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特開2024-41516樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置
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  • 特開-樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置 図1
  • 特開-樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置 図2
  • 特開-樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置 図3
  • 特開-樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置 図4
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024041516
(43)【公開日】2024-03-27
(54)【発明の名称】樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置
(51)【国際特許分類】
   C08F 290/14 20060101AFI20240319BHJP
   G03F 7/027 20060101ALI20240319BHJP
   G03F 7/004 20060101ALN20240319BHJP
【FI】
C08F290/14
G03F7/027 514
G03F7/004 505
【審査請求】未請求
【請求項の数】11
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2022146379
(22)【出願日】2022-09-14
(71)【出願人】
【識別番号】000000033
【氏名又は名称】旭化成株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100099759
【弁理士】
【氏名又は名称】青木 篤
(74)【代理人】
【識別番号】100123582
【弁理士】
【氏名又は名称】三橋 真二
(74)【代理人】
【識別番号】100108903
【弁理士】
【氏名又は名称】中村 和広
(74)【代理人】
【識別番号】100142387
【弁理士】
【氏名又は名称】齋藤 都子
(74)【代理人】
【識別番号】100135895
【弁理士】
【氏名又は名称】三間 俊介
(72)【発明者】
【氏名】中村 光孝
(72)【発明者】
【氏名】吉田 雅彦
(72)【発明者】
【氏名】岩田 隆志
(72)【発明者】
【氏名】和田 佳祐
【テーマコード(参考)】
2H225
4J127
【Fターム(参考)】
2H225AC66
2H225AD06
2H225AN31P
2H225AN57P
2H225AN68P
2H225AN73P
2H225AN84P
2H225AP03P
2H225AP10P
2H225BA01P
2H225CA12
2H225CB02
2H225CC01
2H225CC13
4J127AA03
4J127BB041
4J127BB071
4J127BB221
4J127BC021
4J127BC151
4J127BD261
4J127BE241
4J127BE24Y
4J127BF451
4J127BF45Y
4J127BF531
4J127BF53Z
4J127BG051
4J127BG05Y
4J127BG05Z
4J127BG081
4J127BG08Z
4J127BG121
4J127BG12Y
4J127BG12Z
4J127BG131
4J127BG13Z
4J127BG161
4J127BG16Y
4J127BG171
4J127BG17Y
4J127BG251
4J127BG25Z
4J127BG311
4J127BG31Z
4J127CB281
4J127CC131
4J127DA02
4J127DA06
4J127FA17
(57)【要約】      (修正有)
【課題】十分な着色度合いと膜伸度を保持したポリイミド膜(硬化レリーフパターン)を得ることができる樹脂組成物、並びにかかる樹脂組成物を用いた硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置を提供する。
【解決手段】(A)一般式(A1)で表されるポリイミド前駆体(式中、Xは4価の有機基、Yは2価の有機基、R及びRは、H、重合性基又は飽和脂肪族基);(B)一次粒子径が20nm以上50nm以下であり、かつpHが4以上、9以下である顔料0.5~20質量部((A)100質量部に対し);(C)有機溶媒、を含む樹脂組成物とする。

【選択図】図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
以下の成分:
(A)下記一般式(A1):
【化1】
(式中、Xは、4価の有機基であり、Yは、2価の有機基であり、R及びRは、水素原子、重合性基、又は炭素数1~4の飽和脂肪族基である。但し、R及びRは同時に水素原子ではない。)
で表されるポリイミド前駆体;
(B)顔料;及び
(C)有機溶媒;
を含む樹脂組成物であって、
前記(B)顔料の一次粒子径が20nm以上50nm以下であり、かつpHが4以上、9以下であり、前記(B)成分の含有量が、前記(A)成分100質量部に対して、0.5~20質量部であることを特徴とする樹脂組成物。
【請求項2】
前記一般式(A1)において、前記R及びRが、下記一般式(R):
【化2】
(式中、R、R及びRは、水素原子又は炭素数1~3の有機基であり、pは、2~10から選ばれる整数である。)で表される構造を含む、請求項1に記載の樹脂組成物。
【請求項3】
前記一般式(A1)において、前記Xが、下記式(2):
【化3】
で表される構造を含む、請求項1に記載の樹脂組成物。
【請求項4】
前記一般式(A1)において、前記Yが、下記式(8):
【化4】
及び/又は下記式(9):
【化5】
で表される構造を含む、請求項1に記載の樹脂組成物。
【請求項5】
前記(B)成分が、カーボンブラック、チタンブラック又は窒化ジルコニアである、請求項1に記載の樹脂組成物。
【請求項6】
(D)光重合開始剤をさらに含む、請求項1に記載の樹脂組成物。
【請求項7】
前記(D)成分の含有量が、前記(A)成分100質量部に対して、1~50質量部である、請求項6に記載の樹脂組成物。
【請求項8】
前記(C)成分が、N-メチル-2-ピロリドン(NMP)、γ-ブチロラクトン(GBL)、ジメチルスルホキシド(DMSO)、3-メトキシ-N,N-ジメチルプロパンアミド、及び乳酸エチルから成る群より選ばれる少なくとも1つを含む、請求項1又は2に記載の樹脂組成物。
【請求項9】
(1)請求項1又は2に記載の樹脂組成物を基板に塗布することにより、樹脂組成物膜を形成する工程と、
(2)前記樹脂組成物膜を露光、及び現像する工程、又は前記樹脂組成物膜にレーザー照射する工程により、レリーフパターンを形成する工程と、
(3)前記レリーフパターンを加熱して硬化レリーフパターンを形成する工程と、
を有する、硬化レリーフパターンの製造方法。
【請求項10】
前記基板が、銅又は銅合金から形成されて成る、請求項9に記載の硬化レリーフパターンの製造方法。
【請求項11】
請求項1又は2に記載の樹脂組成物の硬化物を絶縁層として有する、半導体装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体装置(以下、本明細書において単に「素子」と称する場合がある。)は、目的に合わせて、様々な方法でプリント基板に実装される。従来の素子は、素子の外部端子(パッド)からリードフレームまで細いワイヤで接続する、ワイヤボンディング法により作製されることが一般的であった。しかし、素子の高速化が進み、動作周波数がGHzまで到達した今日、実装における各端子の配線長さの違いが、素子の動作に影響を及ぼすまでに至った。そのため、ハイエンド用途の素子の実装では、実装配線の長さを正確に制御する必要が生じた。しかしながら、ワイヤボンディングではその要求を満たすことが困難であった。
【0003】
そこで、半導体チップの表面に再配線層を形成し、その上にバンプ(電極)を形成した後、該チップを裏返し(フリップ)て、プリント基板に直接実装する、フリップチップ実装が提案されている。このフリップチップ実装では、配線距離を正確に制御できる。このため、フリップチップ実装は、高速な信号を取り扱うハイエンド用途の素子に、あるいは、実装サイズの小ささから携帯電話等に、それぞれ採用され、需要が急拡大している。
【0004】
従来、電子部品の絶縁材料、並びに半導体装置のパッシベーション膜、表面保護膜、及び層間絶縁膜等には、優れた耐熱性及び電気特性を併せ持つポリイミドが用いられている。パッシベーション膜、表面保護膜、及び層間絶縁膜等を構成する樹脂の表面に、レリーフパターンを形成すること、並びに、該表面に半導体装置の製品仕様、ロット番号及び製造年月日を刻印すること、等のためには、波長532nmのグリーンレーザーを搭載したレーザー装置を用いることが一般的である。レーザー処理したときに、所望のレリーフパターンを形成でき、また、刻印できるためには、パッシベーション膜、表面保護膜、及び層間絶縁膜等が、レーザー波長に対して吸収を有することが求められる。
【0005】
ここで、ポリイミド膜に顔料を添加することで該ポリイミド膜に適度な光吸収を持たせる手法が知られている。例えば、特許文献1では、ベンゾフラノン構造を有する黒色顔料及び/又はペリレン系黒色顔料を用いて、ポリイミド膜を着色する旨が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】特許第6891880号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
しかしながら、一般的な顔料を添加して着色したポリイミド膜は、引張応力が掛かる場合に顔料成分が破断点となり易く、そのため、良好な膜伸度を達成することが不可能である、という問題があった。
【0008】
本発明は、このような実情に鑑みて為された。すなわち、本発明の目的は、特定の特性を備える顔料を用いることにより、十分な着色度合いを発現することができ、かつ、十分な膜伸度を保持したポリイミド膜(硬化レリーフパターン)を得ることができる、樹脂組成物を提供することである。また、本発明の目的は、かかる樹脂組成物を用いた硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明の一態様は以下のとおりである。
<1>
以下の成分:
(A)下記一般式(A1):
【化1】
(式中、Xは、4価の有機基であり、Yは、2価の有機基であり、R及びRは、水素原子、重合性基、又は炭素数1~4の飽和脂肪族基である。但し、R及びRは同時に水素原子ではない。)
で表されるポリイミド前駆体;
(B)顔料;及び
(C)有機溶媒;
を含む樹脂組成物であって、
前記(B)顔料の一次粒子径が20nm以上50nm以下であり、かつpHが4以上、9以下であり、前記(B)成分の含有量が、前記(A)成分100質量部に対して、0.5~20質量部であることを特徴とする樹脂組成物。
<2>
前記一般式(A1)において、前記R及びRが、下記一般式(R):
【化2】
(式中、R、R及びRは、水素原子又は炭素数1~3の有機基であり、pは、2~10から選ばれる整数である。)で表される構造を含む、項目1に記載の樹脂組成物。
<3>
前記一般式(A1)において、前記Xが、下記式(2):
【化3】
で表される構造を含む、項目1又は2に記載の樹脂組成物。
<4>
前記一般式(A1)において、前記Yが、下記式(8):
【化4】
及び/又は下記式(9):
【化5】
で表される構造を含む、項目1~3のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
<5>
前記(B)成分が、カーボンブラック、チタンブラック又は窒化ジルコニアである、項目1~4のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
<6>
(D)光重合開始剤をさらに含む、項目1~5のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
<7>
前記(D)成分の含有量が、前記(A)成分100質量部に対して、1~50質量部である、項目6に記載の樹脂組成物。
<8>
