(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024081618
(43)【公開日】2024-06-18
(54)【発明の名称】プローブカード搬送装置およびプローブカード搬送方法
(51)【国際特許分類】
G01R 31/26 20200101AFI20240611BHJP
H01L 21/66 20060101ALI20240611BHJP
【FI】
G01R31/26 J
H01L21/66 B
【審査請求】未請求
【請求項の数】20
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2023205046
(22)【出願日】2023-12-05
(31)【優先権主張番号】10-2022-0168502
(32)【優先日】2022-12-06
(33)【優先権主張国・地域又は機関】KR
(71)【出願人】
【識別番号】598123150
【氏名又は名称】セメス株式会社
【氏名又は名称原語表記】SEMES CO., LTD.
【住所又は居所原語表記】77,4sandan 5-gil,Jiksan-eup,Seobuk-gu,Cheonan-si,Chungcheongnam-do,331-814 Republic of Korea
(74)【代理人】
【識別番号】110000671
【氏名又は名称】IBC一番町弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】イ,ホ ヨン
(72)【発明者】
【氏名】イ,セン チャン
【テーマコード(参考)】
2G003
4M106
【Fターム(参考)】
2G003AA10
2G003AG04
2G003AH04
4M106AA01
4M106AA02
4M106BA01
4M106DD10
4M106DD30
(57)【要約】 (修正有)
【課題】複数のプローブカードを積載することができ、単独でプローブカードの交換が可能なプローブカード搬送装置およびその方法を提供する。
【解決手段】プローブカード搬送装置は、交換する第1プローブカードが載置する第1積載モジュール;交換される第2プローブカードが載置する第2積載モジュール;および半導体検査のためのプローブステーションから第2プローブカードを搬出するか、プローブステーションに第1プローブカードを搬入させるハンドグリッパーモジュールを含む。
【選択図】
図3
【特許請求の範囲】
【請求項1】
交換する第1プローブカードが載置する第1積載モジュール;
交換される第2プローブカードが載置する第2積載モジュール;および
半導体検査のためのプローブステーションから前記第2プローブカードを搬出するか、前記プローブステーションに前記第1プローブカードを搬入させるハンドグリッパーモジュールを含む、プローブカード搬送装置。
【請求項2】
前記第1積載モジュールは前記第2積載モジュールより上位レベルに配置される、請求項1に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項3】
前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールのうち少なくとも一つのモジュールは同一レベルに移動する、請求項2に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項4】
前記第2積載モジュールに前記第2プローブカードが載置する場合、前記少なくとも一つのモジュールは同一レベルに移動する、請求項3に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項5】
前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールの両方が移動する場合、前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールは互いに異なる方向に移動する、請求項3に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項6】
前記少なくとも一つのモジュールは回転移動および直進移動のいずれか一つの方式で移動する、請求項3に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項7】
前記第2積載モジュールが移動する場合、前記ハンドグリッパーモジュールも移動する、請求項3に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項8】
前記ハンドグリッパーモジュールは前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールより上位レベルに配置される、請求項1に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項9】
前記ハンドグリッパーモジュールは前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールが位置したレベルに下降して前記第1プローブカードおよび前記第2プローブカードをロードまたはアンロードする、請求項8に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項10】
前記プローブカード搬送装置は前記第1プローブカードが提供されると前記プローブステーションが位置した場所に自律走行して移動する、請求項1に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項11】
前記第1積載モジュールは前記第2積載モジュールと同一レベルに配置され、前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールは移動しない、請求項1に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項12】
前記第1プローブカードが前記第1積載モジュールの載置面内に載置しているかどうかを検査するためのセンサをさらに含む、請求項1に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項13】
前記センサは前記第1積載モジュールと前記第1プローブカードを含む映像を取得するセンサである、または前記第1積載モジュールの表面と前記第1プローブカードの間の距離を測定するセンサである、請求項12に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項14】
前記ハンドグリッパーモジュールを制御するロボットアームモジュール;および
前記第1積載モジュール、前記第2積載モジュールおよび前記ロボットアームモジュールを移動可能に支持するサポートモジュールをさらに含む、請求項1に記載のプローブカード搬送装置。
【請求項15】
交換する第1プローブカードが載置する第1積載モジュール;
交換される第2プローブカードが載置する第2積載モジュール;および
半導体検査のためのプローブステーションから前記第2プローブカードを搬出するか、前記プローブステーションに前記第1プローブカードを搬入させるハンドグリッパーモジュールを含み、
前記第1プローブカードが提供されると前記プローブステーションが位置した場所に自律走行して移動し、
前記第1積載モジュールは前記第2積載モジュールより上位レベルに配置され、前記第2積載モジュールに前記第2プローブカードが載置する場合、回転移動および直進移動のいずれか一つの方式で同一レベルに移動し、
前記ハンドグリッパーモジュールは前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールより上位レベルに配置され、前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールが位置したレベルに下降して前記第1プローブカードおよび前記第2プローブカードをロードまたはアンロードする、プローブカード搬送装置。
【請求項16】
ハンドグリッパーモジュールがプローブステーションから第2プローブカードを搬出する段階;
第1プローブカードを搭載している第1積載モジュールが移動する段階;
前記ハンドグリッパーモジュールが前記第1積載モジュールの下部に配置される第2積載モジュールに前記第2プローブカードをロードする段階;
前記ハンドグリッパーモジュールが前記第1積載モジュールから前記第1プローブカードをアンロードする段階;および
前記ハンドグリッパーモジュールが前記第1プローブカードを前記プローブステーションに搬入させる段階を含む、プローブカード搬送方法。
【請求項17】
前記第2積載モジュールに前記第2プローブカードが搭載されると、前記第1積載モジュールが移動する前の位置に復帰する段階をさらに含む、請求項16に記載のプローブカード搬送方法。
【請求項18】
前記第1積載モジュールに前記第1プローブカードを積載した状態で前記プローブステーションが位置した場所に自律走行して移動する段階をさらに含む、請求項16に記載のプローブカード搬送方法。
【請求項19】
