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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024059023
(43)【公開日】2024-04-30
(54)【発明の名称】鋼摺動部品及び鋼摺動部品の製造方法
(51)【国際特許分類】
F16C 33/58 20060101AFI20240422BHJP
C21D 7/08 20060101ALI20240422BHJP
C21D 9/40 20060101ALI20240422BHJP
F16C 19/06 20060101ALI20240422BHJP
F16C 19/26 20060101ALI20240422BHJP
F16C 33/64 20060101ALI20240422BHJP
F16C 33/34 20060101ALI20240422BHJP
C22C 38/00 20060101ALN20240422BHJP
C22C 38/58 20060101ALN20240422BHJP
【ＦＩ】
F16C33/58
C21D7/08 A
C21D9/40 A
F16C19/06
F16C19/26
F16C33/64
F16C33/34
C22C38/00 301Z
C22C38/58
【審査請求】未請求
【請求項の数】7
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022166498
(22)【出願日】2022-10-17
(71)【出願人】
【識別番号】000006655
【氏名又は名称】日本製鉄株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001553
【氏名又は名称】アセンド弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】天野 良則
(72)【発明者】
【氏名】間曽 利治
【テーマコード（参考）】
3J701
4K042
【Ｆターム（参考）】
3J701AA02
3J701AA12
3J701AA42
3J701AA52
3J701AA62
3J701BA10
3J701BA70
3J701DA01
3J701FA01
3J701FA38
3J701GA11
3J701XB01
3J701XB03
3J701XB31
3J701XB33
3J701XE01
3J701XE03
3J701XE12
3J701XE30
4K042AA22
4K042AA23
4K042BA03
4K042BA04
4K042BA14
4K042CA02
4K042CA03
4K042CA05
4K042CA06
4K042CA08
4K042CA09
4K042CA10
4K042CA12
4K042CA13
4K042CA15
4K042DA01
4K042DA02
4K042DC02
4K042DC03
4K042DD02
4K042DD03
4K042DE02
4K042DE06
(57)【要約】
【課題】摩擦係数を低減可能な鋼摺動部品を提供する。
【解決手段】本実施形態の鋼摺動部品（１０）は、中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、摺動面を有し、摺動面の試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、中心軸を含む鋼摺動部品（１０）の断面のうち、摺動面を含み摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む。
【選択図】図１
【解決手段】本実施形態の鋼摺動部品（１０）は、中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、摺動面を有し、摺動面の試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、中心軸を含む鋼摺動部品（１０）の断面のうち、摺動面を含み摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状である鋼摺動部品であって、
摺動面を有し、
試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、
前記中心軸を含む前記鋼摺動部品の断面のうち、前記摺動面を含み前記摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、前記摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む、
鋼摺動部品。
摺動面を有し、
試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、
前記中心軸を含む前記鋼摺動部品の断面のうち、前記摺動面を含み前記摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、前記摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む、
鋼摺動部品。
【請求項2】
請求項１に記載の鋼摺動部品であって、
前記鋼摺動部品は軸受の外輪、内輪、軌道盤、及びころのいずれかである、
鋼摺動部品。
前記鋼摺動部品は軸受の外輪、内輪、軌道盤、及びころのいずれかである、
鋼摺動部品。
【請求項3】
請求項１に記載の鋼摺動部品であって、
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１０．０％以上である、
鋼摺動部品。
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１０．０％以上である、
鋼摺動部品。
【請求項4】
請求項１に記載の鋼摺動部品であって、
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１２．５％以上である、
鋼摺動部品。
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１２．５％以上である、
鋼摺動部品。
【請求項5】
請求項１～請求項４のいずれか１項に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、前記最表層矩形域のＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品を準備する、中間品準備工程と、
前記中間品を前記中心軸周りに回転させて、前記中間品の前記摺動面に、前記中間品よりも硬い圧下工具を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、前記圧下工具を前記摺動面上で前記中間品の回転方向に対して垂直な方向に相対的に摺動させて、前記摺動面を含む表層を塑性変形させ、前記特定集合組織領域を形成する、最表層結晶方位調整工程とを備える、
鋼摺動部品の製造方法。
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、前記最表層矩形域のＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品を準備する、中間品準備工程と、
前記中間品を前記中心軸周りに回転させて、前記中間品の前記摺動面に、前記中間品よりも硬い圧下工具を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、前記圧下工具を前記摺動面上で前記中間品の回転方向に対して垂直な方向に相対的に摺動させて、前記摺動面を含む表層を塑性変形させ、前記特定集合組織領域を形成する、最表層結晶方位調整工程とを備える、
鋼摺動部品の製造方法。
【請求項6】
請求項５に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
前記中間品準備工程は、
鋼材を加工する加工工程と、
加工された前記鋼材に対して焼入れ及び焼戻しを実施して、前記中間品の試験力１ｋＮでのビッカース硬さを５００ＨＶ以上とし、かつ、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする調質工程とを含む、
鋼摺動部品の製造方法。
前記中間品準備工程は、
鋼材を加工する加工工程と、
加工された前記鋼材に対して焼入れ及び焼戻しを実施して、前記中間品の試験力１ｋＮでのビッカース硬さを５００ＨＶ以上とし、かつ、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする調質工程とを含む、
鋼摺動部品の製造方法。
【請求項7】
請求項６に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
前記中間品準備工程はさらに、
前記調質工程後の前記中間品の前記摺動面を機械加工して、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａを０．０５～２．００μｍとし、かつ、前記摺動面の前記最表層矩形域のＫＡＭ値を０．４０°以上とする表層調整工程を含む、
鋼摺動部品の製造方法。
前記中間品準備工程はさらに、
前記調質工程後の前記中間品の前記摺動面を機械加工して、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａを０．０５～２．００μｍとし、かつ、前記摺動面の前記最表層矩形域のＫＡＭ値を０．４０°以上とする表層調整工程を含む、
鋼摺動部品の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、鋼摺動部品及び鋼摺動部品の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
軸受の外輪、内輪、軌道盤及びころに代表される摺動部品は、例えば、自動車のトランスミッションの部品として利用される。これらの部品の多くは、鋼からなる。以降の説明において、鋼からなる摺動部品を「鋼摺動部品」という。
【0003】
上述の用途に用いられる鋼摺動部品には、高い疲労強度が求められる。これらの鋼摺動部品の疲労強度を高める手段として、調質処理（焼入れ及び焼戻し）が知られている。
【0004】
調質処理された鋼摺動部品は、マルテンサイト組織となる。マルテンサイト組織により、鋼部品の表層の硬さが高まる。そのため、鋼摺動部品の疲労強度が高まる。調質処理により疲労強度を高めた鋼摺動部品は、例えば、特開２０１３－１１２８６１号公報（特許文献１）に提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開２０１３－１１２８６１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
ところで、最近、自動車の燃費のさらなる向上が求められている。トランスミッションでのエネルギー損失を抑制できれば、燃費のさらなる向上が実現できる。トランスミッションでのエネルギー損失のうちの一つに、動力伝達の摩擦損失がある。この摩擦損失を低減できれば、エネルギー損失を低減できる。
【0007】
