(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024057641
(43)【公開日】2024-04-25
(54)【発明の名称】光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
(51)【国際特許分類】
G01D 5/353 20060101AFI20240418BHJP
G01M 11/00 20060101ALI20240418BHJP
【ＦＩ】
G01D5/353 B
G01M11/00 U
【審査請求】未請求
【請求項の数】7
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022164406
(22)【出願日】2022-10-13
(71)【出願人】
【識別番号】000006507
【氏名又は名称】横河電機株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100165179
【弁理士】
【氏名又は名称】田▲崎▼ 聡
(74)【代理人】
【識別番号】100206081
【弁理士】
【氏名又は名称】片岡 央
(74)【代理人】
【識別番号】100167553
【弁理士】
【氏名又は名称】高橋 久典
(74)【代理人】
【識別番号】100181124
【弁理士】
【氏名又は名称】沖田 壮男
(72)【発明者】
【氏名】松浦 聡
(72)【発明者】
【氏名】熊谷 芳宏
【テーマコード（参考）】
2F103
2G086
【Ｆターム（参考）】
2F103CA07
2F103EB02
2F103EB11
2F103EC09
2G086DD04
2G086DD05
(57)【要約】
【課題】外乱による追従性の影響を抑えつつ、ＳＮ比を向上させることができる光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法を提供する。
【解決手段】光ファイバ特性測定装置１は、所定の変調周波数で変調したレーザ光を射出する光源１１と、レーザ光をプローブ光Ｌ１及びポンプ光Ｌ２として光ファイバ１４の一端及び他端からそれぞれ入射させる入射部（１２，１３，１５，１６）と、光電変換素子、電流源、及び増幅回路を有し、光ファイバ１４から射出される光を検出する光検出部１７と、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１を用いて光ファイバ１４の特性を測定する測定部１８と、プローブ光Ｌ１が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が光ファイバ１４から射出される期間である非含有期間における光検出部１７の検出結果に基づいて電流源を制御する電流源制御部１９と、を備える。
【選択図】図１
【解決手段】光ファイバ特性測定装置１は、所定の変調周波数で変調したレーザ光を射出する光源１１と、レーザ光をプローブ光Ｌ１及びポンプ光Ｌ２として光ファイバ１４の一端及び他端からそれぞれ入射させる入射部（１２，１３，１５，１６）と、光電変換素子、電流源、及び増幅回路を有し、光ファイバ１４から射出される光を検出する光検出部１７と、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１を用いて光ファイバ１４の特性を測定する測定部１８と、プローブ光Ｌ１が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が光ファイバ１４から射出される期間である非含有期間における光検出部１７の検出結果に基づいて電流源を制御する電流源制御部１９と、を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
所定の変調周波数で変調したレーザ光を射出する光源と、
前記レーザ光を連続光及びパルス光として光ファイバの一端及び他端からそれぞれ入射させる入射部と、
光電変換素子、前記光電変換素子に接続された電流源、及び前記光電変換素子と前記電流源との接続点に接続された増幅回路を有し、前記光ファイバから射出される光を検出する光検出部と、
前記光検出部から出力される検出信号を用いて前記光ファイバの特性を測定する測定部と、
前記連続光が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が前記光ファイバから射出される期間である非含有期間における前記光検出部の検出結果に基づいて前記電流源を制御する電流源制御部と、
を備える光ファイバ特性測定装置。
前記レーザ光を連続光及びパルス光として光ファイバの一端及び他端からそれぞれ入射させる入射部と、
光電変換素子、前記光電変換素子に接続された電流源、及び前記光電変換素子と前記電流源との接続点に接続された増幅回路を有し、前記光ファイバから射出される光を検出する光検出部と、
前記光検出部から出力される検出信号を用いて前記光ファイバの特性を測定する測定部と、
前記連続光が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が前記光ファイバから射出される期間である非含有期間における前記光検出部の検出結果に基づいて前記電流源を制御する電流源制御部と、
を備える光ファイバ特性測定装置。
【請求項2】
前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射される周期は、少なくとも前記パルス光が前記光ファイバの一端と他端との間を往復するのに要する往復時間の２倍の時間に設定されており、
前記非含有期間は、前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射されて前記往復時間が経過してから、次の前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射されるまでの期間である、
請求項１記載の光ファイバ特性測定装置。
前記非含有期間は、前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射されて前記往復時間が経過してから、次の前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射されるまでの期間である、
請求項１記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項3】
