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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024036606
(43)【公開日】2024-03-15
(54)【発明の名称】劣化促進試験装置
(51)【国際特許分類】
G01N 17/00 20060101AFI20240308BHJP
【ＦＩ】
G01N17/00
【審査請求】有
【請求項の数】12
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2024017104
(22)【出願日】2024-02-07
(62)【分割の表示】P 2023550376の分割
【原出願日】2022-06-27
(31)【優先権主張番号】P 2021157989
(32)【優先日】2021-09-28
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(71)【出願人】
【識別番号】000001993
【氏名又は名称】株式会社島津製作所
(74)【代理人】
【識別番号】100104433
【弁理士】
【氏名又は名称】宮園 博一
(74)【代理人】
【識別番号】100202728
【弁理士】
【氏名又は名称】三森 智裕
(72)【発明者】
【氏名】長谷川 雪憲
(72)【発明者】
【氏名】北村 顕一
(57)【要約】
【課題】複数の劣化因子によって試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、劣化の促進を容易に行うことが可能な劣化促進試験装置を提供する。
【解決手段】この劣化促進試験装置（１００）は、複数の劣化因子によって、試料（２００）の劣化を促進させる劣化促進試験において、劣化促進試験の対象となる試料（２００）を密閉状態で収容可能な密閉容器（１０）と、密閉容器（１０）を保持する容器保持部（２０）とを備える。そして、劣化促進試験装置（１００）は、試料（２００）が密閉容器（１０）内において劣化因子のひとつとしての液体（３００）とともに収容された状態で、密閉容器（１０）内に密閉状態で収容される試料（２００）の劣化促進試験を行うように構成されている。
【選択図】図１
【解決手段】この劣化促進試験装置（１００）は、複数の劣化因子によって、試料（２００）の劣化を促進させる劣化促進試験において、劣化促進試験の対象となる試料（２００）を密閉状態で収容可能な密閉容器（１０）と、密閉容器（１０）を保持する容器保持部（２０）とを備える。そして、劣化促進試験装置（１００）は、試料（２００）が密閉容器（１０）内において劣化因子のひとつとしての液体（３００）とともに収容された状態で、密閉容器（１０）内に密閉状態で収容される試料（２００）の劣化促進試験を行うように構成されている。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
試験対象となる試料を劣化させる複数の劣化因子によって、前記試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、前記劣化促進試験の対象となる前記試料を密閉状態で収容可能な、蓋部を介して内容物を抽出して分析を行う分析装置におけるサンプリング用の容器として用いられる密閉容器と、
前記密閉容器を保持する容器保持部とを備え、
前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、劣化促進試験装置。
前記密閉容器を保持する容器保持部とを備え、
前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、劣化促進試験装置。
【請求項2】
前記密閉容器は、前記試料が収容される瓶状の容器本体部と、前記試料を前記容器本体部内に収容した状態で前記容器本体部を密閉するための密閉部とを含む、請求項１に記載の劣化促進試験装置。
【請求項3】
前記劣化因子のひとつとしての温度を調整する温度調整部と、
温度を含む前記密閉容器内の環境を測定するための容器内環境測定部とをさらに備え、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記温度調整部による温度調整を行うことによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、請求項２に記載の劣化促進試験装置。
温度を含む前記密閉容器内の環境を測定するための容器内環境測定部とをさらに備え、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記温度調整部による温度調整を行うことによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、請求項２に記載の劣化促進試験装置。
【請求項4】
前記密閉容器は、複数設けられており、
前記容器内環境測定部は、前記密閉容器内に密閉状態で収容される温度センサを含み、
前記容器保持部は、前記試料が密閉状態で収容された前記密閉容器とともに、前記試料の代わりに前記温度センサが密閉状態で収容された前記密閉容器を保持するように構成されている、請求項３に記載の劣化促進試験装置。
前記容器内環境測定部は、前記密閉容器内に密閉状態で収容される温度センサを含み、
前記容器保持部は、前記試料が密閉状態で収容された前記密閉容器とともに、前記試料の代わりに前記温度センサが密閉状態で収容された前記密閉容器を保持するように構成されている、請求項３に記載の劣化促進試験装置。
【請求項5】
前記容器保持部は、前記密閉容器を収容する収容部を含み、前記試料が密閉状態で収容された複数の前記密閉容器を前記収容部内に収容するとともに、前記試料の代わりに前記温度センサが密閉状態で収容された前記密閉容器を前記収容部内に収容するように構成されている、請求項４に記載の劣化促進試験装置。
【請求項6】
前記劣化因子のひとつとしての光を照射する照射部をさらに備え、
前記容器本体部は、透光性の部材であり、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記照射部から照射される光が、前記容器本体部を介して、前記試料に照射されることによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、請求項２～５のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
前記容器本体部は、透光性の部材であり、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記照射部から照射される光が、前記容器本体部を介して、前記試料に照射されることによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、請求項２～５のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
【請求項7】
前記劣化因子としての光を発する光源をさらに備え、
前記照射部は、前記光源から出射された光を分岐させるとともに、前記容器保持部に保持される複数の前記密閉容器の前記試料毎に光を照射するように構成されている、請求項６に記載の劣化促進試験装置。