動力伝達の摩擦損失を低減するためには、動力伝達に関与する鋼摺動部品の摩擦係数（静止摩擦係数及び動摩擦係数）を低減することが有効である。ここで、静止摩擦係数とは、鋼摺動部品が回転等の動作を開始するときに、その動作を妨げるように作用する摩擦力に比例する係数である。動摩擦係数とは、鋼摺動部品が回転中に、その動作を妨げるように作用する摩擦力に比例する係数である。摩擦係数（静止摩擦係数及び動摩擦係数）を抑えることができれば、静止摩擦力及び動摩擦力が抑えられる。その結果、動力伝達の摩擦損失を低減できる。
【0008】
本開示の目的は、摩擦係数を低減可能な鋼摺動部品及び鋼摺動部品の製造方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本開示による鋼摺動部品は、次の構成を有する。
【0010】
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状である鋼摺動部品であって、
摺動面を有し、
試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、
前記中心軸を含む前記鋼摺動部品の断面のうち、前記摺動面を含み前記摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、前記摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む、
鋼摺動部品。
摺動面を有し、
試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、
前記中心軸を含む前記鋼摺動部品の断面のうち、前記摺動面を含み前記摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、前記摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む、
鋼摺動部品。
【0011】
本開示による鋼摺動部品の製造方法は、次の工程を含む。
【0012】
上述の鋼摺動部品の製造方法であって、
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、前記最表層矩形域のＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品を準備する、中間品準備工程と、
前記中間品を前記中心軸周りに回転させて、前記中間品の前記摺動面に、前記中間品よりも硬い圧下工具を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、前記圧下工具を前記摺動面上で前記中間品の回転方向に対して垂直な方向に相対的に摺動させて、前記摺動面を含む表層を塑性変形させ、前記特定集合組織領域を形成する、最表層結晶方位調整工程とを備える、
鋼摺動部品の製造方法。
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、前記最表層矩形域のＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品を準備する、中間品準備工程と、
前記中間品を前記中心軸周りに回転させて、前記中間品の前記摺動面に、前記中間品よりも硬い圧下工具を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、前記圧下工具を前記摺動面上で前記中間品の回転方向に対して垂直な方向に相対的に摺動させて、前記摺動面を含む表層を塑性変形させ、前記特定集合組織領域を形成する、最表層結晶方位調整工程とを備える、
鋼摺動部品の製造方法。
【発明の効果】
【0013】
本開示による鋼摺動部品では、摩擦係数の低減が可能である。本開示による鋼摺動部品の製造方法は、上述の鋼摺動部品を製造できる。
【図面の簡単な説明】
【0014】
【発明を実施するための形態】
【0015】
本発明者らは、鋼摺動部品の摩擦係数（静止摩擦係数及び動摩擦係数）を低減できる手段を検討した。初めに、本発明者らは、鋼摺動部品に対して調質処理を実施して、鋼摺動部品の硬さを高めれば、摩擦係数が抑制されると考えた。
【0016】
しかしながら、鋼摺動部品の硬さを高めただけでは、摩擦係数を十分に低減することができなかった。そこで、本発明者らは、摩擦係数を低減するために、他の手段を検討した。
【0017】
調質処理された鋼摺動部品において、表面が他の部品と接触して動作する場合を想定する。ここで、他の部品と接触して、他の部品に対して相対的に摺動する面を「摺動面」と定義する。
【0018】
本発明者らは、鋼摺動部品の摺動面の表層での結晶方位の配向性が、摩擦係数に影響を与えるのではないかと考えた。そこで、本発明者らは、摺動面の表層での結晶方位の配向性と、摩擦係数との関係について調査及び検討を行った。
【0019】
本発明者らは、複数種類の鋼摺動部品を製造して、各鋼摺動部品の中心軸を含む断面での表層において、摺動面と平行な方向の結晶方位解析を実施して方位マッピングを作成した。さらに、これらの鋼摺動部品の摩擦係数を求め、方位マッピングと摩擦係数との関係を調査した。その結果、本発明者らは、表層において、｛２０３｝結晶方位の面積率が高いほど、摩擦係数が抑制されることを見出した。そして、さらなる検討の結果、表層において、｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上であれば、摩擦係数（静止摩擦係数及び動摩擦係数）を十分に抑制できることを初めて見出した。
【0020】
本実施形態の鋼摺動部品は、上述の技術思想に基づいて完成したものであり、次の構成を有する。
【0021】
［１］
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状である鋼摺動部品であって、
摺動面を有し、
試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、
前記中心軸を含む前記鋼摺動部品の断面のうち、前記摺動面を含み前記摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、前記摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む、
鋼摺動部品。
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状である鋼摺動部品であって、
摺動面を有し、
試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、
前記中心軸を含む前記鋼摺動部品の断面のうち、前記摺動面を含み前記摺動面から深さ１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域において、前記摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域を含む、
鋼摺動部品。
【0022】
［２］
［１］に記載の鋼摺動部品であって、
前記鋼摺動部品は軸受の外輪、内輪、軌道盤、及びころのいずれかである、
鋼摺動部品。
［１］に記載の鋼摺動部品であって、
前記鋼摺動部品は軸受の外輪、内輪、軌道盤、及びころのいずれかである、
鋼摺動部品。
【0023】
［３］
［１］に記載の鋼摺動部品であって、
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１０．０％以上である、
鋼摺動部品。
［１］に記載の鋼摺動部品であって、
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１０．０％以上である、
鋼摺動部品。
【0024】
［４］
［１］に記載の鋼摺動部品であって、
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１２．５％以上である、
鋼摺動部品。
［１］に記載の鋼摺動部品であって、
前記｛２０３｝結晶方位の面積率が１２．５％以上である、
鋼摺動部品。
【0025】
［５］
［１］～［４］のいずれか１項に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、前記最表層矩形域のＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品を準備する、中間品準備工程と、
前記中間品を前記中心軸周りに回転させて、前記中間品の前記摺動面に、前記中間品よりも硬い圧下工具を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、前記圧下工具を前記摺動面上で前記中間品の回転方向に対して垂直な方向に相対的に摺動させて、前記摺動面を含む表層を塑性変形させ、前記特定集合組織領域を形成する、最表層結晶方位調整工程とを備える、
鋼摺動部品の製造方法。
［１］～［４］のいずれか１項に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、前記最表層矩形域のＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品を準備する、中間品準備工程と、
前記中間品を前記中心軸周りに回転させて、前記中間品の前記摺動面に、前記中間品よりも硬い圧下工具を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、前記圧下工具を前記摺動面上で前記中間品の回転方向に対して垂直な方向に相対的に摺動させて、前記摺動面を含む表層を塑性変形させ、前記特定集合組織領域を形成する、最表層結晶方位調整工程とを備える、
鋼摺動部品の製造方法。
【0026】
［６］
［５］に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
前記中間品準備工程は、
鋼材を加工する加工工程と、
加工された前記鋼材に対して焼入れ及び焼戻しを実施して、前記中間品の試験力１ｋＮでのビッカース硬さを５００ＨＶ以上とし、かつ、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする調質工程とを含む、
鋼摺動部品の製造方法。
［５］に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
前記中間品準備工程は、
鋼材を加工する加工工程と、
加工された前記鋼材に対して焼入れ及び焼戻しを実施して、前記中間品の試験力１ｋＮでのビッカース硬さを５００ＨＶ以上とし、かつ、前記最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする調質工程とを含む、
鋼摺動部品の製造方法。
【0027】
［７］
［６］に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
前記中間品準備工程はさらに、
前記調質工程後の前記中間品の前記摺動面を機械加工して、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａを０．０５～２．００μｍとし、かつ、前記摺動面の前記最表層矩形域のＫＡＭ値を０．４０°以上とする表層調整工程を含む、
鋼摺動部品の製造方法。
［６］に記載の鋼摺動部品の製造方法であって、
前記中間品準備工程はさらに、
前記調質工程後の前記中間品の前記摺動面を機械加工して、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した前記摺動面の算術平均粗さＲａを０．０５～２．００μｍとし、かつ、前記摺動面の前記最表層矩形域のＫＡＭ値を０．４０°以上とする表層調整工程を含む、
