特開 2025-17689 粉粒体の検査選別装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2025017689

(43)【公開日】2025-02-06

(54)【発明の名称】粉粒体の検査選別装置

(51)【国際特許分類】

   B07C 5/342 20060101AFI20250130BHJP

   B01J 4/00 20060101ALI20250130BHJP

【ＦＩ】

B07C5/342

B01J4/00 105A

B01J4/00 105D

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023120858

(22)【出願日】2023-07-25

(71)【出願人】

【識別番号】591011384

【氏名又は名称】株式会社パウレック

(74)【代理人】

【識別番号】100107423

【弁理士】

【氏名又は名称】城村 邦彦

(74)【代理人】

【識別番号】100120949

【弁理士】

【氏名又は名称】熊野 剛

(72)【発明者】

【氏名】田林 功至

(72)【発明者】

【氏名】長門 琢也

【テーマコード（参考）】

3F079

4G068

【Ｆターム（参考）】

3F079AB00

3F079BA12

3F079CA31

3F079CA41

3F079CB25

3F079CB33

3F079CC01

3F079DA01

4G068AA01

4G068AA07

4G068AB22

4G068AC20

4G068AD01

4G068AD39

4G068AD40

4G068AF10

(57)【要約】

【課題】検査選別の１サイクルに要する時間を短縮すると共に、粉粒体が粉粒体通路に残留することを防止又は抑制する。
【解決手段】検査選別装置は、粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐが重力により降下する降下通路２と、降下通路２を降下した粉粒体Ｐが一時的に溜まる貯留部３と、粉粒体の物性Ｐを測定して、貯留部３内の粉粒体Ｐが規格内品か規格外品かを判定する検査部４と、検査部４の判定結果に基づいて、貯留部３内の粉粒体Ｐを空気移送して、規格内品通路５および規格外品通路６のうち一方の通路に択一的に移送する空気移送部７とを主要な要素として構成される。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

連続式の粉粒体処理装置から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する粉粒体の検査選別装置であって、
前記粉粒体が重力により降下する降下通路と、
前記降下通路を降下した前記粉粒体が一時的に溜まる貯留部と、
前記貯留部に溜まった前記粉粒体の物性を測定する測定部を有し、前記測定部の測定結果に基づいて、前記粉粒体が前記規格内品か前記規格外品かを判定する検査部と、
前記規格内品が移送される規格内品通路と、
前記規格外品が移送される規格外品通路と、
前記検査部の判定結果に基づいて、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を、空気吸引又は空気圧送により、前記規格内品通路および前記規格外品通路のうち一方の通路に択一的に移送する空気移送部と、
を備えたことを特徴とする粉粒体の検査選別装置。

【請求項2】

前記貯留部は、Ｕ字形状、Ｖ字形状および有底筒形状の中から選択される一の形状を有する請求項１に記載の粉粒体の検査選別装置。

【請求項3】

前記貯留部は、透光部を有し、前記測定部は、前記貯留部に溜まった前記粉粒体の物性を前記透光部を介して測定する光学センサである請求項１又は２に記載の粉粒体の検査選別装置。

【請求項4】

前記検査部は、前記測定部に加え、前記降下通路を降下する前記粉粒体の物性を測定する第２測定部を更に有し、前記検査部は、前記測定部により測定された前記粉粒体の物性が所定の規格を満たし、かつ、前記第２測定部により測定された前記粉粒体の物性が所定の規格を満たす場合に、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格内品と判定し、それ以外の場合は、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格外品と判定する請求項１又は２に記載の粉粒体の検査選別装置。

【請求項5】

前記測定部と前記第２測定部は、前記粉粒体の異なる物性をそれぞれ測定する請求項４に記載の粉粒体の検査選別装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、連続式の粉粒体処理装置から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する検査選別装置に関する。

【背景技術】

【0002】

医薬品、食品、農薬、電池材料等の製造分野では、粉粒体製品の生産効率を上げるため、連続生産システムの開発が進んでいる。例えば、医薬品等の錠剤を連続的に生産するシステムでは、原料粉体（医薬原料等）を混合する混合装置、混合装置で混合された原料粉体を造粒する造粒装置、造粒装置で造粒された造粒物を乾燥させる乾燥装置、乾燥装置で乾燥された造粒物に潤滑剤等の添加剤粉末を添加して混合する混合装置、混合装置で混合された混合粉体を圧縮成形して錠剤形態にする粉体圧縮成形装置（打錠機）、粉体圧縮成形装置で圧縮成形された錠剤にコーティング膜を形成するコーティング装置、等の各種粉粒体処理装置で一連の生産ラインを構築し、前工程の粉粒体処理装置で連続的に処理される粉粒体を次工程の粉粒体処理装置に順次に移送して所要の処理を行う。

