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特開2024-53291点検用モジュールおよびこれを備えた生体試料分析システム、生体試料分析装置の点検方法
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024053291
(43)【公開日】2024-04-15
(54)【発明の名称】点検用モジュールおよびこれを備えた生体試料分析システム、生体試料分析装置の点検方法
(51)【国際特許分類】
G01N 27/26 20060101AFI20240408BHJP
G01N 27/416 20060101ALI20240408BHJP
C12M 1/00 20060101ALN20240408BHJP
【ＦＩ】
G01N27/26 391Z
G01N27/416 300M
C12M1/00 A
【審査請求】未請求
【請求項の数】7
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022159442
(22)【出願日】2022-10-03
(71)【出願人】
【識別番号】314005768
【氏名又は名称】ＰＨＣホールディングス株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100129012
【弁理士】
【氏名又は名称】元山 雅史
(72)【発明者】
【氏名】山本 正樹
(72)【発明者】
【氏名】渡邊 浩二
(72)【発明者】
【氏名】池谷 生一郎
(72)【発明者】
【氏名】平塚 隆繁
(72)【発明者】
【氏名】渡辺 英式
(72)【発明者】
【氏名】中前 賢太
【テーマコード（参考）】
4B029
【Ｆターム（参考）】
4B029AA07
4B029BB01
4B029CC01
4B029FA15
(57)【要約】
【課題】生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することが可能な点検用モジュールを提供する。
【解決手段】点検用モジュール１０は、細胞培養分析装置３０にセットされた状態で電圧が印加されることで細胞培養分析装置３０に含まれる測定回路の点検を実施するモジュールであって、基板１１、電極部１４、抵抗部１５を備える。基板１１は、第１面１１ａと第１面１１ａとは反対側の第２面１１ｂとを有する。電極部１４は、基板１１に設けられ、細胞培養分析装置３０に設けられたコンタクトプローブ３２ａと当接し所定の電圧が印加される。抵抗部１５は、基板１１に設けられ、電極部１４と電気的に接続され、正常状態においてコンタクトプローブ３２ａから所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する。
【選択図】図６
【解決手段】点検用モジュール１０は、細胞培養分析装置３０にセットされた状態で電圧が印加されることで細胞培養分析装置３０に含まれる測定回路の点検を実施するモジュールであって、基板１１、電極部１４、抵抗部１５を備える。基板１１は、第１面１１ａと第１面１１ａとは反対側の第２面１１ｂとを有する。電極部１４は、基板１１に設けられ、細胞培養分析装置３０に設けられたコンタクトプローブ３２ａと当接し所定の電圧が印加される。抵抗部１５は、基板１１に設けられ、電極部１４と電気的に接続され、正常状態においてコンタクトプローブ３２ａから所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する。
【選択図】図６
【特許請求の範囲】
【請求項1】
生体試料分析装置にセットされた状態で電圧が印加されることで前記生体試料分析装置に含まれる測定回路の点検を実施する点検用モジュールであって、
第１面と前記第１面とは反対側の第２面とを有する基板と、
前記基板に設けられており、前記生体試料分析装置に設けられた電圧印加部と当接し、前記電圧印加部から所定の電圧が印加される電極部と、
前記基板に設けられており、前記電極部と電気的に接続され、正常状態において前記電圧印加部から前記所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する抵抗部と、
を備えている点検用モジュール。
第１面と前記第１面とは反対側の第２面とを有する基板と、
前記基板に設けられており、前記生体試料分析装置に設けられた電圧印加部と当接し、前記電圧印加部から所定の電圧が印加される電極部と、
前記基板に設けられており、前記電極部と電気的に接続され、正常状態において前記電圧印加部から前記所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する抵抗部と、
を備えている点検用モジュール。
【請求項2】
前記電極部は、前記基板の前記第１面に配置されており、
前記抵抗部は、前記基板の前記第２面に配置されている、
請求項１に記載の点検用モジュール。
前記抵抗部は、前記基板の前記第２面に配置されている、
請求項１に記載の点検用モジュール。
【請求項3】
前記抵抗部は、３つ設けられている、
請求項１または２に記載の点検用モジュール。
請求項１または２に記載の点検用モジュール。
【請求項4】
前記基板には、１つの測定対象に対して用意された前記電極部および前記抵抗部を１組として、複数組の前記電極部および前記抵抗部が配置されている、
請求項１または２に記載の点検用モジュール。
請求項１または２に記載の点検用モジュール。
【請求項5】
請求項１または２に記載の点検用モジュールと、
前記点検用モジュールの前記電極部に対して当接した状態で所定の電圧を印加する電圧印加部と、
前記点検用モジュールの前記抵抗部に流れる電流を測定する測定装置と、
前記測定装置における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定する制御装置と、
を備えた生体試料分析システム。
前記点検用モジュールの前記電極部に対して当接した状態で所定の電圧を印加する電圧印加部と、
前記点検用モジュールの前記抵抗部に流れる電流を測定する測定装置と、
前記測定装置における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定する制御装置と、
を備えた生体試料分析システム。
【請求項6】
前記制御装置は、前記測定装置における測定結果が所定の範囲外である場合には、接続不良、あるいは測定回路の異常があると判定する、
