特開2024-75432測定用治具及び測定用治具を用いたスプラインの径方向寸法の測定方法
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024075432
(43)【公開日】2024-06-03
(54)【発明の名称】測定用治具及び測定用治具を用いたスプラインの径方向寸法の測定方法
(51)【国際特許分類】
G01B 5/08 20060101AFI20240527BHJP
【ＦＩ】
G01B5/08
【審査請求】未請求
【請求項の数】6
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022186932
(22)【出願日】2022-11-22
(71)【出願人】
【識別番号】000231350
【氏名又は名称】ジヤトコ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100148301
【弁理士】
【氏名又は名称】竹原 尚彦
(74)【代理人】
【識別番号】100176991
【弁理士】
【氏名又は名称】中島 由布子
(74)【代理人】
【識別番号】100217696
【弁理士】
【氏名又は名称】川口 英行
(72)【発明者】
【氏名】鈴木 裕一
【テーマコード（参考）】
2F062
【Ｆターム（参考）】
2F062AA31
2F062CC27
2F062GG29
(57)【要約】
【課題】スプラインの径方向寸法の測定作業を簡便にする。
【解決手段】シャフトの外周に形成されたスプラインの径方向寸法を測定する際に用いられる測定用治具であって、前記測定用治具は、前記シャフトに外挿される筒状に形成されており、前記測定用治具は、前記シャフトの軸線方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面を有し、前記一対の平坦面は、前記軸線の径方向から見て前記軸線に直交すると共に、前記軸線方向の位置を揃えて設けられており、前記一対の平坦面は、前記軸線周りの周方向に位置をずらすと共に、前記軸線方向に位置をずらして、複数組設けられている。
【選択図】図２
【解決手段】シャフトの外周に形成されたスプラインの径方向寸法を測定する際に用いられる測定用治具であって、前記測定用治具は、前記シャフトに外挿される筒状に形成されており、前記測定用治具は、前記シャフトの軸線方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面を有し、前記一対の平坦面は、前記軸線の径方向から見て前記軸線に直交すると共に、前記軸線方向の位置を揃えて設けられており、前記一対の平坦面は、前記軸線周りの周方向に位置をずらすと共に、前記軸線方向に位置をずらして、複数組設けられている。
【選択図】図２
【特許請求の範囲】
【請求項1】
シャフトの外周に形成されたスプラインの径方向寸法を測定する際に用いられる測定用治具であって、
前記測定用治具は、前記シャフトに外挿される筒状に形成されており、
前記測定用治具は、前記シャフトの軸線方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面を有し、
前記一対の平坦面は、前記軸線の径方向から見て前記軸線に直交すると共に、前記軸線方向の位置を揃えて設けられており、
前記一対の平坦面は、前記軸線周りの周方向に位置をずらすと共に、前記軸線方向に位置をずらして、複数組設けられている、測定用治具。
前記測定用治具は、前記シャフトに外挿される筒状に形成されており、
前記測定用治具は、前記シャフトの軸線方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面を有し、
前記一対の平坦面は、前記軸線の径方向から見て前記軸線に直交すると共に、前記軸線方向の位置を揃えて設けられており、
前記一対の平坦面は、前記軸線周りの周方向に位置をずらすと共に、前記軸線方向に位置をずらして、複数組設けられている、測定用治具。
【請求項2】
請求項１において、
前記測定用治具は、
前記シャフトに外挿されて位置決めされる基部と、
前記基部から前記軸線方向に延びると共に、前記径方向から見て前記スプラインにオーバーラップする延出部と、を有しており、
前記延出部は、前記複数組の前記一対の平坦面のうちの一方の平坦面が形成される第１延出部と、他方の平坦面が形成される第２延出部と、を有しており、
前記軸線方向から見て、前記第１延出部と前記第２延出部は、１８０°位相をずらして設けられており、
前記複数組の一対の平坦面のうちの１組は、前記基部に形成されている、測定用治具。
前記測定用治具は、
前記シャフトに外挿されて位置決めされる基部と、
前記基部から前記軸線方向に延びると共に、前記径方向から見て前記スプラインにオーバーラップする延出部と、を有しており、
前記延出部は、前記複数組の前記一対の平坦面のうちの一方の平坦面が形成される第１延出部と、他方の平坦面が形成される第２延出部と、を有しており、
前記軸線方向から見て、前記第１延出部と前記第２延出部は、１８０°位相をずらして設けられており、
前記複数組の一対の平坦面のうちの１組は、前記基部に形成されている、測定用治具。
【請求項3】
請求項２において、
前記第１延出部と前記第２延出部では、前記一対の平坦面が、前記周方向に位置をずらして複数設けられており、前記周方向における他方側に位置する平坦面から前記周方向における一方側に離れた平坦面に向かうにつれて、前記基部からの離間距離が大きい、測定用治具。
前記第１延出部と前記第２延出部では、前記一対の平坦面が、前記周方向に位置をずらして複数設けられており、前記周方向における他方側に位置する平坦面から前記周方向における一方側に離れた平坦面に向かうにつれて、前記基部からの離間距離が大きい、測定用治具。
【請求項4】
請求項２において、
前記延出部は、前記複数組の前記一対の平坦面のうちの一方の平坦面が形成される第３延出部と、他方の平坦面が形成される第４延出部と、さらに有しており、
前記軸線方向から見て、前記第３延出部と前記第４延出部は、１８０°位相をずらして設けられていると共に、前記第１延出部と前記第２延出部から９０°位相をずらして設けられている、測定用治具。
前記延出部は、前記複数組の前記一対の平坦面のうちの一方の平坦面が形成される第３延出部と、他方の平坦面が形成される第４延出部と、さらに有しており、
前記軸線方向から見て、前記第３延出部と前記第４延出部は、１８０°位相をずらして設けられていると共に、前記第１延出部と前記第２延出部から９０°位相をずらして設けられている、測定用治具。
【請求項5】
請求項４において、
前記第３延出部と前記第４延出部では、前記一対の平坦面が、前記周方向に位置をずらして複数設けられており、前記周方向における他方側に位置する平坦面から前記周方向における一方側に離れた平坦面に向かうにつれて、前記基部からの離間距離が大きい、測定用治具。
前記第３延出部と前記第４延出部では、前記一対の平坦面が、前記周方向に位置をずらして複数設けられており、前記周方向における他方側に位置する平坦面から前記周方向における一方側に離れた平坦面に向かうにつれて、前記基部からの離間距離が大きい、測定用治具。
【請求項6】
請求項１から５のいずれか１に記載の測定用治具を用いた前記スプラインの径方向寸法の測定方法であって、
前記測定用治具を前記シャフトに外挿する装着工程と、
前記測定用治具を前記軸線回りに回転して、前記一対の平坦面を、測定対象のスプラインの外径側に配置する位置決め工程と、
前記スプラインの外径側に配置された前記一対の平坦面に一対の測定子を載置して、前記スプラインの径方向寸法を測定する測定工程と、を有する、測定用治具を用いたスプラインの径方向寸法の測定方法。
前記測定用治具を前記シャフトに外挿する装着工程と、
前記測定用治具を前記軸線回りに回転して、前記一対の平坦面を、測定対象のスプラインの外径側に配置する位置決め工程と、
前記スプラインの外径側に配置された前記一対の平坦面に一対の測定子を載置して、前記スプラインの径方向寸法を測定する測定工程と、を有する、測定用治具を用いたスプラインの径方向寸法の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、測定用治具及び測定用治具を用いたスプラインの径方向寸法の測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
特許文献１は、シャフトの外周に形成されたスプラインの位相を測定する測定用治具を開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２００４－０２８９４７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
シャフトの外周に形成されたスプラインは、位相の測定の他に、径方向の寸法も測定される。スプラインの径方向の寸法測定は、シャフトの軸線方向における複数の位置で行われる。
