知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024076424
(43)【公開日】2024-06-06
(54)【発明の名称】検査治具
(51)【国際特許分類】
G01R 1/067 20060101AFI20240530BHJP
G01R 1/073 20060101ALI20240530BHJP
【ＦＩ】
G01R1/067 C
G01R1/073 D
【審査請求】未請求
【請求項の数】5
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022187907
(22)【出願日】2022-11-25
(71)【出願人】
【識別番号】000006758
【氏名又は名称】株式会社ヨコオ
(74)【代理人】
【識別番号】100127306
【弁理士】
【氏名又は名称】野中 剛
(72)【発明者】
【氏名】三浦 力
(72)【発明者】
【氏名】鈴木 久史
【テーマコード（参考）】
2G011
【Ｆターム（参考）】
2G011AA10
2G011AA15
2G011AB01
2G011AB08
2G011AC14
2G011AE11
2G011AF03
2G011AF06
(57)【要約】
【課題】 破損しにくい検査治具を提供する。
【解決手段】 検査治具１は、検査対象コネクタ１００と電気的に接続可能な基板と、移動可能な可動部材と、伸縮可能な伸縮部材と、前記伸縮部材を保持する伸縮部材保持部と、前記可動部材と前記伸縮部材保持部とを互いに離すように付勢する弾性部材と、を備え、前記弾性部材が所定量以上に縮むように、前記可動部材を前記伸縮部材保持部に近づけた時に、前記可動部材が前記伸縮部材を押し、前記伸縮部材が前記基板を押し、前記基板が前記検査対象コネクタ１００と電気的に接続された状態になる。
【選択図】 図１３
【解決手段】 検査治具１は、検査対象コネクタ１００と電気的に接続可能な基板と、移動可能な可動部材と、伸縮可能な伸縮部材と、前記伸縮部材を保持する伸縮部材保持部と、前記可動部材と前記伸縮部材保持部とを互いに離すように付勢する弾性部材と、を備え、前記弾性部材が所定量以上に縮むように、前記可動部材を前記伸縮部材保持部に近づけた時に、前記可動部材が前記伸縮部材を押し、前記伸縮部材が前記基板を押し、前記基板が前記検査対象コネクタ１００と電気的に接続された状態になる。
【選択図】 図１３
【特許請求の範囲】
【請求項1】
検査対象コネクタと電気的に接続可能な基板と、
移動可能な可動部材と、
伸縮可能な伸縮部材と、
前記伸縮部材を保持する伸縮部材保持部と、
前記可動部材と前記伸縮部材保持部とを互いに離すように付勢する弾性部材と、を備え、
前記弾性部材が所定量以上に縮むように、前記可動部材を前記伸縮部材保持部に近づけた時に、前記可動部材が前記伸縮部材を押し、前記伸縮部材が前記基板を押し、前記基板が前記検査対象コネクタと電気的に接続された状態になる、検査治具。
移動可能な可動部材と、
伸縮可能な伸縮部材と、
前記伸縮部材を保持する伸縮部材保持部と、
前記可動部材と前記伸縮部材保持部とを互いに離すように付勢する弾性部材と、を備え、
前記弾性部材が所定量以上に縮むように、前記可動部材を前記伸縮部材保持部に近づけた時に、前記可動部材が前記伸縮部材を押し、前記伸縮部材が前記基板を押し、前記基板が前記検査対象コネクタと電気的に接続された状態になる、検査治具。
【請求項2】
支持部と、
前記支持部を介して、第１方向と垂直な方向に移動可能な状態で、前記可動部材を保持するブラケットと、を更に備え、
前記可動部材は、前記支持部よりも前記ブラケットに近い位置に配置される、請求項１に記載の検査治具。
前記支持部を介して、第１方向と垂直な方向に移動可能な状態で、前記可動部材を保持するブラケットと、を更に備え、
前記可動部材は、前記支持部よりも前記ブラケットに近い位置に配置される、請求項１に記載の検査治具。
【請求項3】
前側基板が、検査装置と電気的に接続するために使用されるコネクタを更に備え、
前記ブラケットは、前記コネクタを収容する切り欠きを有する、請求項２に記載の検査治具。
前記ブラケットは、前記コネクタを収容する切り欠きを有する、請求項２に記載の検査治具。
【請求項4】
前記可動部材は、前記ブラケットとの前記第１方向の距離が変動しない状態で、前記支持部を介して、前記ブラケットに取り付けられる、請求項２または請求項３に記載の検査治具。
【請求項5】
前記検査対象コネクタの筐体と接触する部材を更に備え、
前記伸縮部材保持部は、前記部材における前記筐体と接する領域との前記第１方向の距離が変動しない状態で、前記部材に取り付けられる、請求項４に記載の検査治具。
前記伸縮部材保持部は、前記部材における前記筐体と接する領域との前記第１方向の距離が変動しない状態で、前記部材に取り付けられる、請求項４に記載の検査治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、検査治具に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、特許文献１のように、プローブを用いた検査治具などが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特許６３８０５４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、プローブが直接検査対象物に接触する構成であり、検査治具が破損しやすかった。
【0005】
したがって本発明の目的の一例は、破損しにくい検査治具を提供することである。本発明の他の目的は、本明細書の記載から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の一態様は、検査対象コネクタと電気的に接続可能な基板と、移動可能な可動部材と、伸縮可能な伸縮部材と、前記伸縮部材を保持する伸縮部材保持部と、前記可動部材と前記伸縮部材保持部とを互いに離すように付勢する弾性部材と、を備え、前記弾性部材が所定量以上に縮むように、前記可動部材を前記伸縮部材保持部に近づけた時に、前記可動部材が前記伸縮部材を押し、前記伸縮部材が前記基板を押し、前記基板が前記検査対象コネクタと電気的に接続された状態になる、検査治具である。
【0007】
本発明の上記態様によれば、破損しにくい検査治具を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】本実施形態の検査治具を下方から見た分解斜視図である。
【図2】検査治具を上方から見た分解斜視図である。
【図3】検査治具と検査対象コネクタとを上方から見た斜視図である。
【図4】検査治具と検査対象コネクタとを下方から見た斜視図である。
【図5】前側基板組立体の分解斜視図である。
【図6】前側フレキシブル基板と前側コネクタの組立体、前側プローブ保持部、前側コネクタベース、前側プローブ群の斜視図である。
【図7】前側フレキシブル基板の舌片がある領域を前側で且つ下側から見た斜視図である。
【図8】後側基板組立体の分解斜視図である。
【図9】第１状態の検査治具と検査対象コネクタのｙｚ断面構成図である。
【図10】第１状態の前側フレキシブル基板の舌片がある領域を拡大したｘｚ断面構成図である。
【図11】第２状態の検査治具と検査対象コネクタのｙｚ断面構成図である。
【図12】第３状態の検査治具と検査対象コネクタのｙｚ断面構成図である。
【図13】第４状態の検査治具と検査対象コネクタのｙｚ断面構成図である。
