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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024005526
(43)【公開日】2024-01-17
(54)【発明の名称】画像比較システム、画像比較方法、及び画像比較プログラム
(51)【国際特許分類】
C25D 21/12 20060101AFI20240110BHJP
G01N 21/84 20060101ALI20240110BHJP
【ＦＩ】
C25D21/12 C
G01N21/84 Z
【審査請求】未請求
【請求項の数】15
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022105736
(22)【出願日】2022-06-30
(71)【出願人】
【識別番号】394016519
【氏名又は名称】株式会社山本鍍金試験器
(74)【代理人】
【識別番号】110001807
【氏名又は名称】弁理士法人磯野国際特許商標事務所
(72)【発明者】
【氏名】山本 渡
(72)【発明者】
【氏名】小岩 仁子
【テーマコード（参考）】
2G051
【Ｆターム（参考）】
2G051AA90
2G051AB20
2G051AC22
2G051CC07
2G051FA01
(57)【要約】
【課題】めっき試験の試験結果に対し、判断材料となる情報を容易に提供することができる。
【解決手段】画像比較システム３００は、めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得する取得部１１１と、新規に取得した表面状態画像について、めっき試験の試験条件を取得する条件取得部１１３と、表面状態画像、及び試験条件を記憶する記憶部１２０と、新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部１２０から抽出する抽出部１１４と、新規に取得された表面状態画像および抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部１６０に表示させる表示制御部１１５と、を備える。
【選択図】図３
【解決手段】画像比較システム３００は、めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得する取得部１１１と、新規に取得した表面状態画像について、めっき試験の試験条件を取得する条件取得部１１３と、表面状態画像、及び試験条件を記憶する記憶部１２０と、新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部１２０から抽出する抽出部１１４と、新規に取得された表面状態画像および抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部１６０に表示させる表示制御部１１５と、を備える。
【選択図】図３
【特許請求の範囲】
【請求項1】
めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得する取得部と、
新規に取得した前記表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得する条件取得部と、
前記表面状態画像、及び前記試験条件を記憶する記憶部と、
前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、前記記憶部から抽出する抽出部と、
前記新規に取得された表面状態画像、及び前記抽出部によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させる表示制御部と、
を備えることを特徴とする画像比較システム。
新規に取得した前記表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得する条件取得部と、
前記表面状態画像、及び前記試験条件を記憶する記憶部と、
前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、前記記憶部から抽出する抽出部と、
前記新規に取得された表面状態画像、及び前記抽出部によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させる表示制御部と、
を備えることを特徴とする画像比較システム。
【請求項2】
前記抽出部が前記他の表面状態画像を複数抽出した場合、当該抽出部によって抽出された複数の前記他の表面状態画像のうち、いずれか１つの前記他の表面の状態について詳細表示指示を受け付ける詳細表示受付部を、更に備え、
前記表示制御部は、
受け付けられた前記詳細表示指示に基づいて、前記新規に取得された表面状態画像と、前記他の表面状態画像とを、比較可能に表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像比較システム。
前記表示制御部は、
受け付けられた前記詳細表示指示に基づいて、前記新規に取得された表面状態画像と、前記他の表面状態画像とを、比較可能に表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像比較システム。
【請求項3】
前記記憶部には、前記他の表面状態画像と、前記新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、前記金属片の表面の状態、前記試験条件、対処方法、対処結果及び備考欄の少なくとも一つを含む詳細情報が関連付けて記憶されており、
前記他の表面状態画像、及び前記新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、前記詳細情報を前記記憶部から抽出する詳細情報抽出部を、更に備え、
前記表示制御部は、
前記詳細情報抽出部によって抽出された、前記他の表面状態画像の前記詳細情報と、前記新規に取得された表面状態画像の前記詳細情報とを、比較可能に表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像比較システム。
前記他の表面状態画像、及び前記新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、前記詳細情報を前記記憶部から抽出する詳細情報抽出部を、更に備え、
前記表示制御部は、
前記詳細情報抽出部によって抽出された、前記他の表面状態画像の前記詳細情報と、前記新規に取得された表面状態画像の前記詳細情報とを、比較可能に表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像比較システム。
【請求項4】
可視光により撮像する可視光カメラと、
所定の偏光により撮像する偏光カメラと、を含み、
前記可視光カメラと前記偏光カメラは、
前記金属片の表面の状態を撮像して前記新規の表面状態画像を取得する、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像比較システム。
所定の偏光により撮像する偏光カメラと、を含み、
前記可視光カメラと前記偏光カメラは、
前記金属片の表面の状態を撮像して前記新規の表面状態画像を取得する、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像比較システム。
【請求項5】
前記表示制御部は、
前記新規の表面状態画像である前記可視光カメラによって撮像された可視光画像、及び／又は前記偏光カメラによって撮像された偏光画像を、前記表示部に表示させ、
前記新規の表面状態画像である前記可視光画像、及び前記偏光画像のうちいずれかが選択されると、前記他の表面状態画像である可視光画像および偏光画像のうち対応するものを、前記表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項４に記載の画像比較システム。
前記新規の表面状態画像である前記可視光カメラによって撮像された可視光画像、及び／又は前記偏光カメラによって撮像された偏光画像を、前記表示部に表示させ、
前記新規の表面状態画像である前記可視光画像、及び前記偏光画像のうちいずれかが選択されると、前記他の表面状態画像である可視光画像および偏光画像のうち対応するものを、前記表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項４に記載の画像比較システム。
【請求項6】
前記表示制御部は、
前記偏光画像の端部又は前記金属片の端部からの距離に基づいて、前記金属片の表面における凹凸の度合いを解析し、前記表示部に表示させる凹凸度合解析部を、
更に備えることを特徴とする請求項５に記載の画像比較システム。
前記偏光画像の端部又は前記金属片の端部からの距離に基づいて、前記金属片の表面における凹凸の度合いを解析し、前記表示部に表示させる凹凸度合解析部を、
更に備えることを特徴とする請求項５に記載の画像比較システム。
【請求項7】
前記めっき試験は、ハルセル試験である、
請求項１に記載の画像比較システム。
請求項１に記載の画像比較システム。
【請求項8】
前記金属片の表面を複数の領域に区分けする外観領域区分部を、更に備え、
前記外観領域区分部は、
前記複数の領域に区分けされた各領域において、前記試験結果が良好か否かの判定を受け付ける、
更に備えることを特徴とする請求項７に記載の画像比較システム。
前記外観領域区分部は、
前記複数の領域に区分けされた各領域において、前記試験結果が良好か否かの判定を受け付ける、
更に備えることを特徴とする請求項７に記載の画像比較システム。
【請求項9】
