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特開2024-21390信号処理装置、ＯＣＴ装置、信号処理方法、及び、プログラム
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024021390
(43)【公開日】2024-02-16
(54)【発明の名称】信号処理装置、ＯＣＴ装置、信号処理方法、及び、プログラム
(51)【国際特許分類】
A61B 3/10 20060101AFI20240208BHJP
【ＦＩ】
A61B3/10 100
【審査請求】未請求
【請求項の数】15
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022124184
(22)【出願日】2022-08-03
(71)【出願人】
【識別番号】501299406
【氏名又は名称】株式会社トーメーコーポレーション
(74)【代理人】
【識別番号】110000660
【氏名又は名称】Ｋｎｏｗｌｅｄｇｅ Ｐａｒｔｎｅｒｓ弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】加茂 考史
【テーマコード（参考）】
4C316
【Ｆターム（参考）】
4C316AA03
4C316AA09
4C316AA26
4C316AB03
4C316AB11
4C316FB13
4C316FY01
4C316FZ02
(57)【要約】
【課題】ＦＤ－ＯＣＴにおいて、一度の測定で得られた信号から、従来よりも簡易に測定対象の複数の位置の信号を抽出することを目的とする。
【解決手段】単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得部と、前記取得部により取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出部と、を備える。
【選択図】図１１
【解決手段】単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得部と、前記取得部により取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出部と、を備える。
【選択図】図１１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得部と、
前記取得部により取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出部と、
を備える信号処理装置。
前記取得部により取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出部と、
を備える信号処理装置。
【請求項2】
複数の前記干渉光は、前記参照光路である複数の光路を辿る複数の光と、前記測定光路を辿る光と、が干渉する光である請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項3】
複数の前記干渉光は、前記測定光路である複数の光路を辿る複数の光と、前記参照光路を辿る光と、が干渉する光である請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項4】
複数の前記干渉光は、それぞれ異なる前記測定光路を辿る光と、それぞれ異なる前記参照光路を辿る光と、が干渉する光である請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項5】
前記取得部は、複数の前記干渉光と、前記参照光路のうちの第１の光路を辿る光と前記参照光路のうちの前記第１の光路と異なる第２の光路を辿る光とが干渉する干渉参照光と、を受光する単一の前記受光部から出力される前記出力信号を取得し、
前記抽出部は、前記出力信号と、前記補正信号と、に基づいて、前記干渉参照光の信号を更に抽出し、
前記干渉参照光の信号に基づいて、前記第１の光路と前記第２の光路との差分を導出する導出部を更に備える請求項２に記載の信号処理装置。
前記抽出部は、前記出力信号と、前記補正信号と、に基づいて、前記干渉参照光の信号を更に抽出し、
前記干渉参照光の信号に基づいて、前記第１の光路と前記第２の光路との差分を導出する導出部を更に備える請求項２に記載の信号処理装置。
【請求項6】
前記測定光路である複数の光路それぞれを辿る複数の光それぞれは、それぞれ異なる位置にフォーカスする請求項１、３、４の何れか１項に記載の信号処理装置。
【請求項7】
前記測定光路である複数の光路それぞれを辿る複数の光それぞれは、異なる光軸を通って前記測定対象に向かう請求項１、３、４の何れか１項に記載の信号処理装置。
【請求項8】
前記抽出部は、前記出力信号と前記補正信号とから最大のピーク信号を抽出し、前記出力信号と前記補正信号とから抽出した前記ピーク信号に応じた信号を除去する処理を繰り返し、前記干渉光毎の前記抽出信号として、前記出力信号から抽出された１つ以上の前記ピーク信号を結合した信号と、前記補正信号から抽出された１つ以上の前記ピーク信号を結合した信号と、を抽出する請求項１乃至５の何れか１項に記載の信号処理装置。
【請求項9】
前記抽出部により前記干渉光毎に抽出された前記抽出信号に基づいて前記干渉光毎に生成された複数の画像を、表示部に表示させる表示制御部を更に備える請求項１乃至５の何れか１項に記載の信号処理装置。
【請求項10】
前記表示制御部は、複数の前記画像それぞれを、複数の前記画像それぞれの被写体の位置関係に応じた位置関係となるように前記表示部に表示させる請求項９に記載の信号処理装置。
【請求項11】
前記表示制御部は、複数の前記画像に重複がある場合、重複部分について重複する前記画像を重ねて表示させる請求項１０に記載の信号処理装置。
【請求項12】
前記抽出部により前記干渉光毎に抽出された前記抽出信号に基づいて前記干渉光毎に生成された複数の画像を、表示部に表示させる表示制御部を更に備え、
前記表示制御部は、前記第１の光路を辿る光を含む前記干渉光に対応する前記画像と、前記第２の光路を辿る光を含む前記干渉光に対応する前記画像と、を前記差分に応じた距離だけ離した位置関係となるように表示させ、複数の前記画像に重複がある場合には、重複部分について重複する前記画像を重ねて表示させる請求項５に記載の信号処理装置。
前記表示制御部は、前記第１の光路を辿る光を含む前記干渉光に対応する前記画像と、前記第２の光路を辿る光を含む前記干渉光に対応する前記画像と、を前記差分に応じた距離だけ離した位置関係となるように表示させ、複数の前記画像に重複がある場合には、重複部分について重複する前記画像を重ねて表示させる請求項５に記載の信号処理装置。
【請求項13】
光源と、
受光部と、
前記光源から出力される光が測定対象に向かい、前記測定対象から前記受光部へ向かう光路である測定光路と、前記測定光路と異なる光路であって、前記光源から出力される光が前記受光部へ向かう光路である参照光路を形成する光学系と、
制御部と、
を備え
前記制御部は、単一の前記光源から出力され前記測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の前記受光部から出力される出力信号を取得し、前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号を抽出するＯＣＴ装置。
受光部と、
前記光源から出力される光が測定対象に向かい、前記測定対象から前記受光部へ向かう光路である測定光路と、前記測定光路と異なる光路であって、前記光源から出力される光が前記受光部へ向かう光路である参照光路を形成する光学系と、
制御部と、
を備え
前記制御部は、単一の前記光源から出力され前記測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の前記受光部から出力される出力信号を取得し、前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号を抽出するＯＣＴ装置。
【請求項14】
信号処理装置が実行する信号処理方法であって、
単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得ステップと、
前記取得ステップで取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出ステップと、
を含む信号処理方法。
単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得ステップと、
前記取得ステップで取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出ステップと、
を含む信号処理方法。
【請求項15】
コンピュータに、
単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得ステップ、
前記取得ステップで取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出ステップ、
を実行させるためのプログラム。
単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得ステップ、
前記取得ステップで取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出ステップ、
を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、信号処理装置、ＯＣＴ装置、信号処理方法、及び、プログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
光の干渉性を利用し、測定対象の位置を計測する技術として、ＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）がある。ＯＣＴには、フーリエドメインＦＤ－ＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｄｏｍａｉｎ－ＯＣＴ）という方式がある。ＦＤ－ＯＣＴにおいて、一度の測定で得られた信号から、測定対象の複数の位置の信号を抽出する技術がある。特許文献１には、複数の深さ位置を撮像するためのＯＣＴシステムが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特表２０１８－５１４２５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
従来技術では、参照光が辿る複数の光路それぞれの分散特性を、対応する測定光が辿る光路の分散特性に合わせるよう調整する必要があり、手間がかかった。
本発明は、このような課題にかんがみてなされたもので、ＦＤ－ＯＣＴにおいて、一度の測定で得られた信号から、従来よりも簡易に測定対象の複数の位置の信号を抽出することを目的とする。
本発明は、このような課題にかんがみてなされたもので、ＦＤ－ＯＣＴにおいて、一度の測定で得られた信号から、従来よりも簡易に測定対象の複数の位置の信号を抽出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
上記の目的を達成するため、信号処理装置は、単一の光源から出力され測定対象に向かう測定光路を辿る光と、前記光源から出力され前記測定光路と異なる参照光路を辿る光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る前記測定光路と前記参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の前記干渉光を受光する単一の受光部から出力される出力信号を取得する取得部と、前記取得部により取得された前記出力信号と、前記出力信号に波長分散補正処理が施された補正信号と、に基づいて、前記干渉光毎の信号である抽出信号を抽出する抽出部と、を備える。
【0006】
すなわち、信号処理装置において、波長分散の異なる複数の干渉光の信号である出力信号と、波長分散補正処理が施された補正信号と、から波長分散の補正により信号に生じる変化の特徴を利用して、干渉光毎の信号を抽出する。これにより、対応する測定光路と参照光路との波長分散特性を合わせる手間をかけずに、より簡易に、複数の位置を併せて測定できる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【図1】本発明の一実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置の構成を示す図である。
【図2】本発明の一実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置の構成を示す図である。
