(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024062967
(43)【公開日】2024-05-10
(54)【発明の名称】ポリマー、感光性組成物、ドライフィルムフォトレジスト、およびリソグラフィの方法
(51)【国際特許分類】
C08G 59/16 20060101AFI20240501BHJP
G03F 7/023 20060101ALI20240501BHJP
G03F 7/004 20060101ALI20240501BHJP
G03F 7/20 20060101ALI20240501BHJP
【FI】
C08G59/16
G03F7/023
G03F7/004 512
G03F7/20 501
G03F7/20 521
【審査請求】有
【請求項の数】14
【出願形態】OL
【外国語出願】
(21)【出願番号】P 2023183319
(22)【出願日】2023-10-25
(31)【優先権主張番号】111140376
(32)【優先日】2022-10-25
(33)【優先権主張国・地域又は機関】TW
(31)【優先権主張番号】112129667
(32)【優先日】2023-08-08
(33)【優先権主張国・地域又は機関】TW
(71)【出願人】
【識別番号】390023582
【氏名又は名称】財團法人工業技術研究院
【氏名又は名称原語表記】INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
【住所又は居所原語表記】No.195,Sec.4,ChungHsingRd.,Chutung,Hsinchu,Taiwan 31040
(74)【代理人】
【識別番号】110001494
【氏名又は名称】前田・鈴木国際特許弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】許玉瑩
(72)【発明者】
【氏名】黄耀正
(72)【発明者】
【氏名】呉明宗
(72)【発明者】
【氏名】張金華
(72)【発明者】
【氏名】張徳宜
【テーマコード(参考)】
2H197
2H225
4J036
【Fターム(参考)】
2H197CA05
2H197CE10
2H197HA03
2H197JA22
2H225AF03P
2H225AM79P
2H225AM92P
2H225AN39P
2H225AN59P
2H225BA01P
2H225CA13
2H225CB02
2H225CC03
2H225CC21
4J036AC02
4J036AC03
4J036AD08
4J036CA26
4J036FA12
4J036HA02
4J036JA09
(57)【要約】 (修正有)
【課題】PCBプロセスに用いられる、炭酸ナトリウム溶液を使用して現像することができるポジ型フォトレジストを形成するための、新規なフォトレジスト組成物を提供する。
【解決手段】ポリマーは、特定のフェノール型エポキシ樹脂または特定のビスフェノール型エポキシ樹脂とカルボン酸との反応により形成される。前記カルボン酸は次の化学構造のいずれか、またはこれらの組み合わせを有する。
(式中、Arはベンゼンまたはナフタレンであり、Xはヒドロキシ基、アルコキシ基、またはアルキル基であり、かつ少なくとも1つのXがヒドロキシ基であり、m=1から3である。R
2はC
3-7アルキル基である。)
【選択図】なし
【特許請求の範囲】
【請求項1】
フェノール型エポキシ樹脂またはビスフェノール型エポキシ樹脂とカルボン酸との反応により形成されるポリマーであって、
前記フェノール型エポキシ樹脂が次の化学構造を有し、
【化1】
(式中、WはH、アルキル基、またはハロゲンであり、R
1はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化2】
であり、n=1から8である。)
前記ビスフェノール型エポキシ樹脂が次の化学構造を有し、
【化3】
(式中、ZはHまたはアルキル基であり、R
4はメチレン、メチルメチレン、ジメチルメチレン、エチルメチルメチレン、ビ(トリフルオロメチル)メチレン、フルオレニリデン、またはスルホニル基であり、p=1から10である。)
前記カルボン酸が次の化学構造のいずれか、またはこれらの組み合わせを有する、
【化4】
(式中、Arはベンゼンまたはナフタレンであり、Xはヒドロキシ基、アルコキシ基、またはアルキル基であり、かつ少なくとも1つのXがヒドロキシ基であり、m=1から3である。R
2はC
3-7アルキル基である。)
ポリマー。
【請求項2】
次の化学構造のいずれかを有する請求項1に記載のポリマー。
【化5】
【化6】
(式中、R
11はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化7】
であり、R
12はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化8】
であり、R
13はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化9】
である。)
【請求項3】
無水物とさらに反応させて変性ポリマーを形成させ、前記無水物が次の化学構造を有し、
【化10】
(式中、Yは
【化11】
またはこれらの組み合わせである。)
かつ、前記変性ポリマーの酸価が0から100mg KOH/gである、請求項1に記載のポリマー。
【請求項4】
前記変性ポリマーが次の化学構造のいずれかを有する、請求項3に記載のポリマー。
【化12】
【化13】
(式中、R
21はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化14】
であり、R
22はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化15】
であり、R
23はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化16】
であり、R
3は
【化17】
である。)
【請求項5】
請求項1に記載のポリマー100重量部と、
感光性化合物15から90重量部と
を含む感光性組成物。
【請求項6】
前記感光性化合物にはジアゾナフトキノン系化合物が含まれる、請求項5に記載の感光性組成物。
【請求項7】
溶媒200から1000重量部をさらに含む請求項5に記載の感光性組成物。
【請求項8】
前記溶媒にはプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、酢酸n-ブチル、酢酸エチル、γ-ブチロラクトン、シクロヘキサノンまたはこれらの組み合わせが含まれる、請求項7に記載の感光性組成物。
【請求項9】
フェノール樹脂40から200重量部をさらに含む請求項5に記載の感光性組成物。
【請求項10】
支持膜と保護膜との間に介在させた感光性フィルムを含むドライフィルムフォトレジストであって、前記感光性フィルムが請求項5に記載の感光性組成物を含む、ドライフィルムフォトレジスト。
【請求項11】
前記保護膜の離型力が1gから100gであり、前記支持膜の離型力が150gから500gである、請求項10に記載のドライフィルムフォトレジスト。
【請求項12】
リソグラフィの方法であって、
材料層を準備するステップと、
前記材料層上にフォトレジスト層を形成するステップであって、前記フォトレジスト層は請求項5に記載の感光性組成物を含むものである、ステップと、
前記フォトレジスト層を露光して、前記フォトレジスト層が露光部分および未露光部分を有するようにするステップと、
アルカリ溶液を用いて前記フォトレジスト層を現像し、前記フォトレジスト層の前記未露光部分を残したまま、前記フォトレジスト層の前記露光部分を除去することにより、前記材料層の一部を露出させるステップと、
を含むリソグラフィの方法。
【請求項13】
前記アルカリ溶液が炭酸ナトリウム溶液、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液またはこれらの組み合わせである、請求項12に記載のリソグラフィの方法。
【請求項14】
前記材料層の露出した部分をエッチングするステップ、前記材料層の露出した部分に注入を行う(implanting)ステップ、または前記材料層の露出した部分に別の材料層を堆積するステップをさらに含む請求項12に記載のリソグラフィの方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本技術分野はポリマーに関し、より詳細には、ポリマーの感光性組成物への応用に関する。