【0003】

上記のような粉粒体製品の連続生産システムでは、前工程の粉粒体処理装置から排出される粉粒体（処理物）を検査して、所定の規格を満たす規格内品か、所定の規格を満たさない規格外品かを判定し、規格内品と判定した場合は次工程の粉粒体処理装置に移送し、規格外品と判定した場合は生産ラインから排除するようにしていることが多い。例えば、下記の特許文献１には、造粒物を一時的に貯留する貯留部と、貯留部内の造粒物の物性を検査する検査部と、検査部の検査結果に基づいて、造粒物の進路を切替える切替え弁を備えた逸脱処理装置が開示されている。貯留部は、造粒物の搬送路上に設けられ、上下の開閉弁の間に形成される。造粒物を貯留部に貯留する際は、上開閉弁を開位置、下開閉弁を閉位置にし、貯留部内の造粒物を検査する際は、上下の開閉弁を閉位置にし、貯留部内の造粒物を下流側に流出させる際は、下開閉弁を開位置にする。切替え弁は、検査部が貯留部内の造粒物を規格内品と判定した場合は、通常位置に維持し、検査部が貯留部内の造粒物を規格外品と判定した場合は、貯留部の下流側の搬送路を排出路に連通させる逸脱位置に切替える。貯留部から流出した規格内品の造粒物は、切替え弁が通常位置に維持されることにより、下流側の搬送路を通って次工程の処理装置に移送される。一方、貯留部から流出した規格外品の造粒物は、切替え弁が逸脱位置に切替えられることにより、排出路に案内されてシステム外へ排出される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特許第７１１６９７５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

特許文献１の逸脱処理装置（検査選別装置）では、貯留部を開閉する開閉弁や、貯留部から流出した規格外品の粉粒体を排出路に案内する切替え弁を、搬送路（粉粒体通路）に設けているため、粉粒体通路に粉粒体の残留が生じ易い。とくに、粉粒体通路に残留した粉粒体が開閉弁や切替え弁の可動部分に噛み込まれると、弁の動作が不能または不安定になり、検査選別動作の実行に支障が生じると共に、検査選別装置を洗浄する際の洗浄作業や、洗浄後のバリデーションに手間が掛かる。

【0006】

上記の事情に鑑み、本発明は、粉粒体通路に粉粒体が残留することを防止又は抑制することを技術的課題とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記課題を解決するため、本発明は、連続式の粉粒体処理装置から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する粉粒体の検査選別装置であって、前記粉粒体が重力により降下する降下通路と、前記降下通路を降下した前記粉粒体が一時的に溜まる貯留部と、前記貯留部に溜まった前記粉粒体の物性を測定する測定部を有し、前記測定部の測定結果に基づいて、前記粉粒体が前記規格内品か前記規格外品かを判定する検査部と、前記規格内品が移送される規格内品通路と、前記規格外品が移送される規格外品通路と、前記検査部の判定結果に基づいて、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を、空気吸引又は空気圧送により、前記規格内品通路および前記規格外品通路のうち一方の通路に択一的に移送する空気移送部と、を備えたことを特徴とする粉粒体の検査選別装置を提供する。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、粉粒体が粉粒体通路に残留することを防止又は抑制することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】本発明の第１の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示す図である。

【図2】貯留部を模式的に示す図である。

【図3】貯留部の第１の変形例を模式的に示す図である。

【図4】貯留部の第２の変形例を模式的に示す図である。

【図5】貯留部の第３の変形例を模式的に示す図である。

【図6】本発明の第２の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。

【0011】

図１は、第１の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示している。この実施形態の検査選別装置は、連続式の粉粒体処理装置１から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する装置である。粉粒体処理装置１は、例えば、粉粒体を混合する混合装置、粉粒体を造粒する造粒装置、粉粒体を乾燥させる乾燥装置、粉粒体を圧縮成形する粉体圧縮成形装置（打錠機）、粉粒体にコーティン処理を施すコーティング装置の中から選択される一の装置である。また、検査選別装置で検査選別する粉粒体は、粉体の混合物、造粒物、粉体と造粒物の混合物、造粒物の混合物、粉体及び／又は造粒物の圧縮成形物（錠剤等）、コーティング処理物の中から選択される一の物質である。例えば、検査選別装置は、粉粒体製品の連続生産システムにおいて、前工程の粉粒体処理装置と次工程の粉粒体処理装置との間に配置され、規格内品のみを次工程の粉粒体処理装置に送り、規格外品は生産ラインから排除する役割を行う。

