特開 2024-36253 ＯＣＴ装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024036253

(43)【公開日】2024-03-15

(54)【発明の名称】ＯＣＴ装置

(51)【国際特許分類】

   A61B 3/10 20060101AFI20240308BHJP

【ＦＩ】

A61B3/10 100

【審査請求】未請求

【請求項の数】7

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022141085

(22)【出願日】2022-09-05

(71)【出願人】

【識別番号】000135184

【氏名又は名称】株式会社ニデック

(72)【発明者】

【氏名】西出 蒼

(72)【発明者】

【氏名】馬野 博之

(72)【発明者】

【氏名】馬渕 光

(72)【発明者】

【氏名】吉田 泰清

【テーマコード（参考）】

4C316

【Ｆターム（参考）】

4C316AA01

4C316AA09

4C316AB02

4C316AB03

4C316AB11

4C316AB12

4C316AB16

4C316FC01

(57)【要約】

【課題】 低温環境下であっても速やかに撮影可能になるＯＣＴ装置を提供すること。
【解決手段】 ＯＣＴ装置は、熱源と、被検眼に照射された測定光と、参照光と、の干渉光を検出する検出器と、前記熱源からの熱で前記検出器が暖められるように、前記熱源と前記検出器とを収容する収容部と、を備える。例えば、低温環境下において、熱源からの熱で検出器が暖められることによって、ＯＣＴ装置の電源投入時から、スペクトル干渉信号を適正に検出できるようになる迄、の検出器の暖機に要する時間を短縮できる。したがって、低温環境下であっても速やかに撮影可能になる。
【選択図】図３

【特許請求の範囲】

【請求項1】

熱源と、
被検眼に照射された測定光と、参照光と、の干渉光を検出する検出器と、
前記熱源からの熱で前記検出器が暖められるように、前記熱源と前記検出器とを収容する収容部と、
を備えるＯＣＴ装置。

【請求項2】

被検眼上で測定光を走査するための走査部と、前記走査部からの測定光を被検眼に導く対物光学系と、を備える撮影ユニットと、
前記撮影ユニットの下部に配置されるベースユニットと、を備え、
前記ベースユニットに前記収容部を有する、請求項１記載のＯＣＴ装置。

【請求項3】

前記収容部は、前記熱源からの熱を前記検出器に導くための送風デバイスを更に有する、請求項１又は２記載のＯＣＴ装置。

【請求項4】

前記検出器は、前記送風デバイスの駆動に基づいて形成される空気の流路において、前記熱源および前記送風デバイスの下流側に配置される、請求項３記載のＯＣＴ装置。

【請求項5】

前記検出器の温度監視のためのセンサを有し、前記センサによって検出される温度に応じて前記送風デバイスの駆動制御が行われる、請求項４記載のＯＣＴ装置。

【請求項6】

前記熱源は、プロセッサ、電源回路、光学部品のドライバおよび電源回路、通信回路、光源、および、アクチュエータ本体、のいずれかである、請求項１から５のいずれかに記載のＯＣＴ装置。

【請求項7】

前記検出器は、前記測定光と前記参照光との干渉光を分光するグレーディングと、分光された干渉光を検出する受光素子とを少なくとも含む複数の光学素子、がマウント部に保持されたスペクトロメータである、請求項１から６のいずれかに記載のＯＣＴ装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、ＯＣＴ装置に関する。

【背景技術】

【0002】

眼科分野では、被検眼の組織の断層画像を撮影する装置である、光干渉断層計（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が知られている。

【0003】

ＯＣＴ装置において、光学系の熱的変化が問題となっていた。例えば、ＯＣＴ装置においては、特許文献１に開示される、ＳＤ－ＯＣＴの検出器であるスペクトロメータにおける光路長の熱膨張を抑制するための、スペクトロメータの保持部における機構が開示されている。スペクトロメータがマウントされる光学基台が熱膨張しても、スペクトロメータの光路長の全長が伸びることが抑制される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１０－０３５９４９号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

ところで、寒冷地等においては、ＯＣＴ装置が冷え切った状態から装置が立ち上げられる場合がある。例えば、検出器の受光素子が、低温での信号検出に不利な温度特性を有している場合がある。また、ＳＤ－ＯＣＴの場合、低温側でのスペクトロメータの熱的変形についても問題となり得る。結果として、低温環境下では、装置が立ち上げられてから検出器が十分に温められるまでの間に撮影しても、適切な画質の画像が得られない場合があった。

