特開 2024-87535 画像処理装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024087535

(43)【公開日】2024-07-01

(54)【発明の名称】画像処理装置

(51)【国際特許分類】

   G06T 7/66 20170101AFI20240624BHJP

   B41J 2/01 20060101ALI20240624BHJP

   B41J 29/393 20060101ALI20240624BHJP

【ＦＩ】

G06T7/66

B41J2/01 451

B41J29/393 101

【審査請求】未請求

【請求項の数】1

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022202417

(22)【出願日】2022-12-19

(71)【出願人】

【識別番号】000250502

【氏名又は名称】理想科学工業株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100083806

【弁理士】

【氏名又は名称】三好 秀和

(74)【代理人】

【識別番号】100101247

【弁理士】

【氏名又は名称】高橋 俊一

(74)【代理人】

【識別番号】100095500

【弁理士】

【氏名又は名称】伊藤 正和

(72)【発明者】

【氏名】伊藤 政人

【テーマコード（参考）】

2C056

2C061

5L096

【Ｆターム（参考）】

2C056EB27

2C056EB36

2C056EC26

2C056EC37

2C056EC77

2C061AP01

2C061AQ05

2C061KK18

5L096FA60

(57)【要約】

【課題】処理時間を増加させることなくドットの誤検出を低減することが可能な画像処理装置を提供する。
【解決手段】ドットを含む印刷画像を読み取って得られた画像データにおける探索領域の濃度重心を算出する探索処理を２回実施し、２回目の探索処理で算出した濃度重心をドットの位置と判定するドット探索処理部１１を備える。ドット探索処理部１１は、１回目の探索処理で算出した濃度重心に基づき、２回目の探索処理における探索領域を設定するものであり、２回目の探索処理で算出した濃度重心が、１回目の探索処理における探索領域の外側にある場合には、１回目の探索処理で算出した濃度重心を含まない領域を探索領域に設定して２回目の探索処理をやり直す。
【選択図】 図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

ドットを含む印刷画像を読み取って得られた画像データにおける探索領域の濃度重心を算出する探索処理を２回実施し、２回目の探索処理で算出した濃度重心をドットの位置と判定するドット探索処理部を備え、
前記ドット探索処理部は、
１回目の探索処理で算出した濃度重心に基づき、２回目の探索処理における探索領域を設定するものであり、
２回目の探索処理で算出した濃度重心が、１回目の探索処理における探索領域の外側にある場合には、１回目の探索処理で算出した濃度重心を含まない領域を探索領域に設定して２回目の探索処理をやり直す、画像処理装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、画像処理装置に関する。

【背景技術】

【0002】

画像処理装置のプリントタイミングを補正するために、調整パターンのドット座標と設計上のドット座標とのずれ量からプリントタイミングの補正量を算出することが行われている。ドット位置を算出する際には、基準となるマーカが印字された印刷物をスキャンして画像を解析し、マーカを検出する。検出したマーカの位置に基づいて基準位置を設定し、基準位置を中心として正方形或いは長方形の探索窓を設定し、探索窓内にて濃度重心を算出することにより、ドットの位置を決定する。

【0003】

しかし、用紙に夾雑物が存在し用紙表面に汚れが生じる場合には、ドット探索に影響を及ぼすことがある。特に、ドット探索窓の境界を跨ぐような大きな汚れが発生した場合に、ドット位置を誤検出してしまう。

【0004】

また、今回のドット探索によって決定された座標を基準とし、所定距離だけ移動した先に、次回探索時の探索窓を設定するので、一度ドット位置がずれると後続のドット探索で本来探索するべきドットとは異なるドットを探索してしまう場合がある。このため、プリントタイミング補正量の算出精度が低下する。

【0005】

特許文献１には、ドットや汚れの面積によりノイズを除去することでドットの位置の誤検出を抑制することが開示されている。

【0006】

特許文献２には、ノイズによりドット検出が失敗した場合には、ユーザが汚れを取り除くなどの対策を採ることが開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0007】

【特許文献1】特開２００１－２９１１０７号公報

【特許文献2】特許６９１５６３２号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0008】

しかし、上述した特許文献１に開示された技術では、ドットの面積、汚れの面積を計算するため、処理時間が増加する恐れがある。また、特許文献２では、ユーザの手で取り除くことができない汚れが存在する場合には、処理時間が増加する恐れがある。

【0009】

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、処理時間を増加させることなくドットの誤検出を低減することが可能な画像処理装置を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0010】