前記第1プローブカードは未使用のプローブカードであり、前記第2プローブカードは使用済みのプローブカードである、請求項16に記載のプローブカード搬送方法。
【請求項20】
前記自律走行して移動する段階は上部に前記第1積載モジュール、前記第2積載モジュールおよび前記ハンドグリッパーモジュールが設置された駆動ユニットを用いて、
前記駆動ユニットはAGVおよびAMRのいずれか一つの形態で設けられる、請求項18に記載のプローブカード搬送方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はプローブカード搬送装置および前記装置によるプローブカード搬送方法に関する。より詳細には、半導体製造工場内で活用できるプローブカード搬送装置および前記装置によるプローブカード搬送方法に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体製造工程は半導体製造設備内で連続して行われ、前工程と後工程に区分することができる。ここで、前工程はウェハ上に回路パターンを形成して半導体チップを完成する工程をいい、後工程は前工程により完成された製品の性能を評価する工程をいう。
【0003】
半導体製造設備は半導体を製造するためにファブ(Fab)と定義される半導体製造工場内に設置されることができる。ウェハは蒸着工程、フォト工程、エッチング工程、アッシング工程、イオン注入工程、洗浄工程、パッケージ工程、検査工程など半導体を生産するためのそれぞれの工程を順に経るためにそれぞれの工程が行われる設備へ移動されることができる。
【0004】
蒸着工程、フォト工程、アッシング工程、パッケージ工程などを経て半導体素子が製造されると、半導体素子の電気的特性を検査するためにプローブステーション(Probe Station)で検査工程が行われることができる。プローブカード搬送ロボットはプローブステーション内で半導体素子の検査工程が行われるように半導体素子の特性に応じたプローブカードをプローブステーションに搬送する役割を果たすことができる。
【0005】
しかし、従来のプローブカード搬送ロボットはプローブカードを1個のみ積載することができ、2個以上のプローブカードを積載することはできない。そのため、プローブカードを交換しなければならない場合には、2台以上のプローブカード搬送ロボットを必要とする問題がある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明で解決しようとする技術的課題は、複数のプローブカードを積載することができ、単独でプローブカードの交換が可能なプローブカード搬送装置およびその方法を提供することにある。
【0007】
本発明の技術的課題は以上で言及した技術的課題に制限されず、言及されていないまた他の技術的課題は以下の記載から当業者に明確に理解されるものである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
前記技術的課題を達成するための本発明のプローブカード搬送装置の一態様(Aspect)は、交換する第1プローブカードが載置する第1積載モジュール;交換される第2プローブカードが載置する第2積載モジュール;および半導体検査のためのプローブステーションから前記第2プローブカードを搬出するか、前記プローブステーションに前記第1プローブカードを搬入させるハンドグリッパーモジュールを含む。
【0009】
前記技術的課題を達成するための本発明のプローブカード搬送装置の他の態様は、交換する第1プローブカードが載置する第1積載モジュール;交換される第2プローブカードが載置する第2積載モジュール;および半導体検査のためのプローブステーションから前記第2プローブカードを搬出するか、前記プローブステーションに前記第1プローブカードを搬入させるハンドグリッパーモジュールを含み、前記第1プローブカードが提供されると前記プローブステーションが位置した場所に自律走行して移動し、前記第1積載モジュールは前記第2積載モジュールより上位レベルに配置され、前記第2積載モジュールに前記第2プローブカードが載置する場合回転移動および直進移動のいずれか一つの方式で同一レベルに移動し、前記ハンドグリッパーモジュールは前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールより上位レベルに配置され、前記第1積載モジュールおよび前記第2積載モジュールが位置したレベルに下降して前記第1プローブカードおよび前記第2プローブカードをロードまたはアンロードする。
【0010】
前記技術的課題を達成するための本発明のプローブカード搬送方法の一態様は、ハンドグリッパーモジュールがプローブステーションから第2プローブカードを搬出する段階;第1プローブカードを搭載している第1積載モジュールが移動する段階;前記ハンドグリッパーモジュールが前記第1積載モジュールの下部に配置される第2積載モジュールに前記第2プローブカードをロードする段階;前記ハンドグリッパーモジュールが前記第1積載モジュールから前記第1プローブカードをアンロードする段階;および前記ハンドグリッパーモジュールが前記第1プローブカードを前記プローブステーションに搬入させる段階を含む。
【0011】
その他実施形態の具体的な内容は詳細な説明および図面に含まれている。
【図面の簡単な説明】
【0012】
【
図1】半導体動作検査のためのシステムの内部構成を概略的に示すブロック図である。
【
図2】半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブステーションの内部構造を概略的に示す図である。
【
図3】半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第1例示図である。
【
図4】プローブカード搬送装置を構成する駆動ユニットの内部構成を概略的に示す図である。
【
図5】半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第2例示図である。
【
図6】半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第3例示図である。
【
図7】プローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールの動作原理を説明するための第1例示図である。
【
図8】プローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールの動作原理を説明するための第2例示図である。
【
図9】プローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールおよび第2積載モジュールの動作原理を説明するための第1例示図である。
【
図10】プローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールおよび第2積載モジュールの動作原理を説明するための第2例示図である。
【
図11】プローブカード搬送装置を構成する第2積載モジュールの動作原理を説明するための第1例示図である。
【
図12】プローブカード搬送装置を構成する第2積載モジュールの動作原理を説明するための第2例示図である。
【
図13】プローブカード搬送装置を構成するハンドグリッパーモジュールの動作原理を説明するための例示図である。
【
図14】プローブカード搬送装置を構成するハンドグリッパーモジュールの性能を説明するための第1例示図である。
【
図15】プローブカード搬送装置を構成するハンドグリッパーモジュールの性能を説明するための第2例示図である。
【
図16】プローブカード搬送装置を構成するマニピュレーターユニットの多様な性能を説明するための第1例示図である。
【
図17】プローブカード搬送装置を構成するマニピュレーターユニットの多様な性能を説明するための第2例示図である。
【
図18】プローブカードの載置状態が良好であるか否かを説明するための第1例示図である。
【
図19】プローブカードの載置状態が良好であるか否かを説明するための第2例示図である。
【
図20】半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第4例示図である。
【
図21】半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第5例示図である。
【
図22】第1実施形態によりプローブカードを交換する方法を説明するための流れ図である。
【
図23】第2実施形態によりプローブカードを交換する方法を説明するための流れ図である。
【
図24】第3実施形態によりプローブカードを交換する方法を説明するための流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【0013】
以下では添付する図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。図面上の同じ構成要素に対しては同じ参照符号を使用し、これらに係る重複する説明は省略する。
【0014】