【図3】波長分散の補正を説明する図である。
【図4】波長分散の補正を説明する図である。
【図5】測定信号と補正信号との一例を示す図である。
【図6】測定信号と補正信号との一例を示す図である。
【図7】測定信号と補正信号との一例を示す図である。
【図8】測定信号と補正信号との一例を示す図である。
【図9】測定信号と補正信号との一例を示す図である。
【図10】画像の表示態様の一例を説明する図である。
【図11】抽出処理の一例を示すフローチャートである。
【図12】本発明の一実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置の構成を示す図である。
【図13】本発明の一実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置の構成を示す図である。
【図14】本発明の一実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置の構成を示す図である。
【図15】本発明の一実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置の構成を示す図である。
【図16】本発明の一実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置の構成を示す図である。
【図17】補正信号の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0008】
ここでは、下記の順序に従って本発明の実施の形態の一例について説明する。
（１）第１の実施形態：
（１－１）ＦＤ－ＯＣＴ装置の構成：
（１－２）抽出処理：
（２）第２の実施形態：
（３）第３の実施形態：
（４）第４の実施形態：
（５）他の実施形態：
（１）第１の実施形態：
（１－１）ＦＤ－ＯＣＴ装置の構成：
（１－２）抽出処理：
（２）第２の実施形態：
（３）第３の実施形態：
（４）第４の実施形態：
（５）他の実施形態：
【0009】
（１）ＦＤ－ＯＣＴ装置の構成：
以下、本実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置１を説明する。ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、信号処理装置の一例である。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１は、被験者の眼球（以下では、被検眼）の複数の位置を測定対象として、ＦＤ－ＯＣＴ方式（本実施形態では、ＳＤ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ－ｄｏｍａｉｎ）－ＯＣＴ方式）で測定対象の位置の測定を行う。本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、被検眼の複数の位置（本実施形態では、角膜と網膜とするが、他の位置でもよい）を測定する。図１、２は、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を模式的に示す図である。ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、制御部１０、調整機構１１、ミラー１２（ミラー１２ａ、ミラー１２ｂ）、アライメント機構１３、光源１４、受光部１５、表示部１６を備える。また、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、光源１４から出力される光の光路を形成する光学部材（分岐部３０、伝達部４１、４２、４３、４４、ハーフミラー４５、波長分散部材４６、回折格子４７）を備える。本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、光源１４から出力される光から、マイケルソン干渉計によって干渉光を生成する。
以下、本実施形態に係るＦＤ－ＯＣＴ装置１を説明する。ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、信号処理装置の一例である。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１は、被験者の眼球（以下では、被検眼）の複数の位置を測定対象として、ＦＤ－ＯＣＴ方式（本実施形態では、ＳＤ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ－ｄｏｍａｉｎ）－ＯＣＴ方式）で測定対象の位置の測定を行う。本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、被検眼の複数の位置（本実施形態では、角膜と網膜とするが、他の位置でもよい）を測定する。図１、２は、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を模式的に示す図である。ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、制御部１０、調整機構１１、ミラー１２（ミラー１２ａ、ミラー１２ｂ）、アライメント機構１３、光源１４、受光部１５、表示部１６を備える。また、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、光源１４から出力される光の光路を形成する光学部材（分岐部３０、伝達部４１、４２、４３、４４、ハーフミラー４５、波長分散部材４６、回折格子４７）を備える。本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、光源１４から出力される光から、マイケルソン干渉計によって干渉光を生成する。
【0010】
制御部１０は、プロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備え、ＲＯＭ等に記録されたプログラムを実行することで、ＦＤ－ＯＣＴ装置１を制御する。調整機構１１は、光路に沿って直線方向にミラー１２ａ、１２ｂを移動可能な機構である。本実施形態では、調整機構１１は、ミラー１２ａ、１２ｂを移動させるボールネジ機構であるとするが、スライダクランク機構、カム等の動力伝達機構等の他の機構であってもよい。ミラー１２ａ、１２ｂは、それぞれ入射された光を反射する。制御部１０は、調整機構１１を介して、ミラー１２ａ、１２ｂの位置を調整する。アライメント機構１３は、ＦＤ－ＯＣＴ装置１と測定対象との位置関係の調整に用いられる機構である。制御部１０は、ＦＤ－ＯＣＴによる測定対象の測定の前に、アライメント機構１３を介して、被験者の被検眼の角膜頂点の位置を検出し、検出した角膜頂点の位置とＦＤ－ＯＣＴ装置１とが既定の位置関係となるようにＦＤ－ＯＣＴ装置１の位置を調整する。光源１４は、制御部１０からの指示に応じて、既定の波長帯域の光を出力する。受光部１５は、直線状に並べられた複数の受光素子である。
【0011】
分岐部３０は、光源１４から出力された光から、参照用の光路を辿る参照光と、測定対象に照射される測定光と、を分岐する光学部材であり、例えば、フィルタカプラ等である。以下では、参照光の光路を参照光路とする。また、以下では、測定光の光路を、測定光路とする。伝達部４１は、本実施形態では光源１４からの光を分岐部３０に伝達する光ファイバである。また、伝達部４２は、分岐部３０から分岐された参照光の光路の形成に用いられる光ファイバである。分岐部３０によって分岐された参照光は、伝達部４２を通り、ハーフミラー４５に向かう。ハーフミラー４５は、到達した参照光から、波長分散部材４６を通りミラー１２ａに向かう光と、ミラー１２ｂに向かう光と、を分岐する。以下では、ミラー１２ａに向かう参照光の光路を、参照光路Ａとする。また、以下では、ミラー１２ｂに向かう参照光の光路を、参照光路Ｂとする。また、以下では参照光路Ａ、Ｂを辿る参照光を、それぞれ参照光Ａ、Ｂとする。参照光路Ａ、Ｂは、それぞれ第１の光路、第２の光路の一例である。波長分散部材４６は、分散媒質やパルスストレッチャー等である。このように、本実施形態では、波長分散特性の異なる複数（２つ）の参照光路が構成される。本実施形態では、参照光路Ａの方が参照光路Ｂよりも光路長が長い。すなわち、参照光Ａは、参照光Ｂよりも、測定対象の奥方向の位置の測定に用いられる。ここで奥方向とは、測定対象に入射する際の測定光の進行方向である。また、奥方向の逆方向を手前方向とする。本実施形態では、制御部１０は、調整機構１１を介してミラー１２ａ、１２ｂを移動させることで、参照光路Ａ、Ｂの光路長を調整する。ここで、光路長とは、対応する媒体中の光路を光が通過する期間において、光が真空中を通過する距離の長さである。例えば、屈折率が１．２の媒体中の長さ１ｍの光路の光路長は、この媒体の屈折率１．２×媒体中の長さ１ｍ＝１．２ｍとなる。波長分散部材４６を通りミラー１２ａで反射された参照光は、波長分散部材４６及びハーフミラー４５を通過し、伝達部４２を辿り、分岐部３０へ向かう。ミラー１２ｂで反射された参照光は、ハーフミラー４５に向かい、ハーフミラー４５で向きを変えられ、伝達部４２を辿り、分岐部３０へ向かう。また、伝達部４３は、分岐部３０によって分岐された測定光が測定対象に向けて進行する光路の形成に用いられる光ファイバである。測定対象に向かった測定光の一部は、測定対象の角膜に向かい、そこで一部が反射・散乱され、来た方向に返っていく。また、測定対象に向かった測定光の一部は、測定対象の網膜に向かい、そこで一部が反射・散乱され、来た方向に返っていく。以下では、網膜に向かう測定光の光路を、測定光路Ａとする。また、以下では、測定光路Ａを辿る測定光を、測定光Ａとする。また、以下では、角膜に向かう測定光の光路を測定光路Ｂとする。また、以下では、測定光路Ｂを辿る測定光を、測定光Ｂとする。本実施形態では、測定光路Ａ、Ｂは、被検眼に入射するまでは、一致している。そのため、測定光Ａ、Ｂは、同じ光軸に沿って被検眼に到達する。測定対象から返ってきた測定光Ａ、Ｂは、伝達部４３を通り、分岐部３０に向かう。図２の測定光路におけるゼロ点Ａ、Ｂは、それぞれ参照光路Ａ、Ｂのゼロ点である。ゼロ点とは、測定光路上の位置であって、測定光がその位置で逆方向に反射して戻ってきた場合における測定光の光路長が参照光路の光路長と同じになる位置である。ゼロ点Ｂは、測定対象である被検眼の角膜よりも手前（被検眼から見て前側）になるように調整されている。
【0012】
分岐部３０において、参照光Ａと測定光Ａとの干渉光、参照光Ｂと測定光Ｂとの干渉光、及び、参照光Ａと参照光Ｂとの干渉光が生成される。以下では、参照光Ａと測定光Ａとの干渉光を、干渉光Ａとする。また、以下では、参照光Ｂと測定光Ｂとの干渉光を、干渉光Ｂとする。本実施形態では、波長分散部材４６が存在するため干渉光Ａと干渉光Ｂとは、対応する測定光路及び参照光路の波長分散特性の差がそれぞれ異なる。すなわち、干渉光Ａに対応する参照光路Ａと測定光路Ａとの波長分散特性の差と、干渉光Ｂに対応する参照光路Ｂと測定光路Ｂとの波長分散特性の差と、は異なっている。また、以下では、参照光Ａと参照光Ｂとの干渉光を、干渉光Ｃとする。干渉光Ｃは、干渉参照光の一例である。伝達部４４は、分岐部３０で生成された各干渉光を含む光の光路を形成する光ファイバである。分岐部３０で生成された各干渉光を含む光は、伝達部４４を通り、回折格子４７に向かう。回折格子４７は、到達した光を分散する。そして、分散された光は、回折格子４７と受光部１５との間に配置された図示しないレンズに到達する。このレンズは、回折格子４７で分散された光を、波長成分（波数成分）毎に受光部１５の各受光素子に集光する。すなわち、受光部１５の各受光素子には、波数の異なる光が受光される。
【0013】
伝達部４４を進行する光は、回折格子４７で分散されることで、波長成分（波数成分）毎に分かれて受光部１５上に集光する。これにより、制御部１０は、受光部１５の複数の受光素子を介して、受光された光の波長成分（波数成分）毎の強度に応じた信号電流を検出できる。ただし、受光部１５の複数の受光素子が受光する光の波数は、等間隔とならない。そこで、制御部１０は、検出した信号電流に基づいて、補間処理を行うことで、等間隔の複数の波数値に対応する信号電流を求める。以下では、この等間隔の複数の波数値に対応する信号電流を、測定電流信号とする。制御部１０は、測定電流信号を離散フーリエ変換することで、波数－電流空間（以下ではＫ空間）の信号から、周波数－信号強度空間（以下ではＺ空間）の信号に変換する。以下では、ここで変換された信号を、測定信号とする。
【0014】
