知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024058893
(43)【公開日】2024-04-30
(54)【発明の名称】誤り率測定装置および誤り率測定方法
(51)【国際特許分類】
H04L 1/00 20060101AFI20240422BHJP
H04L 25/49 20060101ALI20240422BHJP
【ＦＩ】
H04L1/00 C
H04L25/49 L
【審査請求】有
【請求項の数】2
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022166294
(22)【出願日】2022-10-17
(71)【出願人】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100067323
【弁理士】
【氏名又は名称】西村 教光
(74)【代理人】
【識別番号】100124268
【弁理士】
【氏名又は名称】鈴木 典行
(72)【発明者】
【氏名】砂山 諒
【テーマコード（参考）】
5K014
5K029
【Ｆターム（参考）】
5K014GA02
5K014GA03
5K029AA01
5K029EE01
5K029FF02
5K029KK24
5K029KK27
(57)【要約】 （修正有）
【課題】スキップ・オーダード・セット（ＳＫＰ ＯＳ）をフィルタリングしてビット誤り率（ＢＥＲ）測定のオートサーチを実行する誤り率測定装置及び方法を提供する。
【解決手段】誤り率測定装置１は、被測定物の被測定信号から検出した直流平均値によりＰＡＭ４信号の中電圧閾値を調整する中電圧閾値調整部、調整した中電圧閾値と同じ値にＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値を設定する高・低電圧閾値設定部、被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定して検出するＳＫＰ ＯＳ検出部、被測定信号からＳＫＰ ＯＳをフィルタリングするＳＫＰ ＯＳフィルタ部、位相又は電圧を所定ステップで変更しつつフィルタリングした信号からエラーを検出するエラー検出部及びエラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整する位相・電圧閾値調整部を備える。
【選択図】図１
【解決手段】誤り率測定装置１は、被測定物の被測定信号から検出した直流平均値によりＰＡＭ４信号の中電圧閾値を調整する中電圧閾値調整部、調整した中電圧閾値と同じ値にＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値を設定する高・低電圧閾値設定部、被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定して検出するＳＫＰ ＯＳ検出部、被測定信号からＳＫＰ ＯＳをフィルタリングするＳＫＰ ＯＳフィルタ部、位相又は電圧を所定ステップで変更しつつフィルタリングした信号からエラーを検出するエラー検出部及びエラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整する位相・電圧閾値調整部を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるパラメータ値に基づくＰＡＭ４信号からなるテスト信号を被測定物（Ｗ）に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定する誤り率測定装置であって、
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値（Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ）を調整する中電圧閾値調整部（４ｂ）と、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値（Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ）と低電圧閾値（Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ）を、前記中電圧閾値調整部にて調整された前記中電圧閾値と同じ値に設定する高・低電圧閾値設定部（４ｃ）と、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳ検出部（４ｄ）と、
前記ＳＫＰ ＯＳ検出部にて検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするＳＫＰ ＯＳフィルタ部（４ｅ）と、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳフィルタ部にて前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するエラー検出部（４ｆ）と、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整する位相・電圧閾値調整部（４ｇ）と、を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値（Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ）を調整する中電圧閾値調整部（４ｂ）と、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値（Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ）と低電圧閾値（Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ）を、前記中電圧閾値調整部にて調整された前記中電圧閾値と同じ値に設定する高・低電圧閾値設定部（４ｃ）と、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳ検出部（４ｄ）と、
前記ＳＫＰ ＯＳ検出部にて検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするＳＫＰ ＯＳフィルタ部（４ｅ）と、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳフィルタ部にて前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するエラー検出部（４ｆ）と、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整する位相・電圧閾値調整部（４ｇ）と、を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項2】
ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号を被測定物（Ｗ）に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定する誤り率測定方法であって、