前記照射部は、前記光源から出射された光を分岐させるとともに、前記容器保持部に保持される複数の前記密閉容器の前記試料毎に光を照射するように構成されている、請求項６に記載の劣化促進試験装置。
【請求項8】
前記照射部は、前記密閉容器内における前記試料の配置箇所に対応するように、光の照射領域を絞る絞り部を含む、請求項７に記載の劣化促進試験装置。
【請求項9】
前記密閉容器内の前記試料の表面が、前記照射部によって照射される光の照射方向に沿った方向に対して垂直になるように、前記試料の表面の前記照射方向に対する傾きを調整する試料表面調整部をさらに備える、請求項６～８のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
【請求項10】
強磁性を有する部材を含むとともに、前記密閉容器内において前記試料を支持する試料支持部をさらに備え、
前記試料表面調整部は、前記密閉容器に対して前記照射部が配置される側とは反対側に設けられる磁石を含み、
前記強磁性を有する部材を含む前記試料支持部が、前記磁石に引き付けられることによって、前記密閉容器内の前記試料の表面が、前記照射方向に沿った方向に対して垂直になるように構成されている、請求項９に記載の劣化促進試験装置。
前記試料表面調整部は、前記密閉容器に対して前記照射部が配置される側とは反対側に設けられる磁石を含み、
前記強磁性を有する部材を含む前記試料支持部が、前記磁石に引き付けられることによって、前記密閉容器内の前記試料の表面が、前記照射方向に沿った方向に対して垂直になるように構成されている、請求項９に記載の劣化促進試験装置。
【請求項11】
前記試料支持部は、前記密閉容器内において、前記試料を支持するとともに、前記密閉容器内から取り出し可能に構成されている、請求項１０に記載の劣化促進試験装置。
【請求項12】
前記密閉容器は、ガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いられる、サンプリング用の容器である、請求項１～１１のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、劣化促進試験装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、複数種の試験条件（環境試験）を組み合わせた試験を行うことによって、各種材料の耐食性を評価する複合サイクル試験機が知られている。たとえば、このような複合サイクル試験機は、特開２０１８－１３２３８５号公報に開示されている。
【0003】
上記特開２０１８－１３２３８５号公報の複合サイクル試験機では、試験槽内において、温度および湿度などの劣化因子（劣化負荷）を変動させながら、各種材料の劣化を促進させる試験を行っている。また、上記特開２０１８－１３２３８５号公報に記載のような従来の複合サイクル試験機では、塩水などの液体（腐食液）を試料に対して噴霧する（吹き付ける）ことによって、各種材料の液体に起因する劣化を促進させる試験を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２０１８－１３２３８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、上記特開２０１８－１３２３８５号公報に記載のような従来の複合サイクル試験機では、温度および湿度などの劣化因子（劣化負荷）を変動させながら、塩水などの液体（腐食液）を試料に対して噴霧する場合には、試験槽内の温度および湿度の調整に加えて、空気の循環の制御など、試験環境（試験槽内の環境）の調整が必要になる。そのため、複数の劣化因子によって試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、劣化の促進（加速）を容易に行うことができないという問題点がある。
【0006】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、複数の劣化因子によって試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、劣化の促進を容易に行うことが可能な劣化促進試験装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
この発明の一の局面における劣化促進試験装置は、試験対象となる試料を劣化させる複数の劣化因子によって、試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、劣化促進試験の対象となる試料を密閉状態で収容可能な、蓋部を介して内容物を抽出して分析を行う分析装置におけるサンプリング用の容器として用いられる密閉容器と、密閉容器を保持する容器保持部とを備え、密閉容器内に密閉状態で収容される試料の劣化促進試験を行うように構成されている。
【発明の効果】
【0008】
本発明の一の局面における劣化促進試験装置では、密閉容器内に密閉状態で収容される試料の劣化促進試験を行うように構成されている。これにより、複数の劣化因子によって、試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、密閉容器に、試料とともに劣化因子のひとつとしての液体を収容する場合に、密閉容器内において、試料が液体に触れた状態で試験を行うことができる。その結果、液体を試料に対して噴霧する場合と異なり、液体による劣化の促進のために試験環境を調整する必要がないので、劣化の促進を容易に行うことができる。これにより、複数の劣化因子によって試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、劣化の促進を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【図1】本発明の一実施形態による劣化促進試験装置の全体構成を示した模式図である。
【図2】劣化促進試験装置の外観を示した斜視図である。
【図3】扉を開いた状態の劣化促進試験装置を示した斜視図である。
【図4】容器保持部を引き出した状態の劣化促進試験装置を示した斜視図である。
【図6】密閉容器の外観図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
【0011】
【0012】
（劣化促進試験装置の構成）
劣化促進試験装置１００は、試料２００の劣化を促進（加速）させる劣化促進試験（劣化加速）を行うための装置である。劣化促進試験装置１００は、主に材料開発における材料の探索および試作段階において用いられる装置である。劣化促進試験装置１００による試験対象となる試料２００は、素材（樹脂、繊維、金属および木材など）、塗料、輸送機用の部材、食品用油、食品用包装、および、食品などである。また、劣化促進試験装置１００は、実験室内に設置可能な比較的小型な装置である。
劣化促進試験装置１００は、試料２００の劣化を促進（加速）させる劣化促進試験（劣化加速）を行うための装置である。劣化促進試験装置１００は、主に材料開発における材料の探索および試作段階において用いられる装置である。劣化促進試験装置１００による試験対象となる試料２００は、素材（樹脂、繊維、金属および木材など）、塗料、輸送機用の部材、食品用油、食品用包装、および、食品などである。また、劣化促進試験装置１００は、実験室内に設置可能な比較的小型な装置である。
