特開 2024-25912 異常判定装置、コントローラ、異常判定方法、異常判定プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024025912

(43)【公開日】2024-02-28

(54)【発明の名称】異常判定装置、コントローラ、異常判定方法、異常判定プログラム

(51)【国際特許分類】

   H02P 29/024 20160101AFI20240220BHJP

   G01R 31/34 20200101ALI20240220BHJP

【ＦＩ】

H02P29/024

G01R31/34 Z

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022129281

(22)【出願日】2022-08-15

(71)【出願人】

【識別番号】000002107

【氏名又は名称】住友重機械工業株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100105924

【弁理士】

【氏名又は名称】森下 賢樹

(74)【代理人】

【識別番号】100116274

【弁理士】

【氏名又は名称】富所 輝観夫

(72)【発明者】

【氏名】久保 孝平

(72)【発明者】

【氏名】福嶋 弘

(72)【発明者】

【氏名】鈴木 正志

【テーマコード（参考）】

2G116

5H501

【Ｆターム（参考）】

2G116BA03

2G116BB01

5H501BB08

5H501CC05

5H501DD03

5H501HA08

5H501HA09

5H501HB07

5H501HB16

5H501JJ03

5H501KK07

5H501LL22

5H501LL23

5H501LL35

5H501LL53

5H501MM01

5H501MM09

(57)【要約】

【課題】誘導モータに好適な異常判定装置等を提供する。
【解決手段】交流が流されて回転磁界を発生させる一次側の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗと、回転磁界に応じた誘導電流と当該回転磁界の間の電磁力によって一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに対して回転する二次側の二次コイルを備える誘導モータ２０の異常判定装置４０は、一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに直流を流すことで、一次側の一次抵抗を測定する一次測定部４１と、一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに交流を流すことで、一次抵抗に対応する二次側の二次抵抗を当該一次抵抗と併せて測定する二次測定部４２と、一次測定部４１による第１測定結果および二次測定部４２による第２測定結果の差に基づいて、二次抵抗を演算する演算部４３と、第１測定結果および演算部４３による演算結果の比較に基づいて、異常を判定する異常判定部４４と、を備える。
【選択図】図４

【特許請求の範囲】

【請求項1】

交流が流されて回転磁界を発生させる一次側の一次コイルと、前記回転磁界に応じた誘導電流と当該回転磁界の間の電磁力によって前記一次コイルに対して回転する二次側の二次コイルを備える誘導モータの異常判定装置であって、
前記一次コイルに直流を流すことで、前記一次側の一次回路要素を測定する一次測定部と、
前記一次コイルに交流を流すことで、前記一次回路要素に対応する前記二次側の二次回路要素を当該一次回路要素と併せて測定する二次測定部と、
前記一次測定部による第１測定結果および前記二次測定部による第２測定結果に基づいて異常を判定する異常判定部と、
を備える異常判定装置。

【請求項2】

前記第１測定結果および前記第２測定結果の差に基づいて、前記二次回路要素を演算する演算部を更に備え、
前記異常判定部は、前記第１測定結果および前記演算部による演算結果の比較に基づいて異常を判定する、
請求項１に記載の異常判定装置。

【請求項3】

前記誘導モータは、多相交流が流される多相の前記一次コイルと、多相の前記一次コイルに対して回転する多相の前記二次コイルを備える多相誘導モータであり、
前記一次測定部は、前記各相の一次コイルに直流を流すことで、前記一次側の各相の一次回路要素を測定し、
前記二次測定部は、前記各相の一次コイルに交流を流すことで、前記各一次回路要素に対応する前記二次側の各相の二次回路要素を当該各一次回路要素と併せて測定し、
前記一次測定部による各第１測定結果および前記二次測定部による各第２測定結果の差に基づいて、前記各二次回路要素を演算する演算部を更に備え、
前記異常判定部は、前記各第１測定結果の第１ばらつき量、および、前記演算部による各演算結果の第２ばらつき量、の少なくともいずれかに基づいて異常を判定する、
請求項１に記載の異常判定装置。

【請求項4】

前記異常判定部は、前記第１ばらつき量および前記各演算結果の平均の比較、または、前記第２ばらつき量および前記各演算結果の平均の比較、に基づいて異常を判定する、請求項３に記載の異常判定装置。

【請求項5】

前記異常判定部は、前記第１ばらつき量および前記第２ばらつき量の比較に基づいて、異常を判定する、請求項３に記載の異常判定装置。

【請求項6】

前記一次回路要素は一次漏れインダクタンスであり、前記二次回路要素は二次漏れインダクタンスである、請求項１から５のいずれかに記載の異常判定装置。

【請求項7】

前記一次測定部および前記二次測定部は、前記回転磁界を発生させるために前記一次コイルに交流を流すドライバ装置によって構成される、請求項１から５のいずれかに記載の異常判定装置。

【請求項8】

請求項７に記載の異常判定装置およびドライバ装置を備え、当該ドライバ装置を制御するコントローラ。

【請求項9】

交流が流されて回転磁界を発生させる一次側の一次コイルと、前記回転磁界に応じた誘導電流と当該回転磁界の間の電磁力によって前記一次コイルに対して回転する二次側の二次コイルを備える誘導モータの異常判定方法であって、
前記一次コイルに直流を流すことで、前記一次側の一次回路要素を測定する一次測定ステップと、
前記一次コイルに交流を流すことで、前記一次回路要素に対応する前記二次側の二次回路要素を当該一次回路要素と併せて測定する二次測定ステップと、
前記一次測定ステップによる第１測定結果および前記二次測定ステップによる第２測定結果に基づいて異常を判定する異常判定ステップと、
を備える異常判定方法。

