特開 2024-33275 光モジュール

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024033275

(43)【公開日】2024-03-13

(54)【発明の名称】光モジュール

(51)【国際特許分類】

   G02F 1/015 20060101AFI20240306BHJP

   G02B 6/32 20060101ALI20240306BHJP

   G02B 6/42 20060101ALI20240306BHJP

【ＦＩ】

G02F1/015 505

G02B6/32

G02B6/42

【審査請求】未請求

【請求項の数】2

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022136773

(22)【出願日】2022-08-30

(71)【出願人】

【識別番号】000002130

【氏名又は名称】住友電気工業株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100088155

【弁理士】

【氏名又は名称】長谷川 芳樹

(74)【代理人】

【識別番号】100113435

【弁理士】

【氏名又は名称】黒木 義樹

(74)【代理人】

【識別番号】100136722

【弁理士】

【氏名又は名称】▲高▼木 邦夫

(74)【代理人】

【識別番号】100174399

【弁理士】

【氏名又は名称】寺澤 正太郎

(74)【代理人】

【識別番号】100182006

【弁理士】

【氏名又は名称】湯本 譲司

(72)【発明者】

【氏名】佐伯 智哉

(72)【発明者】

【氏名】関 守弘

【テーマコード（参考）】

2H137

2K102

【Ｆターム（参考）】

2H137AA05

2H137AB11

2H137BA03

2H137BA05

2H137BA48

2H137BA52

2H137BA53

2H137BA55

2H137BB14

2H137BC02

2H137BC31

2H137BC42

2H137BC51

2H137CC01

2H137CC08

2H137CC10

2H137DA27

2H137DA39

2H137DB10

2H137DB12

2H137DB13

2H137HA01

2K102AA21

2K102BA01

2K102BB04

2K102BC04

2K102BD01

2K102CA02

2K102DA04

2K102DB05

2K102DC08

2K102DD01

2K102DD03

2K102DD07

2K102EA02

2K102EA08

2K102EA09

2K102EB02

2K102EB06

2K102EB10

2K102EB11

2K102EB14

2K102EB16

2K102EB22

2K102EB25

2K102EB30

(57)【要約】      （修正有）

【課題】モニタ素子へのずれた偏光成分を含む漏れ光を低減させることができる光モジュールを提供する。
【解決手段】一実施形態に係る光モジュールは、半導体変調器と、入力レンズ系と、第１の出力ポートに対向する第１の出力レンズ系と、第２の出力ポートに対向する第２の出力レンズ系と、第１のモニタポートに対向する第１のモニタ素子と、第２のモニタポートに対向する第２のモニタ素子と、第１のモニタポートと第１のモニタ素子との間に配置される第１の偏光子と、第２のモニタポートと第２のモニタ素子との間に配置される第２の偏光子と、を備える。半導体変調器は、側面を有する。第１の出力ポート及び第２の出力ポートは、側面において入力ポートの両側のそれぞれに配置される。第１のモニタポートは、第１の出力ポートの入力ポートとは反対側に配置され、第２のモニタポートは、第２の出力ポートの入力ポートとは反対側に配置されている。
【選択図】図６

【特許請求の範囲】

【請求項1】

長方形状の平面形状を呈し、連続光を受光する入力ポート、第１の出力ポート、第２の出力ポート、第１のモニタポート、及び第２のモニタポートを有し、前記連続光を分岐して得られた分岐光を位相変調し、前記分岐光の一方を変調信号化して前記第１の出力ポートから出力される第１の出力光を生成すると共に、前記分岐光のもう一方を変調信号化して前記第２の出力ポートから出力される第２の出力光を生成し、前記第１のモニタポートが前記第１の出力光をモニタし、前記第２のモニタポートが前記第２の出力光をモニタする半導体変調器と、
前記入力ポートに対向する入力レンズ系と、
前記第１の出力ポートに対向する第１の出力レンズ系と、
前記第２の出力ポートに対向する第２の出力レンズ系と、
前記第１のモニタポートに対向する第１のモニタ素子と、
前記第２のモニタポートに対向する第２のモニタ素子と、
前記第１のモニタポートと前記第１のモニタ素子との間に配置される第１の偏光子と、
前記第２のモニタポートと前記第２のモニタ素子との間に配置される第２の偏光子と、
を備え、
前記半導体変調器は、側面を有し、
前記第１の出力ポート及び前記第２の出力ポートは、前記側面において前記入力ポートの両側のそれぞれに配置され、
前記第１のモニタポートは、前記第１の出力ポートの前記入力ポートとは反対側に配置され、
前記第２のモニタポートは、前記第２の出力ポートの前記入力ポートとは反対側に配置されている、
光モジュール。