【0006】

これに対し、本開示は従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、低温環境下であっても速やかに撮影可能になるＯＣＴ装置を提供することを技術課題とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の第１態様に係るＯＣＴ装置は、熱源と、被検眼に照射された測定光と、参照光と、の干渉光を検出する検出器と、前記熱源からの熱で前記検出器が暖められるように、前記熱源と前記検出器とを収容する収容部と、を備える。

【発明の効果】

【0008】

本開示によれば、低温環境下であっても速やかに撮影可能になるＯＣＴ装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】実施例に係るＯＣＴ装置の全体構成を示す図である。

【図2】ＯＣＴ装置の光学系を示した図である。

【図3】実施例に係る基台内部を概略的に示した図である。

【図4】変形例に係る基台内部を概略的に示した図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

「概要」
まず、本開示の例示的な実施形態について説明する。なお、各実施形態に係る構成は、適宜、他の実施形態に組み合わせることができる。

【0011】

＜第１の実施形態＞
第１の実施形態に係るＯＣＴ装置は、被検眼のＯＣＴデータを取得する。第１の実施形態に係るＯＣＴ装置は、少なくとも、熱源と、検出器と、収容部と、を備える。本開示において、熱源と検出器とは別体である。

【0012】

検出器は、被検眼に照射された測定光と、参照光と、のスペクトル干渉信号を検出する。収容部は、熱源からの熱で検出器が暖められるように、熱源と検出器とを収容する。例えば、低温環境下において、熱源からの熱で検出器が暖められることによって、ＯＣＴ装置の電源投入時から、スペクトル干渉信号を適正に検出できるようになる迄、の検出器の暖機に要する時間を短縮できる。

【0013】

ＯＣＴ装置は、ＳＤ－ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ－ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ）であってもよい。この場合、検出器は、少なくとも、グレーディングと、受光素子と、を含む複数の光学素子がマウント部に保持されたスペクトロメータであってもよい。グレーディングは、測定光と参照光との干渉光を分光する光学素子である。受光素子は、分光された光を検出する。典型的なスペクトロメータでは、受光素子としてラインセンサが利用される。検出器とは別体の熱源からの熱でスペクトロメータが暖められることで、例えば、低温環境下に起因する光学素子の保持間隔の変位が抑制される。また、例えば、ラインセンサの温度特性が低温での信号検出に不利であったとしても、より短時間で環境温度を適正温度としたうえで動作させることができる。

【0014】

熱源は、専用のヒーターであってもよいが、必ずしも専用品である必要は無い。熱源は、ＯＣＴ装置を動作させるための電気部品によって兼用されていることがより望ましい。例えば、プロセッサ、電源回路、光学部品のドライバ（制御回路）および電源回路、通信回路、光源、および、アクチュエータ本体、のいずれかが、熱源として利用されてもよい。なお、プロセッサは、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路であってもよい。

【0015】

例えば、ＯＣＴ装置が、光を被検眼上で走査するためのスキャナを有する場合、スキャナの電源回路が、ＯＣＴ装置において特に熱量が多い熱源の１つとなる。スキャナは、ＯＣＴ光学系において、測定光を走査するために利用されるデバイスであってもよいし、観察光学系（例えば、ＳＬＯ光学系）において、観察光を走査するために利用されるデバイスであってもよい。

【0016】

前述したように、収容部内には、熱源からの熱で検出器が暖められるように、熱源と検出器とが収容される。収容部内において、熱源と検出器とは十分に近接して配置されていてもよい。また、収容部は、熱源からの熱を検出器に導くための送風デバイスを更に有していてもよい。この場合、送風デバイスが駆動することによって空気の流路が形成される。検出器は、当該流路における熱源および送風デバイスの下流側に配置されことが望ましい。この場合、送風デバイスは、熱源よりも上流側、または、熱源と検出器との間、のいずれかに配置されていると好ましい。送風デバイスが配置されることによって、検出器が、熱源からの熱によって、効率良く暖められる。

【0017】

第１の実施形態に係るＯＣＴ装置は、検出器の温度監視のためのセンサを有していてもよい。送風デバイスを有する場合、センサによって検出される温度に応じて送風デバイスの駆動制御が行われてもよい。例えば、温度が閾値以上の場合に送風デバイスからの送風を停止することで、検出器の温度が適正動作温度に対して高くなることを抑制できる。送風デバイスの駆動制御は、デバイスのオン／オフの切換のほか、風量の調整、および、風向き変更、のいずれかに関する制御であってもよい。

