特開 2025-17690 粉粒体の検査選別装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2025017690

(43)【公開日】2025-02-06

(54)【発明の名称】粉粒体の検査選別装置

(51)【国際特許分類】

   B07C 5/342 20060101AFI20250130BHJP

   B01J 4/00 20060101ALI20250130BHJP

【ＦＩ】

B07C5/342

B01J4/00 105A

B01J4/00 105D

【審査請求】未請求

【請求項の数】4

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023120860

(22)【出願日】2023-07-25

(71)【出願人】

【識別番号】591011384

【氏名又は名称】株式会社パウレック

(74)【代理人】

【識別番号】100107423

【弁理士】

【氏名又は名称】城村 邦彦

(74)【代理人】

【識別番号】100120949

【弁理士】

【氏名又は名称】熊野 剛

(72)【発明者】

【氏名】田林 功至

(72)【発明者】

【氏名】長門 琢也

【テーマコード（参考）】

3F079

4G068

【Ｆターム（参考）】

3F079AB00

3F079BA12

3F079CA31

3F079CA41

3F079CB25

3F079CB33

3F079CC06

3F079DA01

4G068AA01

4G068AA07

4G068AB22

4G068AC20

4G068AD01

4G068AD39

4G068AD40

4G068AF10

(57)【要約】

【課題】粉粒体が粉粒体通路に残留することを防止又は抑制する。
【解決手段】検査選別装置は、粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐが重力により降下する降下通路２と、降下通路２を降下した粉粒体Ｐが一時的に溜まる貯留部３と、粉粒体の物性Ｐを測定して、貯留部３内の粉粒体Ｐが規格内品か規格外品かを判定する検査部４と、貯留部３の一部を開閉可能な開閉部７ａを有し、検査部４が貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格内品と判定したときに、開閉部７ａを開き、貯留部３に溜まった粉粒体９を貯留部３から重力により流出させて規格内品通路５に移送する第１移送部７と、検査部４が貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格外品と判定したときに、貯留部３に溜まった粉粒体をＰ空気吸引又は空気圧送により規格外品通路６に移送する第２移送部８を備えている。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

連続式の粉粒体処理装置から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する粉粒体の検査選別装置であって、
前記粉粒体が重力により降下する降下通路と、
前記降下通路を降下した前記粉粒体が一時的に溜まる貯留部と、
前記貯留部に溜まった前記粉粒体の物性を測定する測定部を有し、前記測定部の測定結果に基づいて、前記粉粒体が前記規格内品か前記規格外品かを判定する検査部と、
前記規格内品が移送される規格内品通路と、
前記規格外品が移送される規格外品通路と、
前記貯留部の一部を開閉可能な開閉部を有し、前記検査部が前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格内品と判定したときに、前記開閉部を開き、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記貯留部から重力により流出させて、前記規格内品通路に移送する第１移送部と、
前記検査部が前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格外品と判定したときに、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を、空気吸引又は空気圧送により、前記規格外品通路に移送する第２移送部と、
を備えたことを特徴とする粉粒体の検査選別装置。

【請求項2】

前記貯留部は、Ｕ字形状、Ｖ字形状および有底筒形状の中から選択される一の形状を有する請求項１に記載の粉粒体の検査選別装置。

【請求項3】

前記検査部は、前記測定部に加え、前記降下通路を降下する前記粉粒体の物性を測定する第２測定部を更に有し、前記検査部は、前記測定部により測定された前記粉粒体の物性が所定の規格を満たし、かつ、前記第２測定部により測定された前記粉粒体の物性が所定の規格を満たす場合に、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格内品と判定し、それ以外の場合は、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格外品と判定する請求項１又は２に記載の粉粒体の検査選別装置。

【請求項4】

前記測定部と前記第２測定部は、前記粉粒体の異なる物性をそれぞれ測定する請求項３に記載の粉粒体の検査選別装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、連続式の粉粒体処理装置から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する検査選別装置に関する。

