特開 2024-435 廃砂管理システム、及び、廃砂管理方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024000435

(43)【公開日】2024-01-05

(54)【発明の名称】廃砂管理システム、及び、廃砂管理方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 23/223 20060101AFI20231225BHJP

【ＦＩ】

G01N23/223

【審査請求】未請求

【請求項の数】6

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022099201

(22)【出願日】2022-06-20

(71)【出願人】

【識別番号】000117102

【氏名又は名称】旭有機材株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100099759

【弁理士】

【氏名又は名称】青木 篤

(74)【代理人】

【識別番号】100123582

【弁理士】

【氏名又は名称】三橋 真二

(74)【代理人】

【識別番号】100092624

【弁理士】

【氏名又は名称】鶴田 準一

(74)【代理人】

【識別番号】100114018

【弁理士】

【氏名又は名称】南山 知広

(74)【代理人】

【識別番号】100153729

【弁理士】

【氏名又は名称】森本 有一

(72)【発明者】

【氏名】河津 洋

【テーマコード（参考）】

2G001

【Ｆターム（参考）】

2G001AA01

2G001BA04

2G001CA01

2G001HA13

2G001JA09

2G001LA09

2G001MA04

2G001NA10

2G001NA11

2G001NA12

2G001PA11

(57)【要約】

【課題】再生砂の製造工程を追跡することができる廃砂管理システム、及び、廃砂管理方法を提供する。
【解決手段】廃砂管理システムは、所定量の廃砂から含有金属を除去する除去装置と、除去装置によって含有金属の一部が除去された廃砂に対して有害金属成分を含むか否かを検査する検査装置と、検査装置によって検査された廃砂を計測する第１計測装置と、第１計測装置によって計測された廃砂の量と、検査装置による検査結果とを組にして記憶する記憶部と、を有することを特徴とする。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

廃砂管理システムであって、
所定量の廃砂から含有金属を除去する除去装置と、
前記除去装置によって含有金属の一部が除去された廃砂に対して有害金属成分を含むか否かを検査する検査装置と、
前記検査装置によって検査された廃砂を計測する第１計測装置と、
前記第１計測装置によって計測された廃砂の量と、前記検査装置による検査結果とを組にして記憶する記憶部と、
を有することを特徴とする廃砂管理システム。

【請求項2】

前記除去装置に導入される前記所定量の廃砂を計測する第２計測装置を更に有し、
前記除去装置、前記検査装置、及び、前記第１計測装置は、前記第２計測装置によって計測された前記所定量の廃砂を処理単位として、除去、検査、及び、計測を行う、
ことを特徴とする請求項１に記載の廃砂管理システム。

【請求項3】

前記廃砂は鉱さいであり、
前記除去装置は、鉄塊、及び、砂鉄を含む磁性体を除去する磁性体除去部、及び／又は、アルミニウム、銅、真鍮、及び、マグネシウムを含む非磁性体を除去する非磁性体除去部を含む、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の廃砂管理システム。

【請求項4】

前記検査装置は、前記廃砂に対してＸ線を照射するＸ線照射部、前記Ｘ線照射部によりＸ線が照射された廃砂から放出されるＸ線光子を検出する検出部、及び、前記検出部による前記Ｘ線光子の検出結果に基づいて、前記廃砂が有害金属成分を含むか否を判定する判定部を含むことを特徴とする請求項３に記載の廃砂管理システム。

【請求項5】

前記所定量は、１台のトラックに積載可能な量、１個のフレコン包装が可能な量、１つの鉄箱に積載可能な量、１台の脱着装置付きコンテナ車に積載可能な量、又は、１台の粉粒体運搬車に積載可能な量である、ことを特徴とする請求項１又は２に記載の廃砂管理システム。

【請求項6】

廃砂管理方法であって、
所定量の廃砂から除去装置によって含有金属を除去し、
含有金属の一部が除去された廃砂に対して有害金属成分を含むか否かを検査装置によって検査し、
検査された廃砂を計測装置によって計測し、
計測された廃砂の量と検査結果とを組にして記憶部に記憶する、
ことを特徴とする廃砂管理方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、廃砂管理システム、及び、廃砂管理方法に関する。