【請求項2】

前記半導体変調器の前記側面において、前記第１の出力ポート及び前記第２の出力ポートは前記入力ポートに対して互いに対称となる位置に配置され、前記第１のモニタポート及び前記第２のモニタポートは前記入力ポートに対して互いに対称となる位置に配置されている、
請求項１に記載の光モジュール。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、光モジュールに関する。

【背景技術】

【0002】

特許文献１には、光モジュールが記載されている。光モジュールは、筐体と、筐体の側壁に取り付けられた入力アセンブリ及び出力アセンブリと、筐体の内部に配置された半導体変調器とを備える。半導体変調器は、入力ポートと、第１の出力ポートと、第２の出力ポートと、分岐部と、第１の合波部と、第２の合波部と、複数のアーム導波路と、第１のモニタポートと、第２のモニタポートとを有する。

【0003】

入力ポートは、入力アセンブリからの連続光を入力する。分岐部は、入力ポートから入力された連続光を８本のアーム導波路に分岐する。第１の合波部は、４本のアーム導波路に伝搬した信号光の一部を合波して第１の出力ポートに第１の出力光として提供する。第２の合波部は、別の４本のアーム導波路を伝搬した信号光の残部を合波して第２の出力ポートに第２の出力光として提供する。

【0004】

半導体変調器は、８個の変調電極と、４個の親位相調整電極と、８個の子位相調整電極とを有する。変調電極はアーム導波路上に設けられ、変調された電圧信号をアーム導波路に与えてアーム導波路の光の屈折率を変化させる。これにより、アーム導波路の光の位相が変調される。

【0005】

光モジュールは、入力アセンブリと半導体変調器の入力ポートとを互いに光結合する入力レンズ系と、出力アセンブリと半導体変調器の第１の出力ポート及び第２の出力ポートのそれぞれとを互いに光結合する第１の出力レンズ系及び第２の出力レンズ系とを有する。光モジュールは、第１のモニタポートの光軸上に配置された第１のモニタＰＤ（Photo Diode）と、第２のモニタポートの光軸上に配置された第２のモニタＰＤとを有する。第１１のモニタＰＤは第１のモニタポートから出力されるモニタ用信号を受光し、第２のモニタＰＤは第２のモニタポートから出力されるモニタ用信号を受光する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【特許文献1】特表２０２１－５０９４８３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

ところで、半導体変調器では、内部において偏光状態にずれが発生する場合がある。このずれは、波長依存性がある。偏光状態にずれが生じると、ずれた偏光成分を含む漏れ光が発生する。この漏れ光は、半導体変調器の外部に配置されたモニタＰＤ等のモニタ素子に光結合することがある。ずれた偏光成分を含む漏れ光がモニタ素子に光結合すると光モジュールの動作に影響が生じる可能性がある。

【0008】

本開示は、モニタ素子へのずれた偏光成分を含む漏れ光を低減させることができる光モジュールを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0009】

本開示に係る光モジュールは、長方形状の平面形状を呈し、連続光を受光する入力ポート、第１の出力ポート、第２の出力ポート、第１のモニタポート、及び第２のモニタポートを有し、連続光を分岐して得られた分岐光を位相変調し、分岐光の一方を変調信号化して第１の出力ポートから出力される第１の出力光を生成すると共に、分岐光のもう一方を変調信号化して第２の出力ポートから出力される第２の出力光を生成し、第１のモニタポートが第１の出力光をモニタし、第２のモニタポートが第２の出力光をモニタする半導体変調器と、入力ポートに対向する入力レンズ系と、第１の出力ポートに対向する第１の出力レンズ系と、第２の出力ポートに対向する第２の出力レンズ系と、第１のモニタポートに対向する第１のモニタ素子と、第２のモニタポートに対向する第２のモニタ素子と、第１のモニタポートと第１のモニタ素子との間に配置される第１の偏光子と、第２のモニタポートと第２のモニタ素子との間に配置される第２の偏光子と、を備える。半導体変調器は、側面を有する。第１の出力ポート及び第２の出力ポートは、側面において入力ポートの両側のそれぞれに配置される。第１のモニタポートは、第１の出力ポートの入力ポートとは反対側に配置され、第２のモニタポートは、第２の出力ポートの入力ポートとは反対側に配置されている。

【発明の効果】

【0010】

本開示によれば、モニタ素子へのずれた偏光成分を含む漏れ光を低減させることができる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】図１は、一実施形態に係る光モジュールを示す斜視図である。

【図2】図２は、図１の光モジュールを図１とは異なる方向から見た斜視図である。

【図3】図３は、図１の光モジュールの内部構造を示す斜視図である。

【図4】図４は、図１の光モジュールの内部構造を示す平面図である。

【図5】図５は、図１の光モジュールの側断面図である。

【図6】図６は、図１の光モジュールの半導体変調器、入力レンズ系、第１の出力レンズ系、第２の出力レンズ系、第１のモニタＰＤ、第２のモニタＰＤ、第１の偏光子、及び第２の偏光子を示す平面図である。

