特開 2024-76673 二軸引張試験方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024076673

(43)【公開日】2024-06-06

(54)【発明の名称】二軸引張試験方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 3/04 20060101AFI20240530BHJP

   G01N 3/08 20060101ALI20240530BHJP

【ＦＩ】

G01N3/04 D

G01N3/08

【審査請求】未請求

【請求項の数】7

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022188352

(22)【出願日】2022-11-25

(71)【出願人】

【識別番号】000003148

【氏名又は名称】ＴＯＹＯ ＴＩＲＥ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000534

【氏名又は名称】弁理士法人真明センチュリー

(72)【発明者】

【氏名】石田 輝一

【テーマコード（参考）】

2G061

【Ｆターム（参考）】

2G061AA01

2G061AB09

2G061BA07

2G061CA10

2G061CB01

2G061CC03

2G061EA01

2G061EA02

2G061EA03

2G061EA04

2G061EB07

(57)【要約】

【課題】二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる二軸引張試験方法を提供すること。
【解決手段】複数の被挟持部４ａ～４ｄには、本体部３側を板厚方向に凹ませた段差７，９がそれぞれ形成されている。更に、複数のチャック２１には、各々のチャック２１で挟んだ被挟持部４ａ～４ｄの段差７，９の本体部３側に引っ掛かる爪２２，２４がそれぞれ形成されている。この段差７，９と爪２２，２４との引っ掛かりにより、二軸引張試験において被挟持部４ａ～４ｄに対しチャック２１を張出方向（被挟持部４ｂでは第２方向Ｄ２）へ滑らせ難くできる。よって、その滑りに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

板状の弾性体製の試験片を二軸引張試験機で引っ張ることにより前記試験片の二軸引張試験を行う二軸引張試験方法であって、
前記試験片は、矩形状の本体部と、
前記試験片の板厚方向から見て、前記本体部の四辺からそれぞれに垂直な張出方向へ張り出す複数の被挟持部と、を備え、
複数の前記被挟持部には、前記本体部側を前記板厚方向に凹ませた少なくとも１の段差がそれぞれ形成され、
前記二軸引張試験機は、複数の前記被挟持部をそれぞれ前記板厚方向に挟む複数のチャックと、
複数の前記チャックをそれぞれ移動させるアクチュエータと、を備え、
複数の前記チャックには、各々の前記チャックで挟んだ前記被挟持部の前記段差の前記本体部側に引っ掛かる少なくとも１の爪がそれぞれ形成され、
複数の前記チャックで複数の前記被挟持部をそれぞれ挟む取付ステップと、
前記取付ステップで挟まれた複数の前記被挟持部をそれぞれの前記張出方向へ、前記アクチュエータによる前記チャックの前記張出方向の移動によって引っ張り、前記二軸引張試験を行う試験ステップと、を備えることを特徴とする二軸引張試験方法。

【請求項2】

前記段差は、前記被挟持部から前記板厚方向に突出した凸部の前記本体部側の面によって形成され、
前記爪は、前記凸部に嵌まるように前記チャックに設けた凹部の前記本体部側の面によって形成されていることを特徴とする請求項１記載の二軸引張試験方法。

【請求項3】

前記チャックは、前記被挟持部に対して前記張出方向および前記板厚方向に垂直な幅方向の寸法が小さい、
前記凸部は、前記被挟持部の前記幅方向の全長に亘って形成されていることを特徴とする請求項２記載の二軸引張試験方法。

【請求項4】

前記被挟持部は、前記本体部から前記張出方向へ延びる薄板部と、
前記薄板部から前記張出方向へ延びて前記薄板部よりも板厚が厚い厚板部と、を備え、
前記段差は、前記薄板部と前記厚板部との板厚の差によって形成され、
前記チャックは、前記薄板部と非接触で前記厚板部を前記板厚方向に挟むことを特徴とする請求項１記載の二軸引張試験方法。

【請求項5】

前記チャックで挟まれた前記被挟持部の各々において、前記段差および前記爪は、前記張出方向および前記板厚方向に垂直な幅方向と平行に形成されていることを特徴とする請求項１記載の二軸引張試験方法。

【請求項6】

前記チャックは、前記被挟持部に対して前記張出方向および前記板厚方向に垂直な幅方向の寸法が小さい、
前記チャックで前記被挟持部を挟んだ状態において、前記チャックの前記幅方向の両側の前記被挟持部からそれぞれ一対の横凸部が前記板厚方向に突出していることを特徴とする請求項１記載の二軸引張試験方法。

【請求項7】

前記チャックで挟まれた前記被挟持部の各々において、前記段差および前記爪は、前記張出方向に複数並んでいることを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の二軸引張試験方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は二軸引張試験方法に関し、特に二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる二軸引張試験方法に関するものである。

【背景技術】

【0002】

板状の弾性体からなる試験片を、互いに直交する二軸の４方向に沿って引っ張ることにより、試験片の歪み－応力データを測定する二軸引張試験が知られている。例えば、従来の二軸引張試験では、試験片に対し４方向にそれぞれ配置した複数のチャックで試験片を挟み、それら複数のチャックをそれぞれアクチュエータで４方向に移動させることにより、試験片を４方向に引っ張る（特許文献１）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１７－１０２０７６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、試験片の平坦部分をチャックの平坦な面で挟む従来の二軸引張試験では、引張変形した試験片がポアソン効果によって薄くなり、チャックによる試験片の挟持力が低下してしまう。これにより、チャックに対し試験片が滑ることがあり、その滑りに起因して二軸引張試験の測定精度が低下するという問題点がある。

【0005】

本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる二軸引張試験方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

この目的を達成するために本発明の二軸引張試験方法は、板状の弾性体製の試験片を二軸引張試験機で引っ張ることにより前記試験片の二軸引張試験を行う方法であって、前記試験片は、矩形状の本体部と、前記試験片の板厚方向から見て、前記本体部の四辺からそれぞれに垂直な張出方向へ張り出す複数の被挟持部と、を備え、複数の前記被挟持部には、前記本体部側を前記板厚方向に凹ませた少なくとも１の段差がそれぞれ形成され、前記二軸引張試験機は、複数の前記被挟持部をそれぞれ前記板厚方向に挟む複数のチャックと、複数の前記チャックをそれぞれ移動させるアクチュエータと、を備え、複数の前記チャックには、各々の前記チャックで挟んだ前記被挟持部の前記段差の前記本体部側に引っ掛かる少なくとも１の爪がそれぞれ形成され、複数の前記チャックで複数の前記被挟持部をそれぞれ挟む取付ステップと、前記取付ステップで挟まれた複数の前記被挟持部をそれぞれの前記張出方向へ、前記アクチュエータによる前記チャックの前記張出方向の移動によって引っ張り、前記二軸引張試験を行う試験ステップと、を備える。

