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公報発行日 2024年3月14
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-35700 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】端子がセンサの接触面から受ける垂直抗力をする。
【解決手段】センサが挿入される挿入口とセンサと接触する複数の端子とを備え、センサの挿入完了までの間、端子はセンサの接触面の上を摺動し、センサが挿入口に挿入された状態でセンサに付着された液体試料が含有する測定対象成分を測定する測定装置であって、センサの接触面には、挿入方向の後端側に位置する第一電極群と、より先端側に位置する第二電極群とが設けられ、複数の端子は、挿入領域の挿入により接触面から垂直抗力を受けるとともに、挿入口に近い側において第一電極群と接触する第一端子群と、挿入口から遠い側において第二電極群と接触する第二端子群と、を含み、センサが挿入口に挿入された状態で、第一端子群が接触面から受ける垂直抗力の総和は、第二端子群が接触面から受ける垂直抗力の総和よりも小さい。
【選択図】図7
本願の実施態様によれば、端子がセンサの接触面から受ける垂直抗力を低減することが可能となる。
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