前記(C)成分が、N-メチル-2-ピロリドン(NMP)、γ-ブチロラクトン(GBL)、ジメチルスルホキシド(DMSO)、3-メトキシ-N,N-ジメチルプロパンアミド、及び乳酸エチルから成る群より選ばれる少なくとも1つを含む、項目1~7のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
<9>
(1)項目1~8のいずれか1項に記載の樹脂組成物を基板に塗布することにより、樹脂組成物膜を形成する工程と、
(2)前記樹脂組成物膜を露光、及び現像する工程、又は前記樹脂組成物膜にレーザー照射する工程により、レリーフパターンを形成する工程と、
(3)前記レリーフパターンを加熱して硬化レリーフパターンを形成する工程と、
を有する、硬化レリーフパターンの製造方法。
<10>
前記基板が、銅又は銅合金から形成されて成る、項目9に記載の硬化レリーフパターンの製造方法。
<11>
項目1~8のいずれか1項に記載の樹脂組成物の硬化物を絶縁層として有する、半導体装置。
【発明の効果】
【0010】
本発明によれば、特定の特性を備える顔料を用いることにより、十分な着色度合いを発現することができ、かつ、十分な膜伸度を保持したポリイミド膜(硬化レリーフパターン)を得ることができる、樹脂組成物を提供することができる。また、本発明によれば、かかる樹脂組成物を用いた硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0011】
図1】本実施形態に係る半導体装置の一態様を示す、断面模式図である。
図2】本実施形態に係る半導体装置の一態様を示す、平面模式図である。
図3】本実施形態に係る半導体装置の製造工程の一例である。
図4】本実施形態に係る半導体装置の、他の態様を示す断面模式図である。
【発明を実施するための形態】
【0012】
以下、本発明の実施の形態(以下、「本実施形態」と称する。)について具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。本明細書中、ある一般式において同一符号で表されている構造は、それが分子中に複数存在する場合、互いに同一でも異なってもよい。本明細書中、「~」を用いて記載した数値範囲は、「~」の前後の数値を下限値及び上限値として含む数値範囲を表す。また、本明細書中、段階的に記載されている数値範囲において、ある数値範囲で記載された上限値又は下限値は、他の段階的な記載の数値範囲の上限値又は下限値に置き換わってよい。また、本明細書中、ある数値範囲で記載された上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換わってよい。
【0013】
[樹脂組成物]
本実施形態の樹脂組成物は、(A)ポリイミド前駆体と、(B)顔料と、(C)有機溶媒と、を含有する。本実施形態の樹脂組成物によれば、膜物性を悪化させることなく、良好な着色度合いを発現することができる。
【0014】
ここで、本実施形態の樹脂組成物は、
以下の成分:
(A)下記一般式(A1):
【化6】
{式中、Xは、4価の有機基であり、Yは、2価の有機基であり、R及びRは、水素原子、重合性基、又は炭素数1~4の飽和脂肪族基であり、但し、R及びRは同時に水素原子ではなく、そして好ましくは下記一般式(R):
【化7】
(式中、R、R及びRは、水素原子又は炭素数1~3の有機基であり、pは、2~10から選ばれる整数である。)で表される1価の有機基、又は炭素数1~4の飽和脂肪族基であり、但し、R及びRは同時に水素原子ではない。}
で表されるポリイミド前駆体;
(B)顔料;及び
(C)有機溶媒
を含む樹脂組成物であって、
前記(B)顔料の一次粒子径が20nm以上50nm以下であり、かつpHが4以上、9以下であることを特徴とする。
このような樹脂組成物によれば、十分な着色度合いを発現することができ、かつ、十分な膜伸度を保持したポリイミド膜(硬化レリーフパターン)を得ることができる。
【0015】
≪(A)成分;ポリイミド前駆体≫
本実施形態の(A)成分は、上記一般式(A1)で表されるポリイミド前駆体である。
これによれば、露光時に(C)光重合開始剤を効果的に作用させ易くなり、その結果、各種特性に優れた硬化レリーフパターンを得易くなる。
【0016】
<上記一般式(A1)中のX>
上記一般式(A1)中、Xで表される4価の有機基は、例えば、(A)成分の原料であるテトラカルボン酸二無水物に由来する有機基である。かかる有機基は、好ましくは、炭素数6~40の有機基であり、更に好ましくは、
(1)-COOR基及び-CONH-基が同一の環に結合している;
(2)-COOR基及び-CONH-基が互いにオルト位置にある;
の両者を満たす、4価の芳香族基又は4価の脂環式脂肪族基である。上記(1)において、-COOR基が結合している芳香環と、-COOR基が結合している芳香環とは、同一でも異なってもよい。この文脈における「環」は、好ましくはベンゼン環である。また、この文脈における-COOR基におけるRは、上記一般式(R)で表される1価の有機基であることが好ましい。
【0017】
Xで表される4価の有機基として、特に好ましくは、下記式:
【化8】
で表される構造が挙げられる。Xは、1種でも2種以上の組み合わせでも構わない。
【0018】
本実施形態では、良好な膜物性を発現する観点から、上記Xは、下記式(1)~(3):
【化9】
【化10】
【化11】
で表される群から選択される少なくとも一つの構造を含むことが好ましい。
【0019】
本実施形態では、良好な膜物性(例えば、膜伸度)を発現する観点から、(A)成分において、上記Xが、下記式(2):
【化12】
で表される構造を含むことが好ましい。すなわち、(A)成分は、ODPA(4,4’-オキシジフタル酸無水物)由来の構造を含むことが好ましい。
【0020】
上記一般式(A1)におけるR及びRXの少なくとも一方が、上記一般式(R)で表される1価の有機基である場合、その一般式(R)中のRは、水素原子又はメチル基が好ましく、R及びRは、感光特性の観点から、それぞれ水素原子が好ましい。また、pは、感光特性の観点から、好ましくは2以上10以下の整数、より好ましくは2以上4以下の整数である。
【0021】
<上記一般式(A1)中のY>
上記一般式(A1)中、Yで表される2価の有機基は、例えば、(A)成分の原料であるジアミンに由来する有機基である。かかる有機基は、好ましくは、炭素数6~40の芳香族基であり、例えば、下記式:
【化13】
{上記式中、Aは、それぞれ独立に、メチル基(-CH)、エチル基(-C)、プロピル基(-C)、ブチル基(-C)、又はトリフルオロメチル基(-CF)である。}で表される構造が挙げられる。Yは、1種でも2種以上の組み合わせでも構わない。
【0022】
本実施形態では、良好な膜物性を発現する観点から、上記Yは、下記一般式(4)~(7):
【化14】
【化15】
【化16】
【化17】
{上記式中、Aは、それぞれ独立に、メチル基(-CH)、エチル基(-C)、プロピル基(-C)、ブチル基(-C)、又はトリフルオロメチル基(-CF)である。}で表される群から選択される少なくとも一つの構造を含むことが好ましい。
【0023】
なかでも、本実施形態では、良好な膜物性(例えば、膜伸度)を発現する観点から、(A)成分において、上記Yが、下記式(8):
【化18】
及び/又は下記式(9):
【化19】
で表される構造を含むことが好ましい。すなわち、(A)成分は、DADPE(4,4’-ジアミノジフェニルエーテル)由来の構造、及び/又はm-TB(2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル)由来の構造を含むことが好ましい。
【0024】
<上記一般式(A1)中のX及びYの組み合わせの一例>
本実施形態では、一般式(A1)において、上記Xが、下記式(2):
【化20】
で表される構造を含み、かつ、上記Yが、下記式(8):
【化21】
で表される構造を含むことが、接着性をより高め、かつ、良好な膜物性を発現する観点から好ましい。
【0025】
また、本実施形態では、一般式(A1)において、上記Xが、下記式(2):
【化22】
で表される構造を含み、かつ、上記Yが、下記式(9):
【化23】
及び、下記式(10):
【化24】
で表される群より選択される少なくとも一つの構造を含むことが、良好な膜物性を発現する観点から好ましい。
【0026】
上記を含め、本実施形態における、上記X及び上記Yの組み合わせの一例は、下記のとおりである。これらの組み合わせによれば、樹脂組成物、及び/又は、これから得られる硬化レリーフパターンについて、各種特性の向上を図り易い。所定番号におけるX及びYの組み合わせと、他の番号におけるX及びYの組み合わせとは、併用されてよい。
【表1-1】
【表1-2】
【0027】
<(A)成分の物性>
(A)成分の重量平均分子量は、加熱(キュア)後に得られるポリイミド膜の、耐熱性及び機械特性の観点から、好ましくは1,000以上、より好ましくは5,000以上であり、また、好ましくは100,000以下である。有機溶媒に対する溶解性の観点から、(A)成分の重量平均分子量は、50,000以下がより好ましい。本実施形態の樹脂組成物は感光性を有するところ、露光感度、並びに、露光及び現像後に得られるパターンの解像度と、かかるパターンに対する加熱(キュア)後の膜物性と、の両立の観点から、(A)成分の重量平均分子量は、好ましくは6,000以上、7,000以上、8,000以上であり、また、好ましくは、40,000以下、30,000以下、22,000以下である。「重量平均分子量」は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによるポリスチレン換算値として算出される。
【0028】
≪(B)成分;顔料≫
本実施形態の樹脂組成物は、上記(B)成分を含む。(B)顔料(pigment)は、溶媒(主として水)には溶解しない点で、溶媒に溶解すると定義される「染料(dye)」とは異なる。(B)成分としては、波長400~800nm付近に極大吸収波長をもつ顔料が好ましく挙げられる。
【0029】
(B)成分は、可視域の波長を好適に吸収すること、及び、レーザー光に対する散乱特性が低いこと、の少なくとも一つを満たす顔料を、1つまたは複数種の組み合せたものが好ましい。ここで言う「レーザー光」は、例えば、波長532nmのグリーンレーザーによるレーザー光であってよい。
【0030】
(B)成分としての顔料は一次粒子径が20nm以上50nm以下である。一次粒子径が当該範囲に入ることによって、十分な着色度合いを発現することができ、かつ、十分な膜伸度を保持したポリイミド膜を得ることができる、樹脂組成物を提供することができる。一次粒子径が当該範囲よりも大きいと、ポリイミド膜に応力が掛かった際、(B)成分が破断点となり、膜が容易に破断し易くなるため良好な膜伸度が得られない。また、当該範囲よりも小さい場合でも、(B)成分が容易に凝集体を形成するようになり、ポリイミド膜が容易に破断し易くなる。(B)成分の一次粒子径の好ましい範囲は20nm以上40nm以下である。
【0031】
(B)成分の一次粒子径は、例えば、透過型電子顕微鏡により測定することができる。好ましい一次粒子径の測定手法の一例としては、(B)成分を150kHz、0.4kWの超音波分散機により、10分間クロロホルムに分散させて分散試料を作製し、これをカーボン補強した支持膜に振り掛けて固定し、これを透過型電子顕微鏡で撮影し、50000~200000倍に拡大した画像からEndterの装置を用いてランダムに1000個以上の(B)成分の粒子径を測定し、その平均値を平均一次粒子径とする、などの方法により算出することができる。
【0032】
(B)成分としての顔料は、pHが4以上、9以下である。pHが当該範囲に入ることによって、十分な膜伸度を保持したポリイミド膜を得ることができる。理由は定かではないが、(B)成分としての顔料のpHが当該範囲に入ることによって、ポリイミド膜の前駆体である(A)成分であるポリイミド前駆体と適度な相互作用を発現し、良好な膜物性が得られると考えられる。このような考え方から、顔料のpHは、4.5~8.5の範囲内にあることが好ましく、5.0~8.0の範囲内にあることがより好ましく、5.5~7.5の範囲内にあることが更に好ましい。顔料のpHは、例えば、実施例に記載の方法により測定することができる。
【0033】
(B)成分は、一次粒子径が20nm以上50nm以下であり、かつpHが4以上、9以下であれば特に限定されず使用することができ、目的に応じて公知の有機顔料、および、無機顔料を用いることができる。また、市販の顔料分散体や表面処理された顔料も適宜用いることができる。
【0034】
有機顔料、又は無機顔料としては、例えば、黒色顔料、白色顔料、青色顔料、シアン顔料、緑色顔料、橙色顔料、紫色顔料、褐色顔料、黄色顔料、赤色顔料、マゼンタ顔料等が挙げられる。中でも、グリーンレーザー波長である532nmに吸収を持つ観点から、黒色顔料が好ましく用いられる。