前記電流源制御部は、前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射される周期と同じ周期を有する同期信号を用いて、前記非含有期間における前記光検出部の検出結果を得る、請求項２記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項4】
前記電流源制御部は、前記光検出部の検出結果として、前記光検出部から出力される検出信号を得る、請求項３記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項5】
前記測定部は、前記光検出部から出力される検出信号のうち、前記光ファイバに設定された測定点近傍の光を検出して得られた検出信号の切り出しを行い、前記同期信号を用いて切り出しを行った検出信号を同期検波する同期検波装置を備え、
前記電流源制御部は、前記光検出部の検出結果として、前記同期検波装置で切り出しが行われた検出信号を得る、請求項３記載の光ファイバ特性測定装置。
前記電流源制御部は、前記光検出部の検出結果として、前記同期検波装置で切り出しが行われた検出信号を得る、請求項３記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項6】
前記光検出部は、前記光電変換素子に流れる電流を検出する電流検出器を備えており、
前記電流源制御部は、前記光検出部の検出結果として、前記電流検出器の検出結果を得る、
請求項３記載の光ファイバ特性測定装置。
前記電流源制御部は、前記光検出部の検出結果として、前記電流検出器の検出結果を得る、
請求項３記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項7】
所定の変調周波数で変調したレーザ光を射出する第１ステップと、
前記レーザ光を連続光及びパルス光として光ファイバの一端及び他端からそれぞれ入射させる第２ステップと、
光電変換素子、前記光電変換素子に接続された電流源、及び前記光電変換素子と前記電流源との接続点に接続された増幅回路を有する光検出部によって前記光ファイバから射出される光を検出する第３ステップと、
前記光検出部から出力される検出信号を用いて前記光ファイバの特性を測定する第４ステップと、
前記連続光が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が前記光ファイバから射出される期間である非含有期間における前記光検出部の検出結果に基づいて前記電流源を制御する第５ステップと、
を有する光ファイバ特性測定方法。
前記レーザ光を連続光及びパルス光として光ファイバの一端及び他端からそれぞれ入射させる第２ステップと、
光電変換素子、前記光電変換素子に接続された電流源、及び前記光電変換素子と前記電流源との接続点に接続された増幅回路を有する光検出部によって前記光ファイバから射出される光を検出する第３ステップと、
前記光検出部から出力される検出信号を用いて前記光ファイバの特性を測定する第４ステップと、
前記連続光が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が前記光ファイバから射出される期間である非含有期間における前記光検出部の検出結果に基づいて前記電流源を制御する第５ステップと、
を有する光ファイバ特性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
光ファイバに光を入射させることによって発生するブリルアン散乱光は、光ファイバの温度や歪みの変化によってスペクトル（周波数）が変化する。このような性質を利用した光ファイバ特性測定装置は、ブルリアン散乱光の周波数の変化（ブリルアン周波数シフト（ＢＦＳ：Brillouin Frequency Shift））を光ファイバの長さ方向に亘って検出することで、光ファイバの長さ方向の温度分布や歪み分布を測定する。
【0003】
このような光ファイバ特性測定装置の１つに、以下の特許文献１，２に開示されたＢＯＣＤＡ（Brillouin Optical Correlation Domain Analysis）方式のものがある。この方式の光ファイバ特性測定装置は、周波数変調された光（ポンプ光及びプローブ光）を光ファイバの両端からそれぞれ入射させる。そして、ポンプ光及びプローブ光の変調位相が一致する位置（「相関ピーク」が現れる位置）において、プローブ光が誘導ブリルアン散乱現象により増幅される性質を利用して光ファイバの特性を測定するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特許第３６６７１３２号公報
【特許文献2】特許第５６５４８９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ところで、光ファイバから射出される光は、プローブ光に微弱なブリルアン散乱光が重畳されたものであるため、この光を検出して得られる検出信号は、プローブ光の成分に比べて著しく信号強度が低いブリルアン散乱光の成分が含まれるものになる。このような検出信号を増幅器で増幅すると、プローブ光の成分によって増幅器が飽和してしまい、ブリルアン散乱光の成分を十分な大きさに増幅することができない。このため、ブリルアン散乱光の成分と雑音との比であるＳＮ比（信号対雑音比）を向上させることができない。
【0006】
ここで、検出信号からプローブ光の成分を除き、ブリルアン散乱光の成分のみを増幅するようにすればブリルアン散乱光の成分を十分な大きさに増幅することが可能である。しかしながら、検出信号からプローブ光の成分を除去する方法によっては、例えば、光ファイバに曲げ等の外乱が加わって損失が急激に変化した場合に、測定結果が直ちに追随しない等の追従性の影響が生ずることが考えられる。
【0007】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、外乱による追従性の影響を抑えつつ、ＳＮ比を向上させることができる光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記課題を解決するために、本発明の第１の態様による光ファイバ特性測定装置（１～３）は、所定の変調周波数で変調したレーザ光を射出する光源（１１）と、前記レーザ光を連続光（Ｌ１）及びパルス光（Ｌ２）として光ファイバ（１４）の一端及び他端からそれぞれ入射させる入射部（１２、１３、１５、１６）と、光電変換素子（２１）、前記光電変換素子に接続された電流源（２２）、及び前記光電変換素子と前記電流源との接続点（ＣＰ）に接続された増幅回路（２３）を有し、前記光ファイバから射出される光を検出する光検出部（１７、１７Ａ）と、前記光検出部から出力される検出信号（Ｄ１）を用いて前記光ファイバの特性を測定する測定部（１８）と、前記連続光が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が前記光ファイバから射出される期間である非含有期間（Ｔ２）における前記光検出部の検出結果（Ｄ１、Ｄ２、Ｄ１１）に基づいて前記電流源を制御する電流源制御部（１９）と、を備える。
