特開 2025-7822 検査装置、検査方法、および検査プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2025007822

(43)【公開日】2025-01-17

(54)【発明の名称】検査装置、検査方法、および検査プログラム

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/22 20060101AFI20250109BHJP

【ＦＩ】

G01N27/22 C

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023109470

(22)【出願日】2023-07-03

(71)【出願人】

【識別番号】501418498

【氏名又は名称】矢崎エナジーシステム株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100134832

【弁理士】

【氏名又は名称】瀧野 文雄

(74)【代理人】

【識別番号】100165308

【弁理士】

【氏名又は名称】津田 俊明

(74)【代理人】

【識別番号】100115048

【弁理士】

【氏名又は名称】福田 康弘

(72)【発明者】

【氏名】池田 佑允

(72)【発明者】

【氏名】芦川 真也

(72)【発明者】

【氏名】増田 俊平

【テーマコード（参考）】

2G060

【Ｆターム（参考）】

2G060AA10

2G060AE01

2G060AE26

2G060AF03

2G060AF10

2G060AG03

2G060EA04

2G060EA06

2G060EB04

2G060HA02

2G060HC15

2G060HD01

2G060HD02

2G060JA05

2G060KA14

(57)【要約】

【課題】 絶縁継手を含む管の絶縁性を検査する。
【解決手段】第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２とを有し、第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間に絶縁継手ＩＦにより接続された箇所を含む導電性の管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性を検査する際に、第１の部分Ｐ１に接触するための第１の端子１１０と第２の部分Ｐ２に接触するための第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡを測定し、測定工程において測定された静電容量ＣＡの値に基づいて、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性を検査する。
【選択図】図７

【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１の部分と第２の部分とを有し、前記第１の部分と前記第２の部分との間に絶縁継手により接続された箇所を含む導電性の管の前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査する検査装置であって、
前記第１の部分に接触するための第１の端子と、
前記第２の部分に接触するための第２の端子と、
前記第１の端子と前記第２の端子との間の静電容量を測定し、当該測定された静電容量の値に基づいて前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査する検査部と、を有する、検査装置。

【請求項2】

前記検査部は、前記測定された静電容量の値が、第１の静電容量値より小さいならば、前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性が低下していると判断する、請求項１に記載の検査装置。

【請求項3】

前記検査部は、
前記測定された静電容量の値が、第２の静電容量値以上であり、かつ、前記第２の静電容量より大きい第３の静電容量値より小さいならば、前記第１の端子と前記第１の部分の間に、および／または前記第２の端子と前記第２の部分との間に、空隙が存在すると判断し、
前記測定された静電容量の値が、前記第３の静電容量以上であり、かつ、前記第３の静電容量より大きい第１の静電容量値より小さいならば、前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性が低下していると判断する、請求項１に記載の検査装置。

【請求項4】

前記検査部は、
前記測定された静電容量の値が、第４の静電容量値以上であり、かつ、前記第４の静電容量より大きい第５の静電容量値より小さいならば、前記第１の部分の表面のうちの前記第１の端子に接触する部分、および／または第２の部分の表面のうちの前記第２の端子に接触する部分に酸化被膜が形成されていると判断し、
前記測定された静電容量の値が、前記第５の静電容量以上であり、かつ、前記第５の静電容量より大きい第１の静電容量値より小さいならば、前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性が低下していると判断する、請求項１に記載の検査装置。

【請求項5】

前記検査部は、
前記測定された静電容量の値が、第２の静電容量値以上であり、かつ、前記第２の静電容量より大きい第３の静電容量値より小さいならば、前記第１の端子と前記第１の部分の間に、および／または前記第２の端子と前記第２の部分との間に、空隙が存在すると判断し、
前記測定された静電容量の値が、前記第３の静電容量値より大きい第４の静電容量値以上であり、かつ、前記第４の静電容量より大きい第５の静電容量値より小さいならば、前記第１の部分の表面のうちの前記第１の端子に接触する部分、および／または前記第２の部分の表面のうちの前記第２の端子に接触する部分に酸化被膜が形成されていると判断し、
前記測定された静電容量の値が、前記第５の静電容量以上であり、かつ、前記第５の静電容量より大きい第１の静電容量値より小さいならば、前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性が低下していると判断する、請求項１に記載の検査装置。