ここで、従来のＦＤ－ＯＣＴで得られる信号について説明する。従来、ＦＤ－ＯＣＴでは、ゼロ点に対して対称な光路長差を持つサンプルからの信号を区別できなかった。すなわち、ゼロ点よりも奥（被検眼から見て後ろ側）に既定の距離のサンプルから返ってきた測定光と参照光との干渉光は、ゼロ点よりも手前（被検眼から見て前側）に既定の距離のサンプルから返ってきた測定光と参照光との干渉光と、見分けがつかない。この場合、受光部を介して得られた波数に対する電流信号を離散フーリエ変換すると、周波数の正側と負側とに左右対称の信号が得られる。図３Ａの破線のグラフに従来のＦＤ－ＯＣＴで得られる信号の一例を示す。図３Ａでは、周波数の正側と負側とにそれぞれ左右対称に、サンプルに対応するピークが立っていることが分かる。このように、本来の信号と正負が逆の周波数帯に現れる信号をミラー信号とする。このような場合、例えば、ゼロ点をサンプルよりも明らかに手前側又は奥側に調整し、サンプルが存在しない方向の信号を無視することでサンプルの測定が行われる。そのため、ゼロ点の手前側と奥側との一方しか測定できない。
【0015】
そこで、正の周波数の信号と、負の周波数の信号と、を区別することで、正負両側（フルレンジで）の信号（ゼロ点の奥側及び手前側の信号）を取得するフルレンジＯＣＴという技術がある。フルレンジＯＣＴでは、ゼロ点を挟んだ両側を一度に測定できる。フルレンジＯＣＴには、ＤＥＦＲ（Ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ Ｅｎｃｏｄｅｄ Ｆｕｌｌ Ｒａｎｇｅ）という手法がある。例えば、図２の波長分散部材４６のように波長分散部材を設ける等することで、参照光と測定光との波長分散特性を異ならせることができる。この場合、参照光と測定光との波長分散の差の影響で、参照光と測定光との干渉光が受光部に受光されて得られるＺ空間における信号がブロードになる。すなわち、信号のピークの幅が広がり、且つ、信号強度が低下する。図３Ａの実線のグラフは、波長分散部材を設けた場合の信号を示す。参照光と測定光との波長分散特性を異ならせることで、信号がブロードになっていることが分かる。
【0016】
ここで、受光部を介して得られた測定電流信号に対して、波長分散の影響を補正する処理を施すことで、離散フーリエ変換後のＺ空間において、サンプルに対応するピークの部分がシャープになり（幅が狭く、信号強度が強くなり）、他のピークの部分がブロードになる。より詳細に説明する。
【0017】
ＯＣＴの干渉計において、干渉する測定光と参照光とが受光素子により受光される場合に受光素子から出力される信号電流を補間した測定電流信号Ｉは、以下の式１で表される。
【0018】
【数1】
【0019】
式１の上にバーが記載されたｕｓａｍｐｌｅ（以下では、ｕ－
ｓａｍｐｌｅと記載する）、ｕｒｅｆｅｒｅｎｃｅ（以下では、ｕ－
ｒｅｆｅｒｅｎｃｅと記載する）は、干渉する２つの光それぞれのエネルギーである。ηは、受光部の量子効率（入射する光子のうち信号としての電子に変換されるものの割合）である。ｈは、プランク定数である。ｑは、素電荷である。λは、光の波長である。ｋは、光の波数（波長λの逆数）である。Δｚは、干渉する２つの光（測定光、参照光）の光路長の差である。式１の第３項には、光の干渉による影響が表れている。
ここで、参照光路上に波長分散部材が配置されているとすると、Δｚは、以下の式２で表される。
ここで、参照光路上に波長分散部材が配置されているとすると、Δｚは、以下の式２で表される。
【0020】
【数2】
【0021】
式２で、ｚｓａｍｐｌｅは、測定光路の光路長である。ｚｒｅｆｅｒｅｎｃｅは、参照光路の光路長である。ｚｚｅｒｏ－ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎは、参照光路における近似的に波長分散特性を持たないとみなせる光路の光路長（波長分散部材の部分を除く部分の光路長）である。Ｌは、測定光路に設けられた光路における波長分散部材の長さである。ｎ（ｋ）は、波長分散部材における波数ｋの光の屈折率である。
測定電流信号Ｉの位相φは、式１の第３項のｃｏｓの引数より、波数ｋの関数として、以下の式３で表される。
測定電流信号Ｉの位相φは、式１の第３項のｃｏｓの引数より、波数ｋの関数として、以下の式３で表される。
【0022】
【数3】
【0023】
また、式３のｎ（ｋ）を、既定の波数ｋ０を基準に波数ｋについてテーラー展開すると、以下の式４のようになる。
【0024】
【数4】
【0025】
式４を式３に代入すると、以下の式５が得られる。
【0026】
【数5】
【0027】
式５におけるφ０は、以下の式６で表される。
【0028】
【数6】
【0029】
また、式５におけるΔｚ０は、以下の式７で表される。
【0030】
【数7】
【0031】
式５の位相φの成分のうち、第１項（φ０）と第２項（Δｚ０（ｋ－ｋ０））とは、ｋに比例する成分と定数とである。そのため、位相φが第１項と第２項とのみを成分にするならば、測定電流信号Ｉは、波数ｋの関数として正弦波の形状となり、測定電流信号Ｉを離散フーリエ変換しても、ピークの信号が乱れることはない。対して、式５の位相φの第３項は、参照光路と測定光路との分散特性の差の影響を示す。この第３項が存在することで、測定電流信号Ｉは、正弦波ではなくなる。この結果、測定電流信号Ｉを離散フーリエ変換した場合、ピークの信号がブロードになる。
【0032】
式５のφが求まれば、求まったφを多項式Σｊ＝０（ａｊ（ｋ－ｋ０）ｊ）で近似することで、式５の近似式が求まる。そして、この多項式から、０次項と１次項との成分を引き算することで、式５の第３項の情報は求まる。ここで、ａｊは、ｊ次項の係数を示す。また、式５のφを、多項式Σｊ＝０（ａｊ（ｋ－ｋ０）ｊ）で近似し、２次項以降の成分を、式５の第３項の情報としてみなしてもよい。
式５の第３項を、波長分散の大きさを示す無次元の値φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎとおく。φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎは、以下の式８で表される。
式５の第３項を、波長分散の大きさを示す無次元の値φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎとおく。φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎは、以下の式８で表される。
【0033】
【数8】
【0034】
測定電流信号Ｉは、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎを用いて以下の式９で表される。式９の第１項、第２項は、定数項である。第３項は、サンプルに到達し、サンプルから返ってきた測定光と参照光との干渉信号を示す。第４項は、第３項の複素共役成分（ミラー信号）を示し、第３項と正負が逆の周波数帯の信号となる。
【0035】
【数9】
【0036】
測定電流信号Ｉにｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかけることで、波長分散の影響を補正できる。Ｉにｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかけると、以下の式１０のようになる。
【0037】
【数10】
【0038】
式１０の第１項、第２項は、測定光、参照光に起因する定数項であるため、離散フーリエ変換後の信号では無視される。式１０の第３項を見ると、式９の第３項にはあったφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎがなくなっていることが分かる。すなわち、第３項においては、波長分散の影響が補正されていることが分かる。対して、式１０の第４項では、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎが式９の第４項に比べて２倍になっており、波長分散の影響が大きくなっていることが分かる。
【0039】
ｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかけたＩを離散フーリエ変換すると、Ｚ空間において、式１０の第３項に係る信号と、第３項に係る信号と正負が逆の周波数帯に第４項に係る信号と、が生じる。第３項に係る信号は、波長分散の影響が低減され、シャープになる。第３項に係る信号は、波長分散の影響が増大し、ブロードになる。すなわち、サンプルからの測定光に係る干渉光の信号についてはシャープとなり、ミラー信号についてはブロードとなる。このような特徴を用いて、Ｚ空間において、サンプルの信号と、左右対称に表れるミラー信号と、を区別できる。図３Ｂに、図３Ａの実線のグラフで表される信号に波長分散の補正が行われた場合の信号を示す。図３Ａに比べて、正の周波数側のピークがシャープになっており、負の周波数側のピークがブロードになっていることが分かる。このことから、正の周波数側の信号がサンプルに対応する信号であり、負の周波数側の信号がミラー信号であることが分かる。このようにして、本物の信号と、ミラー信号と、を区別することで、フルレンジＯＣＴが実現される。なお、本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、干渉光Ａを用いた測定において、フルレンジの測定（ゼロ点Ａを挟んで両側の測定）を行う。
【0040】
測定電流信号Ｉに光路における波長分散特性の差の影響がない場合、ｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかける波長分散の補正を行うと、離散フーリエ変換後の信号は、周波数の正側、負側ともにブロードになる。
波長分散特性が同じ光路を辿る光同士の干渉光の測定電流信号Ｉは、以下の式１１で表される。
波長分散特性が同じ光路を辿る光同士の干渉光の測定電流信号Ｉは、以下の式１１で表される。
【0041】
【数11】
【0042】
この測定電流信号に、ｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかける波長分散の補正を行うと、以下の式１２のようになる。
【0043】
【数12】
【0044】
式１２の第３項、第４項を見ると、式１１の第３項、第４項に比べてφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの影響が生じていることが分かる。このため、波長分散特性が同じ光路を辿る光同士の干渉光の測定電流信号Ｉに、波長分散の補正を行うとＺ空間における信号は、ブロードになる。図４ＡのグラフにＦＤ－ＯＣＴで波長分散の影響がない干渉光により得られる信号の一例を示す。正側及び負側の双方の周波数帯でともに信号がシャープであることが分かる。また、図４Ｂに、図４Ａの信号に波長分散の影響φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの補正がなされた信号を示す。正側及び負側の双方の周波数帯で信号がブロードになっていることが分かる。
【0045】
本実施形態では、制御部１０は、このような特徴を用いて、測定信号から、各干渉光に係る信号を抽出する。以下では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１の機能及び処理の詳細を説明する。
【0046】
制御部１０は、ＲＯＭに記憶された信号処理プログラム１００を実行することで、取得部１０１、抽出部１０２、導出部１０３、表示制御部１０４として機能する。そのため、以下では、各機能構成要素を主語とする処理は、実際には制御部１０が行う処理となる。
【0047】
取得部１０１は、単一の光源１４から出力され測定光路を辿る測定光と、光源１４から出力され参照光路を辿る参照光と、が干渉する複数の干渉光であって、干渉し合う光が辿る測定光路と参照光路との波長分散特性の差がそれぞれ異なる複数の干渉光を受光する単一の受光部１５から出力される出力信号を取得する。以下では、取得部１０１の処理の詳細を説明する。
【0048】
取得部１０１は、アライメント機構１３を介して、既定の位置に存在する被験者の被検眼の角膜頂点の位置を検出し、検出した角膜頂点の位置とＦＤ－ＯＣＴ装置１とが既定の位置関係となるようにＦＤ－ＯＣＴ装置１の位置を調整する。取得部１０１は、光源１４に光を出力させる。光源１４から光が出力されたことに応じて、受光部１５は、干渉光Ａ～Ｃを含む光を波数成分毎に受光する。取得部１０１は、干渉光Ａ～Ｃを含む光を受光した受光部１５の各受光素子から出力される信号電流を取得する。そして、制御部１０は、検出した信号電流に基づいて、補間処理を行うことで、等間隔の複数の波数値に対応する信号電流を、測定電流信号として求める。制御部１０は、測定電流信号を離散フーリエ変換することで、測定信号を取得する。受光部１５から出力され、加工がされた測定電流信号、測定信号は、出力信号の一例である。