鋼摺動部品の製造方法。
【0028】
以下、本実施形態による鋼摺動部品について詳述する。
【0029】
［鋼摺動部品の構成］
図１は、本実施形態の鋼摺動部品の中心軸を含む断面図である。図１（Ａ）は玉軸受の断面図である。図１（Ｂ）はスラスト玉軸受の断面図である。図１（Ｃ）はころ軸受の断面図である。図１（Ｄ）はスラストころ軸受の断面図である。
図１は、本実施形態の鋼摺動部品の中心軸を含む断面図である。図１（Ａ）は玉軸受の断面図である。図１（Ｂ）はスラスト玉軸受の断面図である。図１（Ｃ）はころ軸受の断面図である。図１（Ｄ）はスラストころ軸受の断面図である。
【0030】
図１（Ａ）の玉軸受は、外輪１０Ａと、内輪１０Ｂと、複数の玉ＢＲとを備える。外輪１０Ａは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＡを有する。内輪１０Ｂは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＢを有する。軌道面１０ＳＡ及び１０ＳＢは、複数の玉ＢＲと接触して玉ＢＲと相対的に摺動する面である。
玉軸受において、外輪１０Ａは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＡは摺動面１０Ｓに相当する。同様に、内輪１０Ｂは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＢは摺動面１０Ｓに相当する。
玉軸受において、外輪１０Ａは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＡは摺動面１０Ｓに相当する。同様に、内輪１０Ｂは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＢは摺動面１０Ｓに相当する。
【0031】
図１（Ｂ）のスラスト玉軸受は、軌道盤１０Ｃと、軌道盤１０Ｄと、複数の玉ＢＲとを備える。軌道盤１０Ｃは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＣを有する。軌道盤１０Ｄは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＤを有する。軌道面１０ＳＣ及び１０ＳＤは、複数の玉ＢＲと接触して玉ＢＲと相対的に摺動する面である。
スラスト玉軸受において、軌道盤１０Ｃは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＣは摺動面１０Ｓに相当する。軌道盤１０Ｄは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＤは摺動面１０Ｓに相当する。
スラスト玉軸受において、軌道盤１０Ｃは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＣは摺動面１０Ｓに相当する。軌道盤１０Ｄは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＤは摺動面１０Ｓに相当する。
【0032】
図１（Ｃ）のころ軸受は、外輪１０Ａと、内輪１０Ｂと、複数のころ１０ＢＲとを備える。外輪１０Ａは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＡを有する。内輪１０Ｂは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＢを有する。軌道面１０ＳＡ及び１０ＳＢは、複数のころ１０ＢＲと接触してころ１０ＢＲと相対的に摺動する面である。
【0033】
ころ１０ＢＲは、針状ころでもよいし、円筒ころでもよいし、円錐ころでもよい。ころ１０ＢＲは、中心軸に垂直な断面が円形状であり、外周面１０ＳＢＲは、軌道面１０ＳＡ及び１０ＳＢと相対的に摺動する面である。
【0034】
ころ軸受において、外輪１０Ａは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＡは摺動面１０Ｓに相当する。同様に、内輪１０Ｂは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＢは摺動面１０Ｓに相当する。さらに、ころ１０ＢＲは鋼摺動部品１０に相当し、ころ１０の軸周りの外周面である表面１０ＳＢＲは、摺動面１０Ｓに相当する。
【0035】
図１（Ｄ）のスラストころ軸受は、軌道盤１０Ｃと、軌道盤１０Ｄと、複数のころ１０ＢＲとを備える。軌道盤１０Ｃは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＣを有する。軌道盤１０Ｄは、中心軸に垂直な断面が円環形状であり、軌道面１０ＳＤを有する。軌道面１０ＳＣ及び１０ＳＤは、複数のころ１０ＢＲと接触してころ１０ＢＲと相対的に摺動する面である。
ころ１０ＢＲは、針状ころでもよいし、円筒ころでもよいし、円錐ころでもよい。ころ１０ＢＲは、中心軸に垂直な断面が円形状であり、外周面１０ＳＢＲは、軌道面１０ＳＡ及び１０ＳＢと相対的に摺動する面である。
ころ１０ＢＲは、針状ころでもよいし、円筒ころでもよいし、円錐ころでもよい。ころ１０ＢＲは、中心軸に垂直な断面が円形状であり、外周面１０ＳＢＲは、軌道面１０ＳＡ及び１０ＳＢと相対的に摺動する面である。
【0036】
スラストころ軸受において、軌道盤１０Ｃは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＣは摺動面１０Ｓに相当する。軌道盤１０Ｄは鋼摺動部品１０に相当し、軌道面１０ＳＤは摺動面１０Ｓに相当する。さらに、ころ１０ＢＲは鋼摺動部品１０に相当し、ころ１０の軸周りの外周面である表面１０ＳＢＲは、摺動面１０Ｓに相当する。
【0037】
以上のとおり、軸受の外輪１０Ａ、内輪１０Ｂ、軌道盤１０Ｃ及び１０Ｄ、ころ１０ＢＲはいずれも、鋼摺動部品１０に相当する。鋼摺動部品１０は、中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状であり、摺動面１０Ｓを有する。
【0038】
［鋼摺動部品１０のビッカース硬さについて］
鋼摺動部品１０は、調質処理が施されている。したがって、鋼摺動部品１０の試験力１ｋＮでのビッカース硬さは５００ＨＶ以上である。鋼摺動部品１０のビッカース硬さが５００ＨＶ以上である場合、鋼摺動部品１０のミクロ組織はマルテンサイトを主体とする組織であることを意味する。
鋼摺動部品１０は、調質処理が施されている。したがって、鋼摺動部品１０の試験力１ｋＮでのビッカース硬さは５００ＨＶ以上である。鋼摺動部品１０のビッカース硬さが５００ＨＶ以上である場合、鋼摺動部品１０のミクロ組織はマルテンサイトを主体とする組織であることを意味する。
【0039】
［ビッカース硬さの測定方法］
鋼摺動部品１０のビッカース硬さは、次の方法で求める。
鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面で切断する。この断面において、鋼摺動部品１０を径方向に４分割する。分割した各領域の径方向の中心位置で、ＪＩＳ Ｚ ２２４４：２０２０に準拠して、試験力１ｋＮでのビッカース硬さを測定する。
鋼摺動部品１０では、測定された４つの中心位置の全てにおいて、ビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。
鋼摺動部品１０のビッカース硬さは、次の方法で求める。
鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面で切断する。この断面において、鋼摺動部品１０を径方向に４分割する。分割した各領域の径方向の中心位置で、ＪＩＳ Ｚ ２２４４：２０２０に準拠して、試験力１ｋＮでのビッカース硬さを測定する。
鋼摺動部品１０では、測定された４つの中心位置の全てにおいて、ビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。
【0040】
［鋼摺動部品１０の化学組成］
鋼摺動部品１０は、鋼からなる。鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は特に限定されない。より具体的には、鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は、調質処理を実施した場合にマルテンサイトが主たる組織となる化学組成であり、このような化学組成は周知である。鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は例えば、９０．０％以上のＦｅを含有する。鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は例えば、９０．０％以上のＦｅと、０．７０～１．２０％のＣと、０．１０～２．００％のＳｉと、０．１０～２．００％のＭｎとを含有する。
鋼摺動部品１０は、鋼からなる。鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は特に限定されない。より具体的には、鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は、調質処理を実施した場合にマルテンサイトが主たる組織となる化学組成であり、このような化学組成は周知である。鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は例えば、９０．０％以上のＦｅを含有する。鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は例えば、９０．０％以上のＦｅと、０．７０～１．２０％のＣと、０．１０～２．００％のＳｉと、０．１０～２．００％のＭｎとを含有する。
【0041】
さらに好ましくは、本実施形態の鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は、Ｃ：０．７０～１．２０％、Ｓｉ：０．１０～２．００％、Ｍｎ：０．１０～２．００％、Ｐ：０．０３０％未満、Ｓ：０．０３０％未満、Ｎｉ：０～２．００％、Ｃｒ：０．４０～２．００％、Ｍｏ：０～０．５０％、Ｃｕ：０～０．５０％、Ｖ：０～０．２００％、Ｎｂ：０～０．１００％、Ｔｉ：０～０．２００％、Ｂ：０～０．００５０％、Ｃａ：０～０．００５０％、Ａｌ：０．００１～０．１００％、Ｎ：０．０２５０％以下、及び、Ｏ：０．００５０％以下、を含有し、残部はＦｅ及び不純物からなる。
【0042】
本実施形態の鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は例えば、ＪＩＳ Ｇ４８０５：２０１９に規定のＳＵＪ２、ＳＵＪ３、ＳＵＪ４、ＳＵＪ５のいずれかを満たしてもよい。本実施形態の鋼摺動部品１０を構成する鋼の化学組成は上述のとおり、公知のものでよい。
【0043】
［鋼摺動部品１０の化学組成の測定方法］
本実施形態の鋼摺動部品１０の化学組成は、周知の成分分析法で測定できる。具体的には、ドリル等の切削工具を用いて、鋼摺動部品１０から切粉を採取する。採取された切粉を酸に溶解させて溶液を得る。溶液に対して、ＩＣＰ－ＡＥＳ（Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｐｌａｓｍａ Ａｔｏｍｉｃ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ）を実施して、化学組成の元素分析を実施する。Ｃ含有量及びＳ含有量については、周知の高周波燃焼法（燃焼－赤外線吸収法）により求める。Ｎ含有量については、周知の不活性ガス溶融－熱伝導度法により求める。