【図7】図７は、図６の半導体変調器を示す図である。

【図8】図８は、実施例に係る光モジュールにおける光の波長と偏光状態のずれとの関係を示すグラフである。

【図9】図９は、比較例に係る光モジュールにおける光の波長と偏光状態のずれとの関係を示すグラフである。

【発明を実施するための形態】

【0012】

［本開示の実施形態の説明］
最初に、本開示に係る光モジュールの実施形態の内容を列記して説明する。実施形態に係る光モジュールは、（１）長方形状の平面形状を呈し、連続光を受光する入力ポート、第１の出力ポート、第２の出力ポート、第１のモニタポート、及び第２のモニタポートを有し、連続光を分岐して得られた分岐光を位相変調し、分岐光の一方を変調信号化して第１の出力ポートから出力される第１の出力光を生成すると共に、分岐光のもう一方を変調信号化して第２の出力ポートから出力される第２の出力光を生成し、第１のモニタポートが第１の出力光をモニタし、第２のモニタポートが第２の出力光をモニタする半導体変調器と、入力ポートに対向する入力レンズ系と、第１の出力ポートに対向する第１の出力レンズ系と、第２の出力ポートに対向する第２の出力レンズ系と、第１のモニタポートに対向する第１のモニタ素子と、第２のモニタポートに対向する第２のモニタ素子と、第１のモニタポートと第１のモニタ素子との間に配置される第１の偏光子と、第２のモニタポートと第２のモニタ素子との間に配置される第２の偏光子と、を備える。半導体変調器は、側面を有する。第１の出力ポート及び第２の出力ポートは、側面において入力ポートの両側のそれぞれに配置される。第１のモニタポートは、第１の出力ポートの入力ポートとは反対側に配置され、第２のモニタポートは、第２の出力ポートの入力ポートとは反対側に配置されている。

【0013】

この光モジュールでは、入力ポート、第１の出力ポート、第２の出力ポート、第１のモニタポート、及び第２のモニタポートを有する半導体変調器を備える。入力ポートには入力レンズ系が対向する。第１の出力ポートには第１の出力レンズ系が対向し、第２の出力ポートには第２の出力レンズ系が対向する。光モジュールは、第１のモニタポートに対向する第１のモニタ素子と、第２のモニタポートに対向する第２のモニタ素子とを備える。第１のモニタポートと第１のモニタ素子との間には第１の偏光子が配置され、第２のモニタポートと第２のモニタ素子との間には第２の偏光子が配置される。よって、第１の偏光子及び第２の偏光子のそれぞれがずれた偏光成分をカットし、ずれた偏光成分がカットされた光が第１のモニタ素子及び第２のモニタ素子に入力する。従って、モニタ素子へのずれた偏光成分を含む漏れ光を低減させることができる。

【0014】

（２）上記（１）において、半導体変調器の側面において、第１の出力ポート及び第２の出力ポートは入力ポートに対して互いに対称となる位置に配置され、第１のモニタポート及び第２のモニタポートは入力ポートに対して互いに対称となる位置に配置されていてもよい。

【0015】

［本開示の実施形態の詳細］
本開示の実施形態に係る光モジュールの具体例を以下で図面を参照しながら説明する。なお、本発明は、以下の例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲に示され、特許請求の範囲と均等の範囲における全ての変更が含まれることが意図される。図面の説明において同一又は相当する要素には同一の符号を付し、重複する説明を適宜省略する。また、図面は、理解の容易化のため、一部を簡略化又は誇張して描いている場合があり、寸法比率等は図面に記載したものに限定されない。

【0016】

図１は、一例としての光モジュール１を示す斜視図である。図２は、図１とは異なる方向から見た光モジュール１の斜視図である。図１及び図２に示されるように、光モジュール１は、直方体状の筐体２と、筐体２から延び出す入力アセンブリ３及び出力アセンブリ４とを備える。入力アセンブリ３及び出力アセンブリ４のそれぞれは円柱状を呈する。筐体２は、第１方向Ｄ１に沿って延びる一対の第１側壁２ｂと、第１方向Ｄ１に交差する第２方向Ｄ２に沿って延びる一対の第２側壁２ｃと、光モジュール１の各部品が搭載される底壁２ｄとを有する。第１方向Ｄ１は光モジュール１の長手方向であり、第２方向Ｄ２は光モジュール１の幅方向である。

【0017】

第１側壁２ｂは、第１方向Ｄ１及び第３方向Ｄ３の双方に延在している。第３方向Ｄ３は、第１方向Ｄ１及び第２方向Ｄ２の双方に交差する方向であり、光モジュール１の高さ方向に相当する。一対の第２側壁２ｃは第１方向Ｄ１に沿って並んでおり、各第２側壁２ｃは第２方向Ｄ２及び第３方向Ｄ３の双方に延在している。底壁２ｄは、第１側壁２ｂ及び第２側壁２ｃの第３方向Ｄ３の一端において第１方向Ｄ１及び第２方向Ｄ２の双方に延在している。