本発明は半導体製造工場内で用いることができるプローブカード搬送装置に関するものであり、前記プローブカード搬送装置は複数のプローブカードをロード/アンロードできることを特徴とする。本発明によれば、プローブステーション内のプローブカードを交換しなければならない場合にも単数のプローブカード搬送装置さえ備えていれば良く、そのため、半導体製造工場内の省スペースとプローブカード搬送装置の活用性を高める効果を得ることもできる。
【0015】
図1は半導体動作検査のためのシステムの内部構成を概略的に示すブロック図である。
図1によれば、半導体動作検査のためのシステム100はプローブカード110、プローブステーション120およびプローブカード搬送装置130を含んで構成されることができる。
【0016】
プローブカード(Probe Card;110)は、テスト装備が半導体の動作を検査できるように基板(例えば、ウェハ(Wafer))とテスト装備を連結させる役割を果たす。プローブカード110には探針が取り付けられるが、前記探針は基板に接触して基板に電気信号を送出する役割を果たす。テスト装備は基板に送出されてから戻ってくる電気信号を用いて半導体が不良か否かを判別する役割を果たすことができる。
【0017】
プローブステーション(Probe Station;120)は、プローブカード110とテスト装備を用いて複数の半導体が設けられた基板の電気的特性を検査する役割を果たす。プローブステーション120はこのために検査チャンバ210、テスト装備220、基板支持ユニット230およびカメラモジュール240を含んで構成されることができる。
【0018】
図2は半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブステーションの内部構造を概略的に示す図である。以下の説明は
図2を参照する。
【0019】
プローブステーション120は基板Wの電気的特性を検査する検査工程を行い得る。検査チャンバ210はこのような検査工程が行われる空間を提供する役割を果たす。
【0020】
プローブカード110は検査チャンバ210内で上部に設置される。前述したが、プローブカード110は基板Wの電気的特性を検査するためにテスト装備220と連結され得る。テスト装備220はプローブカード110との連結のために検査チャンバ210の外側上段面に密接に配置されることができる。
【0021】
プローブカード110は底面に少なくとも一つの探針(Probe;111)を含み得る。探針111はテスト装備220の制御に応じて基板Wに設けられたそれぞれの半導体チップに検査信号を印加する役割を果たすことができる。プローブカード110はカメラモジュール240により基板Wとプローブカード110の整列が完了すれば、探針111を基板W上の検査パッド(すなわち、半導体チップ)に接触させて検査信号を印加し得る。
【0022】
テスト装備(Tester;220)はプローブカード110を用いて基板Wの電気的特性を検査する役割を果たす。テスト装備220はプローブカード110の探針111を介して基板Wの電気的特性を検査するための電気信号を基板W内のそれぞれの半導体チップに印加し得、それぞれの半導体チップから戻ってくる電気信号に基づいて基板Wの電気的特性を検査し得る。
【0023】
基板支持ユニット230は検査チャンバ210の内部に配置され、基板Wを支持する役割を果たす。基板支持ユニット230は基板Wが検査チャンバ210の内部で水平方向(第1方向10または第2方向20)に移動できるように基板Wの位置を調節できる。また、基板支持ユニット230は基板Wが検査チャンバ210の内部で垂直方向(第3方向30)に移動できるように基板Wの位置を調節することもできる。
【0024】
基板Wが水平方向に移動できるように基板Wの位置を調節する場合、基板支持ユニット230は基板W上の検査パッドがプローブカード110の探針111に対応して位置できるように基板Wの位置を調節できる。基板Wが垂直方向に移動できるように基板Wの位置を調節する場合、基板支持ユニット230は基板W上の検査パッドがプローブカード110の探針111に接触できるように基板Wの位置を調節できる。基板支持ユニット230は上部整列カメラ240aと下部整列カメラ240bにより基板Wとプローブカード110の整列が完了すれば、基板Wが垂直方向に移動できるように基板Wの位置を調節できる。
【0025】
基板支持ユニット230はチャッキングモジュール232、回転駆動モジュール233、垂直駆動モジュール234、チャックステージ235および水平駆動モジュール236を含んで構成されることができる。
【0026】
チャッキングモジュール232は基板Wを支持する役割を果たす。チャッキングモジュール232は検査チャンバ210の内部でプローブカード110と対向するように配置されることができ、その上部にチャックプレート(Chuck Plate;231)を含むことができる。ここで、チャックプレート231はその上面に基板Wが載置できるように載置面を提供する役割を果たすことができる。
【0027】
図2には示していないが、チャッキングモジュール232は真空形成プレートをさらに含むことができる。真空形成プレートは真空吸着機能を有するものであり、チャックプレート231上に載置された基板Wをチャックプレート231に吸着させる役割を果たすことができる。チャッキングモジュール232が真空形成プレートをさらに含む場合、真空形成プレートはチャックプレート231の下部に配置されることができる。
【0028】
回転駆動モジュール233はチャッキングモジュール232を回転させる役割を果たす。回転駆動モジュール233はチャッキングモジュール232の下部に配置されることができ、基板W上の検査パッドとプローブカード110の探針111を整列させるためにチャッキングモジュール232を回転させることができる。
【0029】
垂直駆動モジュール234はチャッキングモジュール232の垂直方向(第3方向30)位置を調節する役割を果たす。垂直駆動モジュール234は回転駆動モジュール233の下部に配置されることができ、基板W上の検査パッドをプローブカード110の探針111に接触させるためにチャッキングモジュール232の垂直方向位置を調節できる。
【0030】
チャックステージ235はチャッキングモジュール232、回転駆動モジュール233および垂直駆動モジュール234を支持する役割を果たす。チャックステージ235は垂直駆動モジュール234の下部に配置されることができる。
【0031】
水平駆動モジュール236はチャッキングモジュール232の水平方向(第1方向10または第2方向20)位置を調節する役割を果たす。水平駆動モジュール236はチャックステージ235の下部に配置されることができ、基板W上の検査パッドをプローブカード110の探針111に対応して位置させるためにチャッキングモジュール232の水平方向位置を調節できる。
【0032】
カメラモジュール240は基板Wとプローブカード110を整列させる役割を果たす。カメラモジュール240は上部整列カメラ240aおよび下部整列カメラ240bを含むことができる。
【0033】
上部整列カメラ240aは検査チャンバ210の内部上側に配置される。上部整列カメラ240aは検査チャンバ210の内部上側から下方に撮影して基板W上のパターンに対するイメージを取得し得る。
図2には示していないが、上部整列カメラ240aはブリッジ形状を有する駆動モジュールにより水平方向(第1方向10または第2方向20)に移動され得る。
【0034】
下部整列カメラ240bは検査チャンバ210の内部下側に配置される。下部整列カメラ240bは検査チャンバ210の内部下側から上側方向に撮影してプローブカード110の探針111に対するイメージを取得し得る。上部整列カメラ240aおよび下部整列カメラ240bにより取得したイメージは基板Wとプローブカード110を整列させることに活用される。
【0035】
図2には示していないが、プローブステーション120は基板Wの温度を調節するために加熱ユニット、冷却ユニットなどをさらに含むことができる。ここで、加熱ユニットはチャックプレート231を加熱させる役割をし、冷却ユニットはチャックプレート231を冷却させるためにチャックプレート231の内部に冷媒を供給する役割を果たす。加熱ユニット、冷却ユニットなどは検査チャンバ210の外部に設けられるが、検査チャンバ210の内部に設けられてもよく、プローブステーション120は加熱ユニット、冷却ユニットなどを用いて基板Wの温度が検査工程に適した温度になるように制御できる。
【0036】
【0037】
プローブカード搬送装置130はプローブカード110を交換する役割を果たす。プローブカード搬送装置130はこのためにプローブステーション120が位置した所までプローブカード110を搬送する役割を果たすことができ、プローブステーション120にプローブカード110をロード・アンロード(Loading and Unloading)する役割を果たすことができる。
【0038】
プローブカード搬送装置130はプローブステーション120が位置した所までプローブカード110を搬送するために半導体製造工場内で自律走行をする車両やロボットとして設けられることができる。プローブカード搬送装置130は、例えば、ドライバなしで自動で動くことができる産業用車両であるAGV(Automatic Guided Vehicle)として設けられることができ、自律移動ロボットであるAMR(Autonomous Mobile Robot)として設けられることもできる。