請求項５に記載の生体試料分析システム。
請求項５に記載の生体試料分析システム。
【請求項7】
請求項１または２に記載の点検用モジュールを用いた生体試料分析装置の点検方法であって、
前記点検用モジュールを前記生体試料分析装置にセットするステップと、
前記点検用モジュールの前記電極部に所定の電圧を印加するステップと、
前記点検用モジュールの前記抵抗部を流れる電流を測定するステップと、
前記電流の値が所定の範囲内であるか否かに応じて、前記生体試料分析装置に含まれる測定回路が正常であるか否かを判定するステップと、
を備えた点検方法。
前記点検用モジュールを前記生体試料分析装置にセットするステップと、
前記点検用モジュールの前記電極部に所定の電圧を印加するステップと、
前記点検用モジュールの前記抵抗部を流れる電流を測定するステップと、
前記電流の値が所定の範囲内であるか否かに応じて、前記生体試料分析装置に含まれる測定回路が正常であるか否かを判定するステップと、
を備えた点検方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、生体試料分析装置の点検を行う点検用モジュールおよびこれを備えた生体試料分析システム、生体試料分析装置の点検方法に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、細胞培養等の分野において、生体試料の測定を実施する測定装置が広く用いられている。
例えば、特許文献１には、例えば、血液中の血糖、コレステロールなどを選択的に定量分析することができる電気化学的バイオセンサーテストストリップ及びこのテストストリップを利用する電気化学的バイオセンサー測定器について開示されている。
例えば、特許文献１には、例えば、血液中の血糖、コレステロールなどを選択的に定量分析することができる電気化学的バイオセンサーテストストリップ及びこのテストストリップを利用する電気化学的バイオセンサー測定器について開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特表２００３－５２８３１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、上記従来の電気化学的バイオセンサーテストストリップでは、以下に示すような問題点を有している。
すなわち、上記公報に開示された電気化学的バイオセンサーテストストリップでは、固定された試薬がどの物質の定量分析のためのものかを示す認識電極を備えており、血糖、コレステロール、ＧＯＴ、ＧＰＴ等の様々な血中成分を一つの測定器を用いて定量的に分析することができる。しかし、このテストストリップでは、測定器において接続不良、断線、ＩＣの故障等の測定回路の異常が生じている場合でも、使用者がそれに気付かずに使用してしまい、測定結果を得られない、あるいは誤った測定結果を得てしまうおそれがある。
すなわち、上記公報に開示された電気化学的バイオセンサーテストストリップでは、固定された試薬がどの物質の定量分析のためのものかを示す認識電極を備えており、血糖、コレステロール、ＧＯＴ、ＧＰＴ等の様々な血中成分を一つの測定器を用いて定量的に分析することができる。しかし、このテストストリップでは、測定器において接続不良、断線、ＩＣの故障等の測定回路の異常が生じている場合でも、使用者がそれに気付かずに使用してしまい、測定結果を得られない、あるいは誤った測定結果を得てしまうおそれがある。
【0005】
本発明の課題は、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することが可能な点検用モジュールおよびこれを備えた生体試料分析装置、生体試料分析装置の点検方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
第１の発明に係る点検用モジュールは、生体試料分析装置にセットされた状態で電圧が印加されることで生体試料分析装置に含まれる測定回路の点検を実施する点検用モジュールであって、基板と、電極部と、抵抗部と、を備えている。基板は、第１面と第１面とは反対側の第２面とを有する。電極部は、基板に設けられており、生体試料分析装置に設けられた電圧印加部と当接し、電圧印加部から所定の電圧が印加される。抵抗部は、基板に設けられており、電極部と電気的に接続され、正常状態において電圧印加部から所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する。
【0007】
ここでは、通常、生体試料の測定を行うセンサを取り付けた状態で実施されていた生体試料分析装置の測定回路の点検を実施するために、電極部と抵抗部とが基板上に設けられた点検用モジュールを用いる。
ここで、抵抗部は、電極部に対して所定の電圧が印加された際に、所定の電流値を生じさせる抵抗値を有する抵抗であって、抵抗部に流れる電流値を測定することで、生体試料分析装置の測定回路の電気的な接続不良の有無、測定回路の不具合の有無等の点検を実施することができる。
ここで、抵抗部は、電極部に対して所定の電圧が印加された際に、所定の電流値を生じさせる抵抗値を有する抵抗であって、抵抗部に流れる電流値を測定することで、生体試料分析装置の測定回路の電気的な接続不良の有無、測定回路の不具合の有無等の点検を実施することができる。
【0008】
これにより、生体試料の測定を行うセンサを用いた点検と比較して、電気化学方式のセンサのように培地等の液体を準備する必要がなく、取り扱いが容易になる。また、センサのように、個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。さらに、センサを用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
この結果、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。
この結果、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。
【0009】
第２の発明に係る点検用モジュールは、第１の発明に係る点検用モジュールであって、電極部は、基板の第１面に配置されており、抵抗部は、基板の第２面に配置されている。
これにより、基板上に配置された際に凹凸を生じさせる抵抗部を、電極部とは反対側の第２面に配置させることで、電極部が設けられた第１面の清掃を容易に行うことができる。
