知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024091030
(43)【公開日】2024-07-04
(54)【発明の名称】かぶり厚さ計測方法及びかぶり厚さ計測システム
(51)【国際特許分類】
E02D 5/34 20060101AFI20240627BHJP
G01B 15/02 20060101ALI20240627BHJP
【ＦＩ】
E02D5/34 Z
G01B15/02 C
【審査請求】未請求
【請求項の数】3
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022207293
(22)【出願日】2022-12-23
(71)【出願人】
【識別番号】000000549
【氏名又は名称】株式会社大林組
(74)【代理人】
【識別番号】100105957
【弁理士】
【氏名又は名称】恩田 誠
(74)【代理人】
【識別番号】100068755
【弁理士】
【氏名又は名称】恩田 博宣
(72)【発明者】
【氏名】藤井 達
【テーマコード（参考）】
2D041
2F067
【Ｆターム（参考）】
2D041AA01
2D041BA44
2D041DA01
2F067AA28
2F067BB17
2F067BB25
2F067EE05
2F067HH02
2F067JJ02
2F067KK08
2F067NN05
(57)【要約】
【課題】地下水の噴出を抑制しながら、かぶり厚さを計測するためのかぶり厚さ計測方法及びかぶり厚さ計測システムを提供する。
【解決手段】かぶり厚さ計測システム１０は、耐圧盤が上部周囲に設けられたコンクリート製の既存杭のかぶり厚さを計測する。かぶり厚さ計測システム１０の制御部２１は、既存杭に鉛直方向に延在して形成された探査孔に挿入されたレーダ探査機１５から発信された送信波の探査孔の周囲の計測反射性状を取得する。制御部２１は、取得した計測反射性状を用いて、既存杭の外周位置と杭主筋の位置とを算出し、算出した外周位置と杭主筋の位置とを用いて、既存杭のかぶり厚さを特定する。
【選択図】図１
【解決手段】かぶり厚さ計測システム１０は、耐圧盤が上部周囲に設けられたコンクリート製の既存杭のかぶり厚さを計測する。かぶり厚さ計測システム１０の制御部２１は、既存杭に鉛直方向に延在して形成された探査孔に挿入されたレーダ探査機１５から発信された送信波の探査孔の周囲の計測反射性状を取得する。制御部２１は、取得した計測反射性状を用いて、既存杭の外周位置と杭主筋の位置とを算出し、算出した外周位置と杭主筋の位置とを用いて、既存杭のかぶり厚さを特定する。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
上部の周囲に耐圧盤を設けたコンクリート製の地下躯体のかぶり厚さを計測する計測方法であって、
鉛直方向に延在する探査孔を前記地下躯体に形成し、
前記探査孔に挿入したレーダ探査機から発信された送信波の前記探査孔の周囲の計測反射性状を取得し、
前記取得した計測反射性状を用いて、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出し、
前記算出した外周位置と前記鉄筋位置とを用いて、前記地下躯体のかぶり厚さを算出することを特徴とするかぶり厚さ計測方法。
鉛直方向に延在する探査孔を前記地下躯体に形成し、
前記探査孔に挿入したレーダ探査機から発信された送信波の前記探査孔の周囲の計測反射性状を取得し、
前記取得した計測反射性状を用いて、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出し、
前記算出した外周位置と前記鉄筋位置とを用いて、前記地下躯体のかぶり厚さを算出することを特徴とするかぶり厚さ計測方法。
【請求項2】
鉛直方向に延在する校正用の孔を前記地下躯体に更に形成し、
前記探査孔に挿入したレーダ探査機から発信された前記校正用の孔に対する校正用反射性状を取得し、
前記取得した校正用反射性状を、キャリブレーション用情報として用いることにより、前記計測反射性状のキャリブレーションを行なって、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出することを特徴とする請求項１に記載のかぶり厚さ計測方法。
前記探査孔に挿入したレーダ探査機から発信された前記校正用の孔に対する校正用反射性状を取得し、
前記取得した校正用反射性状を、キャリブレーション用情報として用いることにより、前記計測反射性状のキャリブレーションを行なって、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出することを特徴とする請求項１に記載のかぶり厚さ計測方法。
