特開 2025-20750 セルフテスト制御プログラム，セルフテスト制御方法およびセルフテスト制御装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2025020750

(43)【公開日】2025-02-13

(54)【発明の名称】セルフテスト制御プログラム，セルフテスト制御方法およびセルフテスト制御装置

(51)【国際特許分類】

   G06F 11/22 20060101AFI20250205BHJP

   G06F 11/36 20060101ALI20250205BHJP

【ＦＩ】

G06F11/22 675L

G06F11/36 196

【審査請求】未請求

【請求項の数】7

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023124321

(22)【出願日】2023-07-31

(71)【出願人】

【識別番号】598057291

【氏名又は名称】エフサステクノロジーズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110003649

【氏名又は名称】弁理士法人真田特許事務所

(74)【代理人】

【識別番号】100189201

【弁理士】

【氏名又は名称】横田 功

(72)【発明者】

【氏名】青木 勝志

(72)【発明者】

【氏名】姫野 公洋

(72)【発明者】

【氏名】伊東 健治

【テーマコード（参考）】

5B042

5B048

【Ｆターム（参考）】

5B042HH19

5B042JJ29

5B048CC14

(57)【要約】

【課題】ファンのセルフテストの実施が計画される情報処理装置における消費電力の増加を抑制する。
【解決手段】セルフテスト制御プログラムは、情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得し、取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定する、処理をコンピュータに実行させる。
【選択図】図１１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得し、
取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定する、
処理をコンピュータに実行させる、セルフテスト制御プログラム。

【請求項2】

前記回転数に関する情報は、前記ファンの回転数と前記ファンに固有の最大回転数とに基づく回転率であり、
前記条件は、取得された前記回転率が、前記合格基準である基準回転率以下に設定された閾値以上であることを含む、
請求項１に記載のセルフテスト制御プログラム。

【請求項3】

前記設定する処理は、前記セルフテストの実施計画における実施間隔を現在時刻に加算することで前記第２時刻を算出する処理を含む、
請求項１又は請求項２に記載のセルフテスト制御プログラム。

【請求項4】

前記取得する処理、及び、前記設定する処理を、複数の前記ファンの各々について一定時間ごとに実行する、
処理を前記コンピュータに実行させる、
請求項１又は請求項２に記載のセルフテスト制御プログラム。

【請求項5】

前記設定する処理は、前記第２時刻を算出する際に、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンの数が所定数以上である場合、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンのうち、前記所定数を超えるファンについての前記第２時刻を、前記時刻帯とは異なる時刻帯に設定する処理を含む、
請求項４に記載のセルフテスト制御プログラム。

【請求項6】

情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得し、
取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定する、
処理をコンピュータが実行する、セルフテスト制御方法。

【請求項7】

情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得し、
取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定する、
制御部を備える、セルフテスト制御装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、セルフテスト制御プログラム，セルフテスト制御方法およびセルフテスト制御装置に関する。

【背景技術】

【0002】

サーバ等のコンピュータ（情報処理装置）の故障検知のために、コンピュータに備えられるファンのセルフテストが実施されることがある。セルフテストは、例えばファンに供給可能な最大電力を所定時間に亘ってファンに供給し、計測されたファンの出力（ファン出力）が合格基準以上となることを確認するためのテストである。

【0003】

例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）を主に冷却するためのＣＰＵファンは、ＣＰＵが最大負荷の際に所定のファン出力となるように調整されることがある。ファン出力は、例えばゴミの侵入，部品の劣化等の要因により低下し得る。このため、セルフテストでは、このように調整されたファンが冷却対象の最大負荷時に所定のファン出力となることを保証するために実施される。なお、ファンは、ＣＰＵファンの他に、ＣＰＵ以外の他の冷却対象を冷却するための種々のファンであってもよい。

【0004】

コンピュータでは、故障の発生を未然に検知するために、ファンのセルフテストの定期的な実施計画（スケジュール）が設定される。セルフテストにおいて合格基準を満たさないファンが検出された場合、当該ファンの修理又は交換が行なわれる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２００７－２５０１０号公報

【特許文献2】特開２０２０－１４０３９０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

上述したように、セルフテストでは、ファンに供給可能な最大電力が所定時間に亘ってファンに供給される。また、セルフテストは定期的に実施される。このため、ファンのセルフテストの実施が計画されるコンピュータでは、消費電力の定期的な増加が発生する。

【0007】

１つの側面では、本発明は、ファンのセルフテストの実施が計画される情報処理装置における消費電力の増加を抑制することを目的の１つとする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

１つの側面では、セルフテスト制御プログラムは、コンピュータに以下の処理を実行させてよい。前記処理は、情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得してよい。また、前記処理は、取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定してよい。

【発明の効果】

【0009】

１つの側面では、本発明は、ファンのセルフテストの実施が計画される情報処理装置における消費電力の増加を抑制できる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】一実施形態に係るシステムのハードウェア構成例を示すブロック図である。

【図2】一実施形態に係る管理装置の機能を実現するコンピュータのハードウェア構成例を示すブロック図である。

【図3】一実施形態に係るシステムのソフトウェア構成例を示すブロック図である。

【図4】サーバに格納されたスケジュール情報の一例を示す図である。

【図5】テストログ情報の一例を示す図である。

【図6】稼働ログ情報の一例を示す図である。

【図7】制御定義情報の一例を示す図である。

【図8】管理装置に格納されたスケジュール情報の一例を示す図である。

【図9】スケジュール設定処理の一例を説明するための図である。

【図10】スケジュール設定処理の他の例を説明するための図である。

【図11】一実施形態に係るシステムにおける管理装置の動作例を説明するためのフローチャートである。

【図12】一実施形態に係る第１変形例におけるセルフテストの次回実行時刻の分散設定処理を説明するための図である。

【図13】一実施形態に係る第２変形例におけるサーバのソフトウェア構成を示すブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。ただし、以下に説明する実施形態は、あくまでも例示であり、以下に明示しない種々の変形又は技術の適用を排除する意図はない。例えば、本実施形態を、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。なお、以下の説明で用いる図面において、同一符号を付した部分は、特に断らない限り、同一若しくは同様の部分を表す。

【0012】

〔Ａ〕ハードウェア構成例
図１は、一実施形態に係るシステム１のハードウェア構成例を示すブロック図である。図１に例示するように、システム１は、Ｎ台（Ｎは１以上の整数）のサーバ２，及び管理装置３を備えてよい。以下の説明では、システム１が複数台（Ｎ≧２）のサーバ２を備えるものするが、システム１が備えるサーバ２は１台（Ｎ＝１）であってもよい。以下、特定のサーバ２を示す場合にはサーバ＃１～＃Ｎと表記する場合がある。

【0013】

サーバ２は、コンピュータ又は情報処理装置の一例である。サーバ２は、例えば、１以上（図１の例では複数）のプロセッサ２ａと、１以上（図１の例では複数）のファン２ｂとを備えてよい。

【0014】

プロセッサ２ａは、種々の制御や演算を行なう演算処理装置の一例であり、ファン２ｂの冷却対象の一例である。ファン２ｂは、プロセッサ２ａ等の冷却対象を冷却する冷却装置であり、セルフテストの実行対象の一例である。図１に示すプロセッサ２ａは例えばＣＰＵであり、ファン２ｂは例えばＣＰＵファン等のファンである。

【0015】

以下の説明では、サーバ２が複数のプロセッサ２ａ及び複数のファン２ｂを備えるものするが、サーバ２が備えるプロセッサ２ａ及びファン２ｂはそれぞれ１つであってもよい。各サーバ２においてプロセッサ２ａの数とファン２ｂの数とは同数であってもよいし、異なってもよい。また、プロセッサ２ａの数及びファン２ｂの数の一方又は双方は、サーバ２間で同数であってもよいし、異なってもよい。また、サーバ２は、プロセッサ２ａとは異なる種々のハードウェアと、これらのハードウェアを冷却対象とする種々のファン２ｂとを備えてもよい。