これにより、基板上に配置された際に凹凸を生じさせる抵抗部を、電極部とは反対側の第２面に配置させることで、電極部が設けられた第１面の清掃を容易に行うことができる。
【0010】
第３の発明に係る点検用モジュールは、第１または第２の発明に係る点検用モジュールであって、抵抗部は３つ設けられている。
これにより、センサを用いた測定時とほぼ同等の状態で、点検を実施することができる。
これにより、センサを用いた測定時とほぼ同等の状態で、点検を実施することができる。
【0011】
第４の発明に係る点検用モジュールは、第１または第２の発明に係る点検用モジュールであって、基板には、１つの測定対象に対して用意された電極部および抵抗部を１組として、複数組の電極部および抵抗部が配置されている。
これにより、複数のセンサを用いて同時に測定を行う生体試料分析装置の点検を、１つの点検用モジュールを用いて実施することができる。
これにより、複数のセンサを用いて同時に測定を行う生体試料分析装置の点検を、１つの点検用モジュールを用いて実施することができる。
【0012】
第５の発明に係る生体試料分析システムは、第１または第２の発明に係る点検用モジュールと、点検用モジュールの電極部に対して当接した状態で所定の電圧を印加する電圧印加部と、点検用モジュールの抵抗部に流れる電流を測定する測定装置と、測定装置における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定する制御装置と、を備えている。
これにより、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができるシステムを構築することができる。
これにより、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができるシステムを構築することができる。
【0013】
第６の発明に係る生体試料分析システムは、第５の発明に係る生体試料分析システムであって、制御装置は、測定装置における測定結果が所定の範囲外である場合には、接続不良、あるいは測定回路の異常があると判定する。
これにより、抵抗部を流れる電流値が所定の範囲内であるか否かに応じて、接続不要あるいは測定回路の異常の有無を検知することができる。
これにより、抵抗部を流れる電流値が所定の範囲内であるか否かに応じて、接続不要あるいは測定回路の異常の有無を検知することができる。
【0014】
第７の発明に係る点検用モジュールは、第１または第２の発明に係る点検用モジュールを用いた生体試料分析装置の点検方法であって、点検用モジュールを生体試料分析装置にセットするステップと、点検用モジュールの電極部に所定の電圧を印加するステップと、点検用モジュールの抵抗部を流れる電流を測定するステップと、電流の値が所定の範囲内であるか否かに応じて、生体試料分析装置に含まれる測定回路が正常であるか否かを判定するステップと、を備えている。
【0015】
これにより、生体試料の測定を行うセンサを用いた点検と比較して、電気化学方式のセンサのように培地等の液体を準備する必要がなく、取り扱いが容易になる。また、センサのように、個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。さらに、センサを用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
この結果、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。
この結果、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。
【発明の効果】
【0016】
本発明に係る点検用モジュールによれば、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。
【図面の簡単な説明】
【0017】
【図1】本発明の一実施形態に係る点検用モジュールがアダプタ上にセットされる状態を示す斜視図。
【発明を実施するための形態】
【0018】
本発明の一実施形態に係る点検用モジュール１０およびこれを備えた細胞培養分析システム（生体試料分析システム）１について、図１～図１２を用いて説明すれば以下の通りである。
なお、本実施形態では、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。
なお、本実施形態では、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。
【0019】
また、出願人は、当業者が本発明を十分に理解するために添付図面および以下の説明を提供するのであって、これらによって特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。
本実施形態の細胞培養分析システム（生体試料分析システム）１は、点検用モジュール１０と、点検用モジュール１０の電極部１４に対して当接した状態で所定の電圧を印加するコンタクトプローブ（電圧印加部）３２ａと、点検用モジュール１０の抵抗部１５に流れる電流を測定するＣＰＵ（測定装置）３４と、ＣＰＵ３４における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定するＰＣ（制御装置）３７と、を備えている（図１１参照）。
本実施形態の細胞培養分析システム（生体試料分析システム）１は、点検用モジュール１０と、点検用モジュール１０の電極部１４に対して当接した状態で所定の電圧を印加するコンタクトプローブ（電圧印加部）３２ａと、点検用モジュール１０の抵抗部１５に流れる電流を測定するＣＰＵ（測定装置）３４と、ＣＰＵ３４における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定するＰＣ（制御装置）３７と、を備えている（図１１参照）。
【0020】
本実施形態に係る点検用モジュール１０は、細胞培養分析システム１に含まれ、細胞培養分析装置（生体試料分析装置）３０（図５参照）にセットされた状態で電圧が印加されることで細胞培養分析装置３０に含まれる測定回路の点検を実施する。点検用モジュール１０は、図１に示すように、培地Ｘに含まれるグルコース等の濃度を測定するセンサ基板５０（図７等参照）の代わりに、アダプタ２０の本体部２０ａの上面にセットされた状態で、後述する細胞培養分析装置３０（図５参照）内に装填される。点検用モジュール１０は、図２（ａ）～図２（ｃ）および図３に示すように、基板１１と、ネジ１２と、脚部１３と、電極部１４と、抵抗部１５と、プレート部材１６と、を備えている。
