特開 2025-30232 画像形成装置、劣化状態判断方法、及び、プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2025030232

(43)【公開日】2025-03-07

(54)【発明の名称】画像形成装置、劣化状態判断方法、及び、プログラム

(51)【国際特許分類】

   G03G 21/00 20060101AFI20250228BHJP

   B65H 7/14 20060101ALI20250228BHJP

   B41J 29/38 20060101ALI20250228BHJP

【ＦＩ】

G03G21/00 510

B65H7/14

B41J29/38 350

B41J29/38 301

【審査請求】未請求

【請求項の数】22

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023135345

(22)【出願日】2023-08-23

(71)【出願人】

【識別番号】000001270

【氏名又は名称】コニカミノルタ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100117651

【弁理士】

【氏名又は名称】高垣 泰志

(72)【発明者】

【氏名】酒井 克英

(72)【発明者】

【氏名】野村 毅

【テーマコード（参考）】

2C061

2H270

3F048

【Ｆターム（参考）】

2C061AP01

2C061AQ06

2C061AR01

2C061AS02

2C061BB08

2C061BB10

2C061BB11

2C061BB19

2C061BB37

2C061HH03

2C061HJ10

2C061HK11

2C061HK23

2C061HV02

2C061HV19

2C061HV23

2C061HV26

2C061HV30

2C061HV32

2C061HV35

2C061KK03

2C061KK06

2C061KK35

2H270KA62

2H270LA01

2H270LD05

2H270MB27

2H270MB28

2H270NC02

2H270NC03

2H270NC20

2H270NC23

2H270QB01

2H270QB10

2H270RA04

2H270RB07

2H270ZC04

2H270ZC05

2H270ZC06

3F048AA01

3F048BB09

3F048BB10

3F048BC03

3F048DB15

3F048DC13

(57)【要約】

【課題】電磁波ノイズに対する耐量に個体差があっても、電磁波ノイズの影響による検知素子の劣化状態を適切に判断できるようにする。
【解決手段】画像形成装置１は、特定の状態を検知して所定の出力信号ＳＩＧを出力する検知素子１８と、出力信号ＳＩＧの状態に応じて、検知素子ＳＩＧが交換時期に至るまでの検知素子ＳＩＧの劣化状態を判断する判断部６２と、を備える。例えば、判断部６２は、出力信号ＳＩＧに基づいて電磁波ノイズに対する検知素子１８の耐量を測定し、耐量に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断する。また例えば、判断部６２は、検知素子１８が特定の状態を検知してから出力信号ＳＩＧが確定するまでの状態に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断する。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

特定の信号を受け付ける受付部と、前記受付部が受け付けた特定の信号に基づき所定の出力値を出力する出力部とを備える検知素子と、
前記出力部からの出力の状況に応じて、前記検知素子の交換が必要となる状態に至るまでの劣化状態を判断する判断部と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。

【請求項2】

前記検知素子は、特定の状態を検知した場合に所定の出力値となる出力信号を出力し、
前記判断部は、前記出力信号として出力される出力値の状態に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。

【請求項3】

前記判断部は、前記出力値に基づいて電磁波ノイズに対する前記検知素子の耐量を測定し、前記耐量に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。

【請求項4】

前記判断部は、前記検知素子が前記特定の状態を検知してから前記出力値が確定するまでの状態に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。

【請求項5】

前記判断部は、前記検知素子の劣化状態として、前記検知素子の準故障状態と故障状態とを区別して判断することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。

【請求項6】

前記検知素子は、投光部と受光部とを有し、
前記受光部は、前記投光部から照射される光を受光した場合の受光量に応じて前記出力信号を出力することを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。

【請求項7】

前記判断部は、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。

【請求項8】

前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生回数をカウントし、前記不一致発生回数に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。

【請求項9】

前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が反転した反転回数をカウントし、前記反転回数に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。

【請求項10】

前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生確率を算出し、前記不一致発生確率に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。

【請求項11】

前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化を検出する検出処理を複数回繰り返し行い、複数回の検出処理において前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生確率を算出し、前記不一致発生確率に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。

【請求項12】

前記判断部は、前記受光部に流れる出力電流を測定し、前記出力電流の測定結果に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。

【請求項13】

前記判断部は、前記投光部に流れる電流を変化させ、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化に基づいて前記受光部に流れる出力電流を測定することを特徴とする請求項１２に記載の画像形成装置。

【請求項14】

前記判断部は、前記受光部に接続されるプルアップ抵抗を変化させ、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化に基づいて前記受光部に流れる出力電流を測定することを特徴とする請求項１２に記載の画像形成装置。

【請求項15】

前記判断部は、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生回数が所定回数以上である場合、前記受光部に流れる出力電流を測定し、前記出力電流の測定結果に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。

【請求項16】

外部装置と通信を行う通信部と、
前記外部装置から受信する情報に基づき、前記検知素子の劣化状態を判断するか否かを決定する決定部と、
を更に備え、
前記判断部は、前記決定部によって前記検知素子の劣化状態を判断すると決定された場合に、前記出力部からの出力の状況に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。

【請求項17】

電磁波ノイズを検知して前記検知素子の劣化状態を判断するか否かを決定する決定部、
を更に備え、
前記判断部は、前記決定部によって前記検知素子の劣化状態を判断すると決定された場合に、前記出力部からの出力の状況に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。

【請求項18】

前記検知素子の延命処理を行う延命処理部、
を備え、
前記判断部は、前記検知素子の劣化状態に基づき、前記検知素子の延命処理が可能であるか否かを判断し、
前記延命処理部は、前記判断部によって前記検知素子の延命処理が可能であると判断された場合に前記検知素子の延命処理を行うことを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。

【請求項19】

前記延命処理部は、前記投光部に流れる電流を増加させることにより、前記検知素子の延命処理を行うことを特徴とする請求項１８に記載の画像形成装置。

【請求項20】

前記延命処理部は、前記受光部に接続されるプルアップ抵抗を大きくすることにより、前記検知素子の延命処理を行うことを特徴とする請求項１８に記載の画像形成装置。

【請求項21】

出力信号を出力する検知素子を備えた画像形成装置において、前記検知素子の劣化状態を判断する劣化状態判断方法であって、
前記出力信号の状態に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする劣化状態判断方法。

【請求項22】

出力信号を出力する検知素子を備えた画像形成装置において実行されるプログラムであって、前記画像形成装置に、
前記出力信号の状態に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断するステップ、
を実行させることを特徴とするプログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、画像形成装置、劣化状態判断方法、及び、プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

電気機器が動作すると、電磁波ノイズが発生する。電磁波ノイズは、電気部品の特性を変化させたり、電機部品を破損させたりする。そのため、電磁波ノイズは、電気機器に誤動作を生じさせる要因のひとつである。ＭＦＰ（Multifunction Peripherals）などの画像形成装置も、動作時に電磁波ノイズを発生する。周辺にある他製品に影響を与えないようにするため、画像形成装置には、電磁波ノイズを所定量以下に抑えるための規格が設けられている。また、他製品からの電磁波ノイズを受けて画像形成装置が誤動作や破損することがないように、画像形成装置には、電磁波ノイズに対する耐量の規格も設けられている。

【0003】

画像形成装置に実装されている電気部品も、動作時に電磁波ノイズを発生したり、外部からの電磁波ノイズの影響を受けたりする。電気部品によっては、外部からの電磁波ノイズの影響を受けて特性が次第に変化していくことがある。初期状態から特性が少しずつ変化しているにもかかわらず、ユーザーは部品の特性の変化に気付かず、画像形成装置を使用し続けることになる。そのような状況でユーザーが画像形成装置を使用しているとき、電磁波ノイズの影響を受けて電気部品が誤動作していることがある。例えば、画像形成装置において電気部品が誤動作すると、ジョブの実行を正常に終了できなくなる。

【0004】

例えばセンサーなどの電気部品の電磁波ノイズに対する耐量は、誤動作するかどうかで決まる。誤動作するかどうかは、電気部品の特性が電磁波ノイズの影響を受けて変化しているかどうかで決まる。そのため、電気部品の誤動作を未然に防ぐためには、電気部品の特性を評価する必要がある。

【0005】

従来、複数の部品から構成される画像形成装置において、部品から発生する所定周波数のノイズを検出し、ノイズの強度を予め記憶されている所定の基準値と比較し、その比較結果に基づいて他の部品（制御回路）の状態を判定して報知する技術が提案されている（例えば、特許文献１）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【特許文献1】特開平６－１０２７２４号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

電磁波ノイズに対する耐量は、部品ごとに個体差がある。特許文献１の従来技術は、所定周波数のノイズを検出して所定の基準値と比較することにより部品の状態を判定する。しかし、所定の基準値には、部品ごとの個体差が反映されていない。そのため、故障発生の可能性ありと判断された場合であっても、実際には故障が発生しないケースが起こり得る。また、故障発生の可能性がないと判断された場合であっても、部品の特性変化により、実際には部品の誤動作が発生し、故障に至るケースも起こり得る。

【0008】

そこで、本発明は、上記従来の課題を解決するため、電磁波ノイズに対する耐量に個体差があっても、電磁波ノイズの影響による部品の劣化状態を適切に判断できるようにした画像形成装置、劣化状態判断方法、及び、プログラムを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上記目的を達成するため、請求項１に係る発明は、画像形成装置であって、特定の信号を受け付ける受付部と、前記受付部が受け付けた特定の信号に基づき所定の出力値を出力する出力部とを備える検知素子と、前記出力部からの出力の状況に応じて、前記検知素子の交換が必要となる状態に至るまでの劣化状態を判断する判断部と、を備えることを特徴とする構成である。

【0010】

請求項２に係る発明は、請求項１の画像形成装置において、前記検知素子は、特定の状態を検知した場合に所定の出力値となる出力信号を出力し、前記判断部は、前記出力信号として出力される出力値の状態に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0011】

