特開2026-37642リフレクタ及び測量システム及び基準点測量方法

発明の名称　リフレクタ及び測量システム及び基準点測量方法

出願人　株式会社トプコン　（識別番号 220343）

　　　　特許公開件数ランキング 266 位（39件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 219 位（48件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2026-37642

公報発行日　2026年3月6

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2026-37642

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