【0018】

また、ＯＣＴ装置は、装置のスリープ時（節電状態）等において、検出器への電源供給を停止させている間に、熱源となる電気部品は運転していてもよい。これにより、節電状態から復帰した際に、速やかに撮影を行うことができる。

【0019】

また、第１の実施形態に係るＯＣＴ装置は、装置が立ち上げられてからの最初の被検眼の撮影が、センサによって検出される温度に応じて制御されてもよい。例えば、閾値以上の温度が検出された場合に、被検眼の撮影を許容し、閾値以下の場合に、被検眼の撮影を制限しても良い。撮影の制限は、撮影が行われないように装置をロックする他、適正動作温度に到っていない旨を被検者に対して報知してもよい。

【0020】

第１の実施形態に係るＯＣＴ装置は、撮影ユニットと、ベースユニットと、を有していても良い。撮影ユニットは、被検眼上で測定光を走査するための走査部と、走査部からの測定光を被検眼に導く対物光学系と、を備えていてもよい。撮影ユニットに配置される、走査部および対物光学系を含む光学系を、導光光学系と称する場合がある。ベースユニットは、撮影ユニットの下部に配置されてもよい。撮影ユニットは、被検眼と撮影ユニットとの光軸との位置合わせ（アライメント）に利用される駆動部を介して、ベースユニットに支持されていてもよい。この場合において、熱源および検出器を収容する収容部は、ベースユニットに設けられていることが望ましい。これにより、撮影ユニットに収容された光学系に対する、熱源からの熱の影響（例えば、熱膨張や熱変位に起因する精度の低下）が抑制される。

【0021】

また、撮影ユニットに配置される光学部品を制御するための制御回路および電源回路は、光学部品と共に撮影ユニットに配置される方が電気的には合理的な構成である。一方、上記の制御回路および電源回路の少なくともいずれかを熱源として、あえてベースユニットに配置することで、撮影ユニットに収容された光学系に対する熱の影響が抑制されると共に、撮影ユニットを小型化できる。

【0022】

＜第２の実施形態＞
第２の実施形態に係る走査型眼底撮影装置は、撮影ユニットと、ベースユニットと、少なくとも走査部を含む複数の光学部品と、走査部のドライバおよび電源回路、を少なくとも有する。第２の実施形態に係る走査型眼底撮影装置は、ＯＣＴ装置であってもよいし、ＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌｉｇｈｔ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）装置であってもよいし、ＯＣＴ装置とＳＬＯ装置とが一体化された複合装置であってもよい。

【0023】

第２の実施形態において、撮影ユニットは、少なくとも走査部を含む複数の光学部品からなる撮影光学系を収容する。撮影ユニットには光学基台が設けられていても良く、撮影光学系に含まれる複数の光学部品は、光学基台に固定保持されていてもよい。

【0024】

ベースユニットは、撮影ユニットを支持する。ベースユニットは、アライメント駆動部を介して、撮影ユニットを支持してもよい。第２の実施形態において、ベースユニットは、走査部のドライバおよび電源回路を収容している。これにより、走査部のドライバおよび電源回路から生じる熱が、撮影ユニット内の撮影光学系に影響しにくい。

【0025】

走査部のドライバおよび電源回路は、走査部本体の近傍に配置したほうが、走査部本体から離間させて配置するよりも、近傍電気設計としては合理的である。しかしながら、走査部のドライバおよび電源回路から生じる熱は比較的大きなものであるため、仮に、撮影ユニット側に配置されていると、撮影光学系の熱的変形の原因となる。また、仮に、撮影ユニット側に配置されていると、走査部のドライバおよび電源回路から生じる熱によって、撮影ユニットの内部における空気の対流が促進され、埃が撮影光学系に付着しやすくなってしまう。これに対し、第２の実施形態では、走査部のドライバおよび電源回路が、あえて、ベースユニットに配置されていることによって、撮影光学系において、熱的変形が抑制されやすく、空気の対流による埃の付着が抑制されやすいため、撮影光学系の性能が維持されやすい。更には、撮影ユニットをコンパクト化しやすくなる。