【0018】

図３は、光モジュール１の内部構造を示す斜視図である。図４は、光モジュール１の内部構造を示す平面図である。図５は、光モジュール１の内部構造を示す縦断面図である。図３～図５に示されるように、一対の第１側壁２ｂ、及び一対の第２側壁２ｃは、第３方向Ｄ３から見たときに枠状を呈する筐体２の開口部２ｇを構成する。光モジュール１は、開口部２ｇを封止するリッド５を備える。リッド５は金属製である。例えば、筐体２では、開口部２ｇに金属製のシールリングが接合され、当該シールリングを介してリッド５が筐体２に接合される。例えば、リッド５の筐体２への接合はシーム溶接によって行われる。

【0019】

一対の第２側壁２ｃのうちの一方からは入力アセンブリ３及び出力アセンブリ４が第１方向Ｄ１に沿って延び出している。入力アセンブリ３及び出力アセンブリ４は、第２方向Ｄ２に沿って並んでいる。入力アセンブリ３は、光モジュール１の外部から光モジュール１の内部に入力光Ｌ１を入力する部位である。出力アセンブリ４は、光モジュール１の内部から光モジュール１の外部に出力光Ｌ２を出力する部位である。

【0020】

入力アセンブリ３は、偏波保持ファイバ（ＰＭＦ：Polarization Maintaining Fiber）である光ファイバ３ｆを保持するピグテイル部品である。入力アセンブリ３は、レンズ３ｂ、レンズ３ｂを保持するレンズホルダ３ｃ、スリーブ３ｄ、及びレンズ３ｂと光学的に結合する光ファイバ３ｆを有する。光ファイバ３ｆからは入力光Ｌ１が出射し、入力光Ｌ１はレンズ３ｂを透過して光モジュール１の内部に入力される。

【0021】

出力アセンブリ４は、シングルモードファイバ（ＳＭＦ：Single Mode Fiber）である光ファイバ４ｆを保持するピグテイル部品である。出力アセンブリ４は、レンズ４ｂ、レンズ４ｂを保持するレンズホルダ４ｃ、スリーブ４ｄ、及びレンズ４ｂと光学的に結合する光ファイバ４ｆを有する。レンズ４ｂは、光モジュール１の内部からの出力光Ｌ２を光ファイバ４ｆの先端面に集光する。

【0022】

光モジュール１は、第１側壁２ｂ及び第２側壁２ｃのそれぞれに設けられたフィードスルー６を有する。フィードスルー６は、複数のリードピン６ｂを有する。複数のリードピン６ｂは、例えば、筐体２の外部の回路基板に接続される。複数のリードピン６ｂには、筐体２の内部において生成された電気信号を光モジュール１の外部に取り出すリードピン、筐体２の内部の電気回路にバイアスを供給するリードピン、及び接地リードピンが含まれる。なお、本実施形態では、複数のリードピン６ｂは、第１側壁２ｂ及び第２側壁２ｃのそれぞれに設けられているが、第１側壁２ｂのみに設けられていてもよい。

【0023】

光モジュール１は、底壁２ｄに搭載された光学用ベース１１と、光学用ベース１１に搭載されたフィルタ１２を含む複合光学部品１３とを有する。フィルタ１２は、入力アセンブリ３からの入力光Ｌ１を透過する。フィルタ１２は入力光Ｌ１を複合光学部品１３に入力する。複合光学部品１３は、フィルタ１２から見て入力アセンブリ３とは反対側に配置さされている。複合光学部品１３は、入力された入力光Ｌ１を反射する複数の反射面１３ｂを有する。

【0024】

複数の反射面１３ｂは、第１の反射面１３ｃ、第２の反射面１３ｄ、第３の反射面１３ｆ及び第４の反射面１３ｇを含む。第１の反射面１３ｃ及び第２の反射面１３ｄは、第２方向Ｄ２に沿って並んでいる。第２方向Ｄ２における第３の反射面１３ｆの位置は、第２方向Ｄ２における第１の反射面１３ｃの位置、及び第２方向Ｄ２における第２の反射面１３ｄの位置からずれている。第２方向Ｄ２における第４の反射面１３ｇの位置は、第２方向Ｄ２における第１の反射面１３ｃの位置、及び第２方向Ｄ２における第２の反射面１３ｄの位置からずれている。第３の反射面１３ｆ及び第４の反射面１３ｇは、第２方向Ｄ２に沿って並んでいる。

【0025】

フィルタ１２から第１方向Ｄ１に沿って複合光学部品１３に入射した入力光Ｌ１は、第１の反射面１３ｃにおいて第２方向Ｄ２に反射する。第１の反射面１３ｃにおいて反射した入力光Ｌ１は、第２の反射面１３ｄにおいて第１方向Ｄ１に反射して入力アセンブリ３とは反対側に出射する。