【請求項10】

交流が流されて回転磁界を発生させる一次側の一次コイルと、前記回転磁界に応じた誘導電流と当該回転磁界の間の電磁力によって前記一次コイルに対して回転する二次側の二次コイルを備える誘導モータの異常判定プログラムであって、
前記一次コイルに直流を流すことで、前記一次側の一次回路要素を測定する一次測定ステップと、
前記一次コイルに交流を流すことで、前記一次回路要素に対応する前記二次側の二次回路要素を当該一次回路要素と併せて測定する二次測定ステップと、
前記一次測定ステップによる第１測定結果および前記二次測定ステップによる第２測定結果に基づいて異常を判定する異常判定ステップと、
をコンピュータに実行させる異常判定プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、誘導モータの異常判定装置等に関する。

【背景技術】

【0002】

特許文献１には、多相（例えば３相）の同期モータに好適な異常判定方法が開示されている。同期モータは、交流が流されて回転磁界を発生させる多相のコイルが設けられる固定子と、永久磁石が設けられて回転磁界によって固定子に対して回転する回転子を備える。特許文献１では、固定子において個別に測定された各相の抵抗等のアンバランスに基づいて、各相のコイルの断線等の異常が判定される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２００５－２１４７１７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

特許文献１における同期モータ向けの技術は、誘導モータ等の他のタイプのモータにそのまま適用できるものではない。誘導モータでは、典型的には固定子側の一次側と典型的には回転子側の二次側に、それぞれ一次コイルと二次コイルが設けられる。各次のコイルに付随する抵抗や漏れインダクタンス等の回路要素も、誘導モータの異常判定に影響を及ぼす恐れがある。

【0005】

本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、誘導モータに好適な異常判定装置等を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記課題を解決するために、本発明のある態様の異常判定装置は、交流が流されて回転磁界を発生させる一次側の一次コイルと、回転磁界に応じた誘導電流と当該回転磁界の間の電磁力によって一次コイルに対して回転する二次側の二次コイルを備える誘導モータの異常判定装置であって、一次コイルに直流を流すことで、一次側の一次回路要素を測定する一次測定部と、一次コイルに交流を流すことで、一次回路要素に対応する二次側の二次回路要素を当該一次回路要素と併せて測定する二次測定部と、一次測定部による第１測定結果および二次測定部による第２測定結果に基づいて異常を判定する異常判定部と、を備える。

【0007】

この態様によれば、一次測定部によって直接的に測定される一次側の一次回路要素（第１測定結果）と、二次測定部によって一次回路要素と併せて測定される二次回路要素（第２測定結果）に基づいて、適切に誘導モータの異常を判定できる。

【0008】

本発明の別の態様は、異常判定方法である。この方法は、交流が流されて回転磁界を発生させる一次側の一次コイルと、回転磁界に応じた誘導電流と当該回転磁界の間の電磁力によって一次コイルに対して回転する二次側の二次コイルを備える誘導モータの異常判定方法であって、一次コイルに直流を流すことで、一次側の一次回路要素を測定する一次測定ステップと、一次コイルに交流を流すことで、一次回路要素に対応する二次側の二次回路要素を当該一次回路要素と併せて測定する二次測定ステップと、一次測定ステップによる第１測定結果および二次測定ステップによる第２測定結果に基づいて異常を判定する異常判定ステップと、を備える。

【0009】

なお、以上の構成要素の任意の組合せや、これらの表現を方法、装置、システム、記録媒体、コンピュータプログラム等に変換したものも、本発明に包含される。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、誘導モータに好適な異常判定装置等を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】誘導モータに多相の交流を供給するドライバ装置を模式的に示す。

【図2】インバータが３相の交流を出力している時のＵＶＷ各相の出力端子の出力電圧波形を模式的に示す。

【図3】誘導モータの等価回路を示す。

【図4】誘導モータの異常判定装置を模式的に示す。

【発明を実施するための形態】

【0012】

以下では、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態（以下では実施形態ともいう）について詳細に説明する。説明および／または図面においては、同一または同等の構成要素、部材、処理等に同一の符号を付して重複する説明を省略する。図示される各部の縮尺や形状は、説明の簡易化のために便宜的に設定されており、特に言及がない限り限定的に解釈されるものではない。実施形態は例示であり、本発明の範囲を何ら限定するものではない。実施形態に記載される全ての特徴やそれらの組合せは、必ずしも本発明の本質的なものであるとは限らない。

【0013】

図１は、誘導モータ２０に多相の交流を供給するドライバ装置１０を模式的に示す。ドライバ装置１０は、商用電源等から供給されるＲ相、Ｓ相、Ｔ相の３相の交流を整流して直流（脈流）に変換するコンバータ１１と、コンバータ１１で変換された直流を平滑して波形を整えるコンデンサ１２と、コンデンサ１２で平滑された直流を交流に変換するインバータ１３を備える。

