特開 2024-180550 センサコントローラ及び方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024180550

(43)【公開日】2024-12-26

(54)【発明の名称】センサコントローラ及び方法

(51)【国際特許分類】

   G06F 3/041 20060101AFI20241219BHJP

   G06F 3/03 20060101ALI20241219BHJP

   G06F 3/044 20060101ALI20241219BHJP

   G06F 3/0354 20130101ALI20241219BHJP

【ＦＩ】

G06F3/041 512

G06F3/03 400Z

G06F3/044 B

G06F3/03 400A

G06F3/0354 453

【審査請求】有

【請求項の数】7

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2024179646

(22)【出願日】2024-10-15

(62)【分割の表示】P 2020195590の分割

【原出願日】2020-11-25

(71)【出願人】

【識別番号】000139403

【氏名又は名称】株式会社ワコム

(74)【代理人】

【識別番号】110004277

【氏名又は名称】弁理士法人そらおと

(72)【発明者】

【氏名】門脇 淳

(72)【発明者】

【氏名】謝 政良

(72)【発明者】

【氏名】郎 崇年

(57)【要約】

【課題】パネル面に接触している電極の座標検出精度の向上と、パネル面に接触していない電極の座標検出精度の向上とを両立する。
【解決手段】本発明によるセンサコントローラは、近距離無線通信を経由してペンから受信したデータに基づいて、前記ペンがコンタクトしているか否かを判定し、前記ペンがコンタクトしていると判定したときは、等間隔で配置された複数の基準位置の中から等間隔で配置された複数の第１の基準位置を選択し、選択した前記複数の第１の基準位置のそれぞれにおける位置信号の信号レベルを検出する第１のスキャンを実行し、前記ペンがコンタクトしていないと判定したときは、前記複数の基準位置のうち前記複数の第１の基準位置よりも広い間隔で等間隔に配置された複数の第２の基準位置を選択し、選択した前記複数の第２の基準位置のそれぞれにおける位置信号の信号レベルを検出する第２のスキャンを実行する。
【選択図】図８

【特許請求の範囲】

【請求項1】

近距離無線通信を経由してペンから受信したデータに基づいて、前記ペンがコンタクトしているか否かを判定し、
前記ペンがコンタクトしていると判定したときは、等間隔で配置された複数の基準位置の中から等間隔で配置された複数の第１の基準位置を選択し、選択した前記複数の第１の基準位置のそれぞれにおける位置信号の信号レベルを検出する第１のスキャンを実行し、
前記ペンがコンタクトしていないと判定したときは、前記複数の基準位置のうち前記複数の第１の基準位置よりも広い間隔で等間隔に配置された複数の第２の基準位置を選択し、選択した前記複数の第２の基準位置のそれぞれにおける位置信号の信号レベルを検出する第２のスキャンを実行する、
センサコントローラ。

【請求項2】

前記複数の第１の基準位置は、前記複数の基準位置のうち連続的に配置されたものである、
請求項１に記載のセンサコントローラ。

【請求項3】

前記第１のスキャン又は前記第２のスキャンにより得られた前記信号レベルに基づいて、前記ペンの位置を示す座標を導出する、
請求項１に記載のセンサコントローラ。

【請求項4】

前回導出した座標に基づいて、前記複数の第１の基準位置又は前記複数の第２の基準位置を選択する、
請求項３に記載のセンサコントローラ。

【請求項5】

前記データは、前記ペンの先端に加わる筆圧の値である、
請求項１に記載のセンサコントローラ。

【請求項6】

一定のピッチで並置される複数のセンサ電極のそれぞれに接続され、
前記複数の基準位置はそれぞれ１以上の所定数の前記センサ電極に対応し、
前記基準位置における位置信号の信号レベルは、該基準位置に対応する前記所定数のセンサ電極における位置信号の信号レベルに基づいて検出される、
請求項１に記載のセンサコントローラ。

【請求項7】

近距離無線通信を経由してペンから受信したデータに基づいて、前記ペンがコンタクトしているか否かを判定するステップと、
前記ペンがコンタクトしていると判定したことに応じ、等間隔で配置された複数の基準位置の中から等間隔で配置された複数の第１の基準位置を選択し、選択した前記複数の第１の基準位置のそれぞれにおける位置信号の信号レベルを検出する第１のスキャンを実行するステップと、
前記ペンがコンタクトしていないと判定したことに応じ、前記複数の基準位置のうち前記複数の第１の基準位置よりも広い間隔で等間隔に配置された複数の第２の基準位置を選択し、選択した前記複数の第２の基準位置のそれぞれにおける位置信号の信号レベルを検出する第２のスキャンを実行するステップと、
を含む方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、信号を送信する電極を含むペンの座標を検出するセンサコントローラにより実行される方法と、該センサコントローラと、該センサコントローラを含む電子機器とに関する。

【背景技術】

【0002】

ノート型パーソナルコンピュータなどに設けられているタッチパッドは、画面上での位置を指定するために用いられるポインティングデバイスの一種である。ユーザは、タッチパッドのパネル面上で指を摺動させることにより、マウスポインタの操作を行うことができる。

【0003】

従前、タッチパッドはもっぱら指による入力のために用いられてきたが、近年では、タッチパッドをペン入力にも利用することが検討されている。特許文献１には、タッチパッドをペン入力にも使用するノート型パーソナルコンピュータの例が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０２０－１５４４８２号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

ところで、タッチパッドでペン入力を行う場合、パネル面を画面の全体に対応付ける必要があり、そうすると、パネル面上で行ったペン入力の結果は画面上に拡大表示されることになる。そこで、タッチパッド上でのペン入力において画面上でのペン入力と同等の座標検出精度を得るべく、ペンからの位置信号を検出するためにパネル面の下に配置するセンサ電極の間隔を、画面の下に配置する場合に比べて密にすることが検討されている。こうすることで、ペンに設けられる電極のうち少なくともパネル面に接触している電極（パネル面にコンタクト中のペン先電極など）の座標検出については、その精度を向上する効果が得られる。

【0006】

しかしながら、本願の発明者が研究を重ねた結果、センサ電極の配置間隔を密にしてタッチパッドを構成すると、座標検出精度がむしろ悪化してしまう場合があることが判明した。具体的には、パネル面に接触していない電極（ホバー中のペン先電極、傾き検出のための第２電極など）の座標について、その検出精度が悪化してしまう場合があることが判明した。これは、ペンの送信する位置信号がパネル面上で広がってしまい、明確なピークが得られなくなってしまうことによるものだと考えられる。

