(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2025009435
(43)【公開日】2025-01-20
(54)【発明の名称】室圧制御装置及びプログラム
(51)【国際特許分類】
F24F 7/007 20060101AFI20250110BHJP
F24F 7/08 20060101ALI20250110BHJP
F24F 13/10 20060101ALI20250110BHJP
【FI】
F24F7/007 B
F24F7/08 Z
F24F13/10 A
【審査請求】未請求
【請求項の数】5
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2023112441
(22)【出願日】2023-07-07
(71)【出願人】
【識別番号】000149790
【氏名又は名称】株式会社大気社
(74)【代理人】
【識別番号】110003281
【氏名又は名称】弁理士法人大塚国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】森重 公康
(72)【発明者】
【氏名】村上 裕紀
【テーマコード(参考)】
3L056
3L081
【Fターム(参考)】
3L056BF04
3L081AA03
3L081AB02
(57)【要約】
【課題】室圧の安定性を向上すること。
【解決手段】対象室に空気を供給する給気手段と、前記対象室から空気を排気する排気手段と、前記対象室と前記排気手段との間に設けられ、前記対象室の室圧を調整する室圧制御ダンパと、を備えた室圧制御装置であって、前記対象室の室圧を検知する検知手段と、前記対象室の設定室圧と、前記検知手段の検知結果とに基づいて、前記対象室が前記設定室圧に維持されるように、単純適応制御により前記室圧制御ダンパを制御する制御手段と、を備える。
【選択図】
図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
対象室に空気を供給する給気手段と、
前記対象室から空気を排気する排気手段と、
前記対象室と前記排気手段との間に設けられ、前記対象室の室圧を調整する室圧制御ダンパと、
を備えた室圧制御装置であって、
前記対象室の室圧を検知する検知手段と、
前記対象室の設定室圧と、前記検知手段の検知結果とに基づいて、前記対象室が前記設定室圧に維持されるように、単純適応制御により前記室圧制御ダンパを制御する制御手段と、を備える、
ことを特徴とする室圧制御装置。
【請求項2】
請求項1に記載の室圧制御装置であって、
前記室圧制御装置は、隣接する複数の対象室の室圧を制御し、
前記検知手段と前記室圧制御ダンパとは前記対象室毎に設けられ、
前記単純適応制御の規範モデルが、前記対象室毎に設定されている、
ことを特徴とする室圧制御装置。
【請求項3】
請求項2に記載の室圧制御装置であって、
前記複数の対象室の前記設定室圧が互いに異なり、
前記設定室圧が相対的に高い前記対象室に対応する前記規範モデルは、前記設定室圧が相対的に低い前記対象室に対応する前記規範モデルに比べて、制御開始時の室圧の立ち上がりが早い、
ことを特徴とする室圧制御装置。
【請求項4】
請求項1に記載の室圧制御装置であって、
前記制御手段は、
規範モデルに応じた目標値を演算する規範モデル適用部と、
前記設定室圧に応じた第一の制御値を演算する第一のフィードフォワード制御部と、
前記規範モデル適用部で演算された状態変数に応じた第二の制御値を演算する第二のフィードフォワード制御部と、
前記目標値と前記検知手段の検知結果との偏差に応じた第三の制御値を演算するフォードバック演算部と、
前記偏差に応じた第四の制御値を演算するPI制御部と、
前記第一乃至第四の制御値を合算して、前記室圧制御ダンパの制御値を演算する制御値演算部と、を備える、
ことを特徴とする室圧制御装置。
【請求項5】
対象室に空気を供給する給気手段と、前記対象室から空気を排気する排気手段と、前記対象室と前記排気手段との間に設けられ、前記対象室の室圧を調整する室圧制御ダンパと、前記対象室の室圧を検知する検知手段と、を備えた装置を制御するコンピュータを、
前記対象室の設定室圧と、前記検知手段の検知結果とに基づいて、前記対象室が前記設定室圧に維持されるように、単純適応制御により前記室圧制御ダンパを制御する制御手段、
として機能させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、室圧制御技術に関する。
【背景技術】
【0002】
医薬品製造室、クリーンルーム等では、室圧を所定の圧力に維持することが要求される。室圧制御ダンパ(圧力制御ダンパ:PCD)等によって室圧を制御することが提案されている(特許文献1~3)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開平7-83475号公報
【特許文献2】特開2021-46954号公報
【特許文献3】特許第7145275号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