ここで、軸線方向におけるスプラインの測定位置は予め定められている。作業者は、測定器の測定子を各測定位置に正確に配置する必要がある。
この場合において、各測定位置に対応した複数の測定用治具を用いることが考えられる。しかしながら、複数の測定用治具を用いて測定を行うことは、手間がかかる。
そこで、スプラインの径方向寸法の測定作業を簡便にすることが求められている。
ここで、軸線方向におけるスプラインの測定位置は予め定められている。作業者は、測定器の測定子を各測定位置に正確に配置する必要がある。
この場合において、各測定位置に対応した複数の測定用治具を用いることが考えられる。しかしながら、複数の測定用治具を用いて測定を行うことは、手間がかかる。
そこで、スプラインの径方向寸法の測定作業を簡便にすることが求められている。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明のある態様における測定用治具は、
シャフトの外周に形成されたスプラインの径方向寸法を測定する際に用いられる測定用治具であって、
前記測定用治具は、前記シャフトに外挿される筒状に形成されており、
前記測定用治具は、前記軸線方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面を有し、
前記一対の平坦面は、前記軸線の径方向から見て前記軸線に直交すると共に、前記軸線方向の位置を揃えて設けられており、
前記一対の平坦面は、前記軸線周りの周方向に位置をずらすと共に、前記軸線方向に位置をずらして、複数組設けられている。
シャフトの外周に形成されたスプラインの径方向寸法を測定する際に用いられる測定用治具であって、
前記測定用治具は、前記シャフトに外挿される筒状に形成されており、
前記測定用治具は、前記軸線方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面を有し、
前記一対の平坦面は、前記軸線の径方向から見て前記軸線に直交すると共に、前記軸線方向の位置を揃えて設けられており、
前記一対の平坦面は、前記軸線周りの周方向に位置をずらすと共に、前記軸線方向に位置をずらして、複数組設けられている。
【発明の効果】
【0006】
本発明のある態様によれば、スプラインの径方向寸法の測定作業を簡便にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【発明を実施するための形態】
【0008】
始めに、本明細書における用語の定義を説明する。
「所定方向視においてオーバーラップする」とは、所定方向に複数の要素が並んでいることを意味し、「所定方向にオーバーラップする」と記載する場合と同義である。「所定方向」は、たとえば、軸方向、径方向、重力方向等である。
図面上において複数の要素（部品、部分等）が所定方向に並んでいることが図示されている場合は、明細書の説明において、所定方向視においてオーバーラップしていることを説明した文章があるとみなして良い。
「所定方向視においてオーバーラップする」とは、所定方向に複数の要素が並んでいることを意味し、「所定方向にオーバーラップする」と記載する場合と同義である。「所定方向」は、たとえば、軸方向、径方向、重力方向等である。
図面上において複数の要素（部品、部分等）が所定方向に並んでいることが図示されている場合は、明細書の説明において、所定方向視においてオーバーラップしていることを説明した文章があるとみなして良い。
【0009】
「所定方向視においてオーバーラップしていない」、「所定方向視においてオフセットしている」とは、所定方向に複数の要素が並んでいないことを意味し、「所定方向にオーバーラップしていない」、「所定方向にオフセットしている」と記載する場合と同義である。「所定方向」は、たとえば、軸方向、径方向、重力方向等である。
図面上において複数の要素（部品、部分等）が所定方向に並んでいないことが図示されている場合は、明細書の説明において、所定方向視においてオーバーラップしていないことを説明した文章があるとみなして良い。
図面上において複数の要素（部品、部分等）が所定方向に並んでいないことが図示されている場合は、明細書の説明において、所定方向視においてオーバーラップしていないことを説明した文章があるとみなして良い。
【0010】
「所定方向視において、第１要素（部品、部分等）は第２要素（部品、部分等）と第３要素（部品、部分等）との間に位置する」とは、所定方向から観察した場合において、第１要素が第２要素と第３要素との間にあることが観察できることを意味する。「所定方向」とは、軸方向、径方向、重力方向等である。
例えば、第２要素と第１要素と第３要素とが、この順で軸方向に沿って並んでいる場合は、径方向視において、第１要素は第２要素と第３要素との間に位置しているといえる。図面上において、所定方向視において第１要素が第２要素と第３要素との間にあることが図示されている場合は、明細書の説明において所定方向視において第１要素が第２要素と第３要素との間にあることを説明した文章があるとみなして良い。
例えば、第２要素と第１要素と第３要素とが、この順で軸方向に沿って並んでいる場合は、径方向視において、第１要素は第２要素と第３要素との間に位置しているといえる。図面上において、所定方向視において第１要素が第２要素と第３要素との間にあることが図示されている場合は、明細書の説明において所定方向視において第１要素が第２要素と第３要素との間にあることを説明した文章があるとみなして良い。
【0011】
以下、本発明の実施形態を説明する。
図１は、測定用治具１の使用状態を説明する図である。図１では、測定用治具１がシャフト２に外挿された状態を示している。図１では、測定用治具１の外周にクロスハッチングを付してある。
図２は、測定用治具１の斜視図である。
図３は、測定用治具１の平面図である。図３では、軸線Ｘ方向で位置が異なる各平坦面を区別し易くするために、延出壁の先端面にクロスハッチングを付し、段差面にハッチングを付している。また、シャフト２の小径軸部２１を仮想線で示している。
図４は、外周側から見た測定用治具１の展開図である。図４は、図３における符号Ａ１を起点として符号Ａ２～Ａ４を経由して、反時計回り方向の全周に亘って測定用治具１を展開した図を示している。
図１は、測定用治具１の使用状態を説明する図である。図１では、測定用治具１がシャフト２に外挿された状態を示している。図１では、測定用治具１の外周にクロスハッチングを付してある。
図２は、測定用治具１の斜視図である。
図３は、測定用治具１の平面図である。図３では、軸線Ｘ方向で位置が異なる各平坦面を区別し易くするために、延出壁の先端面にクロスハッチングを付し、段差面にハッチングを付している。また、シャフト２の小径軸部２１を仮想線で示している。
図４は、外周側から見た測定用治具１の展開図である。図４は、図３における符号Ａ１を起点として符号Ａ２～Ａ４を経由して、反時計回り方向の全周に亘って測定用治具１を展開した図を示している。
【0012】
図１に示すように、測定対象物であるシャフト２は、大径軸部２０と、当該大径軸部２０より小径の小径軸部２１とを有する。小径軸部２１は、シャフト２の軸線Ｘ方向における先端２ａ側に設けられている。小径軸部２１の外周面２１ａには、スプライン５が形成されている。
本実施形態に係る測定用治具１は筒状を成しており、軸線Ｘ方向からシャフト２の小径軸部２１に外挿して使用される。
本実施形態に係る測定用治具１は筒状を成しており、軸線Ｘ方向からシャフト２の小径軸部２１に外挿して使用される。
【0013】
図２に示すように、測定用治具１は、円筒状の基部１０と、当該基部１０から延出する延出部１１と、を有する。延出部１１は、基部１０の中心線Ｃ方向における一端面１０ａから、中心線Ｃに沿う方向に延びている。
【0014】
延出部１１は、同一の形状を有する４つの延出壁１２（第１延出部）、延出壁１３（第３延出部）、延出壁１４（第２延出部）、及び延出壁１５（第４延出部）から構成されている。これら４つの延出壁１２、１３、１４、１５は、中心線Ｃ周りの周方向に順番に並んでいる。
【0015】
図３に示すように、延出壁１２、１３、１４、１５は、中心線Ｃ周りの周方向に９０°位相をずらして等間隔に配置されている。延出壁１２から１８０°位相をずらした位置には、延出壁１４が設けられている。延出壁１３から１８０°位相をずらした位置には、延出壁１５が設けられている。なお、図３では、測定用治具１の径方向の厚みを誇張している。
【0016】
延出壁１２、１３、１４、１５は、中心線Ｃ周りの周方向に沿う弧状を成している。中心線Ｃ周りの周方向において、延出壁１２、１３、１４、１５のそれぞれの間には、基部１０の一端面１０ａが露出している。
【0017】
