(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2022-01-21
(45)【発行日】2022-01-31
(54)【発明の名称】回路装置
(51)【国際特許分類】
H01L 25/18 20060101AFI20220124BHJP
H01L 25/04 20140101ALI20220124BHJP
H05K 3/28 20060101ALI20220124BHJP
H05K 1/02 20060101ALI20220124BHJP
H05K 9/00 20060101ALI20220124BHJP
H01Q 13/08 20060101ALI20220124BHJP
H01Q 23/00 20060101ALI20220124BHJP
【FI】
H01L25/04 Z
H05K3/28 G
H05K1/02 P
H05K9/00 A
H01Q13/08
H01Q23/00
(21)【出願番号】P 2018095784
(22)【出願日】2018-05-17
【審査請求日】2020-09-03
(73)【特許権者】
【識別番号】000003078
【氏名又は名称】株式会社東芝
(73)【特許権者】
【識別番号】317011920
【氏名又は名称】東芝デバイス&ストレージ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100119035
【氏名又は名称】池上 徹真
(74)【代理人】
【識別番号】100141036
【氏名又は名称】須藤 章
(72)【発明者】
【氏名】滝澤 稔
【審査官】正山 旭
(56)【参考文献】
【文献】特開2014-146624(JP,A)
【文献】特開2015-053297(JP,A)
【文献】国際公開第2016/092693(WO,A1)
【文献】米国特許出願公開第2016/0240493(US,A1)
【文献】特開2011-155223(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01L 25/18
H05K 3/28
H05K 1/02
H05K 9/00
H01Q 13/08
H01Q 23/00
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
配線を有する配線基板と、
前記配線基板の上に設けられた第1の電子部品と、
前記配線基板の上に設けられ、前記第1の電子部品より高さの高い第2の電子部品と、
前記配線基板の上に、前記第1の電子部品及び前記第2の電子部品を覆うように設けられた封止部材であって、前記第1の電子部品の上の前記封止部材の第1の表面と前記配線基板の第1の距離よりも、前記第2の電子部品の上の前記封止部材の第2の表面と前記配線基板の第2の距離が長
く、前記第1の表面は、前記第2の表面に向かって連続的に変化する下に凸の曲面を形成している、前記封止部材と、
前記第2の表面が露出するように、前記封止部材の上に設けられた導電部材であって、前記第1の電子部品の上に設けられた前記導電部材の第3の表面と前記配線基板の第3の距離は前記第2の距離と等しく、前記第3の表面における前記導電部材の膜厚は、前記第3の表面と前記第2の表面の間に設けられた第4の表面における前記導電部材の膜厚より厚い、
回路装置。
【請求項2】
露出した前記第2の表面の面積は前記第2の電子部品の上面の面積よりも小さい請求項
1記載の回路装置。
【請求項3】
前記導電部材は前記第2の表面を取り囲んで設けられている請求項1
または請求項2いずれか一項記載の回路装置。
【請求項4】
前記導電部材は銀を含む請求項1ないし請求項
3いずれか一項記載の回路装置。
【請求項5】
前記第1の電子部品の上の前記導電部材の膜厚は1μm以上30μm以下である請求項1ないし請求項
4いずれか一項記載の回路装置。
【請求項6】
前記導電部材は前記配線に接続されているシールドである請求項1ないし請求項
5いずれか一項記載の回路装置。
【請求項7】
前記導電部材は前記封止部材の内部に設けられた接続部材を介して前記第1の電子部品又は前記第2の電子部品に接続されているアンテナ導体である請求項1ないし請求項
5いずれか一項記載の回路装置。
【請求項8】
前記第1の電子部品は水晶振動子を含む請求項1ないし請求項
7いずれか一項記載の回路装置。
【請求項9】
前記第2の電子部品は増幅器を含む請求項1ないし請求項