【0013】
劣化促進試験装置１００は、図１に示すように、劣化促進試験の対象となる試料２００が収容可能な密閉容器１０と、密閉容器１０を保持する容器保持部２０とを備える。
【0014】
また、劣化促進試験装置１００は、劣化因子のひとつとしての温度を調整する温度調整部３０と、温度を含む密閉容器１０内の環境を測定するための測定部４０とを備える。なお、測定部４０は、特許請求の範囲の「容器内環境測定部」の一例である。
【0015】
また、劣化促進試験装置１００は、劣化因子としての光を発する光源５０と、劣化因子のひとつとして光源５０から発せられる（出射される）光を照射する照射部６０とを備える。本実施形態では、光源５０は、紫外線（ＵＶ光）を含む光を照射するように構成されている。光源５０は、たとえば、紫外線（ＵＶ光）を照射するＵＶ光源を含む。なお、光源５０は、キセノンランプを含むキセノン光源を含んでもよい。すなわち、光源５０は、紫外線（ＵＶ光）以外の波長域を含む光を発する光源であってもよい。また、光源５０は、赤外線を発する光源であってもよい。
【0016】
本実施形態における劣化促進試験装置１００は、試料２００が密閉容器１０内において劣化因子のひとつとしての液体３００とともに収容された状態で、密閉容器１０内に密閉状態で収容される試料２００の劣化促進試験を行うように構成されている。
【0017】
具体的には、劣化促進試験装置１００は、密閉容器１０内において劣化因子のひとつとしての液体３００とともに試料２００が収容された状態で、温度、および、光の照射が調整されることによって、試料２００の劣化促進試験を行うように構成されている。すなわち、劣化促進試験装置１００は、同時に複数の劣化因子を調整しながら（複数の劣化負荷をかけながら）、劣化促進試験を行うことが可能な複合劣化促進試験装置である。これにより、より実際の曝露環境下（実曝露環境下）に近い状態の劣化促進試験（劣化加速試験）を行うことができる。
【0018】
また、試料２００とともに、密閉容器１０内に収容される液体３００は、たとえば、酸性の液体、塩水、および、水などである。液体３００として酸性の液体を用いる場合には、試料２００の酸性雨および酸性の薬品などの酸に対する試験（劣化促進試験）を行うことができる。液体３００として塩水を用いる場合には、試料２００の海水および潮風などに対する試験（劣化促進試験）を行うことができる。また、液体３００として、水を用いる場合には、耐水性に関する試験（劣化促進試験）を行うことができる。また、密閉容器１０内の湿度は、密閉容器１０内に収容される水によって調整することが可能である。密閉容器１０内の湿度は、飽和水蒸気量に基づいて変化させることが可能である。
【0019】
すなわち、密閉容器１０は、試験対象となる試料２００を劣化させる複数の劣化因子（温度、光、液体３００および湿度）によって、試料２００の劣化を促進させる劣化促進試験の対象となる試料２００を、密閉状態で収容可能に構成されている。なお、劣化促進試験装置１００では、密閉容器１０内に液体３００を収容せずに、温度および光の少なくとも一方を、劣化因子（劣化負荷）とする劣化促進試験を行うことも可能である。
【0020】
また、劣化促進試験装置１００は、図２および図３に示すように、本体部７１と、本体部７１に取り付けられ、開閉可能な扉部７２とを含む筐体７０を備える。容器保持部２０、温度調整部３０、光源５０、および、照射部６０は、本体部７１の内部に配置されている。そして、劣化促進試験装置１００は、扉部７２を開けた状態で、容器保持部２０および温度調整部３０が、前方向（Ｙ２方向）に移動可能（取り出し可能）に構成（図４参照）されている。そして、劣化促進試験を行う際には、容器保持部２０は、試料２００が収容された密閉容器１０を保持した状態で、本体部７１内に配置される。
【0021】
また、本体部７１の内部では、図５に示すように、温度調整部３０および照射部６０が、上下方向（Ｚ方向）において、容器保持部２０を挟むように配置されている。具体的には、容器保持部２０の上側（Ｚ１方向側）には光源５０および照射部６０が配置され、容器保持部２０の下側（Ｚ２方向側）には温度調整部３０が配置されている。劣化促進試験装置１００では、容器保持部２０が温度調整部３０の上面に載置されるように構成されている。そして、温度調整部３０は、密閉容器１０の周囲の空気を昇温するように構成されている。温度調整部３０は、たとえば、ホットプレートを含む。
【0022】
温度調整部３０は、図示しない操作部をユーザが操作することによって、設定温度の変更などが行えるように構成されている。また、光源５０は、図示しない操作部をユーザが操作することによって、出射する光の強度の変更などが行えるように構成されている。すなわち、劣化促進試験装置１００では、温度調整部３０による温度の調整、および、光源５０から出射される光（照射部６０から照射される光）の調整をユーザが各々行う。なお、筐体７０内に、温度調整部３０による温度の調整、および、光源５０から出射される光の調整を行うための制御基板を設けて、制御基板が一括して制御を行うように構成されてもよい。また、装置外部のＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）に、劣化促進試験装置１００を通信可能に接続し、装置外部のＰＣによって、温度調整部３０による温度の調整、および、光源５０から出射される光の調整が行われてもよい。
【0023】
また、図５に示すように、密閉容器１０は、複数（３つ）設けられている。そして、照射部６０は、光源５０から出射された光を分岐させるとともに、容器保持部２０に保持される複数の密閉容器１０の試料２００毎に光を照射するように構成されている。
【0024】
照射部６０は、レンズ６１および６２を含む。レンズ６１および６２の各々は、容器保持部２０が保持可能な密閉容器１０の数と同数設けられる。本実施形態は、容器保持部２０は、３つの密閉容器１０を保持可能であり、レンズ６１および６２は、３つずつ設けられている。また、照射部６０は、ライトガイド６３を含む。ライトガイド６３は、光ファイバを含み、光源５０から出射される光を導光するように構成されている。また、ライトガイド６３は、一方側が光源５０に接続されており、他方側が３つに分岐している。そして、光源５０から出射される光は、ライトガイド６３によって３つに分岐し、分岐したそれぞれの光は、複数（３つ）のレンズ６１の各々を介してレンズ６２に入射する。なお、レンズ６２は、特許請求の範囲の「絞り部」の一例である。
【0025】
（密閉容器の構成）
図６～図９に示すように、密閉容器１０は、試料２００が収容される瓶状の容器本体部１１と、試料２００を容器本体部１１内に収容した状態で容器本体部１１を密閉するための蓋部１２とを含む。なお、容器本体部１１は、透光性の部材である。なお、蓋部１２は、特許請求の範囲の「密閉部」の一例である。なお、密閉容器１０は、ガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いられる、サンプリング用の容器（バイアル瓶）である。これにより、密閉容器１０を、ガスクロマトグラフ分析装置による分析にそのまま用いることができるので、劣化促進試験後および劣化促進試験中（劣化途中）の試料２００に対して、ガスクロマトグラフ分析装置による分析を容易に行うことができる。