【0007】

したがって、本発明の目的の一つは、パネル面に接触している電極の座標検出精度の向上と、パネル面に接触していない電極の座標検出精度の向上とを両立できる方法、センサコントローラ、及び電子機器を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明による方法は、信号を送信する１以上の電極を含むペンの座標を検出するセンサコントローラにより実行される方法であって、前記１以上の電極のうちパネル面に接触している電極から送信された信号を検出する動作を、並置される複数の基準位置のうち第１の範囲に含まれるセンサ電極群において検出される前記信号から信号レベルを検出し得る３以上の第１の基準位置のそれぞれにおいて実行する第１のスキャンステップと、前記１以上の電極のうちパネル面に接触していない電極から送信された信号を検出する動作を、前記複数の基準位置のうち前記第１の範囲より広い第２の範囲に含まれるセンサ電極群において検出される前記信号から信号レベルを検出し得る３以上の第２の基準位置のそれぞれにおいて実行する第２のスキャンステップと、前記第１のスキャンステップにおいて検出された前記信号の前記３以上の第１の基準位置それぞれにおける信号レベルに基づいて座標を導出する第１の導出ステップと、前記第２のスキャンステップにおいて検出された前記信号の前記３以上の第２の基準位置それぞれにおける信号レベルに基づいて座標を導出する第２の導出ステップと、を含む方法である。

【0009】

本発明によるセンサコントローラは、信号を送信する１以上の電極を含むペンの座標を検出するセンサコントローラであって、前記１以上の電極のうちパネル面に接触している電極から送信された信号を検出する動作を、並置される複数の基準位置のうち第１の範囲に含まれるセンサ電極群において検出される前記信号から信号レベルを検出し得る３以上の第１の基準位置のそれぞれにおいて実行する第１のスキャンステップと、前記１以上の電極のうちパネル面に接触していない電極から送信された信号を検出する動作を、前記複数の基準位置のうち前記第１の範囲より広い第２の範囲に含まれるセンサ電極群において検出される前記信号から信号レベルを検出し得る３以上の第２の基準位置のそれぞれにおいて実行する第２のスキャンステップと、前記第１のスキャンステップにおいて検出された前記信号の前記３以上の第１の基準位置それぞれにおける信号レベルに基づいて座標を導出する第１の導出ステップと、前記第２のスキャンステップにおいて検出された前記信号の前記３以上の第２の基準位置それぞれにおける信号レベルに基づいて座標を導出する第２の導出ステップと、を実行するセンサコントローラである。

【0010】

本発明による電子機器は、ペンと、前記ペンの座標を検出するセンサコントローラと、を含む電子機器であって、前記ペンは、それぞれ信号を送信する１以上の電極を含み、前記センサコントローラは、前記１以上の電極のうちパネル面に接触している電極から送信された信号を検出する動作を、並置される複数の基準位置のうち第１の範囲に含まれるセンサ電極群において検出される前記信号から信号レベルを検出し得る３以上の第１の基準位置のそれぞれにおいて実行する第１のスキャンステップと、前記１以上の電極のうちパネル面に接触していない電極から送信された信号を検出する動作を、前記複数の基準位置のうち前記第１の範囲より広い第２の範囲に含まれるセンサ電極群において検出される前記信号から信号レベルを検出し得る３以上の第２の基準位置のそれぞれにおいて実行する第２のスキャンステップと、前記第１のスキャンステップにおいて検出された前記信号の前記３以上の第１の基準位置それぞれにおける信号レベルに基づいて座標を導出する第１の導出ステップと、前記第２のスキャンステップにおいて検出された前記信号の前記３以上の第２の基準位置それぞれにおける信号レベルに基づいて座標を導出する第２の導出ステップと、を実行する、電子機器である。

【発明の効果】

【0011】

本発明によれば、パネル面に接触していない電極からの信号をより広い範囲で捉えることが可能になるので、パネル面に接触している電極の座標検出精度の向上と、パネル面に接触していない電極の座標検出精度の向上とを両立することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】本発明の実施の形態による電子機器１の使用状態を示す図である。

【図2】ペン２及びコンピュータ３それぞれの内部構成を示す図である。

【図3】センサコントローラ３１がローカルスキャン時に実行するダウンリンク信号ＤＳの受信処理を示す処理フロー図である。

【図4】（ａ）は、図３のステップＳ３で実行される第１のスキャンの詳細を示す処理フロー図であり、（ｂ）は、図３のステップＳ６で実行される第２のスキャンの詳細を示す処理フロー図である。

【図5】（ａ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係の一例を説明する図であり、（ｂ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係が（ａ）に示したものである場合に図４（ｂ）のステップＳ１７において選択される基準位置の第１の例を示す図であり、（ｃ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係が（ａ）に示したものである場合に図４（ｂ）のステップＳ１７において選択される基準位置の第２の例を示す図である。

【図6】（ａ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係の他の一例を説明する図であり、（ｂ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係が（ａ）に示したものである場合に図４（ｂ）のステップＳ１７において選択される基準位置の第１の例を示す図であり、（ｃ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係が（ａ）に示したものである場合に図４（ｂ）のステップＳ１７において選択される基準位置の第２の例を示す図である。

【図7】（ａ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係のさらに他の一例を説明する図であり、（ｂ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係が（ａ）に示したものである場合に図４（ｂ）のステップＳ１７において選択される基準位置の第１の例を示す図であり、（ｃ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係が（ａ）に示したものである場合に図４（ｂ）のステップＳ１７において選択される基準位置の第２の例を示す図である。

【図8】図３に示した受信処理をより具体的な例により示す処理フロー図である。

【図9】ペン２の傾きθ＝０°の場合について、後端電極２２から送信される位置信号の信号レベルのＸ方向の各基準位置における測定結果を示す図である。

【図10】ペン２の傾きθ＝０°の場合について、後端電極２２から送信される位置信号の信号レベルのＹ方向の各基準位置における測定結果を示す図である。

【図11】ペン２の傾きθ＝３０°の場合について、後端電極２２から送信される位置信号の信号レベルのＹ方向の各基準位置における測定結果を示す図である。

【図12】（ａ）は、本発明を適用しない比較例において、パネル面１２ａ上でθ＝０°を維持しつつペン２の先端を摺動させた場合における後端電極２２の位置の軌跡を示す図であり、（ｂ）は、本発明を適用した実施例において、パネル面１２ａ上でθ＝０°を維持しつつペン２の先端を摺動させた場合における後端電極２２の位置の軌跡を示す図である。