本実施形態の鋼摺動部品１０の化学組成は、周知の成分分析法で測定できる。具体的には、ドリル等の切削工具を用いて、鋼摺動部品１０から切粉を採取する。採取された切粉を酸に溶解させて溶液を得る。溶液に対して、ＩＣＰ－ＡＥＳ（Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｐｌａｓｍａ Ａｔｏｍｉｃ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ）を実施して、化学組成の元素分析を実施する。Ｃ含有量及びＳ含有量については、周知の高周波燃焼法（燃焼－赤外線吸収法）により求める。Ｎ含有量については、周知の不活性ガス溶融－熱伝導度法により求める。
【0044】
［特定集合組織領域について］
本実施形態の鋼摺動部品１０は、摺動面１０Ｓを含む表層に特定集合組織領域を含む。特定集合組織領域は、次のとおり定義される。
本実施形態の鋼摺動部品１０は、摺動面１０Ｓを含む表層に特定集合組織領域を含む。特定集合組織領域は、次のとおり定義される。
【0045】
図２（Ａ）は、図１（Ａ）の鋼摺動部品１０（１０Ａ）の領域５０の拡大図である。図２（Ｂ）は、図１（Ａ）の鋼摺動部品１０（１０Ｂ）及び図１（Ｃ）の鋼摺動部品１０（１０ＢＲ）の領域５０の拡大図である。図２（Ｃ）は、図１（Ｂ）の鋼摺動部品１０（１０Ｃ）及び図１（Ｄ）の鋼摺動部品１０（１０ＢＲ）の領域５０の拡大図である。図２（Ｄ）は、図１（Ｂ）の鋼摺動部品１０（１０Ｄ）の領域５０の拡大図である。
図１（Ａ）～（Ｄ）及び図２（Ａ）～（Ｄ）を参照して、鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳのうち、摺動面１０Ｓを含み、かつ、摺動面１０Ｓから深さＤが１０μｍであり、幅Ｗが５０μｍの矩形状の任意の領域を、「最表層矩形域」２０と定義する。
図１（Ａ）～（Ｄ）及び図２（Ａ）～（Ｄ）を参照して、鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳのうち、摺動面１０Ｓを含み、かつ、摺動面１０Ｓから深さＤが１０μｍであり、幅Ｗが５０μｍの矩形状の任意の領域を、「最表層矩形域」２０と定義する。
【0046】
最表層矩形域２０において、摺動面１０Ｓと平行方向の結晶方位解析を実施して、最表層矩形域２０での方位マッピングを得る。図３は、最表層矩形域２０での方位マッピングの一例を示す図である。図３を参照して、最表層矩形域２０中の黒色の領域は、｛２０３｝結晶方位の領域である。
【0047】
得られた方位マッピングにおいて、｛２０３｝結晶方位の面積率を求める。最表層矩形域２０での｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上であれば、その最表層矩形域２０を「特定集合組織領域」と定義する。
【0048】
図４Ａは、鋼摺動部品１０の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率と、静止摩擦係数との関係を示す図である。図４Ｂは、鋼摺動部品１０の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率と、動摩擦係数との関係を示す図である。図４Ａ及び図４Ｂは、後述のブロックオンリング試験により得られた摩擦係数（静止摩擦係数及び動摩擦係数）を用いて作成した。
【0049】
図４Ａ及び図４Ｂを参照して、鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳの最表層矩形域２０での摺動面１０Ｓに平行な方向の結晶方位解析により得られた｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％となるまでの間は、｛２０３｝結晶方位面積の面積率が増加しても、摩擦係数（静止摩擦係数、動摩擦係数）にそれほど変化が見られない。一方、｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上となった場合、｛２０３｝結晶方位の面積率が増加するに伴い、摩擦係数（静止摩擦係数、動摩擦係数）が顕著に低下する。つまり、図４Ａ及び図４Ｂのグラフは、｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％近傍で、変曲点を有する。
【0050】
したがって、鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳのうち、最表層矩形域２０での摺動面１０Ｓに平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上である特定集合組織領域では、摩擦係数を十分に抑制することができる。つまり、鋼摺動部品１０の表層が特定集合組織領域を含む場合、鋼摺動部品１０の摩擦係数は十分に抑制される。
【0051】
特定集合組織領域での｛２０３｝結晶方位の面積率の好ましい下限は１０．０％であり、さらに好ましくは１２．５％であり、さらに好ましくは１５．０％であり、さらに好ましくは２０．０％であり、さらに好ましくは２５．０％である。特定集合組織領域の｛２０３｝結晶方位の面積率の上限は特に限定されない。特定集合組織領域の｛２０３｝結晶方位の面積率の上限は例えば、８０．０％であり、さらに好ましくは７０．０％であり、さらに好ましくは６５．０％であり、さらに好ましくは６０．０％であり、さらに好ましくは５０．０％であり、さらに好ましくは４０．０％であり、さらに好ましくは３５．０％である。
【0052】
［最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率の測定方法］
鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳでの最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率は、電子線後方散乱回折（ＥＢＳＤ：Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｂａｃｋ Ｓｃａｔｔｅｒ Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ）を用いて、次の方法により求める。
鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳでの最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率は、電子線後方散乱回折（ＥＢＳＤ：Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｂａｃｋ Ｓｃａｔｔｅｒ Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ）を用いて、次の方法により求める。
【0053】
【0054】
最表層矩形域２０を含む断面ＣＳを、観察面と定義する。観察面に対して鏡面研磨を実施する。鏡面研磨された観察面のうち、任意の最表層矩形域２０（摺動面１０Ｓを含み、摺動面１０Ｓからの深さが１０μｍ、幅Ｗが５０μｍの矩形領域）を選択する。選択された最表層矩形域２０に対して、ＥＢＳＤ測定を実施する。ＥＢＳＤ測定では、加速電圧を１５ｋＶとし、照射電流を２５ｎＡとし、照射間隔を０．０４μｍとする。電子線の入射方向は、観察面に対して、観察面の法線方向から７０度傾斜させた方向とする。ＥＢＳＤ測定により、最表層矩形域２０内の各測定点の位置に関する情報（以下、位置情報という）と、測定点での結晶方位に関する情報（以下、方位情報という）とが得られる。得られた位置情報及び方位情報に基づいて、方位マッピングを作成する。作成された方位マッピングにおいて、｛２０３｝結晶方位の領域を特定する。このとき、許容方位差を１０°とする。また、信頼性指数（Ｃｏｎｆｉｄｅｎｃｅ Ｉｎｄｅｘ：ＣＩ値）が０．１よりも大きいデータを採用する。
【0055】
方位マッピングでは、図３に示すとおり、特定の結晶方位を区別することが可能である。そこで、得られた方位マッピングを用いて、観察面（断面ＣＳ）において、摺動面１０Ｓと平行な方向に｛２０３｝結晶方位が向いている領域の面積率を求める。具体的には、最表層矩形域２０において、ＣＩ値が０．１よりも大きい領域の面積に対する、摺動面１０Ｓと平行方向の結晶方位解析により得られた｛２０３｝結晶方位の領域の面積の比率を、｛２０３｝結晶方位の面積率（％）と定義する。以上の方法により、最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位を示す領域の面積率を測定できる。方位マッピングは例えば、周知の解析ソフトウェア（ＯＩＭ ＤＡＴＡ Ｃｏｌｌｅｃｔｉｏｎ／Ａｎａｌｙｓｉｓ Ｖｅｒ．７．３．１：株式会社ＴＳＬソリューションズ製）を用いてコンピュータに実行させることが可能である。
【0056】
以上の構成を有する鋼摺動部品１０では、摩擦係数（静止摩擦係数及び動摩擦係数）が低い。そのため、鋼摺動部品１０が使用されるエンジンやパワートレイン等の動力源での摩擦損失を低減でき、燃費の向上に寄与することができる。
【0057】
なお、本実施形態の鋼摺動部品１０は、摺動面１０Ｓ全体に特定集合組織領域を含んでいてもよいし、摺動面１０Ｓの一部に特定集合組織領域を含んでもよい。つまり、鋼摺動部品１０は、摺動面１０Ｓの少なくとも一部に特定集合組織領域を含む。
【0058】
［鋼摺動部品１０の製造方法］
本実施形態による鋼摺動部品１０の製造方法の一例を説明する。以降に説明する鋼摺動部品１０の製造方法は、本実施形態による鋼摺動部品１０を製造するための一例である。したがって、上述の構成を有する鋼摺動部品１０は、以降に説明する製造方法以外の他の製造方法により製造されてもよい。しかしながら、以降に説明する製造方法は、本実施形態による鋼摺動部品１０の製造方法の好ましい一例である。
本実施形態による鋼摺動部品１０の製造方法の一例を説明する。以降に説明する鋼摺動部品１０の製造方法は、本実施形態による鋼摺動部品１０を製造するための一例である。したがって、上述の構成を有する鋼摺動部品１０は、以降に説明する製造方法以外の他の製造方法により製造されてもよい。しかしながら、以降に説明する製造方法は、本実施形態による鋼摺動部品１０の製造方法の好ましい一例である。
【0059】
本実施形態の鋼摺動部品１０の製造方法の一例は、次の工程を含む。
（１）中間品準備工程
（２）最表層結晶方位調整工程
以下、各工程について説明する。
（１）中間品準備工程
（２）最表層結晶方位調整工程
以下、各工程について説明する。
【0060】
［（１）中間品準備工程］
中間品準備工程では、鋼摺動部品１０の素材である中間品を準備する。中間品は、中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状である。中間品は、最終製品に近い形状を有する。中間品は第三者から提供されたものでもよい。また、中間品を製造して準備してもよい。
中間品準備工程では、鋼摺動部品１０の素材である中間品を準備する。中間品は、中心軸に垂直な断面が円形状又は円環形状である。中間品は、最終製品に近い形状を有する。中間品は第三者から提供されたものでもよい。また、中間品を製造して準備してもよい。
【0061】
準備する中間品はさらに、次の構成（Ａ）～（Ｄ）を有する。
