特開 2024-68864 ホームドア装置、ホームドア装置の診断方法、ホームドア装置の診断プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024068864

(43)【公開日】2024-05-21

(54)【発明の名称】ホームドア装置、ホームドア装置の診断方法、ホームドア装置の診断プログラム

(51)【国際特許分類】

   B61B 1/02 20060101AFI20240514BHJP

   G01R 31/00 20060101ALI20240514BHJP

【ＦＩ】

B61B1/02

G01R31/00

【審査請求】未請求

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022179486

(22)【出願日】2022-11-09

(71)【出願人】

【識別番号】503405689

【氏名又は名称】ナブテスコ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100105924

【弁理士】

【氏名又は名称】森下 賢樹

(72)【発明者】

【氏名】阿久津 昌兵

【テーマコード（参考）】

2G036

3D101

【Ｆターム（参考）】

2G036AA24

2G036BA46

2G036BB02

3D101AA05

3D101AA12

3D101AA24

3D101AB08

(57)【要約】

【課題】本発明は、従来のホームドア装置の問題点に鑑みなされたもので、簡易な構成により平滑コンデンサの劣化状態を判断可能なホームドア装置の技術を提供することを目的とする。
【解決手段】ホームドア装置１００は、プラットホーム上に設置された扉１２を開閉駆動する駆動部４と、駆動部４に電力供給する平滑コンデンサ２４と、平滑コンデンサ２４の電圧値を経時的に記憶する記憶部３２と、記憶部３２の情報に基づいて平滑コンデンサ２４が劣化しているか否かを判断する判断部と、を備える。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

プラットホーム上に設置された扉を開閉駆動する駆動部と、
前記駆動部に電力供給する平滑コンデンサと、
前記平滑コンデンサの電圧値を経時的に記憶する記憶部と、
前記記憶部の記憶情報を用いて前記平滑コンデンサが劣化しているか否かを判断する判断部と、
を備えるホームドア装置。

【請求項2】

前記判断部は、前記駆動部が駆動していないときの前記平滑コンデンサの電圧値の変化の具合が所定の条件を満たす場合に前記平滑コンデンサが劣化していると判断する、請求項１に記載のホームドア装置。

【請求項3】

前記所定の条件は、前記平滑コンデンサの電圧値の変化の割合が閾値以上であることである、請求項２に記載のホームドア装置。

【請求項4】

前記判断部は、前記平滑コンデンサへの給電が停止されたときに劣化しているか否かを判断する、請求項１に記載のホームドア装置。

【請求項5】

前記平滑コンデンサの周辺温度に関する温度情報を取得する温度情報取得部をさらに備え、
前記判断部は、前記温度情報取得部で取得された前記温度情報を加味して前記平滑コンデンサが劣化しているか否かを判断する、請求項１に記載のホームドア装置。

【請求項6】

前記判断部で前記平滑コンデンサが劣化していると判断されたときに外部に報知する報知部をさらに備える、請求項１に記載のホームドア装置。

【請求項7】

前記記憶部は、前記平滑コンデンサから給電される電力を用いて当該平滑コンデンサから供給される電圧値を経時的に記憶する、請求項１に記載のホームドア装置。

【請求項8】

プラットホーム上に設置された扉を開閉駆動する駆動部に電力供給する平滑コンデンサの電圧値を経時的に記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された記憶情報を用いて前記平滑コンデンサが劣化しているか否かを判断するステップと、
を含む、ホームドア装置の診断方法。

【請求項9】

プラットホーム上に設置された扉を開閉駆動する駆動部に電力供給する平滑コンデンサの電圧値を経時的に記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された記憶情報を用いて前記平滑コンデンサが劣化しているか否かを判断するステップと、
をコンピュータに実行させる、ホームドア装置の診断プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、ホームドア装置、ホームドア装置の診断方法およびホームドア装置の診断プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