延出壁１２、１３、１４、１５の内径は、基部１０の内径Ｄ１と同一である。基部１０の内径Ｄ１は、シャフト２の小径軸部２１（図中仮想線参照）の外径Ｄ２よりも僅かに大径である（Ｄ１＞Ｄ２）。測定用治具１は、シャフト２に対して相対回転可能である。
【0018】
図４に示すように、中心線Ｃ方向における基部１０の一端面１０ａと他端面１０ｂは、中心線Ｃに直交する平坦面である。延出壁１２、１３、１４、１５は、それぞれ基部１０の一端面１０ａから中心線Ｃ方向に延びている。延出壁１２、１３、１４、１５は、周方向で間隔Ｗ３を空けて等間隔に設けられている。以下の説明では、延出壁１２を例に挙げて延出壁の各部の構成を説明する。
【0019】
図４に示すように、中心線Ｃ方向における延出壁１２の先端面１２ａは、中心線Ｃに直交する平坦面である。周方向における延出壁１２の一方の側面１２１と他方の側面１２２は、中心線Ｃに平行な面である。
【0020】
延出壁１２には、中心線Ｃ方向における先端面１２ａ側と基部１０側の一部をそれぞれ切欠いて形成した切欠部１２５、１２６が設けられている。
切欠部１２５は、延出壁１２の先端面１２ａと他方の側面１２２とに跨って設けられている。切欠部１２６は、延出壁１２の一方の側面１２１と基部１０の一端面１０ａとに跨って設けられている。
切欠部１２５は、延出壁１２の先端面１２ａと他方の側面１２２とに跨って設けられている。切欠部１２６は、延出壁１２の一方の側面１２１と基部１０の一端面１０ａとに跨って設けられている。
【0021】
延出壁１２における切欠部１２５が設けられた領域には、中心線Ｃに沿う面１２ｃと、中心線Ｃに直交する段差面１２ｂが形成されている。周方向における先端面１２ａの幅Ｗ１と段差面１２ｂの幅Ｗ２は、延出壁１２、１３の間隔Ｗ３と略等しい幅に設定されている。これらの幅Ｗ１、Ｗ２、Ｗ３は、後記するマイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２の直径２ｒ（図５参照）よりも大きい。
【0022】
中心線Ｃ方向における基部１０の他端面１０ｂと延出壁１２の段差面１２ｂとの距離はＬ２に設定されている。この距離Ｌ２は、基部１０の他端面１０ｂと延出壁１２の先端面１２ａとの距離Ｌ１よりも短く、基部１０の他端面１０ｂと一端面１０ａとの距離Ｌ３よりも長い（Ｌ３＜Ｌ２＜Ｌ１）。
【0023】
従って、延出壁１２では、段差面１２ｂが先端面１２ａよりも中心線Ｃ方向において基部１０側に位置している。延出壁１２では、先端面１２ａと基部１０の一端面１０ａとの離間距離（Ｌ１－Ｌ３）の方が、段差面１２ｂと基部１０の一端面１０ａとの離間距離（Ｌ２－Ｌ３）よりも大きくなっている。
【0024】
このように、測定用治具１では、延出壁１２の先端面１２ａ、段差面１２ｂ、及び基部１０の一端面１０ａが中心線Ｃ方向に位置をずらして設けられていると共に、周方向に位置をずらして設けられている。
【0025】
また、図４に示すように、切欠部１２６は、延出壁１２の一方の側面１２１から幅Ｗ４だけ他方の側面１２２側に窪んでいる。幅Ｗ４は、先端面１２ａの幅Ｗ１よりも小さい幅に形成されている（Ｗ４＜Ｗ１）。
【0026】
図４に示すように、延出壁１３、１４、１５は、延出壁１２と同一の構成を有している。延出壁１３、１４、１５は、それぞれ先端面１２ａと中心線Ｃ方向の位置が揃った先端面１３ａ、１４ａ、１５ａと、段差面１２ｂと中心線Ｃ方向の位置が揃った段差面１３ｂ、１４ｂ、１５ｂを有する。
【0027】
また、延出壁１３、１４、１５には、それぞれ切欠部１２６に相当する切欠部１３６、１４６、１５６が設けられている。これら切欠部１２６、１３６、１４６、１５６は、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２が延出壁１２、１３、１４、１５に干渉することを避けるために設けられている。
【0028】
図３のクロスハッチング領域に示すように、延出壁１２の先端面１２ａから１８０°位相をずらした位置には、延出壁１４の先端面１４ａが位置している。これら先端面１２ａ、１４ａは、一対の平坦面を構成する。
【0029】
また、図３のハッチング領域に示すように、延出壁１２の段差面１２ｂから１８０°位相をずらした位置には、延出壁１４の段差面１４ｂが位置している。これら段差面１２ｂ、１４ｂは、一対の平坦面を構成する。
【0030】
さらに、図３に示すように、周方向における延出壁１２、１３の間に露出する基部１０の一端面１０ａから１８０°位相をずらした位置には、延出壁１４、１５の間に露出する基部１０の一端面１０ａが位置している。これら一端面１０ａ、１０ａは、一対の平坦面を構成する。
【0031】
また、図３に示すように、延出壁１３の先端面１３ａと延出壁１５の先端面１５ａが一対の平坦面を構成する。延出壁１３の段差面１３ｂと延出壁１５の段差面１５ｂが一対の平坦面を構成する。また、周方向における延出壁１３、１４の間、延出壁１５、１２の間にそれぞれ露出する基部１０の一端面１０ａ、１０ａもまた、一対の平坦面を構成する。すなわち、本実施形態に係る測定用治具１は、一対の平坦面を六組備えている。
【0032】
図４に示すように、六組の一対の平坦面には、マイクロメータ３の測定子であるアンビル３１とスピンドル３２がそれぞれ載置されるようになっている（図４の仮想線参照）。以下の説明では、六組の一対の平坦面うちの以下の三組にアンビル３１とスピンドル３２を載置した場合を例示する。
・延出壁１２の先端面１２ａと、延出壁１４の先端面１４ａ
・延出壁１２の段差面１２ｂと、延出壁１４の段差面１４ｂ
・段差面１２ｂに隣接する一端面１０ａと、段差面１４ｂに隣接する一端面１０ａ
・延出壁１２の先端面１２ａと、延出壁１４の先端面１４ａ
・延出壁１２の段差面１２ｂと、延出壁１４の段差面１４ｂ
・段差面１２ｂに隣接する一端面１０ａと、段差面１４ｂに隣接する一端面１０ａ
【0033】
（マイクロメータ３）
図５は、マイクロメータ３を説明する図である。図５は、作業者がマイクロメータ３を把持した状態において、マイクロメータ３を鉛直線方向上側から見た図を示している。図５では、図中下側が作業者から見た手前側を示し、図中上側が作業者から見た奥側を示している。
図５は、マイクロメータ３を説明する図である。図５は、作業者がマイクロメータ３を把持した状態において、マイクロメータ３を鉛直線方向上側から見た図を示している。図５では、図中下側が作業者から見た手前側を示し、図中上側が作業者から見た奥側を示している。
【0034】
図５に示すように、マイクロメータ３は、略Ｕ字形状を成すフレーム部３０を有する。フレーム部３０の一端部３０１には、固定側の測定子であるアンビル３１が設けられている。フレーム部３０の他端部３０２には、可動側の測定子であるスピンドル３２と、当該スピンドル３２を進退移動させる操作部３３とが支持されている。
【0035】
アンビル３１とスピンドル３２は、それぞれフレーム部３０の一端部３０１と他端部３０２から、直線Ｌｘ方向で互いに近づく向きに延びている。直線Ｌｘは、測定時における作業者の左右方向に沿う直線である。
【0036】
アンビル３１は、直線Ｌｘ方向に沿う向きに設けられた基部３１０を有する。
基部３１０は、半径ｒの円柱状を成している。基部３１０は、フレーム部３０の一端部３０１に片持ち支持されている。直線Ｌｘ方向における基部３１０の先端部３１１は、基部３１０から離れるにつれて小径となる先細り形状を成している。先端部３１１の最も小径となる部分には、ボール３１２が設けられている。
基部３１０は、半径ｒの円柱状を成している。基部３１０は、フレーム部３０の一端部３０１に片持ち支持されている。直線Ｌｘ方向における基部３１０の先端部３１１は、基部３１０から離れるにつれて小径となる先細り形状を成している。先端部３１１の最も小径となる部分には、ボール３１２が設けられている。
【0037】
スピンドル３２は、直線Ｌｘ方向に沿う向きに設けられた基部３２０を有する。
基部３２０は、半径ｒの円柱状を成しており、アンビル３１の基部３１０と同心に設けられている。基部３２０は、図示しないねじ機構及びラチェット機構を介して、操作部３３に接続されている。直線Ｌｘ方向における基部３２０の先端部３２１は、基部３２０から離れるにつれて小径となる先細り形状を成している。先端部３２１の最も小径となる部分には、ボール３２２が設けられている。
基部３２０は、半径ｒの円柱状を成しており、アンビル３１の基部３１０と同心に設けられている。基部３２０は、図示しないねじ機構及びラチェット機構を介して、操作部３３に接続されている。直線Ｌｘ方向における基部３２０の先端部３２１は、基部３２０から離れるにつれて小径となる先細り形状を成している。先端部３２１の最も小径となる部分には、ボール３２２が設けられている。
【0038】
操作部３３は、フレーム部３０の他端部３０２を挟んでスピンドル３２と反対側に設けられている。操作部３３は、直線Ｌｘ回りに回転可能に設けられている。操作部３３が直線Ｌｘ回りに回転すると、スピンドル３２は直線Ｌｘ方向に進退移動する。
【0039】
