル配列方向１００１は、搬送方向２０１と交差し、記録媒体の幅方向に対応する。記録素子基板１００２の拡大図である１００６において、記録素子基板１００２は複数のノズル列１００５を備え、１つのノズル列１００５は、複数のノズルから構成される。１つの記録素子基板１００２に対するテストチャートは、記録素子基板１００２が有する各ノズル列１００５の破線１００３、１００４で挟まれる範囲内のノズルを使用して記録される。この範囲は、記録素子基板１００２の構成によって変化してよい。
【0025】
本実施例において、記録ヘッドは１７個の記録素子基板１００２から構成され、各記録素子基板１００２は、１６列のノズル列１００５から構成される例を示す。また、各ノズル列は５１２個のノズルから構成される。尚、記録ヘッドを構成する記録素子基板１００２の数や、記録素子基板１００２を構成するノズル列１００５の数、各ノズル列１００５を構成するノズル数はこれに限定されない。
【0026】
便宜上、ノズル配列方向１００１の左から数えてｎ番目（ｎ≧０）の記録素子基板１００２をＣｎ、搬送方向２０１の下流側から数えてｎ番目（ｎ≧０）のノズル列１００５をＲｎと呼称する。例えば、記録素子基板１０３１はノズル配列方向１００１の左端に位置するためＣ０、記録素子基板１０３２は右端に位置するためＣ１６である。また、ノズル列１００５は搬送方向２０１の最上流側に位置するためＲ１５、最下流側に位置するノズル列１０３３はＲ０である。ノズル列１０３３は、ノズル１０３４を左端ノズルとし、右端ノズルのノズル１０３５まで５１２個のノズル（不図示）で構成される。他のノズル列も同様に５１２個のノズルで構成されている。
【0027】
パッチ１００７は、１つの記録素子基板１００２に対応するパッチの１つである。検知マーク１０１９、アライメントマーク１０２０、およびパターンマッチング用パターン１００８を含むように構成される。
【0028】
パッチ１００７に含まれるパターンマッチング用パターン１００８は、複数のノズル列それぞれに対応して設けられる。ここでは、パターンマッチング用パターン１００８はそれぞれ別のノズル列１００５を使用して記録される。つまり、１６のノズル列１００５に対して、０～１５のパターンマッチング用パターン１００８が設けられる。レイアウト１０１２は、ノズル列１００５別の各パターンマッチング用パターン１００８の配置を示す。各パターンマッチング用パターン１００８に対応する矩形１０１０には、その位置にパターンマッチング用パターン１００８を記録するノズル列１００５を示す数値が記載されている。例えば、Ｒ０のノズル列１００５で記録されるパターンマッチング用パターン１００８に対応する矩形１０１０には、「０」が記載されている。このように、矩形内に記載された数字は、その矩形に対応するパターンマッチング用パターン１００８を記録するノズル列１００５を示すＲｎの数値ｎである。Ｒ０のノズル列１００５で記録されたパターンマッチング用パターン１００８を基準として、他のノズル列１００５で記録された各パターンマッチング用パターン１００８との相対位置から位置ずれを算出する。例外として、矩形１０１１に対応するパターンマッチング用パターンが設けられる。これは、記録素子基板１００２がＣｎとすると、その右隣りの記録素子基板１００２であるＣｎ＋１に含まれるノズルのうち、Ｒ１２のノズル列１００５で記録されるパターンマッチング用パターン１００８である。尚、矩形１０１１に対応するパターンマッチング用パターン１００８を記録する、隣接する記録素子基板１００２のノズル列１００５は、Ｒ１２に限定するものではない。矩形１０１１に対応するパターンマッチング用パターン１００８を記録するノズル列１００５は、記録素子基板１００２を構成するノズル列１００５の数や、記録素子基板１００２の形状などによって変化してよい。
【0029】
また、黒色で表現されている領域は、対応するインクで記録した領域である。また、白色で表現されている領域は、記録媒体の下地色であり、インクで記録されていない領域である。
【0030】
各パッチ１００７におけるノズル列１００５毎のパターンマッチング用パターン１００８から、そのパッチ１００７を記録した記録素子基板１００２における製造誤差によるノズル列１００５の位置ずれを算出する。詳細は図８を用いて後述する。尚、矩形１０１１に対応するパターンマッチング用パターンは、他のパターンマッチング用パターン１００８とは異なる記録素子基板１００２で記録されたものであり、記録素子基板１００２毎のノズル列１００５の位置ずれを算出するためには用いない。
【0031】
記録素子基板１００２間の位置ずれ、および記録ヘッド１０２の傾きもパッチ１００７を用いて算出する。同一記録ヘッド１０２内の複数の記録素子基板１００２間の位置ずれと、記録ヘッド１０２の傾きとは、左端より１つ内側のパッチ１００７の代表位置と、右端より１つ内側のパッチ１００７の代表位置とを結んだ線分を基準として算出される。詳細は図９、１０を用いて後述する。
【0032】
尚、本実施形態に係る装置では、記録媒体１２０１のサイズが可変である。そのため、記録媒体１２０１の左端または右端において、パッチ１００７の一部が欠けた状態で記録されることがあり得る。このようなパッチ１００７の一部が欠けている場合に、パッチ１００７が検知マーク１０１９以上の長さにて記録されている場合は、左端は矩形１０１０に対応するパターンマッチング用パターン１００８を算出用のパターンとして選択する。右端は矩形１０１１に対応するパターンマッチング用パターン１００８を算出用のパターンとして選択する。
【0033】
記録ヘッド１０２によっては、記録素子基板１００２毎のパッチとして、パッチ１００７の他に、パッチ１０１６が記録されることになることがある。パッチ１０１６は、検知マーク１０２３、アライメントマーク１０２４、およびパターンマッチング用パターン１０１７を含むように構成される。パターンマッチング用パターン１０１７はそれぞれ、複数のノズル列１００５により記録される。レイアウト１０１８のＰは複数のノズル列１００５で記録することを表している。このパッチ１０１６を用いて、そのパッチ１０１６を記録した記録ヘッド１０２の傾きを算出する。
【0034】
記録素子基板１００２毎のパッチ１００７、１０１６は、記録媒体への記録タイミングを、ノズル列１００５の製造誤差と記録素子基板１００２の製造誤差の交差を加味した量だけずらし、誤差によるテストチャートの重なりが生じないように記録されている。
【0035】
検知マーク１０１９、１０２３は、画像解析処理により、読み取り画像における記録素子基板１００２に対応したパッチ１００７、１０１６を検出するために用いられる。各検知マーク１０１９、１０２３は、矩形領域の形状にて記録されるパターンである。
【0036】
本実施形態では、各検知マーク１０１９、１０２３は、複数のノズル列１００５による打滴によって記録される。複数のノズル列１００５を使用して記録することで、特定のノズル列１００５に不吐ノズルが存在する場合でも、他のノズル列１００５のノズルによって打滴されるため、不吐ノズルによる検知パターンの欠損が生じ難くなる。これによって、画像解析処理において、安定して検知マーク１０１９、１０２３を検出することができる。
【0037】
アライメントマーク１０２０、１０２４は、画像解析処理により、パターンマッチング用パターン１００８、１０１７の解析領域の基準位置を算出するために用いられる。各アライメントマーク１０２０、１０２４は、矩形領域の形状にて記録される。各アライメントマーク１０２０、１０２４は、各ノズル列１００５に対応したパターンマッチング用パターン１００８、１０１７ごとに、複数列のノズル列１００５の打滴によって記録される。
【0038】
パターンマッチング用パターン１００８、１０１７は、画像解析処理により、記録ヘッド１０２の位置ずれを検出するためにも用いられるが、記録ヘッド１０２のインク色や算出するずれ量の種類に応じて、パッチ１００７、１０１６が使い分けられる。
【0039】
図５（ａ）はパターンマッチング用パターン１００８、図５（ｂ）はパターンマッチング用パターン１０１７の詳細レイアウトを示す図である。距離１１０１はパターンマッチング用パターン１００８の縦方向の画素数に対応し、距離１１０２はパターンマッチング用パターン１００８の横方向の画素数に対応する。距離１１０３はパターンマッチング用パターン１０１７の縦方向の画素数に対応し、距離１１０４はパターンマッチング用パターン１０１７の横方向の画素数に対応する。
【0040】
本実施形態において、パターンマッチング用パターン１００８における距離１１０１の方向は搬送方向２０１と平行方向であり、距離１１０２の方向はノズル配列方向１００１と平行であり、どちらも１２００ＤＰＩ単位で８２画素に相当する。また、パターンマッチング用パターン１０１７における距離１１０３の方向は搬送方向２０１と平行方向であり、距離１１０４の方向はノズル配列方向１００１と平行であり、どちらも１２００ＤＰＩ単位で２１０画素に相当する。尚、各パターンマッチング用パターンを構成する画素数は上記に限定するものではなく、他の画素数であってもよい。
【0041】
図６は、本実施形態に係るノズル列間、記録素子基板間、および記録ヘッド間のずれ量を算出するためのテストチャートを説明するための図である。この図では、記録媒体１２０１にロール紙を用いて記録ヘッド１０２によりテストチャート１２０２が記録されている。テストチャート１２０２のうち、テストチャート１２０６～１２１３は、ノズル列１００５間、記録素子基板１００２間のずれ量、および記録ヘッド１０２の傾き量を算出するためテストチャートである。テストチャート１２１４は、記録ヘッド１０２間のずれ量を算出するためのテストチャートである。図４で示したように、ノズル配列方向１００１は、記録ヘッド１０２のノズル配列方向を示している。
【0042】
図１に示すように、インクジェット記録装置１００には、複数の記録ヘッド１０２が備えられる。各記録ヘッド１０２は、記録媒体１２０１の搬送方向上流から、Ｐｒ（プライマー液）、Ｋ（ブラック）、Ｃ（シアン）、Ｍ（マゼンタ）、Ｙ（イエロー）、Ｏ（オレンジ）、Ｖ（バイオレット）、Ｇ（グリーン）の８色に対応しているものとする。記録ヘッド１０２の色順は変化してもよいし、他の色に対応した記録ヘッドが増えたり、置き換えたりしてもよい。
【0043】
スキャナ装置１０６は、記録ヘッド１０２に対して、記録媒体１２０１の搬送方向の下流側に配置する。スキャナ装置１０６は、記録ヘッド１０２の位置ずれ量を検出するために、記録媒体１２０１に記録されたテストチャート１２０２を読み取る。
【0044】
