特開 2024-45811 蓄電デバイスの短絡検査方法、及び、接続済みデバイス拘束体の製造方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024045811

(43)【公開日】2024-04-03

(54)【発明の名称】蓄電デバイスの短絡検査方法、及び、接続済みデバイス拘束体の製造方法

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/396 20190101AFI20240327BHJP

   G01R 31/378 20190101ALI20240327BHJP

   H01M 10/48 20060101ALI20240327BHJP

   H01M 10/04 20060101ALI20240327BHJP

   H02J 7/00 20060101ALI20240327BHJP

【ＦＩ】

G01R31/396

G01R31/378

H01M10/48 P

H01M10/04 Z

H02J7/00 Q

【審査請求】有

【請求項の数】4

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022150807

(22)【出願日】2022-09-22

(71)【出願人】

【識別番号】520184767

【氏名又は名称】プライムプラネットエナジー＆ソリューションズ株式会社

(71)【出願人】

【識別番号】000003207

【氏名又は名称】トヨタ自動車株式会社

(71)【出願人】

【識別番号】399107063

【氏名又は名称】プライムアースＥＶエナジー株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000291

【氏名又は名称】弁理士法人コスモス国際特許商標事務所

(72)【発明者】

【氏名】池田 博昭

(72)【発明者】

【氏名】米山 俊樹

【テーマコード（参考）】

2G216

5G503

5H028

5H030

【Ｆターム（参考）】

2G216BB02

2G216BB23

2G216CA01

2G216CA04

2G216CA11

5G503AA01

5G503BA02

5G503BB02

5G503BB05

5G503CA03

5G503CA11

5G503CA17

5G503EA05

5G503EA09

5G503FA06

5H028AA10

5H028BB00

5H028BB02

5H028BB10

5H028BB11

5H028BB15

5H030BB01

5H030BB21

5H030FF43

5H030FF44

5H030FF52

(57)【要約】      （修正有）

【課題】適切に短絡の有無を判定できる蓄電デバイスの短絡検査方法、及び、接続済みデバイス拘束体の製造方法を提供すること。
【解決手段】蓄電デバイスの短絡検査方法は、蓄電デバイスを第１デバイス電圧に調整する電圧調整工程と、複数の蓄電デバイスを拘束する拘束工程と、放置前デバイス電圧VB3aを測定し、放置し、放置後デバイス電圧VB3bを測定する工程と、電圧低下率取得工程と、電圧低下率DVB3を用いて被拘束デバイスの短絡の有無を判定する短絡判定工程と、を備え、電圧調整工程の後で放置前電圧測定工程の前に、最古調整デバイスの最古調整完了時と最新調整デバイスの最新調整完了時との最大調整時期差を算出する算出工程と、最大調整時期差から最短待機時間を取得する取得工程と、最短待機時間の経過まで放置前電圧測定工程を行うのを繰り延べる繰延工程とを備える。
【選択図】図５

【特許請求の範囲】

【請求項1】

初充電を経た蓄電デバイスを充電又は放電して第１デバイス電圧に調整する電圧調整工程と、
前記第１デバイス電圧とした複数の前記蓄電デバイスを、相互に未接続としつつ、拘束部材で拘束して、複数の被拘束デバイスを含むデバイス拘束体を構成する拘束工程と、
単一の前記デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスについて、放置前デバイス電圧を測定する放置前電圧測定工程と、
前記放置前デバイス電圧を測定した前記デバイス拘束体を放置する放置工程と、
前記放置工程の後、単一の前記デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスについて、放置後デバイス電圧を測定する放置後電圧測定工程と、
前記被拘束デバイス毎に前記放置前デバイス電圧と前記放置後デバイス電圧とから電圧低下率を得る電圧低下率取得工程と、
前記電圧低下率取得工程で得た、単一の前記デバイス拘束体に含まれる複数の前記被拘束デバイスの前記電圧低下率を用いて、当該デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスの短絡の有無を判定する短絡判定工程と、を備える
蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
前記電圧調整工程の後で前記放置前電圧測定工程の前に、単一の前記デバイス拘束体に含まれる複数の前記被拘束デバイスのうち、前記電圧調整工程で前記第１デバイス電圧に調整し終えた調整完了時が最も古い最古調整デバイスの最古調整完了時と、前記調整完了時が最も新しい最新調整デバイスの最新調整完了時との時間差である最大調整時期差を算出する算出工程と、
前記最大調整時期差から、前記最新調整完了時の後、前記放置前電圧測定工程の開始を許容するまでの最短待機時間を得る所定の待機時間関数であって、前記最大調整時期差が大きいほど得られる前記最短待機時間が長くなる前記待機時間関数に基づき、前記最大調整時期差から、前記最短待機時間を、又は、前記放置前電圧測定工程の開始を許容する最先開始時期を取得する取得工程と、
前記最短待機時間の経過まで、又は、前記最先開始時期の到来まで、前記放置前電圧測定工程を行うのを繰り延べる繰延工程と、を更に備える
蓄電デバイスの短絡検査方法。

【請求項2】

請求項１に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
前記最短待機時間は、
前記最新調整デバイスに生じると予測される前記電圧低下率である第１予測低下率から、前記最古調整デバイスに生じると予測される前記電圧低下率である第２予測低下率を差し引いた予測低下率差が、所定の上限低下率差内に収まると予測される最短の経過時間である
蓄電デバイスの短絡検査方法。

【請求項3】

請求項１又は請求項２に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法により、単一の前記デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスの短絡の有無を検査する短絡検査工程と、
含まれている複数の前記被拘束デバイスがいずれも短絡を生じていないと判定された前記デバイス拘束体の前記被拘束デバイス同士を接続する接続工程と、を備える
接続済みデバイス拘束体の製造方法。

【請求項4】

請求項３に記載の接続済みデバイス拘束体の製造方法であって、
同じ前記デバイス拘束体に含まれていた複数の前記被拘束デバイスから、前記短絡検査工程で短絡を生じていると判定された少なくとも１つの前記被拘束デバイスを除去する除去工程と、
前記短絡判定工程で短絡を生じていないと判定された、残る複数の前記被拘束デバイスと、別の前記デバイス拘束体に含まれて、前記短絡検査工程で短絡を生じていないと判定されており、予め用意しておいた補充用蓄電デバイスとで、前記デバイス拘束体を再構成する再拘束工程と、を備える
接続済みデバイス拘束体の製造方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、蓄電デバイスの短絡検査方法、及び、接続済みデバイス拘束体の製造方法に関する。

【背景技術】

【0002】

二次電池などの蓄電デバイスを製造するに当たり、短絡検査を行うことが行われている。例えば，特許文献１には、初期活性化工程で初期充電された二次電池（以下、電池ともいう）を放電してＳＯＣの値を調整するＳＯＣ調整工程と、ＳＯＣ調整された電池を、即ち、所定の電池電圧に調整された電池を放置等して自己放電させる自己放電工程と、を備え、自己放電工程における電池の電圧降下量に基づいて短絡の有無を検出する二次電池の短絡検査方法が示されている。短絡している電池は、短絡していない電池に比して、同じ自己放電工程の期間に、大きな電圧降下量を生じるからである。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１４－１３４３９５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ところで、初充電した後の電池を所定の電池電圧とし、その後に放置すると、上述したように、短絡している電池は、短絡していない電池に比して、同じ期間に、大きく電池電圧が低下する。電池内の短絡部位を介して、電池に蓄えられている電荷が放電されるからである。なお、この場合には、短絡部分の抵抗値が変化しないとすると、概ね定電流放電となり、電池のＳＯＣが低い場合（例えばＳＯＣ１０％以下の場合）を除いて、短絡している電池の電池電圧は概ね一定の割合で低下する。