8いずれか一項記載の回路装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、回路装置に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体モジュール等の回路装置においては、有機材料等と金属配線等から形成された配線基板の表面上に、トランジスタ、アンプ又は受動素子等の電子部品が実装されている。電子部品は、セラミックや樹脂等の封止部材により、配線基板上において封止されている。回路装置は、配線基板の裏面に設けられた平面状電極パッドやはんだボールを介して実装基板に実装され、実装基板上の他の電子部品や他の回路装置と接続される。
【0003】
このような回路装置は、外部の水分や機械的衝撃から電子部品を保護する機能を有している。さらに、電子部品の電気的特性の劣化を抑制し、外部からの電荷粒子に対して半導体チップ等を保護する機能を有している。電子機器の小型化・薄型化の要求に伴い、回路装置にも小型化・薄型化が求められている。
【0004】
また、回路装置内の電子部品から発生する電磁ノイズが実装基板上の他の電子部品の誤動作の原因になることを防止するため、または、他の電子部品から発生する電磁ノイズが回路装置の電子部品の誤動作の原因になることを防止するために、シールドを用いて回路装置内の電子部品を覆うことが行われている。
【0005】
さらに、高周波信号を送受信するための電子部品を有する回路装置においては、小型化・薄型化のため、電子部品に接続されたアンテナを回路装置に設けることが行われている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【文献】特開2006-101494号公報
【文献】特開2007-129304号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
本発明が解決しようとする課題は、小型で取り扱いが容易な回路装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
実施形態の半導体装置は、配線を有する配線基板と、配線基板の上に設けられた第1の電子部品と、配線基板の上に設けられ、第1の電子部品より高さの高い第2の電子部品と、配線基板の上に、第1の電子部品及び第2の電子部品を覆うように設けられた封止部材であって、第1の電子部品の上の封止部材の第1の表面と配線基板の第1の距離よりも、第2の電子部品の上の封止部材の第2の表面と配線基板の第2の距離が長く、第1の表面は、第2の表面に向かって連続的に変化する下に凸の曲面を形成している、封止部材と、第2の表面が露出するように、封止部材の上に設けられた導電部材であって、第1の電子部品の上に設けられた導電部材の第3の表面と配線基板の第3の距離は第2の距離と等しく、第3の表面における導電部材の膜厚は、第3の表面と第2の表面の間に設けられた第4の表面における導電部材の膜厚より厚い。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【
図2】導電部材の膜厚が連続的に変化している例と非連続的に変化している例を示す模式断面図である。
【
図3】第1の実施形態の他の態様の回路装置の模式図である。
【
図5】第2の実施形態の回路装置の模式断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、図面を用いて実施形態を説明する。なお、図面中、同一又は類似の箇所には、同一又は類似の符号を付している。
【0011】
本明細書中、同一又は類似する部材については、同一の符号を付し、重複する説明を省略する場合がある。
【0012】
本明細書中、部品等の位置関係を示すために、図面の上方向を「上」、図面の下方向を「下」と記述する。本明細書中、「上」、「下」の概念は、必ずしも重力の向きとの関係を示す用語ではない。
【0013】
(第1の実施形態)
本実施形態の回路装置は、配線を有する配線基板と、配線基板の上に設けられた第1の電子部品と、配線基板の上に設けられ、第1の電子部品より高さの高い第2の電子部品と、配線基板の上に、第1の電子部品及び第2の電子部品を覆うように設けられた封止部材であって、第1の電子部品の上の封止部材の第1の表面と配線基板の第1の距離よりも、第2の電子部品の上の封止部材の第2の表面と配線基板の第2の距離が長い、封止部材と、第2の表面が露出するように、封止部材の上に設けられた導電部材であって、第1の電子部品の上に設けられた導電部材の第3の表面と配線基板の第3の距離は第2の距離と等しく、第3の表面における導電部材の膜厚は、第3の表面と第2の表面の間に設けられた第4の表面における導電部材の膜厚より厚い。
【0014】
図1は、本実施形態の回路装置100の模式図である。本実施形態の回路装置100は、導電部材11、12及び13がシールドである、電子部品モジュールである。
【0015】
ここで、x軸と、x軸に垂直なy軸と、x軸及びy軸に垂直なz軸を定義する。
図1(a)は、yz面内に平行な面内における回路装置100の模式断面図である。