図６～図９に示すように、密閉容器１０は、試料２００が収容される瓶状の容器本体部１１と、試料２００を容器本体部１１内に収容した状態で容器本体部１１を密閉するための蓋部１２とを含む。なお、容器本体部１１は、透光性の部材である。なお、蓋部１２は、特許請求の範囲の「密閉部」の一例である。なお、密閉容器１０は、ガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いられる、サンプリング用の容器（バイアル瓶）である。これにより、密閉容器１０を、ガスクロマトグラフ分析装置による分析にそのまま用いることができるので、劣化促進試験後および劣化促進試験中（劣化途中）の試料２００に対して、ガスクロマトグラフ分析装置による分析を容易に行うことができる。
【0026】
容器本体部１１は、たとえば、石英ガラスまたはホウケイ酸ガラスにより形成されている。また、蓋部１２は、オートサンプラに用いることが可能なセプタム１２ａ付きのキャップである。具体的には、蓋部１２は、図７および図８に示すように、セプタム１２ａおよびアルミキャップ１２ｂを含み、容器本体部１１を密閉（密封）するように構成されている。セプタム１２ａは、容器本体部１１の口部分１１ａ（容器本体部１１のＸ２方向側の端面）をシールするように構成されている。セプタム１２ａは、たとえば、ＰＴＦＥ（Ｐｏｌｙ Ｔｅｔｒａ Ｆｌｕｏｒｏ Ｅｔｈｙｌｅｎｅ）、ゴム、シリコンゴム、または、ポリエチレンなどを含む。そして、アルミキャップ１２ｂは、容器本体部１１および容器本体部１１の口部分１１ａをシールするセプタム１２ａに被せられ、セプタム１２ａおよび容器本体部１１を締め付けるように構成されている。すなわち、アルミキャップ１２ｂは、アルミ製のカシメとして用いられる。また、アルミキャップ１２ｂは、図７および図８に示すように、セプタム１２ａの中央部分を露出させるように構成されている。そのため、本実施形態による密閉容器１０（蓋部１２）では、セプタム１２ａが露出した部分に、オートサンプラのシリンジ針（ニードル）を貫通させることによって、アルミキャップ１２ｂを外すことなく、オートサンプラによるサンプリングを行うことができる。また、密閉容器１０は、容器本体部１１にネジ山を設けて、ツイストキャップ式またはスクリューキャップ式の蓋部１２によって、容器本体部１１を密閉するように構成してもよい。
【0027】
密閉容器１０内には、密閉容器１０内において試料２００を支持する試料支持部１３が設けられる（収容される）。試料支持部１３は、試料２００を支持する支持板１３ａと、磁性体棒１３ｂとを含む。なお、磁性体棒１３ｂは、特許請求の範囲の「強磁性を有する部材」の一例である。磁性体棒１３ｂは、強磁性を有する棒状の金属部材である。磁性体棒１３ｂは、たとえば、ＳＵＳ４３０などのクロム（Ｃｒ）を含むステンレス合金鋼である。また、密閉容器１０内に収容される液体３００、および、試料２００の劣化（反応）によって発生する物質に応じて、磁性体棒１３ｂにメッキ処理が施されてもよい。
【0028】
また、支持板１３ａは、図９に示すように、Ｘ１方向側から見て、Ｚ１方向側（照射部６０）側に凸のＵ字形状を有している。そして、支持板１３ａは、磁性体棒１３ｂの３方向（Ｚ１方向側、Ｙ１方向側およびＹ２方向側）を囲うように配置され、磁性体棒１３ｂを保持するように構成されている。
【0029】
また、本実施形態では、試料支持部１３は、密閉容器１０内において、試料２００を支持するとともに、密閉容器１０内から取り出し可能に構成されている。具体的には、試料支持部１３は、蓋部１２を取り外すことによって、密閉容器１０の容器本体部１１からＸ２方向側に取り出すことができる。
【0030】
（容器保持部の構成）
容器保持部２０は、図１０に示すように、密閉容器１０を収容する収容部２１を含む。また、容器保持部２０は、収容部２１を上方（Ｚ１方向側）から覆うカバー部２２を含む。収容部２１は、温度調整部３０に上面に載置されるアルミブロック２１ａを含む。また、アルミブロック２１ａの外周には、収容部２１と、カバー部２２とによって形成される内部空間Ｓを断熱するための断熱材２１ｂおよび２１ｃが設けられている。また、収容部２１は、アルミブロック２１ａの上方に配置され、複数（３つ）の密閉容器１０に対応して、複数（３つ）のスリットが設けられたスリット板２１ｄを含む。また、カバー部２２には、照射部６０から照射させる光（ＵＶ光）を収容部２１内に透過させるために、板状の透光性を有する部材である石英板（石英ガラス）２２ａが設けられている。これにより、収容部２１と、カバー部２２とによって形成される内部空間Ｓに、照射部６０から照射される光（ＵＶ光）を照射することができる。また、カバー部２２には、内部空間Ｓを断熱するための断熱材２２ｂおよび２２ｃが設けられている。
容器保持部２０は、図１０に示すように、密閉容器１０を収容する収容部２１を含む。また、容器保持部２０は、収容部２１を上方（Ｚ１方向側）から覆うカバー部２２を含む。収容部２１は、温度調整部３０に上面に載置されるアルミブロック２１ａを含む。また、アルミブロック２１ａの外周には、収容部２１と、カバー部２２とによって形成される内部空間Ｓを断熱するための断熱材２１ｂおよび２１ｃが設けられている。また、収容部２１は、アルミブロック２１ａの上方に配置され、複数（３つ）の密閉容器１０に対応して、複数（３つ）のスリットが設けられたスリット板２１ｄを含む。また、カバー部２２には、照射部６０から照射させる光（ＵＶ光）を収容部２１内に透過させるために、板状の透光性を有する部材である石英板（石英ガラス）２２ａが設けられている。これにより、収容部２１と、カバー部２２とによって形成される内部空間Ｓに、照射部６０から照射される光（ＵＶ光）を照射することができる。また、カバー部２２には、内部空間Ｓを断熱するための断熱材２２ｂおよび２２ｃが設けられている。
【0031】
そして、照射部６０のレンズ６２は、密閉容器１０内における試料２００の配置箇所に対応するように、光の照射領域を絞るように構成されている。具体的には、試料２００が支持される支持板１３ａの形状に合わせて、Ｘ方向に長い略矩形状の照射領域になるように、光源５０から導光された光の照射領域を絞る。支持板１３ａには、たとえば、Ｙ方向における長さが十数ｍｍ程度、Ｘ方向における長さが数十ｍｍ程度の試料２００が載置可能である。
【0032】
本実施形態では、劣化促進試験装置１００は、試料２００が密閉容器１０内に収容された状態で、照射部６０から照射される光が、透光性の部材である容器本体部１１を介して、試料２００に照射されることによって、密閉容器１０内に密閉状態で収容される試料２００の劣化促進試験を行うように構成されている。具体的には、光源５０から導光され、照射部６０から照射された光が、石英板２２ａおよび容器本体部１１を介して、試料２００に照射されることによって、光（ＵＶ光）に起因する試料２００の劣化が促進（加速）させられる。
【0033】