【0005】

しかるに、初充電した後の電池を所定の電池電圧とし、その後に放置した場合に生じる電池電圧の低下は、上述の短絡による電池電圧の低下のみではない。即ち、短絡を生じていない（良品の）電池を初充電する。その後に所定の電池電圧に調整し、その後さらに放置した場合、電池電圧を調整した直後に、電池電圧が比較的大きく低下する。しかし、その後は、時間の経過と共に電圧低下が緩やかになり、ついには概ね一定の電池電圧値に近づく挙動を取る。活物質粒子と電解液との反応による粒子表面へのＳＥＩ被膜形成が時間と共に鈍化し、このような被膜形成による電池電圧の低下が収束するためであると考えられる。つまり、電池を初充電し、その後に所定の電池電圧としてから短絡検査を開始するまでの経過時間の長短により、短絡検査の期間に生じる電池電圧の低下の大きさが変化することになる。

【0006】

ところで、複数の電池を直接に又はスペーサ等を介して間接に積み重ね、拘束部材により、電池の積層方向に各電池を圧縮して拘束しつつ、各電池同士は未接続とした未接続電池スタックなどの電池拘束体を形成した上で、これを室温下で放置し、拘束された各電池の放置前後の電圧低下量から短絡の有無を検査する場合がある。この場合には、電池拘束体毎に、電池拘束体に含まれる各電池に掛かる温度変化の履歴が異なり、各電池の電池電圧の低下の挙動が異なっている虞がある。

【0007】

そこで、温度変化の履歴がほぼ同じと考えられる、同じ（単一の）電池拘束体に含まれる一群の電池の電池電圧の電圧低下量やその傾きである電圧低下率を調べ、得られた電池低下量や電圧低下率の群を用いて、各電池の短絡の有無を判定する場合が有る。例えば、まず、得られた電池低下量や電圧低下率の群の平均値や中央値（メジアン）を基準値とする。この基準値に予め定めた値を加えてしきい低下量やしきい低下率を得る。そして、しきい低下量を越えた電池低下量の電池や、しきい低下率を越えた電池低下率の電池を短絡していると判定し除外する。このような電池拘束体を構成するのに用いる複数の電池としては、同一の処理ロットに属する電池であるなど、電池を初充電し、その後に所定の電池電圧に調整してからの経過時間が同程度である複数の電池を用いる場合が多い。

【0008】

しかしながら、電池拘束体に含める複数の電池として、電池を初充電し、その後に所定の電池電圧に調整してからの経過時間が大きい、即ち、所定の電池電圧とした時期が古い電池と、経過時間が小さい、即ち、所定の電池電圧とした時期が比較的新しい電池とを混在させて、電池拘束体を構成する場合が生じ得る。例えば、同一処理ロットに属する電池に端数が生じ、ロットが混在した複数の電池を用いる場合、長期連休や停電などのアクシデントなどで電池の製造工程や電圧調製工程のタイミングが乱れた場合などである。このような古い電池と新しい電池とを混在させて電池拘束体を構成した場合には、いずれの電池も短絡を生じていない場合でも、古い電池に比して新しい電池の電圧低下量や電圧低下率が大きくなるので、誤判定を生じる虞が生じる。

【0009】

本発明は、かかる現状に鑑みてなされたものであって、蓄電デバイスを初充電し、その後に所定のデバイス電圧に調整してからの経過時間の大小に拘わらず、適切に短絡の有無を判定できる蓄電デバイスの短絡検査方法、及び、この検査方法を用いた接続済みデバイス拘束体の製造方法を提供するものである。

【課題を解決するための手段】

【0010】

（１）上記課題を解決するための本発明の一態様は、初充電を経た前記蓄電デバイスを充電又は放電して第１デバイス電圧に調整する電圧調整工程と、前記第１デバイス電圧とした複数の前記蓄電デバイスを、相互に未接続としつつ、拘束部材で拘束して、複数の被拘束デバイスを含むデバイス拘束体を構成する拘束工程と、単一の前記デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスについて、放置前デバイス電圧を測定する放置前電圧測定工程と、前記放置前デバイス電圧を測定した前記デバイス拘束体を放置する放置工程と、前記放置工程の後、単一の前記デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスについて、放置後デバイス電圧を測定する放置後電圧測定工程と、前記被拘束デバイス毎に前記放置前デバイス電圧と前記放置後デバイス電圧とから電圧低下率を得る電圧低下率取得工程と、前記電圧低下率取得工程で得た、単一の前記デバイス拘束体に含まれる複数の前記被拘束デバイスの前記電圧低下率を用いて、当該デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスの短絡の有無を判定する短絡判定工程と、を備える蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記電圧調整工程の後で前記放置前電圧測定工程の前に、単一の前記デバイス拘束体に含まれる複数の前記被拘束デバイスのうち、前記電圧調整工程で前記第１デバイス電圧に調整し終えた調整完了時が最も古い最古調整デバイスの最古調整完了時と、前記調整完了時が最も新しい最新調整デバイスの最新調整完了時との時間差である最大調整時期差を算出する算出工程と、前記最大調整時期差から、前記最新調整完了時の後、前記放置前電圧測定工程の開始を許容するまでの最短待機時間を得る所定の待機時間関数であって、前記最大調整時期差が大きいほど得られる前記最短待機時間が長くなる前記待機時間関数に基づき、前記最大調整時期差から、前記最短待機時間を、又は、前記放置前電圧測定工程の開始を許容する最先開始時期を取得する取得工程と、前記最短待機時間の経過まで、又は、前記最先開始時期の到来まで、前記放置前電圧測定工程を行うのを繰り延べる繰延工程と、を更に備える蓄電デバイスの短絡検査方法である。

【0011】

この蓄電デバイスの短絡検査方法では、電圧調整工程の後で放置前電圧測定工程の前に、算出工程で、単一のデバイス拘束体に含まれる複数の被拘束デバイスのうち、最古調整デバイスの最古調整完了時と、最新調整デバイスの最新調整完了時との間の最大調整時期差を算出する。次いで、取得工程で、待機時間関数に基づき、算出工程で取得した最大調整時期差から、最短待機時間又は最先開始時期を取得する。さらに、繰延工程で、最短待機時間の経過まで又は最先開始時期の到来まで、放置前電圧測定工程を行うのを繰り延べる。

【0012】

このため、この蓄電デバイスの短絡検査方法では、デバイス拘束体に含まれる複数の被拘束デバイスの調整完了時がほぼ同時期である（揃っている）場合には、調整完了時が古いか新しいかに拘わらず、繰り延べをしないで或いは短い繰り延べを介して、速やかに放置前電圧測定工程を開始して、短絡検査を行い、適切に短絡の有無を判定することができる。一方、調整完了時の時期が揃っていない場合でも、最大調整時期差に応じて放置前電圧測定工程を行うのを繰り延べる。これにより、最古調整デバイスから最新調整デバイスまで、調整完了時の時期に拘わらず、即ち、調整完了時からの経過時間の大小に拘わらず、各蓄電デバイスについて適切に短絡の有無を判定することができる。

【0013】

なお、「蓄電デバイス」及びこれを拘束した「被拘束デバイス」としては、例えば、リチウムイオン二次電池等の二次電池や、リチウムイオンキャパシタ等のキャパシタなどが挙げられる。
また「デバイス拘束体」としては、複数の蓄電デバイスを、拘束部材を用いてそれぞれ所定の方向に拘束した拘束体であれば良い。例えば、複数の二次電池などの蓄電デバイスを積層方向に一列に積み重ねた電池スタックなどのデバイススタックが挙げられる。