【0012】

この実施形態において、粉粒体処理装置１は、原料粉体から造粒物を連続的に製造する連続造粒装置であり、検査選別装置は、連続造粒装置から連続的に排出される造粒物を検査して、規格内品と規格外品とに選別する。

【0013】

検査選別装置は、粉粒体処理装置１（連続造粒装置）から排出される粉粒体（造粒物）Ｐが重力により降下する降下通路２と、降下通路２を降下した粉粒体Ｐが一時的に溜まる貯留部３と、粉粒体Ｐの物性を測定して、貯留部３内の粉粒体Ｐが規格内品Ｐ１か規格外品Ｐ２かを判定する検査部４（４ａ、４ｂ、４ｃ）と、規格内品Ｐ１が移送される規格内品通路５と、規格外品Ｐ２が移送される規格外品通路６と、検査部４の判定結果に基づいて、貯留部３内の粉粒体Ｐ（Ｐ１、Ｐ２）を規格内品通路５および規格外品通路６のうち一方の通路に択一的に空気移送する空気移送部７を主要な要素として構成される。

【0014】

この実施形態において、降下通路２は鉛直方向に沿うように形成され、降下通路２の上流側は粉粒体処理装置１の排出路１ａに連通し、降下通路２の下流側は貯留部３に連通する。また、貯留部３の下流側は接続通路８を介して規格内品通路５および規格外品通路６に連通する。排出路１ａ、降下通路２、貯留部３、接続通路８、規格内品通路５および規格外品通路６は、円形断面又は非円形断面（四角形断面等）の管路の形態を有する。

【0015】

排出路１ａと降下通路２との間に排出弁２ａが介装されている。排出弁２ａは、適宜の手段で開閉駆動され、粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐを所定量に区分けして逐次に降下通路２に流通させる切出し弁として機能する。すなわち、排出弁２ａは常時は閉位置に維持され、粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐは排出弁２ａによってせき止められて、排出路１ａに滞留する。そして、排出路１ａに所定量の粉粒体Ｐが滞留した時点で、排出弁２ａが開位置に切替わり、排出路１ａに滞留した所定量の粉粒体Ｐが降下通路２に流通する。排出路１ａに滞留した所定量の粉粒体Ｐが降下通路２に流通すると、排出弁２ａは閉位置に復帰する。排出弁２ａはこのような開閉動作を自動的に繰り返して、所定量の粉粒体Ｐを逐次に降下通路２に流通させる。排出弁２ａが閉位置から開位置に切替わる動作は、所定時間ごとに実行されるようにしてもよいし、あるいは、排出路１ａ内の粉粒体Ｐの滞留量を適宜のセンサで検知した結果に基づいて実行されるようにしてもよい。

【0016】

また、降下通路２の最上流部に空気取入れ口２ｂが接続されている。空気取入れ口２ｂはフィルター２ｂ１を備えており、降下通路２に空気吸引力が作用すると、外気がフィルター２ｂ１を通過して降下通路２に流入する。

【0017】

排出路１ａに所定量の粉粒体Ｐが滞留し、排出弁２ａが開位置に切替わると、排出路１ａ内の所定量の粉粒体Ｐが降下通路２を重力により降下（この実施形態では落下）して、貯留部３に溜まる。

【0018】

この実施形態において、検査部４は、貯留部３に溜まった静止状態の粉粒体Ｐの物性を測定する第１測定部４ａと、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの物性を測定する第２測定部４ｂを備えている。第１測定部４ａと第２測定部４ｂは、同種のものであってもよいし、異なる種類のものであってもよい。また、第１測定部４ａと第２測定部４ｂは、粉粒体Ｐの同じ物性を測定するものであってもよいし、粉粒体Ｐの異なる物性を測定するものであってもよい。