【0026】

複合光学部品１３には、出力アセンブリ４とは反対側から第１方向Ｄ１に沿って後に詳述する出力光Ｌ３及び出力光Ｌ４が入力する。出力光Ｌ３は第３の反射面１３ｆにおいて第２方向Ｄ２に反射する。第３の反射面１３ｆにおいて反射した出力光Ｌ３は、第４の反射面１３ｇにおいて第１方向Ｄ１に反射する。出力光Ｌ４は、第４の反射面１３ｇを透過する。複合光学部品１３は、出力光Ｌ３及び出力光Ｌ４を出力光Ｌ２として光モジュール１の外部に出力する。

【0027】

光モジュール１は、底壁２ｄに搭載された温調デバイス２１と、温調デバイス２１に搭載された変調素子用ベース２２と、変調素子用ベース２２に搭載された変調素子用キャリア２３と、変調素子用キャリア２３に搭載された変調器（半導体変調器）３０とを備える。温調デバイス２１は、ＴＥＣ（Thermo Electric Cooler）である。更に、光モジュール１は、入力レンズ系２５と、第１の出力レンズ系２６と、第２の出力レンズ系２７とを備える。入力レンズ系２５、第１の出力レンズ系２６及び第２の出力レンズ系２７は変調素子用ベース２２に搭載されている。

【0028】

変調器３０は、例えば、リン化インジウム（ＩｎＰ）基板上にマッハツェンダ干渉計が形成された多モード干渉器である。また、変調器３０は、Ｓｉ基板上に光導波路が形成された素子であってもよい。一例として、変調器３０は、リン化インジウム（ＩｎＰ）、二酸化ケイ素（ＳｉＯ_２）及びベンゾシクロブテン（ＢＣＢ）を含む。変調器３０については後に詳述する。入力レンズ系２５は、変調器３０と複合光学部品１３との間に搭載されている。第１の出力レンズ系２６及び第２の出力レンズ系２７は、入力レンズ系２５の第２方向Ｄ２の両側のそれぞれに搭載されている。

【0029】

光モジュール１は、変調器３０から見て複合光学部品１３とは反対側に位置するヒートシンク４１と、ヒートシンク４１に搭載された駆動回路であるドライバＩＣ４２とを備える。ドライバＩＣ４２は電極パッド４２ｂを有する。電極パッド４２ｂは、ドライバＩＣ４２の変調器３０側の端部において第２方向Ｄ２に沿って並んでいる。光モジュール１は、筐体２の枠体２ｈに設けられた配線パターン２ｊ（図３又は図４参照）を有する。

【0030】

配線パターン２ｊは、筐体２の第２方向Ｄ２の片側において第１方向Ｄ１に沿って並んでいる。変調器３０は、ドライバＩＣ４２に対向する位置に電極パッド３０ｃを有し、電極パッド３０ｃは第２方向Ｄ２に沿って並んでいる。光モジュール１は、電極パッド３０ｃ及び電極パッド４２ｂを互いに電気的に接続するボンディングワイヤＷ１を有する。変調器３０は、制御端子３０ｂを有する。制御端子３０ｂは、変調器３０の第２方向Ｄ２の片側において第１方向Ｄ１に沿って並んでいる。配線パターン２ｊは、変調器３０の制御端子３０ｂとボンディングワイヤＷ２を介して電気的に接続されている。光モジュール１は、サーミスタ２４を有する。サーミスタ２４は、例えば、変調器３０及び複合光学部品１３の間に配置されている。サーミスタ２４は、ボンディングワイヤＷ３を介して枠体２ｈに設けられたパッド２ｋ（図４参照）に電気的に接続されている。

【0031】

図６は、変調器３０、入力レンズ系２５、第１の出力レンズ系２６及び第２の出力レンズ系２７の周辺を拡大した平面図である。図７は、変調器３０を示す平面図である。変調器３０は、例えば、複数の光導波路を有する多モード干渉器である。図６及び図７に示されるように、変調器３０は、例えば、変調器チップ３１と、入力ポート３２と、第１の出力ポート３３ｂと、第２の出力ポート３３ｃと、分岐部３４と、第１の合波部３５ｂと、第２の合波部３５ｃと、光導波路３６ａ～３６ｈと、第１のモニタポート３７ｂと、第２のモニタポート３７ｃとを有する。

【0032】

変調器チップ３１の平面形状は長方形状である。変調器チップ３１は、第１方向Ｄ１に延在する辺３１ｂ，３１ｃと、第２方向Ｄ２に延在する辺３１ｄ，３１ｆとを有する。入力ポート３２は、複合光学部品１３（第２の反射面１３ｄ）から出射した入力光Ｌ１が入力レンズ系２５を介して変調器３０の内部に入力する光ポートである。入力ポート３２は辺３１ｄに位置する。例えば、入力ポート３２は、辺３１ｄの中点に位置する。変調器３０の辺３１ｆ側にドライバＩＣ４２が配置されている。