【0014】

第１デバイス電圧に調整した後の複数の蓄電デバイスを拘束して、複数の被拘束デバイスを含むデバイス拘束体を構成するに当たっては、蓄電デバイスを第１デバイス電圧に調整した後、速やかに拘束してデバイス拘束体としても良い。また、適宜の期間、無拘束（各蓄電デバイスの運搬の際などに掛かる振動や衝撃などでは動かない程度に、蓄電デバイスを弱く拘束する場合を含む。）下で各蓄電デバイスを放置し、この状態で短絡していると判定した蓄電デバイスを除去してから、デバイス拘束体を構成するようにしても良い。

【0015】

最古調整完了時及び最新調整完了時としては、具体的には、mm月dd日などの日付やmm月dd日hh時などの日時を用いると良い。また、最大調整時期差は、最古調整完了時と最新調整完了時との時期差である。具体的には、３日間、５０時間などの時間の長さで与えられる。また、最短待機時間としては、最新調整完了時（例えばmm月dd日hh時）から放置前電圧測定工程の開始が許容されるまでの最短の期間、具体的には、１０．０日間、９８時間などの時間の長さで与えられる。さらに、最先開始時期は、放置前電圧測定工程の開始が許容される最先の日時（例えば、mm月dd日hh時）で与えられる。

【0016】

取得工程で、待機時間関数に基づき、具体的な最短待機時間の大きさや最先開始時期の日付や時刻を取得するに当たっては、待機時間関数そのものを用いるほか、待機時間関数に基づいて作成したグラフや表を用いて、最短待機時間や最先開始時期を得るようにしても良い。

【0017】

（２）（１）の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記最短待機時間は、前記最新調整デバイスに生じると予測される前記電圧低下率である第１予測低下率から、前記最古調整デバイスに生じると予測される前記電圧低下率である第２予測低下率を差し引いた予測低下率差が、所定の上限低下率差内に収まると予測される最短の経過時間である蓄電デバイスの短絡検査方法とすると良い。

【0018】

この蓄電デバイスの短絡検査方法では、予測低下率差が所定の上限低下率差内に収まると予測される最短の経過時間を、待機時間関数で得る最短待機時間としているので、待機時間関数を容易に得ることができる。

【0019】

（３）（１）又は（２）の蓄電デバイスの短絡検査方法により、単一の前記デバイス拘束体に含まれる各々の前記被拘束デバイスの短絡の有無を検査する短絡検査工程と、含まれている複数の前記被拘束デバイスがいずれも短絡を生じていないと判定された前記デバイス拘束体の前記被拘束デバイス同士を接続する接続工程と、を備える接続済みデバイス拘束体の製造方法とすると良い。

【0020】

上述の接続済みデバイス拘束体の製造方法では、短絡検査工程で単一の前記デバイス拘束体に含まれる各々の被拘束デバイスの短絡の有無を検査し、含まれている複数の被拘束デバイスがいずれも短絡を生じていないと判定されたデバイス拘束体について、接続工程で被拘束デバイス同士を接続する。かくして、いずれも短絡を生じていないと判定された複数の被拘束デバイスを有するデバイス拘束体についてのみ、相互に接続して、容易に接続済みデバイス拘束体を製造できる。

【0021】

なお、被拘束デバイス（蓄電デバイス）同士の接続は、蓄電デバイスの接続端子の構造等に応じて適宜選択すれば良いが、例えば、バスバを用いて接続することができる。また、蓄電デバイス同士を電気的に直列接続とすることも、並列接続とすることもできる。

【0022】

（４）さらに（３）に記載の接続済みデバイス拘束体の製造方法であって、同じ前記デバイス拘束体に含まれていた複数の前記被拘束デバイスから、前記短絡検査工程で短絡を生じていると判定された少なくとも１つの前記被拘束デバイスを除去する除去工程と、前記短絡検査工程で短絡を生じていないと判定された、残る複数の前記被拘束デバイスと、別の前記デバイス拘束体に含まれて、前記短絡検査工程で短絡を生じていないと判定されており、予め用意しておいた補充用蓄電デバイスとで、前記デバイス拘束体を再構成する再拘束工程と、を備える接続済みデバイス拘束体の製造方法とすると良い。

【0023】

この接続済みデバイス拘束体の製造方法では、除去工程で短絡と判定された蓄電デバイスを除去する一方、再拘束工程では、短絡を生じていない残りの蓄電デバイスと、別のデバイス拘束体に含まれて短絡を生じていないと判定された補充用蓄電デバイスとで、デバイス拘束体を再構成する。かくして、被拘束デバイス内に短絡を生じた蓄電デバイスが含まれていた場合でも、容易にデバイス拘束体を再構成して接続済みデバイス拘束体を製造することができる。

【図面の簡単な説明】

【0024】

【図1】実施形態に係る電池スタックの説明図である。

【図2】実施形態に係る未接続電池スタックの説明図である。

【図3】実施形態に係る電池スタックの製造工程を示すフローチャートである。

【図4】実施形態に係る電池スタックの製造工程のうち、個別短絡検査工程の内容を示すフローチャートである。

【図5】実施形態に係る電池スタックの製造工程のうち、拘束短絡検査工程の内容を示すフローチャートである。

【図6】実施形態に係り、短絡を生じていない電池の、調整工程後の電池電圧の変化例を示すグラフである。

【図7】図６のグラフを利用して、最古被拘束電池と最新被拘束電池との間の最大調整時期差、及び、経過時間と両電池の電圧低下率との関係を説明する説明図である。

【図8】図６のグラフを利用して、最古被拘束電池と最新被拘束電池との間の最大調整時期差、及び、経過時間と予測低下率差との関係を説明する説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0025】

（実施形態）
以下、本発明の実施形態に係る電池スタック１を、図面を参照しつつ説明する。図１に本実施形態等に係る直方体状の電池（蓄電デバイス）１０を複数（例えば、本実施形態では２８個）積層し拘束部材５で定寸に拘束した電池スタック（接続済みデバイス拘束体）１を示す。この電池スタック１は、スペーサ２を介して複数の電池１０を互いに積層方向（図１において左右方向）ＳＨに積層し、これらを拘束部材５で積層方向ＳＨに押圧して拘束している。具体的には、複数の被拘束電池１０Ｐ（本実施形態ではリチウムイオン二次電池）とスペーサ２とを交互に積層し、これらを一対の拘束板５１で挟み、積層方向ＳＨに延び拘束板５１の間に架け渡した拘束ボルト５２、これに螺着したナット５３及びワッシャ５４を用いて積層方向ＳＨに各被拘束電池１０Ｐを押圧して拘束している。各被拘束電池１０Ｐの正極端子１４及び負極端子１５（次述する）同士は、バスバ３を介して互いに接続されている。なお、本実施形態の電池スタック１では、図１に示すように、各被拘束電池１０Ｐを交互に反転させて配置し、正極端子１４と負極端子１５とが積層方向ＳＨに一列に且つ交互に並ぶようにしてあり、バスバ３の接続によって、各被拘束電池１０Ｐは直列に接続されている。電池スタック１は、例えば、ハイブリッドカーやプラグインハイブリッドカー、電気自動車等の車両などに搭載されて使用される。

【0026】

この電池スタック１に用いる、電池１０は、各々、角型で密閉型のリチウムイオン二次電池である。この電池１０は、直方体状でアルミニウムからなるケース１１と、ケース１１の内部に収容された電極体１２（一部の電池１０内に破線で示す）と、ケース１１に支持され、ケース１１の内部で電極体１２に接続すると共に、ケース１１の外部（図１において上方）に突出する正極端子１４及び負極端子１５等を有している。

