特開 2024-82741 試験装置および試験方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024082741

(43)【公開日】2024-06-20

(54)【発明の名称】試験装置および試験方法

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/34 20200101AFI20240613BHJP

【ＦＩ】

G01R31/34 A

【審査請求】未請求

【請求項の数】7

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022196802

(22)【出願日】2022-12-09

(71)【出願人】

【識別番号】000227180

【氏名又は名称】日置電機株式会社

(71)【出願人】

【識別番号】000000011

【氏名又は名称】株式会社アイシン

(74)【代理人】

【識別番号】100114890

【弁理士】

【氏名又は名称】アインゼル・フェリックス＝ラインハルト

(74)【代理人】

【識別番号】100116403

【弁理士】

【氏名又は名称】前川 純一

(74)【代理人】

【識別番号】100162880

【弁理士】

【氏名又は名称】上島 類

(74)【代理人】

【識別番号】100176371

【弁理士】

【氏名又は名称】笹田 健

(72)【発明者】

【氏名】飯島 匡史

(72)【発明者】

【氏名】木村 英明

【テーマコード（参考）】

2G116

【Ｆターム（参考）】

2G116BA00

2G116BB01

2G116BC05

2G116BD06

2G116BD07

2G116BD13

(57)【要約】

【課題】試験時に巻線に印加される電圧のばらつきを抑える。
【解決手段】試験装置１において、指示受付部３が所定の指示を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、所定の指示Ａ１に対応付けられた電圧指令値Ｅｅを補正係数Ｃによって補正した値Ｅｔに応じた電圧を生成して出力するとともに、補正係数算出部５が、電圧測定部４によって測定された電圧と電圧指令値Ｅｅとのずれが小さくなるように、補正係数Ｃを更新し、試験対象の巻線の測定が実行されるとき、電圧生成回路２が測定に対応付けられた電圧指令値Ｅｍを補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、解析結果生成部６が電圧測定部４によって測定された電圧に基づいて解析結果８３を生成することを特徴とする。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

試験対象の巻線の一方の端子が接続される第１外部端子と、前記試験対象の巻線の他方の端子が接続される第２外部端子と、
指示を受け付ける指示受付部と、
補正係数を算出する補正係数算出部と、
電圧指令値と前記補正係数とに基づいて電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、
前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記試験対象の巻線の電気的特性に係る解析を行い、解析結果を生成する解析結果生成部と、を有し、
前記指示受付部が所定の指示を受け付けた場合に、前記電圧生成回路が、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値に基づいて電圧を生成して出力するとともに、前記補正係数算出部が、前記電圧測定部によって測定された電圧と前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値とのずれが小さくなるように、前記補正係数を算出し、
前記解析が実行される場合に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記解析結果生成部が、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて前記解析結果を生成する
試験装置。

【請求項2】

請求項１に記載の試験装置において、
前記指示受付部が前記所定の指示を受け付けた場合に、前記電圧生成回路が、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を有するパルスを指定された回数だけ出力するとともに、前記補正係数算出部が、前記パルスの出力毎に、前記補正係数を更新する
試験装置。

【請求項3】

請求項１に記載の試験装置において、
前記補正係数算出部は、前記電圧測定部によって測定された電圧と前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値との比に基づいて、前記補正係数を算出する
試験装置。

【請求項4】

請求項１に記載の試験装置において、
前記所定の指示は、コアを有する巻線における前記コアの磁化のばらつきを抑制するための電圧である消磁パルスの出力の指示であって、
前記補正係数の算出後に、前記指示受付部が前記解析の実行の指示を受け付けた場合に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記解析結果生成部が、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて前記解析結果を生成する、
試験装置。

【請求項5】

請求項１に記載の試験装置において、
前記所定の指示は、前記解析の実行の指示であって、
前記補正係数の算出後に、前記電圧生成回路が、前記測定に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記解析結果生成部が、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて前記解析結果を生成する、
試験装置。

【請求項6】

請求項１に記載の試験装置において、
前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値は、前記測定に対応付けられた前記電圧指令値と一致している
試験装置。

【請求項7】

試験対象の巻線の一方の端子が接続される第１外部端子と、前記試験対象の巻線の他方の端子が接続される第２外部端子と、指示を受け付ける指示受付部と、補正係数を算出する補正係数算出部と、設定されている電圧指令値と前記補正係数とに基づいて電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記試験対象の巻線の電気的特性に係る解析を行い、解析結果を生成する解析結果生成部と、を備えた試験装置を用いた試験方法であって、
前記指示受付部が所定の指示を受け付ける第１ステップと、
前記第１ステップの後に、前記電圧生成回路が、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力する第２ステップと、
前記電圧測定部が、前記第２ステップにおいて前記電圧生成回路が電圧を出力したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する第３ステップと、
前記補正係数算出部が、前記第３ステップにおいて測定された電圧と前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値とのずれが小さくなるように、前記補正係数を算出する第４ステップと、
前記解析が実行される場合に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力する第５ステップと、
前記電圧測定部が、前記第５ステップにおいて前記電圧生成回路が電圧を出力したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する第６ステップと、
前記解析結果生成部が、前記第６ステップにおいて測定された電圧に基づいて、前記解析結果を生成する第７ステップと、を含む
試験方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、試験装置および試験方法に関し、例えば、電動機および発電機などの回転機や変圧器等の、コイルにより構成される部品および製品の巻線の特性を測定するための試験装置および試験方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、電動機および発電機などの回転機の巻線の特性を測定するための試験装置として、試験対象の巻線にインパルス電圧を印加したときの電圧の変化に基づいて、巻線の電気的特性を測定するインパルス巻線試験装置が知られている（特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特許第５４０５５１８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

特許文献１に代表される従来のインパルス巻線試験装置は、インパルス巻線試験装置の内部に設けられた電圧生成回路によってインパルス電圧を生成し、巻線に印加する。このとき、電圧生成回路によって生成されるインパルス電圧と、巻線に実際に印加される電圧との間に差が生じる場合が多い。

【0005】

例えば、ユーザがインパルス巻線試験装置を操作してインパルス電圧を１０００Ｖに設定し、電圧生成回路から１０００Ｖのインパルス電圧が出力されたとき、試験対象の巻線に印加される電圧が、例えば、９５０Ｖ～９８０Ｖのように、設定した電圧（１０００Ｖ）に対して低下し、また、ばらつく場合がある。この現象は、寄生容量、出力インピーダンス、過渡応答による電圧の低下および巻線自体の特性または巻線が有するコアの特性の製造上のばらつきに起因すると考えられる。また、コアを有する巻線は、ヒステリシスを有する磁気特性を有しているため、巻線に印加された電圧または電流の履歴により、コアの磁化の状態が変化する。そのため、コアを有する巻線の場合、コアの磁化の状態も印加電圧のばらつきの一因となると考えられる。このうち、電圧の低下は良品の測定により、試験対象の巻線に印加する電圧を低下する分だけ上昇させておくことにより補正し、コアの磁化のばらつきは後述する消磁パルスにより抑制することができる。

