特開 2024-18301 半導体装置及び電子機器

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024018301

(43)【公開日】2024-02-08

(54)【発明の名称】半導体装置及び電子機器

(51)【国際特許分類】

   H03M 7/36 20060101AFI20240201BHJP

   H04R 3/00 20060101ALI20240201BHJP

   G01R 31/28 20060101ALI20240201BHJP

【ＦＩ】

H03M7/36

H04R3/00 310

G01R31/28 V

【審査請求】未請求

【請求項の数】8

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022121541

(22)【出願日】2022-07-29

(71)【出願人】

【識別番号】000002369

【氏名又は名称】セイコーエプソン株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100090387

【弁理士】

【氏名又は名称】布施 行夫

(74)【代理人】

【識別番号】100090398

【弁理士】

【氏名又は名称】大渕 美千栄

(74)【代理人】

【識別番号】100148323

【弁理士】

【氏名又は名称】川▲崎▼ 通

(74)【代理人】

【識別番号】100168860

【弁理士】

【氏名又は名称】松本 充史

(72)【発明者】

【氏名】片山 貴夫

(72)【発明者】

【氏名】福澤 晃弘

(72)【発明者】

【氏名】倍賞 文仁

(72)【発明者】

【氏名】野中 勉

【テーマコード（参考）】

2G132

5D220

5J064

【Ｆターム（参考）】

2G132AA01

2G132AC03

2G132AD15

2G132AK07

5D220AA50

5J064BA03

5J064BC12

(57)【要約】

【課題】比較的小さいサイズの回路によって、音源を再生する回路を検査することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】第１の音源信号が入力され、前記第１の音源信号に基づく信号をシグマデルタ変調して第１のシグマデルタ変調信号を出力する第１の変調回路と、前記第１のシグマデルタ変調信号に基づく信号をパルス幅変調して第１のパルス幅変調信号を出力する第２の変調回路と、前記第１の変調回路を検査する第１の変調検査回路と、前記第２の変調回路を検査する第２の変調検査回路と、を備え、前記第１の変調検査回路と前記第２の変調検査回路とが分離されている、半導体装置。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１の音源信号が入力され、前記第１の音源信号に基づく信号をシグマデルタ変調して第１のシグマデルタ変調信号を出力する第１の変調回路と、
前記第１のシグマデルタ変調信号に基づく信号をパルス幅変調して第１のパルス幅変調信号を出力する第２の変調回路と、
前記第１の変調回路を検査する第１の変調検査回路と、
前記第２の変調回路を検査する第２の変調検査回路と、
を備え、
前記第１の変調検査回路と前記第２の変調検査回路とが分離されている、半導体装置。

【請求項2】

請求項１において、
前記第１の変調回路は、前記第１の音源信号をデジタルフィルター処理した信号をシグマデルタ変調して前記第１のシグマデルタ変調信号を出力する、半導体装置。

【請求項3】

請求項２において、
前記第１の変調検査回路は、
検査モードにおいて、前記第１の音源信号に代えてインパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を前記第１の変調回路に入力し、前記第１の変調回路から出力される信号に基づいて前記第１の変調回路を検査する、半導体装置。

【請求項4】

請求項１において、
前記第２の変調検査回路は、所定周期で前記第１のパルス幅変調信号に基づく信号を積分した信号と前記第１のシグマデルタ変調信号とを比較して前記第２の変調回路を検査する、半導体装置。

【請求項5】

請求項１において、
前記第１のパルス幅変調信号を増幅した増幅信号を音再生装置に出力する増幅回路と、
前記増幅回路と前記音再生装置との接続を検査する接続検査回路と、
を備える、半導体装置。

【請求項6】

請求項５において、
前記接続検査回路は、
電源とグラウンドとの間に、前記音再生装置の内部抵抗と直列に接続される検査用の抵抗と、
前記検査用の抵抗と前記内部抵抗との接続ノードの電圧に応じて周波数が変化する電圧制御発振器と、
を含み、
前記電圧制御発振器から出力される発振信号に基づいて、前記増幅回路と前記音再生装置との接続を検査する、半導体装置。

【請求項7】

請求項１において、
第２の音源信号が入力され、前記第２の音源信号に基づく信号をシグマデルタ変調して第２のシグマデルタ変調信号を出力する第３の変調回路と、
前記第２のシグマデルタ変調信号に基づく信号をパルス幅変調して第２のパルス幅変調信号を出力する第４の変調回路と、
前記第４の変調回路を検査する第３の変調検査回路と、
を備え、
前記第１の変調検査回路と前記第２の変調検査回路と前記第３の変調検査回路とが分離されており、
前記第１の変調検査回路は、前記第１の変調回路及び前記第３の変調回路を検査する、半導体装置。

【請求項8】

請求項１に記載の半導体装置と、
音再生装置と、
を備え、
前記半導体装置は、前記第１のパルス幅変調信号を増幅した増幅信号を前記音再生装置に出力する増幅回路を備える、電子機器。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、半導体装置及び電子機器に関する。

【背景技術】

【0002】

特許文献１には、デジタル音情報を取得するシリアルオーディオインターフェイスと、デジタル音情報をアナログ音情報に変換するデジタルアナログコンバータと、増幅回路と、故障診断ユニットとを備え、故障診断ユニットでは、増幅回路から出力されるアナログ音情報を診断用デジタル音情報に変換し、診断用デジタル音情報とデジタル音情報とを比較して差分値を算出し、差分値が予め設定された閾値を超えるときに、故障状態にある故障信号が出力される、音出力装置が記載されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０２０－２２０５５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

特許文献１に記載の音出力装置は、故障診断ユニットにアナログ音情報を診断用デジタル音情報に変換するためのＡ／Ｄ変換器を必要とするため、回路規模が大きくなる。

【課題を解決するための手段】

【0005】

本発明に係る半導体装置の一態様は、
第１の音源信号が入力され、前記第１の音源信号に基づく信号をシグマデルタ変調して第１のシグマデルタ変調信号を出力する第１の変調回路と、
前記第１のシグマデルタ変調信号に基づく信号をパルス幅変調して第１のパルス幅変調信号を出力する第２の変調回路と、
前記第１の変調回路を検査する第１の変調検査回路と、
前記第２の変調回路を検査する第２の変調検査回路と、
を備え、
前記第１の変調検査回路と前記第２の変調検査回路とが分離されている。

【0006】

本発明に係る電子機器の一態様は、
前記半導体装置の一態様と、
音再生装置と、
を備え、
前記半導体装置は、前記第１のパルス幅変調信号を増幅した増幅信号を前記音再生装置に出力する増幅回路を備える。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】第１実施形態の半導体装置の構成例を示す図。

【図2】パルス幅変調信号ＤＯＰを生成するためのパルス幅変調の一例を示す図。

【図3】パルス幅変調信号ＤＯＮを生成するためのパルス幅変調の一例を示す図。

【図4】パルス幅変調信号ＤＯＰとパルス幅変調信号ＤＯＮとの差分の一例を示す図。

【図5】テスト信号、シグマデルタ変調信号及び期待値信号の一例を示す図。

【図6】テスト信号、シグマデルタ変調信号及び期待値信号の他の一例を示す図。

【図7】２値化回路の動作について説明するための図。

【図8】変換回路の動作について説明するための図。

【図9】第２実施形態の半導体装置の構成例を示す図。

【図10】接続検査回路の構成例を示す図。

【図11】電圧制御発振器の構成例を示す図。

【図12】第３実施形態の半導体装置の構成例を示す図。

【図13】パルス幅変調信号ＤＯＮを生成するためのパルス幅変調の他の一例を示す図。

【図14】パルス幅変調信号ＤＯＰとパルス幅変調信号ＤＯＮとの差分の他の一例を示す図。

【図15】本実施形態の電子機器の機能ブロック図。

【図16】電子機器の一例である警告装置の構成例を示す図。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。

【0009】

１．半導体装置
１－１．第１実施形態
図１は、第１実施形態の半導体装置の構成例を示す図である。図１に示すように、第１実施形態の半導体装置１は、通信インターフェース回路１０、メモリー２０、スイッチ８０、音源再生回路１００及び検査回路１１０を備える。半導体装置１は、１チップの半導体集積回路装置であってもよいし、複数チップの半導体集積回路装置で構成されてもよいし、少なくとも一部が半導体集積回路装置以外の電子部品で構成されてもよい。

【0010】

メモリー２０には、ｎ個の音源データ２１－１～２１－ｎが記憶されている。ｎは１以上の整数である。メモリー２０は、例えば、フラッシュメモリーであってもよい。音源データ２１－１～２１－ｎは、それぞれ、例えば、パルス符号変調された音声データであってもよいし、適応的差分パルス符号変調された音声データであってもよい。音源データ２１－１～２１－ｎは、例えば、人が発話する際の声を模した音声、機械的な警告音や効果音等の各種の音の基となるデータであってもよい。