上記目的を達成するため、本願発明に係る画像処理装置は、ドットを含む印刷画像を読み取って得られた画像データにおける探索領域の濃度重心を算出する探索処理を２回実施し、２回目の探索処理で算出した濃度重心をドットの位置と判定するドット探索処理部を備え、前記ドット探索処理部は、１回目の探索処理で算出した濃度重心に基づき、２回目の探索処理における探索領域を設定するものであり、２回目の探索処理で算出した濃度重心が、１回目の探索処理における探索領域の外側にある場合には、１回目の探索処理で算出した濃度重心を含まない領域を探索領域に設定して２回目の探索処理をやり直す。

【発明の効果】

【0011】

本発明では、処理時間を増加させることなくドットの誤検出を低減することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】図１は、本実施形態に係るインクジェット印刷装置の構成を示すブロック図である。

【図2】図２は、ドット探索処理部の詳細構成を示すブロック図である。

【図3】図３は、調整パターンに印刷されているドットを探索する処理を示す説明図である。

【図4】図４は、ドット探索を２回実施する際の処理を示す説明図である。

【図5】図５は、ドットｄ１-1の探索時に、ドット位置Ｄ２-1がドットｄ１から大きく離れた場合の、後続のドット探索処理を示す説明図である。

【図6】図６は、探索窓を小さく設定してドット位置を探索する処理を示す説明図である。

【図7A】図７Ａは、調整パターンに小さい汚れが存在する場合のドット探索処理を示す説明図である。

【図7B】図７Ｂは、ドット位置Ｄ２-1が大きくずれたときの、ドット探索処理を示す説明図である。

【図8】図８は、ドット位置Ｄ２-1が探索窓Ｐ１と探索窓ｔｈ１-1の間に存在する例を示す説明図であり、（ａ）はドット位置Ｄ１-1とＤ２-1の差分が閾値ＴＨ１よりも大きい場合を示し、（ｂ）はドット位置Ｄ１-1とＤ２-1がほぼ一致している場合を示している。

【図9】図９は、本実施形態に係るインクジェット印刷装置の処理手順を示すフローチャートである。

【図10A】図１０Ａは、ドット位置の取得処理を示すフローチャートの第１の分図である。

【図10B】図１０Ｂは、ドット位置の取得処理を示すフローチャートの第２の分図である。

【図11】図１１は、従来の面積判定によるドット検出及び本実施形態によるドット検出において、演算回数の比較結果を示す説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0013】

次に、図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。但し、図面は模式的なものであり、部材ないし部分の縦横の寸法や縮尺は実際のものとは異なることに留意すべきである。従って、具体的な寸法や縮尺は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。

【0014】

以下に示す実施形態では、画像処理装置の一例としてインクジェット印刷装置１００を例に挙げて説明する。図１は、本実施形態に係るインクジェット印刷装置１００（以下、「印刷装置１００」と略す）の構成を示すブロック図、図２は、図１に示すドット探索処理部１１の詳細構成を示すブロック図である。

【0015】

図１に示すように、印刷装置１００は、制御部１と、サイド給紙部２と、内部給紙部３と、印刷処理部４と、反転部５と、排紙部６と、操作パネル７と、スキャナ部８、を備えている。

【0016】

サイド給紙部２は、印刷装置１００を構成する筐体内に一部が配置され、筐体外に一部が突出する状態で設置されている。サイド給紙部２は、印刷媒体を載置する給紙台を備えており、所定のタイミングで印刷媒体を印刷処理部４に送り出す。

【0017】

内部給紙部３は、印刷装置１００を構成する筐体内に配置されている。内部給紙部３は、印刷媒体を載置する給紙台を備えており、所定のタイミングで印刷媒体を印刷処理部４に送り出す。

【0018】

印刷処理部４は、４つのラインヘッドを備えるヘッドユニット４１を有しており、搬送ベルト（図示省略）によって搬送された印刷媒体にインクを吐出して印刷処理を施す。印刷処理部４は、プリントタイミング調整用のパターンを含む画像データを印刷する。

【0019】

反転部５は、印刷処理部４によって一方の面に印刷処理が施された印刷済みの印刷媒体を反転し、再度印刷処理部４の上流側へ搬送する。印刷済みの印刷媒体の他方の面に印刷処理を施すことができる。

【0020】

排紙部６は、印刷装置１００の筐体から突出したトレイを有し、印刷処理部４で印刷済みの印刷媒体を収容する。

【0021】

操作パネル７は、液晶ディスプレイを有するタッチパネルを備え、種々の設定入力画面を表示し、印刷開始の指示入力や印刷条件の設定入力などの種々の設定入力を受け付ける。

【0022】

スキャナ部８は、印刷処理部４で印刷されたプリントタイミング調整用の調整パターンが印刷された印刷媒体の画像を読み取り、画像データを取得する。

【0023】

制御部１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）および半導体メモリなどを備える。制御部１は、半導体メモリに予め記憶されたプログラムをＣＰＵに実行させることによって、印刷装置１００の各部の動作を制御する。

