(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024070386
(43)【公開日】2024-05-23
(54)【発明の名称】電子デバイス
(51)【国際特許分類】
G01C 19/5628 20120101AFI20240516BHJP
G01C 19/5783 20120101ALI20240516BHJP
H01L 29/84 20060101ALI20240516BHJP
【FI】
G01C19/5628
G01C19/5783
H01L29/84 Z
【審査請求】未請求
【請求項の数】6
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2022180841
(22)【出願日】2022-11-11
(71)【出願人】
【識別番号】000002369
【氏名又は名称】セイコーエプソン株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100179475
【弁理士】
【氏名又は名称】仲井 智至
(74)【代理人】
【識別番号】100216253
【弁理士】
【氏名又は名称】松岡 宏紀
(74)【代理人】
【識別番号】100225901
【弁理士】
【氏名又は名称】今村 真之
(72)【発明者】
【氏名】上野 仁
【テーマコード(参考)】
2F105
4M112
【Fターム(参考)】
2F105BB04
2F105BB12
2F105BB15
2F105BB17
2F105CC01
2F105CD02
2F105CD06
2F105CD13
4M112AA02
4M112BA07
4M112CA45
4M112EA02
(57)【要約】
【課題】リードと基板との接触による破損を抑制することのできる電子デバイスを提供すること。
【解決手段】電子デバイスは、表裏関係にある第1面および第2面を有する基板と、第2面に搭載された第1電子部品と、基板の第2面に導電性の接合部材を介して接合されたリードと、を有し、リードは、基板に沿った方向に延在し接合部材を介して第2面に接合された基端部と、基端部よりも基板の厚さ方向において基板から遠位に位置し端子面を有する先端部と、基端部と先端部とを接続する接続部と、を有し、リードが延在する面に直交する方向から見たとき、接合部材が基端部に接する最も外側の位置と基板の外縁とを結ぶ線と基端部とのなす角をθ1とし、第1電子部品と端子面との基板の厚さ方向における距離をd1とし、基端部と接続部との境界部と接合部材との基板に沿う方向における距離をd2とし、arctan(d1/d2)=θ2としたとき、θ1>θ2である。
【選択図】
図10
【特許請求の範囲】
【請求項1】
互いに表裏関係にある第1面および第2面を有する基板と、
前記第2面に搭載されている第1電子部品と、
前記基板の前記第2面側に位置し、前記第2面に導電性の接合部材を介して接合されているリードと、を有し、
前記リードは、前記基板に沿った方向に延在し前記接合部材を介して前記第2面に接合されている基端部と、前記基端部よりも前記基板の厚さ方向において前記基板から遠位に位置し端子面を有する先端部と、前記基端部と前記先端部とを接続する接続部と、を有し、
前記リードが延在する面に直交する方向から見たとき、前記接合部材が前記基端部に接する最も外側の位置と前記基板の外縁とを結ぶ線と前記基端部とのなす角をθ1とし、前記第1電子部品と前記端子面との前記基板の厚さ方向における距離をd1とし、前記基端部と前記接続部との境界部と前記接合部材との前記基板に沿う方向における距離をd2とし、arctan(d1/d2)=θ2としたとき、θ1>θ2であることを特徴とする電子デバイス。
【請求項2】
前記接合部材は、前記基板の外縁よりも内側に位置し、
前記基板と前記基端部との前記基板の厚さ方向における距離をd3とし、前記基板の外縁と前記接合部材との前記基板に沿う方向における距離をd4としたとき、d1/d2<d3/d4である請求項1に記載の電子デバイス。
【請求項3】
前記基端部は、露出している請求項1に記載の電子デバイス。
【請求項4】
前記第1面に搭載されている第2電子部品と、
前記第1面に接合され、前記基板との間に前記第2電子部品を収容するキャップと、を有する請求項1に記載の電子デバイス。
【請求項5】
側面が前記第1面に接合されている第1支持基板と、
前記第1支持基板の主面に接合されている第3電子部品と、
側面が前記第1面に接合されている第2支持基板と、
前記第2支持基板の主面に接合されている第4電子部品と、を有する請求項1に記載の電子デバイス。
【請求項6】
前記接合部材は、前記基板の外縁と重なっている請求項1に記載の電子デバイス。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子デバイスに関する。
【背景技術】
【0002】