【0006】

しかしながら、製造上のばらつきに起因する印加電圧のばらつきは抑制することが難しい。そして、インパルス電圧の設定値が一定であるにも関わらず、試験対象の巻線に印加される電圧が巻線毎にばらつくことは、実質的な測定条件が一定にならないため、ユーザによる巻線の品質管理の観点において、好ましくない。

【0007】

本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、巻線の試験時に、巻線に印加される電圧のばらつきを抑えることを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明の代表的な実施の形態に係る試験装置は、試験対象の巻線の一方の端子が接続される第１外部端子と、前記試験対象の巻線の他方の端子が接続される第２外部端子と、指示を受け付ける指示受付部と、補正係数を算出する補正係数算出部と、電圧指令値と前記補正係数とに基づいて電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記試験対象の巻線の電気的特性に係る解析を実行し、解析結果を生成する解析結果生成部と、を有し、前記指示受付部が所定の指示を受け付けた場合に、前記電圧生成回路が、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記補正係数算出部が、前記電圧測定部によって測定された電圧と前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値とのずれが小さくなるように、前記補正係数を更新し、前記解析が実行される場合に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記解析結果生成部が前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記解析結果を生成することを特徴とする。

【発明の効果】

【0009】

本発明に係る試験装置によれば、巻線の試験時に、巻線に印加される電圧のばらつきを抑えることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】実施の形態に係る試験装置の構成を示す図である。

【図2】電圧生成回路の構成の一例を示す図である。

【図3】電圧生成回路から消磁パルスおよび測定パルスを出力したときのタイミングチャートである。

【図4】消磁モードにおける試験装置による処理の流れを示すフローチャートである。

【図5】試験モードにおける試験装置による処理の流れを示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0011】

１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。なお、以下の説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の参照符号を、括弧を付して記載している。

【0012】

〔１〕本発明の代表的な実施の形態に係る試験装置（１）は、試験対象の巻線（１１）の一方の端子が接続される第１外部端子（Ｔ１）と、前記試験対象の巻線の他方の端子が接続される第２外部端子（Ｔ２）と、指示を受け付ける指示受付部（３）と、補正係数を算出する補正係数算出部（５）と、電圧指令値と前記補正係数とに基づいて電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路（２）と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部（４）と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記試験対象の巻線の電気的特性に係る解析を実行し、解析結果を生成する解析結果生成部（６）と、を有し、前記指示受付部が所定の指示（Ａ１）を受け付けた場合に、前記電圧生成回路が、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記補正係数算出部が、前記電圧測定部によって測定された電圧と前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値とのずれが小さくなるように、前記補正係数を算出し、前記解析が実行される場合に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記解析結果生成部が前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記解析結果を生成することを特徴とする。

【0013】

〔２〕上記〔１〕に記載の試験装置において、前記指示受付部が前記所定の指示を受け付けた場合に、前記電圧生成回路が、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧（Ｅｔ）を有するパルスを、指定された出力回数だけ出力するとともに、前記補正係数算出部が、前記パルスの出力毎に前記補正係数を更新してもよい。

【0014】

〔３〕上記〔１〕または〔２〕に記載の試験装置において、前記補正係数算出部は、前記電圧測定部によって測定された電圧（Ｖ）と前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値（Ｅｅ）との比に基づいて、前記補正係数を更新してもよい。

【0015】

〔４〕上記〔１〕乃至〔３〕の何れかに記載の試験装置において、前記所定の指示は、コアを有する巻線における前記コアの磁化のばらつきを抑制するための電圧である消磁パルスの出力の指示（Ａ１）であって、前記補正係数の算出後に前記指示受付部が前記解析の実行の指示（Ａ２）を受け付けた場合に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値（Ｅｍ）を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記解析結果生成部が、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて前記解析結果を生成してもよい。

【0016】

〔５〕上記〔１〕乃至〔３〕の何れかに記載の試験装置において、前記所定の指示は、前記解析の実行の指示（Ａ２）であって、前記補正係数の算出後に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値（Ｅｍ）を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、前記解析結果生成部が、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて前記解析結果を生成してもよい。

【0017】

〔６〕上記〔１〕乃至〔４〕の何れかに記載の試験装置において、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値（Ｅｅ）は、前記測定に対応付けられた前記電圧指令値（Ｅｍ）と一致していてもよい。

【0018】

〔７〕本発明の代表的な実施の形態に係る方法は、試験対象の巻線の一方の端子が接続される第１外部端子と、前記試験対象の巻線の他方の端子が接続される第２外部端子と、指示を受け付ける指示受付部と、補正係数を算出する補正係数算出部と、設定されている電圧指令値と前記補正係数とに基づいて電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記試験対象の巻線の電気的特性に係る解析を実行し、解析結果を生成する解析結果生成部と、を備えた試験装置を用いた試験方法である。本方法は、前記指示受付部が所定の指示を受け付ける第１ステップ（Ｓ１，Ｓ２）と、前記第１ステップの後に、前記電圧生成回路が、前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力する第２ステップ（Ｓ３～Ｓ６）と、前記電圧測定部が、前記第２ステップにおいて前記電圧生成回路が電圧を出力したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する第３ステップ（Ｓ７）と、前記補正係数算出部が、前記第３ステップにおいて測定された電圧と前記所定の指示に対応付けられた前記電圧指令値とのずれが小さくなるように、前記補正係数を算出する第４ステップ（Ｓ８）と、前記解析が実行される場合に、前記電圧生成回路が、前記解析に対応付けられた前記電圧指令値を前記補正係数によって補正した値に応じた電圧を生成して出力する第５ステップ（Ｓ１３～Ｓ１６）と、前記電圧測定部が、前記第５ステップにおいて前記電圧生成回路が電圧を出力したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する第６ステップ（Ｓ１７）と、前記解析結果生成部が、前記第６ステップにおいて測定された電圧に基づいて前記解析結果を生成する第７ステップ（Ｓ１９）と、を含むことを特徴とする。

【0019】

２．実施の形態の具体例
以下、本発明の実施の形態の具体例について図を参照して説明する。なお、以下の説明において、各実施の形態において共通する構成要素には同一の参照符号を付し、繰り返しの説明を省略する。