【発明の効果】

【0007】

請求項１記載の二軸引張試験方法によれば、まず取付ステップにおいて、二軸引張試験機の複数のチャックで試験片の複数の被挟持部をそれぞれ板厚方向に挟む。次の試験ステップでは、取付ステップで挟まれた複数の被挟持部を、試験片の本体部から被挟持部が張り出した方向である張出方向へそれぞれ引っ張り、二軸引張試験を行う。この被挟持部の引っ張りは、二軸引張試験機のアクチュエータで複数のチャックを張出方向へ移動させることによって行われるため、被挟持部に対してチャックが張出方向へ滑るおそれがある。この対策として、複数の被挟持部には、本体部側を板厚方向に凹ませた少なくとも１の段差がそれぞれ形成されている。更に、複数のチャックには、各々のチャックで挟んだ被挟持部の段差の本体部側に引っ掛かる少なくとも１の爪がそれぞれ形成されている。この段差と爪との引っ掛かりにより、二軸引張試験（試験ステップ）において被挟持部に対しチャックを張出方向へ滑らせ難くできる。よって、その滑りに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0008】

請求項２記載の二軸引張試験方法によれば、請求項１記載の二軸引張試験方法が奏する効果に加え、次の効果を奏する。被挟持部から板厚方向に突出した凸部の本体部側の面によって段差が形成されている。また、凸部に嵌まるようにチャックに設けた凹部の本体部側の面によって爪が形成されている。取付ステップにおいて凹部と凸部とを嵌め合うことで、被挟持部に対しチャックを張出方向に位置決めし易くでき、二軸引張試験中でなくても段差に爪を当て易くできる。これにより、二軸引張試験の初期段階で段差に爪が引っ掛かるまでの間、被挟持部に対してチャックが張出方向へ滑ることを抑制できる。よって、その滑りに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0009】

請求項３記載の二軸引張試験方法によれば、請求項２記載の二軸引張試験方法が奏する効果に加え、次の効果を奏する。チャックは、被挟持部に対して張出方向および板厚方向に垂直な幅方向の寸法が小さい。これにより、被挟持部の幅方向の変形がチャックで阻害され難くなる。更に、被挟持部の幅方向の全長に亘って凸部が形成されているため、凸部がリブのように被挟持部を補強する。これにより、チャックで挟まれた被挟持部の幅方向の一部が、チャックで挟まれない被挟持部の幅方向の他部に対しせん断方向へ変形することを抑制できる。よって、被挟持部の幅方向の全体を均一にチャックで引っ張り易いので、二軸引張試験の測定精度を向上できる。

【0010】

請求項４記載の二軸引張試験方法によれば、請求項１記載の二軸引張試験方法が奏する効果に加え、次の効果を奏する。被挟持部は、本体部から張出方向へ延びる薄板部と、薄板部から張出方向へ延びて薄板部よりも板厚が厚い厚板部と、を備える。この薄板部と厚板部との板厚の差によって段差が形成され、薄板部と非接触のチャックが厚板部を板厚方向に挟む。これにより、被挟持部のうちチャックで挟まれる部位（厚板部）の最も本体部側に爪が引っ掛って、厚板部の全体をチャックで引っ張り易くできると共に、薄板部がチャックで直接引っ張られないようにできる。これにより、チャックで引っ張られたときに張出方向に変形し易い部位が明確になり、二軸引張試験の測定精度を向上できる。

【0011】

請求項５記載の二軸引張試験方法によれば、請求項１記載の二軸引張試験方法が奏する効果に加え、次の効果を奏する。チャックで挟まれた被挟持部の各々において、段差および爪は、張出方向および板厚方向に垂直な幅方向と平行に形成されている。これにより、爪に対して段差を幅方向へ滑らせ易いため、爪と段差との幅方向の引っ掛かりが被挟持部の幅方向の変形を阻害することを抑制できる。その結果、被挟持部の幅方向の変形の阻害に起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0012】

請求項６記載の二軸引張試験方法によれば、請求項１記載の二軸引張試験方法が奏する効果に加え、次の効果を奏する。チャックは、被挟持部に対して張出方向および板厚方向に垂直な幅方向の寸法が小さい。これにより、被挟持部の幅方向の変形がチャックで阻害され難くなる。更に、チャックで被挟持部を挟んだ状態において、チャックの幅方向の両側の被挟持部からそれぞれ一対の横凸部が板厚方向に突出している。これにより、被挟持部に対してチャックを幅方向へずれ難くできる。よって、そのずれに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0013】

請求項７記載の二軸引張試験方法によれば、請求項１から６のいずれかに記載の二軸引張試験方法が奏する効果に加え、次の効果を奏する。チャックで挟まれた被挟持部の各々において、段差および爪は、張出方向に複数並んでいる。これにより、試験ステップ中に爪から段差へ付与される張出方向の引張力を張出方向の複数か所に分散でき、応力集中による被挟持部の破断などを抑制できる。

【図面の簡単な説明】

【0014】

【図1】第１実施形態における二軸引張試験機および試験片の平面図である。

【図2】図１のＩＩ－ＩＩ線における二軸引張試験機および試験片の部分拡大断面図である。

【図3】（ａ）は第２実施形態における二軸引張試験機および試験片の部分拡大平面図であり、（ｂ）は図３（ａ）のＩＩＩｂ－ＩＩＩｂ線における二軸引張試験機および試験片の部分拡大断面図である。

【図4】（ａ）は第３実施形態における二軸引張試験機および試験片の部分拡大平面図であり、（ｂ）は図４（ａ）のＩＶｂ－ＩＶｂ線における二軸引張試験機および試験片の部分拡大断面図であり、（ｃ）は図４（ｂ）に対し試験片を薄くした場合における二軸引張試験機および試験片の部分拡大断面図である。

【発明を実施するための形態】

【0015】

以下、好ましい実施形態について、添付図面を参照して説明する。図１は、第１実施形態における二軸引張試験機１０及び試験片２の平面図である。図２は、図１のＩＩ－ＩＩ線における二軸引張試験機１０及び試験片２の部分拡大断面図である。なお、図１では、断面コ字状のスライド部１１～１４の上面（図１紙面手前側の面）を省略している。また、説明の都合上、図２の紙面上方を上方、図２の紙面下方を下方として説明するが、図２の紙面上下方向が実際の上下方向とは限らない。

【0016】

図１に示すように、二軸引張試験機１０は、弾性体（例えばゴム）製の板状の試験片２に対し、二軸引張試験を行うためのものである。二軸引張試験とは、互いに直交する第１軸Ｘ及び第２軸Ｙそれぞれの軸方向へ試験片２を略均一に引っ張ることにより、試験片２の歪み－応力データを測定する試験である。