（Ａ）試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。
（Ｂ）最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％である。
（Ｃ）ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した摺動面１０Ｓの算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍである。
（Ｄ）最表層矩形域のＫＡＭ（Ｋｅｒｎｅｌ Ａｖｅｒａｇｅ Ｍｉｓｏｒｉｅｎｔａｔｉｏｎ）値が０．４０°以上である。
以下、構成（Ａ）～構成（Ｄ）について説明する。
（Ａ）試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。
（Ｂ）最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％である。
（Ｃ）ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した摺動面１０Ｓの算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍである。
（Ｄ）最表層矩形域のＫＡＭ（Ｋｅｒｎｅｌ Ａｖｅｒａｇｅ Ｍｉｓｏｒｉｅｎｔａｔｉｏｎ）値が０．４０°以上である。
以下、構成（Ａ）～構成（Ｄ）について説明する。
【0062】
［（Ａ）中間品のビッカース硬さについて］
鋼摺動部品１０の素材である中間品では、鋼摺動部品１０と同じく、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。中間品のビッカース硬さが５００ＨＶ以上である場合、鋼摺動部品１０のミクロ組織はマルテンサイトを主体とする組織であることを意味する。
鋼摺動部品１０の素材である中間品では、鋼摺動部品１０と同じく、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。中間品のビッカース硬さが５００ＨＶ以上である場合、鋼摺動部品１０のミクロ組織はマルテンサイトを主体とする組織であることを意味する。
【0063】
［（Ｂ）最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率について］
中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率は、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率に影響を与える。残留オーステナイトの体積率が１０．０％未満、又は、４０．０％を超えれば、次工程の最表層結晶方位調整工程を実施しても、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％未満となる。したがって、中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする。この場合、最表層結晶方位調整工程を実施することにより、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率を７．０％以上とすることができる。
中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率は、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率に影響を与える。残留オーステナイトの体積率が１０．０％未満、又は、４０．０％を超えれば、次工程の最表層結晶方位調整工程を実施しても、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％未満となる。したがって、中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする。この場合、最表層結晶方位調整工程を実施することにより、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率を７．０％以上とすることができる。
【0064】
［（Ｃ）中間品の摺動面の算術平均粗さＲａについて］
中間品の表面のうち、鋼摺動部品１０の摺動面１０Ｓに相当する表面（以下、摺動面という）の表面粗さは、後述の最表層結晶方位調整工程での鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率に影響する。中間品の摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５μｍ未満であれば、最表層結晶方位調整工程後の鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％未満となる。したがって、中間品の摺動面の算術平均粗さＲａを０．０５μｍ以上とする。
中間品の表面のうち、鋼摺動部品１０の摺動面１０Ｓに相当する表面（以下、摺動面という）の表面粗さは、後述の最表層結晶方位調整工程での鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率に影響する。中間品の摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５μｍ未満であれば、最表層結晶方位調整工程後の鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％未満となる。したがって、中間品の摺動面の算術平均粗さＲａを０．０５μｍ以上とする。
【0065】
一方、中間品の摺動面の表面粗さが過剰に粗くなれば、最表層結晶方位調整工程後の鋼摺動部品１０の表面に割れが発生する場合がある。したがって、中間品の摺動面の算術平均粗さＲａを２．００μｍ以下とする。
【0066】
［（Ｄ）中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値について］
中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値も、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率に影響する。ここで、ＫＡＭ値とは、測定点での結晶方位の周囲からのずれを示す指標である。ＫＡＭ値が大きい測定点では、その測定点の周囲との結晶方位の差が大きい。この場合、その測定点では、ひずみが大きいことを意味する。一方、ＫＡＭ値が小さい測定点では、その測定点の周囲との結晶方位の差が小さい。そのため、その測定点では、ひずみが小さいことを意味する。本実施形態では、ＫＡＭ値は各測定点で得られた算術平均値とする。そのため、ＫＡＭ値は、中間品を構成する鋼材のひずみの程度を意味する。
中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値も、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率に影響する。ここで、ＫＡＭ値とは、測定点での結晶方位の周囲からのずれを示す指標である。ＫＡＭ値が大きい測定点では、その測定点の周囲との結晶方位の差が大きい。この場合、その測定点では、ひずみが大きいことを意味する。一方、ＫＡＭ値が小さい測定点では、その測定点の周囲との結晶方位の差が小さい。そのため、その測定点では、ひずみが小さいことを意味する。本実施形態では、ＫＡＭ値は各測定点で得られた算術平均値とする。そのため、ＫＡＭ値は、中間品を構成する鋼材のひずみの程度を意味する。
【0067】
上述のとおり、ＫＡＭ値も鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率に影響を与える。具体的には、ＫＡＭ値が０．４０°未満であれば、最表層結晶方位調整工程を実施しても、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％未満となる。したがって、中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値を０．４０°以上とする。この場合、最表層結晶方位調整工程を実施することにより、鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率を７．０％以上とすることができる。
【0068】
以上の構成を有する中間品は、例えば、次の製造工程で製造される。
（１１）加工工程
（１２）調質工程
（１３）表層調整工程
以下、各工程について説明する。
（１１）加工工程
（１２）調質工程
（１３）表層調整工程
以下、各工程について説明する。
【0069】
［（１１）加工工程］
加工工程では、鋼部品の素材となる鋼材を加工して、鋼材を、最終製品（鋼部品）の形状に近い形状とする。
加工工程では、鋼部品の素材となる鋼材を加工して、鋼材を、最終製品（鋼部品）の形状に近い形状とする。
【0070】
鋼材の加工方法は周知の方法でよい。例えば、鋼材を熱間加工して、鋼材を所定形状にしてもよい。熱間加工方法は例えば、熱間鍛造、熱間圧延等である。鋼材を冷間加工して、鋼材を所定形状にしてもよい。冷間加工方法は例えば、冷間鍛造、冷間引抜等である。鋼材を切削加工して、鋼材を所定形状にしてもよい。鋼材を熱間加工又は冷間加工した後、さらに切削加工を実施して、鋼材を所定形状にしてもよい。
【0071】
［（１２）調質工程］
調質工程では、加工された鋼材に対して焼入れ及び焼戻しを実施して、中間品のビッカース硬さを５００ＨＶ以上とし、かつ、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする。以下、焼入れ及び焼戻しについて説明する。
調質工程では、加工された鋼材に対して焼入れ及び焼戻しを実施して、中間品のビッカース硬さを５００ＨＶ以上とし、かつ、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％とする。以下、焼入れ及び焼戻しについて説明する。
【0072】
［焼入れ］
焼入れでは、鋼材をＡｃ３変態点以上の焼入れ温度に加熱して保持した後、急冷する。焼入れ処理における冷却方法は、油冷又は水冷である。具体的には、冷却媒体である油又は水を収納した冷却浴に、焼入れ温度に保持された鋼材を浸漬して急冷する。冷却媒体である油又は水の温度は、例えば、室温～２００℃である。また、必要に応じて、サブゼロ処理を実施してもよい。焼入れ温度及び焼入れ温度での保持時間を適宜制御して、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％に調整する。
焼入れでは、鋼材をＡｃ３変態点以上の焼入れ温度に加熱して保持した後、急冷する。焼入れ処理における冷却方法は、油冷又は水冷である。具体的には、冷却媒体である油又は水を収納した冷却浴に、焼入れ温度に保持された鋼材を浸漬して急冷する。冷却媒体である油又は水の温度は、例えば、室温～２００℃である。また、必要に応じて、サブゼロ処理を実施してもよい。焼入れ温度及び焼入れ温度での保持時間を適宜制御して、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％に調整する。
【0073】
［焼戻し］
焼戻しは、焼入れ後に実施される。焼戻しでは、焼入れ後の鋼材に対して、周知の焼戻しを実施する。焼戻し温度は例えば、１００～２００℃である。焼戻し温度での保持時間は例えば、９０～１５０分である。