【0019】

第１測定部４ａは、光学センサ、例えば、近赤外分光センサ（ＮＩＲ）、中赤外分光センサ、ラマン分光センサ等の分光センサ、プローブ型粒度分布計、レーザー回析式粒度分布計、空間速度フィルター式粒度分布計等の粒度分布測定装置、画像解析装置、歪センサ又はトルクセンサ等であり、粉粒体Ｐの成分含量、結晶形、かさ密度、粒度分布、粒子径、粒子形状、歪、流動特性等の物性を測定する。この実施形態では、第１測定部４ａとして分光センサ、特に近赤外分光センサ（ＮＩＲ）を用いて、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐの成分含量を測定する。第１測定部４ａは、貯留部３内の粉粒体Ｐに検査光Ｌ（近赤外光）を照射し、その反射光（又は透過光）を受光する投受光部４ａ１と、投受光部４ａ１で受光した光のスペクトル（ＮＩＲスペクトル）に基づいて粉粒体Ｐの成分含量を求め、その成分含量が所定の規格を満たすか否かを判定する本体部４ａ２を備えている。本体部４ａ２での判定結果は総合判定部４ｃに送られる。

【0020】

図２に模式的に示すように、この実施形態において、貯留部３はＵ字形状（下方に凸の湾曲部を有する形状）に形成され、その最低位部位に透明なガラスや樹脂等で形成された透光部３ａが設けられている（透光部３ａの内面が貯留部３の内面と面一になるようにするのが好ましい）。第１測定部４ａの投受光部４ａ１は、透光部３ａに臨む外部位置に配置され、透光部３ａを介して貯留部３内の粉粒体Ｐに検査光Ｌを照射し、また、貯留部３内の粉粒体Ｐで反射した反射光を透光部３ａを介して受光する。

【0021】

第２測定部４ｂは、光学センサ、例えば、近赤外分光センサ（ＮＩＲ）、中赤外分光センサ、ラマン分光センサ等の分光センサ、プローブ型粒度分布計、レーザー回析式粒度分布計、空間速度フィルター式粒度分布計等の粒度分布測定装置、画像解析装置、歪センサ又はトルクセンサ等であり、粉粒体Ｐの成分含量、結晶形、かさ密度、粒度分布、粒子径、粒子形状、歪、流動特性等の物性を測定する。この実施形態では、第２測定部４ｂとしてプローブ型粒度分布計を用いて、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの粒度分布や粒子径等を測定する。第２測定部４ｂは、その先端部が降下通路２に挿入され、降下通路２を落下する粉粒体Ｐに関する光学情報を取得するプローブ４ｂ１と、プローブ４ｂ１で取得した光学情報に基づいて粉粒体Ｐの粒度分布を求め、その粒度分布が所定の規格を満たすか否かを判定する本体部４ｂ２を備えている。本体部４ｂ２での判定結果は総合判定部４ｃに送られる。

【0022】

この実施形態において、空気移送部７は、貯留部３内の粉粒体Ｐを空気吸引により移送する空気吸引式に構成され、固気分離室を有する第１移送部７ａと、固気分離室を有する第２移送部７ｂと、切替え部７ｃと、空気吸引源７ｄを備えている。第１移送部７ａは規格内品通路５に連通し、第２移送部７ｂは規格外品通路６に連通する。切替え部７ｃは、電磁力、空気圧、油圧等の作動力で切替わる自動切替え弁で構成され、空気吸引源７ｄとして、吸引ブロアー、真空ポンプ、エジェクターポンプ等が用いられる。

【0023】

第１移送部７ａは、容器の形態を有し、吸引室７ａ１と、固気分離室７ａ２と、回収室７ａ３を備えている。吸引室７ａ１と固気分離室７ａ２とは、フィルター７ａ４が取り付けられた仕切壁７ａ５で仕切られ、フィルター７ａ４を介して相互に連通する。固気分離室７ａ２と回収室７ａ３との間は、常時はフラップ弁７ａ６によって閉鎖される。吸引室７ａ１は、吸引管７ａ７を介して、切替え部７ｃに接続され、固気分離室７ａ２は規格内品通路５に接続される。フラップ弁７ａ６は、適宜の手段で開閉駆動される。

【0024】

第２移送部７ｂは、第１移送部７ａと同様の構成を有し、吸引室７ｂ１と、固気分離室７ｂ２と、回収室７ｂ３を備えている。吸引室７ｂ１と固気分離室７ｂ２とは、フィルター７ｂ４が取り付けられた仕切壁７ｂ５で仕切られ、フィルター７ｂ４を介して相互に連通する。固気分離室７ｂ２と回収室７ｂ３との間は、常時はフラップ弁７ｂ６によって閉鎖される。吸引室７ｂ１は、吸引管７ｂ７を介して、切替え部７ｃに接続され、固気分離室７ｂ２は規格外品通路６に接続される。フラップ弁７ｂ６は、適宜の手段で開閉駆動される。