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値（Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ）を調整するステップと、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値（Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ）と低電圧閾値（Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ）を前記調整した中電圧閾値と同じ値に設定するステップと、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳを検出するステップと、
前記検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするステップと、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するステップと、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値（Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ）を調整するステップと、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値（Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ）と低電圧閾値（Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ）を前記調整した中電圧閾値と同じ値に設定するステップと、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳを検出するステップと、
前記検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするステップと、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するステップと、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号を被測定物に送信し、テスト信号の送信に伴って被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率（以下、ＢＥＲ：Bit Error Rateとも言う）を測定する誤り率測定装置および誤り率測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
誤り率測定装置は、例えば下記特許文献１に示すように、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、テスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してＢＥＲを測定する装置として従来から知られている。
【0003】
ところで、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６の規格試験において、被測定物としてのレシーバのテストを行う際には、誤り率測定装置からテスト用パターンの信号を被測定物に入力し、折り返された信号のＢＥＲを確認する手法が一般的である。このとき、被測定物は、出力するパターンに対して任意の長さのスキップ・オーダード・セット（Skip Ordered Set：ＳＫＰ ＯＳ）を挿入する。
【0004】
ここで、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６の規格試験においては、スキップ・オーダード・セットをＢＥＲ測定の対象としないことが定義されている。このため、ＢＥＲをカウントする誤り率測定装置側では、スキップ・オーダード・セットをＢＥＲ測定の対象外とするための処理としてスキップ・オーダード・セットをフィルタリングすることが求められる。なお、スキップ・オーダード・セットのフィルタリングを実行するためには、最上位ビット：ＭＳＢと最下位ビット：ＬＳＢを同時に判定し、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６の規格で定義される所定のパターンであることを確認する必要がある。
【0005】
一方で、この種の誤り率測定装置では、ＰＡＭ４信号の電圧閾値、位相の自動調整機能（以下、オートサーチと言う）が一般的に知られている。ＰＡＭ４信号のオートサーチでは、ＭＳＢとＬＳＢそれぞれを独立にＢＥＲを測定し、最適な電圧閾値、位相に調整する方法を採用している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】特開２０２０－１２７１１６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
しかしながら、従来の誤り率測定装置では、スキップ・オーダード・セットを含むＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６の信号をオートサーチする際に正常に動作しなくなるという問題があった。これは、上述したＭＳＢとＬＳＢを同時に判定してスキップ・オーダード・セットをフィルタリングする動作と、ＭＳＢとＬＳＢそれぞれを独立にＢＥＲを測定する動作とが両立しないためである。
【0008】
さらに説明すると、スキップ・オーダード・セットを含むＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６の信号をオートサーチする際には、はじめにＭＳＢ側のＢＥＲを参照して調整を開始するが、このときＬＳＢ側でもスキップ・オーダード・セットを判定できていないと、ＭＳＢ単独でＢＥＲを測定することができず、オートサーチが失敗してしまうという問題が生じる。
【0009】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６でスキップ・オーダード・セットをフィルタリングしてオートサーチを実行することができる誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0010】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるパラメータ値に基づくＰＡＭ４信号からなるテスト信号を被測定物Ｗに送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定する誤り率測定装置であって、
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整する中電圧閾値調整部４ｂと、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを、前記中電圧閾値調整部にて調整された前記中電圧閾値と同じ値に設定する高・低電圧閾値設定部４ｃと、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳ検出部４ｄと、