【背景技術】

【0002】

医薬品、食品、農薬、電池材料等の製造分野では、粉粒体製品の生産効率を上げるため、連続生産システムの開発が進んでいる。例えば、医薬品等の錠剤を連続的に生産するシステムでは、原料粉体（医薬原料等）を混合する混合装置、混合装置で混合された原料粉体を造粒する造粒装置、造粒装置で造粒された造粒物を乾燥させる乾燥装置、乾燥装置で乾燥された造粒物に潤滑剤等の添加剤粉末を添加して混合する混合装置、混合装置で混合された混合粉体を圧縮成形して錠剤形態にする粉体圧縮成形装置（打錠機）、粉体圧縮成形装置で圧縮成形された錠剤にコーティング膜を形成するコーティング装置、等の各種粉粒体処理装置で一連の生産ラインを構築し、前工程の粉粒体処理装置で連続的に処理される粉粒体を次工程の粉粒体処理装置に順次に移送して所要の処理を行う。

【0003】

上記のような粉粒体製品の連続生産システムでは、前工程の粉粒体処理装置から排出される粉粒体（処理物）を検査して、所定の規格を満たす規格内品か、所定の規格を満たさない規格外品かを判定し、規格内品と判定した場合は次工程の粉粒体処理装置に移送し、規格外品と判定した場合は生産ラインから排除するようにしていることが多い。例えば、下記の特許文献１には、造粒物を一時的に貯留する貯留部と、貯留部内の造粒物の物性を検査する検査部と、検査部の検査結果に基づいて、造粒物の進路を切替える切替え弁を備えた逸脱処理装置が開示されている。貯留部は、造粒物の搬送路上に設けられ、上下の開閉弁の間に形成される。造粒物を貯留部に貯留する際は、上開閉弁を開位置、下開閉弁を閉位置にし、貯留部内の造粒物を検査する際は、上下の開閉弁を閉位置にし、貯留部内の造粒物を下流側に流出させる際は、下開閉弁を開位置にする。切替え弁は、検査部が貯留部内の造粒物を規格内品と判定した場合は、通常位置に維持し、検査部が貯留部内の造粒物を規格外品と判定した場合は、貯留部の下流側の搬送路を排出路に連通させる逸脱位置に切替える。貯留部から流出した規格内品の造粒物は、切替え弁が通常位置に維持されることにより、下流側の搬送路を通って次工程の処理装置に移送される。一方、貯留部から流出した規格外品の造粒物は、切替え弁が逸脱位置に切替えられることにより、排出路に案内されてシステム外へ排出される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特許第７１１６９７５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

特許文献１の逸脱処理装置（検査選別装置）では、貯留部を開閉する開閉弁や、貯留部から流出した規格外品の粉粒体を排出路に案内する切替え弁を、搬送路（粉粒体通路）に設けているため、粉粒体通路に粉粒体の残留が生じ易い。とくに、粉粒体通路に残留した粉粒体が開閉弁や切替え弁の可動部分に噛み込まれると、弁の動作が不能または不安定になり、検査選別動作の実行に支障が生じると共に、検査選別装置を洗浄する際の洗浄作業や、洗浄後のバリデーションに手間が掛かる。

【0006】

上記の事情に鑑み、本発明は、粉粒体通路に粉粒体が残留することを防止又は抑制することを技術的課題とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記課題を解決するため、本発明は、連続式の粉粒体処理装置から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する粉粒体の検査選別装置であって、前記粉粒体が重力により降下する降下通路と、前記降下通路を降下した前記粉粒体が一時的に溜まる貯留部と、前記貯留部に溜まった前記粉粒体の物性を測定する測定部を有し、前記測定部の測定結果に基づいて、前記粉粒体が前記規格内品か前記規格外品かを判定する検査部と、前記規格内品が移送される規格内品通路と、前記規格外品が移送される規格外品通路と、前記貯留部の一部を開閉可能な開閉部を有し、前記検査部が前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格内品と判定したときに、前記開閉部を開き、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記貯留部から重力により流出させて、前記規格内品通路に移送する第１移送部と、前記検査部が前記貯留部に溜まった前記粉粒体を前記規格外品と判定したときに、前記貯留部に溜まった前記粉粒体を、空気吸引又は空気圧送により、前記規格外品通路に移送する第２移送部と、を備えたことを特徴とする粉粒体の検査選別装置を提供する。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、粉粒体が粉粒体通路に残留することを防止又は抑制することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】本発明の第１の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示す図である。