【0025】

切替え部７ｃは、空気吸引源７ｄに接続され、吸引管７ａ７を空気吸引源７ｄに連通させる第１位置と、吸引管７ｂ７を空気吸引源７ｄに連通させる第２位置と、吸引管７ａ７及び吸引管７ｂ７を空気吸引源７ｄから遮断する中立位置とに切替え可能である。切替え部７ｃは常時は中立位置に維持される。

【0026】

つぎに、この実施形態の検査選別装置の動作について説明する。

【0027】

連続式の粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐが排出路１ａに所定量滞留すると、排出弁２ａが開位置に切替わり、排出路１ａ内の所定量の粉粒体Ｐが降下通路２を重力により落下する。第２測定部４ｂは、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの粒度分布を測定し、その粒度分布が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ｂ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0028】

降下通路２を重力により落下した所定量の粉粒体Ｐは、Ｕ字形状の貯留部３で止まり、貯留部３の湾曲部に溜まる。第１測定部４ａは、貯留部３に溜まった静止状態の粉粒体Ｐの成分含量を測定し、その成分含量が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ａ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0029】

総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）で、かつ、第２測定部４ｂから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）である場合に、貯留部３に溜まった所定量の粉粒体Ｐを規格内品Ｐ１と判定し、切替え信号Ｓ１を切替え部７ｃ（または切替え部７ｃ等の作動を制御する制御装置）に出力する。この切替え信号Ｓ１により、切替え部７ｃが上記の中立位置から第１位置に切替わり、第１移送部７ａの吸引管７ａ７が空気吸引源７ｄに連通する。これにより、空気吸引源７ｄが吸引管７ａ７を介して吸引室７ａ１に連通し、空気吸引源７ｄで発生する空気吸引力が、吸引室７ａ１→フィルター７ａ４→固気分離室７ａ２という経路で規格内品通路５に作用し、さらに、規格内品通路５→接続通路８→貯留部３という経路で降下通路２に作用する。そして、降下通路２に作用する空気吸引力によって、外気が空気取入れ口２ｂから降下通路２に吸引され、降下通路２から上記の一連の経路を下流側に向かって流れる吸引空気流が発生する。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格内品Ｐ１）は、上記の吸引空気流によって吸引され、接続通路８および規格内品通路５を流通して第１移送部７ａの固気分離室７ａ２に入り、吸引空気流から分離されて固気分離室７ａ２の底部に溜まる。そして、以上の空気吸引動作が完了すると、切替え部７ｃが中立位置に復帰し、第１移送部７ａおよび第２移送部７ｂが空気吸引源７ｄから遮断される。その後、フラップ弁７ａ６が開かれて、固気分離室７ａ２に溜まった規格内品Ｐ１が回収室７ａ３に移送される。回収室７ａ３に移送された規格内品Ｐ１は、適宜の手段で次工程に移送される。

【0030】

一方、総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果と第２測定部４ｂから受領した判定結果の少なくとも一方が不合格（所定の規格を満たさない）である場合は、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格外品Ｐ２と判定し、切替え信号Ｓ２を切替え部７ｃ（または切替え部７ｃ等の作動を制御する制御装置）に出力する。この切替え信号Ｓ２により、切替え部７ｃが上記の中立位置から第２位置に切替わり、第２移送部７ｂの吸引管７ｂ７が空気吸引源７ｄに連通する。これにより、空気吸引源７ｄが吸引管７ｂ７を介して吸引室７ｂ１に連通し、空気吸引源７ｄで発生する空気吸引力が、吸引室７ｂ１→フィルター７ｂ４→固気分離室７ｂ２という経路で規格外品通路６に作用し、さらに、規格外品通路６→接続通路８→貯留部３という経路で降下通路２に作用する。そして、降下通路２に作用する空気吸引力によって、外気が空気取入れ口２ｂから降下通路２に吸引され、降下通路２から上記の一連の経路を下流側に向かって流れる吸引空気流が発生する。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）は、上記の吸引空気流によって吸引され、接続通路８および規格外品通路６を流通して第２移送部７ｂの固気分離室７ｂ２に入り、吸引空気流から分離されて固気分離室７ｂ２の底部に溜まる。そして、以上の空気吸引動作が完了すると、切替え部７ｃが中立位置に復帰し、第１移送部７ａおよび第２移送部７ｂが空気吸引源７ｄから遮断される。その後、フラップ弁７ｂ６が開かれて、固気分離室７ｂ２に溜まった規格外品Ｐ２が回収室７ｂ３に移送される。回収室７ｂ３に移送された規格外品Ｐ２は、適宜の手段で生産ラインから排除される。

