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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024068977
(43)【公開日】2024-05-21
(54)【発明の名称】光学フィルムの評価方法
(51)【国際特許分類】
G02B 5/30 20060101AFI20240514BHJP
【ＦＩ】
G02B5/30
【審査請求】未請求
【請求項の数】9
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022179699
(22)【出願日】2022-11-09
(71)【出願人】
【識別番号】000003964
【氏名又は名称】日東電工株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110003845
【氏名又は名称】弁理士法人籾井特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】野口 光貴
(72)【発明者】
【氏名】▲徳▼岡 咲美
(72)【発明者】
【氏名】後藤 周作
【テーマコード（参考）】
2H149
【Ｆターム（参考）】
2H149AA22
2H149DA04
2H149DA27
2H149EA05
2H149FA37Y
2H149FB04
2H149FB08
2H149FC02
2H149FD09
2H149FD12
2H149FD46
(57)【要約】
【課題】光学フィルムの光学軸を正確に評価すること。
【解決手段】本発明の実施形態による評価方法は、光学フィルムの評価方法であって、外周に直線部を有する基板上に、前記光学フィルムを配置することと、前記基板の前記直線部を基準として、前記光学フィルムの光学軸を測定することと、前記基板と前記光学フィルムとの位置関係に基づいて、前記測定結果を補正することと、を含む。
【選択図】図１
【解決手段】本発明の実施形態による評価方法は、光学フィルムの評価方法であって、外周に直線部を有する基板上に、前記光学フィルムを配置することと、前記基板の前記直線部を基準として、前記光学フィルムの光学軸を測定することと、前記基板と前記光学フィルムとの位置関係に基づいて、前記測定結果を補正することと、を含む。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
光学フィルムの評価方法であって、
外周に直線部を有する基板上に、前記光学フィルムを配置することと、
前記基板の前記直線部を基準として、前記光学フィルムの光学軸を測定することと、
前記基板と前記光学フィルムとの位置関係に基づいて、前記測定結果を補正することと、
を含む、評価方法。
外周に直線部を有する基板上に、前記光学フィルムを配置することと、
前記基板の前記直線部を基準として、前記光学フィルムの光学軸を測定することと、
前記基板と前記光学フィルムとの位置関係に基づいて、前記測定結果を補正することと、
を含む、評価方法。
【請求項2】
前記基板の外周には、第一方向に延びる第一直線部と第二方向に延びる第二直線部が形成され、前記基板は前記第一直線部と前記第二直線部とが交差する角部を有する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項3】
前記基板は光学的に等方性である、請求項１に記載の評価方法。
【請求項4】
前記基板の全光線透過率は８５％以上である、請求項１に記載の評価方法。
【請求項5】
前記基板のヘイズは５％以下である、請求項１に記載の評価方法。
【請求項6】
前記光学フィルムは外周に直線部を有しない、請求項１に記載の評価方法。
【請求項7】
前記光学フィルムは、前記基板に対する位置決め部を有する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項8】
光学フィルムの光学軸を測定する測定装置であって、
外周に直線部を有し、前記光学フィルムを配置させる基板と、
前記基板を載置する載置面と、前記載置面に対して直立する規制面とを有するサンプル保持部と、
前記光学フィルムの光学軸を測定する測定部と、を備え、
前記規制面に前記基板の前記直線部を突き合わせた状態で前記測定を行う、
測定装置。
外周に直線部を有し、前記光学フィルムを配置させる基板と、
前記基板を載置する載置面と、前記載置面に対して直立する規制面とを有するサンプル保持部と、
前記光学フィルムの光学軸を測定する測定部と、を備え、
前記規制面に前記基板の前記直線部を突き合わせた状態で前記測定を行う、
測定装置。
【請求項9】
光学フィルムの光学軸の測定に用いられ、前記光学フィルムを配置させる基板であって、
外周に直線部を有する、基板。
外周に直線部を有する、基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光学フィルムの評価方法に関する。
【背景技術】
【0002】
液晶表示装置およびエレクトロルミネセンス（ＥＬ）表示装置（例えば、有機ＥＬ表示装置）に代表される画像表示装置が急速に普及している。画像表示装置においては、画像表示を実現し、画像表示の性能を高めるために、一般的に、位相差部材、偏光部材等の光学部材が用いられている（例えば、特許文献１を参照）。
【0003】
近年、画像表示装置の新たな用途が開発されている。例えば、Ｖｉｒｔｕａｌ Ｒｅａｌｉｔｙ（ＶＲ）を実現するためのディスプレイ付きゴーグル（ＶＲゴーグル）が製品化され始めている。画像表示装置の用途の広がりに伴い、上記光学部材を含む光学フィルムに対し、用途に応じた形状を有することが望まれている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２０２１－１０３２８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、形状によっては、光学フィルムの光学軸の正確な把握が困難となる場合がある。
【0006】
上記に鑑み、本発明は光学フィルムの光学軸を正確に評価することを主たる目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