【0014】

コンバータ１１は、商用電源等から供給される３相（Ｒ、Ｓ、Ｔ）の交流を一定の方向（図１において下から上に向かう方向）に整流するダイオード１１１～１１６を備える。ダイオード１１１はＲ相の交流電圧が正の時に電流を流し、ダイオード１１２はＲ相の交流電圧が負の時に電流を流し、ダイオード１１３はＳ相の交流電圧が正の時に電流を流し、ダイオード１１４はＳ相の交流電圧が負の時に電流を流し、ダイオード１１５はＴ相の交流電圧が正の時に電流を流し、ダイオード１１６はＴ相の交流電圧が負の時に電流を流す。これらのブリッジ状に接続されたダイオード１１１～１１６によって、コンバータ１１の出力端子間には、方向が一定で大きさが変動する脈流が現われる。コンデンサ１２は、コンバータ１１で得られた脈流を平滑した直流をインバータ１３に供給する。

【0015】

コンバータ１１およびコンデンサ１２を経てインバータ１３の高電位入力端子１３１と低電位入力端子１３２の間に入力される直流電圧を以下ではＶ_ＤＣと表す。高電位入力端子１３１が接続される高電位ラインの電圧をＶ_ｄｄ、低電位入力端子１３２が接続される低電位ラインの電圧をＶ_ｓｓとすれば、Ｖ_ＤＣ＝Ｖ_ｄｄ－Ｖ_ｓｓである。

【0016】

インバータ１３は、直流の高電位Ｖ_ｄｄを供給する高電位ラインと直流の低電位Ｖ_ｓｓを供給する低電位ラインの間に並列に接続されるＵ相、Ｖ相、Ｗ相の３相のトランジスタ対のスイッチング動作によって３相の交流を出力する。換言すれば、インバータ１３は、高電位入力端子１３１と低電位入力端子１３２の間で入力される直流電圧Ｖ_ＤＣに基づいて３相の交流を生成する。具体的には、直流電圧Ｖ_ＤＣに基づいてＵ相の交流を生成するＵ相インバータ１３Ｕと、直流電圧Ｖ_ＤＣに基づいてＶ相の交流を生成するＶ相インバータ１３Ｖと、直流電圧Ｖ_ＤＣに基づいてＷ相の交流を生成するＷ相インバータ１３Ｗが並列に設けられる。各相のインバータ１３Ｕ、１３Ｖ、１３Ｗの構成は共通であるため、以下では適宜インバータ１３と総称してまとめて説明する。

【0017】

インバータ１３は、高い直流電源電位Ｖ_ｄｄが入力される高電位入力端子１３１と、低い直流電源電位Ｖ_ｓｓが入力される低電位入力端子１３２と、高電位入力端子１３１が接続される高電位ラインと低電位入力端子１３２が接続される低電位ラインの間に設けられてＶ_ｄｄとＶ_ｓｓの間で変動する交流電圧を出力する出力端子１３３を備える。高電位ラインと出力端子１３３の間には高電位側トランジスタ１３４Ｈが接続され、低電位ラインと出力端子１３３の間には低電位側トランジスタ１３４Ｌが接続される。

【0018】

高電位側トランジスタ１３４Ｈは、その制御端子に接続される制御信号供給部としての高電位側ドライバ１３５Ｈから供給される制御信号（典型的にはパルス）に応じて、電流経路の導通状態が切り替わるスイッチング動作を行う。低電位側トランジスタ１３４Ｌは、その制御端子に接続される制御信号供給部としての低電位側ドライバ１３５Ｌから供給される制御信号に応じて、電流経路の導通状態が切り替わるスイッチング動作を行う。以下では、高電位側トランジスタ１３４Ｈおよび低電位側トランジスタ１３４Ｌを、適宜トランジスタ１３４またはトランジスタ対１３４と総称し、高電位側ドライバ１３５Ｈおよび低電位側ドライバ１３５Ｌを、適宜ドライバ１３５またはドライバ対１３５と総称する。また、以下の説明においては「高電位側」を意味する「Ｈ」および「低電位側」を意味する「Ｌ」を適宜省略するが、図面では必要に応じて「Ｈ」および「Ｌ」を符号の末尾に付す。

【0019】

トランジスタ１３４は、制御端子としてのゲート３１と、高電位ライン側に接続される高電位端子としてのコレクタ３２と、低電位ライン側に接続される低電位端子としてのエミッタ３３を備える絶縁ゲートバイポーラトランジスタ（IGBT：Insulated Gate Bipolar Transistor）である。なお、トランジスタ１３４は、制御端子としてのゲートと、高電位端子としてのドレインと、低電位端子としてのソースを備える電界効果トランジスタ（FET：Field Effect Transistor）でもよいし、制御端子としてのベースと、高電位端子としてのコレクタと、低電位端子としてのエミッタを備えるバイポーラトランジスタでもよい。

【0020】

高電位側トランジスタ１３４Ｈにおいて、ゲート３１Ｈは高電位側ドライバ１３５Ｈに接続され、コレクタ３２Ｈは高電位入力端子１３１または高電位ラインに接続され、エミッタ３３Ｈは出力端子１３３および低電位側トランジスタ１３４Ｌのコレクタ３２Ｌに接続される。低電位側トランジスタ１３４Ｌにおいて、ゲート３１Ｌは低電位側ドライバ１３５Ｌに接続され、コレクタ３２Ｌは出力端子１３３および高電位側トランジスタ１３４Ｈのエミッタ３３Ｈに接続され、エミッタ３３Ｌは低電位入力端子１３２または低電位ラインに接続される。以上の構成において、高電位側トランジスタ１３４Ｈのエミッタ３３Ｈと低電位側トランジスタ１３４Ｌのコレクタ３２Ｌの接続点が出力端子１３３を形成する。