平滑コンデンサの劣化状態を検知する装置が知られている。例えば、特許文献１には、平滑コンデンサの劣化状態を検知する機能を有する電力変換装置が記載されている。この装置は、共通の直流電圧部に接続された複数の電力変換器を有し、各電力変換器は平滑コンデンサを有している。この装置では、複数の電力変換器のいずれかの平滑コンデンサから他の電力変換器の平滑コンデンサに流れる電流を解析することで平滑コンデンサの劣化状態を検知する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１８－１９１４４６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ホームドア装置は重要なインフラストラクチャであり、稼働中の故障等は極力避けることが望ましい。このため、装置の構成部品の劣化状態を定期的に監視し、故障前に劣化した部品を交換することが考えられる。

【0005】

一方、ホームドア装置は、既設のプラットホームに設置される場合が多く、この場合、ホームドア装置によりプラットホームが狭くなるため、ホームドア装置の薄型化は重要である。したがって、構成部品の劣化状態を監視するための装置も極力小さいことが望ましい。しかしながら、特許文献１に記載の装置は、複数の電力変換器について、いずれかの電力変換器の平滑コンデンサから他の電力変換器の平滑コンデンサに流れる電流を解析するものであり、平滑コンデンサの劣化検知のための追加部品が多くなる。追加部品が増えると回路基板が大型化し、薄型化が求められるホームドア装置の制御盤への収容が難しいという課題があった。

【0006】

本発明は、こうした課題に鑑みてなされたものであり、簡易な構成により平滑コンデンサの劣化状態を判断可能なホームドア装置の技術を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記課題を解決するために、本発明のある態様のホームドア装置は、プラットホーム上に設置された扉を開閉駆動する駆動部と、駆動部に電力供給する平滑コンデンサと、平滑コンデンサの電圧値を経時的に記憶する記憶部と、記憶部の記憶情報を用いて平滑コンデンサが劣化しているか否かを判断する判断部と、を備える。

【0008】

なお、以上の任意の組み合わせや、本発明の構成要素や表現を方法、装置、プログラム、プログラムを記録した一時的なまたは一時的でない記憶媒体、システムなどの間で相互に置換したものもまた、本発明の態様として有効である。

【発明の効果】

【0009】

本発明によれば、簡易な構成により平滑コンデンサの劣化状態を判断可能なホームドア装置の技術を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】第１実施形態のホームドア装置を概略的に示す斜視図である。

【図2】図１のホームドア装置の構成を示すブロック図である。

【図3】図１のホームドア装置の動作の一例を示すフローチャートである。

【図4】平滑コンデンサの電圧値の変化の一例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

本明細書で開示した実施形態のうち、複数の物体で構成されているものは、当該複数の物体を一体化してもよく、逆に一つの物体で構成されているものを複数の物体に分けることができる。一体化されているか否かにかかわらず、発明の目的を達成できるように構成されていればよい。

【0012】

本明細書で開示した実施形態のうち、複数の機能が分散して設けられているものは、当該複数の機能の一部または全部を集約して設けても良く、逆に複数の機能が集約して設けられているものを、当該複数の機能の一部または全部が分散するように設けることができる。機能が集約されているか分散されているかにかかわらず、発明の目的を達成できるように構成されていればよい。

【0013】

また、共通点のある別々の構成要素には、名称の冒頭に「第１、第２」等と付して区別し、総称するときはこれらを省略する。また、第１、第２などの序数を含む用語は多様な構成要素を説明するために用いられるが、この用語は一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的でのみ用いられ、この用語によって構成要素が限定されるものではない。

【0014】

本発明のある態様のホームドア装置は、プラットホーム上に設置された扉を開閉駆動する駆動部と、前記駆動部に電力供給する平滑コンデンサと、前記平滑コンデンサの電圧値を経時的に記憶する記憶部と、前記記憶部の記憶情報を用いて前記平滑コンデンサが劣化しているか否かを判断する判断部と、を備える。

【0015】

この構成によれば、平滑コンデンサの劣化状態を単独のホームドア装置の中で判断できるようになり、装置の小型化に有利である。発明者は、ホームドア装置の電子部品のうち平滑コンデンサが早期に劣化しやすいという知見を得ており、平滑コンデンサの劣化状態を把握することにより、ホームドア装置の電子部品の寿命（メンテナンスすべき時期）を推定できる。

