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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024000647
(43)【公開日】2024-01-09
(54)【発明の名称】材料試験機、及び材料試験機の表示制御方法
(51)【国際特許分類】
G01N 3/06 20060101AFI20231226BHJP
【ＦＩ】
G01N3/06
【審査請求】未請求
【請求項の数】7
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022099455
(22)【出願日】2022-06-21
(71)【出願人】
【識別番号】000001993
【氏名又は名称】株式会社島津製作所
(74)【代理人】
【識別番号】110001081
【氏名又は名称】弁理士法人クシブチ国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】野村 英一
【テーマコード（参考）】
2G061
【Ｆターム（参考）】
2G061AA01
2G061AB03
2G061BA04
2G061CB02
2G061EA01
2G061EA02
2G061EA04
2G061EB03
2G061EB04
2G061EB05
2G061EC02
2G061EC04
2G061EC07
(57)【要約】
【課題】材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認可能にする。
【解決手段】引張試験機１は、表示機構６５を備え、平均速度ＳＡを表示機構６５に表示する引張試験機１であって、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤのうちの１つのセンサー値である第１センサー値Ｄ１について、平均速度ＳＡの算出範囲を規定する始点ＳＰと終点ＥＰとを、予め指定する指定部６１１と、引張試験を実行中に、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤを取得する第２取得部６１２と、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤのうちの１つのセンサー値である第２センサー値Ｄ２について、前記算出範囲における平均速度ＳＡを算出する算出部６１４と、平均速度ＳＡを表示機構６５に表示する出力制御部６１５と、を備える。
【選択図】図２
【解決手段】引張試験機１は、表示機構６５を備え、平均速度ＳＡを表示機構６５に表示する引張試験機１であって、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤのうちの１つのセンサー値である第１センサー値Ｄ１について、平均速度ＳＡの算出範囲を規定する始点ＳＰと終点ＥＰとを、予め指定する指定部６１１と、引張試験を実行中に、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤを取得する第２取得部６１２と、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤのうちの１つのセンサー値である第２センサー値Ｄ２について、前記算出範囲における平均速度ＳＡを算出する算出部６１４と、平均速度ＳＡを表示機構６５に表示する出力制御部６１５と、を備える。
【選択図】図２
【特許請求の範囲】
【請求項1】
表示機構を備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機であって、
複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定部と、
材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得部と、
前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出部と、
前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御部と、
を備える、材料試験機。
複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定部と、
材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得部と、
前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出部と、
前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御部と、
を備える、材料試験機。
【請求項2】
前記第２センサー値は、前記第１センサー値と相違する、
請求項１に記載の材料試験機。
請求項１に記載の材料試験機。
【請求項3】
試験力を検出する試験力センサー、変位を検出する変位センサー、及び、試験片の歪みを検出する歪みセンサーを備え、
前記複数のセンサー値は、前記試験力センサーが検出した試験力検出値、前記変位センサーが検出した変位検出値、及び、前記歪みセンサーが検出した歪み検出値を含む、
請求項１又は請求項２に記載の材料試験機。
前記複数のセンサー値は、前記試験力センサーが検出した試験力検出値、前記変位センサーが検出した変位検出値、及び、前記歪みセンサーが検出した歪み検出値を含む、
請求項１又は請求項２に記載の材料試験機。
【請求項4】
前記第１センサー値が前記歪み検出値である場合に、前記指定部は、前記終点をユーザーからの前記歪みセンサーを前記試験片から取り外す操作に応じて指定する、
請求項３に記載の材料試験機。
請求項３に記載の材料試験機。
【請求項5】
前記算出部は、前記試験力検出値から前記試験片に作用する応力を算出し、前記算出範囲における前記応力の平均速度を算出する、
請求項３に記載の材料試験機。
請求項３に記載の材料試験機。
【請求項6】
前記試験片の破断を検出する検出部を備え、
前記指定部は、前記終点を前記検出部が前記試験片の破断を検出したときに指定する、
請求項３に記載の材料試験機。
前記指定部は、前記終点を前記検出部が前記試験片の破断を検出したときに指定する、
請求項３に記載の材料試験機。
【請求項7】
制御装置と表示機構とを備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機の表示制御方法であって、
前記制御装置が、
複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定ステップと、
材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得ステップと、
前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出ステップと、
前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御ステップと、
を含む、材料試験機の表示制御方法。
前記制御装置が、
複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定ステップと、
材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得ステップと、
前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出ステップと、
前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御ステップと、
を含む、材料試験機の表示制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、材料試験機、及び材料試験機の表示制御方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、材料試験機の本体制御装置にパーソナルコンピュータを接続して、パーソナルコンピュータが種々の情報を表示機構に表示する技術が知られている。
例えば、特許文献１には、本体制御装置に通信可能に接続され、パーソナルコンピュータにインストールされ、メモリに記憶されているプログラムの機能ブロックとして、材料特性の評価に用いるデータ域に重畳する固有振動の振幅を検出する振幅検出部と、固有振動の振幅値や試験結果の表示機構への表示を制御する表示制御部と、を備えるパーソナルコンピュータが記載されている。
例えば、特許文献１には、本体制御装置に通信可能に接続され、パーソナルコンピュータにインストールされ、メモリに記憶されているプログラムの機能ブロックとして、材料特性の評価に用いるデータ域に重畳する固有振動の振幅を検出する振幅検出部と、固有振動の振幅値や試験結果の表示機構への表示を制御する表示制御部と、を備えるパーソナルコンピュータが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２０１９－１３２７６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献１に記載の材料試験機では、ユーザーが所望する範囲における試験力速度、変位速度、歪み速度等の平均速度を算出する必要がある場合には、試験力検出値、変位検出値、歪み検出値等の検出データを加工することによって、ユーザーが算出する必要があった。
また、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認することができなかった。
また、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認することができなかった。
【0005】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認することの可能な材料試験機、及び材料試験機の表示制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の第１態様に係る材料試験機は、表示機構を備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機であって、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定部と、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得部と、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出部と、前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御部と、を備える。
【0007】
