特開2026-331光プローブ、検査用光モジュールおよび測定システム

発明の名称　光プローブ、検査用光モジュールおよび測定システム

出願人　株式会社日本マイクロニクス　（識別番号 153018）

　　　　特許公開件数ランキング 491 位（18件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 11821 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2026-331

公報発行日　2026年1月5

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2026-331

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