【背景技術】
【0002】
リソグラフィプロセスに用いられるフォトレジストは一般にポジ型フォトレジストとネガ型フォトレジストとに分けられる。ほとんどのポジ型フォトレジストはウェットプロセスを用いて塗布され、そして水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)溶液を用いて現像されており、プリント回路板(PCB)プロセスに用いることはできない。ネガ型フォトレジストは、ドライフィルムフォトレジストに作製することができ、炭酸ナトリウム溶液を用いて現像することができる。よって、ネガ型フォトレジストはPCBプロセスに用いることができるが、現像後の解像度は悪い。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】米国特許第6783828B2号明細書
【特許文献2】台湾特許第I396043B号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
PCBプロセスに用いられる、炭酸ナトリウム溶液を使用して現像することができるポジ型フォトレジストを形成するために、新規なフォトレジスト組成物が求められている。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本開示の一実施形態は、フェノール型エポキシ樹脂またはビスフェノール型エポキシ樹脂とカルボン酸との反応により形成されるポリマーを提供する。フェノール型エポキシ樹脂は次の化学構造を有する。
【0006】
【0007】
式中、WはH、アルキル基、またはハロゲンであり、R
1はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化2】
であり、n=1から8である。
【0008】
ビスフェノール型エポキシ樹脂は次の化学構造を有する。
【0009】
【0010】
式中、ZはHまたはアルキル基であり、R4はメチレン、メチルメチレン、ジメチルメチレン、エチルメチルメチレン、ビ(トリフルオロメチル)メチレン、フルオレニリデン、またはスルホニル基であり、p=1から10である。
【0011】
カルボン酸は、次の化学構造のいずれか、またはこれらの組み合わせを有する。
【0012】
【0013】
式中、Arはベンゼンまたはナフタレンであり、Xはヒドロキシ基、アルコキシ基、またはアルキル基であり、かつ少なくとも1つのXがヒドロキシ基であり、m=1から3である。R2はC3-7アルキル基である。
【0014】
本開示の一実施形態は、ポリマー100重量部と、感光性化合物15から90重量部とを含む感光性組成物を提供する。
【0015】
本開示の一実施形態は、支持膜と保護膜との間に介在させた感光性フィルムを含むドライフィルムフォトレジストを提供し、感光性フィルムは感光性組成物を含む。
【0016】
本開示の一実施形態は、材料層を準備するステップと、材料層上にフォトレジスト層を形成するステップであって、フォトレジスト層は感光性組成物を含むものである、ステップと、フォトレジスト層が露光部分および未露光部分を有するようにフォトレジスト層を露光するステップと、アルカリ溶液を用いてフォトレジスト層を現像し、フォトレジスト層の未露光部分を残したままでフォトレジスト層の露光部分を除去することにより、材料層の一部を露出させるステップと、を含むリソグラフィの方法を提供する。
【発明の効果】
【0017】
本開示のポジ型フォトレジストは、炭酸ナトリウム溶液で現像することができ、PCBプロセスに用いることができる。
【0018】
以下の実施形態において詳細な説明を行う。
【発明を実施するための形態】
【0019】
以下の詳細な記載においては、説明の目的で、開示される実施形態がより充分に理解されるよう、多数の特定の詳細が示される。しかしながら、これら特定の詳細が無くとも1つまたはそれ以上の実施形態が実施可能であるというとは明らかであろう。
【0020】
本開示の一実施形態は、フェノール型エポキシ樹脂またはビスフェノール型エポキシ樹脂とカルボン酸との反応により形成されるポリマーを提供する。フェノール型エポキシ樹脂は次の化学構造を有する。
【0021】
【0022】
式中、WはH、アルキル基、またはハロゲンである。R
1はメチレン(-CH
2-)、ジメチレンジフェニル(
【化6】
)、ジメチレンベンゼン(
【化7】
)、テトラヒドロジシクロペンタジエン(
【化8】
)、または
【化9】
であり、n=1から8である。nが大きすぎると、ポリマーを含む感光性組成物の溶解度および現像解像度が低下してしまう。ビスフェノール型エポキシ樹脂は次の化学構造を有する。
【0023】
【0024】
式中、ZはHまたはアルキル基である。R
4はメチレン、メチルメチレン(-CH(CH
3)-)、ジメチルメチレン(-C(CH
3)
2-)、エチルメチルメチレン(-C(CH
3)(C
2H
5)-)、ビ(トリフルオロメチル)メチレン(-C(CF
3)
2-)、フルオレニリデン(
【化11】
)、またはスルホニル基(-SO
2-)である。p=1から10である。pが大きすぎると、ポリマーを含む感光性組成物の溶解度および現像解像度が低下してしまう。カルボン酸は次の化学構造のいずれか、またはこれらの組み合わせを有する。
【0025】
【0026】
Arはベンゼンまたはナフタレンである。Xはヒドロキシ基,アルコキシ基、またはアルキル基であり、少なくとも1つのXはヒドロキシ基であり、m=1から3であり、R2はC3-7アルキル基である。Arにヒドロキシ基が無いと、マスク上の画像が、ポジ型ドライフィルムフォトレジストとして用いられるポリマーに転写され得ない。R2の炭素数が小さすぎる、または大きすぎると、マスク上の画像が、ポジ型ドライフィルムフォトレジストとして用いられるポリマーに転写され得ない。
【0027】
いくつかの実施形態において、フェノール型エポキシ樹脂は、クレゾール系フェノールエポキシ樹脂、ビスクレゾール系フェノールエポキシ樹脂、トリクレゾール系フェノールエポキシ樹脂、またはこれらの組み合わせである。いくつかの実施形態において、ビスフェノール型エポキシ樹脂はビスフェノールAエポキシ樹脂、ビスフェノールEエポキシ樹脂、ビスフェノールFエポキシ樹脂、ビスフェノールBエポキシ樹脂、ビスフェノールAFエポキシ樹脂、ビスフェノールSエポキシ樹脂、またはこれらの組み合わせである。いくつかの実施形態において、カルボン酸はヒドロキシ芳香族酸(hydroxy aromatic acid)、例えばヒドロキシ安息香酸、ジヒドロキシ安息香酸、トリヒドロキシ安息香酸、ヒドロキシナフトエ酸、またはこれらの組み合わせである。
【0028】
いくつかの実施形態において、ポリマーは次の化学構造のいずれかを有する。
【0029】
【0030】
式中、R
11はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化15】
であり、R
12はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化16】
であり、R
13はメチレン、 ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化17】
である。
【0031】
いくつかの実施形態においては、ポリマーをさらに無水物と反応させて、変性ポリマーを形成する。無水物は次の化学構造を有する。
【0032】
【0033】
式中、Yは
【化19】
またはこれらの組み合わせであり、かつ変性ポリマーの酸価は0から100mg KOH/gである。変性ポリマーの酸価が高すぎると、感光性組成物が現像に耐えられないものとなってしまう。いくつかの実施形態において、無水物はヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水フタル酸またはこれらの組み合わせである。いくつかの実施形態において、ポリマーまたは変性ポリマーの重量平均分子量は2000から50000である。ポリマーまたは変性ポリマーの重量平均分子量が低すぎると、感光性組成物をフィルムに形成できなくなってしまう。
【0034】
いくつかの実施形態において、変性ポリマーは次の化学構造のいずれかを有する。
【0035】
【0036】
式中、R
21はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化22】
であり、R
22はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化23】
であり、R
23はメチレン、ジメチレンジフェニル、ジメチレンベンゼン、テトラヒドロジシクロペンタジエン、または
【化24】
であり、R
3は
【化25】
である。
【0037】
本開示の一実施形態は、ポリマー100重量部と、感光性化合物15から90重量部とを含む感光性組成物を提供する。感光性化合物の量が少なすぎると、感光性組成物の感光性が不充分となり、感光性組成物が現像に耐えられないものとなってしまう。感光性化合物の量が多すぎると、感光性組成物の溶解度および現像性が悪くなってしまう。いくつかの実施形態において、感光性化合物にはジアゾナフトキノン系化合物が含まれる。
【0038】
いくつかの実施形態において、感光性組成物は溶媒200から1000重量部をさらに含む。溶媒の量が少なすぎると、ポリマーおよび感光性化合物が溶媒中に均一に分散されず、フォトレジスト層(感光性組成物を塗布および乾燥することにより形成される)の組成が不均一となり得る。溶媒の量が多すぎると、その後に溶媒を除去するためのコストが増加してしまい、かつ厚いフォトレジスト層を形成するのが難しくなる。いくつかの実施形態において、溶媒にはプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、酢酸n-ブチル、酢酸エチル、γ-ブチロラクトン、シクロヘキサノンまたはこれらの組み合わせが含まれる。
【0039】
いくつかの実施形態において、感光性組成物はフェノール樹脂40から200重量部をさらに含んでいてよい。フェノール樹脂は、クレゾール系、ビスクレゾール系、トリクレゾール系またはこれらの組み合わせであり得る。フェノール樹脂の量が多すぎると、感光性組成物の現像性が悪くなってしまう。フェノール樹脂の重量平均分子量は5000から50000であってよい。フェノール樹脂の重量平均分子量が低すぎると、感光性組成物をフィルムに形成することができなくなってしまう。フェノール樹脂の重量平均分子量が高すぎると、感光性組成物を現像することができなくなる。
【0040】
本開示の一実施形態は、支持膜と保護膜との間に介在させた感光性フィルムを含むドライフィルムフォトレジストを提供し、感光性フィルムは感光性組成物を含む。支持膜の離型力は150gから500gであり、保護膜の離型力は1gから100gである。いくつかの実施形態において、感光性フィルムの厚さは6マイクロメートルから18マイクロメートルとすることができ、実際のリソグラフィプロセスにおけるフォトレジスト層に求められる厚さにより決まる。
【0041】
例えば、感光性組成物の溶液を支持膜に塗布して乾燥させることができ、かつ保護膜を乾燥した感光性組成物(感光性フィルム)に貼付することができ、これによりポジ型ドライフィルムフォトレジストが形成される。転写プロセスにおいて、保護膜を剥がし、乾燥した感光性組成物(感光性フィルム)を、例えばウエハーまたは銅張積層板のような材料層に貼付する。加熱したローラーを用いて支持膜に圧力を加え、乾燥した感光性組成物(感光性フィルム)を材料層上に転写する。次いで、支持膜を剥がし、後続の露光および現像プロセスを行う。
【0042】
本開示の一実施形態は、材料層を準備するステップと、材料層上にフォトレジスト層を形成するステップとを含み、フォトレジスト層が感光性組成物を含むものである、リソグラフィの方法を提供する。フォトレジスト層を形成する方法は、ウェットコーティング、または上記ポジ型ドライフィルムフォトレジスト中のフォトレジストフィルムの材料層上への転写とすることができる。フォトレジスト層が確実に露光部分および未露光部分を有することとなるように、フォトレジスト層を露光する。アルカリ溶液を用いてフォトレジスト層を現像し、フォトレジスト層の未露光部分を残したまま、フォトレジスト層の露光部分を除去することにより、材料層の一部を露出させる。いくつかの実施形態において、アルカリ溶液は、炭酸ナトリウム溶液、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液、またはこれらの組み合わせである。本開示より前に、炭酸ナトリウム溶液を用いて現像できるポジ型ドライフィルムフォトレジストは無かった、という点に留意されたい。いくつかの実施形態において、当該方法は、材料層の露出した部分をエッチングするステップ、材料層の露出した部分に注入を行う(implanting)ステップ、または材料層の露出した部分に別の材料層を堆積するステップをさらに含む。例えば、材料層は基板材料、または基板上に形成される導電層、誘電層、もしくは半導体層であってよい。
【0043】
以下に、当該分野において通常の知識を有する者が容易に理解できるよう、例示的な実施形態を詳細に記載する。本発明の概念は、ここに示される例示的な実施形態に限定されることなく様々な形式で具体化され得る。明確とするために、周知の部分の記載は省き、かつ全体を通して類似する参照数字は類似する構成要素を示すものとする。
【実施例0044】
以下の実施例において、フェノール型エポキシ樹脂はNippon Kayakuより市販されているものとした。ビスフェノール型エポキシ樹脂はEPON 828(Shell Chemicalより市販されている)とした。触媒はクロミウム(III)アセチルアセトネート-トリフェニルホスファイト(chromium(III) acetylacetonate-triphenyl phosphite)とした。抑制剤はヒドロキノン(HQと略す)とした。ポリマーの重量平均分子量はGPCで測定し、標準試料はポリスチレンとした。感光性化合物は2,3,4-トリヒドロキシベンゾフェノンナフトキノン-1,2-ジアジド-5スルホネート(DNQと略す)とした。
【0045】
ポジ型ドライフィルムフォトレジストを形成するのに、支持膜を離型力300gのPETフィルム(Nanya Plastics Co.またはShinkong Synthetic Fibers Co.から市販されている)とし、保護膜を離型力30gのPETフィルム(Nanya Plastics Co.またはShinkong Synthetic Fibers Co.から市販されている)とした。感光性組成物の溶液を支持膜に塗布してから、乾燥させて感光性フィルム(つまり、乾燥した感光性組成物)を形成した。次いで、保護膜を感光性フィルムに貼付してポジ型ドライフィルムフォトレジストを形成した。転写プロセスにおいて、保護膜を剥がし、感光性フィルムをウエハーに貼付し、95℃でローラーにより2.5kg/cm2の圧力を支持膜に加えて感光性フィルムがウエハーに転写されるようにした。次いで、支持膜を剥がして後続の露出プロセスおよび現像プロセスを行った。
【0046】
実施例1
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H(Nippon Kayakuから市販されている)24.4g、4-ヒドロキシ安息香酸(4-HBA)20.1g 、触媒0.13g 、HQ 0.04g、およびプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)47gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸8.3gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は83mg KOH/g、重量平均分子量は6500であった。上記フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502Hは次の化学構造を有する。
【0047】
【0048】
n=1から3である。
【0049】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAと酢酸n-ブチル(BA)、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて20秒から40秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0050】
実施例2