焼戻しは、焼入れ後に実施される。焼戻しでは、焼入れ後の鋼材に対して、周知の焼戻しを実施する。焼戻し温度は例えば、１００～２００℃である。焼戻し温度での保持時間は例えば、９０～１５０分である。
【0074】
上述の調質処理（焼入れ及び焼戻し）の条件を適宜調整して、中間品のビッカース硬さを５００ＨＶ以上とし、かつ、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を１０．０～４０．０％に調整できる。
【0075】
［（１３）表層調整工程］
表層調整工程では、調質工程後の鋼材の摺動面を機械加工して、中間品の摺動面の表面粗さを所定の粗さに調整し、かつ、摺動面を含む表層に所定のひずみを導入する。ここで、機械加工とは、研削加工及び／又は切削加工である。
表層調整工程では、調質工程後の鋼材の摺動面を機械加工して、中間品の摺動面の表面粗さを所定の粗さに調整し、かつ、摺動面を含む表層に所定のひずみを導入する。ここで、機械加工とは、研削加工及び／又は切削加工である。
【0076】
具体的には、機械加工での切り込み量と送り速度とを適宜調整することにより、中間品の摺動面の算術平均粗さを０．０５～２．００μｍに調整する。算術平均粗さＲａの好ましい下限は０．１０μｍであり、さらに好ましくは０．１５μｍであり、さらに好ましくは０．２０μｍであり、さらに好ましくは０．２５μｍである。算術平均粗さＲａの好ましい上限は、１．５０μｍである。
【0077】
表層調整工程ではさらに、中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値を０．４０°以上とする。機械加工での周速と送り速度とを適宜調整することにより、鋼材の最表層矩形域のＫＡＭ値を０．４０°以上とする。ＫＡＭ値の好ましい下限は０．４５°であり、さらに好ましくは０．５０°であり、さらに好ましくは０．６０°である。上限は特に限定されない。表層調整工程で得られるＫＡＭ値の最大値は例えば、２．００°程度である。
【0078】
以上の工程により、試験力１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、最表層矩形域のＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品を準備する。
【0079】
［ビッカース硬さ、残留オーステナイトの体積率、算術平均粗さＲａ、及びＫＡＭ値の測定方法］
中間品のビッカース硬さ、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率、摺動面の算術平均粗さＲａ、及び、最表層矩形域のＫＡＭ値は、次の方法で測定できる。
中間品のビッカース硬さ、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率、摺動面の算術平均粗さＲａ、及び、最表層矩形域のＫＡＭ値は、次の方法で測定できる。
【0080】
［中間品のビッカース硬さの測定方法］
中間品のビッカース硬さの測定方法は、鋼摺動部品１０のビッカース硬さの測定方法と同じである。具体的には、中間品を中間品の中心軸を含む断面で切断する。この断面において、中間品を径方向に４分割する。分割した各領域の径方向の中心位置で、ＪＩＳ Ｚ ２２４４：２０２０に準拠して、試験力１ｋＮでのビッカース硬さを測定する。
中間品では、測定された４つの中心位置の全てにおいて、ビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。つまり、得られた４つのビッカース硬さの最低値が５００ＨＶ以上である。
中間品のビッカース硬さの測定方法は、鋼摺動部品１０のビッカース硬さの測定方法と同じである。具体的には、中間品を中間品の中心軸を含む断面で切断する。この断面において、中間品を径方向に４分割する。分割した各領域の径方向の中心位置で、ＪＩＳ Ｚ ２２４４：２０２０に準拠して、試験力１ｋＮでのビッカース硬さを測定する。
中間品では、測定された４つの中心位置の全てにおいて、ビッカース硬さが５００ＨＶ以上である。つまり、得られた４つのビッカース硬さの最低値が５００ＨＶ以上である。
【0081】
［最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率の測定方法］
中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を、Ｘ線回折法により求める。具体的には、中間品から、最表層矩形域を含むサンプルを採取する。サンプルの摺動面に対してＸ線回折を実施して、ｂｃｃ構造の（２１１）面と、ｆｃｃ構造の（２２０）面の回折ピークの積分強度比を得る。得られた回折強度比に基づいて、残留オーステナイトの体積率（％）を求める。光源にはＣｒ管球を使用する。光源の電圧は４０ｋＶ、電流値は４０ｍＡとする。
中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を、Ｘ線回折法により求める。具体的には、中間品から、最表層矩形域を含むサンプルを採取する。サンプルの摺動面に対してＸ線回折を実施して、ｂｃｃ構造の（２１１）面と、ｆｃｃ構造の（２２０）面の回折ピークの積分強度比を得る。得られた回折強度比に基づいて、残留オーステナイトの体積率（％）を求める。光源にはＣｒ管球を使用する。光源の電圧は４０ｋＶ、電流値は４０ｍＡとする。
【0082】
［摺動面の算術平均粗さＲａの測定方法］
中間品の摺動面の算術平均粗さＲａを、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に規定された測定方法に準拠して測定する。具体的には、中間品の摺動面において、任意の１０箇所を測定箇所とする。測定箇所において、摺動方向の法線方向に延びる評価長さで、算術平均粗さＲａを測定する。基準長さ（カットオフ波長）は、算術平均粗さＲａが０．０２～０．１０μｍの場合は０．２５ｍｍとし、算術平均粗さＲａが０．１０超～２．００μｍの場合は０．８０ｍｍとする。さらに、評価長さは、基準長さ（カットオフ波長）の５倍とする。算術平均粗さＲａの測定は、触針式の粗さ計を用いて行い、測定速度は、０．２ｍｍ／ｓｅｃとする。求めた１０個の算術平均粗さＲａのうち、最大の算術平均粗さＲａ、２番目に大きい算術平均粗さＲａ、最小の算術平均粗さＲａ、及び、２番目に小さい算術平均粗さＲａを除いた、６個の算術平均粗さＲａの算術平均値を、算術平均粗さＲａ（μｍ）と定義する。
中間品の摺動面の算術平均粗さＲａを、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に規定された測定方法に準拠して測定する。具体的には、中間品の摺動面において、任意の１０箇所を測定箇所とする。測定箇所において、摺動方向の法線方向に延びる評価長さで、算術平均粗さＲａを測定する。基準長さ（カットオフ波長）は、算術平均粗さＲａが０．０２～０．１０μｍの場合は０．２５ｍｍとし、算術平均粗さＲａが０．１０超～２．００μｍの場合は０．８０ｍｍとする。さらに、評価長さは、基準長さ（カットオフ波長）の５倍とする。算術平均粗さＲａの測定は、触針式の粗さ計を用いて行い、測定速度は、０．２ｍｍ／ｓｅｃとする。求めた１０個の算術平均粗さＲａのうち、最大の算術平均粗さＲａ、２番目に大きい算術平均粗さＲａ、最小の算術平均粗さＲａ、及び、２番目に小さい算術平均粗さＲａを除いた、６個の算術平均粗さＲａの算術平均値を、算術平均粗さＲａ（μｍ）と定義する。
【0083】
［最表層矩形域のＫＡＭ値の測定方法］
中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値を、次の方法で測定する。具体的には、図１及び図２に示すとおり、鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳの最表層矩形域２０に相当する領域（以下、単に最表層矩形域という）を含む試験片を中間品から採取する。試験片のサイズは、最表層矩形域を含んでいれば、特に限定されない。
中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値を、次の方法で測定する。具体的には、図１及び図２に示すとおり、鋼摺動部品１０の中心軸を含む断面ＣＳの最表層矩形域２０に相当する領域（以下、単に最表層矩形域という）を含む試験片を中間品から採取する。試験片のサイズは、最表層矩形域を含んでいれば、特に限定されない。
【0084】
試験片の表面うち、最表層矩形域を含む断面ＣＳに相当する表面を、観察面と定義する。観察面に対して鏡面研磨を実施する。鏡面研磨された観察面のうち、任意の最表層矩形域（摺動面を含み、摺動面から径方向に深さＤが１０μｍ、幅Ｗが５０μｍの矩形領域）を選択する。選択された最表層矩形域に対して、ＥＢＳＤ測定を実施する。ＥＢＳＤ測定では、加速電圧を１５ｋＶとし、照射電流を２５ｎＡとし、照射間隔を０．０４μｍとする。電子線の入射方向は、観察面に対して、観察面の法線方向から７０度傾斜させた方向とする。ＥＢＳＤ測定により、最表層矩形域内の各測定点の位置に関する情報（以下、位置情報という）と、測定点での結晶方位に関する情報（以下、方位情報という）とが得られる。得られた位置情報及び方位情報に基づいて、ＫＡＭ値を求める。なお、信頼性指数（Ｃｏｎｆｉｄｅｎｃｅ Ｉｎｄｅｘ：ＣＩ値）が０．１よりも大きいデータを採用する。
【0085】
ＫＡＭ値は、上述のとおりに定義される。具体的には、最表層矩形域を、正六角形のピクセル単位に区切る。ピクセルは、上述の測定点に相当する。任意の１つの正六角形のピクセルを中心ピクセルとして選定する。選定された中心ピクセルと、中心ピクセルの外側に隣接して配置された６つのピクセルにおいて、各ピクセル間の方位差を求める。得られた方位差の平均値を求め、その平均値を中心ピクセル（測定点）のＫＡＭ値と定義する。このとき、ＫＡＭ値の最大方位差を５．０°と定義し、後述する平均値の計算には、５．０°以下のデータを採用する。最表層矩形域の全てのピクセルについて、同様の方法を用いて、ＫＡＭ値を求める。
【0086】
観察視野中の各ピクセルのＫＡＭ値を算出した後、各ピクセルのＫＡＭ値の算術平均値を求める。得られた値を、鋼材の最表層矩形域のＫＡＭ値と定義する。
【0087】
なお、ＫＡＭ値を求めるためのＥＢＳＤ解析プログラムは、周知のプログラムを用いればよい。例えば、ＴＳＬソリューションズ製のＯＩＭ ＤＡＴＡ Ｃｏｌｌｅｃｔｉｏｎ／Ａｎａｌｙｓｉｓ Ｖｅｒ．７．３．１を用いてもよい。
【0088】
［（２）最表層結晶方位調整工程］
最表層結晶方位調整工程では、試験力が１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、最表層矩形域でのＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品の最表層領域において、観察面における摺動面と平行方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率を高める。
最表層結晶方位調整工程では、試験力が１ｋＮでのビッカース硬さが５００ＨＶ以上であり、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が１０．０～４０．０％であり、ＪＩＳ Ｂ ０６０１：２０１３に準拠した摺動面の算術平均粗さＲａが０．０５～２．００μｍであり、最表層矩形域でのＫＡＭ値が０．４０°以上である中間品の最表層領域において、観察面における摺動面と平行方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率を高める。
