特開 2025-100446 ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2025100446

(43)【公開日】2025-07-03

(54)【発明の名称】ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/00 20060101AFI20250626BHJP

【ＦＩ】

G01R31/00

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2024221028

(22)【出願日】2024-12-17

(31)【優先権主張番号】P 2023215793

(32)【優先日】2023-12-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP

(71)【出願人】

【識別番号】000004695

【氏名又は名称】株式会社ＳＯＫＥＮ

(71)【出願人】

【識別番号】000003207

【氏名又は名称】トヨタ自動車株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001276

【氏名又は名称】弁理士法人小笠原特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】関谷 洋平

(72)【発明者】

【氏名】溝口 幸

(72)【発明者】

【氏名】梶田 治

【テーマコード（参考）】

2G036

【Ｆターム（参考）】

2G036AA10

2G036BA13

2G036CA10

(57)【要約】

【課題】ＡＭ変調されたノイズ信号を用いてＣＸＰＩ通信ＩＣのノイズ耐性を評価することができるＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムを提供する。
【解決手段】送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣと受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣとが通信線で接続された通信装置と、信号発生器から出力されるノイズ信号を通信線に印加するノイズ印加装置と、を備え、信号発生器は、ノイズ信号を特定の方式によって変調させる機能を有する、ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムである。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムであって、
送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣと受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣとが通信線で接続された通信装置と、
信号発生器から出力されるノイズ信号を前記通信線に印加するノイズ印加装置と、を備え、
前記信号発生器は、前記ノイズ信号を特定の方式によって変調させる機能を有する、ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項2】

前記信号発生器は、ノイズ印加条件を制御するコントローラの指示に従って、前記ノイズ信号にＡＭ変調を施す、請求項１に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項3】

前記ＵＡＲＴフレームは、最終ビットのみが論理値１となる１０ビット列である、請求項２に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項4】

前記ノイズ印加装置は、前記ＵＡＲＴフレームのビットが論理値１となる位置に前記ＡＭ変調された前記ノイズ信号の腹および節が合うように、前記ノイズ信号を前記通信線に印加する、請求項３に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項5】

前記信号発生器は、ノイズ印加条件を制御するコントローラの指示に従って、前記ノイズ信号に、ＣＸＰＩ通信で規定されているビット幅またはフレーム長の単位で変化するパルス変調を施す、請求項１に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項6】

前記送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣが前記通信線に出力するＵＡＲＴフレームは、ＣＸＰＩ通信で規定されているインターバルビットを含む論理値がランダムのビット列である、請求項５に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項7】

前記ノイズ印加装置は、前記ＵＡＲＴフレームのビットが論理値１となる位置に前記パルス変調された前記ノイズ信号のピーク部分が合うように、前記ノイズ信号を前記通信線に印加する、請求項６に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項8】

前記ノイズ印加装置が前記ノイズ信号を前記通信線に印加する時間は、前記ノイズ信号の各周波数において２秒以上である、請求項４または７に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項9】

前記コントローラによって前記ノイズ印加条件が変更された場合、前記ノイズ印加装置が前記変更された前記ノイズ印加条件に基づく前記ノイズ信号を前記通信線に印加する前に、前記送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣおよび前記受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣの学習機能を初期化する制御部を、さらに備える、請求項２に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【請求項10】

前記制御部は、前記送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣおよび前記受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣの電源をリセットすることで前記学習機能を初期化する、請求項９に記載のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、ＣＸＰＩ（Clock Extension Peripheral Interface）通信を行う通信ＩＣのノイズ耐性を評価するシステムに関する。

【背景技術】

【0002】

特許文献１に、ＤＰＩ（Direct Power Injection）試験において、試験対象の電気回路である通信ＩＣのノイズ耐性を、この通信ＩＣに到達する電圧で評価する技術が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１５－００１３８２号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

上記特許文献１に記載の技術では、ＤＰＩ試験に用いられるノイズ信号について、信号全体の大きさ（振幅）は制御されるものの、信号に変調を施すことについては何ら言及されていない。しかしながら、ＣＸＰＩ通信は、他方式の通信と比較して通信速度が低い。このため、ＣＸＰＩ通信を行う通信ＩＣ（以下「ＣＸＰＩ通信ＩＣ」という）のノイズ耐性の評価については、特定の方式によって変調（ＡＭ変調やパルス変調など）されたノイズ信号に対して実施することが望ましい。