【請求項3】
上部の周囲に耐圧盤を設けたコンクリート製の地下躯体のかぶり厚さを計測する制御部を備えたかぶり厚さ計測システムであって、
前記制御部は、
前記地下躯体に鉛直方向に延在して形成された探査孔に挿入されたレーダ探査機から発信された送信波の前記探査孔の周囲の計測反射性状を取得し、
前記取得した計測反射性状を用いて、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出し、
前記算出した外周位置と前記鉄筋位置とを用いて、前記地下躯体のかぶり厚さを算出することを特徴とするかぶり厚さ計測システム。
前記制御部は、
前記地下躯体に鉛直方向に延在して形成された探査孔に挿入されたレーダ探査機から発信された送信波の前記探査孔の周囲の計測反射性状を取得し、
前記取得した計測反射性状を用いて、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出し、
前記算出した外周位置と前記鉄筋位置とを用いて、前記地下躯体のかぶり厚さを算出することを特徴とするかぶり厚さ計測システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、既存杭等の地下躯体のコンクリートのかぶり厚さを計測するかぶり厚さ計測方法及びかぶり厚さ計測システムに関する。
【背景技術】
【0002】
従来、既存杭の健全性を確認するために、既存杭のかぶり厚さを調査することが行なわれていた。この場合、既存杭のかぶり厚さは、既存杭の杭頭が露出するまで斫った後、目視等により行われていた。
【0003】
また、基礎杭の性状を把握するために、ボアホールレーダを用いることが行なわれている（例えば、特許文献１参照。）。この文献には、基礎杭に軸方向に沿って形成された孔に、ボアホールレーダの送受信部を挿入し、所定深さ位置での杭直方向全周の反射データを取得する。そして、これを、所定深さ単位に実施することで、基礎杭における評価対象部分の３次元のデータを取得する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２００５－０３０８０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ところで、地下水位が高い透水性地盤（砂質地盤等）に、建物の杭が囲まれている場合、被圧地下水が建物に溢れ出てこないように、既存杭の杭頭の周囲に耐圧盤が設けられている。このような建物の既存杭の健全性として既存杭のかぶり厚さを確認する場合、通常、既存杭が露出するまで斫る必要がある。しかし、既存杭が露出するように斫る場合には、耐圧盤も、部分的に斫る必要がある。この場合、耐圧盤を介して地下水が噴出することがあった。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記課題を解決するかぶり厚さ計測方法は、上部の周囲に耐圧盤を設けたコンクリート製の地下躯体のかぶり厚さを計測する計測方法であって、鉛直方向に延在する探査孔を前記地下躯体に形成し、前記探査孔に挿入したレーダ探査機から発信された送信波の前記探査孔の周囲の計測反射性状を取得し、前記取得した計測反射性状を用いて、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出し、前記算出した外周位置と前記鉄筋位置とを用いて、前記地下躯体のかぶり厚さを算出する。
【0007】
更に、上記課題を解決するかぶり厚さ計測システムは、上部の周囲に耐圧盤を設けたコンクリート製の地下躯体のかぶり厚さを計測する制御部を備えたかぶり厚さ計測システムであって、前記制御部は、前記地下躯体に鉛直方向に延在して形成された探査孔に挿入されたレーダ探査機から発信された送信波の前記探査孔の周囲の計測反射性状を取得し、前記取得した計測反射性状を用いて、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出し、前記算出した外周位置と前記鉄筋位置とを用いて、前記地下躯体のかぶり厚さを算出する。
【発明の効果】
【0008】
本発明によれば、地下水の噴出を抑制しながら、かぶり厚さを計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【図1】実施形態におけるかぶり厚さ計測システムの構成を説明する説明図である。
【図2】実施形態におけるハードウェア構成の説明図である。
【図3】実施形態におけるかぶり厚さを計測するときの既存杭やパイルキャップ周囲の状態を示す正面断面図である。
【図4】実施形態におけるかぶり厚さを計測するときの各種寸法を説明するための既存杭の上面図である。