請求項３に係る発明は、請求項１の画像形成装置において、前記判断部は、前記出力値に基づいて電磁波ノイズに対する前記検知素子の耐量を測定し、前記耐量に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0012】

請求項４に係る発明は、請求項２の画像形成装置において、前記判断部は、前記検知素子が前記特定の状態を検知してから前記出力値が確定するまでの状態に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0013】

請求項５に係る発明は、請求項１の画像形成装置において、前記判断部は、前記検知素子の劣化状態として、前記検知素子の準故障状態と故障状態とを区別して判断することを特徴とする構成である。

【0014】

請求項６に係る発明は、請求項２の画像形成装置において、前記検知素子は、投光部と受光部とを有し、前記受光部は、前記投光部から照射される光を受光した場合の受光量に応じて前記出力信号を出力することを特徴とする構成である。

【0015】

請求項７に係る発明は、請求項６の画像形成装置において、前記判断部は、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0016】

請求項８に係る発明は、請求項７の画像形成装置において、前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生回数をカウントし、前記不一致発生回数に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0017】

請求項９に係る発明は、請求項７の画像形成装置において、前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が反転した反転回数をカウントし、前記反転回数に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0018】

請求項１０に係る発明は、請求項７の画像形成装置において、前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生確率を算出し、前記不一致発生確率に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0019】

請求項１１に係る発明は、請求項７の画像形成装置において、前記判断部は、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化を検出する検出処理を複数回繰り返し行い、複数回の検出処理において前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生確率を算出し、前記不一致発生確率に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0020】

請求項１２に係る発明は、請求項６の画像形成装置において、前記判断部は、前記受光部に流れる出力電流を測定し、前記出力電流の測定結果に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0021】

請求項１３に係る発明は、請求項１２の画像形成装置において、前記判断部は、前記投光部に流れる電流を変化させ、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化に基づいて前記受光部に流れる出力電流を測定することを特徴とする構成である。

【0022】

請求項１４に係る発明は、請求項１２の画像形成装置において、前記判断部は、前記受光部に接続されるプルアップ抵抗を変化させ、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化に基づいて前記受光部に流れる出力電流を測定することを特徴とする構成である。

【0023】

請求項１５に係る発明は、請求項７の画像形成装置において、前記判断部は、前記受光部から出力される前記出力信号に基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングし、前記論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、前記論理値が前記所定値に一致しなかった不一致発生回数が所定回数以上である場合、前記受光部に流れる出力電流を測定し、前記出力電流の測定結果に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0024】

請求項１６に係る発明は、請求項１の画像形成装置において、外部装置と通信を行う通信部と、前記外部装置から受信する情報に基づき、前記検知素子の劣化状態を判断するか否かを決定する決定部と、を更に備え、前記判断部は、前記決定部によって前記検知素子の劣化状態を判断すると決定された場合に、前記出力部からの出力の状況に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0025】

請求項１７に係る発明は、請求項１の画像形成装置において、電磁波ノイズを検知して前記検知素子の劣化状態を判断するか否かを決定する決定部、を更に備え、前記判断部は、前記決定部によって前記検知素子の劣化状態を判断すると決定された場合に、前記出力部からの出力の状況に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0026】

請求項１８に係る発明は、請求項６の画像形成装置において、前記検知素子の延命処理を行う延命処理部、を備え、前記判断部は、前記検知素子の劣化状態に基づき、前記検知素子の延命処理が可能であるか否かを判断し、前記延命処理部は、前記判断部によって前記検知素子の延命処理が可能であると判断された場合に前記検知素子の延命処理を行うことを特徴とする構成である。

【0027】

請求項１９に係る発明は、請求項１８の画像形成装置において、前記延命処理部は、前記投光部に流れる電流を増加させることにより、前記検知素子の延命処理を行うことを特徴とする構成である。

【0028】

請求項２０に係る発明は、請求項１８の画像形成装置において、前記延命処理部は、前記受光部に接続されるプルアップ抵抗を大きくすることにより、前記検知素子の延命処理を行うことを特徴とする構成である。

【0029】

請求項２１に係る発明は、出力信号を出力する検知素子を備えた画像形成装置において、前記検知素子の劣化状態を判断する劣化状態判断方法であって、前記出力信号の状態に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断することを特徴とする構成である。

【0030】

請求項２２に係る発明は、出力信号を出力する検知素子を備えた画像形成装置において実行されるプログラムであって、前記画像形成装置に、前記出力信号の状態に応じて、前記検知素子が交換時期に至るまでの前記検知素子の劣化状態を判断するステップ、を実行させることを特徴とする構成である。

【発明の効果】

【0031】

本発明によれば、電磁波ノイズに対する耐量に個体差があっても、電磁波ノイズの影響による検知素子の劣化状態を適切に判断できるようになる。

【図面の簡単な説明】

【0032】

【図1】画像形成装置の構成例を示す図である。

【図2】検知素子の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。

【図3】検知素子の特性変化の例を示す図である。

【図4】比較器から出力される信号を示す図である。

【図5】図４に示す信号のサンプリング結果を示す図である。

【図6】判断部による判断内容を例示する図である。

【図7】画像形成装置によって行われる処理手順の一例を示すフローチャートである。

【図8】判断処理の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。

【図9】論理値が確定したと認定する処理を複数回行う場合の論理判定の例を示す図である。

【図10】画像形成装置によって行われる処理手順の一例を示すフローチャートである。

【図11】判断処理の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。

【図12】不一致発生回数に基づいて出力電流を推定する例を示す図である。

【図13】画像形成装置によって行われる処理手順の一例を示すフローチャートである。

【図14】複数の画像形成装置とサーバー装置とが通信可能な構成例を示す図である。

【図15】検知素子の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。

【図16】検知素子の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。

【図17】検知素子の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0033】

以下、本発明に関する好ましい実施形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。尚、以下に説明する実施形態において互いに共通する要素には同一符号を付しており、それらについての重複する説明は省略する。

【0034】

（第１実施形態）
図１は、本発明の一実施形態である画像形成装置１の構成例を示す図である。図１に示す画像形成装置１は、ユーザーによって指定された印刷ジョブを実行することにより、印刷用紙などのシート９に画像を印刷して出力する。例えば、画像形成装置１は、電子写真方式でシート９に画像を形成する。また、画像形成装置１は、タンデム方式でカラー画像を形成することが可能である。画像形成装置１は、装置本体内部に、搬送部２と、画像形成部３と、定着部４とを備えている。画像形成装置１は、下部の給紙カセット８に収容されているシート９を１枚ずつ搬送し、そのシート９にカラー画像又はモノクロ画像を形成し、上部の排出口１５から排紙トレイ１６上にシート９を排出する。また画像形成装置１は、装置本体内部に制御部７を備えている。制御部７は、搬送部２、画像形成部３及び定着部４といった各部の動作を制御する。

【0035】

搬送部２は、給紙カセット８と、ピックアップローラ１０と、給紙部１１と、搬送路１２と、レジスト部１３と、二次転写部１４とを有している。給紙カセット８は、印刷用紙などのシート９の束を収容する容器である。ピックアップローラ１０は、給紙カセット８に収容されているシート９の束の最上部のシート９を取り出して給紙部１１へ送り出す。給紙部１１は、ピックアップローラ１０によって送り出される１枚又は複数枚のシート９のうちから最上部に位置する１枚のシート９だけを抜き出して下流側の搬送路１２へ供給する。

【0036】

搬送路１２は、シート９を矢印Ｆ２で示す搬送方向へ搬送するための経路である。給紙部１１によって搬送路１２に送り出されるシート９は、レジスト部１３において斜行補正が施される。例えばレジスト部１３は、一対のタイミングローラを備える。レジスト部１３は、一対のタイミングローラのニップ部にシート９の先端を突き当てることにより、シート９の斜行を補正する。レジスト部１３は、シート９の斜行を補正した後、一対のタイミングローラのニップ部でシート９の先端を保持する。一対のタイミングローラのニップ部でシート９の先端が保持された状態になると、搬送部２は、シート９の搬送を一時停止させる。搬送部２は、画像形成部３によって形成されるトナー像が二次転写部１４へ移動してくるタイミングに合わせて一対のタイミングローラを駆動し、シート９を二次転写部１４に向けて搬送する。シート９は、二次転写部１４のニップ部を通過する際にその表面にトナー像が転写される。トナー像が転写されたシート９は、その後、定着部４を通過する際にトナー像の定着処理が施される。定着部４は、搬送されるシート９に対して加熱処理及び加圧処理を施すことによってトナー像をシート９に定着させる。その後、シート９は、排出口１５から排紙トレイ１６上へ排出される。

【0037】

画像形成部３は、Ｙ（イエロー）、Ｍ（マゼンタ）、Ｃ（シアン）、Ｋ（ブラック）の４色のトナー像を形成し、二次転写部１４を通過するシート９に対してそれら４色のトナー像を同時に転写する。画像形成部３は、複数のトナーボトル１９（１９Ｙ，１９Ｍ，１９Ｃ，１９Ｋ）と、複数の画像ユニット２０（２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋ）と、複数の露光部２５（２５Ｙ，２５Ｍ，２５Ｃ，２５Ｋ）と、転写ユニット３０とを備えている。複数のトナーボトル１９（１９Ｙ，１９Ｍ，１９Ｃ，１９Ｋ）のそれぞれは、各色に対応している。また、複数の画像ユニット２０（２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋ）のそれぞれも、各色に対応している。更に、複数の露光部２５（２５Ｙ，２５Ｍ，２５Ｃ，２５Ｋ）のそれぞれも、各色に対応している。

【0038】

転写ユニット３０は、一対のローラ３１，３２と、中間転写ベルト３３と、一次転写ローラ３４（３４Ｙ，３４Ｍ，３４Ｃ，３４Ｋ）と、クリーニング部３５とが一体的に組み付けられたユニットである。一対のローラ３１，３２は、水平方向に所定間隔を隔てて配置される。中間転写ベルト３３は、無端ベルトによって構成され、一対のローラ３１，３２に掛架された状態に配置される。一次転写ローラ３４（３４Ｙ，３４Ｍ，３４Ｃ，３４Ｋ）は、中間転写ベルト３３の内側において各画像ユニット２０に対向する位置に配置される。クリーニング部３５は、中間転写ベルト３３の表面に残留するトナーを除去する。