【請求項6】

前記管は、ガス管または水道管である、請求項１から５のいずれか一項に記載の検査装置。

【請求項7】

前記検査部は、
前記第１の端子と前記第２の端子から、前記管に交流電圧を印可し、当該交流電圧により流れる電流の値を測定し、
前記第１の端子と前記第２の端子との間の静電容量またはインピーダンスを前記測定された電流の値を用いて算出することで、前記第１の端子と前記第２の端子との間の静電容量を測定する、請求項１から５のいずれか一項に記載の検査装置。

【請求項8】

前記検査部による検査の結果を通知する通知部をさらに有する、請求項１から５のいずれか一項に記載の検査装置。

【請求項9】

コンピュータにより実行される、第１の部分と第２の部分とを有し、前記第１の部分と前記第２の部分との間に絶縁継手により接続された箇所を含む導電性の管の前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査するための検査方法であって、
前記第１の部分に接触するための第１の端子と前記第２の部分に接触するための第２の端子との間の静電容量を測定する測定工程と、
前記測定工程において測定された静電容量の値に基づいて、前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査する検査工程と、を有する、検査方法。

【請求項10】

請求項９に記載の検査方法をコンピュータに実行させる検査プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、検査装置、検査方法、および検査プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

異種金属の２つの鋼管を接続する際には、ガルバニック腐食が生じることを防ぐために、絶縁継手が使用されている（例えば、特許文献１）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２００７－２２５０５０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

落雷などにより絶縁継手に非常に強い電圧がかかった場合、絶縁破壊が起こり、絶縁継手の絶縁性が低下することがある。

【0005】

そこで、本発明は、絶縁継手を含む管の絶縁性を検査することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記課題を解決するため、本発明の一実施形態に係る検査装置は、第１の部分と第２の部分とを有し、前記第１の部分と前記第２の部分との間に絶縁継手により接続された箇所を含む導電性の管の前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査する検査装置であって、前記第１の部分に接触するための第１の端子と、前記第２の部分に接触するための第２の端子と、前記第１の端子と前記第２の端子との間の静電容量を測定し、当該測定された静電容量の値に基づいて前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査する検査部と、を有する。

【0007】

また、本発明の一実施形態に係る検査方法は、コンピュータにより実行される、第１の部分と第２の部分とを有し、前記第１の部分と前記第２の部分との間に絶縁継手により接続された箇所を含む導電性の管の前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査するための検査方法であって、前記第１の部分に接触するための第１の端子と前記第２の部分に接触するための第２の端子との間の静電容量を測定する測定工程と、前記測定工程において測定された静電容量の値に基づいて、前記第１の部分と前記第２の部分との間の絶縁性を検査する検査工程と、を有する

【0008】

また、本発明の一実施形態に係るプログラムは、上記検査方法をコンピュータに実行させる。

【発明の効果】

【0009】

本発明によれば、絶縁継手を含む管の絶縁性を検査することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】本発明の一実施形態に係る検査装置１００を示す図である。

【図2】本発明の一実施形態に係る検査装置１００を示す図である。

【図3】第１の端子１１０（第２の端子１２０）が管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触した状態を説明する図である。

【図4】第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰとの間に生じる空隙Ｇを説明する図である。

【図5】第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量を説明する図である。

【図6】第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量を説明する図である。

【図7】検査装置１００において実行される処理動作の一例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

＜検査装置１００＞
図１、２は、本発明の一実施形態に係る検査装置１００を示す図である。検査装置１００は、第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２とを有し、第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間に絶縁継手ＩＦにより接続された箇所を含む管ＳＰの絶縁性を検査する。管ＳＰは、導電性の管であり、例えば、鋼管（例えば、ガス管、水道管）である。