【0039】
プローブカード搬送装置130はプローブカード110をロード・アンロードするためにグリッパ(Gripper)を含み得る。プローブカード搬送装置130はグリッパを用いてプローブステーション120の内部にプローブカード110を搬入させることができ、プローブステーション120の内部からプローブカード110を搬出させることもできる。
図2には示していないが、検査チャンバ210はプローブカード110の出入りが可能なようにその側壁に開閉可能な窓を含むことができる。
【0040】
プローブカード搬送装置130はプローブカード110を交換するために、すなわち、プローブステーション120が位置した所までプローブカード110を搬送し、プローブステーション120にプローブカード110をロード・アンロードするために、駆動ユニット(Driving Unit)とマニピュレーターユニット(Manipulator Unit)を含むことができる。
【0041】
図3は半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第1例示図である。
図3によれば、プローブカード搬送装置130は駆動ユニット310およびマニピュレーターユニット320を含んで構成されることができる。
【0042】
駆動ユニット310はプローブカード搬送装置130を目的地まで移動させる役割を果たす。プローブカード搬送装置130は駆動ユニット310のこのような役割によりプローブステーション120が位置した所までプローブカード110を搬送することができる。
【0043】
図4はプローブカード搬送装置を構成する駆動ユニットの内部構成を概略的に示す図である。
図4によれば、駆動ユニット310は駆動モジュール410、キャスターモジュール420、センシングモジュール430、電源提供モジュール440および制御モジュール450を含んで構成されることができる。
【0044】
駆動モジュール410は複数の第1車輪410aを含み、前記複数の第1車輪410aを介してプローブカード搬送装置130を予め定められた経路に従って目的地に移動させる役割を果たす。駆動モジュール410は電源提供モジュール440から提供された電力を使用でき、制御モジュール450の制御に応じて作動できる。
【0045】
キャスターモジュール(Castor Module;420)は、大きさが第1車輪410aより小さい複数の第2車輪を含み、前記複数の第2車輪を介してプローブカード搬送装置130の走行状態を変化させる役割を果たすことができる。キャスターモジュール420はプローブカード搬送装置130の走行方向や走行速度と関連してダンピング(Damping)が可能なように衝撃や振動などを吸収できる材質で形成されることができ、そのため、プローブカード搬送装置130が高速で走行する場合にも安全性を高める効果を得ることができる。
図3および
図4には示していないが、キャスターモジュール420は駆動モジュール410と同様にハウジングHの底面に設置されることができ、駆動モジュール410より外側に配置されることができる。なお、キャスターモジュール420は駆動ユニット310内に含まれないことも可能である。
【0046】
センシングモジュール430はプローブカード搬送装置130の自律走行のためのものであって、例えば、ライダー(LiDAR)センサを含んで設けられることができる。センシングモジュール430はハウジングHの前面に設置されるが、センシング効率を上げるためにハウジングHの側面、後面、上面などにさらに設置されることも可能である。センシングモジュール430の設置位置、種類、個数などはこれに限定されず、用途などによって多様な形態に変更できるのはもちろんである。
【0047】
センシングモジュール430は例えば、プローブカード搬送装置130が目的地に移動する間に障害物を探索する役割を果たすことができる。プローブカード搬送装置130はセンシングモジュール430のこのような役割により障害物との衝突によってプローブカード110を落としたりプローブカード110が毀損したりすることを防止することができる。
【0048】
電源提供モジュール440は駆動モジュール410、キャスターモジュール420、センシングモジュール430、制御モジュール450など駆動ユニット310を構成するそれぞれの構成要素に電源を提供する役割を果たす。電源提供モジュール440はそれぞれの構成要素に継続して電源を提供でき、必要に応じて選択的に電源を提供することも可能である。
【0049】
制御モジュール450は駆動ユニット310を構成するそれぞれの構成要素の全体作動を制御する役割を果たす。のみならず、制御モジュール450はマニピュレーションユニット320を構成するそれぞれの構成要素の全体作動を制御する役割を果たすこともできる。本実施形態はこれに限定されず、駆動ユニット310を構成するそれぞれの構成要素の全体作動を制御する制御モジュールと、マニピュレーションユニット320を構成するそれぞれの構成要素の全体作動を制御する制御モジュールを別に構築することも可能である。
【0050】
【0051】
マニピュレーターユニット320はプローブカード搬送装置130がプローブステーション120が位置した所まで移動する間にプローブカード110を把持して搬送する役割を果たす。また、マニピュレーターユニット320はプローブカード搬送装置130がプローブステーション120が位置した所に到達すると、プローブステーション120にプローブカード110をロード・アンロードする役割を果たす。
【0052】
半導体検査工程に用いられるプローブカード110の場合、現在は人が手動カートに積載した後プローブステーション120が位置した所まで搬送して直接積載させている。本実施形態のプローブカード搬送装置130は、自律走行が可能なロボットすなわち、駆動ユニット310とプローブカード110に対するマニピュレーションが可能なロボットすなわち、マニピュレーションユニット320を合わせたシステムであり、人が介入することなくプローブカード110の補給および回収に対する作業を完全自動化(Full Automation)できることを特徴とする。
【0053】
マニピュレーターユニット320はプローブカード110のロード・アンロードを同時に行うことが可能なように複数の積載モジュールを含むことができる。
図3の例示ではマニピュレーターユニット320が第1積載モジュール510と第2積載モジュール520など2個の積載モジュール510,520を含むことが示されているが、これに限定されず、マニピュレーターユニット320は3個以上の積載モジュールを含み得るのはもちろんである。
【0054】
以下ではマニピュレーターユニット320が2個の積載モジュール510,520を含む場合を例に挙げて説明する。
【0055】
マニピュレーターユニット320は第1積載モジュール510、第2積載モジュール520、ハンドグリッパーモジュール530、ロボットアームモジュール540およびサポートモジュール550を含んで構成されることができる。
【0056】
第1積載モジュール510はプローブカード搬送装置130が目的地まで移動する間にプローブカード110を積載する役割を果たす。ここで、第1積載モジュール510に積載されるプローブカード110はプローブステーション120に設置される新プローブカードをいう。
【0057】
第1積載モジュール510はプローブカード搬送装置130が目的地に移動する間にプローブカード110が動かないようにするためにプローブカード110を把持(Gripping)することができる。しかし、これに限定されず、第1積載モジュール510は平板上にプローブカード110を真空吸着させてプローブカード110を動かないようにすることもでき、バスケット形状に形成されてその内部空間にプローブカード110を搭載させることも可能である。
【0058】
第2積載モジュール520は第1積載モジュール510と同様にプローブカード110が積載される載置面を提供する。ただし、第2積載モジュール520はプローブカード搬送装置130が目的地まで移動する間にプローブカード110を積載しない。その理由は、第2積載モジュール520に積載されるプローブカード110はプローブステーション120に既に設置されている、新プローブカードと交換される旧プローブカードであるからである。以下では新プローブカードを第1プローブカードと定義し、旧プローブカードを第2プローブカードと定義する。
【0059】
ハンドグリッパーモジュール(Hand Gripper Module;530)は、プローブカード110を把持してロード・アンロードする役割を果たす。第1積載モジュール510が第1プローブカードを積載し、第2積載モジュール520が第2プローブカードを積載する場合、ハンドグリッパーモジュール530は第1積載モジュール510から第1プローブカードをアンロード(Unloading)し、第2積載モジュール520に第2プローブカードをロード(Loading)し得る。
【0060】