【0039】

一対のローラ３１，３２のうち、一方のローラ３１は、装置本体内部に設けられる駆動軸に装着されて回転する駆動ローラである。ローラ３１は、駆動軸が回転駆動されることによって中間転写ベルト３３を矢印Ｆ１方向へ循環移動させる。他方のローラ３２は、装置本体内部に設けられる従動軸に装着され、中間転写ベルト３３の循環移動に伴い、従動回転する。これら一対のローラ３１，３２は、中間転写ベルト３３に対して一定のテンションを付与した状態で装置本体内部において所定間隔離れた位置に設置される。ローラ３１は、装置本体内部の駆動軸に装着されることにより、二次転写部１４に対向する位置に設置される。ローラ３１は、二次転写部１４との間に中間転写ベルト３３を挟み込んだ状態で中間転写ベルト３３に押圧力を付与している。そしてローラ３１は、レジスト部１３から搬送されるシート９を中間転写ベルト３３と二次転写部１４との間に挟み込んで押圧することにより、中間転写ベルト３３の表面に形成されているトナー像をシート９に二次転写する。

【0040】

クリーニング部３５は、ローラ３２に対向する位置おいて中間転写ベルト３３の表面に接触する状態に保持される。クリーニング部３５は、矢印Ｆ１方向に循環移動する中間転写ベルト３３の表面に残留しているトナーを除去する。例えば、クリーニング部３５は、クリーニングブレードやクリーニングブラシなどのクリーニング部材を備えている。クリーニング部３５は、クリーニング部材を中間転写ベルト３３の表面に接触させている。

【0041】

各色に対応する画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋは、転写ユニット３０の下方位置に設けられている。各色に対応する露光部２５Ｙ，２５Ｍ，２５Ｃ，２５Ｋは各画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋのさらに下方位置に設けられている。トナーボトル１９Ｙ，１９Ｍ，１９Ｃ，１９Ｋは、転写ユニット３０の上部に配置され、各画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋに対して各色のトナーを供給する。

【0042】

各画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋは同様の構成を有しており、使用するトナーの色が異なるだけである。すなわち、各画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋは、像担持体２１と、帯電部２２と、現像器２３と、クリーニングブレード２４とを備え、これらが一体的に組み付けられたユニットである。像担持体２１は、感光体ドラムとして構成される。帯電部２２、現像器２３、及びクリーニングブレード２４は、像担持体２１の周囲に配置される。尚、以下において、各画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋを区別する必要がないときには、それらを総称して画像ユニット２０と呼ぶことがある。

【0043】

像担持体２１は感光体ドラムの表面に感光層を有する。像担持体２１は、例えば転写ユニット３０の一次転写ローラ３４による転写圧が付与された中間転写ベルト３３と接触した状態で右回り方向（時計回り方向）に回転する。その回転方向に沿って像担持体２１の周囲に、クリーニングブレード２４、帯電部２２、及び現像器２３が配置されている。帯電部２２は、像担持体２１の表面に接する帯電ローラを備えている。帯電部２２は、像担持体２１の表面を所定電荷に帯電させる。露光部２５は、帯電部２２によって帯電した感光層を画像データに基づいて露光する。これにより、露光部２５は、像担持体２１の表面に静電潜像を形成する。現像器２３は、トナーボトル１９から供給されるトナーを収容し、キャリアとトナーとを撹拌して帯電させたトナーを像担持体２１の表面に供給する。これにより、現像器２３は、静電潜像をトナーで現像し、像担持体２１の表面にトナー像を形成する。像担持体２１に形成されたトナー像は、中間転写ベルト３３と接触する位置で中間転写ベルト３３に一次転写される。一次転写ローラ３４には、像担持体２１の表面に形成される帯電したトナー像と逆極性となるバイアス電圧が印加される。一次転写ローラ３４は、そのバイアス電圧による静電気力で、像担持体２１の表面に形成されているトナー像を中間転写ベルト３３に一次転写する。

【0044】

各画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋは、それぞれの一次転写ローラ３４Ｙ，３４Ｍ，３４Ｃ，３４Ｋと協働しながら、矢印Ｆ１方向に循環移動する中間転写ベルト３３に対して各色のトナー像を順次重畳させながら一次転写していく。したがって、中間転写ベルト３３が最下流の画像ユニット２０Ｋの位置を通過すると、中間転写ベルト３３の表面には、４色のトナー像が重畳されたカラー画像が形成される。尚、シート９にモノクロ画像を形成する場合には、画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃが動作せず、Ｋ（ブラック）に対応する画像ユニット２０Ｋのみが動作して中間転写ベルト３３にＫのトナーのみによるモノクロ画像が形成される。

【0045】

中間転写ベルト３３に形成されるトナー像は、二次転写部１４と対向する位置を通過するときに、搬送部２によって搬送されるシート９と接触し、そのシート９の表面に二次転写される。二次転写部１４は、中間転写ベルト３３を挟んでローラ３１と対向する位置に設けられている。中間転写ベルト３３に一次転写されたトナー像がシート９と接触するとき、二次転写部１４には帯電したトナーと逆極性のバイアス電圧が印加される。これにより、トナー像をシート９に二次転写できる。

【0046】

二次転写部１４の位置でトナー像をシート９に二次転写した後においても、中間転写ベルト３３の表面上には一部のトナーが残留することがある。そのような残留トナーは、中間転写ベルト３３の表面に付着した状態のまま中間転写ベルト３３と共に循環移動する。そして残留トナーは、クリーニング部３５の位置を通過する際に、クリーニング部３５に設けられているクリーニング部材によって中間転写ベルト３３の表面から除去される。

【0047】

また、各画像ユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋにおいて、像担持体２１に形成されたトナー像を中間転写ベルト３３に一次転写した後においても、像担持体２１の表面にはトナーが残留することがある。そのような残留トナーは、像担持体２１の回転に伴ってクリーニングブレード２４に向かって進行し、クリーニングブレード２４によって像担持体２１の表面から除去される。

【0048】

シート９が搬送される搬送路１２には、シート検知センサー１７ａと、ループ検知センサー１７ｂとが設けられている。シート検知センサー１７ａは、レジスト部１３と二次転写部１４との間において搬送路１２の近傍位置に設けられる。シート検知センサー１７ａは、レジスト部１３の下流側においてシート９の通過を検知するセンサーである。ループ検知センサー１７ｂは、二次転写部１４と定着部４との間において搬送路１２の近傍位置に設けられる。ループ検知センサー１７ｂは、定着部４の上流側の所定位置で、定着部４に導かれるシート９に適度なループ（撓み）が形成されているか否かを検知するセンサーである。シート検知センサー１７ａ及びループ検知センサー１７ｂは、いずれも、画像形成装置１における特定の状態を検知すると所定の出力値を示す出力信号を出力するように設計された検知素子１８である。

【0049】

図１には、画像形成装置１が２つの検知素子１８を備えている例を示している。しかし、画像形成装置１に搭載される検知素子１８は２つに限られない。すなわち、画像形成装置１には、画像形成装置１における様々な状態を検知するための多数の検知素子１８が設けられる。それら多数の検知素子１８は、いずれも電気部品によって構成される。そのため、検知素子１８は、電磁波ノイズの影響を受けて特性が次第に変化していく。特性が変化すると、検知素子１８が誤動作する可能性がある。画像形成装置１がジョブを実行しているとき、検知素子１８が誤動作すると、ジャムが発生したり、エラーが発生したりするなど、トラブル発生の要因となる。そこで、本実施形態の画像形成装置１は、電磁波ノイズの影響による検知素子１８の劣化状態を判断するように構成される。以下、検知素子１８の劣化状態を判断するための構成例を詳しく説明する。

【0050】

図２は、検知素子１８の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。本実施形態の検知素子１８は、例えば透過型フォトセンサーであるフォトインタラプタによって構成される。この検知素子１８は、投光部２８と、受光部２９とを有する。投光部２８は、ＬＥＤなどの発光素子によって構成される。受光部２９は、フォトトランジスタなどの受光素子によって構成される。投光部２８は、受光部２９に向けて光Ｌを照射する。投光部２８と受光部２９の間に遮蔽物が存在しない場合、投光部２８からの光Ｌは受光部２９によって受光される。投光部２８と受光部２９の間に遮蔽物が存在する場合、投光部２８からの光Ｌは遮蔽物によって遮光される。この場合、受光部２９は、投光部２８からの光Ｌを受光しない。したがって、検知素子１８の受光部２９は、投光部２８から照射される光を特定の信号として受け付ける受付部として機能する。

【0051】

投光部２８のアノードは、プルアップ抵抗Ｒ１を介して電源Ｖｃｃに接続される。例えば、プルアップ抵抗Ｒ１は、制御部７の制御によって抵抗値を変化させることが可能な可変抵抗である。投光部２８のカソードは、グランドに接続される。したがって、投光部２８に定常的に電流Ｉｆが流れ、投光部２８は発光状態となる。

【0052】

受光部２９のコレクタ端子は、プルアップ抵抗Ｒ２を介して電源Ｖｃｃに接続される。例えば、プルアップ抵抗Ｒ２は、制御部７の制御によって抵抗値を変化させることが可能な可変抵抗である。受光部２９のエミッタ端子は、グランドに接続される。

【0053】

検知素子１８は、投光部２８と受光部２９との間に遮蔽物が存在するとき、受光部２９のフォトトランジスタがオフとなる。このとき、受光部２９のコレクタ端子の電圧がＨＩＧＨとなる。これに対し、検知素子１８は、投光部２８と受光部２９との間に遮蔽物が存在しないとき、受光部２９のフォトトランジスタがオンとなる。このとき、フォトトランジスタに出力電流Ｉｃが流れる。そのため、受光部２９のコレクタ端子の電圧がＬＯＷとなる。したがって、検知素子１８の受光部２９は、受け付けた特定の信号に基づき、所定の出力値を示す出力信号を出力する出力部として機能する。