【0005】

本開示は、上記課題を鑑みてなされたものであり、特定の方式によって変調されたノイズ信号を用いてＣＸＰＩ通信ＩＣのノイズ耐性を評価することができる、ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記課題を解決するために、本開示技術の一態様は、ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムであって、送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣと受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣとが通信線で接続された通信装置と、信号発生器から出力されるノイズ信号を通信線に印加するノイズ印加装置と、を備え、信号発生器は、ノイズ信号を特定の方式によって変調させる機能を有する、ＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムである。

【発明の効果】

【0007】

本開示のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムによれば、特定の方式によって変調されたノイズ信号を用いてＣＸＰＩ通信ＩＣのノイズ耐性を評価することができるので、評価精度を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】本開示の一実施形態に係るＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムの概略構成図

【図2A】ＡＭ変調されたノイズ信号の一例を示す図

【図2B】パルス変調されたノイズ信号の一例を示す図

【図3A】ＵＡＲＴフレームの一例を示す図

【図3B】ＵＡＲＴフレームの一例を示す図

【図3C】インターバルビットが付加されたＵＡＲＴフレームの一例を示す図

【図4A】ＵＡＲＴフレームに印加されるＡＭ変調されたノイズ信号の一例を示す図

【図4B】ＵＡＲＴフレームに印加されるパルス変調されたノイズ信号の一例を示す図

【図5】他のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムの概略構成図

【発明を実施するための形態】

【0009】

本発明者らは、低速な通信であるＣＸＰＩ通信において、特定の方式によって変調されたノイズによって通信ＩＣの耐性が低下することを見出した。本開示は、ＤＰＩ試験において特定の方式によって変調されたノイズ信号を用いてＣＸＰＩ通信ＩＣのノイズ耐性を評価することができるシステムを実現させる。
以下、本開示の一実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。

【0010】

＜実施形態＞
［構成］
図１は、本開示の一実施形態に係るＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム１０の概略構成を示す機能ブロック図である。図１に例示したノイズ耐性評価システム１０は、通信装置１００と、ノイズ印加装置２００と、コントローラ３００と、を備える。

【0011】

（１）通信装置
通信装置１００は、試験対象となる通信ＩＣのノイズ耐性を評価するための試験用装置である。この通信装置１００は、送信側の回路となるＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１、通信回路１１２、マイコン１１３、および電源回路１１４と、受信側の回路となるＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１、通信回路１２２、マイコン１２３、および電源回路１２４と、ノイズ印加回路１３０と、を備える。

【0012】

ＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１は、マイコン１１３の動作に従って電源回路１１４から供給される電力で動作する通信ＩＣである。このＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１は、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１との間でＣＸＰＩ通信を行う。通信回路１１２は、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１が出力する信号を、バスなどの通信線１４０を介して通信回路１２２に送信する。マイコン１１３は、ＵＡＲＴ（Universal Asynchronous Receiver Transmitter）通信によって所定のＵＡＲＴ信号をＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１に送出する。電源回路１１４は、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１およびマイコン１１３に所定電圧の電力を供給する。

【0013】

試験に使用されるＵＡＲＴ信号としては、先頭の１ビット（start bit）とデータの８ビットと最終の１ビット（end bit）とで構成される１０ビット列のＵＡＲＴフレームが繰り返される信号や、このＵＡＲＴフレームにＣＸＰＩ通信で規定されているインターバルビット（任意の１～８ビット）をさらに加えた１１～１８ビット列が繰り返される信号を、例示することができる。前者の信号は、例えばＵＡＲＴフレームのみの評価が可能なシミュレーション試験における使用が適しており、後者の信号は、例えばＣＸＰＩルールに則った実際の通信が行われる実機における使用が適している。

【0014】

ＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１は、マイコン１２３の動作に従って電源回路１２４から供給される電力で動作する通信ＩＣである。このＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１は、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１との間でＣＸＰＩ通信を行う。通信回路１２２は、通信回路１１２から通信線１４０を介して信号を受信し、この受信した信号をＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１に出力する。マイコン１２３は、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１との間で所定のＵＡＲＴ通信を行う。電源回路１２４は、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１およびマイコン１２３に所定電圧の電力を供給する。

