特開 2025-18461 工作機械

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2025018461

(43)【公開日】2025-02-06

(54)【発明の名称】工作機械

(51)【国際特許分類】

   G05B 19/404 20060101AFI20250130BHJP

   B23Q 15/00 20060101ALI20250130BHJP

【ＦＩ】

G05B19/404 G

B23Q15/00 C

【審査請求】未請求

【請求項の数】6

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023122179

(22)【出願日】2023-07-27

(71)【出願人】

【識別番号】000237271

【氏名又は名称】株式会社ＦＵＪＩ

(74)【代理人】

【識別番号】110000992

【氏名又は名称】弁理士法人ネクスト

(74)【代理人】

【識別番号】100162237

【弁理士】

【氏名又は名称】深津 泰隆

(74)【代理人】

【識別番号】100191433

【弁理士】

【氏名又は名称】片岡 友希

(72)【発明者】

【氏名】伊藤 雄基

(72)【発明者】

【氏名】久保田 知克

【テーマコード（参考）】

3C269

【Ｆターム（参考）】

3C269AB02

3C269AB03

3C269AB05

3C269AB31

3C269BB03

3C269CC01

3C269EF03

3C269EF12

3C269EF25

3C269MN13

3C269QC01

3C269RB04

(57)【要約】

【課題】象限切替えに伴うパラメータの調整を行う作業負担を軽減できる工作機械を提供すること。
【解決手段】本開示の工作機械の制御装置は、制御プログラムに基づいてスライド装置を制御し移動対象物を移動させるテスト動作を実行し、且つ、移動対象物の移動方向を反転させる象限切替え時におけるパラメータであるバックラッシ加速量及びバックラッシ加速時間のうち、少なくとも一方のパラメータを変更した複数回のテスト動作を実行するテスト動作実行処理と、制御プログラムに基づいて指定した移動対象物の移動先の位置である指令位置と、移動対象物の実際の位置との位置偏差を、複数回のテスト動作の各々について取得し、複数回のテスト動作のうち、取得した位置偏差が他のテスト動作に比べて小さいテスト動作における少なくとも一方のパラメータを調整後のパラメータとして取得するパラメータ取得処理と、を実行する。
【選択図】図４

【特許請求の範囲】

【請求項1】

複数のスライド軸の各々に沿って移動対象物をスライド移動させるスライド装置と、
前記スライド装置を制御する制御装置と、
を備え、
前記制御装置は、
制御プログラムに基づいて前記スライド装置を制御し前記移動対象物を移動させるテスト動作を実行し、且つ、前記移動対象物の移動方向を反転させる象限切替え時におけるパラメータであるバックラッシ加速量及びバックラッシ加速時間のうち、少なくとも一方のパラメータを変更した複数回の前記テスト動作を実行するテスト動作実行処理と、
前記制御プログラムに基づいて指定した前記移動対象物の移動先の位置である指令位置と、前記移動対象物の実際の位置との位置偏差を、複数回の前記テスト動作の各々について取得し、複数回の前記テスト動作のうち、取得した前記位置偏差が他の前記テスト動作に比べて小さい前記テスト動作における前記少なくとも一方のパラメータを調整後のパラメータとして取得するパラメータ取得処理と、
を実行する、工作機械。

【請求項2】

前記制御装置は、
前記パラメータ取得処理において、取得した複数の前記位置偏差のうち、最も小さい前記位置偏差となった前記テスト動作における前記少なくとも一方のパラメータを、調整後のパラメータとして取得する、請求項１に記載の工作機械。

【請求項3】

ユーザインタフェースを、さらに備え、
前記制御装置は、
前記テスト動作実行処理において前記移動対象物を円弧形状の経路で移動させる動作を実行し、且つ、複数回の前記テスト動作を実行する前に、円弧形状の前記経路の半径の値を、前記ユーザインタフェースを介して受け付け、受け付けた前記半径の値と前記制御プログラムに基づいて複数回の前記テスト動作を実行する、請求項１又は請求項２に記載の工作機械。

【請求項4】

前記移動対象物は、
工具であり、
前記制御装置は、
前記テスト動作において前記制御プログラムに基づいて前記工具を移動させる送り速度の値を、前記ユーザインタフェースを介して受け付け、受け付けた前記送り速度の値と前記制御プログラムに基づいて複数回の前記テスト動作を実行する、請求項３に記載の工作機械。

【請求項5】

前記制御装置は、
前記半径の値を入力する半径入力欄と、前記送り速度の値を入力する送り速度入力欄と、複数回の前記テスト動作の実行を開始させるテスト動作開始ボタンと、履歴情報表示欄と、を前記ユーザインタフェースに表示し、
前記テスト動作開始ボタンを操作された場合、前記半径入力欄に入力された前記半径の値、前記送り速度入力欄に入力された前記送り速度の値、及び前記制御プログラムに基づいて複数回の前記テスト動作を実行し、
複数回の前記テスト動作を実行した後、前記半径入力欄に入力された前記半径の値、前記送り速度入力欄に入力された前記送り速度の値、複数回の前記テスト動作を実行し調整後のパラメータとして取得した前記少なくとも一方のパラメータ、調整後の前記少なくとも一方のパラメータを設定して前記テスト動作を実行した際の前記位置偏差、及び複数回の前記テスト動作を開始した日時を、関連付けて前記履歴情報表示欄に表示する、請求項
４に記載の工作機械。

【請求項6】

前記スライド装置は、
第１スライド軸と、前記第１スライド軸と交差する第２スライド軸との各々に沿って、前記移動対象物をスライド移動させることが可能であり、
前記制御装置は、
前記第１スライド軸、及び前記第２スライド軸の各々について、前記テスト動作実行処理及び前記パラメータ取得処理を実行可能であり、前記テスト動作実行処理及び前記パラメータ取得処理を実行する対象のスライド軸として前記第１スライド軸又は前記第２スライド軸のどちらを選択するのかを、前記ユーザインタフェースを介して受け付け、選択されたスライド軸での前記テスト動作で用いる前記半径の値及び前記送り速度の値を、前記ユーザインタフェースを介して受け付ける、請求項４に記載の工作機械。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、工作機械における象限切替えに関するものである。

【背景技術】

【0002】

従来、工作機械では、工具等の移動対象物をスライド軸に沿ってスライド移動させ、ワークの加工を実行する。また、加工中に移動対象物をスライド移動させる方向を反転させる場合がある。例えば、移動対象物として工具をスライド移動させワークを円弧形状に加工する場合、円弧形状の頂点となる部分で工具のスライド方向が反転する。この反転動作により加工面に所謂象限突起が形成される可能性がある。具体的には、移動対象物をスライド移動させる装置に発生する摩擦力は、移動対象物の移動方向とは反対方向に作用する。移動対象物の移動方向が反転すると、発生した摩擦力により反転時の始動に遅れが発生し制御に遅れが発生することで、指令に対する応答の誤差が発生する。例えば、象限が切り替わった直後は、移動対象物の軌跡が指令の軌跡よりも外側へ僅かに膨らんだ象限突起が発生する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０２２－９０９４６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