【0016】

一例として、前記判断部は、前記駆動部が駆動していないときの前記平滑コンデンサの電圧値の変化の具合が所定の条件を満たす場合に前記平滑コンデンサが劣化していると判断する。この場合、駆動部が非駆動時で大きな消費電流がない状態で判断するため、駆動部の消費電流の影響を殆ど受けずに劣化判断できる。

【0017】

一例として、前記所定の条件は、前記平滑コンデンサの電圧値の変化の割合が閾値以上であることである。この場合、劣化判断のプロセスを簡易な構成で実現できる。このため、記憶部や判断部を小規模なＣＰＵやメモリで実現できる。

【0018】

一例として、前記判断部は、前記平滑コンデンサへの給電が停止されたときに劣化しているか否かを判断する。この場合、給電がない状態で平滑コンデンサの劣化判断ができるため、平滑コンデンサの電圧値の変化を簡易な構成で容易に取得できる。

【0019】

一例として、ホームドア装置は、前記平滑コンデンサの周辺温度に関する温度情報を取得する温度情報取得部をさらに備える。前記判断部は、前記温度情報取得部で取得された前記温度情報を加味して前記平滑コンデンサが劣化しているか否かを判断する。平滑コンデンサは高温で劣化が早く、短期間で故障に至る場合があるところ、温度情報を加味して劣化判断することで、例えば、周囲温度が高いときに判断条件を厳しくすることが可能になる。

【0020】

一例として、ホームドア装置は、前記判断部で前記平滑コンデンサが劣化していると判断されたときに外部に報知する報知部をさらに備える。この場合、平滑コンデンサが劣化していることを外部に認識させることができる。

【0021】

一例として、前記記憶部は、前記平滑コンデンサから給電される電力を用いて当該平滑コンデンサから供給される電圧値を経時的に記憶する。この場合、別の電源や別のマイクロプロセッサ等の検出装置を用いることなく、平滑コンデンサの劣化判定をすることができる。

【0022】

以下、本発明を好適な実施形態をもとに各図面を参照しながら説明する。実施形態及び変形例では、同一または同等の構成要素、部材には、同一の符号を付するものとし、適宜重複した説明は省略する。また、各図面における部材の寸法は、理解を容易にするために適宜拡大、縮小して示される。また、各図面において実施形態を説明する上で重要ではない部材の一部は省略して表示する。

【0023】

［第１実施形態］
以下、図面を参照して、本発明の第１実施形態に係るホームドア装置１００を説明する。図１は、ホームドア装置１００を概略的に示す斜視図である。この図は、装置の一部を破断して内部を示している。図２は、ホームドア装置１００の構成を示すブロック図である。

【0024】

ホームドア装置１００は、鉄道の駅のプラットホーム６０において、乗降口６２を開閉するための自動ドア装置として複数設けられる。ホームドア装置１００は、戸袋部１０と、戸袋部１０から左右方向に進退する扉１２とを有する。ホームドア装置１００は、プラットホーム６０上に設置された扉１２が戸袋部１０から進出すると乗降口６２を閉じ、扉１２が戸袋部１０に引き込まれると乗降口６２を開く。

【0025】

実施形態のホームドア装置１００は、電力供給部２と、情報処理部３と、駆動部４と、を備える。電力供給部２は、駆動部４および情報処理部３に電力を供給する。駆動部４は、扉１２を開閉駆動するために、モータ（不図示）により扉１２を進退駆動するドアエンジンであり、例えば、戸袋部１０に設けられる。情報処理部３は、総合制御盤５０からの開閉指令信号に基づいて、扉１２を開閉するための制御信号ＣＴＬを駆動部４に出力する。電力供給部２および情報処理部３は、戸袋部１０に設けられた個別制御盤５２に収容される。

【0026】

電力供給部２は、変圧器２２と、整流器２３と、平滑コンデンサ２４と、定電圧供給部２５とを有する。変圧器２２は、１次巻線と２次巻線を有するトランスである。変圧器２２は、１次巻線に電力源２１からＡＣ２００Ｖの入力電圧Ｖ０が入力され、２次巻線からＡＣ１００Ｖの交流電圧Ｖ１を出力する。整流器２３は、４つのダイオードがブリッジ接続されたダイオードブリッジにより構成できる。整流器２３は、変圧器２２から入力されたＡＣ１００Ｖの交流電圧Ｖ１を全波整流し、ＤＣ１４１Ｖの整流電圧を出力する。