【0016】

管理装置３は、コンピュータ，情報処理装置又はセルフテスト制御装置の一例である。管理装置３は、例えば、制御対象のファン２ｂの実働状況を収集し、ファン２ｂごとにセルフテストの実施の計画の管理を行なう。例えば、管理装置３は、サーバ２においてセルフテストを実行するアプリケーションの実行スケジュールを制御（スケジューリング）してよい。

【0017】

なお、管理装置３によるスケジューリングの実施単位（例えばスケジュールの設定単位）は、サーバ２単位であってもよいし、ファン２ｂ単位であってもよい。以下の説明では、管理装置３は、ファン２ｂ単位でスケジューリングを行なうものとする。

【0018】

複数のサーバ２の各々と管理装置３との間は、イーサネット（登録商標）等のネットワーク１ａを介して相互に通信可能に接続されてよい。

【0019】

一実施形態に係る管理装置３は、仮想サーバ（ＶＭ：Virtual Machine）であってもよいし、物理サーバであってもよい。また、管理装置３の機能は、１台のコンピュータにより実現されてもよいし、２台以上のコンピュータにより実現されてもよい。さらに、管理装置３の機能のうちの少なくとも一部は、クラウド環境により提供されるハードウェアリソース及びネットワークリソースを用いて実現されてもよい。

【0020】

図２は、一実施形態に係る管理装置３の機能を実現するコンピュータ１０のハードウェア（ＨＷ）構成例を示すブロック図である。管理装置３の機能を実現するＨＷリソースとして、複数のコンピュータが用いられる場合は、各コンピュータが図２に例示するＨＷ構成を備えてよい。

【0021】

図２に示すように、コンピュータ１０は、ＨＷ構成として、例示的に、プロセッサ１０ａ、グラフィック処理装置１０ｂ、メモリ１０ｃ、記憶装置１０ｄ、ＩＦ（Interface）装置１０ｅ、ＩＯ（Input / Output）装置１０ｆ、及び読取装置１０ｇを備えてよい。

【0022】

プロセッサ１０ａは、種々の制御や演算を行なう演算処理装置の一例である。プロセッサ１０ａは、コンピュータ１０内の各ブロックとバス１０ｊで相互に通信可能に接続されてよい。なお、プロセッサ１０ａは、複数のプロセッサを含むマルチプロセッサであってもよいし、複数のプロセッサコアを有するマルチコアプロセッサであってもよく、或いは、マルチコアプロセッサを複数有する構成であってもよい。

【0023】

プロセッサ１０ａとしては、例えば、ＣＰＵ、ＭＰＵ、ＡＰＵ、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ、ＦＰＧＡ等の集積回路（ＩＣ：integrated circuit）が挙げられる。なお、プロセッサ１０ａとして、これらの集積回路の２以上の組み合わせが用いられてもよい。ＭＰＵはMicro Processing Unitの略称である。ＡＰＵはAccelerated Processing Unitの略称である。ＤＳＰはDigital Signal Processorの略称であり、ＡＳＩＣはApplication Specific ICの略称であり、ＦＰＧＡはField-Programmable Gate Arrayの略称である。

【0024】

グラフィック処理装置１０ｂは、ＩＯ装置１０ｆのうちのモニタ等の出力装置に対する画面表示制御を行なう。グラフィック処理装置１０ｂとしては、種々の演算処理装置、例えば、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、ＡＰＵ、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ又はＦＰＧＡ等の集積回路（ＩＣ）が挙げられる。

【0025】

メモリ１０ｃは、種々のデータやプログラム等の情報を格納するＨＷの一例である。メモリ１０ｃとしては、例えばＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）等の揮発性メモリ、及び、ＰＭ（Persistent Memory）等の不揮発性メモリ、の一方又は双方が挙げられる。

【0026】

記憶装置１０ｄは、種々のデータやプログラム等の情報を格納するＨＷの一例である。記憶装置１０ｄとしては、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等の磁気ディスク装置、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の半導体ドライブ装置、不揮発性メモリ等の各種記憶装置が挙げられる。不揮発性メモリとしては、例えば、フラッシュメモリ、ＳＣＭ（Storage Class Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）等が挙げられる。

【0027】

記憶装置１０ｄは、コンピュータ１０の各種機能の全部若しくは一部を実現するプログラム１０ｈ（例えばセルフテスト制御プログラム）を格納してよい。

【0028】

例えば、管理装置３のプロセッサ１０ａは、記憶装置１０ｄに格納されたプログラム１０ｈをメモリ１０ｃに展開して実行することにより、後述する管理装置３（例えば図３に示す制御部３０）としての機能を実現できる。

【0029】

ＩＦ装置１０ｅは、管理装置３とサーバ２との間の接続及び通信の制御等を行なう通信ＩＦの一例である。例えば、ＩＦ装置１０ｅは、イーサネット（登録商標）等のＬＡＮ（Local Area Network）、或いは、ＦＣ（Fibre Channel）等の光通信等に準拠したアダプタを含んでよい。当該アダプタは、無線及び有線の一方又は双方の通信方式に対応してよい。

【0030】

例えば、管理装置３は、ＩＦ装置１０ｅ及びネットワーク１ａを介して、図１に例示するサーバ２と相互に通信可能に接続されてよい。なお、プログラム１０ｈは、当該通信ＩＦを介して、ネットワーク（例えば外部ネットワーク）からコンピュータ１０にダウンロードされ、記憶装置１０ｄに格納されてもよい。

【0031】

ＩＯ装置１０ｆは、入力装置、及び、出力装置、の一方又は双方を含んでよい。入力装置としては、例えば、キーボード、マウス、タッチパネル等が挙げられる。出力装置としては、例えば、モニタ、プロジェクタ、プリンタ等が挙げられる。また、ＩＯ装置１０ｆは、入力装置及び出力装置が一体となったタッチパネル等の表示装置を含んでもよい。出力装置は、グラフィック処理装置１０ｂに接続されてよい。

【0032】

読取装置１０ｇは、記録媒体１０ｉに記録されたデータやプログラムの情報を読み出すリーダの一例である。読取装置１０ｇは、記録媒体１０ｉを接続可能又は挿入可能な接続端子又は装置を含んでよい。読取装置１０ｇとしては、例えば、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）等に準拠したアダプタ、記録ディスクへのアクセスを行なうドライブ装置、ＳＤカード等のフラッシュメモリへのアクセスを行なうカードリーダ等が挙げられる。なお、記録媒体１０ｉにはプログラム１０ｈが格納されてもよく、読取装置１０ｇが記録媒体１０ｉからプログラム１０ｈを読み出して記憶装置１０ｄに格納してもよい。

【0033】

記録媒体１０ｉとしては、例示的に、磁気／光ディスクやフラッシュメモリ等の非一時的なコンピュータ読取可能な記録媒体が挙げられる。磁気／光ディスクとしては、例示的に、フレキシブルディスク、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ブルーレイディスク、ＨＶＤ（Holographic Versatile Disc）等が挙げられる。フラッシュメモリとしては、例示的に、ＵＳＢメモリやＳＤカード等の半導体メモリが挙げられる。

【0034】

上述したコンピュータ１０のＨＷ構成は例示である。従って、コンピュータ１０内でのＨＷの増減（例えば任意のブロックの追加や削除）、分割、任意の組み合わせでの統合、又は、バスの追加若しくは削除等は適宜行なわれてもよい。

【0035】

なお、サーバ２の機能を実現するコンピュータは、図２に例示するコンピュータ１０と同様のＨＷ構成を備えてもよい。例えば、サーバ２のプロセッサ１０ａ（図１に示すプロセッサ２ａ）は、記憶装置１０ｄに格納されたプログラム１０ｈをメモリ１０ｃに展開して実行することにより、後述するサーバ２（例えば図３に示す制御部２０）としての機能を実現できる。