【0024】

制御部１は、スキャナで読み取られた画像データを取得し、その画像データに基づいて、印刷処理部４を制御することによって印刷処理を実行する。制御部１は、ドット探索処理部１１と、補正パラメータ生成部１２、及びタイミング補正部１３を備えている。

【0025】

図２に示すようにドット探索処理部１１は、基準検出部１１１と、領域・閾値設定部１１２と、ドット探索部１１３と、ドット位置判定部１１４、を備えている。

【0026】

基準検出部１１１は、調整パターンの画像に含まれるマーカを検出し、このマーカから基準となるドットを検出する。

【0027】

領域・閾値設定部１１２は、基準となるドットを中心として所定の範囲となる領域（例えば、矩形の領域）を探索領域に設定する。領域・閾値設定部１１２は、探索領域の大きさを示す閾値を設定する。領域・閾値設定部１１２はまた、後述するドット位置判定部で判定されたドット位置を基準として、所定の距離だけ移動した地点を次回の探索の基準となるドットに設定し、更に、このドットに対して探索領域を設定する。

【0028】

ドット探索部１１３は、領域・閾値設定部１１２で設定された探索領域中のドットを探索する。ドット探索部１１３は、基準となるドット以外に、他のドット、汚れにより生じているドットなどを探索する。

【0029】

ドット位置判定部１１４は、探索領域中に含まれるドットから、ドットの重心を算出し、この重心位置をドット位置として判定する。探索領域中に、基準となるドットのみが存在する場合には、このドットの位置がドット位置として設定される。

【0030】

図１に示す補正パラメータ生成部１２は、各探索領域で判定されたドット位置に基づいて、プリントタイミングの補正パラメータを生成する。

【0031】

タイミング補正部１３は、補正パラメータ生成部１２で生成された補正パラメータに基づいて、ヘッドユニット４１によるプリントタイミングを補正する。即ち、タイミング補正部１３は、記録媒体に対してインクを吐出する複数のインクジェットヘッドを、印刷媒体およびインクジェットヘッドの少なくとも一方の移動方向に直交する方向に複数配列したヘッドユニット４１のプリントタイミングを補正する。

【0032】

［探索領域の設定、ドット探索処理の説明］
次に、本実施形態に係る印刷装置１００による探索領域の設定及びドット探索処理について、図３～図８を参照して説明する。

【0033】

図３は、調整パターンに印刷されているドットを探索する処理を示す説明図である。調整パターンには、ドットｄ１-1、ｄ１-2、ｄ１-3からなるドット群、及びドットｄ２-1、ｄ２-2、ｄ２-3からなるドット群が存在している。そして、領域・閾値設定部１１２は、探索窓（探索領域）を設定することにより、ドットｄ１-1、ｄ１-2、ｄ１-3の順に探索する。

【0034】

領域・閾値設定部１１２により、基準となるドットとして例えばドットｄ１-1が設定される。更に図３の符号Ｘ１に示すようにドットｄ１-1を中心とした探索窓ｔｈ１-1が設定される。探索窓ｔｈ１-1内におけるドット濃度の重心をドット位置Ｄ１-1（図中「×」で記載）として算出する。探索窓ｔｈ１-1内にはドットｄ１-1のみが存在するので、探索窓ｔｈ１-1のドット位置Ｄ１-1は、ドットｄ１-1の位置と一致する。

【0035】

このドット位置Ｄ１-1から所定距離だけ移動した地点を中心として、２つ目のドット探索を行う。即ち、符号Ｘ２に示すように探索窓ｔｈ１-2を設定してドット探索を行う。その結果、ドットｄ１-2が探索され、ドット位置Ｄ１-2が算出される。即ち、調整パターンに汚れが存在しない場合には、１つ目のドット位置Ｄ１-1から所定距離だけ移動させることにより、２つ目のドット位置Ｄ１-2を精度良く探索することができる。

【0036】

一方、調整パターンに汚れが生じている場合には、図３に示したようにドット位置Ｄ１-1、Ｄ１-2を高精度に探索することができない。そこで、ドット探索を２回実施することが行われる。図４は、ドット探索を２回実施する際の処理を示す説明図であり、１回目の探索窓ｔｈ１-1、及び２回目の探索窓ｔｈ２-1を示している。