具体的には、ねじを締める方向（図５における矢印ａ）に操作部３３を回転させると、スピンドル３２はアンビル３１に近づく方向（図５における矢印ｃ）に変位する。一方、ねじを緩める方向（図５における矢印ｂ）に操作部３３を回転させると、スピンドル３２はアンビル３１から離れる方向（図５における矢印ｄ）に変位する。
【0040】
ここで、ボール３１２、３２２は同一の直径Ｑを有する。ボール３１２、３２２の直径Ｑは、当該ボール３１２、３２２の外周がスプライン５の谷部５２、５２に基準円Ｉｍ（図８参照）上で当接する直径に設定されている。
本実施形態のマイクロメータ３は、ボール３１２、３２２をスプライン５の谷部５２、５２に係合させた際のスプライン５の径方向寸法を測定する。具体的には、図５に示すように、直線Ｌｘ方向におけるボール３１２、３２２の基部３１０、３２０側の外周同士の距離であるオーバーボール径ＯＢＤを測定する。
本実施形態のマイクロメータ３は、ボール３１２、３２２をスプライン５の谷部５２、５２に係合させた際のスプライン５の径方向寸法を測定する。具体的には、図５に示すように、直線Ｌｘ方向におけるボール３１２、３２２の基部３１０、３２０側の外周同士の距離であるオーバーボール径ＯＢＤを測定する。
【0041】
以下、測定用治具１を用いたスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤの測定方法を説明する。
図６は、シャフト２におけるスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤの測定箇所を説明する図である。図６は、シャフト２を軸線Ｘ方向に沿って切断した断面の模式図である。
図７は、測定用治具１のシャフト２への装着工程を説明する図である。
図８は、測定用治具１の周方向の位置決めを説明する図である。図８は、第１測定箇所Ｐ１を測定する際の測定用治具１の配置を示している。
図９は、図８のＡ－Ａ断面の模式図である。
図１０は、測定用治具１の周方向の位置決めを説明する図である。図１０は、第２測定箇所Ｐ２を測定する際の測定用治具１の配置を示している。
図１１は、図１０のＡ－Ａ断面の模式図である。
図１２は、測定用治具１の周方向の位置決めを説明する図である。図１２は、第３測定箇所Ｐ３を測定する際の測定用治具１の配置を示している。
図１３は、図１２のＡ－Ａ断面の模式図である。
図６は、シャフト２におけるスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤの測定箇所を説明する図である。図６は、シャフト２を軸線Ｘ方向に沿って切断した断面の模式図である。
図７は、測定用治具１のシャフト２への装着工程を説明する図である。
図８は、測定用治具１の周方向の位置決めを説明する図である。図８は、第１測定箇所Ｐ１を測定する際の測定用治具１の配置を示している。
図９は、図８のＡ－Ａ断面の模式図である。
図１０は、測定用治具１の周方向の位置決めを説明する図である。図１０は、第２測定箇所Ｐ２を測定する際の測定用治具１の配置を示している。
図１１は、図１０のＡ－Ａ断面の模式図である。
図１２は、測定用治具１の周方向の位置決めを説明する図である。図１２は、第３測定箇所Ｐ３を測定する際の測定用治具１の配置を示している。
図１３は、図１２のＡ－Ａ断面の模式図である。
【0042】
図８に示すように、本実施形態に係るスプライン５は、偶数歯（山部５１と谷部５２が１２個ずつ）である。そのため、軸線Ｘ周りの周方向において１８０°位相をずらした位置には、一対の山部５１、５１、または一対の谷部５２、５２が位置している。
【0043】
図６に示すように、本実施形態では、マイクロメータ３のボール３１２、３２２を一対の谷部５２、５２にそれぞれ軸線Ｘの径方向から係合させて、スプライン５のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。本実施形態では、スプライン５のオーバーボール径ＯＢＤの測定は、以下の３箇所の測定を行う場合を例示する。
（ｉ）軸線Ｘ方向におけるシャフト２の先端２ａ側の第１測定箇所Ｐ１
（ｉｉ）軸線Ｘ方向におけるスプライン５の略中間の第２測定箇所Ｐ２
（ｉｉｉ）軸線Ｘ方向における大径軸部２０側の第３測定箇所Ｐ３
（ｉ）軸線Ｘ方向におけるシャフト２の先端２ａ側の第１測定箇所Ｐ１
（ｉｉ）軸線Ｘ方向におけるスプライン５の略中間の第２測定箇所Ｐ２
（ｉｉｉ）軸線Ｘ方向における大径軸部２０側の第３測定箇所Ｐ３
【0044】
図６に示すように、第１測定箇所Ｐ１、第２測定箇所Ｐ２及び第３測定箇所Ｐ３は、シャフト２の段差面２２を基準として予め設定されている。段差面２２から第１測定箇所Ｐ１、第２測定箇所Ｐ２及び第３測定箇所Ｐ３までの距離はそれぞれＬＰ１、ＬＰ２、ＬＰ３である（ＬＰ１＞ＬＰ２＞ＬＰ３）。
【0045】
（シャフト２のセット）
図７に示すように、スプライン５の測定は、シャフト２の軸線Ｘを鉛直線方向に沿わせた状態で行われる。シャフト２は、小径軸部２１を大径軸部２０の上側に向けた状態で、図示しない測定台にセットされる。
図７に示すように、スプライン５の測定は、シャフト２の軸線Ｘを鉛直線方向に沿わせた状態で行われる。シャフト２は、小径軸部２１を大径軸部２０の上側に向けた状態で、図示しない測定台にセットされる。
【0046】
【0047】
（装着工程）
次に、図７に示すように、作業者は、測定用治具１を基部１０側からシャフト２の小径軸部２１に外挿し（図中矢印方向）、他端面１０ｂをシャフト２の段差面２２に軸線Ｘ方向から当接させる（装着工程）。これにより、測定用治具１の中心線Ｃ（図２参照）が軸線Ｘと同心に配置される。また、軸線Ｘの径方向から見て、延出部１１は、スプライン５にオーバーラップする。これにより、延出壁１２の先端面１２ａ、段差面１２ｂと基部１０の一端面１０ａが、スプライン５が形成された領域に重なる位置に配置される。
次に、図７に示すように、作業者は、測定用治具１を基部１０側からシャフト２の小径軸部２１に外挿し（図中矢印方向）、他端面１０ｂをシャフト２の段差面２２に軸線Ｘ方向から当接させる（装着工程）。これにより、測定用治具１の中心線Ｃ（図２参照）が軸線Ｘと同心に配置される。また、軸線Ｘの径方向から見て、延出部１１は、スプライン５にオーバーラップする。これにより、延出壁１２の先端面１２ａ、段差面１２ｂと基部１０の一端面１０ａが、スプライン５が形成された領域に重なる位置に配置される。
【0048】
（位置決め工程）
図８に示すように、作業者は、測定用治具１を軸線Ｘ回りに回転させて、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａを、直線Ｌｘと重なる位置に配置する（図中黒矢印）。これにより、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａが、直線Ｌｘ方向で一対の谷部５２、５２とそれぞれオーバーラップする位置に配置される。なお、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａに代えて延出壁１３、１５の先端面１３ａ、１５ａを直線Ｌｘと重なる位置に配置してもよい。
図８に示すように、作業者は、測定用治具１を軸線Ｘ回りに回転させて、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａを、直線Ｌｘと重なる位置に配置する（図中黒矢印）。これにより、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａが、直線Ｌｘ方向で一対の谷部５２、５２とそれぞれオーバーラップする位置に配置される。なお、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａに代えて延出壁１３、１５の先端面１３ａ、１５ａを直線Ｌｘと重なる位置に配置してもよい。
【0049】
（測定工程）
図８に示すように、作業者は、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａ上に配置する。これにより、アンビル３１とスピンドル３２は、直線Ｌｘ方向で一対の谷部５２、５２に対向配置される（図中仮想線参照）。
図８に示すように、作業者は、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａ上に配置する。これにより、アンビル３１とスピンドル３２は、直線Ｌｘ方向で一対の谷部５２、５２に対向配置される（図中仮想線参照）。
【0050】
図９に示すように、測定時には、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２は、軸線Ｘ方向（鉛直線方向上側）から延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａに当接する。
【0051】