図1(b)は、xy面内に平行な面内における回路装置100の模式上面図である。
【0016】
配線基板60は、複数の板状の絶縁基材62a、62b及び62cと、配線64を有する。配線64は、配線64a、64b、64c、64d及び64eを有する。
【0017】
絶縁基材62a、62b及び62cは、例えば、エポキシ樹脂、メラミン誘導体、液晶ポリマー、PPE(Polyphenyleneether:ポリフェニレンエーテル)樹脂、フッ素樹脂、フェノール樹脂、PABM(Polyaminobismaleimide:ポリアミノビスマレイミド)樹脂等を用いて形成された、板状の部材である。
【0018】
配線64a、64b、64c、64d及び64eは、例えば、絶縁基材62a、62b及び62cの表面に接着された銅等の金属箔から不必要な部分を薬品等により除去して形成されている。そして、配線64a、64b、64c、64d及び64eが形成された絶縁基材62a、62b及び62cを積層して、配線基板60が形成されている。それぞれの配線64a、64b、64c、64d及び64eは、絶縁基材62a、62b及び62c内に銅等の金属材料を用いて形成されたビア66を用いて電気的に接続されている。
【0019】
本実施形態の配線基板60は、4層の配線64a、64b、64c(64e)及び64dが設けられた、4層基板である。しかし、層の数は4層に限定されない。また、それぞれの絶縁基材62a、62b及び62cは、異なる材料で形成されていても構わない。さらに、それぞれの配線64a、64b、64c、64d及び64eは、異なる材料で形成されていても構わない。
【0020】
外部引出電極80は、配線基板60の下側に設けられている。回路装置100がBGA(Ball Grid Array)パッケージである場合、外部引出電極80は、はんだボールである。また、回路装置100がLGA(Land Grid Array)パッケージである場合、外部引出電極80は、板状の電極である。
【0021】
第1の電子部品2及び第2の電子部品4は、配線基板60の上に設けられている。具体的には、第1の電子部品2及び第2の電子部品4は、例えば、配線基板60の上に設けられた配線64aとはんだ68で接続されることにより、配線基板60の上に実装されている。なお、第1の電子部品2及び第2の電子部品4の実装のされ方は、上記の方法に限定されるものではない。
【0022】
第1の電子部品2及び第2の電子部品4は、例えば、トランジスタ、ダイオード、コンデンサや抵抗等の受動素子、BPF(Band Pass Filter:バンドパスフィルタ)、バラン、アンプ等の増幅器、水晶振動子、又はこれらの電子部品が集積されたIC(Integrated Circuit)モジュール等のモジュールである。
【0023】
第1の電子部品2及び第2の電子部品4の高さは、例えば1mm程度である。電子部品の高さの公差は通常±0.1mm程度である。また、はんだの高さのバラつきは±50μm程度である。
【0024】
第1の電子部品2の高さh1よりも、第2の電子部品4の高さh2の方が高い、すなわち、h2>h1である。また、第1の電子部品2は水晶振動子又は水晶振動子を含むモジュール等の部品であることが好ましく、第2の電子部品4は、アンプ等の増幅器又は増幅器を含むモジュールであることが好ましい。
【0025】
なお、本実施形態の回路装置100において電子部品の数は2個であるが、電子部品の数はこれに限定されない。
【0026】
封止部材20は、配線基板60の上に、第1の電子部品2及び第2の電子部品4を覆うように設けられている。封止部材20は、例えば、熱硬化性のエポキシ樹脂や、セラミックである。さらに、封止部材20は、酸化シリコンや酸化アルミニウム等で形成されたフィラーを含む熱硬化性のエポキシ樹脂等であっても良い。なお、封止部材20の構成はこれに限定されない。
【0027】
封止部材20は、第1の電子部品2の上で、第1の表面20aを有している。また、封止部材20は、第2の電子部品4の上で、配線基板60の基板面に平行な第2の表面20bを有している。第2の表面20bと配線基板60の距離L2と第2の電子部品4の高さh2の差L2-h2は、例えば数μmから数十μmの程度である。
【0028】
また、封止部材20の高さは、第2の表面20bを有する部分で最も高く、第2の表面20bから離れるにつれて低くなっている。第1の電子部品2の上における封止部材20の第1の表面20aと配線基板60の距離L1は、第2の表面20bと配線基板60の距離L2より短い。これは、第1の電子部品2の高さh1よりも第2の電子部品4の高さh2が高いため、封止部材20が形成されたときに、第2の表面20bの周囲で高さがより低くなってしまうためである。
【0029】