本発明の第２態様に係る材料試験機の表示制御方法は、制御装置と表示機構とを備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機の表示制御方法であって、前記制御装置が、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定ステップと、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得ステップと、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出ステップと、前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御ステップと、を含む。
【発明の効果】
【0008】
本発明の第１態様に係る材料試験機、及び本発明の第２態様に係る材料試験機の表示制御方法は、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する。そして、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得し、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する。また、算出された平均速度を表示機構に表示する。
したがって、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を表示できる。
したがって、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を表示できる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【図1】本実施形態に係る引張試験機の構成の一例を示す図である。
【図2】本体制御装置、及び表示制御装置の構成の一例を示す図である。
【図3】平均速度設定画面の一例を示す画面図である。
【図4】算出範囲設定画面の一例を示す画面図である。
【図5】算出範囲設定画面のプルダウンメニューの一例を示す画面図である。
【図6】印刷画像の一例を示す図である。
【図7】表示制御装置の処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、図面を参照して本実施形態について説明する。
【0011】
［１．引張試験機の構成］
図１は、本実施形態に係る引張試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の引張試験機１は、試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力Ｆは、引張力である。
引張試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて引張試験を行う試験機本体２と、試験機本体２による引張試験動作を制御する制御ユニット３と、表示制御装置６０と、を備える。
なお、引張試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。
図１は、本実施形態に係る引張試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の引張試験機１は、試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力Ｆは、引張力である。
引張試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて引張試験を行う試験機本体２と、試験機本体２による引張試験動作を制御する制御ユニット３と、表示制御装置６０と、を備える。
なお、引張試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。
【0012】
図１に示すように、試験機本体２は、基台２６上に、一対の支柱２８，２９と、ヨーク１３と、によって負荷枠を形成し、支柱２８，２９に、クロスヘッド１０を固定して構成される。
【0013】
基台２６には、油圧アクチュエータ１８が配置され、油圧アクチュエータ１８のピストンロッド１８１には、試験片ＴＰの下端部を把持する下つかみ具２２が取り付けられる。また、クロスヘッド１０には、ロードセル１４を介して、試験片ＴＰの上端部を把持する上つかみ具２１が取り付けられる。
【0014】
油圧アクチュエータ１８は、サーボ弁２０によって、圧油方向と圧油量とが制御されて、ピストンロッド１８１が伸縮する。その結果、上つかみ具２１と下つかみ具２２との間隔が伸縮し、上つかみ具２１と下つかみ具２２との間に固定された試験片ＴＰに試験力Ｆが印加される。また、油圧アクチュエータ１８のストローク、すなわち試験片ＴＰの変位は、油圧アクチュエータ１８に取り付けられた差動トランス１９によって検出される。
【0015】
ロードセル１４は、試験片ＴＰに与えられる引張荷重である試験力Ｆを測定し、試験力測定信号ＳＧ１を制御ユニット３に出力するセンサーである。
ロードセル１４は、「試験力センサー」の一例に対応する。
差動トランス１９は、試験片ＴＰの変位量を測定し、変位量に応じた変位測定信号ＳＧ２を制御ユニット３に出力するセンサーである。
差動トランス１９は、「変位センサー」の一例に対応する。
ロードセル１４は、「試験力センサー」の一例に対応する。
差動トランス１９は、試験片ＴＰの変位量を測定し、変位量に応じた変位測定信号ＳＧ２を制御ユニット３に出力するセンサーである。
差動トランス１９は、「変位センサー」の一例に対応する。
【0016】
試験片ＴＰには、歪みセンサー１５が配置される。試験片ＴＰは、例えば、中央がくびれて形成されたダンベル型試験片が用いられる。歪みセンサー１５は、試験片ＴＰの１対の標点の間の距離を測定することによって、歪み検出値ＥＤを測定し、歪み測定信号ＳＧ３を制御ユニット３に出力するセンサーである。１対の標点は、試験片ＴＰがくびれた領域の上部と下部とに配置される。歪み検出値ＥＤは、試験片ＴＰの伸び量を示す。
また、ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作を本体制御装置５０が受け付けた場合に、歪みセンサー１５は、本体制御装置５０からの指示に従って、試験片ＴＰから取り外される。ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作は、例えば、図略の操作ボタンを押下する操作である。
また、ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作を本体制御装置５０が受け付けた場合に、歪みセンサー１５は、本体制御装置５０からの指示に従って、試験片ＴＰから取り外される。ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作は、例えば、図略の操作ボタンを押下する操作である。
【0017】
制御ユニット３は、信号入出力装置４０と、本体制御装置５０と、を備える。
信号入出力装置４０は、試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、第３センサアンプ４３と、サーボアンプ４４とを有する。
第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して試験力検出値ＦＤを生成し、試験力検出値ＦＤを本体制御装置５０に出力する増幅器である。
第２センサアンプ４５は、歪みセンサー１５が出力する歪み測定信号ＳＧ３を増幅して歪み検出値ＥＤを生成し、歪み検出値ＥＤを本体制御装置５０に出力する増幅器である。
第３センサアンプ４３は、差動トランス１９が出力する変位測定信号ＳＧ２を増幅して変位検出値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を本体制御装置５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、本体制御装置５０の制御に従って、サーボ弁２０を制御する装置である。本体制御装置５０は、変位検出値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボ弁２０に対して送信する。
試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤは、「複数のセンサー値」の一例に対応する。
なお、差動トランス１９は、油圧アクチュエータ１８のピストンロッド１８１のストロークを検出するため、変位検出値ＸＤは、「ストローク検出値」と記載してもよい。この場合には、第３センサアンプ４３は、差動トランス１９が出力する「ストローク測定信号」を増幅して「ストローク検出値」を示す「ストローク測定信号」を本体制御装置５０にデジタル信号で出力する。
信号入出力装置４０は、試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、第３センサアンプ４３と、サーボアンプ４４とを有する。
第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して試験力検出値ＦＤを生成し、試験力検出値ＦＤを本体制御装置５０に出力する増幅器である。
第２センサアンプ４５は、歪みセンサー１５が出力する歪み測定信号ＳＧ３を増幅して歪み検出値ＥＤを生成し、歪み検出値ＥＤを本体制御装置５０に出力する増幅器である。
第３センサアンプ４３は、差動トランス１９が出力する変位測定信号ＳＧ２を増幅して変位検出値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を本体制御装置５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、本体制御装置５０の制御に従って、サーボ弁２０を制御する装置である。本体制御装置５０は、変位検出値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボ弁２０に対して送信する。
試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤは、「複数のセンサー値」の一例に対応する。
なお、差動トランス１９は、油圧アクチュエータ１８のピストンロッド１８１のストロークを検出するため、変位検出値ＸＤは、「ストローク検出値」と記載してもよい。この場合には、第３センサアンプ４３は、差動トランス１９が出力する「ストローク測定信号」を増幅して「ストローク検出値」を示す「ストローク測定信号」を本体制御装置５０にデジタル信号で出力する。
【0018】
本体制御装置５０は、ユーザーからの操作に基づき、試験機本体２の動作を制御する。また、本体制御装置５０は、試験機本体２に引張試験を実行させる。
本実施形態において、「ユーザー」は、試験機本体２を操作する作業者を含む。