【0049】
また、取得部１０１は、本実施形態では、以下の処理も行う。取得部１０１は、ハーフミラー４５を除き、且つ、測定対象の代わりに入射する光を逆方向に反射するためのミラーを配置した状態（参照光Ｂ、干渉光Ｂ、干渉光Ｃが存在しない状態）で、干渉光Ａ（参照光Ａとミラーから返ってきた測定光との干渉光）が受光された受光部１５から出力される信号電流を補間した測定電流信号を離散フーリエ変換した信号を取得する。取得部１０１は、離散フーリエ変換後の信号のうち、負の周波数帯の信号の値を全て０に置換する。取得部１０１は、置換後の信号を逆フーリエ変換することで、Ｋ空間の複素数の信号を取得する。取得部１０１は、ｋの値それぞれについて、虚数成分を、実数成分で除した値のアークタンジェントを求めることで、この測定電流信号の位相φを求める。取得部１０１は、求めたφを多項式Σｊ＝０（ａｊ（ｋ－ｋ０）ｊ）で近似する。取得部１０１は、近似した多項式から第１項、第２項を削除することで、波長分散部材４６により参照光路Ａと測定光路Ａとの間に生じる波長分散の差（波長分散部材４６による影響）の大きさを示す値φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの近似値を求める。ただし、取得部１０１は、近似した多項式の第３項～第ｍ（３以上の自然数）項を足し合わせて、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの近似値を求めてもよい。
【0050】
また、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎは、他の方法で求められてもよい。例えば、取得部１０１は、ハーフミラー４５を除き、且つ、測定対象の代わりに入射する光を逆方向に反射するためのミラーを配置した状態（参照光Ｂ、干渉光Ｂが存在しない状態）で干渉光Ａが受光された受光部１５から出力される信号電流を補間した測定電流信号を取得する。また、取得部１０１は、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎを既定の初期値にして、この測定電流信号にｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかけて波長分散を補正し、補正後の測定電流信号を離散フーリエ変換した信号を取得する。次に、取得部１０１は、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの値を変動させ、同様の処理を行い、離散フーリエ変換後の信号（Ｚ空間の信号）を取得する。取得部１０１は、これを繰り返し、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの値それぞれについてＺ空間の信号を取得する。φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの値を変えつつ補正した信号の中で最も波長分散が補正された信号は、最も信号強度が強くなる。そこで、取得部１０１は、この信号の中で、最も高い（信号強度の強い）ピークが存在する信号を特定し、特定した信号に対応するφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの値を、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの決定値としてもよい。
【0051】
取得部１０１は、求めたφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎを用いて、測定信号に波長分散の影響を補正する波長分散補正処理が施された補正信号を取得する。より具体的には、取得部１０１は、測定電流信号にｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかけ合わせて、波長分散の影響が補正された補正電流信号を取得する。そして、取得部１０１は、取得した補正電流信号を離散フーリエ変換した信号を、測定信号に波長分散補正処理が施された補正信号として取得する。
【0052】
抽出部１０２は、取得部１０１により取得された測定信号と、補正信号と、に基づいて、干渉光Ａ～Ｃ毎の信号である抽出信号を抽出する。以下では、抽出部１０２の処理の詳細を説明する。本実施形態では、ゼロ点Ｂは、角膜よりも手前に位置する。そのため、測定信号における負側の周波数帯の信号は、正側の周波数帯の信号のミラー信号である。そこで、本実施形態では、抽出部１０２は、測定信号の負側の周波数帯の信号は無視して、正側の周波数帯の信号と補正信号とから各干渉光の信号を抽出する。
【0053】
抽出部１０２は、測定信号と補正信号とから信号強度が最も大きい信号を、最大のピークの信号であるピーク信号として抽出する。ピーク信号は、抽出信号の一例である。図５に測定信号と補正信号との一例を示す。図５の例では、信号ｐ１が最も信号強度が大きい信号である。
【0054】
波長分散の補正処理（測定電流信号にｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかける処理）により、波長分散の影響が補正された信号は、元の信号よりも幅が狭く、強度が強くなる。波長分散の補正処理により補正されなかった信号については、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの影響が大きくなり、元の信号よりもブロード（幅が広く、強度が弱く）になる。そのため、信号強度が最も大きい信号が補正信号内に存在する場合、この信号は、波長分散部材４６による波長分散が補正された信号（すなわち、元々、波長分散部材４６による影響を受けた干渉光Ａ、干渉光Ｃに係る信号）である。また、信号強度が最も大きい信号が測定信号内に存在する場合、この信号は、元々、波長分散部材４６による影響を受けていない干渉光Ｂに係る信号である。
【0055】
抽出部１０２は、抽出したピーク信号が補正信号に含まれる場合、干渉光Ａ、Ｃに係る信号として、ＲＡＭに記憶する。
ここで、ピーク信号のＺ空間での座標値を、（周波数ｆｒ、信号強度ｓｔｒ、位相θ）とおくと、ピーク信号はｓｔｒ×Ｆ［ｅｘｐ（ｉ ｆｒ・ｋ＋ｉ θ）］で表される。ここで、Ｆは、離散フーリエ変換を表す演算子である。Ｆ演算子の計算は、Ｆ［（ｆ（ｘ）］＝Σｙ＝０ Ｎ－１ｆ（ｘ）ｅｘｐ（－２πｉｘｙ／Ｎ）と定義される。
ここで、ピーク信号のＺ空間での座標値を、（周波数ｆｒ、信号強度ｓｔｒ、位相θ）とおくと、ピーク信号はｓｔｒ×Ｆ［ｅｘｐ（ｉ ｆｒ・ｋ＋ｉ θ）］で表される。ここで、Ｆは、離散フーリエ変換を表す演算子である。Ｆ演算子の計算は、Ｆ［（ｆ（ｘ）］＝Σｙ＝０ Ｎ－１ｆ（ｘ）ｅｘｐ（－２πｉｘｙ／Ｎ）と定義される。
【0056】
抽出部１０２は、ピーク信号が補正信号に含まれる場合、ピーク信号に基づいて、補正信号におけるピーク信号のミラー信号を求める。以下では、補正信号におけるピーク信号のミラー信号を、ミラーピーク信号とする。より具体的には、抽出部１０２は、ピーク信号（ｓｔｒ×Ｆ［ｅｘｐ（ｉ ｆｒ・ｋ）＋ｉ θ］）を、（Ｆ［ｅｘｐ（２ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）でコンボリューションする。ここで、Ｎは、離散フーリエ変換のデータ数を示す。すなわち、抽出部１０２は、ｓｔｒ×Ｆ［ｅｘｐ（ｉ ｆｒ・ｋ＋ｉ θ）］）＊（Ｆ［ｅｘｐ（２ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）を求める。ここで、＊は、コンボリューションを表す演算子である。関数ｆ（ｘ）を関数ｇ（ｘ）でコンボリューションすることは、以下のように定義される。すなわち、ｆ（ｘ）＊ｇ（ｘ）＝Σｙ＝０
Ｎ－１（ｆ（ｙ）×ｇ（ｘ－ｙ））と定義される。そして、抽出部１０２は、コンボリューション結果における従属変数ｋの符号を反転させた値を求める。抽出部１０２は、求めた値の複素共役の信号を、ミラーピーク信号として取得する。
【0057】
また、抽出部１０２は、ピーク信号が補正信号に含まれる場合、ピーク信号に基づいて、測定信号におけるピーク信号に対応する信号（波長分散の影響の補正前のピーク信号）を求める。以下では、測定信号におけるピーク信号に対応する信号を、補正前ピーク信号とする。より具体的には、抽出部１０２は、図５のＰ１のようにピーク信号が正側の周波数帯に存在する場合、ピーク信号を（Ｆ［ｅｘｐ（ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）でコンボリューションすることで、補正前ピーク信号を取得する。また、抽出部１０２は、ピーク信号が負側の周波数帯に存在する場合、ピーク信号（ｓｔｒ×Ｆ［ｅｘｐ（ｉ ｆｒ・ｋ＋ｉ θ）］）を（Ｆ［ｅｘｐ（ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）でコンボリューションする。そして、抽出部１０２は、コンボリューション結果における従属変数ｋの符号を反転させた値を求め、求めた値の複素共役を求めることで、補正前ピーク信号を取得する。
そして、抽出部１０２は、測定信号から補正前ピーク信号を削除する。また、抽出部１０２は、補正信号からピーク信号及びミラーピーク信号を削除する。図６に、図５の例においてピーク信号Ｐ１、補正前ピーク信号、ミラーピーク信号が削除された例を示す。図６の破線の信号は、削除された信号を示す。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
そして、抽出部１０２は、測定信号から補正前ピーク信号を削除する。また、抽出部１０２は、補正信号からピーク信号及びミラーピーク信号を削除する。図６に、図５の例においてピーク信号Ｐ１、補正前ピーク信号、ミラーピーク信号が削除された例を示す。図６の破線の信号は、削除された信号を示す。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
【0058】
また、抽出部１０２は、抽出したピーク信号が測定信号に含まれる場合、干渉光Ｂに係る信号として、ＲＡＭに記憶する。測定信号及び補正信号が図６の実線の信号である場合、抽出部１０２は、信号ｐ２をピーク信号として抽出する。
抽出部１０２は、ピーク信号が測定信号に含まれる場合、ピーク信号に基づいて、補正信号におけるピーク信号に対応する信号（波長分散部材４６による波長分散の影響の補正が行われたピーク信号）と、その信号のミラー信号と、を求める。以下では、補正信号におけるピーク信号に対応する信号を、補正後ピーク信号とする。より具体的には、抽出部１０２は、ピーク信号を、（Ｆ［ｅｘｐ（－ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）でコンボリューションすることで、補正後ピーク信号を取得する。また、抽出部１０２は、ピーク信号を（Ｆ［ｅｘｐ（ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）でコンボリューションし、コンボリューション結果における従属変数ｋの符号を反転させた値を求める。抽出部１０２は、求めた値の複素共役を求めることで、補正後ピーク信号のミラー信号を取得する。
そして、抽出部１０２は、測定信号からピーク信号を削除する。図７に、図６の例において、測定信号及び補正信号から信号ｐ２に対応する信号が削除された様子を示す。図７の破線の信号は、削除された信号を示す。また、抽出部１０２は、補正信号から補正後ピーク信号及び補正後ピーク信号のミラー信号を削除する。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
抽出部１０２は、ピーク信号が測定信号に含まれる場合、ピーク信号に基づいて、補正信号におけるピーク信号に対応する信号（波長分散部材４６による波長分散の影響の補正が行われたピーク信号）と、その信号のミラー信号と、を求める。以下では、補正信号におけるピーク信号に対応する信号を、補正後ピーク信号とする。より具体的には、抽出部１０２は、ピーク信号を、（Ｆ［ｅｘｐ（－ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）でコンボリューションすることで、補正後ピーク信号を取得する。また、抽出部１０２は、ピーク信号を（Ｆ［ｅｘｐ（ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）］／Ｎ）でコンボリューションし、コンボリューション結果における従属変数ｋの符号を反転させた値を求める。抽出部１０２は、求めた値の複素共役を求めることで、補正後ピーク信号のミラー信号を取得する。