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 25.0g、4-HBA 20.6g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 48gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸6.2gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は58mg KOH/g、重量平均分子量は5200であった。
【0051】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて30秒から50秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0052】
実施例3
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 25.7g、4-HBA 21.2g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 49.4gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸3.5gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は50mg KOH/g、重量平均分子量は5300であった。
【0053】
変性ポリマー23重量部、DNQ 8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、 v/v=9/1)69重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて30秒から50秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0054】
実施例4
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 30.0g、4-HBA 24.8g、触媒0.03g、HQ 0.06g、およびPGMEA 45gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は27mg KOH/g、重量平均分子量は5700であった。
【0055】
ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0056】
実施例5
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 27.3g、4-HBA 22.5g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は0mg KOH/g、重量平均分子量は5500であった。
【0057】
ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて30秒から50秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0058】
実施例6
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 24.6g、3-ヒドロキシ安息香酸(3-HBA)20.3g、触媒0.13g、HQ 0.04 g、およびPGMEA 45.2gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸9.8gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は80mg KOH/g、重量平均分子量は2900であった。
【0059】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて20秒から40秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0060】
実施例7
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 24.5g、3-HBA 20.2g、触媒0.13g、HQ 0.04g、およびPGMEA 47.2gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸8.0gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は65mg KOH/g、重量平均分子量は3300であった。
【0061】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、 v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて30秒から50秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0062】
実施例8
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 26.2g、3-HBA 21.6g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 48gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸4.0gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は37mg KOH/g、重量平均分子量は2700であった。
【0063】
変性ポリマー23重量部、DNQ 3.5重量部、および溶媒(PGMEAとBA、 v/v=9/1)73.5重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から80秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0064】
実施例9
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 30g、3-HBA 24.8g、触媒0.03g、HQ 0.06g、およびPGMEA 45gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は7mg KOH/g、重量平均分子量は3000であった。
【0065】
ポリマー23重量部、DNQ 5.1重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.9重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて100秒から120秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0066】
実施例10
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 27.3g、3-HBA 22.5g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は0mg KOH/g、重量平均分子量は2800であった。
【0067】
ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0068】
実施例11
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 24.5g、2-ヒドロキシ安息香酸(2-HBA)20.2g、触媒0.13g、HQ 0.04g、およびPGMEA 47.2gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸8.0gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は88mg KOH/g、重量平均分子量は3500であった。
【0069】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、 v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は悪かった(目視で沈殿物が見られた)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量1000mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて100秒から150秒現像した。これにより、解像度50マイクロメートルのパターンが得られた。