本実施形態において、「ユーザー」は、試験機本体２を操作する作業者を含む。
【0019】
本体制御装置５０は、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）、ＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）等のストレージ装置と、信号入出力装置４０とのインターフェース回路と、各種の電子回路と、を有するコンピュータを備える。
また、信号入出力装置４０とのインターフェース回路にはＡ／Ｄ変換器が設けられており、アナログ信号の試験力測定信号ＳＧ１、歪み測定信号ＳＧ３及び変位測定信号ＳＧ２がＡ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換される。
また、信号入出力装置４０とのインターフェース回路にはＡ／Ｄ変換器が設けられており、アナログ信号の試験力測定信号ＳＧ１、歪み測定信号ＳＧ３及び変位測定信号ＳＧ２がＡ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換される。
【0020】
表示制御装置６０は、本体制御装置５０と通信可能に接続され、種々の情報を表示する。また、表示制御装置６０は、プリンターＰＲに接続され、表示制御装置６０は、プリンターＰＲに種々の画像を印刷させる。
【0021】
［２．本体制御装置の構成］
次に、図２を参照して、本体制御装置５０及び表示制御装置６０の構成について説明する。図２は、本実施形態に係る本体制御装置５０及び表示制御装置６０の構成の一例を示す図である。
本体制御装置５０は、例えば、パーソナルコンピュータで構成される。本体制御装置５０は、第１制御部５０Ａと、第１通信インターフェース５３と、第１操作機構５４と、を備える。また、第１制御部５０Ａは、第１プロセッサ５１と、第１メモリ５２と、を備える。
第１プロセッサ５１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等で構成される。
第１メモリ５２は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等で構成される。第１メモリ５２は、第１制御プログラム５２１を記憶する。
次に、図２を参照して、本体制御装置５０及び表示制御装置６０の構成について説明する。図２は、本実施形態に係る本体制御装置５０及び表示制御装置６０の構成の一例を示す図である。
本体制御装置５０は、例えば、パーソナルコンピュータで構成される。本体制御装置５０は、第１制御部５０Ａと、第１通信インターフェース５３と、第１操作機構５４と、を備える。また、第１制御部５０Ａは、第１プロセッサ５１と、第１メモリ５２と、を備える。
第１プロセッサ５１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等で構成される。
第１メモリ５２は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等で構成される。第１メモリ５２は、第１制御プログラム５２１を記憶する。
【0022】
第１通信インターフェース５３は、表示制御装置６０と、例えば、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）規格に従って通信を実行する通信インターフェースである。第１通信インターフェース５３は、ＵＳＢケーブルを接続するコネクター、及びコネクターを伝送される信号を処理するインターフェース回路を備える。第１通信インターフェース５３は、コネクター及びインターフェース回路を有するインターフェース基板であり、本体制御装置５０の第１プロセッサ５１等が実装されるメイン基板に接続される。或いは、第１通信インターフェース５３を構成するコネクター及びインターフェース回路が、第１プロセッサ５１のメイン基板に実装される。第１通信インターフェース５３は、表示制御装置６０に対して、種々の情報を送信する。
【0023】
第１操作機構５４は、種々のボタン、キー等を備え、ユーザーからの操作を受け付ける。また、第１操作機構５４は、受け付けた操作に対応する操作信号を生成し、生成した操作信号を第１プロセッサ５１へ出力する。
第１操作機構５４は、例えば、ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作を受け付ける。
第１操作機構５４は、例えば、ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作を受け付ける。
【0024】
なお、本体制御装置５０は、パーソナルコンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１つ又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。また、本体制御装置５０は、例えば、タブレット端末、又はスマートフォン等で構成されてもよい。
また、本体制御装置５０は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、本体制御装置５０は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。
また、本体制御装置５０は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、本体制御装置５０は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。
【0025】
図２に示すように、本体制御装置５０は、試験実行部５１１と、第１取得部５１２と、第１通信制御部５１３と、試験条件記憶部５２２と、を備える。
具体的には、第１プロセッサ５１が、第１メモリ５２に記憶された第１制御プログラム５２１を実行することによって、試験実行部５１１、第１取得部５１２、及び第１通信制御部５１３、として機能する。また、第１プロセッサ５１が、第１メモリ５２に記憶された第１制御プログラム５２１を実行することによって、第１メモリ５２を、試験条件記憶部５２２として機能させる。
具体的には、第１プロセッサ５１が、第１メモリ５２に記憶された第１制御プログラム５２１を実行することによって、試験実行部５１１、第１取得部５１２、及び第１通信制御部５１３、として機能する。また、第１プロセッサ５１が、第１メモリ５２に記憶された第１制御プログラム５２１を実行することによって、第１メモリ５２を、試験条件記憶部５２２として機能させる。
【0026】
試験条件記憶部５２２は、試験機本体２に実行させる引張試験の試験条件を記憶する。本実施形態では、試験条件が試験条件記憶部５２２に予め記憶される場合について説明する。
【0027】
試験実行部５１１は、試験条件記憶部５２２から試験条件を読み出して、読み出された試験条件に従って、試験機本体２に引張試験を実行させる。
また、第１操作機構５４が、ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作を受け付けた場合に、試験実行部５１１は、歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す動作を実行させる。歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す動作は、例えば、歪みセンサー１５を試験片ＴＰの一対の標点に取り付ける一対の挟み具を開放する動作である。
また、第１通信制御部５１３が破断検出情報ＪＢを表示制御装置６０から受信した場合には、試験実行部５１１は、試験機本体２による引張試験の実行を終了させる。
また、第１操作機構５４が、ユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作を受け付けた場合に、試験実行部５１１は、歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す動作を実行させる。歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す動作は、例えば、歪みセンサー１５を試験片ＴＰの一対の標点に取り付ける一対の挟み具を開放する動作である。
また、第１通信制御部５１３が破断検出情報ＪＢを表示制御装置６０から受信した場合には、試験実行部５１１は、試験機本体２による引張試験の実行を終了させる。
【0028】
第１取得部５１２は、試験機本体２が引張試験を実行中に、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤを取得する。
【0029】
第１通信制御部５１３は、第１通信インターフェース５３に、表示制御装置６０との間の通信を実行させる。第１通信制御部５１３は、例えば、表示制御装置６０からの指示に従って、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤを表示制御装置６０へ送信する。
また、第１通信制御部５１３は、試験実行部５１１が試験機本体２に引張試験の実行を開始させたときに、試験開始情報ＪＳを表示制御装置６０へ送信する。また、第１通信制御部５１３は、試験実行部５１１が試験機本体２に引張試験の実行を終了させたときに、試験終了情報ＪＥを表示制御装置６０へ送信する。
また、第１通信制御部５１３は、表示制御装置６０から破断検出情報ＪＢを受信する。破断検出情報ＪＢは、試験片ＴＰが破断したことを示す。
破断検出情報ＪＢについては、表示制御装置６０の構成において更に説明する。
また、第１通信制御部５１３は、試験実行部５１１が試験機本体２に引張試験の実行を開始させたときに、試験開始情報ＪＳを表示制御装置６０へ送信する。また、第１通信制御部５１３は、試験実行部５１１が試験機本体２に引張試験の実行を終了させたときに、試験終了情報ＪＥを表示制御装置６０へ送信する。
また、第１通信制御部５１３は、表示制御装置６０から破断検出情報ＪＢを受信する。破断検出情報ＪＢは、試験片ＴＰが破断したことを示す。
破断検出情報ＪＢについては、表示制御装置６０の構成において更に説明する。
【0030】
［３．表示制御装置の構成］
次に、図２を参照して、表示制御装置６０の構成について説明する。
表示制御装置６０は、例えば、パーソナルコンピュータで構成される。表示制御装置６０は、第２制御部６０Ａと、第２通信インターフェース６３と、第２操作機構６４と、表示機構６５と、を備える。第２制御部６０Ａは、第２プロセッサ６１と、第２メモリ６２と、を備える。
第２プロセッサ６１は、ＣＰＵ、ＭＰＵ等で構成される。
第２メモリ６２は、ＲＯＭ、ＲＡＭ等で構成される。第２メモリ６２は、第２制御プログラム６２１を記憶する。
第２制御部６０Ａは、「制御装置」の一例に対応する。
次に、図２を参照して、表示制御装置６０の構成について説明する。
