技術分野
正極端子及び負極端子を備える半導体装置
要約特許出願時に添付された[要約書]
【課題】半導体装置において、正極端子及び負極端子の実装面積の増加を抑えながら、相互インダクタンスを増大させる。
【解決手段】半導体装置(1)は、半導体素子(10)と、この半導体素子(10)が実装された基板(20)と、この基板(20)の第1方向(D1)に延びる第1辺(20a)側に配置された正極端子(30)及び負極端子(40)とを備える。正極端子(30)及び負極端子(40)のそれぞれは、基板(20)における半導体素子(10)の実装面に交差する方向に延びる立ち上がり部(31,32,41,42)を有し、正極端子(30)の立ち上がり部(31,32)と、負極端子(40)の立ち上がり部(41,42)とは、交互に対向して計3つ以上並んで位置する。
【選択図】図3
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
ところで、半導体装置において、サージ電圧の発生を抑制するために、正極端子と負極端子とを上下に重ねて対向面積を増加させることで、スイッチング時の相互インダクタンスを増大させることが考えられる。しかし、正極端子及び負極端子の対向面積が増加すると、実装面積が増加する。そして、正極端子及び負極端子の直下に配線を設けることができないため、基板上のパターンレイアウトの制約になる。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
1つの態様では、半導体装置は、半導体素子と、前記半導体素子が実装された基板と、前記基板の第1方向に延びる第1辺側に配置された正極端子及び負極端子とを備え、前記正極端子及び前記負極端子のそれぞれは、前記基板における前記半導体素子の実装面に交差する方向に延びる立ち上がり部を有し、前記正極端子の前記立ち上がり部と、前記負極端子の前記立ち上がり部とは、交互に対向して計3つ以上並んで位置する。
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
前記態様によれば、正極端子及び負極端子の実装面積の増加を抑えながら、相互インダクタンスを増大させることができる。
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
一実施の形態に係る半導体装置を示す平面図である。
【図2】
一実施の形態における正極端子及び負極端子を示す平面図である。
【図3】
一実施の形態における正極端子及び負極端子を示す斜視図である。
【図4】
一実施の形態における正極端子及び負極端子を示す左側面図である。
【図5】
一実施の形態の変形例における正極端子及び負極端子を示す上面斜視図である。
【図6】
一実施の形態の変形例における正極端子及び負極端子を示す左側面斜視図である。
【図7】
比較例における正極端子及び負極端子を示す斜視図である。
【図8】
一実施の形態及び比較例の実装空間及び対向面積を説明するための説明図である。
1 半導体装置
10 半導体素子
20 積層基板(基板)
20a 第1辺
20b 第2辺
21 絶縁基板
22a~22n 第1~第14回路パターン
23 放熱層
30 正極端子
31 第1立ち上がり部
31a 被接合部
32 第2立ち上がり部
32a 被接合部
33 連結部分
34 外部接続部分
40 負極端子
41 第1立ち上がり部
41a 被接合部
42 第2立ち上がり部
42a 被接合部
43 連結部分
44 外部接続部分
50 出力端子
51,52 被接合部
53,54 外部接続部分
61~63,65 制御端子
64 センス端子
66,67 温度センス端子
68 温度センス部
70 ケース
130 正極端子
131 第1立ち上がり部
131a 被接合部
132 第2立ち上がり部
132a 被接合部
133 上端支持部分
134 外部接続部分
140 負極端子
141 第1立ち上がり部
141a 被接合部
142 第2立ち上がり部
142a 被接合部
143 下端支持部分
144 外部接続部分
230 正極端子
231 水平部
231a,231b 被接合部
232 外部接続部分
240 負極端子
241 水平部
241a,241b 被接合部
242 外部接続部分
D1 第1方向
D2 第2方向
G 隙間
R1~R3 第1~第3中継部
W 配線
W1~W3 第1~第3制御配線
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