ここで、測定用治具１では、軸線Ｘ方向における基部１０の他端面１０ｂから一対の平坦面までの距離が、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２の半径ｒを考慮したものとなっている。
具体的には、図９に示すように、軸線Ｘ方向における基部１０の他端面１０ｂから延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａ（一対の平坦面）までの距離Ｌ１は、アンビル３１とスピンドル３２の半径ｒ分だけ距離ＬＰ１よりも短い長さに設定されている（ＬＰ１＝Ｌ１＋ｒ）。これにより、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａにアンビル３１とスピンドル３２が当接した際に、ボール３１２、３２２の中心が第１測定箇所Ｐ１に位置するようになっている。
具体的には、図９に示すように、軸線Ｘ方向における基部１０の他端面１０ｂから延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａ（一対の平坦面）までの距離Ｌ１は、アンビル３１とスピンドル３２の半径ｒ分だけ距離ＬＰ１よりも短い長さに設定されている（ＬＰ１＝Ｌ１＋ｒ）。これにより、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａにアンビル３１とスピンドル３２が当接した際に、ボール３１２、３２２の中心が第１測定箇所Ｐ１に位置するようになっている。
【0052】
次に、作業者は、アンビル３１のボール３１２を一方の谷部５２に係合させつつ、ねじを締める方向に操作部３３を回転させて（図５における矢印ａ）、スピンドル３２のボール３２２を他方の谷部５２に係合させる（図９における矢印ｃ方向）。
そして、作業者は、操作部３３の回転が空転に切り替わった際のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。これにより、第１測定箇所Ｐ１でのスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤが測定される。
そして、作業者は、操作部３３の回転が空転に切り替わった際のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。これにより、第１測定箇所Ｐ１でのスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤが測定される。
【0053】
（位置決め工程）
次に、作業者は、ねじを緩める方向に操作部３３を回転させて（図５における矢印ｂ）、スピンドル３２のボール３２２を他方の谷部５２から僅かに離間させる（図９における矢印ｄ方向）。これにより、ボール３１２、３２２は、谷部５２、５２内でそれぞれ遊嵌した状態となっている。
次に、作業者は、ねじを緩める方向に操作部３３を回転させて（図５における矢印ｂ）、スピンドル３２のボール３２２を他方の谷部５２から僅かに離間させる（図９における矢印ｄ方向）。これにより、ボール３１２、３２２は、谷部５２、５２内でそれぞれ遊嵌した状態となっている。
【0054】
図１０に示すように、作業者は、測定用治具１を時計回り方向に回転させて、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａを直線Ｌｘに対して角度θ１だけ傾斜した位置に配置する。具体的には、延出壁１２、１４の段差面１２ｂ、１４ｂが、直線Ｌｘと重なる位置まで、測定用治具１を回転させる（図中黒矢印）。これにより、延出壁１２、１４の段差面１２ｂ、１４ｂが、直線Ｌｘ方向において一対の谷部５２、５２とそれぞれオーバーラップする位置に配置される。
【0055】
（測定工程）
図１１に示すように、作業者は、マイクロメータ３を鉛直線方向下側に移動させて、アンビル３１とスピンドル３２を、延出壁１２、１４の段差面１２ｂ、１４ｂに当接させる（図中白抜き矢印）。
図１１に示すように、作業者は、マイクロメータ３を鉛直線方向下側に移動させて、アンビル３１とスピンドル３２を、延出壁１２、１４の段差面１２ｂ、１４ｂに当接させる（図中白抜き矢印）。
【0056】
軸線Ｘ方向における基部１０の他端面１０ｂから延出壁１２、１４の段差面１２ｂ、１４ｂまでの距離Ｌ２は、アンビル３１とスピンドル３２の半径ｒ分だけ距離ＬＰ２よりも短い長さに設定されている（ＬＰ２＝Ｌ２＋ｒ）。これにより、延出壁１２、１４の段差面１２ｂ、１４ｂにアンビル３１とスピンドル３２が当接した際に、ボール３１２、３２２の中心が第２測定箇所Ｐ２に位置するようになっている。
【0057】
次に、作業者は、アンビル３１のボール３１２を一方の谷部５２に係合させつつ、ねじを締める方向に操作部３３を回転させて（図５における矢印ａ）、スピンドル３２のボール３２２を他方の谷部５２に係合させる（図９における矢印ｃ方向）。
そして、作業者は、操作部３３の回転が空転に切り替わった際のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。これにより、第２測定箇所Ｐ２でのスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤが測定される。
そして、作業者は、操作部３３の回転が空転に切り替わった際のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。これにより、第２測定箇所Ｐ２でのスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤが測定される。
【0058】
（位置決め工程）
次に、作業者は、ねじを緩める方向に操作部３３を回転させて（図５における矢印ｂ）、スピンドル３２のボール３２２を他方の谷部５２から僅かに離間させる（図１１における矢印ｄ方向）。これにより、ボール３１２、３２２は、谷部５２、５２内でそれぞれ遊嵌した状態となっている。
次に、作業者は、ねじを緩める方向に操作部３３を回転させて（図５における矢印ｂ）、スピンドル３２のボール３２２を他方の谷部５２から僅かに離間させる（図１１における矢印ｄ方向）。これにより、ボール３１２、３２２は、谷部５２、５２内でそれぞれ遊嵌した状態となっている。
【0059】
図１２に示すように、作業者は、測定用治具１を時計回り方向に回転させて、延出壁１２、１４の先端面１２ａ、１４ａを直線Ｌｘに対して角度θ２だけ傾斜した位置に配置する。具体的には、基部１０の一端面１０ａ、１０ａが、直線Ｌｘと重なる位置まで、測定用治具１を回転させる（図中黒矢印）。これにより、基部１０の一端面１０ａ、１０ａが、直線Ｌｘ方向において一対の谷部５２、５２とそれぞれオーバーラップする位置に配置される。
【0060】
（測定工程）
図１３に示すように、作業者は、マイクロメータ３を鉛直線方向下側に移動させて、のアンビル３１とスピンドル３２を、基部１０の一端面１０ａ、１０ａに当接させる。
図１３に示すように、作業者は、マイクロメータ３を鉛直線方向下側に移動させて、のアンビル３１とスピンドル３２を、基部１０の一端面１０ａ、１０ａに当接させる。
【0061】
軸線Ｘ方向における基部１０の他端面１０ｂから基部１０の一端面１０ａまでの距離Ｌ３は、アンビル３１とスピンドル３２の半径ｒ分だけ距離ＬＰ３よりも短い長さに設定されている（ＬＰ３＝Ｌ３＋ｒ）。これにより、基部１０の一端面１０ａ、１０ａにアンビル３１とスピンドル３２が当接した際に、ボール３１２、３２２の中心が第３測定箇所Ｐ３に位置するようになっている。
【0062】
次に、作業者は、アンビル３１のボール３１２を一方の谷部５２に係合させつつ、ねじを締める方向に操作部３３を回転させて（図５における矢印ａ）、スピンドル３２のボール３２２を他方の谷部５２に係合させる（図１３における矢印ｃ方向）。
そして、作業者は、操作部３３の回転が空転に切り替わった際のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。これにより、第３測定箇所Ｐ３でのスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤが測定される。
そして、作業者は、操作部３３の回転が空転に切り替わった際のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。これにより、第３測定箇所Ｐ３でのスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤが測定される。
【0063】
ここで、スプライン５のオーバーボール径ＯＢＤの測定は、測定した一対の谷部５２、５２に加えて、当該一対の谷部５２、５２から９０°位相がずれた位置にある一対の谷部５２’、５２’（図１２参照）についても行われることがある。一対の谷部５２’、５２’は、軸線Ｘ方向から見て、前後方向に沿う直線Ｌｙ方向の一方側と他方側に配置されている。