【0015】

ノイズ印加回路１３０は、通信線１４０上に設けられ、ノイズ印加装置２００から出力されるノイズ信号を、通信線１４０を流れる信号に印加する。

【0016】

なお、通信装置１００は、送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１、通信回路１１２、マイコン１１３、および電源回路１１４と、受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１、通信回路１２２、マイコン１２３、および電源回路１２４とを、別々の基板でそれぞれ構成してもよい。

【0017】

（２）ノイズ印加装置
ノイズ印加装置２００は、通信装置１００にノイズ信号を印加するための試験用装置である。このノイズ印加装置２００は、 シグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０と、アンプ（ＡＭＰ）２２０と、方向性結合器２３０と、進行波パワーセンサ２４０と、反射波パワーセンサ２５０と、パワーメータ２６０と、を備える。

【0018】

シグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０は、正弦波の高周波のノイズ信号（ＣＷ）を発生する機能と、ノイズ信号（ＣＷ）に特定の方式による変調を施す機能と、を有している。特定の変調方式としては、ＡＭ変調やパルス変調を例示できる。よって、このシグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０は、所定のＡＭ変調がなされたノイズ信号や所定のパルス変調がなされたノイズ信号を出力することができる。このノイズ信号は、コントローラ３００の指示に基づいて生成および出力される。アンプ（ＡＭＰ）２２０は、シグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０が出力するノイズ信号を所定のゲインで増幅する。方向性結合器２３０は、アンプ（ＡＭＰ）２２０で増幅されたノイズ信号を、通信装置１００のノイズ印加回路１３０に出力する。

【0019】

また、方向性結合器２３０は、アンプ（ＡＭＰ）２２０で増幅されたノイズ信号を、通信装置１００に向かう進行波成分と通信装置１００から戻ってくる反射波成分とに分離する。進行波パワーセンサ２４０は、方向性結合器２３０で分離された進行波成分の電力を測定する。反射波パワーセンサ２５０は、方向性結合器２３０で分離された反射波成分の電力を測定する。パワーメータ２６０は、進行波パワーセンサ２４０で測定された進行波電力と反射波パワーセンサ２５０で測定された反射波電力とを、コントローラ３００に送出することができる。

【0020】

（３）コントローラ
コントローラ３００は、ノイズ印加装置２００が通信装置１００の通信線１４０に印加するノイズ信号の条件（ノイズ印加条件）を、変更（制御）するための装置である。このコントローラ３００は、ノイズ印加装置２００のシグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０に対して指示を行い、シグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０が出力するノイズ信号を制御する。

【0021】

［制御］
次に、図２、図３、および図４をさらに参照して、ノイズ耐性評価システム１０が実施するノイズ信号の制御手法（試験条件設定）を説明する。

【0022】

（１）第１の制御手法
ノイズ印加装置２００のシグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０は、コントローラ３００からの指示に従って、特定の変調方式によって変調されたノイズ信号を生成する。特定の変調方式としては、ＡＭ変調とパルス変調とを示せる。

【0023】

図２Ａに、ＡＭ変調されたノイズ信号の一例を示す。このＡＭ変調されたノイズ信号は、所定の周期（例えば、１～５００ＭＨｚ）を有する正弦波搬送波を、予め定めた条件でＡＭ変調した信号である。この条件としては、変調周波数１ｋＨｚかつ変調度８０％とする条件を例示することができる。さらに好ましくは、後述する第３の制御手法を考慮して、ＡＭ変調の周期を、送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１が通信線１４０に出力するＵＡＲＴフレームの略２倍の長さにしてもよい。

【0024】

また、図２Ｂに、パルス変調されたノイズ信号の一例を示す。このパルス変調されたノイズ信号は、所定の周期（例えば、１～５００ＭＨｚ）を有する正弦波搬送波を、予め定めた条件でパルス変調した信号である。この条件としては、ＣＸＰＩ通信で規定されているビット幅またはフレーム長の単位で変化するという条件を例示することができる。よって、このパルス変調されたノイズ信号は、通信信号フレームの周期相当の低周波ノイズと言える。一例として、ＩＳＯ＿７６３７－３で規定された低速過渡パルス（パルス２ａ）の信号を用いることが可能である。

【0025】

（２）第２の制御手法
通信装置１００のＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１は、ＣＸＰＩ通信信号をＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１に送信する。このＣＸＰＩ通信信号には、先頭ビットが論理値「０」、最終ビットが論理値「１」、およびインターバルビットが全て論理値「１」という条件を満たす、いわゆるＣＸＰＩルールを遵守したランダムな信号が用いられる。