【図14】第４状態の前側フレキシブル基板の舌片がある領域を拡大したｘｚ断面構成図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、本実施形態について、図１～図８を用いて説明する。なお、実施形態は、以下の実施形態に限られるものではない。また、一つの実施形態に記載した内容は、原則として他の実施形態にも同様に適用される。また、各実施形態及び各変形例は、適宜組み合わせることが出来る。
【0010】
（検査治具１）
図１～図８に示すように、本実施形態における検査治具１は、基板保持部２０、基板部３０、水平位置調整部４０を備える。検査治具１は、基板保持部２０の下側保持部２１の下端のコネクタ接触部２１ａを介して、検査対象の検査対象コネクタ（ＢｔｏＢコネクタ、Board to Boardコネクタ）１００と接触し、内部の前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａと電気的に接続する。なお、図１、図２では、検査対象コネクタ１００の図示を省略している。
図１～図８に示すように、本実施形態における検査治具１は、基板保持部２０、基板部３０、水平位置調整部４０を備える。検査治具１は、基板保持部２０の下側保持部２１の下端のコネクタ接触部２１ａを介して、検査対象の検査対象コネクタ（ＢｔｏＢコネクタ、Board to Boardコネクタ）１００と接触し、内部の前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａと電気的に接続する。なお、図１、図２では、検査対象コネクタ１００の図示を省略している。
【0011】
方向を説明するために、２つの基板組立体（前側基板組立体３１、後側基板組立体３２）が並べられる水平方向（前後方向）をｘ方向とし、ｘ方向に垂直で且つ２つの支持部４３（右支持部材４３ａ、左支持部材４３ｂ）が並べられる方向（左右方向）をｙ方向、ｘ方向とｙ方向に垂直な方向（上下方向）をｚ方向（第１方向）として説明する。図１において、ｘｙｚ軸のそれぞれの矢印が指し示す方向をそれぞれ前方向、右方向、上方向と定義する。具体的には、後側基板組立体３２から前側基板組立体３１に向かう方向を前方向と定義する。また、２つの支持部４３のうち図１の右上に位置する左支持部材４３ｂから図１の左下に位置する右支持部材４３ａに向かう方向を右方向と定義する。また、下側保持部２１から水平位置調整部４０に向かう方向を上方向と定義する。
【0012】
（基板保持部２０）
基板保持部２０は、下側保持部（ワークガイド）２１、上側保持部（接続板）２３を有する。下側保持部２１は、基板部３０のｚ方向下側に設けられる。上側保持部２３は、基板部３０のｚ方向上側に設けられる。下側保持部２１と上側保持部２３は、ｚ方向で基板部３０を挟む。
基板保持部２０は、下側保持部（ワークガイド）２１、上側保持部（接続板）２３を有する。下側保持部２１は、基板部３０のｚ方向下側に設けられる。上側保持部２３は、基板部３０のｚ方向上側に設けられる。下側保持部２１と上側保持部２３は、ｚ方向で基板部３０を挟む。
【0013】
下側保持部２１は、検査対象コネクタ１００の筐体（前側フレキシブル基板３１ａ若しくは後側フレキシブル基板３２ａと接する電極を保持する部材）と接触する部材である。下側保持部２１は、ｚ方向に貫通する孔を有する。下側保持部２１の孔には、ｚ方向上側から、基板部３０の下端が挿入される。下側保持部２１のｚ方向下側には凸部（コネクタ接触部２１ａ）が形成される。コネクタ接触部２１ａには、ｚ方向下側から、検査対象コネクタ１００の上端が挿入される。すなわち、コネクタ接触部２１ａには、検査対象コネクタ１００が着脱可能な状態で取り付けられる。
【0014】
下側保持部２１のｚ方向上側には、前側基板組立体３１の前側プローブ保持部３１ｃ、及び後側基板組立体３２の後側プローブ保持部３２ｃが取り付けられる。前側プローブ保持部３１ｃの下側保持部２１への取り付けは、ｚ方向下側からのネジ止めによって行われる。後側プローブ保持部３２ｃの下側保持部２１への取り付けは、ｚ方向下側からのネジ止めによって行われる。このため、前側プローブ保持部３１ｃ及び後側プローブ保持部３２ｃは、下側保持部２１（コネクタ接触部２１ａ）の検査対象コネクタ１００の筐体と接する領域とのｚ方向の距離が変動しない状態で、下側保持部２１に取り付けられる。
【0015】
上側保持部２３は、右上側保持部材２３ａと左上側保持部材２３ｂを有する。上側保持部２３のｚ方向下側には、前側基板組立体３１の前側プッシュブロック３１ｉ、及び後側基板組立体３２の後側プッシュブロック３２ｉが取り付けられる。前側プッシュブロック３１ｉの上側保持部２３への取り付けは、ｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。後側プッシュブロック３２ｉの上側保持部２３への取り付けは、ｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。
【0016】
（基板部３０）
基板部３０は、前側基板組立体３１、後側基板組立体３２を有する。前側基板組立体３１はｘ方向前側に、後側基板組立体３２はｘ方向後側に配置される。
基板部３０は、前側基板組立体３１、後側基板組立体３２を有する。前側基板組立体３１はｘ方向前側に、後側基板組立体３２はｘ方向後側に配置される。
【0017】
（前側基板組立体３１）
図５に示すように、前側基板組立体３１は、前側フレキシブル基板（可撓性基板）３１ａ、前側コネクタ３１ｂ、前側プローブ保持部（伸縮部材保持部）３１ｃ、前側コネクタベース３１ｄ、前側コネクタカバー３１ｆ、前側プローブ群３１ｇ、前側バネ３１ｈ、前側プッシュブロック（可動部材）３１ｉを有する。
図５に示すように、前側基板組立体３１は、前側フレキシブル基板（可撓性基板）３１ａ、前側コネクタ３１ｂ、前側プローブ保持部（伸縮部材保持部）３１ｃ、前側コネクタベース３１ｄ、前側コネクタカバー３１ｆ、前側プローブ群３１ｇ、前側バネ３１ｈ、前側プッシュブロック（可動部材）３１ｉを有する。
【0018】
【0019】
コネクタ接続端３１ａ１は、前側フレキシブル基板３１ａのｘ方向前側で且つｚ方向上側の端部であり、コネクタ接続端３１ａ１には、前側コネクタ３１ｂが半田付けなどにより取り付けられる。保持部接続端３１ａ２は、前側フレキシブル基板３１ａのｘ方向後側で且つｚ方向上側の端部であり、前側プローブ保持部３１ｃに取り付けられる。例えば、保持部接続端３１ａ２に設けられた孔３１ａ２１が、前側プローブ保持部３１ｃのプローブ受け部３１ｃ１のｚ方向上側に設けられたボス（不図示）などに嵌め込まれる。ただし、保持部接続端３１ａ２と前側プローブ保持部３１ｃの取り付けは、孔３１ａ２１と当該ボスの嵌め込みに限るものではない。
【0020】
パターン部３１ａ３は、コネクタ接続端３１ａ１と保持部接続端３１ａ２の間の領域である。パターン部３１ａ３のｚ方向下側（表側）の面には、コネクタ接続端３１ａ１から延びる信号線及び接地線のパターンが形成される。パターン部３１ａ３は、ｙ方向から見て略Ｖ字形状になるように曲げられる。パターン部３１ａ３のｚ方向下側の面で、略Ｖ字形状になるように曲げられた状態の下端部には、信号線及び接地線の端部が設けられる。当該信号線及び接地線の端部は、検査対象コネクタ１００の電極と電気的に接続する基板側電極として使用される。また、当該信号線及び接地線の端部の周囲（パターン部３１ａ３の検査対象コネクタ１００と電気的に接続される部分を含む領域）には、スリットＳが設けられる。当該スリットＳにより、略Ｕ字形状の舌片３１ａ４が形成される。スリットＳは、両端が閉口端の切れ込み（切れ目）であるが、一端が開口端で他端が閉口端であってもよい。なお、パターン部３１ａ３のｚ方向下側（表側）の面に設けられるパターンは、信号線及び接地線に限るものではない。