表示制御装置６０は、例えば、パーソナルコンピュータで構成される。表示制御装置６０は、第２制御部６０Ａと、第２通信インターフェース６３と、第２操作機構６４と、表示機構６５と、を備える。第２制御部６０Ａは、第２プロセッサ６１と、第２メモリ６２と、を備える。
第２プロセッサ６１は、ＣＰＵ、ＭＰＵ等で構成される。
第２メモリ６２は、ＲＯＭ、ＲＡＭ等で構成される。第２メモリ６２は、第２制御プログラム６２１を記憶する。
第２制御部６０Ａは、「制御装置」の一例に対応する。
【0031】
本実施形態では、表示制御装置６０がパーソナルコンピュータで構成される場合について説明するが、これに限定されない。表示制御装置６０が、例えば、タブレット端末、又はスマートフォン等で構成されてもよい。
【0032】
第２通信インターフェース６３は、本体制御装置５０と、例えば、ＵＳＢ規格に従って通信を実行する通信インターフェースである。第２通信インターフェース６３は、ＵＳＢケーブルを接続するコネクター、及びコネクターを伝送される信号を処理するインターフェース回路を備える。第２通信インターフェース６３は、コネクター及びインターフェース回路を有するインターフェース基板であり、表示制御装置６０の第２プロセッサ６１等が実装されるメイン基板に接続される。或いは、第２通信インターフェース６３を構成するコネクター及びインターフェース回路が、第２プロセッサ６１のメイン基板に実装される。第２通信インターフェース６３は、本体制御装置５０から、種々の情報を受信する。
【0033】
本実施形態では、本体制御装置５０と表示制御装置６０とがＵＳＢ規格に従って通信を実行する場合について説明するが、これに限定されない。例えば、本体制御装置５０と表示制御装置６０とがＥｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）等の規格に従って通信を実行してもよい。また、例えば、本体制御装置５０と表示制御装置６０とがＢｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）等の規格に従って無線通信を実行してもよい。
【0034】
第２操作機構６４は、種々のボタン、キー等を備え、ユーザーからの操作を受け付ける。また、第２操作機構６４は、受け付けた操作に対応する操作信号を生成し、生成した操作信号を第２プロセッサ６１へ出力する。第２操作機構６４は、例えば、キーボードと、マウスと、を備える。
第２操作機構６４は、例えば、平均速度設定画面７００、及び算出範囲設定画面８００に対するユーザーからの操作を受け付ける。
平均速度設定画面７００については、図３を参照して更に説明する。
算出範囲設定画面８００については、図４を参照して更に説明する。
第２操作機構６４は、例えば、平均速度設定画面７００、及び算出範囲設定画面８００に対するユーザーからの操作を受け付ける。
平均速度設定画面７００については、図３を参照して更に説明する。
算出範囲設定画面８００については、図４を参照して更に説明する。
【0035】
表示機構６５は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等を備え、ＬＣＤに種々の画像を表示する。表示機構６５は、例えば、出力制御部６１５からの指示に従って、例えば、平均速度設定画面７００、及び算出範囲設定画面８００をＬＣＤに表示する。
【0036】
表示制御装置６０は、指定部６１１と、第２取得部６１２と、検出部６１３と、算出部６１４と、出力制御部６１５と、センサー値記憶部６２２と、を備える。
具体的には、第２プロセッサ６１が、第２メモリ６２に記憶された第２制御プログラム６２１を実行することによって、指定部６１１、第２取得部６１２、検出部６１３、算出部６１４、及び出力制御部６１５として機能する。また、第２プロセッサ６１が、第２メモリ６２に記憶された第２制御プログラム６２１を実行することによって、第２メモリ６２を、センサー値記憶部６２２として機能させる。
具体的には、第２プロセッサ６１が、第２メモリ６２に記憶された第２制御プログラム６２１を実行することによって、指定部６１１、第２取得部６１２、検出部６１３、算出部６１４、及び出力制御部６１５として機能する。また、第２プロセッサ６１が、第２メモリ６２に記憶された第２制御プログラム６２１を実行することによって、第２メモリ６２を、センサー値記憶部６２２として機能させる。
【0037】
センサー値記憶部６２２は、第２取得部６１２が取得したセンサー値を記憶する。センサー値記憶部６２２は、例えば、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、変位検出値ＸＤ、及び応力σを互いに対応付けて記憶する。センサー値記憶部６２２は、例えば、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、変位検出値ＸＤ、及び応力σの各々を、試験開始からの経過時間Ｔに対応付けて記憶する。なお、応力σは、算出部６１４によって算出される。
【0038】
指定部６１１は、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値Ｄ１について、平均速度ＳＡの算出範囲ＲＧを規定する始点ＳＰと終点ＥＰとを、予め指定する。
本実施形態では、「複数のセンサー値」は、例えば、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤである。第１センサー値Ｄ１は、例えば、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤのうちのいずれかである。
また、「予め指定する」の「予め」とは、例えば、試験機本体２が引張試験の実行を開始する前のタイミングを示す。
本実施形態では、「複数のセンサー値」は、例えば、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤである。第１センサー値Ｄ１は、例えば、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤのうちのいずれかである。
また、「予め指定する」の「予め」とは、例えば、試験機本体２が引張試験の実行を開始する前のタイミングを示す。
【0039】
指定部６１１は、例えば、第２操作機構６４を介して、ユーザーからの指示を受け付けて、受け付けた指示に基づいて、第１センサー値Ｄ１について、平均速度ＳＡの算出範囲ＲＧを規定する始点ＳＰと終点ＥＰとを指定する。算出範囲ＲＧは、始点ＳＰから終点ＥＰまでの範囲である。
指定部６１１による始点ＳＰ及び終点ＥＰの指定方法については、図４に示す算出範囲設定画面８００を参照して説明する。
指定部６１１による始点ＳＰ及び終点ＥＰの指定方法については、図４に示す算出範囲設定画面８００を参照して説明する。
【0040】
なお、指定部６１１は、終点ＥＰをユーザーからの歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作に応じて指定してもよい。歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作は、第１操作機構５４によって受け付けられる。また、歪みセンサー１５を試験片ＴＰから取り外す操作が受け付けられたことを示す操作情報ＪＲが、第１通信インターフェース５３及び第２通信インターフェース６３を介して、本体制御装置５０から表示制御装置６０へ伝送される。
また、指定部６１１は、検出部６１３が試験片ＴＰの破断を検出した時点を、終点ＥＰとして指定してもよい。
また、指定部６１１は、検出部６１３が試験片ＴＰの破断を検出した時点を、終点ＥＰとして指定してもよい。
【0041】
また、指定部６１１は、算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２を、予め指定する。
指定部６１１は、例えば、第２操作機構６４を介して、ユーザーからの指示を受け付けて、受け付けた指示に基づいて、平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２を、指定する。本実施形態では、第２センサー値Ｄ２は、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、変位検出値ＸＤ、及び応力σのうちのいずれかである。応力σは、算出部６１４によって試験力検出値ＦＤから算出される。
指定部６１１による第２センサー値Ｄ２の指定方法については、図３に示す平均速度設定画面７００を参照して説明する。
指定部６１１は、例えば、第２操作機構６４を介して、ユーザーからの指示を受け付けて、受け付けた指示に基づいて、平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２を、指定する。本実施形態では、第２センサー値Ｄ２は、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、変位検出値ＸＤ、及び応力σのうちのいずれかである。応力σは、算出部６１４によって試験力検出値ＦＤから算出される。
指定部６１１による第２センサー値Ｄ２の指定方法については、図３に示す平均速度設定画面７００を参照して説明する。
【0042】
第２取得部６１２は、試験機本体２が引張試験を実行中に、複数のセンサー値を取得する。本実施形態では、第２取得部６１２は、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤを取得する。第２取得部６１２は、例えば、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤを、第１通信インターフェース５３及び第２通信インターフェース６３を介して、本体制御装置５０から取得する。
第２取得部６１２は、取得した試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤをセンサー値記憶部６２２に記憶させる。
また、第２取得部６１２は、試験開始情報ＪＳ及び試験終了情報ＪＥを、第１通信インターフェース５３及び第２通信インターフェース６３を介して、本体制御装置５０から取得する。
第２取得部６１２は、「取得部」の一例に対応する。
第２取得部６１２は、取得した試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤをセンサー値記憶部６２２に記憶させる。
また、第２取得部６１２は、試験開始情報ＪＳ及び試験終了情報ＪＥを、第１通信インターフェース５３及び第２通信インターフェース６３を介して、本体制御装置５０から取得する。
第２取得部６１２は、「取得部」の一例に対応する。
【0043】