【0035】
有機顔料としては、例えば、ジケトピロロピロール系顔料、アゾ、ジスアゾもしくはポリアゾ等のアゾ系顔料、銅フタロシアニン、ハロゲン化銅フタロシアニンもしくは無金属フタロシアニン等のフタロシアニン系顔料、アミノアントラキノン、ジアミノジアントラキノン、アントラピリミジン、フラバントロン、アントアントロン、インダントロン、ピラントロンもしくはビオラントロン等のアントラキノン系顔料、キナクリドン系顔料、ジオキサジン系顔料、ペリノン系顔料、ペリレン系顔料、チオインジゴ系顔料、イソインドリン系顔料、イソインドリノン系顔料、キノフタロン系顔料、スレン系顔料、ベンゾフラノン系、又は金属錯体系顔料が挙げられる。
【0036】
無機顔料としては、例えば、酸化チタン、亜鉛華、硫化亜鉛、鉛白、炭酸カルシウム、沈降性硫酸バリウム、ホワイトカーボン、アルミナホワイト、カオリンクレー、タルク、ベントナイト、黒色酸化鉄、カドミウムレッド、べんがら、モリブデンレッド、モリブデートオレンジ、クロムバーミリオン、黄鉛、カドミウムイエロー、黄色酸化鉄、チタンイエロー、酸化クロム、ビリジアン、チタンコバルトグリーン、コバルトグリーン、コバルトクロムグリーン、ビクトリアグリーン、群青、紺青、コバルトブルー、セルリアンブルー、コバルトシリカブルー、コバルト亜鉛シリカブルー、マンガンバイオレット又はコバルトバイオレットが挙げられる。
【0037】
(B)成分としての好ましい様態として、グラファイト、カーボンブラック、チタンブラック、酸化鉄、または、窒化ジルコニアなどが挙げることができ、中でもカーボンブラック、チタンブラック、窒化ジルコニアを好ましく用いることができる。
【0038】
カーボンブラックの好ましい例は、市販品として購入できるカーボンブラックを用いることができるが、好ましい一例としては三菱ケミカル株式会社製の#20,#25,#23,#30,#40,#44,#260,#750B,MA600、岩谷産業社製のN134,N220,N330,N339,N550,N660、デンカ株式会社製のデンカブラック(粉状品)などが挙げられる。
【0039】
チタンブラックの好ましい例は、市販品として購入できるチタンブラックを用いることができるが、赤穂化成株式会社製のTilackD TS-M-CSMなどを好ましく用いることができる。
【0040】
窒化ジルコニアの好ましい例は、市販品として購入できる窒化ジルコニアを用いることができるが、三菱マテリアル電子化成株式会社製のUB-1,UB-2などを好ましく用いることができる。
【0041】
本発明の効果を奏し易い観点から、(B)成分の含有量は、(A)成分100質量部に対して、0.5~20質量部であり、好ましくは0.5~10質量部、更に好ましくは1~5質量部である。(B)成分の含有量が上記下限値より少ないと、着色性が十分に得られない。(B)成分の含有量が上記上限値より多いと、得られるポリイミド膜の膜物性が悪化し易い。(B)成分は、単独で使用してもよく2種以上を併用してもよい。
【0042】
≪(C)成分;有機溶媒≫
本実施形態の樹脂組成物は、上記(C)成分を含む。
(C)成分としては、例えば、(A)成分に対する溶解性の点から、極性を有する有機溶媒が好ましく挙げられる。具体的には、N,N-ジメチルホルムアミド、N-メチル-2-ピロリドン、N-エチル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド(DMSO)、ジエチレングリコールジメチルエーテル、シクロペンタノン、γ-ブチロラクトン(GBL)、α-アセチル-γ-ブチロラクトン、テトラメチル尿素、1,3-ジメチル-2-イミダゾリノン、N-シクロヘキシル-2-ピロリドン等が挙げられる。これらは、単独又は2種以上の組合せで用いることができる。
【0043】
また、(C)成分としては、樹脂組成物の保存安定性を向上させる観点から、アルコール類が好ましく挙げられる。好適なアルコール類は、分子内にアルコール性水酸基を持ち、かつ、オレフィン系二重結合を有さないアルコールである。具体的には、
メチルアルコール、エチルアルコール、n-プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、n-ブチルアルコール、イソブチルアルコール、tert-ブチルアルコール等のアルキルアルコール類;
乳酸エチル等の乳酸エステル類;
プロピレングリコール-1-メチルエーテル、プロピレングリコール-2-メチルエーテル、プロピレングリコール-1-エチルエーテル、プロピレングリコール-2-エチルエーテル、プロピレングリコール-1-(n-プロピル)エーテル、プロピレングリコール-2-(n-プロピル)エーテル等のプロピレングリコールモノアルキルエーテル類;
エチレングリコールメチルエーテル、エチレングリコールエチルエーテル、エチレングリコール-n-プロピルエーテル等のモノアルコール類;
2-ヒドロキシイソ酪酸エステル類;
エチレングリコール、プロピレングリコール等のジアルコール類;
等が挙げられる。なかでも、乳酸エステル類、プロピレングリコールモノアルキルエーテル類、2-ヒドロキシイソ酪酸エステル類、及びエチルアルコールが好ましく、特に、乳酸エチル、プロピレングリコール-1-メチルエーテル、プロピレングリコール-1-エチルエーテル、及びプロピレングリコール-1-(n-プロピル)エーテルがより好ましい。
【0044】
(C)成分は、樹脂組成物の塗布膜厚、及び/又は粘度に応じ、(A)成分の100質量部に対して、30~1,500質量部、好ましくは100~1,000質量部で用いられる。(C)成分が、オレフィン系二重結合を有さないアルコールを含む場合、(C)成分の全量に占める、オレフィン系二重結合を有さないアルコールの割合は、好ましくは5~50質量%、より好ましくは10~30質量%である。オレフィン系二重結合を有さないアルコールの上記割合が5質量%以上の場合、樹脂組成物の保存安定性が良好になり、50質量%以下の場合、(A)成分の溶解性が良好になる。
【0045】
以上を総合的に鑑みると、(C)成分のなかでも、N-メチル-2-ピロリドン、GBL、DMSO、3-メトキシ-N,N-ジメチルプロパンアミド、及び乳酸エチルから成る群より選択される少なくとも1種が特に好ましい。(C)成分は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0046】
≪(D)成分;光重合開始剤≫
本実施形態の樹脂組成物は、上記(D)成分を更に含むことができる。(D)成分は、特定の波長を吸収して分解することで、ラジカルを発生することができる。本実施形態の樹脂組成物が(D)成分を更に含むことにより、感光性樹脂組成物として好適に用いることができる。
【0047】
(D)成分としては、
ベンゾフェノン、o-ベンゾイル安息香酸メチル、4-ベンゾイル-4’-メチルジフェニルケトン、ジベンジルケトン、フルオレノン等のベンゾフェノン誘導体;
2,2’-ジエトキシアセトフェノン、2-ヒドロキシ-2-メチルプロピオフェノン、1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン等のアセトフェノン誘導体;
チオキサントン、2-メチルチオキサントン、2-イソプロピルチオキサントン、ジエチルチオキサントン等のチオキサントン誘導体;
ベンジル、ベンジルジメチルケタール、ベンジル-β-メトキシエチルアセタール等のベンジル誘導体;
ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル等のベンゾイン誘導体;
1-フェニル-1,2-ブタンジオン-2-(o-メトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-(o-メトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-(o-エトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-(o-ベンゾイル)オキシム、1,3-ジフェニルプロパントリオン-2-(o-エトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-3-エトキシプロパントリオン-2-(o-ベンゾイル)オキシム等のオキシム類;
N-フェニルグリシン等のN-アリールグリシン類;
ベンゾイルパークロライド等の過酸化物類;
芳香族ビイミダゾール類
チタノセン類;
α-(n-オクタンスルフォニルオキシイミノ)-4-メトキシベンジルシアニド等の光酸発生剤類;
等が好ましく挙げられる。なかでも、光感度の点で、オキシム類がより好ましい。
【0048】
オキシム類のなかでも、樹脂組成物と基板との接着性の観点から、下記式(D1)~(D6):
【化25】
【化26】
(式中、R39は、メチル基又はフェニル基であり、R40は、それぞれ独立に炭素数1~12の1価の有機基であり、Zは、イオウ又は酸素原子であり、R41は、メチル基、フェニル基又は2価の有機基であり、R42~R44は、水素原子又は1価の有機基である。)
で表される群より選択される少なくとも一つの構造を含むものが更に好ましい。
【0049】
(D)成分の機能の好適な発現の観点、ひいては、本発明の効果を奏し易い観点から、樹脂組成物は、(A)成分100質量部に対して、(D)成分を0.1~100質量部含むことが好ましく、1~50質量部含むことがより好ましい。
【0050】
≪(E)成分;その他の成分≫
本実施形態の樹脂組成物は、上記(A)~(D)以外の成分((E)成分;その他の成分)を、(A)~(C)成分とともに、又は(A)~(D)成分とともに、更に含有してよい。
【0051】
(E)成分としては、例えば、不飽和結合を有する架橋剤が挙げられる。これにより、(D)成分を更に含有する場合、本実施形態の樹脂組成物を感光性樹脂組成物としてより好適に用い易くなる。このほか、(E)成分としては、
(A)成分以外の樹脂;
増感剤;
接着助剤;
重合禁止剤;
アゾール化合物;
ヒンダードフェノール化合物;
等が挙げられる。(E)成分は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0052】
((E-1)架橋剤)
本実施形態の樹脂組成物は、ポリイミド膜(硬化レリーフパターン)の物性、及び解像性を向上させる観点から、光重合性の不飽和結合を有する架橋剤を含有してよい。このような架橋剤としては、(D)成分によってラジカル重合反応することができる、(メタ)アクリル化合物が挙げられる。このような化合物としては、
ジエチレングリコールジメタクリレート、テトラエチレングリコールジメタクリレートをはじめとする、エチレングリコール又はポリエチレングリコールのモノ又はジ(メタ)アクリレート;
プロピレングリコール又はポリプロピレングリコールのモノ又はジ(メタ)アクリレート;
グリセロールのモノ、ジ又はトリ(メタ)アクリレート;
シクロヘキサンジ(メタ)アクリレート;
1,4-ブタンジオールのジアクリレート及びジメタクリレート、1,6-ヘキサンジオールのジ(メタ)アクリレート;
ネオペンチルグリコールのジ(メタ)アクリレート;
ビスフェノールAのモノ又はジ(メタ)アクリレート;
ベンゼントリメタクリレート;
イソボルニル(メタ)アクリレート;
アクリルアミド及びその誘導体;
メタクリルアミド及びその誘導体;
トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート;
グリセロールのジ又はトリ(メタ)アクリレート;
ペンタエリスリトールのジ、トリ、又はテトラ(メタ)アクリレート;
並びにこれら化合物のエチレンオキサイド又はプロピレンオキサイド付加物;
等が好ましく挙げられる。
【0053】
光重合性の不飽和結合を有する架橋剤の含有量は、(A)成分100質量部に対して、好ましくは1~100質量部、より好ましくは2~50質量部である。光重合性の不飽和結合を有する架橋剤は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0054】
((E-2)(A)成分以外の樹脂)
本実施形態の樹脂組成物は、(A)成分以外の樹脂成分を含有してよい。このような樹脂成分は、例えば、ポリイミド、ポリオキサゾール、ポリオキサゾール前駆体、フェノール樹脂、ポリアミド、エポキシ樹脂、シロキサン樹脂、アクリル樹脂等である。(E)成分としてポリイミドを含有する場合、そのポリイミドは、(A)成分の骨格に由来する骨格を有するポリイミドであってもよく、また、該骨格を有しないポリイミドであってもよい。
【0055】