【0027】

平滑コンデンサ２４は、整流器２３の出力側に並列に接続され、整流電圧を平滑する。平滑コンデンサ２４により平滑された電圧値Ｖ２は、駆動部４および定電圧供給部２５に供給される。定電圧供給部２５は、スイッチングレギュレータ、シリーズレギュレータ等で構成可能な安定化電源である。定電圧供給部２５は、供給された電圧値Ｖ２を２次電圧Ｖ３（例えば、ＤＣ２４Ｖ、ＤＣ５Ｖ等）に変換して情報処理部３に供給する。

【0028】

図２を参照して情報処理部３を説明する。図２に示す情報処理部３の各機能ブロックは、ハードウェア的には、コンピュータのプロセッサ、ＣＰＵ、メモリをはじめとする素子や電子回路、機械装置で実現でき、ソフトウェア的にはコンピュータプログラム等によって実現されるが、ここでは、それらの連携によって実現される機能ブロックを描いている。したがって、これらの機能ブロックはハードウェア、ソフトウェアの組合せによっていろいろなかたちで実現できることは、当業者には理解されるところである。

【0029】

情報処理部３は、開閉制御部３１と、記憶部３２と、報知部３３と、劣化判断部３４と、通信部３５と、電圧取得部３６と、駆動判断部３７と、給電判断部３８と、温度情報取得部３９とを含む。通信部３５は、有線または無線により総合制御盤５０と通信し、総合制御盤５０から扉１２の開閉指令信号を受信し、総合制御盤５０に所定の情報を送信する。開閉制御部３１は、通信部３５で受信された開閉指令信号に基づいて扉１２を開閉するための制御信号ＣＴＬを駆動部４に出力する。

【0030】

電圧取得部３６は、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２を取得する。記憶部３２は、電圧取得部３６で取得された平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２を経時的に記憶する。また、記憶部３２は、情報処理部３の入力情報と、この入力情報の中間処理情報と、情報処理部３の出力情報とを経時的に記憶できる。また、記憶部３２は、ホームドア装置１００の診断プログラムＰ１００を格納できる。記憶部３２は、不揮発性のメモリである。後述するように、平滑コンデンサ２４に蓄えられた電力を用いて当該コンデンサから供給される電圧値Ｖ２を不揮発性メモリである記憶部３２に記録することによって、別の電源や別のマイクロプロセッサ等の検出装置を用いることなく、平滑コンデンサ２４の劣化判定をすることができる。

【0031】

劣化判断部３４は、記憶部３２の記憶情報を用いて平滑コンデンサ２４が劣化しているか否かを判断する。報知部３３は、劣化判断部３４で平滑コンデンサ２４が劣化していると判断されたときに外部に報知する。

【0032】

駆動判断部３７は、駆動部４の駆動状態を判断する。この例では、駆動判断部３７は、扉１２が閉状態で停止しているとき、または扉１２が開状態で停止しているときに、駆動部４は駆動していないと判断する。駆動判断部３７は、開閉制御部３１の制御信号ＣＴＬを用いて駆動部４は駆動していないと判断できる。

【0033】

給電判断部３８は、平滑コンデンサ２４への給電状態を判断する。例えば、給電判断部３８は、入力電圧Ｖ０または交流電圧Ｖ１を検知し、これらの交流電圧が基準値以下である場合に、平滑コンデンサ２４への給電が停止されたと判断できる。この例では、給電判断部３８は、電圧値Ｖ２を検知し、電圧値Ｖ２が基準値以下である場合に、平滑コンデンサ２４への給電が停止されたと判断する。

【0034】

温度情報取得部３９は、平滑コンデンサ２４の周辺に配置された温度センサ１６から、平滑コンデンサ２４の周辺温度に関する温度Ｔｃを取得する。

【0035】

以上のように構成されたホームドア装置１００の動作の一例を説明する。図３は、ホームドア装置１００の動作の一例のプロセスＳ１１０を示すフローチャートである。この動作は、平滑コンデンサ２４が劣化しているか否かを判断するための動作である。平滑コンデンサ２４が劣化すると、その静電容量が小さくなり、平滑コンデンサ２４に充電できる電荷量が減るため、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２の低下速度が速くなり、閾値への到達時間が短くなる。したがって、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２がピーク値（例えば１４１Ｖ）から閾値まで下がるまでの期間を計測することにより、平滑コンデンサ２４の劣化状態を判断できる。