【0009】
本発明の第２の態様による光ファイバ特性測定装置は、本発明の第１の態様による光ファイバ特性測定装置において、前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射される周期（Ｔ）が、少なくとも前記パルス光が前記光ファイバの一端と他端との間を往復するのに要する往復時間の２倍の時間に設定されており、前記非含有期間が、前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射されて前記往復時間が経過してから、次の前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射されるまでの期間である。
【0010】
本発明の第３の態様による光ファイバ特性測定装置は、本発明の第２の態様による光ファイバ特性測定装置において、前記電流源制御部が、前記パルス光が前記光ファイバの他端に入射される周期と同じ周期を有する同期信号（ＳＹ）を用いて、前記非含有期間における前記光検出部の検出結果を得る。
【0011】
本発明の第４の態様による光ファイバ特性測定装置は、本発明の第３の態様による光ファイバ特性測定装置において、前記電流源制御部が、前記光検出部の検出結果として、前記光検出部から出力される検出信号（Ｄ１）を得る。
【0012】
本発明の第５の態様による光ファイバ特性測定装置は、本発明の第３の態様による光ファイバ特性測定装置において、前記測定部が、前記光検出部から出力される検出信号のうち、前記光ファイバに設定された測定点近傍の光を検出して得られた検出信号の切り出しを行い、前記同期信号を用いて切り出しを行った検出信号を同期検波する同期検波装置（２０）を備え、前記電流源制御部が、前記光検出部の検出結果として、前記同期検波装置で切り出しが行われた検出信号（Ｄ２）を得る。
【0013】
本発明の第６の態様による光ファイバ特性測定装置は、本発明の第３の態様による光ファイバ特性測定装置において、前記光検出部が、前記光電変換素子に流れる電流を検出する電流検出器（２４）を備えており、前記電流源制御部が、前記光検出部の検出結果として、前記電流検出器の検出結果（Ｄ１１）を得る。
【0014】
本発明の一態様による光ファイバ特性測定方法は、所定の変調周波数で変調したレーザ光を射出する第１ステップと、前記レーザ光を連続光（Ｌ１）及びパルス光（Ｌ２）として光ファイバ（１４）の一端及び他端からそれぞれ入射させる第２ステップと、光電変換素子（２１）、前記光電変換素子に接続された電流源（２２）、及び前記光電変換素子と前記電流源との接続点（ＣＰ）に接続された増幅回路（２３）を有する光検出部（１７）によって前記光ファイバから射出される光を検出する第３ステップと、前記光検出部から出力される検出信号（Ｄ１）を用いて前記光ファイバの特性を測定する第４ステップと、前記連続光が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が前記光ファイバから射出される期間である非含有期間（Ｔ２）における前記光検出部の検出結果に基づいて前記電流源を制御する第５ステップと、を有する。
【発明の効果】
【0015】
本発明によれば、外乱による追従性の影響を抑えつつ、ＳＮ比を向上させることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【0016】
【図1】本発明の第１実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第１実施形態による光ファイバ特性測定装置に設けられる光検出部の要部構成を示す回路図である。
【図3】本発明の第１実施形態において、同期検波装置で行われる処理を説明するための図である。
【図4】本発明の第１実施形態において、電流源制御部で行われる処理を説明するための図である。
【図5】本発明の第２実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。
【図6】本発明の第２実施形態において、電流源制御部で行われる処理を説明するための図である。
【図7】本発明の第３実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。
【図8】本発明の第３実施形態による光ファイバ特性測定装置に設けられる光検出部の要部構成を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【0017】
以下、図面を参照して本発明の実施形態による光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法について詳細に説明する。以下では、まず、本発明の実施形態の概要について説明し、続いて本発明の各実施形態の詳細について説明する。
【0018】
〔概要〕
本発明の実施形態は、光ファイバ特性測定装置において、外乱による追従性の影響を抑えつつ、ＳＮ比を向上させるものである。具体的には、ＢＯＣＤＡ方式の光ファイバ特性測定装置において、光ファイバから射出される光の検出信号からプローブ光の成分を除き、ブリルアン散乱光の成分のみを増幅させてＳＮ比を向上させる。このとき、光ファイバの温度や歪みが急激に変化したとしても、その測定結果が直ちに追随するようにするものである。
本発明の実施形態は、光ファイバ特性測定装置において、外乱による追従性の影響を抑えつつ、ＳＮ比を向上させるものである。具体的には、ＢＯＣＤＡ方式の光ファイバ特性測定装置において、光ファイバから射出される光の検出信号からプローブ光の成分を除き、ブリルアン散乱光の成分のみを増幅させてＳＮ比を向上させる。このとき、光ファイバの温度や歪みが急激に変化したとしても、その測定結果が直ちに追随するようにするものである。
【0019】