前記ＳＫＰ ＯＳ検出部にて検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするＳＫＰ ＯＳフィルタ部４ｅと、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳフィルタ部にて前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するエラー検出部４ｆと、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整する位相・電圧閾値調整部４ｇと、を備えたことを特徴とする。
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整する中電圧閾値調整部４ｂと、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを、前記中電圧閾値調整部にて調整された前記中電圧閾値と同じ値に設定する高・低電圧閾値設定部４ｃと、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳ検出部４ｄと、
前記ＳＫＰ ＯＳ検出部にて検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするＳＫＰ ＯＳフィルタ部４ｅと、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳフィルタ部にて前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するエラー検出部４ｆと、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整する位相・電圧閾値調整部４ｇと、を備えたことを特徴とする。
【0011】
本発明の請求項２に記載された誤り率測定方法は、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号を被測定物Ｗに送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定する誤り率測定方法であって、
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整するステップと、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを前記調整した中電圧閾値と同じ値に設定するステップと、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳを検出するステップと、
前記検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするステップと、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するステップと、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整するステップと、を含むことを特徴とする。
前記被測定物から折り返される前記被測定信号の直流平均値を検出し、検出した前記被測定信号の直流平均値により前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整するステップと、
前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを前記調整した中電圧閾値と同じ値に設定するステップと、
前記被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出するＳＫＰ ＯＳを検出するステップと、
前記検出したＳＫＰ ＯＳを前記被測定信号からフィルタリングするステップと、
位相または電圧を所定ステップで変更しながら前記ＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた信号からエラーを検出するステップと、
前記エラーの検出結果に基づいてエラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置に合わせて位相、前記ＰＡＭ４信号の中電圧閾値、前記ＰＡＭ４信号の高電圧閾値と低電圧閾値の順に調整するステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６の規格試験において、被測定物から折り返される被測定信号からスキップ・オーダード・セットを検出してフィルタリングすることによりオートサーチを実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【0015】
［本発明の概要について］
本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法は、例えば拡張バスや拡張スロットの接続規格として、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ Ｂａｓｅ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｒｅｖｉｓｉｏｎ ６．０ １６ Ｄｅｃｅｍｂｅｒ ２０２１に示されるＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６（以下、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格と言う）に準拠したデバイスを被測定物（ＤＵＴ）とし、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態のリンクトレーニング中において、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号のＢＥＲを測定するものである。
本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法は、例えば拡張バスや拡張スロットの接続規格として、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ Ｂａｓｅ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｒｅｖｉｓｉｏｎ ６．０ １６ Ｄｅｃｅｍｂｅｒ ２０２１に示されるＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６（以下、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格と言う）に準拠したデバイスを被測定物（ＤＵＴ）とし、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態のリンクトレーニング中において、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号のＢＥＲを測定するものである。
【0016】
ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のレシーバテストの規格試験においては、所定のパターンでの折り返し信号のＢＥＲ測定を実行し、このときのＢＥＲが一定の値以下であることが成否の条件となる。この時のＢＥＲ測定ではＭｏｄｉｆｉｅｄ Ｃｏｍｐｌｉａｎｃｅ Ｐａｔｔｅｒｎ（以下ＭＣＰ）を使用することが定められている。また、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６にはスキップ・オーダード・セット（Skip Ordered Set：以下、ＳＫＰ ＯＳと言う）と呼ばれるパターンが規定されており、被測定物はＭＣＰに対して任意の長さのＳＫＰ ＯＳを挿入することができる。ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のレシーバテストの規格試験では、ＢＥＲをカウントする誤り率測定装置側でこのＳＫＰ ＯＳをＢＥＲ測定の対象外にする処理としてフィルタリングすることが求められる。被測定物により任意に挿入されるＳＫＰ ＯＳを取り除かないと、ＢＥＲ測定の本来の参照パターンであるＭＣＰと同期することができないためである。
【0017】
さらに説明すると、従来の誤り率測定装置によるＰＡＭ４信号のＳＫＰ ＯＳのフィルタリング機能は、受信信号の最上位ビット（以下、ＭＳＢと言う）と最下位ビット（以下、ＬＳＢと言う）を同時に判定し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格のＴａｂｌｅ４－５４に定義されるパターンと一致した際に動作する。
【0018】
なお、ＰＡＭ４信号は、図３に示すように、振幅がシンボルごとに４種類に分けられ、４つの異なる振幅の電圧レベルＶ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４を有し、全体の振幅電圧範囲Ｈが電圧レベルの高い方から高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３に分けられ、３つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる。また、本実施の形態では、図３に示すように、高電圧範囲Ｈ１の電圧閾値を高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ、中電圧範囲Ｈ２の電圧閾値を中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ、低電圧範囲Ｈ３の電圧閾値を低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈとしている。
【0019】
一方、従来の誤り率測定装置におけるＰＡＭ４信号のオートサーチは、常にＭＳＢとＬＳＢを独立に同期する思想で実行される。つまり、高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ、低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈがどんな値に設定されていようが、ＭＳＢの同期を独立に取ることができることを前提としたアルゴリズムになっている。
【0020】
ここで、オートサーチにおいて、ＭＳＢのＢＥＲを確認しながら中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整できるのはＬＳＢ側の設定がＭＳＢのＢＥＲの測定結果に影響を及ぼさないことが前提となっている。つまり、高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈが各アイパターンの中心付近に設定されていない状態でオートサーチを実行すると、位相を調整する際にＭＳＢの同期が取れなくなり、ＢＥＲを確認できないため、位相の調整に失敗してしまうという問題が生じる。
【0021】
ところで、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＳＫＰ ＯＳは、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ Ｂａｓｅ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｒｅｖｉｓｉｏｎ ６．０．１ ２９ Ａｕｇｕｓｔ ２０２２ Ｐ．５５５８－５６０の「Ｔａｂｌｅ４－５４ Ｃｏｎｔｒｏｌ ＳＫＰ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔ ｗｉｔｈ １ｂ／１ｂ Ｅｎｃｏｄｉｎｇ」に示すように定義されている。例えば「Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ ＦＦ Ｆ０ ００ Ｆ０」のように、０とＦで構成されたパターンとＰａｙｌｏａｄでＳＫＰ ＯＳが表現される。
【0022】
ここで、ＳＫＰ ＯＳのパターンの中身に注目すると、「Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ ＦＦ」を所定の回数繰り返した後「ＦＦ Ｆ０ ００ Ｆ０」、「Ｐｈｙ Ｐａｙｌｏａｄ」というパターンが続く。「Ｆ０ ０Ｆ Ｆ０ ０Ｆ ＦＦ」から「ＦＦ Ｆ０ ００ Ｆ０」のパターンに注目した時、これはＭＳＢとＬＳＢが同一のパターンになっている。
【0023】
誤り率測定装置では、上述した０とＦで構成されたパターンとＰａｙｌｏａｄのうちＰａｙｌｏａｄを無視して０とＦのパターンを検出しており、検出したパターンをＰＡＭ４シンボルで表現すると、「３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３００００３３３３３３３３００００００３３００」となる。
【0024】
本発明では、このことに着目し、オートサーチ開始時点でＬＳＢを測定する電圧閾値（高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ、低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ）をＭＳＢの電圧閾値（中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ）と同じ値にすることで、ＬＳＢの最適な電圧閾値がわからない状態でも、ＳＫＰ ＯＳの位置を判定できるようにした。これにより、ＭＳＢ単独でＢＥＲを測定できるようになり、ＭＳＢの電圧閾値と位相の最適値調整が行えるようになった。そして、位相の調整が完了すれば、ＬＳＢ側の電圧閾値の調整を改めて実施することが可能となる。
【0025】
上述したように、ＳＫＰ ＯＳは、検出しているパターンをＰＡＭ４シンボルで表現すると、「０」と「３」のみで構成されているため、高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを中電圧範囲Ｈ２のアイパターンの中心（中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ）と同じ値に設定すれば少なくともＳＫＰ ＯＳを判定することができる。この設定において、ＰＡＭ４シンボルの「１」と「２」を区別することは当然できない。このため、ＬＳＢはパターンと同期することができないが、この設定において「０」と「３」の区別はできるので、ＳＫＰ ＯＳをフィルタリングすること可能となる。つまり、この処理をオートサーチ中に実施し、ＳＫＰ ＯＳをフィルタリングできる状態にすれば、ＭＳＢ単独でＢＥＲの測定が可能な状態となり、オートサーチによる位相と各電圧閾値の調整を実行することができる。