【図13】本発明の実施の形態の変形例によるセンサコントローラ３１がローカルスキャン時に実行するダウンリンク信号ＤＳの受信処理を示す処理フロー図である。

【発明を実施するための形態】

【0013】

以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施の形態について詳細に説明する。

【0014】

図１は、本発明の実施の形態による電子機器１の使用状態を示す図である。同図に示すように、電子機器１は、ペン２及びコンピュータ３を有して構成される。

【0015】

ペン２は、コンピュータ３に位置情報を入力する位置指示器であり、タッチパッド１２のパネル面１２ａ上における位置をユーザが指示するために用いられる。ペン２によって指示された位置は、コンピュータ３に対する入力となる。

【0016】

コンピュータ３はノート型のパーソナルコンピュータであり、ディスプレイ１０と、キーボード１１と、タッチパッド１２とを有して構成される。ディスプレイ１０は、例えば液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイなどの表示画面を有する表示装置であり、文字や図形を視覚的に出力する役割を果たす。

【0017】

キーボード１１及びタッチパッド１２はそれぞれ、ユーザがコンピュータ３への入力を行うための入力装置である。このうちタッチパッド１２は、パネル面１２ａ上における指やペン２の位置を検出し、後述するホストプロセッサ３２（図２を参照）に出力することにより、入力装置として機能する。以下の説明では、ユーザから見てパネル面１２ａの横方向をＸ方向と称し、奥行き方向をＹ方向と称し、Ｘ方向及びＹ方向に直交する方向をＺ方向と称する。

【0018】

タッチパッド１２による指の位置の検出は、例えば静電容量方式によって実行される。また、ペン２の検出は、例えばアクティブ静電方式によって実行される。以下、このアクティブ静電方式を前提として説明を続けるが、例えば電磁誘導方式などの他の方式によってペン２の検出を実行する場合にも本発明は適用可能である。

【0019】

アクティブ静電方式に対応するペン２は、内蔵する電極（後述する図２に示す先端電極２１及び後端電極２２）を通じて、タッチパッド１２との間で双方向に信号を送受信可能に構成される。以下では、タッチパッド１２からペン２に向けて送信される信号をアップリンク信号ＵＳと称し、ペン２からタッチパッド１２に向けて送信される信号をダウンリンク信号ＤＳと称する。

【0020】

タッチパッド１２は、クリック操作を検出する機能も有している。具体的には、タッチ面のタップ操作を図示しない圧力センサによって検出することでクリック操作を検出することとしてもよいし（プレッシャーパッド）、パネル面１２ａの下側に押しボタンスイッチを配置しておき、パネル面１２ａ自体がユーザの押下に応じて下向きに変位して押しボタンスイッチを押下することで、クリック操作を検出することとしてもよい（クリックパッド）。或いは、パネル面１２ａの近傍にクリック用のボタンを別に設け、そのボタンの押下によりクリック操作を検出することとしてもよい。

【0021】

図２は、ペン２及びコンピュータ３それぞれの内部構成を示す図である。ただし、コンピュータ３の内部構成については、ペン２の位置検出に関連する部分のみを示している。

【0022】

初めにペン２に着目すると、ペン２は、図２に示すように、芯２０、先端電極２１、後端電極２２、筆圧検出センサ２３、回路部２４、及び電源２５を有して構成される。電源２５としては、例えば円筒型のＡＡＡＡ電池が用いられる。

【0023】

芯２０は、その長手方向がペン２のペン軸方向と一致するように配置される棒状の部材である。芯２０の先端部の表面には導電性材料が塗布され、先端電極２１（ペン先電極）を構成している。なお、必ずしも芯２０の最先端部の表面に先端電極２１が配置されていなくてもよく、そうすると、芯２０の最先端部がパネル面１２ａに接触しているが先端電極２１はパネル面１２ａに接触していない、という状態が生じ得るが、本実施の形態でいう「コンタクト中の先端電極２１」には、そのような状態の先端電極２１が含まれる。

【0024】

芯２０の後端部は、筆圧検出センサ２３に当接している。筆圧検出センサ２３は、芯２０の先端に加わる圧力（筆圧）を検出する役割を果たす。芯２０の後端部（先端電極２１よりもペン２の後端側の位置）には、後端電極２２（傾き検出のための第２電極）が設けられる。後端電極２２はリング状（ドーナツ形）の導電体であり、芯２０が後端電極２２中央の穴を通過することとなるように配置される。

【0025】

回路部２４は、タッチパッド１２のパネル面１２ａから送信されるアップリンク信号ＵＳを先端電極２１を介して受信する機能と、タッチパッド１２のパネル面１２ａに向け、先端電極２１又は後端電極２２を介してダウンリンク信号ＤＳを送信する機能とを有する。これらの信号については、後ほど詳細に説明する。

【0026】

次にコンピュータ３に着目すると、コンピュータ３は、図２に示すセンサ３０、センサコントローラ３１、及びホストプロセッサ３２を有して構成される。このうちセンサ３０及びセンサコントローラ３１はタッチパッド１２の構成要素であり、ホストプロセッサ３２はコンピュータ３の中央処理装置である。

【0027】

センサ３０は、パネル面１２ａの下に埋め込まれたタッチセンサであり、先端電極２１及び後端電極２２のそれぞれと容量結合する各複数のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを含んで構成される。このうち複数のセンサ電極３０ＸはそれぞれＹ方向に延在し、Ｘ方向に一定のピッチＰで並置される。また、複数のセンサ電極３０ＹはそれぞれＸ方向に延在し、Ｙ方向に一定のピッチＰで並置される。複数のセンサ電極３０Ｘと複数のセンサ電極３０Ｙとは、図２に示すように、Ｚ方向に重畳して配置される。なお、図２ではセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを板状の導電体により示しているが、実際のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙは、例えばメッシュ導体のような他の形状の導電体であってよい。

【0028】

ピッチＰは、画面上でのペン入力に対応するタブレット端末等において画面の下に埋め込まれるセンサ電極のピッチ（以下「従来ピッチ」という）に比べて小さい値に設定される。典型的な例では、ピッチＰは従来ピッチの約１／３である。これによりタッチパッド１２においては、従来ピッチでセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを配置する場合に比べ、パネル面１２ａにコンタクト中の先端電極２１の座標検出を高い精度で行うことが可能となっている。