【0020】

図１は、実施の形態に係る試験装置１の構成を示す図である。
図１に示す試験装置１は、電動機および発電機等の回転機や変圧器等の電気機器を構成する巻線（コイル）の電気的特性を解析する装置である。例えば、試験装置１は、試験対象の巻線に電圧（インパルス電圧）を印加したときの電圧の変化に基づいて、試験対象の巻線に関するパラメータである等価インダクタ、等価キャパシタ、および等価抵抗の少なくとも一つの値を算出するインパルス巻線試験装置である。

【0021】

試験装置１は、巻線の電気的特性を解析する機能に加え、コアを有する巻線におけるコアの磁化のばらつきを抑制するための電圧（以下、「消磁パルス」とも称する。）を出力する機能を有している。また、試験装置１は、巻線の試験時に巻線に印加する電圧のばらつきを抑える機能を更に有している。

【0022】

試験装置１は、上述した機能を実現するための機能部として、例えば、図１に示すように、外部端子Ｔ１，Ｔ２、電圧生成回路２、指示受付部３、電圧測定部４、補正係数算出部５、解析結果生成部６、出力部７、および記憶部８を有している。

【0023】

外部端子Ｔ１，Ｔ２は、試験対象物（ＤＵＴ）としての巻線１１を接続するための端子である。例えば、外部端子Ｔ１には、巻線１１の一方の端子が接続され、外部端子Ｔ２には、巻線１１の他方の端子が接続される。

【0024】

電圧生成回路２は、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に接続された試験対象の巻線１１に対して所望の電圧を印加するための回路である。以下、巻線１１の試験時に電圧生成回路２から出力されるインパルス電圧を「測定パルス」と称し、上述したように試験対象の巻線１１のコアの磁化のばらつきを抑制するための、電圧生成回路２から出力されるインパルス電圧を「消磁パルス」と称する。

【0025】

電圧生成回路２は、後述する電圧指令値Ｅと補正係数Ｃに基づいて電圧を生成し、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間に出力する。なお、電圧生成回路２による電圧の生成方法の詳細については、後述する。

【0026】

指示受付部３は、試験装置１に対する指示を受け付ける機能部である。指示受付部３は、例えば、ユーザによる試験装置１への操作を受け付ける操作ボタンやタッチパネル等の入力インターフェース装置と、ＣＰＵによるプログラム処理とによって実現されている。

【0027】

指示受付部３は、例えば、外部の機器と有線または無線により通信を行うための通信回路を有していてもよい。例えば、指示受付部３は、試験装置１と有線または無線のネットワークによって接続された情報処理装置（例えば、ＰＣやタブレット端末等）から送信された信号を通信回路によって受信し、受信した信号に応じた処理の実行を他の機能部に対して指示してもよい。

【0028】

指示受付部３は、例えば、第１指示Ａ１と第２指示Ａ２を受け付ける。第１指示Ａ１および第２指示Ａ２は、上述した操作ボタンやタッチパネル等に対するユーザの操作、または通信回路によって受信した信号等によって入力される。

【0029】

第１指示Ａ１は、例えば、消磁パルスの出力の指示である。第１指示Ａ１は、例えば、消磁パルスの出力条件に関する情報（以下、「消磁パルス情報」）８４と対応付けられている。消磁パルス情報８４は、例えば、消磁パルスの大きさ（振幅）を指定する電圧指令値Ｅｅと、消磁パルスを出力する回数を指定する指定出力回数Ｎｅと、を含む。なお、消磁パルス情報８４は、第１指示Ａ１に含まれていてもよい。

【0030】

第２指示Ａ２は、例えば、試験対象の巻線１１の電気的な特性に係る解析の実行を示す指示である。第２指示Ａ２は、試験条件としての測定パルスに関する情報（以下、「測定パルス情報」とも称する。）８７に対応付けられている。測定パルス情報８７は、例えば、測定パルスの大きさ（振幅）を指定する電圧指令値Ｅｍと、試験時に測定パルスを出力する回数を指定する指定出力回数Ｎｍと、を含む。測定パルス情報８７は、第２指示Ａ２に含まれていてもよい。

【0031】

指示受付部３は、測定パルス情報８７（電圧指令値Ｅｍおよび指定出力回数Ｎｍ）を受け付けた場合に、測定パルス情報８７を記憶部８に記憶する。また、指示受付部３は、消磁パルス情報８４（電圧指令値Ｅｅおよび指定出力回数Ｎｅ）を受け付けた場合に、消磁パルス情報８４を記憶部８に記憶する。

【0032】

なお、測定パルス情報８７は、第２指示Ａ２に含まれていなくてもよい。例えば、測定パルス情報８７は、測定パルスを出力する前に試験装置１（記憶部８）に設定されていればよく、第２指示Ａ２が入力される前にユーザが指示受付部３に入力してもよいし、予め記憶部８に記憶されていてもよい。消磁パルス情報８４も同様に、消磁パルスを出力する前に試験装置１に設定されていればよく、第１指示Ａ１が入力される前にユーザが指示受付部３に入力してもよいし、予め記憶部８に記憶されていてもよい。

【0033】

なお、指示受付部３は、上述した消磁パルス情報８４および測定パルス情報８７の他に、測定条件として、後述するサンプリング周波数の情報等が入力された場合には、それらを記憶部８に記憶してもよい。

【0034】

電圧測定部４は、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間の電圧（端子間電圧）Ｖを測定する機能部である。電圧測定部４は、電圧Ｖの測定値（電圧測定値）８１を記憶部８に記憶する。

【0035】

具体的に、電圧測定部４は、電圧Ｖを所定のサンプリング周期でサンプリングすることにより、電圧Ｖの測定値を取得する。電圧測定部４は、例えば、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間の電圧Ｖを分圧する抵抗分圧回路と、抵抗分圧回路によって分圧された電圧を所定のサンプリング周期でデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路と、を含んで構成されている。電圧測定部４は、例えば、電圧Ｖを所定のサンプリング周期でサンプリングすることにより、電圧Ｖの測定値（サンプリングデータ）の時系列データを取得し、電圧測定値８１として記憶部８に記憶する。なお、サンプリング周期は、例えば、ユーザが指示受付部３を操作することによって設定してもよいし、外部装置から指示受付部３を介して設定してもよい。

【0036】

補正係数算出部５は、補正係数Ｃを算出する機能部である。
補正係数Ｃは、外部端子Ｔ１，Ｔ２間から出力される電圧が所望の値になるように、電圧指令値を補正するためのパラメータである。