【図5】実施形態におけるかぶり厚さ計測方法の処理手順を説明する流れ図である。
【図6】実施形態における実験で測定されたレーダ探査の探査孔を形成したときの状態を説明する上面図である。
【図7】実施形態における実験で測定されたレーダ探査による反射画像の説明図であって、（ａ）は図６における（ａ）方向に発信した電磁波の反射性状、（ｂ）は図６における（ｂ）方向に発信した電磁波の反射性状、（ｃ）は図６における（ｃ）方向に発信した電磁波の反射性状を示す。
【図8】変更例におけるキャリブレーションに用いるレーダ媒質の比誘電率を測定するための測定方法を説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、図１～図７を用いて、かぶり厚さ計測方法及びかぶり厚さ計測システムを具体化した一実施形態を説明する。本実施形態では、地下躯体として鉄筋コンクリート製の既存杭のかぶり厚さを計測するかぶり厚さ計測システムとして説明する。ここでは、既存杭は、砂質地盤等の地下水位が高い透水性地盤に囲まれている場合を想定する。この場合、既存杭の杭頭（上端部）の周囲に耐圧盤が設けられている。
【0011】
（かぶり厚さ計測システムの構成）
図１に示すように、かぶり厚さ計測システム１０は、レーダ探査機１５、反射波測定器１６及び計測装置２０を備える。
図１に示すように、かぶり厚さ計測システム１０は、レーダ探査機１５、反射波測定器１６及び計測装置２０を備える。
【0012】
レーダ探査機１５は、指向性のボアホールレーダであって、探査本体部１５１と送受信部とを備える。送受信部は、送信アンテナ部１５５及び受信アンテナ部１５６を備える。
レーダ探査機１５は、防水加工が周囲に施された、例えば５００ｍｍ～６００ｍｍの細長い円筒形状を有する。そして、後述するように探査孔ｈ１内に縦長に挿入された状態において、送信アンテナ部１５５は、既存杭３１の径方向に送信可能に設定されて、探査本体部１５１からの発信信号によってパルス状の電磁波（送信波）を径方向に向けて発信する。受信アンテナ部１５６は、既存杭３１の外表面、又は既存杭３１の鉄筋としての杭主筋３３で反射した電磁波の反射波を受信し、この受信に応じた電気信号を探査本体部１５１に出力する。探査本体部１５１は、送信アンテナ部１５５及び受信アンテナ部１５６による送受信による電磁波の送受信を制御し、実施した探査による反射データを反射波測定器１６に供給する。
反射波測定器１６は、レーダ探査機１５から取得した電磁波の反射性状（測定値）を画像として生成し、反射波画像として計測装置２０に送信する。
レーダ探査機１５は、防水加工が周囲に施された、例えば５００ｍｍ～６００ｍｍの細長い円筒形状を有する。そして、後述するように探査孔ｈ１内に縦長に挿入された状態において、送信アンテナ部１５５は、既存杭３１の径方向に送信可能に設定されて、探査本体部１５１からの発信信号によってパルス状の電磁波（送信波）を径方向に向けて発信する。受信アンテナ部１５６は、既存杭３１の外表面、又は既存杭３１の鉄筋としての杭主筋３３で反射した電磁波の反射波を受信し、この受信に応じた電気信号を探査本体部１５１に出力する。探査本体部１５１は、送信アンテナ部１５５及び受信アンテナ部１５６による送受信による電磁波の送受信を制御し、実施した探査による反射データを反射波測定器１６に供給する。
反射波測定器１６は、レーダ探査機１５から取得した電磁波の反射性状（測定値）を画像として生成し、反射波画像として計測装置２０に送信する。
【0013】
（ハードウェア構成例）
図２は、計測装置２０等として機能する情報処理装置Ｈ１０のハードウェア構成例である。
図２は、計測装置２０等として機能する情報処理装置Ｈ１０のハードウェア構成例である。
【0014】
情報処理装置Ｈ１０は、通信装置Ｈ１１、入力装置Ｈ１２、表示装置Ｈ１３、記憶装置Ｈ１４、プロセッサＨ１５を有する。なお、このハードウェア構成は一例であり、他のハードウェアを有していてもよい。
【0015】
通信装置Ｈ１１は、他の装置との間で通信経路を確立して、データの送受信を実行するインターフェースである。
入力装置Ｈ１２は、計測者の入力を受け付ける装置である。
表示装置Ｈ１３は、各種情報を表示するディスプレイやタッチパネル等である。
記憶装置Ｈ１４は、計測装置２０の各種機能を実行するためのデータや各種プログラムを格納する。
入力装置Ｈ１２は、計測者の入力を受け付ける装置である。
表示装置Ｈ１３は、各種情報を表示するディスプレイやタッチパネル等である。
記憶装置Ｈ１４は、計測装置２０の各種機能を実行するためのデータや各種プログラムを格納する。
【0016】