【図2】貯留部を模式的に示す図である。

【図3】貯留部の第１の変形例を模式的に示す図である。

【図4】貯留部の第２の変形例を模式的に示す図である。

【図5】貯留部の第３の変形例を模式的に示す図である。

【図6】本発明の第２の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。

【0011】

図１は、第１の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示している。この実施形態の検査選別装置は、連続式の粉粒体処理装置１から排出される粉粒体を検査して、所定の規格を満たす規格内品と、所定の規格を満たさない規格外品とに選別する装置である。粉粒体処理装置１は、例えば、粉粒体を混合する混合装置、粉粒体を造粒する造粒装置、粉粒体を乾燥させる乾燥装置、粉粒体を圧縮成形する粉体圧縮成形装置（打錠機）、粉粒体にコーティン処理を施すコーティング装置の中から選択される一の装置である。また、検査選別装置で検査選別する粉粒体は、粉体の混合物、造粒物、粉体と造粒物の混合物、造粒物の混合物、粉体及び／又は造粒物の圧縮成形物（錠剤等）、コーティング処理物の中から選択される一の物質である。例えば、検査選別装置は、粉粒体製品の連続生産システムにおいて、前工程の粉粒体処理装置と次工程の粉粒体処理装置との間に配置され、規格内品のみを次工程の粉粒体処理装置に送り、規格外品は生産ラインから排除する役割を行う。

【0012】

この実施形態において、粉粒体処理装置１は、複数種類の原料粉体（医薬原料等）を連続的に混合する連続混合装置であり、検査選別装置は、連続混合装置から連続的に排出される粉体混合物を検査して、規格内品と規格外品とに選別する。

【0013】

検査選別装置は、粉粒体処理装置１（連続混合装置）から排出される粉粒体（粉体混合物）Ｐが重力により降下する降下通路２と、降下通路２を降下した粉粒体Ｐが一時的に溜まる貯留部３と、粉粒体Ｐの物性を測定して、貯留部３内の粉粒体Ｐが規格内品Ｐ１か規格外品Ｐ２かを判定する検査部４（４ａ、４ｂ、４ｃ）と、規格内品Ｐ１が移送される規格内品通路５と、規格外品Ｐ２が移送される規格外品通路６と、検査部４の判定結果に基づいて、貯留部３内の粉粒体Ｐ（Ｐ１）を規格内品通路５に移送する第１移送部７と、貯留部３内の粉粒体Ｐ（Ｐ２）を規格外品通路６に移送する第２移送部８を主要な要素として構成される。

【0014】

この実施形態において、降下通路２は鉛直方向に沿うように形成され、降下通路２の上流側は粉粒体処理装置１の排出路１ａに連通し、降下通路２の下流側は貯留部３に連通する。また、貯留部３の下流側は接続通路９を介して規格外品通路６に連通する。排出路１ａ、降下通路２、貯留部３、接続通路９、規格内品通路５および規格外品通路６は、円形断面又は非円形断面（四角形断面等）の管路の形態を有する。

【0015】

排出路１ａと降下通路２との間に排出弁２ａが介装されている。排出弁２ａは、適宜の手段で開閉駆動され、粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐを所定量に区分けして逐次に降下通路２に流通させる切出し弁として機能する。すなわち、排出弁２ａは常時は閉位置に維持され、粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐは排出弁２ａによってせき止められて、排出路１ａに滞留する。そして、排出路１ａに所定量の粉粒体Ｐが滞留した時点で、排出弁２ａが開位置に切替わり、排出路１ａに滞留した所定量の粉粒体Ｐが降下通路２に流通する。排出路１ａに滞留した所定量の粉粒体Ｐが降下通路２に流通すると、排出弁２ａは閉位置に復帰する。排出弁２ａはこのような開閉動作を自動的に繰り返して、所定量の粉粒体Ｐを逐次に降下通路２に流通させる。排出弁２ａが閉位置から開位置に切替わる動作は、所定時間ごとに実行されるようにしてもよいし、あるいは、排出路１ａ内の粉粒体Ｐの滞留量を適宜のセンサで検知した結果に基づいて実行されるようにしてもよい。