【0026】

第２の実施形態に係る走査型眼底撮影装置がＯＣＴ装置である場合は、第１の実施形態と同様に、走査部のドライバおよび電源回路から生じる熱を利用して検出器が速やかに適正動作温度で動作させるために、ベースユニットに検出器を配置してもよい。また、第１の実施形態と同様に、送風デバイスが配置されていてもよい。

【0027】

検出器がスペクトロメータである場合、スペクトロメータの各部（各光学部品）は、鏡筒によって固定保持されていてもよい。これにより、ベースユニットの内部が、走査部のドライバおよび電源回路から生じる熱によって、又は、送風デバイスからの風によって、埃が舞いやすい状態であったとしても、スペクトロメータへの埃の侵入が鏡筒によって抑制される。結果、埃による、撮影性能の低下が抑制されやすい。

【0028】

「実施例」
以下、図面を参照しつつ、本開示の１つの実施例であるＯＣＴ装置１を説明する。実施形態に係るＯＣＴ装置１は、ＳＤ－ＯＣＴである。ＯＣＴ装置１は、被検眼のＯＣＴデータを取得する。特に断りが無い限り、本実施形態では、被検眼のＯＣＴデータの一例として、眼底のＯＣＴデータが撮影されるものとする。

【0029】

はじめに、図１を参照し、本実施形態に係るＯＣＴ装置１の概略構成を説明する。図１に示すように、ＯＣＴ装置１は、撮影装置本体１Ａと、制御装置１Ｂと、を含む。制御装置１Ｂは、撮影装置本体１Ａの撮影制御、および、撮影結果の解析処理等を行う。制御装置１Ｂは、例えば、ＰＣであってもよい。

【0030】

図１に示すように、撮影装置本体１Ａは、撮影ユニット２、基台（ベースユニットの一例）３、駆動部５、顔支持ユニット７、を有する。図１に示すように、本実施例では、基台３の上に、駆動部５および撮影ユニット２が配置されている。顔支持ユニット７は、基台３に取り付けられている。

【0031】

撮影ユニット２には、ＯＣＴ装置１の光学系が収容される。駆動部５は、撮影ユニット２を、被検眼Ｅに対してＸＹＺの各方向に移動させる。駆動部５には、各可動方向に撮影ユニット２を移動させるためのアクチュエータを有する。顔支持ユニット７は、被検者の顔を支持する。

【0032】

＜撮影ユニット＞
撮影ユニット２は、ＯＣＴ装置１における主要な光学系を有する。本実施例において、撮影ユニット２は、ＯＣＴ光学系（干渉光学系）１０の一部と、導光光学系１０aと、眼底観察光学系（ＳＬＯ光学系）３０と、前眼部観察光学系４０（前眼部観察光学系）と、を有する。これらは、駆動部５によって移動される図示なき光学ベースに対して設置されている。ＯＣＴ光学系１０、眼底観察光学系３０、前眼部観察光学系４０、の光路は、ビームスプリッタ／コンバイナ１６，１７によって分岐／結合される。

【0033】

＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系１０は、被検眼Ｅの眼底に照射される測定光と参照光とのスペクトル干渉信号を検出する。

【0034】

ＯＣＴ光学系１０は、ＯＣＴ光源１１、光分割器１２、参照光学系２０、および、検出器２５を少なくとも有する。図２に示すように、本実施例では、ＯＣＴ光源１１、光分割器１２、参照光学系２０、および、検出器２５のうち、ＯＣＴ光源１１、光分割器１２、および、参照光学系２０は、撮影ユニット２に収容されており、検出器２５は、基台３に収容されている。撮影ユニット２に配置される光分割器１２と、基台３に配置される検出器２５とは、ファイバ２３によってユニットをまたいで接続されている。

【0035】

ＯＣＴ光源１１は、低コヒーレント光を発する。ＯＣＴ光源１１から出射された光は、光分割器１２によって、測定光と参照光とに分割される。本実施例において、光分割器１２は、カップラ（スプリッタ）が利用される。測定光は、導光光学系１０ａを介して被検眼Ｅへ導かれ、参照光は、参照光学系２０へ導かれる。図１において、ポラライザ１３は、参照光路上に配置されている。本実施例における参照光学系２０は、反射型の光学系である。但し、参照光学系２０は、透過型の光学系であってもよい。本実施例において、参照光は、参照光路上に配置された図示なきミラーによって折り返され、光分割器１２によって、測定光の戻り光と合波された状態で、基台３に設けられた検出器２５へ入射する。これにより、戻り光と、参照光とのスペクトル干渉信号が検出される。例えば、ＳＤ－ＯＣＴにおいては、スペクトロメータが検出器２５として利用される（詳細は後述する）。