【0029】

センサコントローラ３１は、内蔵メモリに記憶されるプログラムを読み出して実行することにより後述する各種の処理を行う集積回路であり、ペン２が送信するダウンリンク信号ＤＳをセンサ３０を介して受信する機能と、ペン２に向け、センサ３０を介してアップリンク信号ＵＳを送信する機能とを有して構成される。センサコントローラ３１は、図２に示すように、各複数のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙのそれぞれと個別に接続される。

【0030】

アップリンク信号ＵＳは、ペン２に対する命令（コマンド）を含む他、信号送受信プロトコルにより定められるスケジュールの始期をペン２に対して通知する役割を有する信号である。センサコントローラ３１は、複数のセンサ電極３０Ｘ及び複数のセンサ電極３０Ｙの少なくとも一方を用いてアップリンク信号ＵＳを送信するよう構成され、ペン２は、先端電極２１を用いてアップリンク信号ＵＳを受信するよう構成される。アップリンク信号ＵＳを受信したペン２は、その中に含まれるコマンドに従う動作を行う。

【0031】

アップリンク信号ＵＳによって送信されるコマンドには、ペン２との間の信号送受信に用いる信号送受信プロトコルを指定するコマンド、ペン２がセンサコントローラ３１に対して送信すべきデータ（以下「ペンデータ」という）を指定するコマンドなどが含まれる。ペンデータには、筆圧検出センサ２３によって検出された筆圧を示す値が含まれる。信号送受信プロトコルを指定するコマンドを受信したペン２はその後、指定された信号送受信プロトコルにより定められたスケジュールと、アップリンク信号ＵＳにより通知されたスケジュールの始期とに従って、アップリンク信号ＵＳの受信及びダウンリンク信号ＤＳの送信を行う。

【0032】

ダウンリンク信号ＤＳには、先端電極２１から送信されるダウンリンク信号ＤＳと、後端電極２２から送信されるダウンリンク信号ＤＳとが含まれる。前者のダウンリンク信号ＤＳは、センサコントローラ３１に先端電極２１の位置を検出させるための位置信号と、ペンデータを送信するためのデータ信号とを含んで構成される。位置信号は、例えば無変調の搬送波信号（バースト信号）であり、データ信号は、送信対象のペンデータによって変調された搬送波信号である。後者のダウンリンク信号ＤＳは、センサコントローラ３１に後端電極２２の位置を検出させるための位置信号を含んで構成される。この位置信号も、例えば無変調の搬送波信号（バースト信号）である。

【0033】

先端電極２１から送信されるダウンリンク信号ＤＳと、後端電極２２から送信されるダウンリンク信号ＤＳとは、センサコントローラ３１がこれらを区別して受信できるよう、多重化して送信される。多重化の方法としては、時分割多重、周波数分割多重、符号分割多重など各種のものを使用できるが、以下では時分割多重を用いるものとして説明を続ける。

【0034】

センサコントローラ３１は、先端電極２１から送信されるダウンリンク信号ＤＳを受信するタイミングでは、位置信号を受信することによってパネル面１２ａ内における先端電極２１の位置を示す座標を検出するとともに、データ信号を受信することによってペン２が送信したペンデータを取得するよう構成される。一方、後端電極２２から送信されるダウンリンク信号ＤＳを受信するタイミングでは、位置信号を受信することによってパネル面１２ａ内における後端電極２２の位置を示す座標を検出した後、先に検出していた先端電極２１の位置を示す座標との距離を導出し、その結果に基づいてペン２の傾きを導出するよう構成される。センサコントローラ３１は、こうして検出した各座標、取得したペンデータ、及び導出した傾きを、都度、ホストプロセッサ３２に供給するよう構成される。

【0035】

センサコントローラ３１がアップリンク信号ＵＳ及びダウンリンク信号ＤＳを用いて行う処理の具体的な内容は、センサコントローラ３１がペン２とペアリング済みであるか否かに応じて異なる。ペン２とペアリング済みでない場合にセンサコントローラ３１が実行する処理を以下では「グローバルスキャン」と称し、ペン２とペアリング済みである場合にセンサコントローラ３１が実行する処理を以下では「ローカルスキャン」と称する。以下、それぞれの概要について説明する。

【0036】

グローバルスキャンを行う場合、センサコントローラ３１は、未ペアリングのペン２を宛先として、先端電極２１から位置信号のみを送信するよう指示するコマンドを含むアップリンク信号ＵＳを送信する。このアップリンク信号ＵＳの送信後、センサコントローラ３１は、センサ３０を構成するすべてのセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを順にスキャンすることによって位置信号の検出を行う。こうして位置信号を検出したセンサコントローラ３１は、検出した位置信号に基づいて先端電極２１の座標を導出し、ペン２とペアリング済みの状態になる。

【0037】

ローカルスキャンを行う場合、センサコントローラ３１は、ペアリング済みのペン２を宛先として、先端電極２１から位置信号及びデータ信号を順に送信し、続いて後端電極２２から位置信号を送信するよう指示するコマンドを含むアップリンク信号ＵＳを送信する。その後、センサコントローラ３１は、複数のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙの中から前回導出した先端電極２１の位置の近傍に位置するそれぞれ所定本数のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを選択し、選択したセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを順にスキャンすることによって、まず先端電極２１から送信された位置信号を検出する。こうして位置信号を検出したセンサコントローラ３１は、検出した位置信号に基づいて先端電極２１の座標を導出し、ペン２の座標としてホストプロセッサ３２に出力する。

【0038】

次にセンサコントローラ３１は、複数のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙの中から前回又は今回導出した先端電極２１の位置に最も近い１本のセンサ電極３０Ｘ又はセンサ電極３０Ｙを選択し、選択したセンサ電極３０Ｘ又はセンサ電極３０Ｙをスキャンすることによって、先端電極２１から送信されたデータ信号を検出する。こうしてデータ信号を検出したセンサコントローラ３１は、検出したデータ信号を復調することにより、ペン２が送信したペンデータを取得する。

【0039】

最後にセンサコントローラ３１は、複数のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙの中から前回導出した後端電極２２の位置（又は、前回又は今回導出した先端電極２１の位置）の近傍に位置するそれぞれ所定本数のセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを選択し、選択したセンサ電極３０Ｘ，３０Ｙを順にスキャンすることによって、後端電極２２から送信された位置信号を検出する。こうして位置信号を検出したセンサコントローラ３１は、検出した位置信号に基づいて後端電極２２の座標を導出する。そして、導出していた先端電極２１の座標と、新たに導出した後端電極２２の座標とに基づいてペン２の傾きを導出し、ホストプロセッサ３２に出力する。

