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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024027518
(43)【公開日】2024-03-01
(54)【発明の名称】コイル部品
(51)【国際特許分類】
   H01F 27/00 20060101AFI20240222BHJP
   H01F 17/00 20060101ALI20240222BHJP
   H01F 27/29 20060101ALI20240222BHJP
【FI】
H01F27/00 R
H01F17/00 D
H01F27/29 123
【審査請求】未請求
【請求項の数】7
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2022130392
(22)【出願日】2022-08-18
(71)【出願人】
【識別番号】000003067
【氏名又は名称】TDK株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100115738
【弁理士】
【氏名又は名称】鷲頭 光宏
(74)【代理人】
【識別番号】100121681
【弁理士】
【氏名又は名称】緒方 和文
(72)【発明者】
【氏名】西川 朋永
(72)【発明者】
【氏名】八木沼 一郎
(72)【発明者】
【氏名】星 武道
(72)【発明者】
【氏名】平岡 光徳
(72)【発明者】
【氏名】柴 大輝
【テーマコード(参考)】
5E070
【Fターム(参考)】
5E070AB04
5E070AB10
5E070CB13
5E070EA01
5E070EB04
(57)【要約】
【課題】高いインダクタンスを得ることが可能であり、且つ、結合係数の調整が容易なコイル部品を提供する。
【解決手段】コイル部品100は、磁性素体11,12にそれぞれ埋め込まれたコイル導体31,32と、磁性素体11から露出し、コイル導体31の一端及び他端にそれぞれ接続された端子電極21,22と、磁性素体12から露出し、コイル導体32の一端及び他端にそれぞれ接続された端子電極23,24と、磁性素体11,12間に設けられ、磁性素体11,12よりも透磁率の低い低透磁率層15とを備える。これにより、低透磁率層15に用いる磁性材料や低透磁率層の厚みによって、結合係数を調整することが可能となる。しかも、コイル導体31,32を磁性素体11,12に埋め込んでいることから、高いインダクタンスを得ることも可能となる。
【選択図】図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1及び第2の磁性素体と、
前記第1及び第2の磁性素体にそれぞれ埋め込まれた第1及び第2のコイル導体と、
前記第1の磁性素体から露出し、前記第1のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第1及び第2の端子電極と、
前記第2の磁性素体から露出し、前記第2のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第3及び第4の端子電極と、
前記第1の磁性素体と前記第2の磁性素体の間に設けられ、前記第1及び第2の磁性素体よりも透磁率の低い低透磁率層と、を備えるコイル部品。
【請求項2】
前記第1及び第2のコイル導体は、いずれも層間絶縁膜を介して積層された複数のコイルパターンを含み、
前記第1及び第2の端子電極と前記第1の磁性素体、並びに、前記第3及び第4の端子電極と前記第2の磁性素体は、前記層間絶縁膜を介して分離されている、請求項1に記載のコイル部品。
【請求項3】
前記複数のコイルパターンは、前記第1及び第2の磁性素体の配列方向に積層されている、請求項2に記載のコイル部品。
【請求項4】
前記第1の端子電極と前記第3の端子電極の積層方向における距離は、前記第1のコイル導体と前記第2のコイル導体の積層方向における距離よりも大きい、請求項3に記載のコイル部品。
【請求項5】
前記第1乃至第4の端子電極と前記低透磁率層の間に位置する層間絶縁膜は、前記複数のコイルパターン間に位置する層間絶縁膜よりも膜厚が大きい、請求項3に記載のコイル部品。
【請求項6】
第3及び第4の磁性素体と、
前記第3及び第4の磁性素体にそれぞれ埋め込まれた第3及び第4のコイル導体と、
前記第3の磁性素体から露出し、前記第3のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第5及び第6の端子電極と、
前記第4の磁性素体から露出し、前記第4のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第7及び第8の端子電極と、
前記第3の磁性素体と前記第4の磁性素体の間に設けられ、前記第3及び第4の磁性素体よりも透磁率の低い別の低透磁率層と、をさらに備え、