前記新たに取得された表面状態画像又は前記他の表面状態画像において、画像の端部又は画像における前記金属片の端部からの位置情報を取得して、取得した前記位置情報における電流密度を、前記表示部に表示させる電流密度表示部を、
更に備えることを特徴とする請求項７に記載の画像比較システム。
更に備えることを特徴とする請求項７に記載の画像比較システム。
【請求項10】
前記抽出部は、
前記試験条件とは異なる基準の複数の項目を有し、前記複数の項目の中から１つの優先項目の選択を受け付けて、該当する前記他の表面状態画像を優先して抽出する、
請求項１に記載の画像比較システム。
前記試験条件とは異なる基準の複数の項目を有し、前記複数の項目の中から１つの優先項目の選択を受け付けて、該当する前記他の表面状態画像を優先して抽出する、
請求項１に記載の画像比較システム。
【請求項11】
前記抽出部は、
前記新規に取得された表面状態画像の前記試験条件と、前記少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、当該他の表面状態画像が撮像された撮像日に基づいて、抽出し、
前記表示制御部は、
前記抽出部が抽出した前記撮像日に基づく前記他の表面状態画像の有無をカレンダーに表示する日付呼出部を、更に備え、
前記日付呼出部は、
前記カレンダーに表示された前記他の表面状態画像が有る日が選択されると、当該選択された日に撮像された前記他の表面状態画像を、前記表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像比較システム。
前記新規に取得された表面状態画像の前記試験条件と、前記少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、当該他の表面状態画像が撮像された撮像日に基づいて、抽出し、
前記表示制御部は、
前記抽出部が抽出した前記撮像日に基づく前記他の表面状態画像の有無をカレンダーに表示する日付呼出部を、更に備え、
前記日付呼出部は、
前記カレンダーに表示された前記他の表面状態画像が有る日が選択されると、当該選択された日に撮像された前記他の表面状態画像を、前記表示部に表示させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像比較システム。
【請求項12】
前記表示制御部は、
前記抽出部によって抽出された前記他の表面状態画像のうちいずれか１つと、前記新規に取得された表面状態画像とを、重畳表示させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像比較システム。
前記抽出部によって抽出された前記他の表面状態画像のうちいずれか１つと、前記新規に取得された表面状態画像とを、重畳表示させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像比較システム。
【請求項13】
前記１つの他の表面状態画像と、前記新規に取得された表面状態画像のうちいずれか一方の画像を透過させる透過画像生成部を、
更に備える請求項１２に記載の画像比較システム。
更に備える請求項１２に記載の画像比較システム。
【請求項14】
取得部が、めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得するステップと、
条件取得部が、新規に取得された前記表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得するステップと、
抽出部が、前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部から抽出するステップと、
表示制御部が、前記新規に取得された表面状態画像、及び前記他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させるステップと、
を含むことを特徴とする画像比較方法。
条件取得部が、新規に取得された前記表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得するステップと、
抽出部が、前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部から抽出するステップと、
表示制御部が、前記新規に取得された表面状態画像、及び前記他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させるステップと、
を含むことを特徴とする画像比較方法。
【請求項15】
コンピュータに、
めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得する手順、
新規に取得された表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得する手順、
前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部から抽出する手順、
前記新規に取得された表面状態画像、及び前記他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させる手順、
を実行させることを特徴とする画像比較プログラム。
めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得する手順、
新規に取得された表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得する手順、
前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部から抽出する手順、
前記新規に取得された表面状態画像、及び前記他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させる手順、
を実行させることを特徴とする画像比較プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、画像比較システム、画像比較方法、及び画像比較プログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
従来から、めっきに関する試験としてハルセル試験が実施されている。ハルセル試験は、電気めっきにおける工程管理のための基本的な試験として、国際的にも幅広く使用されている。
【0003】
めっき工程において皮膜状態に影響を及ぼす因子は、多種多用に存在するため、想定外の要因であることも少なくない。ハルセル試験は、化学分析では補いきれないような外観変化の原因をいち早く見つけることができるため、有益である。
【0004】
しかしながら、ハルセル試験では、電着による金属皮膜を作業者が目視で確認し、判断する。そのため、ハルセル試験は、作業者の人為的能力に依存する部分が存在する。特に、技術者の減少もあり、技術の伝承、及び将来に向けた技術の活用において、技術者不足が懸念されている。
【0005】
ここで、ハルセル試験に関連する技術として、例えば、表面検査装置が特許文献１に開示されている。特許文献１の表面検査装置の要約書には、「検査対象物の表面の欠陥を検査する表面検査装置１０は、面状の発光領域２０ａを有し、面状の発光領域２０ａから検査対象物５０の表面に対して、拡散光を照射する照明装置２０と、照明装置２０が照明した検査対象物５０の表面を撮像して撮像画像を生成する撮像装置３０と、撮像画像３０に基づいて、検査対象物５０の表面の欠陥の有無を判定する判定装置４０と、を有する。照明装置２０は、撮像装置３０の光軸の検査対象物５０の表面における正反射方向と、発光領域の中心における発光領域の法線とが一致するように、配置される。」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】特開２０２１－１７９３３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
特許文献１に記載された表面検査装置は、表面に電気めっき処理が施された鋼板を検査対象物として、表面の粗度が比較的大きい検査対象物の表面に生じた汚れ欠陥の適切な検出を可能としている。特に、特許文献１の表面検査装置では、照明装置の発光領域が面状であることにより、検査対象物の表面に凹凸があっても明部と暗部とが形成されることを抑制している。
【0008】
しかしながら、特許文献１に記載された表面検査装置を使用しても、作業者が検査対象面の試験結果を目視で確認する必要があり、検査対象物の撮像画像に基づいて、試験結果を判断する必要がある。
【0009】
そのため、特許文献１に記載された表面検査装置により汚れ欠陥を検出できたとしても、作業者が試験結果の良し悪しを判断することができなければ、汚れ欠陥を検出した意味が見出せない。特に、技術の伝承、及び将来に向けた技術の活用という観点では、作業者は、熟練者によって蓄積された技術を試験結果の判断に活かすことができていない。
【0010】
そこで、本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、めっき試験の試験結果に対し、判断材料となる情報を容易に提供することができる、ことを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0011】
すなわち、本発明の上記課題は、下記の構成により解決される。
本発明に係る画像比較システムは、めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得する取得部と、新規に取得した前記表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得する条件取得部と、前記表面状態画像、及び前記試験条件を記憶する記憶部と、前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、前記記憶部から抽出する抽出部と、前記新規に取得された表面状態画像、及び前記抽出部によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させる表示制御部と、を備えることを特徴とする。