【0017】

なお、説明を簡略化するために以下の説明では。試験片２の板厚方向を単に板厚方向と言う。また、第１軸Ｘの軸方向のうち図１紙面左方向を第１方向Ｄ１、図１紙面右方向を第２方向Ｄ２と言う。第２軸Ｙの軸方向のうち図１紙面上方向を第３方向Ｄ３、図１紙面下方向を第４方向Ｄ４と言う。これらの４方向Ｄ１～Ｄ４は、いずれも板厚方向と垂直である。また、４方向Ｄ１～Ｄ４へ試験片２を略均一に引っ張って二軸引張試験を行うために、二軸引張試験機１０及び試験片２は、試験片２の中央に対する４方向Ｄ１～Ｄ４の各構成が略同一に構成されている。

【0018】

試験片２は、略一定な板厚（板厚方向の寸法）を有する矩形状の本体部３と、本体部３から張り出す複数の被挟持部４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄと、を備える。本体部３は、第２軸Ｙに平行な第１方向Ｄ１側の辺３ａと、第２軸Ｙに平行な第２方向Ｄ２側の辺３ｂと、第１軸Ｘに平行な第３方向Ｄ３側の辺３ｃと、第１軸Ｘに平行な第４方向Ｄ４側の辺３ｄと、を備える。これらの辺３ａ～３ｄ（四辺）は互いに長さが同一であり、本体部３は正方形状に構成される。なお、各辺３ａ～３ｄの長さを異ならせて本体部３を長方形状にしても良い。

【0019】

複数の被挟持部４ａは、辺３ａから、辺３ａに垂直な方向であって板厚方向に垂直な第１方向Ｄ１（張出方向）へそれぞれ張り出す。複数の被挟持部４ａは、第２軸Ｙの軸方向Ｄ３，Ｄ４（幅方向）に間隔を空けて並び、互いに形状および寸法が同一に構成されている。

【0020】

以下同様に、複数の被挟持部４ｂは、辺３ｂから、辺３ｂに垂直な方向であって板厚方向に垂直な第２方向Ｄ２（張出方向）へそれぞれ張り出す。複数の被挟持部４ｂは、第２軸Ｙの軸方向Ｄ３，Ｄ４（幅方向）に間隔を空けて並び、互いに形状および寸法が同一に構成されている。

【0021】

複数の被挟持部４ｃは、辺３ｃから、辺３ｃに垂直な方向であって板厚方向に垂直な第３方向Ｄ３（張出方向）へそれぞれ張り出す。複数の被挟持部４ｃは、第１軸Ｘの軸方向Ｄ１，Ｄ２（幅方向）に間隔を空けて並び、互いに形状および寸法が同一に構成されている。

【0022】

複数の被挟持部４ｄは、辺３ｄから、辺３ｄに垂直な方向であって板厚方向に垂直な第４方向Ｄ４（張出方向）へそれぞれ張り出す。複数の被挟持部４ｄは、第１軸Ｘの軸方向Ｄ１，Ｄ２（幅方向）に間隔を空けて並び、互いに形状および寸法が同一に構成されている。

【0023】

被挟持部４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄの各々は、幅方向の寸法である幅Ｗ１が張出方向に亘って一定である。被挟持部４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄの各々は、本体部３から張出方向へ延びる薄板部５と、薄板部５から張出方向へ延びる厚板部６と、を備える。

【0024】

図２には被挟持部４ｂを含む断面が示されているが、被挟持部４ａ，４ｃ，４ｄの断面も被挟持部４ｂの断面と略同一に構成される。図１及び図２に示すように、薄板部５は、本体部３の板厚と略同一の板厚を有する矩形状の部位である。これにより、薄板部５の剛性が本体部３の剛性と略同一となるため、本体部３の４方向Ｄ１～Ｄ４への引張変形が薄板部５で阻害されることを抑制できる。

【0025】

厚板部６は、薄板部５のうち本体部３とは反対側の縁に連なる矩形状の部位であり、本体部３及び薄板部５よりも板厚が大きく形成されている。被挟持部４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄの各々には、この薄板部５と厚板部６との板厚の差によって、本体部３側を板厚方向に凹ませた段差７が板厚方向の両面にそれぞれ形成されている。

【0026】

なお、厚板部６は、本体部３及び薄板部５に対し、板厚が大きいため剛性が大きい。しかし、厚板部６は薄板部５を介して本体部３に連結されているため、厚板部６の変形のし難さが本体部３の４方向Ｄ１～Ｄ４への引張変形に影響することを抑制できる。また、本体部３の各辺３ａ～３ｄに設けられる複数の被挟持部４ａ～４ｄが幅方向に間隔を空けて並んでいる。そのため、厚板部６によって被挟持部４ａ～４ｄが幅方向に若干変形し難くなっても、複数の被挟持部４ａ～４ｄ（厚板部６）の間隔を変動させることにより、被挟持部４ａ～４ｄの各々の幅方向（４方向Ｄ１～Ｄ４）へ本体部３を引張変形させ易くできる。

【0027】

厚板部６の両面からは、板厚方向に凸部８がそれぞれ突出する。この凸部８は、厚板部６の幅方向の全長に亘って形成されている。更に、凸部８は、厚板部６の片面ごとに２本ずつが張出方向に離れて配置されている。この凸部８の本体部３側の面によっても、本体部３側を板厚方向に凹ませた段差９が形成されている。段差７，９及び凸部８はいずれも、各々が設けられる被挟持部４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄの幅方向と平行に形成されている。

【0028】

二軸引張試験機１０は、第２軸Ｙと平行に延びて試験片２の第１方向Ｄ１側に配置されるスライド部１１と、第２軸Ｙと平行に延びて試験片２の第２方向Ｄ２側に配置されるスライド部１２と、第１軸Ｘと平行に延びて試験片２の第３方向Ｄ３側に配置されるスライド部１３と、第１軸Ｘと平行に延びて試験片２の第４方向Ｄ４側に配置されるスライド部１４と、スライド部１１～１４をそれぞれ移動させる複数のアクチュエータ１５と、スライド部１１～１４にそれぞれスライド可能に固定される複数のスライダ１６と、複数のスライダ１６にそれぞれ取り付けられて試験片２を挟む複数のチャック２１と、を備える。

【0029】

スライド部１１，１２は、試験片２側に開口するよう、第２軸Ｙに垂直な断面がコ字状に形成される部材であって、そのコ字状の断面の中央に第２軸Ｙと平行な棒状の固定部１１ａ，１２ａがそれぞれ設けられている。スライド部１３，１４は、試験片２側に開口するよう、第１軸Ｘに垂直な断面がコ字状に形成される部材であって、そのコ字状の断面の中央に第１軸Ｘと平行な棒状の固定部１３ａ，１４ａがそれぞれ設けられている。