【0016】

また、降下通路２の最上流部に空気取入れ口２ｂが接続されている。空気取入れ口２ｂはフィルター２ｂ１を備えており、降下通路２に空気吸引力が作用すると、外気がフィルター２ｂ１を通過して降下通路２に流入する。

【0017】

排出路１ａに所定量の粉粒体Ｐが滞留し、排出弁２ａが開位置に切替わると、排出路１ａ内の所定量の粉粒体Ｐが降下通路２を重力により降下（この実施形態では落下）して、貯留部３に溜まる。

【0018】

この実施形態において、検査部４は、貯留部３に溜まった静止状態の粉粒体Ｐの物性を測定する第１測定部４ａと、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの物性を測定する第２測定部４ｂを備えている。第１測定部４ａと第２測定部４ｂは、同種のものであってもよいし、異なる種類のものであってもよい。また、第１測定部４ａと第２測定部４ｂは、粉粒体Ｐの同じ物性を測定するものであってもよいし、粉粒体Ｐの異なる物性を測定するものであってもよい。

【0019】

第１測定部４ａは、光学センサ、例えば、近赤外分光センサ（ＮＩＲ）、中赤外分光センサ、ラマン分光センサ等の分光センサ、プローブ型粒度分布計、レーザー回析式粒度分布計、空間速度フィルター式粒度分布計等の粒度分布測定装置、画像解析装置、歪センサ又はトルクセンサ等であり、粉粒体Ｐの成分含量、結晶形、かさ密度、粒度分布、粒子径、粒子形状、歪、流動特性等の物性を測定する。

【0020】

図２に模式的に示すように、この実施形態では、第１測定部４ａとして分光センサ、特に近赤外分光センサ（ＮＩＲ）を用いて、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐの成分含量を測定する。第１測定部４ａは、貯留部３内の粉粒体Ｐに検査光Ｌ（近赤外光）を照射し、その反射光（又は透過光）を受光する投受光部４ａ１と、投受光部４ａ１で受光した光のスペクトル（ＮＩＲスペクトル）に基づいて粉粒体Ｐの成分含量を求め、その成分含量が所定の規格を満たすか否かを判定する本体部４ａ２を備えている。本体部４ａ２での判定結果は総合判定部４ｃに送られる（図１を参照）。

【0021】

図２に模式的に示すように、この実施形態において、貯留部３はＵ字形状（下方に凸の湾曲部を有する形状）に形成され、その側部に透明なガラスや樹脂等で形成された透光部３ａが設けられ、その最低位部位に、後述する第１移送部７を構成する開閉部７ａが設けられる。規格内品通路５は、開閉部７ａを含む貯留部３の下部に接続される。第１測定部４ａの投受光部４ａ１は、透光部３ａに臨む外部位置に配置され、透光部３ａを介して貯留部３内の粉粒体Ｐに検査光Ｌを照射し、また、貯留部３内の粉粒体Ｐで反射した反射光を透光部３ａを介して受光する。

【0022】

第２測定部４ｂは、光学センサ、例えば、近赤外分光センサ（ＮＩＲ）、中赤外分光センサ、ラマン分光センサ等の分光センサ、プローブ型粒度分布計、レーザー回析式粒度分布計、空間速度フィルター式粒度分布計等の粒度分布測定装置、画像解析装置、歪センサ又はトルクセンサ等であり、粉粒体Ｐの成分含量、結晶形、かさ密度、粒度分布、粒子径、粒子形状、歪、流動特性等の物性を測定する。

【0023】

図１に示すように、この実施形態では、第２測定部４ｂとしてプローブ型粒度分布計を用いて、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの粒度分布や粒子径等を測定する。第２測定部４ｂは、その先端部が降下通路２に挿入され、降下通路２を落下する粉粒体Ｐに関する光学情報を取得するプローブ４ｂ１と、プローブ４ｂ１で取得した光学情報に基づいて粉粒体Ｐの粒度分布を求め、その粒度分布が所定の規格を満たすか否かを判定する本体部４ｂ２を備えている。本体部４ｂ２での判定結果は総合判定部４ｃに送られる。