そして、抽出部１０２は、測定信号からピーク信号を削除する。図７に、図６の例において、測定信号及び補正信号から信号ｐ２に対応する信号が削除された様子を示す。図７の破線の信号は、削除された信号を示す。また、抽出部１０２は、補正信号から補正後ピーク信号及び補正後ピーク信号のミラー信号を削除する。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
【0059】
抽出部１０２は、以上の処理（測定信号と補正信号とからピーク信号を抽出、記憶し、測定信号と補正信号とからピーク信号に対応する信号を削除する処理）を、測定信号と補正信号とに既定の閾値以上の信号強度の信号がなくなるまで繰り返す。図８に、図５の例において、既定の閾値以上の信号強度の信号がなくなるまでこの処理が繰り返された際の測定信号と補正信号とを示す。
【0060】
抽出部１０２は、抽出したピーク信号に対応する信号が削除された補正信号と、ＲＡＭに記憶した干渉光Ａ、Ｃに係るピーク信号と、を結合する。このようにして、抽出部１０２は、干渉光Ａ、Ｃを用いて測定された信号を抽出する。また、抽出部１０２は、抽出したピーク信号に対応する信号が削除された測定信号と、ＲＡＭに記憶した干渉光Ｂに係るピーク信号と、を結合する。これにより、抽出部１０２は、干渉光Ｂを用いて測定された信号を抽出する。図９に、図５の例において抽出された干渉光Ａ、Ｃに係る信号と、干渉光Ｂに係る信号と、を示す。
このようにして、抽出部１０２は、測定信号から、干渉光それぞれに係る信号を抽出する。
このようにして、抽出部１０２は、測定信号から、干渉光それぞれに係る信号を抽出する。
【0061】
本実施形態では、抽出部１０２は、干渉光毎に抽出した信号から、公知の方法で、測定対象の画像を生成する。より具体的には、抽出部１０２は、干渉光Ａ、Ｃを用いて測定された信号を用いて、干渉光Ａを用いて測定される網膜近傍の画像（Ａ画像）を生成する。また、抽出部１０２は、干渉光Ｂを用いて測定された信号を用いて、干渉光Ｂを用いて測定される角膜近傍の画像（Ｂ画像）を生成する。
【0062】
導出部１０３は、抽出部１０２により抽出される抽出信号のうち、参照光路Ａを辿る参照光Ａと、参照光路Ｂを辿る参照光Ｂと、の干渉光である干渉光Ｃに対応する抽出信号に基づいて、参照光路Ａと参照光路Ｂとの差分を導出する。以下で、導出部１０３の処理の詳細を説明する。抽出部１０２により抽出された干渉光Ａ、Ｃに係る信号には、干渉光Ｃに係る信号が含まれる。この信号は、Ｚ空間において、ゼロ点Ａとゼロ点Ｂとの距離に対応する周波数のピークとして現れる。本実施形態では、ゼロ点Ａから見てゼロ点Ｂが存在しうる範囲が予め定められている。導出部１０３は、抽出部１０２により抽出された干渉光Ａ、Ｃに係る信号において、この範囲に対応する周波数帯に含まれるピークを、干渉光Ｃに係る信号として特定する。導出部１０３は、特定した信号の周波数から、ゼロ点Ａとゼロ点Ｂとの距離（参照光路Ａと参照光路Ｂとの差分）を導出する。このようにして、導出部１０３は、ゼロ点間の距離を求めることができる。
【0063】
表示制御部１０４は、抽出部１０２により抽出された抽出信号に基づいて干渉光毎に生成された複数の画像を、表示部１６に表示させる。表示制御部１０４の処理の詳細を説明する。
【0064】
表示制御部１０４は、抽出部１０２により生成された複数の画像それぞれを、被写体の位置関係に応じた位置関係となるように表示部１６に表示させる。すなわち、表示制御部１０４は、Ｂ画像内の角膜とＡ画像内の網膜とが画像内の縮尺で実際の角膜と網膜との位置関係と同じになるように、Ｂ画像とＡ画像とを表示する。より具体的には、表示制御部１０４は、Ｂ画像におけるゼロ点Ｂの位置と、Ａ画像におけるゼロ点Ａの位置と、を特定する。また、表示制御部１０４は、導出部１０３により導出された参照光路Ａと参照光路Ｂとの差（ゼロ点Ａとゼロ点Ｂとの距離）に基づいて、Ａ画像におけるゼロ点Ｂの位置を特定する。表示制御部１０４は、Ｂ画像におけるゼロ点Ｂの位置と、Ａ画像におけるゼロ点Ｂの位置と、が重なるように、Ｂ画像とＡ画像とを表示する。また、表示制御部１０４は、Ｂ画像とＡ画像とが一部重複している場合、重複部分についてＢ画像とＡ画像とを重ねて表示する。より具体的には、表示制御部１０４は、重複部分について、Ｂ画像とＡ画像とを５０％ずつ合成した画像を表示する。ただし、表示制御部１０４は、重複部分について、Ｂ画像とＡ画像との何れかを表示してもよい。図１０に、重ねて表示されるＢ画像とＡ画像との一例を示す。これにより、表示制御部１０４は、実際の位置関係と同じ位置関係で複数の測定対象の画像をユーザに提示できる。また、表示制御部１０４は、Ａ画像とＢ画像とを重複部分について重ねて表示することで、Ａ画像とＢ画像とを一体としてユーザに提示できる。
【0065】
なお、表示制御部１０４は、Ｂ画像とＡ画像とにおけるゼロ点Ｂの位置を特定しなくてもよい。例えば、表示制御部１０４は、Ａ画像及びＢ画像から、同じオブジェクト（例えば、水晶体）を検出し、検出したオブジェクトを重ね合わせるようにＢ画像とＡ画像とを表示してもよい。
【0066】
ただし、表示制御部１０４は、他の表示態様で、Ｂ画像とＡ画像とを表示させてもよい。例えば、表示制御部１０４は、角膜から見た網膜の方向と、Ｂ画像内の角膜から見たＡ画像の網膜の方向と、が同じになるようにすれば、Ｂ画像とＡ画像とを他の表示態様で表示してもよい。例えば表示制御部１０４は、Ｂ画像とＡ画像とを重ならないように表示してもよい。
【0067】
以上、本実施形態の構成により、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、対応する測定光路と参照光路との波長分散特性の差が異なる干渉光Ａ、Ｂに係る信号である測定信号を取得し、取得した測定信号に干渉光Ａについての波長分散の補正処理を施し補正信号を取得する。そして、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、波長分散の補正処理に応じた信号の変化の特徴を利用して、測定信号と、補正信号と、から、干渉光Ａを用いて測定される被検眼の網膜の信号と、干渉光Ｂを用いて測定される被検眼の角膜の信号と、を抽出する。このように、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、測定光路と参照光路との波長分散特性を同じにする手間をかけることなく、従来よりも簡易に複数の位置の信号を抽出できる。
【0068】
（１－２）抽出処理：
図１１を用いて、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１が実行する眼軸長測定処理を説明する。制御部１０は、被験者の被検眼が既定の位置に配置された後で、指定されたタイミングで、図１１の処理を開始する。
図１１を用いて、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１が実行する眼軸長測定処理を説明する。制御部１０は、被験者の被検眼が既定の位置に配置された後で、指定されたタイミングで、図１１の処理を開始する。
【0069】
ステップＳ１００において、取得部１０１は、アライメント機構１３を介して、既定の位置に存在する被験者の被検眼の角膜頂点の位置を検出し、検出した角膜頂点の位置とＦＤ－ＯＣＴ装置１とが既定の位置関係となるようにＦＤ－ＯＣＴ装置１の位置を調整する。取得部１０１は、ステップＳ１００の処理の完了後に、処理をステップＳ１０５に進める。
【0070】
ステップＳ１０５において、取得部１０１は、光源１４から光を出力させ、受光部１５から出力される信号電流を波数ｋについて補間することで、測定電流信号を取得する。取得部１０１は、ステップＳ１０５の処理の完了後に、処理をステップＳ１１０に進める。
【0071】
ステップＳ１１０において、取得部１０１は、参照光路Ａと測定光路との波長分散特性の差の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎを取得する。そして、ステップＳ１０５で取得された測定電流信号にｅｘｐ（－ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）をかけて波長分散を補正し、補正した信号を離散フーリエ変換することで、補正信号を取得する。取得部１０１は、ステップＳ１１０の処理の完了後に、処理をステップＳ１１５に進める。ステップＳ１０５～ステップＳ１１０の処理は、取得ステップの一例である。
【0072】
ステップＳ１１５において、抽出部１０２は、以下の処理を行う。ステップＳ１０５で取得された測定信号と、ステップＳ１１０で取得された補正信号と、から最大のピークをピーク信号として抽出する。抽出部１０２は、ピーク信号が補正信号に含まれる場合、ピーク信号を、干渉光Ａ、Ｃに係る信号としてＲＡＭに記憶する。そして、抽出部１０２は、ピーク信号に基づいて、ミラーピーク信号、補正前ピーク信号を求める。抽出部１０２は、補正信号からピーク信号及び、ミラー信号を削除し、測定信号から補正前ピーク信号を削除する。また、抽出部１０２は、ピーク信号が測定信号に含まれる場合、ピーク信号を、干渉光Ｂに係る信号としてＲＡＭに記憶する。そして、抽出部１０２は、ピーク信号に基づいて、補正後ピーク信号、補正後ピーク信号のミラー信号を求める。抽出部１０２は、補正信号から補正後ピーク信号及び、補正後ピーク信号のミラー信号を削除し、測定信号からピーク信号を削除する。抽出部１０２は、以上の処理を、測定信号及び補正信号から既定の閾値以上の信号強度の信号がなくなるまで繰り返す。
【0073】
抽出部１０２は、ピーク信号、補正前ピーク信号が削除された測定信号に、ＲＡＭに記憶した干渉光Ｂに係るピーク信号を結合させることで、干渉光Ｂに係る信号を抽出する。また、抽出部１０２は、ピーク信号、ミラーピーク信号、補正後ピーク信号、補正後ピーク信号のミラー信号が削除された補正信号に、ＲＡＭに記憶した干渉光Ａ、Ｃに係るピーク信号を結合させることで、干渉光Ａ、Ｃに係る信号を抽出する。抽出部１０２は、抽出した干渉光Ｂに係る信号に基づいて、角膜近傍の画像を生成する。また、抽出部１０２は、抽出した干渉光Ａ、Ｃに係る信号に基づいて、網膜近傍の画像を生成する。抽出部１０２は、ステップＳ１１５の処理の完了後に、処理をステップＳ１２０に進める。ステップＳ１１５の処理は、抽出ステップの一例である。
【0074】
ステップＳ１２０において、導出部１０３は、ステップＳ１１５で抽出された干渉光Ｃに係る信号に基づいて、ゼロ点Ａとゼロ点Ｂとの距離を導出する。導出部１０３は、ステップＳ１２０の処理の完了後に、処理をステップＳ１２５に進める。
ステップＳ１２５において、表示制御部１０４は、ステップＳ１１５で生成された角膜近傍の画像におけるゼロ点Ｂの位置を特定する。また、表示制御部１０４は、ステップＳ１２０で導出された距離に基づいて、ステップＳ１１５で生成された網膜近傍の画像におけるゼロ点Ｂの位置を特定する。そして、表示制御部１０４は、画像内のゼロ点Ｂの位置を合わせるように、角膜近傍の画像と網膜近傍の画像とを表示部１６に表示させる。
ステップＳ１２５において、表示制御部１０４は、ステップＳ１１５で生成された角膜近傍の画像におけるゼロ点Ｂの位置を特定する。また、表示制御部１０４は、ステップＳ１２０で導出された距離に基づいて、ステップＳ１１５で生成された網膜近傍の画像におけるゼロ点Ｂの位置を特定する。そして、表示制御部１０４は、画像内のゼロ点Ｂの位置を合わせるように、角膜近傍の画像と網膜近傍の画像とを表示部１６に表示させる。
【0075】
（２）第２の実施形態：
第１の実施形態では、波長分散特性の異なる複数の参照光路が設けられる場合について説明した。本実施形態では、波長分散特性の異なる複数の測定光路が設けられる場合について説明する。
図１２に、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を示す。図１２において、図２と同様の符号のものは、図２と同様のものである。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成のうち、第１の実施形態と異なる点を説明する。
本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、ミラー１２ｂ、ハーフミラー４５、波長分散部材４６を備えず、参照光路は１つとなる。また、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、波長分散特性の異なる複数の測定光路を形成するための光学系（偏光ビームスプリッター４８、５１、ミラー４９、５０、波長分散部材５２、レンズ５３ａ、５３ｂ）を備える。
第１の実施形態では、波長分散特性の異なる複数の参照光路が設けられる場合について説明した。本実施形態では、波長分散特性の異なる複数の測定光路が設けられる場合について説明する。