プロセッサＨ１５は、記憶装置Ｈ１４に記憶されるプログラムやデータを用いて、計測装置２０における各処理を制御する。プロセッサＨ１５の一例としては、ＣＰＵやＭＰＵ等がある。このプロセッサＨ１５は、ＲＯＭ等に記憶されるプログラムをＲＡＭに展開して、各種処理に対応する各種プロセスを実行する。例えば、プロセッサＨ１５は、計測装置２０のアプリケーションプログラムが起動された場合、後述する各処理を実行するプロセスを動作させる。
【0017】
プロセッサＨ１５は、自身が実行するすべての処理についてソフトウェア処理を行なうものに限られない。例えば、プロセッサＨ１５は、自身が実行する処理の少なくとも一部についてハードウェア処理を行う専用のハードウェア回路（例えば、特定用途向け集積回路：ＡＳＩＣ）を備えてもよい。
【0018】
（計測装置２０の構成）
図１の計測装置２０は、かぶり厚さを計測するためのコンピュータシステムである。この計測装置２０は、制御部２１及び計測データ記憶部２２を備えている。
図１の計測装置２０は、かぶり厚さを計測するためのコンピュータシステムである。この計測装置２０は、制御部２１及び計測データ記憶部２２を備えている。
【0019】
制御部２１は、後述する処理（測定結果取得段階、校正段階及び厚さ算出段階等を含む処理）を行なう。このためのかぶり厚さ計測プログラムを実行することにより、制御部２１は、測定結果取得部２１１、校正部２１２及び厚さ算出部２１３等として機能する。
【0020】
測定結果取得部２１１は、反射波測定器１６において生成した反射波の画像を取得して、計測データ記憶部２２に記憶する。
校正部２１２は、後述する校正用の孔ｈ２を用いて、反射波の反射性状を校正する処理を実行する。
校正部２１２は、後述する校正用の孔ｈ２を用いて、反射波の反射性状を校正する処理を実行する。
【0021】
厚さ算出部２１３は、既存杭３１のかぶり厚さを特定する。この場合、厚さ算出部２１３は、計測データ記憶部２２に記録された反射波性状を用いて、既存杭３１の外周位置（既存杭３１と地面との境界）までの距離と、既存杭３１の杭主筋３３までの距離とを算出し、既存杭３１のかぶり厚さを算出する。
計測データ記憶部２２は、取得した反射波の画像データを記憶する。
計測データ記憶部２２は、取得した反射波の画像データを記憶する。
【0022】
【0023】
図３に示すように、本実施形態では、既存杭３１は、地下水位が高い透水性地盤（砂質地盤等）に囲まれている。このため、既存杭３１の杭頭（上部）の周囲には、コンクリート製の耐圧盤３６が形成されている。これにより、被圧地下水が既存杭３１や耐圧盤３６によって上方に噴出しないように抑制されている。
【0024】
既存杭３１及びその周囲の耐圧盤３６の上方には、パイルキャップ３７が形成され、パイルキャップ３７の上には基礎梁３８が形成されている。
図４に示すように、既存杭３１は、複数の杭主筋３３が１つの円上に離散して配置された状態でコンクリート３４に埋設されている。
図４に示すように、既存杭３１は、複数の杭主筋３３が１つの円上に離散して配置された状態でコンクリート３４に埋設されている。
【0025】
そして、以下の手順で、計測領域Ｓ１を含む領域において、既存杭３１の杭主筋３３（杭主筋３３の既存杭３１の外周側の端部位置）からコンクリート３４の外周位置までの距離（かぶり厚さＴ１）を計測する。
まず、図５に示すように、基礎梁及びパイルキャップを斫る（ステップＳ１１）。
本実施形態では、図３に示すように、耐圧盤３６の上面よりも余裕高さ分、高い位置まで、基礎梁３８及びパイルキャップ３７の一部（図における右側部分）を削る。この場合、耐圧盤３６と既存杭３１のコンクリート３４との打ち継ぎの所から水が漏れてくることがあるが、水中ポンプで十分に対応することができる。
まず、図５に示すように、基礎梁及びパイルキャップを斫る（ステップＳ１１）。
本実施形態では、図３に示すように、耐圧盤３６の上面よりも余裕高さ分、高い位置まで、基礎梁３８及びパイルキャップ３７の一部（図における右側部分）を削る。この場合、耐圧盤３６と既存杭３１のコンクリート３４との打ち継ぎの所から水が漏れてくることがあるが、水中ポンプで十分に対応することができる。
【0026】
次に、探査孔及び校正用の孔を形成する（ステップＳ１２）。具体的には、削ったパイルキャップ３７の上面から、垂直方向に延在する円筒の長孔を探査孔ｈ１として穿孔する。この場合、図４に示すように、既存建物の設計図面に基づいて既存杭３１の位置を予測し、既存杭３１の外周位置から１００ｍｍ～２００ｍｍの範囲となる位置に探査孔ｈ１を形成する。
【0027】
また、図３に示すように、探査孔ｈ１は、例えば、直径７５ｍｍで、既存杭３１の杭頭から長さＬ１＝約１ｍ分の長さを有するように形成する。