上記特許文献１の工作機械では、反転時におけるバックラッシ加速量（文献では、設定加速量）を調整することで、象限突起を抑制している。しかしながら、バックラッシ加速量などのパラメータは、工具の重さ、経年劣化などの機器固有の条件に応じて工作機械ごとに調整する必要があり、調整作業の負担が増加する虞があった。

【0005】

本開示は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、象限切替えに伴うパラメータの調整を行う作業負担を軽減できる工作機械を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記課題を解決するために、本明細書は、複数のスライド軸の各々に沿って移動対象物をスライド移動させるスライド装置と、前記スライド装置を制御する制御装置と、を備え、前記制御装置は、制御プログラムに基づいて前記スライド装置を制御し前記移動対象物を移動させるテスト動作を実行し、且つ、前記移動対象物の移動方向を反転させる象限切替え時におけるパラメータであるバックラッシ加速量及びバックラッシ加速時間のうち、少なくとも一方のパラメータを変更した複数回の前記テスト動作を実行するテスト動作実行処理と、前記制御プログラムに基づいて指定した前記移動対象物の移動先の位置である指令位置と、前記移動対象物の実際の位置との位置偏差を、複数回の前記テスト動作の各々について取得し、複数回の前記テスト動作のうち、取得した前記位置偏差が他の前記テスト動作に比べて小さい前記テスト動作における前記少なくとも一方のパラメータを調整後のパラメータとして取得するパラメータ取得処理と、を実行する、工作機械を開示する。

【発明の効果】

【0007】

本開示の工作機械によれば、制御装置は、制御プログラムに基づいて移動対象物を移動させるテスト動作を実行する。この際、制御装置は、バックラッシ加速量及びバックラッシ加速時間のうち、少なくとも一方のパラメータを変更しながら複数回のテスト動作を実
行する。制御装置は、実行した複数回のテスト動作のうち、制御プログラムの指令位置と、実際の位置の位置偏差がより小さいテスト動作におけるパラメータを、調整後のパラメータとして取得する。これにより、指令位置に対してずれが少ないパラメータを見つけるこができ、見つけ出したパラメータを設定することで、結果として象限突起をより小さく又はなくすことが可能となる。作業者がパラメータの調整を行う作業負担を軽減できる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】本実施例に係わる工作機械のブロック図。

【図2】円弧形状の加工におけるＸ座標と、時間の関係を示すグラフであって、異なるバックラッシ加速量及びバックラッシ加速時間を設定したグラフを示す図。

【図3】受付画面を示す図。

【図4】パラメータ設定処理を示すフローチャート。

【図5】Ｘ軸方向における反転を発生させるテスト動作を示す模式図。

【図6】Ｚ軸方向における反転を発生させるテスト動作を示す模式図。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本開示の工作機械を具体化した一実施例について、図面を参照しつつ詳しく説明する。図１は、本実施例に係る工作機械１０のブロック図を示している。図１に示すように、工作機械１０は、例えば、旋盤であり、ワーク主軸装置１１、タレット装置１２、Ｘ軸スライド装置１３、Ｚ軸スライド装置１４、ロボット１５、操作盤２０、制御装置２２を備えている。尚、図１に示す工作機械１０の構成は、一例である。例えば、工作機械１０は、ワーク主軸装置１１及びタレット装置１２を複数組備える旋盤でも良く、旋盤に加えて工具主軸装置を備える、所謂複合加工機でも良い。従って、本開示の工作機械としては、旋盤に限らず、例えば、マシニングセンタ、フライス盤、ボール盤など、様々な構成の工作機械を採用できる。そして、各種の工作機械において、後述するバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂのテスト動作を実行しても良い。

【0010】

ワーク主軸装置１１は、ワークを把持するチャック機構（チャック爪やコレットチャックなど）を備え、把持したワークを、ワーク主軸を中心に回転させる。タレット装置１２は、複数の工具（切削工具や回転工具などのタレット工具）を取り付け可能な刃物台と、刃物台を回転させる回転駆動機構を備えている。タレット装置１２は、回転駆動機構を駆動して刃物台を回転させ作業位置に割り出す工具を変更し、作業位置に割り出した工具を用いてワーク主軸装置１１に把持されたワークに対する加工を実行する。尚、刃物台は、タレット型の刃物台に限らず、クシ刃形の刃物台等でも良い。

【0011】

Ｘ軸スライド装置１３及びＺ軸スライド装置１４は、刃物台（作業位置の工具）の位置を変更する装置である。Ｚ軸スライド装置１４は、例えば、ワーク主軸と平行なＺ軸方向（ワークに接近する方向又はワークから離間する方向）へタレット装置１２を移動させる装置である。Ｘ軸スライド装置１３は、ワーク主軸と垂直なＸ軸方向、即ち、Ｚ軸方向と垂直な方向へタレット装置１２を移動させる装置である。Ｘ軸及びＺ軸は、本開示のスライド軸、第１スライド軸、及び第２スライド軸の一例である。尚、Ｘ軸方向とＺ軸方向は直交する関係でなくとも良い。Ｘ軸方向とＺ軸方向は、交差していれば直交していなくても良い。従って、本開示の第１スライド軸と第２スライド軸は、直交する関係に限らない。

【0012】

例えば、工作機械１０は、スラント型のベッドを備えている。Ｚ軸スライド装置１４は、ベッドの案内面に配置されＺ軸方向と平行な方向に延びるＺ軸案内レールと、そのＺ軸案内レールに対してスライド移動可能なＺ軸スライダを備えている。Ｚ軸スライド装置１４は、Ｚ軸サーボモータ１４Ａを備え、Ｚ軸サーボモータ１４Ａの回転出力を、伝達機構（例えば、ボールネジ機構など）を介してＺ軸スライダに伝達し、Ｚ軸スライダをＺ軸方
向に移動させる。

【0013】

また、Ｚ軸スライド装置１４は、例えば、Ｚ軸サーボモータ１４Ａの回転位置等のエンコーダ情報を出力するＺ軸エンコーダ１４Ｂを備えている。制御装置２２は、Ｚ軸エンコーダ１４Ｂのエンコーダ情報（回転位置情報など）に基づいてＺ軸サーボモータ１４Ａの回転速度等を制御するフィードバック制御を実行する。制御装置２２は、Ｚ軸サーボモータ１４Ａを制御し、Ｚ軸スライダをＺ軸方向における任意の位置へ移動させる。

