特開2025-184598課題評価装置及び課題評価方法

発明の名称　課題評価装置及び課題評価方法

出願人　株式会社日立製作所　（識別番号 5108）

　　　　特許公開件数ランキング 13 位（365件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 11 位（401件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2025-184598

公報発行日　2025年12月18

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2025-184598

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