【0024】

第１移送部７は、上述した開閉部７ａを有する。開閉部７ａは、電磁力、空気圧、油圧等の作動力で切替わる自動開閉弁で構成され、貯留部３の一部（最低位部位）を閉じる閉位置と、貯留部３の一部（最低位部位）を開口する開位置とに切替え可能である。開閉部７ａは常時は閉位置に維持される。第１移送部７は、検査部４が貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格内品Ｐ１と判定したときに、開閉部７ａを開き、貯留部３に溜まった規格内品Ｐ１を貯留部３から重力により流出させて規格内品通路５に移送する。規格内品通路５を鉛直方向に形成した場合、貯留部３から流出した規格内品Ｐ１は規格内品通路５を落下し、規格内品通路５を傾斜方向に形成した場合、貯留部３から流出した規格内品Ｐ１は規格内品通路５に沿って降下する。この実施形態では、規格内品通路５を鉛直方向に形成し、貯留部３から流出した規格内品Ｐ１を規格内品通路５に落下させる構成にしている。

【0025】

第２移送部８は、この実施形態では、貯留部３内の粉粒体Ｐを空気吸引により移送する空気吸引式に構成され、固気分離部８ａと、空気吸引源８ｂと、切替え部８ｃを備えている。切替え部８ｃは、電磁力、空気圧、油圧等の作動力で切替わる自動切替え弁で構成され、空気吸引源８ｂとして、吸引ブロアー、真空ポンプ、エジェクターポンプ等が用いられる。

【0026】

固気分離部８ａは、容器の形態を有し、吸引室８ａ１と、固気分離室８ａ２と、回収室８ａ３を備えている。吸引室８ａ１と固気分離室８ａ２とは、フィルター８ａ４が取り付けられた仕切壁８ａ５で仕切られ、フィルター８ａ４を介して相互に連通する。固気分離室８ａ２と回収室８ａ３との間は、常時はフラップ弁８ａ６によって閉鎖される。吸引室８ａ１は、吸引管８ａ７を介して、切替え部８ｃに接続され、固気分離室８ａ２は規格外品通路６に接続される。フラップ弁８ａ６は、適宜の手段で開閉駆動される。

【0027】

切替え部８ｃは、空気吸引源８ｂに接続され、吸引管８ａ７を空気吸引源８ｂから遮断する第１位置と、吸引管８ａ７を空気吸引源８ｂに連通させる第２位置とに切替え可能である。切替え部８ｃは常時は第１位置に維持される。

【0028】

つぎに、この実施形態の検査選別装置の動作について説明する。

【0029】

連続式の粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐが排出路１ａに所定量滞留すると、排出弁２ａが開位置に切替わり、排出路１ａ内の所定量の粉粒体Ｐが降下通路２を重力により落下する。第２測定部４ｂは、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの粒度分布を測定し、その粒度分布が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ｂ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0030】

降下通路２を重力により落下した所定量の粉粒体Ｐは、Ｕ字形状の貯留部３で止まり、貯留部３の湾曲部に溜まる。第１測定部４ａは、貯留部３に溜まった静止状態の粉粒体Ｐの成分含量を測定し、その成分含量が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ａ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0031】

総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）で、かつ、第２測定部４ｂから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）である場合に、貯留部３に溜まった所定量の粉粒体Ｐを規格内品Ｐ１と判定し、切替え信号Ｓ１を第１移送部７の開閉部７ａ（または開閉部７ａ等の作動を制御する制御装置）に出力する。この切替え信号Ｓ１により、開閉部７ａが上記の閉位置から開位置に切替わり、貯留部３の一部（最低位部位）が開口される。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格内品Ｐ１）は、貯留部３（開閉部７ａ）から重力により流出して規格内品通路５に移送される。規格内品通路５に移送された規格内品Ｐ１は、適宜の手段で次工程に移送される。