ロボットアームモジュール(Robot Arm Module;540)は、その端部に設けられるハンドグリッパーモジュール530を含み、ハンドグリッパーモジュール530の移動を制御する役割を果たす。ロボットアームモジュール540はハンドグリッパーモジュール530が水平方向(第1方向10または第2方向20)に移動するように制御でき、ハンドグリッパーモジュール530が垂直方向(第3方向30)に移動するように制御することもできる。または、ロボットアームモジュール540はハンドグリッパーモジュール530が対角線方向に移動するように制御することも可能である。
【0061】
ハンドグリッパーモジュール530およびロボットアームモジュール540は第1プローブカードおよび第2プローブカードのロード・アンロードのために第1積載モジュール510および第2積載モジュール520より上位に配置されることができる。しかし、第1プローブカードおよび第2プローブカードのロード・アンロードの両方を可能にすることができれば、ハンドグリッパーモジュール530およびロボットアームモジュール540は第1積載モジュール510および第2積載モジュール520の間に配置されるか、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520より下位に配置されることも可能である。
【0062】
サポートモジュール550は第1積載モジュール510、第2積載モジュール520、端部にハンドグリッパーモジュール530が設置されたロボットアームモジュール540などを支持する役割を果たす。サポートモジュール550は垂直方向(第3方向30)を長手方向として駆動ユニット310のハウジングH上に設置されることができる。第1積載モジュール510、第2積載モジュール520、ロボットアームモジュール540などはサポートモジュール550の互いに異なる側部から延びることができ、水平方向(第2方向20)を長手方向として駆動ユニット310のハウジングH上に配置されることができる。
【0063】
再び第1積載モジュール510および第2積載モジュール520について説明する。
【0064】
第1積載モジュール510および第2積載モジュール520は上下方向(第3方向30)に配置されることができる。上側で垂直に下方を見る場合、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520は完全に重なるように上下方向に配置されることができる。または、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520は一部重なるように上下方向に配置されることができる。または、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520は重ならないように上下方向に配置されることも可能である。
【0065】
前述したが、第1積載モジュール510は交換するプローブカードすなわち、第1プローブカードを積載することができ、第2積載モジュール520は交換されるプローブカードすなわち、第2プローブカードを積載することができる。この場合、第1積載モジュール510は第2積載モジュール520より上位レベルに配置されることができる。しかし、これに限定されず、
図5に示すように第1積載モジュール510は第2積載モジュール520より下位レベルに配置されることも可能である。または、
図6に示すように、第1積載モジュール510は第2積載モジュール520と同一レベルに配置されることもできる。
図5は半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第2例示図であり、
図6は半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第3例示図である。
【0066】
第1積載モジュール510が第2積載モジュール520より上位レベルに配置される場合、第1積載モジュール510は
図7の例示のように、水平方向(第1方向10および第2方向20)に回転移動が可能である。
図7の例示では第1積載モジュール510が左側方向に回転移動することが示されているが、本実施形態における第1積載モジュール510は右側方向に回転移動することもできるのはもちろんである。
【0067】
しかし、これに限定されず、第1積載モジュール510は
図8の例示のように水平方向(第1方向10)に直線移動することも可能である。
図8の例示では第1積載モジュール510が左側方向に直線移動することが示されているが、本実施形態における第1積載モジュール510は右側方向に直線移動することもできるのはもちろんである。
【0068】
第1積載モジュール510がこのように水平方向に回転移動するか、直線移動すると、ハンドグリッパーモジュール530が第2積載モジュール520上に第2プローブカードを積載できるようになる効果を得ることができる。
図7はプローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールの動作原理を説明するための第1例示図であり、
図8はプローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールの動作原理を説明するための第2例示図である。
【0069】
第1積載モジュール510が水平方向に回転移動するか、直線移動する場合、第2積載モジュール520はその位置が固定され得る。しかし、これに限定されず、第2積載モジュール520も水平方向に回転移動するか、直線移動することもできる。
【0070】
第1積載モジュール510および第2積載モジュール520の両方が移動可能に設けられる場合、第2積載モジュール520はその上部をハンドグリッパーモジュール530に露出させるために第1積載モジュール510と異なる方向に移動できる。例えば、
図9の例示のように、第1積載モジュール510が左側方向に回転移動する場合、第2積載モジュール520は右側方向に回転移動できる。しかし、これに限定されず、第1積載モジュール510が右側方向に回転移動し、第2積載モジュール520が左側方向に回転移動することもできるのはもちろんである。
図9はプローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールおよび第2積載モジュールの動作原理を説明するための第1例示図である。
【0071】
または、
図10の例示のように、第1積載モジュール510が左側方向に直線移動する場合、第2積載モジュール520は右側方向に直線移動できる。しかし、これに限定されず、第1積載モジュール510が右側方向に直線移動し、第2積載モジュール520が左側方向に直線移動することもできるのはもちろんである。
図10はプローブカード搬送装置を構成する第1積載モジュールおよび第2積載モジュールの動作原理を説明するための第2例示図である。
【0072】
なお、第1積載モジュール510が左側方向に回転移動する場合、第2積載モジュール520は右側方向に直線移動することも可能である。または、第1積載モジュール510が左側方向に直線移動する場合、第2積載モジュール520は右側方向に回転移動することも可能である。または、第1積載モジュール510が右側方向に回転移動する場合、第2積載モジュール520は左側方向に直線移動することも可能である。または、第1積載モジュール510が右側方向に直線移動する場合、第2積載モジュール520は左側方向に回転移動することも可能である。
【0073】
第1積載モジュール510はその位置が固定されることもできる。この場合、第1積載モジュール510より下位に配置される第2積載モジュール520をハンドグリッパーモジュール530に露出させるために、第2積載モジュール520が移動できる。例えば、
図11の例示のように、第2積載モジュール520が水平方向(第1方向10および第2方向20)に回転移動できる。
図11の例示では第2積載モジュール520が右側方向に回転移動することが示されているが、本実施形態における第2積載モジュール520は左側方向に回転移動することもできるのはもちろんである。
図11はプローブカード搬送装置を構成する第2積載モジュールの動作原理を説明するための第1例示図である。
【0074】
または、
図12の例示のように、第2積載モジュール520が水平方向(第1方向10)に直線移動することもできる。
図12例示では第2積載モジュール520が右側方向に直線移動することが示されているが、本実施形態における第2積載モジュール520は左側方向に直線移動することもできるのはもちろんである。
図12はプローブカード搬送装置を構成する第2積載モジュールの動作原理を説明するための第2例示図である。
【0075】
ハンドグリッパーモジュール530は第2積載モジュール520が移動する場合、第2積載モジュール520に第2プローブカードを積載するために第2積載モジュール520と共に移動できる。この場合、ハンドグリッパーモジュール530は
図13の例示のように、第2積載モジュール520の移動方向および移動速度を考慮して第2積載モジュール520の移動位置に対応する位置に移動できる。
図13はプローブカード搬送装置を構成するハンドグリッパーモジュールの動作原理を説明するための例示図である。
【0076】
第1積載モジュール510が第2積載モジュール520より下位レベルに配置される場合、第1積載モジュール510をハンドグリッパーモジュール530に露出させるために、第1積載モジュール510が移動し、第2積載モジュール520はその位置が固定され得る。この場合は、第1積載モジュール510が