検出部６１３は、試験片ＴＰの破断を検出する。検出部６１３は、例えば、以下のようにして、試験片ＴＰの破断を検出する。検出部６１３は、まず、試験力検出値ＦＤが最大値に到達したか否かを判定する。そして、試験力検出値ＦＤが最大値に到達した場合に、検出部６１３は、試験力検出値ＦＤが最大値に到達した後、試験力検出値ＦＤが最大値の所定割合以下に下降したか否かを判定する。所定割合は、例えば、９０％である。試験力検出値ＦＤが最大値の所定割合以下に下降したと判定した場合に、検出部６１３は、試験片ＴＰの破断を検出する。
検出部６１３は、試験片ＴＰの破断を検出したときに、本体制御装置５０に対して破断検出情報ＪＢを送信する。
検出部６１３は、試験片ＴＰの破断を検出したときに、本体制御装置５０に対して破断検出情報ＪＢを送信する。
【0044】
算出部６１４は、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値Ｄ２について、算出範囲ＲＧにおける平均速度ＳＡを算出する。本実施形態では、算出部６１４は、試験力検出値ＦＤ、歪み検出値ＥＤ、及び変位検出値ＸＤのうちの１つのセンサー値である第２センサー値Ｄ２について、算出範囲ＲＧにおける平均速度ＳＡを算出する。
平均速度ＳＡは、例えば、次の式（１）で算出される。
ＳＡ＝（Ｄ２２－Ｄ２１）／（Ｔ２－Ｔ１） （１）
ここで、第２センサー値Ｄ２２は、終点ＥＰにおける第２センサー値Ｄ２であり、第２センサー値Ｄ２１は、始点ＳＰにおける第２センサー値Ｄ２である。時間Ｔ２は、終点ＥＰにおける経過時間Ｔであり、時間Ｔ１は、始点ＳＰにおける経過時間Ｔである。
換言すれば、第２センサー値Ｄ２の平均速度ＳＡは、始点ＳＰから終点ＥＰまでの算出範囲ＲＧにおける第２センサー値Ｄ２の単位時間当たりの変化率である。
平均速度ＳＡは、例えば、次の式（１）で算出される。
ＳＡ＝（Ｄ２２－Ｄ２１）／（Ｔ２－Ｔ１） （１）
ここで、第２センサー値Ｄ２２は、終点ＥＰにおける第２センサー値Ｄ２であり、第２センサー値Ｄ２１は、始点ＳＰにおける第２センサー値Ｄ２である。時間Ｔ２は、終点ＥＰにおける経過時間Ｔであり、時間Ｔ１は、始点ＳＰにおける経過時間Ｔである。
換言すれば、第２センサー値Ｄ２の平均速度ＳＡは、始点ＳＰから終点ＥＰまでの算出範囲ＲＧにおける第２センサー値Ｄ２の単位時間当たりの変化率である。
【0045】
また、算出部６１４は、試験力検出値ＦＤから試験片ＴＰに作用する応力σを算出する。本実施形態では、算出部６１４は、次の式（２）を用いて、応力σを算出する。
σ＝ＦＤ／ＳＴ （２）
ここで、面積ＳＴは、試験片ＴＰの断面積である。
また、算出部６１４は、応力σをセンサー値記憶部６２２に記憶させる。
また、算出部６１４は、応力σの平均速度ＳＡ、すなわち、平均応力速度Ｓσを、次の式（３）を用いて、算出する。
Ｓσ＝（σ２－σ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （３）
ここで、応力σ２は、終点ＥＰにおける応力σであり、応力σ１は、始点ＳＰにおける応力σである。
換言すれば、応力σ２の平均速度ＳＡは、始点ＳＰから終点ＥＰまでの算出範囲ＲＧにおける応力σの単位時間当たりの変化率である。
σ＝ＦＤ／ＳＴ （２）
ここで、面積ＳＴは、試験片ＴＰの断面積である。
また、算出部６１４は、応力σをセンサー値記憶部６２２に記憶させる。
また、算出部６１４は、応力σの平均速度ＳＡ、すなわち、平均応力速度Ｓσを、次の式（３）を用いて、算出する。
Ｓσ＝（σ２－σ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （３）
ここで、応力σ２は、終点ＥＰにおける応力σであり、応力σ１は、始点ＳＰにおける応力σである。
換言すれば、応力σ２の平均速度ＳＡは、始点ＳＰから終点ＥＰまでの算出範囲ＲＧにおける応力σの単位時間当たりの変化率である。
【0046】
本実施形態では、第１センサー値Ｄ１が歪み検出値ＥＤであり、第２センサー値Ｄ２が試験力検出値ＦＤである場合について説明する。第１センサー値Ｄ１が歪み検出値ＥＤであり、第２センサー値Ｄ２が試験力検出値ＦＤである場合は、「第２センサー値Ｄ２は、第１センサー値Ｄ１と相違する」場合の一例に対応する。
【0047】
出力制御部６１５は、表示機構６５に種々の画像を表示させる。例えば、出力制御部６１５は、表示機構６５のＬＣＤに、例えば、平均速度設定画面７００、及び算出範囲設定画面８００を表示する。
出力制御部６１５は、「表示制御部」の一例に対応する。
平均速度設定画面７００については、図３を参照して更に説明する。
算出範囲設定画面８００については、図４を参照して更に説明する。
出力制御部６１５は、「表示制御部」の一例に対応する。
平均速度設定画面７００については、図３を参照して更に説明する。
算出範囲設定画面８００については、図４を参照して更に説明する。
【0048】
また、出力制御部６１５は、プリンターＰＲに対して、印刷用紙等の記録媒体に、種々の画像を印刷させる。出力制御部６１５は、プリンターＰＲに対して、例えば、印刷画像９００を印刷させる。
印刷画像９００については、図６を参照して更に説明する。
印刷画像９００については、図６を参照して更に説明する。
【0049】
［４．設定画面］
次に、図３～図５を参照して、出力制御部６１５がＬＣＤに表示する画面について説明する。図３は、平均速度設定画面７００の一例を示す画面図である。図３に示すように、平均速度設定画面７００には、平均速度選択部７１０と、算出範囲表示部７２０とが表示される。算出範囲表示部７２０は、始点ＳＰと終点ＥＰとを規定する。
次に、図３～図５を参照して、出力制御部６１５がＬＣＤに表示する画面について説明する。図３は、平均速度設定画面７００の一例を示す画面図である。図３に示すように、平均速度設定画面７００には、平均速度選択部７１０と、算出範囲表示部７２０とが表示される。算出範囲表示部７２０は、始点ＳＰと終点ＥＰとを規定する。
【0050】
平均速度選択部７１０は、例えば、第２操作機構６４を介して、ユーザーからの指示を受け付けて、受け付けた指示に基づいて、算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２を指定する。
図３に示すように、平均速度選択部７１０は、平均応力速度選択部７１１と、平均歪み速度選択部７１２と、第１平均変位速度選択部７１３と、第２平均変位速度選択部７１４と、を含む。
図３に示すように、平均速度選択部７１０は、平均応力速度選択部７１１と、平均歪み速度選択部７１２と、第１平均変位速度選択部７１３と、第２平均変位速度選択部７１４と、を含む。
【0051】
平均応力速度選択部７１１は、算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として応力σを指定する場合に、例えば、ユーザーからのクリック操作を受け付ける。算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として応力σを指定する場合には、算出部６１４は、平均速度ＳＡとして平均応力速度Ｓσを算出する。平均応力速度Ｓσは、上述の式（３）によって算出される。
なお、平均応力速度選択部７１１に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「１０Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが「２０Ｎ」として規定される。
なお、平均応力速度選択部７１１に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「１０Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが「２０Ｎ」として規定される。
【0052】
平均歪み速度選択部７１２は、算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として歪み検出値ＥＤを指定する場合に、例えば、ユーザーからのクリック操作を受け付ける。算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として歪み検出値ＥＤを指定する場合には、算出部６１４は、平均速度ＳＡとして平均歪み速度ＳＥを算出する。平均歪み速度は、上述の式（４）によって算出される。
ＳＥ＝（ＥＤ２－ＥＤ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （４）
ここで、歪み検出値ＥＤ２は、終点ＥＰにおける歪み検出値ＥＤであり、歪み検出値ＥＤ１は、始点ＳＰにおける歪み検出値ＥＤである。
なお、平均歪み速度選択部７１２に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「１０Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが「２０Ｎ」として規定される。
ＳＥ＝（ＥＤ２－ＥＤ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （４）
ここで、歪み検出値ＥＤ２は、終点ＥＰにおける歪み検出値ＥＤであり、歪み検出値ＥＤ１は、始点ＳＰにおける歪み検出値ＥＤである。
なお、平均歪み速度選択部７１２に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「１０Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが「２０Ｎ」として規定される。
【0053】
第１平均変位速度選択部７１３は、算出部６１４が、平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として変位検出値ＸＤを指定し、且つ、歪みセンサー１５が試験片ＴＰに装着されている期間での平均値を算出する場合に、例えば、ユーザーからのクリック操作を受け付ける。算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として変位検出値ＸＤを指定する場合には、算出部６１４は、平均速度ＳＡとして第１平均変位速度ＳＸ１を算出する。第１平均変位速度ＳＸ１は、次の式（５）によって算出される。
ＳＸ１＝（ＸＤ２－ＸＤ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （５）
ここで、変位検出値ＸＤ２は、終点ＥＰにおける変位検出値ＸＤであり、変位検出値ＸＤ１は、始点ＳＰにおける変位検出値ＸＤである。
なお、始点ＳＰから終点ＥＰまでの期間では、歪みセンサー１５が試験片ＴＰに装着されている。
また、第１平均変位速度選択部７１３に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「０Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが始点ＳＰの「１．００ｓｅｃ」後として規定される。