【0021】
後述する前側プローブ群３１ｇのプローブＰによりｚ方向下側に変位させる量を多くするためには、舌片３１ａ４を形成するスリットＳの長手方向の長さを長くするのが望ましい。一方、信号線の高周波領域での特性が劣化しないようにするためには、舌片３１ａ４を形成するスリットＳの長手方向の長さを短くするのが望ましい。このため、舌片３１ａ４のｚ方向下側への変位量と、信号線の高周波領域での特性とを考慮しながら、舌片３１ａ４を形成するスリットＳの長手方向の長さが決定される。１つの舌片３１ａ４の中には、信号線若しくは接地線若しくは電力線が１つだけが設けられてもよいし、信号線と接地線と電力線の少なくとも一方が複数設けられてもよい。舌片３１ａ４には、信号線と接地線と電力線以外のその他の種類の線が設けられていてもよい。
【0022】
また、スリットＳにより形成される舌片３１ａ４は、略Ｕ字形状に限るものではない。パターン部３１ａ３が伸びない状態で、ｚ方向上側から前側プローブ群３１ｇのプローブＰによりｚ方向下側に変位出来る限り、略Ｖ字形状、略Ｃ字形状、略Ｌ字形状、略溝形状など、他の形状であってもよい。
【0023】
【0024】
（前側コネクタ３１ｂ）
前側コネクタ３１ｂは、前側フレキシブル基板３１ａのコネクタ接続端３１ａ１に取り付けられる。前側コネクタ３１ｂは、前側フレキシブル基板３１ａが、不図示の検査装置と電気的に接続するために使用される。
前側コネクタ３１ｂは、前側フレキシブル基板３１ａのコネクタ接続端３１ａ１に取り付けられる。前側コネクタ３１ｂは、前側フレキシブル基板３１ａが、不図示の検査装置と電気的に接続するために使用される。
【0025】
（前側プローブ保持部３１ｃ）
前側プローブ保持部３１ｃは、ｘ方向前側で前側コネクタベース３１ｄを保持する。前側プローブ保持部３１ｃは、ｘ方向後側で前側フレキシブル基板３１ａの保持部接続端３１ａ２を保持する。
前側プローブ保持部３１ｃは、ｘ方向前側で前側コネクタベース３１ｄを保持する。前側プローブ保持部３１ｃは、ｘ方向後側で前側フレキシブル基板３１ａの保持部接続端３１ａ２を保持する。
【0026】
（プローブ受け部３１ｃ１）
前側プローブ保持部３１ｃのｘ方向後側で且つｚ方向下側には、前側プローブ群３１ｇを保持するプローブ受け部３１ｃ１が設けられる。
前側プローブ保持部３１ｃのｘ方向後側で且つｚ方向下側には、前側プローブ群３１ｇを保持するプローブ受け部３１ｃ１が設けられる。
【0027】
プローブ受け部３１ｃ１は、ｚ方向に延びる孔で構成される。ただし、プローブ受け部３１ｃ１は、ｚ方向に延びる溝で構成されてもよいし、溝と孔で構成されてもよい。プローブ受け部３１ｃ１の孔の上方（３１ｃ１１）のｘ方向及びｙ方向の幅は、前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのバネ収容部（バレル）Ｐ２の外径よりも大きい。プローブ受け部３１ｃ１の孔の下方（３１ｃ１２）のｘ方向及びｙ方向の幅は、前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰの先端部Ｐ１の外径よりも大きく、バネ収容部Ｐ２の外径よりも小さい。プローブ受け部３１ｃ１の溝及び／若しくは孔の上端と下端は開口する。プローブＰの上端部は、プローブ受け部３１ｃ１の孔の上方３１ｃ１１を介して、上方に突出し、前側プッシュブロック３１ｉと接する。プローブＰの下端部は、プローブ受け部３１ｃ１の孔の下方３１ｃ１２を介して、下方に突出し、舌片３１ａ４と接する。
【0028】
（前側フレキシブル基板３１ａの前側プローブ保持部３１ｃへの取り付け）
前側フレキシブル基板３１ａは、以下の２つの条件を満たすように、前側プローブ保持部３１ｃに取り付けられる。
第１の条件：前側プローブ保持部３１ｃのｚ方向下側が、前側フレキシブル基板３１ａのパターン部３１ａ３のｚ方向上側の面と対向する。
第２の条件：前側プローブ保持部３１ｃのプローブ受け部３１ｃ１のｚ方向下側に、前側フレキシブル基板３１ａのパターン部３１ａ３の信号線及び接地線の端部が位置する。
前側フレキシブル基板３１ａは、以下の２つの条件を満たすように、前側プローブ保持部３１ｃに取り付けられる。
第１の条件：前側プローブ保持部３１ｃのｚ方向下側が、前側フレキシブル基板３１ａのパターン部３１ａ３のｚ方向上側の面と対向する。
第２の条件：前側プローブ保持部３１ｃのプローブ受け部３１ｃ１のｚ方向下側に、前側フレキシブル基板３１ａのパターン部３１ａ３の信号線及び接地線の端部が位置する。
【0029】
（前側コネクタベース３１ｄ）
前側コネクタベース３１ｄは、ｘ方向前側で前側コネクタ３１ｂを保持する（図５参照）。前側コネクタベース３１ｄは、前側プローブ保持部３１ｃよりもｚ方向上側に位置し、前側プローブ保持部３１ｃに取り付けられる。
前側コネクタベース３１ｄは、ｘ方向前側で前側コネクタ３１ｂを保持する（図５参照）。前側コネクタベース３１ｄは、前側プローブ保持部３１ｃよりもｚ方向上側に位置し、前側プローブ保持部３１ｃに取り付けられる。
【0030】
前側フレキシブル基板３１ａと前側コネクタ３１ｂの組立体は、前側プローブ保持部３１ｃと前側コネクタベース３１ｄをｘ方向で挟み、且つ前側プローブ保持部３１ｃの下端を包むようにして、前側プローブ保持部３１ｃ及び前側コネクタベース３１ｄの組立体に取り付けられる。前側プローブ保持部３１ｃの前側コネクタベース３１ｄへの取り付けは、ｚ方向下側からのネジ止めによって行われる。
【0031】
（前側コネクタカバー３１ｆ）
前側コネクタカバー３１ｆは、前側フレキシブル基板３１ａのパターン部３１ａ３の一部及び前側コネクタ３１ｂのｘ方向前側を覆う。前側コネクタカバー３１ｆの前側コネクタベース３１ｄへの取り付けは、ｘ方向前側からのネジ止めによって行われる。前側コネクタカバー３１ｆと前側コネクタベース３１ｄは、前側コネクタ３１ｂをｘ方向で挟む。
前側コネクタカバー３１ｆは、前側フレキシブル基板３１ａのパターン部３１ａ３の一部及び前側コネクタ３１ｂのｘ方向前側を覆う。前側コネクタカバー３１ｆの前側コネクタベース３１ｄへの取り付けは、ｘ方向前側からのネジ止めによって行われる。前側コネクタカバー３１ｆと前側コネクタベース３１ｄは、前側コネクタ３１ｂをｘ方向で挟む。
【0032】
（前側プローブ群３１ｇ）
前側プローブ群３１ｇは、ｚ方向に伸縮するプローブ（伸縮部材）Ｐを複数有する（図６参照）。複数のプローブＰは、ｙ方向に並べられる。前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのそれぞれは、ｚ方向下側に先端部Ｐ１を有し、先端部Ｐ１よりもｚ方向上側にバネ収容部Ｐ２を有する。バネ収容部Ｐ２には、バネ（不図示）が収容される。先端部Ｐ１は、バネ収容部Ｐ２のバネにより全長が伸びる方向に付勢される。
前側プローブ群３１ｇは、ｚ方向に伸縮するプローブ（伸縮部材）Ｐを複数有する（図６参照）。複数のプローブＰは、ｙ方向に並べられる。前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのそれぞれは、ｚ方向下側に先端部Ｐ１を有し、先端部Ｐ１よりもｚ方向上側にバネ収容部Ｐ２を有する。バネ収容部Ｐ２には、バネ（不図示）が収容される。先端部Ｐ１は、バネ収容部Ｐ２のバネにより全長が伸びる方向に付勢される。