図11および
図12の第2積載モジュール520と同じ方式で回転移動するか直線移動できる。
【0077】
または、第1積載モジュール510をハンドグリッパーモジュール530に露出させるために、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520の両方とも移動できる。この場合は、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520が
図9および
図10に示す方式で互いに異なる方向に回転移動するか直線移動できる。第1積載モジュール510と第2積載モジュール520のいずれか一つのモジュールは回転移動し、他の一つのモジュールは直線移動できるのはもちろんである。
【0078】
または、第1積載モジュール510をハンドグリッパーモジュール530に露出させるために、第2積載モジュール520が移動し、第1積載モジュール510はその位置が固定され得る。この場合は、第2積載モジュール520が
図7および
図8の第1積載モジュール510と同じ方式で回転移動するか直線移動できる。
【0079】
第1積載モジュール510と第2積載モジュール520が同一レベルに配置される場合、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520の両方がハンドグリッパーモジュール530に露出するので、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520は移動せずにその位置が固定されることができる。しかし、これに限定されず、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520のうち少なくとも一つの積載モジュールが移動できるのはもちろんである。
【0080】
なお、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520の両方がハンドグリッパーモジュール530に露出する場合、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520は必ずしも同一レベルに配置される必要はない。すなわち、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520のいずれか一つの積載モジュールが他の一つの積載モジュールより上位レベルに配置されてもよい。この場合は、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520が重ならないように上下方向に配置できるが、これに限定されず、プローブカード110のロード・アンロードが可能な範囲で一部重なるように配置されることも可能である。
【0081】
前述したが、ハンドグリッパーモジュール530はプローブカード110を把持してロード・アンロードできる。この場合は、
図14の例示のように、ハンドグリッパーモジュール530が垂直方向(第3方向30)に移動し、第1積載モジュール510に接近して第1積載モジュール510上に載置されている第1プローブカードをアンロードするか、第2積載モジュール520に接近して第2積載モジュール520上に第2プローブカードをロードすることができる。
図14はプローブカード搬送装置を構成するハンドグリッパーモジュールの性能を説明するための第1例示図である。
【0082】
しかし、これに限定されず、
図15の例示のように、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520が垂直方向に移動してハンドグリッパーモジュール530に接近すると、ハンドグリッパーモジュール530が第1積載モジュール510上から第1プローブカードをアンロードするか、第2積載モジュール520上に第2プローブカードをロードすることも可能である。
図15はプローブカード搬送装置を構成するハンドグリッパーモジュールの性能を説明するための第2例示図である。
【0083】
図14の例示は、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520が垂直方向に移動しない場合の例示であり、
図15の例示はハンドグリッパーモジュール530が垂直方向に移動しない場合の例示である。しかし、これに限定されず、第1積載モジュール510、第2積載モジュール520およびハンドグリッパーモジュール530はいずれも垂直方向に移動可能に設けることができ、第1積載モジュール510と第2積載モジュール520のいずれか一つの積載モジュールとハンドグリッパーモジュール530が垂直方向に移動可能に設けることも可能である。
【0084】
マニピュレーターユニット320はプローブカード110の載置状態を検査するためのモジュールをさらに含むことができる。マニピュレーターユニット320は例えば、
図16に図示のように映像取得センサ610をさらに含むことができる。
図16はプローブカード搬送装置を構成するマニピュレーターユニットの多様な性能を説明するための第1例示図である。
【0085】
映像取得センサ610は第1積載モジュール510に第1プローブカードが載置している場合、第1積載モジュール510と第1プローブカードを含むイメージを取得し得る。映像取得センサ610は例えば、ビジョンセンサ(Vision Sensor)として設けられることができる。
【0086】
映像取得センサ610は第1積載モジュール510と第1プローブカードの両方が示されているイメージを取得するためにロボットアームモジュール540に設置され得る。しかし、第1プローブカードの載置状態を測定することが可能であれば、映像取得センサ610の位置は必ずしもこれに限定される必要はない。
【0087】
映像取得センサ610は駆動ユニット310の制御モジュール450と連動できる。制御モジュール450は映像取得センサ610により取得したイメージに基づいて第1プローブカードが第1積載モジュール510の載置面内に正しく載置しているかどうかを判別することができる。
【0088】
前述したが、マニピュレーションユニット320内のそれぞれの構成要素の全体作動を制御する制御モジュールが駆動ユニット310内のそれぞれの構成要素の全体作動を制御する制御モジュール450とは別に設けられることができる。以下では駆動ユニット310内のそれぞれの構成要素の全体作動を制御する制御モジュール450を第1制御モジュールと定義し、マニピュレーションユニット320内のそれぞれの構成要素の全体作動を制御する制御モジュールを第2制御モジュールと定義する。この場合、映像取得センサ610は第2制御モジュールと連動でき、第2制御モジュールは映像取得センサ610により取得したイメージに基づいて第1プローブカードが第1積載モジュール510の載置面内に正しく載置しているかどうかを判別することができる。
【0089】
上では映像取得センサ610を、第1プローブカードが第1積載モジュール510の載置面内に正しく載置しているかどうかを判別するためのセンサとして説明したが、これに限定されず、第2プローブカードが第2積載モジュール520の載置面内に正しく載置しているかどうかも判別できるのはもちろんである。
【0090】
マニピュレーターユニット320はプローブカード110の載置状態を検査するためのモジュールであり、
図17に図示のように、複数の有無感知センサ620a,620b,…,620nをさらに含むことも可能である。
図17はプローブカード搬送装置を構成するマニピュレーターユニットの多様な性能を説明するための第2例示図である。
【0091】
有無感知センサ620a,620b,…,620nは、第1積載モジュール510の表面(または載置面)630とプローブカード110の間の距離測定により第1プローブカードが第1積載モジュール510の載置面630上に正しく位置しているかどうかを判別するようにすることができる。同様に、有無感知センサ620a,620b,…,620nは、第2積載モジュール520の表面(または載置面)630とプローブカード110の間の距離測定により第2プローブカードが第2積載モジュール520の載置面630上に正しく位置しているかどうかを判別するようにすることができる。有無感知センサ620a,620b,…,620nは、例えば、超音波センサとして設けられることができる。
【0092】
有無感知センサ620a,620b,…,620nは、第1積載モジュール510および第2積載モジュール520の上部にプローブカード110が正常に位置しているかどうかを判別するようにするために、プローブカード110が載置する載置面630の表面に設置できる。有無感知センサ620a,620b,…,620nは、映像取得センサ610の場合と同様に第1制御モジュールまたは第2制御モジュールと連動できるが、第1制御モジュールまたは第2制御モジュールは、それぞれの有無感知センサ620a,620b,…,620nの測定結果に基づいて載置面630の上部にプローブカード110が正常に位置しているかどうかを判別することができる。
【0093】
例えば、