１．本発明の実施形態による評価方法は、光学フィルムの評価方法であって、外周に直線部を有する基板上に、前記光学フィルムを配置することと、前記基板の前記直線部を基準として、前記光学フィルムの光学軸を測定することと、前記基板と前記光学フィルムとの位置関係に基づいて、前記測定結果を補正することと、を含む。
２．上記１に記載の評価方法において、上記基板の外周には、第一方向に延びる第一直線部と第二方向に延びる第二直線部が形成されてもよく、上記基板は前記第一直線部と前記第二直線部とが交差する角部を有してもよい。
３．上記１または２に記載の評価方法において、上記基板は光学的に等方性であってもよい。
４．上記１から３のいずれかに記載の評価方法において、上記基板の全光線透過率は８５％以上であってもよい。
５．上記１から４のいずれかに記載の評価方法において、上記基板のヘイズは５％以下であってもよい。
６．上記１から５のいずれかに記載の評価方法において、上記光学フィルムは外周に直線部を有しなくてもよい。
７．上記１から６のいずれかに記載の評価方法において、上記光学フィルムは、前記基板に対する位置決め部を有してもよい。
２．上記１に記載の評価方法において、上記基板の外周には、第一方向に延びる第一直線部と第二方向に延びる第二直線部が形成されてもよく、上記基板は前記第一直線部と前記第二直線部とが交差する角部を有してもよい。
３．上記１または２に記載の評価方法において、上記基板は光学的に等方性であってもよい。
４．上記１から３のいずれかに記載の評価方法において、上記基板の全光線透過率は８５％以上であってもよい。
５．上記１から４のいずれかに記載の評価方法において、上記基板のヘイズは５％以下であってもよい。
６．上記１から５のいずれかに記載の評価方法において、上記光学フィルムは外周に直線部を有しなくてもよい。
７．上記１から６のいずれかに記載の評価方法において、上記光学フィルムは、前記基板に対する位置決め部を有してもよい。
【0008】
８．本発明の別の実施形態による測定装置は、光学フィルムの光学軸を測定する測定装置であって、外周に直線部を有し、前記光学フィルムを配置させる基板と、前記基板を載置する載置面と、前記載置面に対して直立する規制面とを有するサンプル保持部と、前記光学フィルムの光学軸を測定する測定部と、を備え、前記規制面に前記基板の前記直線部を突き合わせた状態で前記測定を行う。
９．本発明のさらに別の実施形態による基板は、光学フィルムの光学軸の測定に用いられ、前記光学フィルムを配置させる基板であって、外周に直線部を有する。
９．本発明のさらに別の実施形態による基板は、光学フィルムの光学軸の測定に用いられ、前記光学フィルムを配置させる基板であって、外周に直線部を有する。
【発明の効果】
【0009】
本発明の実施形態による評価方法によれば、光学フィルムの光学軸を正確に評価し得る。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】本発明の１つの実施形態に係る測定基板を上から見た図である。
【図3】ＶＲゴーグルの表示システムの一例の概略の構成を示す模式図である。
【図4】光学フィルムの詳細の一例を示す模式的な断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれらの実施形態には限定されない。図面は説明をより明確にするため、実施の形態に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、図面については、同一または同等の要素には同一の符号を付し、重複する説明は省略することがある。
【0012】
（用語および記号の定義）
本明細書における用語および記号の定義は下記の通りである。
（１）屈折率（ｎｘ、ｎｙ、ｎｚ）
「ｎｘ」は面内の屈折率が最大になる方向（すなわち、遅相軸方向）の屈折率であり、「ｎｙ」は面内で遅相軸と直交する方向（すなわち、進相軸方向）の屈折率であり、「ｎｚ」は厚み方向の屈折率である。
（２）面内位相差（Ｒｅ）
「Ｒｅ（λ）」は、２３℃における波長λｎｍの光で測定した面内位相差である。例えば、「Ｒｅ（５５０）」は、２３℃における波長５５０ｎｍの光で測定した面内位相差である。Ｒｅ（λ）は、層（フィルム）の厚みをｄ（ｎｍ）としたとき、式：Ｒｅ（λ）＝（ｎｘ－ｎｙ）×ｄによって求められる。
（３）厚み方向の位相差（Ｒｔｈ）
「Ｒｔｈ（λ）」は、２３℃における波長λｎｍの光で測定した厚み方向の位相差である。例えば、「Ｒｔｈ（５５０）」は、２３℃における波長５５０ｎｍの光で測定した厚み方向の位相差である。Ｒｔｈ（λ）は、層（フィルム）の厚みをｄ（ｎｍ）としたとき、式：Ｒｔｈ（λ）＝（ｎｘ－ｎｚ）×ｄによって求められる。
（４）Ｎｚ係数
Ｎｚ係数は、Ｎｚ＝Ｒｔｈ／Ｒｅによって求められる。
（５）角度
本明細書において角度に言及するときは、当該角度は基準方向に対して時計回りおよび反時計回りの両方を包含する。したがって、例えば「４５°」は±４５°を意味する。
本明細書における用語および記号の定義は下記の通りである。
（１）屈折率（ｎｘ、ｎｙ、ｎｚ）
「ｎｘ」は面内の屈折率が最大になる方向（すなわち、遅相軸方向）の屈折率であり、「ｎｙ」は面内で遅相軸と直交する方向（すなわち、進相軸方向）の屈折率であり、「ｎｚ」は厚み方向の屈折率である。
（２）面内位相差（Ｒｅ）
「Ｒｅ（λ）」は、２３℃における波長λｎｍの光で測定した面内位相差である。例えば、「Ｒｅ（５５０）」は、２３℃における波長５５０ｎｍの光で測定した面内位相差である。Ｒｅ（λ）は、層（フィルム）の厚みをｄ（ｎｍ）としたとき、式：Ｒｅ（λ）＝（ｎｘ－ｎｙ）×ｄによって求められる。
（３）厚み方向の位相差（Ｒｔｈ）
「Ｒｔｈ（λ）」は、２３℃における波長λｎｍの光で測定した厚み方向の位相差である。例えば、「Ｒｔｈ（５５０）」は、２３℃における波長５５０ｎｍの光で測定した厚み方向の位相差である。Ｒｔｈ（λ）は、層（フィルム）の厚みをｄ（ｎｍ）としたとき、式：Ｒｔｈ（λ）＝（ｎｘ－ｎｚ）×ｄによって求められる。
（４）Ｎｚ係数
Ｎｚ係数は、Ｎｚ＝Ｒｔｈ／Ｒｅによって求められる。
（５）角度