【背景技術】

【0002】

金属溶湯の鋳造には珪砂等の砂を固めた鋳型が用いられる。この鋳型をばらすと、金属等の異物が混じった廃砂（鋳物廃砂とも称される。）が発生する。現在、この廃砂を回収、及び、再生して再生砂（鋳物再生砂とも称される。）を製造し、さらに製造した再生砂を再び鋳型の材料として用いる手法が知られている（例えば、特許文献１を参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０２１－１０２２１５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

製造された再生砂が正しく検査されたものであるかを追跡することができないという問題がある。

【0005】

本発明は、再生砂の製造工程を追跡することができる廃砂管理システム、及び、廃砂管理方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明の一側面に係る廃砂管理システムは、所定量の廃砂から含有金属を除去する除去装置と、除去装置によって含有金属の一部が除去された廃砂に対して有害金属成分を含むか否かを検査する検査装置と、検査装置によって検査された廃砂を計測する第１計測装置と、第１計測装置によって計測された廃砂の量と、検査装置による検査結果とを組にして記憶する記憶部と、を有することを特徴とする。

【0007】

本発明の一側面に係る廃砂管理システムにおいて、除去装置に導入される所定量の廃砂を計測する第２計測装置を更に有し、除去装置、検査装置、及び、第１計測装置は、前記第２計測装置によって計測された所定量の廃砂を処理単位として、除去、検査、及び、計測を行うことが好ましい。

【0008】

本発明の一側面に係る廃砂管理システムにおいて、廃砂は鉱さいであり、除去装置は、鉄塊、及び、砂鉄を含む磁性体を除去する磁性体除去部、及び／又は、アルミニウム、銅、真鍮、及び、マグネシウムを含む非磁性体を除去する非磁性体除去部を含むことが好ましい。

【0009】

本発明の一側面に係る廃砂管理システムにおいて、検査装置は、廃砂に対してＸ線を照射するＸ線照射部、Ｘ線照射部によりＸ線が照射された廃砂から放出されるＸ線光子を検出する検出部、及び、検出部によるＸ線光子の検出結果に基づいて、廃砂が有害金属成分を含むか否を判定する判定部を含むことが好ましい。

【0010】

本発明の一側面に係る廃砂管理システムにおいて、所定量は、１台のトラックに積載可能な量、１個のフレコン包装が可能な量、１つの鉄箱に積載可能な量、１台の脱着装置付きコンテナ車に積載可能な量、又は、１台の粉粒体運搬車に積載可能な量であることが好ましい。

【0011】

本発明の一側面に係る廃砂管理方法は、所定量の廃砂から除去装置によって含有金属を除去し、含有金属の一部が除去された廃砂に対して有害金属成分を含むか否かを検査装置によって検査し、検査された廃砂を計測装置によって計測し、計測された廃砂の量と検査結果とを組にして記憶部に記憶することを特徴とする。

【発明の効果】

【0012】

本発明によれば、廃砂管理システム、及び、廃砂管理方法は、再生砂の製造工程を追跡することができる。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】廃砂管理システムの概略構成の一例を示す図である。

【図2】除去装置の構成を示すブロック図である。

【図3】検査装置の構成を示すブロック図である。

【図4】管理装置の構成を示すブロック図である。

【図5】廃砂管理システムにおける再生砂の製造工程を示すフローチャートである。

【図6】各工程の実施時刻、及び、付帯情報を記憶するデータベースである。

【発明を実施するための形態】

【0014】

以下、図面を参照して本発明の様々な実施形態について説明する。本発明の技術的範囲はこれらの実施形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された発明及びその均等物に及ぶ点に留意されたい。