前記第1、第2、第3及び第4の磁性素体がこの順に配列されている、請求項1乃至5のいずれか一項に記載のコイル部品。
【請求項7】
前記第1、第3、第5及び第7の端子電極がこの順に配列されており、
前記第3の端子電極と前記第5の端子電極の距離は、前記第1の端子電極と前記第3の端子電極の距離よりも大きく、且つ、前記第5の端子電極と前記第7の端子電極の距離よりも大きい、請求項6に記載のコイル部品。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はコイル部品に関し、特に、カップルドインダクタとして用いることが可能なコイル部品に関する。
【背景技術】
【0002】
DC/DCコンバータなどのスイッチング電源の平滑用コイルとして、カップルドインダクタと呼ばれるコイル部品が用いられることがある。カップルドインダクタは、互いに磁気結合する一対の電流経路を有しており、一方の電流経路に電流を流すと、起電力によって他方の電流経路にも電流が流れる。このため、スイッチング電源の平滑用コイルとして用いれば、突入電流のピークを低減することが可能となる。カップルドインダクタとしては、特許文献1に記載されたものが知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開2009-117676号公報
【特許文献2】特開2016-131208号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献1に記載されたカップルドインダクタはコイル導体が棒状であることから、高いインダクタンスを得ることが困難である。より高いインダクタンスを得るためには、特許文献2に記載されているように、スパイラル状のコイルパターンを用いる方法が考えられるが、特許文献2に記載されたコイル部品は、コイル導体が埋め込まれた2つの素体が単に接着されているだけであることから、結合係数の調整が困難であった。しかも、特許文献2に記載されたコイル部品は、素体に非磁性材料を用いていることから、十分なインダクタンスを得ることが困難であった。
【0005】
したがって、本発明は、高いインダクタンスを得ることが可能であり、且つ、結合係数の調整が容易なコイル部品を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明によるコイル部品は、第1及び第2の磁性素体と、第1及び第2の磁性素体にそれぞれ埋め込まれた第1及び第2のコイル導体と、第1の磁性素体から露出し、第1のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第1及び第2の端子電極と、第2の磁性素体から露出し、第2のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第3及び第4の端子電極と、第1の磁性素体と第2の磁性素体の間に設けられ、第1及び第2の磁性素体よりも透磁率の低い低透磁率層とを備える。
【0007】
本発明によれば、コイル導体が埋め込まれた2つの磁性素体の間に低透磁率層が設けられていることから、低透磁率層に用いる磁性材料や低透磁率層の厚みによって、結合係数を調整することが可能となる。しかも、コイル導体を磁性素体に埋め込んでいることから、高いインダクタンスを得ることも可能となる。
【0008】
本発明において、第1及び第2のコイル導体は、いずれも層間絶縁膜を介して積層された複数のコイルパターンを含み、第1及び第2の端子電極と第1の磁性素体、並びに、第3及び第4の端子電極と第2の磁性素体は、層間絶縁膜を介して分離されていても構わない。これによれば、端子電極間における絶縁耐圧が高められる。
【0009】
本発明において、複数のコイルパターンは、第1及び第2の磁性素体の配列方向に積層されていても構わない。これによれば、コイルパターンの積層数が多い場合であっても、磁性素体の高さ方向におけるサイズを抑えることが可能となる。
【0010】
本発明において、第1の端子電極と第3の端子電極の積層方向における距離は、第1のコイル導体と第2のコイル導体の積層方向における距離よりも大きくても構わない。これによれば、端子電極間における絶縁耐圧をより高めることが可能となる。
【0011】
本発明において、第1乃至第4の端子電極と低透磁率層の間の間に位置する層間絶縁膜は、複数のコイルパターン間に位置する層間絶縁膜よりも膜厚が大きくても構わない。これによれば、端子電極間における絶縁耐圧をより高めることが可能となる。
【0012】
本発明によるコイル部品は、第3及び第4の磁性素体と、第3及び第4の磁性素体にそれぞれ埋め込まれた第3及び第4のコイル導体と、第3の磁性素体から露出し、第3のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第5及び第6の端子電極と、第4の磁性素体から露出し、第4のコイル導体の一端及び他端にそれぞれ接続された第7及び第8の端子電極と、第3の磁性素体と第4の磁性素体の間に設けられ、第3及び第4の磁性素体よりも透磁率の低い別の低透磁率層とをさらに備え、第1、第2、第3及び第4の磁性素体がこの順に配列されていても構わない。これによれば、2つのカップルドインダクタが一体化されたアレイ品を提供することが可能となる。