図18に図示のように、複数の有無感知センサ620a,620b,…,620k,620k+1,…,620nはいずれも積載モジュール510,520とプローブカード110の間の距離が測定されるか、積載モジュール510,520とプローブカード110の間の測定距離が基準値以内であると、第1制御モジュールまたは第2制御モジュールは載置面630の上部にプローブカード110が正常に位置していると判別することができる。
図18はプローブカードの載置状態が良好であるか否かを説明するための第1例示図である。
【0094】
反面、
図19に図示のように、複数の有無感知センサ620a,620b,…,620k,620k+1,…,620nの一部620a,620b,…,620kが積載モジュール510,520とプローブカード110の間の距離が測定されないか、積載モジュール510,520とプローブカード110の間の測定距離が基準値を外れると、第1制御モジュールまたは第2制御モジュールは載置面630の上部にプローブカード110が正常に位置していないと判別することができる。
図19はプローブカードの載置状態が良好であるか否かを説明するための第2例示図である。
【0095】
以上、
図3ないし
図19を参照して駆動ユニット310とマニピュレーターユニット320を含むプローブカード搬送装置130について説明した。上記では、マニピュレーターユニット320は2個の積載モジュール510,520とそれぞれ1個のハンドグリッパーモジュール530およびロボットアームモジュール540を含むことができ、前記モジュール510,520,530,540を用いてプローブステーション120にプローブカード110をロード・アンロードすることができる。
【0096】
しかし、これに限定されず、マニピュレーターユニット320はそれぞれ2個のハンドグリッパーモジュールとロボットアームモジュールを含み、前記モジュールを用いてプローブステーション120にプローブカード110をロード・アンロードすることも可能である。例えば、
図20の例示のように、マニピュレーターユニット320は第1ハンドグリッパーモジュール710、第2ハンドグリッパーモジュール720、第1ロボットアームモジュール730、第2ロボットアームモジュール740およびサポートモジュール750を含んで構成されることも可能である。
【0097】
前記の場合、第1ハンドグリッパーモジュール710および第2ハンドグリッパーモジュール720はプローブカード110を把持およびロード・アンロードする役割を果たすことができる。第1ハンドグリッパーモジュール710は前述した第1積載モジュール510が行う役割とハンドグリッパーモジュール530が行う役割の両方を果たすことができ、第1積載モジュール510およびハンドグリッパーモジュール530の多様な構造および動作を採用することができる。同様に、第2ハンドグリッパーモジュール720は前述した第2積載モジュール520が行う役割とハンドグリッパーモジュール530が行う役割の両方を果たすことができ、第2積載モジュール520およびハンドグリッパーモジュール530の多様な構造および動作を採用することができる。
図20は半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第4例示図である。
【0098】
マニピュレーターユニット320は複数のハンドグリッパーモジュールを含み得る。この場合、それぞれのハンドグリッパーモジュールはそれぞれのロボットアームモジュールと連結され、マニピュレーターユニット320は同じ個数のロボットアームモジュールとハンドグリッパーモジュールを含むことができる。
【0099】
マニピュレーターユニット320は互いに異なる個数のロボットアームモジュールとハンドグリッパーモジュールを含むことも可能である。例えば、マニピュレーターユニット320はハンドグリッパーモジュールよりも少ない個数のロボットアームモジュールを含むことができる。この場合、いくつかのハンドグリッパーモジュールは同じロボットアームモジュールに一対多で連結され、他のいくつかのハンドグリッパーモジュールは互いに異なるロボットアームモジュールに一対一で連結されることができる。
【0100】
マニピュレーターユニット320は前者の場合(すなわち、同じ個数のロボットアームモジュールおよびハンドグリッパーモジュールを含む場合)の例示として、第1ハンドグリッパーモジュール710および第2ハンドグリッパーモジュール720と、そのそれぞれに連結される第1ロボットアームモジュール730および第2ロボットアームモジュール740を含むことができる。
【0101】
しかし、これに限定されず、マニピュレーターユニット320は後者の場合(すなわち、互いに異なる個数のロボットアームモジュールおよびハンドグリッパーモジュールを含む場合)の例示として、
図21に図示のように、第1ハンドグリッパーモジュール710および第2ハンドグリッパーモジュール720と、前記二つのモジュール710,720の両方に連結される第3ロボットアームモジュール760を含むことも可能である。
図21は半導体動作検査のためのシステムを構成するプローブカード搬送装置の内部構造を概略的に示す第5例示図である。
【0102】
次に、プローブカード搬送装置130がプローブステーション120でプローブカード110を交換する方法について説明する。
【0103】
図22は第1実施形態によりプローブカードを交換する方法を説明するための流れ図である。
図22の方法は
図3のプローブカード搬送装置130により行われることができる。以下の説明は
図3および
図22を参照する。
【0104】
先に、ハンドグリッパーモジュール530がロボットアームモジュール540の制御に応じて新規提供された第1プローブカードを第1積載モジュール510に搭載する(S810)。ここで、第1プローブカードはプローブステーション120に設置されている第2プローブカードと交換される予定の未使用のプローブカードをいう。
【0105】
その後、駆動ユニット310は第1積載モジュール510に第1プローブカードを搭載した状態でプローブステーション120が位置した所に移動する(S820)。
【0106】
その後、プローブステーション120が位置した所に到達すると、ハンドグリッパーモジュール530はプローブステーション120から第2プローブカードを直接搬出する(S830)。しかし、これに限定されず、搬出/搬入担当ロボットをプローブステーション120内またはその近くに別に設け、前記搬出/搬入担当ロボットによってプローブステーション120から第2プローブカードが搬出されると、ハンドグリッパーモジュール530は搬出/搬入担当ロボットから第2プローブカードの提供を受けることも可能である。前記では、第2プローブカードはプローブカード搬送装置130が持ってきた第1プローブカードと交換される使用済みプローブカードをいう。
【0107】
その後、第2積載モジュール520がハンドグリッパーモジュール530に露出できるように第1積載モジュール510が回転移動するか直線移動する(S840)。すると、ハンドグリッパーモジュール530が第2積載モジュール520上に第2プローブカードを搭載することが可能になる(S850)。
【0108】
第2プローブカードが第2積載モジュール520に搭載されると、第1積載モジュール510は逆方向への回転移動または直線移動により元の位置に復帰する(S860)。すると、ハンドグリッパーモジュール530が第1積載モジュール510に載置している第1プローブカードを把持してプローブステーション120に直接搬入させる(S870)。この場合、ハンドグリッパーモジュール530は搬出/搬入担当ロボットに第1プローブカードを提供し、搬出/搬入担当ロボットが第1プローブカードをプローブステーション120に直接搬入させることも可能である。
【0109】
以上、
図22を参照して説明した方法は、第1プローブカード(未使用のプローブカード)を搭載した第1積載モジュール510が第2プローブカード(使用済みのプローブカード)を搭載する第2積載モジュール520より上位レベルに配置される場合の例示である。しかし、これに限定されず、本実施形態では第1積載モジュール510が第2積載モジュール520より下位レベルに配置されることもできる。以下ではこの場合について説明する。
【0110】
図23は第2実施形態によりプローブカードを交換する方法を説明するための流れ図である。
図23の方法は
図5のプローブカード搬送装置130により行われることができる。以下の説明は
図5および
図23を参照する。
【0111】
先に、ハンドグリッパーモジュール530がロボットアームモジュール540の制御に応じて新規に提供された第1プローブカードを第1積載モジュール510に搭載する(S910)。第1プローブカードは前述のように未使用のプローブカードをいう。
【0112】
その後、駆動ユニット310は第1積載モジュール510に第1プローブカードを搭載した状態でプローブステーション120が位置した所に移動する(S920)。
【0113】
その後、プローブステーション120が位置した所に到達すると、ハンドグリッパーモジュール530はプローブステーション120から第2プローブカードを直接搬出する(S930)。前述したが、第2プローブカードの搬出は別に設けられた搬出/搬入担当ロボットが行うことも可能である。第2プローブカードは前述のように使用済みのプローブカードをいう。
【0114】