また、本実施形態では、劣化促進試験装置１００は、試料２００が密閉容器１０内に収容された状態で、温度調整部３０による温度調整を行うことによって、密閉容器１０内に密閉状態で収容される試料２００の劣化促進試験を行うように構成されている。具体的には、温度調整部３０によって、収容部２１のアルミブロック２１ａを介して、収容部２１と、カバー部２２とによって形成される内部空間Ｓの空気が加熱されることによって、密閉容器１０内の温度を上昇させる。そして、密閉容器１０内の温度が上昇することによって、温度（熱）に起因する試料２００の劣化が促進（加速）させられる。
【0034】
【0035】
測定部４０は、密閉容器１０内に密閉状態で収容される温度センサ４１（図１１参照）を含む。また、測定部４０は、湿度センサ４２（図１１参照）を含む。すなわち、測定部４０は、温度および湿度を測定可能である。なお、温度センサ４１および湿度センサ４２は、一体的に構成されてもよい。また、測定部４０は、照度センサなど、密閉容器１０内の環境を測定するための各種センサを含んでもよい。
【0036】
また、容器保持部２０は、図１１に示すように、試料２００が密閉状態で収容された密閉容器１０とともに、試料２００の代わりに測定部４０（温度センサ４１）が密閉状態で収容された密閉容器１０を保持するように構成されている。すなわち、容器保持部２０は、測定部４０が収容されるリファレンス用の密閉容器１０を保持するように構成されている。
【0037】
また、容器保持部２０（収容部２１）は、図１１に示すように、試料２００が密閉状態で収容された複数（２つ）の密閉容器１０を収容部２１内に収容するとともに、試料２００の代わりに測定部４０（温度センサ４１）が密閉状態で収容された密閉容器１０を収容部２１内に収容するように構成されている。測定部４０が収容される密閉容器１０は、Ｙ方向（前後方向）において、試料２００が収容される２つの密閉容器１０の間の位置に収容されている。そして、測定部４０が収容される密閉容器１０は、収容部２１内のＸ方向（左右方向）およびＹ方向（前後方向）における中央部分に収容されている。なお、測定部４０が収容される密閉容器１０は、収容部２１内のＸ方向（左右方向）およびＹ方向（前後方向）における中央部分以外に収容（保持）されてもよい。
【0038】
容器保持部２０（収容部２１）は、密閉容器１０を取り外し可能に保持する容器抑え部８１、８２および８３を備える。容器抑え部８１、８２および８３は、密閉容器１０をそれぞれＹ１方向側、Ｙ２方向側およびＸ１方向側から抑えるとともに、弾性変形可能に構成されている。容器抑え部８１、８２および８３は、たとえば、板バネを含む。
【0039】
また、測定部４０が収容される密閉容器１０の蓋部１２は、測定部４０（温度センサ４１および湿度センサ４２）の検出信号を外部に送信するための通信用ケーブル４３が貫通するように構成されている。通信用ケーブル４３は、温度調整部３０や密閉容器１０内の温度を表示するための図示しない表示部などに接続される。
【0040】
また、図１２および図１３に示すように、容器保持部２０は、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが、照射部６０によって照射される光の照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるように、試料２００の表面２００ａの照射方向に対する傾きを調整する試料表面調整部９０を備える。なお、試料表面調整部９０は、密閉容器１０毎に設けられる。
【0041】
試料表面調整部９０は、密閉容器１０に対して照射部６０が配置される側とは反対側（Ｚ２方向側）に設けられる磁石９１を含む。また、試料表面調整部９０は、磁石９１をアルミブロック２１ａ（収容部２１）に取り付けるためのネジ９２と、磁石９１の高さ位置（Ｚ方向における位置）を調整するためのスペーサ９３とを備える。
【0042】
そして、強磁性を有する部材である磁性体棒１３ｂを含む試料支持部１３が、磁石９１に引き付けられることによって、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが、照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるように構成されている。具体的には、磁性体棒１３ｂを保持するとともに、Ｘ１方向側から見てＵ字形状を有する支持板１３ａ（図９参照）が、磁性体棒１３ｂが磁石９１に引き付けられることによって、密閉容器１０内において、Ｘ１方向側から見てＺ１方向側に（照射部６０に向かって）凸になるように調整される。
【0043】
（本実施形態の効果）
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【0044】
本実施形態では、試料２００が密閉容器１０内において劣化因子のひとつとしての液体３００とともに収容された状態で、密閉容器１０内に密閉状態で収容される試料２００の劣化促進試験を行うように構成されている。これにより、複数の劣化因子によって、試料２００の劣化を促進させる劣化促進試験において、密閉容器１０に、試料２００とともに劣化因子のひとつとしての液体３００を収容することによって、密閉容器１０内において、試料２００が液体３００に触れた状態で試験を行うことができる。その結果、試料２００に対して液体３００を噴霧する場合と異なり、液体３００による劣化の促進のために試験環境を調整する必要がないので、液体３００に起因する劣化の促進を容易に行うことができる。これにより、複数の劣化因子によって試料２００の劣化を促進させる劣化促進試験において、液体３００に起因する（溶液環境下における）劣化の促進を容易に行うことができる。
【0045】
また、上記実施形態による劣化促進試験装置１００では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。
【0046】
また、本実施形態では、密閉容器１０は、試料２００が収容される瓶状の容器本体部１１と、試料２００を容器本体部１１内に収容した状態で容器本体部１１を密閉するための蓋部１２（密閉部）とを含む。これにより、蓋部１２によって、密閉容器１０の容器本体部１１を確実に密閉した状態で、液体３００とともに容器本体部１１（密閉容器１０）内に収容される試料２００の劣化促進試験を行うことができる。
【0047】
また、本実施形態では、劣化促進試験装置１００は、劣化因子のひとつとしての温度を調整する温度調整部３０と、温度を含む密閉容器１０内の環境を測定するための測定部４０（容器内環境測定部）とを備える。そして、試料２００が密閉容器１０内に収容された状態で、温度調整部３０による温度調整を行うことによって、密閉容器１０内に密閉状態で収容される試料２００の劣化促進試験を行うように構成されている。これにより、温度調整部３０による温度調整を行うことによって、試料２００の温度（熱）に起因する劣化を促進させることができる。また、測定部４０が、温度を含む密閉容器１０内の環境を測定するので、温度調整部３０の温度調整を精度よく行うことができる。
【0048】