【0021】

各トランジスタ１３４は、各ドライバ１３５からゲート３１に供給される制御信号に応じて導通状態が切り替わるコレクタ３２とエミッタ３３の間の電流経路またはチャネルと並列に形成される保護ダイオード要素としての保護ダイオード３４を更に備える。保護ダイオード３４は、トランジスタ１３４と別体のディスクリートな素子でもよいし、トランジスタ１３４を製造する半導体製造プロセスにおいてトランジスタ１３４と一体的またはモノリシックに形成されるものでもよい。保護ダイオード３４は、低電位ライン側から高電位ライン側に向かう方向のみに電流を流すように設けられる。

【0022】

集積回路（IC：Integrated Circuit）として構成されるドライバ１３５は、トランジスタ１３４のゲート３１にスイッチング動作のための制御信号を供給する制御信号供給部を構成する。具体的には、ドライバ１３５は、ＰＷＭ（パルス幅変調：Pulse Width Modulation）によってデューティ比が制御されたパルスを制御信号としてトランジスタ１３４のゲート３１に印加する。トランジスタ１３４は、パルスの有無に応じてオン状態とオフ状態の間でスイッチング動作を行う。具体的には、パルスがゲート３１に印加されている間はトランジスタ１３４がオン状態となり、コレクタ３２とエミッタ３３の間のチャネルが導通状態となる。また、パルスがゲート３１に印加されていない間はトランジスタ１３４がオフ状態となり、コレクタ３２とエミッタ３３の間のチャネルが非導通状態となる。

【0023】

図２は、インバータ１３が３相の交流を出力している時のＵＶＷ各相の出力端子１３３Ｕ、１３３Ｖ、１３３Ｗの出力電圧波形Ｖ_Ｕ、Ｖ_Ｖ、Ｖ_Ｗを、ＵＶＷ各相の高電位側ドライバ１３５Ｈおよび低電位側ドライバ１３５Ｌがトランジスタ対１３４のゲート３１に印加する制御信号（パルス）と共に模式的に示す。各出力端子１３３Ｕ、１３３Ｖ、１３３Ｗは、高電位Ｖ_ｄｄと低電位Ｖ_ｓｓの間で変動する正弦波状の交流電圧Ｖ_Ｕ、Ｖ_Ｖ、Ｖ_Ｗを出力する。３相交流では各相の交流電圧波形Ｖ_Ｕ、Ｖ_Ｖ、Ｖ_Ｗの位相が120度または2/3πずつ異なる。以下の説明では、高電位Ｖ_ｄｄと低電位Ｖ_ｓｓの平均値を０と置く。

【0024】

各出力端子１３３Ｕ、１３３Ｖ、１３３Ｗが正の電圧を出力している期間では、高電位側ドライバ１３５Ｈが高電位側トランジスタ１３４Ｈのゲート３１Ｈに、０と１の間でデューティ比が段階的に変わるパルスを印加する一方、低電位側ドライバ１３５Ｌは低電位側トランジスタ１３４Ｌのゲート３１Ｌにパルスを印加しない（デューティ比が０）。高電位側ドライバ１３５Ｈが高電位側トランジスタ１３４Ｈのゲート３１Ｈにデューティ比が１のパルスを印加する時、高電位側トランジスタ１３４Ｈのチャネルが高電位ラインと略完全に導通するため、出力端子１３３にはＶ_ｄｄと略等しい高電圧が現れる。

【0025】

各出力端子１３３Ｕ、１３３Ｖ、１３３Ｗが負の電圧を出力している期間では、低電位側ドライバ１３５Ｌが低電位側トランジスタ１３４Ｌのゲート３１Ｌに、０と１の間でデューティ比が段階的に変わるパルスを印加する一方、高電位側ドライバ１３５Ｈは高電位側トランジスタ１３４Ｈのゲート３１Ｈにパルスを印加しない（デューティ比が０）。低電位側ドライバ１３５Ｌが低電位側トランジスタ１３４Ｌのゲート３１Ｌにデューティ比が１のパルスを印加する時、低電位側トランジスタ１３４Ｌのチャネルが低電位ラインと略完全に導通するため、出力端子１３３にはＶ_ｓｓと略等しい低電圧が現れる。

【0026】

以上のように、インバータ１３が３相の交流を出力している通常動作時は、ＵＶＷ各相のインバータ１３Ｕ、１３Ｖ、１３Ｗにおいて、高電位側トランジスタ１３４Ｈおよび低電位側トランジスタ１３４Ｌの一方のみにデューティ比が段階的に変わるパルスが印加され、高電位側トランジスタ１３４Ｈおよび低電位側トランジスタ１３４Ｌの他方にはパルスが印加されない（デューティ比が０）。

【0027】

なお、後述するように、誘導モータ２０の一次回路要素の測定時には、ドライバ装置１０の構成要素としてのインバータ１３が、通常動作時（図２）における３相の交流の代わりに直流を出力する。この際、各インバータ１３において、高電位側トランジスタ１３４Ｈおよび低電位側トランジスタ１３４Ｌの一方のみに一定の制御信号（デューティ比が１で一定のパルスともいえる）が印加され、他方には制御信号が印加されない（デューティ比が０）。高電位側トランジスタ１３４Ｈのみに一定の制御信号が印加されている場合の出力端子１３３には正の直流電圧Ｖ_ｄｄが現れ、低電位側トランジスタ１３４Ｌのみに一定の制御信号が印加されている場合の出力端子１３３には負の直流電圧Ｖ_ｓｓが現れる。