【0032】

一方、総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果と第２測定部４ｂから受領した判定結果の少なくとも一方が不合格（所定の規格を満たさない）である場合は、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格外品Ｐ２と判定し、切替え信号Ｓ２を第２移送部８の切替え部８ｃ（または切替え部８ｃ等の作動を制御する制御装置）に出力する。この切替え信号Ｓ２により、切替え部８ｃが上記の第１位置から第２位置に切替わり、第２移送部８の吸引管８ａ７が空気吸引源８ｂに連通する。これにより、固気分離部８ａの吸引室８ａ1が吸引管８ａ７を介して空気吸引源８ｂに連通し、空気吸引源８ｂで発生する空気吸引力が、吸引室８ａ1→フィルター８ａ４→固気分離室８ａ２という経路で規格外品通路６に作用し、さらに、規格外品通路６→接続通路９→貯留部３という経路で降下通路２に作用する。そして、降下通路２に作用する空気吸引力によって、外気が空気取入れ口２ｂから降下通路２に吸引され、降下通路２から上記の一連の経路を下流側に向かって流れる吸引空気流が発生する。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）は、上記の吸引空気流によって吸引され、接続通路９および規格外品通路６を流通して第２移送部８の固気分離室８ａ２に入り、吸引空気流から分離されて固気分離室８ａ２の底部に溜まる。そして、以上の空気吸引動作が完了すると、切替え部８ｃが第１位置に復帰し、固気分離部８ａが空気吸引源８ｂから遮断される。その後、フラップ弁８ａ６が開かれて、固気分離室８ａ２に溜まった規格外品Ｐ２が回収室８ａ３に移送される。回収室８ａ３に移送された規格外品Ｐ２は、適宜の手段で生産ラインから排除される。

【0033】

この実施形態の検査選別装置は、粉粒体処理装置１から排出される所定量の粉粒体Ｐを、降下通路２で重力により落下させて貯留部３に一時的に溜めると共に、検査部４が貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格内品Ｐ１と判定したときは、第１移送部７により、貯留部３に溜まった規格内品Ｐ１を重力により流出させて規格内品通路５に移送し、検査部４が貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格外品Ｐ２と判定したときは、第２移送部８により、貯留部３に溜まった規格外品Ｐ２を空気吸引して規格外品通路６に移送する。そのため、従来装置に比べ、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、接続通路９、規格内品通路５、規格外品通路６）に配置する弁体（開閉弁や切替え弁等）を少なくすることができる。これにより、粉粒体通路に粉粒体の滞留が生じにくくなる。しかも、第２移送部８の作動により、規格外品Ｐ２を規格外品通路６に移送する際、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、連通路９、規格外品通路６）が上記の吸引空気流によって清掃されるので、粉粒体通路に粉粒体が残留することが効果的に防止又は抑制される。また、規格内品Ｐ１については、重力により貯留部３から流出させて規格内品通路５に移送するので、粉粒体Ｐ（規格内品Ｐ１）が複数種類の原料粉体を混合した混合粉体等であっても、成分の偏析を生じさせずに規格内品通路５に移送することができる。

【0034】

この実施形態において、検査部４は第１測定部４ａと第２測定部４ｂを備えているが、第２測定部４ｂは省略してもよい。この場合、総合判定部４ｃをなくして、第１測定部４ａの本体部４ａ２から切替え信号Ｓ１（Ｓ２）を開閉部７ａ（切替え部８ｃ）に出力するようにしてもよい。また、第１測定部４ａは、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐにプローブの先端部を接触させて、粉粒体Ｐの物性を測定する方式のものであってもよい。

【0035】

また、この実施形態では、降下通路２を鉛直方向に形成し、粉粒体が重力により降下通路２内を落下するように構成にしているが、降下通路２を傾斜方向に形成し、粉粒体が重力により降下通路２に沿って降下するように構成にしてもよい。

【0036】

また、第２移送部８の固気分離部は、サイクロン方式等の固気分離室を有するものであってもよく、また、フラップ弁と回収室をなくし、固気分離室で固気分離した粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）を、固気分離室から生産ライン外に移送するように構成してもよい。