【0030】

スライド部１１～１４は、試験片２に対する二軸引張試験において変形が無視できる程度の剛性、即ち試験片２に対して十分に大きな剛性を有する素材（例えば金属や樹脂、セラミックス）によって形成されている。以下、このような剛性を有する素材を剛体材と言う。

【0031】

アクチュエータ１５は、スライド部１１～１４それぞれに個別に設けられるエアシリンダである。各アクチュエータ１５は、図示しないベースに固定されるシリンダ１５ａと、そのシリンダ１５ａから突出してスライド部１１～１４のいずれか１に固定されるロッド１５ｂと、を備える。

【0032】

アクチュエータ１５は、シリンダ１５ａに対しロッド１５ｂを進退させて伸縮することで、スライド部１１，１２を第１軸Ｘの軸方向Ｄ１，Ｄ２へ移動させる。同様に、アクチュエータ１５は、伸縮によって、スライド部１３，１４を第２軸Ｙの軸方向Ｄ３，Ｄ４へ移動させる。

【0033】

複数のスライダ１６は、スライド部１１～１４それぞれに４つずつ設けられる剛体材である。スライダ１６は、スライド部１１～１４それぞれから試験片２へ向かって垂直に突出している。スライダ１６は、固定部１１ａ～１４ａそれぞれにスライド可能に固定されている。即ち、スライド部１１，１２に設けたスライダ１６は、第２軸Ｙの軸方向Ｄ３，Ｄ４にスライド可能である。スライド部１３，１４に設けたスライダ１６は、第１軸Ｘの軸方向Ｄ１，Ｄ２にスライド可能である。

【0034】

複数のチャック２１は、１枚の試験片２と複数のスライダ１６とをそれぞれ連結する長手形状の剛体材である。本実施形態では、１つのスライダ１６の上下両側に１つずつチャック２１が設けられている。上下一対のチャック２１で１つの被挟持部４ａ～４ｄの厚板部６が板厚方向（上下方向）に挟まれる。

【0035】

チャック２１は、長手方向の一端部がボルト２５でスライダ１６に着脱可能に固定され、長手方向の他端部が被挟持部４ａ～４ｄを挟む。なお実際は、被挟持部４ａ～４ｄの板厚に応じてチャック２１による被挟持部４ａ～４ｄの挟持力を調整できるように、スライダ１６に対するチャック２１の固定構造が設計されているが、その固定構造は既知であるため図示および説明を省略する。その挟持力は、チャック２１が被挟持部４ａ～４ｄに軽く当てる程度で良く、被挟持部４ａ～４ｄを板厚方向に強く圧縮しなくても良い。

【0036】

チャック２１は、基本的に、チャック２１自身が取り付けられるスライダ１６と平行に延び、チャック２１自身が挟む被挟持部４ａ～４ｄの張出方向と平行に延びるように向きが調整される。そこで、チャック２１の長手方向であって本体部３から離れる方向を、被挟持部４ａ～４ｄと同様に張出方向とする。また、その張出方向および上下方向（板厚方向）に垂直な方向を幅方向とする。

【0037】

チャック２１の幅方向の寸法である幅Ｗ２は、少なくとも被挟持部４ａ～４ｄを挟む部位の張出方向に亘って一定である。この幅Ｗ２は、被挟持部４ａ～４ｄの幅Ｗ１よりも小さい。この幅Ｗ１，Ｗ２の関係によって、被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の変形がチャック２１で阻害され難くなり、各々の幅方向（４方向Ｄ１～Ｄ４）への本体部３の引張変形が阻害され難くなる。特に、幅Ｗ２が幅Ｗ１の１／２～１／３である場合に、被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の変形がチャック２１でより阻害され難くなり、本体部３の引張変形がより阻害され難くなる。

【0038】

複数のチャック２１には、各々のチャック２１で挟んだ被挟持部４ａ～４ｄの段差７，９の本体部３側に引っ掛かる複数の爪２２，２４がそれぞれ形成されている。爪２２は、段差７に引っ掛かる部位であり、チャック２１の本体部３側の端部から薄板部５へ向かって張り出す。この爪２２を含むチャック２１は、厚板部６を挟む一方で、薄板部５とは非接触となるように寸法が設定される。また、爪２２は、段差７に引っ掛かる部位がチャック２１の幅方向と平行に形成されている。

【0039】

チャック２１には、厚板部６の凸部８に嵌まる凹部２３が設けられる。この凹部２３は、チャック２１の幅方向の全長に亘って形成され、幅方向に開口している。更に、凹部２３は、チャック２１の各々に２本ずつが張出方向に離れて配置されている。この凹部２３の本体部３側の面によって、段差９に引っ掛かる爪２４が形成される。凹部２３（爪２４）は、チャック２１の幅方向と平行に形成されている。

【0040】

次に、二軸引張試験機１０及び試験片２を用いた二軸引張試験方法について説明する。まず、複数のチャック２１で複数の被挟持部４ａ～４ｄの厚板部６をそれぞれ板厚方向に挟む（取付ステップ）。この取付ステップでは、チャック２１の凹部２３に被挟持部４ａ～４ｄの凸部８をそれぞれ嵌める。また、被挟持部４ａ～４ｄの段差７の本体部３側にチャック２１の爪２２を位置させる。

【0041】

取付ステップ後は、アクチュエータ１５を短縮させて、試験片２から離れる４方向Ｄ１～Ｄ４それぞれへスライド部１１～１４を移動させ、チャック２１を各々の張出方向へ移動させる（予備引張ステップ）。これにより、チャック２１の複数の爪２２，２４が被挟持部４ａ～４ｄの複数の段差７，９にそれぞれ引っ掛かりつつ、複数のチャック２１で挟まれた複数の被挟持部４ａ～４ｄがそれぞれの張出方向へ引っ張られる。この引っ張りによって試験片２に予備引張荷重が付与され、複数の被挟持部４ａ～４ｄに引っ張られた本体部３が４方向Ｄ１～Ｄ４に引張変形する。なお、予備引張荷重の大きさは４方向Ｄ１～Ｄ４で同一に設定される。また、本体部３の引張変形に応じて、幅方向に並んだ複数の被挟持部４ａ～４ｄ、チャック２１及びスライダ１６の間隔も広がる。

【0042】

予備引張ステップは、試験片２に予備引張荷重を所定時間付与した後、アクチュエータ１５を伸長させて、予備引張ステップ以前の状態に戻す。ゴム製の試験片２に分子鎖の絡まりがある場合、この予備引張ステップによって分子鎖の絡まりを取ることができる。これにより、分子鎖の絡まりによる二軸引張試験の測定結果（歪み－応力データ）への影響を抑制できる。