【0031】

この実施形態の検査選別装置は、粉粒体処理装置１から排出される所定量の粉粒体Ｐを、降下通路２で重力により落下させて貯留部３に一時的に溜めると共に、検査部４の判定結果に基づいて、貯留部３に溜めた粉粒体Ｐを空気移送部７により空気吸引して、規格内品通路５および規格外品通路６のうち一方の通路に択一的に移送するので、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、接続通路８、規格内品通路５、規格外品通路６）に開閉弁や切替え弁等の弁体を配置する必要がない。そのため、粉粒体通路に粉粒体の滞留が生じにくい。しかも、空気移送部７の作動により、上記の吸引空気流が発生し、この吸引空気流により、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、連通路８、規格内品通路５、規格外品通路６）が清掃されるので、粉粒体通路に粉粒体が残留することが効果的に防止又は抑制される。

【0032】

また、貯留部３は、最低位部位に透光部３ａを有し、第１測定部４ａは、貯留部３内の粉粒体Ｐの物性を透光部３ａを介して検査するので、貯留部３に溜める粉粒体Ｐが少量でも多量でも測定が可能である。そのため、貯留部３に溜める粉粒体量を製造条件や工程管理条件等に応じて適宜に調整することができ、例えば、貯留部３に溜める粉粒体量を多くすると、単位時間当たりに検査選別できる粉粒体量が増加し（検査選別効率の向上）、また、貯留部３に溜める粉粒体量を少なくすると、第１測定部４ａの測定結果が貯留部３内の粉粒体の物性を代表する度合いが高くなる（測定精度の向上）。

【0033】

この実施形態において、検査部４は第１測定部４ａと第２測定部４ｂを備えているが、第２測定部４ｂは省略してもよい。この場合、総合判定部４ｃをなくして、第１測定部４ａの本体部４ａ２から切替え信号Ｓ１（Ｓ２）を開閉部７ａ（切替え部８ｃ）に出力するようにしてもよい。また、第１測定部４ａは、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐにプローブの先端部を接触させて、粉粒体Ｐの物性を測定する方式のものであってもよい。

【0034】

また、この実施形態では、降下通路２を鉛直方向に形成し、粉粒体が重力により降下通路２内を落下するように構成にしているが、降下通路２を傾斜方向に形成し、粉粒体が重力により降下通路２に沿って降下するように構成にしてもよい。

【0035】

また、空気移送部７の第１移送部７ａと第２移送部７ｂは、サイクロン方式等の固気分離室を有するものであってもよく、また、フラップ弁と回収室をなくし、固気分離室で固気分離した粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）を、固気分離室から次工程又は生産ライン外に移送するように構成してもよい。

【0036】

さらに、貯留部３の形態は、以下の変形例に示すように、種々の変形が可能である。

【0037】

図３は、貯留部３の第１の変形例を模式的に示している。この変形例の貯留部３は、Ｖ字形状（下方に凸の屈曲部を有する形状）に形成され、その最低位部位に透光部３ａが設けられている。降下通路２を降下した所定量の粉粒体Ｐは、Ｖ字形状の貯留部３で止まり、貯留部３の屈曲部に溜まる。第１測定部４の投受光部４ａ１は、透光部３ａに臨む外部位置に配置され、透光部３ａを介して貯留部３内の粉粒体に検査光Ｌを照射し、また、貯留部３内の粉粒体で反射した反射光を透光部３ａを介して受光する。

【0038】

図４は、貯留部３の第２の変形例を模式的に示している。この変形例の貯留部３は、有底筒形状に形成され、その最低位部位に透光部３ａが設けられている。接続通路８は、貯留部３の上部に分岐接続される。降下通路２を降下した所定量の粉粒体Ｐは、有底筒形状の貯留部３で止まり、貯留部３の底部に溜まる。第１測定部４の投受光部４ａ１は、透光部３ａに臨む外部位置に配置され、透光部３ａを介して貯留部３内の粉粒体Ｐに検査光Ｌを照射し、また、貯留部３内の粉粒体Ｐで反射した反射光を透光部３ａを介して受光する。

【0039】

図５は、貯留部３の第３の変形例を模式的に示している。この変形例の貯留部３も、有底筒形状に形成され、その最低位部位に透光部３ａが設けられている。接続通路８は、貯留部３の下部に分岐接続される。降下通路２を降下した所定量の粉粒体Ｐは、有底筒形状の貯留部３で止まり、貯留部３の底部に溜まる。第１測定部４の投受光部４ａ１は、透光部３ａに臨む外部位置に配置され、透光部３ａを介して貯留部３内の粉粒体Ｐに検査光Ｌを照射し、また、貯留部３内の粉粒体Ｐで反射した反射光を透光部３ａを介して受光する。