【0054】

例えば検知素子１８がシート検知センサー１７ａである場合、投光部２８と受光部２９との間にシート９が進入すると、検知素子１８がシート９を検知し、出力電流Ｉｃに応じた出力信号ＳＩＧを出力する。また、検知素子１８がループ検知センサー１７ｂである場合、シート９のループ形成によって投光部２８と受光部２９との間に遮蔽物が進入すると、検知素子１８がループ形成状態を検知し、出力電流Ｉｃに応じた出力信号ＳＩＧを出力する。

【0055】

検知素子１８の出力端子（コレクタ端子）には、抵抗３７とコンデンサ３８とを備えるローパスフィルタ３９が接続される。そのローパスフィルタ３９の出力端子が制御部７に接続される。ただし、検知素子１８と制御部７との間にローパスフィルタ３９を設けるか否かは任意である。

【0056】

制御部７は、信号処理部５０と、ＣＰＵ５１と、記憶部５２と、通信部５３とを備える。信号処理部５０は、例えばＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などの演算回路によって構成される。ＣＰＵ５１は、記憶部５２に記憶されているプログラム５４を読み出して実行するハードウェアプロセッサである。ＣＰＵ５１は、画像形成装置１におけるジョブの実行動作を統括的に制御する。また、ＣＰＵ５１は、検知素子１８の劣化状態を判断する。記憶部５２は、ＨＤＤ（ハードディスクドライブ）やＳＳＤ（ソリッドステートドライブ）などによって構成される不揮発性の記憶デバイスである。記憶部５２には、ＣＰＵ５１によって実行されるプログラム５４が記憶される。また、記憶部５２には、検知素子１８の状態を記録した管理情報５５が記憶される。通信部５３は、画像形成装置１をネットワークに接続して外部装置と通信を行うためのインタフェースである。

【0057】

画像形成装置１は、操作パネル５８を備えている。操作パネル５８は、ユーザーが画像形成装置１を操作するためのユーザーインタフェースである。操作パネル５８は、表示部５９を備えている。表示部５９は、例えばカラー液晶ディスプレイなどによって構成される。例えば表示部５９は、ユーザーが操作可能な操作画面を表示する。また、表示部５９は、ユーザーに対する各種の報知画面を表示することも可能である。

【0058】

信号処理部５０は、検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧを処理する。信号処理部５０は、比較器５６と、電流検知部５７とを備えている。

【0059】

比較器５６は、検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧを所定の閾値と比較し、ＨＩＧＨ又はＬＯＷの２値信号を出力する。例えば、出力信号ＳＩＧの電圧レベルが所定の閾値以上である場合、比較器５６は、ＨＩＧＨ信号を出力する。また、出力信号ＳＩＧの電圧レベルが所定の閾値に満たない場合、比較器５６は、ＬＯＷ信号を出力する。つまり、比較器５６は、検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧが閾値よりも大きいか、又は小さいかを示す論理値を出力する。

【0060】

電流検知部５７は、検知素子１８の受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを検知する。検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧは、出力電流Ｉｃに応じた電圧信号である。そのため、電流検知部５７は、例えばＡ／Ｄ変換器によって構成される。電流検知部５７は、出力電流Ｉｃに応じた電圧信号をデジタル信号に変換することにより、出力電流Ｉｃを示す信号を出力する。

【0061】

ＣＰＵ５１は、プログラム５４を実行することにより、ジョブ制御部６１、判断部６２、延命処理部６３、及び報知部６４として機能する。

【0062】

ジョブ制御部６１は、画像形成装置１におけるジョブの実行を制御する。例えば、ジョブ制御部６１は、通信部５３を介して印刷ジョブを受信すると、搬送部２、画像形成部３、及び定着部４のそれぞれを駆動し、シート９に画像を形成する動作を制御する。例えば、ジョブ制御部６１は、比較器５６から出力される信号に基づいて、シート９の搬送動作や、シート９に対するループ形成動作を制御する。

【0063】

判断部６２は、検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧの状態に応じて、検知素子１８の交換が必要となる状態に至るまでの劣化状態を判断する。つまり、判断部６２は、検知素子１８の交換時期に達していない状況下において検知素子１８の劣化状態を個別に判断する。

【0064】

検知素子１８は、画像形成装置１の内部で発生する電磁波ノイズ又は画像形成装置１の外部から受ける電磁波ノイズの影響を受けて特性が次第に変化する。図３は、検知素子１８の特性変化の例を示す図である。図３では、検知素子１８がオン状態で出力される出力信号ＳＩＧのレベル変化を示している。図３に示すように、検知素子１８は、電磁波ノイズを受け続けると、出力信号ＳＩＧの電圧レベルが次第に上昇し、比較器５６による閾値Ｔｈに近づいていく。また、検知素子１８の個体差によって、出力信号ＳＩＧは、図３に示す特性変化Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３のように様々な態様で変化する。例えば、出力信号ＳＩＧが図３に示す特性変化Ｘ１の態様で変化すると、ノイズ量が比較的少ない状態であっても出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈを超える。これに対し、出力信号ＳＩＧが図３に示す特性変化Ｘ３の態様で変化する場合、特性変化Ｘ１よりも多くのノイズ量とならない限り、出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈを超えない。尚、図３では、特性変化Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３の傾きが等しい例を示しているが、検知素子１８の個体差によって傾きが異なることもある。

【0065】

オン状態となったときの出力信号ＳＩＧが定常的に閾値Ｔｈを超えてしまうと、比較器５６は定常的にＨＩＧＨ信号を出力する。この場合、比較器５６から出力される信号によって検知素子１８のオン状態とオフ状態とを区別することができなくなる。そのため、オン状態となったときの出力信号ＳＩＧが定常的に閾値Ｔｈを超えてしまうと、検知素子１８は、故障状態となる。

【0066】

これに対し、オン状態となったときの出力信号ＳＩＧが、時々、閾値Ｔｈを超えてしまうことがある。この場合、検知素子１８は、準故障状態又は故障状態となる。この場合において、ジョブ制御部６１が正常にジョブを実行できるかどうかは、出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈを超える頻度に依存する。例えば、出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈを超える頻度が比較的少ないとき、ジョブ制御部６１が検知素子１８からの出力信号ＳＩＧに基づいて正常にジョブを実行できるケースが多い。それ故、検知素子１８は、第１の準故障状態である。これに対し、出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈを超える頻度が多くなると、ジョブ制御部６１が検知素子１８からの出力信号ＳＩＧに基づいて正常にジョブを実行できるケースが減る。この場合、検知素子１８は、第２の準故障状態である。ただし、出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈを超える頻度が極端に多くなると、ジョブ制御部６１が検知素子１８からの出力信号ＳＩＧに基づいて正常にジョブを実行できるケースが大幅に減る。この場合、検知素子１８は、故障状態となる。

【0067】

また、検知素子１８は、電磁波ノイズの影響を受けると、オン状態のときの出力電流Ｉｃが次第に低下する傾向がある。

【0068】

判断部６２が検知素子１８の劣化状態を判断する方法として、２つの方法がある。第１の方法は、検知素子１８の出力信号ＳＩＧがどの程度閾値Ｔｈに近づいているか否かを評価することにより、検知素子１８の劣化状態を判断する方法である。第２の方法は、検知素子１８の出力電流Ｉｃを測定する方法である。本実施形態では、判断部６２が第１の方法で検知素子１８の劣化状態を判断する例を説明する。

【0069】

図４は、比較器５６から出力される信号を示す図である。図４（ａ）に示す信号ＳＩＧ１は、検知素子１８が正常状態である場合の信号を例示している。検知素子１８がタイミングＴａでオン状態になると、信号ＳＩＧ１は、ＨＩＧＨからＬＯＷに切り替わる。検知素子１８が正常状態である場合、比較器５６から出力される信号ＳＩＧ１は、検知素子１８がオン状態である間、ＬＯＷ信号の出力を継続する。

【0070】

これに対し、図４（ａ）に示す信号ＳＩＧ２は、検知素子１８が準故障状態である場合の信号を例示している。検知素子１８がタイミングＴａでオン状態になると、信号ＳＩＧ２は、ＨＩＧＨからＬＯＷに切り替わる。しかし、検知素子１８の出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈに近づいているため、信号ＳＩＧ２がＨＩＧＨからＬＯＷに切り替わった後、出力信号ＳＩＧの変動に応じて、比較器５６から出力される信号ＳＩＧ２がＬＯＷからＨＩＧＨに切り替わる。図４（ａ）の例では、タイミングＴｂからＴｃの期間で信号ＳＩＧ２がＨＩＧＨとなっている。このように検知素子１８が準故障状態になると、検知素子１８がオン状態になった後、比較器５６から出力される信号ＳＩＧ２が変動する。

【0071】

判断部６２は、検知素子１８がオン状態となった後、比較器５６から出力される信号の論理判定を所定周期で繰り返し行うことにより、検知素子１８の劣化状態を判断する。図４（ｂ）は、その論理判定の例を示している。図４（ｂ）に示す信号ＳＩＧ１，ＳＩＧ２，ＳＩＧ３，ＳＩＧ４は、比較器５６から出力される信号であり、検知素子１８の劣化が進行していく過程の信号を示している。

【0072】

信号ＳＩＧ１は、検知素子１８が正常状態である場合に比較器５６から出力される信号である。判断部６２は、信号ＳＩＧ１がタイミングＴａでＨＩＧＨからＬＯＷに切り替わると、所定のタイミングＴ１から所定周期で信号ＳＩＧ１の論理値をサンプリングする動作を繰り返し行う。尚、サンプリング間隔は、数ミリ秒程度の間隔である。そして判断部６２は、所定回数連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングすると、信号ＳＩＧ１の論理値が所定値で確定したことを認定する。図４（ｂ）の例では、２回連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングできると、判断部６２は、信号ＳＩＧ１の論理値が確定したと認定する。信号ＳＩＧ１の場合、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるタイミングは、Ｔ２である。信号ＳＩＧ１は検知素子１８が正常状態であるときの信号であるため、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるまでのサンプリング数は最小の「２」となる。