【0026】

例えば、図３Ａのように、最終ビットのみが論理値「１」となる１０ビット列のＵＡＲＴフレーム“０００００００００１”のＣＸＰＩ通信信号は、ＣＸＰＩで論理判定のタイミングを毎回学習する論理値「１」のデータが１箇所のみであるため、論理判定のタイミングを学習しない論理値「０」の期間が長いケースにおけるＣＸＰＩ通信信号のノイズ耐性の劣化を評価する場合に有用である。

【0027】

また、図３Ｂのように、先頭ビットのみが論理値「０」となる１０ビット列のＵＡＲＴフレーム“０１１１１１１１１１”のＣＸＰＩ通信信号は、論理判定のタイミングを学習しない論理値「０」の期間が短いケースにおけるＣＸＰＩ通信信号のノイズ耐性の劣化を評価する場合に有用である。

【0028】

さらには、図３Ｃのように、１０ビット列のＵＡＲＴフレームにインターバルビット（図３Ｃの例では３ビット）を付加したＣＸＰＩ通信信号にすれば、実際のＣＸＰＩ通信により近い状況でノイズ耐性の劣化を評価することが可能となる。

【0029】

（３）第３の制御手法
ノイズ印加装置２００は、シグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０から出力される特定の方式によって変調されたノイズ信号を、通信装置１００のノイズ印加回路１３０を介してＣＸＰＩ通信信号に印加する。この特定の方式によって変調されたノイズ信号のＣＸＰＩ通信信号への印加は、通信線１４０の信号を検知して、任意のタイミングおよび周期で行うことが可能である。

【0030】

試験条件を厳しくするためには、例えばＡＭ変調されたノイズ信号であれば、そのノイズ信号の「腹」と「節」とがＵＡＲＴフレームの論理値「１」のビット位置に重畳するタイミングおよび周期で、ＣＸＰＩ通信信号に印加することが望ましい。図４Ａに、ＵＡＲＴフレームの論理値「１」のビット位置に、ＡＭ変調されたノイズ信号の「腹」および「節」が重なった（同期した）イメージを示す。

【0031】

また、例えばパルス変調されたノイズ信号であれば、そのノイズ信号のピーク部分をＵＡＲＴフレームの論理値「１」のビット位置に重畳するタイミングで、ＣＸＰＩ通信信号に印加することが望ましい。図４Ｂに、ＵＡＲＴフレームの論理値「１」のビット位置に、パルス変調されたノイズ信号のピークが重なった（同期した）イメージを示す。なお、図４Ｂでは、ＣＸＰＩ通信で規定されているビット幅の単位で変化するパルス変調が施されたノイズ信号の例を示しているが、フレーム長の単位で変化するパルス変調が施されたノイズ信号を用いてもよい。

【0032】

このような、ＵＡＲＴフレームの論理値「１」のビット位置に、ＡＭ変調されたノイズ信号の「腹」および「節」を重ねる制御（設定）やパルス変調されたノイズ信号のピーク部分を重ねる制御（設定）は、図５に示すＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システム２０の構成を用いれば容易である。図５は、図１に示したノイズ耐性評価システム１０の構成に対して、オシロスコープ４００を追加してコントローラ３００の制御を発展させた構成である。

【0033】

オシロスコープ４００は、通信装置１００の通信線１４０の電圧をモニタしており、ＵＡＲＴフレームの論理値「１」のビット位置を検出してコントローラ３００に通知する。コントローラ３００は、オシロスコープ４００からの通知に従って、ＡＭ変調されたノイズ信号の「腹」および「節」またはパルス変調されたピーク部分がＵＡＲＴフレームの論理値「１」のビット位置に重なる（タイミングや周期が一致する）ように、シグナルジェネレータ（ＳＧ）２１０からノイズ印加回路１３０を介して、通信線１４０を流れるＣＸＰＩ通信信号に印加するタイミングや周期を制御する。

【0034】

（４）第４の制御手法
ノイズ印加装置２００は、ＤＰＩ試験に用いる複数のノイズ信号の各周波数において、ＡＭ変調またはパルス変調されたノイズ信号をＣＸＰＩ通信信号に印加する時間を２秒以上とする。ＤＰＩ試験では、劣化するケースを出来るだけ長い時間を評価することで評価の精度が向上する。よって、ＢＣＩ試験において規定されている「２秒」を、ノイズ信号の印加時間の最低条件とする。この第４の制御手法は、第３の制御手法を採用しない場合において特に有用である。