更に、図４に示すように、探査孔ｈ１から１００ｍｍ～２００ｍｍの範囲となる位置に、校正用の孔ｈ２を形成する。この場合、探査孔ｈ１から校正用の孔ｈ２までの距離が、探査孔ｈ１から既存杭３１の外周位置までの距離と、ほぼ同じになるように、校正用の孔ｈ２を設けるのが好ましい。更に、校正用の孔ｈ２は、探査孔ｈ１と同じ直径で形成する。
また、図３に示すように、校正用の孔ｈ２は、探査孔ｈ１よりも浅く、例えば、耐圧盤３６の厚み程度の深さを有する。
更に、図４に示すように、探査孔ｈ１から１００ｍｍ～２００ｍｍの範囲となる位置に、校正用の孔ｈ２を形成する。この場合、探査孔ｈ１から校正用の孔ｈ２までの距離が、探査孔ｈ１から既存杭３１の外周位置までの距離と、ほぼ同じになるように、校正用の孔ｈ２を設けるのが好ましい。更に、校正用の孔ｈ２は、探査孔ｈ１と同じ直径で形成する。
また、図３に示すように、校正用の孔ｈ２は、探査孔ｈ１よりも浅く、例えば、耐圧盤３６の厚み程度の深さを有する。
【0028】
次に、探査孔に挿入したレーダ探査機を用いた計測処理を実行する（ステップＳ１３）。具体的には、探査孔ｈ１に挿入したレーダ探査機１５は、回転しながら、送信アンテナ部１５５から電磁波を送信するとともに、受信アンテナ部１５６において、反射した電磁波を取得して、探査孔ｈ１の周囲の反射波測定値を取得する。
【0029】
そして、レーダ探査機１５は、取得した反射波測定値を反射波測定器１６に送信する。反射波測定器１６は、取得した反射測定値から反射波画像を生成し、この反射波画像（反射波測定値）を、計測装置２０の制御部２１に送信する。この場合、校正用の孔ｈ２が位置する方向から取得した反射波測定値が、校正用反射性状に対応し、その他の方向において取得した反射波測定値が、計測反射性状に対応する。
【0030】
次に、計測装置２０の制御部２１は、既存杭の外周位置及び杭主筋の位置の計測処理を実行する（ステップＳ１４）。具体的には、制御部２１の校正部２１２は、入力装置Ｈ１２を介して入力された、探査孔ｈ１と校正用の孔ｈ２との実測距離を取得する。ここで、制御部２１は、杭主筋３３の直径（鉄筋径）も、入力装置Ｈ１２を介して取得する。
【0031】
次に、校正部２１２は、校正用の孔ｈ２に対する反射波画像（反射波測定値）に応じて、校正用の孔ｈ２において反射した反射波までの距離が実測距離となるように、既存杭３１内における計測用の比誘電率を、キャリブレーション用情報として算出する。
【0032】
そして、制御部２１の厚さ算出部２１３は、既存杭３１の外周位置及び杭主筋３３の位置を特定する。具体的には、厚さ算出部２１３は、探査孔ｈ１の周囲の反射波画像に基づいて、既存杭３１の外周位置と、既存杭３１の杭主筋３３の位置（鉄筋位置）とを特定する。この場合、コンクリートの既存杭３１とその周囲の土との境界における反射波と、鉄筋である杭主筋３３における反射波とは、反射の強度が異なるため、反射波画像において区別できる。
【0033】
そして、厚さ算出部２１３は、探査孔ｈ１の周囲において、既存杭３１とその周囲の土との境界（既存杭３１の外周）における反射地点、杭主筋３３における反射地点を、それぞれ区別して、複数個所、特定する。次に、厚さ算出部２１３は、算出した比誘電率を適用して、これら特定した複数の反射地点までの距離を特定する。
【0034】
そして、厚さ算出部２１３は、既存杭３１とその周囲の土との境界（既存杭３１の外周）における反射地点までの距離を円弧で結ぶことにより、既存杭３１の外周を示す円弧を生成する。更に、厚さ算出部２１３は、離散した鉄筋における反射地点までの距離を円弧で結ぶことにより、杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置を示す円弧を生成する。そして、厚さ算出部２１３は、既存杭３１の外周を示す円弧の中心と、杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置を示す円弧との中心が一致するように調整する。このとき、一致させた中心が既存杭３１の中心Ｃ１となる。
次に、厚さ算出部２１３は、中心Ｃ１から、既存杭３１の外周を示す円弧までの距離を、既存杭３１の外周位置までの距離Ｒ２として算出する。更に、厚さ算出部２１３は、中心Ｃ１から、杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置を示す円弧までの距離に、杭主筋３３の直径を加えることにより、中心Ｃ１から杭主筋３３の外側（杭主筋３３の既存杭３１の外周側の端部位置）までの距離Ｒ１を算出する。