ヘッド位置ずれの種類について説明する。いずれも、記録ヘッド１０２の記録素子基板１００２やノズルの造形誤差、もしくは、記録ヘッド１０２の設置誤差等に起因する。ずれの種類として、記録素子基板１００２毎のノズル列１００５間の列間ずれ、記録ヘッド１０２毎の記録素子基板１００２間の位置ずれ、記録ヘッド１０２間の色間ずれ等がある。このようなずれがある場合、インクの打滴位置が理想位置からずれるため、記録画像の品位が低下する。ヘッド位置ずれ補正は、記録素子基板１００２のインク吐出タイミング、または、吐出を行うノズルを変化させることで、インクの打滴位置を補正する機能である。
【0045】
本実施形態では、ノズル配列方向１００１と直交方向（搬送方向２０１）のずれについては、記録ヘッド１０２を構成する記録素子基板１００２それぞれの吐出タイミングを変化させることにより位置ずれを補正する。ノズル配列方向１００１のずれについては、吐出データを変化させることによって位置ずれを補正する。記録ヘッド１０２の傾きについては、吐出タイミングの変化と吐出データの変化の両方を組み合わせることで位置ずれを補正する。
【0046】
図６に示すテストチャート１２０２は、記録ヘッド１０２のヘッド位置ずれ補正をするためのテストチャートである。テストチャート１２０６～１２１４は８ヘッド分のテストチャートであり、各テストチャートは対応する記録ヘッド１０２それぞれの位置ずれ量を検出するために用いられる。これらのテストチャート１２０６～１２１４を用いて、記録素子基板１００２毎の各ノズル列１００５間のずれ量と、記録ヘッド１０２毎の記録素子基板１００２間のずれ量と、記録ヘッド１０２の傾き量とを算出する。本実施形態では、テストチャート１２０６～１２１３はそれぞれ、Ｏ、Ｇ、Ｖ、Ｋ、Ｃ、Ｍ、Ｙ、Ｐｒの記録ヘッド１０２の１つに対応するテストチャートである。テストチャート１２０２に含まれる記録ヘッド１０２のテストチャートは、８ヘッド分から増減してもよいし、テストチャートの順番が変わってもよい。したがって、テストチャートの数は、テストを行う対象の記録ヘッド１０２の数に応じて変動してよい。また、テストチャート１２１４は、記録ヘッド１０２間の色間ずれ量を算出するためのテストチャートであって、全ての記録ヘッド１０２を用いて記録される。テストチャート１２１４については、図７を用いて後述する。
【0047】
本実施形態において、テストチャート１２１５は、インク色Ｋに対応するテストチャート１２０９の一部を拡大した図である。テストチャート１２１５において、黒色で表現されている領域は、対応するインクで記録した領域である。また、白色で表現されている領域は、記録媒体１２０１の下地色であり、インクで記録されていない領域である。また、記録ヘッド１０２を構成する記録素子基板１００２ごとに、記録素子基板１００２に対応したパッチ１００７が、ノズル配列方向１００１と平行して並ぶように直線的に記録される。
【0048】
本実施形態において、インク色Ｏ、Ｇ、Ｖ、Ｃ，Ｍ，Ｙに対応するテストチャート１２０６～１２０８、１２１０～１２１２それぞれも、テストチャート１２０９と同等の構成を有する。
【0049】
本実施形態において、テストチャート１２１６は、プライマー液に対応するテストチャート１２１１の一部を拡大した図である。テストチャート１２１６は、記録素子基板１００２ごとに、図４で示したパッチ１０１６がノズル配列方向１００１と平行して並ぶように直線的に記録されるように構成されている。
【0050】
尚、図６に示す例に限定するものではなく、記録ヘッド１０２の種類による、各テストチャートとインク色の対応関係は、変更してもよい。
【0051】
図７は、記録ヘッド１０２間の色間ずれ補正計算を行うためのテストチャート１２１４と記録素子基板１００２の対応について示す図である。各色のテストチャートについては、一部省略している。テストチャート１３０１は、記録ヘッド１０２同士の位置誤差を算出するためのテストチャート１２１４である。テストチャート１３０１では、レイアウト１３０２に示す、各インク色の記録ヘッド１０２でパターンマッチング用パターン１００８、１０１７が記録される。各記録ヘッド１０２において、テストチャート１３０１の記録に使用する記録素子基板１００２が１つずつ選択される。ここでは、各記録ヘッド１０２でテストチャート１３０１を記録するために使用する記録素子基板１００２は、記録素子基板１３０３とノズル配列方向１００１の位置が同じ記録素子基板１００２とする。すなわち、どの記録ヘッド１０２を用いる場合も、記録素子基板１３０３とノズル配列方向１００１の位置が同じ記録素子基板１００２を使って、パターンマッチング用パターン１００８を記録する。テストチャート１３０１は、黒色で表現されている箇所が、対応のインク色で記録した箇所であり、白色で表現されている箇所が、記録媒体１２０１の紙白（下地）の箇所を示す。
【0052】
本実施形態において、Ｋ、Ｃ、Ｍ、Ｙ、Ｏ、Ｇ、Ｖの有色インクについては、パターンマッチング用パターン１００８を使用する。レイアウト１３０２に示すように、インク色Ｋに対応する記録ヘッド１０２を基準ヘッドとして両端のパターンマッチング用パターン１００８を記録し、インク色Ｋ以外の他の各インクに対応する記録ヘッド１０２の位置ずれを算出する。レイアウト１３１０においてはインク色Ｋに対応する記録ヘッド１０２を基準ヘッドとしたＣ、Ｍ、Ｙの各インクに対応する記録ヘッド１０２の位置ずれ量を算出できる。レイアウト１３１１においてはインク色Ｋに対応する記録ヘッド１０２を基準としたＯ、Ｇ、Ｖの各インクに対応する記録ヘッド１０２の位置ずれ量が算出できる。レイアウト１３１０及びレイアウト１３１１をそれぞれ複数記録することで、各々のインクに対応する記録ヘッド１０２について複数回の位置ずれ算出が可能となる。複数回の位置ずれ算出結果の平均値を各記録ヘッド１０２の位置ずれとすることで、記録タイミングによる位置ずれの誤差の影響が小さくなり、より正確な位置ずれが得られる。レイアウト１３１０及びレイアウト１３１１の繰り返しの記録回数は、求める位置ずれ算出の精度に合わせて決定すれば良く、１回でも良い。レイアウト１３１０及びレイアウト１３１１の繰り返しについては図中では省略している。
【0053】
本実施形態において、プライマー液に対応する記録ヘッド１０２の位置ずれについては、パターンマッチング用パターン１０１７を使用して算出する。レイアウト１３０２に示すように、インク色Ｋに対応する記録ヘッド１０２を基準ヘッドとして記録し、プライマー液に対応する記録ヘッド１０２の位置ずれを算出する。レイアウト１３１２を複数記録することで、有色インクと同様にプライマー液に対応する記録ヘッド１０２について複数回の位置ずれ算出が可能となる。レイアウト１３１２の繰り返しの記録回数は、求める位置ずれ算出の精度に合わせて決定すれば良く、１回でも良い。レイアウト１３１２の繰り返しについては図中では省略している。
【0054】
基準ヘッドのパターンマッチング用パターンは、ずれを算出する対象の記録ヘッド１０２のパターンマッチング用パターンと同様のパターンを使用する。また、色に対応するパターンマッチング用パターンは、図５や図７に示すものに限定するものではなく、異なるパターンが用いられてもよい。
【0055】
記録ヘッド１０２間の色間ずれを算出するために用いられるテストチャート１３０１は、記録媒体１２０１への記録タイミングが、記録ヘッド１０２の色間ずれの最大ずれ量を超えるように、記録している。このように各記録ヘッド１０２の記録タイミングをずらすことで、テストチャートの重なりが生じないようにしている。
【0056】
（ノズル列間のずれ量算出）
図８は、ノズル列間のずれ量の算出方法を示す図である。上述したように、本実施形態において、１つの記録素子基板１００２内に１６列のノズル列１００５が配置されている。ここでは、搬送方向２０１の下流側から数えて最初のノズル列１００５をＲ０、最後のノズル列１００５をＲ１５としている。
図８は、ノズル列間のずれ量の算出方法を示す図である。上述したように、本実施形態において、１つの記録素子基板１００２内に１６列のノズル列１００５が配置されている。ここでは、搬送方向２０１の下流側から数えて最初のノズル列１００５をＲ０、最後のノズル列１００５をＲ１５としている。
【0057】
レイアウト１０１２に従って記録されたパッチ１００７の読み取り画像を用いた、ノズル列１００５間のずれ量の算出方法を説明する。レイアウト１０１２において、数値ｎ（ｎ≧０）を内包する矩形は、その位置に記録されたパターンマッチング用パターン１００８を記録したノズル列１００５を示している。例えば、矩形１４０５に対応するパターンマッチング用パターン１００８は、Ｒ０のノズル列１００５を用いて記録していることを示している。以降、Ｒｎのノズル列１００５を用いたパターンマッチング用パターンおよびそのパターンの記録位置を示す矩形を「Ｒｎパターン」と呼称する。
【0058】
図８（ａ）に示すように、レイアウト１０１２を、4つの領域１４０１～１４０４に分ける。領域１４０１では、Ｒ０パターン１４０５、１４０６を基準とする。同様に、領域１４０２～１４０４それぞれにおいても、Ｒ０パターン１４０７及び１４０８、Ｒ０パターン１４０９及び１４１０、Ｒ０パターン１４１１及び１４１２を、それぞれ基準とする。領域１４０１～１４０４それぞれで、２つのＲ０パターンを基準として、他のノズル列１００５を用いたパターンマッチング用パターン（Ｒ１パターン～Ｒ１５パターン）とのずれ量を算出する。
【0059】
図８（ｂ）を用いて、一例として、Ｒ０のノズル列１００５とＲ９のノズル列１００５のずれ量を算出する方法について述べる。Ｒ０パターン１４１４は領域１４０１のＲ０パターン１４０５に対応し、Ｒ０パターン１４１５は領域１４０１のＲ０パターン１４０６に対応し、それぞれは、基準となるパターンマッチング用パターンである。Ｒ９パターン１４１６は、領域１４０１に記録されたＲ９パターンである。Ｒ０のノズル列１００５とＲ９のノズル列１００５で各パターンマッチング用パターンを記録した場合、吐出されたインクの着弾位置ずれがない場合は、Ｒ０パターン１４１４とＲ０パターン１４１５を結ぶ直線上にＲ９パターンが記録される。着弾位置ずれがない理想位置で記録されるＲ９パターンをＲ９パターン１４１８で示す。一方、Ｒ９パターンの実際の記録位置をＲ９パターン１４１６で示す。
【0060】
Ｒ９パターン１４１６とＲ９パターン１４１８との間のずれ量は、Ｒ０のノズル列１００５に対するＲ９のノズル列１００５の位置ずれ量となる。そのずれ量の横方向成分をずれ量１４１７とし、縦方向成分をずれ量１４１９とする。ずれ量１４１９は、Ｒ０パターン１４１４とＲ０パターン１４１５を結ぶ直線に対して、Ｒ９パターン１４１６から引いた垂線の長さである。よって、ずれ量１４１９は、Ｒ０パターン１４１４、Ｒ０パターン１４１５、およびＲ９パターン１４１６の位置から算出可能である。同様に、ずれ量１４１７も、これらの位置から求めることができる。