本発明に係る画像比較システムは、めっき試験の結果を示す金属片の表面状態画像を取得する取得部と、新規に取得した前記表面状態画像について、前記めっき試験の試験条件を取得する条件取得部と、前記表面状態画像、及び前記試験条件を記憶する記憶部と、前記新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、前記記憶部から抽出する抽出部と、前記新規に取得された表面状態画像、及び前記抽出部によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部に表示させる表示制御部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、めっき試験の試験結果に対し、判断材料となる情報を容易に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1A】ハルセル試験の構成を示した説明図である。
【図1B】ハルセル水槽を示した説明図である。
【図2】本実施形態に係る画像比較システムの全体構成を示した説明図である。
【図3】本実施形態に係る画像比較システムの主なハードウェアの構成を示す説明図である。
【図4】本実施形態に係る情報処理装置のＣＰＵの機能を示した機能ブロック図である。
【図5A】本実施の形態に係る画像比較システムの動作を示したフローチャートである（その１）。
【図5B】本実施の形態に係る画像比較システムの動作を示したフローチャートである（その２）。
【図5C】本実施の形態に係る画像比較システムの動作を示したフローチャートである（その３）。
【図6】ハルセル試験画像比較システムの表示画面を示した説明図である。
【図7】表紙ページを示す画面を示した説明図である。
【図8】撮像する金属片の表面状態画像を示した表示画面である。
【図9】金属片の表面状態画像について、試験条件を入力する入力画面である。
【図10A】入力画面の記入項目の上半分を示した説明図である。
【図10B】入力画面の記入項目の下半分を示した説明図である。
【図11】表面状態画像のデータ比較を行う際の優先項目を示した表示画面である。
【図12】右側に、日付の新しい順に他の表面状態画像を抽出した表示画面である。
【図13】５つの領域に対応する他の表面状態画像を抽出した表示画面である。
【図14】領域に表示された可視光画像と、領域に表示された可視光画像を比較した表示画面である。
【図15】可視光画像と可視光画像とを重ね合わせた重畳表示を示した表示画面である。
【図16】偏光画像における表面の凹凸の度合いを示すグラフを表示した表示画面である。
【図17】過去データを呼び出して、カレンダーに他の表面状態画像の有無を表示した表示画面である。
【図18A】ニッケルを使用する場合の表面の粗さについて、用語を定義したものである。
【図18B】ニッケルを使用する場合の色、光沢について、用語を定義したものである。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下に、本発明を実施するための形態について詳細に説明する。
＜本実施形態の概要＞
本実施形態に係る画像比較システムは、電気めっきによるめっき試験を行った金属片について表面状態を撮像して、その金属片の表面状態画像を取得する。作業者は、取得した表面状態画像を観察し、その表面の状態を判定する。めっき試験の一例として、ハルセル試験を適用し、金属片における連続した電流密度での析出状態を対象とする。なお、本実施形態に係る画像比較システムは、めっき試験のハルセル試験に限定されるものではなく、例えば、均一性試験、密着性試験など、作業者が目視で判定を行う試験に適用することができる。
＜本実施形態の概要＞
本実施形態に係る画像比較システムは、電気めっきによるめっき試験を行った金属片について表面状態を撮像して、その金属片の表面状態画像を取得する。作業者は、取得した表面状態画像を観察し、その表面の状態を判定する。めっき試験の一例として、ハルセル試験を適用し、金属片における連続した電流密度での析出状態を対象とする。なお、本実施形態に係る画像比較システムは、めっき試験のハルセル試験に限定されるものではなく、例えば、均一性試験、密着性試験など、作業者が目視で判定を行う試験に適用することができる。
【0015】
［ハルセル試験］
まず、ハルセル試験について説明する。ハルセル試験は、少量のめっき液を用いて、ハルセル水槽で陰極（テストピース）にめっき処理を行うことにより、めっき浴の状態を観察する試験方法である。めっき液には、例えば、銅、ニッケル、亜鉛などを適用することができる。
まず、ハルセル試験について説明する。ハルセル試験は、少量のめっき液を用いて、ハルセル水槽で陰極（テストピース）にめっき処理を行うことにより、めっき浴の状態を観察する試験方法である。めっき液には、例えば、銅、ニッケル、亜鉛などを適用することができる。
【0016】
図１Ａは、ハルセル試験の構成を示した説明図である。ハルセル試験４００（めっき装置）は、ハルセル水槽４０１、ハルセル水槽４０１の左側の側壁４０２に設けられた陽極板ＣＰ、ハルセル水槽４０１の右側の側壁４０３に設けられた陰極板（テストピースとしての金属片ＯＢ）、電圧計４０４、電流計４０５、及び電源装置（整流部）４０６を備えて構成されている。
【0017】
本実施形態のハルセル試験４００では、ハルセル水槽４０１、電源装置４０６、陽極板ＣＰおよび陰極板（金属片ＯＢ）を使用して、金属片ＯＢにめっき処理を行うことにより、めっき後の金属片ＯＢの表面状態（陰極板の表面に析出しためっきの状態）を観察する。陽極板ＣＰには、例えば、無酸素銅、電解ニッケルなどを使用でき、陰極板（金属片ＯＢ）には、例えば、鉄、黄銅などを使用することができる。ハルセル試験４００は、少量のめっき液を用いて短時間で簡単に浴状態を観察するために、ハルセル水槽４０１と呼ばれる水槽を用いて行われる。
【0018】
図１Ｂは、ハルセル水槽を示した説明図である。ハルセル水槽４０１は、台形型の形状を有しており、左側の側壁４０２に対し、右側の側壁４０３を斜めに配置した構造を有している。ハルセル水槽４０１は、右側の側壁４０３を斜めに配置することで、陽極板ＣＰと陰極板（金属片ＯＢ）の極間距離を変化させ、電流分布状態に勾配を持たせている。
【0019】
したがって、ハルセル試験４００は、ハルセル水槽４０１の陰極板（金属片ＯＢ）において、台形の上辺側の側壁４０２と側壁４０３の極間距離が近いほど電流密度が高く、台形の下辺側の側壁４０２と側壁４０３の極間距離が遠いほど電流密度が低くなる。このように、ハルセル試験４００では、陰極板を構成する金属片ＯＢにおいて、広い電流密度範囲のめっき被膜を得ることができるので、一度に幅広い電流密度領域の観察を行うことができる。
【0020】
＜画像比較システムの全体構成＞
図２は、本実施形態に係る画像比較システムの全体構成を示した説明図である。図２に示すように、本実施形態に係る画像比較システム３００は、情報処理装置１００、及び撮像部２００を備えて構成されている。
図２は、本実施形態に係る画像比較システムの全体構成を示した説明図である。図２に示すように、本実施形態に係る画像比較システム３００は、情報処理装置１００、及び撮像部２００を備えて構成されている。
【0021】
作業者は、陰極板を構成する金属片ＯＢにめっき試験を施すことにより、金属片ＯＢの表面にめっき試験の結果が形成される。金属片ＯＢは土台ＦＤに載置され、作業者は、土台ＦＤに載置された金属片ＯＢを、撮像部２００を用いて写真撮影する。
【0022】
なお、本実施形態では、撮像部２００により、金属片ＯＢの表面の写真撮影を行って、金属片ＯＢの表面状態画像を生成することを撮像という。本実施形態におけるめっき試験は、ハルセル試験であり、めっき浴内に設けられた金属片ＯＢに対し、電流密度が所定の範囲内で連続して変わる電流を流して、めっきを析出させた結果を撮像する。
【0023】
情報処理装置１００は、撮像部２００によって撮像された複数の表面状態画像を取得し、ソフトウェア（アプリケーション）により金属片ＯＢの表面状態画像に試験条件や現場での現象を紐づける。これにより、情報処理装置１００は、金属片ＯＢの現在の浴状態や今後起こり得るめっき不良の予測などを行うことができる。
【0024】
【0025】
情報処理装置１００は、ＣＰＵ(Central Processing Unit)１１０、記憶部１２０、ＲＯＭ（Read Only Memory）１３０、ＲＡＭ(Random Access Memory)１４０、入力部１５０、表示部１６０、及び内部バス１９５を備えて構成されている。情報処理装置１００は、例えば、ノートパソコン、パーソナルコンピュータ、又はタブレット（tablet）端末で構成され、特に限定されるものではない。
【0026】
ＣＰＵ１１０、記憶部１２０、ＲＯＭ１３０、及びＲＡＭ１４０は、記憶部１２０、又はＲＯＭ１３０に格納されている制御プログラム（不図示）を、ＣＰＵ１１０が実行することにより、アプリケーション１７０として機能する。
【0027】
ＣＰＵ１１０は、中央処理装置であり、記憶部１２０又はＲＯＭ１３０に格納された制御プログラムを実行することで、図４に示す各処理を具現化する。
【0028】
記憶部１２０は、大容量の記憶装置であり、例えば、不揮発性メモリ（いわゆるフラッシュメモリ）、ハードディスクドライブなどで構成される。記憶部１２０は、例えば、制御プログラム、金属片ＯＢの表面状態画像、ハルセル試験の試験条件などを記憶する。