【0028】

通常動作時のインバータ１３によって生成された３相の交流は、回転動力を発生させる誘導モータ２０に供給される。誘導モータ２０は、Ｕ相、Ｖ相、Ｗ相の３相のコイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗを備える３相ブラシレスモータである。Ｕ相コイル２０ＵにはＵ相インバータ１３Ｕの出力端子１３３ＵからのＵ相電流が流れ、Ｖ相コイル２０ＶにはＶ相インバータ１３Ｖの出力端子１３３ＶからのＶ相電流が流れ、Ｗ相コイル２０ＷにはＷ相インバータ１３Ｗの出力端子１３３ＷからのＷ相電流が流れる。各相のインバータ１３Ｕ、１３Ｖ、１３Ｗは、誘導モータ２０のホール素子Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３が検知した回転子の回転位置に基づき、互いに位相が異なる３相の交流を各相のコイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに印加することで回転磁界を発生させる。この回転磁界によって回転する回転子から所望の回転動力が得られる。なお、誘導モータ２０の相の数は３に限られず、任意の自然数でよい。

【0029】

回転子に永久磁石が用いられる同期モータと異なり、非同期モータまたは誘導モータ２０の回転子（図１では不図示）には単相または多相のコイルが用いられる。すなわち、誘導モータ２０は、図示される一次側（固定子側）のコイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに加えて、不図示の二次側（回転子側）のコイルを備える。

【0030】

図３は、誘導モータ２０の等価回路を示す。図の左側が一次側の固定子２１を表し、図の右側が二次側の回転子２２を表す。固定子２１は前述の３相の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗを備え、回転子２２は一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに対応する３相の二次コイル２０ｕ、２０ｖ、２０ｗを備える。図示される各パラメータはそれぞれ以下を表し、これらのうち数値が略一定のものは特にモータ定数と呼ばれる。

【0031】

Ｖ_１：一次端子電圧
Ｉ_１：一次電流
Ｉ_１′：一次負荷電流
Ｅ_１：一次誘導起電力
Ｖ_２：二次端子電圧
Ｉ_２：二次電流
Ｅ_２：二次誘導起電力

【0032】

ｒ_１：一次抵抗
Ｘ_１：一次漏れインダクタンスまたは一次リアクタンス
ｒ_２：二次抵抗
Ｘ_２：二次漏れインダクタンスまたは二次リアクタンス
ｇ_０：励磁コンダクタンス
ｂ_０：励磁サセプタンス

【0033】

Ｉ_０：励磁電流
Ｉ_ｇ：鉄損電流
Ｉ_ｂ：磁化電流
Ｒ_０：等価出力抵抗
Ｓ：滑り

【0034】

誘導モータ２０の一次側（固定子２１側）の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗは、インバータ１３またはドライバ装置１０からの３相交流（一次電流Ｉ_１または一次負荷電流Ｉ_１′）が流されて回転磁界を発生させる。誘導モータ２０の二次側（回転子２２側）の二次コイル２０ｕ、２０ｖ、２０ｗには、一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗによる回転磁界に応じた誘導電流（二次電流Ｉ_２）が流れる。そして、二次コイル２０ｕ、２０ｖ、２０ｗの誘導電流Ｉ_２が、一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗによる回転磁界から電磁力を受けるため、回転子２２（二次コイル２０ｕ、２０ｖ、２０ｗ）が固定子２１（一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗ）に対して回転する。

【0035】

図４は、本実施形態に係る誘導モータ２０の異常判定装置４０を模式的に示す。この例では、異常判定装置４０がドライバ装置１０の一部として図示されているが、異常判定装置４０の機能ブロックの一部または全部は、以下で説明する異常判定装置４０の作用および／または効果の少なくとも一部が実現される限り、ドライバ装置１０外に設けられてもよい。同様に、図４の例では、異常判定装置４０およびドライバ装置１０が、それらを制御するコントローラ１の一部として示されているが、異常判定装置４０および／またはドライバ装置１０の一部または全部がコントローラ１外に設けられてもよい。異常判定装置４０は、一次測定部４１と、二次測定部４２と、演算部４３と、異常判定部４４を備える。これらの機能ブロックは、コンピュータの中央演算処理装置等のプロセッサ、メモリ、入力装置、出力装置、コンピュータに接続される周辺機器等のハードウェア資源と、それらを用いて実行されるソフトウェアの協働により実現されてもよい。コンピュータの種類や設置場所は問わず、上記の各機能ブロックは、単一のコンピュータのハードウェア資源で実現してもよいし、複数のコンピュータに分散したハードウェア資源を組み合わせて実現してもよい。また、これらの機能ブロックは、ソフトウェアを利用しないハードウェアのみで実装されてもよい。

【0036】

一次測定部４１は、ＵＶＷ各相の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに直流（ＤＣ）を流すことで、一次側（固定子２１側）のＵＶＷ各相の一次回路要素を測定する。図４では、一次回路要素として一次抵抗ｒ_１が例示されている。但し、以下の一次抵抗ｒ_１および二次抵抗ｒ_２（図４では不図示）に関する説明は、一次側および二次側の両方に存在する任意の回路要素（例えば、一次漏れインダクタンスＸ_１および二次漏れインダクタンスＸ_２）に当てはまる。