【0061】
以上に述べた方法を適用することで、Ｒ０パターンを基準として、Ｒ１パターン～Ｒ１５パターンのずれ量を算出し、Ｒ０のノズル列１００５に対するＲ１～Ｒ１５のノズル列１００５の位置ずれ量を求めることができる。
【0062】
（記録素子基板間のずれ量算出）
図９は、記録素子基板１００２間のずれ量の算出方法を説明するための図である。本実施形態において、ノズル配列方向１００１の図９の紙面上の左側から数えて最初の記録素子基板１００２がＣ０、最後の記録素子基板１００２がＣ１６とする。パッチ１００７のレイアウト１０１２に従って、記録されたパッチ１００７の読み取り画像を用いた、記録素子基板１００２間のずれ量の算出方法を、図を用いて説明する。
図９は、記録素子基板１００２間のずれ量の算出方法を説明するための図である。本実施形態において、ノズル配列方向１００１の図９の紙面上の左側から数えて最初の記録素子基板１００２がＣ０、最後の記録素子基板１００２がＣ１６とする。パッチ１００７のレイアウト１０１２に従って、記録されたパッチ１００７の読み取り画像を用いた、記録素子基板１００２間のずれ量の算出方法を、図を用いて説明する。
【0063】
図９（ａ）に示すパッチ１５０１～１５０３はそれぞれ、同一記録ヘッド１０２内の３つの異なる記録素子基板１００２を用いて、図４に示すレイアウト１０１２に従って記録されたパッチ１００７を模式的に示したものである。記録媒体１２０１のサイズや搬送誤差によっては、記録媒体１２０１上に記録を行わない記録素子基板１００２も存在する。以降、記録ヘッド１０２毎の複数の記録素子基板１００２のいずれであるかを示すＣｎ（ｎ≧０）を用いて、記録媒体１２０１上に記録された記録素子基板１００２別のパッチを、「Ｃｎパッチ」と呼称する。
【0064】
パッチ１５０１は、１つの記録ヘッド１０２により記録された複数のパッチ１００７のうち、最左端から１つ右側のＣ１の記録素子基板１００２により記録されたパッチ１００７である。記録媒体１２０１のサイズ等によって、パッチ１５０１を記録する記録素子基板１００２は変わる。本実施形態において、パッチ１５０１をＣ１パッチとする。パッチ１５０２は、Ｃ１パッチを記録した記録ヘッド１０２により記録されたパッチ１００７のうち、最右端から１つ左側のＣ１５の記録素子基板１００２により記録されたパッチ１００７である。本実施形態においては、パッチ１５０２をＣ１５パッチとする。パッチ１５０３は、Ｃ１パッチ、Ｃ１５パッチを記録した記録ヘッド１０２により記録されたパッチ１００７のうち、記録素子基板１００２間のずれ量算出対象の記録素子基板１００２で記録されたパッチ１００７である。ここでは例として、記録ヘッド１０２内の中央に位置するＣ８の記録素子基板１００２を対象として説明する。
【0065】
図９（ｂ）に示す座標点１５０７は、パッチ１５０１（Ｃ１パッチ）のうちノズル配列方向１００１方向に並んだパターンマッチング用パターン１００８列における２つのＲ０パターンを結んだ線分の中点であり、Ｃ１パッチの代表位置とする。座標点１５０８は、パッチ１５０２（Ｃ１５パッチ）のうちノズル配列方向１００１方向に並んだパターンマッチング用パターン１００８列における２つのＲ０パターンを結んだ線分の中点であり、これがＣ１５パッチの代表位置となる。これらＣ１パッチおよびＣ１５パッチを記録した記録素子基板１００２は、記録素子基板１００２間のずれ量を算出するための基準である。座標点１５１１は、パッチ１５０３（Ｃ８パッチ）のうちノズル配列方向１００１方向に並んだパターンマッチング用パターン１００８列における２つのＲ０パターンを結んだ線分の中点であり、これがＣ８パッチの代表位置となる。ここで、Ｃ８の記録素子基板１００２が記録素子基板１００２間のずれ量の算出対象である。
【0066】
記録素子基板１００２間のずれ量算出のため、まずはＣ１、Ｃ８、Ｃ１５パッチそれぞれの代表位置で各パッチ１００７を記録した時に着弾位置ずれがない場合を考える。この場合、座標点１５０７と座標点１５０８を結ぶ直線上に、吐出されたインクの着弾位置ずれがない理想位置で記録できた場合のＣ８パッチの代表位置、すなわち座標点１５０７と座標点１５０８を結ぶ線分の中点を座標点１５１２で示す。一方、読み取り画像上のＣ８パッチから算出された実際の代表位置を座標点１５１１で示す。座標点１５１１と座標点１５１２との間のずれ量は、座標点１５０７と座標点１５０８を結ぶ基準線と平行な成分と垂直な成分とに分けられる。基準線と平行な成分は、基準線と実際のＣ８パッチの代表位置との間の距離であり、ずれ量１５１４とする。ずれ量１５１４は、座標点１５１１から、基準線に対して引いた垂線の長さである。よって、ずれ量１５１４は、座標点１５０７、座標点１５０８、座標点１５１１から求めることができる。また、基準線と垂直な成分は、座標点１５１１を通って基準線に対して直交する線と、座標点１５１２を通って基準線に対して直交する線との距離であり、ずれ量１５１３とする。よって、ずれ量１５１３は、座標点１５０７、座標点１５０８、座標点１５１１、座標点１５１２から求めることができる。
【0067】
以上に示した方法を適用すれば、２つの記録素子基板１００２を基準として、基準となる記録素子基板１００２間に挟まれた他の記録素子基板１００２のずれ量を、それぞれ求めることができる。ただし、２つの基準（示した例ではＣ１とＣ１５）よりさらに端部側のそれぞれ左端のＣ０と右端のＣ１６の記録素子基板１００２のずれ量は計算方法が異なる。
【0068】
例えば、基準とする２つの記録素子基板１００２の左端側はＣ１、右端側はＣ１５であるため、左端はＣ０パッチの代表位置が調整対象の座標点１５１１となり、右端はＣ１６パッチの代表位置が調整対象の座標点１５１１となる。右端のＣ１６パッチの代表位置は、他と同様に、ノズル配列方向１００１方向に並んだパターンマッチング用パターン１００８列における２つのＲ０パターンを結んだ線分の中点を用いる。一方、左端のＣ０パッチの代表位置は、右隣りのＣ１の記録素子基板１００２により記録された矩形１０１１に対応するパターンマッチング用パターンの位置を用いる。これは、端部の記録素子基板１００２がレイアウト１０１２を部分的にしか記録媒体１２０１に記録できない可能性があるためである。
【0069】
記録媒体１２０１のノズル列配列方向１００１の長さによっては、記録を行う範囲の左端の記録素子基板１００２や右端の記録素子基板１００２よりも外側にＣ０やＣ１６の記録素子基板１００２が存在してしまう可能性がある。このような場合、Ｃ０やＣ１６の記録素子基板１００２は、記録媒体１２０１に記録不可能であるため、Ｃ０パッチやＣ１６パッチの完全な形での検知が不可能である。よって、左端側の外側の記録素子基板１００２は１つ右隣のずれ量を補正用の値として使用する。同様に、右端側の外側の記録素子基板１００２は１つ左隣のずれ量を補正用の値として使用する。
【0070】
（記録ヘッドの傾き量算出）
図１０を用いて、レイアウト１０１２に従って記録されたパッチ１００７の読み取り画像を用いた、記録ヘッド１０２の傾き量の算出方法を説明する。記録ヘッド１０２の傾き量の算出は、記録素子基板１００２間のずれ量を算出するパッチと同様のパッチ１００７を使用する。また、記録ヘッド１０２の傾き補正量とは、全記録ヘッドの平均傾きからのずれ量とし、全記録ヘッドそれぞれについて傾き補正量を計算する。
図１０を用いて、レイアウト１０１２に従って記録されたパッチ１００７の読み取り画像を用いた、記録ヘッド１０２の傾き量の算出方法を説明する。記録ヘッド１０２の傾き量の算出は、記録素子基板１００２間のずれ量を算出するパッチと同様のパッチ１００７を使用する。また、記録ヘッド１０２の傾き補正量とは、全記録ヘッドの平均傾きからのずれ量とし、全記録ヘッドそれぞれについて傾き補正量を計算する。
【0071】
図１０（ａ）に示すパッチ１５０１、１５０２は、同一の記録ヘッド１０２により記録されたＣ１パッチ、Ｃ１５パッチである。図１０（ｂ）に示すパッチ１５０４、パッチ１５０５は、パッチ１５０１、パッチ１５０２を記録した記録ヘッド１０２とは異なる記録ヘッドであるが、同一の記録ヘッド１０２により記録されたＣ１パッチ、Ｃ１５パッチである。パッチ１５０４、パッチ１５０５からも、パッチ１５０１、パッチ１５０２と同様に、Ｃ１パッチの代表位置である座標点１５０９、Ｃ１５パッチの代表位置である座標点１５１０が得られる。
【0072】
図１０（ｃ）は記録ヘッド１０２の傾き量算出方法を説明するための図である。まず、各記録ヘッド１０２の傾き量を計算する。座標点１５０７及び座標点１５０８は、パッチ１５０１、パッチ１５０２を記録した記録ヘッド１０２Ａにおける左右端の１つ内側の基準となる記録素子基板１００２により記録されたＣ１パッチ、Ｃ１５パッチの代表位置である。角度１５１６は、座標点１５０７と座標点１５０８を結ぶ線分と、記録ヘッド１０２Ａの傾きによる着弾位置ずれのない理想線とからなる角（劣角）を示し、記録ヘッド１０２Ａの傾き量を示す。
【0073】
同様に、記録ヘッド１０２Ｂの傾き量を計算する。座標点１５０９及び座標点１５１０は、記録ヘッド１０２Ｂについて前述の左右端部側の基準となる記録素子基板１００２により記録されたＣ１パッチ、Ｃ１５パッチの代表位置である。角度１５１７は、座標点１５０９と座標点１５１０を結ぶ線分と、記録ヘッドＢの傾きによる着弾位置ずれのない理想線とからなる角（劣角）を示し、記録ヘッド１０２Ｂの傾き量を示す。不図示であるが、他の全記録ヘッド１０２について、同様に傾き量が得られる。
【0074】
最後に、各記録ヘッド１０２の傾き補正の計算量を計算する。各記録ヘッド１０２の相対的な傾き量に基づく傾き補正量は以下の式により算出できる。ここでの記録ヘッド１０２の傾き量は、角度にて示されるものとする。
【0075】
（各記録ヘッド１０２の傾き補正量）
＝（全記録ヘッド１０２の傾きの平均）－（各記録ヘッド１０２の傾き）
図１０（ｂ）に示す角度１５１８が全記録ヘッド１０２の傾きの平均とすると、例えば、記録ヘッド１０２Ａの傾き補正量は、角度１５１８から角度１５１６を差し引いた値となる。
＝（全記録ヘッド１０２の傾きの平均）－（各記録ヘッド１０２の傾き）
図１０（ｂ）に示す角度１５１８が全記録ヘッド１０２の傾きの平均とすると、例えば、記録ヘッド１０２Ａの傾き補正量は、角度１５１８から角度１５１６を差し引いた値となる。
【0076】
以上に示した方法を適用すれば、全記録ヘッド１０２の傾きの平均に対して、各記録ヘッド１０２の傾き補正量を、それぞれ求めることができる。