【0033】
前側フレキシブル基板３１ａが前側プローブ保持部３１ｃに取り付けられていない状態で、前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのそれぞれが、前側プローブ保持部３１ｃのプローブ受け部３１ｃ１に載置された場合、プローブＰの先端部Ｐ１は、プローブ受け部３１ｃ１の溝及び／若しくは孔からｚ方向下側に突出する。ただし、プローブ受け部３１ｃ１の孔の上方３１ｃ１１と下方３１ｃ１２との間にある段差で、バネ収容部Ｐ２が保持されるので、プローブＰはプローブ受け部３１ｃ１から落下しない。
【0034】
前側フレキシブル基板３１ａが前側プローブ保持部３１ｃに取り付けられた状態で、前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのそれぞれが、前側プローブ保持部３１ｃのプローブ受け部３１ｃ１に載置された場合、プローブＰの先端部Ｐ１は、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４がある領域の裏側に接する。例えば、複数のプローブＰのうち、第１のプローブＰは、前側フレキシブル基板３１ａの検査対象コネクタ１００と電気的に接続される領域の１つ（舌片３１ａ４の１つ）と接する位置関係にある。また、複数のプローブＰのうち、第１のプローブＰとは別の第２のプローブＰは、前側フレキシブル基板３１ａの検査対象コネクタ１００と電気的に接続される領域の１つ（舌片３１ａ４の１つ）であって、第１のプローブＰに対応する舌片３１ａ４と別の舌片３１ａ４と接する位置関係にある。ただし、プローブＰは軽いので、接するだけであって、舌片３１ａ４をｚ方向下側に殆ど変位させない。
【0035】
前側フレキシブル基板３１ａと前側コネクタ３１ｂの組立体の前側プローブ保持部３１ｃと前側コネクタベース３１ｄの組立体への取り付けは、前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのそれぞれが、プローブ受け部３１ｃ１に載置された状態で行われる。
【0036】
（前側バネ３１ｈ、前側プッシュブロック３１ｉ）
前側プッシュブロック３１ｉは、上側保持部２３（右上側保持部材２３ａ、左上側保持部材２３ｂ）に固定される。前側プッシュブロック３１ｉの上側保持部２３への固定は、ｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。このため、前側プッシュブロック３１ｉは、ブラケット４５とのｚ方向の距離が変動しない状態で、支持部４３を介して、ブラケット４５に取り付けられる。
前側プッシュブロック３１ｉは、上側保持部２３（右上側保持部材２３ａ、左上側保持部材２３ｂ）に固定される。前側プッシュブロック３１ｉの上側保持部２３への固定は、ｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。このため、前側プッシュブロック３１ｉは、ブラケット４５とのｚ方向の距離が変動しない状態で、支持部４３を介して、ブラケット４５に取り付けられる。
【0037】
また、前側プッシュブロック３１ｉは、ｚ方向に移動可能な状態で、前側プローブ保持部３１ｃ及び前側コネクタベース３１ｄに保持される。前側プッシュブロック３１ｉの前側プローブ保持部３１ｃによる前側プッシュブロック３１ｉのｚ方向に移動可能な状態での保持は、ｘ方向後側からのネジ止めによって行われる。前側プッシュブロック３１ｉは、前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのそれぞれをｚ方向下側に押し下げるために使用される。すなわち、前側プローブ群３１ｇを構成する複数のプローブＰは、前側フレキシブル基板３１ａと前側プッシュブロック３１ｉの間に設けられる。
【0038】
前側プローブ保持部３１ｃと前側プッシュブロック３１ｉの間には、前側バネ３１ｈが設けられる。前側バネ３１ｈは、前側プッシュブロック３１ｉと前側プローブ保持部３１ｃとをｚ方向に互いに離すように付勢する。このため、前側バネ３１ｈによって、前側プッシュブロック３１ｉと前側プローブ保持部３１ｃは離れた状態が維持される。前側バネ３１ｈのバネ力は、検査対象コネクタ１００に過度な力を掛けずに下側保持部（ワークガイド）２１が嵌まり、且つプローブ（伸縮部材）Ｐを押さない加重に設定する。
【0039】
（後側基板組立体３２）
図８に示すように、後側基板組立体３２は、後側フレキシブル基板（可撓性基板）３２ａ、後側コネクタ３２ｂ、後側プローブ保持部３２ｃ、後側コネクタベース３２ｄ、後側コネクタカバー３２ｆ、後側プローブ群３２ｇ、後側バネ３２ｈ、後側プッシュブロック（可動部材）３２ｉを有する。
図８に示すように、後側基板組立体３２は、後側フレキシブル基板（可撓性基板）３２ａ、後側コネクタ３２ｂ、後側プローブ保持部３２ｃ、後側コネクタベース３２ｄ、後側コネクタカバー３２ｆ、後側プローブ群３２ｇ、後側バネ３２ｈ、後側プッシュブロック（可動部材）３２ｉを有する。
【0040】
ｘ方向の向きが反転していること以外、後側基板組立体３２の構成は、前側基板組立体３１の構成と同様である。後側基板組立体３２の後側フレキシブル基板３２ａは、前側基板組立体３１の前側フレキシブル基板３１ａに相当する。後側基板組立体３２の後側コネクタ３２ｂは、前側基板組立体３１の前側コネクタ３１ｂに相当する。後側基板組立体３２の後側プローブ保持部３２ｃは、前側基板組立体３１の前側プローブ保持部３１ｃに相当する。後側基板組立体３２の後側コネクタベース３２ｄは、前側基板組立体３１の前側コネクタベース３１ｄに相当する。後側基板組立体３２の後側コネクタカバー３２ｆは、前側基板組立体３１の前側コネクタカバー３１ｆに相当する。後側基板組立体３２の後側プローブ群３２ｇは、前側基板組立体３１の前側プローブ群３１ｇに相当する。後側基板組立体３２の後側バネ３２ｈは、前側基板組立体３１の前側バネ３１ｈに相当する。後側基板組立体３２の後側プッシュブロック３２ｉは、前側基板組立体３１の前側プッシュブロック３１ｉに相当する。
【0041】
【0042】
（支持部４３）
支持部４３は、右支持部材４３ａと左支持部材４３ｂを有する。右支持部材４３ａと左支持部材４３ｂは、ｙ方向に並べられる。右支持部材４３ａと左支持部材４３ｂのそれぞれは、環状コイルスプリング（不図示）などの弾性部材を内蔵する。
支持部４３は、右支持部材４３ａと左支持部材４３ｂを有する。右支持部材４３ａと左支持部材４３ｂは、ｙ方向に並べられる。右支持部材４３ａと左支持部材４３ｂのそれぞれは、環状コイルスプリング（不図示）などの弾性部材を内蔵する。
【0043】
右支持部材４３ａは、右上側保持部材２３ａのｚ方向下側に取り付けられる。右支持部材４３ａの右上側保持部材２３ａへの取り付けは、ｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。また、右支持部材４３ａは、ブラケット４５のｚ方向下側に取り付けられる。右支持部材４３ａとブラケット４５は、ｚ方向で右上側保持部材２３ａを挟む。右支持部材４３ａのブラケット４５への取り付けは、右上側保持部材２３ａの孔を通るｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。
【0044】