【0089】
具体的には、中間品の摺動面に、中間品よりも硬い圧下工具を８．５～１５．０ＧＰａで押し当てる。さらに、８．５～１５．０ＧＰａで押し当てながら、圧下工具を摺動面上で中間品の回転方向に対して垂直な方向に相対的に摺動させて、摺動面を含む表層を塑性変形させる。以上の工程により、最表層領域に特定集合組織領域を形成する。以下、この点について説明する。
【0090】
図５は、表層塑性加工を実施するための装置（表層塑性加工装置）の模式図である。図５（Ａ）は、一例として、鋼摺動部品１０がころである場合の、表面塑性加工装置の模式図である。図５（Ａ）を参照して、表層塑性加工装置３０は、支持治具３１と、圧下工具３２とを備える。圧下工具３２は半球状の形状を有する。圧下工具３２の凸部が中間品１００の摺動面１００Ｓに接触するように、圧下工具３２を配置する。支持治具３１は、下端に圧下工具３２を固定して、圧下工具３２を支持する。圧下工具３２は、中間品１００よりも硬い材質からなる。圧下工具３２は例えば、超硬工具であり、例えば、ダイヤモンドチップである。
【0091】
表層塑性加工装置３０を用いた表層塑性加工は次のとおり実施される。初めに、中間品１００を中心軸周りに回転させる。そして、表層塑性加工装置３０の圧下工具３２を、中間品１００の摺動面１００Ｓに圧力Ｐ１で押し当てる。圧下工具３２を圧力Ｐ１で押し当てながら、圧下工具３２を、摺動面１００Ｓ上で、中間品１００の回転方向に垂直な方向に摺動させて、摺動面１００Ｓの表層を塑性変形させる。
【0092】
具体的には、図５（Ａ）では、圧下工具３２を押し当てたまま、中間品１００を、中間品１００の中心軸周りに回転させる。このとき、中間品１００を中心軸周りに回転させながら、圧下工具３２を、摺動面１００Ｓ上で、中間品１００の回転方向に垂直な方向Ｍ（ここでは、中心軸に沿った方向）に相対的に移動させる。これにより、圧下工具３２は、圧力Ｐ１で摺動面１００Ｓに押し当てられながら、摺動面１００Ｓ上を摺動する。これにより、中間品１００の摺動面１００Ｓの表層が塑性変形する。このとき、表層において、塑性変形に起因した結晶方位回転が発生する。
【0093】
表層塑性加工装置３０を用いた表層塑性加工では、圧下工具３２を８．５～１５．０ＧＰａの圧力Ｐ１で中間品１００の摺動面１００Ｓに押し当てる。
【0094】
圧力Ｐ１が８．５ＧＰａ未満であれば、最終製品である鋼摺動部品１０の最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％未満となる。一方、圧力Ｐ１が１５．０ＧＰａを超えれば、鋼摺動部品１０の摺動面１０Ｓに割れが発生してしまう。したがって、圧力Ｐ１を８．５～１５．０ＧＰａとする。
【0095】
中間品１００に対して上述の圧力Ｐ１で表層塑性加工を実施すれば、鋼摺動部品１０の摺動面１０Ｓと平行な方向での｛２０３｝結晶方位の集積度が高まる。その結果、最表層矩形域２０での｛２０３｝結晶方位の面積率が７．０％以上となる。
【0096】
なお、図５（Ａ）は鋼摺動部品１０がころである場合について説明したが、鋼摺動部品１０が外輪、内輪、軌道盤であっても、図５（Ａ）と同様の方法で最表層結晶方位調整工程を実施すればよい。例えば、鋼摺動部品１０が内輪である場合、図５（Ｂ）に示すとおり、中心軸に垂直な断面が円環形状の中間品１００を、中心軸周りに回転させる。そして、中間品１００の外周面に相当する摺動面１００Ｓに、中間品１００よりも硬い圧下工具３２を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、圧下工具３２を摺動面１００Ｓ上で中間品１００の回転方向に対して垂直な方向Ｍ（ここでは、中心軸に沿った方向）に相対的に摺動させて、摺動面１００Ｓを含む表層を塑性変形させ、特定集合組織領域を形成する。
【0097】
例えば、鋼摺動部品１０が外輪である場合、図５（Ｃ）に示すとおり、中心軸に垂直な断面が円環形状の中間品１００を、中心軸周りに回転させる。そして、中間品１００の内周面に相当する摺動面１００Ｓに、中間品１００よりも硬い圧下工具３２を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、圧下工具３２を摺動面１００Ｓ上で中間品１００の回転方向に対して垂直な方向Ｍ（ここでは、中心軸に沿った方向）に相対的に摺動させて、摺動面１００Ｓを含む表層を塑性変形させ、特定集合組織領域を形成する。
【0098】
例えば、鋼摺動部品１０が軌道盤である場合、図５（Ｄ）に示すとおり、中心軸に垂直な断面が円環形状の中間品１００を、中心軸周りに回転させる。そして、中間品１００の中心軸に垂直な表面に相当する摺動面１００Ｓに、中間品１００よりも硬い圧下工具３２を８．５～１５．０ＧＰａの圧力で押し当てながら、圧下工具３２を摺動面１００Ｓ上で中間品１００の回転方向に対して垂直な方向Ｍ（ここでは、中間品の径方向）に相対的に摺動させて、摺動面１００Ｓを含む表層を塑性変形させ、特定集合組織領域を形成する。
【0099】
以上の製造方法により、本実施形態の鋼摺動部品１０は製造される。上記の製造方法は本実施形態の鋼摺動部品１０の製造方法の一例である。したがって、鋼摺動部品１０が上述の構成を有すれば、本実施形態の鋼摺動部品１０は、他の製造方法により製造されてもよい。
【実施例0100】
以下、実施例により本実施形態の鋼摺動部品１０の一態様の効果をさらに具体的に説明する。以下の実施例での条件は、本実施形態の鋼摺動部品１０の実施可能性及び効果を確認するために採用した一条件例である。したがって、本実施形態の鋼摺動部品１０はこの一条件例に限定されない。
【0101】
表１に示す化学組成を有する鋼材（丸棒）を準備した。
【0102】
【表1】
【0103】
【表2】
【0104】
各試験番号の鋼材に対して、調質工程（焼入れ及び焼戻し）を実施して、ビッカース硬さ及び最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率を調整した。調質工程後の鋼材に対して、表層調整工程を実施した。具体的には、鋼材の摺動面に対して、機械加工を実施して、摺動面の表面粗さ及びＫＡＭ値を調整した。以上の工程により、各試験番号の中間品（丸棒）を製造した。なお、中間品の外周面を摺動面とした。
【0105】
［表層調整工程後の各試験番号の中間品のビッカース硬さ、残留オーステナイトの体積率、摺動面の算術平均粗さＲａ、ＫＡＭ値の測定試験］
表層調整工程後の各試験番号の中間品のビッカース硬さ、残留オーステナイトの体積率、摺動面の算術平均粗さＲａ、及びＫＡＭ値を次の方法で求めた。
表層調整工程後の各試験番号の中間品のビッカース硬さ、残留オーステナイトの体積率、摺動面の算術平均粗さＲａ、及びＫＡＭ値を次の方法で求めた。
【0106】
［中間品のビッカース硬さ］
上述の［中間品のビッカース硬さの測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の試験力１ｋＮでのビッカース硬さ（ＨＶ）を求めた。その結果、いずれの試験番号においても、ビッカース硬さの最低値は５００ＨＶ以上であった。
上述の［中間品のビッカース硬さの測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の試験力１ｋＮでのビッカース硬さ（ＨＶ）を求めた。その結果、いずれの試験番号においても、ビッカース硬さの最低値は５００ＨＶ以上であった。
【0107】
［中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率］
上述の［最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率の測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率（％）を求めた。得られた残留オーステナイト量の体積率を表２中の「残留オーステナイト体積率（体積％）」欄に示す。
上述の［最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率の測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率（％）を求めた。得られた残留オーステナイト量の体積率を表２中の「残留オーステナイト体積率（体積％）」欄に示す。
【0108】
［中間品の摺動面の算術平均粗さＲａ］
上述の［摺動面の算術平均粗さＲａの測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の摺動面の算術平均粗さＲａ（μｍ）を求めた。なお、接触式の粗さ計として、株式会社ミツトヨ製の表面粗さ測定機（商品名：サーフテストＳＪ－３０１）を用いた。得られた算術平均粗さＲａ（μｍ）を表２の「Ｒａ（μｍ）」欄に示す。
上述の［摺動面の算術平均粗さＲａの測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の摺動面の算術平均粗さＲａ（μｍ）を求めた。なお、接触式の粗さ計として、株式会社ミツトヨ製の表面粗さ測定機（商品名：サーフテストＳＪ－３０１）を用いた。得られた算術平均粗さＲａ（μｍ）を表２の「Ｒａ（μｍ）」欄に示す。
【0109】
［中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値］
上述の［最表層矩形域のＫＡＭ値の測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値を求めた。ＫＡＭ値を求めるためのＥＢＳＤ解析プログラムは、株式会社ＴＳＬソリューションズ製のＯＩＭ Ｄａｔａ Ｃｏｌｌｅｃｔｉｏｎ／Ａｎａｌｙｓｉｓ Ｖｅｒ．７．３．１を用いた。得られたＫＡＭ値を表２中の「ＫＡＭ（°）」欄に示す。
上述の［最表層矩形域のＫＡＭ値の測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値を求めた。ＫＡＭ値を求めるためのＥＢＳＤ解析プログラムは、株式会社ＴＳＬソリューションズ製のＯＩＭ Ｄａｔａ Ｃｏｌｌｅｃｔｉｏｎ／Ａｎａｌｙｓｉｓ Ｖｅｒ．７．３．１を用いた。得られたＫＡＭ値を表２中の「ＫＡＭ（°）」欄に示す。
【0110】
表層調整工程後の中間品に対して、最表層結晶方位調整工程を実施した。具体的には、図５に示す表層塑性加工装置３０を用いて、各試験番号の中間品の摺動面（外周面）に対して、表層塑性加工を実施した。圧下工具３２として、ダイヤモンドチップを用いた。表層塑性加工時の圧力Ｐ１は、表２の「Ｐ１（ＧＰａ）」欄に記載のとおりであった。以上の製造工程により、各試験番号の摺動部品（丸棒）を製造した。
【0111】
［評価試験］
各試験番号の鋼部品に対して、次の評価試験を実施した。
各試験番号の鋼部品に対して、次の評価試験を実施した。
【0112】
［最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率測定試験］