【0036】

〔Ｂ〕ソフトウェア構成例
図３は、一実施形態に係るシステム１のソフトウェア構成例を示すブロック図である。以下、サーバ２及び管理装置３のそれぞれのソフトウェア構成例を説明する。

【0037】

〔Ｂ－１〕サーバのソフトウェア構成例
図３に示すように、サーバ２は、例示的に、メモリ部２１，ＯＳ２２，及びセルフテスト実行部２３を備えてよい。ＯＳ２２及びセルフテスト実行部２３は、制御部２０の一例である。

【0038】

メモリ部２１は、記憶領域の一例であり、サーバ２が利用する種々のデータを記憶する。メモリ部２１は、例えば、サーバ２のメモリ１０ｃ及び記憶部１０ｄ（図２参照）のうちの一方又は双方が有する記憶領域により実現されてもよい。

【0039】

図３に示すように、メモリ部２１は、例示的に、スケジュール情報２１ａ及びテストログ情報２１ｂを記憶可能であってよい。以下、スケジュール情報２１ａ及びテストログ情報２１ｂの各々をテーブル形式で表記するが、これに限定されるものではなく、スケジュール情報２１ａ及びテストログ情報２１ｂの各々は、ＤＢ（Database），配列等の種々の形式のデータであってもよい。

【0040】

図４は、サーバ２に格納されたスケジュール情報２１ａの一例を示す図である。スケジュール情報２１ａは、ファン２ｂのセルフテストの実施計画を示す情報の一例である。図４に例示するように、スケジュール情報２１ａは、ファンＩＤ，次回実行時刻，実施時間（分）の項目を含んでよい。

【0041】

ファンＩＤは、サーバ２に備えられるファン２ｂのうちの、セルフテストの実施対象となるファン２ｂの識別情報の一例である。

【0042】

次回実行時刻は、実施対象のファン２ｂに対するセルフテストの次回の実施予定時刻である。実施時間（分）は、セルフテストを実施する時間（期間）であり、所定時間の一例である。図４には、例えばファンＩＤ：１について、2023/07/10 20:40:00から１０分間におけるセルフテストの実施計画が設定されている。

【0043】

ＯＳ２２は、サーバ２の管理及び制御を行なう基本ソフトウェアの一例であり、種々のアプリケーションに対して、サーバ２のハードウェア資源及び／又はソフトウェア資源を利用可能とするソフトウェアである。

【0044】

セルフテスト実行部２３は、スケジュール情報２１ａに基づくスケジュールでファン２ｂのセルフテストを実行する。セルフテスト実行部２３は、ＯＳ２２上で実行されるアプリケーション（ソフトウェア）であり、例えば、サーバ２の電源オン（例えばＯＳ２２の起動）後に起動されてよい。

【0045】

セルフテスト実行部２３は、例えば、現在時刻がスケジュール情報２１ａの次回実行時刻になったエントリ（実施対象）のファン２ｂに対して、当該ファン２ｂに供給可能な最大電力を当該エントリの実施時間に亘って供給する。

【0046】

セルフテスト実行部２３は、セルフテストの実施中にファン２ｂの回転数を計測し、回転数からファン２ｂの回転率を算出してよい。回転率又は回転率は、ファン２ｂの回転数に関する情報の一例である。回転率は、ファン出力の一例であり、ファン２ｂの最大回転数（rpm：revolutions per minute）に対する、ファン２ｂの計測された回転数の割合である。ファン２ｂの最大回転数は、ファン２ｂの理論上（例えばカタログ上）で最大の回転数であり、ファン２ｂのモデル（製品）ごとに固有の値である。最大回転数の情報は、例えばサーバ２又は管理装置３の管理者等により予めメモリ部２１に格納されてよい。

【0047】

セルフテスト実行部２３は、回転率がセルフテストの合格基準以上であるか否かに応じた合否の結果をテストログ情報２１ｂに設定する。

【0048】

図５は、テストログ情報２１ｂの一例を示す図である。テストログ情報２１ｂは、セルフテストのテストログ（エントリ）を蓄積した情報である。図５の例では、テストログ情報２１ｂには、セルフテストが実施された順に、実施対象ごとの複数のテストログが蓄積されてよい。

【0049】

図５に例示するように、テストログ情報２１ｂは、ファンＩＤ，テスト開始時刻，テスト終了時刻，テスト結果の項目を含んでよい。ファンＩＤは、セルフテストが実行されたファン２ｂの識別情報の一例である。テスト開始時刻及びテスト終了時刻は、それぞれ、セルフテストの実行の開始時刻及び終了時刻である。

【0050】

テスト結果は、セルフテスト実行部２３によるセルフテストの合否の判定結果である。例えばセルフテスト実行部２３は、回転率が合格基準以上である場合にテスト結果に合格を示す値（例えば０）を設定し、回転率が合格基準未満である場合にテスト結果に不合格を示す値（例えば１）を設定してよい。

【0051】

なお、セルフテスト実行部２３は、テストログ情報２１ｂに基づきアラートを出力してもよい。セルフテスト実行部２３は、例えば不合格を示す値を設定されたエントリがテストログ情報２１ｂに含まれる場合に、当該エントリのファンＩＤを示す情報を含むアラートを出力してよい。アラートの出力には、例えばサーバ２のＩＯ装置１０ｆ（出力装置）への表示，ＩＦ装置１０ｅを介した管理者へのメッセージ送信等の種々の態様により行なわれてよい。

【0052】

また、セルフテスト実行部２３は、例えば起動後に、現在時刻に所定期間を加算した時刻をスケジュール情報２１ａの次回実行時刻に設定してよい。なお、サーバ２におけるセルフテストのスケジュールは、管理装置３により管理される。このため、セルフテスト実行部２３は、セルフテスト実行部２３及び管理装置３の起動後に、管理装置３から次回実行時刻の情報を受信し、受信した情報をスケジュール情報２１ａに設定してもよい。

【0053】

〔Ｂ－２〕管理装置のソフトウェア構成例
図３に示すように、管理装置３は、例示的に、メモリ部３１，稼働ログ情報収集部３２，延伸判定部３３，及びスケジュール設定部３４を備えてよい。稼働ログ情報収集部３２，延伸判定部３３，及びスケジュール設定部３４は、制御部３０の一例である。なお、稼働ログ情報収集部３２，延伸判定部３３，及びスケジュール設定部３４は、例えば管理装置３の電源オン（例えば管理装置３のＯＳの起動）後に起動されてよい。

【0054】

メモリ部３１は、記憶領域の一例であり、管理装置３が利用する種々のデータを記憶する。メモリ部３１は、例えば、管理装置３のメモリ１０ｃ及び記憶部１０ｄ（図２参照）のうちの一方又は双方が有する記憶領域により実現されてもよい。

【0055】

図３に示すように、メモリ部３１は、例示的に、稼働ログ情報３１ａ，制御定義情報３１ｂ，及びスケジュール情報３１ｃを記憶可能であってよい。以下、これらの情報３１ａ～３１ｃの各々をテーブル形式で表記するが、これに限定されるものではなく、これらの情報３１ａ～３１ｃの各々は、ＤＢ，配列等の種々の形式のデータであってもよい。

【0056】

稼働ログ情報収集部３２は、ファン２ｂのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻におけるファン２ｂの回転数に関する情報を取得する。稼働ログ情報収集部３２は、例えば、セルフテストのスケジュールの制御対象のサーバ２から、所定の時間（一定時間）周期でセルフテストの実施対象のファン２ｂの稼働ログを収集し、取得した稼働ログを稼働ログ情報３１ａに格納する。稼働ログには、ファンの回転数に関する情報、例えばファン２ｂの回転数又は回転率が含まれてよい。所定の時間は、例えばセルフテストの実施時間以上の時間であってもよい。