光ファイバに光を入射すると光ファイバ内の各所で微小な散乱光が生ずる。散乱光はその発生要因により、大きく３つ（レイリー散乱光、ブリルアン散乱光、ラマン散乱光）に分けられる。ブリルアン散乱光は、その周波数がファイバに加わる温度及び歪みに対して線形に変化する。そこで、ブリルアン散乱光の発生位置とその周波数を求めれば光ファイバそのものを歪みセンサ、温度センサ、又はその両方として用いることができる。この性質を利用して、通信用光ファイバ自体の敷設品質管理、橋梁やダムといった社会インフラ構造物又は航空機機体の構造健全性診断等へ応用する測定技術の研究・開発が盛んに行われている。
【0020】
ブリルアン散乱には、自然ブリルアン散乱（ＳｐＢＳ：Spontaneous Brillouin Scattering）と、誘導ブリルアン散乱（ＳＢＳ：Stimulated Brillouin Scattering）とがある。自然ブリルアン散乱は、自然に存在する音響波により生じる散乱である。誘導ブリルアン散乱は、対向して伝播する２つの光が特定の条件を満足するときに生ずる強い音響波と光とが相互作用して生じる散乱である。
【0021】
上述した特許文献１，２に開示されたＢＯＣＤＡ方式の光ファイバ特性測定装置は、正弦波により周波数変調（ＦＭ変調）した光を光ファイバの両端から入射させる。そして、光ファイバ内において、それら２つの光の変調位相が一致する位置（相関ピークが現れる位置）が１つのみになるようにする。このとき、相関ピークが現れる位置では、強度の高い誘導ブリルアン散乱光が発生し、その位置以外では、強度の低い誘導ブリルアン散乱光が発生する。
【0022】
光ファイバ内で生じた全ての誘導ブリルアン散乱光のスペクトル（ＢＧＳ：Brillouin Gain Spectrum）を観測すると、そのスペクトルの最大値付近の形状は、相関ピークが現れる位置で発生した誘導ブリルアン散乱光の形状が支配的になる。つまり、相関ピークが現れる位置で生じた誘導ブリルアン散乱光のスペクトルを観測し、その最大値の周波数と入射光との周波数差（ＢＦＳ：Brillouin Frequency Shift）から相関ピークが現れる位置における温度又は歪みの情報を得ることができる。
【0023】
相関ピークが現れる位置は、周波数変調の周波数を変えることによって移動させることができる。このため、相関ピークが現れる位置を光ファイバの長さ方向に移動させることで、光ファイバの長さ方向における任意の位置における温度又は歪みの情報を得ることができる。
【0024】
一方、光ファイバに入射させる光を正弦波によって周波数変調した場合には、光ファイバの長さ方向に沿って一定間隔で相関ピークが現れる。光ファイバ内において、相関ピークが現れる位置が１つのみになるようにするには、光ファイバの長さを相関ピークの間隔よりも短くしなければならない。この制約を回避するための一方法として、上述した特許文献２に開示された時間ゲート法と呼ばれるものがある。この時間ゲート法は、端的にいうと、光ファイバから順次射出される光のうち、光ファイバ内に設定した測定点及びその近傍で発生した光を検出して得られた検出信号のみを切り出す方法である。これにより、相関ピークが現れる位置が光ファイバ内に複数存在したとしても、光ファイバ内に設定した測定点及びその近傍で発生した光を検出して得られた検出信号のみが得られる。
【0025】
このようなＢＯＣＤＡ方式の光ファイバ特性測定装置では、プローブ光に微弱なブルリアン散乱光が重畳された光を検出する。この光を検出して得られる検出信号は、プローブ光の成分に比べて著しく信号強度が低いブリルアン散乱光の成分が含まれるものになる。このような検出信号を増幅器で増幅すると、プローブ光の成分によって増幅器が飽和してしまい、ブリルアン散乱光の成分を十分な大きさに増幅することができない。このため、ブリルアン散乱光の成分と雑音との比であるＳＮ比を向上させることができない。
【0026】
ここで、検出信号からプローブ光の成分を除き、ブリルアン散乱光の成分のみを増幅するようにすればブリルアン散乱光の成分を十分な大きさに増幅することが可能である。しかしながら、検出信号からプローブ光の成分を除去する方法によっては、光ファイバの温度や歪みが急激に変化した場合に、その測定結果が直ちに追随しない等の追従性の影響が生ずることが考えられる。
【0027】
本実施形態では、まず、所定の変調周波数で変調されたレーザ光を、連続光及びパルス光として光ファイバの一端及び他端からそれぞれ入射させる。次に、光電変換素子、光電変換素子に接続された電流源、及び光電変換素子と電流源との接続点に接続された増幅回路を有する光検出部によって、光ファイバから射出される光を検出する。次いで、連続光が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が光ファイバから射出される期間である非含有期間における光検出部の検出結果に基づいて、光検出部に設けられる電流源を制御する。そして、光検出部から出力される検出信号を用いて光ファイバの特性を測定する。これにより、外乱による追従性の影響を抑えつつ、ＳＮ比を向上させることができる。
【0028】
〔第１実施形態〕
〈光ファイバ特性測定装置〉
図１は、本発明の第１実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。図１に示す通り、本実施形態の光ファイバ特性測定装置１は、光源１１、光分岐器１２（入射部）、光変調器１３（入射部）、光ファイバ１４、パルス変調器１５（入射部）、方向性結合器１６（入射部）、光検出部１７、測定部１８、及び電流源制御部１９を備える。このような光ファイバ特性測定装置１は、光ファイバ１４の長さ方向における特性（例えば温度分布や歪み分布等）を測定する。
〈光ファイバ特性測定装置〉
図１は、本発明の第１実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。図１に示す通り、本実施形態の光ファイバ特性測定装置１は、光源１１、光分岐器１２（入射部）、光変調器１３（入射部）、光ファイバ１４、パルス変調器１５（入射部）、方向性結合器１６（入射部）、光検出部１７、測定部１８、及び電流源制御部１９を備える。このような光ファイバ特性測定装置１は、光ファイバ１４の長さ方向における特性（例えば温度分布や歪み分布等）を測定する。
【0029】
光源１１は、半導体レーザ１１ａ及び信号発生器１１ｂを備えており、所定の変調周波数ｆmで変調したレーザ光を射出する。半導体レーザ１１ａは、例えば、光ファイバ１４での吸収が少ない波長（例えば、１．５５μｍ）のレーザ光を射出する。信号発生器１１ｂは、半導体レーザ１１ａから射出されるレーザ光を変調周波数ｆmで周波数変調する正弦波信号（変調信号）を半導体レーザ１１ａに出力する。光分岐器１２は、光源１１から射出されたレーザ光を、例えば１対１の強度比で２分岐する。