本明細書において角度に言及するときは、当該角度は基準方向に対して時計回りおよび反時計回りの両方を包含する。したがって、例えば「４５°」は±４５°を意味する。
【0013】
本発明の実施形態による光学フィルムの光学軸の評価方法は、外周に直線部を有する基板上に光学フィルムを配置させて測定基板を準備することと、基板の直線部を基準として光学フィルムの光学軸を測定することと、基板と光学フィルムとの位置関係に基づいて測定結果を補正することと、を含む。
【0014】
評価対象である光学フィルムは、光学軸を有し得る。具体的には、光学フィルムは、少なくとも位相差部材を含み、遅相軸および進相軸を有し得る。位相差部材は、任意の適切な面内位相差Ｒｅ（５５０）を有し得る。位相差部材の面内位相差Ｒｅ（５５０）は、例えば１００ｎｍ～３００ｎｍである。例えば、位相差部材がいわゆるλ／４部材として機能し得る場合、その面内位相差Ｒｅ（５５０）は、例えば１００ｎｍ～１９０ｎｍであり、１１０ｎｍ～１８０ｎｍであってもよく、１３０ｎｍ～１６０ｎｍであってもよく、１３５ｎｍ～１５５ｎｍであってもよい。
【0015】
上記位相差部材は、代表的には、樹脂フィルムの延伸フィルムまたは液晶化合物の配向固化層であり得る。
【0016】
上記樹脂フィルムに含まれる樹脂としては、ポリカーボネート系樹脂、ポリエステルカーボネート系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリビニルアセタール系樹脂、ポリアリレート系樹脂、環状オレフィン系樹脂、セルロース系樹脂、ポリビニルアルコール系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリエーテル系樹脂、ポリスチレン系樹脂、アクリル系樹脂等が挙げられる。これらの樹脂は、単独で用いてもよく、組み合わせて用いてもよい。組み合わせる方法としては、例えば、ブレンド、共重合が挙げられる。位相差部材が逆分散波長特性を示す場合、ポリカーボネート系樹脂またはポリエステルカーボネート系樹脂（以下、単にポリカーボネート系樹脂と称する場合がある）を含む樹脂フィルムが好適に用いられ得る。
【0017】
上記ポリカーボネート系樹脂としては、任意の適切なポリカーボネート系樹脂を用いることができる。例えば、ポリカーボネート系樹脂は、フルオレン系ジヒドロキシ化合物に由来する構造単位と、イソソルビド系ジヒドロキシ化合物に由来する構造単位と、脂環式ジオール、脂環式ジメタノール、ジ、トリまたはポリエチレングリコール、ならびに、アルキレングリコールまたはスピログリコールからなる群から選択される少なくとも１つのジヒドロキシ化合物に由来する構造単位と、を含む。好ましくは、ポリカーボネート系樹脂は、フルオレン系ジヒドロキシ化合物に由来する構造単位と、イソソルビド系ジヒドロキシ化合物に由来する構造単位と、脂環式ジメタノールに由来する構造単位ならびに／あるいはジ、トリまたはポリエチレングリコールに由来する構造単位と、を含み；さらに好ましくは、フルオレン系ジヒドロキシ化合物に由来する構造単位と、イソソルビド系ジヒドロキシ化合物に由来する構造単位と、ジ、トリまたはポリエチレングリコールに由来する構造単位と、を含む。ポリカーボネート系樹脂は、必要に応じてその他のジヒドロキシ化合物に由来する構造単位を含んでいてもよい。なお、位相差部材に好適に用いられ得るポリカーボネート系樹脂および位相差部材の形成方法の詳細は、例えば、特開２０１４－１０２９１号公報、特開２０１４－２６２６６号公報、特開２０１５－２１２８１６号公報、特開２０１５－２１２８１７号公報、特開２０１５－２１２８１８号公報に記載されており、これらの公報の記載は本明細書に参考として援用される。
【0018】
樹脂フィルムの延伸フィルムで構成される位相差部材の厚みは、例えば１０μｍ～１００μｍであり、好ましくは１０μｍ～７０μｍであり、より好ましくは２０μｍ～６０μｍである。
【0019】
上記液晶化合物の配向固化層は、液晶化合物が層内で所定の方向に配向し、その配向状態が固定されている層である。なお、「配向固化層」は、後述のように液晶モノマーを硬化させて得られる配向硬化層を包含する概念である。位相差部材においては、代表的には、棒状の液晶化合物が位相差部材の遅相軸方向に並んだ状態で配向している（ホモジニアス配向）。棒状の液晶化合物として、例えば、液晶ポリマーおよび液晶モノマーが挙げられる。液晶化合物は、好ましくは、重合可能である。液晶化合物が重合可能であると、液晶化合物を配向させた後に重合させることで、液晶化合物の配向状態を固定できる。
【0020】
上記液晶化合物の配向固化層（液晶配向固化層）は、所定の基材の表面に配向処理を施し、当該表面に液晶化合物を含む塗工液を塗工して当該液晶化合物を上記配向処理に対応する方向に配向させ、当該配向状態を固定することにより形成され得る。配向処理としては、任意の適切な配向処理が採用され得る。具体的には、機械的な配向処理、物理的な配向処理、化学的な配向処理が挙げられる。機械的な配向処理の具体例としては、ラビング処理、延伸処理が挙げられる。物理的な配向処理の具体例としては、磁場配向処理、電場配向処理が挙げられる。化学的な配向処理の具体例としては、斜方蒸着法、光配向処理が挙げられる。各種配向処理の処理条件は、目的に応じて任意の適切な条件が採用され得る。
【0021】
液晶化合物の配向は、液晶化合物の種類に応じて液晶相を示す温度で処理することにより行われる。このような温度処理を行うことにより、液晶化合物が液晶状態をとり、基材表面の配向処理方向に応じて当該液晶化合物が配向する。
【0022】
配向状態の固定は、１つの実施形態においては、上記のように配向した液晶化合物を冷却することにより行われる。液晶化合物が重合性または架橋性である場合には、配向状態の固定は、上記のように配向した液晶化合物に重合処理または架橋処理を施すことにより行われる。
【0023】
上記液晶化合物としては、任意の適切な液晶ポリマーおよび／または液晶モノマーが用いられる。液晶ポリマーおよび液晶モノマーは、それぞれ単独で用いてもよく、組み合わせてもよい。液晶化合物の具体例および液晶配向固化層の作製方法は、例えば、特開２００６－１６３３４３号公報、特開２００６－１７８３８９号公報、国際公開第２０１８／１２３５５１号公報に記載されている。これらの公報の記載は本明細書に参考として援用される。