【0040】

ホストプロセッサ３２は、図示しない記憶装置に格納されるプログラムを読み出して実行することにより、コンピュータ３のオペレーションシステムや各種のアプリケーションを実行する処理装置である。ホストプロセッサ３２により実行されるアプリケーションには描画アプリケーションが含まれる。描画アプリケーションは、センサコントローラ３１から供給される座標、ペンデータ（筆圧を示す値を含む）、傾きに従ってストロークデータを生成し、レンダリングして図１に示したディスプレイ１０に表示する役割を果たす。また、描画アプリケーションは、生成したストロークデータを含むデジタルインクデータを生成し、図示しない記憶装置に格納するとともに、他のコンピュータに対して送信する処理も行う。

【0041】

以上、ペン２及びコンピュータ３の基本的な構成と、ペン２及びセンサコントローラ３１が行う基本的な処理について説明した。次に、パネル面に接触している電極の座標検出精度の向上と、パネル面に接触していない電極の座標検出精度の向上との両立を実現するためにセンサコントローラ３１が実行する処理について、詳細に説明する。

【0042】

図３は、センサコントローラ３１がローカルスキャン時に実行するダウンリンク信号ＤＳの受信処理を示す処理フロー図である。同図に示すように、センサコントローラ３１は、パネル面１２ａに接触している電極の受信タイミングと、パネル面１２ａに接触していない電極の受信タイミングとで異なる処理を行う。ここでいう「パネル面１２ａに接触している電極」は例えばコンタクト中の先端電極２１であり、「パネル面１２ａに接触していない電極」は例えば後端電極２２又はホバー中の先端電極２１である。これらの具体例に関する処理については、後掲する図８にて詳しく説明する。

【0043】

図３に示すように、センサコントローラ３１はまず、パネル面１２ａに接触している電極の受信タイミングが到来したか否かを判定する（ステップＳ１）。そして、到来したと判定した場合には第１のスキャンを実行する（ステップＳ３）一方、到来していないと判定した場合には、パネル面１２ａに接触していない電極の受信タイミングが到来したか否かをさらに判定する（ステップＳ２）。ステップＳ２で到来したと判定したセンサコントローラ３１は第２のスキャンを実行し（ステップＳ６）、到来していないと判定したセンサコントローラ３１は、ステップＳ１に戻って処理を続ける。

【0044】

図４（ａ）は、ステップＳ３で実行される第１のスキャンの詳細を示す処理フロー図である。同図に示すように、第１のスキャンを開始したセンサコントローラ３１は、Ｘ方向とＹ方向のそれぞれについて、ステップＳ１１，Ｓ１２の処理を行う（ステップＳ１０）。以下、Ｘ方向の処理に着目してステップＳ１１，Ｓ１２の処理を具体的に説明するが、Ｙ方向の処理についても同様である。

【0045】

センサコントローラ３１はまず、前回導出した座標から所定の範囲（以下「第１の範囲」という）に含まれる所定本数のセンサ電極３０Ｘを選択する（ステップＳ１１）。続いてセンサコントローラ３１は、選択されたセンサ電極３０Ｘにおいて検出される位置信号から信号レベルを検出し得る少なくとも３以上の基準位置（第１の基準位置）を選択し、選択した各基準位置における位置信号の信号レベルを検出する（ステップＳ１２）。

【0046】

ここで、基準位置は、位置信号の信号レベルの検出対象となる位置であり、Ｘ軸上（Ｙ方向の処理においてはＹ軸上）に等間隔で並置される。ステップＳ１２においてセンサコントローラ３１は、前回導出した座標に応じて、このうち連続的に配置される３以上の基準位置を選択するよう構成される。より具体的には、前回導出した座標に近いものから順に３以上の基準位置を選択する。各基準位置はそれぞれ予め１以上のセンサ電極３０Ｘに対応付けられており、ステップＳ１２で検出される各基準位置における位置信号の信号レベルは、その基準位置に対応するセンサ電極３０Ｘが１つである場合にはそのセンサ電極３０Ｘにおける位置信号の信号レベルとなり、その基準位置に対応するセンサ電極３０Ｘが２つ以上である場合にはそれらにおける位置信号の信号レベルを統計処理したものとなる。統計処理の具体的な内容は、例えば単純な平均であってもよいし、基準位置から各センサ電極３０Ｘまでの距離に基づいて決定される重みを信号レベルに乗算することによって行う重み付き加算であってもよい。第１の範囲は、このようなステップＳ１２の処理により各基準位置における位置信号の信号レベルを得るために必要となるすべてのセンサ電極３０Ｘを含む範囲となる。

【0047】

図５（ａ）、図６（ａ）、及び図７（ａ）はそれぞれ、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係の一例を説明する図である。これらの図において、Ｘ座標Ｋ－７～Ｋ＋７はそれぞれ基準位置を表している。また、Ｘ座標Ｋは、前回導出されたＸ座標に最も近い基準位置を表している。さらに、対応するＸ座標を四角で囲んだ基準位置は、ステップＳ１２において選択される基準位置を表している。また、Ｘ軸の上側に示す棒グラフは各基準位置における位置信号の信号レベルを表しており、棒グラフに付した右上がりのハッチングは、その信号レベルがステップＳ１２において実際に検出されるものであることを表している。

【0048】

図５（ａ）には、各基準位置に対応するセンサ電極３０Ｘが１つである場合の例を示している。この場合、各基準位置は、対応するセンサ電極３０ＸのＸ方向の中心位置となる。また、各基準位置における位置信号の信号レベルとしては、対応するセンサ電極３０Ｘにおける位置信号の信号レベルが用いられる。

【0049】

図６（ａ）には、各基準位置に対応するセンサ電極３０Ｘが２つである場合の例を示している。この場合、各基準位置は、対応する２つのセンサ電極３０ＸのＸ方向の中間位置となる。また、各基準位置における位置信号の信号レベルとしては、対応する２つのセンサ電極３０Ｘにおける位置信号の信号レベルの平均値が用いられる。

【0050】

図７（ａ）には、各基準位置に対応するセンサ電極３０Ｘが３つである場合の例を示している。この場合、各基準位置は、対応する３つのセンサ電極３０Ｘのうち中央に位置するセンサ電極３０ＸのＸ方向の中心位置となる。また、各基準位置における位置信号の信号レベルとしては、対応する３つのセンサ電極３０Ｘにおける位置信号の信号レベルを統計処理してなる値が用いられる。