【0015】

図１は、廃砂管理システム１の概略構成の一例を示す図である。廃砂管理システム１は、鉱さいである廃砂１００（鋳物廃砂とも称される。）から再生砂２００（鋳物再生砂とも称される。）を製造すると共に、製造した再生砂２００の品質を管理するためのシステムである。なお、説明の便宜上、この廃砂管理システム１によって製造される砂を再生砂２００と称しているが、廃砂管理システム１によって製造される砂を他所に運搬して、運搬した砂に対してさらなる加工を施したものを再生砂２００と称してもよい。この廃砂管理システム１は、検査前計測装置２、ベルトコンベア３、除去装置４、検査装置５、検査後計測装置６、確認装置７、及び、管理装置８等を含んで構成される。

【0016】

検査前計測装置２は、除去装置４に導入される所定量の廃砂１００を計測する。検査前計測装置２は、所定量の廃砂１００を計測した後、この廃砂１００をベルトコンベア３へ投入する。ここで、除去装置４、検査装置５、及び、検査後計測装置６は、この検査前計測装置２によって計測された所定量の廃砂１００を処理単位として、除去、検査、及び、計測を行う。所定量は、１台の脱着装置付きコンテナ車３００（フックロール（登録商標）とも称される。）に積載可能な量である。検査前計測装置２は、少なくとも、所定量の廃砂１００を計測した時刻と、廃砂１００に関する計測情報とを管理装置８へ送信する。

【0017】

ベルトコンベア３は、検査前計測装置２によって計測された所定量の廃砂１００を検査後計測装置６へ運搬する。ベルトコンベア３による廃砂１００の運搬経路には、除去装置４、及び、検査装置５が設けられている。

【0018】

除去装置４は、ベルトコンベア３によって運搬される所定量の廃砂１００から含有金属を除去する。除去装置４は、少なくとも、所定量の廃砂１００から含有金属を除去した時刻を管理装置８へ送信する。除去装置４の動作を開始するタイミングは、後述する物体検出センサ４５によるベルトコンベア３上の廃砂１００の検出、管理装置８からの開始信号の受信、又は、後述する操作部４３からのユーザの入力をトリガとしてもよい。

【0019】

検査装置５は、ベルトコンベア３による廃砂１００の運搬経路において、除去装置４の下流に設けられる。検査装置５は、除去装置４によって含有金属の一部が除去された廃砂１００に対して有害金属成分を含むか否かを検査する。検査装置５は、検査結果に基づいて、含有金属の一部が除去された廃砂１００が鋳型材料として再利用可能な再生砂２００であるか、鋳型材料として利用不可能な廃棄砂４００であるかを判定する。検査装置５は、少なくとも、検査を実行した時刻と、検査結果とを管理装置８へ送信する。除去装置４の開始タイミングは、後述する物体検出センサ５５によるベルトコンベア３上の廃砂１００の検出、管理装置８からの開始信号の受信、又は、後述する操作部５３からのユーザの入力をトリガとしてもよい。

【0020】

検査後計測装置６は、検査装置５によって検査された廃砂１００を計測する。検査後計測装置６は、廃砂１００を計測した後、この廃砂１００をコンテナ５００へ投入する。検査後計測装置６は、少なくとも、検査装置５によって検査された廃砂１００を計測した時刻と、廃砂１００に関する計測情報とを管理装置８へ送信する。なお、コンテナ５００には、識別番号６００が付されている。

【0021】

確認装置７は、検査後計測装置６によって計測された廃砂１００が投入されたコンテナ５００を撮影して、確認画像を生成するためのカメラである。確認装置７は、少なくとも、コンテナ５００を撮影した時刻と、確認画像とを管理装置８へ送信する。確認装置７によって生成された確認画像には、コンテナ５００の識別番号６００に対応する画素領域が含まれている。なお、再生砂２００が投入されたコンテナ５００は、確認装置７による撮影後、脱着装置付きコンテナ車３００に積載されて、再生砂２００を鋳型材料とした鋳型を作成するための工場等に運搬される。また、廃棄砂４００が投入されたコンテナ５００は、確認装置７による撮影後、敷地内に保管される。廃棄砂４００は、後に産業廃棄物として処理される。なお、確認装置７は、後述するデータベースにおいて、コンテナ５００の識別番号６００と、コンテナ５００に投入される廃砂１００の検査結果とを対応付けて確認できれば、カメラに限らない。例えば、確認装置７は、コンテナ５００に添付される情報保持体（一次元コードや二次元コード等）からコンテナ５００の識別番号６００を読み取るコードリーダ等であってもよい。