特許文献1に記載の電子デバイスは、基板と、基板の上面に接合された3つの角速度センサーと、基板2の下面に接合された加速度センサーと、基板の下面に接合された複数のリードを備えるリード群と、各角速度センサーを覆うように基板に被せられたキャップと、加速度センサーをモールド封止すると共にキャップを基板に接合するモールド部と、を有する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献1の電子デバイスでは、モールド部を有するため、モールド部の吸湿、膨張により生じる応力により基板が反り、基板上に搭載された各センサーの検出特性が悪化するおそれがある。また、微小な隙間にモールド材を充填しきれず、電気的な導通不良を引き起こすおそれもある。このような問題点が生じないように、特許文献1の電子デバイスからモールド部を省略することが考えられる。
【0005】
しかしながら、特許文献1の電子デバイスからモールド部を省略した場合、リードの基端部がモールド部で固定されず、衝撃等によってリードが変形して基板に接触し、リードや基板が破損するおそれがある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の電子デバイスは、互いに表裏関係にある第1面および第2面を有する基板と、
前記第2面に搭載されている第1電子部品と、
前記基板の前記第2面側に位置し、前記第2面に導電性の接合部材を介して接合されているリードと、を有し、
前記リードは、前記基板に沿った方向に延在し前記接合部材を介して前記第2面に接合されている基端部と、前記基端部よりも前記基板の厚さ方向において前記基板から遠位に位置し端子面を有する先端部と、前記基端部と前記先端部とを接続する接続部と、を有し、
前記リードが延在する面に直交する方向から見たとき、前記接合部材が前記基端部に接する最も外側の位置と前記基板の外縁とを結ぶ線と前記基端部とのなす角をθ1とし、前記第1電子部品と前記端子面との前記基板の厚さ方向における距離をd1とし、前記基端部と前記接続部との境界部と前記接合部材との前記基板に沿う方向における距離をd2とし、arctan(d1/d2)=θ2としたとき、θ1>θ2である。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【
図1】第1実施形態に係る電子デバイスの上面図である。
【
図2】電子デバイスのキャップを省略した上面図である。
【
図8】電子デバイスを実装した状態を示す断面図である。
【
図9】リードが変形して第1電子部品が実装面に接触した状態を示す断面図である。
【
図10】電子デバイスのリード部分を拡大した部分拡大断面図である。
【
図11】電子デバイスのリード部分を拡大した部分拡大断面図である。
【
図12】第2実施形態に係る電子デバイスが有するリード部分を拡大した部分拡大断面図である。
【
図13】第3実施形態に係る電子デバイスが有するリード部分を拡大した部分拡大断面図である。
【
図14】第4実施形態に係る電子デバイスのキャップを省略した上面図である。
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下、本発明の電子デバイスを添付図面に示す実施形態に基づいて詳細に説明する。なお、説明の便宜上、各図には、互いに直交する3軸をX軸、Y軸およびZ軸として図示している。X軸と平行な方向を「X軸方向」とも言い、Y軸と平行な方向を「Y軸方向」とも言い、Z軸と平行な方向を「Z軸方向」とも言う。また、Z軸方向が鉛直方向に沿っており、Z軸方向プラス側を「上」、Z軸方向マイナス側を「下」とも言う。
【0009】
<第1実施形態>
図1は、第1実施形態に係る電子デバイスの上面図である。
図2は、電子デバイスのキャップを省略した上面図である。
図3は、電子デバイスの下面図である。
図4は、第2電子部品の断面図である。
図5は、第3電子部品の断面図である。
図6は、第4電子部品の断面図である。
図7は、
図2中のA-A線断面図である。
図8は、電子デバイスを実装した状態を示す断面図である。
図9は、リードが変形して第1電子部品が実装面に接触した状態を示す断面図である。
図10および
図11は、それぞれ、電子デバイスのリード部分を拡大した部分拡大断面図である。
【0010】
図1ないし
図3に示す電子デバイス1は、QFP(Quad Flat Package)構造である。また、電子デバイス1は、基板2と、基板2の上面21に接合された第2電子部品3z、第3電子部品3xおよび第4電子部品3yと、基板2の下面22に接合された第1電子部品6と、基板2の下面22に接合された複数のリード71を備えるリード群7と、第2電子部品3z、第3電子部品3xおよび第4電子部品3yを覆うように基板2に被せられたキャップ10と、を有する。
【0011】
基板2は、平面視形状が略正方形の板状であり、互いに表裏関係にある第1面としての上面21および第2面としての下面22を有する。基板2は、セラミック基板であり、アルミナ、チタニア等の各種セラミック材料で構成されている。これにより、高い耐食性と優れた機械的強度とを有する基板2となる。また、吸湿し難く耐熱性にも優れるため、例えば、電子デバイス1の製造時に加わる熱によるダメージを受け難い。なお、基板2は、例えば、所定の配線パターンが形成された複数のセラミックシート(グリーンシート)を積層し、この積層体を焼結することにより製造される。ただし、基板2は、セラミック基板に限定されず、例えば、各種半導体基板、各種ガラス基板、各種プリント基板等を用いることもできる。
【0012】
また、