【0029】
ＲＡＭ１４０は、ＣＰＵ１１０により実行制御される各種処理において、ＲＯＭ１３０から制御プログラムが読み出され、ＣＰＵ１１０で実行可能な各種プログラム、入力データ、出力データ、及びパラメータを一時的に記憶するワークエリアとして機能する。
【0030】
入力部１５０は、カーソルキー、数字入力キー、及び各種機能キーなどを備えた入力装置を備えて構成される。入力部１５０は、押下操作されたキーの押下信号や操作信号を、入力信号としてＣＰＵ１１０に出力する。ＣＰＵ１１０は、入力部１５０からの押下信号や操作信号に基づいて、各種処理を実行する。
【0031】
表示部１６０は、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）のモニタで構成される。表示部１６０は、ＣＰＵ１１０から入力される表示信号の指示に従って、金属片ＯＢの表面状態画像を表示する。なお、表示部１６０、及び入力部１５０は、タッチパネルディスプレイを採用することもできる。
【0032】
内部バス１９５は、情報処理装置１００における各構成要素に対して、電気的に相互に接続する。
【0033】
撮像部２００は、可視光により撮像する可視光カメラ２０１と、所定の偏光により撮像する偏光カメラ２０２を含んで構成されている。可視光カメラ２０１と偏光カメラ２０２は、それぞれ金属片ＯＢの表面の状態を撮像し、新規の表面状態画像を取得する。
【0034】
可視光カメラ２０１は、可視光画像を生成することにより、作業者は、例えば、金属片ＯＢにおいて被膜の色味、焦げた場合の暗色化を判断する。可視光画像には、光学画像やデジタル画像が含まれる。
【0035】
偏光カメラ２０２は、所定の偏光方向を有する各偏光子により、所定の偏光方向の光を透過させた偏光情報を撮像する。偏光カメラ２０２は、偏光画像を生成することにより、作業者は、例えば、焼け焦げ、ビリ（膨れ）、ピット（巨視的な穴）などの表面凹凸（０．１ｍｍ程度）を判断する。なお、撮像部２００で撮像した撮像画像には、可視光画像と、偏光画像とが含まれる。
【0036】
［情報処理装置の機能ブロックの構成］
次に、本実施形態に係る情報処理装置１００のＣＰＵ１１０の処理について、図４を用いて説明する。以下、同一の部材には同一の符号を付し、説明を適宜、省略する。
次に、本実施形態に係る情報処理装置１００のＣＰＵ１１０の処理について、図４を用いて説明する。以下、同一の部材には同一の符号を付し、説明を適宜、省略する。
【0037】
図４は、本実施形態に係る情報処理装置１００のＣＰＵ１１０の機能を示した機能ブロック図である。ＣＰＵ１１０は、記憶部１２０に格納された制御プログラムを実行することにより、取得部１１１、登録部１１２、条件取得部１１３、抽出部１１４、表示制御部１１５、詳細表示受付部１１６などを具現化する。
【0038】
表示制御部１１５は、凹凸度合解析部１１５ａ、及び日付呼出部１１５ｂを備えて構成されている。また、詳細表示受付部１１６は、詳細情報抽出部１１６ａを備えて構成されている。
【0039】
また、ＣＰＵ１１０は、記憶部１２０に格納された制御プログラムを実行することにより、外観領域区分部１１７、電流密度表示部１１８、及び透過画像生成部１１９を具現化する。
【0040】
取得部１１１は、めっき試験の結果を示す金属片ＯＢの表面状態画像を、撮像部２００から取得する。取得部１１１は、可視光カメラ２０１から可視光画像を取得するとともに、偏光カメラ２０２から偏光画像を取得する。
【0041】
登録部１１２は、取得部１１１で取得された金属片ＯＢの表面状態画像を記憶部１２０に格納する。
【0042】
条件取得部１１３は、新規に取得した表面状態画像について、めっき試験の試験条件を取得する。条件取得部１１３は、例えば、後述する図９等に示すような試験条件の入力画面を表示部１６０に表示する。条件取得部１１３は、入力部１５０から入力された試験条件を、新規に取得した表面状態画像に関連付けて記憶部１２０に記憶する。
【0043】
抽出部１１４は、新規に取得された表面状態画像の試験条件を参照して、予め記憶部１２０に記憶された表面状態画像のうち少なくとも一部の試験条件が新規に取得された表面状態画像の試験条件と一致する他の表面状態画像を、記憶部１２０から抽出する。抽出部１１４は、例えば、後述する図１０Ａのハルセル条件５５１において、めっきの種類、全電流（［Ａ］）、試験時間（［分］）、温度（［℃］）、攪拌、作業者、撮影者のうち少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部１２０から抽出する。ハルセル条件５５１は、例えば、めっきの種類がニッケル（Ｎｉ）であり、全電流が５（Ａ）であり、試験時間が５分で、めっき液の温度が５０℃であり、攪拌は無しとなっている。
【0044】
また、抽出部１１４は、試験条件とは異なる基準の複数の項目を有し、複数の項目の中から１つの項目の選択を受け付けて、該当する他の表面状態画像を優先して抽出することができる。抽出部１１４は、例えば、後述する図１１の優先項目の中から１つの優先項目を受け付けて、他の表面状態画像を抽出し、図１２に示すように、表示制御部１１５により、抽出された他の表面状態画像を表示させることができる。
【0045】
表示制御部１１５は、新規に取得された表面状態画像、及び抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部１６０に表示させる。また、表示制御部１１５は、新規の表面状態画像である可視光カメラ２０１によって撮像された可視光画像、及び／又は偏光カメラ２０２によって撮像された偏光画像を、表示部１６０に表示させることができる。この場合、表示制御部１１５は、新規の表面状態画像である可視光画像、及び偏光画像のうちいずれかが選択されると、他の表面状態画像である可視光画像、及び偏光画像のうち対応するものを、表示部１６０に表示させる。
【0046】
表示制御部１１５は、例えば、後述する図１３のように、新規の表面状態画像である可視光画像５３２、及び偏光画像５３７を、表示画面５９０に表示させる。この場合、表示制御部１１５は、抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像である可視光画像、又は偏光画像を、比較可能に表示させることができる。
【0047】
凹凸度合解析部１１５ａは、偏光画像の端部又は金属片の端部からの距離に基づいて、金属片ＯＢの表面における凹凸の度合いを解析して表示部１６０に表示させる。凹凸度合解析部１１５ａは、例えば、後述する図１６のグラフ６２１のように、偏光画像５３７の表面における凹凸の度合いを解析する。
【0048】
日付呼出部１１５ｂは、抽出部１１４と連動することで、抽出部１１４が抽出した撮像日に基づく他の表面状態画像の有無をカレンダーに表示する。例えば、抽出部１１４が、新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、当該他の表面状態画像が撮像された撮像日に基づいて、抽出する。日付呼出部１１５ｂは、例えば、後述する図１７のように、抽出部１１４が抽出した撮像日に基づく他の表面状態画像の有無を、表示部１６０のカレンダー６４０に表示する。これにより、日付呼出部１１５ｂは、カレンダーに表示された他の表面状態画像が有る日が選択されると、当該選択された日に撮像された他の表面状態画像を、表示部１６０に表示させることができる。
【0049】
詳細表示受付部１１６は、抽出部１１４が他の表面状態画像を複数抽出した場合、当該抽出部１１４によって抽出された複数の他の表面状態画像のうち、いずれか１つの他の表面の状態について詳細表示指示を受け付ける。詳細表示受付部１１６は、例えば、後述する図１２のように、抽出部１１４により他の表面状態画像５８０ａ～５８５ａが複数抽出された場合、作業者の選択により新規に取得した表面状態画像と比較したい他の表面状態画像の詳細表示指示を受け付ける。この場合、表示制御部１１５は、後述する図１４に示すように、新規に取得した表面状態画像と、選択された他の表面状態画像とを、比較可能に表示部１６０に表示させることができる。
【0050】
詳細情報抽出部１１６ａは、他の表面状態画像、及び新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、詳細情報を記憶部１２０から抽出する。記憶部１２０には、他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、金属片ＯＢの表面の状態、試験条件、対処方法、対処結果及び備考欄の少なくとも一つを含む詳細情報が関連付けられている。表示制御部１１５は、例えば、図１４のように、詳細情報抽出部１１６ａによって抽出された、可視光画像５３２の入力画面５４２（新規に取得された表面状態画像の詳細情報）と、可視光画像５７２ａの入力画面６１１（他の表面状態画像の詳細情報）とを、対比可能に表示させることができる。
【0051】
外観領域区分部１１７は、金属片ＯＢの表面を複数の領域に区分けする。外観領域区分部１１７は、複数の領域に区分けされた各領域において、試験結果が良好か否かの判定を受け付ける。そのため、作業者は、区分けされた領域ごとに試験結果が良好か否かの判定を入力する。外観領域区分部１１７は、例えば、後述する図９の領域５３４，５３９のように、金属片ＯＢの表面を５つの領域に区分けする。作業者は、図１０Ｂの入力画面５４２のエリア別項目５５４のように、５つの領域ごとに合否を判定することができる。
【0052】
電流密度表示部１１８は、新たに取得された表面状態画像又は他の表面状態画像において、画像の端部又は画像における金属片ＯＢの端部からの位置情報を取得して、取得した位置情報における電流密度を、表示部１６０に表示させる。電流密度表示部１１８は、例えば、図９のスケール５４０に示すように、表面状態画像上で線５３５の位置が指定されると、その位置における電流密度を表示させる。なお、電流密度を算出する方法は、例えば、ハルセル水槽の一次元電流分布モデルの関係式や、ハルセル早見表などにより算出される。