【0024】
液晶配向固化層で構成される位相差部材の厚みは、例えば１μｍ～１０μｍであり、好ましくは１μｍ～８μｍであり、より好ましくは１μｍ～６μｍであり、さらに好ましくは１μｍ～４μｍである。
【0025】
図１は本発明の１つの実施形態に係る測定基板を上から見た図である。測定基板６は、基板４と基板４上に配置された光学フィルム２とを有している。基板４は、所定の厚み（例えば、０．５ｍｍ～１０ｍｍ）を有し、互いに対向する両主面は水平である。基板４は、外周に平面視直線部を有している。基板４は、外周に第一方向に延びる第一直線部４ａと第二方向に延びる第二直線部４ｂとを有している。そして、基板４は、第一直線部４ａと第二直線部４ｂとが交差する角部４ｃを有している。基板４は、第一方向と第二方向とが略直交し、その平面視形状が略矩形状とされているが、基板の平面視形状は、外周の少なくとも一部に直線部が形成されている限り、特に限定されない。例えば、外周の全長に対する最長の直線部分の長さの比率が０．１を超えることをいう。
【0026】
上記測定基板に用いられる基板は、光学的に等方性であることが好ましい。光学的に等方性である基板を用いることにより、光学フィルムの光学軸の評価に与える影響を抑制することができる。本明細書において、「光学的に等方性である」とは、面内位相差Ｒｅ（５９０）が０ｎｍ～１０ｎｍであることをいう。上記測定基板に用いられる基板の面内位相差Ｒｅ（５９０）は、より好ましくは１ｎｍ以下であり、さらに好ましくは０．１ｎｍ以下であり、特に好ましくは０．０５ｎｍ以下であり、最も好ましくは０．０１ｎｍ以下である。上記測定基板に用いられる基板の厚み方向の位相差Ｒｔｈ（５９０）は、好ましくは－１０ｎｍ～＋１０ｎｍである。
【0027】
基板の全光線透過率は、好ましくは８５％以上であり、より好ましくは８８％以上であり、さらに好ましくは９０％以上である。基板のヘイズは、好ましくは５％以下であり、より好ましくは３％以下であり、さらに好ましくは１％以下である。このような基板を用いることにより、光学フィルムの光学軸の評価に与える影響を抑制することができる。基板としては、例えば、ガラス基板が好ましく用いられる。
【0028】
光学フィルム２は、外周に直線部を有していない。本明細書において、「外周に直線部を有しない」とは、外周の全長に対する最長の直線部分の長さの比率が０．１以下であることをいう。図示例では、光学フィルムは、略楕円形とされているが、これに限定されず、例えば略円形であってもよい。
【0029】
図示しないが、光学フィルム２は、基板４上に任意の適切な層を介して配置されてもよい。例えば、光学フィルム２は、接着剤層、粘着剤層等の接着層を介して、基板４に固着されていることが好ましい。
【0030】
光学フィルムの光学軸の測定は、上記測定基板を用いて行う。光学軸の測定装置は、任意の適切な装置が用いられる。光学軸の測定装置としては、例えば、王子計測機器株式会社製のＫＯＢＲＡ－ＷＰＲが挙げられる。
【0031】
代表的には、光学軸の測定に際し、測定装置の治具に上記測定基板を載置する。図２Ａは、測定装置の治具に図１に示す測定基板を載置した状態の一例を上から見た図であり、図２Ｂは、測定装置の治具に図１に示す測定基板を載置した状態の一例を横から見た図である。測定装置のサンプル保持治具８は、水平面で構成される載置面８ａと、載置面８ａに対して直立する規制面８ｂを有している。測定基板６（基板４）は、第一直線部４ａをサンプル保持治具８の規制面８ｂに突き合わせた状態で、載置面８ａに載置されている。基板４は、第一直線部４ａを含む端面４１を有し、端面４１を規制面８ｂに突き合わせている。基板４を用いて光学フィルム２の光学軸を評価することにより、基板４を用いない場合に比べて、格段に評価精度が向上し得る。角部４ｃを形成する第一直線部４ａを規制面８ｂに突き合わせることで、より評価精度が向上し得る。なお、図示しないが、サンプル保持治具８には、規制面８ｂ以外にも測定装置にサンプル保持治具８を装着するための基準部等が設けられていてもよい。
【0032】
測定基板を用いた光学フィルムの光学軸の測定結果を、基板と光学フィルムとの位置関係に基づいて補正する。基板と光学フィルムとの位置関係は、例えば、例えば、画像測定機を用いて座標化（数値化）することができる。画像測定機としては、例えば、ニコン社製のＮＥＸＩＶシリーズが挙げられる。
【0033】
基板と光学フィルムとの位置関係は、例えば、基板の直線部と、光学フィルムの任意の地点もしくは任意の２点を結ぶ線との距離や角度により決定される。光学フィルム２は、基板４の第一直線部４ａに対し光学フィルム２の位置を位置決めする位置決め部２ａ、２ａを有している。図示例では、位置決め部２ａは、平面視にて外周が部分的に切り欠かれた切り欠き部とされているが、これに限定されない。位置決め部は、例えば、平面視にて外周が部分的に突出する突出部であってもよいし、光学フィルムの面内に設けられるマークであってもよい。
【0034】
上記光学フィルムは、位相差部材以外にも、他の部材を含み得る。他の部材の具体例としては、偏光部材等の光学部材が挙げられる。上記光学フィルムは、任意の適切な画像表示装置に用いられ得る。上記光学フィルムは、例えば、ＶＲゴーグルに用いられ得る。
【0035】
図３はＶＲゴーグルの表示システムの一例の概略の構成を示す模式図であり、表示システムの各構成要素の配置および形状等を模式的に図示している。表示システム１０は、表示素子１２と、反射型偏光部材１４と、第一レンズ部１６と、ハーフミラー１８と、第１のλ／４部材２０と、第２のλ／４部材２２と、第二レンズ部２４とを備えている。反射型偏光部材１４は、表示素子１２の表示面１２ａ側である前方に配置され、表示素子１２から出射された光を反射し得る。第一レンズ部１６は表示素子１２と反射型偏光部材１４との間の光路上に配置され、ハーフミラー１８は表示素子１２と第一レンズ部１６との間に配置されている。第１のλ／４部材２０は表示素子１２とハーフミラー１８との間の光路上に配置され、第２のλ／４部材２２はハーフミラー１８と反射型偏光部材１４との間の光路上に配置されている。