【0043】

予備引張ステップの後は、再びアクチュエータ１５を短縮させて、試験片２を４方向Ｄ１～Ｄ４へそれぞれ引張変形させることにより、試験片２の二軸引張試験を行う（試験ステップ）。この試験ステップにおける試験片２の引張変形は、引張荷重の大きさが異なる点以外は予備引張ステップにおける試験片２の引張変形と同一である。

【0044】

二軸引張試験（歪み－応力データ）の評価方法には、既知の方法を用いる。その既知の方法としては例えば、試験片２の本体部３に予め複数の計測点を書き記し、試験片２の引張変形による計測点の間隔の変化を画像処理で計測する方法が挙げられる。この方法では、計測点の間隔の変化を歪みとし、引張荷重を応力として歪み－応力データを算出する。当然、これ以外の既知の方法で二軸引張試験の歪み－応力データを算出しても良い。また、試験片２に波打ちがある場合には、波打ちが除去されるまで試験片２を引張変形させた状態を無荷重状態として、歪み－応力データを算出する。

【0045】

ここで、爪２２，２４や段差７，９が無い従来の二軸引張試験では、被挟持部４ａ～４ｄをチャック２１で挟んで張出方向へ引っ張るときに、被挟持部４ａ～４ｄに対してチャック２１が張出方向へ滑るおそれがある。この滑りが生じると、滑りが生じない場合に対して歪みが小さくなり、二軸引張試験の測定精度が低下してしまう。

【0046】

これに対し、本実施形態では、被挟持部４ａ～４ｄをチャック２１で引っ張る二軸引張試験時に、チャック２１の爪２２，２４が被挟持部４ａ～４ｄの段差７，９に引っ掛かるため、被挟持部４ａ～４ｄに対しチャック２１を張出方向へ滑らせ難くできる。よって、その滑りに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0047】

薄板部５と非接触のチャック２１が厚板部６を挟み、薄板部５と厚板部６との板厚の差によって形成された段差７にチャック２１の爪２２が引っ掛かる。これにより、被挟持部４ａ～４ｄのうちチャック２１で挟まれる部位（厚板部６）の最も本体部３側に爪２２が引っ掛って、厚板部６の全体をチャック２１で引っ張り易くできると共に、薄板部５がチャック２１で直接引っ張られないようにできる。これにより、チャック２１で張出方向に被挟持部４ａ～４ｄが引っ張られたとき、厚板部６が張出方向に変形し難く、薄板部５が変形し易いことが明確になる。この変形し易い部位が被挟持部４ａ～４ｄの各々で略同一であるため、被挟持部４ａ～４ｄを介した本体部３の４方向Ｄ１～Ｄ４への引張変形を均一化でき、二軸引張試験の測定精度を向上できる。

【0048】

爪２４を形成する凹部２３と、段差９を形成する凸部８とが嵌まり合うので、被挟持部４ａ～４ｄに対しチャック２１を張出方向に位置決めし易くでき、二軸引張試験中でなくても段差９に爪２４を当て易くできる。これにより、二軸引張試験の初期段階で段差９に爪２４が引っ掛かるまでの間、被挟持部４ａ～４ｄに対してチャック２１が滑ることを抑制できる。よって、その滑りに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0049】

チャック２１は被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の中央を挟み、チャック２１から被挟持部４ａ～４ｄの一部が幅方向に張り出している。また、被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の全長に亘って凸部８が形成されているため、凸部８がリブのように被挟持部４ａ～４ｄを補強する。これにより、チャック２１で挟まれた被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の中央部分が、チャック２１で挟まれない被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の両端部分に対しせん断方向へ変形することを抑制できる。よって、この被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の全体を均一にチャック２１で引っ張り易いので、二軸引張試験の測定精度を向上できる。

【0050】

幅方向視において、凸部８及び凹部２３が矩形状であり、凸部８の段差９及び凹部２３の爪２４が張出方向と垂直に形成されている。これにより、爪２４から段差９へ張出方向の引張力が伝達されたとき、凸部８が厚板部６側へ埋まるような力を生じさせ難くできる。よって、凸部８を含む試験片２が比較的柔らかくても、凸部８が厚板部６側へ埋まって爪２４から段差９が外れることを抑制できる。

【0051】

チャック２１で挟まれた被挟持部４ａ～４ｄの各々において、段差７，９及び爪２２，２４はそれぞれ幅方向と平行に形成されている。これにより、爪２２，２４に対して段差７，９を幅方向へ滑らせ易いため、爪２２，２４と段差７，９との幅方向の引っ掛かりが被挟持部４ａ～４ｄの幅方向の変形を阻害することを抑制できる。その結果、被挟持部４ａ～４ｄの変形の阻害に起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0052】

また、チャック２１で挟まれた被挟持部４ａ～４ｄの各々において、段差７，９及び爪２２，２４は張出方向に複数並んでいる。これにより、二軸引張試験中に爪２２，２４から段差７，９へ付与される張出方向の引張力を張出方向の複数か所に分散でき、応力集中による被挟持部４ａ～４ｄの破断などを抑制できる。

【0053】

次に図３（ａ）及び図３（ｂ）を参照して第２実施形態について説明する。第１実施形態に対し、第２実施形態では、被挟持部３１に対しチャック４６を幅方向に位置決めするための横凸部３４が被挟持部３１に設けられた場合について説明する。なお、第１実施形態と同一の部分については、同一の符号を付して以下の説明を省略する。

【0054】

図３（ａ）は第２実施形態における二軸引張試験機４０及び試験片３０の部分拡大平面図である。図３（ｂ）は図３（ａ）のＩＩＩｂ－ＩＩＩｂ線における二軸引張試験機４０及び試験片３０の部分拡大断面図である。

【0055】

試験片３０は、第１実施形態における試験片２に対し、被挟持部４ａ～４ｄの各々を第２実施形態における被挟持部３１に変更したものである。図示しないが、複数の被挟持部３１は、試験片３０の本体部３の各辺３ａ～３ｄ（図１参照）からそれぞれの張出方向へ張り出している。複数の被挟持部３１の数や配置は、第１実施形態における被挟持部４ａ～４ｄの数や配置と同一である。

【0056】

なお、図３（ａ）及び図３（ｂ）には、本体部３の辺３ｂから第２方向Ｄ２（張出方向）へ張り出した１つの被挟持部３１が拡大して図示されている。図３（ａ）及び図３（ｂ）には、本体部３や、辺３ｂから張り出す他の被挟持部３１、辺３ａ，３ｃ，３ｄから張り出す被挟持部３１の図示が省略されている。なお、図示しない被挟持部３１は、図３（ａ）及び図３（ｂ）に図示した被挟持部３１に対し、向き以外は同一に構成されている。