【0011】

通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２とデータ通信を行う回路である。通信インターフェース回路１０は、例えば、ＳＰＩインターフェース回路であってもよいし、Ｉ２Ｃインターフェース回路であってもよい。ＳＰＩはSerial Peripheral Interfaceの略であり、Ｉ２ＣはInter-Integrated Circuitの略である。

【0012】

通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２から送信された各種のコマンドを受信し、受信したコマンドに応じた各種の制御信号を生成する。例えば、通信インターフェース回路１０は、メモリー２０に記憶されている音源データ２１－１～２１－ｎのうちのいずれか１つである音源データ２１－ｉに対する音源再生コマンドを受信した場合、メモリー２０から音源データ２１－ｉを読み出して音源信号ＤＩとして音源再生回路１００に入力するとともに、音源再生回路１００に再生を指示する。また、例えば、通信インターフェース回路１０は、再生中の音源データ２１－ｉに対する音源停止コマンドを受信した場合、音源再生回路１００に再生の停止を指示する。また、例えば、通信インターフェース回路１０は、音源再生に関する各種の設定コマンドを受信した場合、音源再生回路１００に対して各種の設定を行う。また、例えば、通信インターフェース回路１０は、半導体装置１の動作モードの設定コマンドを受信した場合、半導体装置１を当該コマンドで指定された動作モードに設定する。半導体装置１は、通常動作モード及び検査モードを含む複数の動作モードを有する。

【0013】

スイッチ８０は、通信インターフェース回路１０から出力される制御信号に応じて、音源信号ＤＩとテスト信号ＴＳのいずれか一方を音源再生回路１００に出力する。具体的には、音源再生回路１００には、通常動作モードでは音源信号ＤＩが入力され、検査モードではテスト信号ＴＳが入力される。

【0014】

本実施形態では、音源再生回路１００に入力される音源信号ＤＩはパルス符号変調信号である。音源データ２１－１～２１－ｎが圧縮された音声データである場合や適応的差分パルス符号変調された音声データである場合は、再生対象の音源データ２１－ｉは不図示のデコーダーによってパルス符号変調信号である音源信号ＤＩに変換される。

【0015】

音源再生回路１００は、音源信号ＤＩを音信号である増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮに変換し、半導体装置１と接続される音再生装置３に出力する。これにより、音再生装置３から、増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮに応じた音が出力される。例えば、音再生装置３は、スピーカーであってもよいし、ブザーであってもよい。なお、音再生装置３から出力される音声は、例えば、人が発話する際の声を模した音声であってもよいし、機械的な警告音や効果音等の各種の音であってもよい。

【0016】

図１に示すように、本実施形態では、音源再生回路１００は、変調回路３０、変調回路４０及び増幅回路５０を含む。

【0017】

変調回路３０は、音源信号ＤＩが入力され、音源信号ＤＩに基づく信号をシグマデルタ変調してシグマデルタ変調信号ＤＳを出力する。音源信号ＤＩに基づく信号は、音源信号ＤＩそのものであってもよいし、音源信号ＤＩに何らかの処理が施された信号であってもよい。本実施形態では、変調回路３０は、デジタルフィルター３１及びシグマデルタ変調回路３２を含む。

【0018】

デジタルフィルター３１は、音源信号ＤＩが入力され、音源信号ＤＩに含まれる高周波ノイズを低減させた信号ＤＦを出力するローパスフィルターである。シグマデルタ変調回路３２は、デジタルフィルター３１から信号ＤＦが入力され、信号ＤＦをｎ倍のサンプリング比でオーバーサンプリングしてシグマデルタ変調することにより、高周波数帯にノイズが偏ったシグマデルタ変調信号ＤＳを出力する。ｎは２以上の整数である。したがって、音源信号ＤＩのサンプリング周波数をｆｓとすると、デジタルフィルター３１から出力される信号ＤＦのサンプリング周波数はｆｓであり、シグマデルタ変調信号ＤＳのサンプリング周波数はｎ×ｆｓである。デジタルフィルター３１は、シグマデルタ変調回路３２のオーバーサンプリングによって信号帯域に折り返される高周波ノイズを低減させるアンチエイリアスフィルターとして機能する。

【0019】

このように、変調回路３０は、音源信号ＤＩをデジタルフィルター処理した信号をシグマデルタ変調してシグマデルタ変調信号ＤＳを出力する。

【0020】

変調回路４０は、シグマデルタ変調信号ＤＳが入力され、シグマデルタ変調信号ＤＳに基づく信号をパルス幅変調してパルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮを出力する。シグマデルタ変調信号ＤＳに基づく信号は、シグマデルタ変調信号ＤＳそのものであってもよいし、シグマデルタ変調信号ＤＳに何らかの処理が施された信号であってもよい。本実施形態では、変調回路４０は、パルス幅変調回路４１を含む。

【0021】

パルス幅変調回路４１は、音源信号ＤＩに基づく信号であるシグマデルタ変調信号ＤＳをパルス幅変調してパルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮを出力する。パルス幅変調信号ＤＯＰ．ＤＯＮは、それぞれ１ビットのデジタル信号である。シグマデルタ変調信号ＤＳのサ
ンプリング周波数をｎ×ｆｓとすると、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮのサンプリング周波数はｎ×ｍ×ｆｓである。ここで、シグマデルタ変調信号ＤＳのビット数をＭとするとｍ＝２^Ｍである。

【0022】

パルス幅変調信号ＤＯＰを生成するためのパルス幅変調とパルス幅変調信号ＤＯＮを生成するためのパルス幅変調とは、方式が異なる。図２は、パルス幅変調信号ＤＯＰを生成するためのパルス幅変調の一例を示す図である。また、図３は、パルス幅変調信号ＤＯＮを生成するためのパルス幅変調の一例を示す図である。図２及び図３は、シグマデルタ変調信号ＤＳのビット数Ｍが４の場合の例である。図２及び図３において、シグマデルタ変調信号ＤＳは期間Ｔを周期として更新され、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮは、期間Ｔが分割された１６個の区間Ｔ１～Ｔ１６の各々においてハイレベル又はローレベルとなる。すなわち、期間Ｔの長さは１／（ｎ×ｆｓ）であり、区間Ｔ１～Ｔ１６の各々の長さは１／（ｎ×ｍ×ｆｓ）である。

【0023】

図２に示すように、パルス幅変調信号ＤＯＰは、シグマデルタ変調信号ＤＳの値が大きいほどハイレベルの時間が長くなる。例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「－７」、すなわち２進数の「１００１」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＰは、１つの区間Ｔ１がハイレベルであり、１５個の区間Ｔ２～Ｔ１６がローレベルである。また、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「０」、すなわち２進数の「００００」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＰは、８個の区間Ｔ１～Ｔ８がハイレベルであり、８個の区間Ｔ９～Ｔ１６がローレベルである。また、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「７」、すなわち２進数の「０１１１」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＰは、１５個の区間Ｔ１～Ｔ１５がハイレベルであり、１つの区間Ｔ１６がローレベルである。

【0024】

図３に示すように、パルス幅変調信号ＤＯＮは、シグマデルタ変調信号ＤＳの値が大きいほどハイレベルの時間が短くなる。例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「－７」、すなわち２進数の「１００１」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＮは、１５個の区間Ｔ１～Ｔ１５がハイレベルであり、１つの区間Ｔ１６がローレベルである。また、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「０」、すなわち２進数の「００００」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＮは、８個の区間Ｔ１～Ｔ８がハイレベルであり、８個の区間Ｔ９～Ｔ１６がローレベルである。また、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「７」、すなわち２進数の「０１１１」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＮは、１つの区間Ｔ１がハイレベルであり、１５個の区間Ｔ２～Ｔ１６がローレベルである。

【0025】

したがって、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「－７」、「０」、「７」であるときのパルス幅変調信号ＤＯＰとパルス幅変調信号ＤＯＮとの差分は図４に示すようになる。

【0026】

図１の説明に戻り、増幅回路５０は、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮが入力され、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮを増幅した増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮを音再生装置３に出力する。本実施形態では、増幅回路５０は、２つのＤ級アンプ５１Ｐ，５１Ｎを含む。Ｄ級アンプ５１Ｐは、パルス幅変調信号ＤＯＰをＤ級増幅した増幅信号ＤＯＸＰを出力する。Ｄ級アンプ５１Ｎは、パルス幅変調信号ＤＯＮをＤ級増幅した増幅信号ＤＯＸＮを出力する。音再生装置３は、増幅信号ＤＯＸＰと増幅信号ＤＯＸＮとの電圧差に応じた大きさの音を再生する。

【0027】

なお、増幅回路５０は、通常動作モードにおいて増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮを音再生装置３に出力するが、検査モードでは音再生装置３が音を発生させないように増幅信号Ｄ
ＯＸＰ，ＤＯＸＮの出力を停止する。