図2に示すように、基板2の上面21には、第2電子部品3zと電気的に接続された端子P3zと、第3電子部品3xと電気的に接続された端子P3xと、第4電子部品3yと電気的に接続された端子P3yと、が形成されている。一方、
図3に示すように、基板2の下面22には、第1電子部品6と電気的に接続された端子P6と、リード群7と電気的に接続された端子P7と、が形成されている。これら各端子P3z、P3x、P3y、P6、P7は、基板2に形成された図示しない配線を介して電気的に接続されている。
【0013】
第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yは、それぞれ、パッケージ化された表面実装部品である。これにより、素子が剥き出しの実装部品と比べて高い機械的強度を発揮することができる。さらに、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yの基板2への実装も容易となる。
【0014】
また、本実施形態では、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yは、それぞれ、角速度センサーである。第2電子部品3zは、Z軸まわりの角速度を検出し、第3電子部品3xは、X軸まわりの角速度を検出し、第4電子部品3yは、Y軸まわりの角速度を検出する。これにより、電子デバイス1は、互いに直交する3軸まわりの角速度をそれぞれ独立して検出することができる。
【0015】
第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yの基本構成は、互いに同様であり、検出軸がX軸、Y軸およびZ軸を向くように互いに姿勢を直交させた状態で実装されている。
図4ないし
図6に示すように、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yは、それぞれ、パッケージ31と、パッケージ31に収容された検出素子34と、を有する。また、パッケージ31は、凹部を有し、凹部内に収容された検出素子34を支持する箱型のベース32と、凹部の開口を塞ぐようにベース32に接合されたリッド33と、を有する。ベース32は、アルミナ等のセラミック材料で構成され、リッド33は、コバール等の金属材料で構成されている。
【0016】
また、検出素子34は、例えば、駆動腕および振動腕を有する水晶振動素子である。水晶振動素子では、駆動信号を印加して駆動腕を駆動振動させた状態で検出軸まわりの角速度が加わると、コリオリの力によって検出腕に検出振動が励振される。そして、検出振動により検出腕に発生する電荷を検出信号として取り出し、取り出した検出信号に基づいて角速度を求めることができる。
【0017】
図4に示すように、第2電子部品3zは、パッケージ31の底面において導電性の接合部材B3zを介して基板2の上面21に接合されている。パッケージ31の底面には検出素子34と電気的に接続された端子35が形成されており、この端子35が接合部材B3zを介して端子P3zと電気的に接続されている。また、
図5に示すように、第3電子部品3xは、パッケージ31の側面において導電性の接合部材B3xを介して基板2の上面21に接合されている。パッケージ31の側面には検出素子34と電気的に接続された端子35が形成されており、この端子35が接合部材B3xを介して端子P3xと電気的に接続されている。また、
図6に示すように、第4電子部品3yは、パッケージ31の側面において導電性の接合部材B3yを介して基板2の上面21に接合されている。パッケージ31の側面には検出素子34と電気的に接続された端子35が形成されており、この端子35が接合部材B3yを介して端子P3yと電気的に接続されている。
【0018】
接合部材B3z、B3x、B3yは、それぞれ、半田であり、半田リフローによって第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yと基板2との機械的および電気的な接続を行っている。これにより、基板2への第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yの実装を容易かつ精度よく行うことができる。ただし、接合部材B3z、B3x、B3yとしては、半田に限定されず、例えば、金ろう、銀ろう等の各種ろう材、金バンプ、銀バンプ等の各種金属バンプ、樹脂系接着剤に導電性フィラーを分散させた各種導電性接着剤等を用いることができる。
【0019】
以上、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yについて説明したが、これらの構成としては特に限定されない。例えば、検出素子34が静電容量型のシリコン振動素子から構成され、静電容量の変化に基づいて角速度を検出する構成であってもよい。また、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yの少なくとも1つが他と異なる構成であってもよい。また、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yは、パッケージ化された表面実装部品でなくてもよく、例えば、パッケージ31を省略し、キャップ10内で検出素子34が剥き出しとなっていてもよい。また、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yは、角速度以外の物理量を検出する物理量センサーであってもよいし、物理量センサーでなくてもよい。また、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yの少なくとも1つを省略してもよい。
