特開2026-152902IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

例えば、物体を加工する加工システム、及び、物体を計測可能な計測システムの技術分野

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】物体を適切に計測することが可能な加工システムを提供する。
【解決手段】加工システムは、物体に加工ビームを照射することで物体を加工可能である加工装置と、物体及び加工装置の位置を測定可能な測定装置と、加工装置を制御可能な制御装置とを備える。加工装置は、加工ビームを射出する加工ヘッドの位置を変更可能な第１移動装置と、第１移動装置が載置され、第１移動装置と共に移動可能な第２移動装置とを備える。制御装置は、測定装置の測定結果、及び、物体の形状に関するモデル情報に基づいて、第２移動装置による移動を制御する。
【選択図】図１

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、本実施形態における加工システムの全体構成の一例を模式的に示す模式図である。
【図2】 図２は、本実施形態における加工装置の外観を模式的に示す側面図である。
【図3】 図３は、本実施形態における加工装置の全体構成を示すブロック図である。
【図4】 図４は、自走駆動系及びアーム駆動系の構成を示す模式図である。
【図5】 図５は、微動駆動系の構成を示す模式図である。
【図6】 図６は、本実施形態における計測装置の外観を模式的に示す側面図である。
【図7】 図７は、本実施形態における計測装置の全体構成を示すブロック図である。
【図8】 図８は、自走駆動系及びアーム駆動系の構成を示す模式図である。
【図9】 図９は、本実施形態における位置測定装置の外観を示す正面図である。
【図10】 図１０は、本実施形態における位置測定装置の構成を示すブロック図である。
【図11】 図１１は、本実施形態における制御サーバ４の構成を示すブロック図である。
【図12】 図１２は、加工情報ＤＢのデータ構造を示す。
【図13】 図１３は、計測情報ＤＢのデータ構造を示す。
【図14】 図１４は、加工装置が加工し且つ計測装置が計測するワークの一具体例を示す模式図である。
【図15】 図１５は、加工動作の流れを示すフローチャートである。
【図16】 図１６は、位置測定装置とワークの一例である航空機との位置関係を示す上面図である。
【図17】 図１７は、ワークの一例である航空機を示す上面図である。
【図18】 図１８は、図１５のステップＳ１１２において加工ヘッドを移動させる動作の流れを示すフローチャートである。
【図19】 図１９は、微調整エリアの一例を示す上面図である。
【図20】 図２０は、計測動作の流れを示すフローチャートである。
【図21】 図２１（ａ）から図２１（ｃ）のそれぞれは、ワークを加工する加工装置及びワークを計測する計測装置を示す断面図である。
【図22】 図２２は、基材と膜とを含むワークを示す断面図である。
【図23】 図２３は、ワークに設定される非加工エリアを概念的に示す上面図である。
【図24】 図２４は、第１変形例における加工システムの構成を示すブロック図である。
【図25】 図２５（ａ）から図２５（ｂ）のそれぞれは、少なくとも二つの加工装置１の用途と少なくとも二つの計測装置２の用途との一例を模式的に示す。
【図26】 図２６は、第２変形例における加工装置の構成を示すブロック図である。
【図27】 図２７は、第３変形例における制御サーバの構成を示すブロック図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

１ 加工装置 １２ 加工ヘッド １３ ヘッド駆動系 １３１ 自走駆動系 １３２ アーム駆動系 １４ 制御装置 ２ 計測装置 ２２ 計測ヘッド ２３ ヘッド駆動系 ２３１ 自走駆動系 ２３２ アーム駆動系 ２４ 制御装置 ３ 位置測定装置 ４ 制御サーバ ＥＬ 加工光 Ｗ ワーク ＳＹＳ 加工システム

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