【0028】

検査回路１１０は、音源再生回路１００を検査する回路である。図１に示すように、本実施形態では、検査回路１１０は、変調検査回路６０及び変調検査回路７０を含む。

【0029】

変調検査回路６０は、検査モードにおいて変調回路３０を検査する。本実施形態では、変調検査回路６０は、テスト信号生成回路６１及び比較回路６２を含む。

【0030】

テスト信号生成回路６１は、テスト信号ＴＳとしてインパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を生成し、スイッチ８０を介して変調回路３０のデジタルフィルター３１にテスト信号ＴＳを入力する。したがって、変調回路３０は、検査モードにおいて、デジタルフィルター３１及びシグマデルタ変調回路３２によって、テスト信号ＴＳをシグマデルタ変調したシグマデルタ変調信号ＤＳを出力する。

【0031】

比較回路６２は、このシグマデルタ変調信号ＤＳを期待値信号ＤＥと比較する。変調回路３０の処理はすべてデジタル処理であるので、テスト信号ＴＳに対して生成されるシグマデルタ変調信号ＤＳのデジタル値や遅延時間が変動することはない。したがって、図５及び図６に示すように、変調回路３０が正常であれば、シグマデルタ変調信号ＤＳは、シミュレーション等によってあらかじめ生成された期待値信号ＤＥと正確に一致する。なお、図５はテスト信号ＴＳがインパルス信号である場合の例であり、図６はテスト信号ＴＳがステップ信号である場合の例である。比較回路６２は、シグマデルタ変調信号ＤＳを期待値信号ＤＥと比較し、両者が一致しているか否かを示すフラグ信号ＦＬ１を生成する。

【0032】

このように、変調検査回路６０は、検査モードにおいて、音源信号ＤＩに代えてインパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を変調回路３０に入力し、変調回路３０から出力される信号に基づいて変調回路３０を検査する。

【0033】

通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２からフラグ信号ＦＬ１を読み出すコマンドを受信すると、変調検査回路６０からフラグ信号ＦＬ１を取得してマイクロコントロールユニット２に送信する。例えば、マイクロコントロールユニット２は、フラグ信号ＦＬ１に基づいて、変調回路３０の故障の有無を判定することができる。

【0034】

なお、音再生装置３がテスト信号ＴＳに応じた異常な音を発生させないように、前述の通り、検査モードでは、増幅回路５０は増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮの出力を停止する。

【0035】

変調検査回路７０は、検査モードにおいて変調回路４０を検査する。さらに、変調検査回路７０は、検査モードにおいて増幅回路５０も検査する。本実施形態では、変調検査回路７０は、２つの２値化回路７１Ｐ，７１Ｎ、変換回路７２及び比較回路７３を含む。

【0036】

２値化回路７１Ｐは、増幅信号ＤＯＸＰを２値化することによってパルス幅変調信号ＤＢＰを生成する。２値化回路７１Ｎは、増幅信号ＤＯＸＮを２値化することによってパルス幅変調信号ＤＢＮを生成する。

【0037】

図７に示すように、増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮは、立ち上がりエッジにオーバーシュートが発生し、立ち下がりエッジにアンダーシュートが発生する。２値化回路７１Ｐは、例えば、増幅信号ＤＯＸＰの電圧を閾値電圧Ｖｔと比較する比較器であり、増幅信号ＤＯＸＰの電圧が閾値電圧Ｖｔよりも高いときはハイレベルとなり、増幅信号ＤＯＸＰの電圧が閾値電圧Ｖｔよりも低いときはローレベルとなるパルス幅変調信号ＤＢＰを出力する。同様に、２値化回路７１Ｎは、例えば、増幅信号ＤＯＸＮの電圧を閾値電圧Ｖｔと比較す
る比較器であり、増幅信号ＤＯＸＮの電圧が閾値電圧Ｖｔよりも高いときはハイレベルとなり、増幅信号ＤＯＸＮの電圧が閾値電圧Ｖｔよりも低いときはローレベルとなるパルス幅変調信号ＤＢＮを出力する。２値化回路７１Ｐ，７１Ｎにより、増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮのオーバーシュートやアンダーシュートが除去されるとともにハイレベルがロジック回路の電源電圧にシフトされたパルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮが得られる。

【0038】

図１の説明に戻り、変換回路７２は、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮに基づくパルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮが入力され、パルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮをパルス符号変調信号ＤＸに変換する。

【0039】

具体的には、変換回路７２は、周波数がｎ×ｆｓの不図示のクロック信号ＣＬＫ１と周波数がｎ×ｍ×ｆｓの不図示のクロック信号ＣＬＫ２とに基づいて、パルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮをパルス符号変調信号ＤＸに変換する。具体的には、図８に示すように、変換回路７２は、クロック信号ＣＬＫ１の１周期Ｔａにおいて、パルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮの各々のハイレベルをクロック信号ＣＬＫ２でカウントする。すなわち、変換回路７２は、周期Ｔａでパルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮの各々を積算する。そして、変換回路７２は、パルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮの各々の積算値に基づいてパルス符号変調信号ＤＸを生成する。パルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮからパルス符号変調信号ＤＸへの変換は、シグマデルタ変調信号ＤＳからパルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮへの変換の逆変換に相当する。このように、変換回路７２は、所定周期でパルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮを積分してパルス符号変調信号ＤＸを生成する。

【0040】

比較回路７３は、パルス符号変調信号であるシグマデルタ変調信号ＤＳとパルス符号変調信号ＤＸとが入力され、シグマデルタ変調信号ＤＳとパルス符号変調信号ＤＸとを比較する。実際には、シグマデルタ変調信号ＤＳが変調回路４０に入力されてから、このシグマデルタ変調信号ＤＳに対応するパルス符号変調信号ＤＸが生成されるまでに所定時間が必要であるので、比較回路７３は、シグマデルタ変調信号ＤＳを当該所定時間だけ遅延させてパルス符号変調信号ＤＸと比較する。そして、比較回路７３は、シグマデルタ変調信号ＤＳとパルス符号変調信号ＤＸとが一致しているか否かを示すフラグ信号ＦＬ２を生成する。

【0041】

このように、変調検査回路７０は、検査モードにおいて、所定周期でパルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮを積分した信号であるパルス符号変調信号ＤＸとシグマデルタ変調信号ＤＳとを比較して変調回路４０を検査する。なお、変調検査回路７０は、通常モードにおいて音再生装置３が音源信号ＤＩに応じた音を再生しているときも変調回路４０を検査することができる。

【0042】

通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２からフラグ信号ＦＬ２を読み出すコマンドを受信すると、変調検査回路７０からフラグ信号ＦＬ２を取得してマイクロコントロールユニット２に送信する。例えば、マイクロコントロールユニット２は、フラグ信号ＦＬ２に基づいて、変調回路４０の故障の有無を判定することができる。

【0043】

図１に示すように、本実施形態では、変調検査回路６０と変調検査回路７０とが分離されている。すなわち、変調検査回路６０は、変調回路３０の検査に特化した回路であり、変調回路４０の検査を行わない。同様に、変調検査回路７０は、変調回路４０の検査に特化した回路であり、変調回路３０の検査を行わない。そのため、マイクロコントロールユニット２は、変調検査回路６０が生成したフラグ信号ＦＬ１によって変調回路３０の故障の有無を判定し、変調検査回路７０が生成したフラグ信号ＦＬ２によって変調回路４０の故障の有無を判定することができる。

【0044】

なお、第１実施形態において、音源信号ＤＩは「第１の音源信号」の一例であり、シグマデルタ変調信号ＤＳは「第１のシグマデルタ変調信号」の一例であり、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮは「第１のパルス幅変調信号」の一例である。また、変調回路３０は「第１の変調回路」の一例であり、変調回路４０は「第２の変調回路」の一例である。また、変調検査回路６０は「第１の変調検査回路」の一例であり、変調検査回路７０は「第２の変調検査回路」の一例である。

【0045】

第１実施形態の半導体装置１は、１つの音再生装置３に音を出力させることが可能な構成であるが、複数の音出力装置に音を出力させることが可能な構成であってもよい。

【0046】

以上に説明したように、第１実施形態の半導体装置１では、変調回路３０はデジタル信号処理により音源信号ＤＩをシグマデルタ変調信号ＤＳに変調するので、変調検査回路６０はデジタル処理により変調回路３０を検査することができる。また、変調回路４０はデジタル信号処理によりシグマデルタ変調信号ＤＳをパルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮに変調し、増幅回路５０はパルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮを増幅したデジタル信号である増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮを出力するので、変調検査回路７０はデジタル処理により変調回路４０及び増幅回路５０を検査することができる。したがって、第１実施形態の半導体装置１によれば、変調検査回路６０及び変調検査回路７０においてＡ／Ｄ変換器を必要とせず、比較的小さいサイズの検査回路１１０によって、変調回路３０、変調回路４０及び増幅回路５０を含む音源再生回路１００を検査することができる。

【0047】

また、第１実施形態の半導体装置１では、変調検査回路６０と変調検査回路７０とが分離されているので、変調検査回路６０による変調回路３０の検査と、変調検査回路７０による変調回路４０の検査とが互いに独立して行われる。したがって、マイクロコントロールユニット２は、変調検査回路６０から出力されるフラグ信号ＦＬ１に基づいての変調回路３０の故障検出を行うことができるとともに、変調検査回路７０から出力されるフラグ信号ＦＬ２に基づいて変調回路４０の故障検出を行うことができる。