ＳＸ１＝（ＸＤ２－ＸＤ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （５）
ここで、変位検出値ＸＤ２は、終点ＥＰにおける変位検出値ＸＤであり、変位検出値ＸＤ１は、始点ＳＰにおける変位検出値ＸＤである。
なお、始点ＳＰから終点ＥＰまでの期間では、歪みセンサー１５が試験片ＴＰに装着されている。
また、第１平均変位速度選択部７１３に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「０Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが始点ＳＰの「１．００ｓｅｃ」後として規定される。
【0054】
第２平均変位速度選択部７１４は、算出部６１４が、平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として変位検出値ＸＤを指定し、且つ、歪みセンサー１５が試験片ＴＰから取り外されている期間での平均値を算出する場合に、例えば、ユーザーからのクリック操作を受け付ける。算出部６１４が平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２として変位検出値ＸＤを指定する場合には、算出部６１４は、平均速度ＳＡとして第２平均変位速度ＳＸ２を算出する。第２平均変位速度ＳＸ２は、次の式（６）によって算出される。
ＳＸ２＝（ＸＤ２－ＸＤ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （６）
なお、始点ＳＰから終点ＥＰまでの期間では、歪みセンサー１５が試験片ＴＰから取り外されている。
また、第２平均変位速度選択部７１４に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「１００Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが始点ＳＰの「２．５０ｓｅｃ」後として規定される。
ＳＸ２＝（ＸＤ２－ＸＤ１）／（Ｔ２－Ｔ１） （６）
なお、始点ＳＰから終点ＥＰまでの期間では、歪みセンサー１５が試験片ＴＰから取り外されている。
また、第２平均変位速度選択部７１４に対応する算出範囲表示部７２０では、始点ＳＰは、試験力検出値ＦＤが「１００Ｎ」として規定され、終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤが始点ＳＰの「２．５０ｓｅｃ」後として規定される。
【0055】
平均歪み速度選択部７１２がユーザーによってクリック操作された場合には、図４に示す算出範囲設定画面８００が出力制御部６１５によって表示機構６５のＬＣＤに表示される。図４は、算出範囲設定画面８００の一例を示す画面図である。
図４に示すように、算出範囲設定画面８００には、平均速度表示部８１０と、算出範囲入力部８２０とが表示される。
平均速度表示部８１０には、平均速度ＳＡとして算出される項目が表示される。図４では、平均速度表示部８１０には、例えば、「平均歪み速度」と表示され、平均速度ＳＡとして平均歪み速度ＳＥが算出部６１４によって算出されることを示している。
図４に示すように、算出範囲設定画面８００には、平均速度表示部８１０と、算出範囲入力部８２０とが表示される。
平均速度表示部８１０には、平均速度ＳＡとして算出される項目が表示される。図４では、平均速度表示部８１０には、例えば、「平均歪み速度」と表示され、平均速度ＳＡとして平均歪み速度ＳＥが算出部６１４によって算出されることを示している。
【0056】
算出範囲入力部８２０には、検出値選択部８３０と、始点入力部８４０と、終点入力部８５０と、が表示される。検出値選択部８３０は、検出値表示部８３１と、プルダウンメニュー表示部８３２と、を含む。
検出値表示部８３１は、第１センサー値Ｄ１を表示する。図４では、検出値表示部８３１に「試験力」と表示され、試験力検出値ＦＤが第１センサー値Ｄ１として指定されていることを示す。
プルダウンメニュー表示部８３２は、第１センサー値Ｄ１として選択可能な項目をプルダウンメニューとして表示する場合に、ユーザーによってクリック操作される。プルダウンメニュー表示部８３２がクリック操作され場合には、図５に示すプルダウンメニュー８３３が、出力制御部６１５によって表示機構６５のＬＣＤに表示される。
検出値表示部８３１は、第１センサー値Ｄ１を表示する。図４では、検出値表示部８３１に「試験力」と表示され、試験力検出値ＦＤが第１センサー値Ｄ１として指定されていることを示す。
プルダウンメニュー表示部８３２は、第１センサー値Ｄ１として選択可能な項目をプルダウンメニューとして表示する場合に、ユーザーによってクリック操作される。プルダウンメニュー表示部８３２がクリック操作され場合には、図５に示すプルダウンメニュー８３３が、出力制御部６１５によって表示機構６５のＬＣＤに表示される。
【0057】
始点入力部８４０は、始点ＳＰにおける試験力検出値ＦＤの値が、ユーザーによって、例えば、第２操作機構６４に配置されたキーボードを介して入力され、出力制御部６１５によって表示される。図４では、例えば、始点ＳＰが「１０Ｎ」に指定される。
終点入力部８５０は、終点ＥＰにおける試験力検出値ＦＤの値が、ユーザーによって、例えば、第２操作機構６４に配置されたキーボードを介して入力され、出力制御部６１５によって表示される。図４では、例えば、終点ＥＰが「２０Ｎ」に指定される。
終点入力部８５０は、終点ＥＰにおける試験力検出値ＦＤの値が、ユーザーによって、例えば、第２操作機構６４に配置されたキーボードを介して入力され、出力制御部６１５によって表示される。図４では、例えば、終点ＥＰが「２０Ｎ」に指定される。
【0058】
次に、図５を参照してプルダウンメニュー８３３について説明する。図５は、算出範囲設定画面８００のプルダウンメニュー８３３の一例を示す画面図である。
図５に示すように、検出値選択部８３０は、検出値表示部８３１と、プルダウンメニュー表示部８３２と、プルダウンメニュー８３３と、を含む。プルダウンメニュー８３３は、プルダウンメニュー表示部８３２が、ユーザーによってクリック操作された場合に、出力制御部６１５によって表示機構６５のＬＣＤに表示される。
プルダウンメニュー８３３には、第１センサー値Ｄ１として選択可能な項目が表示される。プルダウンメニュー８３３には、例えば、「試験力」、「応力」、「変位」、及び「歪み」と表示され、第１センサー値Ｄ１として、試験力検出値ＦＤ、応力σ、変位検出値ＸＤ、及び歪み検出値ＥＤが選択可能である。
例えば、プルダウンメニュー８３３に表示された「変位」がクリック操作された場合には、検出値表示部８３１に「変位」と表示され、変位検出値ＸＤが第１センサー値Ｄ１として指定されていることを示す。
図５に示すように、検出値選択部８３０は、検出値表示部８３１と、プルダウンメニュー表示部８３２と、プルダウンメニュー８３３と、を含む。プルダウンメニュー８３３は、プルダウンメニュー表示部８３２が、ユーザーによってクリック操作された場合に、出力制御部６１５によって表示機構６５のＬＣＤに表示される。
プルダウンメニュー８３３には、第１センサー値Ｄ１として選択可能な項目が表示される。プルダウンメニュー８３３には、例えば、「試験力」、「応力」、「変位」、及び「歪み」と表示され、第１センサー値Ｄ１として、試験力検出値ＦＤ、応力σ、変位検出値ＸＤ、及び歪み検出値ＥＤが選択可能である。
例えば、プルダウンメニュー８３３に表示された「変位」がクリック操作された場合には、検出値表示部８３１に「変位」と表示され、変位検出値ＸＤが第１センサー値Ｄ１として指定されていることを示す。
【0059】
［５．印刷画像］
次に、図６を参照して、印刷画像９００について説明する。図６は、印刷画像９００の一例を示す図である。印刷画像９００は、出力制御部６１５からの指示に従って、プリンターＰＲによって、印刷用紙等の記録媒体に印刷される。
図６に示すように、印刷画像９００は、試験情報画像９１０と、試験結果画像９２０と、グラフ画像９３０とを含む。
次に、図６を参照して、印刷画像９００について説明する。図６は、印刷画像９００の一例を示す図である。印刷画像９００は、出力制御部６１５からの指示に従って、プリンターＰＲによって、印刷用紙等の記録媒体に印刷される。
図６に示すように、印刷画像９００は、試験情報画像９１０と、試験結果画像９２０と、グラフ画像９３０とを含む。
【0060】
試験情報画像９１０は、試験情報として、試験が実行された年月日、及び試験条件を含む。
試験結果画像９２０は、試験結果として、平均応力速度Ｓσ、平均歪み速度ＳＥ、第１平均変位速度ＳＸ１、第２平均変位速度ＳＸ２を含む。例えば、平均歪み速度ＳＥは、「０．００００１」であり、第１平均変位速度ＳＸ１は、「０．０１５５８」である。
試験結果画像９２０は、試験結果として、平均応力速度Ｓσ、平均歪み速度ＳＥ、第１平均変位速度ＳＸ１、第２平均変位速度ＳＸ２を含む。例えば、平均歪み速度ＳＥは、「０．００００１」であり、第１平均変位速度ＳＸ１は、「０．０１５５８」である。
【0061】
グラフ画像９３０には、例えば、横軸が経過時間Ｔ、縦軸が変位検出値ＸＤであり、グラフＧ１は、変位検出値ＸＤの経時変化を示す。
グラフＧ１に示すように、変位検出値ＸＤは単調に増加する。グラフＧ１には、点Ｐ１及び点Ｐ２が記載されている。点Ｐ１は、試験力検出値ＦＤが最大値となる点を示す。点Ｐ２は、試験片ＴＰが破断する点を示す。
グラフＧ１に示すように、変位検出値ＸＤは単調に増加する。グラフＧ１には、点Ｐ１及び点Ｐ２が記載されている。点Ｐ１は、試験力検出値ＦＤが最大値となる点を示す。点Ｐ２は、試験片ＴＰが破断する点を示す。
【0062】
［６．表示制御装置の処理］
次に、図７を参照して、表示制御装置６０が実行する処理について説明する。
図７は、表示制御装置６０の処理の一例を示すフローチャートである。図７では、第１センサー値Ｄ１が、例えば試験力検出値ＦＤであり、第２センサー値Ｄ２が、例えば歪み検出値ＥＤである場合について説明する。換言すれば、始点ＳＰ及び終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤで指定され、算出部６１４は、平均速度ＳＡとして平均歪み速度ＳＥを算出する場合について説明する。
次に、図７を参照して、表示制御装置６０が実行する処理について説明する。
図７は、表示制御装置６０の処理の一例を示すフローチャートである。図７では、第１センサー値Ｄ１が、例えば試験力検出値ＦＤであり、第２センサー値Ｄ２が、例えば歪み検出値ＥＤである場合について説明する。換言すれば、始点ＳＰ及び終点ＥＰは、試験力検出値ＦＤで指定され、算出部６１４は、平均速度ＳＡとして平均歪み速度ＳＥを算出する場合について説明する。
【0063】
図７に示すように、まず、ステップＳ１０１において、指定部６１１は、第１センサー値Ｄ１（例えば、試験力検出値ＦＤ）について、平均速度ＳＡの算出範囲ＲＧを規定する始点ＳＰと終点ＥＰとを指定する。