また、本実施形態では、密閉容器１０は、複数設けられている。また、測定部４０（容器内環境測定部）は、密閉容器１０内に密閉状態で収容される温度センサ４１を含む。そして、容器保持部２０は、試料２００が密閉状態で収容された密閉容器１０とともに、試料２００の代わりに温度センサ４１が密閉状態で収容された密閉容器１０を保持するように構成されている。これにより、温度センサ４１が、試料２００と同様に密閉容器１０内に密閉状態で収容されるので、密閉容器１０内における試料２００周辺の温度変化を正確に測定することができる。
【0049】
また、本実施形態では、試料２００が密閉状態で収容された複数の密閉容器１０を収容部２１内に収容するとともに、試料２００の代わりに温度センサ４１が密閉状態で収容された密閉容器１０を収容部２１内に収容するように構成されている。これにより、複数の密閉容器１０の各々に、異なる試料２００を収容した状態で劣化促進試験を行うことができるので、異なる試料２００の劣化促進試験を同時に行うことができる。また、同一の試料２００が収容される複数の密閉容器１０の各々に、異なる液体３００を収容した状態で劣化促進試験を行うことができるので、劣化因子（液体３００）が異なる劣化促進試験を同一の試料２００に対して同時に行うことができる。
【0050】
また、本実施形態では、劣化促進試験装置１００は、劣化因子のひとつとしての光を照射する照射部６０をさらに備える。さらに、容器本体部１１は、透光性の部材である。そして、試料２００が密閉容器１０内に収容された状態で、照射部６０から照射される光が、容器本体部１１を介して、試料２００に照射されることによって、密閉容器１０内に密閉状態で収容される試料２００の劣化促進試験を行うように構成されている。これにより、透光性の容器本体部１１を介して、照射部６０から照射される光によって、光に起因する試料２００の劣化を促進させることができる。
【0051】
また、本実施形態では、劣化促進試験装置１００は、劣化因子としての光を発する光源５０を備える。そして、照射部６０は、光源５０から出射された光を分岐させるとともに、容器保持部２０に保持される複数の密閉容器１０の試料２００毎に光を照射するように構成されている。ここで、光源５０が発する光の強度が低い場合には、照射領域の中心から離れた位置の試料２００には、劣化に必要な強度の光を照射することができずに、容器保持部２０内における密閉容器１０の位置に起因して、光による劣化の促進（加速）がばらつくことがある。しかしながら、本実施形態では、上記のように、容器保持部２０に保持される複数の密閉容器１０の試料２００毎に光を照射するように構成されているので、複数の密閉容器１０に対してまとめて光を照射する場合と異なり、複数の密閉容器１０の試料２００の各々に対して同様に光を照射することができる。その結果、光源５０が発する光の強度が低い場合でも、容器保持部２０内における密閉容器１０の位置に関わらず、複数の密閉容器１０に収容される各々の試料２００に照射される光の強度を確保することができる。これにより、容器保持部２０内における密閉容器１０の位置に起因して、光による劣化の促進（加速）がばらつくことを抑制することができる。
【0052】
また、本実施形態では、照射部６０は、密閉容器１０内における試料２００の配置箇所に対応するように、光の照射領域を絞るレンズ６２（絞り部）を含む。これにより、試料２００の配置箇所に合わせて、光の照射領域が絞られるので、試料２００に効率よく光を当てることができる。
【0053】
また、本実施形態では、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが、照射部６０によって照射される光の照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるように、試料２００の表面２００ａの照射方向に対する傾きを調整する試料表面調整部９０を備える。これにより、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａに対して、垂直に光を当てることができるので、試料２００の光による劣化の促進を精度よく行うことができる。
【0054】
また、本実施形態では、劣化促進試験装置１００は、磁性体棒１３ｂ（強磁性を有する部材を含む）とともに、密閉容器１０内において試料２００を支持する試料支持部１３を備える。さらに、試料表面調整部９０は、密閉容器１０に対して照射部６０が配置される側とは反対側に設けられる磁石９１を含む。そして、磁性体棒１３ｂを含む試料支持部１３が、磁石９１に引き付けられることによって、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが、照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるように構成されている。これにより、試料支持部１３に密閉容器１０を保持させた際に、試料２００の表面２００ａの照射方向に対する傾きが、照射部６０によって照射される光の照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直でない場合でも、磁力によって、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるように、磁性体棒１３ｂを含む試料支持部１３が動かされる。その結果、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが、照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるので、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａに対して、精度よく光を当てることができる。
【0055】
また、本実施形態では、試料支持部１３は、密閉容器１０内において、試料２００を支持するとともに、密閉容器１０内から取り出し可能に構成されている。これにより、ユーザは、密閉容器１０内から取り出した試料支持部１３に、試料２００を支持させる（載せる）ことができるので、容易に試料２００を試料支持部１３に支持させることができる。
【0056】
また、本実施形態では、密閉容器１０は、ガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いられる、サンプリング用の容器である。これにより、容器保持部２０から取り外した密閉容器１０を、そのままガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いることができるので、劣化促進試験が行われた試料２００を、容易にガスクロマトグラフ分析装置によって分析することができる。
【0057】
［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
【0058】
たとえば、上記実施形態では、劣化促進試験装置１００は、温度調整部３０による温度調整によって行われる温度（熱）に起因する試料２００の劣化の促進と、照射部６０から照射される光に起因する試料２００の劣化の促進とを行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、劣化促進試験装置は、温度調整部による温度調整によって行われる温度（熱）に起因する試料の劣化の促進、および、照射部から照射される光に起因する試料の劣化の促進のうち、いずれか一方のみを行うように構成されてもよい。
【0059】