【0027】

ついで、電池スタック１の製造について、図２～図８を参照して、以下に説明する。先ず、未充電の電池１０を製造する。直方体状のケース１１を有する密閉型の電池１０の製造については、公知であるので説明を省略する。初充電工程Ｓ１（図３参照）では、まず未充電の電池１０に対し常温下でＳＯＣ６０～１００％とするＣＣＣＶ充電（定電流１～１０Ｃ，カット電流０．１～１Ｃ）による初充電を行う。本実施形態では、例えば、２５℃の環境下で、定電流７Ｃ、カット電圧３．８５Ｖ（ＳＯＣ７５％相当）、カット電流０．３ＣのＣＣＣＶ充電を行う。次いで、高温エージング工程Ｓ２では、初充電した各電池１０を開放状態で、５０～８０℃の環境下で１０～２００時間に亘り放置する高温エージング（本実施形態では、例えば７０℃の環境下に１８時間）を行う。電池１０を冷却した後、更に、容量検査工程Ｓ３では、電池１０をＳＯＣ１００％まで充電し、その後、ＳＯＣ０％まで電池１０を放電させて電池１０の容量（上述の手法による場合は放電容量）を測定する。

【0028】

ついで、各電池１０に対し、短絡検査・拘束工程Ｓ４を行う。この短絡検査・拘束工程Ｓ４では、先ず、電圧調整工程Ｓ４１で、各電池１０の電池電圧ＶＢを常温下でＳＯＣ３０～１００％の範囲内の第１電圧ＶＢ１までＣＣＣＶ充電（定電流１～１０Ｃ，カット電流０．１～１Ｃ）する。本実施形態では、例えば、２５℃の環境下で、定電流７Ｃとし、初充電に比して０．１Ｖ低いカット電圧３．７５Ｖ（ＳＯＣ６０％相当）、カット電流０．３ＣのＣＣＣＶ充電を行う。即ち、各電池１０の電池電圧ＶＢを、一旦、同じ第１電圧ＶＢ１（本実施形態では、ＶＢ１＝３．７５Ｖ）に揃える。

【0029】

続いて個別短絡検査工程Ｓ４２では、電圧調整工程Ｓ４１を行った後の個々の電池１０について、個別の短絡検査を行う。個別の電池１０の段階で、既に短絡を生じている不良電池１０Ｎを排除し、このような不良電池１０Ｎが、後述する拘束工程Ｓ４３で、未接続電池スタック１Ｍ（図２参照）をなす電池１０として組み込まれるのを防止するためである。

【0030】

この個別短絡検査工程Ｓ４２（図４参照）では、具体的にはまず、放置前測定工程Ｓ４２１で、電池１０の電池電圧ＶＢである放置前第２電圧ＶＢ２ａを測定する（図６参照）。なお、前述のように、ＣＣＣＶ充電により各電池１０の電池電圧ＶＢを、一旦、同じ第１電圧ＶＢ１に揃えた。しかし、ＣＣＣＶ充電を終了した直後に、ＣＶ充電時に電池抵抗分に充電電流によって生じる電圧降下分だけ電池電圧ＶＢが低下する。このほか、電池１０が短絡していない場合でも、後述するように、時間の経過と共に、電池電圧ＶＢは徐々に低下する（図６参照）。このため、次述する個別放置工程Ｓ４２２に先立ち、第１電圧ＶＢ１に充電された後の各々の電池１０の放置前第２電圧ＶＢ２ａを測定しておく。

【0031】

次いで、個別放置工程Ｓ４２２において、正極端子１４及び負極端子１５を開放状態として、各電池１０を、無拘束状態として、２５℃の環境下で個別放置期間ＩＨ（なお、本実施形態では、ＩＨ≧５．０日（ＩＨ≧１２０時間））に亘り放置する。その後、放置後測定工程Ｓ４２３で、放置後の電池１０の電池電圧ＶＢである放置後第２電圧ＶＢ２ｂを測定する。

【0032】

続く低下率取得工程Ｓ４２４では、放置前第２電圧ＶＢ２ａと放置後第２電圧ＶＢ２ｂとの差電圧ΔＶＢ２を実際の個別放置期間ＩＨで除して、単位時間当たり（例えば、１日当たりの、或いは１時間当たり）の電池電圧ＶＢの低下量である第２電圧低下率ＤＶＢ２を、各電池１０について算出する。

【0033】

個別放置期間ＩＨの長さは、個別放置期間ＩＨ内に週末を含むか否か、放置後測定工程Ｓ４２３の遅延の有無などにより、個別放置工程Ｓ４２２のロット毎に放置後測定工程Ｓ４２３を行い得るタイミングが異なり、個別放置期間ＩＨの長さが変動する場合があり得る。このため、次述する個別短絡判定工程Ｓ４２５などにおいて、放置前第２電圧ＶＢ２ａと放置後第２電圧ＶＢ２ｂとの差電圧ΔＶＢ２を用いるよりも、第２電圧低下率ＤＶＢ２を用いた方が、判定基準との比較がしやすいからである。

【0034】

そして、個別短絡判定工程Ｓ４２５では、各電池１０について取得した第２電圧低下率ＤＶＢ２により、電池１０の短絡の有無を判定する。具体的には、第２電圧低下率ＤＶＢ２が予め定めたしきい低下率ＴＨＤ２よりも大きい（ＤＶＢ２＞ＴＨＤ２）か否かを判断する。Ｙｅｓの場合、電池には短絡が生じていると判断し、製造工程から排出する。一方、Ｎｏの場合、即ち、第２電圧低下率ＤＶＢ２がしきい低下率ＴＨＤ２よりも小さい（ＤＶＢ２＜ＴＨＤ２）場合には、電池１０には短絡が生じていないとして、次の工程（拘束工程Ｓ４３）に進む。かくして、個別短絡検査工程Ｓ４２を終了する。

【0035】

続く拘束工程Ｓ４３（図３参照）では、個別短絡検査工程Ｓ４２（個別短絡判定工程Ｓ４２５）で短絡していないと判断された各電池１０のほか、スペーサ２及び拘束部材５を用いて、公知の手法により、未接続電池スタック１Ｍ（図２参照）を形成する。この未接続電池スタック１Ｍでは、各電池１０は、積層方向ＳＨに押圧され拘束された被拘束電池１０Ｐとなっている。このため、被拘束電池１０Ｐの電極体１２では、図示しない正極板及び負極板がセパレータを介して積層方向ＳＨに一致する厚み方向に圧縮される。しかし、電池スタック１（図１参照）と異なり、バスバ３は用いられておらず、被拘束電池１０Ｐ同士の正極端子１４及び負極端子１５は相互に接続しておらず、各被拘束電池１０Ｐは開放状態となっている。この未接続電池スタック１Ｍの状態で、拘束下の各被拘束電池１０Ｐについて短絡検査を行う。拘束工程Ｓ４３以降は、単一の未接続電池スタック１Ｍ（或いは電池スタック１）に含まれる複数（例えば、本実施形態では２８個）の被拘束電池１０Ｐを一群として扱う。

【0036】

本実施形態では、拘束工程Ｓ４３に続いて、算出工程Ｓ４４、取得工程Ｓ４５、及び繰延工程Ｓ４６を経て、拘束短絡検査工程Ｓ４７において、未接続電池スタック１Ｍの状態で、拘束下（圧縮下）の各被拘束電池１０Ｐについて短絡検査を行い、各被拘束電池１０Ｐについて短絡の発生の有無を検知する。なお以下では、説明の都合上、算出工程Ｓ４４～繰延工程Ｓ４６の説明に先立ち、拘束短絡検査工程Ｓ４７の説明を先に行う。

【0037】

拘束短絡検査工程Ｓ４７（図５参照）のうち放置前電圧測定工程Ｓ４７１では、単一の未接続電池スタック１Ｍをなす一群の被拘束電池１０Ｐについて、各被拘束電池１０Ｐの電池電圧ＶＢである放置前第３電圧ＶＢ３ａをそれぞれ測定する。なお、前述したように、被拘束電池１０Ｐが短絡していない場合でも、時間の経過と共に、電池電圧ＶＢは徐々に低下する（図６参照）ため、次述する拘束放置工程Ｓ４７２に先立ち、各々の被拘束電池１０Ｐの放置前第３電圧ＶＢ３ａを測定しておく。