【0036】

本実施例において、参照光学系２０配置される図示なきミラーは、光軸に沿って移動可能であって、ミラーの位置に応じて測定光と参照光との光路長差が調整される。また、ポラライザ１３によって、測定光と参照光との偏光が調整される。

【0037】

その他、光分割器１２と被検眼Ｅとの間の光路上には、フォーカシングレンズ１４、走査部（光スキャナ）１５、および、対物レンズ６０、が配置されている。フォーカシングレンズ１４、走査部（光スキャナ）１５、および、対物レンズ６０、を含む、光分割器１２と被検眼Ｅとの間の光学系によって、本実施例における導光光学系１０ａが形成されている。

【0038】

本実施例では、フォーカシングレンズ１４が光軸方向へ変位されることによって、ＯＣＴ光学系１０におけるフォーカス位置が変更される。

【0039】

走査部１５は、ＯＣＴ画像の取得位置を変更するために利用される。走査部１５は、測定光を、被検眼Ｅの眼底において二次元的に走査させるために利用されてもよい。走査部１５は、例えば、走査方向が互いに異なる２つの光スキャナを含んでいてもよい。本実施例では、光スキャナとして、Ｘ，Ｙのそれぞれの方向と対応する２つのガルバノスキャナが利用される。但し、光スキャナは、必ずしもガルバノスキャナに限定されるものではなく、その他の光スキャナであってもよい。

【0040】

対物レンズ６０は、測定光を被検眼における眼底へ導く。対物レンズ６０を介して走査部１５と共役な位置を旋回点として、測定光は旋回される。図１に示すように、旋回点に被検眼の前眼部が位置する場合、測定光は虹彩でケラレることなく眼底に到達し、走査部１５の駆動に基づいて眼底上で測定光が走査される。この場合、測定光の集光面は眼底上に形成される。

【0041】

＜眼底観察光学系＞
眼底観察光学系３０は、観察画像として、眼底の正面画像を取得するために利用される。眼底観察光学系３０を介して、眼底の正面画像が、観察画像として取得される。

【0042】

図１では、眼底観察光学系３０の一例として、ＳＬＯ光学系が示されている。眼底観察光学系３０は、照射光学系と、受光光学系と、を少なくとも有していてもよい。照射光学系は、被検眼の撮影部位に対して観察光を照射する。受光光学系は、観察光による眼底反射光を受光素子３９によって受光する。受光素子３０からの出力信号に基づいて観察画像が逐次取得される。

【0043】

眼底観察光学系３０は、更に、フォーカス調整部を有する。フォーカス調整部は、フォーカシングレンズ３４を含む。

【0044】

観察光源３１には、例えば、レーザダイオード光源が用いられる。観察光路には、フォーカシングレンズ３４の他に、走査部３５、および、対物レンズ６０が配置されている。走査部３５は、被検眼の撮影部位において二次元的に光を走査する。走査部３５は、例えば、ポリゴンミラーと、ガルバノスキャナとの組み合わせを含んでいてもよい。

【0045】

また、観察光源３１とフォーカシングレンズ３４との間には、ビームスプリッタ３３が配置されている。そして、ビームスプリッタ３３の透過方向には、共焦点開口３７と、受光素子３９と、が配置されている。

【0046】

観察光は、ビームスプリッタ３３によって反射された後、フォーカシングレンズ３４を介して、走査部３５に達する。走査部３５を経た光は、ビームスプリッタ１７を透過した後、対物レンズ６０を介して、被検眼の眼底に照射される。

【0047】

眼底からの反射光は、投光経路を遡って、ビームスプリッタ３３まで導かれる。眼底からの反射光は、ビームスプリッタ３３を透過し、更に、共焦点開口３７を介して、受光素子３９によって受光される。受光素子３９からの受光信号に基づいて、眼底の正面画像が形成される。形成された正面画像は、メモリ７２に記憶されてもよい。