【0053】
表示制御部１１５は、抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像のうちいずれか１つと、新規に取得された表面状態画像とを、重畳表示させることができる。この場合、表示制御部１１５は、他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像との一部を重畳させてもよい。
【0054】
透過画像生成部１１９は、１つの他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像のうちいずれか一方の画像を透過させる。これにより、表示制御部１１５は、透過された一方の撮像画像と他方の撮像画像とを重畳表示させることができる。表示制御部１１５は、例えば、後述する図１５に示すように、領域５７１に表示された可視光画像５３２と、領域５７２に表示された可視光画像５７２ａのいずれか一方が透過画像に変更され、半透明にした状態で重畳表示させることができる。
【0055】
＜画像比較システムの動作＞
図５Ａから図５Ｃは、本実施の形態に係る画像比較システムの動作を示したフローチャートである。本実施の形態に係る画像比較システムの動作は、図２から図４及び表示画面である図７から図１８Ｂを適宜参照しながら説明する。
図５Ａから図５Ｃは、本実施の形態に係る画像比較システムの動作を示したフローチャートである。本実施の形態に係る画像比較システムの動作は、図２から図４及び表示画面である図７から図１８Ｂを適宜参照しながら説明する。
【0056】
【0057】
図６は、ハルセル試験画像比較システムの表示画面を示した説明図である。図６に示すように、画像比較システム３００の表示画面５００には、選択ボタン５０１，５０２が表示されている。選択ボタン５０１は、ハルセル管理用の画像比較を行う場合の選択ボタンであり、選択ボタン５０２は、ハルセル以外での利用に画像比較を行う場合の選択ボタンである。
【0058】
作業者は、ハルセル管理用として利用する場合（ステップＳ００２のＹｅｓ）、入力部１５０により選択ボタン５０１を選択することで、表紙ページを示す画面５１０が表示部１６０に表示される（ステップＳ００３、図７）。
【0059】
一方、ハルセル試験以外で利用する場合（ステップＳ００２のＮｏ）、作業者は、入力部１５０により選択ボタン５０２を選択することで、他の管理アプリケーションを起動させる（ステップＳ００４）。画像比較システム３００は、起動した他の管理アプリケーションと連動し、ステップＳ００３に進む。
【0060】
【0061】
操作ボタン５１１は、写真撮影を実行するボタンである。操作ボタン５１２は、過去のデータを確認するボタンである。操作ボタン５１３は、登録情報を変更するボタンである。操作ボタン５１４は、用語の定義を確認するためのボタンである。
【0062】
【0063】
ステップＳ００５では、作業者は、専用の土台ＦＤに金属片ＯＢを設置して、撮像部２００により可視光画像および偏光画像を撮像する。また、作業者は、土台ＦＤをスライドさせ、可視光画像と偏光画像とをそれぞれ個別に撮像してもよい。
【0064】
図８は、撮像する金属片の表面状態画像を示した表示画面である（ステップＳ００５）。図８に示すように、画像比較システム３００の表示画面５２０には、領域５２１に金属片５２２の表面状態画像が表示される。表示画面５２０には、撮影ボタン５２３が設けられ、作業者が撮影ボタン５２３を押下することで、金属片５２２の表面状態画像が撮像される。
【0065】
図９は、金属片の表面状態画像について、試験条件を入力する入力画面である（ステップＳ００６）。入力画面５３０には、領域５３１，５３６に、金属片５２２の表面状態画像が表示されている。入力画面５４２は、作業者が試験内容を入力する。
【0066】
領域５３１には、金属片５２２の可視光画像５３２が表示されている。領域５３１には、スイッチ５３３が設けられ、スイッチ５３３をＯＮにすることで、可視光画像５３２を、Ａ～Ｅの５つの領域５３４に分けて表示する。可視光画像５３２のサイズは、例えば、１０×２０［ｍｍ］とする。
【0067】
領域５３６には、金属片５２２の偏光画像５３７が表示されている。領域５３６にも同様にスイッチ５３８が設けられ、スイッチ５３８をＯＮにすることで、偏光画像５３７を、Ａ～Ｅの５つの領域５３９に分けて表示する。偏光画像５３７は可視光画像５３２と同一のサイズであり、領域５４１には、領域５３４と領域５３９が抽出されて表示される。
【0068】
５つの領域５３４，５３９は、金属片５２２の底部から、２５［ｍｍ］から３５［ｍｍ］の間に枠線で表示される。
【0069】
線５３５は、作業者によるマウスの操作により、可視光画像５３２上で左右に移動する。線５３５は、可視光画像５３２の左端からの距離又は可視光画像５３２における金属片ＯＢの端部からの距離と、その位置における電流密度をスケール５４０に表示する。
【0070】
この場合、電流密度表示部１１８は、可視光画像５３２又は偏光画像５３７において画像の端部又は画像における金属片ＯＢの端部からの位置情報を取得して、取得した位置情報における電流密度（Ａ／ｄｍ２）を、スケール５４０に表示させる。
【0071】
【0072】
図１０Ａに示す入力画面５４２の撮影条件５５０では、撮影日、曜日、天気、気温（［℃］）、湿度（［％］）、その他などの項目が記載されている。作業者は、例えば、金属片５２２を撮影した日付として、２０２０年５月１１日、火曜日、天気は晴れ、気温は、２５［℃］、湿度は、６０［％］などと記入する。
【0073】
入力画面５４２のハルセル条件５５１では、ハルセル試験を行った、めっきの種類、全電流（［Ａ］）、試験時間（［分］）、温度（［℃］）、攪拌、作業者、撮影者などを入力する。作業者は、例えば、めっきの種類をＮｉ（ワット）、全電流は、５［Ａ］、試験時間は、５［分］、温度は、５０［℃］、攪拌なし、作業者および撮影者とも、ＸＹＺなどと入力する。
【0074】
これにより、抽出部１１４は、例えば、ハルセル条件５５１において、めっきの種類、全電流（［Ａ］）、試験時間（［分］）、温度（［℃］）、攪拌、作業者、撮影者のうち少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部１２０から抽出する。
【0075】
入力画面５４２の合否項目５５２では、試験結果の合否について、プルダウンボタンにより入力する。作業者は、例えば、合格と入力する。
【0076】
入力画面５４２の全体項目５５３では、金属片５２２の全体の状態を記入するようになっており、例えば、良好か不良か、光沢の有無、色味の有無などを入力する。また、問題点として、焦げ、くもり、ピット、色味、その他などを入力する。また、不良原因として、めっき液については、添加剤の濃度、浴組成、不純物の混入、その他などを入力する。また、不良原因としての前処理については、脱脂不良、酸洗浄不良、水洗不良、その他などを入力する。不良原因としての後処理については、水洗不良、乾燥不良、その他などを入力する。なお、全体項目５５３での入力は、チェックボックスにチェックを入れる形式で入力する。
【0077】
図１０Ｂの入力画面５４２のエリア別項目５５４では、図９のＡ～Ｅの５つの領域５３４ついて、エリア別に電流密度範囲（ＡＳＤ＝Ａ／ｄｍ２）、特長、合否などを入力する。電流密度については、可視光画像５３２のスイッチ５３３をＯＮにすることで、電流密度が自動的に算出され、Ａ～Ｅの各エリアに自動的に入力されてもよい。
【0078】
外観領域区分部１１７は、金属片５２２の表面を５つの領域（複数の領域）に区分けし、当該５つの領域に区分けされた各領域において、試験結果の判定を受け付ける。
【0079】
例えば、Ａについては、電流密度範囲（ＡＳＤ）が３０－１８と自動入力され、コゲが有る、とプルダウンにより入力する。Ｂについては、電流密度範囲（ＡＳＤ）が１８－９と自動入力され、光沢が有る、とプルダウンにより入力する。Ｃについては、電流密度範囲（ＡＳＤ）が９－５と自動入力され、ピットが有る、とプルダウンにより入力する。Ｄについては、電流密度範囲（ＡＳＤ）が５－１．８と自動入力され、くもりがある、とプルダウンにより入力する。Ｅについては、電流密度範囲（ＡＳＤ）が１．８－０．２と自動入力され、特長が無い旨をプルダウンにより入力する。また、Ａ～Ｅの各エリアについて、いずれも合否をプルダウンにより入力する。
【0080】
入力画面５４２の対処方法の入力欄５５５ａでは、対処方法やその方法を行った結果などが作業者により入力される。また、作業者は、ボタン５５５ｂを押下すると、ハルセルの技術が集積されたハルセル技術集が参照可能に表示される。
【0081】
入力画面５４２の対処結果の入力欄５５６は、ハルセル試験で不良が出た場合、作業者のコメントが入力される。また、作業者は、ボタン５５８を押下すると、不良発生時の製品写真や対処後の金属片ＯＢの写真などを追加することができる。
【0082】
入力画面５４２の備考欄５５７では、特異的な結果が出た場合、作業者によりコメントが入力される。作業者は、ボタン５５９を押下すると、過去に撮像された表面状態画像が、比較可能に表示される。この場合、表面状態画像は、良い例（標準）、悪い例、閾値例、要注意、その他など作業者に設定された項目に従い、表示される。
【0083】
図５Ｂに戻り、説明を続ける。ステップＳ００６において、撮影した写真の試験条件の入力が終了すると、ステップＳ００７に進み、比較するデータの選択を待ち受ける。なお、図５ＡのステップＳ００３において、過去データの確認を選択した場合も、ステップＳ００７に移動する。
【0084】