【0014】

また、Ｘ軸スライド装置１３は、Ｚ軸スライダの上に配置されたＸ軸案内レールと、そのＸ軸案内レールに対してスライド移動可能なＸ軸スライダを備えている。Ｘ軸案内レールは、Ｘ軸方向と平行な方向に配設され、Ｘ軸スライダをＸ軸方向へスライド移動可能に保持する。Ｘ軸スライド装置１３は、Ｘ軸サーボモータ１３Ａを備え、Ｘ軸サーボモータ１３Ａの回転出力を、伝達機構（例えば、ボールネジ機構など）を介してＸ軸スライダに伝達し、Ｘ軸スライダをＸ軸方向に移動させる。

【0015】

また、Ｘ軸スライド装置１３は、Ｘ軸サーボモータ１３Ａのエンコーダ情報を出力するＸ軸エンコーダ１３Ｂを備えている。制御装置２２は、Ｘ軸エンコーダ１３Ｂのエンコーダ情報に基づいてＸ軸サーボモータ１３Ａの回転速度等を制御するフィードバック制御を実行する。制御装置２２は、Ｘ軸サーボモータ１３Ａを制御し、Ｘ軸スライダをＸ軸方向における任意の位置へ移動させる。

【0016】

Ｘ軸スライダの上には、タレット装置１２が搭載されている。従って、制御装置２２は、Ｘ軸スライド装置１３及びＺ軸スライド装置１４を制御することで、タレット装置１２（割り出した工具）をＸ軸方向及びＺ軸方向の任意の位置に移動させることができる。また、本実施例のＸ軸エンコーダ１３Ｂ及びＺ軸エンコーダ１４Ｂは、各スライダの位置偏差（位置公差とも言い得る）を制御装置２２に出力可能となっている。後述するように、制御装置２２は、Ｘ軸エンコーダ１３Ｂ及びＺ軸エンコーダ１４Ｂから取得した位置偏差に基づいてパラメータの調整を実行する。尚、Ｘ軸スライダ及びＺ軸スライダの位置や位置偏差を取得する方法は、エンコーダに限らない。制御装置２２は、リニアスケールなどの他の位置検出装置を用いて、Ｘ軸スライダやＺ軸スライダのスライド位置や位置偏差を取得しても良い。また、上記したスライド装置の構成は、一例である。例えば、工作機械１０は、刃物台を、互いに垂直なＸＹＺの３軸方向へ移動させるスライド装置を備えても良い。また、方向の定義は、工作機械１０の構成に応じて適宜変更される。

【0017】

ロボット１５は、例えば、ガントリ式のワーク搬送装置（ローダとも言い得る）である。ロボット１５は、例えば、ワークを把持する把持部（チャック爪など）を有するヘッドを備えている。ロボット１５は、例えば、工作機械１０に設けられたレール台に沿って、工作機械１０における左右方向、上下方向、前後方向の各方向と平行な方向に沿ってヘッドを移動させることができる。ロボット１５は、ヘッドの把持部によって、例えば、ワークを搬入する入口装置、ワークを搬出する出口装置、ワークの形状を検査する検測装置、ワークを反転させるワーク反転装置等（共に図示略）との間でワークの受け渡しを実行する。

【0018】

操作盤２０は、例えば、タッチパネル２６や複数の操作スイッチ２７を備え、工作機械１０に関する情報の表示や動作指示の受け付けなどを実行する。特に、本実施例では、工作機械１０は、タッチパネル２６によって、後述する受付画面６１（図３参照）の表示を実行する。操作盤２０は、本開示のユーザインタフェースの一例である。尚、本開示のユーザインタフェースは、タッチパネル２６のような表示装置と入力装置の両方を備える構成に限らない。例えば、ユーザインタフェースは、液晶装置と、液晶装置に表示された項目を選択等する物理スイッチを備える構成でも良い。また、工作機械１０は、操作盤２０
以外のユーザインタフェース、例えば、ティーチングペンダントなどの携帯型のユーザインタフェースを備えても良い。

【0019】

また、制御装置２２は、数値制御装置３１と、ＰＬＣ４１を備えている。数値制御装置３１は、ＣＰＵ３３と、記憶装置３４とを備えている。ＰＬＣ４１は、ＣＰＵ４３と、記憶装置４４とを備えている。記憶装置３４，４４は、例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリ、ＨＤＤ等を備えている。尚、記憶装置３４，４４の構成は、上記した構成に限らず、ＨＤＤに替えてＳＳＤを備える構成でも良く、ＵＳＢメモリなどの外部記憶装置、ＤＶＤ－ＲＡＭなどの記憶メディアを備える構成でも良く、あるいはこれらを組み合わせた構成でも良い。

【0020】

また、工作機械１０は、制御装置２２と、上記した各装置（ワーク主軸装置１１、タレット装置１２、Ｘ軸スライド装置１３、Ｚ軸スライド装置１４、ロボット１５、操作盤２０）の各々を接続する複数の駆動回路２８を備えている。制御装置２２は、各装置と駆動回路２８を介して電気的に接続され、各装置を制御可能となっている。駆動回路２８は、例えば、Ｘ軸スライド装置１３のＸ軸サーボモータ１３Ａやロボット１５の駆動源のモータに接続された駆動回路２８であれば、各モータ（サーボモータなど）に供給する電力（三相交流の電流など）を、制御装置２２の指示信号（移動量、移動先の位置、移動速度、目標トルクなど）に基づいて変更するドライバ回路（サーボアンプ）である。また、駆動回路２８は、例えば、操作盤２０に接続された駆動回路２８であれば、操作盤２０から入力した信号の増幅等を実行するアンプ回路である。

【0021】

また、記憶装置３４には、ワーク主軸装置１１、タレット装置１２、Ｘ軸スライド装置１３、Ｚ軸スライド装置１４、ロボット１５などの動作を数値制御する複数のＮＣプログラム３５等が記憶されている。数値制御装置３１は、ＮＣプログラム３５をＣＰＵ３３で実行し、ＮＣプログラム３５に記述された数値指令に従って、駆動回路２８（ドライバ回路）に指示信号を出力して制御する。駆動回路２８（ドライバ回路）は、例えば、各サーボモータ（Ｘ軸サーボモータ１３Ａなど）に取り付けられたエンコーダ（Ｘ軸エンコーダ１３Ｂなど）のエンコーダ情報と、制御装置２２の指示信号（速度指令）に基づいて三相交流の電流を変更するフィードバック制御を実行し、処理の完了等を数値制御装置３１に通知する。これにより、制御装置２２は、数値制御装置３１による数値制御に基づいて所望の位置へタレット装置１２の刃物台（工具）やロボット１５のヘッド等を各軸方向に沿ってスライド移動させる。尚、各装置をスライド移動させる駆動源としては、サーボモータに限らず、ステッピングモータやリニアモータなどの他の駆動源を採用することもできる。