【0051】

図３に戻る。ステップＳ３を終了したセンサコントローラ３１は、第１のスキャンにおいて検出された各基準位置における位置信号のレベルに基づき、パネル面１２ａに接触している電極の位置を示す座標を導出する（ステップＳ４）。この導出は、検出された信号レベルの近似曲線（２次関数）を最小二乗法により求め、その頂点の座標を導出することにより行えばよい。ステップＳ４の後、センサコントローラ３１は、その他の処理を実行したうえで（ステップＳ５）、ステップＳ２に処理を移す。ステップＳ５で実行されるその他の処理の具体的な内容については、図８を参照して後述する。

【0052】

図４（ｂ）は、ステップＳ６で実行される第２のスキャンの詳細を示す処理フロー図である。同図に示すように、第２のスキャンを開始したセンサコントローラ３１は、Ｘ方向とＹ方向のそれぞれについて、ステップＳ１６，Ｓ１７の処理を行う（ステップＳ１５）。以下、Ｘ方向の処理に着目してステップＳ１６，Ｓ１７の処理を具体的に説明するが、Ｙ方向の処理についても同様である。

【0053】

センサコントローラ３１はまず、前回導出した座標から所定の範囲（以下「第２の範囲」という）に含まれる所定本数のセンサ電極３０Ｘを選択する（ステップＳ１６）。第２の範囲は、第１のスキャン時よりも広い範囲に設定される。続いてセンサコントローラ３１は、選択されたセンサ電極３０Ｘにおいて検出される位置信号から信号レベルを検出し得る少なくとも３以上の基準位置（第２の基準位置）を選択し、選択した各基準位置における位置信号の信号レベルを検出する（ステップＳ１７）。このときセンサコントローラ３１は、前回導出した座標に応じて、並置される複数の基準位置のうち離散的に配置される３以上の基準位置を選択するよう構成される。より具体的に言えば、前回導出した座標に最も近い基準位置と、その基準位置から所定数ずつ間を開けて配置された２以上の基準位置とを選択するよう構成される。

【0054】

図５（ｂ）、図６（ｂ）、及び図７（ｂ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係がそれぞれ図５（ａ）、図６（ａ）、及び図７（ａ）に示したものである場合にステップＳ１７において選択される基準位置の第１の例を示す図である。この例によるセンサコントローラ３１は１つおきに基準位置を選択するように構成され、その結果として第１の範囲より広い第２の範囲が必要となっている。また、この例によるセンサコントローラ３１が選択する３以上の基準位置の幅（両端間の幅）は、対応する第１のスキャンにおいてセンサコントローラ３１が選択する３以上の基準位置の幅（両端間の幅）より広くなっている。

【0055】

図５（ｃ）、図６（ｃ）、及び図７（ｃ）は、基準位置とセンサ電極３０Ｘの対応関係がそれぞれ図５（ａ）、図６（ａ）、及び図７（ａ）に示したものである場合にステップＳ１７において選択される基準位置の第２の例を示す図である。この例によるセンサコントローラ３１は２つおきに基準位置を選択するように構成され、その結果として第１の例による第２の範囲よりもさらに広い第２の範囲が必要となっている。また、この例によるセンサコントローラ３１が選択する３以上の基準位置の幅（両端間の幅）は、第１の例においてセンサコントローラ３１が選択する３以上の基準位置の幅（両端間の幅）よりもさらに広くなっている。

【0056】

図３に戻る。ステップＳ６を終了したセンサコントローラ３１は、第２のスキャンにおいて検出された各基準位置における位置信号のレベルに基づき、パネル面１２ａに接触していない電極の位置を示す座標を導出する（ステップＳ７）。この導出は、ステップＳ４と同様、検出された信号レベルの近似曲線（２次関数）を最小二乗法により求め、その頂点の座標を導出することにより行えばよい。ステップＳ７の後、センサコントローラ３１は、その他の処理を実行したうえで（ステップＳ８）、ステップＳ１に処理を移す。ステップＳ８で実行されるその他の処理の具体的な内容についても、図８を参照して後述する。

【0057】

図８は、図３に示した受信処理をより具体的な例により示す処理フロー図である。以下、同図を参照しながら、センサコントローラ３１がローカルスキャン時に実行するダウンリンク信号ＤＳの受信処理を、より具体的な例に沿って説明する。

【0058】

センサコントローラ３１はまず、先端電極２１の受信タイミングが到来したか否かを判定する（ステップＳ２０）。そして、到来したと判定した場合、センサコントローラ３１は次に、ペン２がホバー中であるか否かを判定する（ステップＳ２１）。具体的には、前回のローカルスキャンにおいてペン２から受信したペンデータに含まれていた筆圧の値が０であった場合にはホバー中であると判定し、それ以外の場合にはホバー中でない（すなわち、コンタクト中である）と判定する。

【0059】

ここで、ペン２は、ホバー中か否かを示すコンタクト・ホバー情報をペンデータ内に配置することとしてもよく、その場合のセンサコントローラ３１は、このコンタクト・ホバー情報に基づいてペン２がホバー中であるか否かを判定することとしてもよい。また、センサコントローラ３１は、例えばブルートゥース（登録商標）などの近距離無線通信を経由してペン２から受信されるデータ（筆圧の値、又は、コンタクト・ホバー情報）に基づき、ペン２がホバー中であるか否かを判定することとしてもよい。

【0060】

ステップＳ２１においてホバー中でないと判定したセンサコントローラ３１は、ステップＳ２２の処理を実行する。ステップＳ２２は図３のステップＳ３に相当する処理であり、センサコントローラ３１は第１のスキャンを実行し、その結果として各基準位置における位置信号の信号レベルを得る。一方、ステップＳ２１においてホバー中であると判定したセンサコントローラ３１は、ステップＳ２３を実行する。ステップＳ２３は図３のステップＳ６に相当する処理であり、センサコントローラ３１は第２のスキャンを実行し、その結果として各基準位置における位置信号の信号レベルを得る。

【0061】

ステップＳ２２又はステップＳ２３を終了したセンサコントローラ３１は、ステップＳ２４～Ｓ２６の処理を実行する。ステップＳ２４は図３のステップＳ４又はステップＳ７に相当する処理であり、センサコントローラ３１は、ステップＳ２２又はステップＳ２３で得た信号レベルに基づいて先端電極２１の位置を示す座標を導出する。ステップＳ２５，Ｓ２６は図３のステップＳ５又はステップＳ８に相当する処理であり、センサコントローラ３１は、上述したデータ信号を受信することによりペン２が送信したペンデータを受信し（ステップＳ２５）、ステップＳ２４で導出した座標とともにホストプロセッサ３２に出力する（ステップＳ２６）。