(A)成分以外の樹脂成分の樹脂成分の配合量は、(A)成分100質量部に対して、好ましくは0.01~20質量部である。(A)成分以外の樹脂成分は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0056】
((E-3)増感剤)
本実施形態の樹脂組成物を感光性樹脂組成物として用いる場合、光感度を向上させるため、該樹脂組成物は、増感剤を任意に含有してよい。該増感剤としては、例えば、ミヒラーズケトン、4,4’-ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、2,5-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)シクロペンタン、2,6-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)シクロヘキサノン、2,6-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)-4-メチルシクロヘキサノン、4,4’-ビス(ジメチルアミノ)カルコン、4,4’-ビス(ジエチルアミノ)カルコン、p-ジメチルアミノシンナミリデンインダノン、p-ジメチルアミノベンジリデンインダノン、2-(p-ジメチルアミノフェニルビフェニレン)-ベンゾチアゾール、2-(p-ジメチルアミノフェニルビニレン)ベンゾチアゾール、2-(p-ジメチルアミノフェニルビニレン)イソナフトチアゾール、1,3-ビス(4’-ジメチルアミノベンザル)アセトン、1,3-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)アセトン、3,3’-カルボニル-ビス(7-ジエチルアミノクマリン)、3-アセチル-7-ジメチルアミノクマリン、3-エトキシカルボニル-7-ジメチルアミノクマリン、3-ベンジロキシカルボニル-7-ジメチルアミノクマリン、3-メトキシカルボニル-7-ジエチルアミノクマリン、3-エトキシカルボニル-7-ジエチルアミノクマリン、N-フェニル-N’-エチルエタノールアミン、N-フェニルジエタノールアミン、N-p-トリルジエタノールアミン、N-フェニルエタノールアミン、4-モルホリノベンゾフェノン、ジメチルアミノ安息香酸イソアミル、ジエチルアミノ安息香酸イソアミル、2-メルカプトベンズイミダゾール、1-フェニル-5-メルカプトテトラゾール、2-メルカプトベンゾチアゾール、2-(p-ジメチルアミノスチリル)ベンズオキサゾール、2-(p-ジメチルアミノスチリル)ベンズチアゾール、2-(p-ジメチルアミノスチリル)ナフト(1,2-d)チアゾール、2-(p-ジメチルアミノベンゾイル)スチレン、ジフェニルアセトアミド、ベンズアニリド、N-メチルアセトアニリド、3‘,4’-ジメチルアセトアニリド等が挙げられる。
【0057】
増感剤の含有量は、(A)成分100質量部に対して、0.1~25質量部が好ましい。増感剤は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0058】
((E-4)接着助剤)
樹脂組成物と基板との接着性の向上のため、該樹脂組成物は、接着助剤を任意に含有してよい。接着助剤としては、例えば、γ-アミノプロピルジメトキシシラン、N-(β-アミノエチル)-γ-アミノプロピルメチルジメトキシシラン、γ-グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、γ-メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルジメトキシメチルシラン、3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、ジメトキシメチル-3-ピペリジノプロピルシラン、ジエトキシ-3-グリシドキシプロピルメチルシラン、N-(3-ジエトキシメチルシリルプロピル)スクシンイミド、N-〔3-(トリエトキシシリル)プロピル〕フタルアミド酸、ベンゾフェノン-3,3’-ビス(N-〔3-トリエトキシシリル〕プロピルアミド)-4,4’-ジカルボン酸、ベンゼン-1,4-ビス(N-〔3-トリエトキシシリル〕プロピルアミド)-2,5-ジカルボン酸、3-(トリエトキシシリル)プロピルスクシニックアンハイドライド、N-フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン等のシランカップリング剤、及びアルミニウムトリス(エチルアセトアセテート)、アルミニウムトリス(アセチルアセトネート)、エチルアセトアセテートアルミニウムジイソプロピレート等のアルミニウム系接着助剤が挙げられる。なかでも、接着性の観点から、シランカップリング剤が好ましい。
【0059】
接着助剤の含有量は、(A)成分100質量部に対して、0.5~25質量部が好ましい。接着助剤は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0060】
((E-5)重合禁止剤)
本実施形態の樹脂組成物は、(C)成分として有機溶媒を含むために溶液状態にある。この場合、保存時の粘度及び光感度の安定性を向上させるため、該樹脂組成物は、熱重合禁止剤を任意に含有してよい。熱重合禁止剤としては、例えば、ヒドロキノン、N-ニトロソジフェニルアミン、p-tert-ブチルカテコール、フェノチアジン、N-フェニルナフチルアミン、エチレンジアミン四酢酸、1,2-シクロヘキサンジアミン四酢酸、グリコールエーテルジアミン四酢酸、2,6-ジ-tert-ブチル-p-メチルフェノール、5-ニトロソ-8-ヒドロキシキノリン、1-ニトロソ-2-ナフトール、2-ニトロソ-1-ナフトール、2-ニトロソ-5-(N-エチル-N-スルフォプロピルアミノ)フェノール、N-ニトロソ-N-フェニルヒドロキシルアミンアンモニウム塩、N-ニトロソ-N(1-ナフチル)ヒドロキシルアミンアンモニウム塩、2,2,6,6-テトラメチルピペリジン1オキシル等が挙げられる。
【0061】
熱重合禁止剤の含有量は、(A)成分100質量部に対して、0.005~12質量部が好ましい。熱重合禁止剤は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0062】
((E-6)アゾール化合物)
本実施形態の樹脂組成物を塗布する基板が、銅又は銅合金を含む場合、銅表面の変色を抑制するため、該樹脂組成物はアゾール化合物を任意に含有してよい。アゾール化合物としては、例えば、1H-トリアゾール、5-メチル-1H-トリアゾール、5-エチル-1H-トリアゾール、4,5-ジメチル-1H-トリアゾール、5-フェニル-1H-トリアゾール、4-t-ブチル-5-フェニル-1H-トリアゾール、5-ヒドロキシフェニル-1H-トリアゾール、フェニルトリアゾール、p-エトキシフェニルトリアゾール、5-フェニル-1-(2-ジメチルアミノエチル)トリアゾール、5-ベンジル-1H-トリアゾール、ヒドロキシフェニルトリアゾール、1,5-ジメチルトリアゾール、4,5-ジエチル-1H-トリアゾール、1H-ベンゾトリアゾール、2-(5-メチル-2-ヒドロキシフェニル)ベンゾトリアゾール、2-[2-ヒドロキシ-3,5-ビス(α,α-ジメチルベンジル)フェニル]-ベンゾトリアゾール、2-(3,5-ジ-t-ブチル-2-ヒドロキシフェニル)ベンゾトリアゾール、2-(3-t-ブチル-5-メチル-2-ヒドロキシフェニル)-ベンゾトリアゾール、2-(3,5-ジ-t-アミル-2-ヒドロキシフェニル)ベンゾトリアゾール、2-(2’-ヒドロキシ-5’-t-オクチルフェニル)ベンゾトリアゾール、ヒドロキシフェニルベンゾトリアゾール、トリルトリアゾール、5-メチル-1H-ベンゾトリアゾール、4-メチル-1H-ベンゾトリアゾール、4-カルボキシ-1H-ベンゾトリアゾール、5-カルボキシ-1H-ベンゾトリアゾール、1H-テトラゾール、5-メチル-1H-テトラゾール、5-フェニル-1H-テトラゾール、5-アミノ-1H-テトラゾール、1-メチル-1H-テトラゾール等が挙げられる。なかでも、トリルトリアゾール、5-メチル-1H-ベンゾトリアゾール、及び4-メチル-1H-ベンゾトリアゾールから成る群より選択される少なくとも一種以上が好ましい。
【0063】
アゾール化合物の含有量は、接着性の観点から、(A)成分100質量部に対して、好ましくは0.1~20質量部、より好ましくは0.5~5質量部である。アゾール化合物の含有量が0.1質量部以上である場合、本実施形態の樹脂組成物を基板上に形成した場合、その基板に含まれる銅又は銅合金の変色を抑制し易く、また、20質量部以下である場合、該樹脂組成物が良好な保存安定性を示し易い。アゾール化合物は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0064】
((E-7)ヒンダードフェノール化合物)
基板表面の変色を抑制するため、本実施形態の樹脂組成物は、上記アゾール化合物に代えて、又はアゾール化合物とともに、ヒンダードフェノール化合物を任意に含有してよい。ヒンダードフェノール化合物としては、例えば、2,6-ジ-t-ブチル-4-メチルフェノール、2,5-ジ-t-ブチル-ハイドロキノン、オクタデシル-3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネ-ト、イソオクチル-3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート、4、4’-メチレンビス(2、6-ジ-t-ブチルフェノール)、4,4’-チオ-ビス(3-メチル-6-t-ブチルフェノール)、4,4’-ブチリデン-ビス(3-メチル-6-t-ブチルフェノール)、トリエチレングリコール-ビス〔3-(3-t-ブチル-5-メチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート〕、1,6-ヘキサンジオール-ビス〔3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート〕、2,2-チオ-ジエチレンビス〔3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート〕、N,N’ヘキサメチレンビス(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシ-ヒドロシンナマミド)、2,2’-メチレン-ビス(4-メチル-6-t-ブチルフェノール)、2,2’-メチレン-ビス(4-エチル-6-t-ブチルフェノール)、ペンタエリスリチル-テトラキス〔3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート〕、トリス-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシベンジル)-イソシアヌレイト、1,3,5-トリメチル-2,4,6-トリス(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシベンジル)ベンゼン、1,3,5-トリス(3-ヒドロキシ-2,6-ジメチル-4-イソプロピルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-3-ヒドロキシ-2,6-ジメチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-s-ブチル-3-ヒドロキシ-2,6-ジメチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス[4-(1-エチルプロピル)-3-ヒドロキシ-2,6-ジメチルベンジル]-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス[4-トリエチルメチル-3-ヒドロキシ-2,6-ジメチルベンジル]-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(3-ヒドロキシ-2,6-ジメチル-4-フェニルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-3-ヒドロキシ-2,5,6-トリメチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-5-エチル-3-ヒドロキシ-2,6-ジメチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-6-エチル-3-ヒドロキシ-2-メチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-6-エチル-3-ヒドロキシ-2,5-ジメチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-5,6-ジエチル-3-ヒドロキシ-2-メチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-3-ヒドロキシ-2-メチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-3-ヒドロキシ-2,5-ジメチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-5‐エチル-3-ヒドロキシ-2-メチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオン等が挙げられる。なかでも、1,3,5-トリス(4-t-ブチル-3-ヒドロキシ-2,6-ジメチルベンジル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6-(1H,3H,5H)-トリオンが好ましい。