【0037】

さらに、貯留部３の形態は、Ｕ字形状に限らず、種々の変形が可能である。

【0038】

図３は、貯留部３の第１の変形例を模式的に示している。この変形例の貯留部３は、Ｖ字形状（下方に凸の屈曲部を有する形状）に形成され、その側部に透光部３ａが設けられ、その最低位部位（屈曲部）に第１移送部７の開閉部７ａ（両開き方式）が設けられている。降下通路２を降下した所定量の粉粒体Ｐは、Ｖ字形状の貯留部３で止まり、貯留部３の屈曲部に溜まる。

【0039】

図４は、貯留部３の第２の変形例を模式的に示している。この変形例の貯留部３は、有底筒形状に形成され、その側部に透光部３ａが設けられ、その最低位部位（底部）に第１移送部７の開閉部７ａが設けられている。接続通路９は、貯留部３の上部に分岐接続される。降下通路２を降下した所定量の粉粒体Ｐは、有底筒形状の貯留部３で止まり、貯留部３の底部に溜まる。

【0040】

図５は、貯留部３の第３の変形例を模式的に示している。この変形例の貯留部３も、有底筒形状に形成され、その側部に透光部３ａが設けられ、その最低位部位（底部）に第１移送部７の開閉部７ａが設けられている。接続通路９は、貯留部３の下部に分岐接続される。降下通路２を降下した所定量の粉粒体Ｐは、有底筒形状の貯留部３で止まり、貯留部３の底部に溜まる。

【0041】

図６は、第２の実施形態に係る粉粒体の検査選別装置を概念的に示している。第１の実施形態と実質的に同一の構成要素には同一の符号を示し、重複する説明を省略する。

【0042】

第２の実施形態では、第１の実施形態における空気吸引式の第２移送部８に代えて、空気圧送式の第２移送部１８を用いている。第２移送部１８は、固気分離部１８ａと、空気圧送源１８ｂと、切替え部１８ｃを備えている。空気圧送源１８ｂは、送風ブロアーやエアーコンプレッサー等で構成され、切替え部１８ｃを介して、降下通路２の最上流部に接続される。切替え部１８ｃは、電磁力、空気圧、油圧等の作動力で切替わる自動切替え弁で構成され、空気圧送源１８ｂと降下通路２との間を遮断する第１位置と、空気圧送源１８ｂを降下通路２に連通させる第２位置とに切替え可能である。切替え部１８ｃは常時は第１位置に維持される。

【0043】

固気分離部１８ａは、容器の形態を有し、排気室１８ａ１と、固気分離室１８ａ２と、回収室１８ａ３を備えている。排気室１８ａ１と固気分離室１８ａ２とは、フィルター１８ａ４が取り付けられた仕切壁１８ａ５で仕切られ、フィルター１８ａ４を介して相互に連通する。固気分離室１８ａ２と回収室１８ａ３との間は、常時はフラップ弁１８ａ６によって閉鎖される。排気室８ａ１は排気管１８ａ７に接続され、固気分離室１８ａ２は規格外品通路６に接続される。フラップ弁１８ａ６は、適宜の手段で開閉駆動される。

【0044】

つぎに、第２の実施形態の検査選別装置の動作について説明する。

【0045】

連続式の粉粒体処理装置１から排出される粉粒体Ｐが排出路１ａに所定量滞留すると、排出弁２ａが開位置に切替わり、排出路１ａ内の所定量の粉粒体Ｐが降下通路２を重力により落下する。第２測定部４ｂは、降下通路２を落下する粉粒体Ｐの粒度分布を測定し、その粒度分布が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ｂ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0046】

降下通路２を重力により落下した所定量の粉粒体Ｐは、Ｕ字形状の貯留部３で止まり、貯留部３の湾曲部に溜まる。第１測定部４ａは、貯留部３に溜まった静止状態の粉粒体Ｐの成分含量を測定し、その成分含量が所定の規格を満たすか否かを判定する。この判定結果は、本体部４ａ２から総合判定部４ｃに送られる。