【0057】

被挟持部３１は、張出方向および板厚方向（図３（ｂ）の上下方向）に垂直な幅方向の寸法である幅Ｗ１が張出方向に亘って一定である。被挟持部３１は、本体部３（図３（ｂ）の左側）から張出方向へ延びる薄板部５と、薄板部５から張出方向へ延びる厚板部６と、を備える。薄板部５よりも厚板部６の板厚が大きいことによって、被挟持部３１の板厚方向の両面には、本体部３側を板厚方向に凹ませた段差７が形成されている。

【0058】

厚板部６の両面からは、板厚方向に凸部３２及び一対の横凸部３４がそれぞれ突出する。この凸部３２は、厚板部６の幅方向の全長に亘って形成されている。更に、凸部３２は、厚板部６の片面ごとに２本ずつが張出方向に離れて配置されている。この凸部３２の本体部３側の面によって、本体部３側を板厚方向に凹ませた段差３３が形成されている。段差３３及び凸部３２は幅方向と平行に形成されている。また、幅方向視において、凸部３２は厚板部６から半円状に突出している。

【0059】

一対の横凸部３４は、厚板部６の幅方向に互いに離隔して配置され、厚板部６の張出方向の全長に亘って形成されている。一対の横凸部３４同士の間隔は、後述のチャック４６，４７の幅Ｗ２よりも若干大きく形成されている。

【0060】

二軸引張試験機４０は、第１実施形態における二軸引張試験機１０に対し、スライダ１６及びチャック２１の各々を第２実施形態におけるスライダ４１及びチャック４６，４７に変更したものである。図３（ａ）及び図３（ｂ）には、試験片３０の図示と同様に、１つの被挟持部３１を挟む上下一対のチャック４６，４７と、そのチャック４６，４７が取り付けられる１つのスライダ４１とが図示され、他のチャック４６，４７及びスライダ４１の図示は省略されている。なお図示しないチャック４６，４７及びスライダ４１は、図示したチャック４６，４７及びスライダ４１に対し、向き以外は同一に構成されている。

【0061】

スライダ４１は、スライド部１１～１４（図１参照）それぞれから試験片３０へ向かって垂直に突出する剛体材である。スライダ４１のうち試験片３０側の先端部４２は、上下方向視においてスライダ４１の突出方向（第１方向Ｄ１）に垂直な方向（第３方向Ｄ３及び第４方向Ｄ４）へ延びた直方体状に形成されている。

【0062】

先端部４２の下面（図３（ｂ）下側の面）は、第１軸Ｘ及び第２軸Ｙと平行な平坦面である。先端部４２の上面（図３（ｂ）上側の面）には、第２方向Ｄ２の縁から全長に亘って上方へ突出するストッパ４３と、第１方向Ｄ１の縁のうち中央部を除いた部分から上方へ突出する一対のストッパ４４と、が設けられている。

【0063】

チャック４６，４７は、試験片３０の被挟持部３１とスライダ４１の先端部４２とを連結する剛体材である。チャック４６の長手方向の一端部がスライダ４１の上面にボルト２５で固定され、チャック４７の長手方向の一端部がスライダ４１の下面にボルト２５で固定される。この上下一対のチャック４６，４７の長手方向の他端部で被挟持部３１が板厚方向（上下方向）に挟まれる。

【0064】

チャック４６，４７は、長手方向および上下方向に垂直な幅方向の寸法である幅Ｗ２が、被挟持部３１を挟む部位の張出方向に亘って一定である。この幅Ｗ２は、被挟持部３１の幅Ｗ１よりも小さく、一対の横凸部３４の間隔よりも若干小さい。そのため、チャック４６，４７で被挟持部３１を挟むとき、一対の横凸部３４の間にチャック４６，４７を配置することで、被挟持部３１に対するチャック４６，４７の幅方向の位置決めを容易にできる。

【0065】

更に、チャック４６，４７で被挟持部３１を挟んだ状態において、チャック４６，４７の幅方向の両側にそれぞれ横凸部３４が位置するので、被挟持部３１に対してチャック４６，４７を幅方向へずれ難くできる。よって、そのずれに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0066】

チャック４６，４７には、厚板部６の凸部３２に嵌まる凹部４８が設けられる。この凹部４８は、チャック４６，４７の幅方向の全長に亘って形成され、幅方向に開口している。更に、凹部４８は、チャック４６，４７の各々に２本ずつが張出方向に離れて配置されている。この凹部４８の本体部３側の面によって、段差３３に引っ掛かる爪４９が形成される。凹部４８（爪４９）は、チャック４６，４７の幅方向と平行に形成されている。

【0067】

第２実施形態でも第１実施形態と同様に、チャック４６，４７で被挟持部３１を張出方向へ引っ張る二軸引張試験を行うとき、チャック４６，４７の爪４９が被挟持部３１の段差３３に引っ掛かる。そのため、被挟持部３１に対しチャック４６，４７を張出方向へ滑らせ難くできる。よって、その滑りに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0068】

幅方向視において、凸部３２及び凹部４８が半円状であるため、凹部４８の爪４９から凸部３２の段差３３へ張出方向の引張力が伝達されるとき、凸部３２が厚板部６側へ埋まるような成分の力が生じ易くなる。その結果、凸部３２と厚板部６との境界部分に応力が集中することを抑制でき、凸部３２を破断し難くできる。なお、凸部３２を厚板部６に埋まり難くして爪４９と段差３３との引っ掛かりを維持できるよう、試験片３０を構成する弾性体を比較的硬くすることが好ましい。

【0069】

チャック４６は、上下方向視において、長手方向の一端部（ボルト２５側）から幅方向の両側へ張出部４６ａがそれぞれ突出してＴ字状に形成される。この張出部４６ａがストッパ４３，４４の間に配置され、一対のストッパ４４の間をチャック４６が通る。これにより、スライダ４１に対しボルト２５を中心としたチャック４６の回転がストッパ４３，４４によって規制される。

【0070】

チャック４７には、チャック４６側へ突出する突起４７ａが形成されている。この突起４７ａは、チャック４７がスライダ４１の先端部４２に取り付けられた状態で、先端部４２の試験片３０側の面に接触する。これにより、スライダ４１に対しボルト２５を中心としたチャック４７の回転が突起４７ａによって規制される。

【0071】

これらのチャック４６，４７の回転の規制により、板厚方向視において被挟持部３１の張出方向とチャック４６，４７の長手方向とがずれるように、被挟持部３１とチャック４６，４７との接触部分が回転して滑ることを抑制できる。よって、この滑りに起因して爪４９と段差３３との引っ掛かりが解除されることを抑制できる。