【0037】

補正係数Ｃは、補正係数情報８２として記憶部８に記憶されている。例えば、予め、補正係数の初期値（補正係数Ｃ０）が補正係数情報８２として記憶されている。補正係数算出部５は、補正係数Ｃを算出する度に、補正係数情報８２内の補正係数Ｃを更新する。なお、補正係数Ｃ０（初期値）は、ユーザが指示受付部３を操作することによって設定してもよいし、外部機器が指示受付部３を介して設定してもよい。本実施の形態では、一例として、補正係数Ｃ０が予め記憶部８に記憶されているものとし、補正係数Ｃ０＝１．０００とする。なお、補正係数算出部５による補正係数Ｃの算出（更新）方法については、後述する。

【0038】

解析結果生成部６は、電圧測定部４によって測定された電圧Ｖに基づいて、試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析結果を生成する機能部である。解析結果生成部６は、試験対象の巻線１１の電気的特性の解析として、外部端子Ｔ１，Ｔ２に間に接続された巻線１１に電圧（インパルス電圧）を印加したときの外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの過渡応答特性に基づいて、公知の解析手法にしたがって、例えば、巻線１１に関するパラメータである等価インダクタ、等価キャパシタ、および等価抵抗の少なくとも一つの値を算出する。

【0039】

出力部７は、試験条件を設定するための情報や解析結果の情報等を出力する機能部である。出力部７は、例えば、液晶ディスプレイ等の表示装置によって実現されている。表示装置は、試験条件を設定するための情報や解析結果の情報等を画面上に表示してもよい。また、表示装置は、電圧測定部４によって測定された電圧の過渡応答特性をグラフとして画面に表示してもよい。

【0040】

なお、出力部７は、例えば、上記表示装置に加えて（または、代えて）、外部の情報処理装置と有線または無線によって解析結果等のデータを送信する通信回路や、試験装置１に接続された記憶装置（メモリカード等）に解析結果等のデータを書き込む回路等を含んでいてもよい。

【0041】

記憶部８は、試験装置１がインパルス巻線試験装置として機能するためのプログラムや各種パラメータ、試験対象の巻線１１の解析結果等を記憶するための機能部である。記憶部８には、例えば、上述した電圧測定値８１、補正係数情報８２、解析結果８３、消磁パルス情報８４、および測定パルス情報８７等が記憶される。

【0042】

上述した補正係数算出部５、解析結果生成部６、および記憶部８は、例えば、プログラム処理装置によって実現されている。具体的には、ＣＰＵ等のプロセッサと、ＲＡＭ、ＲＯＭ等の各種記憶装置と、カウンタ（タイマ）、Ａ／Ｄ変換回路、Ｄ／Ａ変換回路、クロック発生回路、および入出力インターフェース回路等の周辺回路とがバスや専用線を介して互いに接続された構成を有するプログラム処理装置（例えばマイクロコントローラ）において、プロセッサがメモリに記憶されているプログラムに従って各種演算処理を実行し、その処理結果に基づいて上記周辺回路を制御することによって、補正係数算出部５、解析結果生成部６、および記憶部８が実現されている。

【0043】

なお、試験装置１を構成する機能部の一部を、試験装置１と通信可能な外部の情報処理装置（例えば、ＰＣ、タブレット端末のような携帯端末、サーバ等）において実現してもよい。例えば、出力部７が、電圧測定値８１等を外部の情報処理装置に送信することにより、当該情報処理装置によって解析結果生成部６を実現してもよい。

【0044】

ここで、電圧生成回路２の構成について説明する。

【0045】

図２は、電圧生成回路２の構成の一例を示す図である。
図２に示すように、電圧生成回路２は、例えば、スイッチＳＷ、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓ、電流制限抵抗Ｒｓ、整流素子Ｄ、および出力制御部２０を有している。

【0046】

インパルス電圧印加用キャパシタＣｓは、インパルス電圧を発生させるための電荷を充電するキャパシタである。インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの一端は、外部端子Ｔ２に接続されている。

【0047】

スイッチＳＷは、インパルス電圧の出力の可否を切り替えるための素子である。スイッチＳＷは、例えば、パワートランジスタやサイリスタ等の半導体素子によって実現されている。スイッチＳＷは、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの他端と外部端子Ｔ１との間に接続されている。

【0048】

電流制限抵抗Ｒｓは、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓを放電したときに、外部端子Ｔ１から試験対象の巻線１１に流れる電流を制限するための素子である。電流制限抵抗Ｒｓは、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの他端と外部端子Ｔ１との間にスイッチＳＷと直列に接続されている。

【0049】

整流素子Ｄは、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓ側から外部端子Ｔ１側への電流を通過させ、外部端子Ｔ１側からインパルス電圧印加用キャパシタＣｓ側への電流を遮断する素子である。整流素子Ｄは、例えば、ダイオードである。なお、以下の説明において、整流素子Ｄを「逆流防止ダイオードＤ」とも表記する。

【0050】

逆流防止ダイオードＤは、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの他端と外部端子Ｔ１との間にスイッチＳＷおよび電流制限抵抗Ｒｓと直列に接続されている。例えば、逆流防止ダイオードＤのアノード電極が電流制限抵抗Ｒｓの一端に接続され、逆流防止ダイオードＤのカソード電極が外部端子Ｔ１に接続されている。

【0051】

出力制御部２０は、指示受付部３からの指示に応じて、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの充電および放電を制御する機能部である。出力制御部２０は、例えば、上述したプログラム処理装置（マイクロコントローラ）によって実現されている。

【0052】

出力制御部２０は、指示受付部３からの指示に応じて、消磁パルス情報８４および測定パルス情報８７に基づいてインパルス電圧印加用キャパシタＣｓの充電電圧およびスイッチＳＷを制御することにより、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に電圧Ｖを発生させる。例えば、出力制御部２０は、スイッチＳＷを開いた状態において、直流電源（不図示）によってインパルス電圧印加用キャパシタＣｓを所望の電圧になるまで充電し、その後、スイッチＳＷを閉じることにより、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に電圧Ｖを発生させる。

【0053】

このとき、上述したように、試験対象である巻線１１の特性等のばらつきにより、外部端子Ｔ１，Ｔ２から巻線１１に印加される電圧Ｖがばらつく場合がある。すなわち、電圧指令値を“Ｅｍ”とし、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの電圧が“Ｅｍ”となるようにインパルス電圧印加用キャパシタＣｓを充電し、スイッチＳＷによってインパルス電圧印加用キャパシタＣｓを放電したとき、外部端子Ｔ１，Ｔ２から巻線１１に印加される電圧Ｖは、“Ｅｍ”と異なることがある（Ｖ≠Ｅｍ）。さらに、特性等のばらつきによって試験対象の巻線１１毎に電圧Ｖが異なる値になる場合がある。