【0013】
本発明において、第1、第3、第5及び第7の端子電極がこの順に配列されており、第3の端子電極と第5の端子電極の距離は、第1の端子電極と第3の端子電極の距離よりも大きく、且つ、第5の端子電極と第7の端子電極の距離よりも大きくても構わない。これによれば、異なるカップルドインダクタ間における絶縁耐圧をより高めることが可能となる。
【発明の効果】
【0014】
このように、本発明によれば、高いインダクタンスを得ることが可能であり、且つ、結合係数の調整が容易なコイル部品を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
図1図1は、本発明の第1の実施形態によるコイル部品100の外観を示す略斜視図である。
図2図2は、コイル部品100の模式的なXZ断面図である。
図3図3は、導体層L3のパターン形状を示す略平面図である。
図4図4は、コイル部品100の等価回路図である。
図5図5は、端子電極21,23及びその周囲の拡大図である。
図6図6は、第1の変形例を説明するための図である。
図7図7は、第2の変形例を説明するための図である。
図8図8は、本発明の第2の実施形態によるコイル部品200の外観を示す略斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。
【0017】
図1は、本発明の第1の実施形態によるコイル部品100の外観を示す略斜視図である。
【0018】
図1に示すように、本実施形態によるコイル部品100は、X方向に配列された磁性素体11,12と、磁性素体11,12間に配置された低透磁率層15と、端子電極21~24とを備えている。磁性素体11,12は、金属磁性体などからなる磁性フィラーと樹脂バインダを含む複合磁性材料からなり、その内部に後述するコイル導体が埋め込まれている。このように、本実施形態においては、コイル導体を磁性素体11,12に埋め込んでいることから、非磁性材料からなる素体を用いた場合と比べ、より高いインダクタンスを得ることが可能となる。
【0019】
磁性素体11に埋め込まれたコイル導体の一端及び他端は、磁性素体11から露出する端子電極21,22にそれぞれ接続される。磁性素体12に埋め込まれたコイル導体の一端及び他端は、磁性素体12から露出する端子電極23,24にそれぞれ接続される。端子電極21,22はY方向に配列され、端子電極23,24はY方向に配列され、端子電極21,23はX方向に配列され、端子電極22,24はX方向に配列されている。これら端子電極21~24は、いずれもXY平面を構成する実装面に露出するとともに、それぞれ対応するXZ側面にも露出している。但し、端子電極21~24がXZ側面に露出する点は必須でなく、少なくとも実装面に露出すれば足りる。
【0020】
低透磁率層15は、磁性素体11,12と同様、金属磁性体などからなる磁性フィラーと樹脂バインダを含む複合磁性材料からなるが、磁性素体11,12よりも透磁率の低い複合磁性材料が用いられる。複合磁性材料の透磁率は、使用する磁性フィラーの種類、添加量、サイズなどによって調整することができる。
【0021】
図2は、コイル部品100の模式的なXZ断面図である。
【0022】
図2に示すように、磁性素体11にはコイル導体31が埋め込まれ、磁性素体12にはコイル導体32が埋め込まれている。図2に示す例では、コイル導体31,32がいずれも導体層L1~L6からなる6層構造であり、各導体層L1~L6にコイルパターン40が形成されている。導体層L1~L6は銅(Cu)などからなる。導体層L1~L6の積層方向はX方向であり、各導体層L1~L6の積層方向における両側には、層間絶縁膜50が設けられている。これにより、導体層L1~L6間の絶縁が確保されるとともに、導体層L1~L6と磁性素体11,12の接触が防止される。
【0023】
一例として、図3に導体層L3のパターン形状を示す。図3に示すように、導体層L3には、約3ターン周回するコイルパターン40と、端子電極パターン41,42が設けられている。他の導体層も同様であり、所定数周回するコイルパターン40と、端子電極パターン41,42を含んでいる。そして、各導体層L1~L6に含まれるコイルパターン40がビア導体を介して直列に接続されるとともに、導体層L1に含まれるコイルパターン40の外周端が端子電極パターン41に接続され、導体層L6に含まれるコイルパターン40の外周端が端子電極パターン42に接続される。これにより、コイル導体31,32は、それぞれ単一のコイルを構成する。
【0024】