【0036】
表示素子１２は、例えば、液晶ディスプレイまたは有機ＥＬディスプレイであり、画像を表示するための表示面１２ａを有している。表示面１２ａから出射される光は、例えば、表示素子１２に含まれ得る偏光部材を通過して出射され、第１の直線偏光とされている。
【0037】
第１のλ／４部材２０は、を第１のλ／４部材２０に入射した第１の直線偏光を第１の円偏光に変換し得る。第１のλ／４部材２０は、表示素子１２に一体に設けられてもよい。
【0038】
ハーフミラー１８は、表示素子１２から出射された光を透過させ、反射型偏光部材１４で反射された光を反射型偏光部材１４に向けて反射させる。ハーフミラー１８は、第一レンズ部１６に一体に設けられている。
【0039】
第２のλ／４部材２２は、反射型偏光部材１４およびハーフミラー１８で反射させた光を、反射型偏光部材１４を透過させ得る。第２のλ／４部材２２は、第一レンズ部１６に一体に設けられてもよい。
【0040】
第１のλ／４部材２０から出射された第１の円偏光は、ハーフミラー１８および第一レンズ部１６を通過し、第２のλ／４部材２２により第２の直線偏光に変換される。第２のλ／４部材２２から出射された第２の直線偏光は、反射型偏光部材１４を透過せずにハーフミラー１８に向けて反射される。このとき、反射型偏光部材１４に入射した第２の直線偏光の偏光方向は、反射型偏光部材１４の反射軸と同方向である。そのため、反射型偏光部材１４に入射した第２の直線偏光は、反射型偏光部材１４で反射される。
【0041】
反射型偏光部材１４で反射された第２の直線偏光は第２のλ／４部材２２により第２の円偏光に変換され、第２のλ／４部材２２から出射された第２の円偏光は第一レンズ部１６を通過してハーフミラー１８で反射される。ハーフミラー１８で反射された第２の円偏光は、第一レンズ部１６を通過し、第２のλ／４部材２２により第３の直線偏光に変換される。第３の直線偏光は、反射型偏光部材１４を透過する。このとき、反射型偏光部材１４に入射した第３の直線偏光の偏光方向は、反射型偏光部材１４の透過軸と同方向である。そのため、反射型偏光部材１４に入射した第３の直線偏光は、反射型偏光部材１４を透過する。
【0042】
反射型偏光部材１４を透過した光は、第二レンズ部２４を通過して、ユーザの目２６に入射する。
【0043】
表示素子１２に含まれる偏光部材の吸収軸と反射型偏光部材１４の反射軸とは互いに略平行に配置されてもよいし、略直交に配置されてもよい。表示素子１２に含まれる偏光部材の吸収軸と第１のλ／４部材２０の遅相軸とのなす角度は、例えば４０°～５０°であり、４２°～４８°であってもよく、約４５°であってもよい。表示素子１２に含まれる偏光部材の吸収軸と第２のλ／４部材２２の遅相軸とのなす角度は、例えば４０°～５０°であり、４２°～４８°であってもよく、約４５°であってもよい。
【0044】
第１のλ／４部材２０の面内位相差Ｒｅ（５５０）は、例えば１００ｎｍ～１９０ｎｍであり、１１０ｎｍ～１８０ｎｍであってもよく、１３０ｎｍ～１６０ｎｍであってもよく、１３５ｎｍ～１５５ｎｍであってもよい。第１のλ／４部材２０は、好ましくは、位相差値が測定光の波長に応じて大きくなる逆分散波長特性を示す。第１のλ／４部材２０のＲｅ（４５０）／Ｒｅ（５５０）は、例えば０．７５以上１未満であり、０．８以上０．９５以下であってもよい。
【0045】
第２のλ／４部材２２の面内位相差Ｒｅ（５５０）は、例えば１００ｎｍ～１９０ｎｍであり、１１０ｎｍ～１８０ｎｍであってもよく、１３０ｎｍ～１６０ｎｍであってもよく、１３５ｎｍ～１５５ｎｍであってもよい。第２のλ／４部材２２は、好ましくは、位相差値が測定光の波長に応じて大きくなる逆分散波長特性を示す。第２のλ／４部材２２のＲｅ（４５０）／Ｒｅ（５５０）は、例えば０．７５以上１未満であり、０．８以上０．９５以下であってもよい。
【0046】
図示しないが、表示システム１０は、反射型偏光部材１４の前方に配置される吸収型偏光部材を備えていてもよい。反射型偏光部材の反射軸と吸収型偏光部材の吸収軸とは互いに略平行に配置され得る。
【0047】
上記光学フィルムは、例えば、上記表示システムに備えられる部材を含むことができる。具体的には、光学フィルムは、λ／４部材等の位相差部材を含むことができる。また、光学フィルムは、反射型偏光部材、吸収型偏光部材等の偏光部材を含むことができる。さらに、光学フィルムは、保護部材、隣り合う部材を一体化するための接着層等の他の部材を含むことができる。光学フィルムの厚みは、例えば、含まれる部材の種類、数により異なるが、例えば５０μｍ～４００μｍである。上記表示システムに適用される光学フィルムは、第一レンズ部または第二レンズ部の形状に対応する形状を有し得る。例えば、略円形、略楕円形等の外周に直線部を有しない形状に設計され得る。この場合、光学フィルムは第一レンズ部または第二レンズ部に一体に設けられ得る。
【0048】
図４は、光学フィルムの詳細の一例を示す模式的な断面図である。光学フィルム２は、上記位相差部材に相当し得る第２のλ／４部材２２と、第２のλ／４部材２２の片側に配置される別の位相差部材２８と、第２のλ／４部材２２のもう片側に配置される保護部材３０と、を含む。
【0049】
第２のλ／４部材２２は、好ましくは、屈折率特性がｎｘ＞ｎｙ≧ｎｚの関係を示す。ここで「ｎｙ＝ｎｚ」はｎｙとｎｚが完全に等しい場合だけではなく、実質的に等しい場合を包含する。したがって、本発明の効果を損なわない範囲で、ｎｙ＜ｎｚとなる場合があり得る。第２のλ／４部材のＮｚ係数は、好ましくは０．９～３であり、より好ましくは０．９～２．５であり、さらに好ましくは０．９～１．５であり、特に好ましくは０．９～１．３である。
【0050】
別の位相差部材２８には、例えば、屈折率特性がｎｚ＞ｎｘ＝ｎｙの関係を示し得る部材（いわゆる、ポジティブＣプレート）が用いられ得る。ポジティブＣプレートの厚み方向の位相差Ｒｔｈ（５５０）は、好ましくは－５０ｎｍ～－３００ｎｍであり、より好ましくは－７０ｎｍ～－２５０ｎｍであり、さらに好ましくは－９０ｎｍ～－２００ｎｍであり、特に好ましくは－１００ｎｍ～－１８０ｎｍである。ここで、「ｎｘ＝ｎｙ」は、ｎｘとｎｙが厳密に等しい場合のみならず、ｎｘとｎｙが実質的に等しい場合も包含する。ポジティブＣプレートの面内位相差Ｒｅ（５５０）は、例えば１０ｎｍ未満である。