【0021】
基板１１は、図２（ａ）～図２（ｃ）に示すように、略長方形の板状の部材であって、図１に示すアダプタ２０の本体部２０ａの上にセットされた状態において上面に当たる第１面１１ａと、第１面１１ａとは反対側の第２面１１ｂとを有している。
第１面１１ａは、図２（ａ）に示すように、表面に複数の電極部１４が設けられている。
第１面１１ａは、図２（ａ）に示すように、表面に複数の電極部１４が設けられている。
【0022】
第２面１１ｂは、図２（ｂ）に示すように、表面に複数の抵抗部１５が設けられている。そして、第２面１１ｂ上に配置された複数の抵抗部１５は、図２（ｃ）に示すように、第２面１１ｂの表面から突出している。
ネジ１２は、図３に示すように、略四角形の基板１１の４つの角にそれぞれ設けられた貫通穴に挿入され、後述するプレート部材１６の４つの角部に設けられたネジ穴に螺合する。これにより、基板１１がプレート部材１６に対して固定される。
ネジ１２は、図３に示すように、略四角形の基板１１の４つの角にそれぞれ設けられた貫通穴に挿入され、後述するプレート部材１６の４つの角部に設けられたネジ穴に螺合する。これにより、基板１１がプレート部材１６に対して固定される。
【0023】
脚部１３は、後述する略四角形のプレート部材１６の４つの角にそれぞれ下向きに突出するように設けられている。脚部１３は、図１に示すように、アダプタ２０の本体部２０ａの４つの角部に設けられた位置決め穴２０ｃの挿入されることで、培養容器２５の各ウェル２５ａに対する点検用モジュール１０の位置決めが行われる。
電極部１４は、後述する細胞培養分析装置３０のコンタクトプローブ（電圧印加部）３２ａが当接して所定の電圧が印加されることで、細胞培養分析装置３０の測定回路の接続不良や不具合の有無を検知する。また、電極部１４は、４つの電極部１４を１セットとして（図５参照）、後述する培養容器２５に含まれる１つのウェル２５ａ（図４参照）に対応している。本実施形態では、２４個のウェル２５ａに対して、電極部１４は、基板１１の第１面１１ａ上に２４セット（４×２４＝９６個）設けられている。
電極部１４は、後述する細胞培養分析装置３０のコンタクトプローブ（電圧印加部）３２ａが当接して所定の電圧が印加されることで、細胞培養分析装置３０の測定回路の接続不良や不具合の有無を検知する。また、電極部１４は、４つの電極部１４を１セットとして（図５参照）、後述する培養容器２５に含まれる１つのウェル２５ａ（図４参照）に対応している。本実施形態では、２４個のウェル２５ａに対して、電極部１４は、基板１１の第１面１１ａ上に２４セット（４×２４＝９６個）設けられている。
【0024】
抵抗部１５は、電極部１４と電気的に接続されており、電極部１４に所定の電圧が印加されると、細胞培養分析装置３０の測定回路が正常であれば、所定の範囲の電流が流れる抵抗値を有している。抵抗部１５は、図２（ｂ）に示すように、３つを１セットとして、後述する培養容器２５に含まれる１つのウェル２５ａ（図４参照）に対応している。本実施形態では、２４個のウェル２５ａに対して、抵抗部１５は、基板１１の第２面１１ｂ上に２４セット（３×２４＝７２個）設けられている。
【0025】
プレート部材１６は、図２（ａ）～図２（ｃ）に示す基板１１が上面に重ねられた状態で、４つのネジ１２を用いて固定される板状の部材であって、上述した脚部１３が４つの角部に設けられている。プレート部材１６は、図３に示すように、本体部１６ａと、複数の溝部１６ｂとを有している。
本体部１６ａは、略長方形の板状部材であって、基板１１の第２面１１ｂの表面から突出するように配置された複数の抵抗部１５に対向する位置に、複数の溝部１６ｂが形成されている。
本体部１６ａは、略長方形の板状部材であって、基板１１の第２面１１ｂの表面から突出するように配置された複数の抵抗部１５に対向する位置に、複数の溝部１６ｂが形成されている。
【0026】
溝部１６ｂは、略長方形の本体部１６ａの長手方向に略平行に形成された凹部であって、基板１１とプレート部材１６とが重ね合わされた状態で、抵抗部１５が配置される。
これにより、抵抗部１５の出っ張りを、プレート部材１６の溝部１６ｂによって吸収することができる。
培養容器２５は、図４に示すように、縦４列横６列の計２４個のウェル２５ａを含むように構成されている。培養容器２５は、図１に示すように、アダプタ２０とベース部材２３との間に配置されている。
これにより、抵抗部１５の出っ張りを、プレート部材１６の溝部１６ｂによって吸収することができる。
培養容器２５は、図４に示すように、縦４列横６列の計２４個のウェル２５ａを含むように構成されている。培養容器２５は、図１に示すように、アダプタ２０とベース部材２３との間に配置されている。
【0027】
本実施形態の点検用モジュール１０を用いて点検が行われる細胞培養分析装置３０は、図５に示すように、筐体部３０ａと、引き出し部３１とを有している。
引き出し部３１は、筐体部３０ａに対して進退することで、筐体部３０ａの内部空間Ｓ１内に、図１に示すアダプタ２０上にセットされた点検用モジュール１０が装填される。
細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａの内部空間Ｓ１内に装填された点検用モジュール１０は、細胞培養分析装置３０のコンタクトプローブ３２ａが各電極部１４に対して当接した状態で、点検用の所定の電圧が印加されることで、細胞培養分析装置３０の測定回路の不具合の有無を点検することができる。
引き出し部３１は、筐体部３０ａに対して進退することで、筐体部３０ａの内部空間Ｓ１内に、図１に示すアダプタ２０上にセットされた点検用モジュール１０が装填される。
細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａの内部空間Ｓ１内に装填された点検用モジュール１０は、細胞培養分析装置３０のコンタクトプローブ３２ａが各電極部１４に対して当接した状態で、点検用の所定の電圧が印加されることで、細胞培養分析装置３０の測定回路の不具合の有無を点検することができる。
【0028】
ここで、本実施形態では、点検用に設けられた４つで１セットの電極部１４に対して当接させるコンタクトプローブ３２ａ以外に、点検用モジュール１０あるいはセンサ基板５０のセットを検知するための２本のコンタクトプローブ３２ｂが設けられている。