また、上記実施形態では、密閉容器１０は、温度調整部３０は、ホットプレートを含み、密閉容器１０の周囲の空気を昇温する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、温度調整部は、密閉容器の周囲の空気を冷却するように構成してもよい。
【0060】
また、上記実施形態では、密閉容器１０は、３つ設けられている構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、密閉容器は、２つ以下設けられてもよいし、４つ以上設けられてもよい。
【0061】
また、上記実施形態では、温度センサ４１が密閉容器１０内に密閉状態で収容される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、劣化促進試験装置は、温度センサを密閉容器内に収容せずに、密閉容器の周囲の温度を測定するようにしてもよい。たとえば、劣化促進試験装置は、試料から放射される赤外線を密閉容器の外部から取得して、密閉容器内の試料の温度を測定してもよい。
【0062】
また、上記実施形態では、試料２００が密閉状態で収容された複数の密閉容器１０を収容部２１内に収容するとともに、試料２００の代わりに温度センサ４１が密閉状態で収容された密閉容器１０を収容部２１内に収容する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、試料が密閉状態で収容された密閉容器と、試料の代わりに温度センサ（測定部）が密閉状態で収容された密閉容器とが１つずつ収容部（容器保持部）内に収容されてもよい。
【0063】
また、上記実施形態では、照射部６０は、光源５０から出射された光を分岐させるとともに、容器保持部２０に保持される複数の密閉容器１０の試料２００毎に光を照射するように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、照射部は、光源から出射された光を複数の密閉容器にまとめて照射してもよい。また、劣化促進試験装置は、照射部または容器保持部にシャッタ（遮光部）を設けて、密閉容器ごとに光の照射の有無を切り替えられるように構成してもよい。
【0064】
また、上記実施形態では、照射部６０は、密閉容器１０内における試料２００の配置箇所に対応するように、光の照射領域を絞るレンズ６２（絞り部）を含む構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、照射部は、光の照射領域を絞らずに試料に光を照射してもよい。
【0065】
また、上記実施形態では、試料２００の表面２００ａの照射方向に対する傾きを調整する試料表面調整部９０を備える例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、試料表面調整部を備えずに、光の照射方向に対する試料の表面の傾きをユーザ自身が調整するようにしてもよい。
【0066】
また、上記実施形態では、磁性体棒１３ｂ（強磁性を有する部材）を含む試料支持部１３が、磁石９１に引き付けられることによって、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが、照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、密閉容器１０の外部に強磁性を有する部材を配置し、試料支持部が磁石を含んでもよい。
【0067】
また、上記実施形態では、密閉容器１０の内部に収容される磁性体棒１３ｂ（強磁性を有する部材）を含む試料支持部１３が、磁石９１に引き付けられることによって、密閉容器１０内の試料２００の表面２００ａが、照射方向に沿った方向（Ｚ方向）に対して垂直になるように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、密閉容器（容器本体部）の外壁面に強磁性を有する部材が設けられてもよい。
【0068】
また、上記実施形態では、試料支持部１３は、密閉容器１０内において、試料２００を支持するとともに、密閉容器１０内から取り出し可能に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、試料支持部は、密閉容器内に固定されていてもよい。
【0069】
また、上記実施形態では、密閉容器１０は、ガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いられる、サンプリング用の容器である例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、密閉容器は、劣化促進試験装置専用の容器であってもよい。
【0070】
［態様］
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
【0071】
（項目１）
試験対象となる試料を劣化させる複数の劣化因子によって、前記試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、前記劣化促進試験の対象となる前記試料を密閉状態で収容可能な、蓋部を介して内容物を抽出して分析を行う分析装置におけるサンプリング用の容器として用いられる密閉容器と、
前記密閉容器を保持する容器保持部とを備え、
前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、劣化促進試験装置。
試験対象となる試料を劣化させる複数の劣化因子によって、前記試料の劣化を促進させる劣化促進試験において、前記劣化促進試験の対象となる前記試料を密閉状態で収容可能な、蓋部を介して内容物を抽出して分析を行う分析装置におけるサンプリング用の容器として用いられる密閉容器と、
前記密閉容器を保持する容器保持部とを備え、
前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、劣化促進試験装置。
【0072】
（項目２）
前記密閉容器は、前記試料が収容される瓶状の容器本体部と、前記試料を前記容器本体部内に収容した状態で前記容器本体部を密閉するための密閉部とを含む、項目１に記載の劣化促進試験装置。
前記密閉容器は、前記試料が収容される瓶状の容器本体部と、前記試料を前記容器本体部内に収容した状態で前記容器本体部を密閉するための密閉部とを含む、項目１に記載の劣化促進試験装置。
【0073】
（項目３）
前記劣化因子のひとつとしての温度を調整する温度調整部と、
温度を含む前記密閉容器内の環境を測定するための容器内環境測定部とをさらに備え、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記温度調整部による温度調整を行うことによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、項目２に記載の劣化促進試験装置。
前記劣化因子のひとつとしての温度を調整する温度調整部と、
温度を含む前記密閉容器内の環境を測定するための容器内環境測定部とをさらに備え、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記温度調整部による温度調整を行うことによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、項目２に記載の劣化促進試験装置。