右支持部材４３ａの右上側保持部材２３ａに取り付けられる領域は、右支持部材４３ａの弾性部材を介して、右支持部材４３ａのブラケット４５に取り付けられる領域とｘｙ方向（ｚ方向に垂直な方向）に相対的に移動可能である。このため、右上側保持部材２３ａは、ｘｙ方向に移動可能な状態で、右支持部材４３ａとブラケット４５の間に保持される。
【0045】
左支持部材４３ｂは、左上側保持部材２３ｂのｚ方向下側に取り付けられる。左支持部材４３ｂの左上側保持部材２３ｂへの取り付けは、ｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。また、左支持部材４３ｂは、ブラケット４５のｚ方向下側に取り付けられる。左支持部材４３ｂとブラケット４５は、ｚ方向で左上側保持部材２３ｂを挟む。左支持部材４３ｂのブラケット４５への取り付けは、左側上保持部材２３ｂの孔を通るｚ方向上側からのネジ止めによって行われる。
【0046】
左支持部材４３ｂの左上側保持部材２３ｂに取り付けられる領域は、左支持部材４３ｂの弾性部材を介して、左支持部材４３ｂのブラケット４５に取り付けられる領域とｘｙ方向に相対的に移動可能である。このため、左上側保持部材２３ｂは、ｘｙ方向に移動可能な状態で、左支持部材４３ｂとブラケット４５の間に保持される。
【0047】
支持部４３（右支持部材４３ａ、左支持部材４３ｂ）は、前側基板組立体３１の前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４がある領域、及び後側基板組立体３２の後側フレキシブル基板３２ａの舌片がある領域に関する、検査対象コネクタ１００の電極とｚ方向で対向する位置からのズレを吸収するために使用される。
【0048】
例えば、前側基板組立体３１の前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４がある領域、及び後側基板組立体３２の後側フレキシブル基板３２aの舌片がある領域が、検査対象コネクタ１００の電極とｚ方向で対向する位置からｘｙ平面上でずれているとする。この場合、検査治具１が検査対象コネクタ１００に取り付けられる時に、ブラケット４５と右支持部材４３ａのブラケット４５に取り付けられる領域と左支持部材４３ｂのブラケット４５に取り付けられる領域とが移動せずに、基板保持部２０と基板部３０と右支持部材４３ａの右上側保持部材２３ａに取り付けられる領域と左支持部材４３ｂの左上側保持部材２３ｂに取り付けられる領域とが、ｘｙ平面上を移動することができる。
【0049】
（ブラケット４５）
ブラケット４５は、検査装置、工作機械など、検査治具１を保持し、移動させる装置（不図示）に取り付けられる。ブラケット４５は、支持部４３と上側保持部２３とを介して、ｚ方向に垂直な方向に移動可能な状態で、前側プッシュブロック３１ｉ及び後側プッシュブロック３２ｉを保持する。
ブラケット４５は、検査装置、工作機械など、検査治具１を保持し、移動させる装置（不図示）に取り付けられる。ブラケット４５は、支持部４３と上側保持部２３とを介して、ｚ方向に垂直な方向に移動可能な状態で、前側プッシュブロック３１ｉ及び後側プッシュブロック３２ｉを保持する。
【0050】
ブラケット４５は、第１領域４５ａ、第２領域４５ｂ、第３領域４５ｃを有する。第１領域４５ａは、ブラケット４５の右端部に位置し、第２領域４５ｂは、ブラケット４５の左端部に位置し、第３領域４５ｃは、第１領域４５ａと第２領域４５ｂの間に位置する。第１領域４５ａのｚ方向下側には、右上側保持部材２３ａと右支持部材４３ａが配置される。第２領域４５ｂのｚ方向下側には、左上側保持部材２３ｂと左支持部材４３ｂが配置される。
【0051】
第３領域４５ｃは、前側基板組立体３１の前側コネクタ３１ｂと、後側基板組立体３２の後側コネクタ３２ｂとを収納するための切り欠きを有し、前側基板組立体３１の前側コネクタ３１ｂと、後側基板組立体３２の後側コネクタ３２ｂとによって、ｘ方向で挟まれる。従って、前側コネクタ３１ｂと後側コネクタ３２ｂの上端は、上側保持部２３及び支持部４３よりもｚ方向上側に位置する。
【0052】
（前側プッシュブロック３１ｉなどと支持部４３の位置関係）
前側プッシュブロック３１ｉ及び後側プッシュブロック３２ｉは、支持部４３よりもブラケット４５に近い位置に配置される。
前側プッシュブロック３１ｉ及び後側プッシュブロック３２ｉは、支持部４３よりもブラケット４５に近い位置に配置される。
【0053】
（各部の材料、金属部品、樹脂部品）
検査治具１を構成する部材のうち、前側フレキシブル基板３１ａなどの導通される領域、前側プローブ群３１ｇ、後側プローブ群３２ｇ、ネジは、金属で構成される。検査治具１を構成するその他の部材は、樹脂など非導電性部材で構成される。
検査治具１を構成する部材のうち、前側フレキシブル基板３１ａなどの導通される領域、前側プローブ群３１ｇ、後側プローブ群３２ｇ、ネジは、金属で構成される。検査治具１を構成するその他の部材は、樹脂など非導電性部材で構成される。
【0054】
（検査治具１の検査対象コネクタ１００への接続手順）
次に、検査治具１をｚ方向上側からｚ方向下側に移動させて、検査対象コネクタ１００に接続させる際の、前側バネ３１ｈなどの伸縮状態の変化などを説明する（図９～図１４）。
次に、検査治具１をｚ方向上側からｚ方向下側に移動させて、検査対象コネクタ１００に接続させる際の、前側バネ３１ｈなどの伸縮状態の変化などを説明する（図９～図１４）。
【0055】
なお、図９、図１１～図１３のｙｚ断面構成図は、プローブＰがある領域の構成を分かりやすくするため、図１など他の図に示されるプローブＰよりも大きめに示す。このため、図９、図１１～図１３のｙｚ断面構成図と、図１など他の図とでは、プローブＰの数、各部材の縦横比などが一致しない。
【0056】
また、後側バネ３２ｈは、図９、図１１～図１３のｙｚ断面構成図では図示されていない。しかしながら、後側バネ３２ｈは、前側バネ３１ｈのｘ方向後側に位置しており、前側バネ３１ｈと同じように伸縮する。また、後側プッシュブロック３２ｉは、図９、図１１～図１３のｙｚ断面構成図では図示されていない。しかしながら、後側プッシュブロック３２ｉは、前側プッシュブロック３１ｉのｘ方向後側に位置しており、前側プッシュブロック３１ｉと同じように移動する。また、後側プローブ群３２ｇは、図９、図１１～図１３のｙｚ断面構成図では図示されていない。しかしながら、後側プローブ群３２ｇは、前側プローブ群３１ｇのｘ方向後側に位置しており、前側プローブ群３１ｇと同じように動作する。また、後側フレキシブル基板３２ａの舌片は、図示されていない。しかしながら、後側フレキシブル基板３２ａの舌片は、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４のｘ方向後側に位置しており、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４と同じように変位する。
【0057】
図９に示すように、検査治具１が検査対象コネクタ１００と接触する前は、前側バネ３１ｈ、後側バネ３２ｈは、伸びた状態であり、前側プッシュブロック３１ｉと前側プローブ保持部３１ｃの距離、及び後側プッシュブロック３２ｉと後側プローブ保持部３２ｃの距離はいずれも短くなっていない（第１状態）。このとき、前側プローブ群３１ｇを構成するプローブＰのｚ方向下側の先端部Ｐ１は、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４に接する（図１０参照）。しかしながら、プローブＰは軽いので、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４はｚ方向下側に殆ど押し下げられない。同様に、後側プローブ群３２ｇを構成するプローブＰのｚ方向下側の先端部Ｐ１は、後側フレキシブル基板３２ａの舌片に接する。しかしながら、プローブＰは軽いので、後側フレキシブル基板３２ａの舌片はｚ方向下側に殆ど押し下げられない。