【0065】
ヒンダードフェノール化合物の含有量は、樹脂組成物と基板との接着性の観点から、(A)成分100質量部に対して、好ましくは0.1~20質量部、より好ましくは0.5~10質量部である。ヒンダードフェノール化合物の含有量が0.1質量部以上である場合、本実施形態の樹脂組成物を基板上に形成した場合、その基板に含まれる銅又は銅合金の変色を抑制し易く、また、20質量部以下である場合、該樹脂組成物が良好な保存安定性を示し易い。
【0066】
≪(A)成分の調製方法≫
(A)成分は、各工程により調製することができる。
(1)所望の4価の有機基Xを有するテトラカルボン酸二無水物と、光重合性基(例えば、不飽和二重結合)を有するアルコール類と、を反応させて、部分的にエステル化したテトラカルボン酸(以下、「アシッド/エステル体」とも称する)を調製する。
(2)アシッド/エステル体と、2価の有機基Yを有するジアミン類と、をアミド重縮合させる。
上記(1)において、光重合性基を有するアルコール類とともに、飽和脂肪族アルコール類を任意に併用してよい。これらの化合物は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0067】
<アシッド/エステル体の調製>
(4価の有機基Xを有するテトラカルボン酸二無水物)
アシッド/エステル体を調製するために好適な、4価の有機基Xを有するテトラカルボン酸二無水物としては、例えば、ピロメリット酸無水物、ジフェニルエーテル-3,3’,4,4’-テトラカルボン酸二無水物、ベンゾフェノン-3,3’,4,4’-テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル-3,3’,4,4’-テトラカルボン酸二無水物、ジフェニルスルホン-3,3’,4,4’-テトラカルボン酸二無水物、ジフェニルメタン-3,3’,4,4’-テトラカルボン酸二無水物、2,2-ビス(3,4-無水フタル酸)プロパン、2,2-ビス(3,4-無水フタル酸)-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパンが挙げられる。
【0068】
(光重合性基を有するアルコール類)
アシッド/エステル体を調製するために好適な、光重合性基を有するアルコール類としては、例えば、2-アクリロイルオキシエチルアルコール、1-アクリロイルオキシ-3-プロピルアルコール、2-アクリルアミドエチルアルコール、メチロールビニルケトン、2-ヒドロキシエチルビニルケトン、2-ヒドロキシ-3-メトキシプロピルアクリレート、2-ヒドロキシ-3-ブトキシプロピルアクリレート、2-ヒドロキシ-3-フェノキシプロピルアクリレート、2-ヒドロキシ-3-ブトキシプロピルアクリレート、2-ヒドロキシ-3-t-ブトキシプロピルアクリレート、2-ヒドロキシ-3-シクロヘキシルオキシプロピルアクリレート、2-メタクリロイルオキシエチルアルコール、1-メタクリロイルオキシ-3-プロピルアルコール、2-メタクリルアミドエチルアルコール、2-ヒドロキシ-3-メトキシプロピルメタクリレート、2-ヒドロキシ-3-ブトキシプロピルメタクリレート、2-ヒドロキシ-3-フェノキシプロピルメタクリレート、2-ヒドロキシ-3-ブトキシプロピルメタクリレート、2-ヒドロキシ-3-t-ブトキシプロピルメタクリレート、2-ヒドロキシ-3-シクロヘキシルオキシプロピルメタクリレートが挙げられる。
【0069】
(飽和脂肪族アルコール類)
任意的に使用できる飽和脂肪族アルコール類としては、例えば、炭素数1~4の飽和脂肪族アルコールが挙げられる。具体的には、例えば、メタノール、エタノール、n-プロパノール、イソプロパノール、n-ブタノール、tert-ブタノールが好ましい。
【0070】
(反応溶媒及び反応条件)
上記テトラカルボン酸二無水物と上記アルコール類とは、好ましくはピリジン等の塩基性触媒の存在下、好ましくは適当な反応溶媒中、温度20~50℃で4~10時間に亘り、撹拌、及び混合されてよい。これにより、酸無水物のエステル化反応が進行し、所望のアシッド/エステル体を好適に得ることができる。
【0071】
上記反応溶媒としては、原料(テトラカルボン酸二無水物及びアルコール類)、並びに生成物であるアシッド/エステル体を溶解可能な溶媒が好ましい。より好ましくは、アシッド/エステル体とジアミンとのアミド重縮合生成物であるポリイミド前駆体を溶解可能な溶媒である。このような反応溶媒としては、例えば、N-メチル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルアセトアミド、N,N-ジメチルホルムアミド、DMSO、テトラメチル尿素、ケトン類、エステル類、ラクトン類、エーテル類、ハロゲン化炭化水素類、炭化水素類等が挙げられる。このうち、
ケトン類としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン;
エステル類としては、例えば、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、シュウ酸ジエチル;
ラクトン類としては、例えば、GBL;
エーテル類としては、例えば、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、テトラヒドロフラン;
ハロゲン化炭化水素類としては、例えば、ジクロロメタン、1,2-ジクロロエタン、1,4-ジクロロブタン、クロロベンゼン、o-ジクロロベンゼン;
炭化水素類としては、例えば、ヘキサン、ヘプタン、ベンゼン、トルエン、キシレン;
等が挙げられる。
【0072】
<(A)成分の調製>
アシッド/エステル体(典型的には、上記反応溶媒中に溶解された溶液状態にあるアシッド/エステル体)に、好ましくは氷冷下、適当な脱水縮合剤を投入混合してアシッド/エステル体を、中間体であるポリ酸無水物に変換する。これに、2価の有機基Yを有するジアミン類を別途溶媒に溶解又は分散させたものを滴下し、両者をアミド重縮合させることにより、目的の(A)成分が得られる。
【0073】
脱水縮合剤としては、例えば、ジシクロヘキシルカルボジイミド、1-エトキシカルボニル-2-エトキシ-1,2-ジヒドロキノリン、1,1-カルボニルジオキシ-ジ-1,2,3-ベンゾトリアゾール、N,N’-ジスクシンイミジルカーボネートが挙げられる。
【0074】
2価の有機基Yを有するジアミン類としては、例えば、p-フェニレンジアミン、m-フェニレンジアミン、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、3,4’-ジアミノジフェニルエーテル、3,3’-ジアミノジフェニルエーテル、4,4’-ジアミノジフェニルスルフィド、3,4’-ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’-ジアミノジフェニルスルフィド、4,4’-ジアミノジフェニルスルホン、3,4’-ジアミノジフェニルスルホン、3,3’-ジアミノジフェニルスルホン、4,4’-ジアミノビフェニル、3,4’-ジアミノビフェニル、3,3’-ジアミノビフェニル、4,4’-ジアミノベンゾフェノン、3,4’-ジアミノベンゾフェノン、3,3’-ジアミノベンゾフェノン、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、3,4’-ジアミノジフェニルメタン、3,3’-ジアミノジフェニルメタン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン、ビス〔4-(3-アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン、4,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4-ビス(3-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル〕エーテル、ビス〔4-(3-アミノフェノキシ)フェニル〕エーテル、1,4-ビス(4-アミノフェニル)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェニル)ベンゼン、9,10-ビス(4-アミノフェニル)アントラセン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)プロパン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2-ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2-ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン、1,4-ビス(3-アミノプロピルジメチルシリル)ベンゼン、オルト-トリジンスルホン、9,9-ビス(4-アミノフェニル)フルオレン等;
これらのベンゼン環上の水素原子の一部が、メチル基、エチル基、ヒドロキシメチル基、ヒドロキシエチル基、ハロゲン原子等で置換されたもの(置換体);
これらの混合物;
等が挙げられる。
【0075】
置換体の具体例としては、例えば、3,3’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン、3,3’-ジメチル-4,4’-ジアミノジフェニルメタン、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノジフェニルメタン、3,3’-ジメチトキシ-4,4’-ジアミノビフェニル、3,3’-ジクロロ-4,4’-ジアミノビフェニル等;
これらの混合物;
等が挙げられる。
【0076】
ジアミノシロキサン類は、樹脂組成物と基板との接着性の向上のため、(A)成分の調製に際して、2価の有機基Yを含むジアミン類と併用されてよい。ジアミノシロキサン類の具体例としては、例えば、1,3-ビス(3-アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン、1,3-ビス(3-アミノプロピル)テトラフェニルジシロキサン等が挙げられる。
【0077】
アミド重縮合の終了後、反応液中に共存している脱水縮合剤の吸水副生物を、必要に応じて濾別した後、重合体を含む溶液に適当な貧溶媒(例えば、水、脂肪族低級アルコール、その混合液)を投入し、重合体成分を析出させてよい。更に、再溶解、及び再沈操作を必要に応じて繰り返して重合体を精製した後、真空乾燥を行うことにより、目的の(A)成分を単離してよい。精製度を向上させるため、陰イオン、及び/又は陽イオン交換樹脂を適当な有機溶媒で膨潤させて充填したカラムに、この重合体を含む溶液を通過させ、イオン性不純物を除去してよい。
【0078】
(A)成分の重量平均分子量は、加熱後に得られるポリイミド膜(硬化レリーフパターン)の耐熱性、及び機械特性の観点から、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによるポリスチレン換算値として、好ましくは1,000以上、より好ましくは5,000以上であり、また、好ましくは100,000以下である。現像液に対する溶解性の観点から、重量平均分子量は、50,000以下がより好ましい。感度と解像度の両立の観点から、重量平均分子量は、好ましくは6,000~40,000、より好ましくは7,000~30,000、更に好ましくは8,000~22,000である。ゲルパーミエーションクロマトグラフィーの展開溶媒は、テトラヒドロフラン又はN-メチル-2-ピロリドンが推奨される。分子量は、標準単分散ポリスチレンを用いて作成した検量線から求められる。標準単分散ポリスチレンは、昭和電工社製 有機溶媒系標準試料 STANDARD SM-105から選ぶことが推奨される。
【0079】