【0057】

稼働ログ情報収集部３２は、例えば制御対象のサーバ２（例えばセルフテスト実行部２３又は他のアプリケーション）の各々に、稼働ログを管理装置３に送信させるための指示を送信してよい。或いは、各サーバ２のセルフテスト実行部２３又は他のアプリケーションに、所定の時間周期で管理装置３に稼働ログを送信する機能を持たせてもよい。

【0058】

サーバ２は、例えば、稼働ログとしてファン２ｂの回転数を計測してよい。ファン２ｂの回転数は、例えば稼働ログを送信する時点の計測値であってもよいし、所定の時間における回転数の統計値等であってもよい。統計値としては、例えば最大値，平均値，重み付き平均値等が挙げられる。なお、サーバ２は、計測した回転数から回転率を算出し、算出した回転率を稼働ログとして管理装置３に送信してもよい。

【0059】

図６は、稼働ログ情報３１ａの一例を示す図である。稼働ログ情報３１ａは、稼働ログ（エントリ）を蓄積した情報である。図６の例では、稼働ログ情報３１ａには、稼働ログ情報収集部３２により収集された順に、実施対象ごとの複数の稼働ログが蓄積されてよい。

【0060】

図６に例示するように、稼働ログ情報３１ａは、サーバＩＤ，ファンＩＤ，計測時刻，ファン回転率（％）の項目を含んでよい。

【0061】

サーバＩＤは、稼働ログの送信元（計測元）のサーバ２の識別情報の一例である。ファンＩＤは、稼働ログの計測対象であるファン２ｂの識別情報の一例である。以下、稼働ログの計測対象である特定のファン２ｂを示す場合、サーバＩＤ：ｎ（１≦ｎ≦Ｎ），ファンＩＤ：ｍ（ｍは１以上の整数）を用いて、ＳｎＦｍと表記する場合がある。例えばサーバＩＤ：２，ファンＩＤ：１のファン２ｂをＳ２Ｆ１と表記する。

【0062】

計測時刻は、稼働ログが計測された時刻である。なお、計測時刻は、稼働ログ情報収集部３２が稼働ログを受信した時刻であってもよい。ファン回転率（％）は、ファン２ｂのファン出力の一例である。

【0063】

稼働ログ情報収集部３２は、例えば、サーバ２からファン２ｂの回転率を受信した場合には受信した当該回転率をファン回転率に設定してもよい。或いは、稼働ログ情報収集部３２は、サーバ２からファン２ｂの回転数を受信した場合には、当該回転数と当該ファン２ｂの最大回転数とを用いて回転率を算出し、算出した回転率をファン回転率に設定してもよい。この場合、管理装置３のメモリ部３１には、例えば管理者等により、各サーバ２が備える各ファン２ｂの最大回転数の情報が予め格納されてよい。

【0064】

なお、管理装置３は、制御対象となるサーバ２の各々のアドレス（例えばＩＰ（Internet Protocol）アドレス）のリストを例えばメモリ部３１に保持してよく、当該サーバ２のアドレスに向けて各種要求（指示）等を送信してよい。

【0065】

延伸判定部３３は、稼働ログ情報３１ａ及び制御定義情報３１ｂに基づき、取得された回転数に関する情報がセルフテストの合格基準に応じた条件を満たすか否かに応じて、ファン２ｂのセルフテストの実施予定時刻が延伸可能か否かを判定する。

【0066】

図７は、制御定義情報３１ｂの一例を示す図である。制御定義情報３１ｂは、各サーバ２におけるセルフテスト実行部２３による動作（セルフテストの実行）を制御するための定義情報である。図７に例示するように、制御定義情報３１ｂは、サーバＩＤ，ファンＩＤ，テスト間隔（時間），延伸可能回転率（％）の項目を含んでよい。

【0067】

サーバＩＤ，ファンＩＤは、それぞれ、制御対象のサーバ２，ファン２ｂの識別情報の一例である。テスト間隔（時間）は、サーバＩＤのセルフテスト実行部２３がファンＩＤのセルフテストを実行する時間間隔であり、セルフテストの実施間隔の一例である。

【0068】

延伸可能回転率（％）は、セルフテストの合格基準に応じた条件を定義する基準の一例であり、セルフテストの合格基準である基準回転率以下に設定された閾値の一例である。

【0069】

上述したように、ファン２ｂは、例えば冷却対象が最大負荷の際に所定のファン出力となるように調整される。ファン２ｂのセルフテストでは、例えば冷却対象の最大負荷時に当該所定のファン出力となることを保証するために、既定の入力電力の１００％（例えば最大電力）の負荷が所定時間に亘ってファン２ｂに供給される。

【0070】

しかし、サーバ２の運用（実働）の際に、セルフテストと同等の負荷が発生しているファン２ｂも存在し得る。このようなファン２ｂについては、冷却対象の最大負荷時に、所定のファン出力が得られることが保証、或いは、所定のファン出力が得られるであろうことが推定される。

【0071】

従って、一実施形態では、冷却対象の負荷が上昇しファン出力が閾値以上になった、換言すれば稼働ログ情報３１ａにおいてファン出力が延伸可能回転率以上になった、という実績を確認できた場合、当該ファン２ｂのセルフテストは実行されたものとして扱う。

【0072】

この場合、定期的なセルフテストは、ファン出力が延伸可能回転率以上になったタイミングで前倒しで実施されたものと見做すことができ、当該タイミングからテスト間隔で次回以降のセルフテストの実施が計画されてよい。換言すれば、当該ファン２ｂについての次回のセルフテストの実施を延伸（実施予定時刻を延期）することができる。

【0073】

延伸判定部３３は、稼働ログ情報３１ａを参照し、稼働ログ情報収集部３２により取得された回転数に関する情報が延伸可能回転率以上である場合に、当該ファン２ｂのセルフテストの実施計画を延伸する（スケジュールを先延ばしにする）と判定してよい。

【0074】

延伸判定部３３は、或るファン２ｂのセルフテストの実施計画を延伸すると判定した場合、延伸可能であることを示す制御情報、例えば設定フラグを、当該ファン２ｂと対応付けて有効化（例えばＯＮ）してよい。

【0075】

また、延伸判定部３３は、管理装置３（例えばＯＳ）の起動後、又は、制御対象のサーバ２（例えばセルフテスト実行部２３）の起動の検出後に、初回の実施計画を設定してよい。一例として、延伸判定部３３は、管理装置３の制御対象である複数のファン２ｂのうちの初回設定が未実施のファン２ｂの各々について、設定フラグを有効化してもよい。

【0076】

なお、延伸可能回転率は、セルフテストの合格基準である基準回転率と等しくてもよいし、基準回転率よりも小さくてもよい。延伸可能回転率が基準回転率よりも小さい場合、計測された回転率が延伸可能回転率以上、且つ、基準回転率未満となる場合がある。

【0077】

基準回転率は、冷却対象の負荷が最大の場合において期待されるファン出力である。一方、サーバ２のハードウェア性能が高いほど、又は、サーバ２で実行されるアプリケーションの処理負荷が小さいほど、冷却対象の負荷が最大になる状況の発生頻度は低くなる。冷却対象の負荷が最大になり難い環境においても、セルフテストの実施計画を延伸できるようにするために、基準回転率よりも小さい延伸可能回転率が設定されてもよい。延伸可能回転率は、例えば、ファン２ｂごとに、冷却対象の負荷の傾向，冷却対象の負荷とファン出力との相関関係等に基づき設定されてもよい。

【0078】

スケジュール設定部３４は、ファン２ｂのセルフテストの実施予定時刻を第１時刻としたセルフテストの実施計画について、実施予定時刻を、第１時刻よりも後の第２時刻に設定する。例えば、スケジュール設定部３４は、取得された回転数に関する情報がセルフテストの合格基準に応じた条件を満たすと延伸判定部３３により判定された場合に、制御対象のファン２ｂのセルフテストの実施計画を変更（延伸）してよい。