【0035】

（５）第５の制御手法
通信装置１００の電源回路１１４および電源回路１２４は、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１に供給する電源電圧と、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１に供給する電源電圧との間に、電圧差をつける。電源電圧を低くすればＣＸＰＩ通信信号の振幅が小さくなり、ビット判定を行う閾値に対するマージが少なくなってノイズ耐性が低下するので、この電圧差は大きくすればするほど厳しい試験となる。なお、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１および１２１に供給する電源電圧は、ＩＳＯで定義されている範囲で変化させることが望ましい。

【0036】

（６）第６の制御手法
通信装置１００は、ＧＮＤ電位を、ＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１とＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１とで差をつける。この制御手法を用いる場合には、送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１、通信回路１１２、マイコン１１３、および電源回路１１４のＧＮＤと、受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１、通信回路１２２、マイコン１２３、および電源回路１２４のＧＮＤとが、電気的に分離されている必要がある。このＧＮＤ電位差についても、電源電圧差と同様に、大きくなるとビット判定を行う閾値に対するマージが少なくなってノイズ耐性が低下する。このＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１および１２１のＧＮＤ電位も、ＩＳＯに記載された範囲で変化させることが望ましい。

【0037】

（７）第７の制御手法
より高精度にＣＸＰＩ通信ＩＣのノイズ耐性を評価するためには、ノイズ印加条件を様々に変更して試験を行うことが望ましい。しかしながら、ＣＸＰＩで定められた論理判定のタイミングを毎回学習する機能が、評価結果に影響を及ぼすおそれがある。

【0038】

よって、コントローラ３００によってノイズ印加条件が変更された場合には、ノイズ印加装置２００が変更されたノイズ印加条件に基づくノイズ信号を通信線１４０に印加する前に、送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１および受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣ１２１の学習機能を初期化することが望ましい。この学習機能の初期化は、例えば、電源回路１１４および１２４がＣＸＰＩ通信ＩＣ１１１および１２１へ供給する電源をマイコン１１３および１２３などの制御部がリセットすることによって可能である。

【0039】

上述した第１～第７の制御手法（試験条件設定）のうち、第１の制御手法は必須の項目であり、第２および第３の制御手法は、ＤＰＩ試験の精度を向上させるために第１の制御手法と組み合わせて適用することが望ましい。また、第４～第７の制御手法は、通信ＩＣのノイズ耐性をさらに厳しく評価する場合に有用な項目であり、第１～第３の制御手法と適宜組み合わせて用いることができる。

【0040】

＜作用・効果＞
以上説明したように、本開示の一実施形態に係るＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムによれば、送信側のＣＸＰＩ通信ＩＣと受信側のＣＸＰＩ通信ＩＣとが通信線で接続された通信装置と、信号発生器から出力されるノイズ信号を通信線に印加するノイズ印加装置と、を用いてＤＰＩ試験を実施する。信号発生器は、ノイズ信号を特定の方式によって変調させる機能を有しているので、特定方式の変調が施されたノイズ信号を用いてＣＸＰＩ通信ＩＣのノイズ耐性を評価することができる。

【産業上の利用可能性】

【0041】

本開示のＣＸＰＩ通信のノイズ耐性評価システムは、ＣＸＰＩ通信を行う通信ＩＣのノイズ耐性を評価する場合に利用可能である。

【符号の説明】

【0042】

１０、２０ ノイズ耐性評価システム
１００ 通信装置
１１１、１２１ ＣＸＰＩ通信ＩＣ
１１２、１２２ 通信回路
１１３、１２３ マイコン
１１４、１２４ 電源回路
１３０ ノイズ印加回路
１４０ 通信線
２００ ノイズ印加装置
２１０ シグナルジェネレータ（ＳＧ）
２２０ アンプ（ＡＭＰ）
２３０ 方向性結合器
２４０ 進行波パワーセンサ
２５０ 反射波パワーセンサ
２６０ パワーメータ
３００ コントローラ
４００ オシロスコープ

【図1】

【図2A】

【図2B】

【図3A】

【図3B】

【図3C】

【図4A】

【図4B】

【図5】