【0048】

＜前眼部観察光学系＞
前眼部観察光学系４０は、被検眼Ｅの前眼部の正面画像（観察画像という）を観察するために利用される。前眼部観察光学系４０は、少なくとも撮像素子４５を有する。本実施例では、撮像素子４５に前眼部の像が結像する。前眼部観察光学系４０を介して取得される前眼部の観察画像は、眼底撮影時における被検眼Ｅする撮影ユニット２のアライメントおよび追従制御（トラッキング）に利用される。

【0049】

＜固視投影光学系＞
ＯＣＴ装置１は、固視標投影光学系を更に有する。固視標投影光学系は、内部固視灯であってもよい。固視標投影光学系は、被検眼Ｅに対して固視標（固視光束）を投影することによって、被検眼Ｅの視線方向を誘導する。本実施例において、固視標投影光学系は、固視標の呈示位置を２次元的に変更でき、被検眼Ｅを複数の方向に誘導できる。結果的に撮像部位が変更される。本実施例において、固視投影光学系は、ＳＬＯ光学系である眼底観察光学系３０によって兼用される。観察光源とは異なる可視光源を設け、可視光の投影タイミングを制御することによって、被検眼Ｅに対して固視標が投影される。

【0050】

＜基台（ベースユニット）＞
図２に示すように、本実施例において、基台３には、検出器２５、回路基板２１０、および、ファン２２０が収容されている。回路基板２１０には、種々の電気回路が設けられている。

【0051】

前述の通り、本実施例における検出器２５は、スペクトロメータである。検出器２５は、一例として、コリメート系２５ｂ、グレーディング（分散素子）２５ｄ、結像系２５ｅ，２５ｆ、および、撮像素子（受光素子の一例）２５ｇを備える。追加的に、本実施例の検出器２５は、折り曲げミラー２５ｃを備えており、これによって、検出器２５の全長が抑制されている。検出器２５の各部は、図示なきベース（光学基板）上に固定保持されている。各部は、マウントや鏡筒を介して固定保持されていてもよい。

【0052】

干渉光は、ファイバ２３の端部２５ａから検出器２５に導かれる。その後、干渉光は、コリメート系２５ｂ、グレーディング（分散素子）２５ｄ、結像系２５ｅ，２５ｆ、を経て、撮像素子２５ｇ（例えば、ラインセンサ）に受光される。

【0053】

図２の検出器２５における各部の保持間隔（特に、ファイバ２３の端部２５ａからコリメート系２５bまでの間隔、および、結像系２５e，２５fと撮像素子２５ｇとの間隔）は、環境温度に応じて変化する。環境温度が適正温度の範囲外である場合に、所期の感度性能が得られなくなってしまう場合がある。また、撮像素子２５ｇは、低温側で感度が減衰する温度特性を有する。眼底ＯＣＴの場合、測定光の戻り光は微弱であるため、低温下で撮像素子２５ｇの感度が減衰していると、眼底のＯＣＴデータが、適切に得られない場合がある。

【0054】

これに対し、本実施例では、図３に示す配置で、検出器２５と、回路基板２１０と、ファン２２０と、が基台３の内部に収容されている。

【0055】

本実施例において、回路基板２１０には、撮影ユニット２に配置される光学部品の制御回路および電源回路として、ＯＣＴ撮影用の走査部１５に対応する制御回路および電源回路が、少なくとも設けられている。ＯＣＴ撮影において、測定光が眼底上で高速にスキャンされるため、走査部１５の制御回路および電源回路からの発熱量は、装置本体１Ａに設けられる各種電気部品の中でも比較的大きい。

【0056】

仮に、発熱量の大きな電気部品が撮影ユニット２側に配置されていると、撮影ユニット２に収容される各種光学部品の熱的変形の原因となる。また、撮影ユニット２の内部における空気の対流が発熱によって促進され、埃が光学系に付着しやすくなってしまう。これに対し、本実施例では、撮影ユニット２に収容される光学部品に対応する電気部品のうち、発熱量の大きな部品の１つである、ＯＣＴ撮影用の走査部１５の制御回路および電源回路が、あえて、光学部品本体（ガルバノスキャナ本体）が配置される撮影ユニット２から離れた、基台３に収容されている。これにより、撮影ユニット２に収容される各種光学部品の熱的変形が抑制される。また、撮影ユニット２に配置された光学系に対する埃の付着が抑制されるので、撮影性能が維持されやすくなる。