【0079】

スケジュール設定部３４は、例えばスケジュール情報２１ａの更新のために、制御対象のサーバ２の各々からスケジュール情報２１ａを収集し、収集したスケジュール情報２１ａをスケジュール情報３１ｃとしてメモリ部３１に格納してもよい。

【0080】

図８は、管理装置３に格納されたスケジュール情報３１ｃの一例を示す図である。図８に例示するように、スケジュール情報３１ｃは、サーバＩＤ，ファンＩＤ，次回実行時刻，実施時間（分）の項目を含んでよい。

【0081】

サーバＩＤは、スケジュール情報２１ａの送信元のサーバ２の識別情報の一例である。ファンＩＤ，次回実行時刻，実施時間（分）は、送信元のサーバ２から取得したスケジュール情報２１ａの内容である。

【0082】

スケジュール設定部３４は、例えば、延伸判定部３３により有効化された設定フラグと対応付けられたファン２ｂの各々について、制御定義情報３１ｂからテスト間隔を取得する。スケジュール設定部３４は、取得したテスト間隔を現在時刻（或いは稼働ログの計測時刻）に加算した時刻を、延伸対象のファン２ｂの変更後の次回実行時刻（第２時刻）として算出する。そして、スケジュール設定部３４は、延伸対象のファン２ｂを備えるサーバ２に、算出した次回実行時刻を送信する。

【0083】

これにより、ファン回転率が延伸可能回転率以上となったことをセルフテストの実行と見做して、次回のセルフテストのスケジュールを、予定されていたセルフテストの実施時刻よりも後に設定することができる。従って、セルフテストの実行を先延ばしでき、消費電力の増加を抑制できる。

【0084】

また、スケジュール設定部３４は、管理装置３（例えばＯＳ）の起動後、又は、制御対象のサーバ２（例えばセルフテスト実行部２３）の起動の検出後に、初回の実施計画を設定してよい。一例として、スケジュール設定部３４は、管理装置３の制御対象である複数のファン２ｂのうちの初回設定が未実施のファン２ｂの各々について、現在時刻に制御定義情報３１ｂのファン２ｂごとのテスト間隔を加算した次回実行時刻を算出し、当該ファン２ｂを備えるサーバ２に送信してもよい。

【0085】

例えば、スケジュール設定部３４は、延伸判定部３３により複数のファン２ｂのそれぞれについてＯＮにセットされた設定フラグに基づき、初回の実施計画として、複数のファン２ｂのそれぞれを備えるサーバ２に次回実行時刻を送信してよい。

【0086】

サーバ２は、スケジュール設定部３４から受信した次回実行時刻を、スケジュール情報２１ａの該当するファン２ｂのエントリに設定する。

【0087】

スケジュール設定部３４は、スケジュール情報３１ｃに次回実行時刻を設定すると、当該ファン２ｂについての設定フラグを無効化（例えばＯＦＦ）してよい。

【0088】

図９は、スケジュール設定処理の一例を説明するための図である。図９では、管理装置３による制御対象の１つであるサーバＩＤ：１，ファンＩＤ：１のファン２ｂ（Ｓ１Ｆ１）に着目する。稼働ログ情報収集部３２は、例えば１０分間隔でファン２ｂの稼働ログを収集する。

【0089】

延伸判定部３３は、稼働ログが収集される都度（例えば１０分間隔で）、収集されたファン回転率と、制御定義情報３１ｂの延伸可能回転率：７０％とを比較し、ファン回転率が延伸可能回転率以上となった場合に設定フラグをＯＮにセットする。図９の例では、延伸判定部３３は、９：１０，２１：００のそれぞれのタイミングで、ファン回転率：８０％が延伸可能回転率：７０％以上となったため、設定フラグをＯＮにセットする。

【0090】

スケジュール設定部３４は、Ｓ１Ｆ１の設定フラグがＯＮになったことを検出すると、スケジュール情報３１ｃにおける当該Ｓ１Ｆ１の次回実行時刻に、現在時刻と制御定義情報３１ｂのテスト間隔とを加算した時刻を設定する。図９の例では、スケジュール設定部３４は、９：１０に次回実行時刻として２１：１０を設定し（矢印Ａ１参照）、２１：００に次回実行時刻として（翌日の）９：００を設定する（矢印Ａ２参照）。

【0091】

これにより、図９に表示されている時間範囲において、Ｓ１Ｆ１のセルフテストを矢印Ａ１及びＡ２の２回に亘って延伸することができ、セルフテストの２回分の消費電力を削減できる。

【0092】

図１０は、スケジュール設定処理の他の例を説明するための図である。図１０では、管理装置３による制御対象の少なくとも一部のファン２ｂとして、以下の３つのファン２ｂに着目する。稼働ログ情報収集部３２は、例えば１０分間隔でそれぞれのファン２ｂの稼働ログを収集する。なお、Ｓ１Ｆ１については図９と同様である。
サーバＩＤ：１，ファンＩＤ：１のファン２ｂ（Ｓ１Ｆ１）
サーバＩＤ：１，ファンＩＤ：２のファン２ｂ（Ｓ１Ｆ２）
サーバＩＤ：２，ファンＩＤ：１のファン２ｂ（Ｓ２Ｆ１）

【0093】

Ｓ１Ｆ２について、延伸判定部３３は、稼働ログが収集される都度、収集されたファン回転率と、制御定義情報３１ｂの延伸可能回転率：７０％とを比較し、ファン回転率が延伸可能回転率以上となった場合に設定フラグをＯＮにセットする。図１０の例では、延伸判定部３３は、９：２０にファン回転率：７０％が延伸可能回転率：７０％以上となり、２１：２０にファン回転率：１００％が延伸可能回転率：７０％以上となったため、それぞれのタイミングで設定フラグをＯＮにセットする。

【0094】

スケジュール設定部３４は、Ｓ１Ｆ２の設定フラグがＯＮになったことを検出すると、スケジュール情報３１ｃにおける当該Ｓ１Ｆ２の次回実行時刻に、現在時刻と制御定義情報３１ｂのテスト間隔とを加算した時刻を設定する。図１０の例では、スケジュール設定部３４は、９：２０にスケジュール情報３１ｃに次回実行時刻として２１：２０を設定し（矢印Ｂ１参照）、２１：２０にスケジュール情報３１ｃに次回実行時刻として翌日の９：２０を設定する（矢印Ｂ２参照）。

【0095】

なお、図１０に矢印Ｂ３で示すように、サーバＩＤ：１では、スケジュール情報３１ｃ（２１ａ）に設定されているように２１：２０にＳ１Ｆ２のセルフテストが実行されている。当該時刻では、Ｓ１Ｆ２に供給可能な最大電力が供給されるため、ファン回転率が１００％になり、延伸判定部３３により設定フラグがＯＮにセットされる。

【0096】

このように、一実施形態に係る管理装置３によれば、スケジュール情報２１ａに従ってファン２ｂのセルフテストが実行された場合にも、テスト間隔に応じた次回実行時刻を適切に設定することができる。

【0097】

また、図１０に表示されている時間範囲において、Ｓ１Ｆ２のセルフテストを矢印Ｂ１の１回分延伸することができ、セルフテストの１回分の消費電力を削減できる。

【0098】

Ｓ２Ｆ１について、延伸判定部３３は、稼働ログが収集される都度、収集されたファン回転率と、制御定義情報３１ｂの延伸可能回転率：８０％とを比較し、ファン回転率が延伸可能回転率以上となった場合に設定フラグをＯＮにセットする。図１０の例では、延伸判定部３３は、２０：５０にファン回転率：８０％が延伸可能回転率：８０％以上となったため、当該タイミングで設定フラグをＯＮにセットする。