外部空気の圧力変動(屋外風圧の変動)により室圧が乱れる場合がある。室圧制御ダンパを設けた場合であっても、大きな外乱の影響を受ける場合があり、その改善が望まれる。
【0005】
本発明の目的は、室圧の安定性を向上することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明によれば、
対象室に空気を供給する給気手段と、
前記対象室から空気を排気する排気手段と、
前記対象室と前記排気手段との間に設けられ、前記対象室の室圧を調整する室圧制御ダンパと、
を備えた室圧制御装置であって、
前記対象室の室圧を検知する検知手段と、
前記対象室の設定室圧と、前記検知手段の検知結果とに基づいて、前記対象室が前記設定室圧に維持されるように、単純適応制御により前記室圧制御ダンパを制御する制御手段と、を備える、
ことを特徴とする室圧制御装置が提供される。
【発明の効果】
【0007】
本発明によれば、室圧の安定性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【
図1】本発明の一実施形態に係る室圧制御装置の概略図。
【
図2】(A)は制御ユニットのブロック図、(B)は制御ユニットが実行する処理例を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明に必須のものとは限らない。実施形態で説明されている複数の特徴のうち二つ以上の特徴は任意に組み合わされてもよい。また、同一若しくは同様の構成には同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
【0010】
<装置の概要>
図1は本発明の一実施形態に係る室圧制御装置1の概略図である。室圧制御装置1は、互いに隣接した対象室101~103の室圧を所定の室圧に維持しつつ、それらの換気を行う換気装置である。対象室101と対象室103とは扉111の開放によって連通し、その閉鎖によって遮断される。対象室101と対象室102とは扉112の開放によって連通し、その閉鎖によって遮断される。対象室102と対象室103とは扉113の開放によって連通し、その閉鎖によって遮断される。対象室103と、その外部とは扉114の開放によって連通し、その閉鎖によって遮断される。対象室101~103は、例えば、医薬品製造室、食品加工室、細菌実験室、クリーンルーム等である。対象室101~103は、本実施形態の場合、大気圧よりも高い室圧に維持され、例えば、数十Paである。
【0011】
室圧制御装置1は、給気ユニット2を備える。給気ユニット2は例えばファンである。給気ユニット2は、風量調整ダンパVD1を介して外気を取り込み、給気ダクト10~13を介して対象室に空気を供給する。給気ダクト10には、ダクト内の圧力を検知する圧力センサ4が設けられている。給気ユニット2は吐出側の給気ダクト10内の圧力を圧力センサ4の検知結果に基づき調整することができる。
【0012】
給気ダクト11~13は、給気ダクト10から分岐して対応する対象室101~103へ接続されている。給気ダクト11は対象室101に接続されており、対象室101に供給される空気の風路を形成する。給気ダクト11には定風量装置41が設けられており、対象室101に供給される空気が一定量に調整される。給気ダクト12は対象室102に接続されており、対象室102に供給される空気の風路を形成する。給気ダクト12には定風量装置42が設けられており、対象室102に供給される空気が一定量に調整される。給気ダクト13は対象室103に接続されており、対象室103に供給される空気の風路を形成する。給気ダクト13には定風量装置43が設けられており、対象室103に供給される空気が一定量に調整される。
【0013】
室圧制御装置1は、排気ユニット3を備える。排気ユニット3は例えばファンである。排気ユニット3は、排気ダクト20~23及び風量調整ダンパVD2を介して対象室101~103から空気を外部(大気)に排気する。排気ダクト20には、ダクト内の圧力を検知する圧力センサ5が設けられている。排気ユニット3は吸込側の排気ダクト20内の圧力を圧力センサ5の検知結果に基づき調整することができる。
【0014】
排気ダクト21~23は、排気ダクト20から分岐して対応する対象室101~103へ接続されている。排気ダクト21は対象室101に接続されており、対象室101から排気される空気の風路を形成する。排気ダクト21には室圧制御ダンパ51が設けられている。室圧制御ダンパ51は、排気ユニット3と対象室101との間に設けられ、対象室101の室圧を調整する圧力制御ダンパである。
【0015】
排気ダクト22は対象室102に接続されており、対象室102から排気される空気の風路を形成する。排気ダクト22には室圧制御ダンパ52が設けられている。室圧制御ダンパ52は、排気ユニット3と対象室102との間に設けられ、対象室102の室圧を調整する圧力制御ダンパである。排気ダクト23は対象室103に接続されており、対象室103から排気される空気の風路を形成する。排気ダクト23には室圧制御ダンパ53が設けられている。室圧制御ダンパ53は、排気ユニット3と対象室103との間に設けられ、対象室103の室圧を調整する圧力制御ダンパである。