【0022】

ＰＬＣ４１は、Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒである。記憶装置４４には、各種の信号を処理するラダー回路を構築するためのラダープログラム４５が記憶されている。ＰＬＣ４１は、ＣＰＵ４３でラダープログラム４５を実行し、ラダープログラム４５に基づくシーケンス処理によって、例えば、工作機械１０が備える各種のランプ、リレー、ソレノイド等の素子へ出力信号を出力して駆動する処理、リミットスイッチ、センサなどの素子から入力信号を入力する処理を実行する。また、ＰＬＣ４１は、例えば、通信バス４０を介して数値制御装置３１と接続され、数値制御装置３１との間で通信可能となっている。ＰＬＣ４１は、ラダープログラム４５に基づいて構築したデバイス４６を用いて数値制御装置３１との間で信号の入出力を実行する。デバイス４６は、例えば、ＣＰＵ４３でラダープログラム４５を実行することで記憶装置４４上に構築される記憶領域であり、工作機械１０が備える外部Ｉ／Ｏ（センサなど）の信号の値を記憶するデバイス、数値制御装置３１とやり取りするための信号の値を記憶するためのデバイス、設定値を記憶するキープリレーを実現するデバイスなどである。これにより、ＰＬＣ４１は、工作機械１０が備える外部Ｉ／Ｏと、数値制御装置３１との間の信号の中継（
入出力）を実行する。

【0023】

また、記憶装置３４には、ＮＣプログラム３５の他に、表示設定プログラム３６、その他の加工やテスト動作に必要な各種のデータなど（図示略）が記憶されている。表示設定プログラム３６は、タッチパネル２６の表示内容の変更や、タッチパネル２６における設定値の入力処理などを実行する。また、表示設定プログラム３６には、後述する受付画面６１の表示処理や、テスト動作を実行しパラメータ（バックラッシ加速量、バックラッシ加速時間）を設定するパラメータ設定処理（図４参照）を実行するためのプログラムが含まれている。

【0024】

（バックラッシ加速量及びバックラッシ加速時間について）
次に、バックラッシ加速量及びバックラッシ加速時間について説明する。以下の説明では、説明が煩雑となるのを避けるため、本開示の移動対象物として、工具（刃物台）を採用した場合について説明する。尚、本開示の移動対象物としては、刃物台に限らず、ロボット１５の把持部などの他の移動する装置を採用できる。本開示の移動対象物としては、複数軸でスライド移動し、且つ、移動方向の反転が発生する装置を適宜採用できる。例えば、ワーク主軸装置１１を複数軸でスライド移動させる場合には、ワーク主軸装置（ワーク）を移動対象物として採用できる。

【0025】

上記したように、工作機械１０は、Ｘ軸スライド装置１３及びＺ軸スライド装置１４を備えているため、工具（刃物台）の軌跡を二次元形状にすることができ、円弧形状等に工具を移動させることができる。換言すれば、制御装置２２から駆動回路２８（サーボアンプ）に円弧形状等に移動させる指令を与えた場合、工具の軌跡は、ＸＺ平面において円弧形状等となる。このような円弧形状等の加工では、Ｘ軸とＺ軸において、移動方向が反転する場合がある。

【0026】

図２は、一例として、円弧形状の加工を行った場合におけるＸ軸方向におけるＸ座標と、時間の関係を示している。図２の縦軸は、例えば、円弧形状の加工を行った場合にＸ軸エンコーダ１３Ｂから取得したＸ座標を示している。横軸は、時間を示している。図２の太い実線のグラフ５１は、円弧形状に工具を移動させた場合、即ち、指令値に基づいて反転による遅延がなく理想的に移動させた場合におけるＸ軸エンコーダ１３ＢのＸ座標を示している。工具の軌跡は、例えば、Ｚ軸座標が異なり且つＸ軸座標が同一の２点を、一定の曲率の半径Ｒで結ぶ円弧形状となる。

【0027】

図２に示す加工では、円弧形状の頂点においてＸ軸の移動方向がプラス方向（図２の上向きの方向）からマイナス方向（図２の下向の方向）に反転する、即ち、象限切替えが発生する。Ｘ軸スライド装置１３がＸ軸スライダを、伝達機構（例えば、ボールネジ機構など）によりＸ軸方向に沿って移動させる際に発生する摩擦力は、Ｘ軸スライダの移動方向とは反対の方向に作用する。Ｘ軸スライダの移動方向が反転すると、この摩擦力やボールねじ機構のバックラッシなどにより、移動の指令に対する誤差が生じる。尚、図２にはＸ軸方向についてのみ図示しているが、Ｚ軸方向における円弧形状の加工についても同様である。

【0028】

円弧形状の頂点において象限が切り替わった直後には、工具の軌跡は、グラフ５１で示す指令の（理想的な）軌跡よりも外側へ膨らんだ軌跡となる。この軌跡の変動により、加工面には、象限突起が発生する。このため、本実施例の制御装置２２は、象限突起の増大を抑制するためのバックラッシ加速を行う機能を有している。制御装置２２は、例えば、Ｘ軸スライド装置１３及びＺ軸スライド装置１４の各スライド方向の反転による象限突起の増大を抑制するために、バックラッシ加速量Ｖｂ（図３参照）をバックラッシ加速時間Ｔｂ（図３参照）の間、加える補正を、Ｘ軸スライド装置１３及びＺ軸スライド装置１４
に対して実行する。図２に示すＸ軸方向の反転が発生する場合は、Ｘ軸スライド装置１３に対して補正を実行する。

【0029】

バックラッシ加速量Ｖｂとは、例えば、Ｘ軸方向及びＺ軸方向に沿った工具の移動方向の反転時に、反転するスライド方向における速度指令に対し、反転を早めるために、速度指令に加算して補正するための補正量である。即ち、バックラッシ加速量Ｖｂは、制御装置２２からＸ軸サーボモータ１３ＡやＺ軸サーボモータ１４Ａに接続された駆動回路２８（サーボアンプ）に対して送信する速度指令に対し、象限突起をなくすため、あるいは減らすために行う補正の量である。バックラッシ加速時間Ｔｂは、例えば、バックラッシ加速量Ｖｂによる補正を実行する時間である。制御装置２２は、このバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂに基づく補正を、駆動回路２８の反転時の速度制御に対して実行する。制御装置２２は、例えば、工具のＸ軸方向に沿った移動の反転動作を行う速度指令に対し、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂに基づく補正を加え、補正後の速度指令を駆動回路２８に出力する。駆動回路２８は、補正後の速度指令に基づくフィードバック制御を実行する。結果として、反転が早まることで象限突起を抑制できる。尚、制御装置２２は、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの両方を調整せずに、バックラッシ加速量Ｖｂ又はバックラッシ加速時間Ｔｂの一方のみを調整しても良い。