【0054】

そこで、出力制御部２０は、外部端子Ｔ１，Ｔ２から巻線１１に印加される電圧Ｖが所望の値となるように算出された補正係数Ｃを用いて電圧指令値Ｅｍを補正し、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの電圧が電圧指令値Ｅｍを補正係数Ｃによって補正した値になるように、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓを充電する。そして、出力制御部２０は、スイッチＳＷによってインパルス電圧印加用キャパシタＣｓを放電させることにより、所望の値の電圧Ｖを巻線１１に印加する。

【0055】

次に、試験装置１による補正係数Ｃの算出方法について、説明する。

【0056】

上述したように、補正係数Ｃは、外部端子Ｔ１，Ｔ２間から出力される電圧が所望の値になるように電圧指令値を補正するためのパラメータである。補正係数Ｃは、補正係数算出部５によって算出され、更新される。

【0057】

指示受付部３が所定の指示を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、所定の指示に対応付けられた電圧指令値を補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧（設定電圧）Ｅｔを生成して出力する。補正係数算出部５は、電圧測定部４によって測定された電圧Ｖと所定の指示に対応付けられた電圧指令値とのずれが小さくなるように、補正係数Ｃを更新する。

【0058】

ここで、所定の指示は、例えば、上述した第１指示Ａ１（消磁パルスの出力の指令）または第２指示Ａ２（巻線１１の電気的特性に係る解析の実行の指令）である。本実施の形態では、一例として、所定の指示が第１指示Ａ１であるとして説明する。

【0059】

具体的に、指示受付部３が第１指示を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、第１指示Ａ１に対応付けられた電圧指令値、すなわち消磁パルス情報８４に含まれる電圧指令値Ｅｅに基づいて電圧を生成して出力する。次に、補正係数算出部５が、電圧測定部４によって測定された電圧と第１指示Ａ１に対応付けられた電圧指令値Ｅｅとのずれが小さくなるように、補正係数Ｃを算出する。

【0060】

このとき、補正係数算出部５は、電圧測定部４によって測定された電圧Ｖと所定の指示に対応付けられた電圧指令値（Ｅｅ）との比に基づいて、補正係数Ｃを算出してもよい。例えば、更新前の補正係数をＣｎ－１、更新後の補正係数をＣｎとしたとき、補正係数算出部５は、下記式（１）に基づいて、補正係数Ｃｎを算出（更新）してもよい。

【0061】

【数1】

【0062】

また、補正係数算出部５は、パルスの出力毎に、補正係数Ｃを更新してもよい。具体的には、指示受付部３が所定の指示を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、所定の指示に対応付けられた電圧指令値を補正係数によって補正した値に応じた電圧を有するパルスを、指定された回数だけ出力するとともに、補正係数算出部５が、パルスの出力毎に補正係数Ｃを更新してもよい。
例えば、指示受付部３が第１指示Ａ１を受け付けた場合に、電圧生成回路２は、消磁パルスの電圧指令値Ｅｅを補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧（Ｅｔ＝Ｅｅ×Ｃ）を有する消磁パルスを、指定された回数（指定出力回数）Ｎｅだけ出力する。補正係数算出部５は、消磁パルスが出力される毎に測定された電圧Ｖ、電圧指令値Ｅｅ、および直前の補正係数Ｃｎ－１とに基づいて、補正係数Ｃｎを更新してもよい。
以下、補正係数Ｃの算出手順について説明する。

【0063】

図３は、電圧生成回路２から消磁パルスおよび測定パルスを出力したときのタイミングチャートである。

【0064】

図３には、図３の上部側から順に、電圧生成回路２から出力される消磁パルスおよび測定パルスの印加タイミング及び大きさ、外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧、補正係数、試験装置１の動作モードの時間的な変化が示されている。

【0065】

試験装置１は、動作モードとして、例えば、試験装置１への指示の入力を待つ“待機モード（待機状態）”と、“消磁モード”と、“試験モード”と、を有している。試験装置１は、消磁モードにおいて消磁パルスを出力して試験対象の巻線１１の磁化のばらつきを抑制するとともに補正係数Ｃの算出（更新）を行い、試験モードにおいて、測定パルスを出力して試験対象の巻線１１の電気的特性を解析する。

【0066】

図４は、消磁モードにおける試験装置１による処理の流れを示すフローチャートである。

【0067】

例えば、図３の時刻ｔ０において試験装置１に電源が投入されたとき、試験装置１は、“待機モード”となる。待機モードにおいて、試験装置１は、指示受付部３が第１指示Ａ１を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１）。指示受付部３が第１指示Ａ１を受け付けていない場合（ステップＳ１：ＮＯ）、試験装置１は待機モードを維持する。

【0068】

例えば、図３の時刻ｔ１において、指示受付部３が第１指示Ａ１を受け付けた場合（ステップＳ１：ＹＥＳ）、試験装置１は、消磁モードになる（ステップＳ２）。

【0069】

消磁モードにおいて、試験装置１は、消磁パルスの条件を設定する（ステップＳ３）。具体的には、電圧生成回路２の出力制御部２０が、記憶部８に記憶されている消磁パルス情報８４としての消磁パルスの電圧指令値Ｅｅおよび指定出力回数Ｎｅと、補正係数情報８２に含まれる補正係数Ｃとを読み出す。ここでは、電圧指令値Ｅｅ＝１０００Ｖ、指定出力回数Ｎｅ＝２、補正係数Ｃ＝Ｃ０（初期値）＝１．０００であったとする。

【0070】

次に、出力制御部２０が、電圧指令値Ｅｅと補正係数Ｃとに基づいて、次に出力すべき消磁パルスの設定電圧Ｅｔを決定する（ステップＳ４）。例えば、出力制御部２０は、電圧指令値Ｅｅに補正係数Ｃ０を乗算した値（＝Ｅｅ×Ｃ０＝１０００Ｖ）を消磁パルスの設定電圧Ｅｔとする。

【0071】

次に、出力制御部２０は、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの電圧が設定電圧Ｅｔ（＝１０００Ｖ）となるように、図示されていない直流電源によってインパルス電圧印加用キャパシタＣｓを充電する（ステップＳ５）。

【0072】

次に、試験装置１が１回目の消磁パルスを出力する（ステップＳ６）。具体的には、図３の時刻ｔ２において、出力制御部２０がスイッチＳＷをオンする。これにより、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓに充電されていた電荷が電流制限抵抗Ｒｓおよび逆流防止ダイオードＤを通って放電され、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に電圧（振幅）Ｖの消磁パルスが発生する。ステップＳ６において消磁パルスが出力されるとき、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの測定を開始する（ステップＳ７）。