【0037】

一次抵抗ｒ_１は、Ｕ相一次コイル２０Ｕに付随するＵ相一次抵抗ｒ_１Ｕと、Ｖ相一次コイル２０Ｖに付随するＶ相一次抵抗ｒ_１Ｖと、Ｗ相一次コイル２０Ｗに付随するＷ相一次抵抗ｒ_１Ｗを含む。また、ドライバ装置１０とＵＶＷ各相の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗの間には、それぞれの配線による抵抗（配線抵抗）ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷが存在する。標準的なドライバ装置１０および誘導モータ２０では、ＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗが互いに略等しく（ｒ_１と表す）、ＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷが互いに略等しい（ｒ_Ｌと表す）。そこで、一次測定部４１は、ＵＶ相間、ＶＷ相間、ＷＵ相間の少なくともいずれかに直流電圧Ｖ_ＤＣを印加することで、一次抵抗ｒ_１および配線抵抗ｒ_Ｌの和を直接的に測定できる。

【0038】

例えば、一次測定部４１がＵＶ相間に直流電圧Ｖ_ＤＣを印加した際に測定された直流電流がＩ_ＤＣであった場合、「Ｖ_ＤＣ＝Ｉ_ＤＣ（ｒ_１Ｕ＋ｒ_１Ｖ＋ｒ_ＬＵ＋ｒ_ＬＶ）＝２Ｉ_ＤＣ（ｒ_１＋ｒ_Ｌ）」が成り立つ。このため、一次抵抗ｒ_１および配線抵抗ｒ_Ｌの和は、Ｖ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣと表される。なお、この場合はＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷの相違を考慮する必要がないため、一次測定部４１によって直接的に測定されるＶ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣ（＝ｒ_１＋ｒ_Ｌ）を、見かけ上の一次抵抗ｒ_１として扱える。

【0039】

一方、ＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗおよび／またはＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷが、不良、異常、公差等のために互いに異なりうる場合は、一次測定部４１による一回の測定（例えばＵＶ相間）だけでは、３相全ての一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗおよび／または３相全ての配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷを十分な精度で測定できない可能性がある。そこで、一次測定部４１は、ＵＶＷ各相の可能な全ての組合せ（すなわち、ＵＶ相間、ＶＷ相間、ＷＵ相間）について、一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗおよび／または配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷを測定するのが好ましい。

【0040】

具体的には、ＵＶ相間での測定において、印加された直流電圧Ｖ_ＤＣに対して直流電圧Ｉ_ＤＣ１が測定された場合、「Ｖ_ＤＣ＝Ｉ_ＤＣ１（ｒ_１Ｕ＋ｒ_１Ｖ＋ｒ_ＬＵ＋ｒ_ＬＶ）」が成り立つ。このため、Ｕ相およびＶ相の一次抵抗および配線抵抗の和の平均である「（ｒ_１Ｕ＋ｒ_１Ｖ＋ｒ_ＬＵ＋ｒ_ＬＶ）／２」が「Ｖ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣ１」と表される。同様に、ＶＷ相間での測定において印加された直流電圧Ｖ_ＤＣに対して直流電圧Ｉ_ＤＣ２が測定された場合、Ｖ相およびＷ相の一次抵抗および配線抵抗の和の平均である「（ｒ_１Ｖ＋ｒ_１Ｗ＋ｒ_ＬＶ＋ｒ_ＬＷ）／２」が「Ｖ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣ２」と表され、ＷＵ相間での測定において印加された直流電圧Ｖ_ＤＣに対して直流電圧Ｉ_ＤＣ３が測定された場合、Ｗ相およびＵ相の一次抵抗および配線抵抗の和の平均である「（ｒ_１Ｗ＋ｒ_１Ｕ＋ｒ_ＬＷ＋ｒ_ＬＵ）／２」が「Ｖ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣ３」と表される。

【0041】

異常判定部４４は、このような複数回（３回）に亘る一次測定部４１の第１測定結果（一次抵抗および配線抵抗の和）の第１ばらつき量に基づいて、誘導モータ２０の異常を判定してもよい。例えば、ＵＶ相間の第１測定結果「Ｖ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣ１」が「80mΩ」であり、ＶＷ相間の第１測定結果「Ｖ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣ２」が「100mΩ」であり、ＷＵ相間の第１測定結果「Ｖ_ＤＣ／２Ｉ_ＤＣ３」が「120mΩ」であったとする。この場合、異常判定部４４は、３回分の第１測定結果の第１ばらつき量の例として、これらの最大値と最小値の差、すなわち「120mΩ－80mΩ＝40mΩ」を誘導モータ２０の異常判定のために利用する。但し、第１ばらつき量や後述する第２ばらつき量を含むばらつきを表す量は、最大値と最小値の差に限らず標準偏差や分散等の任意の統計値でもよい。

【0042】

具体的には、異常判定部４４は、第１ばらつき量「40mΩ」を、３回分の第１測定結果の平均値「（80mΩ＋100mΩ＋120mΩ）／３＝100mΩ」と比較する。但し、第１ばらつき量や後述する第２ばらつき量を含むばらつきを表す量との比較量は、平均値に限らず中央値等の代表値でもよい。この例では、第１ばらつき量「40mΩ」が平均値「100mΩ」の「40%」であると異常判定部４４によって評価される。これに対して異常判定部４４は、例えば「30%」等の所定の閾値を適用し、評価値「40%」が閾値「30%」以上であることをもって、誘導モータ２０に異常があると判定する。この場合、ＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗおよび／またはＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷに、実用上許容できないばらつき（異常）が存在する可能性が高い。このように一次側の抵抗に異常がある場合、誘導モータ２０を正常に稼働できない可能性が高いため、点検等のために誘導モータ２０を非常停止させてもよい。なお、閾値は「30%」に限定されない任意の値でよいが、例えば「20%」や「10%」でもよい。本技術分野における一般的な公差の下では評価値が「10%」未満に収まることが期待されるため、異常判定閾値は「10%」以上であるのが好ましい。