次に、厚さ算出部２１３は、中心Ｃ１から、既存杭３１の外周を示す円弧までの距離を、既存杭３１の外周位置までの距離Ｒ２として算出する。更に、厚さ算出部２１３は、中心Ｃ１から、杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置を示す円弧までの距離に、杭主筋３３の直径を加えることにより、中心Ｃ１から杭主筋３３の外側（杭主筋３３の既存杭３１の外周側の端部位置）までの距離Ｒ１を算出する。
【0035】
次に、計測した外周位置及び杭主筋の位置を用いて既存杭のかぶり厚さの特定処理を実行する（ステップＳ１５）。具体的には、制御部２１の厚さ算出部２１３は、算出した既存杭３１の外周位置までの距離Ｒ２から、杭主筋３３の外側までの距離Ｒ１を減算することにより、既存杭３１のかぶり厚さＴ１を算出する。そして、算出したかぶり厚さＴ１を、計測した反射波画像に関連付けて計測データ記憶部２２に記憶するとともに、表示装置Ｈ１３に表示する。
【0036】
（実際の反射性状）
図６は、実際に探査孔ｈ３を形成した地下躯体５０の状態を示した上面図である。この図において、地下躯体５０は、柱５５を備える。そして、設計図面によって既存杭５１の位置を特定した。図６において、探査孔ｈ３に上述したレーダ探査機１５を挿入して、（ａ），（ｂ），（ｃ）の３方向に対して反射性状を取得した。
図６は、実際に探査孔ｈ３を形成した地下躯体５０の状態を示した上面図である。この図において、地下躯体５０は、柱５５を備える。そして、設計図面によって既存杭５１の位置を特定した。図６において、探査孔ｈ３に上述したレーダ探査機１５を挿入して、（ａ），（ｂ），（ｃ）の３方向に対して反射性状を取得した。
【0037】
図７（ａ）、図７（ｂ）、図７（ｃ）は、それぞれ図６における（ａ），（ｂ），（ｃ）方向において取得した反射性状を示す反射波画像である。なお、図７（ａ）～図７（ｃ）における「コア孔」は、探査孔ｈ３のことである。
【0038】
図７（ａ）及び図７（ｂ）において、それぞれ探査孔ｈ３から外周位置（土との境界）までの距離が１６０ｍｍ、１４０ｍｍとして特定された。そして、これら２方向の距離以外の周囲における複数の既存杭５１の外周位置までの距離を特定し、これらを円弧で繋げることで、既存杭５１の外周位置を特定する。
【0039】
また、図７（ｃ）においては、８０ｍｍの距離において杭主筋３３が検出されている。このような杭主筋３３が検出された画像において、既存杭３１の周囲における複数の杭主筋３３までの距離を算出し、これらを円弧に繋げることで、杭主筋３３の位置を特定する。
【0040】
（作用）
基礎梁３８及びパイルキャップ３７の一部を削った後、既存杭３１に鉛直方向に延在する探査孔ｈ１を形成する。そして、この探査孔ｈ１に挿入したレーダ探査機１５を用いて、既存杭３１の外周位置までの距離及び杭主筋３３までの距離を取得し、これらの距離から既存杭３１のかぶり厚さを算出する。従って、既存杭３１のかぶり厚さを特定するために、耐圧盤３６に孔を開ける必要がない。
基礎梁３８及びパイルキャップ３７の一部を削った後、既存杭３１に鉛直方向に延在する探査孔ｈ１を形成する。そして、この探査孔ｈ１に挿入したレーダ探査機１５を用いて、既存杭３１の外周位置までの距離及び杭主筋３３までの距離を取得し、これらの距離から既存杭３１のかぶり厚さを算出する。従って、既存杭３１のかぶり厚さを特定するために、耐圧盤３６に孔を開ける必要がない。
【0041】
本実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
（１）本実施形態のかぶり厚さ計測システム１０の制御部２１は、既存杭３１に形成した鉛直方向に延在する探査孔ｈ１に挿入されたレーダ探査機１５からの反射波測定値を取得する。制御部２１は、取得した反射波測定値を用いて、既存杭３１の中心Ｃ１から外周位置までの距離Ｒ２と中心Ｃ１から杭主筋３３の外側までの距離Ｒ１とを算出し、これらの距離Ｒ１，Ｒ２を用いて、既存杭３１のかぶり厚さＴ１を算出する。従って、既存杭３１の杭頭を露出させずに既存杭３１のかぶり厚さＴ１を算出することができるので、既存杭３１の杭頭の露出のために耐圧盤３６に孔を開ける必要がないため、被圧地下水の噴出を抑制することができる。
更に、従来、図３の領域ＰＡ１まで削る必要があった。一方、本発明では、パイルキャップ３７の途中まで斫ればよいので、斫り作業を短時間で行なうことができる。
（１）本実施形態のかぶり厚さ計測システム１０の制御部２１は、既存杭３１に形成した鉛直方向に延在する探査孔ｈ１に挿入されたレーダ探査機１５からの反射波測定値を取得する。制御部２１は、取得した反射波測定値を用いて、既存杭３１の中心Ｃ１から外周位置までの距離Ｒ２と中心Ｃ１から杭主筋３３の外側までの距離Ｒ１とを算出し、これらの距離Ｒ１，Ｒ２を用いて、既存杭３１のかぶり厚さＴ１を算出する。従って、既存杭３１の杭頭を露出させずに既存杭３１のかぶり厚さＴ１を算出することができるので、既存杭３１の杭頭の露出のために耐圧盤３６に孔を開ける必要がないため、被圧地下水の噴出を抑制することができる。