【0048】

また、第１実施形態の半導体装置１では、変調検査回路６０は、インパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を変調回路３０に入力したときに変調回路３０から出力されるシグマデルタ変調信号ＤＳに基づいて、デジタルフィルター３１を含む変調回路３０の検査を精度良く行うことができる。

【0049】

また、第１実施形態の半導体装置１では、変調検査回路７０において、２値化回路７１Ｐ，７１Ｎは、パルス幅変調された増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮに生じるオーバーシュートやアンダーシュートを除去するものであり、増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮからパルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮへの変換において有益な情報の欠落は生じない。また、変調検査回路７０において、変換回路７２は、所定周期でパルス幅変調信号ＤＢＰ，ＤＢＮを積分することにより、情報を欠落させることなくパルス符号変調信号ＤＸに変換することができる。したがって、変調検査回路７０において、比較回路７３は、シグマデルタ変調信号ＤＳと情報の欠落がないパルス符号変調信号ＤＸとを比較することにより、変調回路４０を精度良く検査することができる。

【0050】

１－２．第２実施形態
以下、第２実施形態の半導体装置１について、第１実施形態と同様の構成については同じ符号を付し、第１実施形態と同様の説明は省略又は簡略し、主として第１実施形態と異なる内容について説明する。

【0051】

図９は、第２実施形態の半導体装置１の構成例を示す図である。図９に示すように、第
２実施形態の半導体装置１は、図１に示した第１実施形態の半導体装置１と比較して、検査回路１１０が接続検査回路９０を含む点が異なる。接続検査回路９０は、増幅回路５０と音再生装置３との間に設けられ、検査モードにおいて、増幅回路５０と音再生装置３との接続を検査する。前述の通り、検査モードでは、音再生装置３が異常な音を発生させないように、増幅回路５０は増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮの出力を停止する。

【0052】

図１０は、接続検査回路９０の構成例を示す図である。図１０の例では、接続検査回路９０は、２つの抵抗９１，９２、３つのスイッチ９３，９４，９５、電圧制御発振器９６、カウンター９７及び比較回路９８を含む。図１０において、抵抗２００は、音再生装置３の内部抵抗である。

【0053】

図１０に示すように、増幅回路５０が増幅信号ＤＯＸＰを出力する出力端子は、配線Ｗ１によって抵抗２００の一端と電気的に接続されている。また、増幅回路５０が増幅信号ＤＯＸＮを出力する出力端子は、配線Ｗ２によって抵抗２００の他端と電気的に接続されている。

【0054】

抵抗９１の一端はスイッチ９３の一端と接続され、抵抗９１の他端は抵抗２００の一端と接続されている。スイッチ９３の他端には、電源電圧ＶＤＤが供給される。抵抗９２の一端は抵抗２００の他端と接続され、抵抗９２の他端はスイッチ９４の一端と接続されている。スイッチ９４の他端には、グラウンド電圧ＶＳＳが供給される。抵抗９１，９２は、電源とグラウンドとの間に、音再生装置３の内部抵抗である抵抗２００と直列に接続される検査用の抵抗である。

【0055】

スイッチ９３，９４は、通常動作モードではともに非導通状態となり、検査モードではともに非導通状態となる。したがって、検査モードでは、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が正常である場合、電源から抵抗９１、抵抗２００及び抵抗９２を介してグラウンドへと電流が流れる。そのため、抵抗９１の他端と抵抗２００の一端とが接続されているノードＮ１の電圧Ｖ１は、式（１）のようになる。また、抵抗２００の他端と抵抗９２の一端とが接続されているノードＮ２の電圧Ｖ２は、式（２）のようになる。

【0056】

【数1】

【0057】

【数2】

【0058】

一方、配線Ｗ１又は配線Ｗ２が断線している場合、Ｖ１＝ＶＤＤ，Ｖ２＝ＶＳＳとなる。また、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が地絡している場合、Ｖ１＝Ｖ２＝ＶＳＳとなる。また、配線Ｗ１と配線Ｗ２とが短絡している場合、Ｖ１＝Ｖ２＝（ＶＤＤ－ＶＳＳ）／２となる。

【0059】

ここで、音再生装置３の内部抵抗２００の値Ｒ１は数Ω程度であり、検査モードにおいて、抵抗９１，２００，９２を流れる電流を１ｍＡ以下に抑えるためには、抵抗９１の値Ｒ２及び抵抗９２の値Ｒ３はそれぞれ数ｋΩとする必要がある。例えば、Ｒ１＝８Ω，Ｒ２Ｒ３＝４ｋΩであれば、抵抗９１，２００，９２を流れる電流は１ｍＡよりも小さくなる。この場合、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が正常である場合は、式（１）よりＶ１＝（４００
８／８００８）×（ＶＤＤ－ＶＳＳ）であり、式（２）よりＶ２＝（４０００／８００８）×（ＶＤＤ－ＶＳＳ）である。一方、配線Ｗ１と配線Ｗ２とが短絡している場合は、Ｖ１＝Ｖ２＝（ＶＤＤ－ＶＳＳ）／２である。したがって、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が正常である場合と配線Ｗ１と配線Ｗ２とが短絡しているある場合との電圧Ｖ１，Ｖ２のそれぞれの差は１ｍＶ程度になり、電圧Ｖ１，Ｖ２の測定分解能として１ｍＶ程度が必要となる。Ａ／Ｄ変換器によってこの測定分解能を実現しようとすると、１０ビット以上が必要となり、接続検査回路９０の回路面積が大幅に増加してしまう。そこで、本実施形態では、電圧制御発振器９６とカウンター９７とを用いて電圧Ｖ１，Ｖ２を測定することで、接続検査回路９０の回路面積の増加量を低減させる。

【0060】

図１１は、電圧制御発振器９６の構成例を示す図である。図１１の例では、電圧制御発振器９６は、ｎ個の論理反転回路１２１－１～１２１－ｎ、ｎ個の容量１２２－１～１２２－ｎ、ｎ個のＰＭＯＳトランジスター１２３－１～１２３－ｎ、ＰＭＯＳトランジスター１２４、抵抗１２５及び演算増幅器１２６を含む。ｎは１以上の奇数である。

【0061】

図１１の例では、論理反転回路１２１－ｊの出力端子と論理反転回路１２１－（ｊ＋１）の入力端子とが接続され、論理反転回路１２１－１の入力端子と論理反転回路１２１－ｎの出力端子とが接続されている。ｊは１以上ｎ以下の各整数である。また、論理反転回路１２１－ｊの電源端子とＰＭＯＳトランジスター１２３－ｊのドレインとが接続されており、論理反転回路１２１－ｊの出力端子とグラウンドとの間には、容量１２２－ｊが接続されている。このように、ｎ個の論理反転回路１２１－１～１２１－ｎは直列にされて発振ループを構成し、論理反転回路１２１－ｎの出力信号が発振信号Ｓｏとして電圧制御発振器９６から出力される。

【0062】

ＰＭＯＳトランジスター１２３－１～１２３－ｎ，１２４の各ソースには電源と接続され、ＰＭＯＳトランジスター１２３－１～１２３－ｎ，１２４の各ゲートは、演算増幅器１２６の出力端子と接続されている。したがって、ＰＭＯＳトランジスター１２３－１～１２３－ｎ，１２４は、ゲート－ソース間電圧が等しいのでソース－ドレイン間に同じ電流Ｉが流れる。

【0063】

ＰＭＯＳトランジスター１２４のドレインと抵抗１２５の一端と演算増幅器１２６の非反転入力端子とが接続され、抵抗１２５の他端はグラウンドと接続されている。演算増幅器１２６の反転入力端子には電圧制御発振器９６の入力電圧Ｖｉが印加される。

【0064】

このように構成されている電圧制御発振器９６では、演算増幅器１２６の非反転入力端子の電圧Ｖ’が演算増幅器１２６の反転入力端子に印加される入力電圧Ｖｉと一致するように電流Ｉが変化する。そして、電流Ｉが変化することにより、発振信号Ｓｏの周波数ｆｏが変化する。抵抗１２５の値をＲとし、容量１２２－１～１２２－ｎの値をともにＣｐとし、論理反転回路１２１－１～１２１－ｎの出力信号の中間電圧をともにＶｃｐとすると、発振信号Ｓｏの周波数ｆｏは式（３）で計算される。式（３）において、ｋは、半導体装置１の製造プロセスや電圧制御発振器９６の回路構成等によって決まる定数であり、例えば０．５程度である。 （３）より、入力電圧Ｖｉが高いほど、発振信号Ｓｏの周波数ｆｏが高くなる。

【0065】

【数3】

【0066】

図１０の説明に戻り、スイッチ９５の第１入力端子はノードＮ１と接続され、スイッチ
９５の第２入力端子はノードＮ２と接続され、スイッチ９５の出力端子は電圧制御発振器９６の入力端子と接続されている。