【0036】

ホームドア装置１００では、様々な事情により、入力電圧Ｖ０が短時間断たれる短時間停電がある。以下の動作は、短時間停電を利用し、短時間停電等により平滑コンデンサ２４への給電が停止された場合であって駆動部４が駆動していないときに、平滑コンデンサ２４の劣化判断が実行される。この場合、駆動部４のモータの消費電流がないので、平滑コンデンサ２４の放電条件を略一定にできる。

【0037】

なお、定電圧供給部２５は、平滑コンデンサ２４への給電が停止されても、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２が大幅に低下するまで２次電圧Ｖ３を供給するように構成される。２次電圧Ｖ３の供給可能時間を延長する場合は、例えば、定電圧供給部２５に平滑コンデンサ２４とは別に電荷を蓄積可能なコンデンサを内蔵してもよい。定電圧供給部２５は、このコンデンサの蓄積電荷を用いて２次電圧Ｖ３を供給するように構成されてもよい。

【0038】

プロセスの説明に戻る。このプロセスが開始されると、情報処理部３の駆動判断部３７は、駆動部４が扉１２を駆動しているか否かを判断する（ステップＳ１１１）。このステップで、駆動判断部３７は、開閉制御部３１の制御信号ＣＴＬを用いて駆動部４の駆動状態を判断できる。

【0039】

駆動部４が駆動している場合（ステップＳ１１１のＹ）、情報処理部３は処理をステップＳ１１１の先頭に戻し、ステップＳ１１１を繰り返す。

【0040】

駆動部４が駆動していない場合（ステップＳ１１１のＮ）、情報処理部３の給電判断部３８は、平滑コンデンサ２４への給電が停止されたか否かを判断する（ステップＳ１１２）。このステップで、給電判断部３８は、交流電圧Ｖ１を検知し、交流電圧Ｖ１が基準値以下である場合に、平滑コンデンサ２４への給電が停止されたと判断し、交流電圧Ｖ１が基準値を超える場合に給電されていると判断できる。

【0041】

平滑コンデンサ２４への給電が停止されていない場合（ステップＳ１１２のＮ）、情報処理部３は処理をステップＳ１１２の先頭に戻し、ステップＳ１１２を繰り返す。

【0042】

ここで、平滑コンデンサ２４の周囲温度と劣化速度の関係を説明する。平滑コンデンサ２４の周囲温度が高いときには、平滑コンデンサ２４の劣化速度は速くなり、周囲温度が低い場合よりも短期間で故障に至る場合が多い。そこで、実施形態では、劣化判断部３４は、温度情報取得部３９で取得された温度情報を加味して平滑コンデンサ２４が劣化しているか否かを判断する。具体的には、周囲温度が高いときには、劣化判断に用いる閾値Ｑを厳しくして（この例では閾値Ｑを小さくして）早めに劣化と判断する。以下の例では、第１閾値Ｑ１は、第２閾値Ｑ２よりも厳しく、第２閾値Ｑ２よりも小さい。

【0043】

プロセスの説明に戻る。平滑コンデンサ２４への給電が停止されている場合（ステップＳ１１２のＹ）、情報処理部３の温度情報取得部３９は、温度センサ１６から、平滑コンデンサ２４の温度Ｔｃを取得し、平滑コンデンサ２４の温度Ｔｃが基準温度Ｔｓよりも高いか否かを判断する（ステップＳ１１３）。

【0044】

平滑コンデンサ２４の温度Ｔｃが基準温度Ｔｓ以下の場合（ステップＳ１１３のＮ）、情報処理部３は、平滑コンデンサ２４の劣化判断に用いる閾値Ｑを第２閾値Ｑ２にセットする（ステップＳ１１４）。平滑コンデンサ２４の温度Ｔｃが基準温度Ｔｓを超える場合（ステップＳ１１３のＹ）、情報処理部３は、平滑コンデンサ２４の劣化判断に用いる閾値Ｑを第１閾値Ｑ１にセットする（ステップＳ１１５）。