【0074】
（項目４）
前記密閉容器は、複数設けられており、
前記容器内環境測定部は、前記密閉容器内に密閉状態で収容される温度センサを含み、
前記容器保持部は、前記試料が密閉状態で収容された前記密閉容器とともに、前記試料の代わりに前記温度センサが密閉状態で収容された前記密閉容器を保持するように構成されている、項目３に記載の劣化促進試験装置。
前記密閉容器は、複数設けられており、
前記容器内環境測定部は、前記密閉容器内に密閉状態で収容される温度センサを含み、
前記容器保持部は、前記試料が密閉状態で収容された前記密閉容器とともに、前記試料の代わりに前記温度センサが密閉状態で収容された前記密閉容器を保持するように構成されている、項目３に記載の劣化促進試験装置。
【0075】
（項目５）
前記容器保持部は、前記密閉容器を収容する収容部を含み、前記試料が密閉状態で収容された複数の前記密閉容器を前記収容部内に収容するとともに、前記試料の代わりに前記温度センサが密閉状態で収容された前記密閉容器を前記収容部内に収容するように構成されている、項目４に記載の劣化促進試験装置。
前記容器保持部は、前記密閉容器を収容する収容部を含み、前記試料が密閉状態で収容された複数の前記密閉容器を前記収容部内に収容するとともに、前記試料の代わりに前記温度センサが密閉状態で収容された前記密閉容器を前記収容部内に収容するように構成されている、項目４に記載の劣化促進試験装置。
【0076】
（項目６）
前記劣化因子のひとつとしての光を照射する照射部をさらに備え、
前記容器本体部は、透光性の部材であり、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記照射部から照射される光が、前記容器本体部を介して、前記試料に照射されることによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、項目２～５のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
前記劣化因子のひとつとしての光を照射する照射部をさらに備え、
前記容器本体部は、透光性の部材であり、
前記試料が前記密閉容器内に収容された状態で、前記照射部から照射される光が、前記容器本体部を介して、前記試料に照射されることによって、前記密閉容器内に密閉状態で収容される前記試料の前記劣化促進試験を行うように構成されている、項目２～５のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
【0077】
（項目７）
前記劣化因子としての光を発する光源をさらに備え、
前記照射部は、前記光源から出射された光を分岐させるとともに、前記容器保持部に保持される複数の前記密閉容器の前記試料毎に光を照射するように構成されている、項目６に記載の劣化促進試験装置。
前記劣化因子としての光を発する光源をさらに備え、
前記照射部は、前記光源から出射された光を分岐させるとともに、前記容器保持部に保持される複数の前記密閉容器の前記試料毎に光を照射するように構成されている、項目６に記載の劣化促進試験装置。
【0078】
（項目８）
前記照射部は、前記密閉容器内における前記試料の配置箇所に対応するように、光の照射領域を絞る絞り部を含む、項目７に記載の劣化促進試験装置。
前記照射部は、前記密閉容器内における前記試料の配置箇所に対応するように、光の照射領域を絞る絞り部を含む、項目７に記載の劣化促進試験装置。
【0079】
（項目９）
前記密閉容器内の前記試料の表面が、前記照射部によって照射される光の照射方向に沿った方向に対して垂直になるように、前記試料の表面の前記照射方向に対する傾きを調整する試料表面調整部をさらに備える、項目６～８のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
前記密閉容器内の前記試料の表面が、前記照射部によって照射される光の照射方向に沿った方向に対して垂直になるように、前記試料の表面の前記照射方向に対する傾きを調整する試料表面調整部をさらに備える、項目６～８のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
【0080】
（項目１０）
強磁性を有する部材を含むとともに、前記密閉容器内において前記試料を支持する試料支持部１３をさらに備え、
前記試料表面調整部は、前記密閉容器に対して前記照射部が配置される側とは反対側に設けられる磁石を含み、
前記強磁性を有する部材を含む前記試料支持部が、前記磁石に引き付けられることによって、前記密閉容器内の前記試料の表面が、前記照射方向に沿った方向に対して垂直になるように構成されている、項目９に記載の劣化促進試験装置。
強磁性を有する部材を含むとともに、前記密閉容器内において前記試料を支持する試料支持部１３をさらに備え、
前記試料表面調整部は、前記密閉容器に対して前記照射部が配置される側とは反対側に設けられる磁石を含み、
前記強磁性を有する部材を含む前記試料支持部が、前記磁石に引き付けられることによって、前記密閉容器内の前記試料の表面が、前記照射方向に沿った方向に対して垂直になるように構成されている、項目９に記載の劣化促進試験装置。
【0081】
（項目１１）
前記試料支持部は、前記密閉容器内において、前記試料を支持するとともに、前記密閉容器内から取り出し可能に構成されている、項目１０に記載の劣化促進試験装置。
前記試料支持部は、前記密閉容器内において、前記試料を支持するとともに、前記密閉容器内から取り出し可能に構成されている、項目１０に記載の劣化促進試験装置。
【0082】
（項目１２）
前記密閉容器は、ガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いられる、サンプリング用の容器である、項目１～１１のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
前記密閉容器は、ガスクロマトグラフ分析装置による分析に用いられる、サンプリング用の容器である、項目１～１１のいずれか１項に記載の劣化促進試験装置。
【符号の説明】
【0083】
１０ 密閉容器
１１ 容器本体部
１２ 蓋部（密閉部）
１３ 試料支持部
１３ｂ 磁性体棒（強磁性を有する部材）
２０ 容器保持部
２１ 収容部
３０ 温度調整部
４０ 測定部（容器内環境測定部）
４１ 温度センサ
５０ 光源
６０ 照射部
６２ レンズ（絞り部）
９０ 試料表面調整部
９１ 磁石
１００ 劣化促進試験装置
２００ 試料
２００ａ （試料の）表面
３００ 液体
１１ 容器本体部
１２ 蓋部（密閉部）
１３ 試料支持部
１３ｂ 磁性体棒（強磁性を有する部材）
２０ 容器保持部
２１ 収容部
３０ 温度調整部
４０ 測定部（容器内環境測定部）
４１ 温度センサ
５０ 光源
６０ 照射部
６２ レンズ（絞り部）
９０ 試料表面調整部
９１ 磁石
１００ 劣化促進試験装置
２００ 試料
２００ａ （試料の）表面
３００ 液体
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】