【0016】
室圧制御ダンパ51~53は、例えば、駆動源であるモータと、モータにより駆動され風路を開閉する開閉部材とを含む。開閉部材の開度を制御することで、対応する対象室101~103の室圧を調整できる。対象室101の室圧は室圧検知センサ61で検知され、対象室102の室圧は室圧検知センサ62で検知され、また、対象室103の室圧は室圧検知センサ63で検知される。室圧検知センサ61~63の検知結果に基づいて室圧制御ダンパ51~53の開度を制御することで、より正確に対象室101~103の室圧を制御することができる。
【0017】
給気ユニット2と排気ユニット3との間には、循環ダクト30が設けられている。循環ダクト30は排気ユニット3から排気される空気の一部を給気ユニット2に還流する。これにより、対象室101~103の空気を循環させることができる。循環ダクト30には風量調整ダンパVD3が設けられており、空気の循環量は風量調整ダンパVD3によって調整することができる。風量調整ダンパVD1~VD3によって対象室101~103に導入する外気と、循環させる循環気との割合を調整できる。
【0018】
なお、室圧制御装置1は、対象室101~103に供給する空気を清浄化するフィルタ装置或いは空気清浄機や、空気の温度を調整する温調器を備えてもよい。
【0019】
室圧制御装置1は、装置全体を制御する制御ユニット7を備える。
図2(A)は制御ユニット7のブロック図である。制御ユニット7は、処理部71、記憶部72、インタフェース部(I/F部)73を含む電子回路である。処理部71は、CPUに代表されるプロセッサであり、記憶部72に記憶されたプログラムを実行する。記憶部72は、RAM、ROM、ハードディスクなどの記憶デバイスである。I/F部73は、センサ75の検知結果や入力装置76の入力内容等が入力される入力インタフェースと、アクチュエータ74に対する制御指示や表示装置77に対する表示情報等を出力する出力インタフェースとを含む。
【0020】
センサ75には、圧力センサ4及び5や室圧検知センサ61~63等、室圧制御装置1が備える各種のセンサが含まれる。アクチュエータ74には、ファン2及び3、定風量装置41~43、室圧制御ダンパ51~53等、室圧制御装置1が備える各種のアクチュエータが含まれる。入力装置76は、オペレータからの入力を受け付ける装置であり、例えば、キーボード、マウス、タッチパネル形式のデバイスであってもよい。表示装置77は、室圧制御装置1の動作状態等の情報をオペレータに提示する装置である。
【0021】
<制御例>
制御ユニット7の制御例について説明する。ここでは処理部71によって実行される室圧制御ダンパ51~53の制御例について説明する。
図2(B)は室圧制御ダンパ51~53の制御例を示すフローチャートであり、室圧の立ち上げから維持する処理の例を示している。
【0022】
ステップS1では、各対象室101~103の設定室圧が取得される。本実施形態の場合、対象室101~103毎に室圧が設定される。各室圧値は例えばオペレータが予め入力装置76を介して入力し、入力された室圧値は、対応する対象室101~103と対応づけて記憶部72に保存される。ステップS1では例えば処理部71が記憶部72から各対象室101~103の設定室圧を読み出す。
【0023】
ステップS2では、室圧検知センサ61~63の検知結果が取得される。ステップS3ではステップS1で取得した設定室圧とステップS2で取得した検知結果とに基づいて、対象室101~103が対応する設定室圧に維持されるように、室圧制御ダンパ51~53の各制御量が演算される。
【0024】
ステップS4ではステップS3で演算した各制御量を、対応する室圧制御ダンパ51~53に適用してこれらを駆動する。ステップS5では制御の終了条件が成立したか否かが判定される。終了条件は、例えば、オペレータの指示があった場合である。終了条件が成立していないと判定した場合はステップS2に戻って同様の処理が繰り返される。以上の制御によって、各対象室101~103の室圧が、例えば、初期室圧(例えば大気圧)から設定室圧まで立ち上がり、その後、設定室圧に維持されることになる。
【0025】
<室圧制御ダンパの制御手法>
外部空気の圧力変動(屋外風圧の変動)により、対象室101~103の室圧が乱れる場合がある。室圧制御ダンパ51~53の制御手法としては、例えば、PID制御やPI制御によるフィードバック制御が考えられるが、例えば、高周波域の圧力変動の低減の点で改善の余地がある。本実施形態では単純適応制御(SAC)により室圧制御ダンパ51~53を制御することで室圧の安定性を向上する。
【0026】
図3は室圧制御ダンパ51~53の制御のブロック線図である。本実施形態では単純適応制御にPI制御を組み合わせた制御を行う。以下、便宜的に室圧制御ダンパ51を例にとってブロック線図の内容を説明するが、室圧制御ダンパ52及び53についても同様である。