【0040】

図６は、第２の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示している。第１の実施形態と実質的に同一の構成要素には同一の符号を示し、重複する説明を省略する。

【0041】

第２の実施形態では、第１の実施形態における空気吸引式の空気移送部７に代えて、空気圧送式の空気移送部１７を用いている。空気移送部１７は、固気分離室を有する第１移送部１７ａと、固気分離室を有する第２移送部１７ｂと、切替え部１７ｃと、空気圧送源１７ｄを備えている。第１移送部１７ａは規格内品通路５に連通し、第２移送部１７ｂは規格外品通路６に連通する。切替え部１７ｃは、電磁力、空気圧、油圧等の作動力で切替わる自動切替え弁で構成され、規格内品通路５と貯留部３とを連通させる第１位置と、規格外品通路６と貯留部３とを連通させる第２位置とに切替え可能である。切替え部１７ｃは常時は第１位置に維持される。空気圧送源１７ｄは、送風ブロアーやエアーコンプレッサー等で構成され、開閉部１７ｄ１を介して、降下通路２の最上流部に接続される。開閉部１７ｄ１は、電磁力、空気圧、油圧等の作動力で切替わる自動開閉弁で構成され、空気圧送源１７ｄを降下通路２に連通させる開位置と、空気圧送源１７ｄを降下通路２から遮断する閉位置とに切替え可能である。開閉部１７ｄ１は常時は閉位置に維持される。

【0042】

第１移送部１７ａは、容器の形態を有し、排気室１７ａ１と、固気分離室１７ａ２と、回収室１７ａ３を備えている。排気室１７ａ１と固気分離室１７ａ２とは、フィルター１７ａ４が取り付けられた仕切壁１７ａ５で仕切られ、フィルター１７ａ４を介して相互に連通する。固気分離室１７ａ２と回収室１７ａ３との間は、常時はフラップ弁１７ａ６によって閉鎖される。排気室１７ａ１は排気ダクト１７ａ７に接続され、固気分離室１７ａ２は規格内品通路５に接続される。フラップ弁１７ａ６は、適宜の手段で開閉駆動される。

【0043】

第２移送部１７ｂは、第１移送部１７ａと同様の構成を有し、排気室１７ｂ１と、固気分離室１７ｂ２と、回収室１７ｂ３を備えている。排気室１７ｂ１と固気分離室１７ｂ２とは、フィルター１７ｂ４が取り付けられた仕切壁１７ｂ５で仕切られ、フィルター１７ｂ４を介して相互に連通する。固気分離室１７ｂ２と回収室１７ｂ３との間は、常時はフラップ弁１７ｂ６によって閉鎖される。排気室１７ｂ１は排気ダクト１７ｂ７に接続され、固気分離室１７ｂ２は規格外品通路６に接続される。フラップ弁１７ｂ６は、適宜の手段で開閉駆動される。

【0044】

つぎに、第２の実施形態の検査選別装置の動作について説明する。

【0045】

連続式の粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐが排出路１ａに所定量滞留すると、排出弁２ａが開位置に切替わり、排出路１ａ内の所定量の粉粒体Ｐが降下通路２を重力により落下する。第２測定部４ｂは、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの粒度分布を測定し、その粒度分布が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ｂ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0046】

降下通路２を重力により落下した所定量の粉粒体Ｐは、Ｕ字形状の貯留部３で止まり、貯留部３の湾曲部に溜まる。第１測定部４ａは、貯留部３に溜まった静止状態の粉粒体Ｐの成分含量を測定し、その成分含量が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ａ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0047】