【0077】
（記録ヘッド間のずれ量算出）
図１１は、記録ヘッド１０２間のずれ量の算出方法を説明するための図である。本実施形態において、搬送方向２０１の上流側から数えて最初の記録ヘッド１０２を、プライマー液を用いる記録ヘッドＰｒとする。それ以降の記録ヘッド１０２を、使用する有色インクの色に応じてそれぞれ記録ヘッドＫ、記録ヘッドＣ、記録ヘッドＭ、記録ヘッドＹ、記録ヘッドＯ、記録ヘッドＶ、記録ヘッドＧと呼称する。レイアウト１３０２に従って複数のインク色に対応する記録ヘッド１０２を用いて記録されたテストチャート１３０１の読み取り画像を用いた、記録ヘッド１０２間のずれ量（以後、「色間ずれ」と呼称する）の算出方法を説明する。
図１１は、記録ヘッド１０２間のずれ量の算出方法を説明するための図である。本実施形態において、搬送方向２０１の上流側から数えて最初の記録ヘッド１０２を、プライマー液を用いる記録ヘッドＰｒとする。それ以降の記録ヘッド１０２を、使用する有色インクの色に応じてそれぞれ記録ヘッドＫ、記録ヘッドＣ、記録ヘッドＭ、記録ヘッドＹ、記録ヘッドＯ、記録ヘッドＶ、記録ヘッドＧと呼称する。レイアウト１３０２に従って複数のインク色に対応する記録ヘッド１０２を用いて記録されたテストチャート１３０１の読み取り画像を用いた、記録ヘッド１０２間のずれ量（以後、「色間ずれ」と呼称する）の算出方法を説明する。
【0078】
図１１（ａ）に示すテストチャート１３０１は、色間ずれ量を算出するために用いられるテストチャート１２１４である。レイアウト１３０２に示される所定の色に対応した記録ヘッド１０２の所定の位置にある記録素子基板１３０３を使って、テストチャート１３０１を記録する。ここでの所定の位置にある記録素子基板１３０３として、本実施形態ではＣ８を用いる。本実施形態では、パターンマッチング用パターン１６０１～１６０６は、基準ヘッドである記録ヘッドＫのＣ８の記録素子基板１３０３にて記録されたパターンである（以後、Ｋパターンと呼称する）。それ以外のインク色を示す文字が記載されたパターンはそれぞれ、記録ヘッド１０２間の位置ずれの算出対象である記録ヘッド１０２により記録されたパターンである。本実施形態では、これらのパターンは、Ｃ、Ｍ、Ｙ、Ｏ、Ｖ、Ｇ、Ｐｒのパターン（以降、Ｃパターン等と呼称する）としているが、インク色の数は増減してもよい。本実施形態では、Ｃ、Ｍ、Ｙ、Ｏ、Ｖ、Ｇは、図５に示すパターンマッチング用パターン１００８の構成を用いて記録する。これらの基準となるＫパターン１６０１～１６０４も同様にパターンマッチング用パターン１００８の構成を用いて記録する。一方、Ｐｒのパターン（以降、Ｐｒパターンと呼称する）は、本実施形態では図５に示すパターンマッチング用パターン１０１７の構成を用いて記録する。これらの基準となるＫパターン１６０５、１６０６もパターンマッチング用パターン１０１７の構成を用いて記録する。
【0079】
本実施形態では、記録ヘッドＫ（基準ヘッド）と、Ｋ以外の他のインク色の記録ヘッド１０２との間のずれ量を算出する際に、各記録ヘッド１０２に対して同様の方法を用いて算出する。ここでは、その例として記録ヘッドＫと記録ヘッドＶ間のずれ量を算出する方法について述べる。図１１（ｂ）に示すＫパターン１６２０は、Ｋパターン１６０３に対応し、Ｋパターン１６２１はパターン１６０４に対応する。これらは、基準となる記録ヘッドＫのＣ８で記録されたパターンマッチング用パターンである。Ｖパターン１６２２はＶパターン１６１７に対応し、記録ヘッドＶのＣ８の記録素子基板１００２で記録されたパターンマッチング用パターンであり、ずれ量の算出対象の記録ヘッド１０２にて記録されたパターンマッチング用パターンである。
【0080】
記録ヘッドＶで記録されたＶパターンは、吐出されたインクの着弾位置ずれがない場合は、Ｋパターン１６２０とＫパターン１６２１を結ぶ基準線上に記録される。吐出されたインクの着弾位置ずれがない理想位置で記録できた場合のＶパターンの位置をＶパターン１６２４で示す。一方、実際のＶパターンの位置をＶパターン１６２２で示す。
【0081】
本実施形態では、読み取り画像におけるＶパターン１６２２と理想位置のＶパターン１６２４との間のずれ量は、基準線と垂直な成分と平行な成分とに分けられる。Ｖパターン１６２２、１６２４とのずれ量のうち、基準線と垂直な成分をずれ量１６２５とする。このずれ量１６２５は、Ｖパターン１６２２から基準線に対して引いた垂線の長さである。よって、ずれ量１６２５は、Ｋパターン１６２０、Ｋパターン１６２１、Ｖパターン１６２２の位置から求めることができる。Ｖパターン１６２２、１６２４とのずれ量のうち、基準線と平行な成分をずれ量１６２６とする。このずれ量１６２６は、Ｖパターン１６２２を通って基準線と直交する線と、Ｖパターン１６２４を通って基準線と直交する線との距離である。よって、ずれ量１６２６は、Ｋパターン１６２０、Ｋパターン１６２１、Ｖパターン１６２２、Ｖパターン１６２４の位置から求めることができる。本実施形態におけるヘッド位置ずれ補正では、ずれ量１６２５とずれ量１６２６についての両方向について補正量の計算を行う。
【0082】
以上に示した方法を適用すれば、基準ヘッドである記録ヘッドＫと、Ｋ以外の他のインク色の記録ヘッド１０２との色間ずれ量を、それぞれ求めることができる。
【0083】
（マーク検出処理）
図１２は、記録素子基板１００２に対応したマーク検出処理を説明するための図である。本実施形態において、ずれ量算出のテストチャート１２０２の読み取り画像から、各記録素子基板１００２に対応したパッチ１００７毎の検知マークを検出する処理について説明する。図１２は、図４に示すパッチ１００７に相当する、各記録素子基板１００２に対応したパッチを示している。本実施形態において、各記録素子基板１００２に対応したパッチは、図４のパッチ１００７、１０１６の２種類があるが、検出処理はいずれも同様の方法で行われる。また、記録ヘッド１０２同士の位置誤差を算出するための、図７に示すテストチャート１３０１についても検出処理は同様である。ここでは一例として、図４に示すパッチ１００７を用いて説明する。
図１２は、記録素子基板１００２に対応したマーク検出処理を説明するための図である。本実施形態において、ずれ量算出のテストチャート１２０２の読み取り画像から、各記録素子基板１００２に対応したパッチ１００７毎の検知マークを検出する処理について説明する。図１２は、図４に示すパッチ１００７に相当する、各記録素子基板１００２に対応したパッチを示している。本実施形態において、各記録素子基板１００２に対応したパッチは、図４のパッチ１００７、１０１６の２種類があるが、検出処理はいずれも同様の方法で行われる。また、記録ヘッド１０２同士の位置誤差を算出するための、図７に示すテストチャート１３０１についても検出処理は同様である。ここでは一例として、図４に示すパッチ１００７を用いて説明する。
【0084】
マーク検知処理は、大きく分けて３つのステップがある。第１ステップでは、検知マーク１０１９を検出する。検知マーク１０１９の検出位置に基づいて、記録素子基板１００２の１つ分のパッチ１００７の位置を推定する。第２ステップでは、第１ステップで得られたパッチ１００７の推定位置に基づいて、パターンマッチング用パターン１００８の位置を推定するアライメントマーク１７０３を検出する。アライメントマーク１７０３は、図４に示すパッチ１００７におけるアライメントマーク１０２０と同様のマークである。このアライメントマーク１７０３は、各パターンマッチング用パターン１００８の近傍に記録されているため、アライメントマーク１７０３の検出位置から対応するパターンマッチング用パターン１００８の位置を推定する。第３ステップでは、第２ステップにおけるパターンマッチング用パターン１００８の推定位置に基づいて、パターンマッチングを用いたパターン位置検出を行う。
【0085】
第１ステップにおける、検知マーク１０１９を検出する処理を説明する。本処理は、スキャナ装置１０６が読み取り可能な読み取り画像のＲＧＢの３つのチャンネルのうち、検出対象のパターンの記録ヘッド１０２のインク色で最も濃度が高くなるチャンネルの輝度値を使用する。例えば、濃度が最も高くなるチャンネルが、Ｃ（シアン）の場合はＲチャンネルであり、Ｍ（マゼンタ）の場合はＧチャンネルであり、Ｙ（イエロー）の場合はＢチャンネルである。尚、Ｋ（ブラック）のように、全てのチャンネルで高い濃度となるインク色の場合は、いずれかの任意のチャンネルを指定して使用する。
【0086】
１７０５は、検知マーク１０１９の一部を拡大した図である。検知マーク１０１９は、読み取り画像の所定領域の平均濃度に基づき検出する。検知マーク検出領域１７０６は、平均濃度を取得する領域である。検知マーク検出領域１７０６にて取得された平均濃度が所定濃度以上の場合、その領域を検知マーク領域として特定し、その中心位置を検知マーク検出位置１７０７とする。検知マーク検出領域１７０６の範囲や閾値として用いられる所定濃度は変更してもよい。
【0087】
続いて、検知マーク１０１９の左上端位置と右上端位置を検出する。１７０８は検知マーク１０１９の左上端部の周辺、１７１０は右上端部の周辺をそれぞれ拡大した図である。検知マーク検出位置１７０７から所定濃度以上の領域を走査し、所定濃度以上の領域の左上端部を検知マーク左上端位置１７０９とする。同様に、その所定濃度以上の領域の右上端部を検知マーク右上端位置１７１１とする。検知マーク左上端位置１７０９に基づき決定した位置を起点として、所定領域の濃度重心を計算することでアライメントマーク１７０３の検出範囲を推定する。検知マーク１０１９を検出することで、アライメントマーク１７０３の検出範囲を推定することができる。アライメントマーク１７０３の検出処理についても、検知マーク１０１９の検出処理と同様で、所定濃度以上の領域を走査し、領域に対する濃度重心の計算により、アライメントマーク１７０３の位置を検出する。
【0088】
続いて、パターンマッチング用パターン１００８の位置を推定する。領域１７０４はパターンマッチング用パターン１００８の左上端位置を示す領域である。また、検知マーク１０１９の検知結果が、このパターンマッチング用パターン１００８はどの記録ヘッド１０２のどの記録素子基板１００２に対応するパターンであるかの判断に使用される。パターンマッチング用パターン１００８は上記の処理によって、大まかな位置を推定した後、パターンマッチング処理を含む位置検出処理を行うことによって、最終的な読み取り画像上の位置が検出される。このパターンマッチング用パターン１００８の読み取り画像上の位置が、ヘッド位置ずれ補正における各種ずれ量の計算で使用する距離を算出する位置である。ここでの各種ずれ量とは、ノズル列１００５間の製造誤差、記録素子基板１００２間の製造誤差、記録ヘッド１０２の傾き、記録ヘッド１０２間の位置ずれが該当する。