【0038】

次いで、拘束放置工程Ｓ４７２において、未接続電池スタック１Ｍを、従って、拘束部材５で拘束され、正極端子１４及び負極端子１５を開放状態とした一群の各被拘束電池１０Ｐを、２５℃の環境下で拘束放置期間ＰＨ（本実施形態では、ＰＨ≧５．０日（≧１２０時間））に亘り放置する。その後、放置後電圧測定工程Ｓ４７３で、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する放置後の被拘束電池１０Ｐについて、その電池電圧ＶＢである放置後第３電圧ＶＢ３ｂをそれぞれ測定する。

【0039】

続く電圧低下率取得工程Ｓ４７４では、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する一群の被拘束電池１０Ｐについて、放置前第３電圧ＶＢ３ａと放置後第３電圧ＶＢ３ｂとの差電圧である第３電圧低下量ΔＶＢ３（＝ＶＢ３ａ－ＶＢ３ｂ）をそれぞれ算出する。

【0040】

さらに、各被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下量ΔＶＢ３を、実際の拘束放置期間ＰＨで除して、単位時間当たり（例えば、１日当たりの、或いは１時間当たり）の第３電圧低下量である第３電圧低下率ＤＶＢ３をそれぞれ算出する。拘束放置期間ＰＨの長さは、拘束放置期間ＰＨ内に週末を含むか否か、放置後電圧測定工程Ｓ４７３の遅延の有無などにより、未接続電池スタック１Ｍ毎に若干異なる場合があり得る。このため、次述する拘束短絡判定工程Ｓ４７５などにおいて、第３電圧低下量ΔＶＢ３そのものを用いるよりも、第３電圧低下率ＤＶＢ３を用いた方が、判定容易である。

【0041】

そして拘束短絡判定工程Ｓ４７５では、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する一群の被拘束電池１０Ｐについてそれぞれ取得した第３電圧低下率ＤＶＢ３を用いて、当該未接続電池スタック１Ｍに属する各被拘束電池１０Ｐの短絡の有無を判定し、これを総合して、当該未接続電池スタック１Ｍに不良電池１０Ｎが１つ以上含まれているか否かを判定する。

【0042】

具体的には、まず、一群（本実施形態では２８個）の第３電圧低下率ＤＶＢ３の平均値である平均低下率ＡＤＶＢ３を算出する。そして、この平均低下率ＡＤＶＢ３を用いて、各被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３の適否を判定する。詳細には、予め与える許容幅ＰＷ３を平均低下率ＡＤＶＢ３に加えて得たしきい低下率ＴＨＤ３（＝ＡＤＶＢ３＋ＰＷ３）と、各被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３とをそれぞれ比較する。そして、第３電圧低下率ＤＶＢ３がしきい低下率ＴＨＤ３よりも大きい（ＤＶＢ３＞ＴＨＤ３）、即ち、電池電圧ＶＢの低下の度合いが、しきい低下率ＴＨＤ３よりも激しい場合には、当該被拘束電池１０Ｐを不良電池１０Ｎと判定する。これを一群の被拘束電池１０Ｐ（本実施形態では２８個）について行う。

【0043】

次いで、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する一群の被拘束電池１０Ｐから、不良電池１０Ｎと判定された１または複数の被拘束電池１０Ｐを除外し、残る一群の被拘束電池１０Ｐのみを用いて、新たな平均低下率ＡＤＶＢ３を算出する。そして、許容幅ＰＷ３を新たな平均低下率ＡＤＶＢ３に加えて得た新たなしきい低下率ＴＨＤ３と、各被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３とを再び比較する。そして、第３電圧低下率ＤＶＢ３が新たなしきい低下率ＴＨＤ３よりも大きい（ＤＶＢ３＞ＴＨＤ３）場合には、当該被拘束電池１０Ｐをも新たに不良電池１０Ｎと判定する。このようにして、新たな不良電池１０Ｎが見出されなくなるまで、上述の処理を繰り返す。

【0044】

さらにこの拘束短絡判定工程Ｓ４７５では、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する一群の被拘束電池１０Ｐに、不良電池１０Ｎが含まれているか否かを判定する。ここで、Ｙｅｓ、即ち、未接続電池スタック１Ｍに不良電池１０Ｎが含まれている場合には、この未接続電池スタック１Ｍを後述する除去工程Ｓ６に移行させる。一方、Ｎｏ、即ち、未接続電池スタック１Ｍに不良電池１０Ｎが含まれていない場合には、この未接続電池スタック１Ｍを接続工程Ｓ５に移行させる。

【0045】

なお、上述の拘束短絡判定工程Ｓ４７５の例では、一群の各被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３の平均低下率ＡＤＶＢ３を用いて、しきい低下率ＴＧＤ３を得た例を示した。しかし、平均低下率ＡＤＶＢ３に代えて、第３電圧低下率ＤＶＢ３の中央値（メジアン）である中央低下率ＭＤＶＢ３を用い、これに許容幅ＰＷ３を加えてしきい低下率ＴＨＤ３を得て、不良電池１０Ｎの判定を行うようにしても良い。

【0046】

接続工程Ｓ５では、未接続電池スタック１Ｍをなす一群の被拘束電池１０Ｐの正極端子１４及び負極端子１５にバスバ３を接続し、被拘束電池１０Ｐを相互に接続して、電池スタック１（図１参照）を完成させる。かくして、いずれも短絡を生じていないと判定された複数の被拘束電池１０Ｐを有する未接続電池スタック１Ｍについてのみ、相互に接続して、容易に接続済み未接続電池スタック１を製造できる。

【0047】

一方、除去工程Ｓ６では、少なくとも１つの不良電池１０Ｎが含まれている未接続電池スタック１Ｍから、不良電池１０Ｎを除去する。具体的には、拘束部材５の拘束ボルト５２とナット５３との締結を緩め、未接続電池スタック１Ｍから不良電池１０Ｎを除去し、製造工程から排出する。

【0048】

続く再拘束工程Ｓ７では、不良電池１０Ｎを除去した未接続電池スタック１Ｍに、不足数分の補充用電池１０Ｈを補充し、拘束部材５を用いて、一群の被拘束電池１０Ｐを再度拘束して、未接続電池スタック１Ｍ（図２参照）を再構成する。補充用電池１０Ｈとしては、別の未接続電池スタック１Ｍに含まれて、既に拘束短絡検査工程Ｓ４７で短絡を生じていないと判定されており、補充用として予め用意しておいた電池１０を用いる。その後、再構成された未接続電池スタック１Ｍについて、再度、拘束短絡検査工程Ｓ４７を行い、不良電池１０Ｎが発生しなくなるまで補充用電池１０Ｈを補充し未接続電池スタック１Ｍの再構成を繰り返す。拘束短絡判定工程Ｓ４７５において、再構成した未接続電池スタック１Ｍに不良電池１０Ｎが含まれていない場合には、前述と同様、再構成した未接続電池スタック１Ｍを接続工程Ｓ５に移行させる。

【0049】

その後、接続工程Ｓ５では、再構成された未接続電池スタック１Ｍをなす一群の被拘束電池１０Ｐの正極端子１４及び負極端子１５にバスバ３を接続し、被拘束電池１０Ｐを相互に接続して、電池スタック１（図１参照）を完成させる。かくして、未接続電池スタック１Ｍ内に短絡を生じた電池１０が含まれていた場合でも、容易に未接続電池スタック１Ｍを再構成して電池スタック１を製造することができる。

【0050】

以上のようにして、拘束短絡検査工程Ｓ４７の拘束短絡判定工程Ｓ４７５で、未接続電池スタック１Ｍに不良電池１０Ｎが含まれていない（Ｎｏ）と判定された場合、含まれている（Ｙｅｓ）と判定された場合のいずれでも、電池スタック１を完成させることができる。