【0073】

次に、補正係数算出部５が補正係数Ｃを算出する（ステップ８）。具体的には、図３に示すように、補正係数算出部５が、電圧測定部４によって測定された外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの最大値を取得し、ステップＳ４において決定した設定電圧Ｅｔと、ステップＳ７において測定された電圧Ｖの最大値Ｖｍａｘと、直前の補正係数Ｃとに基づいて、新たな補正係数Ｃを算出する。例えば、Ｖｍａｘ＝９２０Ｖであり、直前の補正係数をＣ０（初期値）とし、補正後の補正係数をＣ１とした場合、補正係数算出部５は、下記式（２）に基づいて補正係数Ｃ１を算出し、補正係数Ｃ１を補正係数情報８２として記憶部８に記憶する。これにより、記憶部８の補正係数情報８２が更新される。

【0074】

【数2】

【0075】

次に、試験装置１は、消磁パルスの出力回数が指定出力回数Ｎｅに到達したか否かを判定する（ステップＳ９）。消磁パルスの出力回数が指定出力回数Ｎｅに到達していない場合（ステップＳ９：ＮＯ）、試験装置１は、ステップＳ４～Ｓ９を再度実行する。

【0076】

上述の例の場合、指定出力回数Ｎｅ＝２に対して消磁パルスを１回しか出力していないため、試験装置１はステップＳ４に戻り、出力制御部２０が、先ず、次に出力すべき消磁パルスの設定電圧Ｅｔを決定する（ステップＳ４）。例えば、出力制御部２０は、電圧指令値Ｅｅに更新された補正係数Ｃ１を乗算した値（＝Ｅｅ×Ｃ＝１０００×１．０８７＝１０８７Ｖ）を２回目に出力すべき消磁パルスの設定電圧Ｅｔとする。

【0077】

次に、出力制御部２０は、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの電圧が設定電圧Ｅｔ（＝１０８７Ｖ）となるように、図示されていない直流電源によってインパルス電圧印加用キャパシタＣｓを充電する（ステップＳ５）。

【0078】

次に、試験装置１が２回目の消磁パルス（＝１０８７Ｖ）を出力する（ステップＳ６）。具体的には、図３の時刻ｔ３において、出力制御部２０がスイッチＳＷをオンする。これにより、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓに充電されていた電荷が電流制限抵抗Ｒｓおよび逆流防止ダイオードＤを通って放電され、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に電圧（振幅）Ｖの消磁パルスが発生する。ステップＳ６において２回目の消磁パルスが出力されるとき、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの測定を開始する（ステップＳ７）。

【0079】

次に、補正係数算出部５が補正係数を算出（更新）する（ステップ８）。具体的には、図３に示すように、補正係数算出部５が、電圧測定部４によって測定された外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの最大値を取得し、ステップＳ４において決定した設定電圧Ｅｔと、ステップＳ７において測定された電圧Ｖの最大値Ｖｍａｘと、直前の補正係数Ｃとに基づいて、補正係数Ｃを更新する。例えば、時刻ｔ３以降に測定された電圧Ｖの最大値Ｖｍａｘが１００７Ｖであり、直前の補正係数をＣ１（＝１．０８７）とし、補正後の補正係数をＣ２とした場合、補正係数算出部５は、下記式（３）に基づいて補正係数Ｃ２を算出し、補正係数Ｃ２を補正係数情報８２として記憶部８に記憶する。これにより、記憶部８の補正係数情報が更新される。

【0080】

【数3】

次に、試験装置１は、消磁パルスの出力回数が指定出力回数Ｎｅに到達したか否かを判定する（ステップＳ９）。上述の例の場合、消磁パルスの出力回数（＝２）が指定出力回数Ｎｅ（＝２）に到達しているため（ステップＳ９：ＹＥＳ）、試験装置１は、補正係数Ｃを更新する処理を終了する（ステップＳ１０）。その後、試験装置１は、例えば、消磁モードから待機モードに切り替わる。

【0081】

以上の処理により、試験対象の巻線１１に所望の電圧を印加するための補正係数Ｃを算出することができる。なお、上述の例では、消磁パルスの指定出力回数Ｎｅ（補正係数の更新回数）を“２”とする場合を例示したが、これに限られず、指定出力回数Ｎｅは１以上であればよい。

【0082】

次に、試験モードにおける試験装置１による処理について説明する。
試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析が実行される場合に、電圧生成回路２が、試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析に対応付けられた電圧指令値を補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、解析結果生成部６が、電圧測定部４によって測定された電圧に基づいて解析結果８３を生成する。

【0083】

ここで、試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析に対応付けられた電圧指令値とは、例えば、測定パルス情報８７の電圧指令値Ｅｍである。

【0084】

例えば、補正係数の算出後に指示受付部３が試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析の実行を指示する第２指示Ａ２を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、第２指示Ａ２に対応付けられた電圧指令値Ｅｍを補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、解析結果生成部６が、電圧測定部４によって測定された電圧に基づいて解析結果８３を生成する。

【0085】

図５は、試験モードにおける試験装置１による処理の流れを示すフローチャートである。

【0086】

以下の説明において、試験モードにおける処理を実行する前に、上述した補正係数Ｃの更新処理（図４）が実行され、補正係数情報８２として補正係数Ｃ２（＝１．０７９）が記憶部８に記憶されているものとする。

【0087】

例えば、試験装置１は、待機モードにおいて、指示受付部３が第２指示Ａ２を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１１）。指示受付部３が第２指示Ａ２を受け付けていない場合（ステップＳ１１：ＮＯ）、試験装置１は待機モードを維持する。

【0088】

例えば、図３の時刻ｔ４において、指示受付部３が第２指示Ａ２を受け付けた場合（ステップＳ１１：ＹＥＳ）、試験装置１は、試験モードになる（ステップＳ１２）。

【0089】

試験モードにおいて、試験装置１は、測定パルスの条件を設定する（ステップＳ３）。具体的には、出力制御部２０が、記憶部８に記憶されている測定パルス情報８７としての電圧指令値Ｅｍおよび指定出力回数Ｎｍと、補正係数情報８２に含まれる補正係数Ｃ２とを読み出す。ここでは、電圧指令値Ｅｍ＝１０００Ｖ、指定出力回数Ｎｅ＝１、補正係数Ｃ２＝１．０７９であったとする。

【0090】

次に、出力制御部２０が、電圧指令値Ｅｍと補正係数Ｃ２とに基づいて、次に出力すべき測定パルスの設定電圧Ｅｔを決定する（ステップＳ１４）。例えば、出力制御部２０は、電圧指令値Ｅｍに補正係数Ｃ２を乗算した値（＝Ｅｍ×Ｃ２＝１０７９Ｖ）をインパルス電圧印加用キャパシタＣｓに設定すべき設定電圧Ｅｔとする。

【0091】

次に、出力制御部２０が、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓの電圧が設定電圧Ｅｔ（＝１０７９Ｖ）となるように、図示されていない直流電源によってインパルス電圧印加用キャパシタＣｓを充電する（ステップＳ１５）。