【0073】

信号ＳＩＧ２は、検知素子１８が正常状態から若干劣化した場合に比較器５６から出力される信号である。判断部６２は、信号ＳＩＧ２がＨＩＧＨからＬＯＷに切り替わると、所定のタイミングＴ１から所定周期で信号ＳＩＧ２の論理値をサンプリングする動作を繰り返し行う。そして判断部６２は、上記と同様、所定回数連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングすると、信号ＳＩＧ２の論理値が確定したことを認定する。図４（ｂ）の例では、２回連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングできると、判断部６２は、信号ＳＩＧ２の論理値が確定したと認定する。信号ＳＩＧ２は、タイミングＴ２において論理値が反転している。そのため、タイミングＴ２でサンプリングされる論理値は、所定値（ＬＯＷ）ではなく、論理不一致となる。その結果、信号ＳＩＧ２の場合に、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるタイミングは、Ｔ４となる。また、信号ＳＩＧ２は検知素子１８が若干劣化した状態の信号であるため、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるまでのサンプリング数は「４」となる。

【0074】

信号ＳＩＧ３は、検知素子１８の劣化が進行した場合に比較器５６から出力される信号である。判断部６２は、信号ＳＩＧ３がＨＩＧＨからＬＯＷに切り替わると、所定のタイミングＴ１から所定周期で信号ＳＩＧ３の論理値をサンプリングする動作を繰り返し行う。そして判断部６２は、上記と同様、所定回数連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングすると、信号ＳＩＧ２の論理値が確定したことを認定する。図４（ｂ）の例では、２回連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングできると、判断部６２は、信号ＳＩＧ３の論理値が確定したと認定する。信号ＳＩＧ３は、タイミングＴ２及びタイミングＴ４において論理値が反転している。そのため、タイミングＴ２，Ｔ４でサンプリングされる論理値は、所定値（ＬＯＷ）ではなく、論理不一致となる。その結果、信号ＳＩＧ３の場合に、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるタイミングは、Ｔ６となる。また、信号ＳＩＧ３は検知素子１８の劣化が進行した状態の信号であるため、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるまでのサンプリング数は「６」となる。

【0075】

信号ＳＩＧ４は、検知素子１８の劣化がさらに進行した場合に比較器５６から出力される信号である。判断部６２は、信号ＳＩＧ４がＨＩＧＨからＬＯＷに切り替わると、所定のタイミングＴ１から所定周期で信号ＳＩＧ４の論理値をサンプリングする動作を繰り返し行う。そして判断部６２は、上記と同様、所定回数連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングすると、信号ＳＩＧ４の論理値が確定したことを認定する。図４（ｂ）の例では、２回連続して所定値（ＬＯＷ）を示す論理値をサンプリングできると、判断部６２は、信号ＳＩＧ４の論理値が確定したと認定する。信号ＳＩＧ４は、タイミングＴ２からＴ４までの期間において論理値が反転している。そのため、タイミングＴ２，Ｔ３，Ｔ４でサンプリングされる論理値は、所定値（ＬＯＷ）ではなく、論理不一致となる。その結果、信号ＳＩＧ４の場合に、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるタイミングは、Ｔ６となる。また、信号ＳＩＧ４は検知素子１８の劣化が進行した状態の信号であるため、判断部６２によって論理値が確定したと認定されるまでのサンプリング数は「６」となる。

【0076】

図５は、図４に示す信号ＳＩＧ１～ＳＩＧ４のサンプリング結果を示す図である。図５に示すように、信号ＳＩＧ１の場合、論理の不一致発生回数が０回、論理反転回数が０回、論理不一致の発生確率が０／２となる。また、信号ＳＩＧ２の場合、論理の不一致発生回数が１回、論理反転回数が１回、論理不一致の発生確率が１／４となる。また、信号ＳＩＧ３の場合、論理の不一致発生回数が２回、論理反転回数が２回、論理不一致の発生確率が２／６となる。更に、信号ＳＩＧ４の場合、論理の不一致発生回数が３回、論理反転回数が１回、論理不一致の発生確率が３／６となる。

【0077】

判断部６２は、検知素子１８の劣化状態を判断する際、図５に示すように、論理の不一致発生回数、論理反転回数、及び論理不一致の発生確率、の少なくとも１つを判断基準として採用する。例えば、論理の不一致発生回数を判断基準とする場合、判断部６２は、不一致発生回数が０回であるときに検知素子１８が正常状態であると判断する。また、不一致発生回数が１回以上あるとき、判断部６２は、検知素子１８が準故障状態であると判断する。更に、不一致発生回数が所定回数以上であるとき、判断部６２は、検知素子１８が故障状態であると判断する。

【0078】

図６は、判断部６２による判断内容を例示する図である。判断部６２は、検知素子１８の状態として、正常状態と劣化状態とのいずれの状態であるかを判断する。劣化状態には、第１の準故障状態と、第２の準故障状態と、故障状態とが含まれる。第２の準故障状態は、第１の準故障状態よりも劣化状態が進行した状態である。故障状態は、第２の準故障状態よりも劣化状態が更に進行した状態である。

【0079】

判断部６２は、検知素子１８の状態を判断すると、図６に示すように、検知素子１８のリユースの可否、対応処理、及び報知の必要性を更に判断する。検知素子１８が正常状態である場合、検知素子１８のリユースは許可される。リユースが許可されると、画像形成装置１が別のユーザーに譲渡された場合に検知素子１８がそのまま再利用される。これに対し、リユースが禁止されると、画像形成装置１が別のユーザーに譲渡された場合に検知素子１８が新品に交換される。また、検知素子１８が正常状態である場合、検知素子１８に対する対応処理は、不要となる。更に、検知素子１８が正常状態である場合、ユーザーに対する報知も不要となる。

【0080】

検知素子１８が第１の準故障状態である場合、検知素子１８のリユースは不可となる。そのため、画像形成装置１が別のユーザーに譲渡されるときには、検知素子１８を新品に交換することが必要となる。また、検知素子１８が第１の準故障状態である場合、検知素子１８に対する対応処理は、不要となる。更に、検知素子１８が第１の準故障状態である場合、ユーザーに対する報知も不要となる。

【0081】

検知素子１８が第２の準故障状態である場合、検知素子１８のリユースは不可となる。また、検知素子１８が第２の準故障状態である場合、検知素子１８に対する対応処理は、延命処理となる。延命処理は、検知素子１８の誤動作を低減するための処理である。延命処理の詳細については後述する。更に、検知素子１８が第２の準故障状態である場合、ユーザーに対する報知も不要となる。

【0082】

検知素子１８が故障状態である場合、検知素子１８のリユースは不可となる。また、検知素子１８が故障状態である場合、検知素子１８に対する対応処理は、即交換となる。すなわち、検知素子１８が故障状態である場合、画像形成装置１において正常にジョブを実行できない可能性が高いため、検知素子１８の即時交換が必要となる。更に、検知素子１８が故障状態である場合、ユーザーに対する報知が必要となる。すなわち、検知素子１８を直ぐに交換する必要があるため、ユーザーに対してメンテナンス作業を行うことを報知することが必要となる。

【0083】

判断部６２は、上述した判断を行うと、その判断結果を管理情報５５に記録する。画像形成装置１には、複数の検知素子１８が搭載される。そのため、管理情報５５には、複数の検知素子１８のそれぞれに対する判断結果が個別に記録される。

【0084】

延命処理部６３は、判断部６２によって管理情報５５が更新されることに伴って機能する。延命処理部６３は、管理情報５５を読み出し、判断部６２によって延命処理が必要と判断された検知素子１８に対する延命処理を実行する。例えば、延命処理部６３は、検知素子１８の投光部２８に流れる電流Ｉｆを増加させる。これにより、投光部２８から照射される光Ｌの強度が上がる。光Ｌの強度が上がると、受光部２９の受光量が上がる。そのため、検知素子１８がオンしたときに、検知素子１８の受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを上昇させることができる。その結果、プルアップ抵抗Ｒ２における電圧降下量が大きくなり、出力信号ＳＩＧの電圧レベルが下がるため、検知素子１８の動作を正常動作に近づけ、検知素子１８を延命することができる。例えば、延命処理部６３は、投光部２８のプルアップ抵抗Ｒ１の抵抗値を低下させることにより、投光部２８に流れる電流Ｉｆを増加させることができる。尚、これとは異なる方法で、投光部２８に流れる電流Ｉｆを増加させても良い。

【0085】

報知部６４は、判断部６２によって管理情報５５が更新されることに伴って機能する。報知部６４は、管理情報５５を読み出し、判断部６２によって報知が必要と判断された検知素子１８に関する報知処理を実行する。例えば、報知部６４は、管理情報５５に基づいて報知対象となる検知素子１８を特定し、特定した検知素子１８を明示してユーザーに即交換が必要であることを示す報知画面を作成する。報知部６４は、その報知画面を操作パネル５８の表示部５９に表示することで、即時交換が必要な検知素子１８をユーザーに報知する。また、報知部６４は、通信部５３を介して、サービスセンターなどに設置されているメンテナンス管理サーバーに対し、検知素子１８を即交換する必要があることを通知しても良い。