【0037】

この処理では、１回目のドット探索にて図３に示したようにドットｄ１-1を中心として探索窓ｔｈ１-1を設定し、この内部においてドット濃度の重心をドット位置Ｄ１-1とする。更に、ドット位置Ｄ１-1を中心として探索窓ｔｈ１-1と同一サイズの探索窓ｔｈ２-1を設定する。探索窓ｔｈ２-1内のドット濃度の重心をドット位置Ｄ２-1とし、このドット位置Ｄ２-1を基準として後続のドットｄ１-2（図３参照）を探索する。

【0038】

図４（ａ）は調整パターンに汚れが生じていない場合、（ｂ）は調整パターンに汚れＱ１が生じている場合、（ｃ）は調整パターンに汚れＱ１に対して相対的に大きい汚れＱ２が生じている場合における探索窓ｔｈ１-1、ｔｈ２-1を示している。

【0039】

図４（ａ）に示すように、調整パターンに汚れが発生していない場合には、１回目の探索窓ｔｈ１-1により、ドットｄ１-1の位置がドット位置Ｄ１-1として算出される。更に、このドット位置Ｄ１-1を中心として２回目の探索窓ｔｈ２-1が設定され、ドット位置Ｄ２-1が算出される。２回目の探索窓ｔｈ２-1は１回目の探索窓ｔｈ１-1と一致するので、ドット位置Ｄ２-1は、ドットｄ１-1と一致する。従って、後続のドットｄ１-2（図３参照）の探索に影響を与えない。

【0040】

図４（ｂ）に示すように、調整パターンに汚れＱ１が発生している場合には、１回目の探索窓ｔｈ１-1によりドットｄ１-1、及び汚れＱ１が検出される。従って、探索窓ｔｈ１-1内におけるドット濃度の重心を示すドット位置Ｄ１-1は、図４（ｂ）のようにドットｄ１-1から離れた位置に移動する。

【0041】

汚れＱ１は、探索窓ｔｈ１-1内に全て含まれているので、ドット位置Ｄ１-1を中心として２回目の探索窓ｔｈ２-1を設定した場合に、ドット位置Ｄ２-1はドット位置Ｄ１-1と一致する。従って、後続のドットｄ１-2（図３参照）の探索への影響は小さい、或いは影響を与えない。即ち、調整パターンに汚れＱ１が存在する場合でも、その大きさが小さければ、１回目の探索窓ｔｈ１-1で算出したドット位置Ｄ１-1と、２回目の探索窓ｔｈ２-1で算出したドット位置Ｄ２-1は一致するので、後続のドット探索へ影響を与えないものと考えられる。

【0042】

図４（ｃ）に示すように、調整パターンに前述した汚れＱ１よりも相対的に大きい汚れＱ２が発生している場合には、１回目の探索窓ｔｈ１-1によりドットｄ１-1、及び汚れＱ２の一部が検出される。従って、ドット位置Ｄ１-1は図４（ｃ）のように、ドットｄ１-1から離れた位置に移動する。

【0043】

汚れＱ２は、探索窓ｔｈ１-1の外側まで存在しているので、このドット位置Ｄ１-1を中心として２回目の探索窓ｔｈ２-1を設定すると、ドット位置Ｄ２-1（図中、「＋」で表記）は１回目の探索窓ｔｈ１-1の外側の領域となってしまう。即ち、大きい汚れＱ２が存在すると、ドット位置Ｄ２-1はドットｄ１-1から大きく離れてしまうことになる。この場合には、後続のドット探索に大きく影響を与えてしまい、正確なドット探索ができなくなってしまう。以下、この内容について図５を参照して説明する。

【0044】

図５は、ドットｄ１-1の探索時に、ドット位置Ｄ２-1がドットｄ１から大きく離れた場合の、後続のドット探索処理を示す説明図である。なお、図５では、２回目の探索窓ｔｈ２-1の記載を省略している。

【0045】

図５に示すように、調整パターンにドットｄ１-1、ｄ１-2、ｄ１-3からなるドット群Ｒ１、及びドットｄ２-1、ｄ２-2、ｄ２-3からなるドット群Ｒ２が存在している場合には、領域・閾値設定部１１２は、ドットｄ１-1、ｄ１-2、ｄ１-3の順に探索する必要がある。

【0046】

しかし、探索窓ｔｈ１-1内に汚れＱ３が存在する場合には、上述したように探索窓ｔｈ１-1に対してドット位置Ｄ２-1が設定される。このドット位置Ｄ２-1を基準とすると、次回の探索では探索窓ｔｈ１-2が設定されてしまい、この場合には、探索窓ｔｈ１-2内にドットｄ２-2が含まれてしまい、ドットｄ２-2がドット位置Ｄ２-2に設定されてしまう。このため、その後の探索ではドットｄ２-3を含む探索窓ｔｈ１-3が設定されてしまい、探索するべきドット群を誤認識してしまう。