【0064】
一対の谷部５２’、５２’を測定する場合、作業者は、測定用治具１ごと軸線Ｘ回りにシャフト２を９０°回転させて、一対の谷部５２’、５２’を直線Ｌｘ上に配置する。
詳細な説明は省略するが、前記した一対の谷部５２、５２の測定と同様にして、直線Ｌｘ上に配置された一対の谷部５２’、５２’についても、位置決め工程と測定工程を交互に繰り返すことで、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３での測定が行われる。
詳細な説明は省略するが、前記した一対の谷部５２、５２の測定と同様にして、直線Ｌｘ上に配置された一対の谷部５２’、５２’についても、位置決め工程と測定工程を交互に繰り返すことで、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３での測定が行われる。
【0065】
このように本実施形態では、作業者は、測定用治具１を軸線Ｘ回りに回転させて、一対の平坦面（先端面１２ａ、１４ａと、段差面１２ｂ、１４ｂと、一端面１０ａ、１０ａ）を周方向に順番に変位させるだけで、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２が載置される一対の平坦面を切り替えることができる。そして、作業者は、マイクロメータ３を鉛直線方向下側に順番に移動させるだけでよい。これにより、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３での測定を容易に行うことができるようになっている。
【0066】
【0067】
図１４に示すように、測定用治具１００Ａ、１００Ｂ、１００Ｃは、それぞれ中心線Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３を囲む筒状を成している。
中心線Ｃ１方向における測定用治具１００Ａの一端面１０１と他端面１０２は、中心線Ｃ１に直交する平坦面である。中心線Ｃ１方向における一端面１０１と他端面１０２との距離Ｌ１００は、本実施形態に係る基部１０の他端面１０ｂから延出壁１２の先端面１２ａまでの距離Ｌ１（図４参照）と等しい（Ｌ１００＝Ｌ１）。
中心線Ｃ１方向における測定用治具１００Ａの一端面１０１と他端面１０２は、中心線Ｃ１に直交する平坦面である。中心線Ｃ１方向における一端面１０１と他端面１０２との距離Ｌ１００は、本実施形態に係る基部１０の他端面１０ｂから延出壁１２の先端面１２ａまでの距離Ｌ１（図４参照）と等しい（Ｌ１００＝Ｌ１）。
【0068】
中心線Ｃ２方向における測定用治具１００Ｂの一端面１０３と他端面１０４は、中心線Ｃ２に直交する平坦面である。中心線Ｃ２方向における一端面１０３と他端面１０４との距離Ｌ２００は、本実施形態に係る基部１０の他端面１０ｂから延出壁１２の段差面１２ｂまでの距離Ｌ２（図４参照）と等しい（Ｌ２００＝Ｌ２）。
【0069】
中心線Ｃ３方向における測定用治具１００Ｃの一端面１０５と他端面１０６は、中心線Ｃ３に直交する平坦面である。中心線Ｃ３方向における一端面１０５と他端面１０６との距離Ｌ３００は、本実施形態に係る基部１０の他端面１０ｂから一端面１０ａまでの距離Ｌ３（図４参照）と等しい（Ｌ３００＝Ｌ３）。
【0070】
これら測定用治具１００Ａ～１００Ｃを用いたスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤの測定は、以下の手順で行われる。
（ａ）測定用治具１００Ａをシャフト２の小径軸部２１に外挿し、他端面１０２をシャフト２の段差面２２に当接させる（図１４の仮想線参照）。
（ｂ）マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を測定用治具１００Ａの一端面１０１に当接させる。
（ｃ）マイクロメータ３を操作して、スプライン５のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。
（ｄ）マイクロメータ３を持ち上げてスプライン５から離間させる。
（ｅ）測定用治具１００Ａを小径軸部２１から取り外す。
（ｆ）以下、測定用治具１００Ｂ、１００Ｃのそれぞれにおいて、上記（ａ）～（ｅ）を繰り返す。
（ａ）測定用治具１００Ａをシャフト２の小径軸部２１に外挿し、他端面１０２をシャフト２の段差面２２に当接させる（図１４の仮想線参照）。
（ｂ）マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を測定用治具１００Ａの一端面１０１に当接させる。
（ｃ）マイクロメータ３を操作して、スプライン５のオーバーボール径ＯＢＤを測定する。
（ｄ）マイクロメータ３を持ち上げてスプライン５から離間させる。
（ｅ）測定用治具１００Ａを小径軸部２１から取り外す。
（ｆ）以下、測定用治具１００Ｂ、１００Ｃのそれぞれにおいて、上記（ａ）～（ｅ）を繰り返す。
【0071】
比較例では、作業者は、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３を測定する際に、測定用治具１００Ａ～１００Ｃを交換する必要がある。また、測定用治具１００Ａ～１００Ｃを交換するために、マイクロメータ３を持ち上げてスプライン５から離間させる必要がある。この場合、マイクロメータ３のボール３１２、３２２がスプライン５の谷部５２、５２から一旦離れることになる。
【0072】
ここで、測定精度の観点から、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３の測定は、共通の谷部５２、５２で行うことが好ましい。そのため、作業者は、測定用治具１００Ａ～１００Ｃの交換の前後で、測定対象の谷部５２の位置を把握しておく必要があり、負担が大きい。スプライン５の歯数が多くなるほど、測定対象の谷部５２の位置を把握しておくことは難しくなる。
【0073】
これに対して、本実施形態に係る測定用治具１は、１つの部材で第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３に対応する一対の平坦面（一対の先端面１２ａ、１４ａ、一対の段差面１２ｂ、１４ｂ及び一対の一端面１０ａ、１０ａ）を有している。これにより、複数の測定用治具を準備、交換する手間とコストを低減している。
【0074】
また、測定用治具１を軸線Ｘ回りに回転させるだけで、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２が載置される一対の平坦面が切り替わる。これにより、作業者は、マイクロメータ３のボール３１２、３２２を谷部５２、５２内に遊嵌させたまま、マイクロメータ３を第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３へと鉛直線方向下側に順番に移動させることができる。従って、作業者は、測定対象の谷部５２の位置を把握しておく必要はない。マイクロメータ３を持ち上げる動作も不要になる。従って、作業者の作業負担を減らすことができる。
【0075】
本実施形態では、測定用治具１が４つの延出壁１２～１５を備えているものを例示したが、この態様に限定されない。測定用治具１は２つの延出壁１２、１４のみ、または延出壁１３、１５のみを備えているものであってもよい。または、測定用治具１は６つ以上の偶数個の延出壁を備えていてもよい。
【0076】
本実施形態のように４つの延出壁１２～１５を備えている場合、延出壁１２、１４、または延出壁１３、１５のうち、谷部５２、５２の近くに位置しているものを用いることができる。そのため、２つの延出壁１２、１４のみを備えるものと比較して、位置決め工程において測定用治具１の操作量を少なくできる。これにより、速やかに測定工程に移行できる。
【0077】
以下に、本発明のある態様における測定用治具１の例を列挙する。
（１）測定用治具１は、シャフト２の外周に形成されたスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤ（径方向寸法）を測定する際に用いられる。
測定用治具１は、シャフト２に、当該シャフト２の軸線Ｘ方向から外挿される筒状を成している。
測定用治具１は、軸線Ｘ方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａを有する。
測定用治具１は、軸線Ｘ方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面である段差面１２ｂ、１４ｂを有する。
測定用治具１は、軸線Ｘ方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面である一端面１０ａ、１０ａを有する。
先端面１２ａ、１４ａは、軸線Ｘの径方向から見て軸線Ｘに直交すると共に、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