図１２に、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を示す。図１２において、図２と同様の符号のものは、図２と同様のものである。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成のうち、第１の実施形態と異なる点を説明する。
本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、ミラー１２ｂ、ハーフミラー４５、波長分散部材４６を備えず、参照光路は１つとなる。また、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、波長分散特性の異なる複数の測定光路を形成するための光学系（偏光ビームスプリッター４８、５１、ミラー４９、５０、波長分散部材５２、レンズ５３ａ、５３ｂ）を備える。
【0076】
本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１において、測定光が辿る測定光路を説明する。分岐部３０で分岐された測定光は、偏光ビームスプリッター４８に向かう。偏光ビームスプリッター４８において、測定光は、ミラー４９に向かう光と、ミラー５０に向かう光と、に分岐される。本実施形態では、ミラー５０に向かう光は、被検眼の網膜の測定に用いられる測定光である。以下では、被検眼の網膜の測定に用いられる測定光を、測定光Ａとする。また、測定光Ａの辿る光路を、測定光路Ａとする。また、ミラー４９に向かう光は、被検眼の角膜の測定に用いられる測定光である。以下では、被検眼の角膜の測定に用いられる測定光を、測定光Ｂとする。また、測定光Ｂの辿る光路を、測定光路Ｂとする。
【0077】
偏光ビームスプリッター４８で分岐されミラー５０に到達した測定光Ａは、ミラー５０で反射され、波長分散部材５２、レンズ５３ａを通過し、偏光ビームスプリッター５１に向かう。レンズ５３ａは、測定光Ａを用いて測定される測定対象の位置の近傍でフォーカスする（焦点を結ぶ）レンズである。ただし、本実施形態では、測定光Ａを用いて測定される対象は網膜であり、測定光Ａは被検眼の角膜・水晶体により網膜の近傍で集光されることが考えられる。そのため、レンズ５３ａを設けないこととしてもよい。そして、測定光Ａは、偏光ビームスプリッター５１を通過し、測定対象である被検眼の網膜に向かう。測定光Ａは、網膜で反射・散乱し、一部が入射方向と逆方向に返っていく。測定光Ａは、偏光ビームスプリッター５１、レンズ５３ａ、波長分散部材５２、ミラー５０、偏光ビームスプリッター４８を経由して、分岐部３０に戻る。
【0078】
偏光ビームスプリッター４８で分岐された測定光Ｂは、レンズ５３ｂを通過して、ミラー４９に向かう。レンズ５３ｂは、レンズ５３ａと異なる位置である、測定光Ｂを用いて測定される角膜近傍でフォーカスするレンズである。このように、測定光路において、測定対象近傍にフォーカスするレンズを設けることで、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、より精度のよい測定ができる。測定光Ｂは、ミラー４９で反射され、偏光ビームスプリッター５１に向かい、偏光ビームスプリッター５１で向きを変えられ、被検眼の角膜で反射・散乱され、一部が入射方向と逆方向に返っていく。測定光Ｂは、偏光ビームスプリッター５１、ミラー４９、レンズ５３ｂ、偏光ビームスプリッター４８を経由して、分岐部３０に戻る。
【0079】
分岐部３０において、測定光Ａと参照光（ミラー１２ａに向かい、ミラー１２ａから戻ってきた光）との干渉光（以下では、干渉光Ａ）と、測定光Ｂと参照光との干渉光（以下では、干渉光Ｂ）と、が生成される。生成された干渉光Ａ、Ｂは、伝達部４４、回折格子４７を経由して、波数成分毎に受光部１５に受光される。干渉光Ａは、波長分散部材５２の影響により波長分散が生じている。干渉光Ｂには、波長分散部材５２の影響がない。
【0080】
本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の処理を説明する。
本実施形態の取得部１０１の処理は、第１の実施形態と同様である。すなわち、取得部１０１は、干渉光Ａ～Ｃを受光した受光部１５から出力される信号電流を波数ｋについて補間し、測定電流信号を取得する。そして、取得部１０１は、取得した測定電流信号を離散フーリエ変換し、測定信号を取得する。
本実施形態の取得部１０１の処理は、第１の実施形態と同様である。すなわち、取得部１０１は、干渉光Ａ～Ｃを受光した受光部１５から出力される信号電流を波数ｋについて補間し、測定電流信号を取得する。そして、取得部１０１は、取得した測定電流信号を離散フーリエ変換し、測定信号を取得する。
【0081】
また、取得部１０１は、干渉光Ａにおける波長分散部材５２の影響による波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎを求める。取得部１０１は、第１の実施形態と同様の方法で、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎを求める。すなわち、取得部１０１は、レンズ５３ｂを遮光した状態（測定光Ｂ、干渉光Ｂが存在しない状態）で干渉光Ａが受光された受光部１５から出力される信号電流を補間した測定電流信号に基づいて、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの近似値を求める。
【0082】
取得部１０１は、求めたφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎを用いて、第１の実施形態と同様の方法で、測定信号に波長分散の影響を補正する波長分散補正処理が施された補正信号を取得する。
【0083】
抽出部１０２は、取得部１０１により取得された測定信号と、補正信号と、に基づいて、干渉光Ａ、Ｂ毎の抽出信号を抽出する。本実施形態では、測定光路Ｂにおけるゼロ点Ｂは、角膜よりも手前側に位置する。そのため、測定信号の負側の周波数帯の信号は、正側の信号のミラー信号である。そこで、本実施形態では、抽出部１０２は、測定信号の負側の周波数帯の信号を無視して、測定信号の正側の周波数帯の信号と、補正信号と、から各干渉光の抽出信号を抽出する。
【0084】
抽出部１０２は、第１の実施形態と同様の処理を行うことで、測定信号と補正信号とから、干渉光Ａに係る信号と、干渉光Ｂに係る信号と、を抽出する。すなわち、抽出部１０２は、測定信号と補正信号とから信号強度が最も大きい信号を、最大のピークの信号であるピーク信号として抽出する。
抽出部１０２は、抽出したピーク信号が補正信号に含まれる場合、干渉光Ａに係る信号として、ピーク信号をＲＡＭに記憶する。また、抽出部１０２は、ピーク信号に基づいて、ミラーピーク信号と補正前ピーク信号とを取得する。
そして、抽出部１０２は、測定信号から補正前ピーク信号を削除する。また、抽出部１０２は、補正信号からピーク信号及びミラーピーク信号を削除する。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
抽出部１０２は、抽出したピーク信号が補正信号に含まれる場合、干渉光Ａに係る信号として、ピーク信号をＲＡＭに記憶する。また、抽出部１０２は、ピーク信号に基づいて、ミラーピーク信号と補正前ピーク信号とを取得する。
そして、抽出部１０２は、測定信号から補正前ピーク信号を削除する。また、抽出部１０２は、補正信号からピーク信号及びミラーピーク信号を削除する。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
【0085】
また、抽出部１０２は、抽出したピーク信号が測定信号に含まれる場合、干渉光Ｂに係る信号として、ＲＡＭに記憶する。また、抽出部１０２は、ピーク信号に基づいて、補正後ピーク信号と補正後ピーク信号のミラー信号とを取得する。
そして、抽出部１０２は、測定信号からピーク信号を削除する。また、抽出部１０２は、補正信号から補正後ピーク信号及び補正後ピーク信号のミラー信号を削除する。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
そして、抽出部１０２は、測定信号からピーク信号を削除する。また、抽出部１０２は、補正信号から補正後ピーク信号及び補正後ピーク信号のミラー信号を削除する。これにより、測定信号、補正信号からピーク信号に対応する信号が削除される。
【0086】
抽出部１０２は、以上の処理を、測定信号と補正信号とに既定の閾値以上の信号強度の信号がなくなるまで繰り返す。
【0087】
抽出部１０２は、抽出したピーク信号に対応する信号が削除された補正信号と、ＲＡＭに記憶した干渉光Ａに係るピーク信号と、を結合する。これにより、抽出部１０２は、干渉光Ａを用いて測定された信号を抽出する。また、抽出部１０２は、抽出したピーク信号に対応する信号が削除された測定信号に、ＲＡＭに記憶した干渉光Ｂに係るピーク信号を結合する。これにより、抽出部１０２は、干渉光Ｂを用いて測定された信号を抽出する。
このようにして、抽出部１０２は、測定信号から、干渉光それぞれに係る信号を抽出する。
このようにして、抽出部１０２は、測定信号から、干渉光それぞれに係る信号を抽出する。
【0088】
本実施形態では、抽出部１０２は、干渉光毎に抽出した信号から、公知の方法で、測定対象の画像を生成する。より具体的には、抽出部１０２は、干渉光Ａを用いて測定された信号を用いて、干渉光Ａを用いて測定される網膜近傍の画像（Ａ画像）を生成する。また、抽出部１０２は、干渉光Ｂを用いて測定された信号を用いて、干渉光Ｂを用いて測定される角膜近傍の画像（Ｂ画像）を生成する。
【0089】
表示制御部１０４の処理は、第１の実施形態と同じである。
【0090】
以上、本実施形態の構成により、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、測定光路が複数存在する場合でも、従来よりも簡易に複数の位置を併せて測定できる。
【0091】
また、測定光Ａと測定光Ｂとが別々の測定対象に向かうよう、測定光路Ａと測定光路Ｂとが構成されてもよい。例えば、図１３に示すように、測定光Ａが測定光Ｂと異なる光軸を通り、測定光Ｂの測定対象と異なる測定対象に向かうこととしてもよい。また、図１４に示すように、測定光Ａと測定光Ｂとが同じ測定対象の異なる位置に異なる光軸を通り向かうよう、測定光路Ａと測定光路Ｂとが構成されてもよい。これにより、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、異なる光軸上に存在する複数の位置を併せて測定できる。
【0092】
（３）第３の実施形態：
本実施形態では、測定対象の測定に用いられる各干渉光が、それぞれ異なる測定光路を辿る測定光と、それぞれ異なる参照光路を辿る参照光と、の干渉光である場合について説明する。すなわち、測定に用いられる干渉光毎に、異なる参照光路と、異なる測定光路と、が存在する場合について説明する。
図１５に、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を示す。図２と同じ記号のものは、図２と同様である。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１は、参照光路Ａ及び測定光路Ａを形成するための伝達部及び分岐部を、参照光路Ｂ及び測定光路Ｂを形成するための伝達部及び分岐部と別に備える点で、第１の実施形態と異なる。
本実施形態では、測定対象の測定に用いられる各干渉光が、それぞれ異なる測定光路を辿る測定光と、それぞれ異なる参照光路を辿る参照光と、の干渉光である場合について説明する。すなわち、測定に用いられる干渉光毎に、異なる参照光路と、異なる測定光路と、が存在する場合について説明する。
図１５に、本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を示す。図２と同じ記号のものは、図２と同様である。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１は、参照光路Ａ及び測定光路Ａを形成するための伝達部及び分岐部を、参照光路Ｂ及び測定光路Ｂを形成するための伝達部及び分岐部と別に備える点で、第１の実施形態と異なる。
【0093】
本実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、図２の伝達部４１～４４及び分岐部３０に相当する組を２つ（伝達部４１ａ～４４ａ及び分岐部３０ａ、伝達部４１ｂ～４４ｂ及び分岐部３０ｂ）備える。伝達部４１ａ～４４ａ及び分岐部３０ａは、ミラー１２ａに向かう参照光（参照光Ａ）が辿る参照光路（参照光路Ａ）と測定光（測定光Ａ）が辿る測定光路（測定光路Ａ）との形成に用いられる。伝達部４１ｂ～４４ｂ及び分岐部３０ｂは、ミラー１２ｂに向かう参照光（参照光Ｂ）が辿る参照光路（参照光路Ｂ）と測定光（測定光Ｂ）が辿る測定光路（測定光路Ｂ）との形成に用いられる。