≪硬化レリーフパターンの製造方法≫
本実施形態の一態様は、硬化レリーフパターンの製造方法である。
本実施形態の製造方法は、以下の工程:
(1)上記樹脂組成物を基板に塗布することにより、樹脂組成物膜を形成する工程と、
(2)樹脂組成物膜を露光、及び現像する工程、又は樹脂組成物膜にレーザー照射する工程により、レリーフパターンを形成する工程と、
(3)レリーフパターンを加熱して硬化レリーフパターンを形成する工程と、を有する。
【0080】
(1)塗布工程
本工程では、上記樹脂組成物を基板に塗布することにより、樹脂組成物膜を形成する。樹脂組成物を基板に塗布した後、必要に応じて乾燥させてよい。
【0081】
基板としては、例えば、
シリコン、アルミニウム、銅、銅合金等から成る金属基板;
エポキシ、ポリイミド、ポリベンゾオキサゾール等の樹脂基板;
前記樹脂基板に金属回路が形成された基板;
複数の金属、又は金属と樹脂とが多層に積層された基板;
等が挙げられる。
【0082】
塗布方法としては、従来から樹脂組成物の塗布に用いられていた方法、例えば、
スピンコーター、バーコーター、ブレードコーター、カーテンコーター、スクリーン印刷機等で塗布する方法;
スプレーコーターで噴霧塗布する方法;
等が挙げられる。
【0083】
樹脂組成物を乾燥させる場合、その乾燥方法としては、
風乾;
オーブン又はホットプレートによる加熱乾燥;
真空乾燥;
等の方法が挙げられる。なお、乾燥は、(A)成分のイミド化が起こり難い条件で行うことが望ましい。具体的には、風乾又は加熱乾燥を行う場合、20℃~140℃で、1分~1時間の条件で乾燥を行うことができる。
【0084】
(2)レリーフパターンを形成する工程
本工程では、樹脂組成物膜を露光、及び現像する工程、又は樹脂組成物膜にレーザー照射する工程により、レリーフパターンを形成する。本工程は、上記樹脂組成物を感光性樹脂として用いる場合に好適である。すなわち、フォトリソグラフィー工程(露光、及び現像工程)を行うことにより、又は、二酸化炭素レーザー、UVレーザー、グリーンレーザー等の高エネルギー密度を用いたレーザードリル加工を行う工程(レーザードリル加工工程)により、レリーフパターンを好適に形成することができる。
【0085】
(フォトリソグラフィー工程)
フォトリソグラフィー工程は、露光装置によって行われることができる。露光装置としては、コンタクトアライナー、ミラープロジェクション、ステッパー等の露光装置が挙げられる。
【0086】
露光工程では、光線からの露光光を樹脂組成物膜に照射する。樹脂組成物膜への露光光の照射は、パターンが形成されたフォトマスク又はレチクルを介して、又は直接に、行うことができる。露光に使用する光線は、紫外線光源等である。
【0087】
露光工程後、光感度の向上等の目的で、必要に応じて、任意の温度、及び任意の時間の組合せによる、露光後ベーク(PEB)、及び/又は現像前ベークを施してよい。ベーク条件の一例は、温度は40~120℃、時間は10秒~240秒である。
【0088】
現像工程では、露光後の樹脂組成物膜のうち、未露光部を現像液によって除去する。現像方法としては、従来知られているフォトレジストの現像方法、例えば、回転スプレー法;パドル法;超音波処理を伴う浸漬法;等が挙げられる。
【0089】
現像工程後、レリーフパターンの形状を調整する等の目的で、必要に応じて、任意の温度、及び任意の時間の組合せによる現像後ベークを施してよい。現像後ベークの条件の一例は、例えば、温度は80~130℃であり、また、時間は0.5~10分である。
【0090】
現像液は、樹脂組成物に対する良溶媒、又は該良溶媒と貧溶媒との組合せが好ましい。良溶媒としては、N-メチル-2-ピロリドン、N-シクロヘキシル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルアセトアミド、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、γ-ブチロラクトン、α-アセチル-γ-ブチロラクトン等が好ましい。貧溶媒としてはトルエン、キシレン、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、乳酸エチル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、水等が好ましい。良溶媒と貧溶媒とを混合して用いる場合、樹脂組成物中の樹脂成分の溶解性に応じて、良溶媒に対する貧溶媒の割合を調整してよい。各溶媒は、単独でも2種以上を併用してもよい。
【0091】
(レーザードリル加工工程)
レーザードリル加工工程では、532nmのグリーンレーザー波長を用いる場合、高スループットを実現し易く、かつ、半導体装置へのダメージを最小限に抑え易いため好ましい。本実施形態の樹脂組成物は、532nmに吸収波長を有しているため、グリーンレーザーによりレリーフパターンを好適に形成することができる。
【0092】
(3)加熱工程
本工程では、上記現像により得られたレリーフパターンを加熱して硬化レリーフパターンを形成する。このとき、(A)成分をイミド化させて、ポリイミドを含む硬化レリーフパターンに変換する。
【0093】
加熱の方法としては、ホットプレートによるもの;オーブンを用いるもの;温度プログラムを設定できる昇温式オーブンを用いるもの;等の種々の方法が挙げられる。加熱の条件の一例は、温度は200℃~400℃、時間は30分~5時間である。加熱の際の雰囲気中の気体としては、空気でもよく、窒素、アルゴン等の不活性ガスでもよい。
【0094】
(4)硬化レリーフパターンの表面にレーザー照射を行い、レーザー印字を行う工程
本発明では、上記(1)~(3)工程に加えて、(4)硬化レリーフパターンの表面にレーザー照射を行い、レーザー印字を行う工程を有していても良い。本工程では、上記レリーフパターンを加熱処理することにより得られた硬化レリーフパターンの膜表面にレーザー照射を行うことにより、パッシベーション膜、表面保護膜、及び層間絶縁膜等を構成する樹脂の表面に、レリーフパターンを形成すること、並びに、該表面に半導体装置の製品仕様、ロット番号及び製造年月日を刻印することなどを目的とする。
【0095】
二酸化炭素レーザー、UVレーザー、グリーンレーザー等の高エネルギー密度を用いたレーザー加工を好ましく用いることができる。なかでも、532nmのグリーンレーザー波長を用いる場合、高スループットを実現し易く、かつ、半導体装置へのダメージを最小限に抑え易いため好ましい。レーザー処理したときに、所望のレリーフパターンを形成でき、また、刻印できるためには、パッシベーション膜、表面保護膜、及び層間絶縁膜等が、レーザー波長に対して吸収を有することが求められる。
【0096】
上記(1)~(3)または(4)の工程を経て作製されるパッシベーション層、表面保護層、および層間絶縁膜は、当該工程を複数回繰り返すことにより、多層のパッシベーション層、表面保護層、および層間絶縁膜を作製することができる。本発明に用いられる感光性樹脂組成物は、上記(1)~(4)または(5)の工程を繰り返し経て作製されるパッシベーション層、表面保護層、および層間絶縁膜のうち、全繰り返し工程に用いてもよいし、特定の繰り返し工程にのみ用いてもよい。好ましい形態としては、繰り返し工程を経て作製されるパッシベーション層、表面保護層、および層間絶縁膜のうち、最外層のパッシベーション層、表面保護層、および層間絶縁膜に用いるのが良い。
【0097】
≪半導体装置≫
本実施形態は、上述した硬化レリーフパターンの製造方法により得られる硬化レリーフパターンを含む、半導体装置である。
本実施形態の一態様は、半導体素子である基材と、前記基材上に上述した硬化レリーフパターン製造方法により形成された樹脂の硬化レリーフパターンとを含む半導体装置である。
本実施形態は、基材として半導体素子を用い、上述した硬化レリーフパターンの製造方法を工程の一部として含む半導体装置の製造方法にも適用できる。本実施形態は、上記硬化レリーフパターン製造方法で形成される硬化レリーフパターンを、表面保護膜、層間絶縁膜、再配線用絶縁膜、フリップチップ装置用保護膜、又はバンプ構造を有する半導体装置の保護膜等として形成し、既知の半導体装置の製造方法と組合せることで製造することができる。
【0098】
感光性樹脂組成物は、上記のような半導体装置への適用の他、多層回路の層間絶縁、フレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレジスト膜、及び液晶配向膜等の用途にも有用である。
【0099】
〔構成の概略〕
図1(a)は、半導体装置1の断面模式図であり、図1(b)は、図1における視野aの拡大模式図であり、図2は、半導体装置1の平面模式図である。
半導体装置1は、
半導体チップ2と、
半導体チップ2に接する封止材3と、
半導体チップ2及び封止材3の少なくとも一方面側に配され、かつ、厚さ方向平面視で半導体チップ2よりも面積が大きい再配線層4と、を備えている。
半導体装置1は、ファンナウト(Fan-Out)型、更には、ウェハレベルチップサイズパッケージ(WLCSP)型の装置である。
以下、各構成について順次説明する。
【0100】
<半導体チップ>
半導体チップ2は、シリコン等の半導体から構成されている。半導体チップ2は複数配されてよく、例えば、図1(a)には、面方向(厚さ方向に対して垂直な方向)に沿って2つの半導体チップ2が並列に配された半導体装置1が図示されている。複数の半導体チップ2、及びそれに付随する各構成は、同一でも異なってもよい。
【0101】
図1(a)中、半導体チップ2は、一方面2aと、一方面2a側とは反対側の他方面2bと、一方面2a及び他方面2bの間の四方側面2cと、を有する立方体形状で図示されている。一方面2aは、再配線層4に接し、他方面2bは、端子9及び保護層8に接し、四方側面2cは、封止材3に接している。
【0102】
<保護層>
保護層8は、半導体チップ2の他方面2bと、再配線層4と、の間に配されており、物理的な衝撃から半導体チップ2を保護する役割を果たす。図1(a)では、他方面2bに、再配線層4中の配線5との間の導通を確保する複数の端子9が配されており、保護層8は、これらの端子9の間を埋めるように該他方面2b側に配されている。半導体チップ2を一方面2a側から厚さ方向平面視(図1におけるA矢視)したと仮定した場合、保護層8は、半導体チップ2の陰になり観察されない。
【0103】
保護層8は、例えば、ポリイミドと、ポリベンゾオキサゾールと、フェノール性水酸基を有するポリマーと、から成る群から選択される少なくとも1つの化合物から構成されることができる。ただし、保護層8の構成は上記に限定されず、保護層8自体も省略可能である。
【0104】
<封止材>
封止材3は、半導体チップ2の四方側面2cに接しており、本実施形態では、保護層8、及び再配線層4にも接している。封止材3は、絶縁層6に接することが好ましい。封止材に対しては、厚さ方向に配線5が貫通しており、この配線5が、再配線層4における配線5に電気的に接続されている。
【0105】
封止材3は、例えば、エポキシ樹脂から構成されることができる。ただし、封止材3の構成はこれに限定されない。
【0106】
<再配線層>
再配線層4は、半導体チップ2に電気的に接続される中間層(例えば、配線5)、及び該中間層に接する絶縁層6を含んで構成されている。図2における、再配線層4の面積S1と、半導体チップ2の面積S2と、の大小関係から理解されるとおり、再配線層4は、厚さ方向平面視(図1(a)におけるA矢視)で、半導体2チップよりも面積が大きい。なお、本実施形態における再配線層4は、プリント配線板を含まない。
【0107】
再配線層4は、複数層(例えば、3~9層)の層構造を有することが好ましい。図1(b)では、半導体チップ2及び封止材3側から、1層目の絶縁層6-1、2層目の絶縁層、及び3層目の絶縁層6-3を有する、3層構造の再配線層4が示されている。3層目の絶縁層6-3が最外層に相当し、該最外層が領域6aとして構成されている。また、1層目の絶縁層6-1、及び2層目の絶縁層6-2が、他の領域6bとして構成されている。再配線層4の層数は、後述する絶縁層形成工程の回数に相当する。
【0108】
ここで、半導体装置1では、領域6aが、ひいては、最外層である絶縁層6-3が、本実施形態の一態様である感光性樹脂組成物から構成されている。最外層である絶縁層に、所定の刻印(半導体装置の製品仕様、ロット番号、及び製造年月日等)が施される場合、該刻印の視認性に優れる。
【0109】
配線5(図1(b)では、配線5-1及び5-2)は、導電性に優れた高い部材が用いられ、本実施形態では、銅が用いられている。このような配線5を含めた、上記再配線層4の膜厚は、3~30μm程度である。
【0110】
(第1再配線層及び第2再配線層)