【0012】

図１に示した例では、管ＳＰは、第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２と１つの絶縁継手ＩＦを有しており、この１つの絶縁継手ＩＦが第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２を接続している。管ＳＰは、図２に示すように、第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間に第１の部分Ｐ１、第２の部分Ｐ２以外の他の部分ＯＰを有し、２以上の絶縁継手ＩＦを有していても良く、この２以上の絶縁継手ＩＦの各々が、第１の部分Ｐ１と他の部分ＯＰや、第２の部分Ｐ２と他の部分ＯＰ、他の部分ＯＰ同士を接続するようにしても良い。

【0013】

検査装置１００は、第１の端子１１０と、第２の端子１２０と、検査部１３０と、を有する。

【0014】

第１の端子１１０は、図１、２に示すように、管ＳＰの第１の部分Ｐ１に接触するための端子であり、第２の端子１２０は、管ＳＰの第１の部分Ｐ１に接触するための端子である。第１の端子１１０（第２の端子１２０）は、例えば、器具（図３の示した端子固定器具）により、管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触した状態に保たれる。

【0015】

検査部１３０は、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量（つまり、第１の端子１１０が接触した管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の端子１２０が接触した管ＳＰの第２の部分Ｐ２との間の静電容量）ＣＡを測定し、当該測定された静電容量ＣＡの値に基づいて管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性を検査する。検査部１３０は、例えば、所定の時間間隔で、上記処理（静電容量ＣＡの測定および管ＳＰの絶縁性の検査）を行う。

【0016】

検査部１３０は、例えば、第１の端子１１０、第２の端子１２０から、菅ＳＰに交流電圧を印可し、この交流電圧により発生する電流を測定する。検査部１３０は、例えば、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量またはインピーダンスをこの測定された電流を用いて算出することで、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡを測定する。

【0017】

第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡの値が大きいほど、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性は大きい。そこで、検査部１３０は、例えば、測定された静電容量ＣＡの値が、第１の静電容量値Ｃ１より小さいならば、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性（つまり、絶縁継手ＩＦの絶縁性）が低下していると判断する。ここで、第１の静電容量値Ｃ１は、適宜設定される。

【0018】

以上のように、本実施形態では、絶縁継手を含む管の絶縁性を検査することが可能である。特に、本実施形態では、下記で詳述するように、第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に接触不良が生じているのか否か（つまり、下記で詳述する空隙Ｇの発生や酸化被膜の形成が生じているのか否か）を判別した上で、絶縁継手を含む管の絶縁性を検査することが可能である。

【0019】

なお、第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に接触不良が生じていないのであれば、第１の端子１１０と第２の端子１２０により管ＳＰに直流電圧を印可し、第１の端子１１０と第２の端子１２０の間の抵抗値を測定することでも、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の検査をすることができる。第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に接触不良が生じていない場合、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が正常であれば、第１の端子１１０と第２の端子１２０の間（つまり、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２の間）は導通していないが、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下すると、第１の端子１１０と第２の端子１２０の間は導通し始め、第１の端子１１０と第２の端子１２０の間の抵抗値が低下する。

【0020】

しかしながら、第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に接触不良が生じた場合、上記の直流電圧を印可する方法では、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の検査をすることができない。第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に接触不良が生じた場合、この接触不良のため、第１の端子１１０と第２の端子１２０の間は導通していない状態が保たれ、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下したとしても、第１の端子１１０と第２の端子１２０の間の抵抗値が低下せず、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の低下を検知することができない。

【0021】

＜空隙の発生による静電容量値の低下＞
第１の端子１１０（第２の端子１２０）は、例えば、図３に示すような端子固定器具を用いて、管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触した状態に保たれる。図３に示すように、保護カバーなどの保護層により管ＳＰが覆われている場合、例えば、管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分ＳＰ２）を覆う保護層の一部を除去し、この保護層が除去された部分において、第１の端子１１０（第２の端子１２０）を、管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分ＳＰ２）に接触させる。

【0022】

図３に示された端子固定器具では、第１の端子１１０（第２の端子１２０）は、ばねＳの復元力により管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に押し付けられる。よって、図３に示された端子固定器具では、ばねＳが損傷し、ばねＳの復元力により第１の端子１１０（第２の端子１２０）を管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に押し付けることができない場合、図４に示すように、第１の端子１１０（第２の端子１２０）が、管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触せず、第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に、空隙Ｇが生じることがある。