【0026】
図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、上述したオートサーチによる位相と各電圧閾値の調整を実行するため、設定操作部２、記憶部３、測定部４、表示部５、制御部６を備えて概略構成される。
【0027】
設定操作部２は、オートサーチの開始の指示、被測定物Ｗへの特定パターンやテスト信号の送信開始や停止の指示、被測定物ＷのＢＥＲの測定開始や停止の指示、特定パターンやテスト信号の設定や編集などを行う際に操作される。
【0028】
記憶部３は、不図示のパターン設定画面の設定情報やパターン編集画面の編集情報に基づく特定パターンの各種情報（規格が定める特定パターンの種類、送信順、送信時間、送信回数などの情報）、既知のテスト信号の情報、被測定物ＷのＢＥＲの測定条件や測定結果に関する各種情報を記憶する。
【0029】
測定部４は、設定操作部２の操作情報や記憶部３の記憶情報に基づく制御部６の制御によりオートサーチや被測定物Ｗの規格試験を含む各種測定を行うもので、パターン発生部４ａ、中電圧閾値調整部４ｂ、高・低電圧閾値設定部４ｃ、ＳＫＰ ＯＳ検出部４ｄ、ＳＫＰ ＯＳフィルタ部４ｅ、エラー検出部４ｆ、位相・電圧閾値調整部４ｇを備える。
【0030】
パターン発生部４ａは、制御部６の制御により、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号として、ＭＣＰからなるパターン信号を発生する。
【0031】
ＭＣＰは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格の試験を行う際に、ＢＥＲ測定するためのテスト信号として被測定物Ｗに送信される。被測定物Ｗは、信号パターン折り返しのステート（Ｌｏｏｐｂａｃｋ）に遷移させた状態で、パターン発生部４ａからＭＣＰがテスト信号として送信されると、任意の長さのＳＫＰ ＯＳを挿入した被測定信号を折り返して誤り率測定装置１に送信する。
【0032】
中電圧閾値調整部４ｂは、パターン発生部４ａからのテスト信号（ＭＣＰからなるパターン信号）の送信に伴って被測定物Ｗから折り返される被測定信号（アナログ信号）をデジタル信号に変換するアナログ－デジタル変換回路で構成されるＡ／Ｄ変換部４ｂ１を含む。中電圧閾値調整部４ｂは、被測定信号（入力信号）の直流平均値を取り込んで検出し、検出した被測定信号の直流平均値により、ＢＥＲを測定せずに中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整する。
【0033】
高・低電圧閾値設定部４ｃは、中電圧閾値調整部４ｂにて中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈが調整されると、この調整された中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈと同じ値に高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを設定する。
【0034】
ここで、上記［本発明の概要］でも説明したように、中電圧閾値調整部４ｂにて中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈの調整後、高・低電圧閾値設定部４ｃにて高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈと同じ値に設定することにより、被測定信号に挿入されているＳＫＰ ＯＳの位置が判定できるようになる。
【0035】
これにより、ＳＫＰ ＯＳ検出部４ｄは、中電圧閾値調整部４ｂのＡ／Ｄ変換部４ｂ１にて変換されたデジタル信号の被測定信号からＳＫＰ ＯＳの位置を判定してＳＫＰ ＯＳを検出する。
【0036】
ＳＫＰ ＯＳフィルタ部４ｅは、ＳＫＰ ＯＳ検出部４ｅにて検出したＳＫＰ ＯＳをデジタル信号の被測定信号からフィルタリングする。
【0037】
エラー検出部４ｆは、制御部６の制御により、所定ステップで位相や電圧を変更しながらＳＫＰ ＯＳフィルタ部４ｅにてＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされたデジタル信号の被測定信号からエラーを検出する。エラー検出部４ｆにてエラーが検出されると、この検出したエラーに基づいてＢＥＲが測定される。
【0038】
位相・電圧閾値調整部４ｇは、所定ステップで位相を変更したときのエラー検出部４ｆのエラーの検出に基づくＢＥＲを確認し、エラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置（ＢＥＲが最も低い位置を含む）に合わせて位相および各電圧閾値（高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ、中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ、低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ）を調整する。
【0039】
位相・電圧閾値調整部４ｇは、上記位相調整後に、所定ステップで電圧を変更したときのエラー検出部４ｆのエラーの検出に基づくＭＳＢのＢＥＲを確認し、エラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置（ＢＥＲが最も低い位置を含む）に合わせて中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整する。
【0040】
位相・電圧閾値調整部４ｇは、上記中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈの調整後に、所定ステップで電圧を変更したときのエラー検出部４ｆのエラーの検出に基づくＬＳＢのＢＥＲを確認し、エラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置（ＢＥＲが最も低い位置を含む）に合わせて高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを調整する。
【0041】
表示部５は、例えば装置本体に装備された液晶表示器などで構成される。表示部５は、制御部６の制御により、被測定物Ｗをパターン信号折り返しのステート（ループバック）に遷移させるための特定パターンの設定を行うパターン設定画面や特定パターンの編集を行うパターン編集画面を表示画面上に表示したり、被測定物Ｗへのテスト信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返される入力データのエラーの検出に基づく各種測定の結果を表示する。
【0042】
制御部６は、設定操作部２、記憶部３、測定部４、表示部５の各部を統括制御するもので、設定操作部２の操作情報や記憶部３の記憶情報に基づいて測定部４を制御して図２に示すオートサーチや被測定物Ｗのエラー検出を含む各種測定を行い、各種測定結果を表示部５に表示制御する。