【0030】

また、図２に示す実線のグラフ５２、及び破線のグラフ５３は、グラフ５１に示す円弧形状の加工を行う指令値（速度指令）で制御装置２２がＸ軸スライド装置１３のＸ軸サーボモータ１３Ａ及びＺ軸スライド装置１４のＺ軸サーボモータ１４Ａを制御した場合におけるＸ座標を示している。また、グラフ５２，５３は、異なる値のバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを加えた場合を示している。グラフ５３，５３に示すように、軌跡には、互いに異なる形状の突起（説明の便宜上、象限突起という）５５が形成されている。

【0031】

上記したスライド移動時に発生する伝達機構の摩擦力は、例えば、潤滑油の粘度、各接触部分の摩耗状況等により変化する。摩擦力が変化すると象限突起５５の形状も変化する。また、グラフ５２，５３に示すように、設定されたバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの値によっては、グラフ５１で示す理想的な軌跡よりも外側へ膨らんだ軌跡、あるいは内側に凹んだ軌跡となる。バックラッシ加速量Ｖｂを大きくする、あるいはバックラッシ加速時間Ｔｂを長くすると、象限切替えにおける加速度や加速時間が大きくなり、逆に、バックラッシ加速量Ｖｂ等を小さくすれば、加速度等は小さくなる。しかしながら、移動させる工具の重さや、経年劣化などの機器固有の条件、後述する半径Ｒ、送り速度Ｖなどの条件に応じて、上記した摩擦力等が変化し、象限切替え時の動作状態が変化する。このため、バックラッシ加速量Ｖｂやバックラッシ加速時間Ｔｂを一律に決定することは難しい。

【0032】

そこで、制御装置２２は、実際の加工を実行する前に、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの値を変更した複数回のテスト動作を実行し、位置偏差が最も小さくなるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを、調整後の設定値として採用（選択）する。この位置偏差は、テスト動作用のＮＣプログラム３５に基づいて指定した工具の移動先の位置である指令位置と、Ｘ軸エンコーダ１３Ｂ等により取得される工具の実際の位置との位置偏差である。より具体的には、例えば、図２に示す指令値に基づく理想的なグラフ５１の軌跡と、実際の移動軌跡との位置偏差である。これにより、象限突起５５の増大を抑制できるとともに、理想的な円弧形状により近い、あるいは一致した加工を行うことができる。

【0033】

（テスト動作について）
図３は、テスト動作の実行を受け付ける受付画面６１を示している。例えば、制御装置２２は、工作機械１０の電源が投入されシステムを起動した後、表示設定プログラム３６をＣＰＵ３３で実行し、初期画面をタッチパネル２６に表示する。制御装置２２は、タッチパネル２６に対する所定の操作入力（受付画面６１を表示する指示）に基づいて受付画面６１を表示させる。図３に示すように、制御装置２２は、受付欄６３、履歴情報表示欄６４を、受付画面６１に表示する。制御装置２２は、受付欄６３に表示したテスト動作開始ボタン６５をタッチ操作されると、図４に示すパラメータ設定処理を開始し、テスト動作を実行する。

【0034】

また、制御装置２２は、半径入力欄６６、送り速度入力欄６７を受付欄６３に表示する。制御装置２２は、テスト動作において、例えば、テスト動作用のＮＣプログラム３５を実行し、工具を円弧形状の経路で移動させる動作を実行する。制御装置２２は、この円弧形状の経路の半径Ｒの値［ｍｍ］を半径入力欄６６で受け付ける。また、制御装置２２は、テスト動作においてＮＣプログラム３５に基づいて工具を移動させる送り速度の値［ｍｍ／ｍｉｎ］を、送り速度入力欄６７で受け付ける。尚、上記した各値の単位は、一例である。例えば、半径Ｒの単位は、ｃｍでも良い。また、例えば、送り速度Ｖは、１分間に工具が進む距離［ｍｍ／ｍｉｎ］に限らない。例えば、送り速度Ｖの単位として、ワークの１回転あたりに工具が進む距離［ｍｍ／ｒｅｖ］を採用しても良い。即ち、送り速度Ｖは、例えば、バイト（チップ）であればワークの１回転当たりに切削工具が進む距離であり、ドリル等の回転工具であれば回転工具の１回転当たりに進む距離でも良い。象限突起５５の大きさや形状は、工具を移動させる円弧形状の半径Ｒや送り速度Ｖに応じて変動する。また、バックラッシ加速量Ｖｂやバックラッシ加速時間Ｔｂは、先行技術文献（特開２０２２－９０９４６号公報）に記載されているように、半径Ｒや送り速度Ｖと相関する関係にある。例えば、先行技術文献では、送り速度Ｖが速くなるほど、バックラッシ加速量Ｖｂを増やす必要があり、バックラッシ加速時間Ｔｂを減らす必要があることを記載している。また、半径Ｒが大きくなるほど、バックラッシ加速量Ｖｂを減らす必要があり、バックラッシ加速時間Ｔｂを増やす必要があることを記載している。しかしながら、上記したように、最適なバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂは、半径Ｒ及び送り速度Ｖ以外の要因（経年劣化など）の影響も受けるため、調整することが難しい。

【0035】

そこで、本実施例の制御装置２２は、テスト動作で用いる半径Ｒと送り速度Ｖを予め受け付け、受け付けた値をテスト動作用のＮＣプログラム３５等に設定しテスト動作を実行する。これにより、ユーザは、例えば、これから加工を行う予定のワークの半径Ｒや送り速度Ｖ、あるいは、加工するワークの平均の半径Ｒと送り速度Ｖを、半径入力欄６６及び送り速度入力欄６７に設定し、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの調整を行うことができる。

【0036】

図３に示すように、制御装置２２は、履歴情報表示欄６４の下に、軸選択ボタン６８，６９を表示する。軸選択ボタン６８は、調整する対象（反転が生じる軸）としてＸ軸方向を選択するためのボタンである。軸選択ボタン６９は、調整する対象としてＺ軸方向を選択するためのボタンである。制御装置２２は、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの調整及び設定について、Ｘ軸方向とＺ軸方向を個別に実行できる。制御装置２２は、テスト動作開始ボタン６５をタッチ操作されると、軸選択ボタン６８，６９で選択された軸方向を対象に、バックラッシ加速量Ｖｂ等の調整を実行する。図３では、軸選択ボタン６８（Ｘ軸方向）が選択された状態を示している。以下の説明では、Ｘ軸方向におけるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの調整を実行した場合について説明する。尚、Ｚ軸方向におけるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの調整についても、Ｘ軸方向と同様に実行することができる。