【0089】
（複数センサで読み取った読み取り画像）
図１３は、記録媒体１２０１を搬送方向２０１に沿って搬送させつつ、スキャナ装置１０６の２つのセンサ２０２Ａ、２０２Ｂで取得した、テストチャート１２０２の読み取り画像の例である。読み取り画像２００１と読み取り画像２００２は、それぞれＣＣＤラインセンサであるセンサ２０２Ａ、センサ２０２Ｂでテストチャートを読み取ったものを簡略的に表したものである。記録媒体１２０１の幅がセンサ２０２Ａの撮像領域とセンサ２０２Ｂの撮像領域との両方にわたる場合、テストチャート１２０２の読み取り画像は、センサ２０２Ａから得られる読み取り画像と、センサ２０２Ｂから得られる読み取り画像とからなる。
図１３は、記録媒体１２０１を搬送方向２０１に沿って搬送させつつ、スキャナ装置１０６の２つのセンサ２０２Ａ、２０２Ｂで取得した、テストチャート１２０２の読み取り画像の例である。読み取り画像２００１と読み取り画像２００２は、それぞれＣＣＤラインセンサであるセンサ２０２Ａ、センサ２０２Ｂでテストチャートを読み取ったものを簡略的に表したものである。記録媒体１２０１の幅がセンサ２０２Ａの撮像領域とセンサ２０２Ｂの撮像領域との両方にわたる場合、テストチャート１２０２の読み取り画像は、センサ２０２Ａから得られる読み取り画像と、センサ２０２Ｂから得られる読み取り画像とからなる。
【0090】
ここで、スキャナ装置１０６を用いて読み取り画像を得る方法について説明する。スキャナ装置１０６のランプ（不図示）により光が記録媒体１２０１の記録面にあたって反射し、この反射光がレンズを通してセンサ２０２Ａまたは２０２Ｂに収束する。この反射光を受光した各センサ２０２は光量に応じた強度を有するアナログ信号を出力し、各センサ２０２から出力された信号はスキャナ制御部４１１によってデジタル信号に変換される。このように、記録媒体１２０１は、まず、ＣＣＤラインセンサによってセンサ列方向（図１３に示す矢印Ｘの方向）にわたるライン状に読み取られる。このライン状の読み取りを、センサ列方向Ｘと交差（理想的には直行）する記録媒体の搬送方向２０１に動かしながら繰り返し、テストチャート１２０２全体を読み取る。読み取って得られたデジタル信号を集積して、記録されたテストチャート１２０２全体の読み取り画像を得る。このような方法で得られたテストチャート１２０２の読み取り画像が読み取り画像２００１、２００２であり、本実施形態ではこれら複数の読み取り画像に基づきインク着弾位置の理想位置からのずれ量を算出する。
【0091】
図１３では、各読み取り画像において、テストチャート１２０６、１２０７、１２１３を構成している記録素子基板１００２毎のパッチ１００７もしくは１０１６は数字ｎを内包する矩形で表している。すなわち、数字ｎを内包する矩形は、Ｃｎの記録素子基板１００２で記録したパッチであることを示している。例えば、パッチ２００３は、有色インクＯの記録ヘッド１０２のＣ８パッチである。図中では、一部の記録ヘッド１０２のテストチャート１２０２については省略しており、テストチャート１２０２の全体像は記録ヘッド１０２の数や色の組み合わせにより異なる。また、各読み取り画像には、Ｃ８パッチの下側に記録ヘッド１０２間の色間ずれ量を算出するためのテストチャート１２１４がある。
【0092】
また、センサ２０２Ａとセンサ２０２Ｂは千鳥配置のため、搬送方向２０１に沿ってお互いに離間して設置されている。スキャン中に、用紙のバタつき、周辺気流の乱れ、装置の振動などの突発事象により、記録媒体１２０１の搬送速度が一時的に変動する場合がある。このような場合、搬送方向２０１に沿ってスキャンデータの伸縮が発生する。この時、センサ２０２Ａとセンサ２０２Ｂとが搬送方向に離間しているため、センサ２０２Ａのスキャンデータとセンサ２０２Ｂのスキャンデータとで伸縮が発生するスキャンデータ上の範囲が異なる。そのため、同じテストチャートをスキャンしたとしても、センサ２０２Ａから得られた読み取り画像上のテストチャート１２０２とセンサ２０２Ｂから得られた読み取り画像上のテトスチャート１２０２とで伸縮の影響が異なる領域に出る。図１３に示す例では、センサ２０２Ａから得られた読み取り画像においてはテストチャート１２０７に搬送方向２０１に沿って伸長する搬送速度変動の影響が出ている。それに対して、センサ２０２Ｂから得られた読み取り画像においてはテストチャート１２０６に搬送方向２０１に沿って伸長する搬送速度変動の影響が出ている。ここで搬送速度変動の影響の大きさを見るため、例えば、記録媒体の搬送速度が２０ｍ／分、すなわち３３３．３３ｍｍ／秒、読み取り解像度が６００×６００ｄｐｉ、パッチ１００７の搬送方向の長さが１０．５０ｍｍである場合を考える。この場合、搬送速度が一時的に５％速度低下して３１６．６６ｍｍ／秒となったとすると、この搬送速度変動時に読み取ったパッチ１００７の搬送方向の長さは１１．０２５ｍｍとなる。パッチ１００７の搬送速度変動前後での長さの変化量は、１１．０２５－１０．５０＝＋０．５２５（ｍｍ）であり、＋１２画素／６００ｄｐｉとなる。
【0093】
センサ２０２Ａとセンサ２０２Ｂは千鳥構成で配置されているため、読み取られた読み取り画像２００１、２００２にはどちらのセンサにも読み取られている領域がある。以降この領域を重複領域、この領域以外の領域を非重複領域と呼称する。読み取り画像２００１では領域２００４、読み取り画像２００２では領域２００５が重複領域となる。重複領域の幅はセンサ同士の重なり具合により異なるが、本実施形態では、読み取り画像間で伸縮率を算出できるパターンを含むことができる幅である必要がある。読み取り画像間の伸縮率を算出できるパターンとは、例えばパターン２００３のように、１つの記録ヘッド１０２の１つの記録素子基板１００２により記録されるパッチである。重複領域に位置するパッチを使った、読み取り画像間の伸縮率の算出と、その利用の詳細については後述する。
【0094】
（複数の読み取り画像に分割されたテストチャートに基づくずれ量算出）
以下に、本実施形態における読み取り画像から、ノズル列１００５間、記録素子基板１００２間、記録ヘッド１０２間のずれ量、および記録ヘッド１０２の傾き量を算出する方法について解説する。
以下に、本実施形態における読み取り画像から、ノズル列１００５間、記録素子基板１００２間、記録ヘッド１０２間のずれ量、および記録ヘッド１０２の傾き量を算出する方法について解説する。
【0095】
記録ヘッド１０２の位置ずれ補正方法については既述の通りであるが、複数のセンサ２０２に分けて読み取られることで、テストチャート１２０２が図１３に示すように複数の読み取り画像に分割されて得られる場合は、その点の考慮が必要となる。特に記録素子基板１００２間のずれ量算出では、基準となる記録素子基板１００２間を結ぶ基準線に対し、それら基準となる記録素子基板１００２に挟まれた他の記録素子基板１００２とのずれ量をそれぞれ求める。両端から１つ内側の記録素子基板１００２が基準となるため、図１３に示すテストチャート１２０２ではＣ１とＣ１５が基準となる。しかし、図１３に示すようにテストチャート１２０２が複数の読み取り画像に分割されると、Ｃ１は読み取り画像２００１にのみ含まれ、Ｃ１５は読み取り画像２００２にのみ含まれる。つまり、各読み取り画像には基準となる記録素子基板１００２に対応するパッチが１つずつしか存在しないため、一方の読み取り画像だけでは基準となる記録素子基板１００２間を結ぶ基準線を求めることができず、各ずれ量や傾き量を算出できない。例えば、重複領域を利用し、２つの読み取り画像２００１、２００２を結合して１枚の画像とすることで、基準となる記録素子基板１００２間を結ぶ基準線を得ることも可能ではある。しかし、読み取り画像が大きいほど読み取り画像自体のデータ量が大きくなり、ＣＰＵ処理の負荷が高まり、読み取り画像解析以外の処理速度が低下する可能性もある。また、２つの読み取り画像２００１、２００２を結合するためにはセンサ２０２Ａ、２０２Ｂとの間の傾きや色味の違いを合わせるための処理も必要となる。そのため、読み取り画像２００１、２００２を結合することなく、各ずれ量や傾き量を算出できることがより望ましい。そこで本実施形態では、複数のセンサ２０２Ａ、２０２Ｂから得られた複数の読み取り画像２００１、２００２の結合は行わない。一方の読み取り画像上のテストチャート１２０２における基準となる記録素子基板１００２の位置情報に対して、それに対応する伸縮率を乗じることで、対応する同じパターン間の距離が等しくなるよう補正する。そして補正した位置情報と対応する他方の読み取り画像上の補正していない基準となる記録素子基板１００２の位置情報とに基づき基準線を求める。そのようにして得られた基準線を用いて、ノズル列１００５間、記録素子基板１００２間、記録ヘッド１０２間のずれ量、および記録ヘッド１０２の傾き量を算出する。
【0096】
図１４は、本実施形態におけるずれ量算出フローである。各ステップについて解説する。
【0097】
Ｓ３００１では、スキャナ装置１０６は、記録媒体１２０１に記録されたテストチャート１２０２を読み取る。スキャナ装置１０６がテストチャート１２０２の読み取りを開始するタイミングは、テストチャート１２０２の記録開始から所定時間が経過したタイミングでもよい。また、テストチャート１２０２の記録終了から所定量の記録媒体を搬送した時点でも良い。読み取りを終了するタイミングは、読み取り開始から所定のライン数だけ読み取りを行ったタイミングとする。
【0098】
Ｓ３００２では、プリントコントローラ４０２は、Ｓ３００１でセンサ２０２Ａが読み取った読み取り画像２００１である第１の読み取り画像２００１について、ずれ量算出処理１を実施する。ずれ量算出処理１は、ノズル列１００５間のずれ量と、記録ヘッド１０２間のずれ量、および読み取り画像間の伸縮率を算出する処理であって、処理の詳細については図１５を用いて後述する。
【0099】
Ｓ３００３では、プリントコントローラ４０２は、Ｓ３００１でセンサ２０２Ｂが読み取った読み取り画像２００２である第２の読み取り画像２００２に対して、ずれ量算出処理１を実施する。ずれ量算出処理１は、Ｓ３００２と同じ処理である。
【0100】
Ｓ３００４では、プリントコントローラ４０２は、第１の読み取り画像２００１と、第２の２００２とについて、ずれ量算出処理２を実施する。ずれ量算出処理２は、読み取り画像２００１、２００２間の伸縮率と、記録ヘッド１０２の傾き量とに基づき補正した基準線に基づき、記録素子基板１００２間のずれ量を算出する処理であって、処理の詳細については図１７を用いて後述する。
【0101】