【0070】
実施例12
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 26g、2,6-ジヒドロキシ安息香酸(2,6-DHBA)23.8g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は7mg KOH/g、重量平均分子量は46000であった。
【0071】
ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量1000mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて100秒から150秒現像した。これにより、解像度50マイクロメートルのパターンが得られた。
【0072】
実施例13
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 26g、2,4-ジヒドロキシ安息香酸(2,4-DHBA)23.8g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は49mg KOH/g、重量平均分子量は11000であった。
【0073】
ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて90秒から120秒現像した。これにより、解像度50マイクロメートルのパターンが得られた。
【0074】
実施例14
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 26g、3,5-ジヒドロキシ安息香酸(3,5-DHBA)23.8g、触媒0.14g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は9mg KOH/g、重量平均分子量は3000であった。
【0075】
ポリマー23重量部、DNQ 5.1重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.9重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて90秒から120秒現像した。これにより、解像度50マイクロメートルのパターンが得られた。
【0076】
実施例15
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 23.5g、3-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸(3H2NA)26.3g、触媒0.12g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は52mg KOH/g、重量平均分子量は11800であった。
【0077】
ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は悪かった(目視で沈殿物が見られた)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量1000mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて100秒から150秒現像した。これにより、解像度50マイクロメートルのパターンが得られた。
【0078】
実施例16
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 40.2g、ペンタン酸24.5g、触媒0.06g、HQ 0.07g、およびPGMEA 35.2gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は25mg KOH/g、重量平均分子量は2400であった。
【0079】
ポリマー12重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000、Sumitomoto Bakeliteから市販されている)10.2重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量400mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0080】
実施例17
実施例16で合成されたポリマー7.5重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)15重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量400mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0081】
実施例18
実施例16で合成されたポリマー15重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)7.5重量部、DNQ 3.5重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)74.3重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量400mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0082】
実施例19
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 36.4g、ペンタン酸22.2g、触媒0.19g、HQ 0.07g、およびPGMEA 35.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸6.1gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は61mg KOH/g、重量平均分子量は2500であった。
【0083】
変性ポリマー12重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000、Sumitomoto Bakeliteから市販されている)10.2重量部、DNQ 8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)69.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量400mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0084】
実施例20
実施例19で合成されたポリマー7.5重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)15重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量400mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0085】
実施例21
実施例19で合成されたポリマー15重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)7.5重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量400mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0086】
実施例22
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 40.2g、プロパン酸17.7g、触媒0.21g、HQ 0.07g、およびPGMEA 35.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸6.7gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は55mg KOH/g、重量平均分子量は2700であった。
【0087】