次に、ステップＳ１０３において、指定部６１１は、平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２（例えば、歪み検出値ＥＤ）を指定する。
次に、ステップＳ１０５において、第２取得部６１２は、試験開始情報ＪＳを本体制御装置５０から取得する。試験開始情報ＪＳは、試験機本体２が引張試験の実行を開始したことを示す。試験実行部５１１は、例えば、ユーザーからの指示に従って、試験機本体２が引張試験の実行を開始する。
次に、ステップＳ１０７において、第２取得部６１２は、第１センサー値Ｄ１として試験力検出値ＦＤを取得する。
次に、ステップＳ１０３において、指定部６１１は、平均速度ＳＡを算出する第２センサー値Ｄ２（例えば、歪み検出値ＥＤ）を指定する。
次に、ステップＳ１０５において、第２取得部６１２は、試験開始情報ＪＳを本体制御装置５０から取得する。試験開始情報ＪＳは、試験機本体２が引張試験の実行を開始したことを示す。試験実行部５１１は、例えば、ユーザーからの指示に従って、試験機本体２が引張試験の実行を開始する。
次に、ステップＳ１０７において、第２取得部６１２は、第１センサー値Ｄ１として試験力検出値ＦＤを取得する。
【0064】
次に、ステップＳ１０９において、算出部６１４は、第１センサー値Ｄ１としての試験力検出値ＦＤが始点ＳＰに到達したか否かを判定する。
試験力検出値ＦＤが始点ＳＰに到達していないと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１０９；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。試験力検出値ＦＤが始点ＳＰに到達したと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１０９；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１１に進む。
そして、ステップＳ１１１において、第１取得部５１２は、第２センサー値Ｄ２として歪み検出値ＥＤを取得する。
試験力検出値ＦＤが始点ＳＰに到達していないと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１０９；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。試験力検出値ＦＤが始点ＳＰに到達したと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１０９；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１１に進む。
そして、ステップＳ１１１において、第１取得部５１２は、第２センサー値Ｄ２として歪み検出値ＥＤを取得する。
【0065】
次に、ステップＳ１１３において、算出部６１４は、第１センサー値Ｄ１としての試験力検出値ＦＤが終点ＥＰに到達したか否かを判定する。
試験力検出値ＦＤが終点ＥＰに到達していないと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１１３；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。試験力検出値ＦＤが終点ＥＰに到達したと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１５へ進む。
そして、ステップＳ１１５において、算出部６１４は、第２センサー値Ｄ２（歪み検出値ＥＤ）の平均速度ＳＡ、すなわち、平均歪み速度ＳＥを算出する。
そして、ステップＳ１１７において、出力制御部６１５は、表示機構６５のＬＣＤに、平均速度ＳＡ、すなわち、平均歪み速度ＳＥを表示する。その後、処理が終了される。
試験力検出値ＦＤが終点ＥＰに到達していないと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１１３；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。試験力検出値ＦＤが終点ＥＰに到達したと算出部６１４が判定した場合（ステップＳ１１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１５へ進む。
そして、ステップＳ１１５において、算出部６１４は、第２センサー値Ｄ２（歪み検出値ＥＤ）の平均速度ＳＡ、すなわち、平均歪み速度ＳＥを算出する。
そして、ステップＳ１１７において、出力制御部６１５は、表示機構６５のＬＣＤに、平均速度ＳＡ、すなわち、平均歪み速度ＳＥを表示する。その後、処理が終了される。
【0066】
ステップＳ１０１は、「指定ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１１１は、「取得ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１１５は、「算出ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１１７は、「表示制御ステップ」の一例に対応する。
【0067】
［７．態様と効果］
上述した本実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上述した本実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
【0068】
（第１項）
本実施態様に関わる材料試験機は、表示機構を備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機であって、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定部と、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得部と、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出部と、前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御部と、を備える。
本実施態様に関わる材料試験機は、表示機構を備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機であって、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定部と、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得部と、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出部と、前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御部と、を備える。
【0069】
第１項に記載の材料試験機によれば、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する。そして、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得し、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する。また、前記平均速度を前記表示機構に表示する。
よって、第１センサー値について、平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定するため、平均速度の算出範囲としてユーザーが所望する範囲を指定できる。また、材料試験を実行中に、平均速度を表示できる。したがって、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を表示できる。その結果、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認できる。
よって、第１センサー値について、平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定するため、平均速度の算出範囲としてユーザーが所望する範囲を指定できる。また、材料試験を実行中に、平均速度を表示できる。したがって、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を表示できる。その結果、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認できる。
【0070】
（第２項）
第１項に記載の材料試験機において、前記第２センサー値は、前記第１センサー値と相違する。
第１項に記載の材料試験機において、前記第２センサー値は、前記第１センサー値と相違する。
【0071】
第２項に記載の材料試験機によれば、前記第２センサー値は、前記第１センサー値と相違する。
従来は、前記第２センサー値が前記第１センサー値と相違する場合には、前記第２センサー値が前記第１センサー値と同一である場合と比較して、算出範囲における平均速度を算出することに要する手間が大きかった。したがって、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認できるという効果を更に顕在化できる。
従来は、前記第２センサー値が前記第１センサー値と相違する場合には、前記第２センサー値が前記第１センサー値と同一である場合と比較して、算出範囲における平均速度を算出することに要する手間が大きかった。したがって、材料試験を実行中に、ユーザーが所望する範囲における平均速度を確認できるという効果を更に顕在化できる。
【0072】
（第３項）
第１項又は第２項に記載の材料試験機において、試験力を検出する試験力センサー、変位を検出する変位センサー、及び、試験片の歪みを検出する歪みセンサーを備え、前記複数のセンサー値は、前記試験力センサーが検出した試験力検出値、前記変位センサーが検出した変位検出値、及び、前記歪みセンサーが検出した歪み検出値を含む。
第１項又は第２項に記載の材料試験機において、試験力を検出する試験力センサー、変位を検出する変位センサー、及び、試験片の歪みを検出する歪みセンサーを備え、前記複数のセンサー値は、前記試験力センサーが検出した試験力検出値、前記変位センサーが検出した変位検出値、及び、前記歪みセンサーが検出した歪み検出値を含む。
【0073】
第３項に記載の材料試験機によれば、前記複数のセンサー値は、前記試験力センサーが検出した試験力検出値、前記変位センサーが検出した変位検出値、及び、前記歪みセンサーが検出した歪み検出値を含む。
よって、ユーザーは、試験力検出値、変位検出値、及び歪み検出値の中から第１センサー値を指定できる。また、ユーザーは、試験力検出値、変位検出値、及び歪み検出値の中から第２センサー値を指定できる。したがって、ユーザーの利便性を向上できる。
