特開2025-165365検量線の作成方法、蛍光偏光免疫測定法、プログラム、蛍光偏光免疫測定装置及び検量線作成キット

発明の名称　検量線の作成方法、蛍光偏光免疫測定法、プログラム、蛍光偏光免疫測定装置及び検量線作成キット

出願人　ＮＬＴテクノロジー株式会社　（識別番号 303018827）

　　　　特許公開件数ランキング 14682 位（1件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 2507 位（3件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2025-165365

公報発行日　2025年11月4

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2025-165365

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