【0030】
光変調器１３は、マイクロ波発生器１３ａとＳＳＢ（Single Side Band：単側波帯）光変調器１３ｂとを備える。光変調器１３は、光分岐器１２で分岐された一方のレーザ光を変調して（光周波数シフトさせて）、レーザ光の中心周波数に対する側波帯（単側波帯）を発生させる。尚、本実施形態では、低周波側の単側帯波が光変調器１３から出力されるとする。
【0031】
マイクロ波発生器１３ａは、光分岐器１２で分岐された一方のレーザ光に与える周波数シフト分の周波数を有するマイクロ波を出力する。ＳＳＢ光変調器１３ｂは、入力光の中心周波数に対してマイクロ波発生器１３ａから出力されるマイクロ波の周波数に等しい周波数差を有する単側帯波を発生させる。尚、マイクロ波発生器１３ａから出力されるマイクロ波の周波数は可変である。光変調器１３で変調された光は、プローブ光Ｌ１（連続光）として光ファイバ１４の一端から光ファイバ１４内に入射する。
【0032】
パルス変調器１５は、信号発生器１５ａと光強度変調器１５ｂとを備えており、光分岐器１２で分岐された他方のレーザ光をパルス化してパルス光を生成する。ここで、パルス変調器１５は、少なくとも、パルス光が光ファイバ１４の一端と他端との間を往復するのに要する時間の２倍の時間に設定された周期Ｔでパルス光を生成する。信号発生器１５ａは、レーザ光をパルス化するタイミングを規定するタイミング信号を出力する。光強度変調器１５ｂは、例えばＥＯ（Electro-Optic：電気光学）スイッチであり、信号発生器１５ａから出力されるタイミング信号で規定されるタイミングで光分岐器１２からのレーザ光をパルス化する。
【0033】
方向性結合器１６は、パルス変調器１５から出力されるパルス化されたレーザ光をポンプ光Ｌ２（パルス光）として光ファイバ１４の他端から光ファイバ１４内に入射させる。また、方向性結合器１６は、光ファイバ１４を伝播して光ファイバ１４の他端から射出されたプローブ光Ｌ１を含む光（検出光Ｌ１１）を光検出部１７に向けて射出する。尚、検出光Ｌ１１の強度は、光ファイバ１４内で生ずる誘導ブリルアン散乱現象による影響を受けたものとなる。光検出部１７は、検出光Ｌ１１を検出（受光）して検出信号Ｄ１を出力する。
【0034】
図２は、本発明の第１実施形態による光ファイバ特性測定装置に設けられる光検出部の要部構成を示す回路図である。図２に示す通り、光検出部１７は、フォトダイオード２１（光電変換素子）、電流源２２、及び増幅回路２３を備える。
【0035】
フォトダイオード２１は、検出光Ｌ１１を光電変換し、検出光Ｌ１１に応じた電流を出力する。このフォトダイオード２１としては、例えば、アバランシェ・フォト・ダイオード等の高感度の受光素子を用いることができる。フォトダイオード２１のカソードは、バイアス端子Ｔ１１に接続されており、フォトダイオード２１のアノードは、電流源２２の一端に接続されている。尚、バイアス端子Ｔ１１は、フォトダイオード２１に印加されるバイアス電圧が入力される端子である。
【0036】
電流源２２は、制御信号入力端子Ｔ１３から入力される制御信号Ｃ１（詳細は後述する）に応じた電流を出力する。この電流源２２は、フォトダイオード２１から出力される電流から、検出光Ｌ１１に含まれるプローブ光Ｌ１の成分を除去するために設けられる。電流源２２の一端は、フォトダイオード２１のアノードに接続され、電流源２２の他端は、負電源端子Ｔ１２に接続されている。
【0037】
増幅回路２３は、フォトダイオード２１から出力される電流（正確には、フォトダイオード２１から出力される電流から、電流源２２に流れた電流が差し引かれた電流）を増幅し、増幅した電流を電圧に変換して出力する。増幅回路２３は、増幅器２３ａ及び帰還抵抗器２３ｂを備える。増幅器２３ａの入力端は、フォトダイオード２１と電流源２２との接続点ＣＰに接続されており、増幅器２３ａの出力端は、出力端子Ｔ１４に接続されている。帰還抵抗器２３ｂは、増幅器２３ａの入力端と出力端との間に接続されており、増幅器２３ａとともに電流電圧変換回路を構成する。このため、出力端子Ｔ１４から出力される検出信号Ｄ１は、フォトダイオード２１から出力される電流から、電流源２２に流れた電流が差し引かれた電流に応じた電圧を有するものとなる。
【0038】
測定部１８は、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１を用いて光ファイバ１４の長さ方向における特性を測定する。測定部１８は、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１の同期検波を行う同期検波装置２０を備える。同期検波装置２０は、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１のうち、光ファイバ１４内に設定した測定点（特性を測定しようとする点）及びその近傍で発生した誘導ブリルアン散乱光を含む光を検出して得られた検出信号の切り出しを行う。そして、所定の周期を有する同期信号ＳＹ（図３参照）を用いて切り出しを行った検出信号Ｄ２を同期検波する。同期検波装置２０は、タイミング調整器２０ａ及びロックインアンプ２０ｂ（同期検波器）を備える。
【0039】
タイミング調整器２０ａは、例えばオン状態（検出信号Ｄ１を通過させる状態）とオフ状態（検出信号Ｄ１を遮断する状態）との切り替えを高速に行うことができる電気スイッチ（高速アナログスイッチ）で実現される。このタイミング調整器２０ａは、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１のうち、光ファイバ１４内に設定した測定点及びその近傍で発生した誘導ブリルアン散乱光を含む光を検出して得られた検出信号を通過させることによって検出信号の切り出しを行う。尚、タイミング調整器２０ａの動作周期は、上記同期信号ＳＹの周期の半分の周期に設定される。
【0040】
ロックインアンプ２０ｂは、上述した同期信号ＳＹを用いて、タイミング調整器２０ａを通過した検出信号Ｄ２（タイミング調整器２０ａで切り出しが行われた検出信号）を同期検波する。ここで、上記の同期信号ＳＹの周期は、ポンプ光Ｌ２が光ファイバ１４の他端に入射される周期と同じ周期（少なくとも、パルス光が光ファイバ１４の一端と他端との間を往復するのに要する時間の２倍の時間）に設定されている。尚、ロックインアンプ２０ｂの構成は、検出信号Ｄ２及び同期信号ＳＹを外部に出力可能に構成されている点を除き、前述した特許文献２に開示されたものと同様の構成であるため、詳細な説明は省略する。
【0041】