【0051】

なお、再拘束工程Ｓ２Ｂで、再拘束することで再構成した未接続電池スタック１Ｍにおいて不良電池１０Ｎの発生する可能性が低い場合には、図６において破線で示すように、第２接続工程Ｓ２Ｃで、再構成された未接続電池スタック１Ｍをなす一群の被拘束電池１０Ｐの正極端子１４及び負極端子１５にバスバ３を接続し、被拘束電池１０Ｐを相互に接続して、電池スタック１（図６参照）を完成させようにしても良い。このようにすると、さらに容易に未接続電池スタック１Ｍを再構成して電池スタック１を製造することができる。

【0052】

前述したように、電圧調整工程Ｓ４１で、ＣＣＣＶ充電により、電池１０の電池電圧ＶＢを第１電圧ＶＢ１とする（以下、このタイミングを調整完了時Ｔｃとする。）と、調整完了時Ｔｃ以降、電池１０が短絡を生じていない場合には、例えば図６のグラフに示すように、経過時間ＫＴの増加と共に、電池１０の電池電圧ＶＢは減少する。即ち、ＣＣＣＶ充電を終了すると、ＣＶ充電の終了直前には、電池１０にカットオフ電流（例えば０．３Ｃ）を流すことによって電池抵抗によって生じていた電圧降下分だけ、電池電圧ＶＢが速やかに低下する。更に、調整完了時Ｔｃの直後から数時間～１日程度経過するまでの期間に電池電圧ＶＢが大きく（例えば図６では、０．００３Ｖ＝３ｍＶ）程度低下した後、さらに徐々に低下する。但し、電池電圧ＶＢの低下は、徐々に緩やかになり、数１００日掛かって、電池電圧ＶＢは安定する。即ち、電池電圧ＶＢを第１電圧ＶＢ１とした調整完了時Ｔｃから、数日経過以降も電池電圧ＶＢは低下し続けるが、直線的に低下するのでは無く、経過時間ＫＴが大きくなるほど電池電圧ＶＢの低下が緩やかになり、図６に示すように、下に凸の形状のグラフとなる。

【0053】

なお、電池１０に短絡が生じていない場合には、電池１０が無拘束の場合（例えば、前述した個別放置工程Ｓ４２２の個別放置期間ＩＨ中の場合。なお、無拘束には、電池１０の運搬の際などに掛かる振動や衝撃などでは動かない程度に電池１０を弱く拘束する場合も含む。）、拘束下の場合（例えば、前述した拘束放置工程Ｓ４７２の拘束放置期間ＰＨ中の場合）のいずれでも、電池１０の電池電圧ＶＢは、図６に示すようになり、概ね同様に推移する。

【0054】

そして、各電池１０は、個々の電池１０毎に定まる調整完了時Ｔｃを基点として、図６に示すように、その電池電圧ＶＢが低下することになる。このため、電池１０同士で個別放置期間ＩＨや拘束放置期間ＰＨの長さを同じとしても、電圧調整工程Ｓ４１による電池電圧ＶＢの調整完了時Ｔｃからの経過時間ＫＴの大小によって、これらの期間ＩＨ，ＰＨの前後に生じる第３電圧低下量ΔＶＢ３や電圧低下率ＤＶＢ２，ＤＶＢ３が異なる大きさとなる。

【0055】

但し、前述の短絡検査・拘束工程Ｓ４のうち、前段に行う個別短絡検査工程Ｓ４２では、個別短絡判定工程Ｓ４２５において、電池１０毎に短絡の有無を判定できるので、電池１０相互で経過時間ＫＴが異なっていても、経過時間ＫＴの違いを考慮した大きさのしきい低下率ＴＨＤ２を用いたり、経過時間ＫＴの違いに応じて異なるしきい低下率ＴＨＤ２を用いるようにすれば良く、短絡有無の判定に影響しないようにできる。

【0056】

一方、短絡検査・拘束工程Ｓ４のうち、後段に行う拘束短絡検査工程Ｓ４７では、各被拘束電池１０Ｐを未接続電池スタック１Ｍ毎に扱い、拘束短絡判定工程Ｓ４７５では、前述のように、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する一群の被拘束電池１０Ｐについてそれぞれ第３電圧低下率ＤＶＢ３を取得し、平均低下率ＡＤＶＢ３（或いは中央低下率ＭＤＶ３）との比較により、各被拘束電池１０Ｐの短絡の有無を判定している。このため、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する一群の被拘束電池１０Ｐ相互で調整完了時Ｔｃが異なっている場合には、短絡有無の判定に影響する可能性がある。例えば、一群の被拘束電池１０Ｐのうち、多数の被拘束電池１０Ｐは調整完了時Ｔｃからの経過時間ＫＴが長く、第３電圧低下率ＤＶＢ３が小さいのに対し、１又は小数の被拘束電池１０Ｐは調整完了時Ｔｃからの経過時間ＫＴが短く、第３電圧低下率ＤＶＢ３が大きい場合である。

【0057】

図７を用いて、簡単化した例で具体的に説明する。前述した拘束工程Ｓ４３において形成した、或る未接続電池スタック１Ｍに属する一群（例えば２８個）の被拘束電池１０Ｐについて見たとき、２７個の被拘束電池１０Ｐ（以下、古い被拘束電池１０Ｐともいう）の調整完了時Ｔｃは互いに同じ最古調整完了時Ｔｃｆであったとする。一方、残る１個の被拘束電池１０Ｐ（以下、新しい被拘束電池１０Ｐともいう）の調整完了時Ｔｃは、２７個の古い被拘束電池１０Ｐの最古調整完了時Ｔｃｆから丁度１０．０日遅れの最新調整完了時Ｔｃｓであったとする。そして、これら２８個の被拘束電池１０Ｐがいずれも短絡していない場合には、各被拘束電池１０Ｐの（拘束工程Ｓ４３による拘束前からの）電池電圧ＶＢの推移は、概ね、図７に示す２本のグラフで示される。２本のグラフのうち図中左側に示されたグラフが、２７個の古い被拘束電池１０Ｐの（代表的な）電池電圧ＶＢの変化を示す。一方、図中右側に示されたグラフが、１個の新しい被拘束電池１０Ｐの電池電圧ＶＢの変化を示す。図７から容易に理解できるように、経過時間ＫＴｓが大きくなるほど、２つのグラフの間に生じている電池電圧ＶＢの差は小さくなる。なお図７では、最新調整完了時Ｔｃｓを起点として、横軸の経過時間ＫＴｓを表示している。

【0058】

ここで、拘束短絡検査工程Ｓ４７の放置前電圧測定工程Ｓ４７１を、２７個の古い被拘束電池１０Ｐの最古調整完了時Ｔｃｆから１５．０日経過後で、且つ、１個の新しい被拘束電池１０Ｐの最新調整完了時Ｔｃｓから５．０日経過後に行って、放置前第３電圧ＶＢ３ａをそれぞれ測定したとする。更に、拘束放置期間ＰＨを５日間として拘束放置工程Ｓ４７２を行い、放置前電圧測定工程Ｓ４７１から５．０日後に放置後電圧測定工程Ｓ４７３を行って、放置後第３電圧ＶＢ３ｂをそれぞれ測定したとする。そして、電圧低下率取得工程Ｓ４７４で、２８個の被拘束電池１０Ｐについて、第３電圧低下率ＤＶＢ３をそれぞれ取得したとする。

【0059】

すると、図７において左側のグラフで示される、２７個の古い被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下量ΔＶＢ３ｆ及び第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆは、互いに近似した値となり、且つ、比較的小さな値になる。一方、図７において右側のグラフで示される、１個の新しい被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下量ΔＶＢ３ｓ及び第３電圧低下率ＤＶＢ３ｓは、古い被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下量ΔＶＢ３ｆ及び第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆに比して、比較的大きな値となる（図７参照）。