コンタクトプローブ３２ｂは、図２（ａ）に示す２つの検知電極１４ａに対応する位置に設けられている。コンタクトプローブ３２ｂは、図６に示すように、検知電極１４ａに対して当接した状態で、２本のうちの一方から電圧を印加することで、点検用モジュール１０あるいはセンサ基板５０が細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａ内に装填されているか否かを検知することができる。
コンタクトプローブ３２ｂは、図２（ａ）に示す２つの検知電極１４ａに対応する位置に設けられている。コンタクトプローブ３２ｂは、図６に示すように、検知電極１４ａに対して当接した状態で、２本のうちの一方から電圧を印加することで、点検用モジュール１０あるいはセンサ基板５０が細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａ内に装填されているか否かを検知することができる。
【0029】
なお、図６に示す状態では、点検用モジュール１０がセットされ、細胞培養分析装置３０の測定回路の点検を実施するため、培養容器２５のウェル２５ａに培地Ｘが入れられている必要はない。
これにより、図７に示す測定用のセンサ基板５０をセットした状態で細胞培養分析装置３０の測定回路の点検を実施する場合と比較して、培地Ｘを用意する必要がなく、点検時における取り扱いが容易になる。また、センサ基板５０を用いた場合と比較して、センサ５１の個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。さらに、センサ５１を用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
これにより、図７に示す測定用のセンサ基板５０をセットした状態で細胞培養分析装置３０の測定回路の点検を実施する場合と比較して、培地Ｘを用意する必要がなく、点検時における取り扱いが容易になる。また、センサ基板５０を用いた場合と比較して、センサ５１の個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。さらに、センサ５１を用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
【0030】
この結果、細胞培養分析装置３０の測定回路の異常の発生を容易に検知することができる。
そして、点検用モジュール１０を用いて点検が行われた結果、細胞培養分析装置３０の測定回路に異常がないと判定されると、培養容器２５の各ウェル２５ａに培地Ｘが入れられた状態で、図７に示すように、センサ基板５０がアダプタ２０上にセットされる。
そして、点検用モジュール１０を用いて点検が行われた結果、細胞培養分析装置３０の測定回路に異常がないと判定されると、培養容器２５の各ウェル２５ａに培地Ｘが入れられた状態で、図７に示すように、センサ基板５０がアダプタ２０上にセットされる。
【0031】
センサ基板５０は、図７に示すように、本体部５０ａにおける培養容器２５の２４個のウェル２５ａに対応する位置にそれぞれ１つずつ配置された２４個のセンサ５１を含む。
センサ５１は、図７に示すように、本体部５０ａの下面側から、測定電極（電極５３ａ，５３ｂ，５３ｃ，５３ｄ）が下向きに突出している。また、センサ５１は、基板５２が略Ｌ字型に折り曲げられた状態で、センサ基板５０に保持されている（図９参照）。
センサ５１は、図７に示すように、本体部５０ａの下面側から、測定電極（電極５３ａ，５３ｂ，５３ｃ，５３ｄ）が下向きに突出している。また、センサ５１は、基板５２が略Ｌ字型に折り曲げられた状態で、センサ基板５０に保持されている（図９参照）。
【0032】
電極５３ａ～５３ｄは、センサ５１の基板５２における先端部に設けられており、上述した培養容器２５の各ウェル２５ａに入れられた培地Ｘに浸漬された状態で各種測定が行われる。
すなわち、センサ基板５０は、図７に示すように、センサ５１の電極５３ａ～５３ｄ側が下向きに突出した状態でアダプタ２０の上面にセットされると、センサ基板５０の４つの脚部５０ｂがそれぞれアダプタ２０側の４つの位置決め穴２０ｃに挿入されることで、センサ基板５０の培養容器２５に対する位置決めが行われる。
すなわち、センサ基板５０は、図７に示すように、センサ５１の電極５３ａ～５３ｄ側が下向きに突出した状態でアダプタ２０の上面にセットされると、センサ基板５０の４つの脚部５０ｂがそれぞれアダプタ２０側の４つの位置決め穴２０ｃに挿入されることで、センサ基板５０の培養容器２５に対する位置決めが行われる。
【0033】
このとき、下向きに突出したセンサ５１の先端部分は、アダプタ２０の本体部２０ａに形成された貫通孔２０ｂを通過して、アダプタ２０の下方に設けられた培養容器２５のウェル２５ａに入れられた培地Ｘに浸漬される。
アダプタ２０の上面にセットされたセンサ基板５０は、図８に示すように、細胞培養分析装置３０の引き出し部３１を引き出した状態でセットされ、引き出し部３１が筐体部３０ａ内に退避することで、細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａの内部空間Ｓ１内に装填される。
アダプタ２０の上面にセットされたセンサ基板５０は、図８に示すように、細胞培養分析装置３０の引き出し部３１を引き出した状態でセットされ、引き出し部３１が筐体部３０ａ内に退避することで、細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａの内部空間Ｓ１内に装填される。
【0034】
このとき、センサ基板５０の上面には、図８に示すように、４つで１セットとなる電極パッド５４ａ，５４ｂ，５４ｃ，５４ｄが設けられている。
電極パッド５４ａ～５４ｄは、基板５２の下端側に設けられた電極５３ａ～５３ｄに電気的に接続された状態で基板５２の上端側に設けられており、センサ基板５０の上面において露出している。そして、電極パッド５４ａ～５４ｄは、図９に示すように、細胞培養分析装置３０内にセンサ基板５０が装填されると、コンタクトプローブ３２ａが当接して、測定用の所定の電圧が印加される。
電極パッド５４ａ～５４ｄは、基板５２の下端側に設けられた電極５３ａ～５３ｄに電気的に接続された状態で基板５２の上端側に設けられており、センサ基板５０の上面において露出している。そして、電極パッド５４ａ～５４ｄは、図９に示すように、細胞培養分析装置３０内にセンサ基板５０が装填されると、コンタクトプローブ３２ａが当接して、測定用の所定の電圧が印加される。