【0067】

検査モードにおいて、まず、スイッチ９５の第１入力端子と出力端子とが導通し、電圧制御発振器９６には、入力電圧ＶｉとしてノードＮ１の電圧Ｖ１が入力される。その結果、電圧制御発振器９６は、電圧Ｖ１に応じて周波数ｆ１で発振し、周波数ｆｏ＝ｆ１の発振信号Ｓｏを出力する。次に、スイッチ９５の第２入力端子と出力端子とが導通し、電圧制御発振器９６には、入力電圧ＶｉとしてノードＮ２の電圧Ｖ２が入力される。その結果、電圧制御発振器９６は、電圧Ｖ２に応じて周波数ｆ２で発振し、周波数ｆｏ＝ｆ２の発振信号Ｓｏを出力する。このように、電圧制御発振器９６は、抵抗９１と抵抗２００との接続ノードＮ１の電圧Ｖ１又は抵抗９２と抵抗２００との接続ノードＮ２の電圧Ｖ２に応じて周波数ｆｏが変化する。

【0068】

カウンター９７は、スイッチ９５の第１入力端子と出力端子とが導通しているときに、所定期間において、電圧制御発振器９６から出力される周波数ｆｏ＝ｆ１の発振信号Ｓｏのパルス数をカウントし、カウント値Ｃ１を保持する。また、カウンター９７は、スイッチ９５の第２入力端子と出力端子とが導通しているときに、所定期間において、電圧制御発振器９６から出力される周波数ｆｏ＝ｆ２の発振信号Ｓｏのパルス数をカウントし、カウント値Ｃ２を保持する。

【0069】

比較回路９８は、カウンター９７が保持するカウント値Ｃ１を基準値ＲＡ１，ＲＢ１，ＲＣ１，ＲＤ１と比較する。また、比較回路９８は、カウンター９７が保持するカウント値Ｃ２を基準値ＲＡ２，ＲＢ２，ＲＣ２，ＲＤ２と比較する。基準値ＲＡ１，ＲＡ２は、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が正常である場合の電圧Ｖ１，Ｖ２に対して期待されるカウンター９７のカウント値である。基準値ＲＢ１，ＲＢ２は、配線Ｗ１又は配線Ｗ２が断線している場合の電圧Ｖ１，Ｖ２に対して期待されるカウンター９７のカウント値である。基準値ＲＣ１，ＲＣ２は、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が地絡している場合の電圧Ｖ１，Ｖ２に対して期待されるカウンター９７のカウント値である。基準値ＲＤ１，ＲＤ２は、配線Ｗ１と配線Ｗ２とが短絡している場合の電圧Ｖ１，Ｖ２に対して期待されるカウンター９７のカウント値である。

【0070】

そして、比較回路９８は、カウント値Ｃ１と基準値ＲＡ１が一致し、かつ、カウント値Ｃ２と基準値ＲＡ２が一致する場合は、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が正常であることを示すフラグ信号ＦＬ３を生成する。また、比較回路９８は、カウント値Ｃ１と基準値ＲＢ１が一致し、かつ、カウント値Ｃ２と基準値ＲＢ２が一致する場合は、配線Ｗ１又は配線Ｗ２が断線していることを示すフラグ信号ＦＬ３を生成する。また、比較回路９８は、カウント値Ｃ１と基準値ＲＣ１が一致し、かつ、カウント値Ｃ２と基準値ＲＣ２が一致する場合は、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が地絡していることを示すフラグ信号ＦＬ３を生成する。また、比較回路９８は、カウント値Ｃ１と基準値ＲＤ１が一致し、かつ、カウント値Ｃ２と基準値ＲＤ２が一致する場合は、配線Ｗ１と配線Ｗ２とが短絡していることを示すフラグ信号ＦＬ３を生成する。

【0071】

このように、本実施形態では、接続検査回路９０は、電圧制御発振器９６から出力される発振信号Ｓｏに基づいて、増幅回路５０と音再生装置３との接続を検査する。

【0072】

図９に示すように、通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２からフラグ信号ＦＬ３を読み出すコマンドを受信すると、接続検査回路９０からフラグ信号ＦＬ３を取得してマイクロコントロールユニット２に送信する。例えば、マイクロコントロールユニット２は、フラグ信号ＦＬ３に基づいて、増幅回路５０と音再生装置３との接続状態を判定することができる。具体的には、マイクロコントロールユニット２は、
フラグ信号ＦＬ３に基づいて、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が正常であるか、配線Ｗ１又は配線Ｗ２が断線しているか、配線Ｗ１及び配線Ｗ２が地絡しているか、配線Ｗ１と配線Ｗ２とが短絡しているかを判定することができる。

【0073】

第２実施形態の半導体装置１のその他の構成は、図１と同様であるため、その説明を省略する。

【0074】

なお、第２実施形態において、音源信号ＤＩは「第１の音源信号」の一例であり、シグマデルタ変調信号ＤＳは「第１のシグマデルタ変調信号」の一例であり、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮは「第１のパルス幅変調信号」の一例である。また、変調回路３０は「第１の変調回路」の一例であり、変調回路４０は「第２の変調回路」の一例である。また、変調検査回路６０は「第１の変調検査回路」の一例であり、変調検査回路７０は「第２の変調検査回路」の一例である。

【0075】

以上に説明した第２実施形態の半導体装置１によれば、第１実施形態の半導体装置１と同様の効果を奏する。さらに、第２実施形態の半導体装置１によれば、変調回路３０、変調回路４０及び増幅回路５０を含む音源再生回路１００の検査だけでなく、音源再生回路１００と音再生装置３との接続も検査することができる。

【0076】

また、第２実施形態の半導体装置１によれば、電圧制御発振器９６を用いて、検査用の抵抗９１，９２と音再生装置３の内部抵抗２００との接続ノードＮ１，Ｎ２の電圧Ｖ１，Ｖ２を高い分解能で測定することができる。したがって、検査用の抵抗９１，９２を音再生装置３の内部抵抗２００よりも十分に大きくして、音源再生回路１００と音再生装置３との接続検査時の消費電流を低減させることができる。

【0077】

１－３．第３実施形態
以下、第３実施形態の半導体装置１について、第１実施形態又は第２実施形態と同様の構成については同じ符号を付し、第１実施形態又は第２実施形態と同様の説明は省略又は簡略し、主として第１実施形態及び第２実施形態と異なる内容について説明する。

【0078】

図１２は、第３実施形態の半導体装置１の構成例を示す図である。図１２に示すように、第３実施形態の半導体装置１は、図９に示した第２実施形態の半導体装置１と比較して、スイッチ８０ａと、変調回路３０ａ、変調回路４０ａ及び増幅回路５０ａを含み、音再生装置３ａと接続される音源再生回路１００ａとを備える点、及び、メモリー２０から音源再生回路１００ａに音源信号ＤＩａが入力される点が異なる。さらに、第３実施形態の半導体装置１は、第２実施形態の半導体装置１と比較して、検査回路１１０が変調検査回路７０ａ及び接続検査回路９０ａを含む点、及び、変調検査回路６０が変調回路３０だけでなく変調回路３０ａを検査する点が異なる。

【0079】

通信インターフェース回路１０は、メモリー２０に記憶されている音源データ２１－１～２１－ｎのうちのいずれか１つである音源データ２１－ｉを音再生装置３によって再生させるコマンドを受信した場合、メモリー２０から音源データ２１－ｉを読み出して音源信号ＤＩとして音源再生回路１００に入力するとともに、音源再生回路１００に再生を指示する。また、通信インターフェース回路１０は、再生中の音源データ２１－ｉに対する音源停止コマンドを受信した場合、音源再生回路１００に再生の停止を指示する。また、通信インターフェース回路１０は、メモリー２０に記憶されている音源データ２１－１～２１－ｎのうちのいずれか１つである音源データ２１－ｊを音再生装置３ａによって再生させるコマンドを受信した場合、メモリー２０から音源データ２１－ｊを読み出して音源信号ＤＩａとして音源再生回路１００ａに入力するとともに、音源再生回路１００ａに再生を指示する。また、通信インターフェース回路１０は、再生中の音源データ２１－ｊに
対する音源停止コマンドを受信した場合、音源再生回路１００ａに再生の停止を指示する。また、通信インターフェース回路１０は、音源再生に関する各種の設定コマンドを受信した場合、音源再生回路１００又は音源再生回路１００ａに対して各種の設定を行う。

【0080】

スイッチ８０ａは、通信インターフェース回路１０から出力される制御信号に応じて、音源信号ＤＩａとテスト信号ＴＳのいずれか一方を音源再生回路１００ａに出力する。具体的には、音源再生回路１００には、通常動作モードでは音源信号ＤＩａが入力され、検査モードではテスト信号ＴＳが入力される。

【0081】

本実施形態では、音源再生回路１００ａに入力される音源信号ＤＩａはパルス符号変調信号である。音源データ２１－１～２１－ｎが圧縮された音声データである場合や適応的差分パルス符号変調された音声データである場合は、再生対象の音源データ２１－ｊは不図示のデコーダーによってパルス符号変調信号である音源信号ＤＩａに変換される。