図１１は、表面状態画像のデータ比較を行う際の優先項目を示した表示画面である（ステップＳ００７）。画像比較システム３００の表示画面５６０には、めっきの種類を選択する選択ボタン５６８と、優先項目を選択する項目選択ボタン５６１～５６７が表示されている。
【0085】
選択ボタン５６８は、めっきの種類をプルダウンで選択するボタン（入力欄）である。本実施形態では、めっきの種類として、Ｃｕ（硫酸銅）がプルダウンで選択されている。
【0086】
項目選択ボタン５６１～５６７は、試験条件とは異なる基準の複数の項目を示している。抽出部１１４は、項目選択ボタン５６１～５６７により、複数の項目の中から１つの項目の選択を受け付けて、該当する他の表面状態画像を優先して抽出することができる。
【0087】
項目選択ボタン５６１は、他の表面状態画像を、日付により抽出する。項目選択ボタン５６２は、他の表面状態画像を、曜日により抽出する。項目選択ボタン５６３は、他の表面状態画像を、エリア判断により抽出する。項目選択ボタン５６４は、他の表面状態画像を、良好と判断された撮像画像のみ抽出する。項目選択ボタン５６５は、他の表面状態画像を、不良の種類により抽出する。項目選択ボタン５６６は、他の表面状態画像を、その他の条件により抽出する。
【0088】
【0089】
図１２は、右側に、日付の新しい順に他の表面状態画像を抽出した表示画面である（ステップＳ００８）。表示画面５７０では、右側に、過去の撮像結果として、６～１０枚程度の表面状態画像（撮像画像）が表示されている。
【0090】
図１２に示す領域５７１には、撮像部２００で撮像された、新規に取得された可視光画像５３２が表示されている。領域５７２には、可視光画像５７２ａが表示されている。また、領域５７３には、表面状態画像５７３ａが表示されている。なお、領域５７２と領域５７３は、例えば、めっきの種類が「Ｃｕ（硫酸銅）」の場合に、予め設定された表面状態画像が表示される。
【0091】
領域５７２及び領域５７３は、作業者が予め設定した表面状態画像が表示されるようになっており、例えば、めっきの種類ごとに、毎回設定された表面状態画像が表示される。このため、領域５７２及び領域５７３には、「めっきの種類」が「Ｃｕ（硫酸銅）」の場合に毎回同一の表面状態画像が表示されるので、例えば、撮影日の欄に色を付することで、表示固定画像であることを示してもよい。
【0092】
このように、領域５７２には、「めっきの種類」ごとに毎回表示されるように設定された可視光画像５７２ａが表示され、可視光画像５７２ａは、例えば、建浴直後の標準写真が表示される。また、領域５７３には、比較の参考として、「めっきの種類」ごとに作業者に予め設定された表面状態画像５７３ａが毎回表示され、表面状態画像５７３ａは、例えば、合否判定の閾値となる撮像画像や試験結果の悪い撮像画像が表示される。
【0093】
領域５８０には、日付の新しい順として、前回撮像した表面状態画像５８０ａが表示されている。領域５８１には、前々回撮像した表面状態画像５８１ａが表示されている。また、領域５８２，５８３には、不良が発生した際の注意すべき表面状態画像５８２ａ，５８３ａが表示されている。また、領域５８４，５８５には、不良が発生した際の悪い例を示す表面状態画像５８４ａ，５８５ａが表示されている。
【0094】
表示画面５７０に表示される優先順位は、設定ボタン５８６において、手動を選択することで任意に設定でき、作業者によって設定された優先順位で表示される。優先順位は、例えば、日付の新しい順、記録された特定条件の写真、建浴前後の写真、不良が発生した際の写真、及びその前後の写真などを設定することができる。また、自動を選択することで、人工知能（ＡＩ：Artificial Intelligence）により、今回、新規に取得した可視光画像５３２に類似する撮像画像が自動的に抽出される。
【0095】
図５Ｂに戻り、説明を続ける。画像比較システム３００は、ステップＳ００７において、項目選択ボタン５６３により、エリア判断によるデータ比較が選択された場合、図５ＣのステップＳ００９に進み、他の表面状態画像を表示する。
【0096】
図１３は、５つの領域に対応する他の表面状態画像を抽出した表示画面である（ステップＳ００９）。図１３に示すように、表示画面５９０には、新規に取得した表面状態画像を示す可視光画像５３２及び偏光画像５３７が、左側に表示されるとともに、５つの領域５３４，５３９に適合する表面状態画像６８０～６８８が、右側に表示される。
【0097】
エリア設定５９１では、５つの領域５３４，５３９のうち、適合するエリアを設定することができ、判別内容に従って、合否の件数、不良の件数、及び特長の件数が抽出される。領域６００～６０８には、他の表面状態画像６８０～６８８の可視光画像が表示されており、偏光画像５３７が選択されると、領域６００～６０８に表示された他の表面状態画像６８０～６８８を、可視光画像から偏光画像に切り替える。また、可視光画像５３２が選択されると、領域６００～６０８には、対応する可視光画像が表示される。
【0098】
図５Ｃに戻り、説明を続ける。画像比較システム３００は、ステップＳ００８（図１２）又はＳ００９において（図１３）、他の表面状態画像が選択されると、新規に取得された表面状態画像と、選択された他の表面状態画像を、直接比較する（ステップＳ０１０）。
【0099】
図１４は、領域５７１に表示された可視光画像５３２と、領域５７２に表示された可視光画像５７２ａを比較した表示画面である（ステップＳ０１０）。可視光画像５７２ａは、過去に撮像された他の表面状態画像であって、作業者に選択された可視光画像である。
【0100】
図１４に示すように、画像比較システム３００は、可視光画像５３２と可視光画像５７２ａとを対比するとともに、可視光画像５３２の入力画面５４２と、可視光画像５７２ａの入力画面６１１とを、対比可能に表示する。
【0101】
また、詳細情報抽出部１１６ａは、可視光画像５７２ａと可視光画像５３２のそれぞれについて、金属片の表面の状態、試験条件、対処方法、対処結果、及び備考欄の各情報を記憶部１２０から抽出する。これにより、表示制御部１１５は、詳細情報抽出部１１６ａによって抽出された、金属片の表面の状態、試験条件、対処方法、対処結果、及び備考欄の各情報を、表示部１６０の表示画面６１０に、表示させることができる。
【0102】
なお、作業者に選択されなかった他の表面状態画像６８０～６８３などの一部は、表示画面６１０の右側に表示される。また、表示画面６１０には、重畳表示ボタン６１２、グラフ表示ボタン６１３，６１４が設けられている。
【0103】
図５Ｃに戻り、説明を続ける。画像比較システム３００は、ステップＳ０１１において、重畳表示ボタン６１２が選択されると（ステップＳ０１１の重ね合わせ表示）、ステップＳ０１２に進み、可視光画像５３２と可視光画像５７２ａとを重畳表示する。一方、グラフ表示ボタン６１３，６１４が選択されると（ステップＳ０１１のグラフ表示）、画像比較システム３００は、領域５７１又は領域５７２の表面の度合いを示すグラフを表示する（ステップＳ０１３）。
【0104】
図１５は、可視光画像５３２と可視光画像５７２ａとの重畳表示を示した表示画面である（ステップＳ０１２）。画像比較システム３００は、領域５７１に表示された可視光画像５３２と、領域５７２に表示された可視光画像５７２ａのいずれか一方を、透過画像に変更し、半透明にした状態で重畳表示する。
【0105】
透過画像生成部１１９は、例えば、可視光画像５７２ａを透過画像に変更することで、表示制御部１１５は、透過された可視光画像５７２ａと、可視光画像５３２とを重ね合わせて表示させる。なお、表示制御部１１５は、可視光画像５７２ａを透過画像に変更せず、そのまま重畳表示をさせてもよい。
【0106】
表示画面６２０には、表示モード変更ボタン６３１～６３３を備えている。表示モード変更ボタン６３１～６３３は、領域５７１の表面状態画像と、領域５７２の表面状態画像の種別を変更して重畳表示することができる。例えば、表示モード変更ボタン６３１は、領域５７１の表面状態画像と領域５７２の表面状態画像を、それぞれ可視光画像を示す光学画像で重畳表示する。また、表示モード変更ボタン６３２は、領域５７１の表面状態画像と領域５７２の表面状態画像を、それぞれ偏光画像に変更して、重畳表示する。また、表示モード変更ボタン６３３は、領域５７１の表面状態画像を光学画像にし、領域５７２の表面状態画像を偏光画像に変更して、重畳表示する。
【0107】
【0108】
凹凸度合解析部１１５ａは、例えば、偏光画像５３７の端部からの距離に基づいて、金属片ＯＢの表面における凹凸の度合いを解析し、グラフ６２１を表示画面６３０に表示させている。グラフ６２１は、偏光画像５３７において、色の濃淡、ＲＧＢの度合い、粒の数などを計測してグラフ化したものである。表示画面６３０は、グラフ６２１を表示することで、通常の可視光画像５３２では分かりづらい表面の凹凸を判別することができる。特に、偏光画像は、金属片ＯＢの表面に対して、見た目と異なる状況を検出することができるため、より正確な判断を行うことができる。
【0109】
なお、粒の数は、目視でカウントした数を入力してもよく、また自動判別してもよい。また、グラフ６２１の横軸は、５つ領域５３４，５３９のエリア、各撮像画像の左端からの距離、又は電流密度の３つから選択することができる。これにより、グラフ６２１は、作業者の選択により、横軸を、偏光画像５３７の端部又は金属片ＯＢの端部からの距離、もしくは電流密度（Ａ／ｄｍ２）から相互に切り替えることができる。また、グラフ６２１の横軸及び縦軸は、例示であり、これらに限定するものではない。
【0110】
【0111】
＜カレンダーの日付による過去データの呼び出し処理（オプション）＞
図１４の表示画面６１０、及び図１６の表示画面６３０において、オプションとして、カレンダーの日付から過去データを呼び出す処理を実行するカレンダー表示ボタン６１５が設けられている。