【0020】
図7に示すように、キャップ10は、基板2の上面21に接合されており、基板2との間に第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yを収容する。キャップ10は、ハット型であり、下面に開口する凹部を有する基部101と、基部101の下端部から外周側に向けて突出する環状のフランジ部102と、を有する。キャップ10は、基部101内に第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yを収容するようにして基板2の上面21に配置され、フランジ部102が接合部材B10を介して上面21に接合されている。そして、キャップ10内が気密封止されている。
【0021】
このように、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yを収容するキャップ10を設けることにより、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yを水分、埃、衝撃等から保護することができる。なお、本実施形態では、キャップ10内は、大気封止されている。ただし、これに限定されず、例えば、減圧封止、陽圧封止してもよいし、窒素、アルゴン等の安定したガスに置換してもよい。
【0022】
キャップ10は、導電性を有し、例えば、金属材料で構成されている。特に、本実施形態では、鉄-ニッケル系合金である42アロイで構成されている。これにより、セラミック基板からなる基板2とキャップ10との線膨張係数差を十分に小さくすることができ、これらの線膨張係数差に起因する熱応力の発生を効果的に抑制することができる。したがって、環境温度に影響を受け難く、安定した特性を有する電子デバイス1となる。
【0023】
また、キャップ10は、電子デバイス1の使用時にグランドに接続される。これにより、キャップ10が外部からの電磁ノイズを遮断するシールドとして機能し、キャップ10の内部に収容された第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yの駆動がより安定する。ただし、キャップ10の構成材料としては、42アロイに限定されず、例えば、SUS材等の金属材料、各種セラミック材料、各種樹脂材料、シリコン等の半導体材料、各種ガラス材料等を用いることもできる。
【0024】
第1電子部品6は、パッケージ化された表面実装部品である。これにより、素子が剥き出しの実装部品と比べて高い機械的強度を発揮することができる。さらに、第1電子部品6の基板2への実装も容易となる。
【0025】
また、
図7に示すように、第1電子部品6は、パッケージ61と、パッケージ61内に収容された加速度センサー4および回路素子5を有する。また、パッケージ61は、凹部を有する箱型のベース62と、凹部の開口を塞ぐようにベース62に接合されたリッド63と、を有する。ベース62は、アルミナ等のセラミック材料で構成され、リッド63は、コバール等の金属材料で構成されている。
【0026】
そして、凹部の底面に回路素子5と加速度センサー4とが重ねて実装されている。また、回路素子5は、ボンディングワイヤーを介してベース62の内部端子に電気的に接続され、加速度センサー4は、ボンディングワイヤーを介して回路素子5と電気的に接続されている。なお、パッケージ61内における加速度センサー4および回路素子5の配置は、特に限定されない。
【0027】
加速度センサー4は、X軸方向の加速度、Y軸方向の加速度およびZ軸方向の加速度をそれぞれ独立して検出することができる3軸加速度センサーである。これにより、電子デバイス1は、X軸、Y軸およびZ軸の各軸まわりの角速度および各軸方向の加速度を検出可能な6軸複合センサーとなる。そのため、様々な電子部品に搭載可能で、利便性および需要の高い電子デバイス1となる。
【0028】
加速度センサー4は、パッケージ41と、パッケージ41に収納された加速度検出素子44、45、46と、を有する。パッケージ41は、加速度検出素子44、45、46を支持するベース42と、ベース42との間に加速度検出素子44、45、46を収容するようにしてベース42に接合されたリッド43と、を有する。
【0029】
また、加速度検出素子44は、X軸方向の加速度を検出する素子であり、加速度検出素子45は、Y軸方向の加速度を検出する素子であり、加速度検出素子46は、Z軸方向の加速度を検出する素子である。これら加速度検出素子44、45、46は、ベース42に固定された固定電極と、ベース42に対して可変な可動電極と、を有するシリコン振動素子である。検出軸方向の加速度を受けると可動電極が固定電極に対し変位し、固定電極と可動電極との間に形成された静電容量が変化する。そのため、加速度検出素子44、45、46の静電容量の変化を検出信号として取り出し、取り出した検出信号に基づいて各軸方向の加速度を求めることができる。