段差面１２ｂ、１４ｂは、軸線Ｘの径方向から見て軸線Ｘに直交すると共に、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
一端面１０ａ、１０ａは、軸線Ｘの径方向から見て軸線Ｘに直交すると共に、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
複数組の一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａと、段差面１２ｂ、１４ｂと、一端面１０ａ、１０ａとは、軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらすと共に、軸線Ｘ方向に位置をずらして設けられている。
（１）測定用治具１は、シャフト２の外周に形成されたスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤ（径方向寸法）を測定する際に用いられる。
測定用治具１は、シャフト２に、当該シャフト２の軸線Ｘ方向から外挿される筒状を成している。
測定用治具１は、軸線Ｘ方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａを有する。
測定用治具１は、軸線Ｘ方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面である段差面１２ｂ、１４ｂを有する。
測定用治具１は、軸線Ｘ方向から見て、１８０°位相をずらして設けられた一対の平坦面である一端面１０ａ、１０ａを有する。
先端面１２ａ、１４ａは、軸線Ｘの径方向から見て軸線Ｘに直交すると共に、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
段差面１２ｂ、１４ｂは、軸線Ｘの径方向から見て軸線Ｘに直交すると共に、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
一端面１０ａ、１０ａは、軸線Ｘの径方向から見て軸線Ｘに直交すると共に、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
複数組の一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａと、段差面１２ｂ、１４ｂと、一端面１０ａ、１０ａとは、軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらすと共に、軸線Ｘ方向に位置をずらして設けられている。
【0078】
このように構成すると、軸線Ｘ方向の異なる位置に設定されたスプライン５の測定箇所に対して、測定用治具１を軸線Ｘ回りに回転させて、一対の平坦面を周方向に変位させるだけで、各測定箇所での測定を行える。よって、スプライン５の測定作業を簡便にすることができる。
具体的には、測定用治具１では、一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａと、段差面１２ｂ、１４ｂと、一端面１０ａ、１０ａが、それぞれ第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３に対応している。よって、これら一対の平坦面上にマイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を載置するだけで、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３に適切に配置できる。
また、測定用治具１を回転させるだけで、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２が載置される一対の平坦面が切り替わる。この際、マイクロメータ３は軸線Ｘ方向に移動させるだけでよい。そのため、図１４で示す比較例のように、複数の測定用治具１００Ａ～１００Ｃを交換する際に、その都度マイクロメータ３をスプライン５から遠ざける必要はない。よって、測定用治具１を用いることで、作業者は、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３での測定を容易に行うことができる。
具体的には、測定用治具１では、一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａと、段差面１２ｂ、１４ｂと、一端面１０ａ、１０ａが、それぞれ第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３に対応している。よって、これら一対の平坦面上にマイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を載置するだけで、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３に適切に配置できる。
また、測定用治具１を回転させるだけで、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２が載置される一対の平坦面が切り替わる。この際、マイクロメータ３は軸線Ｘ方向に移動させるだけでよい。そのため、図１４で示す比較例のように、複数の測定用治具１００Ａ～１００Ｃを交換する際に、その都度マイクロメータ３をスプライン５から遠ざける必要はない。よって、測定用治具１を用いることで、作業者は、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３での測定を容易に行うことができる。
【0079】
（２）測定用治具１は、
シャフト２に外挿されて位置決めされる基部１０と、
基部１０から軸線Ｘ方向に延びると共に、軸線Ｘの径方向から見てスプライン５にオーバーラップする延出部１１と、を有する。
延出部１１は、複数組の一対の平坦面のうちの一方の平坦面である先端面１２ａ、段差面１２ｂが形成される延出壁１２（第１延出部）と、他方の平坦面である先端面１４ａ、段差面１４ｂが形成される延出壁１４（第２延出部）と、を有する。
延出壁１２と、延出壁１４は、１８０°位相をずらして設けられている。
複数組の一対の平坦面のうちの１組である一端面１０ａ、１０ａは、基部１０に形成されている。
シャフト２に外挿されて位置決めされる基部１０と、
基部１０から軸線Ｘ方向に延びると共に、軸線Ｘの径方向から見てスプライン５にオーバーラップする延出部１１と、を有する。
延出部１１は、複数組の一対の平坦面のうちの一方の平坦面である先端面１２ａ、段差面１２ｂが形成される延出壁１２（第１延出部）と、他方の平坦面である先端面１４ａ、段差面１４ｂが形成される延出壁１４（第２延出部）と、を有する。
延出壁１２と、延出壁１４は、１８０°位相をずらして設けられている。
複数組の一対の平坦面のうちの１組である一端面１０ａ、１０ａは、基部１０に形成されている。
【0080】
このように構成すると、基部１０をシャフト２に外挿して位置決めするだけで、先端面１２ａ、１４ａと、段差面１２ｂ、１４ｂと、一端面１０ａ、１０ａを、それぞれスプライン５の第１測定箇所Ｐ１、第２測定箇所Ｐ２、第３測定箇所Ｐ３に対応した軸方向位置に配置できる。
【0081】
（３）延出壁１２では、先端面１２ａと段差面１２ｂが軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらして設けられている。
延出壁１４では、先端面１４ａと段差面１４ｂが軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらして設けられている。
軸線Ｘ回りの周方向における他方側に位置する段差面１２ｂ、１４ｂから、一方側に離れた先端面１２ａ、１４ａに向かうにつれて、基部１０の一端面１０ａからの離間距離が大きい。
延出壁１４では、先端面１４ａと段差面１４ｂが軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらして設けられている。
軸線Ｘ回りの周方向における他方側に位置する段差面１２ｂ、１４ｂから、一方側に離れた先端面１２ａ、１４ａに向かうにつれて、基部１０の一端面１０ａからの離間距離が大きい。
【0082】
このように構成すると、作業者は、先端面１２ａ、１４ａと、段差面１２ｂ、１４ｂと、一端面１０ａ、１０ａに、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を順番に載置する際に、マイクロメータ３を鉛直線方向上側から下側に一方向に移動させるだけでよい。作業者がマイクロメータ３を持ち上げる動作が不要になるため、測定時の作業負担を減らすことができる。
【0083】