【0072】

次に図４（ａ）から図４（ｃ）を参照して第３実施形態について説明する。第１実施形態に対し、第３実施形態では、互いに引っ掛かる段差５３及び爪６５が被挟持部５１の幅方向と非平行である場合について説明する。なお、第１実施形態と同一の部分については、同一の符号を付して以下の説明を省略する。

【0073】

図４（ａ）は第３実施形態における二軸引張試験機６０及び試験片５０の部分拡大平面図である。図４（ｂ）は図４（ａ）のＩＶｂ－ＩＶｂ線における二軸引張試験機６０及び試験片５０の部分拡大断面図である。図４（ｃ）は図４（ｂ）に対し試験片７０を薄くした場合における二軸引張試験機６０及び試験片７０の部分拡大断面図である。

【0074】

図４（ａ）及び図４（ｂ）に示すように、試験片５０は、第１実施形態における試験片２に対し、被挟持部４ａ～４ｄの各々を第３実施形態における被挟持部５１に変更したものである。二軸引張試験機６０は、第１実施形態における二軸引張試験機１０に対し、スライダ１６及びチャック２１の各々を第３実施形態におけるスライダ６１及びチャック６３に変更したものである。これらの各部の関係は、第１実施形態と第２実施形態との各部の関係と同一であるため、説明を省略する。図４（ａ）及び図４（ｂ）には、第２方向Ｄ２側の被挟持部５１、スライダ６１及びチャック６３の一部のみが図示されている。

【0075】

被挟持部５１は、張出方向（例えば第２方向Ｄ２）及び板厚方向（図４（ｂ）の上下方向）に垂直な幅方向の寸法である幅Ｗ１が張出方向に亘って一定である。被挟持部５１は、本体部３（図４（ｂ）の左側）から張出方向へ延びる薄板部５と、薄板部５から張出方向へ延びる厚板部６と、を備える。薄板部５よりも厚板部６の板厚が大きいことによって、被挟持部５１の板厚方向の両面には、本体部３側を板厚方向に凹ませた段差７が形成されている。

【0076】

厚板部６の両面からは、板厚方向に凸部５２がそれぞれ１本ずつ突出する。この凸部５２の本体部３側の面によって、本体部３側を板厚方向に凹ませた段差５３が形成されている。幅方向に垂直な断面において、凸部５２が矩形状であり、段差５３が張出方向と垂直に形成されている。凸部５２及び段差５３は、板厚方向視において、幅方向の中央側へ向かうにつれて張出方向へ傾斜するＶ字状に形成されている。

【0077】

スライダ６１は、スライド部１１～１４（図１参照）それぞれから試験片５０へ向かって垂直に突出する剛体材である。スライダ６１のうち試験片５０側の先端部から試験片５０側へ調整部６２が突出している。調整部６２の上面は、スライダ６１の先端部の上面と面一に形成される。一方、調整部６２の下面は、スライダ６１の先端部の下面に対し段差状に凹んでいる。スライダ６１の先端部と調整部６２とには、それぞれボルト２５を取り付け可能なボルト孔６１ａ，６２ａが上下方向に貫通形成されている。

【0078】

チャック６３は、試験片５０の被挟持部５１とスライダ６１とを連結する剛体材である。チャック６３の長手方向の一端部が、ボルト孔６１ａに取り付けたボルト２５によってスライダ６１の先端部に固定される。この上下一対のチャック６３の長手方向の他端部で被挟持部５１が板厚方向（上下方向）に挟まれる。

【0079】

チャック６３は、長手方向および上下方向に垂直な幅方向の寸法である幅Ｗ２が、被挟持部５１を挟む部位の張出方向に亘って一定である。この幅Ｗ２は、被挟持部５１の幅Ｗ１よりも小さい。

【0080】

チャック６３には、チャック６３自身が挟んだ被挟持部５１の段差５３の本体部３側に引っ掛かる爪６５が形成されている。チャック６３の厚板部６側の面を凹ませて凹部６４が形成され、この凹部６４の本体部３側の面によって爪６５が形成されている。凹部６４には、厚板部６から突出する凸部５２が収容される。凹部６４は、チャック６３の幅方向の全長に亘って形成され、幅方向に開口している。

【0081】

第３実施形態でも第１実施形態と同様に、チャック６３で被挟持部５１を張出方向へ引っ張る二軸引張試験を行うとき、チャック６３の爪６５が被挟持部５１の段差５３に引っ掛かる。そのため、被挟持部５１に対しチャック６３を張出方向へ滑らせ難くできる。よって、その滑りに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0082】

段差５３及び爪６５は、板厚方向視において、互いに同一形状であり、幅方向の中央側へ向かうにつれて張出方向へ傾斜するＶ字状に形成されている。この傾斜によって、チャック６３で被挟持部５１を引っ張るとき、段差５３及び爪６５のＶ字の溝底が互いに一致するように、被挟持部５１とチャック６３とが幅方向に位置決めされる。よって、被挟持部５１とチャック６３との幅方向のずれに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0083】

また、凹部６４は、凸部５２のスライダ６１側（本体部３とは反対側）の面がチャック６３に接触しないよう、張出方向に延びて形成されている。これにより、二軸引張試験時において、Ｖ字状の凸部５２が幅方向に広がろうとする被挟持部５１の幅方向の変形が、チャック６３で阻害されることを抑制できる。よって、この被挟持部５１の変形の阻害に起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。

【0084】

二軸引張試験機６０では、図４（ｂ）における下側のチャック６３を、図４（ｃ）におけるチャック６６に代えることで、試験片５０に対して異なる板厚の試験片７０を挟むことができる。具体的に試験片７０は、試験片５０に対し、本体部３、薄板部５及び厚板部６の板厚がいずれも薄く構成されている。また、試験片７０の厚板部６からは凸部５２が突出していない。試験片７０において、薄板部５と厚板部６との板厚の差によって形成される段差５３は、試験片５０の段差５３と同一に形成されている。

【0085】

チャック６６は、チャック６３に対し長手方向の一端部側（スライダ６１側）の一部を省略して短くしたものであり、寸法以外はチャック６３と同一に構成されている。チャック６６の長手方向の一端部は、スライダ６１のうち段差状に凹んだ調整部６２の下面に、ボルト孔６２ａに取り付けたボルト２５によって固定される。このとき、上側のチャック６３の爪６５と下側のチャック６６の爪６５とが張出方向の同じ位置に設定されるよう、チャック６３，６６の長さが調整されている。