電流源制御部１９は、ロックインアンプ２０ｂから出力される検出信号Ｄ２（光検出部の検出結果）及び同期信号ＳＹを用いて、光検出部１７の電流源２２を制御する制御信号Ｃ１を生成する。具体的に、電流源制御部１９は、検出信号Ｄ２及び同期信号ＳＹを用いて、プローブ光Ｌ１が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が光ファイバ１４から射出される期間（図３，図４におけるＴ２：非含有期間）に光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１を抽出する。そして、電流源制御部１９は、抽出した検出信号Ｄ１を用いて制御信号Ｃ１を生成し、生成した制御信号Ｃ１を光検出部１７に出力する。
【0042】
ここで、検出信号Ｄ２及び同期信号ＳＹを用いて抽出される検出信号Ｄ１は、プローブ光Ｌ１の強度を示すものである。電流源制御部１９は、抽出した検出信号Ｄ１に基づいて、図２に示すフォトダイオード２１から出力される電流から、検出光Ｌ１１に含まれるプローブ光Ｌ１の成分を除去し得る制御信号Ｃ１を生成する。このような制御信号Ｃ１を生成するのは、プローブ光Ｌ１の成分によって図２に示す増幅回路２３が飽和するのを防止し、ブリルアン散乱光の成分が十分な大きさに増幅されるようにすることでＳＮ比（ブリルアン散乱光の成分と雑音との比）を向上させるためである。
【0043】
〈光ファイバ特性測定方法〉
測定が開始されると、変調周波数ｆmで周波数変調されたレーザ光が光源１１から射出される（第１ステップ）。光源１１から射出されたレーザ光は、光分岐器１２で分岐される。光分岐器１２で分岐された一方のレーザ光は光変調器１３へ入射してＳＳＢ光変調器１３ｂで変調されることにより、レーザ光の中心周波数に対する単側波帯が生成される。光変調器１３から射出された単側波帯を有するレーザ光（連続光）は、プローブ光Ｌ１として光ファイバ１４の一端から光ファイバ１４内に入射する（第２ステップ）。
測定が開始されると、変調周波数ｆmで周波数変調されたレーザ光が光源１１から射出される（第１ステップ）。光源１１から射出されたレーザ光は、光分岐器１２で分岐される。光分岐器１２で分岐された一方のレーザ光は光変調器１３へ入射してＳＳＢ光変調器１３ｂで変調されることにより、レーザ光の中心周波数に対する単側波帯が生成される。光変調器１３から射出された単側波帯を有するレーザ光（連続光）は、プローブ光Ｌ１として光ファイバ１４の一端から光ファイバ１４内に入射する（第２ステップ）。
【0044】
これに対し、光分岐器１２で分岐された他方のレーザ光は、パルス変調器１５に入射して光強度変調器１５ｂで強度変調されることによりパルス化される。具体的には、前述した周期Ｔ（少なくとも、パルス光が光ファイバ１４の一端と他端との間を往復するのに要する時間の２倍の時間に設定された周期）でパルス光が生成される。このパルス光は、方向性結合器１６を介してポンプ光Ｌ２として光ファイバ１４の他端から光ファイバ１４内に入射する（第２ステップ）。
【0045】
変調周波数ｆmで周波数変調された連続光としてのプローブ光Ｌ１とパルス光としてのポンプ光Ｌ２とが光ファイバ１４内に入射すると、ポンプ光Ｌ２が光ファイバ１４内を伝播するに伴って、光ファイバ１４中の異なる位置で相関ピークが順次発生する。各相関ピークの位置において、プローブ光Ｌ１は、ポンプ光Ｌ２によって誘導ブリルアン増幅による利得（ゲイン）を得る。
【0046】
相関ピークの位置で、ポンプ光Ｌ２を基準としてポンプ光Ｌ２とプローブ光Ｌ１との周波数差を変化させると、ブリルアン周波数シフトνBを中心周波数とするローレンツ関数の形状をしたブリルアン・ゲイン・スペクトル（ＢＧＳ）と呼ばれるスペクトルが得られる。このブリルアン周波数シフトνBは、光ファイバ１４の材質、温度、歪み等に依存して変化し、特に歪みに対して線形的に変化することが知られている。このため、ブリルアン・ゲイン・スペクトルのピーク周波数を検出することで、光ファイバ１４の歪み量を求めることができる。
【0047】
光ファイバ１４を介したプローブ光Ｌ１及び光ファイバ１４内で発生した誘導ブリルアン散乱光は、光ファイバ１４の他端から射出された後に方向性結合器１６を介して検出光Ｌ１１として光検出部１７に入射する。そして、光検出部１７において検出光Ｌ１１が検出され、その検出結果を示す検出信号Ｄ１が光検出部１７から出力される（第３ステップ）。光検出部１７から出力された検出信号Ｄ１は、測定部１８に入力されて同期検波装置２０で同期検波される。
【0048】
図３は、本発明の第１実施形態において、同期検波装置で行われる処理を説明するための図である。尚、以下では説明を簡単にするため、ポンプ光Ｌ２が光ファイバ１４の他端に入射される周期Ｔ（同期信号ＳＹの周期）は、ポンプ光Ｌ２が光ファイバ１４の一端と他端との間を往復するのに要する時間の２倍の時間に設定されているものとする。
【0049】
同期信号ＳＹの１周期Ｔの前半部分Ｔ１においては、光ファイバ１４を介したプローブ光Ｌ１と光ファイバ１４内で発生した誘導ブリルアン散乱光とが含まれる検出光Ｌ１１が光検出部１７に入射する。このため、図３に示す通り、光検出部１７からは誘導ブリルアン散乱光の影響を受けた検出信号Ｄ１が出力される。尚、図３においては、誘導ブリルアン散乱光の影響を受けた部分（例えば、符号Ｐ１～Ｐ４で指し示した部分）を黒帯で表現している。
【0050】
これに対し、同期信号ＳＹの１周期Ｔの後半部分Ｔ２（非含有期間）においては、光ファイバ１４を介したプローブ光Ｌ１は含まれるが誘導ブリルアン散乱光が含まれない検出光Ｌ１１が光検出部１７に入射する。このため、図３に示す通り、光検出部１７からは誘導ブリルアン散乱光の影響を受けていない（黒帯が付されていない）検出信号Ｄ１が出力される。尚、ポンプ光Ｌ２は、周期Ｔで繰り返し入射されるため、誘導ブリルアン散乱光の影響を受けた検出信号Ｄ１と受けていない検出信号Ｄ２とがＴ／２毎に交互に出力される。
【0051】
ここで、図３に示す通り、タイミング調整器２０ａは、その動作周期がＴ／２に設定されており、各々の周期において、光ファイバ１４内に設定した測定点及びその近傍で発生した誘導ブリルアン散乱光を含む光を検出して得られた検出信号を通過させる動作を行う。図３に示す例では、タイミング調整器２０ａは、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１のうち、符号Ｐ１で指し示した部分を通過させるようにオン状態・オフ状態が切り替えられる。これにより、ロックインアンプ２０ｂには、タイミング調整器２０ａによって切り出しが行われた図３に示す検出信号Ｄ２が入力される。