【0023】

第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に空隙Ｇが生じた場合、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡは、図５に示すように、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦと、この空隙Ｇによる静電容量ＣＧと、が直列に接続されたものになる。第１の端子１１０（第２の端子１２０）の表面のうちの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触する部分の面積がπｍｍ^２であり、空隙Ｇが数ｍｍ程度であるとすると、空隙Ｇによる静電容量ＣＧの値は、数ｐＦであり、正常であるときの絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦの値（数百ｐＦ（例えば、３００ｐＦ））に比べてかなり小さい（ＣＧ≪ＣＦ）。

【0024】

よって、第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に空隙Ｇが生じた場合、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦが正常であれば、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡの値は、空隙Ｇによる静電容量ＣＧの値とほぼ同じ値になる（ＣＡ≒ＣＧ）。このため、第１の端子１１０（第２の端子１２０）と管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）との間に空隙Ｇが生じた場合、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦが正常であったとしても、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡの値は、正常であるときの絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦの値に比べてかなり小さくなる（ＣＡ≪ＣＦ）。

【0025】

そこで、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第２の静電容量値Ｃ２以上であり、かつ、第３の静電容量値Ｃ３より小さいならば、第１の端子１１０と管ＳＰの第１の部分Ｐ１の間に、および／または第２の端子１２０と管ＳＰの第２の部分Ｐ２との間に、空隙Ｇが存在すると判断するようにすると良い。ここで、第３の静電容量値Ｃ３は、第１の静電容量値Ｃ１より小さく、第２の静電容量値Ｃ２より大きい（Ｃ２＜Ｃ３＜Ｃ１）。第２の静電容量値Ｃ２、第３の静電容量値Ｃ３は、生じ得る空隙Ｇの大きさや第１の端子１１０（第２の端子１２０）の表面のうちの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触する部分の面積などの空隙Ｇによる静電容量ＣＧの値を決定するパラメータに基づいて適宜設定される。

【0026】

そして、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第３の静電容量Ｃ３以上であり、かつ、第１の静電容量値Ｃ１より小さいならば、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下していると判断するようにすると良い。

【0027】

このようにすることで、検査部１３０により測定された静電容量ＣＡの低下が生じたときに、この静電容量の低下が、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦの低下（つまり、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の低下）によるものであるのか、空隙Ｇの発生によるものであるのかを判別した上で、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の検査をすることが可能になる。

【0028】

＜酸化被膜の形成による静電容量値の低下＞
管ＳＰの表面は、空気に触れることで、酸化被膜が形成される。管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）の表面のうちの第１の端子１１０（第２の端子１２０）に接触する部分に酸化被膜が形成された場合、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡは、図６に示すように、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦと、この酸化被膜による静電容量ＣＯと、が直列に接続されたものになる。第１の端子１１０（第２の端子１２０）の表面のうちの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触する部分の面積がπｍｍ^２であり、酸化被膜の厚さが数十ｎｍ程度であるとすると、酸化被膜による静電容量ＣＯの値は、数ｐＦであり、正常であるときの絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦの値（数百ｐＦ（例えば、３００ｐＦ））に比べてかなり小さい（ＣＯ≪ＣＦ）。

【0029】

よって、管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）の表面のうちの第１の端子１１０（第２の端子１２０）が接する部分に酸化被膜が形成された場合、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦが正常であれば、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡの値は、酸化被膜による静電容量ＣＯの値とほぼ同じ値になる（ＣＡ≒ＣＯ）。このため、管ＳＰの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）の表面のうちの第１の端子１１０（第２の端子１２０）が接する部分に酸化被膜が形成された場合、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦが正常であったとしても、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡの値は、正常であるときの絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦの値に比べてかなり小さくなる（ＣＡ≪ＣＦ）。

