発明の名称 ウェーハ欠陥検出装置及びウェーハ欠陥検査システム
出願人 株式会社ナノシステムソリューションズ (識別番号 504385524)
特許公開件数ランキング 11776 位(1件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 4065 位(3件)(共同出願を含む)
公報番号 特開-2024-75360
公報発行日 2024年6月3
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-75360
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