尚、別の実施形態として、上記ずれ量算出フローの各ステップは、ホスト装置５００が実施するようにしてもよい。
【0102】
【0103】
Ｓ３１０１では、プリントコントローラ４０２は、Ｓ３００１で読み取ったテストチャート１２０１の第１および第２の読み取り画像から、各記録素子基板１００２に対応したパッチを検出する。各記録素子基板１００２に対応したパッチを検出する処理については、図１２を用いて述べた方法で行うことができる。
【0104】
Ｓ３１０２では、プリントコントローラ４０２は、記録素子基板１００２間のずれ量およびノズル列１００５間のずれ量についての解析を行っていない記録ヘッド１０２に対応したテストチャートがあるか否か判定する。記録ヘッド１０２に対応したテストチャートとは、図６や図１３に示すテストチャート１２０６～１２１３である。解析を行っていない記録ヘッド１０２に対応したテストチャートがある場合はＳ３１０３に進み、解析を行っていない記録ヘッド１０２に対応したパッチがない場合はＳ３１０８に進む。
【0105】
Ｓ３１０３では、プリントコントローラ４０２は、各種ずれ量についての解析を行っていない記録ヘッド１０２に対応したテストチャートを、例えば、テストチャート１２０６から順に１つ選択する。
【0106】
Ｓ３１０４では、プリントコントローラ４０２は、選択されたテストチャートにおいて、ノズル列１００５間のずれ量についての解析を行っていない記録素子基板１００２に対応したパッチ１００７又は１０１６があるか否か判定する。解析を行っていない記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７又は１０１６があればＳ３１０５に進み、解析を行っていない記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７又は１０１６がなければＳ３１０７に進む。解析の対象となる記録素子基板１００２に対応するパッチは、Ｓ３１０１で読み取った読み取り画像２００１、２００２内に存在する記録素子基板１００２別のパッチ１００７又は１０１６であり、重複領域の中心付近に存在するパッチを境界とする。境界とするパッチをＣ８パッチとすると、読み取り画像２００１であればＣ０パッチからＣ８パッチ、読み取り画像２００２であればＣ８パッチからＣ１６パッチが解析の対象となる。境界となるパッチ１００７又は１０１６は、重複領域に存在しているものであれば良く、読み取り画像２００１及び読み取り画像２００２であれば、境界はＣ７パッチやＣ９パッチでも良い。
【0107】
Ｓ３１０５では、プリントコントローラ４０２は、解析対象の記録素子基板１００２に対応するパッチを、例えば読み取り画像２００１であればＣ０から順に１つ選択する。
【0108】
Ｓ３１０６では、プリントコントローラ４０２は、選択された解析対象の記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７又は１０１６を含む読み取り画像を用いて、対象の記録素子基板１００２内のノズル列１００５間のずれ量を算出する。本実施形態でのノズル列１００５間のずれ量を算出する方法については、図８を用いて述べた方法で行われる。選択された解析対象のパッチがパッチ１００７である場合は解析が行われ、選択された解析対象のパッチがパッチ１０１６である場合は解析がスキップされる。読み取り画像２００１と読み取り画像２００２の両方で解析されるＣ８のノズル列間のずれ量については、どちらか一方の読み取り画像による算出結果を利用する。
【0109】
Ｓ３１０７では、プリントコントローラ４０２は、解析対象の記録素子基板１００２の位置を推定する。記録素子基板１００２の座標とは、図９、１０を用いて述べた座標点１５０７のような、各記録素子基板１００２のＲ０を用いて記録した２つのパターンマッチング用パターン１００８を結んだ線分の中点である。読み取り画像２００１と読み取り画像２００２の両方で解析されるＣ８の記録素子基板１００２の位置については、読み取り画像２００１の座標系における位置と読み取り画像２００２の座標系における位置とを別々に推定する。Ｓ３１０７の次は、Ｓ３１０３に戻り、解析を行っていない記録素子基板１００２を解析対象の記録素子基板１００２として、対象の記録ヘッド１０２内の全記録素子基板１００２に対応するパッチに対してＳ３１０６及びＳ３１０７の処理を実施する。
【0110】
Ｓ３１０８では、プリントコントローラ４０２は、読み取り画像２００１、２００２における記録ヘッド１０２間におけるずれ量を計測するためのテストチャート１２１４を用いて、記録ヘッド１０２間のずれ量を算出する。本実施形態での記録ヘッド１０２間におけるずれ量を算出する方法については、図１１で述べた通りである。テストチャート１２１４は、読み取り画像２００１及び読み取り画像２００２の両方に含まれるため、記録ヘッド１０２間のずれ量については、どちらか一方の読み取り画像による算出結果を利用する。
【0111】
Ｓ３１０９では、プリントコントローラ４０２は、読み取り画像間において、テキストチャート１２０２毎に、記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７、１０１６の伸縮率を算出する。読み取り画像間における記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７、１０１６の伸縮率の算出方法については図１６を用いて説明する。
【0112】
図１６は、読み取り画像間において、テキストチャート１２０２毎に、記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７、１０１６の伸縮率の算出手順を説明するための図である。図１６（ａ）は、図１３に示す読み取り画像２００１のパッチ２００３、図１６（ｂ）は、図１３に示す読み取り画像２００２のパッチ２００３の詳細図である。読み取り画像２００１のパッチ２００３と読み取り画像２００２のパッチ２００３とでは、搬送速度変動の影響箇所が異なるため、搬送方向２０１に沿って生じた伸縮に差がある。その差を以下のようしにて求める。
【0113】
パッチ２００３は、ノズル列１００５間のずれ量を算出するために使われる図４に示すレイアウト１０１２で構成されたパッチであり、読み取り画像２００１、２００２の重複領域に存在するパッチである。読み取り画像２００１、２００２において、ノズル列１００５間のずれ量算出で基準となるＲ０のノズル列１００５で記録したＲ０パターン１４０５の上端からＲ０パターン１４１１の上端までの距離４００１、距離４００２が得られる。距離４００１と距離４００２をそれぞれＳＲ、ＥＲと呼称する。そして読み取り画像２００２における距離ＥＲで、読み取り画像２００１の距離ＳＲを除算する。これにより、図１６（ｃ）に示すように、読み取り画像２００２のテキストチャート１２０２のうちの１つに対する読み取り画像２００１の対応する同じテキストチャート１２０２の伸縮率４００３を算出することができる。この伸縮率４００３をＫと呼称する。Ｋの計算式を以下に示す。
【0114】
【数1】
【0115】
図１６に示す例では、ＳＲ＜ＥＲとしているが、逆の大小関係になることもある。また、センサ２０２Ａ、２０２Ｂから得られる読み取り画像２００１、２００２のパッチ２００３の搬送方向２０１に沿った長さを得るために、パッチ２００３における他の２点を利用しても良い。ここでは、有色インクＯの記録ヘッド１０２のＣ８パッチであるパッチ２００３を使って各センサから得られる読み取り画像間のテキストチャート１２０２の１つに対応する伸縮率を得る手順を示した。しかし、両読み取り画像２００１、２００２の重複領域に含まれ、かつ、搬送方向２０１に沿った距離を算出できればその他のインク色の記録ヘッド１０２で記録されたパッチを用いてもよい。また、両読み取り画像２００１、２００２の重複領域に含まれ、かつ、同じ記録ヘッド１０２に含まれる記録素子基板１００２に対応するパッチであれば、読み取り画像２００１、２００２で異なる記録素子基板１００２に対応するパッチを用いてもよい。また、スキャナ装置が３つ以上のセンサを備え、読み取り画像が３つ以上得られる場合、伸縮率は２つ１組の読み取り画像対に対して上述の方法で求める。このとき読み取り画像対とする２つの読み取り画像は、スキャナ装置１０６において隣接する２つのセンサから得られた読み取り画像とする。
【0116】
【0117】
Ｓ３２０１では、プリントコントローラ４０２は、センサ２０２Ａから得られた第１の読み取り画像２００１において、記録ヘッド１０２の傾き量算出を行っていない記録ヘッド１０２に対応するテストチャートがあるか否かを判定する。記録ヘッドの傾き量算出を行っていない記録ヘッド１０２に対応するテストチャートがある場合はＳ３２０２に進み、記録ヘッド１０２の傾き量算出を行っていない記録ヘッド１０２に対応するテストチャートがない場合はＳ３２０６に進む。記録ヘッド１０２の傾き算出を行っていない記録ヘッド１０２を解析対象として、Ｓ３２０２からＳ３２０５の処理を実施する。
【0118】
Ｓ３２０２では、プリントコントローラ４０２は、傾き量算出を行っていない記録ヘッド１０２に対応するテストチャートにおける各記録素子基板１００２の位置情報を取得する。この記録素子基板１００２の位置情報とは、センサ２０２Ａから得られた第１の読み取り画像２００１及びセンサ２０２Ｂから得られた第２の読み取り画像２００２について、Ｓ３１０７で推定されていたものである。
【0119】
Ｓ３２０３では、プリントコントローラ４０２は、第１の読み取り画像２００１と第２の読み取り画像２００２の各記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７の代表位置を、各読み取り画像の重複領域に位置する原点からの差分位置情報に変換する。Ｓ３２０３の詳細については図１８（ａ）を用いて後述する。
【0120】
Ｓ３２０４では、プリントコントローラ４０２は、第２の読み取り画像２００２の差分位置情報と伸縮率Ｋとに基づき、第２の読み取り画像２００２の差分位置情報を伸縮率が１となるように変換する。ここで伸縮率が１となるように変換するとは、第２の読み取り画像２００２における特定のパターン間の距離を第１の読み取り画像２００１の対応する同じ特定のパターン間の距離と等しくなるように変換することを意味する。Ｓ３２０４の詳細については図１８（ｂ）を用いて後述する。
【0121】
Ｓ３２０５では、プリントコントローラ４０２は、第１の読み取り画像２００１について、記録素子基板１００２間のずれ量を算出するための基準線の傾きを算出してＳ３２０１に戻る。Ｓ３２０５の詳細については図１９を用いて後述する。