【0035】
これにより、培養容器２５の各ウェル２５ａに入れられた培地Ｘに浸漬された状態のセンサ５１の測定電極（電極５３ａ～５３ｄ）において検出される電流値によって、培地Ｘに含まれる各種成分の濃度等を測定することができる。
ここで、本実施形態の点検用モジュール１０は、図１０に示すように、コンタクトプローブ３２ａを介して所定の電圧が印加される。このとき、細胞培養分析装置３０は、４つで１セットの電極部１４に対してそれぞれ設けられた２４個のＡＦＥ（Analog Front END）３３から、各コンタクトプローブ３２ａに対して電圧を印加する。
ここで、本実施形態の点検用モジュール１０は、図１０に示すように、コンタクトプローブ３２ａを介して所定の電圧が印加される。このとき、細胞培養分析装置３０は、４つで１セットの電極部１４に対してそれぞれ設けられた２４個のＡＦＥ（Analog Front END）３３から、各コンタクトプローブ３２ａに対して電圧を印加する。
【0036】
ＡＦＥ（Analog Front END）３３は、信号を検出するセンサ等のデバイスと、デジタル信号処理のデバイスとを結ぶアナログ回路である。
センサ等で検出されたアナログ信号は、微弱であって、雑音成分が多く含まれている場合が多い。このため、検出されたアナログ信号のままでは、Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換することは難しい。そこで、ＡＦＥ３３は、センサ等から出力されたアナログ信号を調整するために設けられており、図１１に示すように、オペアンプ３３ａやＡ／Ｄコンバータ３３ｂ、Ｄ／Ａコンバータ３３ｃ、フィルタ等の半導体チップを含む。
センサ等で検出されたアナログ信号は、微弱であって、雑音成分が多く含まれている場合が多い。このため、検出されたアナログ信号のままでは、Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換することは難しい。そこで、ＡＦＥ３３は、センサ等から出力されたアナログ信号を調整するために設けられており、図１１に示すように、オペアンプ３３ａやＡ／Ｄコンバータ３３ｂ、Ｄ／Ａコンバータ３３ｃ、フィルタ等の半導体チップを含む。
【0037】
なお、図１１では、説明の便宜上、１つのＡＦＥ３３の構成を拡大して示しているが、他の２３個のＡＦＥ３３についても同様の構成であることは言うまでもない。
また、ＡＦＥ３３は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３４に接続されており、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３４によって、コンタクトプローブ３２ａ，３２ｂから印加される電圧が制御される。
また、ＡＦＥ３３は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３４に接続されており、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３４によって、コンタクトプローブ３２ａ，３２ｂから印加される電圧が制御される。
【0038】
ＣＰＵ３４は、２４個のＡＦＥ３３の制御を行うとともに、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）３５に保存された各種データ・プログラム等を用いて、各種処理を実行する。
ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）３５は、細胞培養分析装置３０の電源を切断して記録された内容が消えない不揮発メモリの一種であって、各種データ・プログラム等を保存している。
ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）３５は、細胞培養分析装置３０の電源を切断して記録された内容が消えない不揮発メモリの一種であって、各種データ・プログラム等を保存している。
【0039】
ＣＰＵ３４は、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）３６を介して、ＡＦＥ３３から出力された出力（例えば、点検用モジュール１０の電極部１４において検出された電流値等）をＰＣ（Personal Computer）３７へ送信する。
ＰＣ３７は、ＵＳＢ３６を介して受信した点検用モジュール１０の電極部１４において検出された電流値が所定の範囲内であるか否かに応じて、細胞培養分析装置３０の測定回路における異常の有無を判定する。
ＰＣ３７は、ＵＳＢ３６を介して受信した点検用モジュール１０の電極部１４において検出された電流値が所定の範囲内であるか否かに応じて、細胞培養分析装置３０の測定回路における異常の有無を判定する。
【0040】
また、図１１に示すように、点検用モジュール１０には、３つの抵抗部１５が含まれている。
これにより、実際にセンサ基板５０をセットして培地Ｘの測定を実施した場合とほぼ同等の状態で、点検用モジュール１０を用いた点検を実施することができる。
これにより、実際にセンサ基板５０をセットして培地Ｘの測定を実施した場合とほぼ同等の状態で、点検用モジュール１０を用いた点検を実施することができる。
【0041】
＜点検用モジュール１０を用いた点検方法＞
本実施形態の点検用モジュール１０を用いた細胞培養分析装置３０の点検方法について、図１２のフローチャートを用いて説明すれば以下の通りである。
すなわち、図１２に示すように、ステップＳ１１では、細胞培養分析装置３０の電源がＯＮされる。
次に、ステップＳ１２では、点検用モジュール１０が細胞培養分析装置３０にセットされる。
次に、ステップＳ１３では、細胞培養分析装置３０の各ＡＦＥ３３に含まれるオペアンプ３３ａがＯＮされる。
本実施形態の点検用モジュール１０を用いた細胞培養分析装置３０の点検方法について、図１２のフローチャートを用いて説明すれば以下の通りである。
すなわち、図１２に示すように、ステップＳ１１では、細胞培養分析装置３０の電源がＯＮされる。
次に、ステップＳ１２では、点検用モジュール１０が細胞培養分析装置３０にセットされる。
次に、ステップＳ１３では、細胞培養分析装置３０の各ＡＦＥ３３に含まれるオペアンプ３３ａがＯＮされる。