【0022】

管理装置８は、廃砂管理システム１に含まれる各構成から送信される各種情報、及び、データを管理する。例えば、管理装置８は、検査後計測装置６によって計測された廃砂１００の量と、検査装置５による検査結果とを組にして記憶する記憶部８１を含んで構成される。

【0023】

図２は、除去装置４の構成を示すブロック図である。図２に示すように、除去装置４は、磁性体除去部４１、非磁性体除去部４２、操作部４３、及び、処理部４４等を含んで構成される。

【0024】

磁性体除去部４１は、鉄塊、及び、砂鉄を含む磁性体を除去する。例えば、磁性体除去部４１は、１５００Ｇ～３０００Ｇ程度の磁束密度の磁場を発生する磁力選別装置を備えており、この磁力選別装置を用いて、ベルトコンベア３によって運搬される廃砂１００から、鉄塊等の大きな磁性体と、砂鉄等のやや小さな磁性体とを除去する。

【0025】

非磁性体除去部４２は、アルミニウム、銅、真鍮、及び、マグネシウムを含む非磁性体を除去する。例えば、非磁性体除去部４２は、３０００～１００００Ｇ程度の永久磁石が組み込まれたロール型の磁極回転子を１８００～２５００回転で回転させることで磁界を発生し、この磁界によって廃砂１００に含まれる非磁性体であるアルミニウム、銅、真鍮、及び、マグネシウム等の金属に渦電流を発生させる。さらに、非磁性体除去部４２は、この渦電流と磁極回転子の磁界との間に発生する電磁気力による反発力を利用して、渦電流が発生する非磁性体をベルトコンベア３の左右に飛ばして、渦電流が発生しない非磁性体（すなわち、含有金属が除去された廃砂１００）を分別する。

【0026】

これにより、除去装置４は、廃砂１００から、鉄塊、及び、砂鉄を含む磁性体、並びに、アルミニウム、銅、真鍮、及び、マグネシウムを含む非磁性体を除去することができる。なお、図２に示す除去装置４には、磁性体除去部４１、及び、非磁性体除去部４２の両方が含まれるが、必要に応じて、磁性体除去部４１、又は、非磁性体除去部４２が含まれるようにしてもよい。

【0027】

操作部４３は、除去装置４に対するユーザの入力操作を受け付ける。操作部４３は、例えば、キーパッド、又は、キーボードを備える。操作部４３は、表示部と一体化されたタッチパネルを備えてもよい。操作部４３は、ユーザの入力操作に応じた信号を生成して処理部４４に供給する。

【0028】

処理部４４は、除去装置４の動作を統括的に制御する、一又は複数個のプロセッサ、及び、その周辺回路を含んで構成される。処理部４４は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を備える。処理部４４は、物体検出センサ４５によるベルトコンベア３上の廃砂１００の検出、又は、管理装置８からの開始信号の受信をトリガとして、自動で除去装置４の各種処理が適切な手順で実行されるように、各構成の動作を制御すると共に、各種の処理を実行する。なお、処理部４４は、操作部４３からの入力に基づいて、各構成の動作を制御すると共に、各種の処理を実行してもよい。また、処理部４４は、磁性体除去部４１、及び、非磁性体除去部４２のそれぞれの動作を制御する他に、磁性体除去部４１のみの動作を制御しても、非磁性体除去部４２のみの動作を制御してもよい。