図１４の表示画面６１０、及び図１６の表示画面６３０において、オプションとして、カレンダーの日付から過去データを呼び出す処理を実行するカレンダー表示ボタン６１５が設けられている。
【0112】
図１７は、過去データを呼び出して、カレンダーに他の表面状態画像の有無を表示した表示画面である（ステップＳ０３１）。図１７に示すように、カレンダー６４０には、他の表面状態画像が蓄積されている日が、枠線で視覚的に表示されている。
【0113】
抽出部１１４は、新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、他の表面状態画像が撮像された撮像日に基づいて、抽出する。日付呼出部１１５ｂは、抽出部１１４が抽出した撮像日に基づく他の表面状態画像の有無を、カレンダー６４０に表示する。
【0114】
これにより、日付呼出部１１５ｂは、カレンダーに表示された他の表面状態画像が有る日が選択されると、当該選択された日に撮像された他の表面状態画像を、表示部１６０に表示させることができる。
【0115】
【0116】
ステップＳ１０１では、例えば、図９に示した入力画面５３０を表示する。作業者は、入力画面５３０において、過去に撮像したデータの修正や内容の変更を行うことができる。具体的には、図１０Ａ，１０Ｂに示す入力画面５４２において、入力された試験条件を変更（または訂正）することができる。さらに、画像比較システム３００は、登録情報を変更することもできる。
【0117】
例えば、図１０Ａ，１０Ｂに示す入力画面５４２において、撮影条件５５０やハルセル条件５５１の変更や訂正だけではなく、全体項目５５３やエリア別項目５５４において、記入する項目を追加することができる。全体項目５５３において選択する項目や、エリア別項目５５４において選択する項目を追加することで、画像比較システム３００は、試験結果を詳細に反映することができ、登録されている情報のアップデートを図ることができる。画像比較システム３００は、入力画面５４２において情報を入力すると、処理を終了する。
【0118】
【0119】
ステップＳ２０１では、用語定義表を表示し、例えば、めっきの種類別に、表面の状態の言い表し方（表現方法）を定義する。
【0120】
【0121】
図１８Ａの用語定義表６６０では、めっきの種類、用語、評価基準、被覆率、数値、参考写真の各欄が設けられている。めっきの種類として、ニッケルを使用する場合に、例えば、「ガサガサ」と表現した場合、評価基準は、粒子の大きさで判断し、粒子の径１［ｍｍ］以上のものが、全体（例えば、１０×２０［ｍｍ２］）の７０［％］を覆う状態、又は、全体において１００個以上ある状態と定義する。また、「ガサガサ」に対応する参考写真を貼付することで、「ガサガサ」という表現の状態を作業者にイメージし易くする。
【0122】
なお、この表現は例示であり、これに限定されるものではない。また、数値は、初期値が設定されており、作業者の自己判断で目視や自動判断による数値を入力してもよい。また、作業者が参考写真を選択した場合、「ガサガサ」という表現に関連する他の写真を表示してもよい。
【0123】
また、「剥がれ」と表現した場合、評価基準は、剥がれた面積で判断し、５０［％］以上の面積が剥がれた状態と定義する。また、「剥がれ」に対応する参考写真を貼付することで、「剥がれ」という表現の状態を、作業者にイメージし易くする。
【0124】
また、「ピット」と表現した場合、評価基準は、巨視的な穴や窪みを示すピットが、５個以上含まれている状態と定義する。また、「ピット」に対応する参考写真を貼付することで、「ピット」という表現の状態を、作業者にイメージし易くする。
【0125】
また、「ヤケ」と表現した場合、評価基準は、色味で判断する。この場合、作業者は、参考写真を参照して、色味が参考写真と同一、又は類似するか否かを判断する。
【0126】
また、「コゲ」と表現した場合、評価基準は、色や光沢で判断する。作業者は、参考写真を参照して、６０［％］以上コゲで覆われていた場合、「コゲ」と判断する。
【0127】
図１８Ｂの用語定義表６６１では、めっきの種類、用語、評価基準、被覆率、目視、参考写真の各欄が設けられている。めっきの種類として、ニッケルを使用する場合であって、例えば、「光沢」と表現した場合、被覆率が１００［％］であり、目視でとても明るい状態と定義する。また、「光沢」に対応する参考写真を貼付することで、「光沢」という表現の状態を、作業者にイメージし易くすることができる。
【0128】
なお、この表現は例示であり、これに限定されるものではない。また、作業者が参考写真を選択した場合、「光沢」という表現に関連する他の写真を表示してもよい。
【0129】
また、「半光沢」と表現した場合、評価基準は、被覆率が９０［％］であり、目視でやや明るい状態と定義する。また、「半光沢」に対応する参考写真を貼付することで、「半光沢」という表現の状態を、作業者にイメージし易くすることができる。
【0130】
また、「くもり」と表現した場合、評価基準は、被覆率が７０［％］であり、目視において、「もや」がかかってる状態と定義する。また、「くもり」に対応する参考写真を貼付することで、「くもり」という表現の状態を、作業者にイメージし易くすることができる。
【0131】
また、「白色」と表現した場合、評価基準は、被覆率が５０［％］であり、目視において白っぽい状態と定義する。また、「白色」に対応する参考写真を貼付することで、「白色」という表現の状態を、作業者にイメージし易くすることができる。用語の定義の入力、又は確認が終了すると、処理を終了する。
【0132】
以上説明したように、画像比較システム３００は、取得部１１１、条件取得部１１３、抽出部１１４、及び表示制御部１１５を備えて構成されている。取得部１１１は、めっき試験の結果を示す金属片ＯＢの表面状態画像を取得する。抽出部１１４は、新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、記憶部１２０から抽出する。表示制御部１１５は、新規に取得された表面状態画像、及び抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示部１６０に表示させる。
【0133】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、抽出部１１４により、新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を抽出することができ、新規に取得した金属片ＯＢの表面状態画像と、抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像を、比較可能に表示させる。試験条件の一部とは、例えば、ハルセル試験のハルセル条件５５１が該当する。そのため、めっきの種類や試験時間などの試験条件が一致するものを抽出することができるので、めっき試験の試験結果に対し、判断材料となる情報を、作業者に容易に提供することができる。
【0134】
また、画像比較システム３００は、抽出部１１４が他の表面状態画像を複数抽出した場合、当該抽出部１１４によって抽出された複数の他の表面状態画像のうち、いずれか１つの他の表面の状態について詳細表示指示を受け付ける詳細表示受付部１１６を、更に備え、表示制御部１１５は、受け付けられた詳細表示指示に基づいて、新規に取得された表面状態画像と、他の表面状態画像とを、比較可能に表示部に表示させる。
【0135】
かかる構成によれば、詳細表示受付部１１６は、抽出部１１４により他の表面状態画像が複数抽出された場合に、新規に取得した表面状態画像と比較したい他の表面状態画像について詳細表示指示を１つ受け付ける。作業者は、比較したい他の表面状態画像を１つ選択するだけで、新規に取得された表面状態画像と、他の表面状態画像とを比較可能に表示することができる。これにより、画像比較システム３００は、新規に取得した表面状態画像と、選択された他の表面状態画像とを容易に比較することができる。
【0136】
また、画像比較システム３００は、記憶部１２０には、他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、金属片ＯＢの表面の状態、試験条件、対処方法、対処結果及び備考欄の少なくとも一つを含む詳細情報が関連付けて記憶されており、他の表面状態画像、及び新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、詳細情報を記憶部１２０から抽出する詳細情報抽出部１１６ａを更に備えて構成されている。表示制御部１１５は、詳細情報抽出部１１６ａによって抽出された、他の表面状態画像の詳細情報と、新規に取得された表面状態画像の詳細情報とを、比較可能に表示部１６０に表示させる。
【0137】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、詳細情報抽出部１１６ａにより、他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、記憶部１２０から詳細情報を抽出し、他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像のそれぞれについて、金属片ＯＢの表面の状態、試験条件、対処方法、対処結果、及び備考欄の少なくとも一つを含む詳細情報を、表示部１６０に表示させることができる。これにより、画像比較システム３００は、他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像の詳細情報を容易に比較することができる。
【0138】
また、画像比較システム３００は、可視光により撮像する可視光カメラ２０１と、所定の偏光により撮像する偏光カメラ２０２と、を含んで構成されている。可視光カメラ２０１と偏光カメラ２０２は、金属片ＯＢの表面の状態を撮像して、新規の表面状態画像を取得する。