【0042】
次に、ステップＳ１４では、ＡＦＥ３３のオペアンプ３３ａから、点検用モジュール１０の抵抗部１５に対して所定の電圧が印加される。
次に、ステップＳ１５では、抵抗部１５に所定の電圧が印加された状態で検出された電流値を測定する。電流値に相当する信号は、コンタクトプローブ３２ａを介してＡＦＥ３３に入力され、アナログ信号からデジタル信号へ変換された後、ＣＰＵ３４を介して、ＰＣ３７へ送信される。
次に、ステップＳ１５では、抵抗部１５に所定の電圧が印加された状態で検出された電流値を測定する。電流値に相当する信号は、コンタクトプローブ３２ａを介してＡＦＥ３３に入力され、アナログ信号からデジタル信号へ変換された後、ＣＰＵ３４を介して、ＰＣ３７へ送信される。
【0043】
次に、ステップＳ１６では、ＰＣ３７が、検出されたん電流値が所定の範囲内であるか否かを判定する。ここで、所定の範囲内であると判定されると、ステップＳ１７へ進み、所定の範囲内にないと判定されると、ステップＳ１８へ進む。
次に、ステップＳ１７では、ステップＳ１６において、検出された電流値が所定の範囲内であると判定されたため、細胞培養分析装置３０の測定回路に異常なしと判定し、ＰＣ３７の表示画面にその旨を表示させる。
次に、ステップＳ１７では、ステップＳ１６において、検出された電流値が所定の範囲内であると判定されたため、細胞培養分析装置３０の測定回路に異常なしと判定し、ＰＣ３７の表示画面にその旨を表示させる。
【0044】
一方、ステップＳ１８では、ステップＳ１６において、検出された電流値が所定の範囲内にないと判定されたため、細胞培養分析装置３０の測定回路に電気的接続不良、ＩＣの異常等の異常ありと判定し、ＰＣ３７の表示画面にその旨を表示させる。
次に、ステップＳ１９では、各ＡＦＥ３７に含まれるオペアンプ３３ａがＯＦＦされる。
次に、ステップＳ２０では、点検用モジュール１０が、細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａから取り出される。
次に、ステップＳ１９では、各ＡＦＥ３７に含まれるオペアンプ３３ａがＯＦＦされる。
次に、ステップＳ２０では、点検用モジュール１０が、細胞培養分析装置３０の筐体部３０ａから取り出される。
【0045】
＜主な特徴＞
本実施形態の点検用モジュール１０は、図６等に示すように、細胞培養分析装置３０にセットされた状態で電圧が印加されることで細胞培養分析装置３０に含まれる測定回路の点検を実施するモジュールであって、基板１１、電極部１４、抵抗部１５を備える。基板１１は、第１面１１ａと第１面１１ａとは反対側の第２面１１ｂとを有する。電極部１４は、基板１１に設けられ、細胞培養分析装置３０に設けられたコンタクトプローブ３２ａと当接し所定の電圧が印加される。抵抗部１５は、基板１１に設けられ、電極部１４と電気的に接続され、正常状態においてコンタクトプローブ３２ａから所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する。
本実施形態の点検用モジュール１０は、図６等に示すように、細胞培養分析装置３０にセットされた状態で電圧が印加されることで細胞培養分析装置３０に含まれる測定回路の点検を実施するモジュールであって、基板１１、電極部１４、抵抗部１５を備える。基板１１は、第１面１１ａと第１面１１ａとは反対側の第２面１１ｂとを有する。電極部１４は、基板１１に設けられ、細胞培養分析装置３０に設けられたコンタクトプローブ３２ａと当接し所定の電圧が印加される。抵抗部１５は、基板１１に設けられ、電極部１４と電気的に接続され、正常状態においてコンタクトプローブ３２ａから所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する。
【0046】
これにより、測定用のセンサ基板５０を用いて細胞培養分析装置３０の測定回路の点検を実施する場合と比較して、培地Ｘを用意する必要がないため、点検時における手間を省くことができる。
また、点検用モジュール１０を用いた場合には、抵抗部１５を用いた測定であるため、センサ基板５０を用いた点検と比較して、センサ５１の個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。
また、点検用モジュール１０を用いた場合には、抵抗部１５を用いた測定であるため、センサ基板５０を用いた点検と比較して、センサ５１の個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。
【0047】
さらに、点検用モジュール１０を用いた場合には、センサ５１を用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
この結果、細胞培養分析装置３０の測定回路の異常の発生を容易に検知することができる。
この結果、細胞培養分析装置３０の測定回路の異常の発生を容易に検知することができる。
【0048】
［他の実施形態］
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
（Ａ）
上記実施形態では、基板１１の表面側に電極部１４、裏面側に抵抗部１５がそれぞれ配置された点検用モジュール１０の構成を例として挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、電極部と抵抗部とがそれぞれ基板の同じ側の面に設けられた構成であってもよい。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
（Ａ）
上記実施形態では、基板１１の表面側に電極部１４、裏面側に抵抗部１５がそれぞれ配置された点検用モジュール１０の構成を例として挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、電極部と抵抗部とがそれぞれ基板の同じ側の面に設けられた構成であってもよい。
【0049】
（Ｂ）
上記実施形態では、１つの測定対象（ウェル２５ａ）に対して抵抗部１５が３つずつ配置された例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、１つの測定対象に対して２つの抵抗部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。あるいは、４つ以上の抵抗部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。