【0030】
なお、加速度センサー4の構成としては、その機能を発揮することができれば特に限定されない。例えば、加速度検出素子44、45、46は、シリコン振動素子に限定されず、例えば、水晶振動素子であり、振動により生じる電荷に基づいて加速度を検出する構成であってもよい。また、加速度検出素子44、45、46がそれぞれ別々のパッケージに収容されていてもよい。
【0031】
回路素子5は、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3y、加速度センサー4およびリード群7と電気的に接続されている。回路素子5は、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yおよび加速度センサー4の駆動を制御する制御回路51と、リード群7を介して外部との通信を行うインターフェース回路52と、を有する。このうち、制御回路51は、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yおよび加速度センサー4の駆動を制御し、第2、第3、第4電子部品3z、3x、3yおよび加速度センサー4から出力される検出信号に基づいてX軸、Y軸およびZ軸の各軸まわりの角速度および各軸方向の加速度を検出する。一方、インターフェース回路52は、信号の送受信を行い、外部装置からの指令を受け付けたり、検出した角速度および加速度を外部装置に出力したりする。
【0032】
第1電子部品6は、パッケージ61の底面において導電性の接合部材B6を介して基板2の下面22に接合されている。パッケージ61の底面には回路素子5と電気的に接続された端子65が形成されており、この端子65が接合部材B6を介して端子P6と電気的に接続されている。接合部材B6は、半田であり、半田リフローによって第1電子部品6と基板2との機械的および電気的な接続を行っている。ただし、接合部材B6としては、半田に限定されず、例えば、金ろう、銀ろう等の各種ろう材、金バンプ、銀バンプ等の各種金属バンプ、樹脂系接着剤に導電性フィラーを分散させた各種導電性接着剤等を用いることができる。
【0033】
以上、第1電子部品6について説明したが、第1電子部品6の構成としては、特に限定されない。例えば、パッケージ61および加速度センサー4を省略し、第1電子部品6が回路素子5のみで構成されていてもよい。この場合、電子デバイス1は、3軸角速度センサーとし機能する。また、パッケージ61および回路素子5を省略してもよい。この場合、電子デバイス1と電気的に接続される外部装置に回路素子5と同様の機能を有する回路を持たせ、当該回路によって電子デバイス1の制御を行えばよい。また、パッケージ61を省略し、基板2の下面22に回路素子5と加速度センサー4とを剥き出しの状態で実装してもよい。また、第1電子部品6は、加速度以外の物理量を検出する物理量センサーであってもよいし、物理量センサーでなくてもよい。
【0034】
図7に示すように、リード群7は、基板2の下面22側に位置し、導電性の接合部材B7を介して基板2の下面22に接合された複数のリード71を有する。また、複数のリード71は、それぞれ、接合部材B7を介して端子P7と電気的に接続されている。
図1および
図2に示すように、複数のリード71は、基板2の四辺に沿ってほぼ均等に設けられている。
【0035】
接合部材B7は、半田であり、半田リフローによってリード71と基板2との機械的および電気的な接続を行っている。これにより、リード71と基板2との接続を容易かつ精度よく行うことができる。また、経年劣化が少なく、信頼性の高い接合部材B7となる。ただし、接合部材B7としては、半田に限定されず、例えば、金ろう、銀ろう等の各種ろう材、金バンプ、銀バンプ等の各種金属バンプ、樹脂系接着剤に導電性フィラーを分散させた各種導電性接着剤等を用いることができる。
【0036】
ここで、電子デバイス1は、
図8に示すように、リード71を介して平滑な実装面Gに実装される。そして、この状態でZ軸方向の衝撃が加わると、
図9に示すように、第1電子部品6が実装面Gに接触するまでリード71が弾性変形する。この際、弾性変形したリード71が基板2に接触すると、リード71や基板2が破損するおそれがあるため、本実施形態では、
図9に示すような弾性変形時でもリード71が基板2に接触しないようにリード71を構成している。これにより、リード71や基板2の破損を効果的に抑制することができ、機械的強度および信頼性の高い電子デバイス1となる。
【0037】
特に、本実施形態では、リード71がモールドされておらず露出しているため、リード71が弾性変形し易く、
図9の状態になり易い。したがって、本実施形態の効果がより顕著に発揮される。
【0038】
次に、リード71の構成について詳細に説明する。なお、複数のリード71は、互いに同様の構成であるため、以下では、1つのリード71について代表して説明し、その他のリード71については、その説明を省略する。また、代表して説明するリード71は、Z-X平面に延在している。
【0039】
図10および