よって、ユーザーは、試験力検出値、変位検出値、及び歪み検出値の中から第１センサー値を指定できる。また、ユーザーは、試験力検出値、変位検出値、及び歪み検出値の中から第２センサー値を指定できる。したがって、ユーザーの利便性を向上できる。
【0074】
（第４項）
第３項に記載の材料試験機において、前記第１センサー値が前記歪み検出値である場合に、前記指定部は、前記終点をユーザーからの前記歪みセンサーを前記試験片から取り外す操作に応じて指定する。
第３項に記載の材料試験機において、前記第１センサー値が前記歪み検出値である場合に、前記指定部は、前記終点をユーザーからの前記歪みセンサーを前記試験片から取り外す操作に応じて指定する。
【0075】
第４項に記載の材料試験機によれば、前記第１センサー値が前記歪み検出値である場合に、前記指定部は、前記終点をユーザーからの前記歪みセンサーを前記試験片から取り外す操作に応じて指定する。
よって、前記第１センサー値が前記歪み検出値である場合に、前記終点をユーザーからの前記歪みセンサーを前記試験片から取り外す操作に応じて指定できる。したがって、歪みセンサーを試験片から取り外すタイミングを、前記終点として指定できる。その結果、ユーザーの利便性を向上できる。
よって、前記第１センサー値が前記歪み検出値である場合に、前記終点をユーザーからの前記歪みセンサーを前記試験片から取り外す操作に応じて指定できる。したがって、歪みセンサーを試験片から取り外すタイミングを、前記終点として指定できる。その結果、ユーザーの利便性を向上できる。
【0076】
（第５項）
第３項に記載の材料試験機において、前記算出部は、前記試験力検出値から前記試験片に作用する応力を算出し、前記算出範囲における前記応力の平均速度を算出する。
第３項に記載の材料試験機において、前記算出部は、前記試験力検出値から前記試験片に作用する応力を算出し、前記算出範囲における前記応力の平均速度を算出する。
【0077】
第５項に記載の材料試験機によれば、前記算出部は、前記試験力検出値から前記試験片に作用する応力を算出し、前記算出範囲における前記応力の平均速度を算出する。
よって、材料試験を実行中に、算出範囲における前記応力の平均速度を算出できる。したがって、材料試験を実行中に、算出範囲における前記応力の平均速度を表示できる。その結果、材料試験を実行中に、算出範囲における前記応力の平均速度を確認できる。
よって、材料試験を実行中に、算出範囲における前記応力の平均速度を算出できる。したがって、材料試験を実行中に、算出範囲における前記応力の平均速度を表示できる。その結果、材料試験を実行中に、算出範囲における前記応力の平均速度を確認できる。
【0078】
（第６項）
第３項に記載の材料試験機において、前記試験片の破断を検出する検出部を備え、前記指定部は、前記終点を前記検出部が前記試験片の破断を検出したときに指定する。
第３項に記載の材料試験機において、前記試験片の破断を検出する検出部を備え、前記指定部は、前記終点を前記検出部が前記試験片の破断を検出したときに指定する。
【0079】
第６項に記載の材料試験機によれば、前記試験片の破断を検出する検出部を備え、前記指定部は、前記終点を前記検出部が前記試験片の破断を検出したときに指定する。
よって、前記終点を前記検出部が前記試験片の破断を検出したときに指定できる。したがって、ユーザーの利便性を向上できる。
よって、前記終点を前記検出部が前記試験片の破断を検出したときに指定できる。したがって、ユーザーの利便性を向上できる。
【0080】
（第７項）
本実施態様に関わる材料試験機の表示制御方法は、制御装置と表示機構とを備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機の表示制御方法であって、前記制御装置が、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定ステップと、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得ステップと、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出ステップと、前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御ステップと、を含む。
本実施態様に関わる材料試験機の表示制御方法は、制御装置と表示機構とを備え、平均速度を前記表示機構に表示する材料試験機の表示制御方法であって、前記制御装置が、複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第１センサー値について、前記平均速度の算出範囲を規定する始点と終点とを、予め指定する指定ステップと、材料試験を実行中に、前記複数のセンサー値を取得する取得ステップと、前記複数のセンサー値のうちの１つのセンサー値である第２センサー値について、前記算出範囲における前記平均速度を算出する算出ステップと、前記平均速度を前記表示機構に表示する表示制御ステップと、を含む。
【0081】
第７項に記載の材料試験機の表示制御方法によれば、第１項に記載の材料試験機と同様の作用効果を奏する。
【0082】
［８．その他の実施形態］
なお、本実施形態に係る引張試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
なお、本実施形態に係る引張試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
【0083】
例えば、本実施形態では、材料試験機が引張試験機１である場合について説明するが、これに限定されない。材料試験機が試験片ＴＰに試験力を付与し、試験片ＴＰを変形させて材料試験を行えばよい。例えば、材料試験機が、圧縮試験機、曲げ試験機、又はねじり試験機でもよい。
【0084】
本実施形態では、引張試験機１が本体制御装置５０と表示制御装置６０とを別体として備える場合について説明したが、これに限定されない、例えば、本体制御装置５０と表示制御装置６０とが、一体に構成されてもよい。
【0085】
また、本実施形態では、表示制御装置６０が、指定部６１１と、検出部６１３と、算出部６１４と、出力制御部６１５と、センサー値記憶部６２２と、を備える場合について説明したが、これに限定されない。例えば、本体制御装置５０が、指定部６１１と、検出部６１３と、算出部６１４と、出力制御部６１５と、センサー値記憶部６２２と、を備えてもよい。
【0086】
また、本実施形態では、表示制御装置６０が、表示機構６５を備える場合について説明したが、これに限定されない。例えば、表示機構６５が、表示制御装置６０とは別体として構成され、表示制御装置６０と通信可能に構成されてもよい。
【0087】
また、図２に示した各機能部は機能的構成を示すものであって、具体的な実装形態は特に制限されない。つまり、必ずしも各機能部に個別に対応するハードウェアが実装される必要はなく、一つのプロセッサがプログラムを実行することで複数の機能部の機能を実現する構成とすることも勿論可能である。また、上記実施形態においてソフトウェアで実現される機能の一部をハードウェアで実現してもよく、或いは、ハードウェアで実現される機能の一部をソフトウェアで実現してもよい。
【0088】
また、図７に示すフローチャートの処理単位は、表示制御装置６０の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。図７のフローチャートに示す処理単位の分割の仕方や名称によって制限されることはなく、処理内容に応じて、更に多くの処理単位に分割することもできるし、１つの処理単位が更に多くの処理を含むように分割することもできる。また、上記のフローチャートの処理順序も、図示した例に限られるものではない。
【0089】
また、図２を参照して説明したように、本実施形態では、表示制御装置６０が備える第２プロセッサ６１に、第２メモリ６２に記憶された第２制御プログラム６２１を実行させる。この第２制御プログラム６２１は、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録しておくことも可能である。記録媒体としては、磁気的、光学的記録媒体又は半導体メモリデバイスを用いることができる。
具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。
また、記録媒体は、表示制御装置６０が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、第２制御プログラム６２１をサーバー装置等に記憶させておき、サーバー装置から表示制御装置６０に、第２制御プログラム６２１をダウンロードしてもよい。
具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。
また、記録媒体は、表示制御装置６０が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、第２制御プログラム６２１をサーバー装置等に記憶させておき、サーバー装置から表示制御装置６０に、第２制御プログラム６２１をダウンロードしてもよい。
【符号の説明】
【0090】
１ 引張試験機（材料試験機）
２ 試験機本体
３ 制御ユニット
５０ 本体制御装置
６０ 表示制御装置
６０Ａ 第２制御部（制御装置）
６１ 第２プロセッサ
６１１ 指定部
６１２ 第２取得部（取得部）
６１３ 検出部
６１４ 算出部
６１５ 出力制御部（表示制御部）
６２ 第２メモリ
６２１ 第２制御プログラム
６２２ センサー値記憶部
６５ 表示機構
Ｄ１ 第１センサー値
Ｄ２ 第２センサー値
ＥＤ 歪み検出値
ＦＤ 試験力検出値
ＸＤ 変位検出値
ＳＰ 始点
ＥＰ 終点
ＪＢ 破断検出情報
ＪＥ 試験終了情報
ＪＳ 試験開始情報
ＳＡ 平均速度
ＳＥ 平均歪み速度
ＳＸ１ 第１平均変位速度
ＳＸ２ 第２平均変位速度
Ｓσ 平均応力速度
２ 試験機本体
３ 制御ユニット
５０ 本体制御装置
６０ 表示制御装置
６０Ａ 第２制御部（制御装置）
６１ 第２プロセッサ
６１１ 指定部
６１２ 第２取得部（取得部）
６１３ 検出部
６１４ 算出部
６１５ 出力制御部（表示制御部）
６２ 第２メモリ
６２１ 第２制御プログラム
６２２ センサー値記憶部
６５ 表示機構
Ｄ１ 第１センサー値
Ｄ２ 第２センサー値
ＥＤ 歪み検出値
ＦＤ 試験力検出値
ＸＤ 変位検出値
ＳＰ 始点
ＥＰ 終点
ＪＢ 破断検出情報
ＪＥ 試験終了情報
ＪＳ 試験開始情報
ＳＡ 平均速度
ＳＥ 平均歪み速度
ＳＸ１ 第１平均変位速度
ＳＸ２ 第２平均変位速度
Ｓσ 平均応力速度
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】