【0086】

次に、画像形成装置１の動作について説明する。図７及び図８は、本実施形態の画像形成装置１によって行われる処理手順の一例を示すフローチャートである。この処理手順は、ＣＰＵ５１がプログラム５４を実行することにより、制御部７で行われる処理手順である。制御部７は、画像形成装置１においてジョブの実行を開始すると（ステップＳ１０）、検知素子１８が特定の状態を検知してオン状態となったか否かを判断する（ステップＳ１１）。検知素子１８がオン状態になると（ステップＳ１１でＹＥＳ）、制御部７は、比較器５６から出力される信号のサンプリングを開始する（ステップＳ１２）。すなわち、制御部７は、比較器５６から出力される信号の論理値を所定周期で繰り返しサンプリングする処理を開始する。サンプリングを開始すると、制御部７は、論理値が所定値とは異なる値を示す論理不一致の回数をカウントする動作を開始する（ステップＳ１３）。制御部７は、比較器５６から出力される信号の論理値が確定したと認定するまで、カウント動作を継続する。例えば、制御部７は、サンプリングによって取得される論理値が複数回連続して所定値を示すと、論理値が確定したと認定する。制御部７は、論理値が確定したと認定すると（ステップＳ１４でＹＥＳ）、判断処理を実行する（ステップＳ１５）。

【0087】

図８は、判断処理（ステップＳ１５）の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。制御部７は、判断処理を開始すると、カウントされた不一致発生回数を取得する（ステップＳ２０）。不一致発生回数を取得すると、制御部７は、不一致発生回数が０回であるか否かを判断する（ステップＳ２１）。不一致発生回数が０回である場合（ステップＳ２１でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８が正常状態であると判断する（ステップＳ２２）。

【0088】

不一致発生回数が０回でない場合（ステップＳ２１でＮＯ）、論理値のサンプリング中に、検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧが閾値Ｔｈを少なくとも１回超えたことになる。この場合、検知素子１８が劣化状態となるため、制御部７は、検知素子１８のリユースを不可に設定する（ステップＳ２３）。

【0089】

続いて、制御部７は、不一致発生回数が１０回以上であるか否かを判断する（ステップＳ２４）。不一致発生回数が１０回以上である場合（ステップＳ２４でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８を故障状態と判断する（ステップＳ２５）。また、制御部７は、検知素子１８を即交換の必要な素子であると判断する（ステップＳ２６）。更に、制御部７は、ユーザーに対する報知が必要と判断する（ステップＳ２７）。

【0090】

不一致発生回数が１０回未満であった場合（ステップＳ２４でＮＯ）、制御部７は、不一致発生回数が５回以上であるか否かを判断する（ステップＳ２８）。不一致発生回数が５回以上である場合（ステップＳ２８でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の延命処理が必要であると判断する（ステップＳ２９）。これに対し、不一致発生回数が５回未満であった場合（ステップＳ２８でＮＯ）、制御部７は、検知素子１８に対する対応処理は不要であると判断する。以上で、判断処理（ステップＳ１５）が終了する。

【0091】

図８に示す判断処理では、不一致発生回数に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断する例を説明した。しかし、これに限られるものではない。例えば、制御部７は、不一致発生回数ではなく、図５に示した論理反転回数又は不一致発生確率に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断しても良い。

【0092】

図７のフローチャートに戻る。判断処理（ステップＳ１５）が終了すると、制御部７は、延命処理を行うか否かを判断する（ステップＳ１６）。制御部７は、判断処理において延命処理が必要であると判断した場合、ステップＳ１６において延命処理を行うと判断する。延命処理を行う場合（ステップＳ１６でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の延命処理を実行する（ステップＳ１７）。例えば、制御部７は、投光部２８に流れる電流Ｉｆを増加させることにより、検知素子１８の延命処理を実行する。尚、延命処理を実行しない場合（ステップＳ１６でＮＯ）、ステップＳ１７の処理はスキップする。

【0093】

制御部７は、報知処理を行うか否かを判断する（ステップＳ１８）。制御部７は、判断処理において報知が必要であると判断した場合、ステップＳ１８において報知処理を行うと判断する。報知処理を行う場合（ステップＳ１８でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の即交換が必要であることをユーザーに報知するための報知処理を実行する（ステップＳ１９）。例えば、制御部７は、操作パネル５８の表示部５９に報知画面を表示することにより、ユーザーに対し、検知素子１８の即交換が必要であることを報知する。尚、報知処理を実行しない場合（ステップＳ１８でＮＯ）、ステップＳ１９の処理はスキップする。以上で、制御部７による処理が終了する。

【0094】

ところで、判断部６２は、比較器５６から出力される信号をサンプリングして論理値が確定したと認定する処理を複数回行うようにしても良い。図９は、論理値が確定したと認定する処理を複数回行う場合の論理判定の例を示す図である。図９に示す信号ＳＩＧ１，ＳＩＧ２，ＳＩＧ３，ＳＩＧ４は、比較器５６から出力される信号であり、検知素子１８の劣化が進行していく過程の信号を示している。図９では、比較器５６から出力される信号をサンプリングして論理値が確定したと認定する処理を２回行う例を示している。図９の例では、１回目のサンプリングを開始してから所定時間ＴＰが経過した後に２回目のサンプリングを開始している。つまり、判断部６２は、論理値が複数回連続して所定値を示すまでの論理変化を検出する検出処理を複数回繰り返し行うのである。そして判断部６２は、複数回の検出処理において論理値が所定値に一致しなかった不一致発生確率を算出し、不一致発生確率に基づいて前記検知素子の劣化状態を判断する。このように判断部６２は、検知素子１８がオン状態に遷移したことを検知した後、複数回のサンプリングを行うことにより、より高精度に検知素子１８の劣化状態を判断できる。

【0095】

上述のように本実施形態の画像形成装置１は、特定の信号を受け付ける受付部と、受付部が受け付けた特定の信号に基づき所定の出力値を出力する出力部とを備える検知素子１８と、検知素子１８の出力部から出力される出力値の状況に応じて、検知素子１８の交換が必要となる状態に至るまでの劣化状態を判断する判断部６２と、を備えている。例えば上述した画像形成装置１は、特定の状態を検知して所定の出力信号ＳＩＧを出力する検知素子１８と、出力信号ＳＩＧの状態に応じて、検知素子１８が交換時期に至るまでの検知素子１８の劣化状態を判断する判断部６２と、を備えている。つまり、本実施形態の画像形成装置１は、検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧの信号状態を監視することにより、電磁波ノイズを受けて次第に劣化していく検知素子１８の劣化状態を判断する。そのため、画像形成装置１は、単に検知素子１８が正常状態と故障状態のいずれであるかを判断するに留まらず、検知素子１８が準故障状態であることも適切に判断することが可能である。特に検知素子１８から出力される出力信号ＳＩＧの信号状態は、検知素子１８の電磁波ノイズに対する耐量に応じてそれぞれ異なる。それ故、本実施形態の画像形成装置１は、電磁波ノイズに対する耐量に個体差があっても、個々の耐量に応じた検知素子１８の劣化状態を適切に判断することが可能である。言い換えると、本実施形態の画像形成装置１は、出力信号ＳＩＧに基づいて電磁波ノイズに対する検知素子１８の耐量を測定し、その耐量に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断しているのである。

【0096】

尚、上記においては、画像形成装置１においてジョブの実行が開始されることに伴い、制御部７が、検知素子１８の劣化状態を判断する処理を行う例を説明した。しかし、制御部７は、画像形成装置１においてジョブの実行が行われる度に毎回、検知素子１８の劣化状態を判断する処理を行う必要はない。例えば、制御部７は、画像形成装置１における印刷枚数が所定枚数となる度に、検知素子１８の劣化状態を判断するようにしても良い。また、制御部７は、所定期間（例えば１ヶ月）が経過する度に、検知素子１８の劣化状態を判断するようにしても良い。

【0097】

（第２実施形態）
次に本発明の第２実施形態について説明する。第１実施形態では、判断部６２が第１の方法で検知素子１８の劣化状態を判断する例を説明した。これに対し、第２実施形態では、判断部６２が第２の方法で検知素子１８の劣化状態を判断する例を説明する。すなわち、第２実施形態の判断部６２は、検知素子１８の出力電流Ｉｃを測定し、検知素子１８の劣化状態を判断する。尚、本実施形態における画像形成装置１の詳細な構成は、第１実施形態で説明した構成と同じである。

【0098】

本実施形態の判断部６２は、検知素子１８の受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを測定する。例えば、判断部６２は、電流検知部５７から出力される信号に基づき、出力電流Ｉｃを測定する。上述のように電磁波ノイズの影響によって検知素子１８が劣化していくと、検知素子１８の受光部２９に流れる出力電流Ｉｃが次第に低下していく傾向がある。出力電流Ｉｃが低下すると、プルアップ抵抗Ｒ２における電圧降下量が小さくなるため、出力信号ＳＩＧの電圧レベルが変わる。つまり、出力信号ＳＩＧは、出力電流Ｉｃを表した信号となっている。また、上述のように電流検知部５７は、出力信号ＳＩＧをデジタル信号に変換して出力する。そのため、判断部６２は、電流検知部５７から出力される信号に基づき、出力電流Ｉｃを算出することができる。

【0099】

判断部６２は、出力電流Ｉｃを測定すると、その出力電流Ｉｃに基づき、検知素子１８の劣化状態を判断する。例えば、判断部６２は、出力電流Ｉｃが初期状態から低下した低下量を算出し、その低下量に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断する。具体的には、第１実施形態と同様、判断部６２は、検知素子１８が正常状態、第１の準故障状態、第２の準故障状態、及び故障状態のいずれの状態であるかを判断する。

【0100】

図１０及び図１１は、第２実施形態の画像形成装置１によって行われる処理手順の一例を示すフローチャートである。この処理手順は、ＣＰＵ５１がプログラム５４を実行することにより、制御部７で行われる処理手順である。制御部７は、画像形成装置１においてジョブの実行を開始すると（ステップＳ３０）、検知素子１８が特定の状態を検知してオン状態となったか否かを判断する（ステップＳ３１）。検知素子１８がオン状態になると（ステップＳ３１でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを測定する（ステップＳ３２）。そして制御部７は、判断処理を実行する（ステップＳ３３）。