【0062】

ステップＳ２０で到来していないと判定したセンサコントローラ３１は、後端電極２２の受信タイミングが到来したか否かを判定する（ステップＳ３０）。ここで到来していないと判定したセンサコントローラ３１は、ステップＳ２０に戻って処理を続ける。一方、到来したと判定したセンサコントローラ３１は、ペン２がホバー中であるか否かを判定する（ステップＳ３１）。この判定の具体的な方法は、ステップＳ２１と同様でよい。ステップＳ３１においてホバー中であると判定したセンサコントローラ３１は、ステップＳ２０に戻って処理を続ける。

【0063】

一方、ステップＳ３１においてホバー中でないと判定したセンサコントローラ３１は、ステップＳ３２～Ｓ３５の処理を実行する。なお、ステップＳ３１を行わないこととしてもよく、その場合のセンサコントローラ３１は、ステップＳ３０において到来していないと判定したことに応じて、常にステップＳ３２～Ｓ３５の処理を実行することとすればよい。

【0064】

ステップＳ３２は図３のステップＳ６に相当する処理であり、センサコントローラ３１は第２のスキャンを実行し、その結果として各基準位置における位置信号の信号レベルを得る。ステップＳ３３は図３のステップＳ７に相当する処理であり、センサコントローラ３１は、ステップＳ３２で得た信号レベルに基づいて後端電極２２の位置を示す座標を導出する。ステップＳ３４，Ｓ３５は図３のステップＳ８に相当する処理であり、センサコントローラ３１は、ステップＳ２４で導出した先端電極２１の座標と、ステップＳ３３で導出した後端電極２２の座標とに基づいてペン２の傾きを導出し（ステップＳ３４）、ホストプロセッサ３２に出力する（ステップＳ３５）。

【0065】

以上説明したように、本実施の形態によるタッチパッド１２によれば、センサ電極３０Ｘ，３０ＹのピッチＰを従来ピッチより小さくすることによってコンタクト中の先端電極２１の座標検出を高い精度で行うことを実現しつつ、後端電極２２又はホバー中の先端電極２１から送信される位置信号について、コンタクト中の先端電極２１から送信される位置信号に比べて広い範囲でスキャンすることができる。したがって、パネル面１２ａ上で広がってしまいがちな後端電極２２又はホバー中の先端電極２１からの位置信号をより広い範囲で捉えることが可能になるので、コンタクト中の先端電極２１の座標検出精度の向上と、後端電極２２又はホバー中の先端電極２１の座標検出精度の向上とを両立することが可能になる。

【0066】

以下、図９～図１２を参照しながら、本発明による奏される効果について詳しく説明する。

【0067】

図９（ａ）～図９（ｃ）、図１０（ａ）～図１０（ｃ）、及び図１１（ａ）～図１１（ｃ）はそれぞれ、後端電極２２から送信される位置信号の信号レベルの各基準位置における測定結果を示す図である。これらの図では、縦軸が信号レベルとなっている。また、図９（ａ）～図９（ｃ）では、横軸がＸ方向の基準位置、図１０（ａ）～図１０（ｃ）及び図１１（ａ）～図１１（ｃ）では、横軸がＹ方向の基準位置となっている。また、図９（ａ）～図９（ｃ）及び図１０（ａ）～図１０（ｃ）にはペン２の傾きθ（ペン２のペン軸とパネル面１２ａの法線とがなす角度）が０°である場合（つまり、ペン２がパネル面１２ａに対して垂直に立っている場合）を示し、図１１（ａ）～図１１（ｃ）にはθが３０°である場合を示している。さらに、図９（ａ）、図１０（ａ）、及び図１１（ａ）にはすべての基準位置における信号レベルを示し、図９（ｂ）、図１０（ｂ）、及び図１１（ｂ）には１つおきに選択された基準位置における信号レベルを示し、図９（ｃ）、図１０（ｃ）、及び図１１（ｃ）には２つおきに選択された基準位置における信号レベルを示している。

【0068】

初めに図９（ａ）及び図１０（ａ）を参照すると、θ＝０°の場合においては、各基準位置の信号レベルにより表される曲線の上端がフラットになっているため、その中央から３つの基準位置を選択して最小二乗法により近似しても、後端電極２２の座標を正しく導出できないことが理解される。図９（ａ）及び図１０（ａ）のように曲線の上端がフラットになる原因としては、後端電極２２がパネル面１２ａに接触していないことの他、後端電極２２とパネル面１２ａの間に先端電極２１が存在していることが挙げられる。

【0069】

次に図９（ｂ）及び図１０（ｂ）を参照すると、基準位置を１／２に間引くことで、曲線上端のフラットな部分が少し小さくなることが理解される。しかし、この状態ではまだフラットな部分の縮小が十分ではなく、後端電極２２の座標を正しく導出できるとは限らない。

【0070】

次に図９（ｃ）及び図１０（ｃ）を参照すると、基準位置を１／３に間引くことで、曲線上端のフラットな部分がさらに小さくなることが理解される。この状態であればフラットな部分が十分に縮小されたといえ、後端電極２２の座標を正しく導出できるようになる。したがって、θ＝０°の場合においては、図５（ｃ）、図６（ｃ）、図７（ｃ）に示した例のように、２つおきに基準位置を選択するようにセンサコントローラ３１を構成することで、後端電極２２の座標を正しく導出することが可能になると言える。

【0071】

一方、図１１（ａ）～図１１（ｃ）を参照すると、θ＝３０°の場合においては、基準位置を間引かない図１１（ａ）の状態でも、各基準位置の信号レベルにより表される曲線の上端が十分に上に凸になっているため、後端電極２２の座標を正しく導出できることが理解される。また、図１１（ｂ）及び図１１（ｃ）から明らかなように、基準位置を間引いたとしても、変わらず後端電極２２の座標を正しく導出できることが理解される。なお、図１１（ａ）～図１１（ｃ）にはＹ方向の各基準位置における測定結果のみを示しているが、Ｘ方向の方向の各基準位置における測定結果についても同様である。

【0072】

図９（ａ）～図９（ｃ）、図１０（ａ）～図１０（ｃ）、及び図１１（ａ）～図１１（ｃ）の測定結果から理解されるように、パネル面に接触していない電極の座標検出精度は、傾きθが小さいほど悪化する傾向にある。したがって、本発明による座標検出精度の向上効果は、傾きθが小さいときほど顕著に得られると言える。図示していないが、例えば上述したθ＝０°とθ＝３０°の間に位置するθ＝１０°の場合においては、基準位置を１／２に間引くことで、後端電極２２の座標を十分正しく導出することが可能になる。