【0058】
図１１に示すように、検査治具１のコネクタ接触部２１ａに、検査対象コネクタ１００が嵌め込まれた直後は、前側バネ３１ｈ、後側バネ３２ｈは、伸びた状態であり、前側プッシュブロック３１ｉと前側プローブ保持部３１ｃの距離、及び後側プッシュブロック３２ｉと後側プローブ保持部３２ｃの距離はいずれも短くなっていない（第２状態）。このとき、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４及び後側フレキシブル基板３２ａの舌片は、検査対象コネクタ１００と接触していない。
【0059】
図１２に示すように、第２状態から、検査治具１がｚ方向下側に更に移動すると、前側バネ３１ｈがｚ方向に縮み、前側プッシュブロック３１ｉが前側プローブ保持部３１ｃに近づけられる（第３状態）。この時、前側プッシュブロック３１ｉは、前側プローブ群３１ｇのプローブＰの上端部に接する。同様に、後側バネ３２ｈがｚ方向に縮み、後側プッシュブロック３２ｉが後側プローブ保持部３２ｃに近づけられる。この時、後側プッシュブロック３２ｉは、後側プローブ群３２ｇのプローブＰの上端部に接する。しかしながら、前側プローブ群３１ｇ及び後側プローブ群３２ｇは前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４及び後側フレキシブル基板３２ａの舌片を押し下げていないため、検査対象コネクタ１００と接触していない。
【0060】
図１３に示すように、第３状態から、検査治具１がｚ方向下側に更に移動すると、前側バネ３１ｈがｚ方向に更に縮み、前側プッシュブロック３１ｉが前側プローブ保持部３１ｃに更に近づけられる（第４状態）。この時、前側プッシュブロック３１ｉにより前側プローブ群３１ｇのプローブＰは押し下げられる。同様に、後側プッシュブロック３２ｉがｚ方向に更に縮み、後側プッシュブロック３２ｉが後側プローブ保持部３２ｃに近づけられる。この時、後側プッシュブロック３２ｉにより後側プローブ群３２ｇのプローブＰは押し下げられる。
【0061】
前側プッシュブロック３１ｉがｚ方向下側に移動することにより、前側プローブ群３１ｇのプローブＰがｚ方向下側に移動し、プローブＰの先端部Ｐ１が前側フレキシブル基板３１ａの裏側（ｚ方向上側）を押す。これにより、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４がｚ方向下側に押し下げられる（図１４参照）。すなわち、前側プローブ群３１ｇのプローブＰにより、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４が、検査対象コネクタ１００の電極に近づけられる。同様に、後側プッシュブロック３２ｉがｚ方向下側に移動することにより、後側プローブ群３２ｇのプローブＰがｚ方向下側に移動し、プローブＰの先端部Ｐ１が後側フレキシブル基板３２ａの裏側（ｚ方向上側）を押す。これにより、後側フレキシブル基板３２ａの舌片がｚ方向下側に押し下げられる。すなわち、後側プローブ群３２ｇのプローブＰにより、後側フレキシブル基板３２ａの舌片が、検査対象コネクタ１００の電極に近づけられる。
【0062】
従って、前側バネ３１ｈが所定量以上に縮むように、前側プッシュブロック３１ｉを前側プローブ保持部３１ｃに近づけた時に、前側プッシュブロック３１ｉが前側プローブ群３１ｇのプローブＰを押し、前側プローグ群３１ｇのプローブＰが前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４を押し、前側フレキシブル基板３１ａが検査対象コネクタ１００と電気的に接続された状態になる。同様に、後側バネ３２ｈが所定量以上に縮むように、後側プッシュブロック３２ｉを後側プローブ保持部３２ｃに近づけた時に、後側プッシュブロック３２ｉが後側プローブ群３２ｇのプローブＰを押し、後側プローグ群３２ｇのプローブＰが後側フレキシブル基板３２ａの舌片を押し、後側フレキシブル基板３２ａが検査対象コネクタ１００と電気的に接続された状態になる。
【0063】
これにより、前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａは、検査対象コネクタ１００と電気的に接続した状態になる。また、前側プッシュブロック３１ｉ及び後側プッシュブロック３２ｉは、ｚ方向の移動可能範囲の最下端に押し下げられる。
【0064】
（検査治具１で可動部材(前側プッシュブロック３１ｉなど)と伸縮部材（プローブＰ）を用いることの効果）
先に、前側プッシュブロック３１ｉが前側プローブ群３１ｇのプローブＰを押し、後側プッシュブロック３２ｉが後側プローブ群３２ｇのプローブＰを押す。押されたプローブＰが、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４、及び後側フレキシブル基板３２ａの舌片を押し、前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａを検査対象コネクタ１００に接続させる。このため、前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａを大きく変形或いは変位させずに、検査治具１に含まれる前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａと検査対象コネクタ１００との電気的な接続が可能になる。すなわち、前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａを含む検査治具１が破損しにくい状態で、検査治具１に含まれる前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａと検査対象コネクタ１００との電気的な接続が可能になる。
先に、前側プッシュブロック３１ｉが前側プローブ群３１ｇのプローブＰを押し、後側プッシュブロック３２ｉが後側プローブ群３２ｇのプローブＰを押す。押されたプローブＰが、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４、及び後側フレキシブル基板３２ａの舌片を押し、前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａを検査対象コネクタ１００に接続させる。このため、前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａを大きく変形或いは変位させずに、検査治具１に含まれる前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａと検査対象コネクタ１００との電気的な接続が可能になる。すなわち、前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａを含む検査治具１が破損しにくい状態で、検査治具１に含まれる前側フレキシブル基板３１ａ及び後側フレキシブル基板３２ａと検査対象コネクタ１００との電気的な接続が可能になる。