【0122】
Ｓ３２０６では、プリントコントローラ４０２は、記録素子基板１００２間のずれ量の算出を行っていない記録ヘッド１０２に対応するテストチャートがあるか否かを判定する。記録素子基板１００２間のずれ量を算出していない記録ヘッド１０２に対応するテストチャートがある場合はＳ３２０７に進む。記録素子基板１００２間のずれ量の算出を行っていない記録ヘッド１０２別のテストチャート１２０２がない場合は一連の処理を終了する。
【0123】
Ｓ３２０７では、プリントコントローラ４０２は、記録素子基板１００２間のずれ量の算出を行っていない記録ヘッド１０２に対応するテストチャートの１つを選択する。
【0124】
Ｓ３２０８では、プリントコントローラ４０２は、Ｓ３２０７で選択したテストチャート１２０２に対応する基準線の傾きが全記録ヘッド１０２の傾きの平均と同じになるよう基準線を補正する。詳細については図２０（ａ）を用いて後述する。
【0125】
Ｓ３２０９では、プリントコントローラ４０２は、第１の読み取り画像２００１の座標系における、第２の読み取り画像２００２の各記録素子基板１００２の座標を算出する。詳細については図２０（ｂ）を用いて後述する。
【0126】
Ｓ３２１０では、ここまでの各ステップで得られた第１の読み取り画像２００１の座標系における基準線と各記録素子基板１００２の座標情報を利用して、第１の読み取り画像の座標系において、全記録素子基板１００２間のずれ量を算出する。
【0127】
図１８及び図１９、図２０は、図１７の各ステップを説明するための図である。図中において、画像の横軸をＸ軸、縦軸をＹ軸とする。ここでは、第１の読み取り画像２００１及び第２の読み取り画像２００２における、テストチャート１２０６の領域である１２０６Ａ及び１２０６Ｂのみを抽出している。以降、テストチャート１２０６を例にして説明を記載するが、テストチャート１２０７～１２１３においても適用できる。図中では、各読み取り画像において、テストチャート１２０６を構成している記録素子基板１００２毎のパッチ１００７は数字ｎを内包した矩形で表現し、記録素子基板Ｃｎで記録したパッチであることを示している。また、各記録素子基板１００２のパッチ１００７の位置は、実際のずれが発生している様子を表している。
【0128】
図１８（ａ）は、Ｓ３２０３における、各読み取り画像の各記録素子基板１００２の差分位置情報を算出する手順を説明するための図である。差分位置情報の算出では、各読み取り画像の重複領域に存在する１つの記録素子基板１００２の代表位置を原点と決める。そして、その原点から各記録素子基板１００２の代表位置との距離をＸ軸及びＹ軸について求める。第１の読み取り画像２００１において、Ｃ１パッチの代表位置である座標点５００１を原点とすると、例えばＣ８パッチの代表位置は座標点５００２であるため、Ｃ８パッチの差分位置情報は、Ｘ軸が差分５００３、Ｙ軸が差分５００４となる。第２の読み取り画像において、Ｃ８パッチの代表位置である座標点５０１１を原点とすると、例えばＣ１５パッチの代表位置は座標点５０１２であるため、Ｃ１５パッチの差分位置情報は、Ｘ軸が差分５０１３、Ｙ軸が差分５０１４となる。第１の読み取り画像２００１ではＣ０～Ｃ８、第２の読み取り画像ではＣ８～Ｃ１６の差分位置情報を保存する。ここでは、差分位置情報を算出するための原点を第１の読み取り画像２００１ではＣ０パッチの代表位置、第２の読み取り画像ではＣ８パッチの代表位置とした。Ｓ３２０８において基準線の傾きを補正する際の原点がＣ０パッチの代表位置となるため、第１の読み取り画像２００１ではＣ０パッチの代表位置を原点としておくと良い。Ｓ３２０９において第１の読み取り画像２００１上の座標系において第２の読み取り画像２００２の各記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７の代表位置を算出する。その際に、重複領域に存在するＣ８パッチを境界としてＣ８パッチからの差分位置情報を利用するため、第２の読み取り画像２００２ではＣ８パッチの代表位置を原点とした。本実施形態では、各読み取り画像の原点をＣ０パッチの代表位置、Ｃ８パッチの代表位置としているが、同様の算出ができれば原点はどこに設定しても良い。また、各読み取り画像において差分位置情報を保存する記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７は、各読み取り画像にしか存在しない記録素子基板１００２についてのものは各読み取り画像で保存する。重複領域に存在する記録素子基板１００２に対応するパッチ１００７は、境界とするパッチ１００７のみ両方の読み取り画像で保存し、その他はどちらか一方の読み取り画像で保存すれば良い。ここで境界とは、上述の例ではＣ８パッチが該当する。
【0129】
図１８（ｂ）は、Ｓ３２０４における、第２の読み取り画像２００２の差分位置情報と対応する伸縮率Ｋに基づき、第２の読み取り画像２００２の差分位置情報を伸縮率が１となるように変換する手順を説明する図である。第１の読み取り画像２００１と第２の読み取り画像２００２との間のテキストチャート１２０２それぞれに対応する伸縮率Ｋは、Ｓ３１０９で算出されているため、その値が第２の読み取り画像２００２の補正値となる。第２の読み取り画像２００２における特定のパターン間の距離を第１の読み取り画像２００１の対応する同じ特定のパターン間の距離と等しくするように変換する。すなわち、差分５０１４に対応する伸縮率Ｋを乗算して差分位置情報を補正する。すなわち、図１６に示す第１の読み取り画像２００１のＣ８パッチ内のＲ０パターン間の距離ＳＲと第２の読み取り画像２００２のＣ８パッチ内のＲ０パターン間の距離ＥＲが等しくなるように補正する。補正後の第２の読み取り画像２００２の各記録素子基板１００２の差分位置情報は、Ｓ３２０３で得た補正前の差分位置情報と対応する伸縮率Ｋがあれば、それらを乗算することで算出できる。
【0130】
Ｃ８パッチの代表位置を原点とする差分位置情報を、第２の読み取り画像２００２の特定のパターン間の距離が第１の読み取り画像２００１の対応する同じ特定のパターン間の距離と等しくなるように補正する。例えばＣ１５パッチの場合、補正後の代表位置は座標点５０２２となる。すなわち、補正後のＣ１５パッチの差分位置情報は、Ｘ軸が差分５０２３、Ｙ軸が差分５０２４に変換される。
【0131】
図１９（ａ）及び図１９（ｂ）は、Ｓ３２０５における、基準線を得る手順を説明するための図である。ここでは、第１の読み取り画像２００１の座標系において基準線を得る手順で説明する。まず、基準線を求めるために必要なＣ１５パッチの座標点を第１の読み取り画像２００１の座標系で算出する必要がある。Ｓ３２０４において第１の読み取り画像２００１の特定のパターン間の距離と第２の読み取り画像２００２の対応する同じ特定のパターン間の距離とが等しくなるようにしてある。そのため、Ｃ１５パッチの座標点は、第１の読み取り画像２００１におけるＣ８パッチの差分位置情報に、第２の読み取り画像２００２におけるＣ１５パッチの差分位置情報を足し合わせることで算出できる。具体的には、第１の読み取り画像２００１の座標系におけるＣ１５パッチのＸ座標は、差分５００３と差分５０２３を足し合わせたものとなる。第１の読み取り画像２００１の座標系におけるＣ１５パッチのＹ座標は、差分５００４と差分５０２４を足し合わせたものとなる。図１９（ａ）における座標点５０２５が、第１の読み取り画像２００１の座標系におけるＣ１５パッチの差分位置情報となる。図１９（ｂ）のように、第１の読み取り画像２００１の原点となるＣ１パッチの座標点５００１と、得られたＣ１５パッチの座標点５０２５を結んだ線が該当記録ヘッド１０２の基準線となる。ここでは、第１の読み取り画像２００１の座標系において基準線を得る手順を記載したが、第２の読み取り画像２００２の座標系でも同様に基準線を求めることができる。第２の読み取り画像２００２の座標系では、基準線を求めるためにＣ０パッチの座標点を求める必要があるが、これは差分５００３及び差分５００４を使って求められる。尚、第１の読み取り画像２００１の座標系でも、第２の読み取り画像の座標系でもない、第３の座標系において基準線を求めてもよく、共通する座標系において位置情報が得られればよい。
【0132】
図２０（ａ）は、Ｓ３２０８における、基準線の傾きの補正を説明するための図である。本実施形態では、記録素子基板１００２間のずれ量を算出する過程で、各記録ヘッド１０２の傾き補正を実施する。各記録ヘッド１０２の傾き補正量は、既述の通り全記録ヘッド１０２の傾きの平均と各記録ヘッド１０２の傾きの差分から求められる。各記録ヘッド１０２の傾きはＳ３２０５において得られ、そこから全記録ヘッド１０２の傾きの平均も得られる。図２０に示す座標点５０２７は、座標点５００１を原点として、座標点５０２５を該当記録ヘッド１０２の傾き補正量である角度５０２６回転させた座標点である。そのため、座標点５００１と座標点５０２７を結んだ線が、記録素子基板１００２間のずれ量を算出するために用いる最終的な基準線となる。
【0133】
図２０（ｂ）は、Ｓ３２０９における、第１の読み取り画像２００１上での第２の読み取り画像２００２の各記録素子基板１００２の座標を算出する手順を説明するための図である。得られた基準線に対して記録素子基板１００２間のずれ量を算出するためには、第１の読み取り画像２００１の座標系における第２の読み取り画像２００２の全記録素子基板１００２の座標点を算出する必要がある。このために、Ｓ３２０３で再算出した、第２の読み取り画像２００２の各記録素子基板１００２の差分位置情報を使う。この手順は、Ｓ３２０５において、Ｃ１５の座標点を第１の読み取り画像２００１の座標系で算出した手順と同じである。このようにして得られた基準線と、各記録素子基板１００２の差分位置情報である座標点を用いて、Ｓ３２１０で全記録素子基板１００２間のずれ量の算出が可能となる。
【0134】
以上、本発明のインクジェット記録装置によれば、センサを複数有するスキャナ装置に読み取られることによりテストチャートが複数の読み取り画像に分割されて得られた場合であっても、記録ヘッドのずれ量を精度良く算出が可能となる。
【0135】
本実施形態では、スキャナ装置のセンサ数が２つであったが、３つ以上の場合も隣り合うセンサにより得られた読み取り画像にテストチャートが含まれた重複領域があれば適用可能である。
【0136】
また、本実施形態では、記録素子基板間のずれ量算出のために必要な処理を行ったが、補正量を求めるための基準線が複数の読み取り画像に亘って存在する場合であれば、その他の補正量の算出にも適用可能である。