【0099】

スケジュール設定部３４は、Ｓ２Ｆ１の設定フラグがＯＮになったことを検出すると、スケジュール情報３１ｃにおける当該Ｓ２Ｆ１の次回実行時刻に、現在時刻と制御定義情報３１ｂのテスト間隔とを加算した時刻を設定する。図１０の例では、スケジュール設定部３４は、２０：５０にスケジュール情報３１ｃに次回実行時刻として翌日の８：５０を設定する（矢印Ｃ１参照）。

【0100】

これにより、図１０に表示されている時間範囲において、Ｓ２Ｆ１のセルフテストを矢印Ｃ１の１回分延伸することができ、セルフテストの１回分の消費電力を削減できる。

【0101】

以上のように、一実施形態に係る管理装置３によれば、稼働ログ情報収集部３２は、ファン２ｂのセルフテストの実施予定時刻を第１時刻としたセルフテストの実施計画が設定されたサーバ２から、実施予定時刻よりも前の所定時刻におけるファン２ｂの回転数に関する情報を取得する。また、延伸判定部３３及びスケジュール設定部３４は、取得された回転数に関する情報がセルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、実施計画における実施予定時刻を、第１時刻よりも後の第２時刻に設定する。

【0102】

これにより、サーバ２におけるファン２ｂのセルフテストの実施頻度を最低限の頻度に抑えることができ、セルフテストの実施に伴うサーバ２又はシステム１全体の消費電力の増加を抑制することができる。

【0103】

また、セルフテストの実施によりファン２ｂの部品が劣化するが、セルフテストの実施頻度を低減させることで、ファン２ｂの部品の劣化を軽減させることができ、ファン２ｂの製品寿命を延ばすことが可能となる。

【0104】

〔Ｃ〕動作例
次に、一実施形態に係るシステム１の動作例を説明する。図１１は、一実施形態に係るシステム１における管理装置３の動作例を説明するためのフローチャートである。なお、図１１に示すフローチャートは、例えば管理装置３の制御対象の複数のファン２ｂ（サーバＩＤ，ファンＩＤの組み合わせ）の各々について、及び、セルフテスト実行部２３の起動が検出されたサーバ２に備えられる複数のファン２ｂの各々について、順次又は並行して実行されてよい。以下の説明では、制御対象の複数のファン２ｂのうちの１つのファン２ｂ（以下、「制御対象ファン２ｂ」と表記する）に着目する。

【0105】

図１１に例示するように、延伸判定部３３は、制御定義情報３１ｂから制御対象ファン２ｂのテスト間隔，延伸可能回転率を取得する（ステップＳ１）。

【0106】

延伸判定部３３は、制御対象ファン２ｂに対応する設定フラグをＯＮにする（ステップＳ２）。

【0107】

スケジュール設定部３４は、制御対象ファン２ｂに対応する設定フラグがＯＮか否かを判定する（ステップＳ３）。

【0108】

設定フラグがＯＮである場合（ステップＳ３でＹＥＳ）、スケジュール設定部３４は、現在時刻にステップＳ１で取得したテスト間隔を加算した時刻を、スケジュール情報３１ｃにおける制御対象ファン２ｂの次回実行時刻に設定する（ステップＳ４）。

【0109】

スケジュール設定部３４は、例えば設定した次回実行時刻を、制御対象ファン２ｂを備えるサーバ２に送信することで、当該サーバ２のスケジュール情報２１ａに次回実行時刻を設定させてよい。スケジュール設定部３４は、制御対象ファン２ｂの制御フラグをＯＦＦにし（ステップＳ５）、処理がステップＳ３に移行する。

【0110】

なお、ステップＳ１からＳ５までの一連のフロー（ステップＳ１及びＳ２，ステップＳ３のＹＥＳ，ステップＳ４及びＳ５のフロー）は、管理装置３の起動後における、ファン２ｂのスケジュール情報３１ｃの初回設定処理の一例である。

【0111】

ステップＳ３において、設定フラグがＯＦＦである場合（ステップＳ３でＮＯ）、稼働ログ情報収集部３２は、一定時間待機し（ステップＳ６）、制御対象ファン２ｂの稼働ログを収集し、ファン回転率を取得する（ステップＳ７）。稼働ログ情報収集部３２は、例えば取得した稼働ログに含まれるファン回転率、又は、稼働ログに含まれる回転数から算出したファン回転率を稼働ログ情報３１ａに格納してよい。

【0112】

延伸判定部３３は、稼働ログ情報収集部３２が取得したファン回転率が、ステップＳ１で取得した延伸可能回転率以上であるか否かを判定する（ステップＳ８）。

【0113】

ファン回転率が延伸可能回転率未満である場合（ステップＳ８でＮＯ）、処理がステップＳ３に移行する。

【0114】

ステップＳ８において、ファン回転率が延伸可能回転率以上である場合（ステップＳ８でＹＥＳ）、延伸判定部３３は、制御対象ファン２ｂに対応する設定フラグをＯＮにし（ステップＳ９）、処理がステップＳ３に移行する。

【0115】

なお、ステップＳ５，ステップＳ８のＮＯ又はステップＳ９からステップＳ３に処理が移行した後の、ステップＳ３からＳ９までのフローは、初回設定処理後に所定の時間ごとに行なわれるスケジュール変更処理の一例である。

【0116】

以上のように、管理装置３は、制御対象の複数のファン２ｂの各々について、所定の時間ごとに稼働ログを収集し、稼働ログから得られるファン回転率が延伸可能回転率以上の場合にスケジュール情報２１ａを更新（延伸）する。

【0117】

〔Ｄ〕変形例
次に、一実施形態に係るシステム１の変形例について説明する。

【0118】

〔Ｄ－１〕第１変形例
一実施形態に係るスケジュール設定部３４は、制御フラグがＯＮの場合に、現在時刻にテスト間隔を加算することで次回実行時刻を算出するものとしたが、これに限定されるものではない。

【0119】

セルフテストの実施対象であるファン２ｂの数が増加するにつれて、セルフテストの実施に伴うシステム１の消費電力が増加する。ファン２ｂの数が増加する場合としては、例えばサーバ２に複数のファン２ｂが備えられる場合、並びに、システム１が複数（例えば多数）のサーバ２を備える場合の一方又は双方の場合が挙げられる。例えば、システム１が複数（一例として、数十～数百台）のサーバ２を備えるデータセンタ等の施設である場合を想定する。

【0120】

上述したように、セルフテストの実施計画は、例えば管理装置３の起動後、又は、サーバ２の起動の検出後に、テスト間隔の経過ごとに定期的に実施するように設定される。このため、管理装置３が起動してからの経過時間が短いほど、制御対象のサーバ２の台数が多いほど、又は、同時に起動したサーバ２の台数が多いほど、同時刻帯におけるセルフテストの実行数が多くなる。これにより、当該時刻帯におけるシステム１の消費電力が急峻に増加する可能性がある。

【0121】

そこで、第１変形例に係るスケジュール設定部３４は、システム１全体における電力消費量を分散させるように、複数のファン２ｂの各々の次回実行時刻を算出してよい。例えば、スケジュール設定部３４は、設定フラグがＯＮであるファン２ｂの数が所定数を超える場合、同時刻帯の次回実行時刻が設定されるファン２ｂの数を所定数以内に制限するように、次回実行時刻を算出してよい。

【0122】

図１２は、一実施形態に係る第１変形例におけるセルフテストの次回実行時刻の分散設定処理を説明するための図である。図１２では、簡単のために、設定フラグがＯＮであるファン２ｂの数（セルフテスト実行数の最大数）が９であり、閾値である所定数が３である場合を例に挙げて説明する。