【0065】
（可動部材（前側プッシュブロック３１ｉなど）を、支持部４３よりもブラケット４５に近い位置に配置することの効果）
右支持部材４３ａと可動部材（前側プッシュブロック３１ｉ、後側プッシュブロック３２ｉ）と左支持部材４３ｂのそれぞれの少なくとも一部の領域が、第１方向に垂直な方向（ｙ方向）に並べることが出来る。具体的には、右支持部材４３ａと前側プッシュブロック３１ｉと左支持部材４３ｂのそれぞれの少なくとも一部の領域が、ｙ方向から見て重なる。また、右支持部材４３ａと後側プッシュブロック３２ｉと左支持部材４３ｂのそれぞれの少なくとも一部の領域が、ｙ方向から見て重なる。このため、部材を効率良く配置出来、検査治具１のｚ方向の寸法を小さくすることが出来る。検査治具１のｚ方向の寸法を小さくすることで、支持部４３を使ってｘｙ方向のズレを調整する際の荷重を小さく出来る。
右支持部材４３ａと可動部材（前側プッシュブロック３１ｉ、後側プッシュブロック３２ｉ）と左支持部材４３ｂのそれぞれの少なくとも一部の領域が、第１方向に垂直な方向（ｙ方向）に並べることが出来る。具体的には、右支持部材４３ａと前側プッシュブロック３１ｉと左支持部材４３ｂのそれぞれの少なくとも一部の領域が、ｙ方向から見て重なる。また、右支持部材４３ａと後側プッシュブロック３２ｉと左支持部材４３ｂのそれぞれの少なくとも一部の領域が、ｙ方向から見て重なる。このため、部材を効率良く配置出来、検査治具１のｚ方向の寸法を小さくすることが出来る。検査治具１のｚ方向の寸法を小さくすることで、支持部４３を使ってｘｙ方向のズレを調整する際の荷重を小さく出来る。
【0066】
（ブラケット４５の第３領域４５ｃに切り欠きを設けることの効果）
切り欠きに、前側基板組立体３１の上端部分（前側コネクタ３１ｂなど）及び後側基板組立体３２の上端部分（後側コネクタ３２など）を収納することが出来、検査治具１のｚ方向の寸法を小さくすることが出来る。
切り欠きに、前側基板組立体３１の上端部分（前側コネクタ３１ｂなど）及び後側基板組立体３２の上端部分（後側コネクタ３２など）を収納することが出来、検査治具１のｚ方向の寸法を小さくすることが出来る。
【0067】
（前側プッシュブロック３１ｉなどとブラケット４５のｚ方向の距離が変動しないことの効果）
支持部４３によるｘｙ方向の動きを除いて、所望の姿勢で前側プッシュブロック３１ｉ及び後側プッシュブロック３２ｉがブラケット４５に固定される。これにより、傾いた状態で検査治具１と検査対象コネクタ１００の取り付けが行われても、検査治具１若しくは検査対象コネクタ１００が破損することを防止出来る。
支持部４３によるｘｙ方向の動きを除いて、所望の姿勢で前側プッシュブロック３１ｉ及び後側プッシュブロック３２ｉがブラケット４５に固定される。これにより、傾いた状態で検査治具１と検査対象コネクタ１００の取り付けが行われても、検査治具１若しくは検査対象コネクタ１００が破損することを防止出来る。
【0068】
（前側プローブ保持部３１ｃと検査対象コネクタ１００の筐体と接する領域とのｚ方向の距離が変動しないことの効果）
所望の姿勢で前側プローブ保持部３１ｃ及び後側プローブ保持部３２ｃが下側保持部２１に固定される。これにより、傾いた状態で検査治具１と検査対象コネクタ１００の取り付けが行われても、検査治具１若しくは検査対象コネクタ１００が破損することを防止出来る。
所望の姿勢で前側プローブ保持部３１ｃ及び後側プローブ保持部３２ｃが下側保持部２１に固定される。これにより、傾いた状態で検査治具１と検査対象コネクタ１００の取り付けが行われても、検査治具１若しくは検査対象コネクタ１００が破損することを防止出来る。
【0069】
（プローブＰで個別に押し当てを行うことの効果）
信号線若しくは接地線における、検査対象コネクタ１００と接触する部分（電極）の高さのバラツキを考慮して、電極ごとに個別にプローブＰなどの伸縮部材を押し当て、それぞれの電極の検査対象コネクタ１００との接続を確実に行うことが可能になる。
信号線若しくは接地線における、検査対象コネクタ１００と接触する部分（電極）の高さのバラツキを考慮して、電極ごとに個別にプローブＰなどの伸縮部材を押し当て、それぞれの電極の検査対象コネクタ１００との接続を確実に行うことが可能になる。
【0070】
（前側フレキシブル基板３１ａ、後側フレキシブル基板３２ａに舌片を設けることの効果）
電極の高さのバラツキを吸収するため、プローブＰなどの伸縮部材が押し当てられて、部分的に力が加わった場合、力が加わった部分を含む領域に形成された前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４が、スリットＳを介して、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４に隣接する他の領域から離れて、当該押された方向（ｚ方向下側）に変位する。また、力が加わった部分を含む領域に形成された後側フレキシブル基板３２ａの舌片が、スリットＳを介して、後側フレキシブル基板３２ａの舌片に隣接する他の領域から離れて、当該押された方向（ｚ方向下側）に変位する。このため、舌片を設けない場合に比べて、変位しても可撓性基板（前側フレキシブル基板３１ａ、後側フレキシブル基板３２ａ）が破損しにくい。
電極の高さのバラツキを吸収するため、プローブＰなどの伸縮部材が押し当てられて、部分的に力が加わった場合、力が加わった部分を含む領域に形成された前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４が、スリットＳを介して、前側フレキシブル基板３１ａの舌片３１ａ４に隣接する他の領域から離れて、当該押された方向（ｚ方向下側）に変位する。また、力が加わった部分を含む領域に形成された後側フレキシブル基板３２ａの舌片が、スリットＳを介して、後側フレキシブル基板３２ａの舌片に隣接する他の領域から離れて、当該押された方向（ｚ方向下側）に変位する。このため、舌片を設けない場合に比べて、変位しても可撓性基板（前側フレキシブル基板３１ａ、後側フレキシブル基板３２ａ）が破損しにくい。
【0071】
（端部を電極として使用することの効果）
信号線の途中で他の部材との電気的な接続が行われた場合には、当該接続箇所と端部との間がアンテナとして機能してノイズの受発信が行われるおそれがある。端部の近傍で他の部材との電気的な接続を行うことにより、ノイズの受発信を少なくすることが可能になる。なお、接地線の途中で他の部材との電気的な接続が行われた場合には、インピーダンスの整合が崩れるおそれがある。
信号線の途中で他の部材との電気的な接続が行われた場合には、当該接続箇所と端部との間がアンテナとして機能してノイズの受発信が行われるおそれがある。端部の近傍で他の部材との電気的な接続を行うことにより、ノイズの受発信を少なくすることが可能になる。なお、接地線の途中で他の部材との電気的な接続が行われた場合には、インピーダンスの整合が崩れるおそれがある。
【0072】
（その他の実施形態、プローブ以外の伸縮部材）
本実施形態では、前側フレキシブル基板３１ａを裏側（ｚ方向上側）からｚ方向下側に押す伸縮部材、及び後側フレキシブル基板３２ａを裏側（ｚ方向上側）からｚ方向下側に押す伸縮部材として、プローブＰを用いる形態を説明した。しかしながら、ｚ方向に伸縮可能な部材であれば、プローブＰに限らず、ゴムなど他の弾性部材が伸縮部材として用いられてもよい。