【0101】

図１１は、判断処理（ステップＳ３３）の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。制御部７は、判断処理を開始すると、ステップＳ３３で測定した出力電流Ｉｃを取得する（ステップＳ４０）。そして制御部７は、出力電流Ｉｃが初期状態の電流Ｉ１以上であるか否かを判断する（ステップＳ４１）。出力電流Ｉｃが電流Ｉ１以上である場合（ステップＳ４１でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８が正常状態であると判断する（ステップＳ４２）。

【0102】

これに対し、出力電流Ｉｃが電流Ｉ１未満である場合（ステップＳ４１でＮＯ）、制御部７は、検知素子１８のリユースを不可に設定する（ステップＳ４３）。続いて、制御部７は、出力電流Ｉｃが故障レベルを示す電流Ｉ３未満であるか否かを判断する（ステップＳ４４）。出力電流Ｉｃが電流Ｉ３未満である場合（ステップＳ４４でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８を故障状態と判断する（ステップＳ４５）。また、制御部７は、検知素子１８を即交換の必要な素子であると判断する（ステップＳ４６）。更に、制御部７は、ユーザーに対する報知が必要と判断する（ステップＳ４７）。

【0103】

出力電流Ｉｃが電流Ｉ３以上である場合（ステップＳ４４でＮＯ）、制御部７は、出力電流Ｉｃが延命処理の必要なレベルを示す電流Ｉ２未満であるか否かを判断する（ステップＳ４８）。尚、電流Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３の関係は、Ｉ１＞Ｉ２＞Ｉ３である。出力電流Ｉｃが電流Ｉ２未満である場合（ステップＳ４８でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の延命処理が必要であると判断する（ステップＳ４９）。これに対し、出力電流Ｉｃが電流Ｉ２以上である場合（ステップＳ４８でＮＯ）、制御部７は、検知素子１８に対する対応処理は不要であると判断する。以上で、判断処理（ステップＳ３３）が終了する。

【0104】

図１０のフローチャートに戻る。判断処理（ステップＳ３３）が終了すると、制御部７は、延命処理を行うか否かを判断する（ステップＳ３４）。制御部７は、判断処理において延命処理が必要であると判断した場合、ステップＳ３４において延命処理を行うと判断する。延命処理を行う場合（ステップＳ３４でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の延命処理を実行する（ステップＳ３５）。延命処理の詳細は第１実施形態と同様である。尚、延命処理を実行しない場合（ステップＳ３４でＮＯ）、ステップＳ３５の処理はスキップする。

【0105】

制御部７は、報知処理を行うか否かを判断する（ステップＳ３６）。制御部７は、判断処理において報知が必要であると判断した場合、ステップＳ３６において報知処理を行うと判断する。報知処理を行う場合（ステップＳ３６でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の即交換が必要であることをユーザーに報知するための報知処理を実行する（ステップＳ３７）。報知処理の詳細は第１実施形態と同様である。尚、報知処理を実行しない場合（ステップＳ３６でＮＯ）、ステップＳ３７の処理はスキップする。以上で、制御部７による処理が終了する。

【0106】

以上説明したように、本実施形態の判断部６２は、検知素子１８の受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを測定し、出力電流Ｉｃの測定結果に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断する。そのため、判断部６２は、検知素子１８が特定の状態を検知してオン状態となれば、直ぐに検知素子１８の劣化状態を判断できる。つまり、本実施形態の判断部６２は、第１実施形態よりも早く判断結果を出力できるという利点がある。

【0107】

ところで、判断部６２による出力電流Ｉｃの測定方法は、電流検知部５７から出力される信号に基づいて測定する方法に限られない。例えば、判断部６２は、検知素子１８の投光部２８に流れる電流Ｉｆを変化させることで、受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを間接的に測定しても良い。判断部６２は、投光部２８に流れる電流Ｉｆを変化させるため、例えば投光部２８のプルアップ抵抗Ｒ１の抵抗値を変化させる。投光部２８に流れる電流Ｉｆが変化すると、受光部２９の受光量が変わるため、出力電流Ｉｃが変化する。判断部６２は、出力電流Ｉｃを変化させつつ、第１実施形態と同様に、比較器５６から出力される信号を所定周期で繰り返しサンプリングする。そして判断部６２は、サンプリングした論理値が複数回連続して所定値（ＬＯＷ）を示すまでの論理変化に基づき、受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを測定する。つまり、判断部６２は、サンプリング中の論理値が所定値に一致しない不一致発生回数に基づいて出力電流Ｉｃを推定する。

【0108】

図１２は、不一致発生回数に基づいて出力電流Ｉｃを推定する例を示す図である。図１２に示すように、判断部６２は、プルアップ抵抗Ｒ１の抵抗値をＲａ，Ｒｂ，Ｒｃ，Ｒｄの順で変化させるとする。尚、抵抗値Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｃ，Ｒｄの関係は、Ｒａ＞Ｒｂ＞Ｒｃ＞Ｒｄである。抵抗値Ｒａのとき、サンプリング中の不一致発生回数が０回であると、出力電流Ｉｃは、初期状態の電流Ｉ１以上であると推定できる。また、抵抗値Ｒｂのとき、サンプリング中の不一致発生回数が１回～４回であると、出力電流Ｉｃは、延命処理の必要なレベルである電流Ｉ２以上であり、且つ、電流Ｉ１未満であると推定できる。また、抵抗値Ｒｃのとき、サンプリング中の不一致発生回数が５回～９回であると、出力電流Ｉｃは、故障レベルである電流Ｉ３以上であり、且つ、延命処理の必要なレベルである電流Ｉ２未満であると推定できる。更に、抵抗値Ｒｄのとき、サンプリング中の不一致発生回数が１０回以上であると、出力電流Ｉｃは、故障レベルである電流Ｉ３未満であると推定できる。

【0109】

判断部６２は、プルアップ抵抗Ｒ１を各抵抗値Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｃ，Ｒｄに変更しつつ、不一致発生回数をカウントする。判断部６２は、各抵抗値Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｃ，Ｒｄのときの不一致発生回数に基づき、出力電流Ｉｃを推定する。そして判断部６２は、プルアップ抵抗Ｒ１の抵抗値を変化させたときの出力電流Ｉｃの変化率に基づき、抵抗値を元に戻したときの出力電流Ｉｃを算出する。判断部６２は、このような手法で出力電流Ｉｃを測定しても良い。

【0110】

また、判断部６２は、検知素子１８の投光部２８に流れる電流Ｉｆを変化させるのではなく、受光部２９のプルアップ抵抗Ｒ２の抵抗値を変化させることで出力電流Ｉｃを変化させるようにしても良い。判断部６２は、プルアップ抵抗Ｒ２の抵抗値を変化させつつ、不一致発生回数をカウントする。判断部６２は、各抵抗値のときの不一致発生回数に基づき、出力電流Ｉｃを推定する。そして判断部６２は、プルアップ抵抗Ｒ２の抵抗値を変化させたときの出力電流Ｉｃの変化率に基づき、抵抗値を元に戻したときの出力電流Ｉｃを算出する。判断部６２は、このような手法で出力電流Ｉｃを測定しても良い。

【0111】

尚、本実施形態における上記以外の構成及び動作は、第１実施形態で説明したものと同様である。

【0112】

（第３実施形態）
次に本発明の第３実施形態について説明する。本実施形態では、不一致発生回数が所定回数以上であった場合に出力電流Ｉｃを測定する例を説明する。尚、本実施形態における画像形成装置１の詳細な構成は、第１実施形態で説明した構成と同じである。

【0113】

本実施形態の判断部６２は、第１実施形態と同様に、比較器５６から出力される信号を所定周期で繰り返しサンプリングする。そして判断部６２は、サンプリングした論理値が複数回連続して所定値（ＬＯＷ）を示すまでの期間において論理値が所定値に一致しない不一致発生回数が所定回数以上発生したか否かを判断する。不一致発生回数が所定回数以上発生した場合、判断部６２は、第２実施形態と同様に、検知素子１８の出力電流Ｉｃを測定する。そして判断部６２は、測定した出力電流Ｉｃに基づいて検知素子１８の劣化状態を判断する。

【0114】

図１３は、第３実施形態の画像形成装置１によって行われる処理手順の一例を示すフローチャートである。この処理手順は、ＣＰＵ５１がプログラム５４を実行することにより、制御部７で行われる処理手順である。制御部７は、画像形成装置１においてジョブの実行を開始すると（ステップＳ５０）、検知素子１８が特定の状態を検知してオン状態となったか否かを判断する（ステップＳ５１）。検知素子１８がオン状態になると（ステップＳ５１でＹＥＳ）、制御部７は、比較器５６から出力される信号のサンプリングを開始する（ステップＳ５２）。サンプリングを開始すると、制御部７は、論理値が所定値とは異なる値を示す論理不一致の回数をカウントする動作を開始する（ステップＳ５３）。制御部７は、比較器５６から出力される信号の論理値が確定したと認定するまで、カウント動作を継続する。制御部７は、論理値が確定したと認定すると（ステップＳ５４でＹＥＳ）、不一致発生回数を取得する（ステップＳ５５）。そして制御部７は、不一致発生回数が所定回数以上であるか否かを判断する（ステップＳ５６）。例えば所定回数は１回である。不一致発生回数が所定回数未満である場合（ステップＳ５６でＮＯ）、制御部７による処理は終了する。

【0115】

不一致発生回数が所定回数以上である場合（ステップＳ５６でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを測定する（ステップＳ５７）。そして制御部７は、判断処理を実行する（ステップＳ５８）。この判断処理（ステップＳ５８）の詳細なフローチャートは、図１１に示したフローチャートと同様である。

【0116】

判断処理（ステップＳ５８）が終了すると、制御部７は、延命処理を行うか否かを判断する（ステップＳ５９）。制御部７は、判断処理において延命処理が必要であると判断した場合、ステップＳ５９において延命処理を行うと判断する。延命処理を行う場合（ステップＳ５９でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の延命処理を実行する（ステップＳ６０）。延命処理の詳細は第１実施形態と同様である。尚、延命処理を実行しない場合（ステップＳ５９でＮＯ）、ステップＳ６０の処理はスキップする。