【0047】

本実施形態では図４（ｃ）に示したように、２回目の探索窓ｔｈ２-1で探索されたドット位置Ｄ２-1が、１回目の探索窓ｔｈ１-1の外部である場合には、探索窓の大きさが小さくなるように変更して、再度ドットの探索処理を行う。即ち、探索窓ｔｈ１-1による１回目の探索処理及び探索窓ｔｈ２-1による２回目の探索処理を１ループとする処理を２回繰り返す。即ち、第１のループ及び第２のループを実行する。以下では、第１のループにおける１回目の探索窓をｔｈ１-1、２回目の探索窓をｔｈ２-1として記載し、第２のループにおける１回目の探索窓をｔｈ１’-1、２回目の探索窓をｔｈ２’-1として記載する。

【0048】

以下、図６を参照して詳細に説明する。図６（ａ）は前述した図４（ｃ）と同様に、汚れＱ４が存在することにより、ドット位置Ｄ２-1が１回目の探索窓ｔｈ１-1の外側になった場合の例を示す説明図である。図６（ｂ）は、第２のループにおいて探索窓ｔｈ１’-1が小さくなるように変更した場合におけるドット位置Ｄ２-1の探索結果を示す説明図である。

【0049】

第１のループ（１回目の探索処理及び２回目の探索処理）が終了した時点で、ドット位置Ｄ２-1が１回目の探索窓ｔｈ１-1の外側になった場合には、探索窓ｔｈ１-1を、ドット位置Ｄ１-1を含まないように小さくした探索窓ｔｈ１’-1に変更して、第２のループ（１回目の探索処理及び２回目の探索処理）を行う。

【0050】

図６（ａ）に示すように、汚れＱ４によりドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の外側となった場合には、図６（ｂ）に示すように、第２のループにおいて、探索窓ｔｈ１’-1がドット位置Ｄ１-1を含まないように探索窓ｔｈ１’-1が小さくなるように変更して、再度１回目の探索処理及び２回目の探索処理を行う。

【0051】

図６（ｂ）に示すように、第２のループにおける探索窓ｔｈ１’-1が小さくなるように変更したことにより、汚れＱ４は探索窓ｔｈ１’-1に含まれなくなる。このため、第２のループで探索されるドット位置Ｄ１-1、Ｄ２-1は、ドットｄ１-1と一致する。従って、後続のドット探索に影響を及ぼすことを回避できる。

【0052】

即ち、第２のループで探索窓ｔｈ１’-1を小さく設定することにより、図４（ｃ）に示した例では探索の継続が困難とされていた汚れＱ２が存在する場合でも、高精度にドットｄ１-1、ｄ１-2、ｄ１-3（図５参照）の探索、即ち、同一のドット群の探索が可能になる。

【0053】

図６（ｃ）は、図６（ａ）に示した汚れＱ４よりも相対的に大きい汚れＱ５が存在することにより、ドット位置Ｄ２-1が１回目の探索窓ｔｈ１-1の外側になった場合の例を示している。第２のループでは、第１のループで探索したドット位置Ｄ１-1を含まないように小さくした探索窓ｔｈ１’-1を採用して、１回目の探索処理及び２回目の探索処理を行う。

【0054】

具体的には、図６（ｃ）に示すように、ドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の外側であると判定された場合には、図６（ｄ）に示すように、第２のループにおいて探索窓ｔｈ１’-1がドット位置Ｄ１-1を含まないように探索窓ｔｈ１’-1の大きさを変更して、再度１回目の探索処理及び２回目の探索処理を行う。

【0055】

図６（ｄ）に示すように、探索窓ｔｈ１-1を小さくした第２のループにおいても、汚れＱ５は探索窓ｔｈ１’-1に含まれている。このため、第２のループの探索処理によるドット位置Ｄ２-1は、ドットｄ１-1から離れた位置になってしまう。このような場合には、調整パターンには画像補正に適していない汚れが存在する画像であると判断して、ディスプレイ（図示省略）などにエラーメッセージを表示する。

【0056】

また、図６（ａ）では、第１のループにおいてドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の外側となった場合に、図６（ｂ）に示すように、第２のループにおいて探索窓ｔｈ１’-1が第１のループで探索したドット位置Ｄ１-1を含まないように変更することについて示した。本実施形態では、ドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の内側である場合でも、ドット位置Ｄ１-1と、ドット位置Ｄ２-1の差分が閾値ＴＨ１よりも大きい場合には、探索窓ｔｈ１-1がドット位置Ｄ１-1を含まないように変更する。