【0033】

第１の出力ポート３３ｂは第１の偏波信号光である出力光Ｌ４を第１の出力レンズ系２６に出力する光ポートであり、第２の出力ポート３３ｃは第２の偏波信号光である出力光Ｌ３を第２の出力レンズ系２７に出力する光ポートである。第１の出力ポート３３ｂから出力した出力光Ｌ４は、第１の出力レンズ系２６を透過して複合光学部品１３に入射する。第２の出力ポート３３ｃから出力した出力光Ｌ３は、第２の出力レンズ系２７を透過して複合光学部品１３に入射する。第１の出力ポート３３ｂ及び第２の出力ポート３３ｃは、変調器チップ３１の辺３１ｄに設けられている。第１の出力ポート３３ｂ及び第２の出力ポート３３ｃは、入力ポート３２に対して互いに対称となる位置に配置されている。

【0034】

光モジュール１は、第１のモニタＰＤ（モニタ素子）２８ｂ及び第２のモニタＰＤ（モニタ素子）２８ｃを有する。第１のモニタＰＤ２８ｂは、第１のモニタポート３７ｂから出力されるモニタ用信号光を受光する。第１のモニタＰＤ２８ｂは、受光したモニタ用信号光の強度に対応した検知信号を出力する。この検知信号は、例えば、ワイヤ（不図示）を介して第１のモニタＰＤ２８ｂと電気的に接続された複数のリードピン６ｂのいずれかから光モジュール１の外部に出力される。第２のモニタＰＤ２８ｃは、第２のモニタポート３７ｃから出力されるモニタ用信号光を受光する。第２のモニタＰＤ２８ｃは、受光したモニタ用信号光の強度に対応した検知信号を出力する。この検知信号は、例えば、ワイヤ（不図示）を介して第２のモニタＰＤ２８ｃと電気的に接続された複数のリードピン６ｂのいずれかから光モジュール１の外部に出力される。

【0035】

光モジュール１は、第１のモニタＰＤ２８ｂ及び第１のモニタポート３７ｂの間に位置する第１の偏光子２９ｂと、第２のモニタＰＤ２８ｃ及び第２のモニタポート３７ｃの間に位置する第２の偏光子２９ｃとを有する。第１の偏光子２９ｂは、第１のモニタポート３７ｂからモニタ用信号光を受光する。第１の偏光子２９ｂは、モニタ用信号光の直線偏光（Ｐ偏光）のみを透過する。第１のモニタＰＤ２８ｂは、モニタ用信号光の直線偏光のみを受光する。第２の偏光子２９ｃは、第２のモニタポート３７ｃからモニタ用信号光を受光する。第２の偏光子２９ｃは、第１の偏光子２９ｂと同様、モニタ用信号光の直線偏光のみを透過し、第２の偏光子２９ｃは、モニタ用信号光の直線偏光のみを受光する。

【0036】

図７に示されるように、分岐部３４は、入力ポート３２から入力された入力光Ｌ１を光導波路３６ａ～３６ｈに分岐する。第１の合波部３５ｂは、光導波路３６ｅ～３６ｈを伝搬した信号光（信号光の一部）を合波して第１の出力ポート３３ｂに出力光Ｌ４として提供する。第２の合波部３５ｃは、光導波路３６ａ～３６ｄを伝搬した信号光（複数の信号光の残部）を合波して第２の出力ポート３３ｃに出力光Ｌ３として提供する。

【0037】

第１のモニタポート３７ｂは、モニタ用信号光を第１の偏光子２９ｂに出力する。第１のモニタポート３７ｂは、第１の合波部３５ｂから出力される光の強度を相対的にモニタする光ポートである。第２のモニタポート３７ｃは、モニタ用信号光を第２の偏光子２９ｃに出力する。第２のモニタポート３７ｃは、第２の合波部３５ｃから出力される光の強度を相対的にモニタする光ポートである。第１のモニタポート３７ｂ及び第２のモニタポート３７ｃは、辺３１ｄにおいて入力ポート３２に対して互いに対称となる位置に配置されている。入力ポート３２、第１の出力ポート３３ｂ及び第２の出力ポート３３ｃは、第１のモニタポート３７ｂと第２のモニタポート３７ｃとの間（第２方向Ｄ２における変調器チップ３１の中央側）に配置されている。