【0037】

制御装置２２は、図３のテスト動作開始ボタン６５がタッチ操作されると、図４のパラ
メータ設定処理を開始する。図４に示すように、制御装置２２は、まず、ステップ（以下、単にＳと記載する）１１において、半径Ｒと送り速度Ｖを設定する。制御装置２２は、例えば、図３の半径入力欄６６に入力された半径Ｒと、送り速度入力欄６７に入力された送り速度Ｖを、テスト動作を実行するためのＮＣプログラム３５の対応するコードに設定する。ここでいうコードとは、例えば、移動の開始座標と、半径Ｒを指定して工具を円弧形状に移動させるコードや、送り速度Ｖを指定するコードである。あるいは、制御装置２２は、環境変数をＮＣプログラム３５とは別に記憶装置３４に記憶しＮＣプログラム３５の実行時にプログラム内の変数に環境変数を設定する場合、半径Ｒや送り速度Ｖに相当する環境変数に、半径入力欄６６等で入力された値を設定しても良い。従って、テスト動作に対する半径Ｒと送り速度Ｖの設定方法は、特に限定されない。また、制御装置２２は、半径入力欄６６や送り速度入力欄６７に入力可能な値の範囲や、桁数等を制限しても良い。例えば、制御装置２２は、半径入力欄６６に入力可能な半径Ｒの値の範囲や、送り速度入力欄６７に入力可能な送り速度Ｖの値の範囲を、一定の範囲に制限しても良い。これにより、後述するテスト動作において、動作可能な範囲を超えた制御が発生することを抑制でき、テスト動作中のエラーの発生を抑制できる。

【0038】

図５は、Ｘ軸方向の反転を発生させ、Ｘ軸方向におけるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを調整するテスト動作を模式的に示している。図５に示すように、テスト動作で実行するＮＣプログラム３５は、例えば、Ｚ軸方向（図５の左右方向）において異なるＺ座標の点Ｐ１，Ｐ２を両端とし、半径ｒの円弧形状の軌跡で工具７１を移動させるテスト動作（模擬の加工動作）を実行させるプログラムである。尚、図中の中心Ｏは、円弧形状の直径の中心である。この加工では、Ｘ軸方向の移動方向が、円弧形状の頂点で反転する。点Ｐ１，Ｐ２は、工作機械１０の加工基準面（加工基準位置）を基準とする所定の座標のポイントである。点Ｐ１，Ｐ２は、例えば、予めＮＣプログラム３５に設定された値に基づいて決定される。尚、制御装置２２は、点Ｐ１，Ｐ２の座標について、ユーザから設定値を受け付けても良い。これにより、例えば、実際のワークの加工動作において、外径を円弧形状に加工する工程が含まれている場合、その工程の座標を設定することができる。制御装置２２は、図４のＳ１１において、受付画面６１の半径入力欄６６で受け付けた半径Ｒをテスト動作における半径ｒとして（上記したコード等に）設定し、送り速度入力欄６７で受け付けた送り速度Ｖを円弧形状の経路で工具７１を移動させる際の送り速度として設定する。

【0039】

制御装置２２は、Ｓ１１を実行すると、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂに初期値を設定する（Ｓ１３）。この初期値は、後述する複数回のテスト動作で試すパラメータの範囲における下限値であり、例えば、設定可能な最小値である。制御装置２２は、Ｓ１３を実行すると、１回目のテスト動作を実行する（Ｓ１５）。制御装置２２は、Ｓ１１で設定した半径Ｒ、送り速度Ｖ、Ｓ１３で設定したバックラッシ加速量Ｖｂ、バックラッシ加速時間Ｔｂに基づいてテスト動作用のＮＣプログラム３５を実行し、工具７１を円弧形状に移動させる（図５の矢印参照）。

【0040】

制御装置２２は、Ｓ１５の１回目のテスト動作を終了させると、位置偏差を取得し記憶装置３４に記憶する（Ｓ１７）。制御装置２２は、例えば、テスト動作に用いたバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの値を、位置偏差の値に関連付けて記憶装置３４に記憶する。本実施例のＸ軸エンコーダ１３Ｂ及びＺ軸エンコーダ１４Ｂは、制御装置２２の制御に基づいて、例えば、所定期間や所定指令に基づく制御中の位置偏差を演算し、制御装置２２に出力可能となっている。制御装置２２は、例えば、Ｓ１５のテスト動作を実行し、そのテスト動作中の位置偏差をＸ軸エンコーダ１３ＢやＺ軸エンコーダ１４Ｂから取得する。尚、位置偏差を取得する方法は、上記したエンコーダで演算する方法に限らない。例えば、制御装置２２が位置偏差を演算しても良い。制御装置２２は、テスト動作において所定時間ごとにＸ座標をＸ軸エンコーダ１３Ｂから取得し、取得した複数
のＸ座標と、ＮＣプログラム３５で指示した円弧形状のＸ座標との差から位置偏差を取得しても良い。

【0041】

また、本実施例では、Ｘ軸エンコーダ１３Ｂ及びＺ軸エンコーダ１４Ｂの位置情報、即ち、各スライダの位置（刃物台の位置）を、工具７１の位置と擬制して処理を実行している。しかしながら、工作機械１０は、割り出した工具７１の位置を検出するためのセンサ等を備え、センサの位置情報（刃先の位置など）に基づいて位置偏差を取得しても良い。

【0042】

制御装置２２は、Ｓ１７を実行すると、現在のバックラッシ加速量Ｖｂが所定の最大バックラッシ加速量Ｖｍａｘ以上であるか否かを判断する（Ｓ１９）。この最大バックラッシ加速量Ｖｍａｘは、テスト動作で試すバックラッシ加速量Ｖｂの範囲における上限値であり、例えば、設定可能な最大値でも良い。制御装置２２は、バックラッシ加速量Ｖｂが最大バックラッシ加速量Ｖｍａｘより小さい場合（Ｓ１９：ＮＯ）、バックラッシ加速量Ｖｂを所定の増加量Ｖａだけ増加せる（Ｓ２１）。制御装置２２は、バックラッシ加速量Ｖｂを増加量Ｖａだけ増加させると、増加させたバックラッシ加速量Ｖｂを用いてテスト動作を実行し（Ｓ１５）、位置偏差を取得する（Ｓ１７）。これにより、制御装置２２は、バックラッシ加速時間Ｔｂを初期値に固定したまま、バックラッシ加速量Ｖｂが最大バックラッシ加速量Ｖｍａｘ以上になるまでの間（Ｓ１９：ＮＯ）、バックラッシ加速量Ｖｂを増加量Ｖａずつ増加させてテスト動作（Ｓ１５）を繰り返し実行する（図５の矢印参照）。制御装置２２は、例えば、図５に示す点Ｐ１から点Ｐ２まで円弧形状に工具７１を移動させた後、再度、点Ｐ１に工具７１を配置し、変更後のバックラッシ加速量Ｖｂを用いた制御を実行する。このため、増加量Ｖａは、テスト動作ごとにバックラッシ加速量Ｖｂを増加させる調整量であり、より小さい値を設定することで、バックラッシ加速量Ｖｂを調整する精度を向上できる。記憶装置３４は、テスト動作ごとに新たな位置偏差の値が記憶される（Ｓ１７）。