【0057】

以下、図７Ａ、図７Ｂを参照して詳細に説明する。なお、図７Ａ、図７Ｂでは、２回目の探索窓ｔｈ２-1の記載を省略している。図７Ａは、調整パターンに小さい汚れＱ６が存在する場合のドット探索処理を示す説明図である。図７Ａの符号Ｘ１１に示すように、探索窓ｔｈ１-1内に汚れＱ６が存在する場合であっても、汚れＱ６が小さい場合には、ドット位置Ｄ２-1はドットｄ１-1から大きく離間しない。従って、符号Ｘ１２に示すように、次回の探索窓ｔｈ１-2を設定すると、この探索窓ｔｈ１-2には、ドットｄ２-2は含まれず、ドット位置Ｄ２-2はドットｄ１-2の位置に戻る。したがって、後続のドット探索に影響を与えない。

【0058】

一方、図７Ｂの符号Ｘ２１に示すように、ドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の境界のギリギリの位置である場合には、次回の探索窓ｔｈ１-2を設定すると、符号Ｘ２２に示すように探索窓ｔｈ１-2には、ドットｄ１-2の一部、及びドットｄ２-2の一部が含まれてしまう。従って、ドット位置Ｄ２-2は、ドットｄ１-2から大きく離れてしまい、後続のドット探索に影響を与えてしまう。

【0059】

１回目の探索窓ｔｈ１-1により探索されたドット位置Ｄ１-1、及び２回目の探索窓ｔｈ２-1により探索されたドット位置Ｄ２-1の差分が閾値ＴＨ１よりも大きい場合には、ドット位置をずらす要因が存在し、ドット位置Ｄ１-1とＤ２-1がほぼ同一である場合には、その位置にドットが存在すると推察できる。

【0060】

本実施形態では、図８に示すように第１のループにおける探索窓ｔｈ１-1に対して数％小さい領域となる探索窓Ｐ１を設定し、ドット位置Ｄ２-1が探索窓Ｐ１と探索窓ｔｈ１-1の間に存在するか否か、及び、１回目の探索窓ｔｈ１-1のドット位置Ｄ１-1と２回目の探索窓ｔｈ２-1のドット位置Ｄ２-1に応じて、第２のループを実施するか否かを判定する。

【0061】

以下、図８を参照して詳細に説明する。図８（ａ）は、ドット位置Ｄ２-1が探索窓Ｐ１と探索窓ｔｈ１-1の間に存在し、且つ、ドット位置Ｄ１-1とＤ２-1の差分が閾値ＴＨ１よりも大きい場合を示している。ドット位置Ｄ１-1とＤ２-1の差分が閾値ＴＨ１よりも大きいということは、探索窓ｔｈ１-1の内部にドット位置をずらす要因が存在していると推察できる。この場合には、前述した図６（ｂ）に示したように、探索窓を探索窓ｔｈ１’-1となるように小さく変更して、第２のループを実施する。

【0062】

図８（ｂ）は、ドット位置Ｄ２-1が探索窓Ｐ１と探索窓ｔｈ１-1の間に存在し、且つ、ドット位置Ｄ１-1とＤ２-1がほぼ一致している場合を示している。２つのドット位置が一致しているということは、その位置にドットｄ１-１が存在していると推察できる。従って、第２のループを実施しない。

【0063】

以下、図９、図１０Ａ、図１０Ｂに示すフローチャートを参照して、本実施形態に係る印刷装置１００の処理手順について説明する。

【0064】

初めに図９に示すステップＳ１において、印刷装置１００により、プリントタイミング調整パターンを印刷する。

【0065】

ステップＳ２において制御部１は、スキャナ部８により、プリントタイミング調整パターンの画像を読み取る。

【0066】

ステップＳ３において、プリントタイミング調整パターンから、ドット位置を取得する。ドット位置の取得について図１０Ａ、図１０Ｂを参照して後述する。

【0067】

ステップＳ４において制御部１は、ドット位置が正常に取得されたか否かを判定する。

【0068】

正常に取得された場合には（Ｓ４；ＹＥＳ）、ステップＳ５において、プリントタイミング補正量を算出する。その後、本処理を終了する。

【0069】

正常に取得されない場合には（Ｓ４；ＮＯ）、ステップＳ６において、ディスプレイ（図示省略）にエラーメッセージを表示する。その後、本処理を終了する。

【0070】

次に、図１０Ａ、図１０Ｂに示すフローチャートを参照して、ステップＳ３に示したドット位置を取得する処理について説明する。

【0071】

初めに図１０ＡのステップＳ１１において基準検出部１１１は、調整パターンに含まれるマーカを検出し、このマーカから基準点（基準となるドット）を探索する。具体的には、図６（ａ）に示したドットｄ１-1を探索する。