上述の［最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率の測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の鋼摺動部品（丸棒）の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率（％）を求めた。なお、方位マッピングは、株式会社ＴＳＬソリューションズ製のＯＩＭ Ｄａｔａ Ｃｏｌｌｅｃｔｉｏｎ／Ａｎａｌｙｓｉｓ Ｖｅｒ．７．３．１を用いてコンピュータに実行させて作成した。得られた｛２０３｝結晶方位の面積率（％）を表２中の「｛２０３｝面積率（％）」欄に示す。
上述の［最表層矩形域２０の｛２０３｝結晶方位の面積率の測定方法］に記載の方法に基づいて、各試験番号の鋼摺動部品（丸棒）の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率（％）を求めた。なお、方位マッピングは、株式会社ＴＳＬソリューションズ製のＯＩＭ Ｄａｔａ Ｃｏｌｌｅｃｔｉｏｎ／Ａｎａｌｙｓｉｓ Ｖｅｒ．７．３．１を用いてコンピュータに実行させて作成した。得られた｛２０３｝結晶方位の面積率（％）を表２中の「｛２０３｝面積率（％）」欄に示す。
【0113】
［最大静止摩擦係数測定試験］
各試験番号の鋼摺動部品に対して、ブロックオンリング試験を実施して、最大静止摩擦係数を求めた。
各試験番号の鋼摺動部品に対して、ブロックオンリング試験を実施して、最大静止摩擦係数を求めた。
【0114】
図６は、ブロックオンリング試験の模式図である。図６を参照して、ブロックオンリング試験機２００は、潤滑油２０２を貯めた浴槽２０１と、リング試験片２０３とを備えた。潤滑油２０２として、１００℃における動粘度が５．４ｍｍ２／ｓの市販のエンジンオイルを使用した。
【0115】
各試験番号の鋼摺動部品からリング試験片２０３を作成した。リング試験片２０３の外径Ｄ０は、鋼摺動部品の外径と同じ３４．９９ｍｍであった。リング試験片２０３の幅Ｗ０は８．７４ｍｍであった。リング試験片２０３の外周面は、各試験番号の鋼摺動部品の摺動面に相当した。
【0116】
ブロック試験片３００の材質は、ＳＡＥＯ１とした。ブロック試験片３００の表面のうち、リング試験片２０３の周面と対向する表面（対向面という）は長さ１５．７５ｍｍ×幅６．３５ｍｍであった。
【0117】
図６に示すとおり、リング試験片２０３の下部を浴槽２０１中の潤滑油２０２内に漬けた。そして、リング試験片２０３の上方にブロック試験片３００を配置した。このとき、ブロック試験片３００の対向面の長手方向が、リング試験片２０３の周方向となるように、ブロック試験片３００を配置した。
【0118】
以上の準備をした後、次の工程１～工程４を１０回繰り返した。
工程１：
ブロック試験片３００の上方から下方に向かって１００Ｎの圧力Ｐで、ブロック試験片
３００をリング試験片２０３の周面に押し付けた。
工程２：
潤滑油２０２を、ブロック試験片３００の対向面と、リング試験片２０３の周面との間から排出させるため、工程１の状態で３０秒保持した。
工程３：
すべり速度０．１ｍ／秒（５５ｒｐｍ）で、リング試験片２０３の回転を開始し、その後、３０秒回転させた。
工程４：
３０秒回転させた後、圧力Ｐを除荷した。その後、リング試験片２０３の回転を停止した。
工程１：
ブロック試験片３００の上方から下方に向かって１００Ｎの圧力Ｐで、ブロック試験片
３００をリング試験片２０３の周面に押し付けた。
工程２：
潤滑油２０２を、ブロック試験片３００の対向面と、リング試験片２０３の周面との間から排出させるため、工程１の状態で３０秒保持した。
工程３：
すべり速度０．１ｍ／秒（５５ｒｐｍ）で、リング試験片２０３の回転を開始し、その後、３０秒回転させた。
工程４：
３０秒回転させた後、圧力Ｐを除荷した。その後、リング試験片２０３の回転を停止した。
【0119】
工程１～工程４の実施中において、ブロック試験片３００に加わる力Ｆを、ロードセルで測定した。そして、次の式により摩擦係数μ（－）を求めた。
Ｆ＝μＰ
得られた摩擦係数μと試験時間との関係とを求めた。図７は、２回目以降の回転試験の摩擦係数のグラフの一例を示す図である。図７のグラフの横軸は時間、縦軸は摩擦係数である。図７を参照して、リング回転時の摩擦係数のピーク（図中の丸領域内）を、静止摩擦係数と定義した。２回目～１０回目の試験で得られた静止摩擦係数の算術平均値を、各試験番号の静止摩擦係数（－）と定義した。得られた静止摩擦係数を表２中の「静止摩擦係数（－）」欄に示す。
Ｆ＝μＰ
得られた摩擦係数μと試験時間との関係とを求めた。図７は、２回目以降の回転試験の摩擦係数のグラフの一例を示す図である。図７のグラフの横軸は時間、縦軸は摩擦係数である。図７を参照して、リング回転時の摩擦係数のピーク（図中の丸領域内）を、静止摩擦係数と定義した。２回目～１０回目の試験で得られた静止摩擦係数の算術平均値を、各試験番号の静止摩擦係数（－）と定義した。得られた静止摩擦係数を表２中の「静止摩擦係数（－）」欄に示す。
【0120】
なお、１回目の試験では、潤滑油がリング試験片２０３に十分に馴染んでいないため、１回目の試験で得られた静止摩擦係数は、２回目～１０回目の試験で得られた静止摩擦係数よりも顕著に大きかった。そのため、１回目の試験で得られた静止摩擦係数は対象から除外した。
【0121】
［動摩擦係数測定試験］
各試験番号の鋼部品に対して、静止摩擦係数測定試験と同様のブロックオンリング試験を実施して、動摩擦係数を求めた。
各試験番号の鋼部品に対して、静止摩擦係数測定試験と同様のブロックオンリング試験を実施して、動摩擦係数を求めた。
【0122】
図６に示すブロックオンリング試験において、潤滑油２０２の動粘度、リング試験片２０３の外径Ｄ０、及びリング試験片２０３の幅Ｗ０、ブロック試験片３００の材質、ブロック試験片３００の表面のうちリング試験片２０３の周面と対向する対向面のサイズは、いずれも、静止摩擦係数測定試験と同じであった。
【0123】
図６に示すとおり、リング試験片２０３の下部を浴槽２０１中の潤滑油２０２内に漬けた。そして、リング試験片２０３の上方にブロック試験片３００を配置した。このとき、ブロック試験片３００の対向面の長手方向が、リング試験片２０３の周方向となるように、ブロック試験片３００を配置した。
【0124】
以上の準備をした後、次の工程１～工程３を行った。
工程１：
すべり速度１．０ｍ／秒（５５０ｒｐｍ）で、リング試験片２０３の回転を開始した。
工程２：
ブロック試験片３００の上方から下方に向かって３００Ｎの圧力Ｐで、ブロック試験片
３００をリング試験片２０３の周面に押し付けた。
工程３：
２１００秒回転させた後、圧力Ｐを除荷した。その後、リング試験片２０３の回転を停止した。
工程１：
すべり速度１．０ｍ／秒（５５０ｒｐｍ）で、リング試験片２０３の回転を開始した。
工程２：
ブロック試験片３００の上方から下方に向かって３００Ｎの圧力Ｐで、ブロック試験片
３００をリング試験片２０３の周面に押し付けた。
工程３：
２１００秒回転させた後、圧力Ｐを除荷した。その後、リング試験片２０３の回転を停止した。
【0125】
工程１～工程３の実施中において、ブロック試験片３００に加わる力Ｆを、ロードセルで測定した。そして、次の式により摩擦係数μ（－）を求めた。
Ｆ＝μＰ
２１００秒間の回転中に得られた摩擦係数μのうち、１５００秒～２０００秒における算術平均値を、各試験番号の動摩擦係数（－）と定義した。得られた動摩擦係数を表２中の「動摩擦係数（－）」欄に示す。
Ｆ＝μＰ
２１００秒間の回転中に得られた摩擦係数μのうち、１５００秒～２０００秒における算術平均値を、各試験番号の動摩擦係数（－）と定義した。得られた動摩擦係数を表２中の「動摩擦係数（－）」欄に示す。
【0126】
［試験結果］
試験番号１～２０は、最表層結晶方位調整工程前の中間品のビッカース硬さ、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率、摺動面の算術平均粗さＲａ、及び、最表層矩形域のＫＡＭ値が適切であった。さらに、最表層結晶方位調整工程での圧力Ｐ１が適切であった。そのため、製造された鋼摺動部品の中心軸を含む断面のうち、摺動面を含み摺動面から深さが１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域での摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率は、７．０％以上であった。その結果、静止摩擦係数が０．１６３以下と低く、動摩擦係数も０．０７６以下と低かった。
試験番号１～２０は、最表層結晶方位調整工程前の中間品のビッカース硬さ、最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率、摺動面の算術平均粗さＲａ、及び、最表層矩形域のＫＡＭ値が適切であった。さらに、最表層結晶方位調整工程での圧力Ｐ１が適切であった。そのため、製造された鋼摺動部品の中心軸を含む断面のうち、摺動面を含み摺動面から深さが１０μｍ、幅５０μｍの最表層矩形域での摺動面と平行な方向の結晶方位解析により得られる｛２０３｝結晶方位の面積率は、７．０％以上であった。その結果、静止摩擦係数が０．１６３以下と低く、動摩擦係数も０．０７６以下と低かった。
【0127】
試験番号２１及び２２では、最表層結晶方位調整工程前の中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が低すぎた。そのため、鋼摺動部品の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率は、７．０％未満であった。そのため、静止摩擦係数が０．１６３よりも高く、動摩擦係数も０．０７６よりも高かった。
【0128】
試験番号２３及び２４では、最表層結晶方位調整工程前の中間品の最表層矩形域の残留オーステナイトの体積率が高すぎた。そのため、鋼摺動部品の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率は、７．０％未満であった。そのため、静止摩擦係数が０．１６３よりも高く、動摩擦係数も０．０７６よりも高かった。
【0129】
試験番号２５及び２６では、最表層結晶方位調整工程前の中間品の摺動面の算術平均粗さＲａが低すぎた。そのため、鋼摺動部品の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率は、７．０％未満であった。そのため、静止摩擦係数が０．１６３よりも高く、動摩擦係数も０．０７６よりも高かった。
【0130】
試験番号２７及び２８では、最表層結晶方位調整工程前の中間品の最表層矩形域のＫＡＭ値が低すぎた。そのため、鋼摺動部品の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率は、７．０％未満であった。そのため、静止摩擦係数が０．１６３よりも高く、動摩擦係数も０．０７６よりも高かった。
【0131】
試験番号２９及び３０では、最表層結晶方位調整工程での圧力Ｐ１が低すぎた。そのため、鋼部品の最表層矩形域での｛２０３｝結晶方位の面積率は、７．０％未満であった。そのため、静止摩擦係数が０．１６３よりも高く、動摩擦係数も０．０７６よりも高かった。
【0132】
以上、本開示の実施の形態を説明した。しかしながら、上述した実施の形態は本開示を実施するための例示に過ぎない。したがって、本開示は上述した実施の形態に限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲内で上述した実施の形態を適宜変更して実施することができる。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4A】
【図4B】
【図5】
【図6】
【図7】