【0052】
この検出信号Ｄ２がロックインアンプ２０ｂに入力されると、まず、同期信号ＳＹを用いて検出信号Ｄ２の極性を交互に反転させる処理が行われる。具体的に、同期信号ＳＹの１周期Ｔの前半部分Ｔ１では極性を反転せず、同期信号ＳＹの１周期Ｔの後半部分Ｔ２で極性を反転させる処理が行われる。このような処理が行われることで、検出信号Ｄ２のうちの誘導ブリルアン散乱光の影響を受けていない部分の極性が反転された信号Ｓ１が得られる。
【0053】
次に、信号Ｓ１に対するローパスフィルタ処理が行われる。このローパスフィルタ処理が行われると、前半部分Ｔ１においてプローブ光Ｌ１のみを検出して得られた検出信号に相当する信号ｄ１１と、後半部分Ｔ２においてプローブ光Ｌ１のみを検出して得られた検出信号に相当する信号ｄ１２とが相殺される。これにより、ロックインアンプ２０ｂから出力される測定値Ｖ１は、図３に示す通り、誘導ブリルアン散乱光のレベルを示すものとなる。タイミング調整器２０ａの切り出しタイミングを変更することによって光ファイバ１４内に設定する測定点の位置を変えつつ、以上説明した動作が繰り返される。これにより、光ファイバ１４の長さ方向における特性が測定される（第４ステップ）。
【0054】
図４は、本発明の第１実施形態において、電流源制御部で行われる処理を説明するための図である。まず、電流源制御部１９は、ロックインアンプ２０ｂから出力される同期信号ＳＹを反転させた反転同期信号ＳＹ￣を生成し、生成した反転同期信号ＳＹ￣を用いて、検出信号Ｄ２から信号Ｓ２を抽出する。尚、本明細書では、表記の都合上、記号「ＳＹ」の上部に記号「￣」付されたものを記号「ＳＹ￣」で表す。
【0055】
次に、電流源制御部１９は、抽出した信号Ｓ２を同期信号ＳＹの１周期Ｔに亘って平滑化し、適宜増幅して制御信号Ｃ１を生成する。そして、電流源制御部１９は、生成した制御信号Ｃ１を光検出部１７に出力して、電流源２２から出力される電流を制御する（第５ステップ）。尚、電流源制御部１９は、同期信号ＳＹの１周期Ｔ毎に制御信号Ｃ１を生成する。
【0056】
ここで、電流源制御部１９で抽出された信号Ｓ２は、後半部分Ｔ２においてプローブ光Ｌ１のみを検出して得られた検出信号に相当する信号ｄ１３である。このため、信号ｄ１３に応じた制御信号Ｃ１を生成して電流源２２を制御することで、フォトダイオード２１から出力される電流のうち、検出光Ｌ１１に含まれるプローブ光Ｌ１に由来する電流を電流源２２に流す（吸収する）ことができる。これにより、増幅回路２３がプローブ光Ｌ１の成分によって飽和することがなく、ブリルアン散乱光の成分が十分な大きさに増幅される。
【0057】
以上説明した通り、本実施形態では、プローブ光Ｌ１が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が光ファイバ１４から射出される期間（同期信号ＳＹの１周期Ｔの後半部分Ｔ２）における光検出部１７の検出結果に基づいて電流源２２を制御するようにしている。これにより、増幅回路２３がプローブ光Ｌ１の成分によって飽和することがなく、ブリルアン散乱光の成分が十分な大きさに増幅されるため、ＳＮ比（ブリルアン散乱光の成分と雑音との比）を向上させることができる。
【0058】
また、本実施形態では、制御信号Ｃ１を生成するために要する時間幅が最大でも同期信号ＳＹの１周期である。このため、例えば、光ファイバ１４に曲げ等の外乱が加わって損失が急激に変化したような場合であっても、測定結果が直ちに追随しない等の追従性の影響を抑えることができる。
【0059】
〔第２実施形態〕
図５は、本発明の第２実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。尚、図５においては、図１に示す構成と同様の構成については同一の符号を付してある。本実施形態の光ファイバ特性測定装置２は、図１に示す光ファイバ特性測定装置１とは、基本構成において同様であるが、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１（光検出部の検出結果）を用いて制御信号Ｃ１が生成する点が異なる。
図５は、本発明の第２実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。尚、図５においては、図１に示す構成と同様の構成については同一の符号を付してある。本実施形態の光ファイバ特性測定装置２は、図１に示す光ファイバ特性測定装置１とは、基本構成において同様であるが、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１（光検出部の検出結果）を用いて制御信号Ｃ１が生成する点が異なる。
【0060】
図５に示す通り、電流源制御部１９には、光検出部１７から出力される検出信号Ｄ１と、ロックインアンプ２０ｂから出力される同期信号ＳＹとが入力される。電流源制御部１９は、これら検出信号Ｄ１と同期信号ＳＹとを用いて制御信号Ｃ１を生成する。
【0061】
図６は、本発明の第２実施形態において、電流源制御部で行われる処理を説明するための図である。第１実施形態と同様に、電流源制御部１９は、ロックインアンプ２０ｂから出力される同期信号ＳＹを反転させた反転同期信号ＳＹ￣を生成し、生成した反転同期信号ＳＹ￣を用いて、検出信号Ｄ１から信号Ｓ２を抽出する。そして、電流源制御部１９は、抽出した信号Ｓ２を同期信号ＳＹの１周期Ｔに亘って平滑化し、適宜増幅して制御信号Ｃ１を生成する。
【0062】
ここで、電流源制御部１９で抽出された信号Ｓ２は、後半部分Ｔ２の全て（Ｔ／２）においてプローブ光Ｌ１のみを検出して得られた検出信号に相当する信号ｄ１４である。このため、信号ｄ１４に応じた制御信号Ｃ１を生成して電流源２２を制御することで、フォトダイオード２１から出力される電流のうち、検出光Ｌ１１に含まれるプローブ光Ｌ１に由来する電流を電流源２２に流す（吸収する）ことができる。これにより、増幅回路２３がプローブ光Ｌ１の成分によって飽和することがなく、ブリルアン散乱光の成分が十分な大きさに増幅される。
【0063】
尚、本実施形態の光ファイバ特性測定装置２は、図１に示す光ファイバ特性測定装置１とは、制御信号Ｃ１の生成の仕方が異なるのみであり、光ファイバ特性測定装置２の基本的な動作は光ファイバ特性測定装置１と同様である。このため、光ファイバ特性測定装置２の動作の詳細は省略する。
【0064】