【0139】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、可視光カメラ２０１から可視光画像５３２を取得するとともに、偏光カメラ２０２から、偏光画像５３７を取得する。これにより、画像比較システム３００は、表面状態画像について、可視光画像５３２を表示させることができるとともに、偏光画像５３７を表示させることができる。したがって、作業者は、表面状態画像について、可視光画像５３２と偏光画像５３７とを表示して試験結果を確認することができる。
【0140】
また、画像比較システム３００は、表示制御部１１５により、新規の表面状態画像である可視光カメラ２０１によって撮像された可視光画像５３２、及び／又は偏光カメラ２０２によって撮像された偏光画像５３７を、表示部１６０に表示させる。画像比較システム３００は、表示制御部１１５により、新規の表面状態画像である可視光画像５３２、及び偏光画像５３７のうちいずれかが選択されると、他の表面状態画像である可視光画像、及び偏光画像のうち対応するものを、表示部１６０に表示させる。
【0141】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、表示制御部１１５により、可視光画像５３２および偏光画像５３７を、表示画面５９０に表示させることができるとともに、可視光画像５３２、及び偏光画像５３７のうちいずれかが選択されると、他の表面状態画像である可視光画像および偏光画像のうち対応する画像を表示させる。これにより、作業者は、試験結果に対し、他の表面状態画像である可視光画像および偏光画像のうち対応するものを容易に参照することができる。
【0142】
また、画像比較システム３００は、表示制御部１１５に、偏光画像の端部又は金属片ＯＢの端部からの距離に基づいて、金属片ＯＢの表面における凹凸の度合いを解析し、表示部１６０に表示させる凹凸度合解析部１１５ａを、更に備えている。
【0143】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、凹凸度合解析部１１５ａにより、偏光画像を用いて金属片ＯＢの表面における凹凸の度合いを解析することができる。これにより、画像比較システム３００は、凹凸度合解析部１１５ａにより目視では判断できない金属片ＯＢの表面の状態を、グラフ化や数値化により可視化することができる。
【0144】
また、画像比較システム３００のめっき試験は、ハルセル試験とすることができる。
【0145】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、表面状態画像として金属片ＯＢに、連続した電流密度範囲についてグラデーションで表示させることができる。これにより、画像比較システム３００は、ハルセル試験における、最適な電流密度範囲の確認、めっき浴の組成バランス、光沢剤、添加剤の過不足、被覆力、不純物の混入状態、及び除去した効果確認など様々な評価情報を得ることができ、めっき液の評価、めっき液の管理、及び新しいめっき浴の開発などに利用できる。
【0146】
また、画像比較システム３００は、金属片ＯＢの表面を複数の領域（Ａ～Ｅ）に区分けする外観領域区分部１１７を、更に備え、外観領域区分部１１７は、複数の領域に区分けされた各領域（Ａ～Ｅ）において、試験結果が良好か否かの判定を受け付ける。
【0147】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、外観領域区分部１１７により、金属片ＯＢの表面を区分けし、作業者は、区分けされた領域ごとに、試験結果が良好か否かの判定を入力することができる。これにより、画像比較システム３００は、外観領域区分部１１７によって区分けされた領域ごとに、他の表面状態画像と試験結果を比較することができる。
【0148】
また、画像比較システム３００は、新たに取得された表面状態画像又は他の表面状態画像において、画像の端部又は画像における金属片ＯＢの端部からの位置情報を取得して、取得した位置情報における電流密度を、表示部１６０に表示させる電流密度表示部１１８を、更に備えて構成されている。
【0149】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、電流密度表示部１１８により、作業者がマウスで表面状態画像上を指定するだけで、その位置情報における電流密度を、表示部１６０に表示させる。これにより、作業者は、電流密度表示部１１８の電流密度を参照することにより、表面状態画像を解析することができる。具体的には、表面状態画像の状態が同一であっても、電流密度が異なることにより、添加物の影響、めっき浴のバランスなどを判断することができる。
【0150】
また、画像比較システム３００は、抽出部１１４において、試験条件とは異なる基準の複数の項目を有し、複数の項目の中から１つの項目の選択を受け付けて、該当する他の表面状態画像を優先して抽出する。
【0151】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、抽出部１１４により優先項目を設定し、その優先項目に対応する表面状態画像を抽出することができる。この場合、画像比較システム３００は、例えば、優先項目として、図３に示した、日付、曜日、エリア判断などを優先項目に設定することができる。これにより、画像比較システム３００は、作業者が確認したい他の表面状態画像を、優先項目によって抽出することができるので、作業者が確認したい他の表面状態画像を容易に表示させることができる。
【0152】
また、画像比較システム３００は、抽出部１１４により、新規に取得された表面状態画像の試験条件と、少なくとも一部の試験条件が一致する他の表面状態画像を、当該他の表面状態画像が撮像された撮像日に基づいて、抽出する。表示制御部１１５は、抽出部１１４が抽出した撮像日に基づく他の表面状態画像の有無をカレンダーに表示する日付呼出部１１５ｂを、更に備えている。日付呼出部１１５ｂは、カレンダーに表示された他の表面状態画像が有る日が選択されると、当該選択された日に撮像された他の表面状態画像を、表示部１６０に表示させる。
【0153】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、試験条件の少なくとも一部が一致する他の表面状態画像が撮像された撮像日を、日付呼出部１１５ｂによりカレンダー６４０に表示することができる。これにより、画像比較システム３００は、カレンダー６４０に他の表面状態画像の有無を表示することができるので、他の表面状態画像を検索する際、カレンダーの日程から検索できる。この場合、例えば、製造設備が長期間停止する長期休暇の後は、ハルセル試験に不良が発生しやすい。そのため、作業者は、不合格となる可能性のある他の表面状態画像を、カレンダー６４０から時間的間隔を考慮して、容易に選択することができる。
【0154】
また、画像比較システム３００は、表示制御部１１５により、抽出部１１４によって抽出された他の表面状態画像のうちいずれか１つと、新規に取得された表面状態画像とを、重畳表示させる。
【0155】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、可視光画像又は変更画像を問わず、表示制御部１１５により、比較させたい撮像画像同士を重畳表示させることができる。これにより、画像比較システム３００は、比較したい撮像画像を重畳表示させた状態で、試験結果を詳細に判断することができる。
【0156】
また、画像比較システム３００は、重畳表示させる場合において、１つの他の表面状態画像と、新規に取得された表面状態画像のうちいずれか一方の画像を透過させる透過画像生成部１１９を、更に備えて構成されている。
【0157】
かかる構成によれば、画像比較システム３００は、透過画像生成部１１９により、透過された一方の撮像画像と他方の撮像画像とを重ね合わせて、重畳表示させることができる。これにより、作業者は、透過された撮像画像を用いて、重畳表示により確認することができるので、対比観察では判断の難しい微妙な差異を容易に検出することができる。
【0158】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、変更実施が可能である。
【符号の説明】
【0159】
１００ 情報処理装置
１１１ 取得部
１１２ 登録部
１１３ 条件取得部
１１４ 抽出部
１１５ 表示制御部
１１５ａ 凹凸度合解析部
１１５ｂ 日付呼出部
１１６ 詳細表示受付部
１１６ａ 詳細情報抽出部
１１７ 外観領域区分部
１１８ 電流密度表示部
１１９ 透過画像生成部
２００ 撮像部
２０１ 可視光カメラ
２０２ 偏光カメラ
３００ 画像比較システム
４００ ハルセル試験（めっき装置）
１１１ 取得部
１１２ 登録部
１１３ 条件取得部
１１４ 抽出部
１１５ 表示制御部
１１５ａ 凹凸度合解析部
１１５ｂ 日付呼出部
１１６ 詳細表示受付部
１１６ａ 詳細情報抽出部
１１７ 外観領域区分部
１１８ 電流密度表示部
１１９ 透過画像生成部
２００ 撮像部
２０１ 可視光カメラ
２０２ 偏光カメラ
３００ 画像比較システム
４００ ハルセル試験（めっき装置）
【図1A】
【図1B】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5A】
【図5B】
【図5C】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10A】
【図10B】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18A】
【図18B】