【0092】

次に、試験装置１が測定パルス（＝１０７９Ｖ）を出力する（ステップＳ１６）。具体的には、図３の時刻ｔ５において、出力制御部２０がスイッチＳＷをオンする。これにより、インパルス電圧印加用キャパシタＣｓに充電されていた電荷が電流制限抵抗Ｒｓおよび逆流防止ダイオードＤを通って放電され、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に電圧（振幅）Ｖの測定パルスが発生する。ステップＳ１６において測定パルスが出力されるとき、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの測定を開始し、電圧Ｖの測定結果を電圧測定値８１として記憶部８に記憶する（ステップＳ１７）。このとき、補正係数Ｃ２によってインパルス電圧印加用キャパシタＣｓの設定電圧Ｅｔが調整されているので（Ｅｔ＝１０７９Ｖ）、電圧Ｖの最大値は、約１０００Ｖになる。

【0093】

次に、試験装置１は、測定パルスの出力回数が指定出力回数Ｎｍに到達したか否かを判定する（ステップＳ１８）。測定パルスの出力回数が指定出力回数Ｎｍに到達していない場合（ステップＳ１８：ＮＯ）、試験装置１は、ステップＳ１４～Ｓ１８を再度実行する。

【0094】

上述の例の場合、測定パルスの出力回数（＝１）が指定出力回数Ｎｍ（＝１）に到達しているため（ステップＳ１８：ＹＥＳ）、試験装置１は、試験対象の巻線１１の電気的特性の解析処理を実行する（ステップＳ１９）。具体的には、解析結果生成部６が、上述した手法により、ステップＳ１７において測定した電圧測定値８１を用いて、巻線１１の各種パラメータを算出し、解析結果８３として記憶部８に記憶するとともに、出力部７が、例えば、巻線１１の解析結果８３に係る情報を表示装置の画面に表示する。その後、試験装置１は、例えば、試験モードから待機モードに切り替わる。

【0095】

以上、実施の形態に係る試験装置１において、指示受付部３が所定の指示（例えば、第１指示Ａ１）を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、所定の指示に対応付けられた電圧指令値（例えば、電圧指令値Ｅｅ）を補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧（設定電圧Ｅｔ＝Ｅｅ×Ｃ）を生成して出力し、補正係数算出部５が、電圧測定部４によって測定された電圧Ｖと所定の指示に対応付けられた電圧指令値（Ｅｅ）とのずれが小さくなるように、補正係数Ｃを更新する。また、巻線１１の電気的特性に係る解析が実行されるとき、電圧生成回路２が、巻線１１の電気的特性に係る解析に対応付けられた電圧指令値（例えば、電圧指令値Ｅｍ）を補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧（設定電圧Ｅｔ＝Ｅｍ×Ｃ）を生成して出力し、解析結果生成部６が、そのときの電圧測定部４によって測定された電圧Ｖに基づいて、解析結果８３を生成する。

【0096】

これによれば、試験対象の巻線１１に印加する電圧が所望の大きさになるように補正係数Ｃが調整され、調整された補正係数Ｃに基づいて試験対象の巻線１１に印加すべき測定パルスの電圧が決定することができるので、試験対象の巻線１１に印加される電圧が、試験対象の巻線１１の特性等に起因してばらつくことを抑制することが可能となる。

【0097】

また、試験装置１において、指示受付部３が所定の指示を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、所定の指示に対応付けられた電圧指令値を補正係数によって補正した値に応じた電圧を有するパルスを指定された回数だけ出力するとともに、補正係数算出部５がパルスの出力毎に補正係数を更新してもよい。

【0098】

これによれば、試験を行う前に試験対象の巻線１１に印加するパルス（例えば、消磁パルス）の出力回数を増やすほど、補正係数Ｃの更新回数が増えるので、補正係数Ｃの精度を向上させることができ、試験対象の巻線１１に印加される電圧のばらつきをより抑えることが可能となる。また、試験対象の巻線１１に印加する電圧に必要とされる精度に応じて消磁パルスの出力回数を指定すればよいので、ユーザの種々のニーズに対応可能な使い勝手のよい試験装置１を実現することができる。

【0099】

また、所定の指示を消磁パルスの出力の指示である第１指示Ａ１としてもよい。これによれば、補正係数Ｃを更新するための操作ボタン等やコマンド等を新たに設ける必要がない。また、試験装置１を操作して消磁パルスの出力を指示するだけで、巻線１１の磁化状態のばらつきの抑制と補正係数Ｃの更新が行われるので、補正係数Ｃの更新を行うことによる解析時間の増加を抑えることが可能となる。

【0100】

また、試験装置１において、指示受付部３が、試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析の実行の指示である第２指示Ａ２を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、第２指示Ａ２に対応付けられた電圧指令値Ｅｍを補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、解析結果生成部６が、電圧測定部４によって測定された電圧に基づいて解析結果８３を生成してもよい。
これによれば、補正係数の算出処理と巻線の解析処理とがそれぞれ独立した第１指示Ａ１と第２指示Ａ２に応じて実行されるので、ユーザは、所望のタイミングにおいて、補正係数の更新と巻線の解析と区別して試験装置１に実行させることができる。

【0101】

また、試験装置１において、補正係数算出部５は、電圧測定部４によって測定された電圧Ｖと所定の指示に対応付けられた電圧指令値（Ｅｅ）との比に基づいて補正係数Ｃを更新してもよい。例えば、補正係数算出部５は、上記式（１）に基づいて、補正係数Ｃｎを更新してもよい。

【0102】

これによれば、より簡易な計算によって補正係数を更新することができるので、電圧の補正機能を試験装置１に組み込むことによる、試験装置１（プログラム処理装置）による演算負荷の増大を抑えることが可能となる。

【0103】

また、試験装置１において、所定の指示Ａ１に対応付けられた電圧指令値は、試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析に対応付けられた電圧指令値に一致していることが好ましい。例えば、消磁パルスの電圧指令値Ｅｅを測定パルスの電圧指令値Ｅｍに一致させることが好ましい（Ｅｅ＝Ｅｍ）。これによれば、解析時に巻線１１に印加すべき電圧に合わせて補正係数が調整されるので、測定パルスの電圧の精度を更に向上させることができる。

【0104】

≪実施の形態の拡張≫
以上、本願発明者によってなされた発明を実施の形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。

【0105】

例えば、上記実施の形態では、補正係数の算出処理の開始トリガとなる所定の指示が第１指示Ａ１（消磁パルスの出力指示）である場合を例示したが、これに限られない。例えば、消磁パルスの出力指示とは異なる指示（例えば、補正係数の算出指示）であってもよい。この場合、試験装置１に上記指示のための操作ボタン等のユーザインタフェースやコマンドを新たに設ければよい。