【0029】

図３は、検査装置５の構成を示すブロック図である。この検査装置５は、蛍光Ｘ線分析法を用いた蛍光Ｘ線分析装置である。図３に示すように、検査装置５は、Ｘ線照射部５１、検出部５２、操作部５３、及び、処理部５４等を含んで構成される。

【0030】

Ｘ線照射部５１は、廃砂１００に対してＸ線を照射する。Ｘ線照射部５１は、Ｘ線を発生するＸ線管球、Ｘ線管球に印加する高電圧を発生する高電圧発生部、並びに、Ｘ線管球、及び、高電圧発生部で発生する熱を排出するための冷却機構等を含んで構成される。これらの構成は、ハウジングに収められる。Ｘ線照射部５１は、例えば、管電圧を４０ｋＶ、管電流を９５ｍＡに設定して、廃砂１００に対してＸ線を照射する。

【0031】

検出部５２は、Ｘ線照射部５１によりＸ線が照射された廃砂１００から放出されるＸ線光子（蛍光Ｘ線）を検出する。検出部５２は、半導体検出器、又は、比例計数管等のエネルギー分散型Ｘ線検出器であり、入射したＸ線光子が持つエネルギーに比例した電荷を発生する。検出部５２は、この電荷量に比例した電圧信号に変換し、さらに電圧信号をＡ／Ｄ変換してデジタル値として出力する。なお、検出部５２は、波長分散型Ｘ線検出器であってもよい。

【0032】

操作部５３は、検査装置５に対するユーザの入力操作を受け付ける。操作部５３は、例えば、キーパッド、又は、キーボードを備える。操作部５３は、表示部と一体化されたタッチパネルを備えてもよい。操作部５３は、ユーザの入力操作に応じた信号を生成して処理部５４に供給する。

【0033】

処理部５４は、検査装置５の動作を統括的に制御する、一又は複数個のプロセッサ、及び、その周辺回路を含んで構成される。処理部５４は、例えば、ＣＰＵを備える。処理部５４は、物体検出センサ５５によるベルトコンベア３上の廃砂１００の検出、又は、管理装置８からの開始信号の受信をトリガとして、自動で検査装置５の各種処理が適切な手順で実行されるように、自動で各構成の動作を制御すると共に、各種の処理を実行する。なお、処理部５４は、操作部５３からの入力に基づいて検査装置５の各種処理が適切な手順で実行されるように、各構成の動作を制御すると共に、各種の処理を実行してもよい。

【0034】

処理部５４は、判定部５４１を機能ブロックとして備える。判定部５４１は、検出部５２によるＸ線光子の検出結果に基づいて、廃砂１００が有害金属成分を含むか否を判定する。例えば、処理部５４は、検出部５２によって生成される電圧信号から電圧パルスの波高を得てエネルギースペクトルを生成する。処理部５４は、検出部５２から出力されたＸ線光子の信号をエネルギーごとに弁別し、エネルギーごとに入射回数を計数して、Ｘ線強度としてエネルギースペクトルを得る。さらに、処理部５４は、このエネルギースペクトルから廃砂１００内の元素分布を視覚的に確認するためのマッピング像を生成し、このマッピング像に基づいて、廃砂１００に対して有害金属成分を含むか否を判定する。なお、廃砂１００に含まれる可能性がある有害金属成分は、カドミウム、鉛、水銀、及び／又は、クロムである。

【0035】

図４は、管理装置８の構成を示すブロック図である。図４に示すように、管理装置８は、記憶部８１、表示部８２、操作部８３、及び、制御部８４等を含んで構成される。記憶部８１、表示部８２、操作部８３、及び、制御部８４は、バス８５を介して相互に接続される。