【0045】

閾値Ｑをセットしたら、情報処理部３の電圧取得部３６は、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２を取得する（ステップＳ１１６）。次に、情報処理部３の記憶部３２は、電圧取得部３６で取得された平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２を経時的に記憶する（ステップＳ１１７）。

【0046】

このステップで、電圧取得部３６は、所定の時間間隔（例えば、３０ｍｓ）毎に、所定回数（例えば、３０回）、電圧値Ｖ２を取得し、記憶部３２は、取得された電圧値Ｖ２を経時的に記憶する。

【0047】

次に、情報処理部３の劣化判断部３４は、記憶部３２の記憶情報を用いて平滑コンデンサ２４が劣化しているか否かを判断する（ステップＳ１１８）。

【0048】

図４を参照して、平滑コンデンサ２４の劣化判断の手順を説明する。図４は、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２の変化の一例を示す図である。この図では、横軸は、平滑コンデンサ２４への給電が停止されてからの経過時間を示し、縦軸は、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２を示す。グラフｇ１は、非劣化状態の平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２の変化を示し、グラフｇ２は、劣化状態の平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２の変化を示す。グラフｇ１、ｇ２は、ステップＳ１１７で記憶された多点（この例では、３０点）の電圧値Ｖ２をプロットしたものである。

【0049】

平滑コンデンサ２４の劣化判断の方法に限定はないが、実施形態では、劣化判断部３４は、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２の変化の具合が所定の条件を満たす場合に平滑コンデンサ２４が劣化していると判断する。一例として、この所定の条件は、平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２の変化の割合が閾値以上である場合であってもよい。電圧値Ｖ２の変化の割合は、単位時間当たりの電圧値Ｖ２の変化量であってもよい。例えば、電圧値Ｖ２の経過時間に対する変化パターンの傾斜が、予め設定された基準パターンの傾斜よりも急である場合に、平滑コンデンサ２４は劣化していると判断できる。

【0050】

図４の例では、劣化判断部３４は、電圧値Ｖ２が初期値から閾値に低下するまでの期間が基準期間より短い場合に、平滑コンデンサ２４が劣化していると判断する。図４では、第１閾値Ｑ１および第２閾値Ｑ２を横軸に平行な一点鎖線で示している。ここでは、第２閾値Ｑ２とにより判断する。グラフｇ１の場合、第２閾値Ｑ２と交差するまでの期間Ｐ１が基準期間Ｐｓより長いので、平滑コンデンサ２４は劣化していないと判断される。グラフｇ２の場合、第２閾値Ｑ２と交差するまでの期間Ｐ２が基準期間Ｐｓより短いので、平滑コンデンサ２４は劣化していると判断される。

【0051】

劣化判断部３４が平滑コンデンサ２４は劣化していると判断した場合（ステップＳ１１８のＹ）、情報処理部３の報知部３３は、平滑コンデンサ２４が劣化していることを外部に報知する（ステップＳ１１９）。このステップで、報知部３３は、報知装置５８を動作させる信号を出力する。報知装置５８は、例えば、光、音、振動等の人が認識できる警報を発生させるデバイスであってもよいし、総合制御盤５０または上位の管理システムに所定の情報を送信するデバイスであってもよい。この例の報知装置５８は、劣化していると判断された場合に点灯するＬＥＤを含む。

【0052】

ステップＳ１１９を実行した場合、および平滑コンデンサ２４は劣化していないと判断した場合（ステップＳ１１８のＮ）、記憶部３２は、劣化判断部３４の判断結果を記憶する（ステップＳ１２０）。

【0053】

ステップＳ１２０を実行したら、プロセスＳ１１０は終了する。このプロセスは一例であり、各種の変更が可能である。

【0054】

なお、プロセスＳ１１０の実行後に短時間停電が終了したら、情報処理部３の通信部３５は、記憶部３２に記憶された劣化判断部３４の判断結果を総合制御盤５０または上位の管理システムに送信してもよい。

