特開2024-044824IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

照明計画の評価方法及びプログラム

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】材料に反射した光を適切に評価できる照明計画の評価方法を提供する。
【解決手段】物体の表面で反射した反射光の色を取得する取得処理と、前記反射光の色を、色空間上の座標に変換する処理と、前記色空間における、予め設定された第１座標と前記座標との距離である第１距離を計測する処理と、前記第１距離に基づいて前記反射光を評価する評価処理と、を含む、照明計画の評価方法。
【選択図】図１

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

従来では、照明が発した光の計測が可能であっても、建材等に反射した光を適切に評価し、照明計画を策定することは困難であった。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を鑑み、本発明は一態様として、物体の表面で反射した反射光の色を取得する取得処理と、前記反射光の色を、色空間上の座標に変換する処理と、前記色空間における、予め設定された第１座標と前記座標との距離である第１距離を計測する処理と、前記第１距離に基づいて前記反射光を評価する評価処理と、を含む、照明計画の評価方法を提供する。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、材料に反射した光を適切に評価できる評価方法を提供できる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施形態における評価システムの概要図であり、(a)前面図と（ｂ）背面図とを示す。
【図2】 評価システムが模擬するモデルの概要図である。
【図3】 評価システムの機能構成を示す図である。
【図4】 評価システムにおいて実行される処理のフローチャートである。
【図5】 反射光に対応する座標と基準座標とがプロットされた色度図の一例を示す図であり、（ａ）ｕ*ｖ*色度図と、（ｂ）ｕ’ｖ’色度図を示す。
【図6】 刺激値とＣＩＥＬＵＶ色空間の座標との関係を示す数式である。
【図7】 評価に用いる距離の計算式である。
【図8】 反射光の距離Ｌ１の、建材上における分布を示すコンター図の一例であり、距離Ｌ１が閾値より大きくなる範囲を示す。
【図9】 刺激値とＣＩＥＬＡＢ色空間の座標との関係を示す数式である。
【図10】 刺激値とＸＹＺ表色系の色空間座標との関係を示す数式である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

評価システム１０、計測機１、保持部２、照明部３、制御装置４、建材５

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