【0086】

この上下一対のチャック６３，６６の凹部６４の底面で試験片７０の厚板部６を板厚方向に挟み、段差５３に爪６５を引っ掛けることで、試験片７０の被挟持部７１がチャック６３，６６に取り付けられる。また、試験片７０に代えて、試験片５０の板厚を全体的に薄くした試験片の厚板部６を、上下一対のチャック６３，６６の爪６５よりも本体部３側の面で挟んでも良い。

【0087】

このように、スライダ６１の下面へのチャック６３，６６の取付位置を変え、その取付位置に合わせた長さのチャック６３，６６を用いることで、試験片５０，７０が挟まれる一対のチャック６３，６６の間隔を容易に調整できる。これにより、二軸引張試験が可能な試験片５０，７０の厚さの自由度を向上できる。

【0088】

以上、実施形態に基づき本発明を説明したが、本発明は上記実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良変形が可能であることは容易に推察できるものである。例えば、チャック２１，４６，４７，６３，６６をボルト２５でスライダ１６，４１，６１に着脱可能に取り付ける場合に限らず、その取付方法を適宜変更しても良い。幅方向視において凸部８，３２，５２及び凹部２３，４８，６４を楕円状や台形状などに形成しても良い。

【0089】

上記実施形態では、別々のアクチュエータ１５で試験片２,３０，５０，７０を４方向Ｄ１～Ｄ４へそれぞれ引っ張る場合について説明したが、既知の別の機構を用いて試験片２,３０，５０，７０を４方向Ｄ１～Ｄ４へそれぞれ引っ張っても良い。この機構としては例えば以下のものが挙げられる。板厚方向視において、一対のスライド部１１，１２それぞれから互いに向かってハの字に４５°の傾斜で広がる計４本のシャフトを設ける。この各シャフトに、一対のスライド部１３，１４の両端をそれぞれスライド可能に固定する。これにより、１つのアクチュエータ１５で一対のスライド部１１，１２の間隔を広げるだけで、シャフト上をスライドする一対のスライド部１３，１４の間隔も広がり、試験片２を４方向Ｄ１～Ｄ４へ引っ張ることができる。また、アクチュエータ１５は、エアシリンダである場合に限らず、油圧式や電気式のものとしても良い。

【0090】

上記実施形態では、スライド部１１～１４にそれぞれ４つのスライダ１６，４１，６１がスライド可能に固定される場合について説明したが、スライダ１６，４１，６１の数は適宜変更しても良い。更に、この１つのスライダ１６，４１，６１ごとに上下一対のチャック２１，４６，４７，６３，６６を設ければ良い。また、試験片２,３０，５０，７０の４方向Ｄ１～Ｄ４にそれぞれ１つずつスライダ１６，４１，６１を設ける場合には、スライド部１１～１４を省略し、スライダ１６，４１，６１をアクチュエータ１５に取り付けても良い。

【0091】

上記実施形態では、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１，７１の板厚方向の両側にそれぞれ設けた段差７，９，３３，５３に、チャック２１，４６，４７，６３，６６の爪２２，２４，４９，６５を引っ掛ける場合について説明したが、これに限らない。例えば、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１，７１の片面側の段差７，９，３３，５３のみに爪２２，２４，４９，６５を引っ掛けても良い。

【0092】

また、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１，７１の片面に設けられる段差７，９，３３，５３の数や、段差７，９，３３，５３に引っ掛かる爪２２，２４，４９，６５の数を適宜変更しても良い。例えば、被挟持部４ａ～４ｄ，３１に段差９，３３（凸部８，３２）を張出方向に３つ以上並んで設け、その段差９，３３の少なくとも１つに爪２４，４９を引っ掛けても良い。また、被挟持部４ａ～４ｄから段差９（凸部８）を省略し、被挟持部４ａ～４ｄの段差７のみに爪２２を引っ掛けても良い。厚板部６（段差７）を省略し、薄板部５に凸部８，３２，５２（段差９，３３，５３）を設けても良い。

【0093】

上記実施形態では、本体部３の各辺３ａ～３ｄにそれぞれ設けられる複数の被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１，７１が幅方向に間隔を空けて並ぶ場合について説明したが、これに限らない。例えば、複数の厚板部６のみを幅方向に間隔を空けて並べて、薄板部５を幅方向に連続させても良い。更にこの場合、複数の厚板部６の間を薄板部５で連結しても良い。また、試験片２,３０，５０，７０はゴムに限らず、熱可塑性エラストマや比較的柔らかい樹脂などの他の弾性体で試験片２,３０，５０，７０を形成しても良い。

【0094】

上記実施形態では、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１から突出した凸部８，３２，５２の本体部３側の面によって段差９，３３，５３が形成される場合について説明したが、これに限らない。例えば、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１に凹部を設け、その凹部のうち本体部３とは反対側の面を段差としても良い。この場合、チャック２１，４６，６３には、凹部に嵌まる凸部を設け、その凸部のうち本体部３とは反対側の面で爪を形成すれば良い。

【0095】

但し、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１に凹部を設けた場合、その凹部の位置で被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１が張出方向に伸び易くなり、二軸引張試験の測定精度が低下するおそれがある。これに対し、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１から突出した凸部８，３２，５２で段差９，３３，５３を形成する場合、その段差９，３３，５３の形成のために被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１が伸び易くなることを抑制できる。よって、その伸びに起因した二軸引張試験の測定精度の低下を抑制できる。また、弾性体製の被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１を成形する金型に溝を追加することで、被挟持部４ａ～４ｄ，３１，５１に凸部８，３２，５２を容易に形成できる。

【0096】

上記第２実施形態では、スライダ４１に対してチャック４６，４７の回転を規制する構成が上下で異なる場合について説明したが、この回転を規制する構成を上下で同一にしても良い。また、この回転を規制する構成を第１実施形態や第３実施形態に適用しても良い。更に、複数のボルト２５でチャック２１，４６，４７，６３，６６をスライダ１６，４１，６１にそれぞれ取り付けることで、スライダ１６，４１，６１に対するチャック２１，４６，４７，６３，６６の回転を規制しても良い。

【0097】

上記実施形態の構成を他の実施形態に適用しても良い。例えば、段差７に引っ掛かる第１実施形態の爪２２を、第２，３実施形態のチャック４６，６３に設けても良い。第２実施形態の横凸部３４を第１，３実施形態の厚板部６から突出させても良い。

【符号の説明】

【0098】

２，３０，５０，７０ 試験片
３ 本体部
３ａ～３ｄ 辺（四辺）
４ａ～４ｄ，３１，５１，７１ 被挟持部
５ 薄板部
６ 厚板部
７，９，３３，５３ 段差
８，３２，５２ 凸部
１０，４０，６０ 二軸引張試験機
１５ アクチュエータ
２１，４６，４７，６３，６６ チャック
２２，２４，４９，６５ 爪
２３，４８，６４ 凹部
３４ 横凸部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】