また、露出した第2の表面の面積S1は、第2の電子部品4の上面の面積S2よりも小さい。ここで、第2の表面の面積S1と第2の電子部品4の上面の面積S2は、例えば、回路装置100を市販のX線透過観察装置等で分析することにより評価することが出来る。
【0030】
導電部材10は、導電部材11、12及び13を有する。導電部材11及び12は、第2の表面20bが露出し、一体として第2の表面20bを取り囲むように、封止部材20の上に設けられている。導電部材11の上面は、第2の表面20bと一体となっている平坦な面である。これを言い換えると、第1の電子部品2の上に設けられた導電部材11の第3の表面11aと配線基板60の第3の距離L3は、第2の距離L2と等しい。また、導電部材12の上面は、第2の表面20bと一体となっている平坦な面である。これを言い換えると、導電部材12の第4の表面12aと配線基板60の第4の距離L4は、第2の距離L2と等しい。
【0031】
第3の表面11aにおける導電部材11の膜厚t1は、第3の表面11aと第2の表面20bの間に設けられた第4の表面11bにおける導電部材11の膜厚t2より厚い。
【0032】
第1の電子部品2の上の導電部材11の膜厚t1は、1μm以上30μm以下であることが好ましい。
【0033】
図2は、導電部材10の膜厚が連続的に変化している例と非連続的に変化している例を示す模式断面図である。
図2(a)は、導電部材10の膜厚が連続的に変化している、本実施形態の回路装置100の模式断面図の一部を示すものである。
図2(b)は、導電部材10の膜厚が非連続的に変化している、比較形態の回路装置500の模式断面図の一部を示すものである。
【0034】
回路装置500においては、導電部材14の膜厚はt2で一定であり、導電部材11の膜厚はt1で一定である。そして、導電部材14と導電部材11の間で、膜厚はt2からt1に非連続的に変化している。なお、導電部材15と導電部材12の間でも同様に、膜厚はt2からt1に非連続的に変化している。一方、回路装置100においては、導電部材11の膜厚はt2からt1に連続的に変化している。
【0035】
導電部材13は、
図1の右側における封止部材20の側面及び配線基板60の側面に跨がって設けられている。導電部材13は、
図1右上の部分で導電部材12と接続されている。また、導電部材13は、配線基板60の側面で配線64eと接続され、ビア66aを介して外部引出電極80と接続されている。外部引出電極80は、図示しない実装基板に実装される際に、図示されないグランドと接続される。
【0036】
導電部材11、12及び13は、例えば銀を含む膜である。導電部材11、12及び13は、例えば、スパッタ法や印刷により形成される。
【0037】
なお、本実施形態の回路装置100において電子部品の数は2個である。しかし、電子部品の数は2個に限定されるものではない。
【0038】
図3は、本実施形態の他の態様の回路装置110の模式図である。導電部材14が、
図3の左側に設けられている点以外は、
図1に示した回路装置100と同様である。
【0039】
図4は、本実施形態の比較形態となる回路装置600の模式図である。回路装置600においては、第2の表面20bは露出しておらず、第2の表面20b上にも導電部材11が形成されている。
【0040】
次に、本実施形態の回路装置の作用効果を述べる。
【0041】
配線基板の表面上に実装された複数の電子部品の大きさは、必ずしも互いに同じというわけではない。異なる大きさを有する複数の電子部品が配線基板上に実装されている場合、封止部材によって封止をしても、回路装置の上面の高さを均一にすることは困難である。なぜならば、多くの場合、高さの高い電子部品上に形成された封止部材の上面(第2の表面20b)が高くなる一方で、高さの低い電子部品上に形成された封止部材の上面(第1の表面20a)は低くなるためである。そのため、回路装置の輸送のため、吸着コレット等により回路装置の上面を吸着して輸送をしようとしても、吸着コレットの先端と回路装置の上面の間に隙間が出来てしまい、うまく回路装置を吸着することが出来ないという問題があった。
【0042】
仮に、吸着コレットを用いて回路装置の上面を吸着することが出来たとしても、吸着状態が安定していないため、吸着コレットの先端に吸着された回路装置を実装基板上に搭載する場合に、回路装置が位置ずれを起こしてしまうという問題があった。
【0043】
また、上面の高さが均一な回路装置を再現性良く製造する上では、各電子部品の高さの公差、配線基板上にはんだ等を用いて実装をする際のはんだの高さのバラつき、及び電子部品上に設けられた封止部材の膜厚をそれぞれ考慮することが好ましい。例えば、電子部品の高さが1mmであるとすると、電子部品の高さの公差は通常±0.1mm程度である。また、はんだの高さのバラつきは±50μm程度である。さらに、電子部品上に設けられた封止部材の膜厚は通常数μm以上数十μm以下である。それぞれの回路装置においてこれらの寸法に上記のようなバラつきが生じるため、上面の高さが均一で、取り扱いが容易な回路装置を再現性よく製造することは困難である。