（４）延出部１１は、複数組の一対の平坦面のうちの一方の平坦面である先端面１３ａ、段差面１３ｂが形成される延出壁１３（第３延出部）と、他方の平坦面である先端面１５ａ、段差面１５ｂが形成される延出壁１５（第４延出部）と、さらに有している。
軸線Ｘ方向から見て、延出壁１３と延出壁１５は、１８０°位相をずらして設けられていると共に、延出壁１２と延出壁１４から９０°位相をずらして設けられている。
先端面１３ａ、１５ａは、先端面１２ａ、１４ａと、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
段差面１３ｂ、１５ｂは、段差面１２ｂ、１４ｂと、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
軸線Ｘ方向から見て、延出壁１３と延出壁１５は、１８０°位相をずらして設けられていると共に、延出壁１２と延出壁１４から９０°位相をずらして設けられている。
先端面１３ａ、１５ａは、先端面１２ａ、１４ａと、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
段差面１３ｂ、１５ｂは、段差面１２ｂ、１４ｂと、軸線Ｘ方向の位置を揃えて設けられている。
【0084】
このように構成すると、４つの延出壁１２、１３、１４、１５のうち、直線Ｌｘ上にある谷部５２、５２の近くに位置している２つの延出壁（延出壁１２、１４または延出壁１３、１５）を利用することができる。そのため、２つの延出壁１２、１４のみを備えるものと比較して、軸線Ｘ回りに回転させる際の測定用治具１の操作量を少なくできる。これにより、速やかに測定工程に移行できる。
【0085】
（５）延出壁１３では、先端面１３ａと段差面１３ｂが軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらして設けられている。
延出壁１５では、先端面１５ａと段差面１５ｂが軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらして設けられている。
軸線Ｘ周りの周方向における他方側に位置する段差面１３ｂ、１５ｂから、一方側に離れた先端面１３ａ、１５ａに向かうにつれて、基部１０の一端面１０ａからの離間距離が大きい。
延出壁１５では、先端面１５ａと段差面１５ｂが軸線Ｘ周りの周方向に位置をずらして設けられている。
軸線Ｘ周りの周方向における他方側に位置する段差面１３ｂ、１５ｂから、一方側に離れた先端面１３ａ、１５ａに向かうにつれて、基部１０の一端面１０ａからの離間距離が大きい。
【0086】
このように構成すると、作業者は、先端面１３ａ、１５ａと、段差面１３ｂ、１５ｂと、一端面１０ａ、１０ａに、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を順番に載置する際に、マイクロメータ３を鉛直線方向上側から下側に一方向に移動させるだけでよい。作業者がマイクロメータ３を持ち上げる動作が不要になるため、測定時の作業負担を減らすことができる。
【0087】
また、本発明は、測定用治具１を用いたスプラインの径方向寸法の測定方法としても特定できる。
具体的には、
（６）測定用治具１を用いたスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤ（径方向寸法）の測定方法であって、
測定用治具１をシャフト２に外挿する装着工程と、
測定用治具１を軸線Ｘ回りに回転して、一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａ、段差面１２ｂ、１４ｂ、または一端面１０ａ、１０ａを、測定対象のスプライン５の谷部５２、５２の外径側に配置する位置決め工程と、
スプライン５の谷部５２、５２の外径側に位置決めされた先端面１２ａ、１４ａ、段差面１２ｂ、１４ｂ、または一端面１０ａ、１０ａに、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２（一対の測定子）を載置して、スプライン５のオーバーボール径ＯＢＤを測定する測定工程と、を有する。
具体的には、
（６）測定用治具１を用いたスプライン５のオーバーボール径ＯＢＤ（径方向寸法）の測定方法であって、
測定用治具１をシャフト２に外挿する装着工程と、
測定用治具１を軸線Ｘ回りに回転して、一対の平坦面である先端面１２ａ、１４ａ、段差面１２ｂ、１４ｂ、または一端面１０ａ、１０ａを、測定対象のスプライン５の谷部５２、５２の外径側に配置する位置決め工程と、
スプライン５の谷部５２、５２の外径側に位置決めされた先端面１２ａ、１４ａ、段差面１２ｂ、１４ｂ、または一端面１０ａ、１０ａに、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２（一対の測定子）を載置して、スプライン５のオーバーボール径ＯＢＤを測定する測定工程と、を有する。
【0088】
このように構成すると、一対の平坦面を周方向に変位させるだけで、マイクロメータ３のアンビル３１とスピンドル３２を載置する一対の平坦面が切り替わる。そのため、複数の測定用治具を準備して都度交換することなく、第１測定箇所Ｐ１～第３測定箇所Ｐ３での測定を容易に行える。
【0089】
本実施形態では、延出壁１２は、軸線Ｘ方向における先端面１２ａと一端面１０ａの間に一つの段差面１２ｂを有している場合を例示した（図４参照）。しかしながら、この態様に限定されない。延出壁１２は、軸線Ｘ方向における先端面１２ａと一端面１０ａの間に複数の段差面を有していてもよい。軸線Ｘ方向における測定箇所の数に応じて、適宜変更可能である。複数の段差面は、周方向の一方の側面１２１から他方の側面１２２に向かうにつれて、軸線Ｘ方向で先端面１２ａから一端面１０ａに近づく階段状に形成してもよい。延出壁１３～１５も同様である。
【0090】
また、本実施形態では、スプライン５が偶数歯（１２歯）であるものを例示した（図８参照）。しかしながら、スプライン５は奇数歯であってもよい。図示は省略するが、奇数歯の場合、軸線Ｘ周りの周方向において１８０°位相をずらした位置には、山部５１と谷部５２が位置する。そのため、直線Ｌｘ方向における一方側に谷部５２を配置すると、他方側には山部５１が配置される。
この場合、測定用治具１を回転させて、一対の平坦面を直線Ｌｘ方向で谷部５２と山部５１にオーバーラップする位置に配置すればよい。次に、マイクロメータ３のアンビル３１を谷部５２に係合させると共に、スピンドル３２を山部５１の頂点に当接させてオーバーボール径ＯＢＤを測定すればよい。
このように、本実施形態に係る測定用治具１は、スプライン５の歯数に関係なく、オーバーボール径ＯＢＤの測定に用いることができる。
この場合、測定用治具１を回転させて、一対の平坦面を直線Ｌｘ方向で谷部５２と山部５１にオーバーラップする位置に配置すればよい。次に、マイクロメータ３のアンビル３１を谷部５２に係合させると共に、スピンドル３２を山部５１の頂点に当接させてオーバーボール径ＯＢＤを測定すればよい。
このように、本実施形態に係る測定用治具１は、スプライン５の歯数に関係なく、オーバーボール径ＯＢＤの測定に用いることができる。
【0091】
以上、本発明の実施形態について説明したが、上記実施形態は本発明の適用例の一つを示したものに過ぎず、本発明の技術的範囲を上記実施形態の具体的構成に限定する趣旨ではない。発明の技術的な思想の範囲内で、適宜変更可能である。
【符号の説明】
【0092】
１ ：測定用治具
２ ：シャフト
３ ：マイクロメータ
５ ：スプライン
１０ ：基部
１１ ：延出部
１２ ：延出壁（第１延出部）
１３ ：延出壁（第３延出部）
１４ ：延出壁（第２延出部）
１５ ：延出壁（第４延出部）
３１ ：アンビル（測定子）
３２ ：スピンドル（測定子）
５２ ：谷部
１０ａ ：一端面（一対の平坦面）
１２ａ、１４ａ ：先端面（一対の平坦面）
１３ａ、１５ａ ：先端面（一対の平坦面）
１２ｂ、１４ｂ ：段差面（一対の平坦面）
１３ｂ、１５ｂ ：段差面（一対の平坦面）
Ｌｘ ：直線
ＯＢＤ ：オーバーボール径
Ｐ１ ：第１測定箇所
Ｐ２ ：第２測定箇所
Ｐ３ ：第３測定箇所
Ｘ ：軸線
２ ：シャフト
３ ：マイクロメータ
５ ：スプライン
１０ ：基部
１１ ：延出部
１２ ：延出壁（第１延出部）
１３ ：延出壁（第３延出部）
１４ ：延出壁（第２延出部）
１５ ：延出壁（第４延出部）
３１ ：アンビル（測定子）
３２ ：スピンドル（測定子）
５２ ：谷部
１０ａ ：一端面（一対の平坦面）
１２ａ、１４ａ ：先端面（一対の平坦面）
１３ａ、１５ａ ：先端面（一対の平坦面）
１２ｂ、１４ｂ ：段差面（一対の平坦面）
１３ｂ、１５ｂ ：段差面（一対の平坦面）
Ｌｘ ：直線
ＯＢＤ ：オーバーボール径
Ｐ１ ：第１測定箇所
Ｐ２ ：第２測定箇所
Ｐ３ ：第３測定箇所
Ｘ ：軸線
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】