【0060】

このため、前述したように、拘束短絡判定工程Ｓ４７５で２８個の第３電圧低下率ＤＶＢ３から平均低下率ＡＤＶＢ３を算出し、これに許容幅ＰＷ３を加えてしきい低下率ＴＨＤ３（＝ＡＤＶＢ３＋ＰＷ３）を得て、各被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３と比較した場合、２７個の古い被拘束電池１０Ｐは不良電池１０Ｎとは判定されない。古い被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆは、平均低下率ＡＤＶＢ３に近似した値となるからである。しかし、１個の新しい被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３ｓは、しきい低下率ＴＨＤ３よりも大きく（ＤＶＢ３ｓ＞ＴＨＤ３）なり、不良電池１０Ｎであると誤判定される場合が生じ得る。

【0061】

このように、拘束工程Ｓ４３で、一群（例えば２８個）の電池１０（被拘束電池１０Ｐ）を用いて、未接続電池スタック１Ｍを構成するに当たり、調整完了時Ｔｃが大きく異なっている被拘束電池１０Ｐが混在した未接続電池スタック１Ｍを構成する場合があり得る。前述したように、例えば、同一処理ロットに属する電池に端数が生じ、ロットが混在した複数の電池を用いる場合、長期連休や停電などのアクシデントなどで電池の製造工程や電圧調製工程のタイミングが乱れた場合などが考えられる。

【0062】

そして、このような調整完了時Ｔｃが大きく異なっている被拘束電池１０Ｐが混在した未接続電池スタック１Ｍについて、上述のような不具合発生を抑制するには、当該未接続電池スタック１Ｍに属するいずれの被拘束電池１０Ｐも、調整完了時Ｔｃからの経過時間ＫＴが大きくなるようにすると良い。そこで本実施形態では、電圧調整工程Ｓ４１の後で放置前電圧測定工程Ｓ４７１の前に、具体的には、拘束工程Ｓ４３の後で放置前電圧測定工程Ｓ４７１に先立ち、算出工程Ｓ４４～繰延工程Ｓ４６を行う。

【0063】

更に具体的には、まず算出工程Ｓ４４では、単一の未接続電池スタック１Ｍに含まれる複数の被拘束電池１０Ｐのうち、調整完了時Ｔｃが最も古い最古被拘束電池１０Ｐｆの最古調整完了時Ｔｃｆと、調整完了時Ｔｃが最も新しい最新被拘束電池１０Ｐｓの最新調整完了時Ｔｃｓとの時間差である最大調整時期差ΔＴｃｘを算出する。例えば前述の例で言えば、最大調整時期差ΔＴｃｘ＝１０．０日（＝２４０時間）である（図７参照）。なお、図２では、左から２番目の被拘束電池１０Ｐが最古被拘束電池１０Ｐｆであり、右から２番目の被拘束電池１０Ｐが最新被拘束電池１０Ｐｓである場合を示す。

【0064】

次いで取得工程Ｓ４５では、予め得ておいた待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）に基づき、最新調整完了時Ｔｃｓの後、放置前電圧測定工程Ｓ４７１の開始を許容するまでの最短待機時間ＷＴｍｉｎ（たとえば、ＷＴｍｉｎ＝１５．０日間）を取得する。上述の待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）は、最大調整時期差ΔＴｃｘから最短待機時間ＷＴｍｉｎを得る関数であり、最大調整時期差ΔＴｃｘが大きいほど得られる最短待機時間ＷＴｍｉｎが長くなる関数である。

【0065】

なお、最大調整時期差ΔＴｃｘのほか、最新調整完了時Ｔｃｓ（日時）が既知である場合には、待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）に基づき、最短待機時間ＷＴｍｉｎに代えて、或いは最短待機時間ＷＴｍｉｎと共に、放置前電圧測定工程Ｓ４７１の開始を許容する最先開始時期ＳＳＴ（日時）を得るようにしても良い。また、最短待機時間ＷＴｍｉｎや最先開始時期ＳＳＴは、待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）に基づいて取得すれば良く、最短待機時間ＷＴｍｉｎを得るに当たり、その都度、待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）を用いて算出しても良いが、待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）のグラフや、最大調整時期差ΔＴｃｘと最短待機時間ＷＴｍｉｎや最先開始時期ＳＳＴとの関係を示す表を予め作成しておき、これを用いて、最短待機時間ＷＴｍｉｎや最先開始時期ＳＳＴを得るようにしても良い。

【0066】

そして、続く繰延工程Ｓ４６では、最新調整完了時Ｔｃｓから取得工程Ｓ４５で得た最短待機時間ＷＴｍｉｎ（たとえば、ＷＴｍｉｎ＝１５．０日間）が経過するまで、又は、最短待機時間ＷＴｍｉｎに対応する最先開始時期ＳＳＴ（日時）が到来するまで、放置前電圧測定工程Ｓ４７１を行うのを繰り延べる。繰り延べた後は、前述の拘束短絡検査工程Ｓ４７（放置前電圧測定工程Ｓ４７１～拘束短絡判定工程Ｓ４７５）のほか、接続工程Ｓ５或いは除去工程Ｓ６、再拘束工程Ｓ７を行う。かくして、電池スタック１（図１参照）を完成させることができる。

【0067】

しかも、例えば、前述の例（図７参照）では、最新調整完了時Ｔｃｓから５．０日経過後に放置前電圧測定工程Ｓ４７１を行った場合に、新しい被拘束電池１０Ｐが不良電池１０Ｎであると誤判定される虞があると説明した。

【0068】

これに対し、繰延工程Ｓ４６で、最新調整完了時Ｔｃｓから最短待機時間ＷＴｍｉｎ＝１５．０日間が経過するまで、放置前電圧測定工程Ｓ４７１を行うのを繰り延べた場合には、図７において左側のグラフで示される、２７個の古い被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆ’は、繰り延べなかった前述の場合の第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆよりも小さな値（ＤＶＢ３ｆ’＜ＤＶＢ３ｆ）となる。一方、図７において右側のグラフで示される、１個の新しい被拘束電池１０Ｐの第３電圧低下率ＤＶＢ３ｓ’も、繰り延べなかった前述の場合の第３電圧低下率ＤＶＢ３ｓよりも小さな値（ＤＶＢ３ｓ’＜ＤＶＢ３ｓ）より小さな値となる。その上、第３電圧低下率ＤＶＢ３ｓ’と第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆ’との差（ＤＶＢ３ｓ’－ＤＶＢ３ｆ’）も、繰り延べなかった前述の場合における第３電圧低下率ＤＶＢ３ｓと第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆとの差（ＤＶＢ３ｓ－ＤＶＢ３ｆ）に比して小さくなる（図７参照）。このため、繰延工程Ｓ４６により放置前電圧測定工程Ｓ４７１の開始を繰り延べた後に、前述同様の放置前電圧測定工程Ｓ４７１～拘束短絡判定工程Ｓ４７５を行った場合、拘束短絡判定工程Ｓ４７５において、１個の新しい被拘束電池１０Ｐが不良電池１０Ｎであると誤判定される虞を減少させることができる。

【0069】

なお、単一の未接続電池スタック１Ｍに含まれる一群の被拘束電池１０Ｐの調整完了時Ｔｃがいずれもほぼ同じであり、最大調整時期差ΔＴｃｘが小さい値になる場合には、小さな値の最短待機時間ＷＴｍｉｎが得られる。この場合には、得られた最短待機時間ＷＴｍｉｎよりも、電圧調整工程Ｓ４１から放置前電圧測定工程Ｓ４７１に至るまでに掛かる時間の方が長くなり、繰延工程Ｓ４６での繰り延べを、実質的に行わない場合や、ごく短くなる場合もあり得る。

