発明の名称 結晶配向性試料のオフ角を算出する方法、X線回折システム、およびプログラム
出願人 株式会社リガク (識別番号 250339)
特許公開件数ランキング 703 位(12件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 564 位(14件)(共同出願を含む)
公報番号 特開-2025-129985
公報発行日 2025年9月5
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2025-129985
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