【0030】

そこで、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第４の静電容量値Ｃ４以上であり、かつ、第５の静電容量値Ｃ５より小さいならば、第１の部分Ｐ１の表面のうちの第１の端子１１０に接触する部分、および／または第１の部分Ｐ２の表面のうちの第２の端子１２０に接触する部分に酸化被膜が形成されていると判断するようにすると良い。第５の静電容量値Ｃ５は、第１の静電容量値Ｃ１より小さく、第４の静電容量値Ｃ４より大きい（Ｃ４＜Ｃ５＜Ｃ１）。第４の静電容量値Ｃ４、第５の静電容量値Ｃ５は、第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）の表面のうちの第１の端子１１０（第２の端子１２０）に接触する部分に形成され得る酸化被膜の厚さや第１の端子１１０（第２の端子１２０）の表面のうちの第１の部分Ｐ１（第２の部分Ｐ２）に接触する部分の面積などの酸化被膜による静電容量ＣＯの値を決定するパラメータに基づいて適宜設定される。

【0031】

そして、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第５の静電容量Ｃ５以上であり、かつ、第１の静電容量値Ｃ１より小さいならば、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下していると判断するようにすると良い。

【0032】

このようにすることで、検査部１３０により測定された静電容量ＣＡの低下が生じたときに、この静電容量の低下が、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦの低下（つまり、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の低下）によるものであるのか、酸化被膜の形成によるものであるのかを判別した上で、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の検査をすることが可能になる。

【0033】

＜空隙の発生と酸化被膜の形成の判別＞
空気の比誘電率をε１とし、酸化被膜の比誘電率をε２とすると、ε１＜ε２である。よって、空隙Ｇが数ｍｍ程度であり、酸化被膜の厚さが数十ｎｍ程度であるとすると、空隙Ｇによる静電容量ＣＧの値は、酸化被膜による静電容量ＣＯの値より小さい（ＣＧ＜ＣＯ）。そこで、第３の静電容量値Ｃ３は、第４の静電容量値Ｃ４より小さい値にすると良い（Ｃ３＜Ｃ４）。

【0034】

そして、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第２の静電容量値Ｃ２以上であり、かつ、第３の静電容量値Ｃ３より小さいならば、第１の端子１１０と第１の部分Ｐ１の間に、および／または第２の端子１２０と第２の部分Ｐ２との間に、空隙Ｇが存在すると判断し、測定された静電容量ＣＡの値が、第４の静電容量値Ｃ４以上であり、かつ、第５の静電容量値Ｃ５より小さいならば、第１の部分Ｐ１の表面のうちの第１の端子１１０に接触する部分、および／または第２の部分Ｐ２の表面のうちの第２の端子１２０に接触する部分に酸化被膜が形成されていると判断するようにすると良い。このとき、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第５の静電容量Ｃ５以上であり、かつ、第１の静電容量値Ｃ１より小さいならば、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下していると判断するようにすると良い。

【0035】

このようにすることで、検査部１３０により測定された静電容量ＣＡの低下が生じたときに、この静電容量の低下が、絶縁継手ＩＦの静電容量ＣＦの低下（つまり、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の低下）によるものであるのか、空隙Ｇの発生によるものであるのか、酸化被膜の形成によるものであるのかを判別した上で、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性の検査をすることが可能になる。

【0036】

空隙Ｇの発生や酸化被膜の形成以外の異常が検査装置１００に発生し、測定された静電容量ＣＡの値が、上記の範囲以外の値を取る可能性がある。そこで、例えば、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第３の静電容量値Ｃ３以上であり、かつ、第４の静電容量値Ｃ４より小さいならば、空隙Ｇの発生や酸化被膜の形成以外の異常が検査装置１００に発生したと判断するようにすると良い。同様に、検査部１３０は、測定された静電容量ＣＡの値が、第２の静電容量値Ｃ２より小さいならば、空隙Ｇの発生や酸化被膜の形成以外の異常が検査装置１００に発生したと判断するようにすると良い。

【0037】

＜通知部１４０＞
検査装置１００は、検査部１３０による検査の結果を通知する通知部１４０をさらに有するようにしても良い。通知部１４０は、例えば、ディスプレイなどの情報を表示する表示装置や、プリンタなどの情報を印刷した物を出力する印刷装置、スピーカなどの情報に関する音声を出力する音声出力装置である。