【0043】

二次測定部４２は、ＵＶＷ各相の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに単相の交流（ＡＣ）を流すことで、ＵＶＷ各相の一次回路要素に対応する二次側（回転子２２側）のＵＶＷ各相の二次回路要素を当該各一次回路要素と併せて測定する。図４の例では、一次測定部４１によってＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗが測定されるため、それらに対応するＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（不図示）が二次測定部４２によって測定される。

【0044】

二次測定部４２は、一次測定部４１と同様に、一次側（固定子２１側）においてＵＶＷ各相の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに直流または交流（単相および３相）を流すドライバ装置１０によって構成される。このため、二次測定部４２がＵＶＷ各相の一次コイル２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗに単相の交流を流してＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗを測定する場合、ＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１ＷおよびＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷにも必然的に交流が流れる。従って、二次測定部４２による第２測定結果には、二次抵抗、一次抵抗、配線抵抗の三種類のパラメータが寄与している。

【0045】

一次測定部４１と同様に、二次測定部４２も、ＵＶＷ各相の可能な全ての組合せ（すなわち、ＵＶ相間、ＶＷ相間、ＷＵ相間）について単相の交流（例えば正弦波）を印加し、二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ等を測定するのが好ましい。

【0046】

具体的には、ＵＶ相間での測定において、印加された正弦波等の交流電圧Ｖ_ＡＣに対して流れた交流電流Ｉ_ＡＣ１を測定することで、二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶの寄与を含むＵＶ相間の第２測定結果が得られる。同様に、ＶＷ相間での測定において、印加された正弦波等の交流電圧Ｖ_ＡＣに対して流れた交流電流Ｉ_ＡＣ２を測定することで、二次抵抗ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ、一次抵抗ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ、配線抵抗ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷの寄与を含むＶＷ相間の第２測定結果が得られ、ＷＵ相間での測定において、印加された正弦波等の交流電圧Ｖ_ＡＣに対して流れた交流電流Ｉ_ＡＣ３を測定することで、二次抵抗ｒ_２Ｗ、ｒ_２Ｕ、一次抵抗ｒ_１Ｗ、ｒ_１Ｕ、配線抵抗ｒ_ＬＷ、ｒ_ＬＵの寄与を含むＷＵ相間の第２測定結果が得られる。

【0047】

演算部４３は、一次測定部４１による第１測定結果および二次測定部４２による第２測定結果の差に基づいて、二次回路要素を演算する。前述のように、一次測定部４１の直流印加による第１測定結果には、ＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１ＷおよびＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷの寄与が含まれる。また、二次測定部４２の単相交流印加による第２測定結果には、これらの寄与に加えてＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗの寄与が含まれる。従って、第２測定結果に含まれるＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１ＷおよびＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷの寄与を、第１測定結果に基づいて除くことでＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗの寄与を抽出できる。このように、演算部４３は、第１測定結果および第２測定結果に基づいて、ＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗを演算する。

【0048】

異常判定部４４は、一次測定部４１による第１測定結果および演算部４３による演算結果の比較に基づいて、誘導モータ２０の異常を判定してもよい。前述のように、一次測定部４１による第１測定結果はＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（ここではＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷの影響を無視する）を表し、演算部４３による演算結果はＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗを表す。従って、この場合の異常判定部４４は、一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（第１測定結果）と二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）の比較によって誘導モータ２０の異常を判定する。

【0049】

例えば、異常判定部４４は、一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（第１測定結果）の第１ばらつき量および二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）の平均の比較に基づいて、誘導モータ２０の異常を判定してもよい。前述の例と同様に、第１ばらつき量は「40mΩ」であったとする。これに対して二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗの演算部４３による演算結果が、それぞれ「40mΩ」「50mΩ」「60mΩ」であったとする。この場合の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）の平均は「（40mΩ＋50mΩ＋60mΩ）／３＝50mΩ」である。この例では、第１ばらつき量「40mΩ」が二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）の平均値「50mΩ」の「80%」であると異常判定部４４によって評価される。

【0050】

これに対して異常判定部４４は、例えば「30%」等の所定の閾値を適用し、評価値「80%」が閾値「30%」以上であることをもって、誘導モータ２０に異常があると判定する。この場合、ＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗおよび／またはＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷに、実用上許容できないばらつき（異常）が存在する可能性が高い。このように一次側の抵抗に異常がある場合、誘導モータ２０を正常に稼働できない可能性が高いため、点検等のために誘導モータ２０を非常停止させてもよい。なお、閾値は「30%」に限定されない任意の値でよいが、例えば「20%」や「10%」でもよい。本技術分野における一般的な公差の下では評価値が「10%」未満に収まることが期待されるため、異常判定閾値は「10%」以上であるのが好ましい。

【0051】

以上の例では、互いに独立に設定されて理論的には相関のないはずの一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（第１測定結果）と二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）が比較されている。しかし、前述のように、二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗを得る過程では、二次測定部４２によって一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（および配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷ）が併せて測定されるため、第１測定結果と演算結果の間には相関が残る。異常判定部４４は、このように残存する相関を一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（第１測定結果）と二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）の比較という形で検証して、誘導モータ２０の異常を効果的に判定する。

【0052】

また、異常判定部４４は、一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（第１測定結果）の第１ばらつき量および二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）の第２ばらつき量の比較に基づいて、誘導モータ２０の異常を判定してもよい。例えば、一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ（第１測定結果）の第１ばらつき量が「100mΩ」であったとする。これに対して二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗの演算部４３による演算結果の第２ばらつき量（例えば、最大値と最小値の差）が「40mΩ」であったとする。この例では、第２ばらつき量「40mΩ」が第１ばらつき量「100mΩ」の「40%」であると異常判定部４４によって評価される。