【0123】

図１２の符号Ｄ１には、次回実行時刻を同時刻帯に設定する場合におけるセルフテストの次回実行時刻と実行数との関係を示す。符号Ｄ１では、例えば４：００（テスト間隔が１２時間の場合）に管理装置３が起動し、初回設定処理により、９つのファン２ｂについて設定フラグがＯＮになり、これらのファン２ｂの次回実行時刻が１６：００に設定された例を示す。

【0124】

図１２の符号Ｄ２には、次回実行時刻を分散して設定する場合におけるセルフテストの次回実行時刻と実行数との関係を示す。符号Ｄ２においても、例えば４：００（テスト間隔が１２時間の場合）に管理装置３が起動し、初回設定処理により、９つのファン２ｂについて設定フラグがＯＮになった例を示す。

【0125】

スケジュール設定部３４は、設定フラグがＯＮであるファン２ｂの数と、所定数とを比較する。スケジュール設定部３４は、ファン２ｂの数が所定数を超える場合、所定数を超える数のファン２ｂについて、次回実行時刻が同一の時刻帯に設定されるファン２ｂの数が所定数以下となるように（時刻帯が重ならないように）次回実行時刻を調整し、スケジュール情報３１ｃに設定する。

【0126】

なお、時刻帯とは、例えば稼働ログが収集される時間間隔（≧セルフテストの実行時間）である一定時間の範囲であってよい。所定数は、例えば、システム１において同時刻帯にセルフテストが実行されても消費電力が許容範囲となる上限の同時実行数であり、例えば管理者等により予め設定されてよい。

【0127】

スケジュール設定部３４は、例えば、同時刻帯にセルフテストが実行されるファン２ｂの数が所定数以下となるように、現在時刻＋テスト間隔により得られる次回実行時刻と近似する時刻を、次回実行時刻の前方検索及び後方検索によって探索してよい。

【0128】

一例として、符号Ｄ２に示すように、スケジュール設定部３４は、所定数である３つのファン２ｂ（濃い網掛けの四角枠参照）については、一実施形態と同様に、現在時刻＋テスト間隔の次回実行時刻（１６：００）を算出する。

【0129】

また、スケジュール設定部３４は、所定数を超える６つのファン２ｂのうち、所定数である３つ以下のファン２ｂ（斜線の四角枠参照）については、現在時刻＋テスト間隔－一定時間（例えば１０分）の次回実行時刻（１５：５０）を算出する。

【0130】

さらに、スケジュール設定部３４は、残りの３つのファン２ｂ（薄い網掛けの四角枠参照）については、現在時刻＋テスト間隔＋一定時間（例えば１０分）の次回実行時刻（１６：１０）を算出する。

【0131】

図１２に示す例では、次回実行時刻を１６：００の前後１つずつの時刻帯（１５：５０，１６：１０）に設定することで、９つのファン２ｂの次回実行時刻を分散して設定可能である。なお、分散させるための次回実行時刻は、例えば一般化した下記式（１）により算出されてよい。下記式（１）において、ｉは１からｊまで増加する変数である。ｊは、設定フラグがＯＮであるファン２ｂの数をＸ、所定数をＹとすると、下記式（２）により算出されてよい。
現在時刻＋テスト間隔±一定時間×ｉ （｜ｉ｜≦｜ｊ｜） （１）
ｊ＝（Ｘ－Ｙ）／（２×Ｙ） （２）

【0132】

上記式（１）及び（２）は例示であり、分散させるための次回実行時刻は、種々の手法により算出されてよい。

【0133】

以上のように、第１変形例によれば、各時刻帯において、セルフテストの実行数を所定数以下に抑えることができ、システム１の消費電力の急峻な増加を抑制することができる。従って、消費電力の増加によりシステム１又はサーバ２が停止する可能性を低減できる。また、このような停止を回避するために過剰な電源設備を導入せずに済むため、費用の増加を抑制できる。

【0134】

〔Ｄ－２〕第２変形例
一実施形態及び第１変形例では、管理装置３が制御対象のサーバ２の各々におけるファン２ｂのセルフテストのスケジュールを制御するものとして説明したが、これに限定されるものではない。管理装置３の機能は、例えばサーバ２に備えられてもよい。

【0135】

図１３は、一実施形態に係る第２変形例におけるサーバ２Ａのソフトウェア構成を示すブロック図である。サーバ２Ａは、セルフテスト制御装置の一例である。図１３に例示するように、サーバ２Ａは、図３に示すメモリ部２１に代えて、メモリ部２１Ａを備えるとともに、図３に示すＯＳ２２及びセルフテスト実行部２３に加えて、稼働ログ情報収集部３２，延伸判定部３３及びスケジュール設定部３４の機能を備えてよい。ＯＳ２２及びセルフテスト実行部２３は、一実施形態と同様である。

【0136】

メモリ部２１Ａは、メモリ部２１が記憶するスケジュール情報２１ａ及びテストログ情報２１ｂに加えて、稼働ログ情報３１ａ及び制御定義情報３１ｂを記憶可能であってよい。なお、稼働ログ情報３１ａ及び制御定義情報３１ｂには、当該制御部２０Ａが備えるファン２ｂについての情報が格納されればよい。

【0137】

稼働ログ情報収集部３２，延伸判定部３３及びスケジュール設定部３４は、一実施形態と同様の手法により、サーバ２Ａが備えるファン２ｂを対象として、稼働ログの収集（稼働ログ情報３１ａの生成），延伸判定，及びスケジュール設定を行なってよい。スケジュール設定部３４は、例えばスケジュール情報２１ａに次回設定時刻を設定してよい。

【0138】

なお、サーバ２Ａを備えるシステム１に第１変形例に係る手法を適用する場合、システム１が備える複数のサーバ２Ａのうちの所定のサーバ２Ａが、次回実行時刻の分散設定を制御してもよい。例えば、所定のサーバ２Ａ（スケジュール設定部３４）は、他のサーバ２Ａの各々からスケジュール情報２１ａ，制御定義情報３１ｂ及び設定フラグを取得し、取得した情報に基づき算出した次回実行時刻を、各サーバ２Ａに送信してもよい。

【0139】

また、システム１は、第２変形例に係るサーバ２Ａと、一実施形態又は第１変形例に係るサーバ２及び管理装置３とを備えてもよい。この場合、管理装置３は、管理装置３の制御対象となるサーバ２について、セルフテストのスケジュールを制御すればよい。また、このようなシステム１に第１変形例に係る手法を適用する場合、サーバ２Ａは、管理装置３にスケジュール情報２１ａ，制御定義情報３１ｂ及び設定フラグを送信してもよい。この場合、管理装置３は、管理装置３の制御対象となるサーバ２と、サーバ２Ａとについて、次回実行時刻の分散設定を行なってもよい。

【0140】

〔Ｅ〕その他
上述した実施形態及び変形例に係る技術は、以下のように変形、変更して実施することができる。

【0141】

例えば、図３に示すサーバ２が備える機能ブロック２２及び２３，管理装置３が備える機能ブロック３２～３４は、任意の組み合わせで併合してもよく、それぞれ分割してもよい。また、図１３に示すサーバ２Ａが備える機能ブロック２２，２３及び３２～３４は、任意の組み合わせで併合してもよく、それぞれ分割してもよい。

【0142】

また、例えば、図３に示すメモリ部２１が格納する情報２１ａ及び２１ｂ，メモリ部３１が格納する情報３１ａ～３１ｃは、任意の組み合わせで併合してもよく、それぞれ分割してもよい。また、例えば、図１３に示すメモリ部２１Ａが格納する情報２１ａ，２１ｂ，３１ａ及び３１ｂは、任意の組み合わせで併合してもよく、それぞれ分割してもよい。