端子電極パターン41,42の端面は、磁性素体11,12から露出することによって端子電極21~24を構成する。ここで、コイル導体31に含まれる端子電極パターン41の露出部分は端子電極21を構成し、コイル導体31に含まれる端子電極パターン42の露出部分は端子電極22を構成する。また、コイル導体32に含まれる端子電極パターン41の露出部分は端子電極23を構成し、コイル導体32に含まれる端子電極パターン42の露出部分は端子電極24を構成する。本実施形態においては、端子電極21から端子電極22に向かってコイル導体31を流れる電流の周回方向と、端子電極23から端子電極24に向かってコイル導体32を流れる電流の周回方向は、互いに逆である。これにより、本実施形態によるコイル部品100は、図4に示す等価回路図のように、コイル導体31,32が逆方向に磁気結合するカップルドインダクタとして用いることができる。
【0025】
図5は、端子電極21,23及びその周囲の拡大図である。
【0026】
図5に示すように、端子電極21,23を構成する端子電極パターン41の表面には、導体層L1~L6間を接続するビア導体43が露出している。ビア導体43が設けられていない部分には層間絶縁膜50が露出する。また、端子電極21,23の周囲も層間絶縁膜50で囲まれており、これによって端子電極21,23と磁性素体11,12の接触が防止されるとともに、端子電極21,23間における絶縁耐圧が向上する。端子電極22,24についても同様である。
【0027】
以上説明したように、本実施形態によるコイル部品100は、それぞれコイル導体31,32が埋め込まれた磁性素体11,12の間に低透磁率層15が設けられていることから、低透磁率層15に用いる磁性材料や低透磁率層の厚みによって、結合係数を調整することが可能となる。また、耐圧の低い磁性素体11,12を用いているにもかかわらず、端子電極21,23間における絶縁耐圧及び端子電極22,24間における絶縁耐圧を十分に確保することも可能となる。
【0028】
このような構造を有するコイル部品100は、コイル導体31が埋め込まれた磁性素体11とコイル導体32が埋め込まれた磁性素体12を別個に作製した後、低透磁率層15を介して両者を貼り合わせることによって作製することができる。貼り合わせには接着剤を用いても構わないし、低透磁率層15に含まれる未硬化状態の樹脂バインダを硬化させることによって貼り合わせても構わない。
【0029】
図6は、第1の変形例を説明するための図であり、図5に示した平面に対応している。
【0030】
図6に示す第1の変形例においては、導体層L6と低透磁率層15の間に位置する層間絶縁膜50の積層方向(X方向)における厚さT1が他の層間絶縁膜50の積層方向における厚さT2よりも大きい。これによれば、低透磁率層15のX方向における厚みを変更することなく、端子電極21,23間のX方向における距離、並びに、端子電極22,24間のX方向における距離が拡大するとともに、両者間に位置する層間絶縁膜50の厚みが増大することから、絶縁耐圧をより高めることが可能となる。
【0031】
図7は、第2の変形例を説明するための図であり、図5に示した平面に対応している。
【0032】
図7に示す第2の変形例においては、導体層L6に位置する端子電極パターン41,42が削除されている。これにより、端子電極21,23間(22,24間)のX方向における距離W1が拡大し、コイル導体31に属する導体層L6とコイル導体32に属する導体層L6のX方向における距離W2よりも大きくなることから、絶縁耐圧をよりいっそう高めることが可能となる。
【0033】
図8は、本発明の第2の実施形態によるコイル部品200の外観を示す略斜視図である。
【0034】
図8に示すように、第2の実施形態によるコイル部品200は、上述した第1の実施形態によるコイル部品100が2個接続された構造を有している。つまり、X方向に配列された磁性素体11~14と、磁性素体13,14間に配置された低透磁率層16と、端子電極21~28とを備えている。磁性素体13,14は磁性素体11,12と同じ磁性材料からなり、低透磁率層16は低透磁率層15と同じ磁性材料からなる。つまり、低透磁率層16は、磁性素体11~14よりも透磁率の低い複合磁性材料が用いられる。
【0035】
このような構造を有するコイル部品200は、2つのカップルドインダクタのアレイ品として用いることができる。しかも、端子電極23,25間の距離W4は、端子電極21,23間の距離W3及び端子電極25,27間の距離W3よりも大きく、これにより、異なるカップルドインダクタ間における絶縁耐圧が十分に確保される。
【0036】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
【符号の説明】
【0037】
11~14 磁性素体
15,16 低透磁率層
21~28 端子電極
31,32 コイル導体
40 コイルパターン
41,42 端子電極パターン
43 ビア導体
50 層間絶縁膜
100,200 コイル部品
L1~L6 導体層
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8