図11に示すように、リード71は、基端部711と、先端部712と、基端部711と先端部712とを接続する接続部713と、を有する。リード71は、基端部711と接続部713との間および先端部712と接続部713との間でそれぞれ逆方向に屈曲しており、クランク状となっている。これら各部のうち、基端部711は、接合部材B7を介して基板2の下面22に接合されている。また、先端部712は、基端部711よりもZ軸方向マイナス側つまり基板2から遠位に位置し、その下面で構成された端子面712aを有する。電子デバイス1は、この端子面712aにおいて実装面Gに実装される。また、基端部711および先端部712は、それぞれ、X軸方向に沿って延在しており、接続部713は、Z軸方向に沿って延在している。そのため、Z軸方向からの平面視で、先端部712は、基端部711の外側に位置している。ただし、基端部711、先端部712および接続部713の延在方法は、それぞれ、特に限定されない。
【0040】
また、リード71が延在するX-Z平面に直交するY軸方向から見たとき、接合部材B7が基端部711に接する最も外側の位置Pbと基板2の外縁20とを結ぶ線L1と基端部711とのなす角をθ1とし、第1電子部品6と端子面712aとのZ軸方向すなわち基板2の厚さ方向における距離をd1とし、基端部711と接続部713との境界部714と接合部材B7とのX軸方向すなわち基板2に沿う方向における距離をd2とし、arctan(d1/d2)=θ2としたとき、θ1>θ2の関係を満足する。なお、より詳細には、θ1は、線L1と基端部711の上面つまり基板2側の面とのなす角である。また、d2は、位置Pbと境界部714の頂点PaとのX軸方向における距離である。また、arctanは、tanの逆関数である。
【0041】
θ1>θ2の関係を満足することにより、
図9の状態にリード71が弾性変形するまでの間、リード71と基板2との接触を抑制することができる。そのため、リード71や基板2の破損を効果的に抑制することができ、機械的強度および信頼性の高い電子デバイス1となる。
【0042】
なお、θ1>θ2の関係を満足すれば特に限定されないが、この範囲の中でも、θ1/θ2>1.5であることが好ましく、θ1/θ2>2.0であることがより好ましい。これにより、リード71と基板2との接触をさらに効果的に抑制することができる。ただし、θ1/θ2が大きすぎると、電子デバイス1の過度な大型化を招くおそれがある。そのため、上限値としては、θ1/θ2≦4.0であることが好ましく、θ1/θ2≦3.0であることがより好ましい。これにより、電子デバイス1の大型化を抑制しつつ、上述の効果を発揮することができる。
【0043】
特に、本実施形態では、接合部材B7は、基板2の外縁20よりも内側に位置している。このように、接合部材B7が外縁20よりも内側に位置することで、例えば、電子デバイス1の製造時において、基板2とリード群7との位置ずれを許容し易くなる。このような構成では、基板2と基端部711とのZ軸方向すなわち基板2の厚さ方向における距離をd3とし、基板2の外縁20と接合部材B7とのX軸方向すなわち基板2に沿う方向における距離をd4としたとき、d1/d2<d3/d4の関係を満足している。arctan(d3/d4)=θ1であり、arctan(d1/d2)=θ2であるため、d1/d2<d3/d4の関係を満足することにより、θ1>θ2をより確実に満足することができる。なお、より詳細には、d4は、外縁20と接合部材B7の位置Pbとの距離である。
【0044】
以上、本実施形態の電子デバイス1について説明した。電子デバイス1は、前述したように、互いに表裏関係にある第1面である上面21および第2面である下面22を有する基板2と、下面22に搭載されている第1電子部品6と、基板2の下面22側に位置し、下面22に導電性の接合部材B7を介して接合されているリード71と、を有する。また、リード71は、基板2に沿った方向に延在し接合部材B7を介して下面22に接合されている基端部711と、基端部711よりも基板2の厚さ方向において基板2から遠位に位置し端子面712aを有する先端部712と、基端部711と先端部712とを接続する接続部713と、を有する。そして、リード71が延在する面に直交する方向から見たとき、接合部材B7が基端部711に接する最も外側の位置Pbと基板2の外縁20とを結ぶ線L1と基端部711とのなす角をθ1とし、第1電子部品6と端子面712aとの基板2の厚さ方向すなわちZ軸方向における距離をd1とし、基端部711と接続部713との境界部と接合部材B7との基板2に沿う方向における距離をd2とし、arctan(d1/d2)=θ2としたとき、θ1>θ2である。このような構成によれば、
図9の状態にリード71が弾性変形するまでの間、リード71と基板2との接触を抑制することができる。そのため、リード71や基板2の破損を効果的に抑制することができ、機械的強度および信頼性の高い電子デバイス1となる。
【0045】
また、前述したように、接合部材B7は、基板2の外縁20よりも内側に位置し、基板2と基端部711との基板2の厚さ方向における距離をd3とし、基板2の外縁20と接合部材B7との基板2に沿う方向における距離をd4としたとき、d1/d2<d3/d4である。このような関係を満足することにより、θ1>θ2をより確実に満足することができる。
【0046】