【0051】
ポジティブＣプレートは、任意の適切な材料で形成され得るが、ポジティブＣプレートは、好ましくは、ホメオトロピック配向に固定された液晶材料を含むフィルムから構成される。ホメオトロピック配向させることができる液晶材料（液晶化合物）は、液晶モノマーであってもよいし、液晶ポリマーであってもよい。このような液晶化合物およびポジティブＣプレートの形成方法の具体例としては、特開２００２－３３３６４２号公報の［００２０］～［００２８］に記載の液晶化合物および当該位相差層の形成方法が挙げられる。この場合、ポジティブＣプレートの厚みは、好ましくは０．５μｍ～５μｍである。
【0052】
保護部材３０は、代表的には、基材を含む。基材は、任意の適切なフィルムで構成され得る。基材を構成するフィルムの主成分となる材料としては、例えば、トリアセチルセルロース（ＴＡＣ）等のセルロース系樹脂、ポリエステル系、ポリビニルアルコール系、ポリカーボネート系、ポリアミド系、ポリイミド系、ポリエーテルスルホン系、ポリスルホン系、ポリスチレン系、ポリノルボルネン等のシクロオレフィン系、ポリオレフィン系、（メタ）アクリル系、アセテート系等の樹脂が挙げられる。基材の厚みは、好ましくは５μｍ～８０μｍであり、より好ましくは１０μｍ～４０μｍであり、さらに好ましくは１５μｍ～３５μｍである。
【0053】
保護部材３０は、好ましくは、基材に加え、基材上に形成される表面処理層を有していてもよい。表面処理層を有する保護部材は、その基材が第２のλ／４部材２２側に位置するように配置され得る。表面処理層は、任意の適切な機能を有し得る。表面処理層は、例えば、反射防止機能を有することが好ましい。表面処理層の厚みは、好ましくは１μｍ～２０μｍであり、より好ましくは２μｍ～１５μｍであり、さらに好ましくは３μｍ～１０μｍである。
【0054】
図示しないが、光学フィルム２に含まれる各部材は、接着層を介して一体化されていることが好ましい。また、光学フィルム２は、図示しない接着層（例えば、粘着剤層）により、上記表示システムの第一レンズ部に一体に設けられてもよい。具体的には、光学フィルム２は、別の位相差部材２８表面に接着層が設けられ、この接着層により第一レンズ部に貼り合わせられてもよい。接着層は、接着剤で形成されてもよいし、粘着剤で形成されてもよい。接着層の厚みは、例えば０．０５μｍ～３０μｍであり、好ましくは３μｍ～２０μｍであり、さらに好ましくは５μｍ～１５μｍである。
【実施例0055】
以下、実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明はこれら実施例によって限定されるものではない。なお、厚み、位相差値、透過率およびヘイズは下記の測定方法により測定した値である。
＜厚み＞
１μｍ以下の厚みは、走査型電子顕微鏡（日本電子社製、製品名「ＪＳＭ－７１００Ｆ」）を用いて測定した。１μｍを超える厚みは、デジタルマイクロメーター（アンリツ社製、製品名「ＫＣ－３５１Ｃ」）を用いて測定した。
＜位相差値＞
王子計測機器株式会社製のＫＯＢＲＡ－ＷＰＲを用いて測定した。測定波長は４５０ｎｍ、５５０ｎｍおよび５９０ｎｍ、測定温度は２３℃とした。
＜全光線透過率＞
日本電色社製のＭＤＨ－４０００を用い、ＪＩＳ Ｋ ７３６１に基づいて測定した。
＜ヘイズ＞
ＪＩＳ ７１３６に準じて、ヘイズメーター（村上色彩科学研究所社製、製品名「ＨＮ－１５０」）を用いて測定した。
＜厚み＞
１μｍ以下の厚みは、走査型電子顕微鏡（日本電子社製、製品名「ＪＳＭ－７１００Ｆ」）を用いて測定した。１μｍを超える厚みは、デジタルマイクロメーター（アンリツ社製、製品名「ＫＣ－３５１Ｃ」）を用いて測定した。
＜位相差値＞
王子計測機器株式会社製のＫＯＢＲＡ－ＷＰＲを用いて測定した。測定波長は４５０ｎｍ、５５０ｎｍおよび５９０ｎｍ、測定温度は２３℃とした。
＜全光線透過率＞
日本電色社製のＭＤＨ－４０００を用い、ＪＩＳ Ｋ ７３６１に基づいて測定した。
＜ヘイズ＞
ＪＩＳ ７１３６に準じて、ヘイズメーター（村上色彩科学研究所社製、製品名「ＨＮ－１５０」）を用いて測定した。
【0056】
［実施例１］
厚み１．３ｍｍで６５ｍｍ×１６５ｍｍサイズのガラス基板を準備した。このガラス基板の面内位相差Ｒｅ（５９０）は０ｎｍであり、全光線透過率は９２．２６％であり、ヘイズは０．１６％であった。
厚み１．３ｍｍで６５ｍｍ×１６５ｍｍサイズのガラス基板を準備した。このガラス基板の面内位相差Ｒｅ（５９０）は０ｎｍであり、全光線透過率は９２．２６％であり、ヘイズは０．１６％であった。
【0057】
（λ／４部材の作製）
撹拌翼および１００℃に制御された還流冷却器を具備した縦型反応器２器からなるバッチ重合装置を用いて重合を行った。ビス［９－（２－フェノキシカルボニルエチル）フルオレン－９－イル］メタン２９．６０質量部（０．０４６ｍｏｌ）、イソソルビド（ＩＳＢ）２９．２１質量部（０．２００ｍｏｌ）、スピログリコール（ＳＰＧ）４２．２８質量部（０．１３９ｍｏｌ）、ジフェニルカーボネート（ＤＰＣ）６３．７７質量部（０．２９８ｍｏｌ）及び触媒として酢酸カルシウム１水和物１．１９×１０－２質量部（６．７８×１０－５ｍｏｌ）を仕込んだ。反応器内を減圧窒素置換した後、熱媒で加温を行い、内温が１００℃になった時点で撹拌を開始した。昇温開始４０分後に内温を２２０℃に到達させ、この温度を保持するように制御すると同時に減圧を開始し、２２０℃に到達してから９０分で１３．３ｋＰａにした。重合反応とともに副生するフェノール蒸気を１００℃の還流冷却器に導き、フェノール蒸気中に若干量含まれるモノマー成分を反応器に戻し、凝縮しないフェノール蒸気は４５℃の凝縮器に導いて回収した。第１反応器に窒素を導入して一旦大気圧まで復圧させた後、第１反応器内のオリゴマー化された反応液を第２反応器に移した。次いで、第２反応器内の昇温および減圧を開始して、５０分で内温２４０℃、圧力０．２ｋＰａにした。その後、所定の攪拌動力となるまで重合を進行させた。所定動力に到達した時点で反応器に窒素を導入して復圧し、生成したポリエステルカーボネート系樹脂を水中に押し出し、ストランドをカッティングしてペレットを得た。