【0106】

また、上記実施の形態では、補正係数の算出処理の開始トリガとなる所定の指示が第１指示Ａ１であること、すなわち第１指示Ａ１が試験装置１に入力されたとき、試験装置１が補正係数の算出（更新）を実行する場合を例示したが、これに限られない。例えば、第２指示Ａ２が試験装置１に入力された場合に、試験装置１は、第２指示Ａ２の入力に応じて補正係数Ｃの算出処理と巻線１１の解析処理を連続して実行してもよい。

【0107】

具体的には、所定の指示を、第２指示Ａ２（試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析の実行の指示）とする。より具体的には、指示受付部３が第２指示Ａ２を受け付けた場合に、電圧生成回路２が、第２指示Ａ２に対応付けられた電圧指令値Ｅｍに基づく電圧を生成して出力するとともに、補正係数算出部５が、電圧測定部４によって測定された電圧と第２指示Ａ２に対応付けられた電圧指令値Ｅｍとのずれが小さくなるように、補正係数Ｃを算出する。そして、補正係数Ｃの算出後に、電圧生成回路２が電圧指令値Ｅｍを補正係数Ｃによって補正した値に応じた電圧を生成して出力するとともに、解析結果生成部６が、電圧測定部４によって測定された電圧に基づいて解析結果８３を生成する。

【0108】

これによれば、ユーザが巻線１１の電気的特性に係る解析の実行の指示（第２指示Ａ２）を入力するだけで、補正係数Ｃの算出と補正係数Ｃを用いた巻線１１の電気的特性に係る解析が連続して行われるので、ユーザは、事前に消磁パルスの出力指示（第１指示Ａ１）を入力する必要はない。

【0109】

この場合に、電圧生成回路２は、消磁パルス情報８４として測定パルス情報８７を用いてもよい。例えば、電圧生成回路２は、消磁パルスの電圧指令値Ｅｅを測定パルス情報８７の電圧指令値Ｅｍと同じ値に設定して、消磁パルスを出力してもよい。また、電圧生成回路２は、消磁パルスの指定出力回数Ｎｅも測定パルスの指定出力回数Ｎｍと同じ値に設定して、消磁パルスを出力してもよい。あるいは、消磁パルス情報８４は、予め記憶部８に設定されていてもよい。これによれば、ユーザは、測定パルス情報８７を設定するだけで足り、消磁パルス情報８４を設定する必要はない。

【0110】

また、上記実施の形態では、試験装置１が、複数の消磁パルスを出力した場合に、消磁パルスが出力される毎に補正係数Ｃの更新を行う場合を例示したが、これに限られない。すなわち、補正係数算出部５は、複数の消磁パルスのうち少なくとも一つの消磁パルスを巻線１１に印加したときの電圧Ｖの測定値に基づいて、上述した手法により、補正係数Ｃを算出すればよい。

【0111】

例えば、補正係数算出部５は、最初に出力した消磁パルスを巻線１１に印加したときの電圧Ｖの測定値と補正係数Ｃｎ－１とに基づいて、補正係数Ｃｎを算出してもよいし、最後に出力した消磁パルスを巻線１１に印加したときの電圧Ｖの測定値と補正係数Ｃｎ－１とに基づいて、補正係数Ｃｎを算出してもよい。あるいは、消磁パルスをＮｅ回出力する場合に、補正係数算出部５は、最初にｎ（＜Ｎｅ）回出力された消磁パルスのそれぞれに基づいて補正係数Ｃを算出してもよいし、最後にｎ回出力された消磁パルスのそれぞれに基づいて補正係数Ｃを算出してもよい。すなわち、消磁パルスの出力回数（指定出力回数Ｎｅ）と補正係数の更新回数は一致していなくてもよい。

【0112】

また、上記実施の形態において、一例として、試験時に巻線１１に印加する電圧を１０００Ｖにするために、１回目の消磁パルスの電圧指令値Ｅｅを１０００Ｖとする場合を例示したが、これに限られない。例えば、予め、良品の巻線１１に１０００Ｖを印加するために必要な電圧指令値を測定しておき、その電圧指令値を１回目の消磁パルスの電圧指令値としてもよい。例えば、巻線１１に１０００Ｖを印加するための電圧指令値が１０９０Ｖであった場合には、１回目の消磁パルスの電圧指令値Ｅｅを“１０９０Ｖ”としてもよい。あるいは、補正係数の初期値Ｃ０を“１．０９０（＝１０９０Ｖ÷１０００Ｖ）”として、１回目の消磁パルスを出力してもよい。

【0113】

また、上記実施の形態では、補正係数の算出のために巻線１１に印加するパルスとして消磁パルスを用いる場合を例示したが、パルスの種類はこれに限定されない。例えば、試験対象の巻線１１の電気的特性に係る解析時に印加する測定パルスと同じパルスを補正係数の算出のために巻線１１に印加してもよい。このとき、補正係数の算出のためのパルスの出力回数は、測定パルスの出力回数（指定出力回数Ｎｍ）と同じであってもよいし、異なっていてもよい。

【0114】

また、更新により算出された補正係数Ｃが所定の範囲を超えた場合には、補正係数算出部５が、補正係数Ｃをその所定の範囲の上限値または下限値に制限してもよいし、出力部７が、異常状態（エラー）を示す情報を出力した上で、電圧生成回路２が消磁パルスまたは測定パルスの出力を停止してもよい。これによれば、試験対象の巻線自体に異常（短絡故障や開放故障等）があった場合に、補正係数Ｃが異常な値に設定されて、外部端子Ｔ１，Ｔ２から不適切な電圧が出力されることを防止することができる。

【0115】

また、上述のフローチャートは、動作を説明するための一例を示すものであって、これに限定されない。すなわち、フローチャートの各図に示したステップは具体例であって、このフローに限定されるものではない。例えば、一部の処理の順番が変更されてもよいし、各処理間に他の処理が挿入されてもよいし、一部の処理が並列に行われてもよい。

【符号の説明】

【0116】

１…試験装置、２…電圧生成回路、３…指示受付部、４…電圧測定部、５…補正係数算出部、６…解析結果生成部、７…出力部、８…記憶部、８１…電圧測定値、８２…補正係数情報、８３…解析結果、８４…消磁パルス情報、８７…測定パルス情報、Ａ１…第１指示、Ａ２…第２指示、Ｃｓ…インパルス電圧印加用キャパシタ、Ｒｓ…電流制限抵抗、Ｄ…整流素子（逆流防止ダイオード）、Ｔ１…外部端子（第１外部端子）、Ｔ２…外部端子（第２外部端子）。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】