その後、ハンドグリッパーモジュール530が第2積載モジュール520上に第2プローブカードを搭載する(S940)。第2プローブカードが第2積載モジュール520に搭載されると、第1積載モジュール510がハンドグリッパーモジュール530に露出できるように第2積載モジュール520が回転移動するか直線移動する(S950)。
【0115】
その後、ハンドグリッパーモジュール530が第1積載モジュール510に載置している第1プローブカードを把持してプローブステーション120に直接搬入させる(S960)。第1積載モジュール510はハンドグリッパーモジュール530が第1プローブカードを把持した状態で第2積載モジュール520より上位レベルに上昇すると、逆方向への回転移動または直線移動により元の位置に復帰する(S970)。
【0116】
前述したが、プローブカード搬送装置130は、
図3の例示のように、1個のハンドグリッパーモジュール530と2個の積載モジュール510,520を含むことに限定されず、
図20の例示のように、2個のハンドグリッパーモジュール710,720を含むことも可能である。
【0117】
図24は第3実施形態によりプローブカードを交換する方法を説明するための流れ図である。
図24の方法は
図20のプローブカード搬送装置130により行われることができる。以下の説明は
図20および
図24を参照する。
【0118】
先に、第1ハンドグリッパーモジュール710が第1ロボットアームモジュール730の制御に応じて新規提供された第1プローブカードを把持する(S1010)。その後、プローブカード110の交換のために駆動ユニット310はプローブステーション120が位置した所に移動する(S1020)。
【0119】
プローブステーション120が位置した所に到達すると、第2ハンドグリッパーモジュール720は第2ロボットアームモジュール740の制御に応じてプローブステーション120から第2プローブカードを直接搬出する(S1030)。しかし、これに限定されず、搬出/搬入担当ロボットをプローブステーション120内またはその近くに別に設け、前記搬出/搬入担当ロボットによってプローブステーション120から第2プローブカードが搬出されると、第2ハンドグリッパーモジュール720は搬出/搬入担当ロボットから第2プローブカードの提供を受けることも可能である。
【0120】
その後、第1ハンドグリッパーモジュール710が把持した第1プローブカードをプローブステーション120に直接搬入させる(S1040)。この場合、第1ハンドグリッパーモジュール710は搬出/搬入担当ロボットに第1プローブカードを提供し、搬出/搬入担当ロボットが第1プローブカードをプローブステーション120に直接搬入させることも可能である。
【0121】
本発明はプローブカードAMRの上側積載部の回転型2段積載に関するものである。前記プローブカードAMRは2個のプローブカードを同時にロード・アンロードするために上側積載部が回転可能であり、グリッパが各積載部に積載する形態で設けられることができる。
【0122】
また、本発明はプローブカードAMRの積載部の移動型2段積載に関するものである。前記プローブカードAMRは2個のプローブカードを同時にロード・アンロードすることが可能なように上/下側積載部とグリッパが左右移動して積載する形態で設けられることができる。
【0123】
プローブカードAMRは2個のプローブカードを同時にロード・アンロードすることが可能なように積載部を含むことができる。プローブカードAMRは一つのAMRでプローブステーションにテストを完了したプローブカードを交換可能なように設けられることができる。プローブカードAMRは複数のプローブカードを積載した後一つの経路で多数のプローブステーションと作業が可能なように設けられることができる。
【0124】
前者のプローブカードAMRすなわち、上側積載部の回転型2段積載性能を備えたプローブカードAMRは、プローブカード載置が可能な2段積載部を含むことができる。プローブカードAMRは積載部にプローブカードを載置させる際、該当プローブカードが積載部に固定載置するように設けられることができる。プローブカードAMRは上側積載部にロード・アンロード時にグリッパが動いて固定された上側積載部にロード・アンロードするように設けられることができる。プローブカードAMRは下側積載部にロード・アンロード時に上側積載部が回転移動して下側積載部に載置可能にした後、グリッパが下側積載部にロード・アンロードするように設けられることができる。
【0125】
後者のプローブカードAMRすなわち、積載部の移動型2段積載性能を備えたプローブカードAMRは、プローブカード載置が可能な2段積載部を含むことができる。プローブカードAMRは積載部にプローブカードを載置させる際、該当プローブカードが積載部に固定載置するように設けられることができる。プローブカードAMRは、上側積載部にロード・アンロード時にグリッパが動いて固定された上側積載部にロード・アンロードするように設けられることができる。プローブカードAMRは、下側積載部にロード・アンロード時に上側積載部と下側積載部が互いに逆方向に移動してロード・アンロードが可能なように移動した後、グリッパが移動して各積載部にロード・アンロードするように設けられることができる。
【0126】
以上のプローブカードAMRが有する特徴を整理すると、次のとおりである。第一に、プローブカードを直接ロード・アンロードする自律走行AMRである。第二に、上部にはプローブカードを直接把持できるグリッパが存在する。第三に、グリッパの下にはプローブカードが載置できる積載部が設けられる。第四に、複数のプローブカードを積載するために上側積載部は一方向に回転移動が可能であり、下側積載部の使用時に回転移動できる。または、複数のプローブカードを積載するために上側積載部と下側積載部は互いに異なる方向に移動できる。第五に、グリッパが各積載部の高さに対応してロード・アンロードできる。
【0127】
プローブカードを交換するために2個のプローブカード搬送装置がプローブステーションに接近する場合、プローブステーションの周辺には2個のプローブカード搬送装置がプローブステーションに同時に接近できるように空間が確保されなければならない。また、プローブステーションにはそれぞれのプローブカード搬送装置がプローブカードを搬入および搬出できるようにプローブカード搬送装置のハンドユニットが出入りできる開口部も2個形成されなければならない。
【0128】
空間確保の問題を解決するために、2個のプローブカード搬送装置がプローブステーションに順次接近してプローブカードを搬入および搬出することもできる。または、1個のプローブカード搬送装置がプローブカードを順次搬入および搬出することもできる。しかし、このような場合は、プローブカードを交換するのに多くの時間が必要とされ、これにより全体的な工程時間(Tact Time)を長くなる問題を引き起こし得る。
【0129】
本実施形態によるプローブカード搬送装置は、複数のプローブカードをロード・アンロードできるので、半導体製造工場内の省スペースの効果を得ることができるだけでなく、半導体の生産にかかる全体的な工程時間を節約する効果も得ることができる。
【0130】
また、本実施形態では1個のプローブカード搬送装置を用いてプローブステーション内のプローブカード交換を行うことができるので、他の装置を他のプローブステーションで活用することができ、そのため、半導体製造工場内に配置されるプローブカード搬送装置の数量を減らす効果も得ることができる。
【0131】
本実施形態によるプローブカード搬送装置およびプローブカード搬送方法は、半導体製造工場内で物流自動化分野に適用することができる。
【0132】
以上、添付する図面を参照して本発明の実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、互いに異なる多様な形態で製造することができ、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者は、本発明の技術的思想や必須の特徴を変更せず、他の具体的な形態で実施できることを理解することができる。したがって、上記一実施形態はすべての面で例示的なものであり、限定的なものではないと理解しなければならない。
【符号の説明】
【0133】
100 半導体動作検査のためのシステム
110 プローブカード
120 プローブステーション
130 プローブカード搬送装置
210 検査チャンバ
220 テスト装備
230 基板支持ユニット
240 カメラモジュール
310 駆動ユニット
320 マニピュレーターユニット
410 駆動モジュール
420 キャスターモジュール
430 センシングモジュール
440 電源提供モジュール
450 制御モジュール
510 第1積載モジュール
520 第2積載モジュール
530 ハンドグリッパーモジュール
540 ロボットアームモジュール
550 サポートモジュール
610 映像取得センサ
620a,620b,・・・,620n 有無感知センサ
630 ハンドグリッパー
710 第1ハンドグリッパーモジュール
720 第2ハンドグリッパーモジュール
730 第1ロボットアームモジュール
740 第2ロボットアームモジュール
750 サポートモジュール
760 第3ロボットアームモジュール