変性ポリマー12重量部、フェノール樹脂 PR56001(重量平均分子量は5000)10.2重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製したが、ウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成することはできなかった。
【0088】
実施例23
実施例22で合成された変性ポリマー12重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)10.2重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製したが、ウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成することはできなかった。
【0089】
実施例24
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 29g、安息香酸21.1g、触媒0.15g、HQ 0.06g、およびPGMEA 40.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸9.7gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は80mg KOH/g、重量平均分子量は2500であった。
【0090】
変性ポリマー12重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000、)10.2重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製したが、ウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成することはできなかった。
【0091】
実施例25
実施例24で合成された変性ポリマー12重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)10.2重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製したが、ウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成することはできなかった。
【0092】
実施例26
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 31.5g、安息香酸22.9g、触媒0.16g、HQ 0.07g、およびPGMEA 40.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸5.3gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は46mg KOH/g、重量平均分子量は2500であった。
【0093】
変性ポリマー12重量部、フェノール樹脂 PR56032(重量平均分子量は50000、)10.2重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製したが、ウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成することはできなかった。
【0094】
実施例27
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-201(Nippon Kayakuから市販されている)28.8g、4-HBA 21g、触媒0.13g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は0mg KOH/g、重量平均分子量は5200であった。上記フェノール型エポキシ樹脂EPPN-201は次の化学構造を有する。
【0095】
【0096】
n≒6である。
【0097】
ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて70秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0098】
実施例28
フェノール型エポキシ樹脂EOCN-102S(Nippon Kayakuから市販されている)30.1g、4-HBA 19.8g、触媒0.13g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は3mg KOH/g、重量平均分子量は5600であった。上記フェノール型エポキシ樹脂EOCN-102Sは次の化学構造を有する。
【0099】
【0100】
n≒4から6である。
【0101】
ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて70秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0102】
実施例29
フェノール型エポキシ樹脂BREN-105(Nippon Kayakuから市販されている)33.2g、4-HBA 16.7g、触媒0.11g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は5mg KOH/g、重量平均分子量は5900であった。上記フェノール型エポキシ樹脂BREN-105は次の化学構造を有する。
【0103】
【0104】
n≒2である。
【0105】
ポリマー23重量部、DNQ 5.1重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.9重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて70秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0106】
実施例30
フェノール型エポキシ樹脂XD-1000(Nippon Kayakuから市販されている)33.2g、4-HBA 17.7g、触媒0.11g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は5mg KOH/g、重量平均分子量は5700であった。上記フェノール型エポキシ樹脂XD-1000は次の化学構造を有する。
【0107】
【0108】
n=1から3である。
【0109】
ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から80秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0110】
実施例31
フェノール型エポキシ樹脂NC-2000-L(Nippon Kayakuから市販されている)31.4g、4-HBA 18.5g、触媒0.12g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は3mg KOH/g、重量平均分子量は5100であった。上記フェノール型エポキシ樹脂NC-2000-Lは次の化学構造を有する。
【0111】
【0112】
n=1から3である。
【0113】
ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から80秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0114】
実施例32
フェノール型エポキシ樹脂NC-3000-L(Nippon Kayakuから市販されている)33.0g、4-HBA 16.9g、触媒0.11g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は5mg KOH/g、重量平均分子量は6000であった。上記フェノール型エポキシ樹脂NC-3000-Lは次の化学構造を有する。
【0115】
【0116】
n=1から3である。
【0117】
ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0118】
実施例33
フェノール型エポキシ樹脂NC-7300L(Nippon Kayakuから市販されている)30.2g、4-HBA 19.6g、触媒0.13g、HQ 0.04g、およびPGMEA 50gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は4mg KOH/g、重量平均分子量は5800であった。上記フェノール型エポキシ樹脂NC-7300Lは次の化学構造を有する。