【0082】

音源再生回路１００ａは、音源信号ＤＩａを音信号である増幅信号ＤＯＸＰａ，ＤＯＸＮａに変換し、半導体装置１と接続される音再生装置３ａに出力する。これにより、音再生装置３ａから、増幅信号ＤＯＸＰａ，ＤＯＸＮａに応じた音が出力される。例えば、音再生装置３ａは、スピーカーであってもよいし、ブザーであってもよい。なお、音再生装置３ａから出力される音声は、例えば、人が発話する際の声を模した音声であってもよいし、機械的な警告音や効果音等の各種の音であってもよい。

【0083】

図１２に示すように、本実施形態では、音源再生回路１００ａは、変調回路３０ａ、変調回路４０ａ及び増幅回路５０ａを含む。

【0084】

変調回路３０ａは、音源信号ＤＩａが入力され、音源信号ＤＩａに基づく信号をシグマデルタ変調してシグマデルタ変調信号ＤＳａを出力する。音源信号ＤＩａに基づく信号は、音源信号ＤＩａそのものであってもよいし、音源信号ＤＩａに何らかの処理が施された信号であってもよい。変調回路３０ａの構成及び機能は、変調回路３０と同様であるため、その説明を省略する。

【0085】

変調回路４０ａは、シグマデルタ変調信号ＤＳａが入力され、シグマデルタ変調信号ＤＳａに基づく信号をパルス幅変調してパルス幅変調信号ＤＯＰａ，ＤＯＮａを出力する。シグマデルタ変調信号ＤＳａに基づく信号は、シグマデルタ変調信号ＤＳａそのものであってもよいし、シグマデルタ変調信号ＤＳａに何らかの処理が施された信号であってもよい。変調回路４０ａの構成及び機能は、変調回路４０と同様であるため、その説明を省略する。

【0086】

増幅回路５０ａは、パルス幅変調信号ＤＯＰａ，ＤＯＮａが入力され、パルス幅変調信号ＤＯＰａ，ＤＯＮａを増幅した増幅信号ＤＯＸＰａ，ＤＯＸＮａを音再生装置３ａに出力する。音再生装置３は、増幅信号ＤＯＸＰａと増幅信号ＤＯＸＮａとの電圧差に応じた大きさの音を再生する。増幅回路５０ａの構成及び機能は、増幅回路５０と同様であるため、その説明を省略する。

【0087】

なお、増幅回路５０は、通常動作モードにおいて増幅信号ＤＯＸＰａ，ＤＯＸＮａを音再生装置３ａに出力するが、検査モードでは音再生装置３ａが音を発生させないように増幅信号ＤＯＸＰａ，ＤＯＸＮａの出力を停止する。

【0088】

検査回路１１０は、音源再生回路１００及び音源再生回路１００ａを検査する回路である。図１２に示すように、本実施形態では、検査回路１１０は、変調検査回路６０、変調検査回路７０、変調検査回路７０ａ、接続検査回路９０及び接続検査回路９０ａを含む。

【0089】

変調検査回路６０は、検査モードにおいて変調回路３０及び変調回路３０ａを検査する。

【0090】

変調検査回路６０は、テスト信号ＴＳとしてインパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を生成し、スイッチ８０，８０ａを介して変調回路３０，３０ａにテスト信号ＴＳを入力する。したがって、変調回路３０，３０ａは、検査モードにおいて、それぞれテスト信号ＴＳをシグマデルタ変調したシグマデルタ変調信号ＤＳ，ＤＳａを出力する。

【0091】

変調検査回路６０は、これらのシグマデルタ変調信号ＤＳ，ＤＳａをそれぞれ期待値信号と比較する。そして、変調検査回路６０は、シグマデルタ変調信号ＤＳが期待値信号と一致しているか否かを示すフラグ信号ＦＬ１及びシグマデルタ変調信号ＤＳａが期待値信号と一致しているか否かを示すフラグ信号ＦＬ１ａを生成する。

【0092】

このように、変調検査回路６０は、検査モードにおいて、音源信号ＤＩ，ＤＩａに代えてインパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を変調回路３０，３０ａに入力し、変調回路３０，３０ａから出力される信号に基づいて変調回路３０，３０ａを検査する。なお、変調検査回路６０は、変調回路３０，３０ａの検査を同時に行ってもよいし、時分割に行ってもよい。

【0093】

通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２からフラグ信号ＦＬ１ａを読み出すコマンドを受信すると、変調検査回路６０からフラグ信号ＦＬ１ａを取得してマイクロコントロールユニット２に送信する。例えば、マイクロコントロールユニット２は、フラグ信号ＦＬ１ａに基づいて、変調回路３０ａの故障の有無を判定することができる。

【0094】

なお、音再生装置３ａがテスト信号ＴＳに応じた異常な音を発生させないように、検査モードでは、増幅回路５０ａは増幅信号ＤＯＸＰａ，ＤＯＸＮａの出力を停止する。

【0095】

変調検査回路７０ａは、検査モードにおいて変調回路４０ａを検査する。さらに、変調検査回路７０ａは、検査モードにおいて増幅回路５０ａも検査する。そして、変調検査回路７０ａは、フラグ信号ＦＬ２ａを生成する。変調検査回路７０ａの構成及び機能は、変調検査回路７０と同様であるため、その説明を省略する。なお、変調検査回路７０ａは、通常モードにおいて音再生装置３ａが音源信号ＤＩａに応じた音を再生しているときも変調回路４０ａを検査することができる。

【0096】

通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２からフラグ信号ＦＬ２ａを読み出すコマンドを受信すると、変調検査回路７０ａからフラグ信号ＦＬ２ａを取得してマイクロコントロールユニット２に送信する。例えば、マイクロコントロールユニット２は、フラグ信号ＦＬ２ａに基づいて、変調回路４０ａの故障の有無を判定することができる。

【0097】

図１２に示すように、本実施形態では、変調検査回路６０と変調検査回路７０と変調検査回路７０ａとが分離されている。すなわち、変調検査回路６０は、変調回路３０，３０ａの検査に特化した回路であり、変調回路４０，４０ａの検査を行わない。同様に、変調検査回路７０は、変調回路４０の検査に特化した回路であり、変調回路３０，３０ａ，４０ａの検査を行わない。同様に、変調検査回路７０ａは、変調回路４０ａの検査に特化した回路であり、変調回路３０，３０ａ，４０の検査を行わない。そのため、マイクロコントロールユニット２は、変調検査回路６０が生成したフラグ信号ＦＬ１，ＦＬ１ａによって変調回路３０，３０ａの故障の有無を判定し、変調検査回路７０が生成したフラグ信号
ＦＬ２によって変調回路４０の故障の有無を判定し、変調検査回路７０ａが生成したフラグ信号ＦＬ２ａによって変調回路４０の故障の有無を判定することができる。

【0098】

接続検査回路９０ａは、増幅回路５０ａと音再生装置３ａとの間に設けられ、検査モードにおいて、増幅回路５０ａと音再生装置３ａとの接続を検査する。そして、接続検査回路９０ａは、フラグ信号ＦＬ３ａを生成する。接続検査回路９０ａの構成及び機能は、接続検査回路９０と同様であるため、その説明を省略する。前述の通り、検査モードでは、音再生装置３ａが異常な音を発生させないように、増幅回路５０ａは増幅信号ＤＯＸＰａ，ＤＯＸＮａの出力を停止する。

【0099】

通信インターフェース回路１０は、マイクロコントロールユニット２からフラグ信号ＦＬ３ａを読み出すコマンドを受信すると、接続検査回路９０ａからフラグ信号ＦＬ３ａを取得してマイクロコントロールユニット２に送信する。例えば、マイクロコントロールユニット２は、フラグ信号ＦＬ３ａに基づいて、増幅回路５０ａと音再生装置３ａとの接続状態を判定することができる。

【0100】

第３実施形態の半導体装置１のその他の構成は、図９と同様であるため、その説明を省略する。

【0101】

なお、第３実施形態において、音源信号ＤＩは「第１の音源信号」の一例であり、音源信号ＤＩａは「第２の音源信号」の一例である。また、シグマデルタ変調信号ＤＳは「第１のシグマデルタ変調信号」の一例であり、シグマデルタ変調信号ＤＳａは「第２のシグマデルタ変調信号」の一例である。また、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮは「第１のパルス幅変調信号」の一例であり、パルス幅変調信号ＤＯＰａ，ＤＯＮａは「第２のパルス幅変調信号」の一例である。また、変調回路３０は「第１の変調回路」の一例であり、変調回路４０は「第２の変調回路」の一例であり、変調回路３０ａは「第３の変調回路」の一例であり、変調回路４０ａは「第４の変調回路」の一例である。また、変調検査回路６０は「第１の変調検査回路」の一例であり、変調検査回路７０は「第２の変調検査回路」の一例であり、変調検査回路７０ａは「第３の変調検査回路」の一例である。