【0057】

追加的に、本実施例において、回路基板２１０には、汎用電源回路（例えば、ＤＣＤＣ電源）、各種光学部品の制御回路（例えば、ドライバＩＣ）および電源回路（例えば、電源ＩＣ）、プロセッサ（例えば、ＦＰＧＡ）、外部コンピュータ（例えば、ＰＣ）との通信回路、等が設けられている。代替的な実施例において、これらの回路のいずれかが、熱源２３０として利用されてもよい。各々の回路は、同一の基板上に配置されていても良いし、複数の基板に分散して配置されていてもよい。各種光学部品の制御回路および電源回路のうち、ＯＣＴ撮影用の走査部１５に対応する回路以外のものとしては、例えば、ＳＬＯ撮影用の走査部３５の制御回路および電源回路、光源１１，３１本体、光源１１，３１の制御回路、等が挙げられる。各種光学部品の制御回路および電源回路が、撮影ユニット２ではなく、基台３に収容されていることで、上記の通り、撮影ユニット２に配置される光学系の熱的変化を抑制できる。更に、撮影ユニット２が小型化されやすい。

【0058】

また、代替的な実施例では、回路基板２１０上に実装されない電気部品（例えば、ＡＣＤＣ電源等）が、熱源２３０として利用されてもよい。

【0059】

ファン２２０は、回路基板２１０に配置された回路を冷却して故障を防ぐと共に、回路から発せられた熱で検出器２５を暖めるために利用される。図３では、ファン２２０からの空気の流れを点線矢印によって示している。本実施例では、風向きが走査部１５の電源回路を向くように、ファン２２０が配置される。これにより、発熱量の大きな走査部１５の電源回路が好適に冷却されて故障が抑制される。

【0060】

また、図３に示すように、検出器２５は、走査部１５の電源回路の下流側に配置される。つまり、走査部１５の電源回路の周辺を通過して暖められた風が当たる位置に、検出器２５は配置される。これにより、走査部１５の電源回路を熱源２３０として、検出器２５が暖められる。これにより、検出器２５の環境温度を短時間で適正温度としたうえで動作させることができる。図３では、ファン２２０と、熱源２３０（走査部１５の電源回路）と、検出器２５とが一列に並んでいないが、これらを一列に並べて配置すれば、検出器２５をより短時間で所期する温度まで暖めることができる。

【0061】

また、図３では、ファン２２０の下流側に、熱源２３０と、検出器２５とが順に配置されているが、ファン２２０は、熱源２３０と検出器２５との中間に配置されていてもよい。

【0062】

なお、本実施例では、基台３に熱源２３０と、ファン２２０と、が配置されていることで、基台３の内部では埃が舞いやすくなってしまう。これに対し、スペクトロメータを構成する検出器２５の各部（図２参照）を鏡筒によって固定保持することで、検出器２５への埃の侵入を抑制してもよい。

【0063】

「変形例」
以上、実施形態に基づいて本開示を説明したが、本開示は上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。

【0064】

例えば、検出器２５が熱源２３０からの熱によって過度に暖められることを抑制するために、図４に示すように、温度センサ２４０を設け、温度センサ２４０で検出される温度に応じてファン２２０を制御してもよい。図４に示すように、温度センサ２４０は、検出器２５の近傍に設置されており、検出器２５の温度監視のために利用される。温度センサ２４０は、熱源２３０の下流側に配置されていてもよい。例えば、温度が閾値以下の場合に、ファン２２０を駆動し、閾値を上回る場合にファン２２０を停止させてもよい。温度に基づくファン２２０の駆動制御はヒステリシス制御であってもよい。

【0065】

また、例えば、上記実施例では、ＯＣＴ装置１は、ＳＤ－ＯＣＴであったが、必ずしもこれに限られるものでは無く、他の撮影方式が採用されてもよい。例えば、ＴＤ－ＯＣＴ（Ｔｉｍｅ－ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ）であってもよいし、ＳＳ－ＯＣＴ（ＳｗｅｐｔＳｏｕｒｃｅ ＯＣＴ）であってもよい。これらの場合も、検出器の受光素子が、低温での信号検出に不利な温度特性を有している場合において、速やかに適正温度で撮影できるようになる。

【符号の説明】

【0066】

１ ＯＣＴ装置
３ 基台（ベースユニット）
２５ 検出器（スペクトロメータ）
２３０ 熱源

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】