【0027】
um(t)は、時間tにおける対象室101の設定室圧である。本実施形態の場合、設定室圧は時間によらず一定の値(例えば数十Pa)である。規範モデル適用部80は、um(t)を規範モデルに適用して、規範モデルに応じた制御の目標値ym(t)を演算する。図示の例では規範モデル適用部80は伝達関数Gm(s)を有している。
【0028】
伝達関数Gm(s)を一次遅れ系とすると、目標値ym(t)は以下の式により演算される。
ym(t)=C・Xm(t)
Xm(t)=(Xm(t-1)+B・U・Δt)/(1.0-A・Δt)
ここで、U:設定圧力(但し、0~1の間のレンジ変換後の値)、A~C:室圧の立ち上げ速度を規定する係数、Δt:制御周期、Xm(t-1):一制御周期前のXmの値、である。
【0029】
図4は、対象室101~103の規範モデルの例を示している。規範モデルM1は対象室101に対応し、規範モデルM2は対象室102に対応し、規範モデルM3は対象室103に対応する。ここでは、対象室101~103の各設定室圧の高低が、対象室101<対象室102<対象室103の関係にあることが想定されている。そして、相対的に設定室圧が高い対象室103に対応する規範モデルM3は制御開始時の室圧の立ち上がりが最も早く、相対的に設定室圧が低い対象室101に対応する規範モデルM1の立ち上がりが最も遅い。立ち上げ速度は上記のとおり係数A~Cで調整できる。
【0030】
規範モデルM1~M3をこのように設定することで、室圧の立ち上がり途中で、対象室101~103間の室圧の高低関係が逆転することを防止できる。
【0031】
図3に戻る。偏差演算部85は、目標値ym(t)と、対象室101の室圧y(t)との偏差e(t)を演算する。対象室101の室圧y(t)は、室圧検知センサ61の検知結果である。
【0032】
フィードフォワード制御部81は、設定室圧um(t)に応じた制御値(=um(t)・kum(t))を演算する。ゲインkum(t)は以下の式により演算される。
kum(t)=(θps2(t)+θie2(t))
θps2(t)=-1.0・γps2・U・Es(t)
θis2(t)=θis2(t-1)-1.0・γis2・U・Es(t)・Δt
Es(t)=PV-ym(t)
ここで、PV:室圧検知結果(センサ61の検知結果)、γps2及びγis2:調整用パラメータ、である。
【0033】
フィードフォワード制御部82は、規範モデル適用部80で演算された状態変数Xm(t)に応じた制御値(=Xm(t)・kxm(t))を演算する。ゲインkxm(t)は以下の式により演算される。
kxm(t)=(θps1(t)+θie1(t))
θps1(t)=-1.0・γps1・Xm(t)・Es(t)
θis1(t)=θis1(t-1)-1.0・γis1・Xm(t)・Es(t)・Δt
ここで、γps1及びγis1:調整用パラメータ、である。
【0034】
フィードバック制御部83は、偏差e(t)に応じた制御値(=e(t)・ke(t))を演算する。ゲインke(t)は以下の式により演算される。
ke(t)=-(γpe+γie・Δt)
ここで、γpe及びγie:調整用パラメータ、である。
【0035】
PI制御部84は、偏差e(t)に応じた制御値(=Kp・e(t)・+Ki・∫e(t)dt)を演算する。ここで、比例ゲインKp、積分ゲインKiは調整用パラメータである。
【0036】
制御値演算部86は、フィードフォワード制御部81及び82、フィードバック制御部83、並びに、PI制御部84の各制御値を合算して室圧制御ダンパ51に対する制御値u(t)を演算する。制御値u(t)で室圧制御ダンパ51を駆動し、制御対象87である対象室101の室圧がy(t)となる。制御対象87は、制御値u(t)に対する対象室101の室圧変化の伝達関数G(s)で表されている。
【0037】
以上の制御手法により、
図2(B)のS3において各室圧制御ダンパ51~53の制御値が演算される。単純適応制御により室圧制御ダンパ51~53を制御することで、制御の応答性が向上し、高周波域の圧力変動を効果的に低減することができる。PI制御を併用することで、低周波域の圧力変動も効果的に低減することができる。
【0038】
<他の実施形態>
上記実施形態では、PI制御部84を採用したが、PID制御部としてもよい。PID制御部は、偏差e(t)に応じた制御値(=偏差e(t)・Kp+Ki・∫e(t)dt+Kv・e(t)/dt)を演算する(Kvは微分ゲイン)。或いは、PI制御部84をPD制御部としてもよく、若しくは、PI制御部84を無くしてもよい。
【0039】
上記実施形態では、3つの対象室101~103の室圧制御を例示したが、対象室の数は1つ、或いは、2つでもよく、若しくは、4つ以上であってもよい。
【0040】
発明は上記の実施形態に制限されるものではなく、発明の要旨の範囲内で、種々の変形・変更が可能である。
【符号の説明】
【0041】
1 室圧制御装置、2 給気ユニット、3 排気ユニット、7 制御ユニット、51~53 室圧制御ダンパ、61~63 室圧検知センサ