以上説明した通り、本実施形態においても、プローブ光Ｌ１が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が光ファイバ１４から射出される期間（同期信号ＳＹの１周期Ｔの後半部分Ｔ２）における光検出部１７の検出結果に基づいて電流源２２を制御するようにしている。これにより、増幅回路２３がプローブ光Ｌ１の成分によって飽和することがなく、ブリルアン散乱光の成分が十分な大きさに増幅されるため、ＳＮ比（ブリルアン散乱光の成分と雑音との比）を向上させることができる。
【0065】
また、本実施形態においても、制御信号Ｃ１を生成するために要する時間幅が最大でも同期信号ＳＹの１周期である。このため、例えば、光ファイバ１４に曲げ等の外乱が加わって損失が急激に変化したような場合であっても、測定結果が直ちに追随しない等の追従性の影響を抑えることができる。
【0066】
〔第３実施形態〕
図７は、本発明の第３実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。尚、図７においては、図１，５に示す構成と同様の構成については同一の符号を付してある。本実施形態の光ファイバ特性測定装置３は、図１，５に示す光ファイバ特性測定装置１，２の光検出部１７を光検出部１７Ａに替え、光検出部１７Ａから出力される電流検出信号Ｄ１１（光検出部の検出結果）を用いて制御信号Ｃ１を生成するようにしたものである。
図７は、本発明の第３実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示すブロック図である。尚、図７においては、図１，５に示す構成と同様の構成については同一の符号を付してある。本実施形態の光ファイバ特性測定装置３は、図１，５に示す光ファイバ特性測定装置１，２の光検出部１７を光検出部１７Ａに替え、光検出部１７Ａから出力される電流検出信号Ｄ１１（光検出部の検出結果）を用いて制御信号Ｃ１を生成するようにしたものである。
【0067】
図８は、本発明の第３実施形態による光ファイバ特性測定装置に設けられる光検出部の要部構成を示す回路図である。尚、図８においては、図２に示す構成と同様の構成については同一の符号を付してある。図８に示す通り、光検出部１７Ａは、フォトダイオード２１、電流源２２、及び増幅回路２３に加えて、電流検出器２４を備える。
【0068】
電流検出器２４は、フォトダイオード２１とバイアス端子Ｔ１１との間に設けられており、フォトダイオード２１から出力される電流を検出する。尚、電流検出器２４は、フォトダイオード２１と接続点ＣＰとの間に設けられていてもよい。電流検出器２４の検出結果は、電流検出信号出力端子Ｔ１５から電流検出信号Ｄ１１として出力される。
【0069】
図７に示す通り、電流源制御部１９には、光検出部１７Ａから出力される電流検出信号Ｄ１１と、ロックインアンプ２０ｂから出力される同期信号ＳＹとが入力される。電流源制御部１９は、これら電流検出信号Ｄ１１と同期信号ＳＹとを用いて制御信号Ｃ１を生成する。尚、制御信号Ｃ１を生成するために電流源制御部１９で行われる処理は、第１，第２実施形態において電流源制御部１９で行われる処理と同様である。
【0070】
つまり、電流源制御部１９では、まず、ロックインアンプ２０ｂから出力される同期信号ＳＹを反転させた反転同期信号ＳＹ￣を生成し、生成した反転同期信号ＳＹ￣を用いて、電流検出信号Ｄ１１から信号Ｓ２に相当する信号を抽出する処理が行われる。次に、抽出した信号を同期信号ＳＹの１周期Ｔに亘って平滑化し、適宜増幅して制御信号Ｃ１を生成する処理が行われる。
【0071】
尚、本実施形態の光ファイバ特性測定装置３は、図１，５に示す光ファイバ特性測定装置１，２とは、制御信号Ｃ１の生成の仕方が異なるのみであり、光ファイバ特性測定装置３の基本的な動作は光ファイバ特性測定装置１，２と同様である。このため、光ファイバ特性測定装置３の動作の詳細は省略する。
【0072】
以上説明した通り、本実施形態においても、プローブ光Ｌ１が含まれるがブリルアン散乱光が含まれない光が光ファイバ１４から射出される期間（同期信号ＳＹの１周期Ｔの後半部分Ｔ２）における光検出部１７の検出結果に基づいて電流源２２を制御するようにしている。これにより、増幅回路２３がプローブ光Ｌ１の成分によって飽和することがなく、ブリルアン散乱光の成分が十分な大きさに増幅されるため、ＳＮ比（ブリルアン散乱光の成分と雑音との比）を向上させることができる。
【0073】
また、本実施形態においても、制御信号Ｃ１を生成するために要する時間幅が最大でも同期信号ＳＹの１周期である。このため、例えば、光ファイバ１４に曲げ等の外乱が加わって損失が急激に変化したような場合であっても、測定結果が直ちに追随しない等の追従性の影響を抑えることができる。
【0074】
以上、本発明の実施形態による光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法について説明したが、本発明は上記実施形態に制限されることなく、本発明の範囲内で自由に変更が可能である。例えば、上述した第１～第３実施形態では、電流源制御部１９が、抽出した信号Ｓ２を同期信号ＳＹの１周期Ｔに亘って平滑化し、適宜増幅して制御信号Ｃ１を生成する例について説明した。しかしながら、電流源制御部１９は、抽出した信号Ｓ２（信号ｄ１３，ｄ１４）又は信号Ｓ２に相当する信号レベルを、サンプリングして同期信号ＳＹの１周期Ｔに亘ってホールドし、そのレベルに基づいて制御信号Ｃ１を制御してもよい。また、制御信号Ｃ１を生成するために要する時間幅を同期信号ＳＹの一周期の範囲内に限らずに、それ以前の制御信号Ｃ１の値を必要に応じて重みづけするなどして利用しても良い。
【符号の説明】
【0075】
１～３ 光ファイバ特性測定装置
１１ 光源
１２ 光分岐器
１３ 光変調器
１４ 光ファイバ
１５ パルス変調器
１６ 方向性結合器
１７，１７Ａ 光検出部
１８ 測定部
１９ 電流源制御部
２０ 同期検波装置
２１ フォトダイオード
２２ 電流源
２３ 増幅回路
２４ 電流検出器
ＣＰ 接続点
Ｄ１，Ｄ２ 検出信号
Ｄ１１ 電流検出信号
Ｌ１ プローブ光
Ｌ２ ポンプ光
ＳＹ 同期信号
Ｔ 周期
Ｔ２ 後半部分
１１ 光源
１２ 光分岐器
１３ 光変調器
１４ 光ファイバ
１５ パルス変調器
１６ 方向性結合器
１７，１７Ａ 光検出部
１８ 測定部
１９ 電流源制御部
２０ 同期検波装置
２１ フォトダイオード
２２ 電流源
２３ 増幅回路
２４ 電流検出器
ＣＰ 接続点
Ｄ１，Ｄ２ 検出信号
Ｄ１１ 電流検出信号
Ｌ１ プローブ光
Ｌ２ ポンプ光
ＳＹ 同期信号
Ｔ 周期
Ｔ２ 後半部分
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】