【0038】

変調器３０は、変調電極（電極）３８ａ～３８ｈと、親位相調整電極３８ｊ～３８ｍと、子位相調整電極（不図示）とを有する。変調電極３８ａ～３８ｈは、光導波路３６ａ～３６ｈのそれぞれに設けられる。変調電極３８ａ～３８ｈは、変調された電圧信号を光導波路３６ａ～３６ｈに与えて光導波路３６ａ～３６ｈを通る光の屈折率を変化させる。これにより、光導波路３６ａ～３６ｈを伝搬する光の位相が変調される。

【0039】

変調電極３８ａ～３８ｈのそれぞれの一端は、配線パターンを介して信号入力用のＲＦパッド３９ａ～３９ｈのそれぞれと電気的に接続されている。信号入力用のＲＦパッド３９ａ～３９ｈはドライバＩＣ４２に電気的に接続されている。変調電極３８ａ～３８ｈのそれぞれの他端は、配線パターンを介して信号終端用の信号パッド４０ａ～４０ｈのそれぞれと電気的に接続されている。親位相調整電極３８ｊ～３８ｍは、配線パターンを介してバイアスパッド３９ｊ～３９ｍのそれぞれと電気的に接続されている。子位相調整電極は、配線パターンを介して調整信号入力用のバイアスパッド４０ｊ～４０ｑのそれぞれと接続されている。

【0040】

次に、実施形態に係る光モジュール１の組立方法の具体例について説明する。まず、筐体２を用意する。筐体２の底壁２ｄに温調デバイス２１、変調素子用ベース２２、変調素子用キャリア２３及び変調器３０を実装すると共に、ヒートシンク４１及びドライバＩＣ４２を実装する。そして、底壁２ｄに光学用ベース１１を実装し、光学用ベース１１に複合光学部品１３を実装する。このとき、例えば、反射光対策として、複合光学部品１３を第１方向Ｄ１（入力光Ｌ１の光軸）に対して所定角度（一例として２°）傾けてエポキシ樹脂によって光学用ベース１１に固定する。

【0041】

変調素子用ベース２２に第１の偏光子２９ｂ及び第２の偏光子２９ｃを実装する。例えば、反射光対策として第１方向Ｄ１に対して所定角度傾けて第１の偏光子２９ｂ及び第２の偏光子２９ｃを実装する。続いて、変調素子用ベース２２上において、第１のモニタポート３７ｂに対向する位置に第１のモニタＰＤ２８ｂを実装し、第２のモニタポート３７ｃに対向する位置に第２のモニタＰＤ２８ｃを実装する（モニタ用受光素子を配置する工程）。このとき、上記同様、反射光対策として第１方向Ｄ１に対して所定角度傾けて第１のモニタＰＤ２８ｂ及び第２のモニタＰＤ２８ｃを実装する。そして、入力レンズ系２５の調芯と実装を行った後に、第１の出力レンズ系２６及び第２の出力レンズ系２７の調芯と実装を行う。その後、入力アセンブリ３及び出力アセンブリ４をＹＡＧ溶接によって筐体２の第２側壁２ｃに固定した後に光モジュール１の組立方法の一連の工程が完了する。

【0042】

次に、本実施形態に係る光モジュール１から得られる作用効果について説明する。光モジュール１では、入力ポート３２、第１の出力ポート３３ｂ、第２の出力ポート３３ｃ、第１のモニタポート３７ｂ、及び第２のモニタポート３７ｃを有する変調器３０を備える。入力ポート３２には入力レンズ系２５系が対向する。第１の出力ポート３３ｂには第１の出力レンズ系２６が対向し、第２の出力ポート３３ｃには第２の出力レンズ系２７が対向する。光モジュール１は、第１のモニタポート３７ｂに対向する第１のモニタＰＤ２８ｂと、第２のモニタポート３７ｃに対向する第２のモニタＰＤ２８ｃとを備える。第１のモニタポート３７ｂと第１のモニタＰＤ２８ｂとの間には第１の偏光子２９ｂが配置され、第２のモニタポート３７ｃと第２の偏光子２９ｃとの間には第２の偏光子２９ｃが配置される。よって、第１の偏光子２９ｂ及び第２の偏光子２９ｃのそれぞれがずれた偏光成分をカットし、ずれた偏光成分がカットされた光が第１のモニタＰＤ２８ｂ及び第２のモニタＰＤ２８ｃに入力する。従って、第１のモニタＰＤ２８ｂ及び第２のモニタＰＤ２８ｃへのずれた偏光成分を含む漏れ光を低減させることができる。

【0043】

実施形態において、変調器３０の側面（辺３１ｄ）において、第１の出力ポート３３ｂ及び第２の出力ポート３３ｃは入力ポート３２に対して互いに対称となる位置に配置され、第１のモニタポート３７ｂ及び第２のモニタポート３７ｃは入力ポート３２に対して互いに対称となる位置に配置されていてもよい。