【0036】

記憶部８１は、例えば、半導体記憶装置を含み、制御部８４での処理に用いられるプログラム、及び、データ等を記憶する。例えば、記憶部８１は、検査後計測装置６によって計測された廃砂１００の量と、検査装置５による検査結果とを組にして記憶する。記憶部８１は、制御部８４による処理に用いられるオペレーティングシステムプログラム、ドライバプログラム、アプリケーションプログラム、データ等を記憶する。プログラムは、ＣＤ（Compact Disc）－ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）－ＲＯＭ等のコンピュータ読み取り可能かつ非一時的な可搬型記憶媒体から、公知のセットアッププログラム等を用いて記憶部８１にインストールされる。

【0037】

表示部８２は、画像を表示する。表示部８２は、例えば、液晶ディスプレイ、又は、有機ＥＬ（Electro-Luminescence）ディスプレイを備える。表示部８２は、制御部８４から供給された表示データに基づいて画像を表示する。

【0038】

操作部８３は、管理装置８に対するユーザの入力操作を受け付ける。操作部８３は、例えば、キーパッド、キーボード、又は、マウスを備える。操作部８３は、表示部８２と一体化されたタッチパネルを備えてもよい。操作部８３は、ユーザの入力操作に応じた信号を生成して制御部８４に供給する。

【0039】

制御部８４は、管理装置８の動作を統括的に制御する、一又は複数個のプロセッサ、及び、その周辺回路を含んで構成される。制御部８４は、例えば、ＣＰＵを備える。制御部８４は、記憶部８１に記憶されているプログラム、及び、操作部８３からの入力に基づいて管理装置８の各種処理が適切な手順で実行されるように、各構成の動作を制御すると共に、各種の処理を実行する。

【0040】

図５は、廃砂管理システム１における再生砂２００の製造工程を示すフローチャートである。廃砂管理システム１は、予め記憶部８１に記憶されているプログラムに基づき主に制御部８４により廃砂管理システム１の各要素と協働して実行される。

【0041】

まず、検査前計測装置２は、所定量の廃砂１００を計測する。検査前計測装置２は、所定量の廃砂１００を計測した時刻と、廃砂１００に関する計測情報とを管理装置８へ送信する（ステップＳ１）。また、管理装置８の記憶部８１は、検査前計測装置２から送信された所定量の廃砂１００を計測した時刻と、廃砂１００に関する計測情報とを記憶する。

【0042】

次に、除去装置４は、ベルトコンベア３によって運搬される所定量の廃砂１００から含有金属を除去する。除去装置４は、所定量の廃砂１００から含有金属を除去した時刻を管理装置８へ送信する（ステップＳ２）。また、管理装置８の記憶部８１は、除去装置４から送信された所定量の廃砂１００から含有金属を除去した時刻を記憶する。

【0043】

次に、検査装置５は、除去装置４によって含有金属の一部が除去された廃砂１００に対して有害金属成分を含むか否かを検査する。検査装置５は、廃砂１００に有害金属成分が含まれない場合、この廃砂１００を再生砂２００と判定する。また、検査装置５は、廃砂１００に有害金属成分が含まれる場合、この廃砂１００を廃棄砂４００と判定する。検査装置５は、検査を実行した時刻と、検査結果とを管理装置８へ送信する（ステップＳ３）。また、管理装置８の記憶部８１は、検査装置５から送信された検査を実行した時刻と、検査結果とを管理装置８を記憶する。

【0044】

次に、検査後計測装置６は、検査装置５によって検査された廃砂１００を計測する。検査後計測装置６は、検査装置５によって検査された廃砂１００を計測した時刻と、廃砂１００に関する計測情報とを管理装置８へ送信する。（ステップＳ４）。また、管理装置８の記憶部８１は、検査後計測装置６から送信された廃砂１００を計測した時刻と、廃砂１００に関する計測情報とを記憶する。

【0045】

最後に、確認装置７は、検査後計測装置６によって計測された廃砂１００が投入されたコンテナ５００を撮影して、確認画像を生成する。確認装置７は、少なくとも、コンテナ５００を撮影した時刻と、確認画像とを管理装置８へ送信する（ステップＳ５）。また、管理装置８の記憶部８１は、確認装置７から送信されたコンテナ５００を撮影した時刻と、確認画像とを記憶し、一連の再生砂２００の製造工程を終了する。