【0070】

かくして、この短絡検査方法及び製造方法によれば、単一の未接続電池スタック１Ｍに含まれる複数の被拘束電池１０Ｐの調整完了時Ｔｃがほぼ同時期である（揃っている）場合には、調整完了時Ｔｃが古いか新しいかに拘わらず、繰り延べをしないで、或いは、短期間の繰り延べを行って、速やかに放置前電圧測定工程Ｓ４７１を開始して、拘束短絡検査工程Ｓ４７を行い、適切に各被拘束電池１０Ｐの短絡の有無を判定することができる。その一方、調整完了時Ｔｃの時期が揃っていない場合には、最大調整時期差ΔＴｃｘの大きさに応じて放置前電圧測定工程Ｓ４７２を行うのを繰り延べることで、単一の未接続電池スタック１Ｍに含まれる最古被拘束電池１０Ｐｆから最新被拘束電池１０Ｐｓまでいずれの被拘束電池１０Ｐについても、調整完了時Ｔｃの時期に拘わらず、適切に短絡の有無を判定することができる。

【0071】

なお、前述の待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）は、例えば、先行する同一ロットや同一型番の電池１０について予め得ておいた調整完了時Ｔｃ以降の経過時間ＫＴと電池電圧ＶＢとの関係（例えば図６参照）を用いて、予め得ておく。前述した図７と同じ図８を用いて説明する。図８の２本のグラフは、前述した内容から理解できるように、単一の未接続電池スタック１Ｍに属する一群の被拘束電池１０Ｐにおける最大調整時期差ΔＴｃｘが、ΔＴｃｘ＝１０．０日である場合を示している。そして、拘束放置工程Ｓ４７２における拘束放置期間ＰＨを適宜の期間（例えばＰＨ＝５．０日間）に設定する。

【0072】

すると、図８の左側のグラフからは、それぞれの経過時間ＫＴｓに対応して、最古被拘束電池１０Ｐｆに生じると予測される第３電圧低下率ＤＶＢ３ｆである最古予測低下率ＰＤＶｆを得ることができる。また図８の右側のグラフからも、それぞれの経過時間ＫＴｓに対応した、最新被拘束電池１０Ｐｓに生じると予測される第３電圧低下率ＤＶＢ３ｓである最新予測低下率ＰＤＶｓを得ることができる。なお図８には、経過時間ＫＴｓ＝１０．０日、拘束放置期間ＰＨ＝５．０日間とした場合を示す。

【0073】

更には、同じ経過時間ＫＴｓに対応した、最新予測低下率ＰＤＶｓから最古予測低下率ＰＤＶｆを差し引いた予測低下率差ＰＤＤＶ（＝ＰＤＶｓ－ＰＤＶｆ）をも得ることができる。この予測低下率差ＰＤＤＶは、経過時間ＫＴｓの経過と共に小さくなる。そこで、この予測低下率差ＰＤＤＶが、所定の上限低下率差ＵＰＤＤＶ以下の大きさとなる最小の経過時間ＫＴｓを、前述の最短待機時間ＷＴｍｉｎとする。このようにして、最大調整時期差ΔＴｃｘ毎に最短待機時間ＷＴｍｉｎを得ることで、待機時間関数Ｆ（ΔＴｃｘ）、これに基づくグラフや表を容易に得ることができる。

【0074】

なお、上限低下率差ＵＰＤＤＶには、適宜の値を採用すれば良いが、調整完了時Ｔｃがほぼ同じ複数の電池１０の予測低下率ＰＤＶに生じ得るバラツキよりも小さな値とすると良い。調整完了時Ｔｃの違いによる予測低下率ＰＤＶの変動が、予測低下率ＰＤＶに生じるバラツキに隠れることになるからである。

【0075】

本実施形態の電池１０の短絡検査方法及び電池１０の製造方法では、電池スタック１に含まれる複数の被拘束電池１０Ｐの調整完了時Ｔｃがほぼ同時期である場合には、調整完了時Ｔｃが古いか新しいかに拘わらず、繰り延べをしないで或いは短い繰り延べを介して、速やかに放置前電圧測定工程Ｓ４７１を開始して、拘束短絡検査工程Ｓ４７を行い、適切に被拘束電池１０Ｐ（電池１０）の短絡の有無を判定することができる。一方、調整完了時Ｔｃの時期が揃っていない場合でも、最大調整時期差ΔＴｃｘに応じて放置前電圧測定工程Ｓ４７１を行うのを繰り延べる。これにより、最古被拘束電池１０Ｐｆから最新被拘束電池１０Ｐｓまで、調整完了時Ｔｃの時期に拘わらず、即ち、調整完了時Ｔｃからの経過時間ＫＴの大小に拘わらず、各電池１０について適切に短絡の有無を判定することができる。

【0076】

以上において、本発明を実施形態に即して説明したが、本発明は実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用できることは言うまでもない。
例えば、実施形態の電池スタック１では、被拘束電池１０Ｐ同士をバスバ３で電気的に直列接続した。しかし、被拘束電池１０Ｐを電気的に並列接続したデバイス拘束体とすることもできる。

【符号の説明】

【0077】

１ 電池スタック（接続済みデバイス拘束体）
１Ｍ 未接続電池スタック（デバイス拘束体）
ＳＨ 積層方向
３ バスバ
５ 拘束部材
１０ 電池（二次電池、蓄電デバイス）
１０Ｎ 不良電池
１０Ｈ 補充用電池
１０Ｐ 被拘束電池（被拘束デバイス）
１０Ｐｆ 最古被拘束電池（最古調整デバイス）
１０Ｐｓ 最新被拘束電池（最新調整デバイス）
ＶＢ 電池電圧
ＶＢ１ 第１電圧（第１デバイス電圧）
ＶＢ３ａ，ＶＢ３ｆａ，ＶＢ３ｓａ，ＶＢ３ｆａ’，ＶＢ３ｓａ’ 放置前第３電圧（放置前デバイス電圧）
ＶＢ３ａ，ＶＢ３ｆａ，ＶＢ３ｓａ，ＶＢ３ｆａ’，ＶＢ３ｓａ’ 放置後第３電圧（放置後デバイス電圧）
ＤＶＢ３，ＤＶＢ３ｆ，ＤＶＢ３ｓ，ＤＶＢ３ｆ’，ＤＶＢ３ｓ’ 第３電圧低下率
ＡＤＶＢ３ 平均低下率
Ｔｃ 調整完了時
Ｔｃｆ 最古調整完了時
Ｔｃｓ 最新調整完了時
ＫＴ，ＫＴｓ 経過時間
ΔＴｃｘ 最大調整時期差
Ｆ（ΔＴｃｘ） 待機時間関数
ＷＴｍｉｎ 最短待機時間
ＳＳＴ 最先開始時期
ＰＤＶｆ 最古予測低下率（第２予測低下率）
ＰＤＶｓ 最新予測低下率（第１予測低下率）
ＰＤＤＶ 予測低下率差
ＵＰＤＤＶ 上限低下率差
Ｓ１ 初充電工程
Ｓ４ 短絡検査・拘束工程
Ｓ４１ 電圧調整工程
ＩＨ 個別放置期間
Ｓ４３ 拘束工程
Ｓ４４ 算出工程
Ｓ４５ 取得工程
Ｓ４６ 繰延工程
Ｓ４７ 拘束短絡検査工程（短絡検査工程）
Ｓ４７１ 放置前電圧測定工程
Ｓ４７２ 拘束放置工程
ＰＨ 拘束放置期間
Ｓ４７３ 放置後電圧測定工程
Ｓ４７４ 電圧低下率取得工程
Ｓ４７５ 拘束短絡判定工程
Ｓ５ 接続工程
Ｓ６ 除去工程
Ｓ７ 再拘束工程

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】