上記実施形態では、１つの測定対象（ウェル２５ａ）に対して抵抗部１５が３つずつ配置された例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、１つの測定対象に対して２つの抵抗部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。あるいは、４つ以上の抵抗部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。
【0050】
（Ｃ）
上記実施形態では、１つの測定対象（ウェル２５ａ）に対して電極部１４が４つずつ配置された例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、１つの測定対象に対して３つ以下の電極部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。あるいは、５つ以上の電極部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。
上記実施形態では、１つの測定対象（ウェル２５ａ）に対して電極部１４が４つずつ配置された例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、１つの測定対象に対して３つ以下の電極部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。あるいは、５つ以上の電極部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。
【0051】
（Ｄ）
上記実施形態では、２４個のウェル２５ａを含む培養容器２５に対してセンサ５１を浸漬させて各種測定が行われるセンサ基板５０の代わりに、点検用モジュール１０が接続されて細胞培養分析装置３０の点検が実施される例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、センサ基板に含まれるセンサの数は２４個に限定されるものではなく、１個のセンサを用いて各種測定が行われるセンサ基板の代わりに、本発明の点検用モジュールを用いて生体試料分析装置の点検が実施される構成であってもよい。
上記実施形態では、２４個のウェル２５ａを含む培養容器２５に対してセンサ５１を浸漬させて各種測定が行われるセンサ基板５０の代わりに、点検用モジュール１０が接続されて細胞培養分析装置３０の点検が実施される例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、センサ基板に含まれるセンサの数は２４個に限定されるものではなく、１個のセンサを用いて各種測定が行われるセンサ基板の代わりに、本発明の点検用モジュールを用いて生体試料分析装置の点検が実施される構成であってもよい。
【0052】
（Ｅ）
上記実施形態では、本発明の点検用モジュール１０を用いた点検対象となる生体試料分析装置として、細胞培養分析装置３０を用いた例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
上記実施形態では、本発明の点検用モジュール１０を用いた点検対象となる生体試料分析装置として、細胞培養分析装置３０を用いた例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
【0053】
例えば、細胞培養に関連しない他の生体試料分析装置を点検対象としてもよい。
【産業上の利用可能性】
【0054】
本発明の点検用モジュールは、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができるという効果を奏することから、各種生体試料分析装置の検査を行う装置に対して広く適用可能である。
【符号の説明】
【0055】
１ 細胞培養分析システム（生体試料分析システム）
１０ 点検用モジュール
１１ 基板
１１ａ 第１面
１１ｂ 第２面
１２ ネジ
１３ 脚部
１４ 電極部
１４ａ 検知電極
１５ 抵抗部
１６ プレート部材
１６ａ 本体部
１６ｂ 溝部
２０ アダプタ
２０ａ 本体部
２０ｂ 貫通孔
２０ｃ 位置決め穴
２３ ベース部材
２５ 培養容器
２５ａ ウェル
３０ 細胞培養分析装置（生体試料分析装置）
３０ａ 筐体部
３１ 引き出し部
３２ａ コンタクトプローブ（電圧印加部）
３２ｂ コンタクトプローブ
３３ ＡＦＥ（Analog Front END）
３３ａ オペアンプ
３３ｂ Ａ／Ｄコンバータ
３３ｃ Ｄ／Ａコンバータ
３４ ＣＰＵ（Central Processing Unit）（測定装置）
３５ ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）
３６ ＵＳＢ（Universal Serial Bus）
３７ ＰＣ（制御装置）
５０ センサ基板
５０ａ 本体部
５０ｂ 脚部
５１ センサ
５２ 基板
５３ａ，５３ｂ，５３ｃ，５３ｄ 電極
５４ａ，５４ｂ，５４ｃ，５４ｄ 電極パッド
Ｓ１ 内部空間
Ｘ 培地
１０ 点検用モジュール
１１ 基板
１１ａ 第１面
１１ｂ 第２面
１２ ネジ
１３ 脚部
１４ 電極部
１４ａ 検知電極
１５ 抵抗部
１６ プレート部材
１６ａ 本体部
１６ｂ 溝部
２０ アダプタ
２０ａ 本体部
２０ｂ 貫通孔
２０ｃ 位置決め穴
２３ ベース部材
２５ 培養容器
２５ａ ウェル
３０ 細胞培養分析装置（生体試料分析装置）
３０ａ 筐体部
３１ 引き出し部
３２ａ コンタクトプローブ（電圧印加部）
３２ｂ コンタクトプローブ
３３ ＡＦＥ（Analog Front END）
３３ａ オペアンプ
３３ｂ Ａ／Ｄコンバータ
３３ｃ Ｄ／Ａコンバータ
３４ ＣＰＵ（Central Processing Unit）（測定装置）
３５ ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）
３６ ＵＳＢ（Universal Serial Bus）
３７ ＰＣ（制御装置）
５０ センサ基板
５０ａ 本体部
５０ｂ 脚部
５１ センサ
５２ 基板
５３ａ，５３ｂ，５３ｃ，５３ｄ 電極
５４ａ，５４ｂ，５４ｃ，５４ｄ 電極パッド
Ｓ１ 内部空間
Ｘ 培地
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