また、前述したように、基端部711は、露出している。そのため、リード71が弾性変形し易い。したがって、前述したリード71と基板2との接触を抑制することができる効果がより顕著に発揮される。
【0047】
また、前述したように、上面21に搭載されている第2電子部品3zと、上面21に接合され、基板2との間に第2電子部品3zを収容するキャップ10と、を有する。これにより、基板2の上面21側を有効利用することができる。また、キャップ10により第2電子部品3zを保護することができる。
【0048】
<第2実施形態>
図12は、第2実施形態に係る電子デバイスが有するリード部分を拡大した部分拡大断面図である。
【0049】
本実施形態は、接合部材B7の配置が異なること以外は、前述した第1実施形態と同様である。なお、以下の説明では、本実施形態に関し、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項に関してはその説明を省略する。また、本実施形態の図において、前述した実施形態と同様の構成については、同一符号を付している。
【0050】
図12に示すように、本実施形態の電子デバイス1では、Z軸方向の平面視で、接合部材B7が基板2の外縁20と重なっている。特に、本実施形態では、Z軸方向の平面視で、位置Pbが基板2の外縁20と重なっている。リード71は、位置Pb付近を支点に弾性変形するため、位置Pbが基板2の外縁20と重なることにより、弾性変形の支点をより外側に位置させることができる。そのため、リード71と基板2との接触をさらに効果的に抑制することができる。
【0051】
以上のように、本実施形態の電子デバイス1では、接合部材B7は、基板2の平面視にて、基板2の外縁20と重なっている。これにより、リード71と基板2との接触をさらに効果的に抑制することができる。
【0052】
このような第2実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。
【0053】
<第3実施形態>
図13は、第3実施形態に係る電子デバイスが有するリード部分を拡大した部分拡大断面図である。
【0054】
本実施形態は、接合部材B7の配置が異なること以外は、前述した第1実施形態と同様である。なお、以下の説明では、本実施形態に関し、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項に関してはその説明を省略する。また、本実施形態の図において、前述した実施形態と同様の構成については、同一符号を付している。
【0055】
図13に示すように、本実施形態の電子デバイス1では、Z軸方向の平面視で、接合部材B7が基板2の外縁20と重なっている。特に、本実施形態では、Z軸方向の平面視で、位置Pbが基板2の外縁20よりも外側に位置している。リード71は、位置Pb付近を支点に弾性変形するため、位置Pbが基板2の外縁20よりも外側に位置することにより、弾性変形の支点をより外側に位置させることができる。そのため、リード71と基板2との接触をさらに効果的に抑制することができる。
【0056】
以上のように、本実施形態の電子デバイス1では、接合部材B7は、基板2の平面視にて、基板2の外縁20と重なっている。これにより、リード71と基板2との接触をさらに効果的に抑制することができる。
【0057】
このような第3実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。
【0058】
<第4実施形態>
図14は、第4実施形態に係る電子デバイスのキャップを省略した上面図である。
図15は、第1支持基板の断面図である。
図16は、第2支持基板の断面図である。
【0059】
本実施形態は、第3、第4電子部品3x、3yの基板2への接合方法が異なること以外は、前述した第1実施形態と同様である。なお、以下の説明では、本実施形態に関し、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項に関してはその説明を省略する。また、本実施形態の各図において、前述した実施形態と同様の構成については、同一符号を付している。
【0060】
図14に示すように、電子デバイス1は、さらに、第1支持基板8と、第2支持基板9と、を有する。そして、第1支持基板8を介して第3電子部品3xが基板2に接合され、第2支持基板9を介して第4電子部品3yが基板2に接合されている。
【0061】
第1支持基板8は、第3電子部品3xの基板2への実装を中継するインターポーザー基板であり、第2支持基板9は、第4電子部品3yの基板2への実装を中継するインターポーザー基板である。つまり、第3電子部品3xは、第1支持基板8を介して基板2に機械的に接合さると共に基板2と電気的に接続される。同様に、第4電子部品3yは、第2支持基板9を介して基板2に機械的に接合さると共に基板2と電気的に接続される。これら第1、第2支持基板8、9は、互いに同一の構成である。これにより、第1、第2支持基板8、9を個別に準備する必要が無くなり、電子デバイス1の製造コストを削減することができる。
【0062】