半導体装置1は、半導体チップ2を介して対向する、2つの再配線層4を備えている。1つは、半導体チップ2の一方面2a側に配される第1再配線層4Aであり、もう1つは、半導体チップ2の他方面2b側に保護層8を介して配される第2再配線層4Bである。
第1再配線層4A、及び第2再配線層4Bは、それぞれ、半導体チップ2側の面(第1の面4a)と、その第1の面4aとは反対の面(第2の面4b)を有している。第2の面4bは、各種の電子部品が設けられるのに好適である。第1再配線層4Aにおける第2の面4bには、RAM(DRAMを含む。図1では符号Dで示されている。)が設けられてよく、第2再配線層4Bにおける第2の面4bには、外部接続端子7が設けられてよい。
【0111】
第1再配線層4A、及び第2再配線層4Bの間は、封止材3が配されており、封止材3を貫通する配線5が、第1再配線層4Aにおける配線5と、第2再配線層4Bにおける配線5と、の両方に電気的に接続されている。
【0112】
本明細書中、第1再配線層4A、及び第2再配線層4Bの両方に採用可能な構成について、単に「再配線層」とも称している。ただ、単に「再配線層」と称して説明した構成が、第1再配線層4Aのみに採用されても、第2再配線層4Bのみに採用されても、第1再配線層4A及び第2再配線層4Bの両方に採用されてもよい。第1再配線層4A、及び第2再配線層4B、及びそれらに付随する構成は、互いに異なってよい。第2再配線層4B、及び半導体チップ2の間に保護層8が配されているのと同様、第1再配線層4A、及び半導体チップ2の間にも、保護層が配されてよい。図1(a)中、第1再配線層4Aについてのみ領域6aが図示されているが、第1再配線層4Bのみが、また、第1再配線層4Bもまた、領域6aに相当する構成を備えてもよい。
【0113】
(絶縁層)
絶縁層6は、再配線層4において配線5の間に配されており、配線5同士の意図しない導通を防止する役割を果たす。絶縁層6は、本実施形態の一態様である感光性樹脂組成物から構成されることができる。これにより、グリーンレーザーを照射後の、絶縁層6及び中間層の密着性が良好になり易い。
【0114】
絶縁層6は、再配線層4を断面視したとき、半導体チップ2側から、第Nの絶縁層(Nは1以上の整数)を含んでよい。各絶縁層の組成、特性、及び膜厚等は、同一でも異なってもよい。
【0115】
絶縁層6において、本実施形態の一態様である感光性樹脂組成物から構成される層は、1層でも多層でもよい。本実施形態の一態様である感光性樹脂組成物から構成される層は、グリーンレーザーによって付される印字の視認性の観点から、再配線層4における第2の面4b側、言い換えれば、最外層側に配されることが好ましい。
【0116】
絶縁層6は、本実施形態の一態様である感光性樹脂組成物とは異なる樹脂組成物から構成される層(他の層)を有してよい。ここでは、例えば、図1(b)中、1層目の絶縁層6-1、及び2層目の絶縁層6-2が、他の層として構成されている。
【0117】
<半導体装置の製造方法>
半導体装置1の製造方法は、
半導体チップ2を用意する第1工程と、
厚さ方向平面視で半導体チップ2よりも面積が大きい第1再配線層4Aであって、かつ、半導体チップ2に電気的に接続される中間層(例えば、配線5)、及び該中間層に接する絶縁層6を含む該第1再配線層4Aを、半導体チップ2の一方面2a側に配する第2工程と、
上記半導体チップ2を、該半導体チップ2の他方面2b側が露出するように封止材3で覆う第3工程と、
厚さ方向平面視で半導体チップ2よりも面積が大きい第2再配線層4Bであって、かつ、半導体チップ2に電気的に接続される中間層(例えば、配線5)、及び該中間層に接する絶縁層6を含む該第2再配線層4Bを、半導体チップ2の他方面2b側に配する第4工程と、を含む、
第2工程及び第4工程については、再配線層4を形成した後に該再配線層4に半導体チップ2をマウントしてもよく、また、半導体チップ2を基礎として再配線層4を形成してもよい。
【0118】
ここで、第2工程で、本実施形態の一態様である感光性樹脂組成物を用いて、再配線層4における絶縁層6を構成することが好ましく、グリーンレーザーによって成される印字の視認性の観点から、該感光性樹脂組成物を用いて、再配線層4の最外層を構成する絶縁層6を構成することがより好ましい。第3工程は、半導体チップ2に保護層8を形成する工程(保護層形成工程)と、保護層8を形成した半導体チップ2を、該保護層8の少なくとも一部が露出するように封止材3で覆う工程(封止構造形成工程)と、を含むことが好ましい。第4工程は、再配線層4を、保護層8側に配する工程(再配線層形成工程)を含むことが好ましい。
【0119】
本実施形態における半導体装置の製造方法を、図3を用いて説明する。図3は、本実施形態の半導体装置2の製造工程の一例である。以下の説明中、感光性樹脂組成物は、ポジ型でもネガ型でもよい。
【0120】
(1)第1工程
図3A1では、前工程済みウェハ10を用意する。感光性樹脂組成物(保護層形成用の感光性組成物)をウェハ10に塗布し、露光現像してレリーフパターンを形成する(保護層形成工程)。図3B1では、レリーフパターンを形成したウェハ10をダイシングし、複数の半導体チップ2を形成する。以上より、半導体チップ2を用意する(第1工程)。
【0121】
(2)第2工程
図3A2では、キャリアCを用意する。キャリアCは、例えばガラス製である。キャリアCには、半導体パッケージを一時的に固定するための接着剤層C1を形成してよい。接着剤層C1上に、感光性樹脂組成物(絶縁層形成用の感光性組成物)を塗布し、露光現像してレリーフパターンを形成する(レリーフパターン形成工程)。感光性樹脂組成物への露光及び現像を経てレリーフパターンを形成し、これを加熱して硬化レリーフパターンを形成する(絶縁層形成工程)。更に、硬化レリーフパターンを形成しない箇所に配線を形成する(配線形成工程)。絶縁層形成工程及び配線形成工程を繰り返すことで、多層の絶縁層を形成する。以上より、厚さ方向平面視で半導体チップ2よりも面積が大きい再配線層4(第1再配線層4A)を、半導体チップ2の一方面側に配する(第2工程)。
【0122】
図1(b)に示す再配線層を例に挙げて、第2工程の一態様を説明する。
まず、接着剤層C1上の絶縁層(図1(b)に示す3層目の絶縁層6-3)のパターン上に所定の非永久材料を用いた非永久材料パターンを形成する。その後、めっき等により配線5-2を形成する。
非永久材料パターンを除去した後、配線5-2を覆うように感光性樹脂組成物を絶縁層6-3上に塗布する。塗布した感光性樹脂組成物への露光、現像、及び硬化を経て、パターン底部に配線5-2が露出する該パターンを有する、絶縁層(図1(b)に示す2層目の絶縁層6-2)を作製する。
その後、絶縁層6-2のパターン間に配線5-1を形成し、そして、上記を繰り返すことで、本実施形態の一態様である、図1(b)に示す再配線層を製造することができる。なお、非永久材料パターンは、従来既知の感光性樹脂組成物を用いて作製できる。
【0123】
ここでは、接着剤層C1に接する絶縁層6が、第1再配線層4Aの最外層に相当し、かかる絶縁層6が、本実施形態の一態様である感光性樹脂組成物により構成されている。図中、第1再配線層4Aにおける半導体チップ2側の面に露出する配線は、図示が省略されている。
【0124】
(3)第3工程
図3Cにて、第1再配線層4Aと、半導体チップ2における保護層を形成していない側と、が接するように、半導体チップ2を所定間隔にて第1再配線層4Aに貼り付ける。続いて、半導体チップ2の高さに相当する程度の高さを有する金属ピラー(配線)を第1再配線層4A上に形成し、その後、半導体チップ2上から第1再配線層4Aにかけてモールド樹脂12を塗布し、図3Dに示すようにモールド封止する。CMP工程等により、半導体チップ2の保護層8、及び金属ピラー(図示せず)が露出する程度まで、モールド樹脂12を研磨する(図3E)。以上より、半導体チップ2を、該半導体チップ2の他方面2bが露出するように封止材3で覆う(第3工程)。
【0125】
(4)第4工程
その後、半導体チップの保護層8側に感光性樹脂組成物13を塗布し(図3F)、前述と同様の方法で、再配線層4(第2再配線層4B)を形成する。以上より、厚さ方向平面視で半導体チップ2よりも面積が大きい再配線層4(第2再配線層4B)を、半導体チップ2の他方面2b側に配する(第4工程)。
【0126】
そして、図3Gでは、各半導体チップ2間をダイシングする。その後、キャリアC上に形成した接着剤層C1から剥離する。これにより、図3Hに示すように、半導体装置(半導体IC)1を得ることができる。本実施形態では、図3に示す製造方法により、ファンナウト型の半導体装置1を複数得ることができる。なお、各半導体チップ2間をダイシングする前に、各半導体チップ2に対応する複数の外部接続端子7を再配線層4に設けてよい。
【0127】
以上、半導体装置1の構成について説明したが、その構成は上記に限定されない。
図4は、半導体装置の、他の態様を示す断面模式図である。図示される半導体装置1Aは、第1再配線層4A及び第2再配線層のうち、第2再配線層4Bを備え、第1再配線層を備えない。封止材3が、半導体チップ2の四方側面2cだけでなく、一方面2aにも接しており、すなわち、封止材3が、半導体チップ2の他方面2b以外の面を覆っている。半導体装置1に加え、このような半導体装置1Aも、本実施形態に含まれる。
【実施例0128】
以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明は下記の実施例のみに限定されない。実施例欄における樹脂組成物の物性は、下記方法に従って測定及び評価した。
【0129】
(1)グリーンレーザーマークの視認性評価
以下の製造例に従って調製した樹脂組成物を、コーターデベロッパー(D-Spin60A型、SOKUDO社製)を用いてスピンコート法により石英板上に塗布し、樹脂組成物の膜を得た。その膜を、110℃で240秒間に亘って乾燥(プリベーク)することにより、石英板上に、10μm厚のプリベーク膜を得た。
【0130】
プリベーク膜を、昇温プログラム式キュア炉(VF-2000型、光洋リンドバーグ社製)を用いて、230℃で2時間に亘って、窒素雰囲気下で加熱(キュア)することにより、石英板上に、約6~7μm厚のポリイミド膜(硬化レリーフパターン)を得た。
【0131】
上記の方法で得た石英板上のポリイミド膜に、グリーンレーザーマーカ(MD-T1000W、株式会社キーエンス製)を用いて、2.4Wの強度でレーザーを照射し、レーザーマークを刻印した。マークが明瞭に刻印できたものを「優」、マークを刻印できたものを「良」、マークが刻印できなかったものを「不可」とした。
【0132】
(2)硬化レリーフパターンの伸度
上記加熱(キュア)後の膜厚が約7μmとなるように、硬化レリーフパターンを得た。すなわち、以下の製造例に従って調製した樹脂組成物を、スピンコート法により6インチシリコンウエハー上に塗布し、乾燥(プリベーク)した。その後、昇温プログラム式キュア炉(VF-2000型、日本国、光洋リンドバーグ社製)を用いて、280℃で2時間に亘って、窒素雰囲気下で加熱(キュア)することによって、ポリイミド膜(硬化レリーフパターン)を得た。
【0133】
得られたポリイミド膜を、ダイシングソー(DAD3350型、DISCO社製)を用いて3mm幅の短冊状にカットした後、46%フッ化水素酸を用いてシリコンウェハーから剥離することで、ポリイミドテープを得た。得られたポリイミドテープの伸度を、引張試験機(UTM-II-20型、オリエンテック社製)を用いて、ASTM D882-09に従って測定した。そして、伸度を、以下の基準に基づき評価し、下表には「膜伸度」として表示した。
「優」:20%以上
「良」:10%以上20%未満
「不可」:10%未満
【0134】
(3)(B)成分のpH測定法
(B)成分1g±0.01gを0.01gまで正確に秤量して20mLビーカーに採取後、1mLのエチルアルコールと、あらかじめ沸騰させた蒸留水10mLを加え、(B)の分散液とし、時計皿で蓋をして、25℃の恒温室にて60分間放冷した。分散液が25℃になっていることを確認し、pH標準液4,7,9で公正したpHメーターを用いて、測定開始から1分後の指示値を読み取った。
【0135】
(4)(B)成分の一次粒子径の測定法
(B)成分の一次粒子径は、透過型電子顕微鏡を用いて求めた。具体的には(B)成分を150kHz、0.4kWの超音波分散機により、10分間クロロホルムに分散させて分散試料を作成し、これをカーボン補強した支持膜に振り掛けて固定した。これを透過型電子顕微鏡で撮影し、50000~200000倍に拡大した画像からEndterの装置を用いてランダムに1000個以上の(B)成分の粒子径を測定し、その平均値を平均一次粒子径とした。
【0136】
<製造例1>((A)ポリイミド前駆体(ポリマーA-1)の合成)
