知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
▶ テラダイン （アジア） プライベート リミテッドの特許一覧
特開2026-61374半導体試験装置
発明の名称 半導体試験装置
出願人 テラダイン （アジア） プライベート リミテッド （識別番号 524076981）
特許公開件数ランキング 4781 位（1件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 11686 位（0件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2026-61374
公報発行日 2026年4月9
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2026-61374
知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、特開-2026-61374「半導体試験装置」の公報全文を閲覧することができます。
ログインはこちら ログイン・ユーザー登録