【0053】

これに対して異常判定部４４は、例えば「30%」等の所定の閾値を適用し、評価値「40%」が閾値「30%」以上であることをもって、誘導モータ２０に異常があると判定する。この場合、ＵＶＷ各相の一次抵抗ｒ_１Ｕ、ｒ_１Ｖ、ｒ_１Ｗ、ＵＶＷ各相の配線抵抗ｒ_ＬＵ、ｒ_ＬＶ、ｒ_ＬＷ、ＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ、の少なくともいずれかに、実用上許容できないばらつき（異常）が存在する可能性が高い。このように一次側および／または二次側の抵抗に異常がある場合、誘導モータ２０を正常に稼働できない可能性が高いため、点検等のために誘導モータ２０を非常停止させてもよい。なお、閾値は「30%」に限定されない任意の値でよいが、例えば「20%」や「10%」でもよい。本技術分野における一般的な公差の下では評価値が「10%」未満に収まることが期待されるため、異常判定閾値は「10%」以上であるのが好ましい。

【0054】

異常判定部４４は、演算部４３によるＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗの演算結果の第２ばらつき量および平均の比較に基づいて、誘導モータ２０の異常を判定してもよい。前述の例と同様に、二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗの演算部４３による演算結果が、それぞれ「40mΩ」「50mΩ」「60mΩ」であったとする。この場合の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗ（演算結果）の第２ばらつき量（最大値と最小値の差）は「20mΩ」であり、平均は「50mΩ」である。この例では、第２ばらつき量「20mΩ」が平均「50mΩ」の「40%」であると異常判定部４４によって評価される。

【0055】

これに対して異常判定部４４は、例えば「30%」等の所定の閾値を適用し、評価値「40%」が閾値「30%」以上であることをもって、誘導モータ２０に異常があると判定する。この場合、ＵＶＷ各相の二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗに、実用上許容できないばらつき（異常）が存在する可能性が高い。このように二次抵抗ｒ_２Ｕ、ｒ_２Ｖ、ｒ_２Ｗに異常がある場合、誘導モータ２０を通常動作させても所望のトルクが得られない可能性が高いため、点検等のために誘導モータ２０を非常停止させてもよい。なお、閾値は「30%」に限定されない任意の値でよいが、例えば「20%」や「10%」でもよい。本技術分野における一般的な公差の下では評価値が「10%」未満に収まることが期待されるため、異常判定閾値は「10%」以上であるのが好ましい。

【0056】

以上の実施形態の一態様によれば、一次測定部４１によって直接的に測定される一次側の一次回路要素（一次抵抗や一次漏れインダクタンス）と、一次測定部４１による第１測定結果および二次測定部４２による第２測定結果に基づいて演算部４３によって演算される二次側の二次回路要素（二次抵抗や二次漏れインダクタンス）の両方を考慮することで、適切に誘導モータ２０の異常を判定できる。

【0057】

また、以上の実施形態の一態様によれば、一次測定部４１によって直接的に測定される一次側の各相の一次回路要素（一次抵抗や一次漏れインダクタンス）と、一次測定部４１による各第１測定結果および二次測定部４２による各第２測定結果に基づいて演算部４３によって演算される二次側の各相の二次回路要素（二次抵抗や二次漏れインダクタンス）の、少なくともいずれかのばらつき量を考慮することで、適切に多相誘導モータ２０の異常を判定できる。

【0058】

異常判定部４４と、その異常判定ための基礎情報を測定および／または演算する一次測定部４１、二次測定部４２、演算部４３が、ドライバ装置１０によって構成されるため、異常判定のためにセンサ等を追加的に設けなくても誘導モータ２０の異常を判定できる。

【0059】

以上、本発明を実施形態に基づいて説明した。例示としての実施形態における各構成要素や各処理の組合せには様々な変形例が可能であり、そのような変形例が本発明の範囲に含まれることは当業者にとって自明である。

【0060】

以上の実施形態では、異常判定部４４が誘導モータ２０に異常があると判定した場合、点検等のために誘導モータ２０が非常停止されたが、これに加えてまたは代えて、異常が判定または推定された段階またはフェーズ（例えば、一次抵抗測定時や二次抵抗測定時）が管理者等に通知されてもよいし、異常の原因と考えられる値（例えば、一次抵抗、二次抵抗、一次漏れインダクタンス、二次漏れインダクタンス）が管理者等に通知されてもよい。

【0061】

なお、実施形態で説明した各装置や各方法の構成、作用、機能は、ハードウェア資源またはソフトウェア資源によって、あるいは、ハードウェア資源とソフトウェア資源の協働によって実現できる。ハードウェア資源としては、例えば、プロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、各種の集積回路を利用できる。ソフトウェア資源としては、例えば、オペレーティングシステム、アプリケーション等のプログラムを利用できる。

【符号の説明】

【0062】

１ コントローラ、１０ ドライバ装置、１３ インバータ、２０ 誘導モータ、２０Ｕ、２０Ｖ、２０Ｗ 一次コイル、２０ｕ、２０ｖ、２０ｗ 二次コイル、２１ 固定子、２２ 回転子、４０ 異常判定装置、４１ 一次測定部、４２ 二次測定部、４３ 演算部、４４ 異常判定部。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】