また、第1、第2支持基板8、9は、共に、セラミック基板であり、アルミナ、チタニア等の各種セラミック材料で構成されている。これにより、高い耐食性と優れた機械的強度とを有する第1、第2支持基板8、9となる。また、吸湿し難く、耐熱性にも優れるため、例えば、電子デバイス1の製造時に加わる熱によるダメージを受け難い。なお、第1、第2支持基板8、9は、例えば、所定の配線パターンが形成された複数のセラミックシートを積層し、この積層体を焼結することにより製造される。ただし、第1、第2支持基板8、9は、セラミック基板に限定されず、例えば、各種半導体基板、各種ガラス基板、各種プリント基板等を用いることもできる。
【0063】
図15に示すように、第1支持基板8は、平面視形状が略正方形の板状であり、第3電子部品3xが接合された主面81と、基板2の上面21に接合される側面83と、を有する。このような第1支持基板8は、主面81をX軸方向に向け、かつ、側面83を下側に向けた起立姿勢で、側面83において複数の導電性の接合部材B8を介して基板2の上面21に接合されている。また、第1支持基板8は、接合部材B8を介して端子P3xと電気的に接続されている。
【0064】
図16に示すように、第2支持基板9は、上述した第1支持基板8と同様、平面視形状が略正方形の板状であり、第4電子部品3yが接合された主面91と、基板2の上面21に接合される側面93と、を有する。このような第2支持基板9は、主面91をY軸方向に向け、かつ、側面93を下側に向けた起立姿勢で、側面93において複数の導電性の接合部材B9を介して基板2の上面21に接合されている。また、第2支持基板9は、接合部材B9を介して端子P3yと電気的に接続されている。
【0065】
接合部材B8、B9は、半田であり、半田リフローによって第1、第2支持基板8、9と基板2との機械的および電気的な接続を行っている。これにより、基板2への第1、第2支持基板8、9の実装を容易かつ精度よく行うことができる。ただし、接合部材B8、B9としては、半田に限定されず、例えば、金ろう、銀ろう等の各種ろう材、金バンプ、銀バンプ等の各種金属バンプ、樹脂系接着剤に導電性フィラーを分散させた各種導電性接着剤等を用いることができる。
【0066】
ここで、第1支持基板8の側面83は、十分に平滑化されている。具体的には、側面83は、第3電子部品3xのベース32の側面よりも表面粗さが小さい。さらに、側面83は、その傾きが高精度に制御され、主面81に対して直交している。また、第1支持基板8は、ベース32よりも個体差が小さい。具体的には、無作為に選択された所定個数の第1支持基板8の主面81と側面83とのなす角の90°からのずれ量の平均値が、無作為に選択された同個数のベース32の底面と側面とのなす角の90°からのずれ量の平均値よりも小さい。これにより、前述した第1実施形態のように、第1支持基板8を中継することなく第3電子部品3xを直接基板2に接合する場合と比べて、第3電子部品3xの姿勢ずれを小さくすることができる。
【0067】
同様に、第2支持基板9の側面93は、十分に平滑化されている。さらに、側面93は、その傾きが高精度に制御され、主面91に対して直交している。また、第2支持基板9は、ベース32よりも個体差が小さい。これにより、前述した第1実施形態のように、第2支持基板9を中継することなく第4電子部品3yを直接基板2に接合する場合と比べて、第4電子部品3yの姿勢ずれを小さくすることができる。
【0068】
以上のように、本実施形態の電子デバイス1では、側面83が上面21に接合されている第1支持基板8と、第1支持基板8の主面81に接合されている第3電子部品3xと、側面93が上面21に接合されている第2支持基板9と、第2支持基板9の主面91に接合されている第4電子部品3yと、を有する。これにより、基板2上での第3、第4電子部品3x、3yの姿勢ずれを抑制することができる。
【0069】
このような第4実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。
【0070】
以上、本発明の電子デバイスを図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物が付加されていてもよい。また、各実施形態を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【0071】
1…電子デバイス、10…キャップ、101…基部、102…フランジ部、2…基板、20…外縁、21…上面、22…下面、3x…第3電子部品、3y…第4電子部品、3z…第2電子部品、31…パッケージ、32…ベース、33…リッド、34…検出素子、35…端子、4…加速度センサー、41…パッケージ、42…ベース、43…リッド、44…加速度検出素子、45…加速度検出素子、46…加速度検出素子、5…回路素子、51…制御回路、52…インターフェース回路、6…第1電子部品、61…パッケージ、62…ベース、63…リッド、65…端子、7…リード群、71…リード、711…基端部、712…先端部、712a…端子面、713…接続部、714…境界部、8…第1支持基板、81…主面、83…側面、9…第2支持基板、91…主面、93…側面、B10…接合部材、B3x…接合部材、B3y…接合部材、B3z…接合部材、B6…接合部材、B7…接合部材、B8…接合部材、B9…接合部材、L1…線、d1…距離、d2…距離、d3…距離、d4…距離、G…実装面、P3x…端子、P3y…端子、P3z…端子、P6…端子、P7…端子、Pa…頂点、Pb…位置