【0044】

ところで、変調器３０の消光状態におけるモニタＰＤの電流値と、変調器３０の光透過状態におけるモニタＰＤの電流値との比で定義されるVertical Offsetという指標が知られている。Vertical Offsetの値が大きいほど第１のモニタＰＤ２８ｂ及び第２のモニタＰＤ２８ｃが迷光の影響を受けていることを意味する。図８は、第１の偏光子２９ｂ及び第２の偏光子２９ｃを有する実施例に係る光モジュール１における光の波長帯域とVertical Offsetの関係を示すグラフである。図９は、第１の偏光子２９ｂ及び第２の偏光子２９ｃを有しない比較例に係る光モジュールにおける光の波長帯域とVertical Offsetの関係を示すグラフである。

【0045】

図８及び図９の「X_Tc35℃」は３５℃における第１のモニタＰＤ２８ｂ及び第２のモニタＰＤ２８ｃの一方を示している。図８及び図９に示されるように、第１の偏光子２９ｂ及び第２の偏光子２９ｃを有しない比較例（図９参照）では、１５３０ｎｍ～１５６５ｎｍの一部の波長帯域でVertical Offsetが基準値（１．０％）を超えている場合があり、迷光の影響を受けていることが分かる。これに対し、第１の偏光子２９ｂ及び第２の偏光子２９ｃを有する実施例（図８参照）では、１５３０ｎｍ～１５６５ｎｍの全ての波長帯域でVertical Offsetが基準値を下回っており、迷光の影響を抑制できていることが分かる。

【0046】

以上、本開示に係る光モジュールの実施形態について説明した。しかしながら、本発明は、前述した実施形態に限定されない。すなわち、本発明が特許請求の範囲に記載された要旨を変更しない範囲において種々の変形及び変更が可能であることは、当業者によって容易に認識される。例えば、光モジュールの各部品の形状、大きさ、数、材料及び配置態様は、前述した内容に限られず適宜変更可能である。更に、光モジュールの組立方法の工程の内容及び順序は、前述した内容に限られず適宜変更可能である。

【符号の説明】

【0047】

１…光モジュール
２…筐体
２ｂ…第１側壁
２ｃ…第２側壁
２ｄ…底壁
２ｇ…開口部
２ｈ…枠体
２ｊ…配線パターン
２ｋ…パッド
３…入力アセンブリ
３ｂ…レンズ
３ｃ…レンズホルダ
３ｄ…スリーブ
３ｆ…光ファイバ
４…出力アセンブリ
４ｂ…レンズ
４ｃ…レンズホルダ
４ｄ…スリーブ
４ｆ…光ファイバ
５…リッド
６…フィードスルー
６ｂ…リードピン
１１…光学用ベース
１２…フィルタ
１３…複合光学部品
１３ｂ…反射面
１３ｃ…第１の反射面
１３ｄ…第２の反射面
１３ｆ…第３の反射面
１３ｇ…第４の反射面
２１…温調デバイス
２２…変調素子用ベース
２３…変調素子用キャリア
２４…サーミスタ
２５…入力レンズ系
２６…第１の出力レンズ系
２７…第２の出力レンズ系
２８ｂ…第１のモニタＰＤ（モニタ素子）
２８ｃ…第２のモニタＰＤ（モニタ素子）
２９ｂ…第１の偏光子（偏光子）
２９ｃ…第２の偏光子（偏光子）
３０…変調器（半導体変調器）
３０ｂ…制御端子
３０ｃ…電極パッド
３１…変調器チップ
３１ｂ，３１ｃ，３１ｄ，３１ｆ…辺
３２…入力ポート
３３ｂ…第１の出力ポート
３３ｃ…第２の出力ポート
３４…分岐部
３５ｂ…第１の合波部
３５ｃ…第２の合波部
３６ａ，３６ｂ，３６ｃ，３６ｄ，３６ｅ，３６ｆ，３６ｇ，３６ｈ…光導波路
３７ｂ…第１のモニタポート
３７ｃ…第２のモニタポート
３８ａ，３８ｂ，３８ｃ，３８ｄ，３８ｅ，３８ｆ，３８ｇ，３８ｈ…変調電極（電極）
３８ｊ，３８ｋ，３８ｌ，３８ｍ…親位相調整電極
３９ａ，３９ｂ，３９ｃ，３９ｄ，３９ｅ，３９ｆ，３９ｇ，３９ｈ…ＲＦパッド
３９ｊ，３９ｋ，３９ｌ，３９ｍ…バイアスパッド
４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄ，４０ｅ，４０ｆ，４０ｇ，４０ｈ…信号パッド
４０ｊ，４０ｋ，４０ｌ，４０ｍ，４０ｎ，４０ｏ，４０ｐ，４０ｑ…バイアスパッド
４１…ヒートシンク
４２…ドライバＩＣ
４２ｂ…電極パッド
Ｄ１…第１方向
Ｄ２…第２方向
Ｄ３…第３方向
Ｌ１…入力光
Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４…出力光
Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３…ボンディングワイヤ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】