【0119】
【0120】
n=1から3である。
【0121】
ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0122】
実施例34
フェノール型エポキシ樹脂EPPN-502H 26.5g、4-HBA 19.3g、触媒0.12g、HQ 0.04g、およびPGMEA 46.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸8gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は82mg KOH/g、重量平均分子量は6100であった。
【0123】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて70秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0124】
実施例35
フェノール型エポキシ樹脂EOCN-102S 27.8g、4-HBA 18.3g、触媒0.12g、HQ 0.04g、およびPGMEA 46.2gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸7.5gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は83mg KOH/g、重量平均分子量は6500であった。
【0125】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて70秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0126】
実施例36
フェノール型エポキシ樹脂BREN-105 31.1g、4-HBA 15.6g、触媒0.10g、HQ 0.04g、およびPGMEA46.8g を反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸6.4gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は80mg KOH/g、重量平均分子量は5900であった。
【0127】
変性ポリマー23重量部、DNQ 5.1重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71.9重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて70秒から90秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0128】
実施例37
フェノール型エポキシ樹脂XD-1000 30.0g、4-HBA 16.5g、触媒0.11g、HQ 0.04g、およびPGMEA46.6gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸6.8gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は80mg KOH/g、重量平均分子量は6700であった。
【0129】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から80秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0130】
実施例38
フェノール型エポキシ樹脂NC-2000-L 29.2g、4-HBA 17.2g、触媒0.11g、HQ 0.04g、およびPGMEA 46.4gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸7.1gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は82mg KOH/g、重量平均分子量は6300であった。
【0131】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.0重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)71重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて60秒から80秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0132】
実施例39
フェノール型エポキシ樹脂NC-3000-L 30.8g、4-HBA 15.8g、触媒0.10g、HQ 0.04g、およびPGMEA 46.8gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸6.5gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は78mg KOH/g、重量平均分子量は6500であった。
【0133】
変性ポリマー23重量部、DNQ6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0134】
実施例40
フェノール型エポキシ樹脂NC-7300L 28.0g、4-HBA 18.2g、触媒0.12g、HQ 0.04g、およびPGMEA 46.2gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸7.5gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は77mg KOH/g、重量平均分子量は6600であった。
【0135】
変性ポリマー23重量部、DNQ 6.9重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.1重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0136】
実施例41
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 34.5g、4-HBA 25.3g、触媒0.18g、HQ 0.07g、およびPGMEA 40.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は3mg KOH/g、重量平均分子量は2100であった。
【0137】
ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0138】
実施例42
実施例41のポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0139】
実施例43
実施例41のポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0140】
実施例44
実施例41のポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0141】
実施例45
実施例41のポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0142】
実施例46
実施例41のポリマー27.4重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて20秒から40秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0143】
実施例47
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 28.2g、4-HBA 20.7g、触媒0.15g、HQ 0.07g、およびPGMEA 40.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸10.9gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は81mg KOH/g、重量平均分子量は2800であった。
【0144】
変性ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0145】