【0046】

図６は、再生砂２００の製造工程における各工程の実施時刻、及び、付帯情報を記憶するデータベースである。図６に示すデータベースは、廃砂管理システム１の検査前計測装置２、除去装置４、検査装置５、検査後計測装置６、及び、確認装置７のそれぞれから管理装置８へ送信された各種情報、及び、データを一元的に管理するためのものである。

【0047】

図６に示すように、データベースには、廃砂管理システム１の各構成において実施された処理内容、これらの処理内容に対応する付帯情報、及び、処理の実施時刻が対応付けて記憶されている。また、廃砂管理システム１の各構成において実施された処理内容に対応付けて管理番号が付されている。この管理番号は、図５に示す一連の再生砂２００の製造工程に対応する組番号と、この製造工程に含まれる各工程（処理内容）に対応する個別番号とを含んでいる。すなわち、データベースにより、一連の再生砂２００の製造工程ごとに、一連の再生砂２００の製造工程に含まれる各工程が管理されている。

【0048】

ユーザは、図６に示すデータベースにより、一連の再生砂２００の製造工程ごとに、一連の再生砂２００の製造工程に含まれる処理内容が一元的に管理されているため、一連の再生砂２００の製造工程によって得られた情報、及び、データを瞬時に把握することができる。

【0049】

例えば、ユーザは、処理単位ごとの廃砂１００に対して、検査装置５による検査結果を瞬時に把握することができる。また、ユーザは、一連の再生砂２００の製造工程で製造された再生砂２００の量、及び、再生砂２００の検査結果を併せて把握することができる。また、再生砂２００の検査結果と、コンテナ５００の識別番号６００とが一元的に管理されているため、ユーザは、再生砂２００、又は、廃棄砂４００が積載されたコンテナ５００の識別番号６００を把握することができる。また、検査前に計測された廃砂１００の量と、磁性体、及び、非磁性体の除去、並びに、検査が実施された後に計測された廃砂１００の量とが一元的に管理されているため、ユーザは、一連の再生砂２００の製造工程で廃砂１００から除去された含有金属の量を把握することができる。

【0050】

以上詳述したように、廃砂管理システム１は、検査前計測装置２、除去装置４、検査装置５、検査後計測装置６、及び、確認装置７のそれぞれから管理装置８へ送信された各種情報、及び、データを管理する。このとき、廃砂管理システム１は、データベースによって、一連の再生砂２００の製造工程ごとに、一連の再生砂２００の製造工程に含まれる各工程を一元的に管理する。これにより、廃砂管理システム１は、再生砂２００の製造工程を追跡することができ、製造された再生砂が正しく検査されたものであるかを追跡することができる。

【0051】

ここで、処理単位としての所定量は、１台の脱着装置付きコンテナ車３００に積載可能な量の他に、１台のトラックに積載可能な量、１台のフレコン包装が可能な量、１つの鉄箱に積載可能な量、又は、１台の粉粒体運搬車（ジェットパック（登録商標）とも称される）に積載可能な量であってもよい。

【0052】

また、処理部３４、処理部４４、及び、制御部８４は、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＬＳＩ（Large Scale Integration）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等を備えてもよい。

【0053】

当業者は、本発明の精神及び範囲から外れることなく、様々な変更、置換及び修正をこれに加えることが可能であることを理解されたい。例えば、上述した各部の処理は、本発明の範囲において、適宜に異なる順序で実行されてもよい。また、上述した実施形態及び変形例は、本発明の範囲において、適宜に組み合わせて実施されてもよい。

【符号の説明】

【0054】

１ 廃砂管理システム
２ 検査前計測装置
４ 除去装置
５ 検査装置
６ 検査後計測装置
７ 確認装置
８ 管理装置
４１ 磁性体除去部
４２ 非磁性体除去部
５１ Ｘ線照射部
５２ 検出部
８１ 記憶部
５４１ 判定部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】