【0055】

以上が第１実施形態の説明である。

【0056】

以下、本発明の第２、第３実施形態を説明する。第２、第３実施形態の図面及び説明では、第１実施形態と同一または同等の構成要素、部材には、同一の符号を付する。第１実施形態と重複する説明を適宜省略し、第１実施形態と相違する構成について重点的に説明する。

【0057】

本発明の第２実施形態は、ホームドア装置１００の診断方法である。この方法は、プラットホーム６０上に設置された扉１２を開閉駆動する駆動部４に電力供給する平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２を経時的に記憶する記憶ステップ（Ｓ１１７）と、記憶ステップで記憶された記憶情報を用いて平滑コンデンサ２４が劣化しているか否かを判断するステップ（Ｓ１１８）と、を含む。

【0058】

第２実施形態によれば、第１実施形態と同様の作用と効果を奏する。

【0059】

本発明の第３実施形態は、ホームドア装置１００の診断プログラムＰ１００である。このプログラムＰ１００は、プラットホーム６０上に設置された扉１２を開閉駆動する駆動部４に電力供給する平滑コンデンサ２４の電圧値Ｖ２を経時的に記憶する記憶ステップ（Ｓ１１７）と、記憶ステップで記憶された記憶情報を用いて平滑コンデンサ２４が劣化しているか否かを判断するステップ（Ｓ１１８）と、をコンピュータに実行させる。

【0060】

第３実施形態の診断プログラムＰ１００のこれらの機能は、ホームドア装置１００の機能ブロックに対応する複数のモジュールが実装されたアプリケーションプログラムとして、情報処理部３のストレージ（例えば記憶部３２）にインストールされてもよい。第３実施形態のプログラムＰ１００は、情報処理部３に組み込まれたコンピュータのプロセッサ（例えばＣＰＵ）のメインメモリに読み出しされて実行されてもよい。

【0061】

第３実施形態によれば、第１実施形態と同様の作用と効果を奏する。

【0062】

［変形例］
以下、変形例を説明する。変形例の図面及び説明では、実施形態と同一または同等の構成要素、部材には、同一の符号を付する。実施形態と重複する説明を適宜省略し、実施形態と相違する構成について重点的に説明する。

【0063】

実施形態の説明では、外部事情により生じる短時間停電の機会に劣化判断をする例を示したが、これに限定されない。ホームドア装置は、操作員の操作に基づいて劣化判断できるように構成されてもよい。例えば、整流器２３と、平滑コンデンサ２４の間にスイッチを設け、操作員がこのスイッチをオフにすることにより平滑コンデンサ２４への給電を停止し、プロセスＳ１１０を実行するようにしてもよい。

【0064】

また、ホームドア装置は、鉄道の営業が終了した夜間などの時間帯に自動的に劣化判断できるように構成されてもよい。例えば、整流器２３と、平滑コンデンサ２４の間に半導体スイッチを設け、情報処理部３は、鉄道の営業が終了した夜間などの時間帯に半導体スイッチをオフにして平滑コンデンサ２４への給電を停止して、プロセスＳ１１０を自動で実行するようにしてもよい。

【0065】

実施形態の説明では、平滑コンデンサ２４の劣化の程度（容量減少の程度）を、単一の閾値により２段階に区分して判断する例を示したが、これに限定されない。情報処理部は、劣化の程度を２以上の閾値により３段階以上に区分して判断するようにしてもよい。また、情報処理部は、平滑コンデンサの電圧の傾斜により当該コンデンサの劣化の程度（容量減少の程度）を外部に出力するようにしてもよい。

【0066】

上述の変形例は、各実施形態と同様の作用と効果を奏する。

【0067】

上述した各実施形態及び変形例の任意の組み合わせもまた本発明の実施形態として有用である。組み合わせによって生じる新たな実施形態は、組み合わされる実施形態及び変形例それぞれの効果をあわせもつ。

【符号の説明】

【0068】

４ 駆動部、 １２ 扉、 ２４ 平滑コンデンサ、 ３２ 記憶部、 ３３ 報知部、 ３４ 劣化判断部、 ３９ 温度情報取得部、 １００ ホームドア装置。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】