【0043】

制御装置２２は、バックラッシ加速量Ｖｂが最大バックラッシ加速量Ｖｍａｘ以上になると（Ｓ１９：ＹＥＳ）、バックラッシ加速量Ｖｂに初期値を設定し（Ｓ２３）、Ｓ２５を実行する。制御装置２２は、Ｓ２５において、バックラッシ加速時間Ｔｂが最大バックラッシ加速時間Ｔｍａｘ以上であるか否かを判断する。そして、制御装置２２は、バックラッシ加速時間Ｔｂが最大バックラッシ加速時間Ｔｍａｘより小さい場合（Ｓ２５：ＮＯ）、バックラッシ加速時間Ｔｂを増加量Ｔａだけ増加させ（Ｓ２７）、Ｓ１５以降の処理を実行する。これにより、増加量Ｔａだけ増加させた後のバックラッシ加速時間Ｔｂを用いて、バックラッシ加速量Ｖｂを増加量Ｖａだけ増加させながら繰り返しテスト動作を実行する。即ち、制御装置２２は、バックラッシ加速時間Ｔｂを固定してバックラッシ加速量Ｖｂを増加量Ｖａだけ増加させながらテスト動作を繰り返し実行する処理を、バックラッシ加速時間Ｔｂが最大バックラッシ加速時間Ｔｍａｘ以上になるまで増加量Ｔａずつ増加させて実行する。増加量Ｖａ，Ｔａの大きさに応じた細かさでバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを変更したテスト動作を実行する。

【0044】

制御装置２２は、バックラッシ加速時間Ｔｂが最大バックラッシ加速時間Ｔｍａｘ以上になると（Ｓ２５：ＹＥＳ）、Ｓ１７で記憶装置３４に記憶した位置偏差のうち、最小の位置偏差に関連付けられたバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを取得し、加工に使用するバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂとして設定する（Ｓ２９）。即ち、制御装置２２は、複数回のテスト動作において、位置偏差が最小となったテスト動作で用いたバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを、その後の実際のワークの加工動作に用いるパラメータとして設定する（Ｓ２９）。これにより、位置偏差が最小となるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを、実際のワークの加工に用いることができ、象限突起５５をより確実に小さく、又はなくすことが可能となる。尚、制御装置２２は、複数回のテスト動作のうち、最も小さい位置偏差
を採用しなくとも良い。例えば、制御装置２２は、２番目に小さい位置偏差となるバックラッシ加速量Ｖｂ等や３番目に小さい位置偏差となるバックラッシ加速量Ｖｂなどを、加工時のパラメータとして設定しても良い。従って、本開示の「複数回のテスト動作のうち、取得した位置偏差が他のテスト動作に比べて小さいテスト動作」とは、最も位置偏差が小さいテスト動作に限らず、他のテスト動作に比べて位置偏差が小さいテスト動作であれば適宜採用できる。また、位置偏差が同一となるテスト動作が複数発生した場合、制御装置２２は、例えば、位置偏差が同一のテスト動作のうち、最初に実行したテスト動作のバックラッシ加速量Ｖｂやバックラッシ加速時間Ｔｂを調整後のパラメータとして採用しても良い。

【0045】

制御装置２２は、Ｓ２９を実行すると、図３に示す履歴情報表示欄６４を更新し（Ｓ３１）、図４に示す処理を終了する。図３に示すように、制御装置２２は、履歴情報表示欄６４の左から順番に、半径Ｒ、送り速度Ｖ、バックラッシ加速量Ｖｂ、バックラッシ加速時間Ｔｂ、位置偏差、実施日時の情報を表示する。制御装置２２は、これらの情報として、今回実施したテスト動作の情報を表示する。半径Ｒは、半径入力欄６６に入力され、テスト動作に用いられた値である。同様に、送り速度Ｖは、送り速度入力欄６７に入力された値である。バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂは、位置偏差が最も小さくなったテスト動作における値、即ち、調整後の値である。位置偏差は、複数回のテスト動作の位置偏差のうち、最も小さい値である。換言すれば、調整後のバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを設定してテスト動作を実行した際の位置偏差である。実施日時は、テスト動作開始ボタン６５を押下されテスト動作を開始した日時である。制御装置２２は、これらの情報を１行に並べて履歴情報表示欄６４に表示する。これにより、ユーザは、過去の調整結果やその時の設定値を確認できる。工具７１によるパラメータの変化や、経年劣化による変化を確認できる。ユーザは、変化の周期等を確認することで、テスト動作開始ボタン６５を操作してバックラッシ加速量Ｖｂ等を調整する適切な時期を判断できる。

【0046】

制御装置２２は、テスト動作開始ボタン６５がタッチ操作され新たなテスト動作が実行されると、その結果を履歴情報表示欄６４の一番上に表示し、過去の履歴を１つずつ繰り下げて表示する。尚、制御装置２２は、履歴情報表示欄６４に表示したスクロールボタン７３に対する操作に応じて表示できなかった履歴を順次表示する。

【0047】

また、上記した説明では、Ｘ軸方向におけるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを調整するテスト動作について説明したが、Ｚ軸方向の調整についても同様に実行できる。制御装置２２は、図３に示す軸選択ボタン６９がタッチ操作され選択された状態においてテスト動作開始ボタン６５がタッチ操作されると、Ｘ軸方向と同様に、Ｚ軸方向のテスト動作を実行する。図６は、Ｚ軸方向の反転を発生させ、Ｚ軸方向におけるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを調整するテスト動作を模式的に示している。図６に示すように、制御装置２２は、工具７１をＸ軸方向に移動させつつ、Ｚ軸方向で反転させ、工具７１を円弧形状の経路で移動させる。制御装置２２は、半径入力欄６６に設定された半径Ｒを半径ｒとし、送り速度入力欄６７に設定された送り速度Ｖを用いてテスト動作を実行する。換言すれば、半径入力欄６６及び送り速度入力欄６７は、軸選択ボタン６８，６９で選択されたスライド軸でのテスト動作で用いる半径Ｒの値及び送り速度Ｖの値を受け付ける入力欄である。これにより、各軸方向の調整を別々に実行できる。また、Ｘ軸方向と同様に、工具７１、経年劣化、半径Ｒ、送り速度Ｖなどに応じて象限突起５５をより低減できるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間ＴｂをＺ軸方向のパラメータとしても設定できる。また、調整する軸方向に応じた半径Ｒと送り速度Ｖを設定し、調整を行うことができる。Ｚ軸方向の加工（円弧形状の端面加工など）に用いるパラメータとして、より最適なパラメータを用いて象限突起５５を低減できる。