実施例48
実施例47の変性ポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0146】
実施例49
実施例47の変性ポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0147】
実施例50
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 34.5g、3-HBA 25.3g、触媒0.18g、HQ 0.07g、およびPGMEA 40.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。そのポリマーの酸価は0mg KOH/g、重量平均分子量は2300であった。
【0148】
ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0149】
実施例51
実施例50のポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0150】
実施例52
実施例50のポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0151】
実施例53
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 28.2g、3-HBA 20.7g、触媒0.15g、HQ 0.07g、およびPGMEA 40.0gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。次いで、ヘキサヒドロ無水フタル酸10.9gをその反応瓶に加えてから、3時間撹拌して反応させ、変性ポリマーを形成した。その変性ポリマーの酸価は77mg KOH/g、重量平均分子量は 2900であった。
【0152】
変性ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0153】
実施例54
実施例53の変性ポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200 mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0154】
実施例55
実施例53の変性ポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0155】
実施例56
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 33.5g、2,6-DHBA 27.3g、触媒0.18g、HQ 0.07g、およびPGMEA 38.9gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。ポリマーの酸価は0mg KOH/g、重量平均分子量は2500であった。
【0156】
ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂 PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0157】
実施例57
実施例56のポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0158】
実施例58
実施例56のポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0159】
実施例59
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 33.5g、2,4-DHBA 27.3g、触媒0.18g、HQ 0.07g、およびPGMEA 38.9gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。ポリマーの酸価は2mg KOH/g、重量平均分子量は2600であった。
【0160】
ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0161】
実施例60
実施例59のポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0162】
実施例61
実施例59のポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0163】
実施例62
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 33.5g、3,5-DHBA 27.3g、触媒0.18g、HQ 0.07g、およびPGMEA 38.9gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。ポリマーの酸価は3mg KOH/g、重量平均分子量は2300であった。
【0164】
ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0165】
実施例63
実施例62のポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0166】
実施例64
実施例62のポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0167】
実施例65
ビスフェノール型エポキシ樹脂EPON828 31.6g、3H2NA 31.6g、触媒0.17g、HQ 0.07g、およびPGMEA 36.6gを反応瓶中で混合した。その混合物を140℃まで加熱し、7時間撹拌して反応させ、ポリマーを形成した。ポリマーの酸価は0mg KOH/g、重量平均分子量は2800であった。
【0168】
ポリマー17.4重量部、フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)8.7重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0169】
実施例66
実施例65のポリマー18.3重量部、フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)9.1重量部、DNQ 4.8重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量200mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0170】
実施例67
実施例65のポリマー26.1重量部、DNQ 6.3重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)67.6重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製し、次いでウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成した。そのフォトレジスト層をghi線で露光してから(露光量100mJ/cm2)、1%炭酸ナトリウム溶液を用いて40秒から60秒現像した。これにより、解像度8マイクロメートルのパターンが得られた。
【0171】
比較例1
フェノール樹脂PR56001(重量平均分子量は5000)22.5重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製したが、ウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成することはできなかった。
【0172】
比較例2
フェノール樹脂PR56032(重量平均分子量は50000)22.5重量部、DNQ 6.7重量部、および溶媒(PGMEAとBA、v/v=9/1)70.8重量部を混合したところ、DNQの溶解度は良好であった(目視で沈殿物は見られなかった)。その感光性組成物の溶液をポジ型ドライフィルムフォトレジストに作製したが、ウエハー上に転写してフォトレジスト層を形成することはできなかった。
【0173】
開示された方法および物質に様々な変更および変化を加え得るということが、当業者には明らかであろう。本明細書および実施例は例示として見なされるよう意図されており、本開示の真の範囲は以下のクレームおよびそれらの均等物によって示される。