4,4’-オキシジフタル酸二無水物(ODPA)155.1gを2L容量のセパラブルフラスコに入れ、2-ヒドロキシエチルメタクリレート(HEMA)134.0g及びγ-ブチロラクトン400mlを加えて室温下で攪拌しながらピリジン79.1gを加え、反応させた。反応による発熱の終了後、室温まで放冷し、更に16時間静置し、反応混合物を得た。
【0137】
次に、ジシクロヘキシルカルボジイミド(DCC)206.3gをγ-ブチロラクトン180mlに溶解した溶液と、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(DADPE)93.0gをγ-ブチロラクトン350mlに懸濁した懸濁液と、を用意した。氷冷下において、反応混合物に、上記溶液を攪拌しながら40分かけて加え、続いて、上記懸濁液を、攪拌しながら60分かけて加えた。その後、更に室温で2時間攪拌した後、エチルアルコール30mlを加えて1時間攪拌した後に、γ-ブチロラクトン400mlを加え、混合液を得た。混合液に生じた沈殿物をろ過により取り除き、反応液を得た。
【0138】
得られた反応液を3Lのエタノールに加え、粗ポリマーを含む沈殿物を生成した。生成した粗ポリマーを濾取し、テトラヒドロフラン1.5Lに溶解して粗ポリマー溶液を得た。得られた粗ポリマー溶液を28Lの水に滴下してポリマーを沈殿させ、沈殿物を濾取した後に真空乾燥することにより、粉末状のポリマーA-1を得た。ポリマーA-1の重量平均分子量(Mw)は、20,000であった。
【0139】
<製造例2>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-2)の合成)
上記製造例1において、4,4’-オキシジフタル酸二無水物(ODPA)155.1gに代えて、3,3’4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(BPDA)147.1gを用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-2を得た。ポリマーA-2の重量平均分子量(Mw)は、22,000であった。
【0140】
<製造例3>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-3)の合成)
上記製造例1において、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(DADPE)93.0gに代えて、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン(BAPP)(190.7g)を用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-3を得た。ポリマーA-3の重量平均分子量(Mw)は21,000であった。
【0141】
<製造例4>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-4)の合成)
上記製造例1において、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(DADPE)93.0gに代えて、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル(m-TB)(98.6g)を用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-4を得た。ポリマーA-4の重量平均分子量(Mw)は、21,000であった。
【0142】
<製造例5>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-5)の合成)
上記製造例1において、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(DADPE)93.0gに代えて、p-フェニレンジアミン(p-PD)(50.2g)を用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-5を得た。ポリマーA-5の重量平均分子量(Mw)は、21,000であった。
【0143】
<製造例6>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-6)の合成)
上記製造例1において、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(DADPE)93.0gに代えて、2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン(TFMB)160.1gを用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-6を得た。ポリマーA-6の重量平均分子量(Mw)は、21,000であった。
【0144】
<製造例7>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-7)の合成)
上記製造例1において、4,4’-オキシジフタル酸二無水物(ODPA)155.1gに代えて、ピロメリット酸無水物(PMDA)54.5gと4,4’-オキシジフタル酸二無水物(ODPA)77.6gとを用い、また、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(DADPE)93.0gに代えて、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル(m-TB)98.6gを用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-7を得た。ポリマーA-7の重量平均分子量(Mw)は、21,000であった。
【0145】
<製造例8>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-8)の合成)
上記製造例1において、4,4’-オキシジフタル酸二無水物(ODPA)155.1gに代えて、4,4’-オキシジフタル酸二無水物(ODPA)77.6gと、3,3’4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(BPDA)73.6gとを用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-8を得た。ポリマーA-8の重量平均分子量(Mw)は、20,000であった。
【0146】
<製造例9>(ポリイミド前駆体(ポリマーA-9)の合成)
上記製造例1において、4,4’-オキシジフタル酸二無水物(ODPA)155.1gに代えて、ピロメリット酸無水物(PMDA)109.1gを用い、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(DADPE)93.0gに代えて、p-フェニレンジアミン(p-PD)50.2gを用いた以外は、製造例1と同様の手法により、ポリマーA-9を得た。ポリマーA-9の重量平均分子量(Mw)は、20,000であった。
【0147】
<実施例1>
(A)成分として、ポリマーA-1(100質量部)と、
(B)成分として、一次粒子径が20nm、pH=7のカーボンブラック、B-1(三菱ケミカル株式会社製、MA600;3.0質量部)と、
その他成分として、テトラエチレングリコールジメタクリレート(8質量部)、及びN-フェニルジエタノールアミン(4質量部)とを、
(C)成分として、C-1(GBL及びDMSOの重量比80:20混合物)に溶解し、樹脂組成物を得た。樹脂組成物の粘度は、約3.5Pa・sであった。この樹脂組成物について、上記方法により評価した。評価結果は下表に示した。
【0148】
<実施例2~28、比較例1~10>
下記のとおりの各原料を混合した以外は、実施例1と同様の手法により、実施例2~28及び比較例1~10の樹脂組成物を得た。得られた樹脂組成物について、上記方法により評価した。評価結果は下表に示した。
【0149】
下表に記載の各番号は、それぞれ、下記化合物を意味する。
(A)成分;ポリイミド前駆体
A-1/A-2:A-1とA-2を各50質量部ずつ使用した混合物
A-1/A-5:A-1とA-5を各50質量部ずつ使用した混合物
【0150】
(B)成分;有機染料
B-1:一次粒子径20nm、pH=7のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、MA600)
B-2:一次粒子径30nm、pH=7.5のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、#33)
B-3:一次粒子径47nm、pH=7.5のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、#25)
B-4:一次粒子径50nm、pH=7.5のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、#20)
B-5:一次粒子径50nm、pH=6.5のチタンブラック(赤穂化成株式会社製、TilackD TS-M-CSM)
B-6:一次粒子径35nm、pH=6の窒化ジルコニア(三菱マテリアル電子化成株式会社製、UB-1)
B-7:一次粒子径35nm、pH=6の窒化ジルコニア(三菱マテリアル電子化成株式会社製、UB-2)
B-8:一次粒子径16nm、pH=7.5のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、#950B)
B-9:一次粒子径75nm、pH=7のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、#10)
B-10:一次粒子径23nm、pH=2.5のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、MA77)
B-11:一次粒子径24nm、pH=3.5のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、MA100S)
B-12:一次粒子径24nm、pH=10のカーボンブラック(三菱ケミカル株式会社製、#4000B)
B-13:一次粒子径80nm、pH=8のチタンブラック(三菱マテリアル電子化成株式会社製、13M)
【0151】
(C)成分;有機溶媒
C-2:N-メチルピロリドン
C-3:N-メチルピロリドン及び乳酸エチルの重量比80:20混合物
C-4:エクアミド
C-5:エクアミド及びDMSOの重量比80:20混合物
【0152】
(D)成分;光重合開始剤
D-1:下式で表される光重合開始剤
【化27】
D-2:上記式(D4)で表される光重合開始剤
D-3:上記式(D6)で表される光重合開始剤
【0153】
【表2】
【表3】
【表4】
【0154】
表1~3に示されるとおり、特定の(A)成分と、特定の(B)成分と、特定の(C)成分と、を含有する実施例は、良好な着色を発現し、かつ、良好な膜伸度を発現することが確かめられた。
【0155】
以上、本実施形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【産業上の利用可能性】
【0156】
本発明は、例えば、半導体装置、及び多層配線基板等の、電気・電子材料の製造に有用な感光性材料の分野において、好適に利用できる。例えば、本発明は、電子部品の絶縁材料、並びに半導体装置におけるパッシベーション膜、バッファーコート膜、層間絶縁膜等に用いられる樹脂組成物として産業上利用可能であり、また、本発明は、それを用いた硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置としても産業上利用可能である。このような本発明は、半導体装置への適用の他、多層回路の層間絶縁膜、フレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレジスト膜、液晶配向膜等の用途にも好適に適用され得る。
【符号の説明】
【0157】
1,1A 半導体装置
2 半導体チップ
2a 一方面
2b 他方面
2c 四方側面
3 封止材
4 再配線層
4A 第1再配線層
4B 第2再配線層
4a 第1の面
4b 第2の面
5,5-1,5-2 配線
6 絶縁層
6a 領域
6b 他の領域
6-1 1層目の絶縁層
6-2 2層目の絶縁層
6-3 3層目の絶縁層(最外層)
7 外部接続端子
8 保護層
9 端子
10 ウェハ
11 支持体
12 モールド樹脂
13 感光性樹脂組成物
C キャリア
C1 接着剤層
D DRAM
図1
図2
図3
図4