【0094】
伝達部４３ａから出力される測定光Ａは、偏光ビームスプリッター５４を通り、測定対象に向かい、測定対象から、偏光ビームスプリッター５４を通り伝達部４３ａへ返ってくる。分岐部３０ａにおいて、返ってきた測定光Ａと参照光Ａとが合成され、干渉光Ａが生成される。干渉光Ａは、伝達部４４ａ、偏光ビームスプリッター５６、回折格子４７を通り、受光部１５へ向かう。また、伝達部４３ｂから出力される測定光Ａは、ミラー５５、偏光ビームスプリッター５４を通り、測定対象に向かい、測定対象から、偏光ビームスプリッター５４、ミラー５５を通り伝達部４３ｂへ返ってくる。分岐部３０ｂにおいて、返ってきた測定光Ｂと参照光Ｂとが合成され、干渉光Ｂが生成される。干渉光Ｂは、伝達部４４ｂ、偏光ビームスプリッター５６、回折格子４７を通り、受光部１５へ向かう。
本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の処理は、第１の実施形態と同様である。
本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の処理は、第１の実施形態と同様である。
【0095】
以上、本実施形態の構成により、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、測定に用いられる干渉光毎に、異なる参照光路と、異なる測定光路と、が存在する場合でも、従来よりも簡易に複数の位置を併せて測定できる。
【0096】
（４）第４の実施形態：
第１の実施形態では、測定される位置は、２つであった。本実施形態では、測定される位置が３つ以上である場合を説明する。
本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を図１６に示す。図２と同様の符号のものは、図２と同様である。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成について、第１の実施形態との違いを説明する。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１は、Ｘ（３以上の整数）個の参照光路を形成するためのハーフミラーとミラーとの組をＸ個備える。本実施形態では、ｎ組目の参照光路（以下では、参照光路（ｎ））を形成するためのハーフミラーとミラーとを、ハーフミラー４５（ｎ）とミラー１２（ｎ）と表現する。また、２以上のｎについて、ハーフミラー４５（ｎ）とミラー１２（ｎ）との間にそれぞれ波長分散特性の異なる波長分散部材４６（ｎ）が配置されている。
第１の実施形態では、測定される位置は、２つであった。本実施形態では、測定される位置が３つ以上である場合を説明する。
本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成を図１６に示す。図２と同様の符号のものは、図２と同様である。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の構成について、第１の実施形態との違いを説明する。本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１は、Ｘ（３以上の整数）個の参照光路を形成するためのハーフミラーとミラーとの組をＸ個備える。本実施形態では、ｎ組目の参照光路（以下では、参照光路（ｎ））を形成するためのハーフミラーとミラーとを、ハーフミラー４５（ｎ）とミラー１２（ｎ）と表現する。また、２以上のｎについて、ハーフミラー４５（ｎ）とミラー１２（ｎ）との間にそれぞれ波長分散特性の異なる波長分散部材４６（ｎ）が配置されている。
【0097】
伝達部４２から出力された参照光（ｎ）は、ハーフミラー（１）～（ｎ）、及び、波長分散部材４６（ｎ）を通り、ミラー１２（ｎ）に到達し、反射され、波長分散部材４６（ｎ）及び、ハーフミラー（ｎ）～（１）、伝達部４２を通り、分岐部３０に到達する。
【0098】
分岐部３０では、参照光（１）～（Ｘ）それぞれと、測定光と、の干渉光が生成される。以下では、参照光（ｎ）と測定光との干渉光を干渉光（ｎ）とする。干渉光（１）～（Ｘ）を含む光は、受光部１５に向かい、受光される。本実施形態では、波長分散部材４６（２）～（Ｘ）の影響により、干渉光（１）～（Ｘ）は、干渉し合う参照光及び測定光が辿る参照光路及び測定光路の波長分散特性の差がそれぞれ異なる。すなわち、干渉光（ｎ）に含まれる参照光及び測定光が辿る参照光路及び測定光路との波長分散特性の差は、干渉光（ｍ）（ｍ≠ｎ）に含まれる参照光及び測定光が辿る参照光路及び測定光路との波長分散特性の差と異なる。
【0099】
本実施形態のＦＤ－ＯＣＴ装置１の処理を説明する。
取得部１０１は、受光部１５から出力される信号電流を波数ｋについて補間して測定電流信号を取得する。そして、取得部１０１は、取得した測定電流信号を離散フーリエ変換することで、測定信号を取得する。取得部１０１は、求めたφを多項式Σｊ＝０（ａｊ（ｋ－ｋ０）ｊ）で近似する。取得部１０１は、近似した多項式から第１項、第２項を削除することで、波長分散部材４６により参照光路Ａと測定光路Ａとの間に生じる波長分散の差（波長分散部材４６による影響）の大きさを示す値φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ の近似値を求める。ただし、取得部１０１は、近似した多項式の第３項～第ｍ（３以上の自然数）項を 足し合わせて、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの近似値を求めてもよい。
取得部１０１は、受光部１５から出力される信号電流を波数ｋについて補間して測定電流信号を取得する。そして、取得部１０１は、取得した測定電流信号を離散フーリエ変換することで、測定信号を取得する。取得部１０１は、求めたφを多項式Σｊ＝０（ａｊ（ｋ－ｋ０）ｊ）で近似する。取得部１０１は、近似した多項式から第１項、第２項を削除することで、波長分散部材４６により参照光路Ａと測定光路Ａとの間に生じる波長分散の差（波長分散部材４６による影響）の大きさを示す値φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ の近似値を求める。ただし、取得部１０１は、近似した多項式の第３項～第ｍ（３以上の自然数）項を 足し合わせて、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎの近似値を求めてもよい。
【0100】
取得部１０１は、干渉光（２）～（Ｘ）それぞれにおける波長分散部材４６（２）～４６（Ｘ）それぞれの影響による波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿２～φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿Ｘを求める。取得部１０１は、第１の実施形態と同様の方法で、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎ（ｎ：１～Ｘそれぞれ）を求める。すなわち、取得部１０１は、参照光（ｎ）以外の参照光が存在しない状態（例えば、ハーフミラー４５（１）～４５（Ｘ）のうちハーフミラー４５（ｎ）以外を除いた状態）で干渉光（ｎ）が受光された受光部１５から出力される信号電流を補間した測定電流信号を離散フーリエ変換した信号を取得する。取得部１０１は、離散フーリエ変換の信号のうち、負の周波数帯の信号の値を全て０に置換する。取得部１０１は、置換後の信号を逆フーリエ変換することで、Ｋ空間の複素数の信号を取得する。取得部１０１は、ｋの値それぞれについて、虚数成分を実数成分で除した値のアークタンジェントを求めることで、この測定電流信号の位相φを求める。取得部１０１は、求めたφを多項式Σｊ＝０（ａｊ（ｋ－ｋ０）ｊ）で近似する。取得部１０１は、近似した多項式から第１項、第２項を削除することで、波長分散部材５２により参照光路と測定光路Ａとの間に生じる波長分散の差（波長分散部材４６（ｎ）による影響）の大きさを示す値φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎの近似値を求める。ただし、取得部１０１は、近似した多項式の第３項～第ｍ（３以上の自然数）項を足し合わせて、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎの近似値を求めてもよい。また、取得部１０１は、干渉光（１）における波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿１を取得する。本実施形態では、参照光路（１）には、波長分散部材が配置されていないため、取得部１０１は、干渉光（１）に波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿１を０とする。
【0101】
また、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎは、他の方法で求められてもよい。例えば、取得部１０１は、参照光（ｎ）以外の参照光が存在しない状態で、干渉光（ｎ）を含む光が受光された受光部１５から出力される信号電流を補間した測定電流信号を取得する。また、取得部１０１は、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎを既定の初期値にして、この測定電流信号にｅｘｐ（－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎ）をかけて波長分散を補正し、補正後の測定電流信号を離散フーリエ変換した信号を取得する。次に、取得部１０１は、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎの値を変動させ、同様の処理を行い、離散フーリエ変換後の信号（Ｚ空間の信号）を取得する。取得部１０１は、これを繰り返し、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎの値それぞれについてＺ空間の信号を取得する。φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎの値を変えつつ補正した信号の中で最も波長分散が補正された信号は、最も信号強度が強くなる。そこで、取得部１０１は、この信号の中で、最も高い（信号強度の強い）ピークが存在する信号を特定し、特定した信号に対応するφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎの値を、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎの決定値としてもよい。
また、取得部１０１は、干渉光（１）における波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿１を０として取得する。本実施形態では、参照光路（１）には、波長分散部材が配置されていないため、干渉光（１）における波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿１を０とする。
また、取得部１０１は、干渉光（１）における波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿１を０として取得する。本実施形態では、参照光路（１）には、波長分散部材が配置されていないため、干渉光（１）における波長分散の大きさφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿１を０とする。
【0102】
取得部１０１は、φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿１～φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿Ｘのφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎそれぞれについて、測定電流信号にｅｘｐ（－ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎ）をかけて波長分散を補正し、離散フーリエ変換することで、干渉光（ｎ）における波長分散が補正された補正信号（ｎ）を取得する。また、以下では、取得部１０１は、測定信号を、補正信号（１）として扱う。本実施形態では、測定光路における参照光路（１）のゼロ点は、測定対象よりも手前にくるよう調整されている。そのため、補正信号（１）の負の周波数帯の信号は無視される。