更に、従来、図３の領域ＰＡ１まで削る必要があった。一方、本発明では、パイルキャップ３７の途中まで斫ればよいので、斫り作業を短時間で行なうことができる。
【0042】
（２）本実施形態では、既存建物の設計図面に基づいて既存杭３１の位置を予測し、既存杭３１の外周位置から１００ｍｍ～２００ｍｍとなる位置に探査孔ｈ１を形成する。レーダ探査機１５は、２００ｍｍ以下の距離の反射性状は精度よく特定できるため、探査孔ｈ１から２００ｍｍ以下にある既存杭３１の外周位置や杭主筋３３を精度よく特定することができる。
【0043】
（３）本実施形態の制御部２１は、レーダ探査機１５を用いて、既存杭３１の中心Ｃ１から外周位置までの距離Ｒ２とともに、杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置までの距離を特定する。既存杭３１の杭頭から上方に突出している杭主筋３３の位置が、地中における配置とは異なることがある。このため、レーダ探査機１５により実際に計測した杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置までの距離と杭主筋３３の鉄筋径とを用いて算出した距離Ｒ１を用いることにより、地中における実際のかぶり厚さＴ１を特定することができる。
【0044】
（４）本実施形態では、探査孔ｈ１の近傍に校正用の孔ｈ２を形成する。そして、計測装置２０の制御部２１は、校正用の孔ｈ２に対する反射波測定値を用いて比誘電率を算出し、この比誘電率を用いて既存杭３１の外周位置までの距離Ｒ２、杭主筋３３までの距離Ｒ１を特定する。探査孔ｈ１には地下水が流れこんでいるため、探査孔ｈ１から既存杭３１の外周や杭主筋３３までの比誘電率は、コンクリートのみの比誘電率とは異なる。このため、実際に測定された校正用の孔ｈ２の反射波測定値を用いて、比誘電率を特定することにより、既存杭３１の外周位置や杭主筋３３の位置を精度よく特定することができる。
【0045】
（５）本実施形態のレーダ探査機１５は、防水加工が周囲に施された細長い円筒形状を有する。探査孔ｈ１に被圧地下水が染み出てきた状態においても、反射波測定値を取得することができる。
【0046】
本実施形態は、以下のように変更して実施することができる。本実施形態及び以下の変更例は、技術的に矛盾しない範囲で互いに組み合わせて実施することができる。
・上記実施形態では、探査孔ｈ１の近傍に校正用の孔ｈ２を設けた。そして、探査孔ｈ１に挿入したレーダ探査機１５から校正用の孔ｈ２までの反射波測定値（反射波画像）を用いて算出した比誘電率を、キャリブレーション用情報として用いる。キャリブレーション用情報は、これに限られない。例えば、校正用の孔ｈ２までの反射波測定値（反射波画像）と、探査孔ｈ１から校正用の孔ｈ２までの距離とを用いて、実際の長さに対応する反射波画像における長さ（寸法比率）を特定する。そして、特定した反射波画像における寸法比率に応じて、既存杭３１の外周位置及び杭主筋３３に対する反射波画像（反射波測定値）から、実際の距離Ｒ１，Ｒ２を特定してもよい。
・上記実施形態では、探査孔ｈ１の近傍に校正用の孔ｈ２を設けた。そして、探査孔ｈ１に挿入したレーダ探査機１５から校正用の孔ｈ２までの反射波測定値（反射波画像）を用いて算出した比誘電率を、キャリブレーション用情報として用いる。キャリブレーション用情報は、これに限られない。例えば、校正用の孔ｈ２までの反射波測定値（反射波画像）と、探査孔ｈ１から校正用の孔ｈ２までの距離とを用いて、実際の長さに対応する反射波画像における長さ（寸法比率）を特定する。そして、特定した反射波画像における寸法比率に応じて、既存杭３１の外周位置及び杭主筋３３に対する反射波画像（反射波測定値）から、実際の距離Ｒ１，Ｒ２を特定してもよい。
【0047】
更に、校正用の孔ｈ２を設けずに、既存杭３１の外周位置及び杭主筋３３までの距離の算出に必要なレーダ媒質の比誘電率を制御部２１に記憶させて、この比誘電率を用いてキャリブレーションを行なってもよい。この場合、一般的な比誘電率を用いてもよいし、別途、かぶり厚さＴ１の計測時の計測状態を考慮した実験等により調査した値を用いてもよい。
【0048】
例えば、図８に示すように、図示しない容器に、水７１、コンクリートブロック７２及び水を含ませた砂７３を積層させる。この場合、例えば、水７１の層の厚さＬ５を５０ｍｍ、コンクリートブロック７２の厚さＬ６を１００ｍｍ～２００ｍｍとする。そして、水７１の水面にレーダ探査機７０を配置して、電磁波を砂７３に向けて送信する。この場合、電磁波は、コンクリートブロック７２と砂７３との境界で反射する。このようにして計測した比誘電率を用いてもよい。また、計測時の計測状態等の条件によっては、キャリブレーションを省略してもよい。