【0072】

ステップＳ１２において領域・閾値設定部１１２は、前述した閾値ＴＨ１を設定する。

【0073】

ステップＳ１３において領域・閾値設定部１１２は、ドットを探索する際の探索窓を設定する。具体的には、図６（ａ）に示したように、ドットｄ１-1を基準とした探索窓ｔｈ１-1、及びドット位置Ｄ１-1を基準とした探索窓ｔｈ２-1を設定する。

【0074】

ステップＳ１４において領域・閾値設定部１１２は、１回目の探索窓ｔｈ１-1、及び２回目の探索窓ｔｈ２-1の大きさを設定する。

【0075】

ステップＳ１５においてドット探索部１１３は、１回目のドット探索を行う。具体的には、図６（ａ）に示したように探索窓ｔｈ１-1内のドットを探索する。

【0076】

ステップＳ１６においてドット位置判定部１１４は、探索窓ｔｈ１-1内におけるドットの重心を算出し、この位置をドット位置Ｄ１-1に設定する。ドット位置Ｄ１-1を図示省略のメモリなどに保存する。

【0077】

ステップＳ１７においてドット探索部１１３は、２回目のドット探索を行う。具体的には、図６（ａ）に示したようにドット位置Ｄ１-1を基準として設定した探索窓ｔｈ２－１内のドットを探索する。

【0078】

ステップＳ１８においてドット位置判定部１１４は、探索窓ｔｈ２-1内におけるドットの重心を算出し、この位置をドット位置Ｄ２-1に設定する。ドット位置Ｄ２-1を図示省略のメモリなどに保存する。

【0079】

ステップＳ１９においてドット位置判定部１１４は、メモリに保存されているドット位置Ｄ１-1、Ｄ２-1を比較判定する。

【0080】

図１０ＢのステップＳ２０においてドット位置判定部１１４は、ドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の内部に存在するか否かを判定する。ドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の内部に存在する場合には（Ｓ２０；ＹＥＳ）、ステップＳ２１に処理を進め、そうでなければ（Ｓ２０；ＮＯ）、ステップＳ２３に処理を進める。例えば、図６（ａ）、（ｃ）に示したように、ドット位置Ｄ２-1が探索窓ｔｈ１-1の内部に存在しない場合には、ステップＳ２０においてＮＯ判定となる。

【0081】

ステップＳ２１においてドット位置判定部１１４は、ドット位置Ｄ２-1が探索窓Ｐ１とｔｈ１-1との間にあるか否かを判定する。探索窓Ｐ１とｔｈ１-1との間にあると判定された場合には（Ｓ２１；ＹＥＳ）、ステップＳ２２に処理を進め、そうでなければ（Ｓ２１；ＮＯ）、ステップＳ２４に処理を進める。例えば、図８（ａ）、（ｂ）に示したように、ドット位置Ｄ２-1が探索窓Ｐ１とｔｈ１-1との間に存在する場合には、ステップＳ２１においてＹＥＳ判定となる。

【0082】

ステップＳ２２においてドット位置判定部１１４は、ドット位置Ｄ１-1とＤ２-1の差分がステップＳ１２で設定した閾値ＴＨ１未満であるか否かを判定する。閾値ＴＨ１未満である場合には（Ｓ２２；ＹＥＳ）、ステップＳ２４に処理を進め、そうでなければ（Ｓ２２；ＮＯ）、ステップＳ２３に処理を進める。

【0083】

図８（ａ）に示したように、ドット位置Ｄ１-1とＤ２-1の差分が閾値ＴＨ１よりも大きいということは、探索窓ｔｈ１-1の内部にドット位置をずらす要因が存在していると推察されるので、ステップＳ２３に処理を進める。即ち、リトライフラグの判定結果に応じて第２のループを実施するか否かが決定される。

【0084】

一方、図８（ｂ）に示したように、ドット位置Ｄ２-1が探索窓Ｐ１と探索窓ｔｈ１-1の間に存在し、且つ、ドット位置Ｄ１-1とＤ２-1がほぼ一致している場合には、その位置にドットが存在していると推察されるので、リトライを実行せずにステップＳ２４に処理を進める。

【0085】

ステップＳ２３において、ドット位置判定部１１４は、リトライフラグが立っているか否かを判定する。リトライフラグが立っていない場合には（Ｓ２３；ＮＯ）、図１０Ａに示すステップＳ２５に処理を進め、そうでなければ（Ｓ２３；ＹＥＳ）、異常判定を通知して本処理を終了する。初期的には、リトライフラグは立っていないので、ステップＳ２３においてＮＯ判定となる。