【0103】
抽出部１０２は、補正信号（１）～（ｎ）から信号強度が最も大きい信号を、最大のピークの信号であるピーク信号として抽出する。図１７に、測定信号と、補正信号と、の一例を示す。図１７の例では、信号ｐｎが最も信号強度が大きい信号である。
【0104】
抽出部１０２は、抽出したピーク信号が補正信号（ｎ）に含まれる場合、干渉光（ｎ）（又は、参照光（ｎ）と参照光（１）との干渉光）に係る信号として、ＲＡＭに記憶する。
抽出部１０２は、ピーク信号が補正信号（ｎ）に含まれる場合、ピーク信号に基づいて、補正信号（ｎ）におけるピーク信号のミラー信号（ミラーピーク信号）を求める。より具体的には、抽出部１０２は、ピーク信号（ｓｔｒ×Ｆ［ｅｘｐ（ｉ ｆｒ・ｋ＋ｉ θ）］）を、（Ｆ［ｅｘｐ（２ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎ）］／Ｎ）でコンボリューションする。そして、抽出部１０２は、コンボリューション結果における従属変数ｋの符号を反転させた値を求める。抽出部１０２は、求めた値の複素共役の信号を、ミラーピーク信号として取得する。
抽出部１０２は、ピーク信号が補正信号（ｎ）に含まれる場合、ピーク信号に基づいて、補正信号（ｎ）におけるピーク信号のミラー信号（ミラーピーク信号）を求める。より具体的には、抽出部１０２は、ピーク信号（ｓｔｒ×Ｆ［ｅｘｐ（ｉ ｆｒ・ｋ＋ｉ θ）］）を、（Ｆ［ｅｘｐ（２ｉ φｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎ）］／Ｎ）でコンボリューションする。そして、抽出部１０２は、コンボリューション結果における従属変数ｋの符号を反転させた値を求める。抽出部１０２は、求めた値の複素共役の信号を、ミラーピーク信号として取得する。
【0105】
また、抽出部１０２は、ピーク信号が補正信号（ｎ）に含まれる場合、ピーク信号に基づいて、他の補正信号におけるピーク信号に対応する信号を求める。より具体的には、抽出部１０２は、以下のようにして、補正信号（ｍ）（ｍ≠ｎ）におけるピーク信号に対応する信号と、この信号のミラー信号と、を求める。以下では、補正信号（ｍ）におけるピーク信号に対応する信号を、対応信号（ｍ）とする。すなわち、抽出部１０２は、ピーク信号を、（Ｆ［ｅｘｐ（ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎ－ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｍ）］／Ｎ）でコンボリューションすることで、対応信号（ｍ）を取得する。また、抽出部１０２は、ピーク信号を、（Ｆ［ｅｘｐ（ｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎｉφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｍ）］／Ｎ）でコンボリューションする。そして、抽出部１０２は、コンボリューション結果における従属変数ｋの符号を反転させ、複素共役をとることで、対応信号（ｍ）のミラー信号を取得する。ただし、ｍ＝１の場合、抽出部１０２は、対応信号（ｍ）と、対応信号（ｍ）のミラー信号と、のうち負の周波数帯に存在する信号については、取得しなくてもよい。図１７に、補正信号（ｎ）に存在するピーク信号ｐｎの対応信号（ｍ）と、対応信号（ｍ）のミラー信号と、を破線で示す。
【0106】
抽出部１０２は、補正信号（ｎ）からピーク信号と、ミラーピーク信号と、を削除する。また、抽出部１０２は、他の補正信号（ｍ）それぞれから対応信号（ｍ）と、対応信号（ｍ）のミラー信号と、を削除する。ただし、ｍ＝１の場合、抽出部１０２は、対応信号（ｍ）と、対応信号（ｍ）のミラー信号と、のうち正の周波数帯に存在する信号について削除する。
【0107】
抽出部１０２は、以上の処理（補正信号（１）～（Ｘ）からピーク信号を抽出、記憶し、補正信号（１）～（Ｘ）からピーク信号に対応する信号を削除する処理）を、補正信号（１）～（Ｘ）から既定の閾値以上の信号強度の信号がなくなるまで繰り返す。
【0108】
抽出部１０２は、補正信号それぞれについて、抽出したピーク信号に対応する信号が削除された補正信号（ｎ）と、ＲＡＭに記憶した干渉光（ｎ）（又は、参照光（１）と参照光（ｎ）との干渉光）に係るピーク信号と、を結合する。これにより、抽出部１０２は、干渉光（ｎ）を用いて測定された信号を抽出する。
このようにして、抽出部１０２は、測定信号から、干渉光それぞれに係る信号を抽出する。
このようにして、抽出部１０２は、測定信号から、干渉光それぞれに係る信号を抽出する。
【0109】
本実施形態では、抽出部１０２は、干渉光毎に抽出した信号から、公知の方法で、測定対象の画像を生成する。
【0110】
本実施形態の導出部１０３は、第１の実施形態と同様の方法で、抽出部１０２により抽出された干渉光（ｎ）を用いて測定された信号に基づいて、参照光路（１）と参照光路（ｎ）との差（測定光路における参照光路（１）のゼロ点と、参照光路（ｎ）のゼロ点との距離）を求める。
【0111】
本実施形態の表示制御部１０４は、第１の実施形態と同様に、抽出部１０２により生成された画像を、被写体の位置関係に応じた位置関係で表示部１６に表示させる。
【0112】
以上、本実施形態の構成により、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、干渉光毎にそれぞれ異なるφｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ＿ｎを利用して、干渉光それぞれに係る信号を抽出でき、３つ以上の異なる位置を併せて測定できる。
【0113】
本実施形態では、３つ以上の参照光路について、波長分散特性を異ならせることで、干渉光（１）～（Ｘ）それぞれについて、対応する参照光路及び測定光路の波長分散特性の差を異ならせるとした。ただし、測定光路を３つ以上構成し、測定光路それぞれについて、波長分散特性を異ならせることで、干渉光（１）～（Ｘ）それぞれについて、対応する参照光路及び測定光路の波長分散特性の差を異ならせるとしてもよい。
【0114】
（５）他の実施形態：
以上の実施形態は本発明を実施するための一例であり、他にも種々の実施形態を採用可能である。従って、上述の実施形態の少なくとも一部の構成が省略、置換、された構成であってもよい。また、上述の実施形態が適宜組み合わされた構成であってもよい。また、取得部１０１、抽出部１０２、導出部１０３、表示制御部１０４の機能の少なくとも一部が、ＦＤ－ＯＣＴ装置１と別の信号処理装置（例えば、ＦＤ－ＯＣＴ装置１に組み込まれたコンピュータ、ＦＤ－ＯＣＴ装置１に接続されたコンピュータ等）に実装されてもよい。
以上の実施形態は本発明を実施するための一例であり、他にも種々の実施形態を採用可能である。従って、上述の実施形態の少なくとも一部の構成が省略、置換、された構成であってもよい。また、上述の実施形態が適宜組み合わされた構成であってもよい。また、取得部１０１、抽出部１０２、導出部１０３、表示制御部１０４の機能の少なくとも一部が、ＦＤ－ＯＣＴ装置１と別の信号処理装置（例えば、ＦＤ－ＯＣＴ装置１に組み込まれたコンピュータ、ＦＤ－ＯＣＴ装置１に接続されたコンピュータ等）に実装されてもよい。
【0115】
上述の各実施形態では、測定光路と参照光路とのうち波長分散特性を異ならせない方の光路については、波長分散部材を設けず、波長分散を生じさせないとした。ただし、測定光路と参照光路とのうち波長分散特性を異ならせない方の光路についても、各光路に同じ波長分散部材を設けるなどして波長分散（以下では、この波長分散の大きさをφｄとする）を生じさせてもよい。この場合、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、測定信号について、正の周波数帯、負の周波数帯の何れかを無視しなくてもよい。抽出部１０２は、抽出した干渉光Ｂ（第４の実施形態では、干渉光（１））に係る信号について、φｄの波長分散を補正し、補正前後の信号に基づいてＤＥＦＲと同じ方法でミラー信号を除くことで、干渉光Ｂ（干渉光（１））についてもフルレンジでの測定ができる。
【0116】
また、上述の実施形態２では、測定光路それぞれに対応する測定対象の位置の近傍にフォーカスするレンズを設けることした。ただし、何れの実施形態の場合でも、測定光路の少なくとも一部に測定対象の位置の近傍にフォーカスするレンズを設けてもよい。
【0117】
また、上述の各実施形態では、測定光路と参照光路とのうち波長分散特性を異ならせる方の光路の１つについては、波長分散部材を設けず、波長分散を生じさせないとした。ただし、この光路にも波長分散部材を設ける等して波長分散（以下では、この波長分散の大きさをφｄｉｓとする）を生じさせてもよい。この場合、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、測定信号について、正の周波数帯、負の周波数帯の何れかを無視しなくてもよい。抽出部１０２により抽出される干渉光Ｂ（第４の実施形態では、干渉光（１））に係る信号について、φｄｉｓの波長分散を補正し、補正前後の信号に基づいてＤＥＦＲと同じ方法でミラー信号を除くことで、干渉光Ｂ（干渉光（１））についてもフルレンジでの測定ができる。
【0118】
また、上述の各実施形態では、参照光路と測定光路との何れか１つに波長分散部材を設けることで、測定に係る複数の干渉光それぞれについて、対応する参照光路及び測定光路の波長分散特性の差を異ならせるとした。ただし、測定に係る複数の干渉光それぞれについて、対応する参照光路及び測定光路の波長分散特性の差を異ならせることができれば、他の態様を採用してもよい。例えば、参照光路と測定光路との双方に波長分散部材を設けてもよい。
【0119】
また、上述の実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、ＳＤ－ＯＣＴ方式で測定を行うとした。ただし、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、ＳＳ（Ｓｗｅｐｔ ｓｏｕｒｃｅ）－ＯＣＴ方式等の他のＦＤ－ＯＣＴ方式で測定を行う装置であってもよい。
【0120】
また、上述の実施形態では、測定対象は、被検眼の角膜、及び、網膜であるとした。ただし、測定対象は、被検眼の他の部位（角膜における角膜頂点と異なる部位、虹彩、結膜等）等の他の位置でもよい。
また、上述の実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、干渉光を生成する干渉計として、マイケルソン干渉計を構成するとした。ただし、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、バランスドマイケルソン干渉計、マッハツェンダー干渉計等の他の干渉計を構成してもよい。
また、上述の実施形態では、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、干渉光を生成する干渉計として、マイケルソン干渉計を構成するとした。ただし、ＦＤ－ＯＣＴ装置１は、バランスドマイケルソン干渉計、マッハツェンダー干渉計等の他の干渉計を構成してもよい。
【0121】
さらに、本発明は、プログラムや方法としても適用可能である。例えば、以上のような装置で実現される方法、プログラムを提供することが可能である。また、一部がソフトウェアであり一部がハードウェアであったりするなど、適宜、変更可能である。さらに、プログラムの記録媒体としても発明は成立する。むろん、そのソフトウェアの記録媒体は、磁気記録媒体であってもよいし半導体メモリであってもよいし、今後開発されるいかなる記録媒体においても全く同様である。
【符号の説明】
【0122】
１…ＦＤ－ＯＣＴ装置、１０…制御部、１１…調整機構、１２…ミラー、１３…アライメント機構、１４…光源、１５…受光部、１６…表示部、１００…信号処理プログラム、１０１…取得部、１０２…抽出部、１０３…導出部、１０４…表示制御部、３０…分岐部、４１…伝達部、４２……伝達部、４３…伝達部、４４……伝達部、４５…ハーフミラー、４６…波長分散部材、４７…回折格子、４８…偏光ビームスプリッター、４９…ミラー、５０…ミラー、５１…偏光ビームスプリッター、５２…波長分散部材、５３…レンズ、５４…偏光ビームスプリッター、５５…ミラー、５６…偏光ビームスプリッター
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