撹拌翼および１００℃に制御された還流冷却器を具備した縦型反応器２器からなるバッチ重合装置を用いて重合を行った。ビス［９－（２－フェノキシカルボニルエチル）フルオレン－９－イル］メタン２９．６０質量部（０．０４６ｍｏｌ）、イソソルビド（ＩＳＢ）２９．２１質量部（０．２００ｍｏｌ）、スピログリコール（ＳＰＧ）４２．２８質量部（０．１３９ｍｏｌ）、ジフェニルカーボネート（ＤＰＣ）６３．７７質量部（０．２９８ｍｏｌ）及び触媒として酢酸カルシウム１水和物１．１９×１０－２質量部（６．７８×１０－５ｍｏｌ）を仕込んだ。反応器内を減圧窒素置換した後、熱媒で加温を行い、内温が１００℃になった時点で撹拌を開始した。昇温開始４０分後に内温を２２０℃に到達させ、この温度を保持するように制御すると同時に減圧を開始し、２２０℃に到達してから９０分で１３．３ｋＰａにした。重合反応とともに副生するフェノール蒸気を１００℃の還流冷却器に導き、フェノール蒸気中に若干量含まれるモノマー成分を反応器に戻し、凝縮しないフェノール蒸気は４５℃の凝縮器に導いて回収した。第１反応器に窒素を導入して一旦大気圧まで復圧させた後、第１反応器内のオリゴマー化された反応液を第２反応器に移した。次いで、第２反応器内の昇温および減圧を開始して、５０分で内温２４０℃、圧力０．２ｋＰａにした。その後、所定の攪拌動力となるまで重合を進行させた。所定動力に到達した時点で反応器に窒素を導入して復圧し、生成したポリエステルカーボネート系樹脂を水中に押し出し、ストランドをカッティングしてペレットを得た。
【0058】
得られたポリエステルカーボネート系樹脂（ペレット）を８０℃で５時間真空乾燥をした後、単軸押出機（東芝機械社製、シリンダー設定温度：２５０℃）、Ｔダイ（幅２００ｍｍ、設定温度：２５０℃）、チルロール（設定温度：１２０～１３０℃）および巻取機を備えたフィルム製膜装置を用いて、厚み１３５μｍの長尺状の樹脂フィルムを作製した。得られた長尺状の樹脂フィルムを、幅方向に、延伸温度１４３℃、延伸倍率２．８倍で延伸し、厚み４７μｍの延伸フィルムを得た。得られた延伸フィルムのＲｅ（５９０）は１４５ｎｍであり、Ｒｅ（４５０）／Ｒｅ（５５０）は０．８６であり、Ｎｚ係数は１．１２であった。また、延伸フィルムの全光線透過率は９６．８１％であり、ヘイズは０．４８％であった。
【0059】
（ポジティブＣプレートの形成）
下記化学式（１）（式中の数字６５および３５はモノマーユニットのモル％を示し、便宜的にブロックポリマー体で表している：重量平均分子量５０００）で示される側鎖型液晶ポリマー２０重量部、ネマチック液晶相を示す重合性液晶（ＢＡＳＦ社製：商品名ＰａｌｉｏｃｏｌｏｒＬＣ２４２）８０重量部および光重合開始剤（チバスペシャリティーケミカルズ社製：商品名イルガキュア９０７）５重量部をシクロペンタノン２００重量部に溶解して液晶塗工液を調製した。そして、垂直配向処理を施したＰＥＴ基材に当該塗工液をバーコーターにより塗工した後、８０℃で４分間加熱乾燥することによって液晶を配向させた。この液晶層に紫外線を照射し、液晶層を硬化させることにより、厚みが４μｍ、Ｒｔｈ（５５０）が－１００ｎｍのポジティブＣプレートを基材上に形成した。
下記化学式（１）（式中の数字６５および３５はモノマーユニットのモル％を示し、便宜的にブロックポリマー体で表している：重量平均分子量５０００）で示される側鎖型液晶ポリマー２０重量部、ネマチック液晶相を示す重合性液晶（ＢＡＳＦ社製：商品名ＰａｌｉｏｃｏｌｏｒＬＣ２４２）８０重量部および光重合開始剤（チバスペシャリティーケミカルズ社製：商品名イルガキュア９０７）５重量部をシクロペンタノン２００重量部に溶解して液晶塗工液を調製した。そして、垂直配向処理を施したＰＥＴ基材に当該塗工液をバーコーターにより塗工した後、８０℃で４分間加熱乾燥することによって液晶を配向させた。この液晶層に紫外線を照射し、液晶層を硬化させることにより、厚みが４μｍ、Ｒｔｈ（５５０）が－１００ｎｍのポジティブＣプレートを基材上に形成した。
【化1】
【0060】
（保護部材の作製）
ラクトン環構造を有するアクリルフィルムに、下記に示す反射防止層形成材料を塗布して８０℃で１分間加熱し、加熱後の塗布層に高圧水銀ランプにて積算光量３００ｍＪ／ｃｍ２の紫外線を照射して塗布層を硬化させ、厚み０．１μｍの反射防止層が形成されたアクリルフィルム（厚み４４μｍ）を得た。
ラクトン環構造を有するアクリルフィルムに、下記に示す反射防止層形成材料を塗布して８０℃で１分間加熱し、加熱後の塗布層に高圧水銀ランプにて積算光量３００ｍＪ／ｃｍ２の紫外線を照射して塗布層を硬化させ、厚み０．１μｍの反射防止層が形成されたアクリルフィルム（厚み４４μｍ）を得た。
【0061】
（反射防止層形成材料）
ペンタエリスリトールトリアクリレートを主成分とする多官能アクリレート（大阪有機化学工業株式会社製、商品名「ビスコート＃３００」、固形分１００重量％）１００重量部、中空ナノシリカ粒子（日揮触媒化成工業株式会社製、商品名「スルーリア５３２０」、固形分２０重量％、重量平均粒子径７５ｎｍ）１５０重量部、中実ナノシリカ粒子（日産化学工業株式会社製、商品名「ＭＥＫ－２１４０Ｚ－ＡＣ」、固形分３０重量％、重量平均粒子径１０ｎｍ）５０重量部、フッ素元素含有添加剤（信越化学工業株式会社製、商品名「ＫＹ－１２０３」、固形分２０重量％）１２重量部、および光重合開始剤（ＢＡＳＦ社製、商品名「ＯＭＮＩＲＡＤ９０７」、固形分１００重量％）３重量部を混合した。その混合物に、希釈溶媒としてＴＢＡ（ターシャリーブチルアルコール）、ＭＩＢＫ（メチルイソブチルケトン）およびＰＭＡ（プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート）を６０：２５：１５重量比で混合した混合溶媒を添加して全体の固形分が４重量％となるようにし、攪拌して反射防止層形成用塗工液を調製した。