【0047】

総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）で、かつ、第２測定部４ｂから受領した判定結果が合格（所定の規格を満たす）である場合に、貯留部３に溜まった所定量の粉粒体Ｐを規格内品Ｐ１と判定し、切替え信号Ｓ１を第１移送部７の開閉部７ａ（または開閉部７ａ等の作動を制御する制御装置）に出力する。この切替え信号Ｓ１により、開閉部７ａが上記の閉位置から開位置に切替わり、貯留部３の一部（最低位部位）が開口される。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格内品Ｐ１）は、貯留部３（開閉部７ａ）から重力により流出して規格内品通路５に移送される。規格内品通路５に移送された規格内品Ｐ１は、適宜の手段で次工程に移送される。

【0048】

一方、総合判定部４ｃは、第１測定部４ａから受領した判定結果と第２測定部４ｂから受領した判定結果の少なくとも一方が不合格（所定の規格を満たさない）である場合は、貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格外品Ｐ２と判定し、切替え信号Ｓ３を第２移送部１８の切替え部１８ｃ（または切替え部１８ｃ等の作動を制御する制御装置）に出力する。切替え信号Ｓ３により、切替え部１８ｃが上記の第１位置から第２位置に切替わり、空気圧送源１８ｂが降下通路２に連通する。これにより、空気圧送源１８ｂで発生する圧送空気が降下通路２に流入し、この圧送空気は、降下通路２→貯留部３→接続通路９→規格外品通路６→固気分離部１８ａという経路で流れる。貯留部３に溜まった粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）は、この圧送空気流によって圧送され、接続通路９および規格外品通路６を流通して固気分離室１８ａ２に入り、圧送空気流から分離されて固気分離室１８ａ２の底部に溜まる。そして、以上の空気圧送動作が完了すると、切替え部１８ｃが第１位置に復帰し、空気圧送源１８ｂが降下通路２から遮断される。その後、フラップ弁１８ａ６が開かれて、固気分離室１８ａ２に溜まった規格外品Ｐ２が回収室１８ａ３に移送される。回収室１８ａ３に移送された規格外品Ｐ２は、適宜の手段で生産ラインから排除される。

【0049】

この実施形態の検査選別装置は、粉粒体処理装置１から排出される所定量の粉粒体Ｐを、降下通路２で重力により落下させて貯留部３に一時的に溜めると共に、検査部４が貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格内品Ｐ１と判定したときは、第１移送部７により、貯留部３に溜まった規格内品Ｐ１を重力により流出させて規格内品通路５に移送し、検査部４が貯留部３に溜まった粉粒体Ｐを規格外品Ｐ２と判定したときは、第２移送部１８により、貯留部３に溜まった規格外品Ｐ２を空気圧送して規格外品通路６に移送する。そのため、従来装置に比べ、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、接続通路９、規格内品通路５、規格外品通路６）に配置する弁体（開閉弁や切替え弁等）を少なくすることができる。これにより、粉粒体通路に粉粒体の滞留が生じにくくなる。しかも、第２移送部１８の作動により、規格外品Ｐ２を規格外品通路６に移送する際、粉粒体通路（降下通路２、貯留部３、連通路９、規格外品通路６）が上記の圧送空気流によって清掃されるので、粉粒体通路に粉粒体が残留することが効果的に防止又は抑制される。また、規格内品Ｐ１については、重力により貯留部３から流出させて規格内品通路５に移送するので、粉粒体Ｐ（規格内品Ｐ１）が複数種類の原料粉体を混合した混合粉体等であっても、成分の偏析を生じさせずに規格内品通路５に移送することができる。

【0050】

第２移送部１８の固気分離部は、サイクロン方式等の固気分離室を有するものであってもよく、また、フラップ弁と回収室をなくし、固気分離室で固気分離した粉粒体Ｐ（規格外品Ｐ２）を、固気分離室から生産ライン外に移送するように構成してもよい。

【0051】

第２の実施形態に関して以上に説明した事項以外の事項は、改変例等を含めて全て第１の実施形態に準じるので、重複する説明を省略する。

【符号の説明】

【0052】

１ 粉粒体処理装置
２ 降下通路
３ 貯留部
３ａ 透光部
４ 検査部
４ａ 第１測定部
４ｂ 第２測定部
５ 規格内品通路
６ 規格外品通路
７ 第１移送部
７ａ 開閉部
８ 第２移送部
１８ 第２移送部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】