【0038】

通知部１４０は、例えば、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下していると検査部１３０が判断したならば、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下していることを通知する。また、通知部１４０は、例えば、第１の端子１１０と第１の部分Ｐ１の間に、および／または第２の端子１２０と第２の部分Ｐ２との間に、空隙Ｇが存在すると検査部１３０が判断したならば、空隙Ｇが存在することを通知する。また、通知部１４０は、例えば、第１の部分Ｐ１の表面のうちの第１の端子１１０に接触する部分、および／または第２の部分Ｐ２のうちの第２の端子１２０に接触する部分に酸化被膜が形成されていると検査部１３０が判断したならば、酸化被膜が形成されていることを通知する。

【0039】

また、通知部１４０は、例えば、検査部１３０が空隙Ｇの発生や酸化被膜の形成以外の異常が検査装置１００に発生したと判断したならば、検査装置１００に異常が発生したことを通知する。

【0040】

＜検査装置１００において実行される処理動作＞
図７は、検査装置１００において実行される処理動作の一例を示す図である。図７に示した処理動作は、例えば、所定の時間間隔で実行される。

【0041】

検査部１３０が、第１の端子１１０と第２の端子１２０との間の静電容量ＣＡを測定する（ステップＳ７０１）。測定された静電容量ＣＡの値が第１の静電容量値Ｃ１以上であるならば（ステップＳ７０２、ＹＥＳ）、処理を終了する。

【0042】

測定された静電容量ＣＡの値が第１の静電容量値Ｃ１より小さく（ステップＳ７０２、ＮＯ）、第５の静電容量値Ｃ５以上であるならば（ステップＳ７０３、ＹＥＳ）、検査部１３０が、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下していると判断し（ステップＳ７０４）、通知部１４０が、管ＳＰの第１の部分Ｐ１と第２の部分Ｐ２との間の絶縁性が低下していることを通知する（ステップＳ７０５）。

【0043】

測定された静電容量ＣＡの値が第５の静電容量値Ｃ５より小さく（ステップＳ７０３、ＮＯ）、第４の静電容量値Ｃ４以上であるならば（ステップＳ７０６、ＹＥＳ）、検査部１３０が、第１の部分Ｐ１の表面のうちの第１の端子１１０に接触する部分、および／または第２の部分Ｐ２の表面のうちの第２の端子１２０に接触する部分に酸化被膜が形成されていると判断し（ステップＳ７０７）、通知部１４０が、酸化被膜が形成されていることを通知する（ステップＳ７０８）。

【0044】

測定された静電容量ＣＡの値が第４の静電容量値Ｃ４より小さく（ステップＳ７０６、ＮＯ）、第３の静電容量値Ｃ３以上であるならば（ステップＳ７０９、ＹＥＳ）、検査部１３０が、空隙Ｇの発生や酸化被膜の形成以外の異常が検査装置１００に発生したと判断し（ステップＳ７１０）、通知部１４０が、検査装置１００に異常が発生したことを通知する（ステップＳ７１１）。

【0045】

測定された静電容量ＣＡの値が第３の静電容量値Ｃ３より小さく（ステップＳ７０９、ＮＯ）、第２の静電容量値Ｃ２以上であるならば（ステップ７１２、ＹＥＳ）、検査部１３０が、第１の端子１１０と第１の部分Ｐ１の間に、および／または第２の端子１２０と第２の部分Ｐ２との間に、空隙Ｇが存在すると判断し（ステップＳ７１３）、通知部１４０が、空隙Ｇが存在することを通知する（ステップＳ７１４）。

【0046】

測定された静電容量ＣＡの値が第２の静電容量値Ｃ２より小さいならば（ステップＳ７１２、ＮＯ）、検査部１３０が、空隙Ｇの発生や酸化被膜の形成以外の異常が検査装置１００に発生したと判断し（ステップＳ７１０）、通知部１４０が、検査装置１００に異常が発生したことを通知する（ステップＳ７１１）。

【0047】

以上、本発明の好適な実施の形態により本発明を説明した。ここでは特定の具体例を示して本発明を説明したが、特許請求の範囲に記載した本発明の趣旨および範囲から逸脱することなく、これら具体例に様々な修正および変更が可能である。

【符号の説明】

【0048】

１００ 検査装置
１１０ 第１の端子
１２０ 第２の端子
１３０ 検査部
１４０ 通知部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】