ペンタエリスリトールトリアクリレートを主成分とする多官能アクリレート（大阪有機化学工業株式会社製、商品名「ビスコート＃３００」、固形分１００重量％）１００重量部、中空ナノシリカ粒子（日揮触媒化成工業株式会社製、商品名「スルーリア５３２０」、固形分２０重量％、重量平均粒子径７５ｎｍ）１５０重量部、中実ナノシリカ粒子（日産化学工業株式会社製、商品名「ＭＥＫ－２１４０Ｚ－ＡＣ」、固形分３０重量％、重量平均粒子径１０ｎｍ）５０重量部、フッ素元素含有添加剤（信越化学工業株式会社製、商品名「ＫＹ－１２０３」、固形分２０重量％）１２重量部、および光重合開始剤（ＢＡＳＦ社製、商品名「ＯＭＮＩＲＡＤ９０７」、固形分１００重量％）３重量部を混合した。その混合物に、希釈溶媒としてＴＢＡ（ターシャリーブチルアルコール）、ＭＩＢＫ（メチルイソブチルケトン）およびＰＭＡ（プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート）を６０：２５：１５重量比で混合した混合溶媒を添加して全体の固形分が４重量％となるようにし、攪拌して反射防止層形成用塗工液を調製した。
【0062】
（光学フィルム）
上記λ／４部材（延伸フィルム）に紫外線硬化型接着剤（硬化後の厚み１μｍ）を介して下記の上記ポジティブＣプレートを貼り合わせた。次いで、λ／４部材に上記厚み５μｍの粘着剤層を介して上記保護部材を貼り合わせ、積層体を得た。
得られた積層体から、図１に示すような、楕円形状の光学フィルムを３２枚打ち抜いた。なお、予め把握しているλ／４部材の遅相軸方向が、得られる光学フィルムの短辺方向に対し４５°の方向となるように打ち抜いた。
上記λ／４部材（延伸フィルム）に紫外線硬化型接着剤（硬化後の厚み１μｍ）を介して下記の上記ポジティブＣプレートを貼り合わせた。次いで、λ／４部材に上記厚み５μｍの粘着剤層を介して上記保護部材を貼り合わせ、積層体を得た。
得られた積層体から、図１に示すような、楕円形状の光学フィルムを３２枚打ち抜いた。なお、予め把握しているλ／４部材の遅相軸方向が、得られる光学フィルムの短辺方向に対し４５°の方向となるように打ち抜いた。
【0063】
（軸角度の測定）
上記ガラス基板上に得られた光学フィルムを配置し、測定基板を得た。具体的には、厚み１２μｍの粘着剤層を介してガラス基板に光学フィルムを貼り合わせて測定基板を得た。
位相差測定装置（王子計測機器株式会社製、製品名「ＫＯＢＲＡ－ＷＰＲ」）のサンプル保持治具に得られた測定基板を載置した。具体的には、図２に示すように、サンプル保持治具の規制面に測定基板の直線部を突き合わせた。そして、測定波長５９０ｎｍ、測定温度は２３℃±２℃および測定湿度６０％±２％の条件で、光学フィルムの遅相軸方向を測定した。具体的には、サンプル保持治具の規制面に対し光学フィルムの遅相軸方向がなす軸角度を測定した。
上記ガラス基板上に得られた光学フィルムを配置し、測定基板を得た。具体的には、厚み１２μｍの粘着剤層を介してガラス基板に光学フィルムを貼り合わせて測定基板を得た。
位相差測定装置（王子計測機器株式会社製、製品名「ＫＯＢＲＡ－ＷＰＲ」）のサンプル保持治具に得られた測定基板を載置した。具体的には、図２に示すように、サンプル保持治具の規制面に測定基板の直線部を突き合わせた。そして、測定波長５９０ｎｍ、測定温度は２３℃±２℃および測定湿度６０％±２％の条件で、光学フィルムの遅相軸方向を測定した。具体的には、サンプル保持治具の規制面に対し光学フィルムの遅相軸方向がなす軸角度を測定した。
【0064】
（補正）
上記測定により得られた軸角度を補正し、光学フィルムの遅相軸を評価した。具体的には、測定基板における、ガラス基板の上辺に対する光学フィルムの位置を座標化して貼り合わせのズレを算出し、算出されたズレで上記測定により得られた軸角度を補正した。ガラス基板と光学フィルム位置の座標化は、画像測定機（ニコン社製、「ＮＥＸＩＶ ＶＭＺ－Ｒ６５５５」）を用いて行った。
上記測定により得られた軸角度を補正し、光学フィルムの遅相軸を評価した。具体的には、測定基板における、ガラス基板の上辺に対する光学フィルムの位置を座標化して貼り合わせのズレを算出し、算出されたズレで上記測定により得られた軸角度を補正した。ガラス基板と光学フィルム位置の座標化は、画像測定機（ニコン社製、「ＮＥＸＩＶ ＶＭＺ－Ｒ６５５５」）を用いて行った。
【0065】
［比較例１］
以下の点以外は、実施例１と同様にして、光学フィルムの遅相軸を評価した。
・軸角度の測定において、ガラス基板を用いずに、直接、サンプル保持治具に光学フィルムを載置した。具体的には、サンプル保持治具の規制面に対し楕円形の光学フィルムの短辺方向が直交するように突き合わせた。
・軸角度の補正を行わなかった。
以下の点以外は、実施例１と同様にして、光学フィルムの遅相軸を評価した。
・軸角度の測定において、ガラス基板を用いずに、直接、サンプル保持治具に光学フィルムを載置した。具体的には、サンプル保持治具の規制面に対し楕円形の光学フィルムの短辺方向が直交するように突き合わせた。
・軸角度の補正を行わなかった。
【0066】
実施例１の評価結果および比較例１の測定結果の標準偏差（バラツキの度合い）を以下に示す。比較例１では、治具に光学フィルムを載置する際にズレが生じやすく、測定値はばらつくといえる。一方、実施例１では、ガラス基板を用いることにより上記ズレは生じにくく、かつ、補正を行っていることから、評価値のバラツキは極めて低い。
【0067】
【表1】
【0068】
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態で示した構成と実質的に同一の構成、同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成で置き換えることができる。
【産業上の利用可能性】
【0069】
本発明の実施形態に係る評価方法は、光学フィルムの光学軸の評価に好適に用いられ得る。
【符号の説明】
【0070】
２ 光学フィルム、２ａ 位置決め部、４ 基板、４ａ 第一直線部、４ｂ 第二直線部、４ｃ 角部、６ 測定基板、８ サンプル保持治具、８ａ 載置面、８ｂ 規制面、１０ 表示システム、１２ 表示素子、１４ 反射型偏光部材、１６ 第一レンズ部、１８ ハーフミラー、２０ 第１のλ／４部材、２２ 第２のλ／４部材、２４ 第二レンズ部。
【図1】
【図2A】
【図2B】
【図3】
【図4】