【0043】
次に、上記のように構成される誤り率測定装置１によるオートサーチの動作について図２のフローチャートを参照しながら説明する。
【0044】
なお、以下に説明するオートサーチを実行するにあたっては、被測定物Ｗが信号パターン折り返しのステートに遷移した状態で、制御部６の制御により、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号をパターン発生部４ａから発生して被測定物Ｗに送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物Ｗから被測定信号が折り返されているものとする。
【0045】
オートサーチにおいて、まず、中電圧閾値調整部４ｂは、被測定物Ｗから折り返される被測定信号（入力信号）の直流平均値を取り込んで検出し、検出した被測定信号の直流平均値により、ＢＥＲを測定せずに中電圧範囲の閾値電圧Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整する（ＳＴ１）。
【0046】
次に、高・低電圧閾値調整部４ｃは、中電圧閾値調整部４ｂにて調整された中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈと同じ値に高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを設定する（ＳＴ２）。
【0047】
これにより、ＳＫＰ ＯＳの位置が判定できるようになり、ＳＫＰ ＯＳ検出部４ｄがＳＫＰ ＯＳを検出し、ＳＫＰ ＯＳフィルタ部４ｅがＳＫＰ ＯＳをフィルタリングする（ＳＴ３）。そして、エラー検出部４ｆは、ＳＫＰ ＯＳフィルタ部４ｅにてＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされたデジタル信号の被測定信号からエラーを検出する。
【0048】
次に、位相・電圧閾値調整部４ｇは、所定ステップで位相を変更しながらＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた被測定信号のＢＥＲを確認し、エラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置（ＢＥＲが最も低い位置を含む）に合わせて位相を調整する（ＳＴ４）。
【0049】
続いて、位相・電圧閾値調整部４ｇは、所定ステップで電圧を変更しながらＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた被測定信号のＭＳＢのＢＥＲを確認し、エラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置（ＢＥＲが最も低い位置を含む）に合わせて中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈを調整する（ＳＴ５）。
【0050】
その後、位相・電圧閾値調整部４ｇは、所定ステップで電圧を変更しながらＳＫＰ ＯＳがフィルタリングされた被測定信号のＬＳＢのＢＥＲを確認し、エラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置（ＢＥＲが最も低い位置を含む）に合わせて高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを調整する（ＳＴ６）。
【0051】
ところで、上述した図２のフローチャートに基づくオートサーチの動作では、ＳＫＰ ＯＳをフィルタリングした後、エラーフリー区間の中で最もマージンの取れる位置（ＢＥＲが最も低い位置を含む）に合わせて位相および各電圧閾値（高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ、中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ、低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ）を調整しているが、例えばＳＫＰ ＯＳをフィルタリングする前に、中電圧閾値Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈの設定で所定ステップで位相を変更しながらＭＳＢ単独のＢＥＲを確認し、ＢＥＲが所定値（設定値）以下になる位相を捜索して粗調整しておいてもよい。
【0052】
このように、本実施の形態では、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６の規格試験において、被測定物から折り返される被測定信号からＳＫＰ ＯＳを検出してフィルタリングすることによりオートサーチを実行することができる。具体的には、ＳＫＰ ＯＳは０と３のみで構成されているため、高電圧閾値Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈと低電圧閾値Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈを中電圧範囲Ｈ２のアイパターンの中心と同じ値に設定すれば、少なくともＳＫＰ ＯＳを判定することができる。０／３の区別をすることにより、ＳＫＰ ＯＳをフィルタリングしてオートサーチを実行することができる。
【0053】
以上、本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【0054】
１ 誤り率測定装置
２ 設定操作部
３ 記憶部
４ 測定部
４ａ パターン発生部
４ｂ 中電圧閾値調整部
４ｂ１ Ａ／Ｄ変換部
４ｃ 高・低電圧閾値設定部
４ｄ ＳＫＰ ＯＳ検出部
４ｅ ＳＫＰ ＯＳフィルタ部
４ｆ エラー検出部
４ｇ 位相・電圧閾値調整部
５ 表示部
６ 制御部
Ｗ 被測定物
Ｈ 全体の振幅電圧範囲
Ｈ１ 高電圧範囲
Ｈ２ 中電圧範囲
Ｈ３ 低電圧範囲
Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４ 振幅の電圧レベル
Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ 高電圧閾値
Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ 中電圧閾値
Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ 低電圧閾値
２ 設定操作部
３ 記憶部
４ 測定部
４ａ パターン発生部
４ｂ 中電圧閾値調整部
４ｂ１ Ａ／Ｄ変換部
４ｃ 高・低電圧閾値設定部
４ｄ ＳＫＰ ＯＳ検出部
４ｅ ＳＫＰ ＯＳフィルタ部
４ｆ エラー検出部
４ｇ 位相・電圧閾値調整部
５ 表示部
６ 制御部
Ｗ 被測定物
Ｈ 全体の振幅電圧範囲
Ｈ１ 高電圧範囲
Ｈ２ 中電圧範囲
Ｈ３ 低電圧範囲
Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４ 振幅の電圧レベル
Ｕｐｐｅｒ Ｖｔｈ 高電圧閾値
Ｍｉｄｄｌｅ Ｖｔｈ 中電圧閾値
Ｌｏｗｅｒ Ｖｔｈ 低電圧閾値
【図1】
【図2】
【図3】