【0102】

第３実施形態の半導体装置１は、２つの音再生装置３，３ａに音を出力させることが可能な構成であるが、３つ以上の音出力装置に音を出力させることが可能な構成であってもよい。

【0103】

以上に説明した第３実施形態の半導体装置１によれば、第２実施形態の半導体装置１と同様の効果を奏する。さらに、第３実施形態の半導体装置１では、変調回路３０、変調回路４０及び増幅回路５０を含む音源再生回路１００によって音再生装置３から音源信号ＤＩに応じた音を発生させることができるとともに、変調回路３０ａ、変調回路４０ａ及び増幅回路５０ａを含む音源再生回路１００ａによって音再生装置３ａから音源信号ＤＩａ応じた音を発生させることができる。すなわち、第３実施形態の半導体装置１によれば、２種類の音源信号ＤＩ，ＤＩａに応じた音を同時に再生可能であるが、変調検査回路６０を変調回路３０の検査と変調回路３０ａの検査に兼用することにより、検査回路１１０のサイズの増加量が低減される。

【0104】

また、第３実施形態の半導体装置１では、変調検査回路６０と変調検査回路７０と変調検査回路７０ａとが分離されているので、変調検査回路６０による変調回路３０，３０ａの検査と、変調検査回路７０による変調回路４０の検査と、変調検査回路７０ａによる変調回路４０ａの検査とが互いに独立して行われる。したがって、マイクロコントロールユニット２は、変調検査回路６０から出力されるフラグ信号ＦＬ１に基づいて変調回路３０，３０ａの故障検出を行い、変調検査回路７０から出力されるフラグ信号ＦＬ２に基づい
て変調回路４０の故障検出を行い、変調検査回路７０ａから出力されるフラグ信号ＦＬ２ａに基づいて変調回路４０ａの故障検出を行うことができる。

【0105】

また、第３実施形態の半導体装置１によれば、変調回路３０、変調回路４０及び増幅回路５０を含む音源再生回路１００ａの検査だけでなく、音源再生回路１００ａと音再生装置３ａとの接続も検査することができる。

【0106】

１－４．変形例
本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。

【0107】

例えば、上記の各実施形態では、変調検査回路７０には、増幅信号ＤＯＸＰ，ＤＯＸＮが入力されているが、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮが入力されてもよい。この場合、２値化回路７１Ｐ，７１Ｎは不要であり、変換回路７２は、パルス幅変調信号ＤＯＰ，ＤＯＮをパルス符号変調信号ＤＸに変換すればよい。

【0108】

また、例えば、上記の各実施形態では、音源データ２１－１～２１－ｎが記憶されているメモリー２０が半導体装置１に内蔵されているが、メモリー２０に代えて、音源データ２１－１～２１－ｎが記憶されている外部メモリーが半導体装置１と接続され、半導体装置１が当該外部メモリーから音源信号ＤＩである音源データ２１－ｉを読み出してもよい。あるいは、メモリー２０に代えて、マイクロコントロールユニット２が音源データ２１－１～２１－ｎが記憶されているメモリーを内蔵し、マイクロコントロールユニット２が当該メモリーから音源データ２１－ｉを読み出して音源信号ＤＩとして半導体装置１に送信してもよい。

【0109】

また、例えば、上記の各実施形態では、パルス幅変調回路４１による変調方式として図２～図４の例を挙げたが、他の変調方式であってもよい。例えば、パルス幅変調信号ＤＯＰを生成するためのパルス幅変調は図２と同じ方式であり、パルス幅変調信号ＤＯＮを生成するためのパルス幅変調は図１３に示す方式であってもよい。図１３の例では、パルス幅変調信号ＤＯＮは、図２に示したパルス幅変調信号ＤＯＰの論理レベルを反転した信号であり、シグマデルタ変調信号ＤＳの値が大きいほどハイレベルの時間が短くなる。例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「－７」、すなわち２進数の「１００１」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＮは、１つの区間Ｔ１１がローレベルであり、１５個の区間Ｔ２～Ｔ１６がハイレベルである。また、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「０」、すなわち２進数の「００００」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＮは、８個の区間Ｔ１～Ｔ８がローレベルであり、８個の区間Ｔ９～Ｔ１６がハイレベルである。また、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「７」、すなわち２進数の「０１１１」であるときは、パルス幅変調信号ＤＯＮは、１５個の区間Ｔ１～Ｔ１５がローレベルであり、１つの区間Ｔ１６がハイレベルである。したがって、例えば、シグマデルタ変調信号ＤＳが１０進数の「－７」、「０」、「７」であるときのパルス幅変調信号ＤＯＰとパルス幅変調信号ＤＯＮとの差分は図１４に示すようになる。

【0110】

２．電子機器
図１５は、本実施形態の半導体装置１を用いた本実施形態の電子機器の構成の一例を示す機能ブロック図である。

【0111】

図１５に示すように、本実施形態の電子機器３００は、半導体装置１、ｍ個の音再生装置３－１～３－ｍ、処理部３１０、操作部３２０、記憶部３３０及び表示部３４０を備えている。なお、本実施形態の電子機器３００は、図１５の構成要素の一部を省略又は変更し、あるいは、他の構成要素を付加した構成としてもよい。

【0112】

処理部３１０は、電子機器３００の各部の制御処理や種々のデータ処理を行う。例えば、処理部３１０は、半導体装置１に各種のコマンドを送信し、半導体装置１の動作を制御する。また、処理部３１０は、操作部３２０からの操作信号に応じた各種の処理、表示部３４０に各種の情報を表示させるための表示信号を送信する処理等を行う。例えば、処理部３１０は、前述のマイクロコントロールユニット２であってもよい。

【0113】

操作部３２０は、操作キーやボタンスイッチ等により構成される入力装置であり、ユーザーによる操作に応じた操作信号を処理部３１０に出力する。

【0114】

記憶部３３０は、処理部３１０が各種の計算処理や制御処理を行うためのプログラムやデータ等を記憶している。記憶部３３０は、例えば、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＭＯ、ＭＴ、各種のメモリー、ＣＤ－ＲＯＭ、又は、ＤＶＤ－ＲＯＭ等によって実現される。

【0115】

表示部３４０は、ＬＣＤ等により構成される表示装置であり、入力される表示信号に基づいて各種の情報を表示する。ＬＣＤは、Liquid Crystal Displayの略である。表示部３４０には操作部３２０として機能するタッチパネルが設けられていてもよい。

【0116】

半導体装置１は、処理部３１０から送信される各種のコマンドに基づいて音信号を生成して音再生装置３－１に出力する。音再生装置３－１は、前述の音再生装置３に対応する。また、半導体装置１は、前述の音源再生回路１００を検査して検査結果を処理部３１０に送信し、処理部３１０が音源再生回路１００の故障の有無を判定してもよい。あるいは、半導体装置１は、音源再生回路１００の故障を検出した場合、音信号の出力先を音再生装置３－１から音再生装置３－２に切り替えてもよい。音再生装置３－２は、前述の音再生装置３ａに対応する。

【0117】

半導体装置１は、比較的小さいサイズの検査回路１１０によって音源再生回路１００を検査することができるので、電子機器３００の低コスト化に有利である。

【0118】

このような電子機器３００としては種々の電子機器が考えられ、例えば、警告装置、炊飯器、ＩＨクッキングヒーター、掃除機、洗濯機等の各種の家庭用電気製品、電子時計、モバイル型、ラップトップ型、タブレット型などのパーソナルコンピューター、スマートフォンや携帯電話機などの移動体端末、ディジタルカメラ、インクジェットプリンターなどのインクジェット式吐出装置、ルーターやスイッチなどのストレージエリアネットワーク機器、ローカルエリアネットワーク機器、移動体端末基地局用機器、テレビ、ビデオカメラ、ビデオレコーダー、カーナビゲーション装置、リアルタイムクロック装置、ページャー、電子手帳、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ゲーム用コントローラー、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、ＰＯＳ端末、電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、電子内視鏡等の医療機器、魚群探知機、各種測定機器、車両、航空機、船舶等の計器類、フライトシミュレーター、ヘッドマウントディスプレイ、モーショントレース、モーショントラッキング、モーションコントローラー、歩行者自立航法装置等が挙げられる。

【0119】

図１６は、電子機器３００の一例である警告装置３００Ａの構成例を示す図である。図１６において、図１５と同じ構成要素には同じ符号が付されている。図１６に示す警告装置３００Ａは、車両４００に搭載されている。音再生装置３－１はスピーカーであり、音再生装置３－２～３－５はそれぞれブザーである。

【0120】

処理部３１０は、不図示の各種センサーからの信号に基づいて、各種の音声の再生コマ
ンド等を半導体装置１に送信する。各種の音声には、例えば、ブレーキ、エンジンオイル、パワーステアリング、ブレーキオーバーライドシステム等の異常、半ドアでの走行、ふらつき走行、パーキングブレーキの未解除での走行、シートベルトの未着用、先行車への接近等を通知するための人の声を模した音声や警告音、ウィンカー、ハザード、バック等を通知するための効果音等が含まれる。