【0048】

因みに、以下に、本実施例の用語と請求の範囲に記載した用語との対応関係について説明する。上記実施例において、Ｘ軸スライド装置１３、Ｚ軸スライド装置１４は、スライド装着装置の一例である。工具７１は、移動対象物の一例である。タッチパネル２６は、ユーザインタフェースの一例である。ＮＣプログラム３５は、制御プログラムの一例である。Ｓ１５、Ｓ２１、Ｓ２７は、テスト動作実行処理の一例である。Ｓ１７、Ｓ２９は、パラメータ取得処理の一例である。Ｘ軸及びＺ軸は、スライド軸、第１スライド軸、第２スライド軸の一例である。

【0049】

以上、上記した本実施例では、以下の効果を奏する。
本願の一態様である制御装置２２は、ＮＣプログラム３５に基づいてＸ軸スライド装置１３及びＺ軸スライド装置１４を制御し工具７１を移動させるテスト動作を実行する（Ｓ１５）。制御装置２２は、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを変更した複数回のテスト動作を実行する（Ｓ１５、Ｓ２１、Ｓ２７）。制御装置２２は、ＮＣプログラム３５に基づいて指定した工具７１の移動先の位置である指令位置（各モータの指令値）と、工具７１の実際の位置（エンコーダ情報）との位置偏差を、複数回のテスト動作の各々について取得する（Ｓ１７）。制御装置２２は、複数回のテスト動作のうち、取得した位置偏差が最も小さいテスト動作におけるバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを調整後のパラメータとして設定する（Ｓ２９）。これにより、指令位置に対してずれが少ないパラメータを見つけるこができ、見つけ出したパラメータを設定することで、結果として象限突起５５をより小さく又はなくすことが可能となる。作業者がパラメータの調整を行う作業負担を軽減できる。

【0050】

また、本開示の内容は、上記実施例に限定されるものではなく、当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した種々の態様で実施することが可能である。
例えば、上記実施例では、バックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂの両方の調整を実行したが、どちらか一方のみの調整を実行しても良い。例えば、バックラッシ加速量Ｖｂ又はバックラッシ加速時間Ｔｂの一方のパラメータの値をユーザから受け付け、他方のパラメータについて増加させてテスト動作を実行しても良い。
また、上記実施例のテスト動作用のＮＣプログラム３５が実行した処理内容は、一例である。テスト動作用のＮＣプログラム３５としては、象限切替えが発生する他のＮＣプログラム３５を採用できる。例えば、テスト動作用のＮＣプログラム３５は、ＸＺ平面において工具７１を円形の経路で移動させるＮＣプログラム３５でも良い。この場合、制御装置２２は、Ｘ軸方向とＺ軸方向の両方のパラメータを、まとめて調整できる。例えば、制御装置２２は、テスト動作開始ボタン６５を操作され、図４のパラメータ設定処理を開始すると、Ｓ１５において、工具７１を円形の経路で移動させる。制御装置２２は、例えば、Ｘ座標が反転する円弧においてＸ軸方向の位置偏差を取得し、Ｚ座標が反転する円弧においてＺ軸方向の位置偏差を取得する。そして、制御装置２２は、各方向について、位置偏差が最小となった時のテスト動作のバックラッシ加速量Ｖｂ及びバックラッシ加速時間Ｔｂを調整後のパラメータとしても良い。これにより、２方向の調整を１回のパラメータ設定処理でまとめて実行できる。
また、制御装置２２は、テスト動作に用いる値として、半径Ｒ及び送り速度Ｖの一方だけを受け付けも良い。あるいは、制御装置２２は、テスト動作に用いる半径Ｒ及び送り速度Ｖの値として、予め設定された値を使用し、ユーザから値を受け付けなくとも良い。また、制御装置２２は、半径Ｒ及び送り速度Ｖ以外の値を、テスト動作に用いる値として受け付けても良い。例えば、点Ｐ１，Ｐ２の座標を受け付けても良い。

【0051】

また、上記実施例の図４のパラメータ設定処理では、予め設定された初期値、最大バックラッシ加速量Ｖｍａｘ、最大バックラッシ加速時間Ｔｍａｘ、増加量Ｖａ，Ｔａを用いてテスト動作を実行したが、これに限らない。例えば、制御装置２２は、初期値、最大バ
ックラッシ加速量Ｖｍａｘ、最大バックラッシ加速時間Ｔｍａｘ、増加量Ｖａ，Ｔａのうち、少なくとも１つの値を、ユーザから受け付けても良い。
また、テスト動作に用いる初期値、最大バックラッシ加速量Ｖｍａｘ、最大バックラッシ加速時間Ｔｍａｘ、増加量Ｖａ，Ｔａとして、過去のテスト動作で機械学習し導き出した値を設定しても良い。
また、上記実施例では、本開示の制御プログラムとして、数値制御を実行するＮＣプログラム３５を採用したが、これに限らない。本開示の制御プログラムとしては、工作機械１０を制御可能な様々な形式のプログラムを採用できる。
また、上記実施例では、本願の移動対象物として、タレット装置１２の刃物台（工具７１）を採用したが、これに限らない。例えば、移動対象物として、ロボット１５の把持部やワーク主軸装置１１のチャック機構など、工作機械１０が備える他の移動する対象物を採用しても良い。
また、図３に示す受付画面６１の画面構成、表示項目、表示位置等は、一例である。例えば、受付欄６３と履歴情報表示欄６４は、別画面でも良い。

【0052】

尚、本開示の内容は、請求項に記載の従属関係に限定されない。例えば、請求項５において「請求項４に記載の工作機械」を「請求項１から請求項４の何れか１項に記載の工作機械」に変更した技術思想についても、本明細書は開示している。また、例えば、請求項６において「請求項４に記載の工作機械」を「請求項４又は請求項５に記載の工作機械」に変更した技術思想についても、本明細書は開示している。

【符号の説明】

【0053】

１０ 工作機械、１３ Ｘ軸スライド装置（スライド装置）、１４ Ｚ軸スライド装置（スライド装置）、２２ 制御装置、２６ タッチパネル（ユーザインタフェース）、３５ ＮＣプログラム（制御プログラム）、６４ 履歴情報表示欄、６５ テスト動作開始ボタン、６６ 半径入力欄、６７ 送り速度入力欄、７１ 工具（移動対象物）、Ｒ 半径、Ｔｂ バックラッシ加速時間、Ｖｂ バックラッシ加速量、Ｖ 送り速度。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】