【0073】

図１２（ａ）及び図１２（ｂ）はそれぞれ、パネル面１２ａ上でθ＝０°を維持しつつペン２の先端を摺動させた場合における後端電極２２の位置の軌跡を示す図である。図１２（ａ）には、本発明を適用しない比較例を示し、図１２（ｂ）には、本発明を適用した実施例を示している。ただし、図１２（ｂ）の実施例においては、第２のスキャンにおいて２つおきに基準位置を選択するようにセンサコントローラ３１を構成した。

【0074】

図１２（ａ）から理解されるように、本発明を適用しない比較例においては、後端電極２２の位置の軌跡に大きなジッターが現れてしまっている。これは、図９（ａ）に示した例のように各基準位置の信号レベルにより表される曲線の上端がフラットになり、最小二乗法により求める近似曲線（２次関数）の頂点の位置が不安定になったことを表している。

【0075】

これに対し、本発明を適用した実施例においては、図１２（ｂ）から理解されるように、ジッターがほとんど見られなくなっている。この結果から、本発明によれば、後端電極２２のから送信される位置信号に基づいて検出される座標の検出精度を向上できることが理解される。

【0076】

以上、本発明の好ましい実施の形態について説明したが、本発明はこうした実施の形態に何等限定されるものではなく、本発明が、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施され得ることは勿論である。

【0077】

図１３は、上記実施の形態の変形例によるセンサコントローラ３１がローカルスキャン時に実行するダウンリンク信号ＤＳの受信処理を示す処理フロー図である。本変形例によるセンサコントローラ３１は、ペン２の電極ごとに、前回の信号レベルの検出結果に基づいて第１のスキャンと第２のスキャンのいずれを行うかを選択するように構成される。以下、図１３を参照しながら詳しく説明する。

【0078】

本変形例によるセンサコントローラ３１はまず、ペン２の電極ごとに設けられるブール型変数である移行フラグに偽（Ｆａｌｓｅ）を設定する（ステップＳ４０）。続いてセンサコントローラ３１は、ペン２の電極ごとにステップＳ４２～Ｓ５１の処理を実行する（ステップＳ４１）。

【0079】

具体的に説明すると、センサコントローラ３１はまず、注目電極の受信タイミングが到来したか否かを判定する（ステップＳ４２）。そして、到来していないと判定した場合には次の電極に処理を移す一方、到来したと判定した場合には、注目電極の移行フラグの値を判定する（ステップＳ４３）。その結果、偽（Ｆａｌｓｅ）であると判定した場合には第１のスキャンを実行し（ステップＳ４４）、真（Ｔｒｕｅ）であると判定した場合には第２のスキャンを実行する（ステップＳ４７）。第１のスキャン及び第２のスキャンの具体的な内容は、図４を参照して説明したとおりである。

【0080】

ステップＳ４４において第１のスキャンを実行したセンサコントローラ３１は、検出した信号レベルのうちの最大のもの（ピークレベル）と、他の信号レベルとの差が所定値以下であるか否かを判定する（ステップＳ４５）。そして、所定値以下であると判定した場合にのみ注目電極の移行フラグに真（Ｔｒｕｅ）を設定したうえで、ステップＳ４８に処理を移す。

【0081】

ステップＳ４７において第２のスキャンを実行したセンサコントローラ３１、又は、ステップＳ４５，Ｓ４６の処理を終了したセンサコントローラ３１は、ステップＳ４４又はステップＳ４７で検出された信号レベルに基づき、注目電極の位置を示す座標を導出する（ステップＳ４８）。この導出の具体的な方法は、図３のステップＳ４，Ｓ７等と同様でよい。ステップＳ４８の後、センサコントローラ３１は、その他の処理を実行する（ステップＳ４９）。その他の処理の具体的な内容は注目電極の書類によって異なるが、例えば、図８に示したステップＳ２５，Ｓ２６又はステップＳ３４，Ｓ３５の処理である。

【0082】

次にセンサコントローラ３１は、注目電極の移行フラグの値を再度判定する（ステップＳ５０）。その結果、偽（Ｆａｌｓｅ）であると判定した場合には次の電極に処理を移す一方、真（Ｔｒｕｅ）であると判定した場合には、注目電極の移行フラグを偽（Ｆａｌｓｅ）に戻す要因が発生したか否かを判定する（ステップＳ５１）。この要因は、例えば注目電極が先端電極２１であれば、ペン２から受信される筆圧の値が０より大きい値になったこと（すなわち、先端電極２１がコンタクト中になったこと）でよく、例えば注目電極が後端電極２２であれば、導出されるペン２の傾きθが所定値以上になったことでよい。センサコントローラ３１は、ステップＳ５１で戻し要因が発生したと判定した場合にのみ注目電極の移行フラグに偽（Ｆａｌｓｅ）を設定したうえで、次の電極に処理を移す。

【0083】

以上説明したように、本変形例によるタッチパッド１２によれば、ピークレベルと他の信号レベルとの差が所定値以下となっている電極について、スキャン方法を第１のスキャンから第２のスキャンに変更することが可能になる。したがって、各基準位置の信号レベルにより表される曲線の上端がフラットになっている電極から送信される位置信号をより広い範囲で捉えることが可能になるので、本変形例によるタッチパッド１２によっても、パネル面１２ａに接触している電極の座標検出精度の向上と、パネル面１２ａに接触していない電極の座標検出精度の向上とを両立することが可能になる。

【0084】

なお、上記変形例では、ピークレベルと他の信号レベルとの差が所定値以下となっている電極のスキャン方法を第１のスキャンから第２のスキャンに変更する例を説明したが、その他の方法により特定の電極のスキャン方法を第１のスキャンから第２のスキャンに変更することとしてもよい。例えば、前回検出された傾きθの値が所定値以下であった場合に、後端電極２２のスキャン方法を第１のスキャンから第２のスキャンに変更することとしてもよい。

【符号の説明】

【0085】

１ 電子機器
２ ペン
３ コンピュータ
１０ ディスプレイ
１１ キーボード
１２ タッチパッド
１２ａ パネル面
２０ 芯
２１ 先端電極
２２ 後端電極
２３ 筆圧検出センサ
２４ 回路部
２５ 電源
３０ センサ
３０Ｘ，３０Ｙ センサ電極
３１ センサコントローラ
３２ ホストプロセッサ
ＤＳ ダウンリンク信号
Ｐ ピッチ
ＵＳ アップリンク信号

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】