【0117】

制御部７は、報知処理を行うか否かを判断する（ステップＳ６１）。制御部７は、判断処理において報知が必要であると判断した場合、ステップＳ６１において報知処理を行うと判断する。報知処理を行う場合（ステップＳ６１でＹＥＳ）、制御部７は、検知素子１８の即交換が必要であることをユーザーに報知するための報知処理を実行する（ステップＳ６２）。報知処理の詳細は第１実施形態と同様である。尚、報知処理を実行しない場合（ステップＳ６１でＮＯ）、ステップＳ６２の処理はスキップする。以上で、制御部７による処理が終了する。

【0118】

以上説明したように、本実施形態の判断部６２は、検知素子１８の受光部２９から出力される出力信号ＳＩＧに基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングする。そして判断部６２は、論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、論理値が所定値に一致しなかった不一致発生回数が所定回数以上である場合、受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを測定する。判断部６２は、出力電流Ｉｃの測定結果に基づいて検知素子１８の劣化状態を判断する。これにより、判断部６２は、第１及び第２実施形態と同様に、検知素子１８が第１の準故障状態、第２の準故障状態、及び故障状態のいずれであるかを適切に判断できる。

【0119】

また、上述した内容とは反対に、判断部６２は、受光部２９に流れる出力電流Ｉｃを先に測定しても良い。この場合、判断部６２は、出力電流Ｉｃの測定結果に基づいて検知素子１８が劣化していると判断すると、検知素子１８の受光部２９から出力される出力信号ＳＩＧに基づく論理値を所定周期で繰り返しサンプリングするようにしても良い。この場合、判断部６２は、論理値が複数回連続して所定値を示すまでの期間において、論理値が所定値に一致しなかった不一致発生回数に基づいて、検知素子１８が第１の準故障状態、第２の準故障状態、及び故障状態のいずれであるかを判断する。

【0120】

尚、本実施形態における上記以外の構成及び動作は、第１又は第２実施形態で説明したものと同様である。

【0121】

（第４実施形態）
次に本発明の第４実施形態について説明する。本実施形態では、制御部７が検知素子１８の劣化状態を判断する処理を行うタイミングを適切に制御する例について説明する。

【0122】

図１４は、複数の画像形成装置１ａ，１ｂ，１ｃとサーバー装置１００とが通信可能な構成例を示す図である。サーバー装置１００は、例えばインターネットなどのネットワークを介して複数の画像形成装置１ａ，１ｂ，１ｃのそれぞれと通信を行う。例えば画像形成装置１ａ，１ｂは、ジョブの実行中にジャムなどのトラブルが発生すると、トラブル情報Ｄ１をサーバー装置１００へ送信する。サーバー装置１００は、トラブル情報Ｄ１を集約し、画像形成装置１ａ，１ｂで生じているトラブルの原因を解析する。その結果、トラブルの原因が検知素子１８の劣化にあると判断すると、サーバー装置１００は、トラブルが発生した画像形成装置１ａ，１ｂと同一の検知素子１８が搭載されている画像形成装置１ｃに対し、判断命令Ｄ２を送信する。画像形成装置１ｃは、サーバー装置１００から送信される判断命令Ｄ２を受信すると、検知素子１８の劣化状態を判断する処理を開始する。

【0123】

図１５は、第４実施形態において検知素子１８の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。制御部７のＣＰＵ５１は、プログラム５４を実行することにより、決定部６５として機能する。決定部６５は、外部装置であるサーバー装置１００から受信する情報に基づき、検知素子１８の劣化状態を判断するか否かを決定する。例えば、決定部６５は、サーバー装置１００から判断命令Ｄ２を受信すると、検知素子１８の劣化状態を判断すると決定する。この場合、制御部７は、サーバー装置１００から判断命令Ｄ２を受信した後にジョブを実行するとき、検知素子１８の劣化状態を判断する処理を実行する。このとき、制御部７は、第１乃至第３実施形態のそれぞれで説明した処理を実行すれば良い。

【0124】

このように他の画像形成装置１ａ，１ｂにおいて検知素子１８が劣化したことによるトラブルが発生すると、同じ検知素子１８を搭載している画像形成装置１ｃは、検知素子１８の劣化状態を判断する。そのため、画像形成装置１ｃは、検知素子１８の劣化によるトラブルが発生する前に、検知素子１８の劣化状態を適切に検知することができる。

【0125】

尚、上記においては、サーバー装置１００が画像形成装置１ｃに判断命令Ｄ２を送信し、画像形成装置１ｃが判断命令Ｄ２を受信することに伴い、検知素子１８の劣化状態を判断する例を説明した。しかし、これに限らず、サーバー装置１００は画像形成装置１ｃに判断命令Ｄ２を送信しなくても良い。例えば、画像形成装置１ｃは、定期的にサーバー装置１００にアクセスし、他の画像形成装置１ａ，１ｂにおけるトラブルの発生状況を問い合わせるようにしても良い。この場合、画像形成装置１ｃは、サーバー装置１００からの回答に基づき、検知素子１８の劣化状態を判断する必要があるか否かを決定できる。そのため、画像形成装置１ｃは、その決定結果に基づき、検知素子１８の劣化状態を判断しても良い。

【0126】

（第５実施形態）
次に本発明の第５実施形態について説明する。制御部７が検知素子１８の劣化状態を判断する処理を行うタイミングを適切に制御する別の例について説明する。

【0127】

図１６は、第５実施形態において検知素子１８の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。画像形成装置１は、検知素子１８の近傍に設けられたノイズ検知部６６を備えている。ノイズ検知部６６は、検知素子１８の近傍における電磁波ノイズを検知するアンテナなどによって構成される。また、制御部７のＣＰＵ５１は、プログラム５４を実行することにより、決定部６５として機能する。決定部６５は、ノイズ検知部６６の検知結果に基づき、検知素子１８の近傍の電磁波ノイズを検知し、検知素子１８の劣化状態を判断するか否かを決定する。例えば、決定部６５は、電磁波ノイズのノイズ量が所定量よりも多い場合、検知素子１８の劣化状態を判断すると決定する。この場合、制御部７は、決定部６５による決定が行われた後にジョブを実行するとき、検知素子１８の劣化状態を判断する処理を実行する。このとき、制御部７は、第１乃至第３実施形態のそれぞれで説明した処理を実行すれば良い。

【0128】

したがって、本実施形態の画像形成装置１は、電磁波ノイズの影響によって検知素子１８の劣化が進行している可能性がある場合に、検知素子１８の劣化状態を適切に判断できる。

【0129】

（第６実施形態）
次に本発明の第６実施形態について説明する。本実施形態では、検知素子１８の劣化状態が第１の準故障状態又は第２の準故障状態である場合に、ユーザーに検知素子１８の交換を促すタイミングを制御する例について説明する。

【0130】

図１７は、第６実施形態において検知素子１８の劣化状態を判断するための構成例を示すブロック図である。画像形成装置１は、記憶部５２にジョブの実行履歴を含む履歴情報６８を保存する。すなわち、ジョブ制御部６１は、画像形成装置１においてジョブを実行すると、そのジョブの実行履歴を含む履歴情報６８を生成し、記憶部５２に保存する。

【0131】

報知部６４は、管理情報５５を読み出し、検知素子１８が第１の準故障状態又は第２の準故障状態であるか否かを判断する。検知素子１８が第１の準故障状態又は第２の準故障状態である場合、検知素子１８の劣化が進行していることになる。そのため、検知素子１８が第１の準故障状態又は第２の準故障状態である場合、報知部６４は、履歴情報６８を読み出し、ユーザーに検知素子１８の交換を促すタイミングを決定する。具体的に説明すると、報知部６４は、履歴情報６８に基づいてユーザーの使用頻度を特定する。また、報知部６４は、ユーザーの使用頻度と、検知素子１８の状態（第１の準故障状態又は第２の準故障状態）とに基づき、検知素子１８が故障状態となるまでの残り期間を推定する。そして報知部６４は、残り期間が所定期間よりも短くなった場合、ユーザーに対して検知素子１８の交換を促す報知を行う。これにより、ユーザーは、検知素子１８が故障状態となる前に、検知素子１８を交換するための作業を行うことができる。尚、検知素子１８の交換を促す報知は、ユーザーだけに行うのではなく、サーバー装置１００に対して行うようにしても良い。

【0132】

（変形例）
以上、本発明に関する好ましい複数の実施形態について説明した。しかし、本発明は、複数の実施形態のそれぞれで説明した内容のものに限られるものではなく、種々の変形例が適用可能である。

【0133】

上記実施形態では、検知素子１８が透過型フォトセンサーである例を説明した。しかし、検知素子１８は、透過型フォトセンサーに限られない。例えば、検知素子１８は反射型フォトセンサーであっても良い。また、検知素子１８は、フォトセンサー以外のセンサーで構成されるものであっても構わない。

【0134】

また、上記実施形態で説明したプログラム５４は、画像形成装置１の記憶部５２に予め記憶されているものに限られない。例えば、プログラム５４は、それ単体で取引の対象となるものであっても構わない。この場合、プログラム５４は、インターネットなどのネットワークを介してダウンロード可能な態様で提供されるものであっても良いし、またＣＤ－ＲＯＭなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録された状態で提供されるものであっても良い。

【符号の説明】

【0135】

１，１ａ，１ｂ，１ｃ 画像形成装置
７ 制御部
１８ 検知素子
２８ 投光部
２９ 受光部
５０ 信号処理部
５１ ＣＰＵ
５２ 記憶部
５３ 通信部
５４ プログラム
５６ 比較器
５７ 電流検知部
６１ ジョブ制御部
６２ 判断部
６３ 延命処理部
６４ 報知部
６５ 決定部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】