【0143】

さらに、図３に示す管理装置３は、複数の装置がネットワークを介して互いに連携することにより、各処理機能を実現してもよい。一例として、メモリ部３１はＤＢサーバ、稼働ログ情報収集部３２，延伸判定部３３及びスケジュール設定部３４はアプリケーションサーバ又はＷｅｂサーバ等であってもよい。この場合、ＤＢサーバ、アプリケーションサーバ及びｗｅｂサーバが、ネットワークを介して互いに連携することにより、管理装置３としての各処理機能を実現してもよい。この場合においても、管理装置３としての各処理機能の少なくとも一部をサーバ２が備えてもよい。

【0144】

また、一実施形態では、セルフテストの実施単位（実施計画の設定単位）がファン２ｂ単位であるものとしたが、これに限定されるものではない。セルフテストの実施対象は、ファン２ｂ単位ではなくサーバ２単位であってもよい。この場合、サーバ２のセルフテスト実行部２３は、サーバ２に対応付けられた単一の次回実行時刻に従い、サーバ２が備える複数のファン２ｂのセルフテストを並行して実行してよい。

【0145】

この場合、管理装置３のスケジュール設定部３４は、サーバ２が備える全てのファン２ｂの設定フラグが、同時刻帯（又は所定範囲の時刻帯）でＯＮになった場合、換言すれば、ＡＮＤ条件を満たす場合に、次回実行時刻を算出してもよい。所定範囲の時刻帯とは、２つ以上の時刻帯であってよく、例えば管理者等により予め設定されてよい。

【0146】

一実施形態に係る手法によれば、延伸判定部３３及びスケジュール設定部３４による次回実行時刻の延伸により、セルフテストが長期間に亘って実行されないファン２ｂが現われる場合がある。このようなファン２ｂについては、テストログ情報２１ｂが出力されないため、管理者等による当該ファン２ｂの状況の把握が困難になる可能性がある。

【0147】

そこで、スケジュール設定部３４は、例えば、次回実行時刻を算出する際に、延伸の累積時間が、延伸を可能とする時間の上限（延伸可能上限時間）を超える場合には、次回実行時刻の算出を抑制してもよい。延伸可能上限時間は、セルフテストの未実施の許容時間であり、例えば管理者等により予め設定されてよい。

【0148】

なお、上記に代えて又は加えて、スケジュール設定部３４は、次回実行時刻を算出する際に、延伸の累積回数が、延伸を可能とする回数の上限（延伸可能上限回数）を超える場合に、次回実行時刻の算出を抑制してもよい。延伸可能上限回数は、例えば管理者等により予め設定されてよい。

【0149】

これにより、サーバ２では、前回の延伸によって設定された次回実行時刻に当該ファン２ｂのセルフテストが実施されることになり、当該ファン２ｂのテストログ情報２１ｂを蓄積することができる。

【0150】

また、上述した説明における、スケジュール情報２１ａ及び３１ｃの実施時間，制御定義情報３１ｂのテスト間隔及び延伸可能回転率，稼働ログの収拾周期である一定時間等の各々の値は例示に過ぎず、種々の値が用いられてよい。

【0151】

〔Ｆ〕付記
以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。

【0152】

（付記１）
情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得し、
取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定する、
処理をコンピュータに実行させる、セルフテスト制御プログラム。

【0153】

（付記２）
前記回転数に関する情報は、前記ファンの回転数と前記ファンに固有の最大回転数とに基づく回転率であり、
前記条件は、取得された前記回転率が、前記合格基準である基準回転率以下に設定された閾値以上であることを含む、
付記１に記載のセルフテスト制御プログラム。

【0154】

（付記３）
前記設定する処理は、前記セルフテストの実施計画における実施間隔を現在時刻に加算することで前記第２時刻を算出する処理を含む、
付記１又は付記２に記載のセルフテスト制御プログラム。

【0155】

（付記４）
前記取得する処理、及び、前記設定する処理を、複数の前記ファンの各々について一定時間ごとに実行する、
処理を前記コンピュータに実行させる、
付記１～付記３のいずれか１項に記載のセルフテスト制御プログラム。

【0156】

（付記５）
前記設定する処理は、前記第２時刻を算出する際に、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンの数が所定数以上である場合、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンのうち、前記所定数を超えるファンについての前記第２時刻を、前記時刻帯とは異なる時刻帯に設定する処理を含む、
付記４に記載のセルフテスト制御プログラム。

【0157】

（付記６）
情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得し、
取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定する、
処理をコンピュータが実行する、セルフテスト制御方法。

【0158】

（付記７）
前記回転数に関する情報は、前記ファンの回転数と前記ファンに固有の最大回転数とに基づく回転率であり、
前記条件は、取得された前記回転率が、前記合格基準である基準回転率以下に設定された閾値以上であることを含む、
付記６に記載のセルフテスト制御方法。

【0159】

（付記８）
前記設定する処理は、前記セルフテストの実施計画における実施間隔を現在時刻に加算することで前記第２時刻を算出する処理を含む、
付記６又は付記７に記載のセルフテスト制御方法。

【0160】

（付記９）
前記取得する処理、及び、前記設定する処理を、複数の前記ファンの各々について一定時間ごとに実行する、
処理を前記コンピュータが実行する、
付記６～付記８のいずれか１項に記載のセルフテスト制御方法。

【0161】

（付記１０）
前記設定する処理は、前記第２時刻を算出する際に、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンの数が所定数以上である場合、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンのうち、前記所定数を超えるファンについての前記第２時刻を、前記時刻帯とは異なる時刻帯に設定する処理を含む、
付記９に記載のセルフテスト制御方法。

【0162】

（付記１１）
情報処理装置が備えるファンのセルフテストの実施予定時刻よりも前の所定時刻における前記ファンの回転数に関する情報を取得し、
取得された前記回転数に関する情報が前記セルフテストの合格基準に応じた条件を満たす場合に、前記実施予定時刻を、第１時刻から前記第１時刻よりも後の第２時刻に設定する、
制御部を備える、セルフテスト制御装置。

【0163】

（付記１２）
前記回転数に関する情報は、前記ファンの回転数と前記ファンに固有の最大回転数とに基づく回転率であり、
前記条件は、取得された前記回転率が、前記合格基準である基準回転率以下に設定された閾値以上であることを含む、
付記１１に記載のセルフテスト制御装置。

【0164】

（付記１３）
前記制御部は、前記設定する処理において、前記セルフテストの実施計画における実施間隔を現在時刻に加算することで前記第２時刻を算出する、
付記１１又は付記１２に記載のセルフテスト制御装置。

【0165】

（付記１４）
前記制御部は、前記取得する処理、及び、前記設定する処理を、複数の前記ファンの各々について一定時間ごとに実行する、
付記１１～付記１３のいずれか１項に記載のセルフテスト制御装置。

【0166】

（付記１５）
前記制御部は、前記設定する処理において、前記第２時刻を算出する際に、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンの数が所定数以上である場合、前記第２時刻が同一の時刻帯となるファンのうち、前記所定数を超えるファンについての前記第２時刻を、前記時刻帯とは異なる時刻帯に設定する、
付記１４に記載のセルフテスト制御装置。

【符号の説明】

【0167】

１ システム
１ａ ネットワーク
１０ コンピュータ
１０ａ プロセッサ
１０ｂ グラフィック処理装置
１０ｃ メモリ
１０ｄ 記憶装置
１０ｅ ＩＦ装置
１０ｆ ＩＯ装置
１０ｇ 読取装置
１０ｈ プログラム
１０ｉ 記録媒体
１０ｊ バス
２，２Ａ サーバ
２ａ，１０ａ プロセッサ
２ｂ ファン
２０，２０Ａ，３０ 制御部
２１，２１Ａ，３１ メモリ部
２１ａ，３１ｃ スケジュール情報
２１ｂ テストログ情報
２２ ＯＳ
２３ セルフテスト実行部
３ 管理装置
３１ａ 稼働ログ情報
３１ｂ 制御定義情報
３２ 稼働ログ情報収集部
３３ 延伸判定部
３４ スケジュール設定部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】