総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）で、かつ、第２測定部４ｂから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）である場合に、貯留部３に溜まった所定量の粉粒体Ｐを規格内品Ｐ１と判定し、切替え信号Ｓ１１を空気圧送源１７ｄの開閉部１７ｄ１（または開閉部１７ｄ１等の作動を制御する制御装置）に出力する。この切替え信号Ｓ１１により、開閉部１７ｄ１が上記の閉位置から開位置に切替わり、空気圧送源１７ｄが降下通路２に連通する。一方、切替え部１７ｃは上記の第１位置に維持され、規格内品通路５が貯留部３と連通する。そのため、空気圧送源１７ｄで発生する圧送空気が降下通路２に流入し、この圧送空気は、降下通路２→貯留部３→接続通路８→規格内品通路５→第１移送部１７ａという経路で流れる。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格内品Ｐ１）は、この圧送空気流によって圧送され、接続通路８および規格内品通路５を流通して第１移送部１７ａの固気分離室１７ａ２に入り、圧送空気流から分離されて固気分離室１７ａ２の底部に溜まる。そして、以上の空気圧送動作が完了すると、開閉部１７ｄ１が閉位置に復帰し、空気圧送源１７ｄが降下通路２から遮断される。その後、フラップ弁１７ａ６が開かれて、固気分離室１７ａ２に溜まった規格内品Ｐ１が回収室１７ａ３に移送される。回収室１７ａ３に移送された規格内品Ｐ１は、適宜の手段で次工程に移送される。

【0048】

一方、総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果と第２測定部４ｂから受領した判定結果の少なくとも一方が不合格（所定の規格を満たさない）である場合は、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格外品Ｐ２と判定し、切替え信号Ｓ１１を空気圧送源１７ｄの開閉部１７ｄ１（または開閉部１７ｄ１等の作動を制御する制御装置）に出力すると共に、切替え信号Ｓ１２を切替え部１７ｃ（または切替え部１７ｃ等の作動を制御する制御装置）に出力する。切替え信号Ｓ１１により、開閉部１７ｄ１が上記の閉位置から開位置に切替わり、空気圧送源１７ｄが降下通路２に連通する。また、切替え信号Ｓ１２により、切替え部１７ｃが上記の第１位置から第２位置に切替わり、規格外品通路６が貯留部３と連通する。そのため、空気圧送源１７ｄで発生する圧送空気が降下通路２に流入し、この圧送空気は、降下通路２→貯留部３→接続通路８→規格外品通路６→第２移送室１７ｂという経路で流れる。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）は、この圧送空気流によって圧送され、接続通路８および規格外品通路６を流通して第２移送部１７ｂの固気分離室１７ｂ２に入り、圧送空気流から分離されて固気分離室１７ｂ２の底部に溜まる。そして、以上の空気圧送動作が完了すると、開閉部１７ｄ１が閉位置に復帰し、空気圧送源１７ｄが降下通路２から遮断される。その後、フラップ弁１７ｂ６が開かれて、固気分離室１７ｂ２に溜まった規格外品Ｐ２が回収室１７ａ３に移送される。回収室１７ｂ３に移送された規格外品Ｐ２は、適宜の手段で生産ラインから排除される。

【0049】

この実施形態の検査選別装置は、粉粒体処理装置１から排出される所定量の粉粒体Ｐを、降下通路２で重力により落下させて貯留部３に一時的に溜めると共に、検査部４の判定結果に基づいて、貯留部３に溜めた粉粒体Ｐを空気移送部１７により空気圧送して、規格内品通路５および規格外品通路６のうち一方の通路に択一的に移送するので、従来装置に比べ、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、接続通路８、規格内品通路５、規格外品通路６）に配置する弁体を少なくすることができる。そのため、粉粒体通路に粉粒体の滞留が生じにくい。しかも、空気移送部１７の作動により、上記の圧送空気流が発生し、この圧送空気流により、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、連通路８、規格内品通路５、規格外品通路６）が清掃されるので、粉粒体通路に粉粒体が残留することが効果的に防止又は抑制される。

【0050】

尚、切替え部１７ｃは、規格内品通路５と規格外品通路６にそれぞれ常時閉の開閉弁を設け、検査部４の判定結果に基づいて、上記の開閉弁を択一的に開位置に切替える構成としてもよい。

【0051】

また、空気移送部１７の第１移送部１７ａと第２移送部１７ｂは、サイクロン方式等の固気分離室を有するものであってもよく、また、フラップ弁と回収室をなくし、固気分離室で固気分離した粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）を、固気分離室から次工程又は生産ライン外に移送するように構成してもよい。

【0052】

第２の実施形態に関して以上に説明した事項以外の事項は、改変例や変形例等を含めて全て第１の実施形態に準じるので、重複する説明を省略する。

【符号の説明】

【0053】

１ 粉粒体処理装置
２ 降下通路
３ 貯留部
３ａ 透光部
４ 検査部
４ａ 第１検査部
４ｂ 第２検査部
５ 規格内品通路
６ 規格外品通路
７ 空気移送部
７ａ 第１移送部
７ｂ 第２移送部
７ｃ 切替え部
１７ 空気移送部
１７ａ 第１移送部
１７ｂ 第２移送部
１７ｃ 切替え部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】