また、ここまで記録装置としてインクジェット記録装置を例に説明したが、記録材を付与する方法はインクを吐出するインクジェット方式に限定されず、他の記録材を付与する方法を用いる記録装置に対しても本開示の技術は適用可能である。
また、ここまで記録装置としてインクジェット記録装置を例に説明したが、記録材を付与する方法はインクを吐出するインクジェット方式に限定されず、他の記録材を付与する方法を用いる記録装置に対しても本開示の技術は適用可能である。
【0137】
＜その他の実施形態＞
上記の実施形態では、インクジェット記録装置１００が複数の記録ヘッド１０２を有するが、一つの記録ヘッド１０２を有してもよい。記録ヘッド１０２はフルラインヘッドでなくてもよく、記録ヘッド１０２を着脱自在に搭載するキャリッジをＹ方向に移動させながら記録ヘッド１０２からインクを吐出してインク像を形成するシリアル方式であってもよい。記録媒体Ｐは枚葉紙でも良く、その場合は枚葉紙に適した搬送機構を持つ。
上記の実施形態では、インクジェット記録装置１００が複数の記録ヘッド１０２を有するが、一つの記録ヘッド１０２を有してもよい。記録ヘッド１０２はフルラインヘッドでなくてもよく、記録ヘッド１０２を着脱自在に搭載するキャリッジをＹ方向に移動させながら記録ヘッド１０２からインクを吐出してインク像を形成するシリアル方式であってもよい。記録媒体Ｐは枚葉紙でも良く、その場合は枚葉紙に適した搬送機構を持つ。
【0138】
（その他の実施例）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【0139】
本開示は、以下の構成および方法を含む。
［構成１］
記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有するインクジェット記録装置であって、
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせる読み取り制御手段と、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する調整手段と、
を備えることを特徴とする記録装置。
［構成２］
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、前記読み取り画像対において前記テストチャートの同じ部分を重複して読み取った重複領域に含まれる、
ことを特徴とする構成１に記載の記録装置。
［構成３］
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、同じ記録手段に含まれる同じ記録素子基板に対応するパッチである、
ことを特徴とする構成２に記載の記録装置。
［構成４］
前記調整手段は、前記読み取り画像対の一方における前記パッチの位置情報を前記伸縮率が１になるよう変換し、前記重複領域における前記パッチの位置情報に基づき、前記読み取り画像対の前記パッチの位置情報を結合する、
ことを特徴とする構成２又は３に記載の記録装置。
［構成５］
前記調整手段は、前記結合されたパッチの位置情報に基づき前記記録材の付着位置のずれ量を算出し、当該ずれ量に基づき前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する、
ことを特徴とする構成４に記載の記録装置。
［構成６］
前記ずれ量は、前記結合されたパッチの位置情報における２つの所定の記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ基準線に基づき算出するずれ量を含む、
ことを特徴とする構成５に記載の記録装置。
［構成７］
前記基準線は、同じ記録手段に含まれる異なる２つの記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ線である、
ことを特徴とする構成６に記載の記録装置。
［構成８］
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、共通する１つの座標系の座標点で表される、
ことを特徴とする構成６又は７に記載の記録装置。
［構成９］
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、前記重複領域における所定のパッチの位置からの距離を示す差分として表される、
ことを特徴とする構成６乃至８のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１０］
前記調整手段は、前記記録手段を複数有する場合、前記基準線の傾きが当該複数の記録手段の傾きの平均と同じになるよう前記基準線を補正する、
ことを特徴とする構成６乃至９のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１１］
前記記録素子基板は、インクを吐出するノズルが配列された記録素子基板である、
ことを特徴とする構成１乃至１０のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１２］
前記読み取り画像対は、前記読み取り装置において隣接する２つの前記光学センサにより得られた２つの読み取り画像からなる、
ことを特徴とする構成１乃至１１のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１３］
記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有する記録方法であって、
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせるステップと、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出するステップと、
前記算出するステップにより算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整するステップと、
を備えることを特徴とする記録方法。
［構成１４］
コンピュータに、構成１３に記載の記録方法の各ステップを実行させるためのプログラム。
［構成１］
記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有するインクジェット記録装置であって、
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせる読み取り制御手段と、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する調整手段と、
を備えることを特徴とする記録装置。
［構成２］
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、前記読み取り画像対において前記テストチャートの同じ部分を重複して読み取った重複領域に含まれる、
ことを特徴とする構成１に記載の記録装置。
［構成３］
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、同じ記録手段に含まれる同じ記録素子基板に対応するパッチである、
ことを特徴とする構成２に記載の記録装置。
［構成４］
前記調整手段は、前記読み取り画像対の一方における前記パッチの位置情報を前記伸縮率が１になるよう変換し、前記重複領域における前記パッチの位置情報に基づき、前記読み取り画像対の前記パッチの位置情報を結合する、
ことを特徴とする構成２又は３に記載の記録装置。
［構成５］
前記調整手段は、前記結合されたパッチの位置情報に基づき前記記録材の付着位置のずれ量を算出し、当該ずれ量に基づき前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する、
ことを特徴とする構成４に記載の記録装置。
［構成６］
前記ずれ量は、前記結合されたパッチの位置情報における２つの所定の記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ基準線に基づき算出するずれ量を含む、
ことを特徴とする構成５に記載の記録装置。
［構成７］
前記基準線は、同じ記録手段に含まれる異なる２つの記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ線である、
ことを特徴とする構成６に記載の記録装置。
［構成８］
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、共通する１つの座標系の座標点で表される、
ことを特徴とする構成６又は７に記載の記録装置。
［構成９］
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、前記重複領域における所定のパッチの位置からの距離を示す差分として表される、
ことを特徴とする構成６乃至８のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１０］
前記調整手段は、前記記録手段を複数有する場合、前記基準線の傾きが当該複数の記録手段の傾きの平均と同じになるよう前記基準線を補正する、
ことを特徴とする構成６乃至９のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１１］
前記記録素子基板は、インクを吐出するノズルが配列された記録素子基板である、
ことを特徴とする構成１乃至１０のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１２］
前記読み取り画像対は、前記読み取り装置において隣接する２つの前記光学センサにより得られた２つの読み取り画像からなる、
ことを特徴とする構成１乃至１１のいずれか１項に記載の記録装置。
［構成１３］
記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有する記録方法であって、
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせるステップと、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出するステップと、
前記算出するステップにより算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整するステップと、
を備えることを特徴とする記録方法。
［構成１４］
コンピュータに、構成１３に記載の記録方法の各ステップを実行させるためのプログラム。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】