本実施形態では、前側フレキシブル基板３１ａを裏側（ｚ方向上側）からｚ方向下側に押す伸縮部材、及び後側フレキシブル基板３２ａを裏側（ｚ方向上側）からｚ方向下側に押す伸縮部材として、プローブＰを用いる形態を説明した。しかしながら、ｚ方向に伸縮可能な部材であれば、プローブＰに限らず、ゴムなど他の弾性部材が伸縮部材として用いられてもよい。
【0073】
（その他の実施形態、バネ以外の弾性部材）
本実施形態では、前側プローブ保持部３１ｃと前側プッシュブロック３１ｉの間に前側バネ３１ｈが設けられ、後側プローブ保持部３２ｃと後側プッシュブロック３２ｉの間に後側バネ３２ｈが設けられる形態を説明した。しかしながら、ｚ方向に伸縮可能な部材であれば、バネに限らず、他の弾性部材が用いられてもよい。
本実施形態では、前側プローブ保持部３１ｃと前側プッシュブロック３１ｉの間に前側バネ３１ｈが設けられ、後側プローブ保持部３２ｃと後側プッシュブロック３２ｉの間に後側バネ３２ｈが設けられる形態を説明した。しかしながら、ｚ方向に伸縮可能な部材であれば、バネに限らず、他の弾性部材が用いられてもよい。
【0074】
（その他の実施形態、基板）
本実施形態では、検査治具１に内蔵される基板は、可撓性がある基板であるとして説明した。しかしながら、検査治具１に内蔵される基板は、可撓性が無い基板であってもよい。
本実施形態では、検査治具１に内蔵される基板は、可撓性がある基板であるとして説明した。しかしながら、検査治具１に内蔵される基板は、可撓性が無い基板であってもよい。
【0075】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態及びその変形は、発明の範囲及び要旨に含まれると同様に、請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【0076】
本明細書によれば、以下の態様の検査治具が提供される。
（態様１）
態様１は、検査対象コネクタと電気的に接続可能な基板と、移動可能な可動部材と、伸縮可能な伸縮部材と、前記伸縮部材を保持する伸縮部材保持部と、前記可動部材と前記伸縮部材保持部とを互いに離すように付勢する弾性部材と、を備え、前記弾性部材が所定量以上に縮むように、前記可動部材を前記伸縮部材保持部に近づけた時に、前記可動部材が前記伸縮部材を押し、前記伸縮部材が前記基板を押し、前記基板が前記検査対象コネクタと電気的に接続された状態になる。
（態様１）
態様１は、検査対象コネクタと電気的に接続可能な基板と、移動可能な可動部材と、伸縮可能な伸縮部材と、前記伸縮部材を保持する伸縮部材保持部と、前記可動部材と前記伸縮部材保持部とを互いに離すように付勢する弾性部材と、を備え、前記弾性部材が所定量以上に縮むように、前記可動部材を前記伸縮部材保持部に近づけた時に、前記可動部材が前記伸縮部材を押し、前記伸縮部材が前記基板を押し、前記基板が前記検査対象コネクタと電気的に接続された状態になる。
【0077】
上述の態様によれば、先に、可動部材が伸縮部材を押す。押された伸縮部材が、基板を押し、基板を検査対象コネクタに電気的に接続させる。このため、基板を大きく変形或いは変位させずに、検査治具に含まれる基板と検査対象コネクタとの電気的な接続が可能になる。すなわち、基板を含む検査治具が破損しにくい状態で、検査治具に含まれる基板と検査対象コネクタとの電気的な接続が可能になる。
【0078】
（態様２）
態様２は、支持部と、前記支持部を介して、第１方向と垂直な方向に移動可能な状態で、前記可動部材を保持するブラケットと、を更に備え、前記可動部材は、前記支持部よりも前記ブラケットに近い位置に配置される。
態様２は、支持部と、前記支持部を介して、第１方向と垂直な方向に移動可能な状態で、前記可動部材を保持するブラケットと、を更に備え、前記可動部材は、前記支持部よりも前記ブラケットに近い位置に配置される。
【0079】
上述の態様によれば、部材を効率良く配置出来、検査治具の第１方向の寸法を小さくすることが出来る。検査治具の第１方向の寸法を小さくすることで、支持部を使って第１方向に垂直な方向のズレを調整する際の荷重を小さく出来る。
【0080】
（態様３）
態様３は、前側基板が、検査装置と電気的に接続するために使用されるコネクタを更に備え、前記ブラケットは、前記コネクタを収容する切り欠きを有する。
態様３は、前側基板が、検査装置と電気的に接続するために使用されるコネクタを更に備え、前記ブラケットは、前記コネクタを収容する切り欠きを有する。
【0081】
上述の態様によれば、検査治具の第１方向の寸法を小さくすることが出来る。
【0082】
（態様４）
態様４では、前記可動部材は、前記ブラケットとの前記第１方向の距離が変動しない状態で、前記支持部を介して、前記ブラケットに取り付けられる。
態様４では、前記可動部材は、前記ブラケットとの前記第１方向の距離が変動しない状態で、前記支持部を介して、前記ブラケットに取り付けられる。
【0083】
上述の態様によれば、支持部による第１方向に垂直な方向の動きを除いて、所望の姿勢で可動部材がブラケットに固定される。これにより、傾いた状態で検査治具と検査対象コネクタの取り付けが行われても、検査治具若しくは検査対象コネクタが破損することを防止出来る。
【0084】
（態様５）
態様５は、前記検査対象コネクタの筐体と接触する部材を更に備え、前記伸縮部材保持部は、前記部材における前記筐体と接する領域との前記第１方向の距離が変動しない状態で、前記部材に取り付けられる。
態様５は、前記検査対象コネクタの筐体と接触する部材を更に備え、前記伸縮部材保持部は、前記部材における前記筐体と接する領域との前記第１方向の距離が変動しない状態で、前記部材に取り付けられる。
【0085】
上述の態様によれば、所望の姿勢で伸縮部材保持部が検査対象コネクタの筐体と接触する部材に固定される。これにより、傾いた状態で検査治具と検査対象コネクタの取り付けが行われても、検査治具若しくは検査対象コネクタが破損することを防止出来る。
【符号の説明】
【0086】
１ 検査治具、２０ 基板保持部、２１ 下側保持部（ワークガイド、検査対象コネクタの筐体と接触する部材）、２１ａ コネクタ接触部、２３ 上側保持部（接続板）、２３ａ 右上側保持部材、２３ｂ 左上側保持部材、３０ 基板部、３１ 前側基板組立体、３１ａ 前側フレキシブル基板（可撓性基板）、３１ａ１ コネクタ接続端、３１ａ２ 保持部接続端、３１ａ２１ 孔、３１ａ３ パターン部、３１ａ４ 舌片、３１ｂ 前側コネクタ、３１ｃ 前側プローブ保持部（伸縮部材保持部）、３１ｃ１ プローブ受け部、３１ｃ１１ プローブ受け部の孔の上方、３１ｃ１２ プローブ受け部の孔の下方、３１ｄ 前側コネクタベース、３１ｆ 前側コネクタカバー、３１ｇ 前側プローブ群、３１ｈ 前側バネ（弾性部材）、３１ｉ 前側プッシュブロック（可動部材）、３２ 後側基板組立体、３２ａ 後側フレキシブル基板（可撓性基板）、３２ｂ 後側コネクタ、３２ｃ 後側プローブ保持部（伸縮部材保持部）、３２ｄ 後側コネクタベース、３２ｆ 後側コネクタカバー、３２ｇ 後側プローブ群、３２ｈ 後側バネ（弾性部材）、３２ｉ 後側プッシュブロック（可動部材）、４０ 水平位置調整部、４３ 支持部、４３ａ 右支持部材、４３ｂ 左支持部材、４５ ブラケット、４５ａ 第１領域、４５ｂ 第２領域、４５ｃ 第３領域、１００ 検査対象コネクタ、Ｐ プローブ（伸縮部材）、Ｐ１ 先端部、Ｐ２ バネ収容部、Ｓ スリット
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】