【0086】

ステップＳ２５においてドット位置判定部１１４は、リトライフラグを立てる。

【0087】

ステップＳ２６において、領域・閾値設定部１１２は、ドット位置Ｄ１-1を含まないように、探索窓を再設定する。具体的には、図６（ｂ）、（ｄ）に示したように、第１のループで設定した探索窓ｔｈ１-1よりも小さい探索窓ｔｈ１’-1を設定する。探索窓ｔｈ１’-1は、第１のループで設定されたドット位置Ｄ１-1を含まない範囲に設定する。その後、ステップＳ１４以降の処理を繰り返す。

【0088】

第２のループにおいて設定された探索窓ｔｈ１’-1が、第１のループにおいて設定された探索窓ｔｈ１-1よりも小さいことにより、例えば図６（ｂ）に示したように、汚れＱ４が存在する場合に、この汚れＱ４が探索窓ｔｈ２’-1に含まれなくなるので、汚れＱ４の影響を受けずに第２のループのドット位置Ｄ２-1を探索できる。即ち、ステップＳ２０において、ＹＥＳ判定となる。

【0089】

一方、図６（ｄ）に示したように、汚れＱ４よりも相対的に大きい汚れＱ５が存在する場合には、汚れＱ５の一部が第２のループの探索窓ｔｈ２’-1に含まれるので、汚れＱ５の影響を受けてしまい、ステップＳ２０において、ＮＯ判定となる。その後、ステップＳ２３においてリトライフラグが立っていると判定されるので、異常であると判定される。即ち、図６（ｃ）、（ｄ）に示したように、大きい汚れＱ５が存在する場合には、この調整パターンは使用することができない程度の汚れが存在するものと判定して、異常判定を通知する。

【0090】

ステップＳ２４においてドット探索部１１３は、最後のドットについての探索が終了したか否かを判定し、終了していない場合には（Ｓ２４；ＮＯ）、ステップＳ１３に処理を戻し、そうでなければ（Ｓ２４；ＹＥＳ）、本処理を終了する。

【0091】

図１１は、従来の面積判定によるドット検出及び本実施形態によるドット検出において、演算回数の比較結果を示す説明図である。

【0092】

図１１に示すように、従来の面積判定では本実施形態のドット検出と比較して、加算処理が著しく増加している。また、汚れ判定処理が「＋α」として発生している。これらの結果から、本実施形態では、演算負荷が軽減していることが理解される。

【0093】

このように、本実施形態に係る印刷装置１００（画像処理装置）は、ドットを含む印刷画像を読み取って得られた画像データにおける探索領域の濃度重心を算出する探索処理を２回実施し、２回目の探索処理で算出した濃度重心をドットの位置と判定するドット探索処理部１１を備える。ドット探索処理部１１は、１回目の探索処理で算出した濃度重心に基づき、２回目の探索処理における探索領域を設定するものであり、２回目の探索処理で算出した濃度重心が、１回目の探索処理における探索領域の外側にある場合には、１回目の探索処理で算出した濃度重心を含まない領域を探索領域に設定して２回目の探索処理をやり直す。

【0094】

従って、用紙に汚れが存在する場合であっても、汚れの面積が小さい場合には、即時にドット探索の誤検知を回避することができる。このため、処理速度の大幅な増加が生じることなくプリントタイミング補正量を正確に算出することが可能になる。即ち、本実施形態に係る印刷装置では、処理時間を増加させることなくドットの誤検出を低減することが可能になる。

【0095】

また、本発明は、上述の実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階でその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また、上述の実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素を適宜組み合わせても良い。このような、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において種々の変形や応用が可能であることはもちろんである。以下に、本願の出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。

【0096】

［付記１］
ドットを含む印刷画像を読み取って得られた画像データにおける探索領域の濃度重心を算出する探索処理を２回実施し、２回目の探索処理で算出した濃度重心をドットの位置と判定するドット探索処理部を備え、
前記ドット探索処理部は、
１回目の探索処理で算出した濃度重心に基づき、２回目の探索処理における探索領域を設定するものであり、
２回目の探索処理で算出した濃度重心が、１回目の探索処理における探索領域の外側にある場合には、１回目の探索処理で算出した濃度重心を含まない領域を探索領域に設定して２回目の探索処理をやり直す、画像処理装置。

【符号の説明】

【0097】

１ 制御部
２ サイド給紙部
３ 内部給紙部
４ 印刷処理部
５ 反転部
６ 排紙部
７ 操作パネル
８ スキャナ部
１１ ドット探索処理部
１２ 補正パラメータ生成部
１３ タイミング補正部
４１ ヘッドユニット
１００ インクジェット印刷装置
１１１ 基準検出部
１１２ 領域・閾値設定部
１１３ ドット探索部
１１４ ドット位置判定部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7A】

【図7B】

【図8】

【図9】

【図10A】

【図10B】

【図11】