【0121】

半導体装置１は、処理部３１０からのコマンドに基づいて、各種の音声に対応する複数の音源データの一部に基づいて音信号を生成して音再生装置３－１に出力する。また、半導体装置１は、前述の音源再生回路１００を検査して検査結果を処理部３１０に送信し、処理部３１０が音源再生回路１００の故障の有無を判定してもよい。あるいは、半導体装置１は、音源再生回路１００の故障を検出した場合、音信号の出力先を音再生装置３－１から音再生装置３－２に切り替えてもよい。

【0122】

半導体装置１は、比較的小さいサイズの検査回路１１０によって音源再生回路１００を検査することができるので、警告装置３００Ａの低コスト化に有利である。

【0123】

本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。

【0124】

上述した実施形態および変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば、各実施形態および各変形例を適宜組み合わせることも可能である。

【0125】

本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成、例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。

【0126】

上述した実施形態及び変形例から以下の内容が導き出される。

【0127】

半導体装置の一態様は、
第１の音源信号が入力され、前記第１の音源信号に基づく信号をシグマデルタ変調して第１のシグマデルタ変調信号を出力する第１の変調回路と、
前記第１のシグマデルタ変調信号に基づく信号をパルス幅変調して第１のパルス幅変調信号を出力する第２の変調回路と、
前記第１の変調回路を検査する第１の変調検査回路と、
前記第２の変調回路を検査する第２の変調検査回路と、
を備え、
前記第１の変調検査回路と前記第２の変調検査回路とが分離されている。

【0128】

この半導体装置では、第１の変調回路はデジタル信号処理により第１の音源信号を第１のシグマデルタ変調信号に変調するので、第１の変調検査回路はデジタル処理により第１の変調回路を検査することができる。また、第２の変調回路はデジタル信号処理により第１のシグマデルタ変調信号を第１のパルス幅変調信号に変調するので、第２の変調検査回路はデジタル処理により第２の変調回路を検査することができる。したがって、この半導体装置によれば、第１の変調検査回路及び第２の変調検査回路においてＡ／Ｄ変換器を必要とせず、比較的小さいサイズの回路によって、第１の変調回路及び第２の変調回路を含む音源再生回路を検査することができる。

【0129】

また、この半導体装置では、第１の変調検査回路と第２の変調検査回路とが分離されているので、第１の変調検査回路による第１の変調回路の検査と、第２の変調検査回路による第２の変調回路の検査とが互いに独立して行われる。したがって、例えば、外部装置が、第１の変調検査回路から出力される信号に基づいて第１の変調回路の故障検出を行うことができるとともに、第２の変調検査回路から出力される信号に基づいて第２の変調回路の故障検出を行うことができる。

【0130】

前記半導体装置の一態様において、
前記第１の変調回路は、前記第１の音源信号をデジタルフィルター処理した信号をシグマデルタ変調して前記第１のシグマデルタ変調信号を出力してもよい。

【0131】

前記半導体装置の一態様において、
前記第１の変調検査回路は、
検査モードにおいて、前記第１の音源信号に代えてインパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を前記第１の変調回路に入力し、前記第１の変調回路から出力される信号に基づいて前記第１の変調回路を検査してもよい。

【0132】

この半導体装置によれば、第１の変調検査回路は、インパルス信号及びステップ信号の少なくとも一方を第１の変調回路に入力したときに第１の変調回路から出力される信号に基づいて、デジタルフィルター処理を行う第１の変調回路の検査を精度良く行うことができる。

【0133】

前記半導体装置の一態様において、
前記第２の変調検査回路は、所定周期で前記第１のパルス幅変調信号に基づく信号を積分した信号と前記第１のシグマデルタ変調信号とを比較して前記第２の変調回路を検査してもよい。

【0134】

この半導体装置によれば、第２の変調検査回路は、第１のパルス幅変調信号を積分することにより情報を欠落させることなく第１のパルス幅変調信号を変換した信号と、第１のシグマデルタ変調信号とを比較することにより、第２の変調回路を精度良く検査することができる。

【0135】

前記半導体装置の一態様は、
前記第１のパルス幅変調信号を増幅した増幅信号を音再生装置に出力する増幅回路と、
前記増幅回路と前記音再生装置との接続を検査する接続検査回路と、
を備えてもよい。

【0136】

この半導体装置によれば、第１の変調回路、第２の変調回路及び増幅回路を含む音源再生回路の検査だけでなく、音源再生回路と音再生装置との接続も検査することができる。

【0137】

前記半導体装置の一態様において、
前記接続検査回路は、
電源とグラウンドとの間に、前記音再生装置の内部抵抗と直列に接続される検査用の抵抗と、
前記検査用の抵抗と前記内部抵抗との接続ノードの電圧に応じて周波数が変化する電圧制御発振器と、
を含み、
前記電圧制御発振器から出力される発振信号に基づいて、前記増幅回路と前記音再生装置との接続を検査してもよい。

【0138】

この半導体装置によれば、電圧制御発振器を用いて、検査用の抵抗と音再生装置の内部抵抗との接続ノードの電圧を高い分解能で測定することができる。したがって、検査用の抵抗を音再生装置の内部抵抗よりも十分に大きくして、音源再生回路と音再生装置との接続検査時の消費電流を低減させることができる。

【0139】

前記半導体装置の一態様は、
第２の音源信号が入力され、前記第２の音源信号に基づく信号をシグマデルタ変調して第２のシグマデルタ変調信号を出力する第３の変調回路と、
前記第２のシグマデルタ変調信号に基づく信号をパルス幅変調して第２のパルス幅変調信号を出力する第４の変調回路と、
前記第４の変調回路を検査する第３の変調検査回路と、
を備え、
前記第１の変調検査回路と前記第２の変調検査回路と前記第３の変調検査回路とが分離されており、
前記第１の変調検査回路は、前記第１の変調回路及び前記第３の変調回路を検査してもよい。

【0140】

この半導体装置では、第１の変調回路及び第２の変調回路を含む音源再生回路によって第１の音源信号を再生することができるとともに、第３の変調回路及び第４の変調回路を含む音源再生回路によって第２の音源信号を再生することができる。すなわち、この半導体装置によれば、２種類の音源信号を同時に再生可能であるが、第１の変調検査回路を第１の変調回路の検査と第３の変調回路の検査に兼用することにより、検査回路のサイズの増加量が低減される。

【0141】

また、この半導体装置では、第１の変調検査回路と第２の変調検査回路と第３の変調検査回路とが分離されているので、第１の変調検査回路による第１の変調回路及び第３の変調回路の検査と、第２の変調検査回路による第２の変調回路の検査と、第３の変調検査回路による第４の変調回路の検査とが互いに独立して行われる。したがって、例えば、外部装置が、第１の変調検査回路から出力される信号に基づいて第１の変調回路及び第３の変調回路の故障検出を行い、第２の変調検査回路から出力される信号に基づいて第２の変調回路の故障検出を行い、第３の変調検査回路から出力される信号に基づいて第４の変調回路の故障検出を行うことができる。

【0142】

電子機器の一態様は、
前記半導体装置の一態様と、
音再生装置と、
を備え、
前記半導体装置は、前記第１のパルス幅変調信号を増幅した増幅信号を前記音再生装置に出力する増幅回路を備える。

【0143】

この電子機器によれば、比較的小さいサイズの回路によって音源再生回路を検査することができる半導体装置を備えるので、低コスト化に有利である。

【符号の説明】

【0144】

１…半導体装置、２…マイクロコントロールユニット、３，３ａ，３－１～３－ｍ…音再生装置、１０…通信インターフェース回路、２０…メモリー、２１－１～２１－ｎ…音源データ、３０，３０ａ…変調回路、３１…デジタルフィルター、３２…シグマデルタ変調回路、４０，４０ａ…変調回路、４１…パルス幅変調回路、５０，５０ａ…増幅回路、５１Ｐ，５１Ｎ…Ｄ級アンプ、６０…変調検査回路、６１…テスト信号生成回路、６２…比較回路、７０，７０ａ…変調検査回路、７１Ｐ，７１Ｎ…２値化回路、７２…変換回路、
７３…比較回路、８０，８０ａ…スイッチ、９０，９０ａ…接続検査回路、９１，９２…抵抗、９３，９４，９５…スイッチ、９６…電圧制御発振器、９７…カウンター、９８…比較回路、１００，１００ａ…音源再生回路、１１０…検査回路、１２１－１～１２１－ｎ…論理反転回路、１２２－１～１２２－ｎ…容量、１２３－１～１２３－ｎ…ＰＭＯＳトランジスター、１２４…ＰＭＯＳトランジスター、１２５…抵抗、１２６…演算増幅器、２００…音再生装置の内部抵抗、３００…電子機器、３００Ａ…警告装置、３１０…処理部、３２０…操作部、３３０…記憶部、３４０…表示部、４００…車両

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】