【0049】
・上記実施形態においては、かぶり厚さ計測システム１０の計測装置２０は、レーダ探査機１５が取得した反射波測定値（反射波画像）を、反射波測定器１６を介して取得し、既存杭３１のかぶり厚さＴ１を算出した。かぶり厚さは、計測装置が行なう代わりに、反射波測定値を用いて手動で計算して算出してもよい。
・上記実施形態においては、計測装置２０は、離散した杭主筋３３における反射地点までの距離を円弧で結ぶことにより、杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置を示す円弧を生成する。そして、この円弧から杭主筋３３の鉄筋径を加算して、杭主筋３３における既存杭３１の外周側の端部位置までの距離Ｒ１を算出した。鉄筋径を考慮できれば、この算出方法に限られない。例えば、レーダ探査機と杭主筋３３の方向（位置関係）に応じた割合で鉄筋径を考慮して、距離Ｒ１を算出してもよい。
・上記実施形態においては、計測装置２０は、離散した杭主筋３３における反射地点までの距離を円弧で結ぶことにより、杭主筋３３の中心Ｃ１側の端部位置を示す円弧を生成する。そして、この円弧から杭主筋３３の鉄筋径を加算して、杭主筋３３における既存杭３１の外周側の端部位置までの距離Ｒ１を算出した。鉄筋径を考慮できれば、この算出方法に限られない。例えば、レーダ探査機と杭主筋３３の方向（位置関係）に応じた割合で鉄筋径を考慮して、距離Ｒ１を算出してもよい。
【0050】
・上記実施形態のかぶり厚さ計測システム１０は、既存杭３１のかぶり厚さＴ１を計測した。計測するかぶり厚さは、既存杭に限られず、コンクリート製の地下にある地下躯体のかぶり厚さであれば、例えば、壁杭や基礎梁等のかぶり厚さを計測してもよい。
【0051】
次に、上記実施形態及び別例から把握できる技術的思想について、以下に追記する。
（Ａ）前記制御部は、
前記地下躯体に鉛直方向に延在するように形成された校正用の孔の校正用反射性状を、前記探査孔に挿入したレーダ探査機によって取得し、
前記校正用の孔の校正用反射性状を、キャリブレーション用情報として用いることにより、前記計測反射性状のキャリブレーションを行なって、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出することを特徴とする請求項３に記載のかぶり厚さ計測装置。
（Ａ）前記制御部は、
前記地下躯体に鉛直方向に延在するように形成された校正用の孔の校正用反射性状を、前記探査孔に挿入したレーダ探査機によって取得し、
前記校正用の孔の校正用反射性状を、キャリブレーション用情報として用いることにより、前記計測反射性状のキャリブレーションを行なって、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出することを特徴とする請求項３に記載のかぶり厚さ計測装置。
【0052】
（Ｂ）前記制御部は、
前記探査孔に挿入された前記レーダ探査機が、前記地下躯体の外周までのレーダ媒質の比誘電率を記憶しており、
前記記憶したレーダ媒質の比誘電率を、キャリブレーション用情報として用いることにより、前記計測反射性状のキャリブレーションを行なって、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出することを特徴とする請求項３に記載のかぶり厚さ計測装置。
前記探査孔に挿入された前記レーダ探査機が、前記地下躯体の外周までのレーダ媒質の比誘電率を記憶しており、
前記記憶したレーダ媒質の比誘電率を、キャリブレーション用情報として用いることにより、前記計測反射性状のキャリブレーションを行なって、前記地下躯体の外周位置と鉄筋位置とを算出することを特徴とする請求項３に記載のかぶり厚さ計測装置。
【符号の説明】
【0053】
Ｃ１…中心、ｈ１，ｈ３…探査孔、ｈ２…孔、Ｌ５，Ｌ６…厚さ、Ｒ１，Ｒ２…距離、Ｓ１…計測領域、Ｔ１…厚さ、１０…かぶり厚さ計測システム、１５，７０…レーダ探査機、１６…反射波測定器、２０…計測装置、２１…制御部、２２…計測データ記憶部、３１，５１…地下躯体としての既存杭、３３…鉄筋としての杭主筋、３４…コンクリート、３６…耐圧盤、３７…パイルキャップ、３８…基礎梁、５０…地下躯体、５５…柱、７１…水、７２…コンクリートブロック、７３…砂、１５１…探査本体部、１５５…送信アンテナ部、１５６…受信アンテナ部、２１１…取得部、２１２…校正部、２１３…厚さ算出部。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】