【0044】
さらに、シールドを回路装置の封止部材の表面に形成しても、封止部材の上面の形状が形成されたシールドの形状に反映されてしまうため、上述の問題を解決することは困難であった。
【0045】
本実施形態の回路装置では、導電部材10は、第2の表面20bが露出するように設けられている。そして、第3の表面11aと配線基板60の第3の距離L3は第2の距離L2と等しく、第3の表面11aにおける導電部材11の膜厚t1は、第3の表面11aと第2の表面20bの間に設けられた導電部材11の第4の表面11bにおける導電部材11の膜厚t2より厚い。
【0046】
これにより、回路装置の上面の高さを、より均一にすることが可能となる。さらに、回路装置自身がシールドを持つことが出来るため、シールドを含めて回路装置を小型化しつつ、回路装置の電磁ノイズ対策をすることが出来る。すなわち、小型で、上面がより均一であり、吸着コレットによる取り扱いが容易であり、かつ電磁ノイズ対策もされているため実装基板上で取り扱いの容易な回路装置の提供が可能となる。
【0047】
本実施形態の回路装置においては、第2の表面20bから第1の表面20aに従い、封止部材20の高さが連続的に変化している。導電部材10の形成により、いわばこの連続的に変化している封止部材20の高さを埋め合わせて回路装置の上面の高さをより均一にして、取り扱いが容易な回路装置としている。そのため、導電部材10の膜厚は、第2の表面20bと第3の表面11aの間で連続的に変化している部分を有している。
【0048】
導電部材10としての銀は、化学変化が少ないため取り扱いも容易であり、かつシールド性能も優れているため好ましく用いられる。
【0049】
水晶振動子は、発生するノイズが大きい一方で高さは比較的低い。そのため、第1の電子部品2として水晶振動子を用い、より膜厚が厚く形成された導電部材11で発生するノイズをシールドすることが、ノイズ対策上好ましい。
【0050】
一方、増幅器は高さが比較的高い部品であるため、第2の電子部品4として用いることが好ましい。
【0051】
本実施形態の回路装置によれば、小型で取り扱いが容易な回路装置の提供が可能となる。
【0052】
(第2の実施形態)
本実施形態の回路装置においては、導電部材10が、封止部材20の内部に設けられた接続部材70を介して、第1の電子部品2または第2の電子部品4に接続されているアンテナ導体である点で、第1の実施形態と異なっている。ここで、第1の実施形態と重複する点については、記載を省略する。
【0053】
図5は、本実施形態の回路装置200の模式図である。
【0054】
導電部材10は、例えばパッチアンテナのパッチ(アンテナ導体)として用いられる。ここで、それぞれの導電部材11及び12の大きさや形状は、アンテナとして送受信を行いたい信号の周波数や強度に応じて適宜設計変更することが可能である。そして、例えば、配線基板60内に設けられた配線64bは、パッチアンテナのグランドとして用いることが出来る。接続部材70は、例えば、パッチアンテナの給電線として用いることが出来る。
【0055】
例えば、第2の電子部品4が増幅器であり、接続部材70が第2の電子部品4に接続されている場合には、増幅器で増幅された信号をパッチアンテナにより良好に送信することが出来る。アンテナ導体が回路装置の最外面に設けられているため、より強い信号を送受信することが可能である。
【0056】
本実施形態の回路装置によれば、小型で取り扱いが容易な回路装置の提供が可能となる。
【0057】
本発明のいくつかの実施形態及び実施例を説明したが、これらの実施形態及び実施例は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことが出来る。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【0058】
2 第1の電子部品
4 第2の電子部品
10 導電部材
11 導電部材
11a 第3の表面
11b 第4の表面
12 導電部材
13 導電部材
14 導電部材
20 封止部材
20a 第1の表面
20b 第2の表面
60 配線基板
62a 絶縁基材
62b 絶縁基材
62c 絶縁基材
64 配線
64a 配線
64b 配線
64c 配線
64d 配線
64e 配線
66 ビア
66a ビア
68 はんだ
70 接続部材
80 外部引出電極
100 回路装置
110 回路装置
200 回路装置